C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 概要······························································································································· 2
3.1 測定方法 ······················································································································ 2
3.2 注意点 ························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
4.1 光源（S） ····················································································································· 2
4.2 励振器（E） ················································································································· 3
4.3 光パワーメータ（D） ····································································································· 3
5 手順······························································································································· 3
5.1 方法1 ·························································································································· 3
5.2 方法2 ·························································································································· 5
5.3 測定結果の分析 ············································································································· 7
6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 7
C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験
JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定
JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
（3）
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JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
JIS C 61300-3-34 第3-34部：ランダム接続時の挿入損失
JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
JIS C 61300-3-43 第3-43部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定
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日本工業規格
JIS
C 61300-3-34：2012
(IEC 61300-3-34：2009)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−
第3-34部：ランダム接続時の挿入損失
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-
Part 3-34: Examinations and measurements-
Attenuation of random mated connectors
序文
この規格は，2009年に第3版として発行されたIEC 61300-3-34を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，ランダム接続時の光コネクタの挿入損失の平均値及び統計分布の測定方法について規定す
る。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-3-34:2009，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-34: Examinations and measurements−Attenuation of random
mated connectors（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則
注記 対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 1: General and guidance（IDT）
IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination
2
C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
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3
概要
3.1
測定方法
ランダム接続時の光コネクタの挿入損失の測定方法には，次の二つの方法がある。いずれの測定方法も，
実際に光システム内で使用する場合と同じように，ロットから選んだパッチコード（必要であれば，アダ
プタを含む。）を用いて平均的特性を評価するために用いる。このためには，パッチコード及びアダプタは，
測定値が偏らないようにランダムに選ぶ。
a) 方法1（5.1参照） 方法1は，複数の製造業者間での一つの設計検証手段として用いる。
方法1は，10本のパッチコード（20個の光コネクタ）及び10個のアダプタを用いる。この場合，
10個の全てのプラグを，順番に基準プラグとして用いる。基準プラグと残りのプラグとを用いて挿入
損失を測定する。その測定値を，図3に示す360個の試験マトリクスに記入する。
b) 方法2（5.2参照） 方法2は，製造工程管理における品質維持を確認する手段として用いる。
方法2は，15本のパッチコードを用いる。その15本のうち5本を基準パッチコードとして選び，
それぞれの片端のプラグを基準プラグとして用いる。5本の基準プラグと残りの10本のパッチコード
とを，それぞれ接続して挿入損失を測定する。その測定値を，図6に示す100個の試験マトリクスに
記入する。
方法1及び方法2の用い方は，次による。
c) 方法1は，基準の測定方法として用いる。ただし，その測定に用いる数が，日常的な検査数としては
多く，現実的な検査数ではないため，一度検証を実施すれば，次回からは方法2を適用できる。
d) 方法2において，測定値に疑義が発生した場合は，方法1で検証する。
注記 測定方法における基準プラグ及び基準パッチコードは，ロットからランダムに選定した部品
である。例えば，スクリーニング試験を実施した部品のように，特別に選定又は製造した部
品ではない。
3.2
注意点
測定を行う場合，次の要求事項に適合しなければならない。
a) クラッドモードは，除去する。
b) 光パワーP1（図1参照）の測定と光パワーP2（図2参照）の測定との間で，曲げによる挿入損失の変
化を避けるため，試験中の光ファイバの位置は固定する。
c) 測定器の安定度の規定値は，被測定部品の挿入損失の変動として0.05 dB以下，又は挿入損失の期待
値の10 %以下の最も低い値とする。この安定度は，試験時間及び動作温度範囲内で規定値以下に維持
する。また，測定器の分解能は，マルチモード光ファイバ及びシングルモード光ファイバにおいて
0.01 dB以下とする。
d) 安定した結果を得るために，測定の前に全ての光コネクタ及びアダプタの清掃及び点検を実施しなけ
ればならない。外観検査は，IEC 61300-3-1に従って行う。
e) 光ファイバ中のパワーは，非線形散乱効果が生じないレベルとする。
4
装置
4.1
光源（S）
光源は，発光素子，光コネクタ接続機構及び電気駆動回路によって構成する。光パワーを測定する間，
出力光は，規定の範囲で安定していなければならない。光源は，次の特性とする。
3
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a) 中心波長 ：個別規格に規定する。
b) スペクトル幅：150 nm 以下の半値全幅（FWHM）をもつLED
c) スペクトル幅：10 nm未満の半値全幅（FWHM）をもつLD
光源には，次のいずれかを用いる。
d) マルチモード光ファイバ用は，LEDのような広帯域波長光源を用いる。
e) シングルモード光ファイバ用には，LED又はLDを用いる。
注記 コヒーレント光を用いる場合，マルチモード光ファイバ内部でモード間干渉が生じる。これ
らは，光ファイバの出射パターンにスポット状の明暗模様が生じ，エネルギー分布又は位相
のゆらぎとなる。ゆらぎは，検出器の測定時間よりも長い周期をもつため，光パワー変動の
ような現象が生じる。したがって，マルチモード光ファイバの測定では，OTDR光源を含む
レーザダイオード光源を用いることを避け，LED又は非可干渉性（インコヒーレント）光源
を用いることが望ましい。
4.2
励振器（E）
励振器の励振条件は，JIS C 61300-1の附属書B（励振条件）による。
4.3
光パワーメータ（D）
光パワーメータは，光検出器，接続機構及び電子部品によって構成する。受光部への接続は，光コネク
タプラグ形状に適応したアダプタを用いる。受光部は，光コネクタプラグからの光量を全て受光しなけれ
ばならない。
さらに，安定度及び分解能の要求事項に適合するため，光パワーメータは，次の特性をもっていなけれ
ばならない。
直線性：マルチモード光ファイバの場合， ±0.25 dB（−5dBm〜−60 dBm）
シングルモード光ファイバの場合， ±0.1 dB（−5dBm〜−60 dBm）
注記 光パワーメータの直線性は，使用波長において−23 dBmの光パワーレベルが基準となる。
光パワーメータの安定度は，測定の間，規定値以下でなければならない。光パワーP1の測定と光パワー
P2の測定との間で，光コネクタと受光部とは一度切断するが，光コネクタを再結合したときの結合効率の
再現性は，挿入損失の変動として0.05 dB以下又は挿入損失の期待値の10 %以下の最も低い値とする。し
たがって，光検出器は，受光領域の広いものが望ましい。
光検出器の精度は，測定の要求事項に適合しなければならない。光パワーメータは，測定波長において
供試品から出る光出力レベルを測定できる感度及びダイナミックレンジをもっていなければならない。
5
手順
5.1
方法1
方法1の測定方法は，次による。
a) 測定用としてランダムに10本のパッチコードを選ぶ。それぞれのパッチコードの両端のプラグには，
順番に1aから10bまで（1a-1b，2a-2b，3a-3b，…，10a-10b）ラベルを貼る。
b) ランダムに10個のアダプタを選ぶ。それぞれのアダプタには，順番に1から10までラベルを貼る。
c) 図1に示す測定系において，パッチコード1a-1bを挿入する。プラグ1aを“基準”プラグとして光パ
ワーP1を測定する。
4
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図1−方法1の“基準”パッチコードの測定
d) 図2に示す測定系において，パッチコード2a-2bとアダプタ1とを挿入し，光パワーP2を測定する。
図2−方法1 の供試パッチコードの測定
e) 光コネクタ1a/2a及びアダプタ1の損失は，式(1)によって求める。
挿入損失＝[10 log(P1/P2)]−(A×L) ·············································· (1)
ここに，
A： km当たりの光ファイバ減衰量（dB/km）
L： 光ファイバ長（km）
注記 供試パッチコードの光ファイバ長が10 m以下の場合，A×Lの値は無視してもよい。
f)
図3のマトリクスに挿入損失の値を記入する。
g) アダプタ1を用いて接続した光コネクタ1a/2bの挿入損失を測定するために，パッチコード2a-2bを逆
にして光パワーP2を測定する。
h) f)を繰り返す。
i)
プラグ1aとアダプタ1とを“基準”構成として維持し，パッチコード2a-2bをパッチコード3a-3bに
置き換える。
j) P2を測定する。
k) 残りの供試パッチコードの全てのプラグが，“基準”プラグ1aに対して測定が終わるまでi)及びj)を
繰り返す。
l)
k)が完了した後，プラグ1bが“基準”プラグとなるように，“基準”パッチコードを逆に接続する。
m) “基準”プラグ1b及びアダプタ1に対して全ての供試プラグの接続損失を測定する。
n) m)が完了した後，プラグ2aとアダプタ2とを“基準”構成となるように，“基準”プラグ及びアダプ
タを置き換える。
o) “基準”プラグ2a及びアダプタ2に対して全ての供試プラグの挿入損失を測定する。
p) プラグ2bが“基準”プラグとなるようにl)を繰り返す。
q) 全てのプラグが順番に“基準”プラグとして，残りのパッチコード及びアダプタに対して測定が終わ
るまでこの手順を継続する。
r) 図3に示す試験マトリクスに，挿入損失測定結果を記入する。
“基準”パッチコード
供試パッチコード
S
E
プラグ
1a
プラグ
2a
D
P2
プラグ
2b
プラグ
1b
アダプタ 1
光ファイバ長
S
E
D
“基準”パッチコード
プラグ
1b
プラグ
1a
P1
5
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“基準”
構成
供試パッチコード
1a
1b
2a
2b 3a
3b 4a
4b 5a
5b
6a
6b 7a
7b 8a
8b 9a
9b 10a 10b
アダプタ 1 1a
− −
1b − −
アダプタ 2 2a
− −
2b
− −
アダプタ 3 3a
− −
3b
− −
アダプタ 4 4a
− −
4b
− −
アダプタ 5 5a
− −
5b
− −
アダプタ 6 6a
− −
6b
− −
アダプタ 7 7a
− −
7b
− −
アダプタ 8 8a
− −
8b
− −
アダプタ 9 9a
− −
9b
− −
アダプタ 10 10a
− −
10b
− −
平均値
最大値
標準偏差値
統計値
平均値
最大値
標準偏差値
図3−方法1の試験マトリクス
5.2
方法2
方法2の測定方法は，次による。
a) 測定用に15本のパッチコード及び5個のアダプタをランダムに選ぶ。
b) この15本から，ランダムに5本のパッチコードを選び，それぞれのパッチコードの片端のプラグにラ
ベルを貼る。これらは“基準”プラグとなる。同様に，アダプタにも1から5まで（1，2，3，4，5）
ラベルを貼る。残りのプラグには，順番に1aから10bまで（1a-1b，2a-2b，3a-3b，…，10a-10b）ラ
ベルを貼る。
c) 図4に示す測定系で，プラグ1を“基準”プラグとして光パワーP1を測定する。
図4−方法2 の“基準”パッチコードの測定
S
E
D
“基準”パッチコード
プラグ
1
P1
6
C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) 図5に示す測定系において，供試パッチコード1a-1bとアダプタ1とを挿入し，光パワーP2を測定す
る。
図5−方法2 の供試パッチコードの測定
e) 光コネクタ1a/2a及びアダプタ1の損失は，式(2)によって求める。
挿入損失＝[10 log(P1/P2)]−(A×L) ·············································· (2)
ここに，
A： km当たりの光ファイバ減衰量（dB/km）
L： 光ファイバ長（km）
注記 供試パッチコードの光ファイバ長が10 m以下の場合，A×Lの値は無視してもよい。
f)
“基準”プラグとアダプタとで接続した供試プラグ1/1bの挿入損失を得るために，パッチコード1a-1b
を逆に接続して光パワーP2を測定する。
g) 残りの供試パッチコードの全てのプラグが“基準”プラグ1及びアダプタ1に対して測定が終わるま
で，d)〜f)を繰り返す。
h) g)が完了したら，“基準”プラグ2及びアダプタ2が“基準”構成となるように“基準”プラグを置き
換える。
i)
“基準”プラグ2及びアダプタ2に対して全ての供試プラグの接続損失を測定する。
j)
全ての“基準”プラグ及びアダプタを順番に用い，全ての供試パッチコードに対して測定が終わるま
で，この手順を継続する。
k) 図6に示す試験マトリクスに，挿入損失測定結果を記入する。
S
E
プラグ
1
1a
D
P2
1b
アダプタ1
プラグ
プラグ
“基準”パッチコード
供試パッチコード
ファイバ長 L
7
C 61300-3-34：2012 (IEC 61300-3-34：2009)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
“基準”構成
供試プラグ
1
2
3
4
5
平均値
最大値
標準偏差値
1a
1b
2a
2b
3a
3b
4a
4b
5a
5b
6a
6b
7a
7b
8a
8b
9a
9b
10a
10b
平均値
最大値
標準偏差値
統計値
平均値
最大値
標準偏差値
図6−方法2 の試験マトリクス
5.3
測定結果の分析
方法1又は方法2の試験マトリクスの平均値及び最大値を計算する。それらの値は，関連する光コネク
タ性能標準の規定値を満足しなければならない。
6
個別規格に規定する事項
必要がある場合，次の事項を製品規格などの個別規格に規定する。
− 性能・特性（許容損失及び統計ばらつき）
− 光源波長
− km当たりの光ファイバ減衰量
− この規格の測定方法との差異