C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 性能判定基準 ··················································································································· 5
5 試験中の条件 ··················································································································· 6
6 製品文書························································································································· 6
7 適用方法························································································································· 6
8 測定の不確かさ ················································································································ 6
9 イミュニティ試験要求事項 ································································································· 6
附属書A（参考）製品規格作成委員会へのガイダンス ································································ 11
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電気
学会（IEEJ）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 61000-6-1:2008は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61000の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61000-3-2 第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電流が20 A以下の機
器）
JIS C 61000-4-2 第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-3 第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-4 第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／バーストイミュニ
ティ試験
JIS C 61000-4-5 第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6 第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
イミュニティ
JIS C 61000-4-7 第4-7部：試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
JIS C 61000-4-8 第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-11 第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対する
イミュニティ試験
JIS C 61000-4-16 第4-16部：試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に
対するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-20 第4-20部：試験及び測定技術−TEM（横方向電磁界）導波管のエミッション及び
イミュニティ試験
JIS C 61000-4-22 第4-22部：試験及び測定技術−全電波無響室（FAR）における放射エミッション
及びイミュニティ試験
JIS C 61000-4-34 第4-34部：試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の
電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-6-1 第6-1部：共通規格−住宅，商業及び軽工業環境におけるイミュニティ規格
JIS C 61000-6-2 第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ規格
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日本工業規格 JIS
C 61000-6-1：2019
(IEC 61000-6-1：2016)
電磁両立性−第6-1部：共通規格−住宅，商業及び
軽工業環境におけるイミュニティ規格
Electromagnetic compatibility (EMC)-
Part 6-1: Generic standards-Immunity standard for residential, commercial
and light-industrial environments
序文
この規格は，2016年に第3版として発行されたIEC 61000-6-1を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 61000規格群の中で，住宅，商業，公共及び軽工業地域で使用する電気装置及び電子
装置のEMCに関わるイミュニティ要求事項について規定する。
周波数範囲が直流から400 GHzまでのイミュニティ要求事項を対象とする。要求事項を規定していない
周波数では，試験を行う必要はない。
対象製品に対してイミュニティに関する適切な製品規格又は製品群規格がない場合は，この共通イミュ
ニティ規格を適用する。
この規格は，次の地域で動作することを意図した電気装置及び電子装置に適用する。
・ 3.8で定義する，屋内及び屋外の住宅地域。
・ 3.9で定義する，屋内及び屋外の商業，公共及び軽工業地域。
この規格は，電池によって動作する装置，又は商用ではないが，工業用でもない低圧電源系統から受電
する装置で，かつ，3.8又は3.9で定義する地域で使用する装置にも適用する。
この規格は，静電気放電を含む，連続的及び過渡的な，伝導妨害及び放射妨害に関するイミュニティ要
求事項を規定する。
このイミュニティ要求事項は，住宅，商業，公共及び軽工業地域内で動作する装置の適正なイミュニテ
ィレベルを確保するために選択した。しかし，このイミュニティレベルは，どのような場所でも発生する
可能性があるが，発生する確率が極めて小さい極端なケースについては，考慮していない。この規格では，
試験項目に全ての妨害現象を取り上げるのではなく，この規格を適用する装置に対して適切であるとみな
される妨害現象だけを選定している。これらの試験要求事項は，最も重要なイミュニティ要求事項である。
試験要求事項は，対象とするそれぞれのポートに対して規定する。
注記1 他の妨害現象に関する情報は，IEC TR 61000-4-1を参照。
注記2 この規格は，安全性を考慮したイミュニティについては取り扱わない。
2
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
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注記3 特別な場合，妨害波のレベルがこの規格で規定した試験レベルを超えることがある。例えば，
装置の近傍で携帯形送信機を使用した場合である。このような場合，特別な対策を講じるこ
とが必要となることがある。
注記4 製品規格作成委員会へのガイダンスを，参考として附属書Aに示す。
注記5 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61000-6-1:2016，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-1: Generic standards−
Immunity standard for residential, commercial and light-industrial environments（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 60050-161 EMCに関するIEV 用語
注記 対応国際規格：IEC 60050-161，International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
Electromagnetic compatibility（IDT）
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test，
Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010（IDT）
JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:2012，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:2014，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2013，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
（IDT）
JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-8:2009，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and
measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test（IDT）
3
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
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JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
（IDT）
JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部：試験及び測定技術−TEM（横方向電磁界）導波管の
エミッション及びイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-20:2010，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing
and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)
waveguides（MOD）
JIS C 61000-4-22:2014 電磁両立性−第4-22部：試験及び測定技術−全電波無響室（FAR）における
放射エミッション及びイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-22:2010，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-22: Testing
and measurement techniques−Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic
rooms (FARs)（IDT）
JIS C 61000-4-34:2017 電磁両立性−第4-34部：試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを
超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-34:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-34: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
for equipment with input current more than 16 A per phase及びAmendment 1:2009（IDT）
IEC 61000-4-21:2011，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-21: Testing and measurement techniques
−Reverberation chamber test methods
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 60050-161によるほか，次による。
3.1
ポート（port）
外部電磁環境と接続する装置の特定のインタフェース，及び外部電磁環境によって影響を受ける装置の
特定のインタフェース。
注記 図1に対象のポートの例を示す。きょう体ポートは装置の物理的境界である（例えば，きょう
体そのもの）。きょう体ポートは，放射及び静電気放電（ESD）のイミュニティに関係し，他の
ポートは，伝導，直接印加又は誘導のイミュニティに関係している。
交流電源ポート
きょう体ポート
信号・制御ポート
装置
直流電源ポート
図1−装置のポート
4
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3.2
きょう体ポート（enclosure port）
電磁界を放射する，又は電磁界が印加される可能性がある，装置の物理的な境界。
3.3
信号・制御ポート（signal/control port）
信号の伝送を目的とする導体又はケーブルを装置に接続するポート。
例 アナログの入力線，出力線及び制御線，データバス，通信ネットワークなど。
3.4
電源ポート（power port）
動作（機能）に必要な入力電力又は出力電力を供給する，導体又はケーブルを装置に接続するポート。
3.5
商用電源系統（public mains network）
電力を供給するために電気事業者が運用し，かつ，需要家が接続する電力線。
3.6
長距離線（long distance line）
信号・制御ポートに接続され，建屋内部における長さが30 mよりも長いか，又は建屋の外部に出る信
号・制御線（屋外設備の信号・制御線を含む。）。
3.7
低圧（low voltage）
慣習的に用いる上限電圧以下の電圧（IEV 151-15-03参照）。
注記 国内では，平成九年通商産業省令第五十二号 電気設備に関する技術基準を定める省令 第二条
一で“直流にあっては750 V以下，交流にあっては600 V以下”と規定している。
3.8
住宅地域（residential location）
一般家庭用住居の建造物に指定される土地区域として存在し，装置が低圧商用電源系統に直接接続して
いる，又は装置と低圧商用電源系統との間を結合することを意図した専用の直流電源に接続しているとい
う事実によって特徴付けられた地域。
例 住宅地域の例は，家屋，アパート，居室がある農舎などである。
注記1 住居の機能は，一人以上の人間が生活する場所を提供することである。住居は，1個の独立
した建物，又は独立した区画のアパートのように，より大きな建物があり得る。
注記2 地域と電磁環境との関連性については，3.11を参照。
3.9
商業，公共及び軽工業地域（commercial，public and light-industrial location）
オフィス・オートメーション装置（PC，ファックス，複写機，電話など）の集まりをもつ街区の中心部，
事務所，公共輸送機関（道路，電車及び地下鉄）及びビジネスセンタの区域によって例示され，装置が低
圧商用電源系統に直接接続している，又は装置と低圧商用電源系統との間を結合することを意図した専用
の直流電源に接続しているという事実によって特徴付けられた地域。
例 商業，公共及び軽工業地域の例は，次のとおりである。
・ 小売店，例えば，店舗，スーパーマーケット
・ 事業所，例えば，オフィス，銀行，ホテル，データセンタ
5
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・ 一般向け娯楽施設，例えば，映画館，大衆バー，ダンスホール
・ 宗教施設，例えば，寺院，教会，モスク，シナゴーグ
・ 屋外施設，例えば，ガソリンスタンド，駐車場，娯楽センタ，スポーツセンタ
・ 一般的な公共地域，例えば，公園，遊戯施設，公共事務所
・ 病院，教育機関，例えば，学校，大学，カレッジ
・ 公共交通機関，鉄道の駅及び空港の公共エリア
・ 軽工業地域，例えば，作業所，研究所，サービスセンタ
注記 地域と電磁環境との関連性については，3.11を参照。
3.10
直流系統（DC distribution network）
一つ以上の異なる種類の装置での柔軟な使用を目的として，商用電源系統の状態と独立して連続電力供
給を保証している，特定の用地又は建物の基幹施設用の直流電力供給系統。
注記 離れて設置されている蓄電池の接続が一つの装置に対する電力供給だけの場合，この接続は直
流系統とみなさない。
3.11
電磁環境（electromagnetic environment）
対象の地域に存在する電磁現象の全て（JIS C 60050-161の161-01-01参照）。
注記1 一般に，電磁環境は時間依存性があり，その説明には統計的アプローチが必要となることが
多い。
注記2 電磁環境と地域そのものとを混同しないことが非常に重要である。
4
性能判定基準
イミュニティ試験中又は試験後において，どのような性能及び機能で装置のイミュニティを評価するか
の説明，並びに評価に用いる供試装置（EUT）固有の性能判定基準は，製造業者が指定し，試験報告書に
記載する。この報告書は，表1〜表4で規定するそれぞれの試験ごとに，次のいずれかの一般的な性能判
定基準に矛盾のないようにする。
a) 性能判定基準A EUTは，試験中及び試験後において，意図したように動作し続けなければならない。
EUTを意図した方法で使用したとき，製造業者が指定した性能レベルを下回る性能低下又は機能喪失
があってはならない。性能レベルを製造業者が指定していない場合には，これは，意図した方法で装
置を使用したときに使用者が当然期待する性能，並びに製品説明書及び製品文書で決定してもよい。
b) 性能判定基準B EUTは，試験後，意図したように動作し続けなければならない。EUTを意図した方
法で使用したとき，製造業者が指定した性能レベルを下回る性能低下又は機能喪失があってはならな
い。性能レベルは，許容できる性能喪失としてもよい。試験中の性能の低下はあってもよいが，実際
の動作状態又は蓄積データの変化はあってはならない。最低性能レベル又は許容できる性能喪失を製
造業者が指定していない場合には，これらは，意図した方法で装置を使用したときに使用者が期待す
る性能，並びに製品説明書及び製品文書で決定してもよい。
c) 性能判定基準C EUTは，機能が自動的に回復するか，又は装置を操作して回復する場合には，試験
中一時的な機能喪失があってもよい。
この規格で規定した試験を行った結果，EUTが危険な状態になった場合，又は安全を確保できなくなっ
た場合には，試験を中止し，この試験に不合格であると判定する。
6
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
試験中の条件
EUTは，例えば，予備試験を行うことによって確認した，感受性が最も高くなると考えられる動作モー
ドで試験を行う。このモードは，通常使用するモードの範囲内とする。試験サンプルの配置は，代表的な
適用状態及び設置方法の範囲内で，感受性が最も高くなるように調整する。試験時の配置及び動作モード
については，試験報告書に詳細に記載する。
装置がシステムの一部であるか，又は補助装置に接続できる場合は，ポートを動作させるために必要な
補助装置を最低限の代表的構成で接続して，装置を試験する。補助装置は模擬してもよい。
製造業者が使用説明書で明確に指定した外付けの保護デバイス又は対策措置を要求している場合には，
適切な位置に外付けの保護デバイス又は対策措置を施して，この規格の試験要求事項を適用する。
装置に多数の類似ポート又は多数の同様な接続をもつポートがある場合には，実際の動作条件を模擬し，
かつ，全ての異なる終端方法を網羅することを確実にするため，十分な数のポートを試験対象として選択
する。試験したポートの選択の正当性は，試験報告書に含める。
試験は，EMCに関する基本規格で特に規定していない限り，製品で指定した動作温度，湿度及び気圧の
範囲内の一つの条件で，かつ，定格電源電圧で行う。
6
製品文書
この規格が要求する試験中若しくは試験後における最低性能レベル又は許容できる性能喪失について，
製造業者が独自の仕様を用いている場合には，独自の仕様であることを製品文書に記載する。この仕様は，
要求に応じて入手可能とする。
7
適用方法
イミュニティ評価のための試験の適用は，特定の装置，並びにその配置，ポート，用いている技術及び
動作条件に依存する。
試験は，表1〜表4に従って，装置の対応するポートに対して適用する。試験は，対応するポートがあ
る場合だけ行う。
特定の装置の電気的特性及び使用方法を考慮すると，一部の試験は適切ではなく，試験は不要と決めて
もよい。この場合，試験を行わないという判断及びその理由を試験報告書に記載する。
8
測定の不確かさ
イミュニティ試験の試験装置における不確かさの評価のための指針をIEC TR 61000-1-6又は対応する
基本規格で規定している場合は，それに従うことが望ましい。
9
イミュニティ試験要求事項
この規格が対象とする装置のイミュニティ試験要求事項は，ポートごとに規定し，表1〜表4による。
試験は，明確に規定した，かつ，再現性のよい方法で行う。
それぞれの試験は，個別に行う。試験の順序は，任意とする。同型の複数の装置を試験ごとに用いても
よい。この情報は，試験報告書に記載する。
試験の詳細，使用する試験信号発生器，適切な試験方法及び試験セットアップは，表1〜表4に規定す
るEMC基本規格の規定による。
これらのEMC基本規格の内容はここでは繰り返さないが，実際の適用のための変更又は付加情報を，
7
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1〜表4で規定する。
表1−イミュニティ要求条件 きょう体ポート
環境現象
試験仕様
EMC基本規格
付加情報
性能
判定
基準
1.1
電源周波数磁界 周波数50 Hz，60 Hz
磁界強度3 A/m
JIS C 61000-4-8
磁界に影響されるデバイスを使用
する装置にだけ適用する。
電源周波数と同じ周波数で試験を
行う。単一の周波数で配電される地
域だけで使用される装置について
は，その周波数だけの試験でよい。
A
1.2
無線周波電磁界
振幅変調
周波数範囲80 MHz〜
1 000 MHz
3 V/m d)
変調度80 % 振幅変調
（AM）1 kHz
JIS C 61000-4-3
a)，b)，c)
規定の試験レベルは，無変調の搬送
波の実効値である。
A
1.3
無線周波電磁界
振幅変調
周波数範囲1.4 GHz〜6.0
GHz
3 V/m d)
変調度80 % AM 1 kHz
JIS C 61000-4-3
a)，b)，c)
規定の試験レベルは，無変調の搬送
波の実効値である。
A
1.4
静電気
放電
接触
放電
±4 kV（充電電圧）
JIS C 61000-4-2
接触放電及び／又は気中放電の適
用可否についてはEMC基本規格を
参照。
B
気中
放電
±8 kV（充電電圧）
B
注a) JIS C 61000-4-20で規定している“小さいEUT”に対しては，同規格を適用してもよい。
b) JIS C 61000-4-22で規定している全電波無響室（FAR）を，無線周波イミュニティ試験に対する試験室の代わ
りに使用してもよい。
c) IEC 61000-4-21で規定している反射箱（RVC）を，無線周波イミュニティ試験に対する試験室の代わりに使
用してもよい。反射箱に印加する入力電力Pinputは，無線周波イミュニティ試験で要求される試験電界強度Etest
から，次の式によって求める。
2
9
or
24
test
input
)
(
×
=
f
CLF
E
E
P
ここに， CLF(f) ：周波数fにおける反射箱の負荷係数（無次元）
9
or
24
E
：正規化された電界の平均［(V/m)/W0.5］
これらは空の反射箱の有効性検証で求められる（IEC 61000-4-21の附属書B及び附属書Dを参照）。
d) 複数の移動無線送信器を同じ場所で集中して使用する場合の情報は，例えば，IEC TR 61000-2-5:2011の9.3
を参照。
8
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−イミュニティ要求条件 信号・制御ポート
環境現象
試験仕様
EMC基本規格
付加情報
性能
判定
基準
2.1
無線周波
コモンモード
周波数範囲0.15 MHz〜80
MHz
電圧3 V
変調度80 % AM 1 kHz
JIS C 61000-4-6
規定の試験レベルは，無変調の搬送
波の実効値であるa)，b)。
A
2.2
サージ
Tf/Td＝1.2/50 μs（開回路電
圧）（8/20 μs，電流波形）
（ライン−グラウンド間）
±1 kV（開回路電圧）f)
JIS C 61000-4-5
c)，d)
B
2.3
ファストトラ
ンジェント／
バースト
±0.5 kV（開回路電圧）
tr/tw＝5/50 ns g)
繰返し周波数5 kHz又は
100 kHz
JIS C 61000-4-4
容量性結合クランプを使用b)，e)。
B
注a) 試験レベルは，150 Ω負荷に流れる等価電流で規定してもよい。
b) 製造業者の機能仕様で3 mを超えるケーブルが接続される可能性のあるポートだけに適用する。
c) 長距離線が接続される可能性のあるポートだけに適用する。
d) EUTに接続する結合・減結合回路網（CDN）の影響のために，通常の機能が制限される場合，この試験は制
限された機能で行う。機能を制限して試験を行った理由を試験報告書に記載する。試験が終了しCDNを取り
外した後に，通常の機能に影響があってはならない。
e) 試験は，一つ又は両方の繰返し周波数で行ってよい。繰返し周波数は100 kHzが実際の現象に近いが，従来
から5 kHzを使用している。
f) Tf/Tdの定義はJIS C 61000-4-5:2018を参照。
g) tr/twの定義はJIS C 61000-4-4:2015を参照。
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C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−イミュニティ要求条件 直流入力電源ポート及び直流出力電源ポート
環境現象
試験仕様
EMC基本規格
付加情報
性能
判定
基準
3.1
無線周波
コモンモード
周波数範囲0.15 MHz〜80
MHz
電圧3 V
変調度80 % AM 1 kHz
JIS C 61000-4-6
規定の試験レベルは，無変調の搬送
波の実効値であるa)，b)。
A
3.2
サージ
ライン−グラ
ウンド間
ライン−ライ
ン間
Tf/Td＝1.2/50 μs（開回路電
圧）（8/20 μs，電流波形）
±1 kV（開回路電圧）
±0.5 kV（開回路電圧）
JIS C 61000-4-5
c)，e)，g)
B
3.3
ファストトラ
ンジェント／
バースト
±0.5 kV（開回路電圧）
tr/tw＝5/50 ns
繰返し周波数5 kHz又は
100 kHz
JIS C 61000-4-4
d)，f)，h)
B
直流系統に接続することを意図しない直流ポートは，信号ポートとして試験する。
注a) 試験レベルは，150 Ω負荷へ流れる等価電流で規定してもよい。
b) 製造業者の機能仕様で3 mを超えるケーブルが接続される可能性のあるポートだけに適用する。
c) 長距離線に接続しているポートだけに適用する。一次電池又は充電のときに機器から外さなければならない
充電式電池を使用する機器の入力ポートには適用しない。
d) 一次電池又は充電のときに機器から外さなければならない充電式電池を使用する機器の入力ポートには適用
しない。
e) 交直変換アダプタの使用を意図している直流入力ポートをもつ機器は，製造業者が指定する交直変換アダプ
タの交流入力ポートで試験する。アダプタが指定されない場合は，この表の試験レベルを使用して，直流ポ
ートで試験する。
f) 交直変換アダプタの使用を意図している直流入力ポートをもつ機器は，製造業者が指定する交直変換アダプ
タの交流入力ポートで試験する（表4の試験仕様を参照）。アダプタが指定されない場合は，表4の試験仕様
を使用して，直流ポートで試験する。アダプタが指定されている場合は，3 mを超える直流ケーブルに常時接
続していることを意図している場合だけ，試験は直流入力ポートに適用可能である。
g) 市販の試験装置（例えば，CDN）で対応しない供給電圧に対しては，その試験は要求しない。
h) 試験は，一つ又は両方の繰返し周波数で行ってよい。繰返し周波数は，100 kHzが実際の現象に近いが，従来
から5 kHzを使用している。
10
C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−イミュニティ要求条件 交流入力電源ポート及び交流出力電源ポート
環境現象
試験仕様
EMC基本規格
付加情報
性能
判定
基準
4.1
無線周波
コモンモード
周波数範囲0.15 MHz〜80
MHz
電圧3 V
変調度80 % AM 1 kHz
JIS C 61000-4-6
規定の試験レベルは，無変調の搬送
波の実効値であるa)。
A
4.2
電圧ディップ
0 %残存電圧
0.5 サイクル
JIS C 61000-4-11
JIS C 61000-4-34
ゼロクロスでの電圧遷移b)，e)。
B c)
0 %残存電圧
1 サイクル
B c)
70 %残存電圧
25/30（50 Hz/60 Hz）サイ
クル
C
4.3
短時間停電
0 %残存電圧
250/300（50 Hz/60 Hz）サ
イクル
JIS C 61000-4-11
JIS C 61000-4-34
ゼロクロスでの電圧遷移b)，e)。
C
4.4
サージ
ライン−グラ
ウンド間
ライン−ライ
ン間
Tf/Td＝1.2/50 μs（開回路電
圧）（8/20 μs，電流波形）
±2 kV（開回路電圧）
±1 kV（開回路電圧）
JIS C 61000-4-5
この規格の箇条5の第3段落を参照
d)。
B
4.5
ファストトラ
ンジェント／
バースト
±1 kV（開回路電圧）
tr/tw＝5/50 ns
繰返し周波数5 kHz又は
100 kHz
JIS C 61000-4-4
f)
B
注a) 試験レベルは，150 Ω負荷へ流れる等価電流で規定してもよい。
b) 入力ポートにだけ適用する。
c) 電力変換器に対し，保護装置の動作（例えば，電圧低下保護）及び性能判定基準Cを許容する。
d) 市販の試験装置（例えば，CDN）で対応しない供給電圧に対しては，その試験は要求しない。
e) 電源周波数に対応する周波数で試験する。それらの周波数の一つだけが適用される地域において使用される
ことを意図した装置は，この特定の周波数で試験する必要がある。
f) 試験は，一つ又は両方の繰返し周波数で行ってよい。繰返し周波数は，100 kHzが実際の現象に近いが，従来
から5 kHzを使用している。
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C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
製品規格作成委員会へのガイダンス
イミュニティ共通規格は，IEC Guide 107に従って，それぞれの電磁環境をもつ地域で動作することを
意図する製品又はシステムに適用できる要求事項，試験手順及び一般化された性能判定基準を規定する。
この規格は，住宅，商業及び軽工業地域で動作する装置に対する最小限のイミュニティ要求事項を規定す
る。
しかし，幾つかの製品，製品群又は干渉事例に関連する電磁現象が，将来発生するか又は増加すること
が予期される。共通規格作成委員会は，対応するイミュニティレベルを決める際に，アドバイス及び援助
を製品規格作成委員会に提供することが望ましい。
この附属書の目的は，そのような将来の状況又は一部の製品若しくは製品群に対し関連する可能性のあ
る試験を示すことである。製品規格作成委員会は，それらの試験及び表A.1で与えられる試験レベルを考
慮することが求められる。これらの試験は，この規格では規定しておらず，この規格への適合性を示すの
に必要なものではない。
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C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.1−将来考慮される，又は特定の製品群に対するイミュニティ試験及び試験レベル
電磁現象
基本規格
基本規格に
従った試験
レベル
参考情報
リング波
IEC 61000-4-12
2
この現象は，配電網及び無効電力負荷の開閉，電源回路の故
障及び絶縁破壊，又は雷撃によって低圧ケーブルに誘導され
る振動過渡現象にさらされる可能性がある装置に対し考慮
することが望ましい。
高調波，次数間高
調波，及び電源線
信号
IEC 61000-4-13
2
位相制御又は他のゼロクロス検出技術を含む装置に対し考
慮することが望ましい。
直流から150 kHz
までの伝導コモン
モード妨害
JIS C 61000-4-16
2
この現象は，一般的に次のシステムによって発生する妨害
（例えば，長いケーブル配置の場合）にさらされる可能性が
ある装置に対し，考慮することが望ましい。
− 基本波周波数，無視できない高調波及び次数間高調波を
もつ配電システム
− 接地導体及び接地系統（浮遊容量又はフィルタを経由し
て）に妨害を印加し，又は信号及び制御線に誘導によっ
て妨害を発生する可能性のあるパワーエレクトロニク
ス装置（例えば，電力変換装置）。
低速減衰振動波
IEC 61000-4-18
2
この現象は，電力系統（電線路及び電力設備）の開閉装置の
動作における過渡現象及び注入されるインパルス電流によ
って繰り返し発生する減衰振動波にさらされる可能性のあ
る工場内の装置に対し，考慮することが望ましい。
2 kHzから150 kHz
までの伝導ディフ
ァレンシャルモー
ド妨害
IEC 61000-4-19
2
この現象は，例えば，電力線搬送通信（PLC），パワーエレ
クトロニクス装置などによって発生する，交流電源からの周
波数範囲2 kHz〜150 kHzにおける妨害に感受性がある装置
に対し考慮することが望ましい。
直流入力電源ポー
トにおける電圧デ
ィップ，短時間停
電及び電圧変動
IEC 61000-4-29
2
これらの現象に感受性がある装置に対し考慮することが望
ましい。
広帯域妨害
IEC 61000-4-31
−
この現象は，例えば，広帯域の電力線搬送通信（PLC）など
によって発生する，交流電源からの周波数150 kHzを超える
妨害に感受性がある装置に対し考慮することが望ましい。
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C 61000-6-1：2019 (IEC 61000-6-1：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献 JIS C 61000-4-16 電磁両立性−第4-16部：試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導
コモンモード妨害に対するイミュニティ試験
注記 原国際規格では，IEC 61000-4-16，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-16: Testing
and measurement techniques−Test for immunity to conducted, common mode disturbances in
the frequency range 0 Hz to 150 kHzを記載している。
IEC TR 61000-1-6，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 1-6: General−Guide to the
assessment of measurement uncertainty
IEC TR 61000-2-5:2011，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-5: Environment−Description
and classification of electromagnetic environments
IEC TR 61000-4-1，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-1: Testing and measurement
techniques−Overview of IEC 61000-4 series
IEC 61000-4-12，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-12: Testing and measurement
techniques−Ring wave immunity test
IEC 61000-4-13，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement
techniques−Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. power port，low
frequency immunity tests
IEC 61000-4-18，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-18: Testing and measurement
techniques−Damped oscillatory wave immunity test
IEC 61000-4-19，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-19: Testing and measurement
techniques−Test for immunity to conducted，differential mode disturbances and signalling in the
frequency range 2 kHz to 150 kHz at a.c. power ports
IEC 61000-4-29，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-29: Testing and measurement
techniques−Voltage dips，short interruptions and voltage variations on d.c. input power port
immunity tests
IEC 61000-4-31，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-31: Testing and measurement
techniques−AC mains ports broadband conducted disturbance immunity test
IEC Guide 107，Electromagnetic compatibility−Guide to the drafting of electromagnetic compatibility
publications