C 6575-3:2016
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 一般要求事項 ··················································································································· 2
5 標準定格 ························································································································· 2
6 表示······························································································································· 2
7 試験に関する一般事項 ······································································································· 3
8 寸法及び構造 ··················································································································· 6
9 電気的要求事項 ················································································································ 7
10 スタンダードシート ······································································································· 17
附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 34
C 6575-3:2016
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まえがき
この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
工業規格である。これによって,JIS C 6575-3:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 6575の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 6575-1 第1部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒューズリンクに対する通則
JIS C 6575-2 第2部:管形ヒューズリンク
JIS C 6575-3 第3部:サブミニチュアヒューズリンク
JIS C 6575-4 第4部:UMヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入形及び表面実装形ヒュー
ズリンク
JIS C 6575-7 第7部:特殊用途ミニチュアヒューズリンク
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日本工業規格 JIS
C 6575-3:2016
ミニチュアヒューズ−
第3部:サブミニチュアヒューズリンク
Miniature fuses-Part 3: Sub-miniature fuse-links
序文
この規格は,2015年に第3版として発行されたIEC 60127-3を基とし,主に日本特有のヒューズリンク
を考慮したため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。また,箇条10のスタンダードシートJ1及びJ2は,
対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は,プリント回路に適合するように作られ,かつ,通常,屋内で用いる電気機器,電子機器及
びそれらの部品を保護するためのサブミニチュアヒューズリンクについて規定する。
この規格は,腐食しやすい場所,又は爆発性の雰囲気が存在する特殊な状況にある場所での使用を目的
とする機器に用いるヒューズは適用の対象としない。
この規格は,JIS C 6575-1の規定に追加して,適用する。
この規格の目的は,JIS C 6575-1の規定に追加して,サブミニチュアヒューズリンクに適用する特定,
かつ,追加的な試験方法を確定することである。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60127-3:2015,Miniature fuses−Part 3: Sub-miniature fuse-links(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 6484 プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
注記 対応国際規格:IEC 61249-2-7,Materials for printed boards and other interconnecting structures−
Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated sheet of
defined flammability (vertical burning test), copper-clad(MOD)
JIS C 6575-1 ミニチュアヒューズ−第1部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒュー
ズリンクに対する通則
注記 対応国際規格:IEC 60127-1:2006,Miniature fuses−Part 1: Definitions of miniature fuses and
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general requirements for miniature fuse-links,Amendment 1:2011(MOD)
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部:試験−試験U:端子強度試験方法
注記 対応国際規格:IEC 60068-2-21,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness of
terminations and integral mounting devices(IDT)
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)
試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
注記 対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test
method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers
3
用語及び定義
この規格で用いる用語及び定義は,JIS C 6575-1の箇条3(用語及び定義)による。
4
一般要求事項
一般要求事項は,JIS C 6575-1の箇条4(一般要求事項)による。
5
標準定格
標準定格は,JIS C 6575-1の箇条5(標準定格)による。
6
表示
表示は,次を除き,JIS C 6575-1の箇条6(表示)による。
6.1
追加[a) の“1 A未満では”で始まる段落の後に,次を追加する。]
スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクには,定格電流にその単位(mA
又はA)を併せて表示しなければならない。ただし,定格電流の表示位置は,定格電圧の表示の直前にす
る必要はない。
さらに,溶断種別記号を表示する旨をスタンダードシートに規定する場合は,各サブミニチュアヒュー
ズリンクに,次の溶断種別記号を表示しなければならない。
− A種:
○
A又は“A”
− B種:
○
B又は“B”
− 特殊溶断:
“J”又はスタンダードシート番号(J1又はJ2)
溶断種別記号として“A”又は“B”を表示する場合は,定格電流の直前に表示しなければならない。
6.3
追加(“なお,この包装容器に”で始まる段落の後に,次を追加する。)
さらに,スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,包装容器に
次の事項を表示しなければならない。
− 定格遮断容量
− 溶断種別が特殊溶断の場合,最小溶断電流及び溶断時間
6.4
追加(“この付加的な”で始まる段落の後に,次を追加する。)
スタンダードシート3及び4に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,ヒューズリンク装着後
に見えるように,そのトップ面に,定格電流,定格電圧及び溶断時間−電流特性の表示をしてもよい。
3
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追加(次の細分箇条を追加する。)
6.5
スペースが狭いために表示が困難な場合には,関連情報を最小包装容器及び製造業者の技術文書に
明記することが望ましい。
7
試験に関する一般事項
試験に関する一般事項は,次を除き,JIS C 6575-1の箇条7(試験に関する一般事項)による。
7.2.1
追加(“追加試験などは,”で始まる段落の後に,次を追加する。)
スタンダードシート1及び2に規定するサブミニチュアヒューズリンクの個別の定格電流を試験する場
合は,66個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で12個は予備とする。試験手順は,
表1に示す。
スタンダードシート3及び4に規定するサブミニチュアヒューズリンクの個別の定格電流を試験する場
合は,51個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で12個は予備とする。試験手順は,
表2に示す。
スタンダートシート1及び2に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,同形シリーズの最大定格電
流を試験する場合は,56個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で22個は予備とす
る。試験手順は,表3に示す。
スタンダードシート3及び4に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,同形シリーズの最大定格電
流を試験する場合は,51個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で22個は予備とす
る。試験手順は,表4に示す。
同形シリーズの最小定格電流を試験する場合は,38個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,
その中で16個は予備とする。試験手順は,表5に示す。表1〜表4に基づき試験する場合は,上記に加え
て端子試験に用いる6個(E1〜E6)のサブミニチュアヒューズリンクが必要である。
サブミニチュアヒューズリンクは,次のe) の項目による試験又は検査を,7.2.1に規定する項目に追加
して行う。
e) サブミニチュアヒューズリンクの端子(8.3)
スタンダードシートJ1及びJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,個別の定格電流又は同形
シリーズの最大定格電流を試験する場合,サブミニチュアヒューズリンクは,表5Aに示す試験手順に従
って試験を行う。この場合,必要なサブミニチュアヒューズリンク及び予備のサブミニチュアヒューズリ
ンクの数は,次のとおりとする。
− 低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は45
個,その中で18個は予備とする。
− 中遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの場合は,次による。
・ 消弧剤を用いる場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は51個,その中で18個は予備と
する。
・ 消弧剤を用いない場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は45個,その中で18個は予備
とする。
− 低遮断容量サブミニチュアヒューズリンク及び消弧剤を用いない中遮断容量サブミニチュアヒューズ
リンクでは,定格遮断容量だけの遮断試験を行い,定格電流の5倍の電流での遮断試験は行わない。
ヒューズリンク番号28〜33の6個のサブミニチュアヒューズリンクは不要となる(表5A参照)。
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− 同形シリーズの最小定格電流を試験する場合,サブミニチュアヒューズリンクは,表5Bに示す試験
手順に従って試験を行う。この場合に必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は27個であって,そ
の中で6個は予備とする。
− 特殊溶断の溶断試験は,定格電流及び最小溶断電流で行う。そのため,表5Aのヒューズリンク番号
40〜42及び表5Bのヒューズリンク番号22〜24のサブミニチュアヒューズリンクは予備とする。
7.2.2
追加[“7.2.1 d) の結果に基づいて”で始まる段落の“すなわち,”で始まる第2文の後に続けて,
次を追加する。]
ただし,スタンダードシートJ1及びJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクでは,電圧降下の大
きいものから順次一連番号を付ける必要はない。
7.3
試験用ヒューズベース 置換(7.3全て)
ヒューズリンクは,はんだ付けによって,図1に示す標準試験基板に実装しなければならない。
この標準試験基板は,図2の試験基板用標準試験ベースに取り付ける。基板は,JIS C 6484に規定する
ガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板とする。
基板の公称厚は,1.6 mmとする。
銅はく(箔)の公称厚は,定格電流が5 A以下の場合は0.035 mmとし,定格電流が5 Aを超える場合は
0.07 mmでなければならない。
ヒューズベースの金属部分は,銅の含有率が58〜70 %の黄銅製とする。接点部分には,銀めっきをしな
ければならない。
スタンダードシートによる相違は,次による。
a) スタンダードシート1〜4に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合であって,2個以上のサブ
ミニチュアヒューズリンクを直列にして試験する場合,試験するそれぞれのヒューズリンクの間が50
mm以上離れるようにヒューズベースを配置しなければならない。ヒューズベース同士,ヒューズベ
ースと電流計,及びヒューズベースと電源とを接続する導体は,絶縁銅線でなければならない。各銅
線の長さは250 mm,断面積は約1 mm2とする。
b) スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合であって,2個以上
のサブミニチュアヒューズリンクを直列にして試験する場合,試験するそれぞれのヒューズリンクの
間が150 mm以上離れるようにヒューズベースを配置しなければならない。定格電流が10 A以下のサ
ブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,断面積2 mm2の銅線を用いなければならない。定格
電流が10 Aを超えるサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,断面積8 mm2の銅線を用いな
ければならない。各端子線の長さは,約1 mとする。
5
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単位 mm
図1A
図1B
注記 最小ランドスペース(m)(nが2未満の場合)は,検討中。この場合,端子を通す孔の直径の“1.5 mm”を“1.0
mm”にすることが望ましい。
記号の説明
O: 厚さ0.035 mmの銅はく(箔)(定格電流が5 Aを超える場合,0.070 mm)
U: 電圧降下測定用接点
e: 2.54 mm
n: 1,2,3…(ヒューズリンクの長さに依存する。)
n1=1 (定格電流5 A以下のヒューズリンクの場合)
n1=2 (定格電流5 Aを超えるヒューズリンクの場合)
ただし,スタンダードシートJ1及びJ2で規定する定格電流が10 Aを超え,15 A以下のサブミニチュアヒュ
ーズリンクの場合には,銅はく(箔)の幅は7.5 mmとする。
図1−標準試験基板(7.3参照)
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単位 mm
記号の説明
A: 熱伝導の低い材料のベース,厚さ10 mm
B: 10 mm角の黄銅電極
C: はんだ付けしたサブミニチュアヒューズリンク
D: 固定ねじ
E: 端子線を保持する接触ねじ
F: プリント回路基板(図1参照)
G: サブミニチュアヒューズリンクの本体と基板との間のスペース(ピン端子0.5±0.25 mm,リード線端子1 mm)
H: ベースと10 mm角の黄銅電極の平面図
図2−試験基板用標準試験ベース(7.3参照)
8
寸法及び構造
寸法及び構造は,次を除き,JIS C 6575-1の箇条8(寸法及び構造)による。
8.2
構造 追加(本文末尾に,次を追加する。)
サブミニチュアヒューズリンクは,JIS C 6575-1の9.7(ヒューズリンクの温度)による耐熱性をもち,
更にJIS C 60695-11-5(ニードルフレーム試験)による耐火性をもっていなければならない。
試験炎の適用時間は,10秒とする。
ガラス又はセラミックには,適用しない。
適否は,9.7によって判定する。
この規格では,サブミニチュアヒューズリンクの本体が,ガラス,セラミック又は類似の非燃焼性の材
料で作られているという前提に基づいている。他の材料(例えば,スタンダードシート2,3又は4に示し
ている任意採用の絶縁スリーブ又はエポキシコーティング若しくは類似の材料)に関しては,追加の試験
を検討中である。
8.3
端子 追加(“接着強度の試験は,”で始まる段落の後に,次を追加する。)
サブミニチュアヒューズリンクの端子は,サブミニチュアヒューズリンクを破壊しない限り取り外せな
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いほど強固に固定していることが望ましい。
サンプルは,前処理として15〜35 ℃の水中に24時間浸せきしておく。
端子は,通常使用中に発生する可能性のある機械的な力に耐えなければならない。サブミニチュアヒュ
ーズリンクを所定の位置に固定し,通常の周囲温度において,各端子に順次この規格で規定している力を
加える。これらの力は,徐々に加えなければならない。試験サンプルのグループを,当該スタンダートシ
ートに規定する端子試験に均等に振り分けなければならない。
注記 対応国際規格では,曲げ試験に対して,端子の軸方向に力を加える旨を規定しているが,端子
の軸方向への力を加えて行うことはできないことが自明であるため,この規格では,その旨の
規定を削除した。
試験は,JIS C 60068-2-21に従って行う。ただし,試験条件は,次による。
− 引張試験(Ua1)
引張力は,10 Nとする。
− 押込み試験(Ua2)
押込み力は,2 Nとする。
− 曲げ試験(Ub)
必要な場合,曲げ力は5 N,曲げ回数は1回とする。
試験後も,サブミニチュアヒューズリンクの端子は,強固に固定され,電圧降下は,当該スタンダード
シートに規定する最大許容値を超えてはならない。
8.4
端子のアライメント及び形状 置換(8.4全て)
サブミニチュアヒューズリンクの端子は,孔の中心間隔が2.54 mmのグリッドシステムのプリント基板,
又は2.54 mmのグリッドシステムに適合する端子間距離をもつヒューズベースに,容易に装着できるよう
に設計しなければならない。
注記 孔の中心間隔に2.54 mmを用いている場合,回路を開いた状態としては十分な沿面距離又は空
間距離にならないことがあることに注意が必要である(JIS C 6575-4の8.4の注記1参照)。
9
電気的要求事項
電気的要求事項は,次を除き,JIS C 6575-1の箇条9(電気的要求事項)による。
9.1
電圧降下 追加(注記2の前に,次の本文を追加する。)
電圧降下の測定には,高インピーダンスの電圧計を用いることが望ましい。電圧降下は,図1のUで示
した箇所で測定しなければならない。
9.3
遮断容量
9.3.1
試験方法 追加(“ミニチュアヒューズの”で始まる最終段落の後に,次を追加する。)
スタンダードシート1〜4に規定するサブミニチュアヒューズリンクの交流及び直流用標準試験回路を,
図3に示す。
当該スタンダードシートが交流の使用を定めている場合には,回路の力率は,0.95を超えるものとする。
この力率を得るために,回路電流は,インダクタンスを無視できる抵抗器を用いて調整しなければならな
い。
スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクの遮断試験は,図3Aに示す試
験回路を用いて,次の電流について行い,投入角はランダムとする。
− 低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクは,定格遮断容量100 Aとする。
− 中遮断容量サブミニチュアヒューズリンクは,次による。
・ 消弧剤を用いないものは,定格遮断容量(300 A又は500 A)とする。
・ 消弧剤を用いるものは,定格遮断容量(300 A又は500 A)及び定格電流の5倍の電流とする。
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定格遮断容量での試験回路の力率は0.7〜0.8とし,定格遮断容量より小さい固有電流に対しては回路の
インダクタンスを一定に保ち,電流調整は抵抗だけを変化させて行う。
記号の説明
A: 電流チェック用,取外し可能なリンク
C: 投入スイッチ
D: 電源切離し用スイッチ
F: 供試ヒューズ
S: インピーダンスが回路の全インピーダンスの10 %未満の電源
R: 固有電流調整用直列抵抗
図3−低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの遮断容量試験用標準回路(9.3参照)
記号の説明
A 電流チェック用,取外し可能なリンク
C 投入スイッチ
D 電源切離し用サーキットブレーカ
F
供試ヒューズ
S
インピーダンスが回路の全インピーダンスの10 %未満の電源
L
インダクタンス
R 抵抗
図3A−遮断容量試験用標準回路
(スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用)
9.3.2
合格判定基準 追加(注記の前に,次の本文を追加する。)
サブミニチュアヒューズリンクは,JIS C 6575-1に規定する不適合の基準に加え,各試験において,次
のような現象が生じることなく動作しなければならない。
− 接点又は端子との融着
− 試験後の表示判読不能
− 肉眼で見える外表面の孔あき
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次の状態は,不適合とみなさない。
− サブミニチュアヒューズリンクの端子上の黒点
− サブミニチュアヒューズリンクの端子の小さな変形
− サブミニチュアヒューズリンクのひび割れ
9.3.3
絶縁抵抗 追加(本文末尾に,次を追加する。)
スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,遮断試験後及び溶断
試験(9.2参照)後に絶縁抵抗の測定を行う。絶縁抵抗は,500 V絶縁抵抗計で測定し,0.2 MΩ以上でな
ければならない。
9.4
耐久試験
追加
9.4.1
通常の周囲温度における耐久試験
サブミニチュアヒューズリンクの適否は,当該スタンダードシートの規定に従って,9.4.2の試験方法A
又は9.4.3の試験方法Bを行って判定する。
9.4.2
試験方法A
JIS C 6575-1の9.4のa)〜d) による。
9.4.3
試験方法B
試験方法Bは,次による。
a) 当該スタンダードシートに定める直流電流を,100時間サブミニチュアヒューズリンクに通電する。
試験中の電流は,調整値の±1 %とする。次に,定格電流を1時間通電する。
b) 最後に,9.1に従ってサブミニチュアヒューズリンクの電圧降下を再測定する。この測定値は,最大継
続ワット損の計算に用いる。
c) b) で測定した電圧降下の値は,試験前の測定値の10 %を超えて増加してはならない。また,当該ス
タンダードシートに規定する最大許容値を超えてはならない。
d) 試験後において,表示は,判読可能であり,かつ,キャップなどのはんだ接合部などは,目視で確認
できる損傷があってはならない。
注記 色の変化は,無視できる。
9.7
ヒューズリンクの温度 置換(9.7全て)
ヒューズリンクは,次によって試験する場合,端子が試験基板の孔に入るところの温度を測定し,その
温度上昇は,150 K以下でなければならない。また,プラスチック製の本体の温度上昇は,135 Kを超えて
はならない。ただし,ガラス製又はセラミック製の本体の場合は,適用しない。
− 初期電流は,スタンダードシートに規定する値とする。
− 初期電流を15分間通電後,通電電流を15分ごとに定格電流の0.1倍ずつヒューズリンクが溶断する
まで増やす。
− ヒューズリンクの温度は,連続して測定する。
− ヒューズリンクの溶断前30秒間の測定温度は,無視する。
− 温度上昇測定には,測定温度に著しい影響を与えない熱電温度計法又は他の測定方法を用いなければ
ならない。熱電対の素線の断面積は,0.05 mm2(AWG 30)を超えてはならない。
注記 (対応国際規格の注記の内容は,規定であるため,本文に移した。)
スタンダードシートJ1又はJ2に規定するサブミニチュアヒューズリンクは,上記の試験に代えて耐久
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試験の最後の10分間に次の試験を行う。
サブミニチュアヒューズリンク本体の温度上昇を熱電温度計法によって測定する。
温度上昇は,140 K以下でなければならない。ただし,ヒューズリンク本体に次に示す材料を用いる場
合は,本体中央部の温度上昇は,次に規定する値以下でなければならない。
a) 熱硬化性樹脂の場合。
・ フェノール樹脂:120 K
・ エポキシ樹脂:100 K
b) 熱可塑性樹脂の場合。
・ ポリアミド:60 K
・ ポリカーボネート:80 K
・ ポリブチレンテレフタレート:90 K
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−個別の定格電流に対する試験手順
(スタンダードシート1又は2に規定するサブミニチュアヒューズに適用)
項目番号
内容
サブミニチュアヒューズリンク番号
1
4
7
10 13 16 19 22 25 28 31 34 37 40 43 46 49 52 55 58 61 64 E1b)
E4b)
2
5
8
11 14 17 20 23 26 29 32 35 38 41 44 47 50 53 56 59 62 65 E2b)
E5b)
3
6
9
12 15 18 21 24 27 30 33 36 39 42 45 48 51 54 57 60 63 66 E3b)
E6b)
9.7
ヒューズリンクの温度
×
9.4
耐久試験
× ×
9.2.1a)
常温における
時間/電流特性
10IN
×
4.0IN
×
2.75IN
×
2.0IN
×
1.0IN
×
9.3
遮断容量:
定格遮断容量
50 A 〜
×
定格遮断容量
50 A
×
定格の5倍の電流
5IN 〜
×
定格の5倍の電流
5IN
×
定格の10倍の電流
10IN 〜
×
定格の10倍の電流
10IN
×
定格の50倍の電流
50IN 〜
×
定格の50倍の電流
50IN
×
定格の250倍の電流
250IN 〜
×
定格の250倍の電流
250IN
×
9.3.3
絶縁抵抗
× × × ×
× × × ×
× ×
8.3
端子
×
×
8.5a)
はんだ接合部
× ×
×
×
× ×
×
6.2a)
表示の読みやすさ及び消えにくさ
×
×
× ×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
b) 端子試験のための追加サンプル(E1〜E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
12
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−個別の定格電流に対する試験手順
(スタンダードシート3及び4に規定するサブミニチュアヒューズに適用)
項目番号
内容
サブミニチュアヒューズリンク番号
1
4
7
10 13 16 19 22 25 28 31 34 37 40 43 46 49
E1d)
E4d)
2
5
8
11 14 17 20 23 26 29 32 35 38 41 44 47 50
E2d)
E5d)
3
6
9
12 15 18 21 24 27 30 33 36 39 42 45 48 51
E3d)
E6d)
9.7
ヒューズリンクの温度
×
9.4
耐久試験
× ×
9.2.2c)
高温試験a)
×
9.2.1c)
常温における
時間/電流特性
10IN
×
4.0IN
×
2.75IN
×
2.1IN
×
9.3
遮断容量:
定格遮断容量b)
35 A又は10IN
×
定格の5倍の電流
5IN
×
定格の10倍の電流
10IN
×
定格の50倍の電流
50IN
×
定格の250倍の電流
250IN
×
9.3.3
絶縁抵抗
× ×
× ×
×
8.3
端子
×
×
8.5c)
はんだ接合部
× ×
×
×
× ×
×
6.2c)
表示の読みやすさ及び消えにくさ
×
×
× ×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) 関連するスタンダードシートで指示がある場合だけに適用。
b) いずれか大きい方を選択
c) JIS C 6575-1の細分箇条。
d) 端子試験のための追加サンプル(E1〜E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順
(スタンダードシート1及び2に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用)
項目番号
内容
電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号
1-6
7
8
9
10
11
12
13-17 18-22 23-32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
51
52
53
54
55
56
E1b)
E2b)
E3b)
E4b)
E5b)
E6b)
9.7
ヒューズリンクの温度
×
9.4
耐久試験
×
9.2.1a)
時間−電流特性
10IN
×
4IN
×
2.75IN
×
2.0IN
×
1.0IN
×
9.3
定格遮断容量
交流50 A
×
直流50 A
×
9.3.3
絶縁抵抗
×
×
8.3
端子
×
×
8.5a)
はんだ接合部
×
×
×
×
×
×
×
6.2a)
表示の読みやすさ及び消えにくさ
×
×
×
×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
b) 端子試験のための追加サンプル(E1〜E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順
(スタンダードシート3及び4に規定するサブミニチュアヒューズに適用)
項目番号
内容
電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号
1-6
7
8
9
10
11
12
13-17 18-27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
51
E1c)
E2c)
E3c)
E4c)
E5c)
E6c)
9.7
ヒューズリンクの温度
×
9.4
耐久試験
×
9.2.2a)
高温試験b)
×
9.2.1a)
時間−電流特性
10IN
×
4IN
×
2.75IN
×
2.1IN
×
9.3
定格遮断容量
交流
×
9.3.3
絶縁抵抗
×
8.3
端子
×
×
8.5a)
はんだ接合部
×
×
×
×
×
×
6.2a)
表示の読みやすさ及び消えにくさ
×
×
×
×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
b) 関連するスタンダードシートで指示がある場合だけに適用。
c) 端子試験のための追加サンプル(E1〜E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順
(スタンダードシート1〜4に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用)
項目番号
内容
電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号
1-6
7
8
9
10
11
12
13-17 18-22 23-32
33
34
35
36
37
38
9.4
耐久試験
×
9.2.1a)
時間−電流特性 10IN
×
2.0IN又は2.1IN
×
9.3
定格遮断容量
交流
×
直流(適用できる場合)
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5A−試験手順
(スタンダートシートJ1又はJ2のサブミニチュアヒューズリンクに適用)[7.2.1のb) 参照]
項目番号
内容
ヒューズリンク番号
1-6
7
8
9
10-15 16-21 22-27 28-33 34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46-51
9.7
ヒューズリンクの温度
×
9.4
耐久試験
×
9.2.1a)
溶断試験
A種
1.1IN
B種
1.3IN
×
特殊溶断
IN
A種
1.35IN
×
B種
1.6IN
A種,B種 2IN
特殊溶断
最小溶断電流
×
9.3
遮断試験
定格遮断容量
×
5INb)
×
9.3.3
絶縁抵抗
×
×
×
×
8.3
端子
×
8.5a)
はんだ接合部
×
×
×
×
6.2a)
表示の読みやすさ及び消えにく
さ
×
×
×
×
×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
b) 定格電流の5倍の電流での遮断試験は消弧剤を用いた中遮断容量サブミニチュアヒューズだけ実施し,再試
験は認めない。
表5B−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順
(スタンダートシートJ1又はJ2のサブミニチュアヒューズリンクに適用)
項目番号
内容
ヒューズリンク番号
1-6
7
8
9
10-18 19
20
21
22
23
24
25
26
27
9.4
耐久試験
×
9.2.1a)
溶断試験
A種
1.1IN
×
B種
1.3IN
特殊溶断
IN
A種
1.35IN
×
B種
1.6IN
A種,B種
2IN
×
特殊溶断 最小溶断電流
9.3.3
絶縁抵抗
×
×
8.5a)
はんだ接合部
×
×
×
×
6.2a)
表示の読みやすさ及び消えにくさ
×
×
×
×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) JIS C 6575-1の細分箇条。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
10 スタンダードシート
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート1
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
注記 一辺が10 mmの正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。
端子
端子は,次による。
a) 端子の長さlは,リードテーピング包装による。
b) 端子は,1.5 mmの孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm2以上でなければならない。
c) 端子の断面形状は,任意とする。
定格電流a)
定格電圧
V
最大電圧降下
mV
最大継続ワット損
mWb)
2 mA
5 mA
10 mA
16 mA
32 mA
50 mA
63 mA
80 mA
100 mA
125 mA
160 mA
200 mA
250 mA
315 mA
400 mA
500 mA
630 mA
800 mA
1
A
1.25 A
1.6 A
2
A
2.5 A
3.15 A
4
A
5
A
125
6000
3000
2200
1500
1500
1000
1000
1000
1000
1000
1000
700
700
700
400
400
400
400
190
190
190
190
190
190
190
190
14
17
25
27
53
55
70
88
110
138
176
140
193
243
176
220
277
372
209
261
334
418
523
658
836
1045
注a) 表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3に従って,R20シリーズ又は
R40シリーズから選択する。
b) 定格電流を1時間通電後に測定する。
18
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート1
ページ2
表示
サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。
a) 定格電流
b) 定格電圧
c) 製造業者名又は商標
溶断時間−電流特性
溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。
定格電流
IN
2IN
2.75IN
4IN
10IN
2 mA〜5 A
4時間以上
5秒以内
300ミリ秒以内
30ミリ秒以内
4ミリ秒以内
遮断容量
定格遮断容量:50 A。図3に示す遮断容量試験の回路を用い,交流及び直流で試験する。
耐久試験
9.4.3の試験方法Bによる。定格の0.8倍の電流を100時間通電する。
接触部の試験
接触部のリードは,8.3に従って,次の試験を行う。
a) 引張試験
b) 押込み試験
c) 曲げ試験(端子の長さが5 mmを超える場合だけ)
温度上昇試験
9.7による初期電流は,定格電流でなければならない。
使用中の周囲温度の最高限度は,85 ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の0.9倍の電流に減
らすことが望ましい。
19
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート2
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
形状は,次でもよい。
注記 一辺が10 mmの正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。
注a) 1.3 mm以上(125 Vの場合)又は2.5 mm以上(250 Vの場合)
b) 絶縁チューブ(任意)
端子
端子は,次による。
a) 端子は,1.5 mmの孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm2以上でなければならない。
b) 端子の断面形状は,任意とする。
20
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート2
ページ2
定格電流a)
定格電圧
Vc)
最大電圧降下
mV
最大継続ワット損
mWb)
50 mA
63 mA
80 mA
100 mA
125 mA
160 mA
200 mA
250 mA
315 mA
400 mA
500 mA
630 mA
750 mA
800 mA
1
A
1.25 A
1.5 A
1.6 A
2
A
2.5 A
3
A
3.15 A
4
A
5
A
6.3 A
7
A
8
A
10
A
125
又は
250
2250
2230
2200
1750
1500
1500
1500
1000
1000
1000
1000
500
350
275
275
275
275
275
250
250
250
250
225
225
190
180
160
150
123
154
194
193
206
264
330
275
347
440
550
347
300
242
303
378
420
484
550
688
750
866
990
1238
1300
1300
1400
1600
注a) 表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3に従って,R20シリーズ又は
R40シリーズから選択する。
b) 定格電流で1時間通電後に測定する。
c) 製造業者によって指定する定格電圧。
21
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート2
ページ3
表示
サブミニチュアヒューズリンクは,次の表示を行う。
a) 定格電流
b) 製造業者名又は商標
カラーバンドを用いる場合には,“s”及び“d”の値は,0.4
1.0
0
+
mmが望ましい。
溶断時間−電流特性
溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。
定格電流
IN
2IN
2.75IN
4IN
10IN
50 mA〜10 A
4時間以上
5秒以内
300ミリ秒以内
30ミリ秒以内
4ミリ秒以内
遮断容量
定格遮断容量:50 A。図3に示す遮断容量試験の回路を用い,交流及び直流で試験する。
耐久試験
9.4.3の試験方法Bによる。定格の0.8倍の電流を100時間通電する。
接触部の試験
接触部のリードは,8.3に従って,次の試験を行う。
a) 引張試験
b) 曲げ試験(端子の長さが5 mmを超える場合だけ)
温度上昇試験
9.7による初期電流は,定格電流でなければならない。
使用中の周囲温度の最高限度は,85 ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の0.9倍の電流に減
らすことが望ましい。
22
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート3
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
形状は,次でもよい。
注記1 一辺が10 mmの正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。
端子
スタンドオフの形状及び位置は,0.5 mm以上を確保できる場合,任意とみなされている。
23
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート3
ページ2
形状は,次でもよい。
形状は,次でもよい。
注記2 一辺が10 mmの正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。
注a) 絶縁チューブ(任意)
端子
端子は,次による。
a) 端子の長さlは,リードテーピング包装による。
b) 端子は,1.5 mmの孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm2以上でなければならない。
c) 端子の断面形状は,任意とする。
24
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート3
ページ3
定格電流a)
定格電圧
V
最大電圧降下
mV
最大継続ワット損
mWb)
50 mA
63 mA
80 mA
100 mA
125 mA
160 mA
200 mA
250 mA
315 mA
400 mA
500 mA
630 mA
800 mA
1
A
1.25 A
1.6 A
2
A
2.5 A
3.15 A
4
A
5
A
6.3 A
8
A
10
A
250
850
750
650
600
550
500
480
440
400
370
350
320
300
280
280
250
240
200
180
160
150
130
100
85
112
124
137
158
180
210
252
289
331
389
459
529
630
735
919
1050
1260
1313
1488
1680
1969
2000
2000
2000
注a) 表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3に従って,R20シリーズ又は
R40シリーズから選択する。
b) 定格電流の1.5倍の電流を1時間通電後に測定する。
25
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
速動形
低遮断容量
スタンダード
シート3
ページ4
表示
サブミニチュアヒューズリンクは,次の表示を行う。
a) 定格電流
b) 定格電圧
c) 製造業者名又は商標
d) 特性記号F
溶断時間−電流特性
溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。
定格電流
2.1IN
2.75IN
4IN
10IN
50 mA〜5 A
30分以内
10ミリ秒〜3秒
3ミリ秒〜300ミリ秒
20ミリ秒以内
6.3 A〜10 A
30分以内
50ミリ秒〜10秒
5ミリ秒〜400ミリ秒
20ミリ秒以内
遮断容量
定格遮断容量:35 A又は定格電流の10倍の電流のいずれか大きい方の値であって,図3に示す遮断容量試験の
回路を用い,交流で試験する。
耐久試験
9.4.2の試験方法Aに従って,定格電流を100サイクル通電し,その後,引き続き定格の1.5倍の電流を1時間通
電する。
接触部の試験
接触部のリードは,8.3に従って,次の試験を行う。
a) 引張試験
b) 押込み試験
c) 曲げ試験(端子の長さが5 mmを超える場合だけ)
温度上昇試験
9.7による初期電流は,定格電流の1.5倍の電流でなければならない。
使用中の周囲温度の最高限度は,85 ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の0.9倍の電流に減
らすことが望ましい。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
タイムラグ
低遮断容量
スタンダード
シート4
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
形状は,次でもよい。
端子
スタンドオフの形状及び位置は,0.5 mm以上を確保できる場合,任意とみなされている。
27
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
タイムラグ
低遮断容量
スタンダード
シート4
ページ2
形状は,次でもよい。
形状は,次でもよい。
注記 一辺が10 mmの正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。
注a) 絶縁チューブ(任意)
端子
端子は,次による。
a) 端子の長さlは,リードテーピング包装による。
b) 端子は,1.5 mmの孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm2以上でなければならない。
c) 端子の断面形状は,任意とする。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
タイムラグ
低遮断容量
スタンダード
シート4
ページ3
定格電流a)
定格電圧
V
最大電圧降下
mV
最大継続ワット損
mWb)
40 mA
50 mA
63 mA
80 mA
100 mA
125 mA
160 mA
200 mA
250 mA
315 mA
400 mA
500 mA
630 mA
800 mA
1
A
1.25 A
1.6 A
2
A
2.5 A
3.15 A
4
A
5
A
6.3 A
8
A
10
A
250
600
550
480
400
350
300
280
260
240
220
200
190
180
160
140
130
120
100
100
100
100
100
100
80
75
150
155
160
165
170
180
190
200
220
250
280
310
360
430
500
600
730
870
1000
1200
1400
1500
1650
1800
2000
注a) 表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3に従って,R20シリーズ又は
R40シリーズから選択する。
b) 定格電流の1.5倍の電流で1時間通電後に測定する。
29
C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
サブミニチュアヒューズリンク
タイムラグ
低遮断容量
スタンダード
シート4
ページ4
表示
サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示をする。
a) 定格電流
b) 定格電圧
c) 製造業者名又は商標
d) 特性記号 T
溶断時間−電流特性
溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。
定格電流
2.1IN
2.75IN
4IN
10IN
40 mA〜6.3 A
2分以内
400ミリ秒〜10秒
150ミリ秒〜3秒
20ミリ秒〜150ミリ秒
6.3 Aを超え10 A以下
5分以内
1秒〜20秒
150ミリ秒〜3秒
20ミリ秒〜150ミリ秒
70±2 ℃での試験
サブミニチュアヒューズリンクは,定格電流を1時間通電したとき,動作してはならない。
遮断容量
定格遮断容量:35 A又は定格の10倍の電流のいずれか大きい方の値であって,図3に示す遮断容量試験の回路
を用い,交流で試験する。
耐久試験
9.4.2の試験方法Aに従って,定格電流を100サイクル通電し,その後,引き続き定格の1.5倍の電流を1時間通
電する。
接触部の試験
接触部のリードは,8.3に従って,次の試験を行う。
a) 引張試験
b) 押込み試験
c) 曲げ試験(端子の長さが5 mmを超える場合だけ)
温度上昇試験
9.7による初期電流は,定格電流の1.5倍の電流でなければならない。
使用中の周囲温度の最高限度は,85 ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の0.9倍の電流に減
らすことが望ましい。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
溶断種別
A種,B種
特殊溶断
サブミニチュアヒューズリンク
低遮断容量,中遮断容量
スタンダードシート
J1
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
注記 サブミニチュアヒューズリンクの形状について,端子を除き,一辺10 mmの立方体に納まるものの場合は,
任意とする。端子の長さlは,テーピングに適する寸法であればよい。
端子
端子は,次による。
a) 端子は,直径1.5 mmの孔を通過しなければならない。
b) 端子の断面形状は,任意である。ただし,断面積は0.150 mm2以上とする。
定格
定格は,次による。
− 定格電圧:交流100 V,125 V,250 V又は300 V
− 定格電流:15 A以下
− 定格遮断容量:100 A,300 A又は500 Aのいずれかの値
電圧降下値:検討中
表示
サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。
a) 定格電圧
b) 定格電流
c) 溶断種別記号
− A種のものは○
A又は“A”
− B種のものは○
B又は“B”
− 特殊溶断のものは“J”又は“J1”
d) 製造業者名(略称)又は商標
なお,定格遮断容量は,包装容器に表示する。溶断種別が特殊溶断の場合には,最小溶断電流及び溶断時間を併
せて包装容器に表示する。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
溶断種別
A種,B種
特殊溶断
サブミニチュアヒューズリンク
低遮断容量,中遮断容量
スタンダードシート
J1
ページ2
溶断特性
溶断時間は,次の表に規定する時間とする。
種別
IN
1.1IN
1.3IN
1.35IN
1.6IN
2IN
最小溶断電流
A種
−
60分以上
−
60分以内
−
2分以内
−
B種
−
−
60分以上
−
60分以内
2分以内
−
特殊溶断
60分以上
−
−
−
−
−
指定溶断時間以内
注記1 試験は,交流で行ってもよい。
注記2 特殊溶断のものの最小溶断電流及び溶断時間は,製造業者によって指定する。
遮断試験
試験は,図3Aに示す試験回路を用いて,ランダム投入で実施する。
耐久試験
JIS C 6575-1の9.4 a) に従い,A種のものは定格電流の0.8倍の電流以上,B種のものは0.9倍の電流以上,及び
特殊溶断のものは0.7倍の電流以上の製造業者が指定する電流を100サイクル通電し,その後,9.4 b) に従って,A
種のものは定格電流の1.1倍の電流,B種のものは1.3倍の電流,及び特殊溶断のものは定格電流を超える製造業者
の指定する電流を60分間通電する。さらに,B種のものは定格電流の1.15倍の電流を60分間通電する。
形式試験
個別の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,表5Aに従って試験を行う。
同形シリーズを試験する場合,最大の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,表5Aに従って試験を行い,
最小の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,表5Bに従って試験を行う。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
溶断種別
A種,B種
特殊溶断
サブミニチュアヒューズリンク
低遮断容量,中遮断容量
スタンダードシート
J2
ページ1
形状
単位 mm
形状は,次による。
注記 サブミニチュアヒューズリンクの形状について,リード線を除き,一辺が10 mmの立方体に納まるものの
場合は,任意とする。また,リード線の取付け方向は,任意とする。
注a) 絶縁チューブ(任意)
端子
端子は,次による。
a) 端子は,直径1.5 mmの孔を通過しなければならない。
b) 端子の断面形状は,任意である。ただし,断面積が0.150 mm2以上とする。
定格
定格は,次による。
− 定格電圧:交流100 V,125 V,250 V又は300 V
− 定格電流:15 A以下
− 定格遮断容量:100 A,300 A又は500 Aのいずれかの値
電圧降下値:検討中
表示
サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。
a) 定格電圧
b) 定格電流
c) 溶断種別記号
− A種のものは○
A又は“A”
− B種のものは○
B又は“B”
− 特殊溶断のものは“J”又は“J2”
d) 製造業者名(略称)又は商標
なお,定格遮断容量は,包装容器に表示する。溶断種別が特殊溶断の場合には,最小溶断電流及び溶断時間を併
せて包装容器に表示する。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
溶断種別
A種,B種
特殊溶断
サブミニチュアヒューズリンク
低遮断容量,中遮断容量
スタンダードシート
J2
ページ2
溶断特性:溶断時間は,次の表に規定する時間とする。
種別
IN
1.1IN
1.3IN
1.35IN
1.6IN
2IN
最小溶断電流
A種
−
60分以上
−
60分以内
−
2分以内
−
B種
−
−
60分以上
−
60分以内
2分以内
−
特殊溶断
60分以上
−
−
−
−
−
指定溶断時間以内
注記1 試験は,交流で行ってもよい。
注記2 特殊溶断のものの最小溶断電流及び溶断時間は,製造業者によって指定する。
遮断容量
試験は,図3Aに示す試験回路を用いて,ランダム投入で実施する。
耐久試験
JIS C 6575-1の9.4 a) に従い,A種のものは定格電流の0.8倍の電流以上,B種のものは0.9倍の電流以上,及び
特殊溶断のものは0.7倍の電流以上の製造業者が指定する電流を100サイクル通電し,その後,9.4 b) に従って,A
種のものは定格電流の1.1倍の電流,B種のものは1.3倍の電流,及び特殊溶断のものは定格電流を超える製造業者
が指定する電流を60分間通電する。さらに,B種のものは定格電流の1.15倍の電流を60分間通電する。
形式試験
個別の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,表5Aに従って試験を行う。
同形シリーズを試験する場合,最大の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,表5Aに従って試験を行い,
最小の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,表5Bに従って試験を行う。
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C 6575-3:2016
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附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 6575-3:2016 ミニチュアヒューズ−第3部:サブミニチュアヒューズ
リンク
IEC 60127-3:2015,Miniature fuses−Part 3: Sub-miniature fuse-links
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.1
ヒューズリンクの表示
事項を規定
6.1
JISとほぼ同じ
追加
電気用品の技術上の基準を定める省
令の解釈(20130605商局第3号)(以
下,技術基準の解釈という。)の別表
第三に規定する包装ヒューズの一部
を追加規定するために,スタンダー
ドシートJ1及びJ2を追加したが,ス
タンダードシートJ1又はJ2に規定す
るヒューズリンクの本体の表示は,
定格電流にその単位(mA又はA)を
併せて表示しなければならない規
定,及び定格電流の表示位置を定格
電圧の表示の直前に表示しなくても
よい旨の規定を追加した。
我が国において広く用いられてお
り,技術基準の解釈の別表第三で
認められている表示を追加。対応
国際規格への提案を検討する。
溶断種別記号を表示しなければなら
ない旨の規定を追加した。
溶断種別記号は溶断特性記号に相
当するもので,この記号によって
溶断種別を認識し,対応国際規格
に規定するヒューズリンクとスタ
ンダードシートJ1又はJ2で規定す
るヒューズリンクとを識別するこ
とが可能になる。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.3
ヒューズリンクの包装
容器の表示事項を規定
6.3
JISとほぼ同じ
追加
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
するヒューズリンクは,定格遮断容
量を包装容器に表示し,そのヒュー
ズリンクが特殊溶断の場合は,更に
最小溶断電流及び溶断時間を表示す
る旨の規定を追加した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクは,技術基
準の解釈の別表第三に基づくヒュ
ーズリンクであり,その技術基準
の解釈の別表第三に要求される内
容を追加した。
7.2.1
試験に必要なサンプル
数及び試験手順を規定
7.2.1
JISとほぼ同じ
追加
表1〜表4に基づき試験する場合,端
子試験のためのサンプルが6個必要
である旨の記述を追加した。
必要なサンプル数に端子試験のサ
ンプルが含まれていないので,誤
解を生じるおそれがあるための追
加である。
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
するヒューズリンクに適用する規定
を追加した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクは,技術基
準の解釈の別表第三によるもの
で,対応国際規格に規定するヒュ
ーズリンクとは,溶断特性,遮断
定格等が異なるため。
7.2.2
試験に必要なサンプル
への番号の付与を規定
7.2.2
JISとほぼ同じ
追加
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
するヒューズリンクに対しては,電
圧降下の大きいものから順次一連番
号を付与する規定を除外した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクに対して
は,電圧降下の規定がないことに
よる。
7.3
試験用ヒューズベース
を規定
7.3
JISとほぼ同じ
追加
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
するヒューズリンクに適用する規定
を追加した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクに対する接
続導体に関しては,技術基準の解
釈の別表第三の内容を追加。
10 Aを超え15 A以下のヒューズリ
ンクの,銅はくの厚さの要求を追
加した。これも技術基準の解釈の
別表第三の内容である。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
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C 6575-3:2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
8.2
ヒューズリンクの構造
を規定
8.2
JISとほぼ同じ
追加
耐熱性及び耐火性をもつよう要求し
ており,その適否は対応国際規格で
は“検査”によって判定するとなっ
ているが,この規格では9.7によって
判定するとした。
判定方法をより具体的に規定し
た。国際規格への提案を検討する。
8.4
端子のアライメント及
び形状を規定
8.4
JISとほぼ同じ
変更
対応国際規格では注記に,世界のあ
る地域では,プリント回路の孔の中
心間隔に2.54 mmを用いていること
に注意が必要である旨述べている
が,JISの注記では孔の中心間隔が
2.54 mmの場合に回路を開いた状態
として十分な絶縁距離にならないこ
とがあるので注意が必要である旨記
載した。
スタンダードシート1にはピン端
子間隔2.54 mmのヒューズリンク
を規定しながら,孔の中心間隔が
2.54 mmであることに注意が必要
であるとの記述は不明確なので,
意味を補足して翻訳した。
9.3.1
遮断試験回路及び試験
方法を規定
9.3.1
JISとほぼ同じ
追加
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
するヒューズリンクの遮断試験方法
に対する規定を追加した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクの定格遮断
容量での試験条件は,技術基準の
解釈の別表第三の内容を適用。定
格遮断容量より小さい固有電流の
調整方法は,IEC 60127-2に規定さ
れる方法と整合させた。
9.3.3
遮断試験及び溶断試験
後の絶縁抵抗値を規定
9.3.3
JISとほぼ同じ
追加
スタンダードシートJ1又はJ2に規定
されるヒューズリンクは,遮断試験
及び溶断試験後の絶縁抵抗値が0.2
MΩ以上でなければならない旨の規
定を追加した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定されるヒューズリンクに対して
は,技術基準の解釈の別表第三の
内容を適用した。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
9.7
ヒューズリンクの温度
上昇値を規定
9.7
JISとほぼ同じ
追加
対応国際規格では,通電電流を15分
ごとに増加していく温度試験を行う
こととなっているが,スタンダード
シートJ1又はJ2に規定するヒューズ
リンクには一定電流を通電して測定
する方法を採用し,また温度限度も
技術基準の解釈の別表第三の限度値
を採用した。
スタンダードシートJ1又はJ2に規
定するヒューズリンクは,技術基
準の解釈の別表第三の内容を適
用。
表1〜表
4
ヒューズリンクの試験
手順を規定
表1〜表
4
JISとほぼ同じ
変更
絶縁抵抗の箇条番号を“9.3.3”とし,
a)を削除した。
9.3.3は,本文にデビエーションが
追加されており,注a)の記述と異な
るため。
10
スタンダードシート4
10
JISとほぼ同じ
追加
スタンドオフの形状及び位置につい
ての記載を追加した。
図だけでは,許容されるスタンド
オフについて誤解が生じるおそれ
があるため,その説明を追加した。
スタンダードシート3に記載あり。
スタンダードシートJ1
及びJ2
−
追加
スタンダードシートJ1及びJ2を追加
した。
我が国特有のヒューズリンクに対
する技術基準の解釈の別表第三の
内容に加え,対応国際規格に合わ
せJIS C 6575-1の9.4 a) に従う耐
久試験を追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60127-3:2015,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加………………国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更………………国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
7
C
6
5
7
5
-3
:
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。