令和2年6月22日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標準化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規
格”を“日本産業規格”に改めた。
日本産業規格 JIS
C 0029-1989
環境試験方法（電気・電子）
減圧試験方法
Basic Environmental Testing Procedures
Part 2 : Tests, Test M: Low Air Pressure
1. 緒言及び適用範囲 この規格は，室温での減圧試験について規定する。
この試験の目的は，部品，械器又はその他の製品（以下，供試品という。）を気圧が低い状態で貯蔵，輸
送又は使用することができる能力を調べることを目的とする。
参考 この規格は，IEC 68-2-13 Basic environmental testing procedures. Part2 : Tests. Test M : Low air
Pressure (1983) を翻訳したものである。
引用規格：
JIS C 0010 環境試験方法（電気・電子）通則
対応国際規格：
IEC 68-2-13 Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test M: Low air pressure
2. 試験の概要 供試品を試験槽の中に入れ，次に槽内の気圧を製品規格に規定の値まで減圧し，規定の
時間保持する。
3. 試験装置 試験装置は，4.に規定する圧力条件を保持できるものとする。槽内の空気は，試験装置に
附属する機器によって又は大気圧に戻すときに流入する空気によって汚染されないようにする。
4. 厳しさ 厳しさは，気圧と放置時間とによって表し，製品規格に規定する。それらの値は，4.1及び
4.2に示す条件の中から選ぶ。
4.1
気圧 槽内の気圧は，表の値の中から選ぶ。
なお，気圧の許容差は，±5%又は±0.1kPaのいずれか大きい値とする。ただし，84kPaの許容差は±2kPa
とする。
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C 0029-1989
表 気圧
気圧
参考
概略の海抜高度
m
kPa
mbar
1
10
31 200
2
20
26 600
4
40
22 100
8
80
17 600
15
150
13 600
25
250
10 400
40
400
7 200
55
550
4 850
70
700
3 000
84(1)
840(1)
−
注(1) 試験場所の標準状態の気圧の下限 (86kPa) での
試験が供試品に要求される場合に適用する。
備考 1 000mまでの高度は，86〜106kPaの標準状態の
気圧とみなす
4.2
放置時間 放置時間は，次による。
5分間，30分間，2時間，4時間，16時間
5. 前処理 前処理は，製品規格の規定による。
6. 初期測定 製品規格の規定に基づき，供試品の外観を目視によって調べ，電気的測定 及び 機械的点
検を行う。
7. 試験
7.1
試験槽を試験場所の標準状態の温度(2)にする。供試品を動作させない試験では，その包装を解いた
状態でスイッチを切り，動作が可能な状態にして，規定がない限り正常な姿勢で槽内に置く。
注(2) JIS C 0010［環境試験方法（電気・電子）通則］の5.3に規定の試験場所の標準状態の温度は，
15〜35℃である。
7.2
次に，槽内の気圧を製品規格に規定の値まで下げる。
なお，製品規格に，気圧の変化割合を10kPa/min以下に規定してもよい。
7.3
製品規格に動作試験の規定がある場合は，供試品に電源を入れるか 又は 電気的負荷をかける。製
品規格に規定する機能を確認するための点検を行う。供試品は，規定の時間，動作状態にしておく。ただ
し，製品規格に規定がある場合は電源を切ってもよい。
製品規格に中間測定の規定があれば，これを行う。
熱放散がある供試品の場合，製品規格に，圧力を下げる前 又は 後で供試品に電源を入れて，温度安定
になるまで適切な時間放置し，動作試験 及び（又は）測定を行うことを規定してもよい。
7.4
規定の放置時間，気圧を保持する。
7.5
気圧を大気圧に戻す。
なお，製品規格に，気圧の変化割合を10kPa/min以下に規定してもよい。
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C 0029-1989
8. 後処理 製品規格に規定がない限り，供試品を試験場所の標準状態で1時間以上2時間以内放置する。
9. 最終測定 製品規格の規定によって，外観，電気的性能 及び 機械的性能を調べる。
10. 製品規格に規定すべき事項
(1)
厳しさ（気圧及び放置時間）
4.
(2)
前処理
5.
(3)
初期測定
6.
(4)
試験中の供試品の状態
7.1及び（又は）7.3
(5)
気圧の変化の割合（必要がある場合）
7.2及び（又は）7.5
(6)
試験中に行う点検，温度安定，測定及び（又は）
電気的負荷（動作試験の場合）
7.3
(7)
後処理
8.
(8)
最終測定
9.
環境試験方法JIS 原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
森 川 貞 重
タバイエスペック株式会社
高 久 清
工業技術院電子技術総合研究所
中 谷 節 男
工業技術院標準部
石 川 安 男
防衛庁装備局
高 重 哲 夫
財団法人鉄道総合技術研究所
木 内 和 夫
日本電信電話株式会社
池 田 弘 明
日本放送協会
高 橋 洽太郎
東京都立工業技術センター
三 上 和 正
東京都立工業技術センター
後 藤 恒 人
財団法人機械電子検査検定協会
中 村 誠 司
財団法人日本写真機光学機器検査協会
黒 田 毅
日本電気計器検定所
末 永 則 雄
社団法人日本電子機械工業会
清 水 英 範
社団法人日本電機工業会
福 島 彰
財団法人日本船舶標準協会
武 藤 俊 範
松尾電機株式会社
武 田 克 巳
菱電エンジニアリング
岩 田 武
東京特殊印刷工業株式会社
鈴 木 繁 実
タバイエスペック株式会社
菅 野 久 勝
社団法人日本試験機工業会
（事務局）
加 藤 忠 雄
財団法人日本電子部品信頼性センター
（JISC事務局）
五十嵐 重 雄
工業技術院標準部電気・情報規格課
鷲 津 雅 也
工業技術院標準部電気・情報規格課