JISC61280-1-3:2017 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第１－３部：中心波長及びスペクトル幅測定

C 61280-1-3：2017 (IEC 61280-1-3：2010)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語及び定義··················································································································· 2

3.1 波長 ···························································································································· 2

3.2 スペクトル幅 ················································································································ 2

3.3 その他のスペクトル特性 ································································································· 2

4 試験装置························································································································· 2

4.1 校正した光スペクトラムアナライザ ·················································································· 2

4.2 電源 ···························································································································· 3

4.3 入力信号源又は変調器 ···································································································· 3

4.4 光ファイバコード ·········································································································· 3

5 試験サンプル··················································································································· 3

6 試験手順（手法A） ·········································································································· 3

6.1 概要 ···························································································································· 3

6.2 準備 ···························································································································· 4

6.3 光スペクトラムアナライザの設定 ····················································································· 4

7 試験手順（手法B） ·········································································································· 5

7.1 準備 ···························································································································· 5

7.2 光スペクトラムアナライザの設定 ····················································································· 5

7.3 連続的な発光ダイオード及び単一縦モードスペクトル ·························································· 5

7.4 離散的な多重縦モードスペクトル ····················································································· 6

7.5 連続的な単一縦モードスペクトル ····················································································· 6

8 計算······························································································································· 6

8.1 概要 ···························································································································· 6

8.2 中心波長 ······················································································································ 6

8.3 重心波長 ······················································································································ 7

8.4 ピーク波長 ··················································································································· 7

8.5 RMS幅（Δλrms） ··········································································································· 7

8.6 n-dBダウン幅（Δλn-dB） ·································································································· 7

8.7 半値全幅（Δλfwhm） ········································································································ 7

8.8 サイドモード抑圧比（SMSR） ························································································· 8

9 試験結果························································································································· 8

9.1 必須情報 ······················································································································ 8

9.2 利用可能な情報 ············································································································· 8

C 61280-1-3：2017 (IEC 61280-1-3：2010)

（3）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産

業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって，JIS C 61280-1-3:2010は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61280の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61280-1-3 第1-3部：中心波長及びスペクトル幅測定

JIS C 61280-2-1 受信感度及びオーバロード測定

JIS C 61280-2-2 第2-2部：光アイパターン，光波形及び消光比測定

JIS C 61280-2-3 第2-3部：ジッタ及びワンダ測定

JIS C 61280-2-8 Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法

JIS C 61280-2-9 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定

JIS C 61280-2-10 第2-10部：レーザ送信器の時間分解チャープ及びアルファファクタ測定

JIS C 61280-2-11 光信号品質評価のための強度ヒストグラム評価を用いた平均化Q値測定

JIS C 61280-4-4 第4-4部：ケーブル設備及びリンク−既設リンクの偏波モード分散測定

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日本工業規格 JIS

C 61280-1-3：2017

(IEC 61280-1-3：2010)

光ファイバ通信サブシステム試験方法−

第1-3部：中心波長及びスペクトル幅測定

Fiber optic communication subsystem test procedures-

Part 1-3: Central wavelength and spectral width measurement

序文

この規格は，2010年に第2版として発行されたIEC 61280-1-3を基に，技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，光ファイバ通信サブシステム，光送信器，又は通信サブシステムの制御若しくは試験に使

用する他の光源に関連した，光学スペクトルの複数の波長及びスペクトル幅の試験方法及び定義について

規定する。

この試験は，システム構築及び／又は保守のために実施する。光通信サブシステム信号の測定では，変

調状態にある光送信器を対象とする。

注記1 波長及びスペクトル幅について，異なるスペクトル特性［例えば，発光ダイオード（LED）

の連続スペクトル特性，レーザダイオード（LD）の多重縦モード（MLM），多重横モード

（MTM）及び単一縦モード（SLM）のスペクトル特性］に対応して，異なる評価指標を用い

ることが適切である。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61280-1-3:2010，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-3: General

communication subsystems−Central wavelength and spectral width measurement（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 6192 光スペクトラムアナライザ校正方法

注記対応国際規格：IEC 62129，Calibration of optical spectrum analyzers

JIS C 6802 レーザ製品の安全基準

注記対応国際規格：IEC 60825-1，Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and

requirements

C 61280-1-3：2017 (IEC 61280-1-3：2010)

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用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。

3.1

波長

注記この規格では，中心波長は，一般的なカテゴリの名前である。

3.1.1

中心波長，λ0（center wavelength）

ピーク波長λpの長波長側及び短波長側にて最も近接する二つのピークパワーの1/2に対応する波長の中

間値。“half-power mid-point”とも呼ばれる。

3.1.2

半値波長，λ3dB（half-power wavelength）

光スペクトルのピークパワーの1/2に対応する波長。

3.1.3

ピーク波長，λp（peak wavelength）

光スペクトルの最大パワー値に対応する波長。

3.1.4

重心波長，λc（centroidal wavelength）

光スペクトルの中央又は平均の波長。

3.2

スペクトル幅

3.2.1

RMS幅，Δλrms（root-mean square width）

重心波長との差から二乗平均平方根で定義するスペクトル幅。

3.2.2

n-dBダウン幅，Δλn-dB（n-dB-down width）

パワースペクトル密度がピーク値からn dB低下し，ピーク波長λpの長波長側及び短波長側にて最も近

接する二つの波長の差の絶対値。

3.2.3

半値全幅，Δλfwhm（full-width at half maximum）

3.2.2のn-dBダウン幅において，n＝3としたとき（Δλfwhm＝Δλ3dB）の特例。

3.3

その他のスペクトル特性

3.3.1

サイドモード抑圧比，SMSR（side-mode suppression ratio）

単一縦モードレーザの光スペクトルにおいて，スペクトル強度が最も大きいモード（メインモードM1）

と2番目に大きいモード（サイドモードM2）との強度比（8.8参照）。

試験装置

4.1

校正した光スペクトラムアナライザ

この特殊用途の試験装置には，光スペクトルの分布を分解及び記録するために，分散分光方式の光スペ

クトラムアナライザを使用する。必要な波長分解能及び範囲は，測定する信号のタイプ及び種類に依存す

る。一般的に，LED光源は粗い構造で広帯域なスペクトルをもつことから，200 nm以上の波長範囲が必要

である一方，分解能は1 nm又はそれ以下が望ましい。レーザ光源は，はるかに狭いスペクトルをもって

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おり，より正確な波長の測定が必要な波長多重（WDM）に適用される場合もある。0.1 nm以下の波長分

解能を推奨し，要求条件はアプリケーションによって決まる。いずれの場合も，光スペクトラムアナライ

ザの感度及び波長範囲は，ピークパワーから20 dBまでのスペクトルを含む全てのスペクトルを測定でき

る必要がある。SMSRの測定については，より大きなダイナミック・レンジが必要である。

光スペクトラムアナライザは，JIS C 6192に従って校正する。使用する設備は，試験する間は適用品質

システムに従った有効な校正証明書が必要である。

4.2

電源

被試験サンプルによる。

4.3

入力信号源又は変調器

入力信号源は，システムに対応した適切なデジタル・アナログ信号を発生する信号発生器又は変調器と

する。

4.4

光ファイバコード

特に指定がない限り，光ファイバコードは，設備を稼働するケーブル設備に合った物理的特性及び光学

的特性を備える。光ファイバコードは，2 m〜5 mの長さで，クラッド光を除去するコーティングを施した

光ファイバとし，適切なコネクタを使用する。シングルモード光ファイバコードは，直径90 mmの円弧を

二つ又はクラッドモードの排除を保証する配置とする。設備がマルチモードの運用，かつ，未知のケーブ

ル設備を対象とする場合，光ファイバは，コア径50 µmで，クラッド径125 µmのマルチモード光ファイ

バを使用する。

試験サンプル

試験サンプルは，特定の光ファイバサブシステム，光送信器又は光源とする。システムの入出力は，通

常，ユーザから見える場所にあるものとする。スペクトル幅に関する項目は，MLM及びLED送信器を特

徴付けるために一般的に使用する。無変調の多重横モード及び単一縦モードレーザの線幅は，通常狭いの

で，この方法で使用する分散分光方式の光スペクトラムアナライザでは測定できない。変調単一縦モード

（SLM）送信器は，高速伝送速度（2.5 Gbps以上）及びチャープによって線幅が広がるので，この方法を

用いて測定することができる。

警告光源から光を入射した光ファイバ端をのぞき込むことで生じる目の損傷を回避することに注意

する。最も重要なのは，通光している光ファイバを種々の拡大装置を使用してのぞき込むこと

を回避することである。

試験サンプルを使用して測定する場合，JIS C 6802で規定する要求事項に従う。

試験手順（手法A）

6.1

概要

手法Aは，1 000波長サンプル以上を迅速に測定可能で，例えばモード波長のピークだけでなく，全て

の波長サンプルを使用するスペクトル分析が可能な代表的な光スペクトラムアナライザを使用する。より

少ない波長ポイントを使用する以前の方法は，この規格の第1版との整合を取るため，手法Bとして箇条

7に包含する。

手法Aは，より簡易な自動分析法であり，多重横モード垂直共振型面発光レーザ（VCSEL）のような複

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雑であるが狭いスペクトルに向いている。産業界での利便性及び普及によって，手法Aは，基準試験方法

とみなせる。

6.2

準備

6.2.1

試験上の注意

光−電子デバイスの故障を引き起こす静電気放電（ESD）による損傷を防ぐよう適切に取り扱う。

6.2.2

試験環境条件

特に指定がない限り，周囲又は基準点の温度は，23 ℃±2 ℃を適用し，その他の環境条件は，標準的な

条件を適用する。

注記標準的な条件は，JIS C 60068-1の箇条4（標準大気条件）に記載されている。

6.2.3

試験サンプルの準備

特に指定がない限り，光源に入力変調信号を印加する。光源及び光送信器が定常温度となるまでの（製

造業者の推奨又は詳細仕様で指定する。）十分な時間を考慮する。

6.2.4

試験装置の準備

光スペクトラムアナライザを起動し，定格測定性能レベルになるために必要な推奨のウォーミングアッ

プ及び整定時間を考慮する。

6.2.5

試験準備

被測定光源の光出力を，光スペクトラムアナライザの入力光コネクタに接続する。850 nmの送信器では

よくあるが，被測定送信器が光アイソレータを内蔵していない場合，これらの反射は，スペクトルを不安

定にする。可能な限り，送信器出力に光アイソレータ及び光減衰器を使用して，高い反射減衰量が得られ

る接続にすることが望ましい。

6.3

光スペクトラムアナライザの設定

6.3.1

分解能調節機能を使用して，適切な分解能を選択する（4.1参照）。一般的に，測定スペクトル幅の

1/10又は選択可能な最高波長分解能（0.1 nm以下）で使用することが望ましい。補足するデータポイント

数は，光学スペクトルの詳細を確認するのに十分なサンプリングを設定する。一般的に，これはトータル

の測定幅の4倍以上に設定する。例えば，0.1 nm波長分解能を使用する10 nm測定幅では，測定ポイント

は，最低400以上のデータポイントが必要である。

6.3.2

スパン調節機能を使用して，光スペクトラムアナライザ表示部の波長範囲を適切なスパンに設定す

る。はじめに，ピーク波長の適切な位置を決めるために十分幅広いスパンを選択する。次に，全ての光源

スペクトル，又はピークパワーから20 dB以上の範囲が収まるように再度スパンを縮小して調節する。単

一縦モードレーザでは，スペクトル幅及びサイドモード抑圧比を測定するために，スパンは一般的に2 nm

〜20 nmで可変する。

6.3.3

利得又は基準レベル調節機能を使用して，ピーク出力の振幅がスクリーン垂直スケール全体に広が

るよう，利得又は基準レベルを選択する。

6.3.4

対数スケールが利用可能な場合，最大ダイナミックレンジを得るために，光スペクトラムアナライ

ザの対数スケールを振幅測定に使用する。

6.3.5

箇条8記載の計算機能を内蔵していない光スペクトラムアナライザの場合，全ての測定ポイントの

波長及び振幅を含むデータ形式で分析用のコンピュータに測定した光学スペクトルデータを取り込む。

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試験手順（手法B）

7.1

準備

7.1.1

試験上の注意

光−電子デバイスの故障を引き起こす静電気放電（ESD）による損傷を防ぐよう適切に取り扱う。

7.1.2

試験環境条件

特に指定がない限り，周囲又は基準点の温度は，23 ℃±2 ℃を適用し，その他の環境条件は，標準的な

条件を適用する。

注記標準的な条件は，JIS C 60068-1の箇条4に記載されている。

7.1.3

試験サンプルの準備

特に指定がない限り，光源に入力変調信号を印加する。光源及び光送信器が定常温度となるまでの（製

造業者の推奨又は詳細仕様で指定する。）十分な時間を考慮する。

7.1.4

試験装置の準備

光スペクトラムアナライザを起動し，定格測定性能レベルになるために必要な推奨のウォーミングアッ

プ及び整定時間を考慮する。

7.1.5

試験準備

被測定光源の光出力を，光スペクトラムアナライザの入力コネクタに接続する。850 nmの送信器ではよ

くあるが，被測定送信器が光アイソレータを内蔵していない場合，これらの反射は，スペクトルを不安定

にする。可能な限り，送信器出力に光アイソレータ及び光減衰器を使用して，高い反射減衰量が得られる

接続にすることが望ましい。

7.2

光スペクトラムアナライザの設定

7.2.1

分解能調節機能を使用して，最適な分解能を選択する（4.1参照）。

7.2.2

スパン調節機能を使用して，光スペクトラムアナライザ表示部の波長範囲を適切なスパンに設定す

る。はじめに，ピーク波長の適切な位置を決めるために十分幅広いスパンを選択する。次に，選択した利

得において最小検出出力パワーレベルが，スクリーン横軸スケールの両端となるように再度スパンを調節

する。単一縦モードレーザでは，スペクトル幅及びサイドモード抑圧比を測定するために，スパンは一般

的に2 nm〜20 nmで可変する。

7.2.3

利得又は基準レベル調節機能を使用して，ピーク出力の振幅がスクリーン垂直スケール全体に広が

るよう，利得又は基準レベルを選択する。対数スケールが利用可能な場合，最大ダイナミックレンジを得

るために，光スペクトラムアナライザの対数スケールを振幅測定に使用する。

7.3

連続的な発光ダイオード及び単一縦モードスペクトル

7.3.1

概要

発光ダイオード及び単一縦モードレーザダイオードに対する光スペクトラムアナライザの測定例は，図

1及び図5を参照する。数回の単一測定掃引後に，出力スペクトルが，安定していることを確認する（い

ずれの波長においても，掃引間のパワー変動が10 %以下又は0.5 dB以下。）。

7.3.2

ピーク波長λpを測定する（ほとんどの光スペクトラムアナライザは，自動的にこの機能を行うピ

ークサーチボタンを備えている。）。

7.3.3

発光ダイオードにおいては，ピーク波長両側の最大振幅から3 dB低下した二つの半値波長を記録

する。記録するポイント数（11以上）並びに表示したスペクトルの各点iにおける波長λi及び振幅Piを，

7.3.4〜7.3.8のように決定する。

7.3.4

ピークの両側において，ピーク（図1を参照）からn dB低下した2点に相当し，ピークに最も近

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接する波長を求める。ここで，nは一般的に20である。

7.3.5

等間隔の11のポイントを求めるため，これら二つの波長の差をとり，更に10で除する。これによ

ってポイント間の間隔を与える。

7.3.6

最初のポイントとして最小波長から開始し，次のポイントを求めるために波長間隔を加算する。11

番目のポイントを求める（11番目のポイントは，7.3.4からの最大の波長に相当することが望ましい。）ま

で継続し，表2の列2に波長を記録する。

7.3.7

各波長ポイントに相当する出力パワー（dBm）を求め，表2の列3に記録する。

7.3.8

P(nW)＝10[0.1P(dBm)＋6]を使用して，dBm単位のパワーをナノワット（nW）に変換し，表2の列4に

記録する。

7.4

離散的な多重縦モードスペクトル

7.4.1

単一掃引の実行後，表示している全てのモードに対して波長及び振幅を測定し，表2に記録する。

掃引終了後の表示からモード数及び各モードに対応する名目波長を決定する。光スペクトラムアナライザ

出力の表示例を，図2に示す。

7.4.2

10回の単一掃引ごとに表示した各モードの波長及び振幅を測定及び記録する。ピークモードより

もn dB以上（一般的にnは20〜25である。）低下したモードまでを含める。7.4.1において測定及び記録

された名目波長の各モードごとに，10回測定した波長及び振幅の平均値を計算する。表2にこれらの平均

値を記録する。

7.4.3

各モードの7.4.1及び7.4.2の測定値を比較する。どのモードでも，波長測定値の差が0.2 nmを超

えるか，又は振幅測定値の差が10 %を超える場合，これは，モード不安定性を示し，計算が正確でない可

能性がある。

7.5

連続的な単一縦モードスペクトル

7.5.1

ピーク波長における振幅（M1）及び最も強いサイドモードにおける振幅（M2）を，測定及び記録

する。

7.5.2

ピーク振幅からn dB（一般的にnは20又は30である。）低下した振幅に対応するピーク波長の両

側二つの波長を，測定及び記録する。

計算

8.1

概要

多くの光スペクトラムアナライザは，次のパラメータのほとんどを内部で計算できる。手法Aでは，取

得した全てに相当するN点のデータを使用する。計算に当たっては，最大パワーから20 dBを下限とする

範囲のデータ，又は別途定められた範囲のデータを使用することが望ましい。これは，特にRMSスペク

トル幅の過大評価の防止に有効である。手法Bでは，総データポイント数Nは，記録したモードピークの

数になる。

8.2

中心波長

8.2.1

連続的な発光ダイオードスペクトル

中心波長は，手法Aに対しては6.3.5又は手法Bに対しては7.3.3で記録した半値波長の平均である。

8.2.2

離散的な多重縦モードスペクトル

中心波長は，次のように決定することができる半値波長の平均である。レーザがピーク波長両側の最大

振幅から3 dB低下した二つの半値波長でモードをもたない場合，半値波長は，補間によって求める。

図3に示すように，各モードの頂点を，隣接したモードの頂点同士で接続し，ピークパワー点から3 dB

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低下したレベルに，水平線を引く。頂上接続線及び水平線の2点以上の交差位置から半値波長を決定する。

最も遠く離れた半値波長の平均が，λ0である。

8.3

重心波長

手法Bの表2，又は手法Aの6.3.5の結果に対応するリニア出力（nW）及び波長を使用して，次の式に

よって重心波長を求める。

∑

iλ

ここに，

λi： i番目のポイントの波長

Pi： i番目のポイントの出力

P0：全てのポイントでの総合出力値

∑

ここに，

N：測定点の数

計算例を，表1に示す。

8.4

ピーク波長

8.4.1

連続的な発光ダイオード及び単一縦モードスペクトル

ピーク波長として，手法Bの7.3.2の測定値，又は手法Aの6.3.5のスペクトルの最大パワーの波長を使

用する。

8.4.2

離散的な多重縦モードスペクトル

ピーク波長は，手法Aの6.3.5からスペクトルの最大パワー，又は手法Bのピークパワーレベル（10回

の読取値の平均）に対応する波長を読むことによって表2（対数又はリニアスケール）から直接得ること

ができる。最大出力が，一つ以上のモードに生じる場合は，最大出力の全てのモードで，波長の平均をと

る。ピーク波長としては，この平均値を使用する。

8.5

RMS幅（Δλrms）

手法Aの6.3.5のスペクトル，又は手法Bの表2（単一又は平均値）の中の波長及び対応するリニア出

力（nW）を使用して，次の式によってRMS幅を求める。

(

)

rms

−

∑

計算例を，表1に示す。Δλrmsは，単一縦モード光源には適用しないことに注意する。箇条8の初めに記

載したように，ピークパワーから20 dBを切り捨てるようなデータポイント範囲を制限するために，文書

化された方法を使用することが望ましい。

8.6

n-dBダウン幅（Δλn-dB）

手法Bの7.5.2で記録した波長又は手法Aの6.3.5のスペクトルピークのn dB低下した波長の差が，Δλn-dB

（図5参照）である。Δλn-dBは，単一縦モードレーザには適用可能であるが，多重縦モードレーザ又は発

光ダイオードには適用しない。

8.7

半値全幅（Δλfwhm）

8.7.1

連続な発光ダイオードのスペクトル幅の場合

手法Bの7.3.3で記録した又は手法Aの6.3.5のスペクトルから決定した半値波長の差が，Δλfwhmである。

C 61280-1-3：2017 (IEC 61280-1-3：2010)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.7.2

離散的な多重縦モードスペクトルの場合

この場合の半値全幅は，次のようにして決定する半値波長の差である。レーザがピーク波長両側の最大

振幅から3 dB低下した二つの半値波長でモードをもたない場合は，半値波長は補間によって求める。

図3で示されるように，各モードの頂点を，隣接したモードの頂点同士で接続し，そのピークパワー点

から3 dB低下したレベルに水平線を引く。二つ以上の交差位置から半値波長を決定する。半値波長間の最

大波長差をΔλfwhm（図4参照）とする。

8.8

サイドモード抑圧比（SMSR）

SMSRは，単一縦モードレーザの最大信号強度（M1）及び最も高いサイドモードの強度（M2）を，手法

Bによる7.5.1，又は手法Aによる6.3.5の光学スペクトルで決定し，次の式の比（dB）によって求める。

log

SMSR

試験結果

9.1

必須情報

試験結果には，次の必須情報を含まなければならない。

a) 測定日，試験名称及び手順

b) 適用可能なデータとともに，試験に使用する光送信器（光ファイバ端末機器）又は光源の識別情報

c) 参照点の温度

d) 検査の結果

9.2

利用可能な情報

必要に応じて試験結果に利用可能な情報を，次に示す。

a) 使用する試験設備及び最新校正日

b) 試験者の氏名

c) 測定誤差及びディスプレイ解像度による測定の不確かさ

d) データレート及び変調度及びパルス形状を含む入力信号特性

e) 供給電圧値及び／又は電流値

光源デバイスのためのバイアス回路形式

g) 可能な範囲で，光ファイバコード，ピグテイル及び光接続方法の詳細を含む光出力測定条件

h) 温度安定化のための推奨ウォームアップ時間

10 測定結果例

シングルモード光ファイバ付き高出力InGaAsPエッジエミッタLEDの光スペクトルを，図1に示す。

表1の1〜3列は，7.3の手順によって得られた11点の光スペクトルである。4列は，対数から線形に変換

したパワーである。5列及び6列は，光強度と波長との積を示す。重心波長（λc）及びRMS幅（Δλrms）は，

それぞれ8.3及び8.5の算出式を使用して求める。総和を表示した行は，iが1〜11のそれぞれの行の総和

を示し，この値も使用して重心波長（λc）及びRMS幅（Δλrms）を算出した。

C 61280-1-3：2017 (IEC 61280-1-3：2010)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図1−発光ダイオード光スペクトルの例

表1−図1の発光ダイオードスペクトルの測定点

波長λi

光強度（対数表示）

dBm

光強度（線形表示）Pi

Pi λi

Pi (λi−λc)2

1 226

−44

49040

256000

1 243

−39

126

156618

500094

1 260

−33

501

631260

1060116

1 277

−28

1585

2024045

1332985

1 294

−24

3981

5151414

573264

1 311

−24

3981

5219091

99525

1 328

−27

1995

2649360

965580

1 345

−31

794

1067930

1207674

1 362

−35

316

430392

990976

1 379

−39

126

173754

671454

1 396

−44

55840

324000

総和

λc

Δλrms

−

1 306

−
−
−

13485

−
−

17608744

7981668

表2−RMSスペクトル特性

波長λi

光強度（対数表示）

dBm

光強度（線形表示）Pi

Pi λi

Pi (λi−λc)2

総和

λc

Δλrms

−

−
−
−

−
−

光
強
度