C 61300-3-27：2012 (IEC 61300-3-27：1997)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲及び概要 ············································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 概要 ···························································································································· 1
2 装置······························································································································· 2
3 手順······························································································································· 2
4 個別規格に規定する事項 ···································································································· 5
C 61300-3-27：2012 (IEC 61300-3-27：1997)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定
JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
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日本工業規格 JIS
C 61300-3-27：2012
(IEC 61300-3-27：1997)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−第3-27部：
多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test
and measurement procedures-Part 3-27: Measurement method for the
hole location of a multiway connector plug
序文
この規格は，1997年に第1版として発行されたIEC 61300-3-27を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲及び概要
1.1
適用範囲
この規格は，光ファイバを配列するための多心光ファイバ挿入穴，及び2本のアライメントピンを位置
決めする二つのガイドピン穴をもつ多心光ファイバコネクタプラグの光ファイバ挿入穴位置の測定方法に
ついて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-3-27:1997，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-27: Examinations and measurements−Measurement method for
the hole location of a multiway connector plug（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
概要
二つのガイドピン穴中心間の距離Lは，一方のガイドピン穴中心から他方のガイドピン穴中心までの距
離として規定する。位置ずれPiは，光ファイバ挿入穴中心の基準位置から実際の光ファイバ挿入穴中心ま
での距離として規定する。光ファイバ挿入穴中心の基準位置は，二つのガイドピン穴中心を結ぶ基準線上
にあるプラグ端面中心から規定の距離だけ離れた位置の点として規定する（図1参照）。
注記 規定の距離は，かん合標準に規定している。
プラグ端面の次の寸法は，コネクタの機械的及び光学的性能を満たすために正確に測定しなければなら
ない。
距離L：二つのガイドピン穴中心間の距離
位置ずれPi：光ファイバ挿入穴中心の基準位置から実際の光ファイバ挿入穴中心までの距離
2
C 61300-3-27：2012 (IEC 61300-3-27：1997)
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これらの寸法は，画像処理技術を用いた非接触測定機器によって測定する。
L：二つのガイドピン穴中心間の距離
Pi：光ファイバ挿入穴中心の基準位置から実際の光ファイバ挿入穴中心までの距離
図1−距離（L）及び位置ずれ（Pi）の定義
2
装置
次の装置で構成する。
a) CCDカメラ付き顕微鏡（CCD）
b) 画像処理装置（I）
c) モニタ（M）
d) 拡散照明が可能な光源（LAMP）
e) 可動台（S）
f)
可動台駆動装置（SD）
g) 測長器（DM）
h) コンピュータ（CPU）
3
手順
穴位置の計算は，次の方法によって，それぞれの穴位置測定ごとに行っても，全ての穴位置測定の最後
にまとめて行ってもよい。
3.1
図2に示すように測定装置を構成する。
3
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図2−コネクタ穴位置の測定装置例
3.2
通電後，測定装置の温度が安定するまで十分な時間をとる。
3.3
可動台（S）の上にプラグのガイドピン穴の中心軸が可動台のX-Y面に対して垂直になるようにプ
ラグを取り付ける。
3.4
ガイドピン穴及び光ファイバ挿入穴を照明する。
3.5
測長器（DM）を使ってステージの原点を決めて記録する。画像処理装置（I）を使ってモニタ画面
上の（X,Y）マーカを表示する。可動台を動かしたとき，モニタ画面上の（X,Y）座標は可動台の移動によ
って変化することを確認する。
3.6
測定対象のガイドピン穴がモニタ画面上で観測できるように可動台を移動する。
3.7
一方のガイドピン穴画像の円周上の3点以上の（X,Y）位置を記録する。円周上の測定点に対して計
算した円の中心（Xp1,Yp1）を求める（図3参照）。
4
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図3−ガイドピン穴位置の測定例
3.8
他方のガイドピン穴に対して，3.6及び3.7を繰り返す。他方のガイドピン穴の円の中心位置（Xp2,Yp2）
を求める。
3.9
二つのガイドピン穴中心間の距離Lは，次の式によって算出する。
(
)(
)2
2
p
1p
2
2
p
1p
Y
Y
X
X
L
−
+
−
=
3.10 次に，プラグ端面中心（Xc,Yc），及びそれぞれの光ファイバ挿入穴中心の基準位置（Xdi,Ydi）を決定
する。プラグ端面中心（Xc,Yc）は，二つのガイドピン穴の中心（Xp1,Yp1）及び（Xp2,Yp2）の間の中点として
求める。光ファイバ挿入穴中心の基準位置（Xdi,Ydi）はプラグ端面中心（Xc,Yc）から規定の距離だけ離れた
点として規定する。光ファイバ挿入穴中心の基準位置は，二つのガイドピン穴中心を結ぶ基準線上になけ
ればならない（図4参照）。
図4−光ファイバ挿入穴中心の基準位置の決定
3.11 モニタ上で測定対象の光ファイバ挿入穴の像を観測できるように可動台を移動する。
3.12 それぞれの光ファイバ挿入穴画像の円周上の3点以上の座標（X,Y）を記録する。円周上の測定点に
対して計算した円の中心（Xfi,Yfi）を求める（図5参照）。
5
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図5−光ファイバ挿入穴の位置測定の例
3.13 それぞれの光ファイバ挿入穴中心の位置ずれPiは，次の式によって算出する。
(
)
(
)2
di
fi
2
di
fi
Y
Y
X
X
Pi
−
+
−
=
4
個別規格に規定する事項
必要がある場合，次の事項を製品規格などの個別規格に規定する。
− CCDカメラの解像度
− 測長器の分解能
− 周囲温度
− 二つのガイドピン穴中心間の距離L及び位置ずれPiの許容値