JISC61300-2-14:2020 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－基本試験及び測定手順－第２

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 装置······························································································································· 2

3.1 光源 ···························································································································· 2

3.2 光パワーメータ ············································································································· 2

3.3 恒温槽 ························································································································· 3

3.4 データ収集システム ······································································································· 3

3.5 光ブランチングデバイス ································································································· 3

3.6 テンポラリジョイント ···································································································· 3

3.7 安全装置 ······················································································································ 3

3.8 試験構成 ······················································································································ 3

4 手順······························································································································· 4

4.1 前処理 ························································································································· 4

4.2 初期試験及び測定 ·········································································································· 4

4.3 試験 ···························································································································· 4

4.4 後処理 ························································································································· 4

4.5 最終試験及び測定 ·········································································································· 4

5 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 5

5.1 概要 ···························································································································· 5

5.2 光パワー ······················································································································ 5

5.3 波長 ···························································································································· 5

5.4 温度 ···························································································································· 5

5.5 湿度 ···························································································································· 5

5.6 暴露時間 ······················································································································ 5

6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 5

附属書A（規定）測定系の例 ·································································································· 7

附属書B（参考）暴露時間中の合否判定基準の例 ········································································ 9

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人

光産業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本

産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS C 61300-2-14:2011は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1 第1部：通則

JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-4 第2-4部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向引張り）

JIS C 61300-2-5 第2-5部：光ファイバクランプ強度試験（ねじり）

JIS C 61300-2-6 第2-6部：かん合部締結強度試験（軸方向引張り）

JIS C 61300-2-7 第2-7部：かん合部締結強度試験（曲げモーメント）

JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験

JIS C 61300-2-11 第2-11部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向圧縮）

JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14 第2-14部：高光パワー試験

JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験

JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験

JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）

JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験

JIS C 61300-2-24 第2-24部：応力印加によるセラミック割りスリーブのスクリーニング試験

JIS C 61300-2-26 第2-26部：塩水噴霧試験

JIS C 61300-2-27 第2-27部：ダスト試験（層流）

JIS C 61300-2-35 第2-35部：光ファイバクランプ強度試験−ケーブルニューテーション

JIS C 61300-2-40 第2-40部：SM調心円筒形斜めPC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS C 61300-2-41 第2-41部：SM調心円筒形直角PC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS C 61300-2-44 第2-44部：光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ

JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

（3）

JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-49 第2-49部：取付け済み光ファイバコード付き光ファイバコネクタプラグの曲げ試

験

JIS C 61300-2-50 第2-50部：光ファイバクランプ強度試験−非通光左右曲げ引張り

JIS C 61300-2-51 第2-51部：光ファイバクランプ強度試験−通光左右曲げ引張り

JIS C 61300-2-55 第2-55部：光ファイバアダプタ取付強度試験−軸方向

JIS C 61300-3-1 第3-1部：外観検査及び機械的検査

JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定

JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-11 第3-11部：結合力及び離脱力測定

JIS C 61300-3-14 第3-14部：可変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定

JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-21 第3-21部：切替時間測定

JIS C 61300-3-22 第3-22部：フェルール押圧力測定

JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-25 第3-25部：直角端面フェルール及び光ファイバ取付け直角端面フェルールの同心

度測定

JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定

JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS C 61300-3-32 第3-32部：光受動部品の偏波モード分散測定

JIS C 61300-3-33 第3-33部：ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定

JIS C 61300-3-34 第3-34部：ランダム接続時の挿入損失

JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定

JIS C 61300-3-38 第3-38部：群遅延，波長分散及び位相リップルの測定

JIS C 61300-3-40 第3-40部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測

定

JIS C 61300-3-43 第3-43部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定

JIS C 61300-3-45 第3-45部：多心光ファイバコネクタのランダム接続時の挿入損失測定

JIS C 61300-3-47 第3-47部：干渉法による直角PC端面及び斜めPC端面単心円筒形フェルールの端

面形状測定

JIS C 61300-3-50 第3-50部：光スイッチのクロストーク測定

日本産業規格 JIS

C 61300-2-14：2020

(IEC 61300-2-14：2012)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験

及び測定手順−第2-14部：高光パワー試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-

Part 2-14: Tests-High optical power

序文

この規格は，2012年に第3版として発行されたIEC 61300-2-14を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本産業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，光ファイバ接続デバイス及び光受動部品（以下，部品という。）が，使用中に起こり得る強

度の光パワーを受けた際の耐久力に関し，適合性を確認する試験手順について規定する。

注記1 関連する試験及び測定方法の通則は，JIS C 61300-1に規定している。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61300-2-14:2012，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 2-14: Tests−High optical power（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 6802 レーザ製品の安全基準

注記対応国際規格：IEC 60825-1，Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and

requirements

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則

注記対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance

JIS C 61300-3-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-1部：外観

検査及び機械的検査

注記対応国際規格：IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

test and measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部：挿入

損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

注記対応国際規格：IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of

changes in attenuation and return loss

IEC 61300-3-35，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-35: Examinations and measurements−Visual inspection of fibre optic connectors and

fibre-stub transceivers

装置

3.1

光源

光源装置は，発光素子，接続部品及び駆動用電子機器から成る。出力波長が調整可能な波長可変光源

（TLS）を，発光素子として用いてもよい。試験に必要な光パワーを得るため，波長可変光源は，波長可

変レーザ及び光増幅器，又は光ファイバリングレーザで構成してもよい。一般的に，試験に必要な光パワ

ー及びその安定性を得るため，発光素子との接続部品として，光ファイバピッグテールを必要とする。光

源の光パワーと波長／周波数は測定中安定していなければならない。高密度WDM（DWDM）デバイスの

場合，周波数の不確かさ（波長の不確かさではない。）は，動作波長範囲の半分未満でなければならない。

別途記載がない又は指示がない限り，光源は，次の仕様を満足するものを用いなければならない。

a) 中心波長確度（中心波長の安定性を含む。）

− WWDM，CWDMデバイスの中心波長の安定性：公称中心波長±5 nm

b) 中心周波数確度

− 25 GHz帯域幅のDWDMデバイスの周波数：公称中心周波数±6.3 GHz

− 50 GHz帯域幅のDWDMデバイスの周波数：公称中心周波数±12.5 GHz

− 100 GHz帯域幅のDWDMデバイスの周波数：公称中心周波数±25 GHz

c) 出力光パワーの安定性及び確度

− 公称出力光パワーに対して±0.05 dB

3.2

光パワーメータ

光パワーメータは，受光素子，接続部品及び駆動用電子機器で構成される。光パワーメータは，測定を

行うためのダイナミックレンジが十分大きく，かつ，その測定範囲内で受光感度が線形でなければならな

い。光パワーメータは，試験の間，安定性を保ち，動作波長範囲が供試品の動作波長範囲を包含しなけれ

ばならない。光パワーメータとの接続は，光コネクタプラグに適応する光アダプタを用いなければならな

い。光パワーメータは，光コネクタプラグから入射する光を全て受光しなければならない。別途記載がな

い又は指示がない限り，光パワーメータは，次の仕様を満足するものを用いなければならない。

− 直線性（線形性からのずれ）：±0.1 dB以下

− 偏光依存性を含む確度：±0.05 dB以下

− 分解能：0.01 dB以下

注記 IEC 61300-2-14では，“偏光依存性を含む不確かさ”と記載しているが，ここで記載している

のは測定器の仕様であるため，“偏光依存性を含む確度”としている。

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

3.3

恒温槽

試験には，指定された湿度を設定し，維持できる恒温槽を用いなければならない。

3.4

データ収集システム

光パワーメータのデータ記録は，手動でも自動でもよい。測定を自動で行う場合，適切なデータ収集シ

ステムを用いなければならない。

3.5

光ブランチングデバイス

使用する光ブランチングデバイスの分岐比は，試験に用いる光パワー及び波長に対して安定しており，

偏光依存性をもたないようにしなければならない。光ブランチングデバイスは，その性能が試験中は安定

していなければならない。供試品に高パワーを入力し，光パワーメータに低パワーを入力するために，光

ブランチングデバイスの分岐比は，1：99が望ましい。

3.6

テンポラリジョイント

テンポラリジョイントは，試験器具に供試品を取り付けるときに用いる。一般的に，試験の光パワー及

び安定性を考慮して，融着接続によるテンポラリジョイントが必要となる。

3.7

安全装置

試験中に人を危険から守るため，レーザ保護眼鏡，標示及びその他の安全用品を含む全ての安全装置を

用意しなければならない。

3.8

試験構成

2端子光部品に対する試験機器の一般的な構成を，図1に示す。

この試験では，試験を行う者の目又は皮膚に障害を与える可能性のある光パワーを使用する。JIS C 6802

に基づき，必要な全ての安全手段を講じなければならない。特に，供試品の外観検査を行う場合は，光フ

ァイバ中を光パワーが通らないようにするために，光パワーを止めなければならない。

光コネクタは，使用してはならない。3.6に規定するように，全ての接続点で融着接続を用いなければな

らない。

供試品

光源

恒温槽

金属ドープファイバ

（終端）

供試品

BD：光ブランチングデバイス
TJ：テンポラリジョイント
D1〜D3：光パワーメータ1〜光パワーメータ3
DAS：データ収集システム

図1−光パワー試験構成図

光ブランチングデバイスのようなマルチポート部品では，別途記載がない又は指示がない限り，全ての

入力ポートと出力ポートとの組合せで試験を行わなければならない。

WDMデバイスでは，用途に合わせて複数の波長を同時に入力しなければならない。WDMデバイスの

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

試験構成の例を，A.1に記載する。

試験機器を簡略にするために，供試品は直列に接続することができる。供試品を直列に接続する試験構

成の例を，A.2に記載する。

手順

4.1

前処理

供試品は，標準的な製品を代表するものでなければならない。

製造業者の指示書に従い，供試品を清掃して準備する。外観検査は，JIS C 61300-3-1及びIEC 61300-3-35

に従って行わなければならない。コネクタ端面の付着物又は汚れは，高い光パワー接続用途において故障

を引き起こす根本的な原因の一つである。

別途規定がない限り，供試品は，JIS C 61300-1に規定する標準的環境条件に2時間放置する。

4.2

初期試験及び測定

個別に指定した初期試験及び測定を行う。初期試験結果は，個別に決められた仕様を満足していなけれ

ばならない。

4.3

試験

4.3.1

恒温槽の内部温度を標準環境条件に設定し，供試品を準備する。恒温槽の通常の試験位置に，供試品を

置く。必要であれば，周辺機器への供試品の接続も，通常の試験位置に置かなければならない。

4.3.2

恒温槽の温度と湿度とを，規定の厳しさに調整する。温度勾配は，最大5分間の平均値で，1 ℃/minを

超えないようにしなければならない。供試品が安定した温度に達した後も，規定の暴露時間の間は温度を

維持する。

4.3.3

供試品に入射する波長と光パワーとをセットし，光源の電源を入れ，供試品へ光パワーを入力する。

4.3.4

試験の厳しさの程度で規定されている暴露時間の間，供試品に光パワーを入力し続ける。暴露中は，JIS

C 61300-3-3に従って，供試品の光損失と反射減衰量との変動をモニタする。変動は，個別規格を満足しな

ければならない（附属書B参照）。

4.3.5

規定の暴露時間を終了後，光パワーの入力を止め，恒温槽の内の温度を標準的環境条件に変更する。温

度が徐々に変化する間，供試品は，恒温槽内に維持し続ける。

4.4

後処理

個別規格で規定がない限り，供試品を，JIS C 61300-1に規定するとおり，標準的環境条件に2時間置く。

4.5

最終試験及び測定

試験が終わった段階で，全ての備品及び周辺機器を取り除き，供試品に破損がないことを確認するため，

個別規格の規定に従って最終試験及び測定を行う。製造業者の指示書に従って，供試品を清掃する。最終

測定の結果は，個別規格を満足しなければならない。

別途規定のない限り，JIS C 61300-3-1で規定する外観検査によって，供試品に次のような劣化がないか

どうかを確認する。

− 部品又は附属品の，損傷，緩み又は破損

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

− ケーブル外被，シール，ストレインリリーフ又は光ファイバの，破損又は損傷

− 部品のずれ，湾曲又は破損

試験の厳しさの程度

5.1

概要

試験の厳しさの程度は，光パワー，波長，温度，湿度及び暴露時間の組合せで決まる。この厳しさは，

個別規格で規定しなければならない。

5.2

光パワー

別途記載がない又は指示がない限り，試験の光パワーは，用途を考慮して決めなければならない。試験

に用いる光パワーの例を，次に示す。

− 10 mW，30 mW，50 mW，100 mW，300 mW及び500 mW

5.3

波長

試験波長は，個別に指定する全ての使用波長範囲の中心波長又は代表的な波長でなければならない。試

験波長の例を，次に示す。

− 980 nm，1 310 nm，1 490 nm，1 510 nm，1 550 nm，1 580 nm，1 610 nm及び1 650 nm

WDMデバイスの場合，別途記載がない又は指示がない限り，同時に入力する複数波長の組合せは，用

途を考慮して定めなければならない。

5.4

温度

別途記載がない又は指示がない限り，試験温度は，個別規格で規定する使用温度範囲の最大温度でなけ

ればならない。

5.5

湿度

別途記載がない又は指示がない限り，試験湿度は，個別規格で規定する使用湿度範囲の最大湿度に制御

しなければならない。

供試品が気密封止パッケージされている場合は，試験湿度を制御する必要はない。

5.6

暴露時間

試験の暴露時間は，供試品の熱容量を考慮して定めなければならない。その質量が，およそ0.1 kgより

も小さい部品は，試験の暴露時間として30分が望ましい。

個別規格に規定する事項

次の詳細事項は，必要に応じて個別に規定しなければならない。

a) 光パワー

b) 波長

c) 温度

d) 湿度

e) 暴露時間

初期試験項目，初期測定項目及び初期性能要求

g) 中間試験項目，中間測定項目及び中間性能要求

h) 最終試験項目，最終測定項目及び最終性能要求

規定手順からの変更点

追加合否基準

k) ポート数及び入出力ポートの組合せ

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

附属書A

（規定）

測定系の例

A.1 WDMデバイス

WDMデバイスでは，用途に合わせて複数波長を同時に入力しなければならない。2入力及び1出力の

WDMデバイスの場合について，典型的な試験系を，図A.1に記載する。

第1波長の光パワーを光源1から入力する。さらに，第2波長の光パワーを光源2から同時に入力する。

第1波長と第2波長との光パワーの比は，用途に応じて，個別規格に規定しなければならない。図A.1に

おいて，第1波長及び第2波長の減衰量の変化は，波長可変光パワーメータD1でそれぞれモニタする。

波長可変光パワーメータD1は，光スペクトラムアナライザ，又は可変フィルタと光パワーメータとの組

合せが望ましい。

恒温槽

金属ドープファイバ

（終端）

供試品

光源1

光源2

（波長可変）

BD：光ブランチングデバイス
TJ：テンポラリジョイント
D1〜D5：光パワーメータ1〜光パワーメータ5
DAS：データ収集システム

図A.1−直列接続での光パワー試験構成

A.2 直列接続での構成

試験装置を最小限にするため，供試品を直列に接続することができる。三つの供試品を同時に試験する

ための典型的な試験装置の配置を，図A.2に記載する。

この構成においては，最後の供試品，例えば図A.2の供試品3に入力する光パワーは，個別規格に規定

する光パワー以上としなければならない。

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

附属書B

（参考）

暴露時間中の合否判定基準の例

B.1

概要

光パワー暴露時間の間は，JIS C 61300-3-3に従って，光損失及び反射減衰量の変化だけを測定すること

ができる。偏光依存性損失（PDL）及び波長依存損失（WDL）をモニタすることは難しく，JIS C 61300-3-4

又は他のJIS C 61300規格群の規定に従って行う初期及び最終の測定よりも，測定の不確かさが大きくな

ることに留意する。

B.2

光損失限界のモニタ

光損失限界の暴露中の合否判定基準は，限界に収まっている供試品が誤判定によって不合格の供試品と

して誤分類されるのを防ぐために，PDL，WDL及び測定系自体によって引き起こされる測定の不確かさに

ついての考慮を含める。この光損失限界のモニタでは，少しだけ光損失が大きく不合格と分類された供試

品の一部を合格とするかもしれない。ただし，それらの供試品の一部は，最終測定で不合格とされ得る。

光損失限界のモニタ例としてAlimit, mon（dB）は，次の式(B.1)によって求める。

error

WDL

PDL

offline

limit,

mon

limit,

········································ (B.1)

ここに， Alimit, offline：オフライン時の光損失（dB）

APDL：供試品の偏波依存損失，又は個別規格で規

定する定数（dB）

AWDL：供試品の波長依存損失，又は個別規格で規

定する定数（dB）

Aerror：光源の安定性，光パワーメータの不確かさ，

及びテンポラリジョイントの損失を含むシ
ステムの測定エラーに基づく値（dB）

モニタしている間，光損失の変化ΔA（dB）は，次の式(B.2)によって求める。

()

ini

offline

limit,

ΔA

−

≦

···························································· (B.2)

ここに，

A0, ini： IEC 61300-3-4に基づく供試品の初期の光

損失

A(t)： ΔA(t)＝P(t)−P(t＝0)と同様に測定した光パ

ワー変化から算出した光損失変化

P(t＝0)：初期にモニタした光出力パワー

P(t)：時間tの時点での光出力パワー

B.3

反射減衰量限界

暴露中の反射減衰量の合否判定基準は，類似方法によって規定する場合があった。

ときには，高出力パワーに使用する測定系は，初期と最終測定とで規定する高反射減衰量の測定が安定

しない。その場合，他の合否判定基準を採用する。B.4に例を示す。

B.4

変更に基づく合否判定基準

これらの合否判定基準は，B.1及びB.2の代替，又は追加要求として採用できる。モニタしている間，

光損失の変化ΔA（dB）と反射減衰量の変化ΔRL（dB）とは，次の要求範囲内にする。

C 61300-2-14：2020 (IEC 61300-2-14：2012)

− 初期の光損失が1.0 dB未満，減衰量の変化ΔAが0.3 dB以内の部品

− 初期の光損失が2.0 dB未満，減衰量の変化ΔAが0.5 dB以内の部品

− 初期の光損失が2.0 dB以上，10.0 dB未満，減衰量の変化ΔAが1.0 dB以内の部品

− 初期の光損失が10.0 dB以上，減衰量の変化ΔAが2.0 dB以内の部品

− 反射減衰量の変化ΔRLが10.0 dB以内の部品

ここに，初期の光損失は，初期測定で測定している。

参考文献

JIS C 61300規格群光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順

注記原国際規格では，IEC 61300 (all parts)，Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement proceduresを記載している。

JIS C 61300-3-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-4部：損失

測定

注記原国際規格では，IEC 61300-3-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuationを

記載している。