JISC61300-2-1:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－基本試験及び測定手順－第２

C 61300-2-1：2012

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 概要······························································································································· 2

4 装置······························································································································· 2

4.1 概要 ···························································································································· 2

4.2 振動試験装置 ················································································································ 2

4.3 取付ジグ ······················································································································ 2

4.4 測定装置 ······················································································································ 2

5 手順······························································································································· 2

5.1 前処理 ························································································································· 2

5.2 初期測定 ······················································································································ 2

5.3 試験 ···························································································································· 2

5.4 後処理 ························································································································· 3

5.5 最終測定 ······················································································································ 3

6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 4

7 個別に規定する事項 ·········································································································· 4

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 5

C 61300-2-1：2012

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1 第1部：通則

JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験

JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験

JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験

JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験

JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）

JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験

JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験

JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験

JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定

JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 61300-2-1：2012

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−第2-1部：正弦波振動試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test

and measurement procedures-Part 2-1: Tests-Vibration (sinusoidal)

序文

この規格は，2009年に第3版として発行されたIEC 61300-2-1を基に，技術的内容を変更することなく

作成した日本工業規格であるが，JIS C 61300規格群における細分箇条の構成を統一するため，対応国際規

格の一部を日本工業規格として変更している。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，稼働中に発生する可能性のある一般的な振動周波数範囲及び振動の大きさによって，光コ

ネクタ，光受動部品及びクロージャへの振動の影響を試験する方法について規定する。

注記1 稼働中に発生するほとんどの振動は，単調な状態ではない。しかし，この規格に規定する振

動試験が，実際の稼働中の状態に対する適切な代替試験方法であることが従来から知られて

いる。

注記2 関連する基本試験及び測定手順の通則は，JIS C 61300-1に規定する。

注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61300-2-1:2009，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-6，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)（IDT）

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則

注記対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance（IDT）

C 61300-2-1：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部：挿入

損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

注記対応国際規格：IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of

changes in attenuation and return loss（IDT）

JIS C 61300-3-28 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-28部：過

渡損失測定

注記対応国際規格：IEC 61300-3-28，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-28: Examinations and measurements−Transient loss

（IDT）

IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

概要

この規格で用いる手順は，JIS C 60068-2-6を用いる。

供試品を振動試験装置に取り付け，正弦波振動させる。振動方向は互いに垂直な3軸方向とし，そのう

ちの1方向は光軸に平行とする。振動の強さは，振動振幅又は最大加速度で規定する。

装置

4.1

概要

装置は，JIS C 60068-2-6によるほか，次の4.2〜4.4による。

4.2

振動試験装置

振動試験装置は，振動発生部及び周辺機器から成る。

4.3

取付ジグ

規定の振動条件を供試品に伝えることができる適切な取付ジグを用いる。取付ジグはジグがもつ固有の

共振周波数が，規定の振動周波数範囲において測定に影響を及ぼさないように設計する。振動振幅及び加

速度は，供試品の取付位置に近いジグの上でモニタする。

4.4

測定装置

個別規格に規定がない場合，JIS C 61300-3-3に規定する測定装置を，試験中に光学特性をモニタするた

めに供試品と接続する。また，高速の損失変動を検出する場合には，JIS C 61300-3-28に規定する過渡損

失測定装置を供試品と接続する。

手順

5.1

前処理

製造業者の指示又は個別規格の規定に従って，供試品を準備する。

別途規定がない場合，JIS C 61300-1で規定する標準的環境条件に供試品を2時間放置する。

5.2

初期測定

個別規格の規定に従って，供試品の初期測定を行う。

5.3

試験

供試品は，できる限り通常搭載する状態に近い状態となるよう，しっかりと取付ジグに固定する。

C 61300-2-1：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

光ファイバ又は光ケーブルは，供試品の両端から200 mm以内では固定せず，張力がかからない状態で

振動表面に取り付ける。

JIS C 60068-2-6に規定する手順によって，試験を実施する。

供試品を，供試品の主軸方向を含む互いに垂直な3軸方向で振動させる。

供試品に軸対称性がある場合は，試験する軸の数を二つに減らすことができる。

振動耐久性は，最小振動周波数と最大振動周波数との間で，振動周波数を規定の速度で掃引することに

よって評価する。

振動試験のための装置の一例を，図1に示す。

個別規格に規定がない場合，JIS C 61300-3-28の規定に従い，試験中，供試品の光損失及び／又は反射

減衰量は，x-yプロッタ，オシロスコープ及び／又はデジタルのデータ収集システムを用いて記録する。

図1−振動試験装置例

5.4

後処理

別途規定がない場合，JIS C 61300-1で規定する標準的環境条件に供試品を2時間放置する。製造業者の

指示に従って，供試品を清掃する。

5.5

最終測定

試験終了後，全ての取付ジグを取り外し，供試品への恒久的な損傷がないことを確認するために，個別

規格で規定する最終測定を行う。最終測定の結果は，個別規格で規定する性能要求を満足しなければなら

ない。

個別規格で規定がない場合，IEC 61300-3-1で規定する外観検査によって，供試品に，次に示す劣化がな

いかを確認する。

− 部品又は附属品の損傷，緩み又は破損

− ケーブル外被，封止部，ストレインリリーフ又は光ファイバの破損及び損傷

− 部品のずれ，わん曲，破損又は欠け

配線ホルダ

加速度計

振動発生部

取付ジグ

振動制御システムへ

光ファイバ（20 cm以上）

光学モニタリング装置へ

供試品

C 61300-2-1：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

試験の厳しさの程度

試験の厳しさの程度は，次の四つの組合せで決める。

− 振動周波数範囲

− 掃引速度

− 一軸当たりの掃引回数又は試験時間

− 振動振幅又は最大加速度

試験の厳しさの程度は，個別に規定する。

試験の厳しさの推奨値を，表1及び表2に記載する。

表1−光コネクタ及び光受動部品

環境カテゴリ

項目

推奨値

屋内環境（カテゴリC），
屋外環境（カテゴリU）
又は劣悪環境（カテゴリE）

振動周波数範囲

10 Hz〜55 Hz

掃引速度

1 oct/min

掃引回数

15回／軸

振動振幅

0.75 mm

厳しい屋外環境（カテゴリO）振動周波数範囲

10 Hz〜55 Hz

掃引速度

1 oct/min（光受動部品）
45 Hz（10 Hz〜55 Hz）/min（光コネクタ）

試験時間

2時間／軸

振動振幅

1.52 mm（光受動部品）
0.75 mm（光コネクタ）

表2−クロージャ

環境カテゴリ

項目

推奨値

屋内環境（カテゴリC），
架空（カテゴリA），
地上（カテゴリG）
又は地下（カテゴリS）

振動周波数範囲

5 Hz〜500 Hz

掃引速度

1 oct/min

掃引回数

10回／軸

振動振幅

3.5 mm（振動周波数＜9 Hz）

最大加速度

9.8 m/s2（振動周波数≧9 Hz）

個別に規定する事項

必要に応じて，次の事項を製品規格などに規定する。

− 振動周波数範囲

− 掃引速度

− 一軸当たりの掃引回数

− 一軸当たりの試験時間

− 振動振幅

− 初期測定及び初期性能要求

− 試験中の測定及び試験中の性能要求

− 最終測定及び最終性能要求

− この規格で規定する試験手順からの変更点

− 追加合否判定基準

C 61300-2-1：2012

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 61300-2-1:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測
定手順−第2-1部：正弦波振動試験

IEC 61300-2-1:2009 Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)

(I)JISの規定

(II)
国際
規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

3 概要

JISとほぼ同じ。

変更

“振動振幅は，一定の変位量又は一定の加
速度のいずれかで規定する”を，“振動の
強さは，振動振幅又は最大加速度で規定す
る”と変更した。

表現をより正確に変更した。今後，IEC
に修正提案する。

5 手順

5.1 前処理

5.1〜
5.2

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の5.1及び5.2をJISでは5.1とし
た。ただし，内容の変更はない。

一連のJIS C 61300規格群において細
分箇条の構成を統一するため，変更し
た。今後，IECに修正提案する。

5.2 初期測定

5.3

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の細分箇条は項番が繰り上がり，
内容はJISと対応している。

5.3 試験

5.4〜
5.5

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の5.4及び5.5をJISでは5.3とし
た。ただし，内容の変更はない。

5.4 後処理
5.5 最終測定

5.6〜
5.7

細分箇条番号以外
は，JISと同じ。

変更

IEC規格の細分箇条は項番が繰り上がり，
内容はJISと対応している。

6 試験の
厳しさの
程度

JISとほぼ同じ。

変更

試験の厳しさの程度として，振動振幅と対
になる最大加速度を追記し，表2の項目の
“加速度”を“最大加速度”に変更した。

最大加速度は振動振幅と対なので，記
載漏れである。また，名称の統一を行
った。今後，IECに修正提案する。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61300-2-1:2009，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

-2

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。