JISC61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 2

3 用語及び定義 ··················································································································· 3

4 一般事項························································································································· 5

5 EMC試験計画 ················································································································· 6

5.1 一般 ···························································································································· 6

5.2 試験中のEUTの構成 ······································································································ 6

5.3 試験中のEUTの動作条件 ································································································ 6

5.4 機能性能の仕様 ············································································································· 7

5.5 試験に関する記載事項 ···································································································· 7

6 イミュニティ要求事項 ······································································································· 7

6.1 試験中の条件 ················································································································ 7

6.2 イミュニティ試験要求事項 ······························································································ 7

6.3 偶発性の側面 ··············································································································· 10

6.4 性能評価基準 ··············································································································· 10

7 エミッション要求事項 ······································································································ 11

7.1 測定中の条件 ··············································································································· 11

7.2 エミッション限度値 ······································································································ 11

8 試験結果及び試験報告書 ··································································································· 12

9 使用説明························································································································ 12

附属書A（規定）電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の

試験及び計測用の電気装置に対するイミュニティ試験要求事項 ·············································· 13

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

（2）

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって，

JIS C 1806-1:2010は廃止され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61326の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61326-1 第1部：一般要求事項

JIS C 61326-2-1 第2-1部：個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定

用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

JIS C 61326-2-2 第2-2部：個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用

及び監視用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

日本工業規格 JIS

C 61326-1：2017

(IEC 61326-1：2012)

計測用，制御用及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−第1部：一般要求事項

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 1: General requirements

序文

この規格は，2012年に第2版として発行されたIEC 61326-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，交流1 000 V以下若しくは直流1 500 V以下の，電源若しくは電池で動作する電気装置，又

は測定対象の回路からの電源で動作する電気装置の電磁両立性（EMC）に関するイミュニティ及びエミッ

ションの要求事項について規定する。この規格は，工業用計測分野，工業プロセス分野，工業製造分野及

び教育分野での使用を意図した電気装置に適用する。これらの電気装置には，工業地域又は非工業地域で

の使用を意図した，次の装置及び計算機器を含む。

− 計測及び試験用の装置

− 制御用の装置

− 試験室用の装置

− これらの装置と一緒に使用することを意図した付帯装置（例えば，サンプルを取り扱う装置）

情報技術装置（ITE）の適用範囲内にあって，適用可能なITEのEMC規格に適合する計算機器，そのア

センブリ及び類似の装置は，これらが意図した電磁環境に適用可能な場合，追加試験をしないでこの規格

の適用範囲にあるシステム内で使用してもよい。

この規格（製品群規格）は，共通規格より優先する。

注記1 国際電気標準会議（IEC）では，EMCに関連する規格を製品規格，製品群規格，共通規格及

び基本規格の4分類と規定している（IEC Guide 107:2014参照）。

この規格は，次の電気装置に適用する。

a) 計測及び試験用の電気装置計測及び試験用の電気装置は，電気的手段によって，一つ以上の電気量

又は非電気量を計測，表示又は記録する装置であり，また，信号発生器，計測用標準器，電源及びト

ランスデューサのような非計測装置も含む。

b) 制御用の電気装置制御用の電気装置は，手動設定，ローカル若しくはリモートのプログラミング，

又は一つ以上の入力変数から決定される個々の設定値によって，一つ以上の出力量を特定の値に制御

する装置である。また，次のような機器で構成する工業用プロセス計測制御（IPMCともいう。）装置

を含む。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

− プロセスコントローラ及びレギュレータ

− プログラマブルコントローラ

− 装置及びシステムの電源ユニット（集中形又は個別形）

− アナログ又はデジタル指示計及び記録計

− プロセス計測器

− トランスデューサ，ポジショナ，インテリジェントアクチュエータなど

c) 試験室用の電気装置試験室用の電気装置は，物質を測定，表示，監視若しくは分析する装置，又は

材料を前処理するために使用する装置である。また，体外診断用医療機器（IVD機器）を含む。この

装置は，試験室以外の場所でも使用することがある。例えば，自己検査用の体外診断用医療機器は，

家庭で使用することがある。

この規格の適用範囲内の電気装置（以下，“装置”という。）は，様々な電磁環境の中で動作する場合が

あるため，電磁環境によって，異なるエミッション及びイミュニティ要求事項を適用する。

この規格では，次の3種類の電磁環境を考慮する。

− 基本的電磁環境

− 工業的電磁環境

− 管理された電磁環境

電磁環境に対応するイミュニティ要求事項は，箇条6に規定する。

エミッション要求事項は，CISPR 11に従って，クラスA装置又はクラスB装置に分類する。エミッシ

ョン要求事項は，箇条7に規定する。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61326-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC

requirements−Part 1: General requirements（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 60050（規格群）電気技術用語

注記対応国際規格：IEC 60050 (all parts)，International Electrotechnical Vocabulary

JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電

流が20 A以下の機器）

注記対応国際規格：IEC 61000-3-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current ≤16 A per phase)，Amendment

1:2008及びAmendment 2:2009

JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test，

Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010

JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／

バーストイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test及びAmendment 1:2010

JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity test

JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ

注記対応国際規格：IEC 61000-4-6:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-8:2009，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and

measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test

JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing

and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

CISPR 11:2009，Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−

Limits and methods of measurement及びAmendment 1:2010

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 60050-161によるほか，次による。

3.1

基本的電磁環境（basic electromagnetic environment）

商用電源から，低電圧で直接供給することによって特徴付けられる場所にある環境。

例

− 居住用建築物，例えば，住宅，アパート

− 商業用店舗，例えば，小売店，スーパーマーケット

− 業務施設，例えば，事務所，銀行

− 娯楽施設，例えば，映画館，飲食店，ダンスホール

− 屋外施設，例えば，ガソリンスタンド，駐車場，遊園地，スポーツセンター

− 軽工業施設，例えば，作業所，研究所，サービスセンター

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

3.2

クラスA装置（class A equipment）

家庭用の施設及び住居用に使用する目的の建造物に給電する低電圧電力系統に直接接続する施設以外の

全ての施設での使用に適した装置（CISPR 11:2009の5.3参照）。

3.3

クラスB装置（class B equipment）

家庭用の施設及び住居用に使用する目的の建造物に給電する低電圧電力系統に直接接続する施設での使

用に適した装置（CISPR 11:2009の5.3参照）。

3.4

管理された電磁環境（controlled electromagnetic environment）

装置の使用者が電磁環境を理解し，設置の方法を管理することによって特徴付けられる環境。

3.5

直流配電系統（d.c. distribution network）

任意の種類の装置の直流電源ポートに接続することを意図した，特定の場所又は建造物にある局所的直

流電源供給系統。

3.6

きょう体ポート（enclosure port）

電磁界が放射又は侵入する装置の物理的境界。

3.7

機能性能（functional performance）

意図した機能を達成するための装置の能力を定義する，装置の製造業者が指定した動作性能特性。

3.8

工業的電磁環境（industrial electromagnetic environment）

一般的に，高電圧又は中電圧の変圧器から電力の供給を受け，工場又は類似のプラントに給電するため

に専用の設備がある独立した電力系統をもち，かつ，次の条件の一つ以上が該当する環境。

− 誘導性又は容量性の重負荷の頻繁な切換

− 大電流，及びそれに起因する磁界

− 工業，科学及び医療（ISM）装置（例えば，溶接機）の存在

3.9

試験室（laboratory）

分析，試験及びサービスのために特別に使用し，かつ，訓練された要員が装置を操作する区域。

3.10

長距離線（long distance lines）

30 mを超える建造物内の配線，又は（屋外設備の配線を含め）建造物から出ていく配線。

3.11

ポート（port）

特定の機器又はシステムと，外部電磁環境との個別のインタフェース。

例供試装置（EUT）の一例として，図1参照。

注記1 I/Oポートとは，入力，出力又は双方向のポートで，かつ，測定，制御又はデータのポート

をいう。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

注記2 この規格では，機能的理由で接地するポート（機能接地ポート）は，I/Oポートと考える。

注記3 この規格では，保護接地ポート（存在する場合）は，電源ポートと考える。

図1−ポートの例

3.12

可搬（測定）機器［portable（measuring）instrument］

容易に運搬でき，使用者によって接続又は取り外せるように設計した測定機器。

3.13

形式試験（type test）

量産品の1個以上の代表的な製品に対して行う，適合性試験。

一般事項

この規格の適用範囲内の装置及びシステムは，電力線，計測線若しくは制御線を介して伝導する電磁妨

害，又は周囲環境からの放射による様々な種類の電磁妨害にさらされる。電磁妨害の種類及びレベルは，

システム，サブシステム又は装置の，設置場所及び個別の動作条件に依存する。

この規格の適用範囲内の装置及びシステム内の個々の機器は，広い周波数範囲にわたる電磁妨害源にな

る可能性がある。これらの電磁妨害は，電力線及び信号線を経由して伝導又は直接放射し，さらに，他の

装置の性能に影響を与えたり，外部の電磁環境に影響を及ぼしたりする可能性がある。

この規格に規定するエミッションに関する要求事項の目的は，通常動作時の装置及びシステムによって

発生する電磁妨害が，他のシステムの意図する動作を妨害するレベルを超えないようにすることである。

エミッション限度値は，7.2に規定する。

製造業者は，装置を試験対象に接続することによって，この規格が要求するレベルを超えるエミッショ

ンが発生する場合がある旨の情報を提供しなければならない。

注記1 規定を超えるイミュニティレベル，異なる基本規格及び異なる性能評価基準は，特定用途（例

えば，装置の信頼できる動作が安全性にとって不可欠な場合），又は装置がより厳しい電磁環

境での使用を意図しているときに必要になる場合がある。

注記2 例えば，非常に感受性の高い装置を近接して用いるような特殊な場合は，影響する電磁妨害

を，規定する限度値よりも更に低くするための追加の軽減策を講じる必要がある場合がある。

注記3 製造業者は，全ての試験を一つのEUTで行うか，又は複数のEUTで行うかを選択してもよ

い。また，試験の順序は，任意である。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

EMC試験計画

5.1

一般

EMC試験計画は，試験実施前に立案する。試験計画には，少なくとも5.2〜5.5に規定する内容を含める。

電気装置の特定項目の電気的特性及び使用方法を考慮することによって，幾つかの試験は不適切である

ため，不必要と判断する場合がある。そのような場合には，試験しないことをEMC試験計画に記載する。

5.2

試験中のEUTの構成

5.2.1

一般

計測用，制御用及び試験室用の電気装置は，定まった構成でシステムを構築されるとは限らない。電気

装置内の様々なサブアセンブリの種類，使用数量及び設置は，システムごとに変化する。このような場合，

全ての可能な組合せで試験を行わないことは合理的であるので，そのようにすることが望ましい。

現実的なEMC条件（エミッション及びイミュニティの両方に関して）を模擬するために，電気装置は，

製造業者が指定する代表的な組合せとする。また，試験は，製造業者が指定する通常の条件で形式試験と

して行う。

5.2.2

EUTの構成要素

EMCに対する影響が大きい場合には，EUTに附属している全ての機器，ラック，モジュール，ボード

などをEMC試験計画に記載する。必要に応じて，ソフトウェアのバージョンを記載する。

5.2.3

EUTの組合せ

EUTの内部及び外部の構成が変化する場合には，形式試験は，通常の使用状態の一つ以上の代表的な構

成で試験する。全ての種類のモジュールは，1回以上，試験を行う。これらの組合せの選択理由をEMC試

験計画に記載する。

5.2.4

I/Oポート

I/Oポートが複数あり，これらの全てが同一種類で，他のケーブルを接続することによって試験結果が

大きく影響しないことを示すことができる場合は，その一つのポートにケーブルを接続するだけでもよい。

この規格の規格群で特に規定がない場合，静電気放電は，差込形ポート又はケーブルコネクタの内部ピ

ンへ印加しない（通常使用状態におけるEUTの接触可能なコネクタは除く。）。

5.2.5

補助装置

EUTとともに種々の補助装置を使用する場合には，実際の動作状態を模擬するために，それぞれの種類

に対して一つ以上の補助装置を選択する。補助装置は，模擬してもよい。

注記補助装置には，EUTに通常動作の実行に必要な信号を供給する装置，EUTの性能を確認するた

めの装置などがある。

5.2.6

ケーブル配線及び接地

ケーブル及び接地は，製造業者の仕様に従ってEUTに接続する。追加の接地接続は行わない。

5.3

試験中のEUTの動作条件

5.3.1

動作モード

代表的な動作モードは，EUTの全機能ではなく，最も典型的な機能だけを試験することを考慮して選択

する。動作モードは，通常の用途で推定できる最悪条件を選択する。

5.3.2

環境条件

試験は，製造業者が指定する環境（例えば，周囲温度，湿度，大気圧）での動作範囲内，並びに供給電

源電圧及び電源周波数の定格範囲内で行う。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

5.3.3

試験中のEUTのソフトウェア

様々な動作モードを模擬するために使用するソフトウェアは，文書化する。このソフトウェアは，通常

の用途で推定できる最悪の動作モードを模擬する。

5.4

機能性能の仕様

イミュニティ試験に対して，それぞれの動作モード及び試験に対する機能性能は，可能な限り定量的に

指定する。

5.5

試験に関する記載事項

適用する試験項目は，それぞれEMC試験計画で指定する。試験項目，試験方法，試験の特性及び試験

のセットアップは，6.2及び7.2で引用する基本規格に規定している。試験の実際的な遂行に必要な追加情

報は，この規格に規定する。規格の基準内容は，試験計画に転記しなくてもよい。EMC試験計画は，詳細

に実施方法を指定しなければならない場合がある。

注記この規格では，試験目的のために全ての既知の妨害現象を規定するのではなく，最も重大と推

定できる妨害現象だけを規定している。

イミュニティ要求事項

6.1

試験中の条件

試験構成及び試験中の動作モードは，試験報告書に詳細に記載する。

試験は，表1，表2又は表3のいずれかの適用可能な表に従って，関連するポートに対して適用する。

試験は，これらの表に規定する基本規格に従って行う。試験は，現象ごとに一つずつ行う。基本規格に

規定していない追加の試験が必要な場合は，その試験及び理由を試験報告書に記載する。

6.2

イミュニティ試験要求事項

基本的電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項は，表1による。

工業的電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項は，表2による。

管理された電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項は，表3による。

表1〜表3に規定する性能評価基準A，B及びCは，6.4に規定する。

可搬形の試験及び計測用の装置に対するイミュニティ試験要求事項は，附属書Aによる。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

表1−基本的電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項

ポート

現象

基本規格

試験値

性能評価

基準

きょう体

静電気放電（ESD）

JIS C 61000-4-2

4 kV 接触放電

8 kV 気中放電

放射無線周波電磁界

JIS C 61000-4-3

3 V/m（80 MHz〜1 GHz）

3 V/m（1.4 GHz〜2 GHz）

1 V/m（2.0 GHz〜2.7 GHz）

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8

3 A/m（50 Hz，60 Hz）f)

交流電源
（保護接地を含む）

電圧ディップ

JIS C 61000-4-11

半サイクルの間0 %

1サイクルの間0 %

25/30e)サイクルの間 70 %

短時間停電

JIS C 61000-4-11

250/300e)サイクルの間 0 %

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

0.5 kVa)/1 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

直流電源d)，g)
（保護接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

0.5 kVa)/1 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

入出力信号／制御
（機能接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

0.5 kVd)（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

1 kVb)，c)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 Vd)（150 kHz〜80 MHz）

主電源に直接接続す
る入出力信号／制御

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

0.5 kVa)/1 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

注a) 線間

b) 線と接地との間

c) 長距離線の場合に適用（3.10参照）。

d) 3 mを超える線の場合に適用。

e) 例えば，“25/30サイクル”の表記は，50 Hzの場合25サイクル，又は60 Hzの場合30サイクルを意味する。

f) 磁気に感受性の高い装置の場合に適用。1 A/mを超えて発生するCRTディスプレイへの妨害は，許容する。

g) 直流配電系統に接続しない装置又はシステム間の直流の接続は，入出力信号／制御ポートとして扱う。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

表2−工業的電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項

ポート

現象

基本規格

試験値

性能評価

基準

きょう体

静電気放電（ESD）

JIS C 61000-4-2

4 kV 接触放電

8 kV 気中放電

放射無線周波電磁界

JIS C 61000-4-3

10 V/m（80 MHz〜1 GHz）

3 V/m（1.4 GHz〜2 GHz）

1 V/m（2.0 GHz〜2.7 GHz）

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8

30 A/m（50 Hz，60 Hz）e)

交流電源
（保護接地を含む）

電圧ディップ

JIS C 61000-4-11

1 サイクルの間0 %

10/12g) サイクルの間40 %

25/30g) サイクルの間70 %

短時間停電

JIS C 61000-4-11

250/300g) サイクルの間0 %

バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

1 kVa)/2 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

直流電源f)
（保護接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

1 kVa)/2 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

入出力信号／制御
（機能接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）d)

サージ

JIS C 61000-4-5

1 kVb)，c)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 Vd)（150 kHz〜80 MHz）

主電源に直接接続す
る入出力信号／制御

バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

1 kVa)/2 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

3 V（150 kHz〜80 MHz）

注a) 線間

b) 線と接地との間

c) 長距離線の場合に適用（3.10参照）。

d) 3 mを超える線の場合に適用。

e) 磁気に感受性の高い装置の場合に適用。1 A/mを超えて発生するCRTディスプレイへの妨害は，許容する。

f) 直流配電系統に接続しない装置又はシステム間の直流の接続は，入出力信号／制御ポートとして扱う。

g) 例えば，“25/30サイクル”の表記は，50 Hzの場合25サイクル，又は60 Hzの場合30サイクルを意味する。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

表3−管理された電磁環境での使用を意図した装置のイミュニティ試験要求事項

ポート

現象

基本規格

試験値

性能評価

基準

きょう体

静電気放電（ESD）

JIS C 61000-4-2

4 kV 接触放電

8 kV 気中放電

放射無線周波電磁界

JIS C 61000-4-3

1 V/m（80 MHz〜1 GHz）

1 V/m（1.4 GHz〜2 GHz）

1 V/m（2.0 GHz〜2.7 GHz）

交流電源
（保護接地を含む）

電圧ディップ

JIS C 61000-4-11

半サイクルの間0 %

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

0.5 kVa)/1 kVb)

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

1 V（150 kHz〜80 MHz）

直流電源c)，d)
（保護接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

1 kV（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

不要

−

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

1 V（150 kHz〜80 MHz）

入出力信号／制御
（機能接地を含む）

バースト

JIS C 61000-4-4

0.5 kVc)（5/50 ns，5 kHz）

サージ

JIS C 61000-4-5

不要

−

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6

1 Vc)（150 kHz〜80 MHz）

注a) 線間

b) 線と接地との間

c) 3 mを超える線の場合に適用。

d) 直流配電系統に接続しない装置又はシステム間の直流の接続は，入出力信号／制御ポートとして扱う。

表3を適用した製造業者は，装置を管理された電磁環境において動作するように設計しているので，携

帯電話のような無線送信機を装置に近接して用いないことを明示しなければならない。

注記一般的に，分析，試験及びサービスのための試験室は，管理された電磁環境である。また，こ

れらの区域に従事する要員は，通常，試験結果を解釈できるように訓練されている。このよう

な環境には，通常，無停電電源装置（UPS），フィルタ，サージ抑制器などによる保護が必要と

なる装置が存在する。このため，表3に規定する試験値は，表1の試験値よりも緩和している。

6.3

偶発性の側面

各試験の持続時間及び／又は試験回数は，性能評価基準が常に満たされるように十分でなければならな

い。偶発的な影響（例えば，試験での印加とEUTの動作との間の時間的関係の結果）によって誤って試験

に合格させないように注意しなければならない。

注記これは，ソフトウェア又はファームウェアによって，指定又は制御することができる機能を備

えたEUTに対して特に関係している。

例えば，デジタル機器の静電気放電試験の場合，偶発的な影響を排除するために，各極性，試験箇所及

び試験レベルごとに10回以上，EUTに放電することが望ましい。バースト試験の場合は，試験時間を延

長して，1分を超えて試験してもよい。

6.4

性能評価基準

6.4.1

一般

イミュニティ試験結果の評価に対する一般原則（性能評価基準）は，次による。

6.4.2

性能評価基準A

装置は，試験実施中及び試験後に意図する動作を維持しなければならない。装置の意図した使用におい

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

て，製造業者が指定する性能レベルを下回る，性能の低下又は機能の喪失があってはならない。性能レベ

ルは，許容可能な性能の喪失に置き換えてもよい。許容可能な性能の喪失又は最小の性能レベルを，製造

業者が指定していない場合は，製品説明及び文書，並びに使用者が意図して使用する装置から得られる合

理的な推測から導いてもよい。

6.4.3

性能評価基準B

装置は，試験後に意図する動作を維持しなければならない。装置の意図した使用において，製造業者が

指定する性能レベルを下回る，性能の低下又は機能の喪失があってはならない。性能レベルは，許容可能

な性能の喪失に置き換えてもよい。試験実施中の性能の低下は，あってもよい。実際の動作状態及び保存

データが変わってはならない。許容可能な性能の喪失又は最小の性能レベルを，製造業者が指定していな

い場合は，製品説明及び文書，並びに使用者が意図して使用する装置から得られる合理的な推測から導い

てもよい。

例1 データ転送は，パリティチェック又はその他の手段で，制御又は検査している。落雷によって

生じるような誤動作の場合，自動的にデータ転送を繰り返す。このときにデータ転送速度の低

下があってもよい。

例2 試験実施中にアナログ値が仕様範囲から外れてもよい。試験後には，仕様範囲内に戻る。

例3 マンマシンインターフェースの監視だけに使用するモニタの場合には，バースト印加中のちら

つきのような短時間発生する多少の性能低下があってもよい。

例4 自己復帰する場合は，動作状態の想定される変化はあってもよい。

6.4.4

性能評価基準C

機能の自己復帰又は制御による操作によって復帰可能な場合は，一時的な機能喪失があってもよい。

例1 指定バッファ時間を超える主電源の中断によって，装置の電源ユニットが電源オフになる場合

がある。この場合，電源オンは，自動でできても，オペレータが投入してもよい。

例2 電磁妨害に起因するプログラム中断後，“クラッシュ状態”のまま放置するのではなく，指定さ

れた位置で装置のプロセッサ機能が停止する場合がある。この場合，オペレータの決定の入力

待ちとする必要がある。

例3 試験の結果，過電流保護機器が開路となった場合，オペレータは交換又はリセットを行う。

エミッション要求事項

7.1

測定中の条件

測定は，EMC試験計画（箇条5参照）に従った動作モードで行う。

試験項目の説明，試験方法及び試験のセットアップは，7.2に規定する引用規格による。引用規格の規定

内容は，ここには転記しない。ただし，試験を適用する上で，実行のために必要な修正又は追加情報は，

この規格の規格群で規定する。

7.2

エミッション限度値

装置は，CISPR 11:2009の箇条5の規定に従って分類する。対応する情報は，適用可能なグループ及び

クラスごとに提供する。装置のクラス分け及び対応する限度値の選択は，使用区域における意図する環境

及びエミッション要求事項を考慮した上で決定する。

クラスA装置の場合，CISPR 11に規定する限度値，測定方法及び基準を適用する。

クラスB装置の場合，JIS C 61000-3-2及びCISPR 11に規定する限度値，測定方法及び基準を適用する。

ISM帯域の周波数を用いる装置は，CISPR 11を適用する。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

試験結果及び試験報告書

試験結果は，試験の再現性を提供するために十分な詳細内容を記載した，理解しやすい試験報告書にま

とめる。

試験報告書は，少なくとも次に示す情報を含める。

− EUTの説明

− EMC試験計画

− 試験要求事項，例えば電磁環境の分類

− 性能評価基準

− 試験データ及び結果

− 適用可能な場合，機能性能から逸脱する装置の動作

− 試験装置及び試験セットアップ

使用説明

製造業者は，EUTの使用を意図した電磁環境を指定しなければならない。

製造業者が（6.4に規定する）許容可能な性能の喪失又は最小の性能レベルを指定した場合，妥当であれ

ば，イミュニティ試験条件（6.2参照）下で，関係する性能レベルを使用説明に記載しなければならない。

C 61326-1：2017 (IEC 61326-1：2012)

附属書A

（規定）

電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の

試験及び計測用の電気装置に対するイミュニティ試験要求事項

この附属書は，電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の試験及び計測用の電気装置に適

用する。充電中に動作できる装置は，この附属書から除外する。

イミュニティ試験要求事項は，表A.1による。

注記1 この附属書を適用する試験及び計測用の電気装置は広範囲の場所で用いられるが，得られた

結果を解釈できる専門家だけが使用してもよい。これらの装置が主電源に接続可能な場合で

も，通常は試験又は測定リードによって，試験の短い間だけ接続される。したがって，表A.1

に規定する要求事項は，表1よりも少ない。

注記2 この附属書を適用する装置の例としては，JIS C 61326-2-2を適用する電気装置，デジタルマ

ルチメータ，独立形電流クランプ，試験室用の装置，プログラム入力機器，現地校正装置な

どがあるが，これらだけに限らない。このような装置は，専門家が，測定の短い間だけ使用

することを意図している。

注記3 この附属書を適用しない装置の例には，監視装置，制御装置，電力測定器，オシロスコープ

などがある。このような装置は，通常は長時間の測定に使用する。

注記4 無線送信機を装置の近傍で使用する場合には，この附属書を適用する電気装置に妨害を及ぼ

す可能性がある。

表A.1−可搬形の試験及び計測装置に対するイミュニティ試験要求事項

ポート

現象

基本規格

試験値

性能評価

基準

きょう体

静電気放電（ESD）

JIS C 61000-4-2

4 kV 接触放電

8 kV 気中放電

放射無線周波電磁界

JIS C 61000-4-3

3 V/m（80 MHz〜1 GHz）

3 V/m（1.4 GHz〜2 GHz）

1 V/m（2.0 GHz〜2.7 GHz）

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8

3 A/m（50 Hz，60 Hz）a)，b)

注a) 磁気に感受性の高い装置の場合に適用。1 A/mを超えて発生するCRTディスプレイへの妨害は，許容する。

b) 試験は，電源周波数に対して適切な周波数で行う。使用を意図した電源周波数で行う。

この附属書を適用する製品に使用する充電器に対して，意図する電磁環境に基づき，表1〜表3のいず

れかの要求事項に従って試験する。