C 61300-2-46：2011 (IEC 61300-2-46：2006)
（1）
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 概要······························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
5 手順······························································································································· 2
5.1 前処理 ························································································································· 2
5.2 初期試験及び初期測定 ···································································································· 2
5.3 試験 ···························································································································· 2
5.4 後処理 ························································································································· 2
5.5 最終試験及び最終測定 ···································································································· 3
6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 3
7 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 61300-2-46：2011 (IEC 61300-2-46：2006)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会（OITDA）及
び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
また，令和2年6月22日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標準
化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
日本産業規格 JIS
C 61300-2-46：2011
(IEC 61300-2-46：2006)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−
第2-46部：湿熱サイクル試験
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-
Part 2-46: Tests-Damp heat, cyclic
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 61300-2-46を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本産業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の動作時，保管時及び輸送時に起こる可能性があ
る，高湿度の下で温度が変化する環境状態に対する供試品の耐久性を測定する試験手順について規定する。
この試験は，周期的な温度変化と結びついて，通常は供試品表面に結露が生じるような，高湿条件下の光
部品の適性を判定することを意図したものである。水分の吸収は，膨張による機能の破壊及び物理的な強
度の劣化をもたらし，重要な機械的特性に変化を引き起こす。また，これによって光学的特性の劣化も生
じる。この試験は，熱帯環境試験を意図したものではないが，絶縁体材料又は被覆材料の水分吸収を評価
するのに適している。
注記1 関連する基本試験及び測定手順の通則は，JIS C 61300-1に規定する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-2-46:2006，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 2-46: Tests−Damp heat, cyclic（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 60068-2-30 環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
cyclic (12 h + 12 h cycle)（IDT）
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C 61300-2-46：2011 (IEC 61300-2-46：2006)
JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部：挿入
損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of
changes in attenuation and return loss（IDT）
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概要
この試験方法は，JIS C 60068-2-30の試験Db，方法1を用いる。供試品を試験槽に入れ，個別規格に規
定する温度及び相対湿度を維持した湿熱環境下に規定する期間，さらす。
4
装置
4.1
試験槽 装置は，JIS C 60068-2-30の試験Dbに規定する環境試験槽で構成する。試験槽は，その中
に供試品を設置して，試験中の測定ができるとともに，規定の許容差で規定の温度及び湿度に維持できる
ものとする。一定の温湿度条件を維持するため，強制空気循環を用いてもよい。試験槽及びその附属品は，
供試品に水滴が落下しないように構成し，配置する。
規定の湿度を得るため，蒸留水，脱塩した水又は脱イオン処理した水を用いる。試験装置に由来する供
試品へのさび又は腐食汚染物質の付着があってはならない。
4.2
その他装置 個別規格に規定する試験及び測定を行うため，必要な装置を用いる。
5
手順
5.1
前処理
製造業者の指示か，又は個別規格に規定する供試品を用意する。供試品は，光源及び検出器に接続する
ための十分な長さの光ファイバケーブルによって終端する。
供試品を2時間以上室温に放置する。
製造業者の指示に従い，供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。
5.2
初期試験及び初期測定
個別規格に規定がある場合は，その規定に従って初期試験及び測定を行う。
5.3
試験
5.3.1 試験槽及び供試品を室温で安定にする。供試品に接続コード類が附属する場合には，それらも含め
て，供試品を，通常使用時の配置状態にして試験槽内に置く。
5.3.2 試験槽内の温度及び湿度を規定の厳しさに設定する。温度の上昇速度は，5分間以内の平均値で
1 ℃/minを超えてはならない。いかなる場合においても，温度は，図1に示した範囲内とする。
5.3.3 全ての試験終了後は，温度が徐々に下がり室温に達するまで，試験槽内に供試品を放置する。温度
の下降速度は，5分間以内の平均値で1 ℃/minを超えてはならない。いかなる場合においても，温度は，
図1に示した範囲内とする。
5.3.4 試験中に光学特性を測定する必要がある場合，測定間隔は，最大で1時間とする。測定時に，試験
槽から供試品を移動してはならない。JIS C 61300-3-3の規定に従って，測定を行う。
5.4
後処理
供試品を室温で2時間放置する。
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C 61300-2-46：2011 (IEC 61300-2-46：2006)
5.5
最終試験及び最終測定
個別規格に規定する最終試験及び測定を行う。
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試験の厳しさの程度
厳しさの推奨値を，次に示す。
− 試験サイクル：（図1参照）
− 高温：＋55 ℃±2 ℃
− 低温：＋25 ℃±2 ℃
− 相対湿度：≧90 %
− 1サイクルの所要時間：24 h
− サイクル数：6
注記 対応国際規格IEC 61300-2-46に記載のFigure 1は誤りであると考えられるので，修正した。
図1−試験Db−試験サイクル
7
個別規格に規定する事項
次の事項は，それぞれの事項の必要がある場合，個別規格に規定する。
− 供試品の光学的機能の状態（動作中又は停止中）
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C 61300-2-46：2011 (IEC 61300-2-46：2006)
− 供試品の光コネクタ接続状態（接続又は非接続）
− 初期試験項目及び初期測定項目並びに初期性能要求
− 試験中の試験項目及び試験中の測定項目並びに試験中の性能要求
− 最終試験項目及び最終測定項目並びに最終性能要求
− この規格で規定する試験手順からの変更点
− 追加合否判定基準
参考文献 JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通
則
IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination