JISC6188:1999 測定用光減衰器試験方法

C 6188 : 1999

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1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 定義 ······························································································································ 1

4. 標準試験条件 ·················································································································· 1

5. 試験の概要 ····················································································································· 2

5.1 試験の種類 ··················································································································· 2

5.2 試験結果の算出方法 ······································································································· 2

5.3 誤差の対数表示 ············································································································· 2

6. 基準光減衰器を用いる減衰量確度試験 ················································································· 3

6.1 減衰量確度試験の概要····································································································· 3

6.2 固有誤差試験 ················································································································ 3

6.3 個別誤差試験 ················································································································ 4

6.3.1 波長依存特性 ·············································································································· 4

6.3.2 偏光依存特性 ·············································································································· 5

6.3.3 温度依存特性 ·············································································································· 6

6.3.4 直線性 ······················································································································· 7

7. 光パワーメータを用いる減衰量確度試験 ·············································································· 8

7.1 減衰量確度試験の概要····································································································· 8

7.2 固有誤差試験 ················································································································ 8

7.3 個別誤差試験 ················································································································ 9

7.3.1 波長依存特性 ·············································································································· 9

7.3.2 偏光依存特性 ·············································································································· 9

7.3.3 温度依存特性 ············································································································· 10

7.3.4 直線性 ······················································································································ 11

8. その他の性能試験 ··········································································································· 12

8.1 残留減衰量試験 ············································································································ 12

8.2 アイソレーション試験···································································································· 13

8.3 反射減衰量試験 ············································································································ 13

9. 強度試験 ······················································································································· 15

9.1 振動試験 ····················································································································· 15

9.2 衝撃試験 ····················································································································· 15

9.3 過負荷試験 ·················································································································· 15

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日本工業規格 JIS

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測定用光減衰器試験方法

Test methods of measuring optical attenuators

1. 適用範囲この規格は，光ファイバを用いた光伝送系の測定に使用する測定用光減衰器の試験方法に

ついて規定する。

2. 引用規格次に掲げる規格は、この規格に引用されることによって、この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は、その最新版を適用する。

JIS C 1002 電子測定器用語

JIS C 1003 : 1976 ディジタル電圧計試験方法

JIS C 6182 レーザビーム用光パワーメータ試験方法

JIS C 6183 光スペクトラムアナライザ試験方法

JIS C 6832 石英系マルチモード光ファイバ素線

JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線

JIS Z 8103 計測用語

JIS Z 8120 光学用語

3. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，JIS C 1002，JIS Z 8103及びJIS Z 8120の規定によるほ

か，次による。

a) 測定用光減衰器 (measuring optical attenuator) 一対の光ファイバ入力端子と出力端子をもち，光減

衰量確度が明記された光測定器。減衰量値が可変の可変光減衰器と，固定の固定光減衰器の2種類が

ある。

b) 光パワーメータ (optical power meter) 光ファイバ入力端子をもち，連続光及び／又はパルス光の光

パワーを定量的に計測できる機器。光パワーを電気的出力に変換する検出器と指示計から構成される。

c) 基準光減衰器 (reference optical attenuator) 光減衰量が誤差評価され，かつ，減衰量値が可変の光

減衰器。

d) 励振条件 (excitation condition) 被試験器に入射する光の励振モード分布を規定する条件。

4. 標準試験条件測定用光減衰器（以下，対象とする測定用光減衰器を被試験器という。）を試験すると

き標準となる条件は，規定がない限り次による。

a) 温度 23℃±2℃

b) 相対湿度 (65±10) %

c) 光ファイバ規定がない場合は，被試験器の種別に応じて表1に示す光ファイバを用いる。

なお，表中の記号は，JIS C 6832又はJIS C 6835の規定による。

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光ファイバ長は，クラッドモードが十分に除去でき，かつ，測定用の光ファイバ自体の損失が，被試験

器の損失に対し無視できる長さのものを使用する。

標準試験条件で試験することが困難な場合は，実施した条件及びその影響について試験結果に記録する。

表1 試験時に用いる光ファイバ

被試験器種別

試験時に用いる光ファイバ

適用光ファイバの種別

光源波長 (nm)

マルチモード光ファイバ

850

SGI-50/125

1310

シングルモード光ファイバ

1310

SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,
SSMA-10/125

1550

SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,
SSMA-10/125, SSMB-8/125

5. 試験の概要

5.1

試験の種類被試験器の性能は，減衰量確度試験，残留減衰量試験，アイソレーション試験，反射

減衰量試験の各試験を行って評価する。ただし，これらの各試験は評価の次元が異なるので，これらによ

って得られた誤差は各項目の評価値とし，それを足し合わせて総合評価とすることはしない。また，被試

験器の形式には，固定光減衰器と可変光減衰器とがある。ただし，固定光減衰器は，残留減衰量試験及び

アイソレーション試験は行わない。

5.2

試験結果の算出方法被試験器の測定確度は，減衰量確度について評価する。評価方法は，まず，

固有誤差試験で標準試験条件での固有誤差を求め，次に各個別誤差試験で被試験器の部分誤差を求める。

各誤差はパーセント (%) で求め，動作誤差の限界を式(1)及び式(2)で算出し，被試験器の確度とする。

なお，式(1)及び式(2)は，JIS C 6182及びJIS C 6183に規定する評価式である。

∑

＝

····················································· (1)

−

∑

＝

······················································ (2)

ここに，

εtu：動作誤差の上限

εtl：動作誤差の下限

ε：部分誤差の上限，下限の平均値

tli

tuiε

ε＋

εcx：被試験器の固有誤差（標準試験条件での被試験器の確度）

2ti

ε：部分誤差の分散(

)

tli

tuiε

ε−

εtui：部分誤差の上限

εt1i：部分誤差の下限

i：各部分誤差に対する添字

p：部分誤差の数

εte：測定値のばらつきの標準偏差

5.3 誤差の対数表示パーセント (%) 表示した誤差は(3)で算出し，対数 (dB) 表示で表すことができる。

100

log

lin

＋

＝

··································································· (3)

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ここに，

εdB：誤差（対数表示）

ε1in：誤差（パーセント表示）

6. 基準光減衰器を用いる減衰量確度試験

6.1

減衰量確度試験の概要基準光減衰器を用いる試験方法では，減衰量確度を決める誤差要因は被試

験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性，偏光依存特性，温度依存特性及び直線性による部

分誤差からなり，確度の算出方法は5.2による。

6.2

固有誤差試験図1に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験

条件で行う。

備考1. 光源，励振器，基準光減衰器，光パワーメータ，及び被試験器の接続形態をレセプタクル形

で例示してあるが，測定に支障がない限り，プラグ形，ピグテイル形の接続形態でもよい。

2. 試験の準備として，電源をあらかじめ投入しておき，測定系を十分長い時間測定環境下に保

つことが必要である。また，測定の前後を通じて被試験器に過度の通風，日光その他の熱源

からの直接の熱放射など，測定に影響を及ぼすような要因が入らないようにする。

なお，入出射光部は，ごみなどのないよう十分に清潔にしておく。測定中は光ファイバをで

きるだけ動かさない。

図1 可変光減衰器の固有誤差試験の試験系

図2a)，b)に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験条件で行う。

図2a) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

図2b) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源被試験器に指定の中心波長をもち，かつ，被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定し

て得られる光源。

2) 励振器定常モードで励振するための励振器。NA（開口数）が0.20でコア径が50μmの石英系グ

レーデッドインデックス形マルチモードファイバの場合では，基準光減衰器への入射ビームスポッ

トの半値半幅が26μm，入射光分布での最大値の50%となる角度θの正弦の値が0.11となる光パワー

分布を定常モードとする。ただし，石英系シングルモードファイバの場合では，励振器は不要であ

る。

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3) 光パワーメータ測定時間内で安定度が保証された光パワーメータ。

b) 可変光減衰器の試験試験は，次の手順で行う。

1) 図1の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Y0 (dB) とする。また，被試験器の減衰量設定値

をX＝0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指示値をP0 (dBm) とする。

2) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定する。このときの光パワーメータの指示値がP0 (dBm)

になるように基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Ya (dB) に調整する。減衰量確度χは，次の式によ

って算出する。

χ＝a−|Ya−Y0| ··········································································· (4)

3) 測定を10回以上（m回）繰り返す。

4) 減衰量について被試験器の固有誤差εcx (%) は，次の式によって算出する。

＝

········································································· (5)

εsx：基準光減衰器の固有誤差 (%)

εct：固有誤差試験時の測定値のばらつきの標準偏差 (%)

ただし，

(

)

100

−

′

−

′

∑

ct＝

························································ (6)

ここに，

m：測定回数

χi：測定値

χi′＝

−

x′： m回の繰り返し測定によって得られるχi′の平均値

∑

′

＝

ここで，基準光減衰器は標準試験状態において十分に校正され，部分誤差は無視できるとした。

c) 固定減衰器の試験試験は，次の手順で行う。

1) 図2a)の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Yo (dB) に設定する。このときの光パワーメー

タの指示値をP0 (dBm) とする。

2) 図2b)の試験系で被試験器を接続し，光パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰

器の減衰量設定値をY＝Ya (dB) に調整する。被試験器に表示されている公称減衰量をb (dB) とす

る。減衰量確度χは，次の式によって算出する。

χ＝b−|Ya−Yo| ·········································································· (7)

3) 測定を10回以上（m回）繰り返す。

4) 固有誤差εcxは，6.2のb)の4)によって算出する。

6.3

個別誤差試験

6.3.1

波長依存特性波長依存特性の試験系は，図1による。

備考図1の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので，図1の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

a) 装置装置は，次による。

1) 光源スペクトル半値幅が被試験器に定められている値よりも十分に狭く，波長安定度が十分高く，

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かつ，被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定して得られる可変波長光源（複数台になって

もよい）。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ試験波長範囲で波長依存特性がない，又は波長依存特性が既知の光パワーメータ。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し，（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま試験

系に挿入する。）基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指

示値をP0 (dBm) とする。

2) 被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源，又は複数の光源によって可変し，そのときの光

パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰

器の減衰量設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。試験は使用波長の上限及び下限

を含めた5点以上の波長で行う。

3) 誤差の上限及び下限は，式(8)及び式(9)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

····································································· (8)

100

′

−

′

tli＝

······································································· (9)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

Y0′＝

10Y

−

6.3.2

偏光依存特性偏光依存特性の試験系は，図3による。

備考図3の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので，図3の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

図3 偏光依存特性の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 偏光コントローラ偏光子及び波長板を備えていて，被試験器への入力光の偏波面を全偏光状態に

制御できるファイバ出力をもつもの。

4) 光パワーメータ偏光依存特性のない光検出器をもつもの。

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b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考1. この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

2. 偏波消光比の大きい光源を使用する場合は，事前に偏光コントローラを光パワーメータに接

続し，偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま

しい。

1) 試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま試験系

に挿入する。），基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指示

値をP0 (dBm) とする。

2) 偏光コントローラの1/4波長板及び1/2波長板を調整し，被試験器を通過した出射光の光パワーメ

ータ指示値をP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰器の減衰量

設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(10)及び式(11)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (10)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (11)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εt1i：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

Y0′＝

10Y

−

6.3.3

温度依存特性図4に温度依存特性の試験系を示す。

備考図4の試験系では被試験器が可変減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試験

ができるので，図4の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

図4 温度依存特性試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 恒温槽被試験器に影響を与えない温度分布の小さいもの。

4) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま試験

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系に挿入する。），基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指

示値をP0 (dBm) とする。

2) 恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲に下限及び上限を含めた5点以上の試験温度Ta

に変化させ，光パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのと

きの基準光減衰器の減衰量設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(12)及び式(13)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (12)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (13)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

Y0′＝

10Y

−

6.3.4

直線性図5に直線性の試験系を示す。

備考固定光減衰器についてはこの試験項目は適用しない。

図5 直線性試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定をX＝0 (dB) に設定する。基準光減衰器の減衰量設定値をY＝Y0 (dB) に設定

したときの光パワーメータの指示値をP0 (dBm) とする。

2) 被試験器の減衰量Xを可変範囲の下限及び上限を含めた5点以上変化させ，光パワーメータの指示

値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器の減衰量Yを調整する。そのとき，X＋Yの値の最大値R1

(dB) と最小値R2 (dB) を記録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(14)及び式(15)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (14)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (15)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

R2′＝

10R

−

Y0′＝

10Y

−

7. 光パワーメータを用いる減衰量確度試験

7.1

減衰量確度試験の概要光パワーメータを用いる試験方法での，減衰量確度を決める誤差要因は被

試験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性，偏光依存特性，温度依存特性及び直線性による

部分誤差からなり，確度の算出方法は5.2による。

7.2

固有誤差試験図6に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は，標準試

験条件で行う。

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

図6 可変光減衰器の固有誤差試験の試験系

図7a)，b)に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は，標準試験条件で行う。

図7a) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

図7b) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ国の標準器によって校正されたもの，又は校正業務を行う公的機関で校正された

もの。

b) 可変光減衰器の試験試験は，次の手順で行う。

1) 図6の試験系で被試験器の減衰量設定値をX＝0 (dB) とする。そのときの光パワーメータの指示値

をP0 (dBm) とする。

2) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) にしたときの光パワーメータの指示値をPa (dBm) とする。減

衰量確度χは，次の式によって算出する。

χ＝a−|P0−Pa| ········································································· (16)

3) 測定を10回以上（m回）繰り返す。

4) 減衰量について被試験器の固有誤差εcxは，6.2のb)の4)によって算出する。

c) 固定光減衰器の試験試験は，次の手順で行う。

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

1) 図7a)の試験系で励振器からの出射光を光パワーメータで測定し，指示値をP0 (dBm) とする。

2) 図7b)の試験系で被試験器からの出射光を光パワーメータで測定し，指示値をPa (dBm) とする。

被試験器に表示されている公称減衰量をb (dB) とする。減衰量確度χは，次の式によって算出す

る。

χ＝b−|Pa−P0| ········································································· (17)

3) 測定を10回以上（m回）繰り返す。

4) 固有誤差εcxは，6.2のb)の4)によって算出する。

7.3

個別誤差試験

7.3.1

波長依存特性波長依存特性の試験系は，図6による。

備考図6の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので，図6の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.3.1のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ 6.3.1のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま試験

系に挿入する。），このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。

2) 被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源，又は複数の光源によって可変し，出射光を光パ

ワーメータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) と最小値R2 (dBm)

を記録する。試験は使用波長の上限及び下限を含めた5点以上の波長で行う。

3) 誤差の上限及び下限は，式(18)及び式(19)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (18)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (19)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

P0′＝

10P

−

7.3.2

偏光依存特性偏光依存特性の試験系は，図8による。

備考図8の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので，図8の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図8 偏光依存特性の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 偏光コントローラ 6.3.2のa)の3)による。

4) 光パワーメータ 6.3.2のa)の4)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考1. この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

2. 偏波消光比の大きい光源を使用する場合は，事前に偏光コントローラを光パワーメータに接

続し，偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま

しい。

1) 試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま試験系

に挿入する。），このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。

2) 偏光コントローラの1/4波長板及び1/2波長板を調整し，被試験器を通過した出射光を光パワーメ

ータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) 及び最小値R2 (dBm) を記

録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(20)及び式(21)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (20)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (21)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

P0′＝

10P

−

7.3.3

温度依存特性図9に温度依存特性の試験系を示す。

備考図9の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが，固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので，図9の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図9 温度依存特性試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 恒温槽 6.3.3のa)の3)による。

4) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定値をX＝a (dB) に設定し（被試験器が固定光減衰器の場合は，そのまま），試

験系に挿入する。このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。

2) 恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲の下限及び上限を含めた5点以上の試験温度に変

化させ，被試験器を通過した出射光を光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) 及び最小値R2

(dBm) を記録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(22)及び式(23)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (22)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (23)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

P0′＝

10P

−

7.3.4

直線性図10に直線性の試験系を示す。

備考この試験項目は，固定光減衰器に対しては適用しない。

図10 直線性試験の試験系

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

1) 被試験器の減衰量設定値をX＝0 (dB) に設定し，そのときの光パワーメータの指示値P＝P0 (dBm)

を測定する。

2) 被試験減衰器の減衰量Xを可変範囲の下限及び上限を含めた5点以上変化させ，被試験器を通過し

た出射光パワーP (dBm) を光パワーメータで測定する。そのときのX＋Pの値の最大値R1 (dBm) と

最小値R2 (dBm) を記録する。

3) 誤差の上限及び下限は，式(24)及び式(25)によって算出する。

100

′

−

′

tui＝

···································································· (24)

100

′

−

′

tli＝

····································································· (25)

ここに，

εtui：誤差の上限 (%)

εtli：誤差の下限 (%)

R1′＝

10R

−

R2′＝

10R

−

P0′＝

10P

−

8. その他の性能試験

8.1

残留減衰量試験この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を0dBとしたときの損

失試験である。

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

1) 図11のように測定系を構成し，基準光パワーP0 (dBm) を測定する。

図11 基準光パワーの測定系

備考この測定の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

2) 図12に示したように，減衰量設定値を0dBとした状態の被試験器を挿入し，光パワーP1 (dBm) を

測定する。

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図12 残留減衰量の測定

3) 残留減衰量は，次の式によって算出する。

IL＝P0−P1 (dB) ······································································ (26)

ここに， IL：残留減衰量

8.2

アイソレーション試験この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を最大としたと

きの損失試験である。

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)によるもののほか，そのダイナミックレンジが被試験器のアイソレ

ーションに対し，十分に余裕があるもの。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

1) 図13のように，測定系を構成する。被試験器の減衰量設定値を0dBにしたときの光パワーメータ

の指示値をP0 (dBm) とする。

図13 アイソレーションの測定

2) 被試験器の減衰量設定値を最大にしたときの光パワーメータの指示値P∞ (dBm) とする。

3) アイソレーションは，次の式によって算出する。

I＝P0−P∞ (dB) ······································································ (27)

ここに， I：アイソレーション

8.3

反射減衰量試験この試験は，測定用可変光減衰器及び固定光減衰器に対して行う。

a) 装置装置は，次による。

1) 光源 6.2のa)の1)による。

2) 励振器 6.2のa)の2)による。

3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。

4) 光方向性結合器入射端から共通端及び共通端から出射端へは信号を伝達し，入射端と出射端との

間は信号を分離する機能をもち，入射端と出射端とのアイソレーションが被試験器の反射減衰量に

対し，十分に余裕があるものとする。被試験器の反射減衰量に対して十分な余裕がない場合は，光

方向性結合器のアイソレーションを試験成績書に明示する。

b) 試験試験は，次の手順で行う。

1) 図14のように測定系を構成し，全反射光パワーP0 (dBm) を測定する。

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図14 全反射光パワーの測定系

備考1. 方向性結合器で測定系に不要な端子がある場合はすべて無反射終端にし，その他の接続面は

無反射とする。

2. 光方向性結合器の共通端には長さが1m以下で，他端は金蒸着膜を施すなどの方法によって，

全反射終端とした光ファイバを接続する。

3. 図14で，光方向性結合器の接続形態をレセプタクル形で例示してあるが，測定に支障がない

限り，プラグ形，ピグテイル形の接続形態でもよい。

4. その他の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

2) 図15の測定系によって，被試験器挿入後の反射光パワーP1 (dBm) を測定する。

図15 反射光パワーの測定

備考1. 方向性結合器で測定系に不要な端子がある場合はすべて無反射終端にし，その他の接続面は

無反射とする。被試験器の試験用光入力に用いる入出力端以外の端子は光ファイバを接続し，

その出力端を無反射終端にする。

2. 反射光パワーをP1 (dBm) とする。ただし，被試験器が測定用可変光減衰器の場合は，被試験

器の光減衰量設定値を変化させ下限及び上限を含めた5点以上に設定したときの反射光パワ

ーの最大値をP1 (dBm) とする。

3. 図15で，光方向性結合器の接続形態をレセプタクル形で例示してあるが，測定に支障がない

限り，プラグ形，ピグテイル形の接続形態でもよい。また，便宜上被試験器は可変光減衰器

で例示しているが固定光減衰器も含むこととする。

4. その他の注意事項は，6.2の備考1.及び備考2.による。

3) 反射減衰量は，次の式によって算出する。

RL＝P0−P1 (dB) ····································································· (28)

C 6188 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに， RL：反射減衰量

9. 強度試験機械的な振動及び衝撃を与えて，被試験器の損傷及び特性の変化の有無を試験する。

なお，被試験器が機械的に弱い構造となっていて，強度試験によって回復不可能となるおそれがある場

合には，この試験を省いてもよい。

9.1

振動試験振動試験は，JIS C 1003 (1976) の8.3（振動）によって行う。

9.2

衝撃試験衝撃試験は，JIS C 1003 (1976) の8.4（衝撃）によって行う。

9.3

過負荷試験被試験器に指定された最大許容レベルの光パワーを10分間連続入射した後，損傷の有

無及び固有誤差を調べる。この試験に使用する光源は，被試験器に規定された波長範囲のものとする。ま

た，最大許容レベルの光出力が得られない場合は，試験条件を明記する。

光測定器標準化委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

佐藤宗純

工業技術院電子技術総合研究所

秋本義明

工業技術院計量研究所

今村元規

株式会社アドバンテスト

大久保祐志

株式会社東芝

金子進一

三菱電機株式会社

桑田裕二

住友電気工業株式会社

佐藤直人

安藤電気株式会社

高田篤

日本電信電話株式会社

竹尾佳己

アンリツ株式会社

立川義彦

横河電機株式会社

波平宜敬

株式会社KDD研究所

橋爪邦隆

工業技術院標準部

長谷見明男

古河電気工業株式会社

原田和英

株式会社日立製作所

藤本暢宏

富士通株式会社

宮脇雅裕

財団法人日本品質保証機構

森基祐

セイコーインスツルメンツ株式会社

山口太一

株式会社フジクラ

山村修蔵

財団法人日本規格協会

増田岳夫

財団法人光産業技術振興協会

（オブザーバ）

倉嶋利雄

日本電信電話株式会社

（事務局）

岩本正己

財団法人光産業技術振興協会