JISC61300-2-21:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－基本試験及び測定手順－第２

C 61300-2-21：2012

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 2

3 概要······························································································································· 2

4 装置······························································································································· 2

4.1 概要 ···························································································································· 2

4.2 高湿度試験槽 ················································································································ 2

4.3 低温試験槽 ··················································································································· 2

4.4 低温サブサイクルに用いる高湿度試験槽············································································· 3

4.5 光源及び光パワーメータ ································································································· 3

5 手順······························································································································· 3

5.1 前処理 ························································································································· 3

5.2 初期測定 ······················································································································ 3

5.3 試験 ···························································································································· 3

5.4 最終測定 ······················································································································ 7

6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 7

7 個別に規定する事項 ·········································································································· 7

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 9

C 61300-2-21：2012

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1 第1部：通則

JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験

JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験

JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験

JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験

JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）

JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験

JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験

JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験

JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定

JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 61300-2-21：2012

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−

第2-21部：混合温湿度サイクル試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-

Part 2-21: Tests-Composite temperature/humidity cyclic test

序文

この規格は，2009年に第2版として発行されたIEC 61300-2-21を基に，技術的内容を変更することなく

作成した日本工業規格であるが，JIS C 61300規格群における細分箇条の構成を統一するため，対応国際規

格の一部を日本工業規格として変更している。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の高温及び高湿並びに低温環境条件での耐久性の

測定手順について規定する。

この試験は，単なる水分の吸収ではなく，水分の吸収及び乾燥を繰り返す呼吸作用によって，供試品に

発生する欠陥を検出することを意図している。この試験は，結露に加え，割れ及び裂け目にたまった水分

の氷結の作用についても調べる。結露の程度は，供試品の大きさ及び熱容量に依存する。

この試験とその他の高温高湿サイクル試験との相違は，次に示す項目の試験条件が厳しくなっている点

である。

a) 水分の吸収及び乾燥を繰り返すポンプ動作を促進するために，所定の時間内での温度変化の回数が多

い。

b) 温度変化の範囲が大きい。

c) 温度変化の速度が速い。

d) 0 ℃以下となる温度サイクルを含む。

この試験は，特に多様な材料で構成されている光ファイバデバイスにおいて重要である。

注記1 関連する試験及び測定方法の通則は，JIS C 61300-1に規定する。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61300-2-21:2009，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 2-21: Tests−Composite temperature/humidity cyclic test

（MOD）

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 60068-2-38 環境試験方法（電気・電子）温湿度組合せ（サイクル）試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-38，Environmental testing−Part 2-38: Tests−Test Z/AD: Composite

temperature/humidity cyclic test（IDT）

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則

JIS C 61300-3-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-4部：損失

測定

注記対応国際規格：IEC 61300-3-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation（IDT）

IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

概要

この試験の手順は，JIS C 60068-2-38（試験Z/AD）による。供試品を環境試験槽の中に置き，1サイク

ル24時間の温湿度サイクルを10回実施する。9回目までのサイクルの任意の5回において，温湿度サブ

サイクルに続き低温サブサイクルを実施する。

装置

4.1

概要

温湿度サブサイクル及びこれに続く低温サブサイクルを，一つの槽で実施してもよく，二つの槽を用い

てもよい。

4.2

高湿度試験槽

温湿度サブサイクルに用いる試験槽は，次の条件を満足しなければならない。

a) 25 ℃±2 ℃から65 ℃±2 ℃への昇温，及び65 ℃±2 ℃から25 ℃±2 ℃への降温を，90分間以上

150分間以内にできる。

b) 昇温時及び高温で保持している間は，相対湿度を(93±3) %に保持できる。降温時は，相対湿度を(88

±8) %に保持できる。

c) 槽内の試験に使用する領域の条件を，均一かつ可能な限り温湿度測定位置に近い条件となるように注

意して，温度計及び湿度計を適切に配置しなければならない。規定の温度及び湿度を維持するために，

槽内の空気を一定の風速で循環させる。

d) 供試品が，試験槽内の温度制御装置からのふく（輻）射熱を受けないようにする。

e) 結露水は，常時槽外に排出する。結露水を，再精製することなく再利用してはならない。

供試品は，試験槽の天井又は壁面から供試品に結露水が落下しないように配置する。

4.3

低温試験槽

低温サブサイクルに用いる試験槽は，次の条件を満足しなければならない。

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

a) 温度を，−10 ℃±2 ℃に保持できる。

b) 槽内の試験に使用する領域の条件を，均一かつ可能な限り温湿度測定位置に近い条件となるように注

意して，温度計及び湿度計を適切に配置しなければならない。槽内の空気を循環させる。

c) 供試品の熱容量が，槽内の条件に影響を与えることがないようにする。

4.4

低温サブサイクルに用いる高湿度試験槽

高湿度試験槽を低温サブサイクルにも用いる場合は，4.2の事項によるほか，次の事項によって構成する。

a) 25 ℃±2 ℃から−10 ℃±2 ℃への降温を，30分間以内にできる。

b) 供試品を−10 ℃±2 ℃に3時間保持できる。

c) −10 ℃±2 ℃から25 ℃±2 ℃への昇温を，90分間以内にできる。

4.5

光源及び光パワーメータ

光損失の変化を測定するために用いる光源及び光パワーメータは，JIS C 61300-3-4の規定を満足しなけ

ればならない。

手順

5.1

前処理

製造業者の指示又は個別の規定によって，供試品を準備する。供試品は，光源及び光パワーメータとの

接続を容易にするために，十分な長さの光ファイバで接続する。

製造業者の指示によって，供試品の光コネクタなどの光学結合部を清掃する。

個別に規定のない場合，試験の前に，供試品の電源を切った使用待機状態で，図1に示すように55 ℃

±2 ℃かつ相対湿度20 %以下の条件に，供試品を24時間放置する。

続いて，供試品をJIS C 61300-1に規定する標準的環境条件又は個別に規定した状態に置き，温度を安定

させる。

5.2

初期測定

個別の規定によって，供試品の外観検査，光学特性測定及び機械特性の検査を行う。

5.3

試験

5.3.1

概要

供試品の電源を切った使用待機状態で，通常動作する配置又は個別に規定した配置で，供試品を高湿度

試験槽に置く。24時間温湿度サイクルを10サイクル実施する。

1回目〜9回目のサイクルの任意の5サイクルにおいて，図2のa〜fに示した温湿度サブサイクル実施

後に，低温サブサイクルを実施する。

温湿度サブサイクル及び低温サブサイクルは，一つの槽で行っても，二つの槽を用いてもよい。二つの

槽を用いる場合には，温湿度サブサイクルと低温サブサイクルとの移行において，供試品が，熱衝撃試験

に相当するような急激な温度変化を受けないように注意する。ただし，供試品が，そのような温度変化に

対して鈍感であることがあらかじめ判明している場合には，その限りではない。

二つの槽を用いて試験を行い，供試品が熱衝撃によって致命的な損傷を受けた場合には，予備の供試品

を用意し，より緩やかな温度変化で再試験を実施する。予備の供試品が，再試験に合格した場合は，試験

に合格したものとして扱う。

1回目〜9回目のサイクルまでのうちの，その他の4サイクルでは，5.3.2.3による24時間サイクルを実

施し，低温サブサイクルは実施しない。

温湿度サブサイクルは，全てのサイクルで同じとする。

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.3.2

24時間サイクル

5.3.2.1

温湿度サブサイクル

温湿度サブサイクル（図2参照）は，全てのサイクルで実施する。

各24時間サイクルの開始時点においては，試験槽の条件を，試験槽の温度を25 ℃±2 ℃に，相対湿度

を(93±3) %にする。

a) 試験槽の温度を，一定速度で65 ℃±2 ℃に90分間以上150分間以内に昇温する。この間，相対湿度

を(93±3) %に保持する。

b) 試験サイクルの開始後5.5時間まで，試験槽の温度を65 ℃±2 ℃に，相対湿度を(93±3) %に保持す

る。

c) 続いて，温度を25 ℃±2 ℃に90分間以上150分間以内に降温する。この間，相対湿度を(88±8) %

に保持する。

d) 試験サイクルの開始から8時間後に，再び試験槽の温度を一定速度で65 ℃±2 ℃に90分間以上150

分間以内に昇温する。この間，相対湿度を(93±3) %に保持する。

e) 試験サイクルの開始後13.5時間まで，試験槽の温度を65 ℃±2 ℃に，相対湿度を(93±3) %に保持す

る。

続いて，温度を25 ℃±2 ℃に90分間以上150分間以内に降温する。この間，相対湿度を(88±8) %

に保持する。

g) 続いて，低温サブサイクルの開始又は24時間サイクルの終了まで，試験槽の温度を25 ℃±2 ℃に，

相対湿度を(93±3) %に保持する。

5.3.2.2

低温サブサイクル

1回目〜9回目のサイクルの任意の5サイクルにおいて，次によって実施する（図2参照）。

a) 温湿度サブサイクル（図2のa〜f）の終了に引き続いて，試験サイクルの開始後17.5時間まで，試験

槽の温度を25 ℃±2 ℃に，相対湿度を(93±3) %に保持する。

b) 続いて，試験サイクルの開始後17.5時間後から30分間以内に，試験槽の温度を−10 ℃±2 ℃に降温

する。

c) 試験サイクルの開始後18時間後から3時間，試験槽の温度を−10 ℃±2 ℃に保持する。低温サブサ

イクルの間は，湿度の条件についてはこれを定めない。

d) 試験サイクルの開始後21時間後から22.5時間後までの間に，図2によって温度を25 ℃±2 ℃に昇温

する。二つの槽の間で供試品を移動する場合は，15分間以内に移動を終了する。

e) 24時間サイクルの終了まで，試験槽の温度を25 ℃±2 ℃に保持する。この間，相対湿度を(93±3) %

に保持する。

5.3.2.3

低温サブサイクルを含まない24時間サイクル

1回目〜9回目のサイクルのうちの，その他の4サイクルにおいて実施する。

温湿度サブサイクルの後に低温サブサイクルを含まないサイクルは，5.3.2.1に規定するサイクルと同一

である。ただし，5.3.2.1のg)において，24時間サイクルの終了まで，試験槽の温度を25 ℃±2 ℃に，相

対湿度を(93±3) %に保持する。

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図1−前処理

相対湿度20 %以下

時間（h）

相

対

湿

度

（

）

温

度

（

℃

）

冷却速度規定なし

前処理時間

安定化期間

乾燥期間

初期測定

時間（h）

標準的環境条件
又は個別に規定
した状態

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図2−温湿度サブサイクル及びこれに続く低温サブサイクル

相

対

湿

度

（

）

温

度

（

℃

）

相対湿度規定なし

時間（h）

推奨範囲

許容範囲

推奨範囲

許容範囲

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.3.2.4

最終サイクル

最終サイクルでは，温湿度サブサイクルの終了後に，試験槽を温度25 ℃±2 ℃かつ相対湿度(93±3) %

で3.5時間保持し，その後に最終測定を実施する。

5.4

最終測定

5.4.1

概要

全ての試験ジグを取り外し，個別に規定する最終測定を行い，供試品に恒久的な損傷がないことを確認

する。最終測定の結果は，個別に規定する特性の許容範囲に収まらなければならない。

光学特性及び機械的特性の測定を，試験槽から供試品を取り出した直後か又は乾燥後のいずれかで実施

する。いずれの時点で実施するかを，個別に規定する。

個別に規定がない場合，IEC 61300-3-1に規定する外観検査によって，供試品に，次に示す劣化がないか

を確認する。

− 部品又は附属品の損傷，緩み又は破損

− ケーブル外被，シール，ストレインリリーフなどの破損又は損傷

− 部品のずれ，わん曲又は破損

5.4.2

試験槽からの取り出し直後の測定

最終サイクルの終了後に，供試品を試験槽から取り出し，標準的環境条件に保持する。

ただし，初期測定を，標準的環境条件とは異なる条件で実施した場合には，その条件と同一の条件で最

終測定を行う。

規定の光学測定及び機械的特性の測定を，供試品を試験槽から取り出してから1時間以上2時間以内に

実施する。

この時間範囲の初期に測定を実施した項目については，1回に限り時間範囲内に再測定をすることがで

きる。この場合は，再測定の結果を合否判断に用いる。

5.4.3

乾燥後の測定

最終サイクルの終了後に，供試品を試験槽から取り出し，JIS C 61300-1に規定する標準的環境条件に24

時間保持する。

ただし，初期測定を標準的環境条件とは異なる条件で実施した場合には，その条件と同一の条件で最終

測定を行う。

24時間以内に測定をする場合であっても，合否判断は24時間保持後の測定結果だけを用いて判断する。

試験の厳しさの程度

試験の厳しさの程度は，相対湿度及び暴露時間，低温の温度及び時間，並びに低温サブサイクルの時間

及びサイクル数の各組合せで決める。

個別に規定のない場合，24時間サイクルを10回実施する。試験回数を変更する場合は，個別にサイク

ル数及び低温サブサイクルを実施する回数並びにどのサイクルで低温サブサイクルを実施するかを規定す

る。

個別に規定する事項

必要に応じて，次の事項を製品規格などに規定する。

− 供試品の光学動作

− 供試品の（光コネクタ）かん（嵌）合

C 61300-2-21：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 61300-2-21:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本
試験及び測定手順−第2-21部：混合温湿度サイクル試験

IEC 61300-2-21:2009 Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 2-21: Tests−Composite temperature/humidity cyclic test

(I)JISの規定

(II)
国際
規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異の理由及び今後
の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

5 手順

5.1

5.1〜
5.2

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の5.1及び5.2を
JISでは5.1とした。ただし，
内容の変更はない。

一連のJIS C 61300規格群において細分箇条の構
成を統一するため，変更した。
また，5.1において，初期測定を実施するときの温
度及び湿度の範囲を，JIS C 61300-1の表1に規定
する標準的環境条件に合わせるように修正した。
今後，IECに修正提案する。

5.2〜5.4

5.3〜
5.5

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の細分箇条は項番
が繰り上がり，内容はJIS
と対応している。

5.3.2.2 低温サブサ
イクル

5.4.2.2 細分箇条番号以外

は，JISと同じ。

変更

試験槽の保持時間の規定を
変更した。

IEC規格では，保持時間を“1時間以上2時間未満”
としているが，図2のfにおいて試験サイクルの開
始後（15時間後から）15.5時間後までに降温した
場合，図2のfの保持時間と合わせて考えると2
時間を超えてしまう。混乱を避けるため，保持時
間の規定を削除し，“試験サイクルの開始後17.5
時間後まで”とした。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61300-2-21:2009，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

-2

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。