JISC61326-2-2:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第２－２部：個別要求事項－低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用及び監視用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 2

3 用語及び定義 ··················································································································· 2

4 一般事項························································································································· 2

5 EMC試験計画 ················································································································· 2

5.1 一般 ···························································································································· 2

5.2 試験中のEUTの構成 ······································································································ 2

5.3 試験中のEUTの動作条件 ································································································ 4

5.4 機能性能の仕様 ············································································································· 4

5.5 試験に関する記載事項 ···································································································· 4

6 イミュニティ要求事項 ······································································································· 4

6.1 試験中の条件 ················································································································ 4

6.2 イミュニティ試験要求事項 ······························································································ 4

6.3 偶発性の側面 ················································································································ 4

6.4 性能評価基準 ················································································································ 4

7 エミッション要求事項 ······································································································· 5

8 試験結果及び試験報告書 ···································································································· 5

9 使用説明························································································································· 5

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

（2）

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって，

JIS C 1806-2-2:2010は廃止され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61326の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61326-1 第1部：一般要求事項

JIS C 61326-2-1 第2-1部：個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定

用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

JIS C 61326-2-2 第2-2部：個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用

及び監視用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

日本工業規格 JIS

C 61326-2-2：2017

(IEC 61326-2-2：2012)

計測用，制御用及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−第2-2部：個別要求事項−

低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，

測定用及び監視用の装置の試験配置，

動作条件及び性能評価基準

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 2-2: Particular requirements-

Test configurations, operational conditions and performance criteria for

portable test, measuring and monitoring equipment

used in low-voltage distribution systems

序文

この規格は，2012年に第2版として発行されたIEC 61326-2-2を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。この規格は，JIS C 61326-1:2017の本体及び附属書に新しい文章

を追加したり，部分的に削除したり又は新しい文章に置き換えたりして適用する構成となっている。この

規格は，これらの変更部分だけを記載している。したがって，この規格を適用するには，JIS C 61326-1:2017

を併読して用いる。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，JIS C 61326-1の適用範囲に加えて，JIS C 61326-1の附属書Aに規定する装置のうち，次

の全てに該当する装置のための，より詳細な試験配置，動作条件及び性能評価基準について規定する。

− 低電圧配電システムの保護手段を試験，計測又は監視するために使用する装置

− 電池及び／又は被測定回路から電源供給を受ける装置

− 可搬形の装置

EUTの例としては，IEC 61557の規格群で定義する検電器，絶縁抵抗計，保護導通試験器，接地抵抗計，

ループインピーダンス計，漏電遮断器テスタ（RCD試験器），検相器などがあるが，これらだけに限らない。

注記1 IEC 61557-8及びIEC 61557-9の適用範囲内の装置のための電磁両立性（EMC）への個別要

求事項には，IEC 61326-2-4がある。

製造業者は，製品の使用を意図した電磁環境を指定し，JIS C 61326-1の適切な試験レベル仕様を選択す

る。

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61326-2-2:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC

requirements−Part 2-2: Particular requirements−Test configurations, operational conditions

and performance criteria for portable test, measuring and monitoring equipment used in

low-voltage distribution systems（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”

ことを示す。

引用規格

引用規格は，次によるほか，JIS C 61326-1の箇条2による。

JIS C 61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部：一般要

求事項

注記対応国際規格：IEC 61326-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 1: General requirements

IEC 61557 (all parts)， Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c. and 1 500 V d.c.

−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 61326-1の箇条3及びJIS C 60050-161による。

一般事項

JIS C 61326-1の箇条4を適用する。

EMC試験計画

5.1

一般

JIS C 61326-1の5.1を適用する。

5.2

試験中のEUTの構成

次の細分箇条を追加し，JIS C 61326-1の5.2を適用する。

5.2.4.101 試験及び測定用のI/Oポート

静電気放電は，コネクタハウジングのシールド，EUTの端子及び結合板に印加するが，シールドされて

いるポート及びケーブルコネクタの，内側のピンには印加しない。ポート及びケーブルコネクタには，例

えば，BNC，D-sub，IEEE 488（IEC 60488），RS232，IEEE 1284-B（パラレルプリンタポート）などを含

む。

JIS C 61000-4-3に規定する試験に対して，次の条件を適用する。試験及び測定用のポートは，製造業者

が指定する試験リード，又はEUTに附属の試験リードを接続する。試験リードの指定がない場合は，一般

的な試験リードを使用する。試験リードは，各動作モードの典型的な構成で接続及び配置する（図101参

照）。

附属の試験リード，又は指定する試験リードの長さが1 mを超える場合，EUT用測定対象（EUTが測定

する対象）がEUTまで1 mの水平距離になるように試験リードを束ねることが望ましい（図101参照）。

試験リード間は，試験机の上で水平距離0.1 m離して配置する（図102及び図103参照）。

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

注a) EMクランプ（必要な場合。複数でもよい。）

図101−JIS C 61000-4-3に基づく可搬形の試験用，測定用及び監視用の装置に対する試験セットアップ

EUT用測定対象の信号の発生又は監視に必要な補助装置（AE）は，図101に従って，必要な場合，JIS C

61000-4-6の図A.3（EMクランプの詳細構造）に示すようなEMクランプを経由して接続する。

電圧測定は，試験リードの一方を1 000 Ω±100 Ωの抵抗（EUT用測定対象）と直列に接続して行う（図

102参照）。

その他の測定方法の場合，製造業者がEUT用測定対象を指定し，そのことを試験報告書に記載する。

注a) 減結合回路網（必要な場合）

b) 例えば，電圧源。

c) EMクランプ（必要な場合。複数でもよい。）

図102−電圧測定用接続詳細例

電流測定の場合，試験リードは，100 Ω±10 Ωの抵抗（EUT用測定対象）と並列に接続して行う（図103

参照）。

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

注a) 減結合回路網（必要な場合）

b) 例えば，電流原。

c) EMクランプ（必要な場合。複数でもよい。）

図103−電流測定用接続詳細例

5.3

試験中のEUTの動作条件

次の細分箇条を追加し，JIS C 61326-1の5.3を適用する。

5.3.101 動作条件

EUTは，最大感度のレンジ又はレンジの組合せに設定する。ただし，通常の用途で，イミュニティ試験

の結果が最悪になるレンジがほかに分かっている場合は，そのレンジに設定する。多機能装置は，各機能

を別々に試験する。

5.4

機能性能の仕様

JIS C 61326-1の5.4を適用する。

5.5

試験に関する記載事項

JIS C 61326-1の5.5を適用する。

イミュニティ要求事項

6.1

試験中の条件

JIS C 61326-1の6.1を適用する。

6.2

イミュニティ試験要求事項

JIS C 61326-1の6.2を，次に置き換える。

この規格の適用範囲に含む装置のイミュニティ要求事項は，JIS C 61326-1の表A.1を適用する。

また，次の細分箇条を追加する。

6.2.101 放射無線周波電磁界

装置のきょう体の最大寸法が0.3 m未満の場合，試験は図101に従って，一面だけ行い，そのことを試

験報告書に記録する。

6.3

偶発性の側面

JIS C 61326-1の6.3を適用する。

6.4

性能評価基準

JIS C 61326-1の6.4を適用する。ただし，JIS C 61326-1の6.4.2を次に置き換える。

6.4.2.101 性能評価基準A

装置は，試験実施中，仕様範囲内で正常動作を維持しなければならない。この仕様には，使用説明の技

術データに記載された最大固有誤差を外れる変動を含んでもよい。この変動は最大固有誤差の5倍までに

C 61326-2-2：2017 (IEC 61326-2-2：2012)

制限するが，フルスケールの50 %〜100 %で測定した場合，測定値の±20 %を超えてはならない。

エミッション要求事項

JIS C 61326-1の箇条7を適用する。

試験結果及び試験報告書

JIS C 61326-1の箇条8を適用する。

使用説明

JIS C 61326-1の箇条9を適用する。

参考文献

IEEE 488.1，IEEE standard for higher performance protocol for the standard digital interface for

programmable instrumentation

IEEE 1284，IEEE standard signaling method for a bidirectional parallel peripheral interface for personal

computers

IEC 61326-2-4:2006，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements

−Part 2-4: Particular requirements−Test configurations, operational conditions and performance

criteria for insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation

fault location according to IEC 61557-9