C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 一般事項 ························································································································· 3
5 試験レベル ······················································································································ 3
5.1 電圧ディップ及び短時間停電···························································································· 3
5.2 電圧変動（オプション） ································································································· 6
6 試験装置 ························································································································· 7
6.1 試験電圧発生器 ············································································································· 7
6.2 電源 ···························································································································· 9
7 試験セットアップ ············································································································· 9
8 試験手順 ························································································································· 9
8.1 試験室の基準条件 ········································································································· 10
8.2 試験の実施 ·················································································································· 10
9 試験結果の評価 ··············································································································· 11
10 試験報告書 ··················································································································· 12
附属書A（規定）試験回路の詳細 ··························································································· 13
附属書B（参考）電磁環境クラス···························································································· 15
附属書C（参考）試験計器 ···································································································· 16
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（2）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電気学会
(IEEJ)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出が
あり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 61000-4-11:2003は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS C 61000の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61000-3-2 第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電流が20 A以下の機
器）
JIS C 61000-4-2 第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-3 第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-4 第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／バーストイミュニ
ティ試験
JIS C 61000-4-5 第4部：試験及び測定技術−第5節：サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6 第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
イミュニティ
JIS C 61000-4-7 第4-7部：試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
JIS C 61000-4-8 第4部：試験及び測定技術−第8節：電源周波数磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-11 第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイ
ミュニティ試験
JIS C 61000-4-14 第4部：試験及び測定技術−第14節：電圧変動イミュニティ試験
JIS C 61000-4-16 第4部：試験及び測定技術−第16節：直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
妨害に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-17 第4部：試験及び測定技術−第17節：直流入力電源端子におけるリプルに対する
イミュニティ試験
JIS C 61000-4-20 第4-20部：試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミ
ュニティ試験
JIS C 61000-6-1 第6-1部：共通規格−住宅，商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
JIS C 61000-6-2 第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
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日本工業規格 JIS
C 61000-4-11：2008
(IEC 61000-4-11：2004)
電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−
電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対する
イミュニティ試験
Electromagnetic compatibility (EMC)-
Part 4-11: Testing and measuring techniques-
Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
序文
この規格は，2004年に第2版として発行されたIEC 61000-4-11を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対して，低圧電源に接続する電気・電子機器の
イミュニティ試験方法及び適切な試験レベルの範囲について規定する。
この規格は，50 Hz又は60 Hzの交流回路に接続する，一相当たり16 A以下の定格入力電流をもつ電気・
電子機器に適用する。
この規格は，400 Hzの交流回路に接続する電気･電子機器には適用しない。これらに対する試験は，将
来のJISで取り扱う。
この規格の目的は，電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティを評価するための一
般的な基準を確立することにある。
注記1 低振幅電圧変動のイミュニティ試験は，JIS C 61000-4-14で規定する。
この規格は，機器のイミュニティを評価するための矛盾がない方法，又は定義する現象に対する体系を
規定する。この規格は，EMC基本規格であり，製品規格委員会が用いる。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and measurement
techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを
示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
IEC 61000-2-8 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-8: Environment−Voltage dips and short
2
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interruptions on public electric power supply systems with statistical measurement results
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
基本EMC規格（basic EMC standard）
電磁両立性を実現するための一般的及び基本的条件又は規則を規定し，すべての製品及びシステムに関
係又は適用し，製品規格委員会の参考となる規格。
3.2
イミュニティ（妨害に対する）［immunity（to a disturbance）］
電磁妨害が存在する環境で，機器，装置又はシステムが性能劣化せずに動作することができる能力。
(JIS C 60050-161-01-20)
3.3
電圧ディップ（voltage dip）
電力供給システムのある地点において発生し，短時間で復帰する，規定の電圧ディップしきい値以下へ
の突然の電圧低下。
注記1 一般的に，電圧ディップは，系統又は系統に接続する設備における，回路の短絡又はその他
の急激な電流増加の発生及び終了によって発生する。
注記2 電圧ディップは，そのレベルが電圧及び時間(継続時間)によって決まる二次元の電磁妨害で
ある。
3.4
短時間停電（short interruption）
電力供給システムのある地点において発生し，短時間で復帰する，規定の短時間停電しきい値以下への
すべての相の突然の電圧低下。
注記 一般的に，短時間停電は，系統又は系統に接続する設備における，回路の短絡の発生及び終了
に関連した遮断器の動作によって発生する。
3.5
残存電圧（電圧ディップの）［residual voltage（of voltage dip）］
電圧ディップ又は短時間停電の最中に記録された，実効値電圧の最小値。
注記 残存電圧は，電圧値（ボルト），又は基準電圧の百分率若しくはPU値のいずれかで表現するこ
ともある。
3.6
誤動作（malfunction）
機器が想定する動作を実行できなくなる状態，又は想定しない動作を実行する状態。
3.7
校正（calibration）
測定機器が仕様に適合していることを証明する作業。
3.8
検証（verification）
試験システム（例えば，試験電圧発生器と相互接続しているケーブル）を確認し，この試験システムが
3
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箇条6に規定する仕様の範囲内で機能していることを証明するために用いる一連の操作。
注記1 検証のために用いる方法は，校正のために用いる方法と異なることもある。
注記2 6.1.2の検証手順は，意図する波形を供試機器（以下，EUTという。）に印加するための試験
セットアップを構成する試験電圧発生器，及びほかの構成機器の正しい動作を保証するため
の指針としての意味をもつ。
4
一般事項
電気・電子機器は，電源の電圧ディップ，短時間停電又は電圧変動によって影響を受けることがある。
電圧ディップ及び短時間停電は，電力系統若しくは設備における短絡などの故障（IEC 61000-2-8も参照），
又は負荷の大きな急変によって発生する。ある状況では，2回以上連続した電圧ディップ又は短時間停電
が発生することがある。電圧変動は，電源に接続した連続的に変化する負荷によって発生する。
これらの現象は，実際には不規則であるが，試験所でシミュレーションの目的に沿って定格電圧からの
逸脱幅及び継続時間で特徴付けることができる。
したがって，この規格では，急激に変化する電圧の影響をシミュレーションするための各種試験を規定
する。これらの試験は，製品規格又は製品規格委員会の責任で，特定な場合及び必要な場合にだけ適用す
る。
この規格において，考察した現象の中で，どの現象が問題となるかを確定し，試験の適用を決定するの
は，製品規格委員会の責任とする。
5
試験レベル
この規格で，電圧試験レベルを規定する基準（以下，UTという。）として機器の定格電圧を用いる。
機器の定格電圧が範囲をもつ場合には，次を適用する。
a) 定格電圧範囲の幅が定格の下限電圧の20 ％を超えない場合には，試験レベルを規定する基準(UT)と
して，定格電圧範囲内の単一の電圧を指定してよい。
b) a)以外の場合には，電圧範囲の下限及び上限電圧の両方で試験しなければならない。
c) 試験レベル及び継続時間を選択する場合は，IEC 61000-2-8を指針とする。
5.1
電圧ディップ及び短時間停電
電圧ディップ及び短時間停電は，UTと低下後の電圧との間を急激に変化する。この過程は，電源電圧の
任意の位相角で開始及び終了できる。試験電圧レベル（％UT表示）は，0 ％，40 ％，70 ％及び80 ％を
適用し，そのときの残存電圧は，それぞれ0 ％，40 ％，70 ％及び80 ％となる。
電圧ディップに対する適切な試験レベル及び継続時間を表1に示し，例を図1a)及び図1b)に示す。
短時間停電に対する適切な試験レベル及び継続時間を表2に示し，例を図2に示す。
表1及び表2に示す試験レベル及び継続時間は，IEC 61000-2-8の情報を考慮に入れて決められたもので
ある。
表1の試験レベルは，適度に厳しい値となっており，現実に発生する多くの電圧ディップを代表するが，
すべての電圧ディップに対するイミュニティは保証していない。例えば，試験レベル0 ％，継続時間1秒
の平衡三相電圧ディップのような，より厳しい電圧ディップについては，製品規格委員会が採否を検討し
てもよい。
急激な変化における電圧回復に要する時間tr及び電圧低下に要する時間tfを，表4に示す。
試験レベル及び継続時間は，製品仕様に明記しなければならない。0 ％の試験レベルは，停電に相当す
4
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る。実際には，定格電圧の0 ％〜20 ％の試験レベルは，停電とみなしてもよい。
EUTが，仕様で決められた性能限界の範囲内で動作することを確認するために，表中のより短い継続時
間，特に1/2サイクルにおける試験を行うことが望ましい。
製品規格委員会は，電源用変圧器をもつ製品に関して，1/2サイクルの継続時間に対する性能基準を設
定する場合，突入電流によって生じ得る影響に特に注意することが望ましい。そのような製品は，電圧デ
ィップ後の変圧器鉄心における磁気飽和によって，突入電流が定格電流の10倍から40倍に達する場合が
ある。
表1−電圧ディップに対する適切な試験レベル及び継続時間
クラス a)
電圧ディップ (50 Hz/60 Hz)に対する試験レベル及び継続時間 (ts)
クラス1
機器の要件に応じて個別に設定
クラス2
0 ％で
1/2サイクル
0 ％で
1サイクル
70 ％で25/30サイクルc)
クラス3
0 ％で
1/2サイクル
0 ％で
1サイクル
40 ％で
10/12サイクルc)
70 ％で
25/30サイクルc)
80 ％で
250/300サイクル
c)
クラスX
X b)
X b)
X b)
X b)
X b)
注a) IEC 61000-2-4で規定するクラス：附属書B参照。
b) 値は，製品規格委員会が規定する。商用電源系統に直接又は間接的に接続する機器に関しては，試験レベルが
クラス2よりも緩くなってはならない。
c) “25/30サイクル”の表記は，“50 Hzの試験に対しては25サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては30サイク
ル”の継続時間を適用することを意味している。
注記 電圧は，25サイクル間70 ％に低下し，ゼロクロス点で移行している例。
a) 70 ％電圧ディップ瞬時値グラフ
図1−電圧ディップ
5
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b) 40 ％電圧ディップ実効値グラフ
図1−電圧ディップ（続き）
表2−短時間停電に対する適切な試験レベル及び継続時間
クラスa)
短時間停電(50 Hz/60 Hz)に対する試験レベル及び継続時間(ts)
クラス1
機器の要件に応じて個別に設定
クラス2
0 ％ で 250/300サイクルc)
クラス3
0 ％ で 250/300サイクルc)
クラスX
X b)
注a) IEC 61000-2-4で規定するクラス：附属書B参照。
b) 値は，製品規格委員会が規定する。商用電源系統に直接又は間接的に接続する機器に
関しては，試験レベルがクラス2よりも緩くなってはならない。
c) “250/300サイクル”の表記は，“50 Hzの試験に対しては250サイクル”及び“60 Hz
の試験に対しては300サイクル”の継続時間を適用することを意味している。
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図2−短時間停電
5.2
電圧変動（オプション）
この試験は，UTと変化後の電圧との間での，規定する変動を用いる。
注記 電圧変動において，電圧変化は，ある短い時間内で生じ，負荷の変動によって発生することも
ある。
電圧変化時間及び低下した電圧の継続時間を，表3に示す。電圧は，時間をかけて変化する場合は，変
化率一定であることが望ましい。UTの1 ％以下のステップ変化は，変化率一定の電圧変化として取り扱
ってもよい。電圧変化は，ステップ変化でもよいが，その場合は，変化点は，ゼロクロス点に位置し，ス
テップは，UTの10 ％以下とすることが望ましい。
この箇条で取り扱う波形は，電動機起動時の典型的な波形とする。
表3−短時間の電源電圧変動のタイミング
電圧試験レベル
電圧下降に要する時間 (td)
低下した電圧の継続時間
(ts)
電圧上昇に要する時間 (ti)
(50 Hz/60 Hz)
70 ％
瞬時
1サイクル
25/30サイクルb)
X
Xa)
Xa)
Xa)
注a) 値は，製品規格委員会が規定する。
b) “25/30サイクル”の表記は，“50 Hzの試験に対しては25サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては30サイクル”
の電圧上昇に要する時間を適用することを意味している。
電圧の実効値の時間変化を，図3に示す。正当な理由がある場合は，ほかの値を採用してもよいが，そ
の値は，製品規格委員会で規定する。
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図3−電圧変動
6
試験装置
6.1
試験電圧発生器
電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動の試験に用いる電圧発生器は，特記する場合を除き，次の仕様
を満たさなければならない。
電圧発生器の例を，附属書Cに示す。
電圧発生器は，試験結果に影響を与えるような重大な妨害を商用電力系統に放出しないよう，必要な手
段を講じなければならない。
この規格で規定するものと同等か，又はより厳しい特性（電圧及び継続時間）の電圧ディップを生成す
る電圧発生器を用いてもよい。
6.1.1
試験電圧発生器の特性及び性能
試験電圧発生器の仕様は，表4による。
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表4−試験電圧発生器の仕様
無負荷時出力電圧
表1において必要な電圧。許容誤差は，残存電圧の5 ％。
出力端電圧の負荷変動
出力電圧100 ％，負荷電流0 A〜16 A
出力電圧 80 ％，負荷電流0 A〜20 A
出力電圧 70 ％，負荷電流0 A〜23 A
出力電圧 40 ％，負荷電流0 A〜40 A
UTの5 ％未満
UTの5 ％未満
UTの5 ％未満
UTの5 ％未満
出力電流容量
定格電圧で1相当たり16 A(実効値)。さらに，定格電圧
の80 ％で20 Aを5秒間，並びに定格電圧の70 ％で23 A，
及び定格電圧の40 ％で40 Aを3秒間流すことができな
ければならない（この要求事項は，EUTの定常定格電流
に従って小さくしてもよい。A.3参照）。
ピーク突入電流の供給能力（電圧変動試験時を除く） 電圧発生器で制限されてはならない。ただし，ピーク電流
の供給能力は，250 V〜600 V電源の場合は1 000 A，200 V
〜240 V電源の場合は500 A，100 V〜120 V電源の場合は
250 Aを超える必要はない。
瞬時ピークオーバシュート又はアンダシュート電圧
（抵抗負荷100 Ω時）
UTの5 ％未満
電圧急変時の，電圧回復に要する時間tr及び電圧低
下に要する時間tf［図1 b)及び図2参照］（抵抗負荷
100 Ω時）
1 μs〜5 μs
位相調整（必要な場合）
0°〜360°
電圧ディップ及び短時間停電の電源周波数に対する
位相関係
±10°未満
ゼロクロス制御
±10°
試験電圧発生器の出力インピーダンスは，ほぼ抵抗性でなければならない。また，過渡期においても低
くなければならない（例 0.4＋j0.25 Ω未満）。
エネルギーを回生する機器を試験する場合には，負荷と並列に接続する外部抵抗を追加してもよい。た
だし，この負荷は，試験結果に影響を与えてはならない。
注記 電圧発生器の試験に用いる100 Ωの抵抗は，インダクタンス成分をもたないことが望ましい。
6.1.2
電圧ディップ及び短時間停電の試験電圧発生器の特性の検証
種々の試験電圧発生器から得られる試験結果を比較するために，電圧発生器の特性を，次に従って検証
しなければならない。
− 電圧発生器の100 ％，80 ％，70 ％及び40 ％の出力電圧（実効値）は，230 V，120 Vなどの選択し
たそれぞれの動作電圧に対する百分率とする。
− 電圧発生器の100 ％，80 ％，70 ％及び40 ％の出力電圧（実効値）は，無負荷で測定し，残存電圧
に対する規定の百分率以内を維持しなければならない。
− 出力端電圧の負荷変動は，それぞれの出力電圧における負荷電流で確認し，その電圧変動は，UTの
100 ％，80 ％，70 ％及び40 ％において，UTの5 ％未満でなければならない。
UTの80 ％の出力電圧に対して，これらの要求事項は，継続時間5秒で検証すればよい。
UTの70 ％及び40 ％の出力電圧に対して，これらの要求事項は，継続時間3秒で検証すればよい。
ピーク突入電流の供給能力を検証する必要がある場合には，直流側に1 700 μFの未充電のコンデンサ及
び適切な整流器を備えた負荷に電圧発生器を接続し，出力電圧を0 ％から100 ％に変化させる。試験は，
正負両側の電圧ピークである90°及び270°の両方の位相角で行う。電圧発生器のピーク突入電流の供給
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能力を測定するのに必要な回路は，図A.1による。
EUTのピーク電流が，規定する電圧発生器のピーク電流の供給能力（例えば，220 V〜240 V電源ライン
の場合，500 A）よりも小さく，規定する電圧発生器のピーク電流の供給能力より低い能力の電圧発生器を
用いる場合，まずEUTのピーク電流を測定して確認する。EUTの突入電流を測定した値が，附属書Aに
従って検証した試験電圧発生器のピーク突入電流の供給能力の70 ％未満の場合は，規定する標準ピーク
電流の供給能力以下の試験電圧発生器を用いてもよい。実際のEUTの突入電流は，A.3の手順に従って，
コールドスタート時，及び電源切断してから5秒後の両方で測定する。
電圧発生器のスイッチング特性は，適切な容量の100 Ω抵抗を負荷として測定する。
注記 電圧発生器の試験に用いる100 Ω抵抗負荷は，無誘導性であることが望ましい。
電圧回復に要する時間及び電圧低下に要する時間並びにオーバシュート及びアンダシュートは，90°及
び270°の位相角の両方で，0 ％から100 ％へ，100 ％から80 ％へ，100 ％から70 ％へ，100 ％から
40 ％へ，及び100 ％から0 ％への各電圧切換えに対して検証する。
位相角の精度は，0 ％から100 ％へ及び100 ％から0 ％への電圧切換えに対して，0°から360°まで
45°刻みの九つの位相角で検証する。100 ％から80 ％へ，80 ％から100 ％へ，100 ％から70 ％へ，
70 ％から100 ％へ，100 ％から40 ％へ，及び40 ％から100 ％への各電圧切換えについては，90°及び
180°の位相角で検証する。
電圧発生器は，定期的に校正する。
6.2
電源
試験電圧の周波数は，定格周波数の±2 ％以内とする。
7
試験セットアップ
試験は，EUTの製造業者が指定する電源ケーブルがある場合は，その最短のもので試験電圧発生器に接
続して行う。ケーブルの長さについて指定がない場合は，EUTの用途に照らして適切な最短の長さとする。
この規格で記述する試験セットアップは，次の3種類の現象のためのものを示す。
− 電圧ディップ
− 短時間停電
− 定格電圧と変化電圧との間の緩やかな移行に伴う電圧変動（オプション）
試験セットアップの例を，附属書Cに示す。
図C.1 a)は，内部切換装置を備えた電圧発生器を用いて，電圧ディップ，短時間停電及び定格電圧と変
化電圧との間の緩やかな移行に伴う電圧変動を生成する場合の概略図を示し，図C.1 b)は，信号発生器及
び電力増幅器を用いた概略図を示す。
図C.2は，三相機器用の概略図を示す。
8
試験手順
試験前には，試験計画を立てる。
試験計画は，システムの実際の使用方法に則したものがよい。
現地の状況を再現するのに必要な試験時のシステム構成を決めるため，正確な事前調査を必要とする場
合がある。
試験報告書で試験ケースを示し，それを説明する必要がある。
この試験計画には，次の項目を含めることが望ましい。
10
C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− EUTの形式名
− 実行可能な接続（プラグ，端子など）及び対応ケーブル，並びに周辺装置に関する情報
− 試験を行う機器の電源入力ポート
− EUTの代表的な動作モード
− 技術仕様書で用い，かつ，規定する性能基準
− 機器の動作モード
− 試験セットアップの説明
EUTが実際の動作信号源を使用できない場合は，シミュレータを用いてもよい。
各試験について，何らかの性能低下がある場合は，記録しなければならない。監視装置は，試験中及び
試験後のEUTの動作モードを表示できることが望ましい。各試験の後で，すべての機能点検を行わなけれ
ばならない。
8.1
試験室の基準条件
8.1.1
大気条件
共通規格又は製品規格委員会が規定しない限り，試験室の大気条件は，EUT及び試験装置の動作に対し
てそれぞれの製造業者が指定する限度内でなければならない。
EUT及び試験装置に結露を生じるような高い相対湿度のときは，試験を行ってはならない。
注記 この規格が対象とする現象の影響が大気条件によって左右されることを示す十分な証拠がある
場合は，この規格を検討する責任をもつ委員会に注意を喚起することが望ましい。
8.1.2
電磁的条件
試験室の電磁的条件は，試験結果に影響を与えずにEUTの正常な動作を保証するものでなければならな
い。
8.2
試験の実施
試験中，試験のための電源電圧を2 ％以内の精度で監視しなければならない。
8.2.1
電圧ディップ及び短時間停電
EUTに対して，試験レベル及び継続時間を選択した組合せについて最小10秒の間隔(各試験事象間)で
電圧ディップ又は短時間停電を3回繰り返して試験を行う。また，代表的な動作モードについて，それぞ
れ試験を行う。
電圧ディップの場合，電圧の変化は，電圧のゼロクロス又は製品規格委員会が規定する位相角において，
生じるようにしなければならない。指定する位相角は，製品規格委員会が45°，90°，135°，180°，225°，
270°及び315°の中から重要とみなされるものを選択する。
短時間停電の場合，位相角は，製品規格委員会が最も厳しいと規定したものによる。製品規格委員会に
よる規定がない場合，全相のうち一相が0°であることが望ましい。
三相交流の短時間停電試験の場合，三相すべてに対して同時に5.1による試験を行う。
単相交流の電圧ディップ試験の場合，単相の電圧に対して5.1による試験を行う。これは，1回の一連の
試験となる。
中性線をもつ三相交流での電圧ディップ試験の場合，それぞれの電圧（相電圧及び線間電圧）に対して
試験を行う。これは，6回の異なった一連の試験となる。［図4 a)及び図4 b)参照］。
中性線をもたない三相交流での電圧ディップ試験の場合，それぞれの線間電圧に対して試験を行う。こ
れは，3回の異なる一連の試験となる。［図4 b)参照］。
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 三相交流の場合，一つの線間電圧の電圧ディップ中は，その他の一つ又は二つの線間電圧にお
いても電圧変化が発生する。
複数の電源コードをもつEUTの場合，それぞれの電源コードに対して個別に試験を行うのがよい。
注記 三相交流での相電圧の試験は，1回につき一相ごと行う。
a) 三相交流での相電圧に対する試験
注記 三相交流での線間電圧の試験も同様に1回につき一相ごと行う。(A)及び(B)は，いずれも70 ％の
電圧ディップの例である。(A)が望ましいが，(B)でもよい。
b) 三相交流での線間電圧に対する試験
図4−三相交流での相電圧及び線間電圧に対する試験
8.2.2
電圧変化（オプション）
EUTに対して，最も代表的な動作モードについて最小10秒の間隔で3回，規定の電圧変化のそれぞれ
に従って試験を行う。
9
試験結果の評価
試験結果は，EUTの機能損失又は性能低下の観点から，その装置の製造業者若しくは試験の依頼者によ
って指定されるか，又は製造業者と購入者との協定による性能レベルと比較して分類する。推奨する分類
を，次に示す。
a) 製造業者，試験の依頼者又は購入者が指定する仕様限度内の正常な性能。
b) 妨害がなくなった後に消滅する一時的な機能損失又は性能低下。操作者が介在することなくEUTが
正常な性能に自己復帰する。
c) 操作者が介在する調整が必要な，一時的な機能損失又は性能低下。
d) ハードウェア又はソフトウェアの破壊による修復不可能な機能損失若しくは性能低下，又はデータの
損失。
EUTへの影響のうち，重要ではないとみなせるため，許容できる影響を，製造業者の仕様書に指定して
もよい。
この分類は，共通規格，製品規格及び製品群規格の原案作成委員会で性能基準を規定するときの指針と
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
して，又は適切な共通規格，製品規格及び製品群規格が存在しない場合の製造業者と購入者との間で性能
基準に対する協定を行うための枠組みとして用いてもよい。
10 試験報告書
試験報告書は，試験を再現するために必要なすべての情報を含んでいなければならない。特に次の事項
を記録しなければならない。
− 箇条8で要求する試験計画で規定する項目。
− EUT及び関連装置の識別。例えば，商標，製品形式，製造番号。
− 試験装置の識別。例えば，商標，製品形式，製造番号。
− 試験を行った特別な環境条件。例えば，シールドルーム。
− 試験を行うために必要とする具体的な条件。
− 製造業者と依頼者又は購入者との間で指定する性能レベル。
− 共通規格，製品規格又は製品群規格で規定する性能基準。
− 試験中又は試験後に観測したEUTへのすべての影響，及びこれらの影響が持続した期間。
− 合否判定の根拠（共通規格，製品規格若しくは製品群規格で規定する，又は製造業者と購入者とで協
定で指定した性能基準に基づく。）。
− 適合性を達成するために必要な装置の取扱いにおける具体的な条件。例えば，ケーブルの長さ，ケー
ブルの形式，遮へい，接地，EUTの動作条件。
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
試験回路の詳細
序文
この附属書は，試験回路の詳細について規定する。
A.1 試験電圧発生器のピーク突入電流供給能力
電圧発生器のピーク突入電流供給能力を測定する回路を，図A.1に示す。ブリッジ整流器を用いている
ので，90°及び270°における試験に対して整流器の極性を変える必要はない。整流器の半サイクル電源
電流定格は，適切な動作安全係数を確保するために，電圧発生器のピーク突入電流供給能力の2倍以上と
する。
1 700 μFの電解コンデンサは，±20 ％の許容差内とする。また，電解コンデンサは，電源の公称ピーク
電圧を15 ％〜20 ％上回る定格電圧，例えば，実効値220 V〜240 V電源に対しては直流400 Vの定格電
圧をもたなければならない。また，適切な動作安全係数を確保するために，電圧発生器のピーク突入電流
供給能力の2倍以上，ピーク突入電流を許容できなければならない。コンデンサは，100 Hz及び20 kHz
の両方で可能な限り最小の等価直列抵抗をもち，どちらの周波数でも0.1 Ωを超えてはならない。
1 700 μFのコンデンサを放電する必要があるため，抵抗器をコンデンサと並列に接続する。また，RC
時定数の数倍の時間を試験と試験との間に取らなければならない。10 000 Ω抵抗器の場合，RC時定数は，
17秒であるため，突入電流供給能力試験の間には1.5〜2分の待ち時間を取ることが望ましい。より短い待
ち時間が望ましい場合には，100 Ωのような小さい抵抗器を用いてもよい。
電流プローブは，1/4サイクルの間飽和することなく，電圧発生器のピーク突入電流の供給を許容でき
なければならない。
試験は，両極性に対し十分なピーク突入電流供給能力を保証するために，90°及び270°電源位相で電
圧発生器出力を0 ％〜100 ％の範囲で切り換えることによって行う。
A.2 ピーク突入電流容量を測定する電流モニタの特性
50 Ω負荷での出力電圧：
0.01 V/A以上
ピーク電流：
1 000 A以上
ピーク電流許容差：
±10 ％（3 msパルス幅）
実効値電流：
50 A以上
最大I×T：
10 A･s以上
立上り及び立下り時間：
500 ns以下
低域遮断周波数(−3 dB)：
10 Hz以下
挿入抵抗：
0.001 Ω以下
A.3 EUTのピーク突入電流
電圧発生器のピーク突入電流供給能力が規定の要求事項（例えば，220 V〜240 V電源に対して500 A以
上）を満足する場合，EUTのピーク突入電流を測定する必要はない。
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
EUTの突入電流が電圧発生器のピーク突入電流供給能力より小さい場合には，突入電流が規定の要求事
項より小さい電圧発生器を試験に用いてもよい。図A.2の回路は，EUTのピーク突入電流が，電圧発生器
のピーク突入電流供給能力より小さいかどうかを決定するための測定方法の一例を示す。
図A.2の回路には，図A.1の回路と同じ電流変成器を用いる。次のように四つのピーク突入電流試験を
行う。
a) 5分間以上電源をオフにする，位相角90°で電圧発生器をオンにしたときのピーク突入電流を測定す
る。
b) 270°でa)を繰り返す。
c) 1分間以上電源をオンにしておき，その後，5秒間オフにしてから，再び位相角90°で電圧発生器を
オンにしたときのピーク突入電流を測定する。
d) 270°でc)を繰り返す。
規定の要求事項より小さいピーク突入電流供給能力の電圧発生器を用いるためには，測定したEUTの
ピーク突入電流は，A.1で測定した電圧発生器のピーク突入電流供給能力の70 ％未満でなければならな
い。
ここに，
G： 90°及び270°で切り換えられる電圧発生器
T： オシロスコープへの監視出力付き電流プローブ
B： ブリッジ整流器
R： 10 000 Ωを超えない，かつ，100 Ωを下回らない負荷抵抗器
C： 1 700 μF±20 ％の電解コンデンサ
図A.1−電圧発生器のピーク突入電流供給能力を決定するための回路
図A.2−EUTのピーク突入電流を決定するための回路
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
電磁環境クラス
序文
この附属書は，本体の規定を補足するものであって，規定の一部ではない。
B.1
電磁環境クラス
電磁環境クラスを，IEC 61000-2-4から要約する。
・クラス1
クラス1は，保護された供給電源環境であり，商用電源系統よりも両立性レベルが低い。クラス1は，
電源の妨害に非常に高感度な機器(例えば，技術的な研究所の設備，ある種の自動化及び保護機器，ある
種のコンピュータなど)の使用に関係する。
注記 クラス1環境は，通常，無停電電源装置，フィルタ又はサージ減衰器のような機器によって保
護を必要とする機器を含んでいる。
・クラス2
クラス2は，共通結合点及び一般的な工業環境における工場内共通結合点の環境である。クラス2で
の両立性レベルは，商用電源系統のレベルと同等であり，そのため，商用電源系統での適用のために設
計された構成部品は，工業環境のこのクラスで用いてもよい。
・クラス3
クラス3は，工業環境の工場内共通結合点だけである。クラス3では，ある種の妨害現象に対して，
クラス2よりも更に両立性レベルが高い。例えば，このクラスは，次のいずれかの場合には，考慮する
のが望ましい。
− 負荷の主要な部分に電力変換装置を通じて給電する。
− 溶接機がある。
− 大形電動機を頻繁に起動する。
− 非常に急激に負荷をかける。
注記1 一般的には，分離された母線から供給するアーク炉及び大形電力変換装置のような，大きな
妨害負荷への供給は，クラス3を超えた妨害レベル(厳しい環境)になる場合がある。そのよ
うな特殊な状況では，両立性レベルは，合意しておくのが望ましい。
注記2 新しいプラント及び現存プラントの拡張に適用できるクラスは，検討中の機器及びプロセス
のタイプに合わせるのが望ましい。
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（参考）
試験計器
序文
この附属書は，本体の規定を補足するものであって，規定の一部ではない。
C.1 電圧発生器及び試験セットアップの例
図C.1 a)及びb)は，電源供給シミュレーションのための試験構成例を示す。ある条件での試験機器の動
作状況を見るために，出力電圧を可変できる二つの変圧器で停電及び電圧変動を模擬する。
電圧降下，上昇及び停電は，スイッチ1及びスイッチ2を交互に閉じることによって模擬できる。この
二つのスイッチは，同時にオン状態にしてはならない。切換時に二つのスイッチのオフ状態は，100 μsま
で許容できる。このスイッチは，位相角と独立してオンオフできなければならない。電力用MOSFET及び
IGBTで構成する半導体スイッチは，この要求事項を満足できる。サイリスタ及びトライアックは，電流
がゼロクロス点でオフになるので，この要求事項を満足することができない。
可変電圧変圧器の出力電圧は，手動か又は電動機によって自動的に調整できる。代替的に多重切換選択
タップを備えた単巻変圧器を用いてもよい。
可変電圧変圧器及びスイッチの代わりに信号発生器及び電力増幅器を用いてもよい［図C.1 b)参照］。こ
の構成は，周波数変動及び高調波の環境でも，EUTの試験を可能にする。
単相試験用として記述した電圧発生器［図C.1 a)，b)及びc)参照］は，三相試験用にも使用できる（図
C.2参照）。
a) 可変変圧器及びスイッチを用いる電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図
図C.1−電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 電力増幅器を用いる電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図
c) タップ式変圧器及びスイッチを用いる電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図
図C.1−電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図（続き）
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C 61000-4-11：2008 (IEC 61000-4-11：2004)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図C.2−電力増幅器を用いる三相電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動用の試験計器の概略図
参考文献
JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
注記 対応国際規格：IEC 60050-161，International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
Electromagnetic compatibility (IDT)
JIS C 61000-4-14 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第14節：電圧変動イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-14，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-14: Testing and
measurement techniques−Voltage fluctuation immunity test (MOD)
IEC 61000-2-4 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-4: Environment−Compatibility levels in
industrial plants for low-frequency conducted disturbances