C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語，定義及び略語 ·········································································································· 2
3.1 用語及び定義 ················································································································ 2
3.2 略語 ···························································································································· 4
4 JIS C 61300-2規格群及びJIS C 61300-3規格群の要求事項 ························································ 4
4.1 JIS C 61300-2規格群の要求事項 ························································································ 4
4.2 JIS C 61300-3規格群の要求事項 ························································································ 4
5 標準的環境条件 ················································································································ 4
6 数値の表現 ······················································································································ 5
6.1 一般事項 ······················································································································ 5
6.2 許容幅をもつ公称値 ······································································································· 5
6.3 ある範囲の値 ················································································································ 6
7 図記号及び用語 ················································································································ 6
8 安全性···························································································································· 6
9 校正······························································································································· 6
9.1 一般事項 ······················································································································ 6
9.2 ラウンドロビン校正手順 ································································································· 6
10 励振条件 ······················································································································· 7
10.1 一般事項 ····················································································································· 7
10.2 SGI-62.5/125形マルチモード光ファイバのマルチモード励振条件 ··········································· 7
10.3 A3e光ファイバのマルチモード励振条件 ··········································································· 7
10.4 シングルモード励振条件 ································································································ 8
附属書A（規定）JIS C 6832に規定するSGI-50/125及びSGI-62.5/125形マルチモード
光ファイバによって終端された部品の損失測定に必要なマルチモード励振条件 ··························· 9
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産
業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS C 61300-1:2015は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-4 第2-4部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向引張り）
JIS C 61300-2-5 第2-5部：光ファイバクランプ強度試験（ねじり）
JIS C 61300-2-6 第2-6部：かん合部締結強度試験（軸方向引張り）
JIS C 61300-2-7 第2-7部：かん合部締結強度試験（曲げモーメント）
JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験
JIS C 61300-2-11 第2-11部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向圧縮）
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験
JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験
JIS C 61300-2-24 第2-24部：応力印加によるセラミック割りスリーブのスクリーニング試験
JIS C 61300-2-26 第2-26部：塩水噴霧試験
JIS C 61300-2-27 第2-27部：ダスト試験（層流）
JIS C 61300-2-40 第2-40部：SM調心円筒形斜めPC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク
リーニング試験
JIS C 61300-2-41 第2-41部：SM調心円筒形直角PC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク
リーニング試験
JIS C 61300-2-44 第2-44部：光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-2-49 第2-49部：取付け済み光ファイバコード付き光ファイバコネクタプラグの曲げ試験
JIS C 61300-2-50 第2-50部：光ファイバクランプ強度試験−非通光左右曲げ引張り
JIS C 61300-2-51 第2-51部：光ファイバクランプ強度試験−通光左右曲げ引張り
JIS C 61300-3-1 第3-1部：外観検査及び機械的検査
JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
JIS C 61300-3-11 第3-11部：結合力及び離脱力測定
JIS C 61300-3-14 第3-14部：可変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-21 第3-21部：切替時間測定
JIS C 61300-3-22 第3-22部：フェルール押圧力測定
JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
JIS C 61300-3-25 第3-25部：フェルール及び光ファイバ取付け直角PC端面フェルールの同心度測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測
定
JIS C 61300-3-32 第3-32部：光受動部品の偏波モード分散測定
JIS C 61300-3-33 第3-33部：ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定
JIS C 61300-3-34 第3-34部：ランダム接続時の挿入損失
JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
JIS C 61300-3-38 第3-38部：群遅延，波長分散及び位相リップルの測定
JIS C 61300-3-40 第3-40部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測定
JIS C 61300-3-43 第3-43部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定
JIS C 61300-3-45 第3-45部：多心光ファイバコネクタのランダム接続時の挿入損失測定
JIS C 61300-3-47 第3-47部：干渉法による直角PC端面及び斜めPC端面単心円筒形フェルールの端
面形状測定
JIS C 61300-3-50 第3-50部：光スイッチのクロストーク測定
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 61300-1：2019
(IEC 61300-1：2016)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−第1部：通則
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-Part 1: General and guidance
序文
この規格は，2016年に第4版として発行されたIEC 61300-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，光ファイバ接続デバイス及び光受動部品における，JIS C 61300-2及びJIS C 61300-3の規
格群で規定されている基本試験及び測定手順に関する通則について規定する。
この規格は，必要な一連の試験，各試験において要求する厳しさ，関係がある場合は，試験の順序及び
許容する性能の限界を定めた関連規格とともに，用いることを推奨する。この規格と関連規格との間で規
定内容が一致しない場合は，関連規格の規定内容を優先する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-1:2016，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 1: General and guidance（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
注記 対応国際規格：IEC 60825-1，Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and
requirements
JIS C 6803 レーザ製品の安全−光ファイバ通信システムの安全
注記 対応国際規格：IEC 60825-2，Safety of laser products−Part 2: Safety of optical fibre
communication systems (OFCS)
JIS C 6832 石英系マルチモード光ファイバ素線
注記 対応国際規格：IEC 60793-2-10，Optical fibres−Part 2-10: Product specifications−Sectional
specification for category A1 multimode fibres
2
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 6837 全プラスチックマルチモード光ファイバ素線
注記 対応国際規格：IEC 60793-2-40，Optical fibres−Part 2-40: Product specifications−Sectional
specification for category A4 multimode fibres
JIS C 61300-2規格群 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2 (all parts)，Fibre optic interconnecting devices and passive components
−Basic test and measurement procedures−Tests
JIS C 61300-3規格群 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−測定
注記 対応国際規格：IEC 61300-3 (all parts)，Fibre optic interconnecting devices and passive components
−Basic test and measurement procedures−Examinations and measurements
JIS C 61300-3-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-1部：外観
検査及び機械的検査
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination
IEC 60050-731，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 731: Optical fibre communication
IEC 60617，Graphical symbols for diagrams
IEC 60793-2-30，Optical fibres−Part 2-30: Product specifications−Sectional specification for category A3
multimode fibres
IEC 61280-4-1，Fibre-optic communication subsystem test procedures−Part 4-1: Installed cable plant−
Multimode attenuation measurement
IEC 61300-3-35，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-35: Examinations and measurements−Visual inspection of fibre optic connectors and
fibre-stub transceivers
IEC 61300-3-53，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-53: Examinations and measurements−Encircled angular flux (EAF) measurement
method based on two-dimensional far field data from step index multimode waveguide (including fibre)
3
用語，定義及び略語
3.1
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1.1
試験（test）
与えられた製品，工程又はサービスについて，特定の手順に従い一つ以上の特性を測定することからな
る技術的操作。
a) 準備（必要な場合）
b) 前処理（必要な場合）
c) 初期検査及び初期測定（必要な場合）
d) 処理
e) 後処理（必要な場合）
f)
最終検査及び最終測定
3
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.1.2
供試品，DUT（device under test）
試験対象となる光ファイバ接続デバイス，光受動部品，機器及びその他の品物。
3.1.3
準備（preparation）
製造業者の指示書に従って，又は関連仕様書の規定によって供試品を準備する行為。
3.1.4
前処理（pre-conditioning）
試験実施前の環境影響を取り除く又は部分的にその影響を補償することを目的として，供試品に加える
処理。
3.1.5
処理（conditioning）
供試品に対する影響を確定するため，供試品を規定した環境条件に規定した期間さらす行為。
3.1.6
後処理（recovery）
処理後の測定前に，供試品の状態を安定にするために供試品に加える行為。
3.1.7
検査（examination）
特殊機器の使用の有無にかかわらず，供試品の外観及び機械的検査を行う行為。
注記 通常，試験前後及び試験中に，検査を行う場合がある。
3.1.8
測定（measurement）
合理的に量を特定できる一つ以上の値を得るための過程。
（IEC 60050-112:2010の112-04-01の定義では，“実験的に”値を得る，とされているが，この規格では
“実験的に”の部分は削除した。）
3.1.9
エンサークルドフラックス，EF（encircled flux）
全出力光パワーに対するニアフィールド光パワーの総和の割合。光ファイバコアの光学中心から測った
半径方向の距離rの関数として表し，式(1)で定義する。
∫
∫
=
R
r
dx
x
xI
dx
x
xI
r
EF
0
0
)
(
)
(
)
(
····································································· (1)
ここに， I(x)： 光ファイバコアの光学中心から測った半径方向の距離xに対
するニアフィールド光強度分布
R： 積分範囲の最大値
注記 EFの測定方法は，IEC 61280-1-4で規定されている。
3.1.10
エンサークルドアンギュラーフラックス，EAF（encircled angular flux）
全出力光パワーに対するファーフィールド光パワーの総和の割合。ファーフィールド像の光学中心軸と
出射光との角度θ'の関数として表し，式(2)で定義する。
4
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
∫∫
∫∫
=
πθ
πθ'
d
dθ
θ
θ
r
I
d
dθ
θ
θ
r
I
θ'
EAF
2
0
0
3
2
0
0
3
max
)
(
cos
)
sin(
)
,
(
)
(
cos
)
sin(
)
,
(
)
(
ϕ
ϕ
ϕ
ϕ
··········································· (2)
ここに，
φ： 極座標における偏角
θ： ファーフィールド像の光学中心軸と出射光との角度
［tan−1(r/d)］
I(r, φ)： r及びφに対する2次元のファーフィールド光強度分布
d： 発光点とファーフィールド面との距離
θmax： 積分範囲の最大値
注記 EAFの測定方法は，IEC 61300-3-53で規定されている。
3.2
略語
この規格で用いる略語は，次による。
DMA
モード損失差
（differential mode dispersion）
LED
発光ダイオード
（light emitting diode）
SI
ステップインデックス （step index）
4
JIS C 61300-2規格群及びJIS C 61300-3規格群の要求事項
4.1
JIS C 61300-2規格群の要求事項
JIS C 61300-2規格群は，次の事項で構成する。
− 試験装置
− 試験の要求事項に述べられた試験手順
− 試験の厳しさ
− 個別に規定する事項
4.2
JIS C 61300-3規格群の要求事項
4.2.1
一般事項
JIS C 61300-3規格群は，次の事項で構成する。
− 測定装置
− 測定手順
− 計算方法（必要な場合）
− 測定の不確かさ
− 個別に規定する事項
4.2.2
損失変動に対する要求事項
光ファイバ接続デバイスにおいて損失変動は，別途規定がない限り試験中の最大最小の損失変動差で定
義する。
受動部品において損失変動は，別途規定がない限り試験開始の初期値からのプラス又はマイナス変動で
定義する。
5
標準的環境条件
様々な設備を用いて行う測定又は試験の結果に適切な相関を保証するために，標準的な環境条件は，あ
る範囲内に制御しなければならない。別途規定がない限り，次に示す環境条件において，試験及び測定を
5
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
行う。特別な環境条件が必要な場合は，個別に規定してもよい。
試験及び測定を行う標準的環境条件は，表1による。
表1−標準的環境条件
温度
相対湿度
大気圧力
18 ℃〜28 ℃
25 %〜75 %
86 kPa〜106 kPa
一連の測定を実施する間，環境温度及び湿度の変動は最小に抑えなければならない。
6
数値の表現
6.1
一般事項
JIS C 61300-2規格群の環境及び光学試験方法，並びにJIS C 61300-3規格群の光学的特性及び物理的特
性の測定方法で規定する温度，湿度，応力，持続時間，光パワーレベルなどの様々なパラメータの数値は，
各試験において必要とする様態に応じて，主に次の二通りの値を規定する。
a) 許容幅をもつ公称値
b) ある範囲の値
これら二通りの規定の方法について，数値の意味を，6.2及び6.3に示す。
6.2
許容幅をもつ公称値
表記法の例を，次に示す。
a) 40 nm±2 nm，2 s±0.5 s，0.3 dB±0.1 dB
b) (93＋3
−2) %
量を数値として表示することは，示した値で試験を行うという意図を表している。特に，次の要因を考
慮して許容幅を示す。
− デバイスの状態をそろえることが困難である場合及び試験中のドリフト（望ましくない遅い変動）
− 装置の不確かさ
− 供試品を置いた試験空間における環境パラメータの不均一性。これに対しては特定の許容幅は与えな
い。
許容幅は，試験空間内のパラメータの値を調整する場合に自由度を与えるものではない。したがって，
許容幅をもつ公称値で量を規定している場合は，装置の不確かさを許容しつつ公称値を得るように試験装
置を調整しなければならない。
通常，不確かさが小さく，許容範囲を超えないことが保証できる場合であっても，許容限界値の近くに
は試験装置を設定してはならない。
例 ある量を100±5という数値で規定する場合，試験装置は，不確かさを許容しながら100を目標に
調整した方がよく，決して95又は105の値を目標として調整しない。
しかし，試験実施中の供試品に適用できる限界値を避けるために，場合によっては，試験装置を一方の
許容限界値近くに設定する必要がある。
一方の符号だけの許容幅をもつ量を規定する場合は，測定の不確かさを考慮して可能な限り公称値（こ
れは，また，許容限界でもある。）に近い値に試験装置を設定しなければならない。
なお，パラメータを測定する機器の精度も含めて，測定の不確かさは，測定に用いる機器に依存する。
例 ある量を数値として(100 0
−5) %で規定しており，試験装置のその量に関する総合的な不確かさが±
1 %である場合，目標値99 %を維持するように試験装置を調整する。一方，総合的な不確かさが
6
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
±2.5 %である場合，目標値97.5 %を維持するように試験装置を調整する。
6.3
ある範囲の値
表記法の例を，次に示す。
a) 温度18 ℃〜28 ℃，相対湿度80 %〜100 %，持続時間1 h〜2 h
b) 反射減衰量≧55 dB，減衰量≦0.50 dB
範囲を表すために用いる用語は，曖昧になる。例えば，“80 %〜100 %”という表現は，ある人は80及
び100という数値を含まないと解釈し，別の人は含むと解釈する。例えば，“＞80”又は“≧80”というよ
うに不等記号を用いれば曖昧さが減るため，これを用いることが望ましい。
ある範囲で値を表現することは，試験装置を調整しなければならない値が，試験の結果に僅かしか影響
しないことを意味している。
機器の不確かさも含んだ制御パラメータの不確かさを許容する場合は，規定した範囲内であればどのよ
うな値を選んでもよい。例えば，温度を“18 ℃〜28 ℃”の範囲にすると規定している場合は，この範囲
の任意の温度でよい。ただし，温度がこの範囲を超えて変化するように設定してはならない。
7
図記号及び用語
光ファイバ部品の試験方法及び測定方法を，解釈する場合及び規格を作成する場合に用いる用語は，IEC
60050-731による。光ファイバ部品の試験及び測定方法を解釈する場合，又は規格を作成する場合に用い
る図記号は，IEC 60617から適切なものを選択しなければならない。
8
安全性
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の試験及び測定を行う際に，レーザ放射光による危険性がある
場合の予防措置は，JIS C 6802が規定している。光ファイバの部品及びシステムは，危険なレーザ放射光
を発する可能性がある。これは，次のような状況において起きる可能性がある。
a) 稼働中の光源の出力端
b) 次の状態の伝送システム
− 敷設中，稼働中又は意図した停止中
− 故障中又は意図しない停止中
c) 測定中及び試験中
危険度の評価，予防措置及び製造業者がとらなければならない措置の関連規格として，JIS C 6802及び
JIS C 6803がある。その他の安全性に関する考え方は，適切な試験方法又はそれ以外の規格を参照する。
9
校正
9.1
一般事項
この規格が対象とする試験及び測定は，校正した機器を用いて行わなければならない。できる限り国際
規格又はJISを適用することが望ましい（例えば，JIS C 6186を参照）。可能である場合，校正は国家標準
にトレーサブルであることが望ましい。
校正の標準が存在しない場合には，試験を実施する製造業者又は研究機関は，可能な範囲で試験機器の
精度を記載しなければならない。
9.2
ラウンドロビン校正手順
精度が未知数の場合は，ラウンドロビン校正手順を用いてゲージなどの測定装置の校正を行う必要があ
7
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る。
注記 ラウンドロビン（round robin）試験とは，あるグループの中で同一試料を回覧して試験結果を
比較することである。
10 励振条件
10.1 一般事項
光部品の損失特性は，入力光ファイバの励振条件に大きく依存することが多い。全ての光学測定におい
て，入力状態を定めるには励振条件を用いることが望ましい。再現性の高い測定結果を得るためには，明
確に定義し，簡単かつ正確に再現する標準的な励振条件を用いる必要がある。
一致した結果を得るために，測定に先立ち，最初に全ての光ファイバコネクタプラグ及び光ファイバア
ダプタを検査し，必要があれば清掃して再び検査する。外観検査は，JIS C 61300-3-1に従って実施する。
さらに，光ファイバコネクタプラグの端面は，IEC 61300-3-35に従って検査を実施する。
10.2 SGI-62.5/125形マルチモード光ファイバのマルチモード励振条件
JIS C 6832において，分類A1のマルチモード光ファイバの励振条件を，附属書Aに規定する。励振条
件は，EFの許容幅で定義する。
注記 IEC 62614及びIEC TR 62614-2は，マルチモード光ファイバの励振条件について有用な情報を
提供している。
IEC 61280-4-1で規定する方法で既設光ファイバリンクを試験する場合に，損失測定値の変動を抑えるた
めに，これらの許容幅を決めた。複数の光コネクタを含む光ファイバリンクの場合と光コネクタが一つの
場合とで想定する許容幅は異なる。
光源のEF測定値が規定の許容幅内にある場合の，光接続1か所当たりの損失測定値の想定する不確か
さをdBで表したものを，表2に示す。
表2−SGI-62.5/125形マルチモード光ファイバにおいて光接続1か所当たりの
損失測定値の想定する不確かさ
光ファイバのコア直径公称値
（μm）
波長
（nm）
モード変動起因で想定する不確かさ
（dB）
50
850
±0.08
表2は，損失値が0.75 dB以下の場合に適用する。
マルチモード光部品の損失測定の全ての不確かさを計算する場合，モードの変動による不確かさを含め
なければならない。
10.3 A3e光ファイバのマルチモード励振条件
IEC 60793-2-30において，分類A3eのマルチモード光ファイバの励振条件を，附属書Aに規定する。励
振条件は，EAFの許容幅で定義する。
注記 IEC 61300-3-53は，マルチモード光ファイバの励振条件について有用な情報を提供している。
光ファイバ接続デバイスを測定又は試験する場合に，損失測定値の変動を抑えるために，これらの許容
幅を決めた。光源のEF測定値が規定の許容幅内にある場合の，光接続1か所当たりの損失測定値の想定
する不確かさをdBで表したものを，表3に示す。
8
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−A3e光ファイバにおいて光接続1か所当たりの損失測定値の想定する不確かさ
光ファイバのコア直径公称値
（μm）
開口数
（NA）
波長
（nm）
モード変動起因で想定する不確かさ
（dB）
200
0.37
850
±0.2
表3は，損失値が2.0 dB以下の場合に適用する。
マルチモード光部品の損失測定の全ての不確かさを計算する場合，モードの変動による不確かさを含め
なければならない。
10.4 シングルモード励振条件
シングルモード光部品の測定では，光源の波長（全スペクトル幅を含む。）は，光ファイバのカットオフ
波長よりも長くなければならない。入力側の光ファイバの配置及び長さは，入力端近傍で励振する可能性
のある高次モードを十分に減衰するように設定しなければならない。
偏光依存性の大きいデバイスにおいては，入力光の偏光状態が重要であり，必要な場合は関連仕様書に
規定しなければならない。
光ファイバ内のパワーは，非線形散乱効果が起こらない範囲で十分高く設定しなければならない。
クラッドモードが測定結果に影響を与えないように，予防措置を講じる。入力及び出力光ファイバの被
覆の働きによって，又は関連規格で規定する場合にはクラッドモード除去器を追加することによって，ク
ラッドモードを除去する。
測定に影響を与えるような入力光ファイバ又は出力光ファイバの過剰な曲げが起こらないように，予防
措置を講じなければならない。測定中，光ファイバを規定の位置に固定したまま保つ。
励振状態の安定性は，実施する測定に適したものとする。測定中は，動作温度範囲内で安定な励振を維
持する。
注記 JIS C 6835に石英系シングルモード光ファイバ素線が規定されている。
9
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
JIS C 6832に規定するSGI-50/125及びSGI-62.5/125形マルチモード
光ファイバによって終端された部品の損失測定に必要な
マルチモード励振条件
A.1 一般事項
この附属書は，損失測定に必要な一般的なマルチモード励振条件を規定する。製造現場と使用現場とで
一致した測定結果を得ること，及び製造現場と使用現場とで異なる測定機器を用いる場合でも一致した測
定結果を得ることを目的とする。
光部品を製造現場で試験する場合，ここで規定する励振条件を用いることによって，使用現場に光部品
を設置した後に行う現場試験の要求条件を満足することを保証する。
JIS C 6837に定義されるSI形マルチモード光ファイバに対しては，IEC 61300-3-53に定義されるEAF
測定法を用いる。
A.2 技術的背景
損失測定に用いる代表的な光源をマルチモード光ファイバに入射すると，様々なモード分布が生じる。
モード分布が異なると，大部分のマルチモード光部品がもつモード損失差（DMA）によって，損失測定結
果が変動する。例えば，異なる光源を用いる又は異なる励振光ファイバを用いる場合，損失測定の結果が
変化する。
LEDを用いる従来の使用用途では，パワーバジェットが大きく，製造現場と使用現場との測定結果の違
いが表れなかった。
技術の進展に伴い，損失に対するシステムの要求は厳しくなってきている。アプリケーションの厳しい
要求によって，様々な現場試験装置で，正確で再現性のあるマルチモード損失測定が必要である。同じ基
準に適合する測定系であるが，現場試験装置が異なると，励振条件の差異によって損失測定結果が変動す
る。
A.3 EFのテンプレート
A.3.1 適用光ファイバ
このA.3のガイドラインは，コア直径50 µmクラッド直径125 µm及びコア直径62.5 µmクラッド直径
125 µmの光ファイバに適用する。
A.3.2 EF
基準励振光ファイバの端面から出射する光の近傍界を測定してEFを求める。
A.3.3 EFのテンプレートの例
波長850 nmにおける，コア直径50 µmの光ファイバのEFのテンプレートの例を，図A.1に示す。
10
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図A.1−EFのテンプレートの例
A.4 SGI-50/125及びSGI-62.5/125形マルチモード光ファイバ接続部の損失測定における目標とする励振
及び上下許容範囲
A.4.1 一般事項
この規格で規定する励振条件は，マルチモード光ファイバコネクタの損失測定に適用する。マルチモー
ド光ファイバコネクタの損失測定における励振条件は，基準光コネクタの出射端で測定したEFが，表A.1
〜表A.4の要求値に適合しなければならない。
A.4.2 EFの範囲
光源の変動によって生じる損失変化が，目標とする励振で得られる値の±10 %又は±X dBのいずれか大
きい方の値を超えないという境界条件及び目標とする近傍界によって，EFの範囲が決まる。Xの値は許容
限界値であり，表2に示すように，光ファイバコア直径及び波長に依存する。これらの限界値は，理論的
な考察から決まる。
表A.1−波長850 nmにおけるコア直径50 μmの光ファイバに対するEF要求値
半径方向距離
µm
EF下限値
EF上限値
10
0.278 5
0.391 5
15
0.598 0
0.711 9
20
0.910 5
0.929 5
22
0.969 0
0.981 2
表A.2−波長1 300 nmにおけるコア直径50 μmの光ファイバに対するEF要求値
半径方向距離
µm
EF下限値
EF上限値
10
0.279 2
0.394 0
15
0.599 6
0.713 8
20
0.907 2
0.930 0
22
0.966 3
0.979 3
11
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.3−波長850 nmにおけるコア直径62.5 μmの光ファイバに対するEF要求値
半径方向距離
µm
EF下限値
EF上限値
10
0.168 3
0.253 5
15
0.369 5
0.508 5
20
0.633 7
0.750 9
26
0.924 5
0.945 5
28
0.971 0
0.985 6
表A.4−波長1 300 nmにおけるコア直径62.5 μmの光ファイバに対するEF要求値
半径方向距離
µm
EF下限値
EF上限値
10
0.168 0
0.255 8
15
0.369 9
0.511 9
20
0.636 9
0.752 1
26
0.925 4
0.946 0
28
0.970 8
0.985 6
A.5 EAFのテンプレート
A.5.1 適用光ファイバ
このA.5のガイドラインは，コア直径200 µm及びクラッド直径230 µmの光ファイバに適用する。
A.5.2 EAF
基準励振光ファイバの端面から出射する光の遠方界を測定してEAFを求める。
A.5.3 EAFのテンプレートの例
波長850 nmにおける，コア直径200 µmの光ファイバのEAFのテンプレートの例を，図A.2に示す。
注記 EAFの定義式(2)での単位はラジアンであるが，このグラフの横軸の単位は，°とする。
図A.2−EAFのテンプレートの例
12
C 61300-1：2019 (IEC 61300-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A.6 A3e光ファイバ接続部の損失測定における目標とする励振及び上下許容範囲
A.6.1 一般事項
この規格で規定する励振条件は，マルチモード光ファイバコネクタの損失測定に適用する。マルチモー
ド光ファイバコネクタの損失測定における励振条件は，基準光コネクタの出射端で測定したEAFが，表
A.5の要求値に適合しなければならない。
A.6.2 EAFの範囲
光源の変動によって生じる損失変化が，目標とする励振で得られる値の±10 %又は±X dBのいずれか大
きい方の値を超えないという境界条件及び目標とする遠方界によって，EAFの範囲が決まる。Xの値は許
容限界値であり，表3に示すように，光ファイバコア直径及び波長に依存する。これらの限界値は，理論
的な考察から決まる。
表A.5−波長850 nmにおけるNA0.37，コア直径200 μmの光ファイバに対するEAF要求値
出射角度
（°）a)
EAF下限値
EAF上限値
5
0.075 3
0.119 7
10
0.293 4
0.445 5
15
0.606 9
0.832 9
20
0.870 8
0.987 1
注a) EAFの定義式(2)での単位はラジアンであるが，ここでの単位は，°とす
る。
参考文献
JIS C 6186 光ファイバ用光パワーメータ校正方法
注記 対応国際規格：IEC 61315，Calibration of fibre-optic power meters
JIS C 6828 光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法
JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold
IEC 60050-112:2010，International Electrotechnical Vocabulary−Part 112: Quantities and units
IEC 61280-1-4，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-4: General communication
subsystems−Light source encircled flux measurement method
IEC 62614，Fibre optics−Launch condition requirements for measuring multimode attenuation
IEC TR 62614-2，Fibre optics−Multimode launch conditions−Part 2: Determination of launch condition
requirements for measuring multimode attenuation