C 61300-2-18：2009 (IEC 61300-2-18：2005)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 概要······························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
5 手順······························································································································· 2
5.1 前処理 ························································································································· 2
5.2 初期試験及び測定 ·········································································································· 2
5.3 試験 ···························································································································· 2
5.4 後処理 ························································································································· 3
5.5 最終試験及び測定 ·········································································································· 3
6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 3
7 個別に規定する事項 ·········································································································· 3
C 61300-2-18：2009 (IEC 61300-2-18：2005)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財
団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工
業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験（予定）
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 61300-2-18：2009
(IEC 61300-2-18：2005)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−第2-18部：高温試験
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-
Part 2-18: Tests-High temperature
序文
この規格は，2005年に第2版として発行されたIEC 61300-2-18を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，光デバイス又はクロージャの動作時，保管時及び輸送時に起こる可能性がある高温環境条
件での耐久性の測定手順について規定する。
この試験は，デバイス及びクロージャを，一定の高温の環境に規定時間さらしたときの，デバイス及び
クロージャの性能の測定を目的とする。
この試験は，高温における軟化及び膨張による故障を引き起こすような温度を規定する。
この手順では，IEC 61300-2-22で規定する，動作温度変化時の部品の性能は含まない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-2-18：2005，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance (IDT)
なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）−試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat (IDT)
IEC 61300-2-22，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature
IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination
IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of changes in attenuation and
2
C 61300-2-18：2009 (IEC 61300-2-18：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
return loss
IEC 61300-3-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation
3
概要
この試験手順は，JIS C 60068-2-2の試験Bbに従って，実施する。
供試品を試験槽の中に置き，乾燥した高温にさらす。試験槽の温度は，個別規格で規定する時間，指定
する温度に保つ。必要に応じて，試験中，供試品の挿入損失をモニタする。
4
装置
4.1
試験槽 試験槽は，JIS C 60068-2-2の試験Bbで規定する環境試験槽を用いる。試験槽は，供試品を
収容することができ，必要に応じて試験条件下で測定することができるものを用いる。また，試験槽は，
規定する許容誤差範囲内で温度及び湿度を維持できなければならない。均一性を維持するため，空気強制
循環装置を使用してもよい。
供試品を，加熱部又は冷却部に直接さらさないように注意する。
4.2
光源及び光検出器 挿入損失の変化を測定するために用いる光源及び光検出器は，IEC 61300-3-4の
規定を満足しなければならない。
注記 光検出器が連続してモニタする機能をもたない場合は，時間ごとに挿入損失 (X, t) を記録する
装置を用いることが望ましい。
5
手順
JIS C 60068-2-2の試験Bbに規定する手順で行う。
個別規格で特に指定のない限り，次の規定に従う。
− 供試品に入出力光ファイバがある場合は，試験中にモニタするポートに接続した光ファイバは，1.5 m
以上を試験槽の中に収納する。
− 試験中に光学測定が必要な場合，1時間以内の間隔で測定する。
5.1
前処理
製造業者の指示に従って，供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。
別途規定のない限り，供試品を2時間以上室温に放置する。
5.2
初期試験及び測定
個別規格で規定がある場合は，初期試験及び測定を行う。
5.3
試験
5.3.1
試験槽及び供試品を室温に置く。供試品は，通常動作する配置に［必要である場合には周辺装置を
つ（吊）り下げて］設置する。
5.3.2
試験槽を規定の温度及び湿度に調整する。温度変化の割合は，1 ℃/min以下とする。供試品は温度
が安定した後，規定時間，試験温度で保持する。
5.3.3
試験終了後，温度が室温に徐々に下がるまで，供試品を試験槽内に放置する。
5.3.4
試験中に光学測定が必要な場合は，1時間以内の間隔で測定する。測定は， IEC 61300-3-3に従っ
て行う。
3
C 61300-2-18：2009 (IEC 61300-2-18：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.4
後処理
供試品を，2時間以上，室温で放置する。
5.5
最終試験及び測定
供試品及び供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。すべての試験ジグを取り外し，個別規格で
規定する最終測定を行い，供試品に恒久的な損傷がないことを確認する。最終測定の結果は，個別規格で
規定する特性の許容範囲に収まらなければならない。
別途規定のない限り，IEC 61300-3-1で規定する外観検査により，供試品に，次のような劣化がないかど
うかを確認する。
− 破損又は部品及び附属品の欠落若しくは損傷
− ケーブル被覆，シール，ストレインレリーフ，ファイバなどの破損又は損傷
− 部品のずれ，湾曲又は損傷
6
試験の厳しさの程度
試験の厳しさの程度は，温度及び暴露時間の組合せで決まる。厳しさの程度は，個別規格で規定する。
表1に示す厳しさの程度の一つを規定しなければならない。
表1−厳しさの程度
温度 ℃
暴露時間 h
60
96
70
85
7
個別に規定する事項
次の事項は，必要に応じて個別に規定する。
a) 温度
b) 初期試験項目及び測定項目並びに性能要求
c) 試験中の試験項目及び測定項目並びに性能要求
d) 最終試験項目及び測定項目並びに性能要求
e) 規定手順からの変更点
f)
追加合否基準