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C 61300-2-27:2014 (IEC 61300-2-27:1995) 

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 概要······························································································································· 1 

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1 

1.2 試験の概要 ··················································································································· 1 

2 装置······························································································································· 1 

3 手順······························································································································· 2 

4 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 2 

5 個別に規定する事項 ·········································································································· 3 

C 61300-2-27:2014 (IEC 61300-2-27:1995) 

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 61300-1 第1部:通則 

JIS C 61300-2-1 第2-1部:正弦波振動試験 

JIS C 61300-2-2 第2-2部:繰返しかん合試験 

JIS C 61300-2-5 第2-5部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり) 

JIS C 61300-2-6 第2-6部:かん合部締結強度試験(軸方向引張り) 

JIS C 61300-2-9 第2-9部:衝撃試験 

JIS C 61300-2-12 第2-12部:落下衝撃試験 

JIS C 61300-2-14 第2-14部:光パワー損傷のしきい値試験 

JIS C 61300-2-15 第2-15部:結合部ねじり試験 

JIS C 61300-2-17 第2-17部:低温試験 

JIS C 61300-2-18 第2-18部:高温試験 

JIS C 61300-2-19 第2-19部:高温高湿試験(定常状態) 

JIS C 61300-2-21 第2-21部:混合温湿度サイクル試験 

JIS C 61300-2-22 第2-22部:温度サイクル試験 

JIS C 61300-2-26 第2-26部:塩水噴霧試験 

JIS C 61300-2-27 第2-27部:ダスト試験(層流) 

JIS C 61300-2-45 第2-45部:浸水試験 

JIS C 61300-2-46 第2-46部:湿熱サイクル試験 

JIS C 61300-2-47 第2-47部:熱衝撃試験 

JIS C 61300-2-48 第2-48部:温湿度サイクル試験 

JIS C 61300-3-1 第3-1部:外観検査及び機械的検査 

JIS C 61300-3-2 第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性 

JIS C 61300-3-3 第3-3部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法 

JIS C 61300-3-4 第3-4部:損失測定 

JIS C 61300-3-6 第3-6部:反射減衰量測定 

JIS C 61300-3-7 第3-7部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定 

JIS C 61300-3-11 第3-11部:結合力及び離脱力測定 

JIS C 61300-3-15 第3-15部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定 

C 61300-2-27:2014 (IEC 61300-2-27:1995) 

(3) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

JIS C 61300-3-16 第3-16部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定 

JIS C 61300-3-17 第3-17部:斜め研磨光ファイバコネクタのフェルールの端面角度測定 

JIS C 61300-3-20 第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定 

JIS C 61300-3-22 第3-22部:フェルール押圧力測定 

JIS C 61300-3-23 第3-23部:フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定 

JIS C 61300-3-24 第3-24部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定 

JIS C 61300-3-26 第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定 

JIS C 61300-3-27 第3-27部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定 

JIS C 61300-3-28 第3-28部:過渡損失測定 

JIS C 61300-3-30 第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定 

JIS C 61300-3-31 第3-31部:光ファイバ光源の結合パワー比測定 

JIS C 61300-3-32 第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定 

JIS C 61300-3-34 第3-34部:ランダム接続時の挿入損失 

JIS C 61300-3-36 第3-36部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定 

JIS C 61300-3-43 第3-43部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 61300-2-27:2014 

(IEC 61300-2-27:1995) 

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品− 

基本試験及び測定手順− 

第2-27部:ダスト試験(層流) 

Fiber optic interconnecting devices and passive components- 

Basic test and measurement procedures- 

Part 2-27: Tests-Dust-Laminar flow 

序文 

この規格は,1995年に第1版として発行されたIEC 61300-2-27を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

概要 

1.1 

適用範囲 

この規格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品に対するダスト試験の方法について規定する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61300-2-27:1995,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and 

measurement procedures−Part 2-27: Tests−Dust−Laminar flow(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

1.2 

試験の概要 

規定の条件でダストを含んだ空気が循環する試験槽内に,供試品を一定時間放置する。 

装置 

次の装置を用いる。 

2.1 

試験槽 

試験槽は,ダストを含んだ空気の濃度,速度,温度及び湿度を制御することが可能であり,相対湿度60 %

以下で,温度を63±2 ℃まで上昇及び維持できる性能とする。ダストを含んだ空気を循環させるために,

試験槽内の供試品の占有率は,断面積(気流の方向)50 %以下で,容積30 %以下とする。ダストを含んだ

空気は,供試品に当たる前に,おおむ(概)ね層流にして試験槽内に導入する。 

注記 我が国では,ダスト試験槽において湿度を制御する機能がない場合があるため,湿度制御は,

個別に規定してもよい。 

C 61300-2-27:2014 (IEC 61300-2-27:1995) 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2.2 

ダスト 

ダストは,150 μm孔のふるいを通過する大きさとする。 

注記 対応国際規格には,ダスト材質の規定がない。我が国では,JIS Z 8901の規定に従って決める

ことが望ましい。 

手順 

手順は,次による。ただし,供試品の前処理は個別に規定する。個別に規定がない場合,通光のない状

態で試験を行う。 

3.1 

供試品は,試験槽の中央に置くことが望ましい。2個以上の供試品を試験する場合は,供試品の表面

とその他の物体又は障害物との間を,100 mm以上離して設置する。また,供試品の全ての表面と試験槽の

内壁とを100 mm以上離し,供試品の最も重要な部分又はきずつきやすい部分にダストが当たるように置

く。供試品の設置方向の変更は,個別に規定する。 

3.2 

試験槽内温度を23±2 ℃,相対湿度を22 %未満に設定する。気流速度を530±70 m/minに合わせる。

ダスト供給装置のダスト濃度を個別に規定する厳しさに設定する。個別に規定する期間及び槽内状態を維

持する。 

3.3 

ダスト供給器を停止させ,気流速度を90±50 m/minに下げる。槽内温度を63±2 ℃に上昇させ,相

対湿度を10 %以下に維持する。個別に規定する期間,槽内状態を維持する。 

3.4 

温度を63±2 ℃に維持し,気流速度を530±70 m/minに上げる。ダスト供給装置のダスト濃度を個

別規格に規定する厳しさに設定する。相対湿度を10 %以下に維持する。個別に規定する期間及び槽内状態

を維持する。 

3.5 

試験槽の全ての制御を停止し,供試品に積もったダストが,新たに供試品に進入しないように,ブ

ラッシング,拭き取り又は振り払うことによって取り除き,供試品を標準状態に戻す。エアブラスト又は

真空掃除機は,用いてはならない。 

3.6 

供試品に対して,個別に規定した事項の全ての調査及び外観検査を行う。ベアリング,封止材,潤

滑油などを用いる供試品の取扱いは,慎重に行う。供試品を再接続する前に,標準的な清掃手順に従って,

全ての残留ダストを除去する。 

注記 3.2,3.3及び3.4において,槽内湿度を制御する手順があるが,我が国で用いている試験槽には,

湿度を制御する機能がない場合があるため,湿度条件は,個別に規定してもよい。 

試験の厳しさの程度 

試験の厳しさの程度は,ダスト濃度と各試験の実施時間との組合せで定め,個別に規定する。 

厳しさの程度の推奨値を,表1及び表2に示す。 

表1−ダスト濃度 

単位 g/m3 

10.6±7.1 

25±5 

background image

C 61300-2-27:2014 (IEC 61300-2-27:1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表2−試験時間 

単位 時間 

1 2 4 6 8 12 16 24 

個別に規定する事項 

必要に応じて,次の事項を製品規格などに規定する。 

a) 各試験の実施時間及び湿度条件 

b) 試験中における供試品設置方向の変更 

c) 試験中における通光の有無 

d) 供試品の締結の有無 

e) ダストの仕様(例えば,材質,形及び大きさ) 

f) 

前処理の条件 

g) 後処理の条件 

h) 初期測定の項目 

i) 

試験中の測定項目 

j) 

最終測定の項目 

k) この試験方法との差異 

l) 

合否判定基準 

参考文献 JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子