C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 温度変化のある実環境条件 ································································································· 2
4 一般事項························································································································· 2
4.1 温度変化試験の計画 ······································································································· 2
4.2 試験のパラメータ ·········································································································· 2
4.3 試験の目的及び選択 ······································································································· 3
4.4 さらし時間又は浸せき時間の選択······················································································ 3
4.5 移し換え時間の選択 ······································································································· 4
4.6 温度変化試験の適用限界 ································································································· 4
5 試験の種類を選定するための指針 ························································································ 4
6 初期測定及び最終測定 ······································································································· 4
6.1 初期測定 ······················································································································ 4
6.2 最終測定 ······················································································································ 4
7 試験Na：規定時間で移し換える温度急変試験 ······································································· 5
7.1 試験の概要 ··················································································································· 5
7.2 試験手順 ······················································································································ 5
7.3 後処理 ························································································································· 6
7.4 製品規格に規定する事項 ································································································· 6
8 試験Nb：定速温度変化試験 ······························································································· 7
8.1 試験の概要 ··················································································································· 7
8.2 試験手順 ······················································································································ 7
8.3 後処理 ························································································································· 8
8.4 製品規格に規定する事項 ································································································· 8
9 試験Nc：二液槽温度急変試験 ···························································································· 9
9.1 試験の概要 ··················································································································· 9
9.2 試験手順 ······················································································································ 9
9.3 後処理 ························································································································ 10
9.4 製品規格に規定する事項 ································································································ 10
10 試験報告書に記載する事項 ······························································································ 11
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人日本電子部品信頼性センター（RCJ）
及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があ
り，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。JISの温度変化試
験の規格には，これまでJIS C 0025［環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法］が制定されていた
が，この規格の制定によって，JIS C 0025:1988は廃止され，この規格に置き換えられた。
また，令和2年6月22日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標準
化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 60068の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 60068-1
通則
JIS C 60068-2-1
第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
JIS C 60068-2-2
第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
JIS C 60068-2-6
第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
JIS C 60068-2-7
加速度（定常）試験方法
JIS C 60068-2-11
塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-13
減圧試験方法
JIS C 60068-2-14
第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
JIS C 60068-2-17
封止（気密性）試験方法
JIS C 60068-2-18
第2-18部：耐水性試験及び指針
JIS C 60068-2-20
第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JIS C 60068-2-21
第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27
第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
JIS C 60068-2-30
温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-31
面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法
JIS C 60068-2-32
自然落下試験方法
JIS C 60068-2-38
温湿度組合せ（サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-39
第2-39部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験
JIS C 60068-2-40
低温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-41
高温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-42
接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
JIS C 60068-2-43
接点及び接続部の硫化水素試験方法
JIS C 60068-2-45
耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
JIS C 60068-2-46
接点及び接続部の硫化水素試験−指針
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
（3）
JIS C 60068-2-47
第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
JIS C 60068-2-48
第2-48部：保存の影響をシミュレートするために，環境試験方法に関するJIS規
格群の試験を適用する場合の指針
JIS C 60068-2-49
接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
JIS C 60068-2-50
発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-51
発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-52
塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液）
JIS C 60068-2-53
発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温／振動（正弦波）複合試験の指
針
JIS C 60068-2-54
はんだ付け性試験方法（平衡法）
JIS C 60068-2-57
時刻歴振動試験方法
JIS C 60068-2-58
表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱
性試験方法
JIS C 60068-2-59
サインビート振動試験方法
JIS C 60068-2-60
混合ガス流腐食試験
JIS C 60068-2-61
一連耐候性試験
JIS C 60068-2-64
広帯域ランダム振動試験方法及び指針
JIS C 60068-2-65
第2-65部：音響振動
JIS C 60068-2-66
高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
JIS C 60068-2-67
基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
JIS C 60068-2-68
砂じん（塵）試験
JIS C 60068-2-69
第2-69部−試験−試験Te：表面実装部品（SMD）のはんだ付け性試験方法（平衡
法）
JIS C 60068-2-70
第2-70部：指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
JIS C 60068-2-75
第2-75部：ハンマ試験
JIS C 60068-2-77
表面実装部品（SMD）の本体強度及び耐衝撃性試験方法
JIS C 60068-2-78
第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
JIS C 60068-2-80
第2-80部：混合モード振動試験方法（試験記号：Fi）
JIS C 60068-2-81
第2-81部：衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
JIS C 60068-2-82
第2-82部：試験−試験XW1：電気・電子部品のウィスカ試験方法
JIS C 60068-3-1
低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-2
第3-2部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-3
機器の耐震試験方法の指針
JIS C 60068-3-4
第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 60068-3-5
第3-5部：温度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-6
第3-6部：支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-7
第3-7部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験（試験A）及び高温試験
（試験B）の試験槽の温度測定のための指針
JIS C 60068-3-8
第3-8部：振動試験方法の選択の指針
日本産業規格 JIS
C 60068-2-14：2011
(IEC 60068-2-14：2009)
環境試験方法−電気・電子−
第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
Environmental testing-Part 2-14: Tests-Test N: Change of temperature
序文
この規格は，2009年に第6版として発行されたIEC 60068-2-14を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，部品，機器又はその他の製品（以下，供試品という。）が周囲温度の急激な変化に耐える能
力を試験する方法について規定する。この試験に必要な試験時間は，供試品の特性によって規定する。
注記1 この規格には，この規格を引用する個別の製品規格を作成する指針も規定する。
なお，この試験は，高温又は低温だけの影響を確かめるためのものではない。このような
影響を確かめるためには，高温試験又は低温試験を適用することが望ましい。
温度変化試験は，温度変化又は温度変化の繰返しが，供試品に与える影響を確かめること
を目的としている。
温度変化又は温度変化の繰返しの影響は，次の事項によって決まる。
− 高温及び低温での各試験温度
− 供試品を高温及び低温に維持する時間
− 高温と低温との間の温度変化率
− 試験サイクル数
− 供試品の内部又は外部へ伝わる熱量
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of temperature
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold（IDT）
2
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat（IDT）
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal) （IDT）
JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-17，Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test Q:
Sealing（IDT）
JIS C 60068-2-30 環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
cyclic (12 h＋12 h cycle)（IDT）
3
温度変化のある実環境条件
電子装置及び構成機器の内部では，通常，緩やかな温度変化が起きる。装置内の機器は，電源を投入し
ない場合，装置外面より緩やかな温度変化を受ける。
急激な温度変化は，次の場合に考えられる。
− 装置が，暖かな室内から冷えた外気にさらされた場合，又はその逆の場合
− 装置が，降雨によって突然冷却された場合，又は冷水に浸された場合
− 外部に取り付けられた航空機用電子装置の内部の場合
− 輸送及び保管時に条件が変化する場合
装置は，電源投入後内部に著しい温度勾配が生じ，その構成機器は，温度変化によるストレスを受ける。
例えば，大電力用の抵抗器に近い場所にある構成機器は，その他の部分が冷えていても熱の放射によって
表面温度が上昇する。
人為的に冷却される構成機器は，冷却装置を起動したときに温度が急激に変化することがある。構成機
器の急激な温度変化は，装置の製造工程でも生じることがある。温度変化の回数，温度差及びその時間間
隔が重要である。
4
一般事項
4.1
温度変化試験の計画
温度変化試験Na（規定時間で移し換える温度急変試験，箇条7参照），Nb（定速温度変化試験，箇条8
参照）及びNc（二液槽温度急変試験，箇条9参照）は，低温と高温との間を，一方の温度から他方の温度
へ，規定条件に従った移し換えを交互に行うものである。1サイクルの試験は，室温から始まり第1の試
験温度，次に第2の試験温度に移行し，室温に戻して終わる。
4.2
試験のパラメータ
試験のパラメータとして，次の項目がある。
− 室温（試験室の温度）
− 高温TB
− 低温TA
− さらし時間又は浸せき時間t1
− 高温と低温との移し換え時間又は温度変化率
3
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
− 試験のサイクル数
高温及び低温とは，多少の時間遅れはあるが，大部分の供試品が到達していると考えられる周囲温度を
いう。
特例として，供試品の通常の保管又は動作温度範囲を超えた試験温度を規定してもよい。
この場合，規定した期間内での厳しい温度変化量が，使用環境より大きいので，試験は加速される。
4.3
試験の目的及び選択
温度変化試験は，次の場合に行うことが望ましい。
− 温度が変化している状態で電気的性能を評価する場合（試験Nbを選択）
− 温度が変化している状態で機械的性能を評価する場合（試験Nbを選択）
− 規定サイクル数の温度急変を行った後に電気的性能を評価する場合（試験Na又は試験Ncを選択）
− 機構部分，材料及び材料の組合せが，温度急変に耐える適性を評価する場合（試験Na又は試験Ncを
選択）
− 構成機器の構造が，人為的環境ストレスに耐える適性を評価する場合（試験Na又は試験Ncを選択）
この規格で規定している試験方法は，低温及び高温の安定した温度において動作させた場合の材料の諸
定数の差異又は電気的性能を評価するためのものではない。
4.4
さらし時間又は浸せき時間の選択
さらし時間又は浸せき時間（t1）は，次の点に留意し，7.2.3，8.2.3，9.2.2又は製品規格で規定した要求
事項に基づくことが望ましい。
a) t1の開始は，供試品を新しい環境に設置した直後とする。
b) 温度が安定した状態とは，供試品と試験媒体との温度差（ΔT）が3 Kから5 K以内となる場合，又は
製品規格に規定した温度差となる場合をいう。温度が安定するまでの時間（ts）とは，試験の開始か
ら温度が規定した温度差以内になるまでの時間をいう。温度測定のために，供試品上の任意の1点（又
は数点）を用いる。
c) さらし時間又は浸せき時間（t1）は，供試品の温度が安定するまでの時間（ts）よりも長くなければな
らない。一連の温度変化の様子を，図1に示す。この図は，発熱する供試品の状態とは異なる。
TB
TA
t1
Temperature of
the specimen
Time
ts
T
e
m
p
e
ra
tu
re
∆T
IEC 2237/08
図1−さらし時間又は浸せき時間（t1）の決定
供試品の温度
時間
温
度
4
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
4.5
移し換え時間の選択
供試品の寸法が大きくて二槽式を用いる場合には，移し換えを3分以内ではできないので，試験結果に
明らかな影響がない限り，移し換え時間を次のように延長してもよい。
t2≦0.05 ts
ここに，
t2： 移し換え時間
ts： 供試品の温度が安定するまでの時間
4.6
温度変化試験の適用限界
供試品の内部での温度変化率は，材料の熱伝導，熱容量の空間的分布及び供試品の大きさによって決ま
る。
供試品の表面上のある一点の温度変化は，ほぼ指数関数に従う。大きい供試品の内部では，指数的上昇
と減少とが重なり，低温と高温との試験温度の差よりもかなり小さい振幅をもった正弦波に近い変化をす
る。
恒温槽又は液槽内の供試品と周囲の媒体との間の熱伝達のメカニズムを考慮する必要がある。供試品の
表面の温度変化率は，液体が動いている場合，非常に大きな値となるが，静止している空気の場合は，非
常に小さい値となる。
試験媒体として水を用いる場合の二液槽法（試験Nc）は，供試品に水が浸入し，動作及び特性を悪くす
る場合があるので，密封した供試品又は水の影響を受けにくい供試品だけに適用することが望ましい。
水の影響を受けやすい供試品など特別な場合は，水以外の液体を用いた試験の指定が必要な場合がある。
このような試験を計画する場合には，用いる液体の熱伝導の特性が水と異なる場合があるため，このこと
を考慮しなければならない。
注記 二液槽法の適否を評価する場合，JIS C 60068-2-17による評価が役に立つことがある。
5
試験の種類を選定するための指針
試験の厳しさは，温度差の増加，温度変化率の増加，及び供試品への熱伝導によって増加する。
温度変化試験は，一連の試験の一部として用いることが望ましい。損傷の種類によっては，この試験の
最終測定においても影響が現れないことがある。しかし，引き続き行われる試験，JIS C 60068-2-17：封止
（気密性），JIS C 60068-2-6：正弦波振動，JIS C 60068-2-30：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）な
どの試験中にだけ，影響が現れることがある。
試験Nc（二液槽法）は，封止（気密性）試験方法の代わりに適用しないほうがよい。
温度変化試験を規定する場合，温度変化の条件及び故障メカニズムが供試品の特性に影響を与えること
に留意し，初期測定及び最終測定を規定することが望ましい。
6
初期測定及び最終測定
試験Na，Nb及びNcでは，いずれも同じ初期測定及び最終測定を行う。
6.1
初期測定
製品規格の規定に基づき，目視によって供試品の外観検査を行い，電気的測定及び機械的点検を行う。
6.2
最終測定
製品規格の規定に基づき，目視によって供試品の外観検査を行い，電気的測定及び機械的点検を行う。
5
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
7
試験Na：規定時間で移し換える温度急変試験
7.1
試験の概要
この試験は，供試品が周囲温度の急激な変化に耐える能力を決定するために行う。この目的を達成する
ために必要なさらし時間は，供試品の特性によって規定する。
供試品は，包装を解いた状態で，かつ，スイッチを切り動作準備状態とするか，又は製品規格に規定し
た条件のいずれかにしておく。
供試品を空気又は不活性ガス中で，低温及び高温に交互に置くことによって急激な温度変化を与える。
7.2
試験手順
7.2.1
試験槽
二つの試験槽又は一つの槽で急激に温度変化させることができる試験槽を用いる。二つの試験槽を用い
る場合，それぞれ低温用及び高温用とし，製品規格に規定した時間内に一つの槽から他の槽へ供試品を移
すことができるように配置しなければならない。移し換えの方法は，手動又は自動のいずれの方法でもよ
い。
試験槽は，供試品が置かれている全ての場所で，試験に必要な温度が維持できなければならない。
供試品を入れた後，さらし時間の10 %以下の時間で槽内温度が製品規格に規定する許容差内に収まらな
ければならない。
7.2.2
供試品の取付け又は支持
製品規格に規定がない場合，取付具又は支持具は，熱伝導の小さいものを用い，取付具などからの熱影
響を受けにくいようにする。複数の供試品を同時に試験する場合は，供試品間及び供試品と槽の内壁との
間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。
7.2.3
厳しさ
試験の厳しさは，低温，高温，移し換え時間，さらし時間及びサイクル数の組合せで定める。
低温TAは，製品規格の規定によるものとし，試験温度は，JIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-2-2の試験
温度から選択するとよい。
高温TBは，製品規格の規定によるものとし，試験温度は，JIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-2-2の試験
温度から選択するとよい。
低温及び高温の各さらし時間t1は，供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間t1は，3時間，2
時間，1時間，30分間若しくは10分間のいずれか，又は製品規格で指定してもよい。製品規格にさらし時
間の規定がない場合には，3時間とする。
サイクル数は，製品規格に規定がない場合，5サイクルとする。
注記 10分間のさらし時間は，小さな供試品の試験に適用する。
7.2.4
前処理
試験開始時には，供試品及び試験槽内の温度は，25 ℃±5 ℃（試験室の温度）とする。製品規格に規定
がある場合，供試品を規定の動作状態にしなければならない。
注記 JIS C 60068-1（通則）には，測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）の温度は，15 ℃
〜35 ℃と規定してある。
7.2.5
試験サイクル
次の規定は二槽式を想定したものであるが，一槽式で行う場合でも同様である。
温度TAの低温槽の中に供試品を入れる。
低温槽の槽内温度TAを規定のさらし時間t1の間維持する。供試品を槽に入れてから槽内温度が安定する
6
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
までの時間は，t1に含める。ただし，この時間は，t1の10 %以下とする（7.2.1を参照）。さらし時間は，
供試品を槽に入れた時からとする。
次に，温度TBの高温槽の中に供試品を入れる。低温槽から高温槽への移し換え時間t2は，3分間以内と
するのが望ましい。
移し換え時間t2は，供試品を一方の槽から取り出す時間，移し換えのために試験室の周囲温度にある時
間及び他方の槽に入れる時間からなる。
注記 供試品が大きい場合，製品規格又は仕様で移し換え時間を延ばしてもよい（4.5参照）。
高温槽の槽内温度TBを，規定の試験時間t1の間維持する。供試品を槽に入れてから槽内温度が安定する
までの時間は，t1に含める。ただし，この時間はt1の10 %以下とする。試験時間は，供試品を槽に入れた
時からとする。
次のサイクルでは，供試品を温度TAの低温槽に移す。この場合の移し換え時間t2は3分間以下とするの
が望ましい。
1サイクルは，二つのさらし時間t1と二つの移し換え時間t2とからなる（図2参照）。
TB
TA
＜t1/10
A
t1
t1
t2
＜t1/10
B
t2
A：第1サイクルの開始点
B：第2サイクルの開始点
注記 破線のカーブは，槽内温度の変化を示す。
図2−試験Naのサイクル
最終サイクルの後，供試品の後処理を行う。
7.3
後処理
試験後，供試品の温度が安定するまで十分な時間，標準大気状態に維持しなければならない。
製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。
7.4
製品規格に規定する事項
この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。
a) 試験の種類
b) 前処理
c) 初期測定
d) 取付けの詳細又は支持材
温
度
第1サイクル
時間
7
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
e) 低温TA
高温TB
f)
さらし時間t1
g) サイクル数
h) 試験中の測定及び／又は負荷
i)
後処理
j)
最終測定
k) その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項
8
試験Nb：定速温度変化試験
8.1
試験の概要
この試験は，供試品が周囲温度の変化する条件に耐える能力及び／又は機能を果たす能力を決定するた
めに行う。
供試品は，包装を解いた状態で，かつ，スイッチを切り動作準備状態とするか，又は製品規格に規定し
た条件のいずれかにしておく。
供試品を規定の割合で温度が変化する試験槽内に置くことによって，空気中の温度の変化にさらす。こ
のさらし時間中，供試品の性能を測定してもよい。
8.2
試験手順
8.2.1
試験槽
この試験に用いる槽は，供試品が置かれている有効空間で，次に示す条件で温度サイクルを構成できる
ものとする。
a) 試験に必要な低温が維持できる。
b) 試験に必要な高温が維持できる。
c) 試験に必要な温度変化率で低温から高温，又は高温から低温へ変化できる。
8.2.2
供試品の取付け又は支持
製品規格に規定がない場合，取付具又は支持具は熱伝導の小さいものを用い，取付具などからの熱の影
響を受けにくいようにする。複数の供試品を同時に試験する場合は，供試品間及び供試品と槽の内壁との
間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。
8.2.3
厳しさ
試験の厳しさは，低温，高温，温度変化率，さらし時間及びサイクル数の組合せで定める。
低温TAは，製品規格の規定によるものとし，JIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-2-2の試験温度から選択
するとよい。
高温TBは，製品規格の規定によるものとし，JIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-2-2の試験温度から選択
するとよい。
槽内温度は，TAとTBとの温度差（D）の90 %と10 %との間で測定した温度変化率（許容差20 %以下）
で上昇又は下降させる。製品規格に規定がない場合，推奨値は，次の値とする。
1±0.2 K/min，
3±0.6 K/min，
5±1 K/min，
10±2 K/min，
8
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
15±3 K/min
低温及び高温の各さらし時間t1は，供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間t1は，3時間，2
時間，1時間，30分間若しくは10分間のいずれか，又は製品規格で指定してもよい。製品規格にさらし時
間の規定がない場合には，3時間とする。
サイクル数は，製品規格に規定がない場合，2サイクルとする。
8.2.4
前処理
試験開始時には，供試品及び試験槽内の温度は，25 ℃±5 ℃（試験室の温度）とする。製品規格に規定
がある場合，供試品を規定の動作状態にしなければならない。
注記 JIS C 60068-1（通則）には，測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）の温度は，15 ℃
〜35 ℃と規定してある。
8.2.5
試験サイクル
槽内温度を，規定の低温TAまで規定の温度変化率で下げる（図3参照）。
槽内温度が安定した後，規定したt1時間，供試品を低温にさらす。
槽内温度を，規定の高温TBまで規定の温度変化率で上げる（図3参照）。
槽内温度が安定した後，規定したt1時間，供試品を高温にさらす。
槽内温度を，25 ℃±5 ℃（試験室の温度）で規定の温度変化率で下げる（図3参照）。
以上の手順を1サイクルとする。
A：第1サイクルの開始点
図3−試験Nbのサイクル
8.3
後処理
試験後，供試品の温度が安定するまで十分な時間，標準大気状態に維持しなければならない。
製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。
8.4
製品規格に規定する事項
この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。
a) 試験の種類
b) 前処理
c) 初期測定
TB
TA
A
t1
t1
第1サイクル
第2サイクル
時間
槽
内
温
度
9
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
d) 取付けの詳細又は支持材
e) 低温TA
高温TB
f)
さらし時間t1
g) 温度変化率
h) サイクル数
i)
試験中の測定及び／又は負荷
j)
後処理
k) 最終測定
l)
その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項
9
試験Nc：二液槽温度急変試験
9.1
試験の概要
この試験は，供試品の温度急変に耐える能力を決定するために行う。
この試験方法は，厳しい熱衝撃を与えるため，ガラス−金属封止などの供試品にも適用できる。
供試品を二つの液槽に交互に浸せきする。一方の槽には温度TAの低温の液体，他方の槽には温度TBの
高温の液体を満たしておく。
9.2
試験手順
9.2.1
試験槽
供試品を容易に浸せきでき，かつ，迅速に移し換えできる低温及び高温の二つの液槽を用いる。
低温液槽には，製品規格で規定した低温TAの液体を満たす。温度の規定がない場合は，0 ℃の液体とす
る。
高温液槽には，製品規格で規定した高温TBの液体を満たす。温度の規定がない場合は，100 ℃の液体と
する。
液槽は，試験中，低温液槽ではTAよりも2 Kを超える温度上昇がないものとし，高温液槽ではTBより
も5 Kを超える温度低下がないものとする。
試験に用いる液体は，供試品に用いられている材料及び表面処理に影響を与えないものとする。
注記 液体の熱伝導率は，その種類によって異なり，特定の温度範囲に対しては試験の厳しさに影響
する。したがって，特別な場合は，用いる液体を製品規格に規定することが望ましい。
9.2.2
厳しさ
試験の厳しさは，液槽の温度，移し換え時間t2及びサイクル数で規定する。
製品規格には，浸せき時間t1の値を規定する。
サイクル数は，製品規格に規定がない場合，10サイクルとする。
9.2.3
試験準備
供試品の包装を解いた状態で試験を行う。
9.2.4
試験サイクル
試験室の温度にさらした供試品を，製品規格に規定した温度TAの低温液槽に浸す。
供試品を低温液槽に浸せき時間t1の間浸す。
供試品を低温液槽から取り出し，製品規格に規定した温度TBの高温液槽に移す。この移し換え時間t2
は，製品規格に規定する。
10
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
供試品を高温液槽に浸せき時間t1の間浸す。
供試品を高温液槽から取り出す。高温液槽から低温液槽への移し換え時間t2は，製品規格で規定する。
二つの浸せき時間t1及び二つの移し換え時間t2を1サイクルとする（図4参照）。
槽内温度最終サイクルの終了後，供試品に対して後処理を行う。
A：第1サイクルの開始点
図4−試験Ncのサイクル
9.3
後処理
試験後，供試品を試験室の温度にさらす。液滴は取り除く。クリーニングが必要な場合，方法を製品規
格に規定する。
製品規格に，供試品の種類に応じた後処理時間を規定してもよい。
9.4
製品規格に規定する事項
この試験を製品規格に規定する場合，できるだけ次の事項を規定する。
a) 試験の種類
b) 前処理
c) 初期測定
d) 取付けの詳細又は支持材
e) 低温液槽の温度TA
高温液槽の温度TB
f)
浸せき時間t1
g) サイクル数
h) 用いる液体
i)
試験中の測定及び／又は負荷
j)
クリーニング方法（必要がある場合）
k) 後処理
l)
最終測定
m) その他，受渡当事者間で合意した手順上の変更事項
TB
TA
A
t1
t1
t2
t2
第1サイクル
時間
槽
内
温
度
11
C 60068-2-14：2011 (IEC 60068-2-14：2009)
10 試験報告書に記載する事項
試験報告書には，少なくとも次の項目を記載しなければならない。
a) 顧客
（名称及び所在地）
b) 試験所
［名称及び所在地並びに認定状況（ある場合）］
c) 試験日
（試験を実施した日付）
d) 試験の種類
（試験記号Na，Nb又はNc）
e) 試験の目的
（開発試験，認証試験など）
f)
試験規格及び発行年
（JIS C 60068-2-14及び2011年）
g) 試験所の試験手順書
（手順書番号及び版）
h) 供試品の詳細
（図面，写真，数量など）
i)
試験槽の詳細
（製造元，型番，製造番号など）
j)
試験装置の性能
（温度制御設定値，エアフローなど）
k) 風速及び向き
（供試品に当たる風の風速及び向き，ただしNa及びNbの場合）
l)
測定系の不確かさ
（不確かさのデータ）
m) 校正データ
（前回及び次回の校正日）
n) 初期測定，中間測定及び最終測定
o) 要求する厳しさ
（製品規格による）
p) 試験の厳しさ
（測定点，データなど）
q) 供試品の性能
（機能試験の結果など）
r) 試験中の観察事項及び行った処置 （特記事項など）
s)
試験の要約
t)
配付先
注記 試験報告書に添付できるように，試験記録を残すとよい。
参考文献 JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1，Environmental testing. Part 1: General and guidance（IDT）