JISC61300-2-9:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－基本試験及び測定手順－第２

C 61300-2-9：2012

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 概要······························································································································· 2

4 装置······························································································································· 2

4.1 衝撃装置 ······················································································································ 2

4.2 取付ジグ ······················································································································ 2

4.3 測定装置 ······················································································································ 2

5 手順······························································································································· 2

5.1 前処理 ························································································································· 2

5.2 初期測定 ······················································································································ 2

5.3 試験 ···························································································································· 2

5.4 後処理 ························································································································· 3

5.5 最終測定 ······················································································································ 3

6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 3

7 個別に規定する事項 ·········································································································· 4

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 5

C 61300-2-9：2012

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1 第1部：通則

JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験

JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験

JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験

JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験

JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）

JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験

JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験

JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験

JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定

JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 61300-2-9：2012

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−第2-9部：衝撃試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-Part 2-9: Tests-Shock

序文

この規格は，2010年に第2版として発行されたIEC 61300-2-9を基に，技術的内容を変更することなく

作成した日本工業規格であるが，JIS C 61300規格群における細分箇条の構成を統一するため，対応国際規

格の一部を日本工業規格として変更している。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，光受動部品が繰返しのない機械的衝撃を受けた場合の機械的強度及び／又は機能低下を評

価する試験手順について規定する。

衝撃は，使用中又は輸送中に受ける比較的頻度が少なく，周期性のない衝撃を想定する。

なお，質量が1 kgを超える光受動部品は，この規格の適用対象外とする。

注記1 関連する基本試験及び測定手順の通則は，JIS C 61300-1に規定する。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61300-2-9:2010，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-27，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and guidance:

Shock（IDT）

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則

注記対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance（MOD）

JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部：挿入

C 61300-2-9：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

注記対応国際規格：IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of

changes in attenuation and return loss（IDT）

JIS C 61300-3-28 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-28部：過

渡損失測定

注記対応国際規格：IEC 61300-3-28，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-28: Examinations and measurements−Transient loss

（IDT）

IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

概要

供試品を衝撃試験機の架台に設置し，正弦半波衝撃を与える。

互いに直交な3軸方向にそれぞれ2回又は3回の衝撃を与える。

試験は，JIS C 60068-2-27に従って行う。

装置

4.1

衝撃装置

衝撃試験機は，正弦半波を発生するものを用いる。また，衝撃試験機は，ピーク加速度を測定，制御で

きるものでなければならない。

4.2

取付ジグ

供試品の取付ジグは，正弦半波の衝撃を伝えることができるものを用いる。

供試品は，別途規定に従って準備し，適切な固定具を用いて衝撃試験機の架台上に堅く固定する。

4.3

測定装置

個別に規定がない場合，JIS C 61300-3-3に規定する測定装置を，試験中に光学特性をモニタするために

供試品と接続する。また，高速の損失変動を検出する場合には，JIS C 61300-3-28に規定する過渡損失測

定装置を供試品と接続する。

注記 JIS C 61300-3-3に規定する測定装置は，過渡的変化に応答できない。0.5秒未満の時間での過

渡損失の検出が必要な場合は，JIS C 61300-3-28に規定する測定装置を用いる。

手順

5.1

前処理

製造業者の指示又は個別の規定に従って，供試品を準備する。

別途規定がない場合，JIS C 61300-1で規定する標準的環境条件に供試品を2時間放置する。

5.2

初期測定

個別の規定に従って，供試品の初期測定を行う。

5.3

試験

供試品は，できる限り実際の使用時の取付け状態と同じになるよう，しっかりと取付ジグに固定する。

光ファイバ又は光ケーブルは供試品の両端から200 mm以内では固定せず，衝撃試験機の架台に対し張

C 61300-2-9：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

力がかからない状態とする。

JIS C 60068-2-27に規定する手順によって，試験を実施する。

衝撃は，互いに直交な3軸方向において双方向のそれぞれについて供試品に加える。合計で12回又は

18回の衝撃となる（表1及び表2参照）。

個別に規定がない場合，JIS C 61300-3-3に規定するように，供試品の光損失及び／又は反射減衰量変化

を試験中にモニタする。試験中の光学特性変化は，個別に規定する性能要求を満足しなければならない。

5.4

後処理

別途規定がない場合，JIS C 61300-1で規定する標準的環境条件に供試品を1分間放置する。

5.5

最終測定

試験終了後は，全ての取付ジグを取り外し，製造業者の指示に従って供試品を清掃し，供試品への恒久

的な損傷がないことを確認するために，個別に規定する最終測定を行う。最終測定の結果は，個別に規定

する性能要求を満足しなければならない。

個別に規定がない場合，IEC 61300-3-1で規定する外観検査によって，供試品に，次に示す劣化がないか

を確認する。

− 部品又は附属品の損傷，緩み又は破損

− ケーブル外被，封止部，ストレインリリーフ又は光ファイバの破損及び損傷

− 部品のずれ，わん曲，破損又は欠け

試験の厳しさの程度

試験の厳しさの程度は，ピーク加速度と衝撃回数との組合せで決める。

試験の厳しさの程度は，個別に規定する。

各試験項目の推奨値を，表1及び表2に記載する。

表1−光受動部品

項目

推奨値

波形

正弦半波

ピーク加速度

5000 m/s2：

質量≦0.125 kg

2000 m/s2：0.125 kg＜質量≦0.225 kg

500 m/s2：0.225 kg＜質量≦1 kg a)

持続時間

1 ms

衝撃回数

2方向，2回／軸

軸数

3軸（互いに直交）

注a) 質量が1 kgを超える光受動部品には，この試験は適用しない。

表2−光ファイバマネージメントシステム／クロージャ

項目

推奨値

波形

正弦半波

ピーク加速度

150 m/s2

持続時間

11 ms

衝撃回数

2方向，3回／軸

軸数

3軸（互いに直交）

C 61300-2-9：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 61300-2-9:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本
試験及び測定手順−第2-9部：衝撃試験

IEC 61300-2-9:2010 Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock

(I)JISの規定

(II)
国際
規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1 適用範囲

JISとほぼ同じ

変更

光受動部品が質量1 kgを超える場合はこ
の試験を適用しないことを記載した。

IEC規格には規定がないだけであり，
技術的差異はない。
今後IECに修正提案する。

4 装置

4.1 衝撃装置

4.1

JISとほぼ同じ

削除

衝撃を加える機構部分の記載の削除

機構を限定するものではなく，参考内
容である。
今後IECに修正提案する。

5 手順

5.1 前処理

5.1〜
5.2

細分箇条番号以外
は，JISとほぼ同じ

変更

IEC規格の5.1及び5.2をJISでは5.1と
した。ただし，内容の変更はない。

一連のJIS C 61300規格群において細分
箇条の構成を統一するため，変更した。
今後IECに修正提案する。

5.2〜5.5 初期試験
〜最終測定

5.3〜
5.6

細分箇条番号以外
は，JISとほぼ同じ

変更

IEC規格の細分箇条は項番が繰り上が
り，内容はJISと対応している。

6 試験の厳
しさの程度

表1

JISとほぼ同じ

削除

表題から“モジュール”を削除

IEC規格と異なり，JIS C 5900では，モ
ジュールを定義していないので，コン
ポーネントとモジュールとは，分けず
に光受動部品として扱う。

変更

5 000 m/s2の条件に対して，質量≦0.125 kg
を追記。500 m/s2の条件に対して，0.225 kg
≦質量≦1 kgを，0.225 kg＜質量≦1 kgと
した。

質量規定の欠落及び重複をなくした。
質量範囲の重なりは，供試品に対して
より厳しい条件となるように規定し
た。今後IECに修正提案する。

変更

光受動部品が質量1 kgを超える場合はこ
の試験を適用しないことを記載した。

IEC規格には規定がないだけであり，
技術的差異はない。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61300-2-9:2010，MOD

-2

-9

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 61300-2-9：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

-2

-9

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。