C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語，定義，記号及び省略記号 ··························································································· 2
3.1 用語及び定義 ················································································································ 2
3.2 記号及び省略記号 ·········································································································· 6
4 試験の音響環境及び要求事項 ······························································································ 6
4.1 試験の音響環境 ············································································································· 6
4.2 音源 ···························································································································· 8
4.3 測定装置 ······················································································································ 8
4.4 試験要求事項 ················································································································ 9
5 厳しさ··························································································································· 12
6 前処理··························································································································· 12
7 初期測定························································································································ 13
8 試験······························································································································ 13
8.1 標準試験 ····················································································································· 13
8.2 加速試験 ····················································································································· 13
9 中間測定························································································································ 13
10 後処理 ························································································································· 13
11 最終測定 ······················································································································ 13
12 製品仕様に規定する事項 ································································································· 13
13 試験報告書に規定する事項 ······························································································ 14
附属書A（参考）試験要求事項に関する指針 ············································································ 16
参考文献 ···························································································································· 23
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人日本
規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準
調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 60068-2-65:2006は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 60068の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 60068-1 第1部：通則及び指針
JIS C 60068-2-1 第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
JIS C 60068-2-2 第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
JIS C 60068-2-6 第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
JIS C 60068-2-7 加速度（定常）試験方法
JIS C 60068-2-11 塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-13 減圧試験方法
JIS C 60068-2-14 第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
JIS C 60068-2-17 封止（気密性）試験方法
JIS C 60068-2-18 第2-18部：耐水性試験及び指針
JIS C 60068-2-20 第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JIS C 60068-2-21 第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27 第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
JIS C 60068-2-30 第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法（試験記号：Db）
JIS C 60068-2-31 第2-31部：落下試験及び転倒試験方法（試験記号：Ec）
JIS C 60068-2-38 第2-38部：温湿度組合せ（サイクル）試験方法（試験記号：Z/AD）
JIS C 60068-2-39 第2-39部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験
JIS C 60068-2-40 低温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-41 高温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-42 接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
JIS C 60068-2-43 接点及び接続部の硫化水素試験方法
JIS C 60068-2-45 耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
JIS C 60068-2-46 接点及び接続部の硫化水素試験−指針
JIS C 60068-2-47 第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
JIS C 60068-2-49 接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
JIS C 60068-2-52 塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液）
JIS C 60068-2-53 第2-53部：耐候性（温度・湿度）と動的（振動・衝撃）との複合試験及び指針
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 60068-2-54 はんだ付け性試験方法（平衡法）
JIS C 60068-2-55 第2-55部：ルーズカーゴに対するバウンス試験及び指針（試験記号：Ee）
JIS C 60068-2-57 第2-57部：時刻歴及びサインビート振動試験方法（試験記号：Ff）
JIS C 60068-2-58 第2-58部：表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及び
はんだ耐熱性試験方法
JIS C 60068-2-60 第2-60部：混合ガス流腐食試験（試験記号：Ke）
JIS C 60068-2-61 一連耐候性試験
JIS C 60068-2-64 第2-64部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Fh）
JIS C 60068-2-65 第2-65部：音響振動（試験記号：Fg）
JIS C 60068-2-66 高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
JIS C 60068-2-67 基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
JIS C 60068-2-68 砂じん（塵）試験
JIS C 60068-2-69 第2-69部：試験−試験Te：表面実装部品（SMD）のはんだ付け性試験方法（平衡
法）
JIS C 60068-2-70 第2-70部：指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
JIS C 60068-2-75 第2-75部：ハンマ試験
JIS C 60068-2-77 表面実装部品（SMD）の本体強度及び耐衝撃性試験方法
JIS C 60068-2-78 第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試験記号：Cab）
JIS C 60068-2-80 第2-80部：混合モード振動試験方法（試験記号：Fi）
JIS C 60068-2-81 第2-81部：衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
JIS C 60068-2-82 第2-82部：試験−試験XW1：電気・電子部品のウィスカ試験方法
JIS C 60068-2-83 第2-83部：試験Tf−ソルダペーストを用いた平衡法による表面実装部品（SMD）
のはんだ付け性試験方法
JIS C 60068-3-1 第3-1部：低温（耐寒性）試験及び高温（耐熱性）試験の支援文書及び指針
JIS C 60068-3-2 第3-2部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-3 機器の耐震試験方法の指針
JIS C 60068-3-4 第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 60068-3-5 第3-5部：温度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-6 第3-6部：支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-7 第3-7部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験（試験A）及び高温試験
（試験B）の試験槽の温度測定のための指針
JIS C 60068-3-8 第3-8部：振動試験方法の選択の指針
JIS C 60068-3-13 第3-13部：支援文書及び指針−はんだ付け
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 60068-2-65：2019
(IEC 60068-2-65：2013)
環境試験方法−電気・電子−第2-65部：
音響振動（試験記号：Fg）
Environmental testing-Part 2-65: Tests-
Test Fg: Vibration-Acoustically induced method
序文
この規格は，2013年に第2版として発行されたIEC 60068-2-65を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
音響雑音は，部品及び機器に無視できない振動を引き起こすことがある。音響雑音場では，圧力の変動
が供試品に直接伝わるので，その応答は機械的励振によるものとは異なることがある。
音響雑音に特に敏感な部品には，比較的軽量の部品が含まれる。これらの部品の寸法は，試験振動数範
囲の音波の波長と類似しており，単位面積当たりの質量は小さい。これらの部品としては，パラボラアン
テナ，太陽電池パネル，電子デバイス，プリント配線板，電線，光学素子などが挙げられる。
音響試験は，高い音圧レベルの条件にさらされる部品，機器，機能ユニット及びそのほかの製品（以下，
供試品という。）並びに／又はその条件下で機能することが要求される供試品に適用する。使用状態におい
ては，供試品は機械的な励振と音響的な励振とに同時にさらされることがあるので，注意が必要である。
高い音圧レベルは，ジェットエンジン，そのほかの航空機エンジン，ロケットエンジン，高出力ガス循
環器などによって発生する。この規格は圧縮性気体を用いる音響試験を規定しているので，高速分離流に
よる乱流が引き起こす励振応答のシミュレートにも適用できる。
この規格の試験手順は，残響室法（残響室試験），進行波法（進行波管試験），空洞共鳴試験又は定在波
試験のいずれかで，高い音響雑音場を造ることを意図したものである。
音響雑音によって発生する振動の影響に関する試験では，ある程度の技術的判断を必要とする。このこ
とは，供試品の製造業者（供給者）及び購入者双方が認識しなければならない。製品仕様の作成者は，こ
の規格に基づいて，供試品の性質及び使用目的を考慮して，適切な試験方法及び厳しさの値を選択するこ
とが望まれる。
試験で発生する音響レベルは人間の聴覚に害を与えるおそれがあるので，準備作業及び試験に従事する
者が雑音にさらされる度合いを，聴覚保護の観点から許容可能とみなされるレベルまで下げるための適正
な措置を講じる必要がある。
1
適用範囲
この規格は，供試品がさらされる又はさらされやすい特定の音圧レベルの環境に供試品が耐える能力を
決定するための音響試験の標準的手順及び指針について規定する。
2
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この規格は，120 dB未満の音圧レベルの環境の場合には，適用しない。
この規格は，供試品の機械的弱点及び／又は性能劣化を決定し，この情報を製品仕様とともに用いて供
試品の合否を判定することを目的とする。供試品の機械的堅ろう性又は耐疲労性を確立する手段としてこ
の試験方法を用いてもよい。
試験を実施し音響雑音場の音圧レベルの測定手順の二つを記載し，供試品の指定した点での振動応答測
定の必要性を考察する。音響雑音環境，スペクトル，音圧レベル及び試験時間の選択のための指針を附属
書Aに示す。
進行波管法は，空気力学的乱れが外部表面の一部又は全ての部分を励起する材料に関連する。この方法
は，片側だけ励起する航空機のパネルアセンブリにも適用できる。残響室試験法は，動電式加振機を用い
た固定点の分散型励起よりも，機器の外表面全体に振動を誘発する点で適切である。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60068-2-65:2013，Environmental testing−Part 2-65: Tests−Test Fg: Vibration−Acoustically
induced method（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1509-1 電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−第1部：仕様
注記 対応国際規格：IEC 61672-1，Electroacoustics−Sound level meters−Part 1: Specifications
JIS Q 17025:2005 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17025:2005，General requirements for the competence of testing and
calibration laboratories
3
用語，定義，記号及び省略記号
3.1
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1.1
音響ホーン（acoustic horn）
最大のエネルギーが伝達するように音響源と試験室，例えば，残響室とを接続するために使う，一端の
断面積が他端の断面積よりも大きく，通常断面積が指数関数的に変化する管。
注記 各音響ホーンは，音響スペクトルに影響を与える固有の伝達特性をもっている。
3.1.2
分析積分時間（analysis integration time）
信号を平均処理する時間間隔。
注記 A.8参照。
3
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.1.3
帯域幅（bandwidth）
公称遮断振動数の上限値と下限値との差。
注記 この帯域幅は，次のいずれかで表現できる。
a) ヘルツ
b) 通過帯域の中心振動数に対する割合
c) 公称遮断振動数の上限値及び下限値間の間隔（オクターブ単位）
3.1.4
全音圧レベル，OASPL（overall sound pressure level）
1/3オクターブ又は1オクターブ帯域音圧レベルLiから次の式(1)で計算した値。
∑
=
=
m
i
Li
L
1
10
/
10
G
10
log
10
································································· (1)
ここに， LG： 全音圧レベル（dB）
Li： i番目の1/3オクターブ又は1オクターブ帯域の音圧レベル
m： 1/3オクターブ又は1オクターブ帯域の数
3.1.5
中心振動数（center frequency）
通過帯域両端の公称遮断振動数の幾何平均。
注記1 フィルタ帯域幅の公称遮断振動数の上限値及び下限値は，フィルタの最大応答の振動数より
高い振動数及び低い振動数で，正弦波信号の応答が最大応答より3 dB下回る振動数と定義し
ている。
注記2 幾何平均は，遮断振動数をf1及びf2としたとき，(f1･f2)1/2となる。
3.1.6
定帯域幅フィルタ（constant-bandwidth filter）
ヘルツで表したときにフィルタの中心振動数に関係なく，一定の帯域幅をもつフィルタ。
3.1.7
（音響ホーンの）遮断振動数［cut-off frequency (of acoustic horn)］
音響ホーンが次第に無効になる振動数。
3.1.8
拡散音場（diffuse sound field）
一定の領域で統計的に一様なエネルギー密度をもち，任意の点で伝搬の方向がランダムに分散するよう
な音場。
注記 拡散音場の場合，指向性マイクロホンで測定した音圧レベルはどの方向でも同じになる。
3.1.9
電気空圧式変換器（electro-pneumatic transducer），油圧空圧式変換器（hydrautic-pneumatic transducer）
強音響雑音の使用環境で発生する音圧レベルをシミュレートするために最も一般的に使用されている試
験用音響雑音源。
注記1 この変換器は，電磁式又は油圧式バルブで変調する空気圧式変換器からなっている。
注記2 このタイプの変換器は，振幅がランダムに分布し，広い振動数帯域にわたってエネルギーが
連続するスペクトルを出力し，更に，音響試験の規定を満たす整形スペクトルを出力できる
4
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
（A.5参照）。
3.1.10
入射角（grazing incidence）
音響波の方向と，試料表面及び／又は音響トランスジューサの感知表面のいずれかとの間の角度。0°は
表面に平行であり，90°が垂直である。
3.1.11
振動数間隔（frequency interval）
二つの振動数の比。
3.1.11.1
オクターブ（octave）
2に等しい比をもつ，2の二つの振動数の間隔。
3.1.11.2
1/3オクターブ［one-third octave (1/3)］
21/3に等しい比をもつ二つの振動数の間隔。
注記 1オクターブ及び1/3オクターブ振動数帯域は，ISO 266 [2]の中心振動数の定義を用いる。
3.1.11.3
1/12オクターブ［one-twelfth octave (1/12)］
21/12に等しい比をもつ二つの振動数の間隔。
3.1.12
測定点（measuring points）
試験を実施するためにデータを収集する特定の点。
注記 試験中の供試品のふるまいを評価するために供試品内の点で測定することがあるが，これらの
点はこの規格では測定点とはみなさない。
3.1.12.1
監視点（checkpoints）
供試品を囲んでいる仮想面上の，供試品から一定の距離の点。
3.1.12.2
基準点（reference points）
この規格の要求事項を満足するように，試験を制御する信号を取り出すために監視点から選択した点。
3.1.13
多点制御（multipoint control）
複数の基準点の信号の平均値を用いて実施する制御（3.1.12.2参照）。
注記 多点制御を用いるとき，各マイクロホンの信号は1か所の音圧レベルである。平均音圧レベル
LAVは，JIS Z 8106の801-31-36によって計算でき，次の式(2)に示す。
∑
=
n
Li
n
L
1
10
/
10
AV
10
1
log
10
···························································· (2)
ここに， LAV： 平均音圧レベル（dB）
n： 基準点の数
Li： i番目の1/3オクターブ又は1オクターブ帯域の音圧レベル
この方法とは別に，音圧レベルの差が小さいとき，算術平均値を使用すれば平均音圧レベル
5
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
を近似できる。例えば，差が6 dBの場合，算術平均を行うと，誤差が約0.5 dBとなる。
3.1.14
狭帯域フィルタ（narrow band frequency filter）
一般に，通過帯域が1/3オクターブより小さい帯域フィルタ。
3.1.15
広帯域フィルタ（broad band frequency or wide band filter）
通過帯域が比較的広い帯域フィルタ。一般に，1オクターブより広い。
3.1.16
進行波管（progressive wave tube）
音響ホーンを介して試験区域に接続され，これに沿って音波が音源から伝搬していく管。
注記 試験振動数範囲の音響進行波の反射を最小にするために試験区域の端に音響吸収終端部を配置
する（A.2参照）。
3.1.17
比例帯域幅フィルタ（proportional-bandwidth filter）
振動数に比例する帯域幅をもつフィルタ。
注記 1オクターブ帯域幅，1/3オクターブ帯域幅などは，代表的な比例帯域幅フィルタである。
3.1.18
残響室（部屋）［reverberation chamber (or room)］
音場が拡散するように堅く，高反射性の表面をもつ室又は部屋。
注記 チャンバー又は部屋の形状が試験に影響を与える場合がある。残響室に関する情報は，A.1に
示す。
3.1.19
吸音率（sound absorption coefficient）
一定の振動数で，かつ，規定の条件の下で，材料に入射する音響パワーに対する材料の表面から反射し
ない音響パワーの比。
注記 試験振動数範囲の音響進行波の反射を最小にするために，試験区域の端に音響吸収終端部を配
置する（A.2参照）。
3.1.20
音圧，P（sound pressure，P）
特に規定がなければ，一定の時間間隔における瞬時音圧の実効値（rms値）。
注記 音圧の特徴は，気体の乱れで発生した圧力の変動である音波によって引き起こされた，静圧の
回りの圧力の変化である。
3.1.21
音圧レベル，LP（sound pressure level，LP）
次の式(3)で表す。
0
10
p
log
20
P
P
L=
········································································· (3)
ここに，
P： 音圧
P0： 国際基準音圧（P0＝20 μPa）（3.2参照）
6
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.2
記号及び省略記号
注記 必要に応じて，定義の相互参照を示す。
OASPL ：全音圧レベル（JIS Z 8106の801-22-07から得られたレベル，3.1.4参照）
LG
：dB単位の全音圧レベル（3.1.4参照）
Li
：i番目の1/3オクターブ又は1オクターブ帯域の音圧レベル（3.1.4参照）
Lp
：dB単位の音圧レベル（3.1.21参照）
LAV
：dB単位の平均音圧レベル（3.1.13参照）
P
：N/m2又はPa単位の音圧の実効値（rms値）（3.1.20参照）
P0
：空気中では2×10−5 Pa又は20 μPaに標準化された国際基準音圧（JIS C 1509-1），他の媒体で
は1 μPa
DOF
：統計的自由度
次の式(4)で表す。
a
eT
B
N
×
=2
d
············································································ (4)
ここに， Be： 振動数の分解能
Ta： 有効平均化時間
4
試験の音響環境及び要求事項
4.1
試験の音響環境
4.1.1
一般事項
音響試験は，供試品が規定の高いレベルの音響雑音場で動作又は残存する能力を決定するために実施す
る。実際には，検討中の供試品に作用する圧力変動は，進行波と残響場との複雑な組合せの場合がある。
雑音にさらされる構造物及び空洞内で発生する定在波は，共振し，非常に高い局部音圧レベルを発生する
ことがある。したがって，供試品に対して最も適切な音響試験を選択する必要がある。
この選択は，実際の環境又は飛行試験から得た実際の測定データに基づいて行うか，又は例えば，図1
〜図3に示すような特定の機器の適用に関して規定する一般的レベルから行うことができる。適用する試
験スペクトルは，これらの図に示す振動数を超える振動数及び未満の振動数のエネルギーを含んでいても
よい。
注記 航空機環境に関連する音圧レベルについての詳細は，ISO 2671 [3]による。
7
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1−航空機適用の1/3オクターブ帯域スペクトル
図2−ブロワの1オクターブ帯域スペクトル（参考文献[4]）
下限値
上限値
下限値
上限値
軸流ブロワ
遠心ブロワ
1オクターブ帯域中心振動数 (Hz)
試
験
用
全
音
圧
レ
ベ
ル
を
基
準
と
す
る
１
オ
ク
タ
ー
ブ
帯
域
音
圧
レ
ベ
ル
(dB)
遠心ブロワ
上限値
下限値
(dB)
試
験
用
全
音
圧
レ
ベ
ル
を
基
準
と
す
る
オ
ク
タ
ー
ブ
帯
域
音
圧
レ
ベ
ル
1/3
1/3 オクターブ帯域中心振動数 (Hz)
10 dB/オクターブ
3 dB/オクターブ
−3 dB/オクターブ
−10 dB/オクターブ
8
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図3−高雑音産業用機械の1オクターブ帯域スペクトル（参考文献[4]）
4.1.2
残響音場
残響音場は，通常，密閉した空間に配置する供試品の圧力変動が一様な場合に用いる。しかし，この残
響音場は，密閉容器自身，例えば，大型打上げロケットのノーズコーンフェアリングなどの場合のように，
より適切な他のシミュレーションが不可能な場合の試験にも使用できる。残響音場は，気体乱流又は表面
剝離流による境界構造物の励振，推進音の放射，及び例えばガス冷却原子炉圧力容器内で発生する励振に
よって密閉容器内で発生する（A.1参照）。
4.1.3
進行波管試験
進行波試験は，音響エネルギーが供試品の表面を通過する場合に用いる。このような環境の発生の例と
して，航空機の外部運搬品，ロケットエンジンの耐熱遮蔽，航空機パネル又は尾翼表面が挙げられる（A.2
参照）。
4.1.4
空洞共鳴試験
空洞共鳴試験は，空洞上の乱流の結果又は空洞が音響励振にさらされたときに共鳴する空洞内の高音圧
レベルの状態をシミュレートするために用いる。例として，着陸のために車輪を下げたときの航空機着陸
装置の空洞又は燃焼室が挙げられる（A.3参照）。
4.1.5
定在波
定在波試験は，純音の非常に高い音圧レベルを発生させるために使用できる（A.4参照）。
4.2
音源
試験に使用する適切な音源の選択のための指針をA.5に示す。
4.3
測定装置
4.3.1
一般事項
供試品の周囲の音場の監視，及び必要に応じて，音響によって供試品に発生する振動測定のために測定
装置が必要となる。これらの測定では，振動数成分に関する分析を行う必要がある（4.3.3参照）。
上限値
下限値
1オクターブ帯域中心振動数 (Hz)
試
験
用
全
音
圧
レ
ベ
ル
を
基
準
と
す
る
１
オ
ク
タ
ー
ブ
帯
域
音
圧
レ
ベ
ル
(dB)
1オクターブ帯域中心振動数 (Hz)
上限値
下限値
試
験
用
全
音
圧
レ
ベ
ル
を
基
準
と
す
る
1オ
ク
タ
ー
ブ
帯
域
音
圧
レ
ベ
ル
(dB)
9
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3.2
音響測定
監視用測定系は，1オクターブ又は1/3オクターブ帯域のいずれかで，振動数範囲が22.4 Hz〜11 200 Hz
で，中心振動数が31.5 Hz/25 Hz（1オクターブ／1/3オクターブ）〜8 kHz/10 kHzの音圧レベルを測定でき
なければならない。
この測定系は，表1に示す許容差内の対象振動数範囲にわたって±5 %の名目上平たん（坦）な振動数
応答をもたなければならない。
表1−音響測定の許容差
振動数範囲
Hz
許容差
dB
22.4 〜
125
±1
126 〜 2 500
±2
2 501 〜 11 200
±3
使用するマイクロホンは，残響室試験でのランダム入射測定と進行波試験での斜め入射測定ができなけ
ればならない。いずれにしても，少なくとも最大定格実効値（rms値）の3倍のピーク値の測定が可能で
なければならない。
測定系は，規定の試験レベルよりも少なくとも10 dB高い音圧レベルの測定が可能でなければならない。
この能力は全体レベル及び個別の振動数帯域に対応する。
4.3.3
振動応答測定
供試品の振動の監視応答の測定は，関連する仕様書で規定された，加速度及び／又はひずみ測定によっ
て実施する。適切な場合，界面力，変位又は速度の応答を監視測定してもよい。
監視系は，少なくとも振動数範囲16 Hz〜2 000 Hzで全体振動応答の測定が可能でなければならない。
この測定系は，必要とする振動数範囲で名目上，平たん（坦）な振動数応答をもち，測定の方法及び種類
に適していなければならない。
4.3.4
結果の分析
4.3.2及び必要に応じて4.3.3から得られた測定データは，振動数成分に関する分析を行わなければなら
ない。
a) 音響測定の分析は，少なくとも1オクターブ帯域又はなるべく1/3オクターブ帯域の分解能で行う。
b) 振動応答測定は，通常，より高い分解能での分析を必要とする。
振動数分解能帯域幅は，特定の応用分野に関連する仕様で規定しなければならない。
4.4
試験要求事項
4.4.1
設備の種類
シミュレートすべき音場の実際の環境の空間及び時間のふるまいは，試験方法の選択に影響を与える。
この手順に含まれる設備は，残響室，残響部屋及び進行波管である。その他の種類の専門設備は，附属書
Aに記載しているが，この規格の考え方は，これらの代替施設の試験手順の基礎として使用することがで
きる。
設備の種類に関する要求事項は，製品仕様に規定しなければならない。
供試品が高密度音響環境と他の環境パラメータとに同時にさらされるような複合試験が必要な場合，試
験の音響部分は，この規格に従って実施しなければならない。複合試験には，低振動数での音響励振を増
10
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
大するために，機械振動に加えて，音響及び極端な温度又は変動する温度を含んでもよい。
4.4.2
取付け
4.4.2.1
残響室
供試品は，壁（床及び天井を含む。）と供試品の主要な表面との間に，平行な関係が作られないように残
響室の中央に配置する。供試品（及び，必要な場合は機械的に拘束する。）は，残響室内部に弾性的に支持
するか，又はつるす。製品仕様では，必要に応じて，推奨する取付点を規定する。
つるしている供試品の共振振動数は，25 Hz未満又は最低試験振動数の1/4の振動数の低い方の振動数と
する。
監視点と供試品の表面との間の距離は，最低試験振動数の波長の半分又は壁から供試品の距離の半分の
短い方よりも長い距離とする。この距離が得られず，波長の半分よりも近い箇所にマイクロホンを置かな
ければならない場合は，雑音レベルの測定値は，供試品からの反射のために，大きな影響を受けることが
あるので，このことを試験の結果を評価するときに考慮する必要がある。
供試品と弾性支持具との間に，又は弾性支持具自体を取り付けるために，構造部材が必要な場合は，雑
音場のひずみ又は外来振動の侵入を避けるための注意が必要である。
供試品に接続するもの，例えば，ケーブル，パイプなどは，供試品が実際の環境に置かれたときに受け
るのと同様の拘束力及び質量がかかるように配置する。この状態を実現するためには，ケーブル，パイプ
などを取付具に固定する必要がある場合がある。
4.4.2.2
進行波管
供試品は，励振力が外表面全体に加わるようにソフト支持具，又は専用の取付具によって取り付けなけ
ればならない。ただ一方だけを励振しなければならない場合は，進行波管の壁に取り付けてもよい。供試
品の取付けを特定の据付取付方法で行う場合，支持具はこれらの点に取り付けなければならない。特定の
取付方法がない場合，支持具は，独立した部分の自由な動きを妨げないパネル又は他の構造部品に拘束若
しくは減衰を付加しないような方法で供試品に接続しなければならない。剛構造モデルでは，25 Hz，又は
最低試験振動数の1/4の振動数の低い方より低くしなければならない。
試験補助系又は補助的な構造によって派生する，音響又は振動が生じないように注意しなければならな
い。ケーブル又はパイプのような供試品のどんな接続も稼動状態と同じ動的拘束と荷重を受けるように配
置しなければならない。
パネルのような供試品は，必要な試験面が音響励振にさらされるようにダクト壁に取り付けなければな
らない。空洞共鳴又は局所乱流効果の影響を防ぐため，供試品表面はダクトの内面と同一平面でなければ
ならない。
監視点間の距離は，壁面から供試品の距離の半分か，最低試験振動数の波長の半分より長い距離にする。
この距離が得られず，波長の半分よりも近い箇所にマイクロホンを置かなければならない場合は，雑音レ
ベルの測定値は，供試品からの反射のために，大きな影響を受けることがあるので，このことを試験の結
果を評価するときに考慮する必要がある。
パネルアセンブリを試験する場合，制御用マイクロホンは供試品の反対側のダクト壁面に取り付けた方
がよい。制御用マイクロホンが単に斜入射波に応答し，必要な修正が測定レベルに適用されるなら，作動
部の他の位置を選択してもよい。
4.4.3
供試品の測定
必要に応じて製品仕様に，供試品に適用する変換器（加速度ピックアップ，マイクロホン，ひずみゲー
ジなど）の数，種類及び位置を規定する。
11
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
各変換器の校正記録を入手しなければならない。
残響室で使用するためのマイクロホンは，進行波管内で使用するとき，ランダム入射ノイズ及び斜入射
ノイズのための校正を行わなければならない。
4.4.4
残響室の準備
4.4.4.1
監視点の数及び位置
残響室又は進行波管にある供試品について，供試品周囲の音圧のレベルを測定するための制御用マイク
ロホンを少なくとも3本用意する。監視点数を決定するために，供試品のサイズは，同一性を確認してい
る音場の大きさを考慮しなければならない。供試品の主要直交軸と仮想面との交点に置くマイクロホンの
数及び位置を，製品仕様に規定しなければならない（図4参照）。
進行波管の壁面に位置する供試品の場合，1本のマイクロホンで制御してもよいし，大きな供試品では
表面に設置した複数のマイクロホンで制御してもよい。
図4−供試品周囲の仮想面上の監視点マイクロホン（1〜6）の標準的位置
4.4.4.2
スペクトルの制御
各制御用マイクロホンの応答は，製品仕様に規定されたオクターブ又は1/3オクターブによる分析を行
う。各帯域の平均レベルは，3.1.13に従って得なければならない。次に，全体平均値を帯域レベルから算
供試品
仮想面
M；マイクロホン
M：マイクロホン
仮想面
供試品
12
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
出する。平均スペクトルの各帯域レベル及び全体レベルは，図1，図2又は図3に規定する限界内の値又
は製品仕様に規定されたスペクトル値でなければならない。平均値は，試験時間の間，規定限界内の値で
なければならない。
製品仕様に規定する分析積分時間は，確実な統計的信頼性が得られるように，十分に長くなければなら
ない（A.8参照）。
試験時間が十分に長い場合，音圧レベルが規定限界値内のレベルであることを確実にするために，試験
中，間隔をおいて制御用マイクロホンの応答の実時間分析を実施しなければならない。
注記1 各マイクロホンで測定する帯域レベル及び全音圧レベルの最大許容変動値は，製品仕様に規
定してもよい。
注記2 製品仕様に1/3オクターブ分析を規定している場合，1/3オクターブスペクトルも準備する必
要がある。
4.4.4.3
スペクトルの整形
音場に供試品を過剰にさらすことを避けなければならない場合は，供試品に代わるダミーモデルで音場
を確立する。さらに，残響室の容積に比べて供試品の容積が小さいときには，空の残響室を用いてもよい。
スペクトルの整形に空の残響室を適用する場合，実試験でもマイクロホンの位置を同じにしなければなら
ない。
この試験で，増加，減少及びフラット部分のOASPLスペクトルを規定する（図1参照）。標準的な試験
で，試験項目の動的環境に応じてスペクトルの一つを選択しなければならない。特別な場合，個々に加速
度スペクトル密度曲線を指定することが適切であり，この場合，関連する仕様は振動数の関数として形状
を定めるべきである。異なるレベルとそれに対応する振動数範囲（ブレイクポイント）は，可能な限り，
表2及び図1〜図3に示す値から選ばなければならない。
表2−全音圧レベル及び試験時間
全音圧レベル
dB
試験時間
分
120±1
60
130±1
60
140±1
30
150±1
30
160±1
30
170±1
2
5
厳しさ
音響の厳しさは，全音圧レベル（OASPL），スペクトルの形状及び試験時間で規定する。製品仕様では，
表2からOASPL及び最小試験時間，並びに図1〜図3からスペクトルの形状を選択する。これらの適用の
ための指針をA.6に示す。
6
前処理
供試品を安定（熱的，機械的など）させるために，室内の大気状態での前処理を，製品仕様で要求して
もよい。
13
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
初期測定
製品仕様の規定に従って，供試品の目視検査，寸法検査及び機能検査を実施する。
公称試験レベルよりも低い音圧レベルの音響騒音試験を行い，公称試験前の供試品の動的応答を測定し
てもよい。この低レベル試験の厳しさは，製品仕様に規定する。
8
試験
8.1
標準試験
製品仕様の要求に合わせて変換器を付けた供試品を，4.4.2に従って取り付ける。
4.4.4.1の規定に従って配置した監視点を用いて，試験を実施する。スペクトルの整形は4.4.4.3，スペク
トルの制御は4.4.4.2による。厳しさは，箇条5に従って規定した製品仕様による。
制御用マイクロホン及び供試品の変換器からの試験中に得られた信号は，この規格及び製品仕様の要求
条件に適合していることを確認しなければならない。
8.2
加速試験
供試品の動作寿命から，標準試験が適切でないほど長い試験時間が必要な場合，加速試験を実施しても
よい。加速試験では，試験時間を短縮するために，供試品が実際にさらされるレベルより高い音圧レベル
を適用する。加速試験に関して明確に定義されたルール又は手順はない。したがって，加速試験は，使用
される製品仕様によって許可されている場合だけ実施しなければならない。
加速試験に関する一般的な推奨事項を，A.7に示す。
9
中間測定
製品仕様に規定がある場合，供試品は，試験中動作させて性能を検査しなければならない。
10 後処理
製品仕様に規定がある場合，試験後の最終測定の前に，供試品の，例えば温度を初期測定と同じ条件に
するために，一定の時間を与えることがしばしば必要になる。
11 最終測定
製品仕様の規定に従って，供試品の目視検査，寸法検査及び機能検査を実施する。
公称試験レベルよりも低い初期の低レベル試験及び同一の音圧レベルの音響騒音試験を実施し，公称試
験後の供試品の動的応答を決定するために供試品の応答を測定する。この低レベル試験の厳しさは，製品
仕様で規定する。最初及び最後の低レベル試験の動的応答は，構造変化を識別するために行う。
製品仕様に，供試品の合否判定基準を規定する。
12 製品仕様に規定する事項
この試験を製品仕様に規定している場合，適用可能な限り，次の事項を規定しなければならない，特に
アスタリスク（*）付の事項は，常に必要であるので特別の注意を払う。
a) フィルタ帯域幅* ······································································· 4.3.4
b) 試験設備の種類* ······································································· 4.4.1
c) 取付け* ··················································································· 4.4.2
d) 供試品測定用変換器 ·································································· 4.4.3
14
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
e) 監視点の数及び位置* ································································· 4.4.4.1
f)
1/3オクターブ及び1オクターブ帯域の分析* ································· 4.4.4.2
g) スペクトルの形状* ···································································· 4.4.4.2及び箇条5
h) 分析積分時間* ·········································································· 4.4.4.2
i)
帯域レベルの最大許容変動値 ······················································ 4.4.4.2
j)
1/3オクターブ帯域分析のスペクトル ············································ 4.4.4.2
k) OASPL* ·················································································· 箇条5
l)
最小試験時間* ·········································································· 箇条5
m) 前処理 ···················································································· 箇条6
n) 初期測定* ················································································ 箇条7
o) 加速試験の手順，必要な場合 ······················································ 8.2
p) 中間測定 ················································································· 箇条9
q) 後処理 ···················································································· 箇条10
r) 最終測定* ················································································ 箇条11
s)
合否判定基準* ·········································································· 箇条11
13 試験報告書に規定する事項
JIS Q 17025:2005の5.10.2及び5.10.3に規定する情報は，試験報告書又は校正証明書に規定する。正当
な理由が存在する場合を除き，少なくとも次の情報を含まなければならない。
1) 顧客
（名称，住所）
2) 試験所
（名称，住所）
3) 試験報告書の識別
（発行日，固有番号）
4) 試験実施日
5) 試験の目的
（開発試験，認証試験など）
6) 試験規格，版
（関連する試験手順書）
7) 供試品の説明
［初期状態，固有の識別記号（又は，識別番号な
ど），数量，写真，図面など］
8) 供試品の取付け
（取付具及びその図面，写真など）
9) 試験装置の性能
10) 測定システム，センサーの場所
（説明，図面，写真など）
11) 製品仕様書で要求がある場合には，測定システムの不確かさ（全体の不確かさ，校正データ，最終
校正日，次回校正期限）
12) 管理手法
13) 初期測定，中間測定，最終測定
14) 要求する厳しさ
（試験仕様書に規定する）
15) 製品仕様で要求された場合には，試験の厳しさの規定文書（測定点，試験スペクトル，試験時間，
振動数分解能，DOFの値，分布など）
16) 試験結果
（供試品の最終状態）
17) 試験中の観察事項及び処置事項
18) 試験の概要
15
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
19) 試験管理者
（氏名及び署名）
20) 配付
（報告を受けたものの一覧）
注記 試験ログ（試験記録）は，試験の記録文書として残すことが望ましい。その内容は，例えば，
試験パラメータ，試験中の観察事項，行った処置の時系列リスト，行った測定のデータシート
などである。試験ログは，試験報告書に添付することができる。
16
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
試験要求事項に関する指針
A.1 残響室の試験
A.1.1 概要
理想的な残響室は，広帯域雑音で励振されたとき，音圧の2乗の時間平均値がどこでも同じになる拡散
音場となる部屋である。しかし，実際には，理想的な状態からの多少の逸脱を許容する必要がある。
室内の複数の共振モードが成長することによって，音圧レベルが高くなる性質がある。共振モードの数
が十分あり，それが振動数に関して一様に分布していて，供試品の共振が適切に励起されることが最も重
要である。
部屋の壁の音響透過率は，低いことが望ましく，部屋の容積と供試品の容積との比は，約10：1以上が
望ましい。ある状況下では，10：1よりも小さい比は，許容されることがあるが，その試験から得た結果
の評価の場合は注意を払う必要がある。部屋の壁と供試品との距離は，可能なら，最低試験振動数の1/2
波長より長いことが望ましい（図A.1参照）。
図A.1−供試品周囲のマイクロホンの標準的配置
d＝λ/2，又はd＝D/2（いずれか小さい方）
ここに，λ：最低試験振動数の波長
音響ホーンから
残響部屋までの
スムーズな移行
17
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A.1.2 残響室の容積
1オクターブ帯域の試験最低中心振動数と残響室の必要容積との間の関係を表A.1に示す。これらの条
件を満たす場合，試験の最も低い1オクターブ帯域でも，適正な拡散音場が得られる。
表A.1−1オクターブ帯域及び残響室容積の関係
試験最低中心振動数
（1オクターブ帯域）
Hz
必要な残響室容積
m3
31.5
≧1 000
125
≧ 200
250
≧ 70
500
≧ 5
A.1.3 残響室の形状
部屋の形状を変則的なものとし，床及び天井を含む壁を平行にならないようにするのが望ましい。断面
が一様でない五角形の天井が傾斜している部屋では，良好な共振モードの密度が得られる。雑音源は，音
響ホーンの口ができるだけ一つの壁を占有するように，残響室と接続することが望ましい（図A.1参照）。
残響室内の全ての表面は，室内の音響拡散を損なわないようにするために，平らで凹凸がないことが望
ましい。
振動数及び空間に関する室内の最適の分布が得られるように適正な割合を選択すると，長方形の形状を
うまく使用できる。この条件を満たすのは，任意の二つの寸法の比が，整数に等しくないか又はごく近い
値でない場合である。1：21/3：41/3の割合がよく使用される。容積が約200 m3以上の部屋の場合に良好で
あることが分かっている，長方形の部屋の寸法のその他の比を表A.2に示す（参考文献[5]及び[6]参照）。
表A.2−残響室の寸法比
例
Ly/Lx
Lz/Lx
1
0.83
0.47
2
0.83
0.65
3
0.79
0.63
4
0.68
0.42
5
0.70
0.59
Lx，Ly及びLzは，X軸，Y軸及びZ軸の残響室の寸法。
小さな残響室の音場は，耐久性のある反射面を室内につるすことによって，部屋の表面積を増すと，拡
散度をより高くすることができる。この場合，部屋をより小さな容積に効果的に分割することによって，
部屋の低振動数特性を損なわないようにするために，パネルの寸法を部屋の壁の寸法より小さくするとよ
い。音場の拡散を改善する別の方法には，室内の反射経路を絶えず変えるために，変則的な形状の回転体
をつるす方法がある。これらの装置は，低振動数試験が必要な場合に特に有用である。
さらに，注意すべき点は，低振動数試験は，僅かな離散的な位置での測定から得られた試験データに基
づいている場合が多く，標準偏差が大きくなってしまう，という点である。この制約条件は，低振動数試
験を実施し，その結果を評価するときに考慮する必要がある。
18
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A.1.4 残響室の吸音
残響室表面の吸音率は，残響音場の生成を可能にする長い残響時間を確保するために小さいことが望ま
しい。残響室の全ての表面の平均吸音率は，試験振動数範囲で0.06未満であることが望ましい。これは，
部屋の壁を金属製又は表面の滑らかなコンクリート製とし，それらをエポキシ樹脂又は他の非吸音塗料で
被覆することで実現できる。壁が金属製の場合，その壁は，十分な質量があり，堅く，試験振動数範囲で
の共振を避けるために，減衰度が高い（エネルギーを吸収するので）ことが望ましい。
A.1.5 監視点
監視点と供試品の表面との間の距離は，最低試験振動数の1/2波長又は供試品から部屋の壁までの距離
の半分のいずれか短い方よりも長くすることが望ましい。1/2波長よりも短い箇所にマイクロホンを置か
なければならない場合，結果の評価に当たっては，供試品からの反射の影響を考慮するよう注意するとよ
い。
図A.1に供試品周囲のマイクロホンの一般的な配置を示す。図4に供試品周囲の仮想面上の監視点の標
準的な位置を示す。図A.2に長い円筒状供試品周囲のマイクロホンの標準的な配置を示す。いずれにして
も，マイクロホンの位置は，試験要求事項を満たすことが望ましい。
マイクロホンの要求事項は，4.3.2に示した。マイクロホンの受感面の直径は，上限試験振動数の波長の
20 %以下が望ましい。10 kHzの場合，直径6.35 mmのマイクロホンが適している。
図A.2−長い円筒状供試品の監視点マイクロホンの標準的配置
M ： マイクロホン
L ： 供試品の長さ
M：マイクロホン
L：供試品の長さ
19
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A.2 進行波管の試験
進行波管の場合，音波は音源から管に沿って伝搬する。管の断面積が一定の場合，管の長さに沿った音
圧レベルは，供試品又は管壁によるエネルギー吸収の影響は別として，みかけ上は一定である。進行波管
は，進行波が管に沿って反射しないように吸音性媒体，例えば，ガラス繊維製くさびで終端することが望
ましい。進行波管を主残響室に接続する場合，これらの反射を避けることが望ましい。
進行波管は，例えば多くの航空機が備えている円形の供試品に合わせた断面形状の管で構成する。音響
エネルギーを，適切なカップリングホーンを介して，この管の一端に注入し，もう一方の端は，音響吸収
終端に結合する。設計振動数範囲内の注入した音響エネルギーの全ては，終端に吸収され，定常波の形成
を妨げる。この構成は，供試品の露出面上に斜め入射で進む許容可能な音圧流を管の作動部にもたらす。
試験のとき，供試品を，進行波管の側面に取り付けるか，又は側面の一部をなすようにしてもよい。こ
のようにすれば，供試品の1側面だけが進行する雑音にさらされることになる。代わりに，供試品の両側
を同時にさらすことをシミュレートするために，供試品を管の試験領域内に置いてもよい。
進行波管で達成できる音圧レベルは，入力音響パワーが等しい場合，残響室で得られるレベルよりも高
い。得られるレベルは，音源の音響パワー並びに管の断面積及び形状によって異なる。通常，大きな部屋
で得られるよりも少なくとも10 dB高いレベルが実現できる。
作動部の構成は，雑音スペクトルが過度にその壁の内側の表面の振動，壁を通して伝送損失の影響を受
けないために十分な質量及び減衰を含める必要がある。
与えられた音響雑音の試験レベルでは，作動部でのダクトの直径は，利用可能な音響パワー及び供試品
の大きさに対してバランスがとれている必要がある。一般的に，名目上円筒状の供試品では，供試品の周
りの環状隙間は，供試品の直径の10 %〜25 %であることが望ましい。許容可能な雑音分布を得るために，
供試品の周りの隙間が均一であることが望ましい。
パネルアセンブリを試験する場合，ダクトの壁は，斜め入射励起が外部表面の全体に加えられる供試品
を収容することが望ましい。
A.3 空洞共鳴の試験
空洞共鳴試験の候補となり得る空洞の幾つかの種類を，次に示す。
飛行時に開いている航空機のコンパートメント又は貨物室（ストア）は，空洞を気流にさらす。空洞の
共振振動数で定在波が生成されることが多い。別の例として，固体燃料ロケットの中空の中央燃焼室が挙
げられる。ロケットの燃料が燃焼することに従って，空洞は，サイズが変わり，共振し，ロケットの構造
を励振する非常に高い音圧レベルを発生する。
空洞共鳴の試験は，機器の特定の部品に関して実施する。この試験は，空洞共鳴に同調した正弦波励振
又は狭帯域ランダム励振を使用すると一番よく実施できる。通常，既存の音響設備に必要な追加を行って
実施する。
供試品は，試験する空洞だけに，音響エネルギーが直接当たるように，試験室につるす。供試品の他の
表面は，表面の音圧レベルが少なくとも20 dB低くなるように保護することが望ましい。空洞内のマイク
ロホンの位置は製品仕様で規定する必要がある。この位置は，空洞の形状及び容積並びに予測される共振
モードによって異なる。
A.4 定在波管の試験
定在波管は，1波長より短い横の寸法をもつ堅い閉じた管であり，定在波がその長さ方向に沿って発生
20
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
する。定在波管の場合，音源を音響ホーンで試験区域に接続してもよい。供試品は，音響源と反対側にあ
る管の端に取り付ける。励振は純音で行い，振動数は管の長さの固有振動数の一つに同調させる。管の振
動数を調整する必要がある場合は，管の長さを変えるための手段を設けなければならない。
定在波管の使い方の例を，次に示す。
− 非常に高い音圧レベル（約165 dB）のガス冷却原子炉で使用する吸音装置の関発
− ジェットエンジン入口部フェアリングに使用する炭素繊維パネルの評価
− 広帯域及び同調吸音装置の吸音特性の測定
これらの定在波管は，一般に材料のサンプルの試験，特殊吸音装置の開発などに使用する小型装置であ
る。
A.5 音源の選択
A.5.1 概要
音響による疲労試験は，最初，ジェットエンジンからの排気ガスを音響エネルギー源として使用するこ
とによって研究された。これは非常に高価で，かつ，限定的なものであった。
音響環境に関する試験の要求事項の発展に従って，幾つかの音源に関する構想が採用された。音響試験
用設備の建設のときに最大の注目を浴びたこれらの音源を，表A.3に示し，次に要約する。
A.5.2 電気空圧式変換器
電気空圧式変換器は，おそらく，試験所用の高強度雑音を発生するために最も広く使用されている装置
である。これらの装置では，大容量の低圧気体流を変調することによって，制御可能な高音響パワーレベ
ルを得ることができる。これらの装置は，擬似正弦波又はランダム音響振動を発生させるために使用でき，
例えば，変換器出力30 kWの高い音響パワーを出力できる。
A.5.3 電気油圧式変換器
電気油圧式変換器は，試験所用の非常に高い強度の雑音を発生させることができる。これらの装置では，
大容量の低圧気体流を変調することによって，制御可能な非常に高い音響パワーレベルを得ることができ
る。これらの装置は，擬似正弦波又はランダム音響振動を発生させるために使用でき，最大200 kWの非
常に高い音響パワーが可能である。
A.5.4 ダイナミックスピーカ
直接放射スピーカは，低レベルの音響調査，振動数応答試験及び部屋の音響特性の測定などに使用でき
る。これらのスピーカは，比較的安価で，制御しやすく，更には広い振動数帯域の制御可能な音響を出力
できる。一般的にスピーカの上限は，約10 Wである。
A.5.5 広帯域サイレン
広帯域サイレンも，比較的安価で，中間的な音響パワーレベルの正弦波又は擬似ランダム音を発生でき
る。サイレンには，低圧で小容量の圧縮空気が供給され，通常，音響出力約5 kWを出力できる。これら
のサイレンは，特定の適用分野に合う出力スペクトルで長期間にわたる音響耐久試験を実施する場合に使
用される。
A.5.6 ガスジェット
ガスジェットは，高強度，高振動数のランダム雑音に使用できる。音響を発生するためのこの方法は当
初，制御可能な高音響パワーレベルの音響発生器が開発される前に試験所で使用された。ガスジェットに
は，大量の圧縮ガスを必要とし，簡単に制御できないという欠点がある。
21
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.3−音源並びにその波形及び代表的出力パワーの例
音源
波形及び代表的出力パワー
電気空圧式変換器
擬似正弦波又はランダム：
高出力，最大30 kW
電気油圧式変換器
擬似正弦波又はランダム：
非常に高い出力，最大200 kW
ダイナミックスピーカ
正弦波又はランダム：
低出力，約10 W
広帯域サイレン
正弦波又は擬似ランダム：
中間出力，約5 kW
ガスジェット
高振動数ランダム：
低出力
A.6 厳しさ
様々な適用分野の試験時間に対する全音圧レベル（OASPL）の幾つかの標準値を，表A.4に示す。これ
らの値は，同等の適用分野から実際の試験データが入手できない場合に用いることが望ましい。しかし，
産業分野を含む全ての場合に，製品仕様では，入手可能な情報を考慮に入れる必要がある。
表A.4−代表的OASPL及び試験時間
適用分野
OASPL
dB
試験時間
分
音響スペクトル図
高雑音産業用機械
120
60
3
高出力ブロワ
120
60
2
消音器より後方の産業用ガスタービンの排気系
120
60
1
航空機内の一般的区域
130
60
1
産業用ガス配管内部
130
60
a)
航空機内の機器設置場所，消音器なしの産業用ガスタービンの排気雑音
140
30
1
宇宙船及び宇宙船の構成部品
145
1
特殊
航空機内の雑音源近傍
150
30
1
原子力発電所のガス配管内部
150
30
a)
航空機の外部ストア
160
30
1
循環機近くのガス配管の内部
160
30
a)
ロケットエンジン又はブースタ周辺の機器
170
2
1
注a) 特定の適用分野から得られた又はその分野で測定したデータだけを用いる。
表A.4に関して，製品仕様で，OASPLが動作レベルを表すのか，又は例えば，他の目的のために値を大
きくしているのかどうかを明確に定義することが望ましい。
A.7 加速試験
加速試験では，機器が実際の動作中に受けるレベル，すなわち，音響デューティサイクル1) を上回るレ
ベルで試験を行う。加速の方法は，構造物の材料のSN曲線（繰返しひずみと疲労回数との関係）に基づ
いて行う。デューティサイクルが100時間の場合，供試品のSN曲線を用いて，試験音圧レベルを高くし，
試験時間を，例えば，10時間に短縮できる。
注1) “デューティサイクル”は，構成部品，装置又は機器が経験する一連の動作条件と定義される
22
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
（IEC 60050-151の151-16-02）。
一般に共振モードが高い応力にさらされたとき，構造物内に最初の疲労破壊が発生することが繰返し実
証されている。したがって，加速試験中に監視すべき共振モードを決定するための事前の検討を行うこと
が望ましい。
動作時の音圧を超える音響試験音圧にする場合，適用する音圧とその結果である構造物のひずみとの間
の線形関係が維持されるように注意する必要がある。最初に非線形の関係が明らかになるレベルは，音響
試験の加速が可能な限界値である。この圧力／ひずみの非線形の兆候は，構造物の応力分布が動作音響レ
ベルの分布から変化したことを示しており，この変化によって，別の破壊モードが発生し，試験が無効に
なることがある。
加速試験中に狭帯域トラッキングフィルタを通してひずみゲージの応答を監視すると，破壊の始まりを
早期に検出できる。破壊が進展し始めると，監視している共振振動数に変化（通常，低下する。）が見られ
ることが経験から分かっている。さらに，その疲労レベルを維持するには，より強いパワーが必要である
ことが多い。そのとき，試験を中断し，供試品を点検するとよい。
A.8 統計的確度
統計的確度は，統計的自由度Nd及び信頼水準から求める。統計的自由度は，次の式(4)によって求める。
a
eT
B
N
×
=2
d
············································································ (4)
ここに， Be： 振動数の分解能
Ta： 有効平均化時間
Ndは，製品規格に特に規定がない限り，120以上とする。製品規格が信頼水準を規定する場合には，こ
れらを使用して統計的確度を計算することが望ましい。
23
C 60068-2-65：2019 (IEC 60068-2-65：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
引用文献
[1] JIS Z 8106:2000 音響用語
注記 原国際規格では，IEC 60050-801:1994，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 801:
Acoustics and electroacousticsを記載している。
[2] ISO 266，Acoustics−Preferred frequencies for measurements
[3] ISO 2671，Environmental tests for aircraft equipment−Part 3.4: Acoustic vibration
[4] BERANEK, L.L, Noise reduction, McGraw/Hill, 1960
[5] SEPMEYER, L.W., The computed frequency and angular distribution of the normal modes of vibration in
rectangular rooms, JASA, March 1965
[6] PUJOLLE, J., Les meilleures dimensions d'une salle rectangulaire, Revue d'Acoustique, No. 52, 1980
[7] IEC 60050-151:2001，International Electrotechnical Vocabulary−Part 151: Electrical and magnetic devices
非引用文献
IEC 60068-1，Environmental testing−Part 1: General and guidance
ISO 2041:1990，Vibration and shock−Vocabulary (withdrawn)
BENDAT, J.S. and PIERSOL, A.G., Measurement and analysis of random data, Wiley, 1966