C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語,定義及び略語 ·········································································································· 3
3.1 用語及び定義 ················································································································ 3
3.2 マルチチャネルの概要 ···································································································· 3
3.3 略語 ···························································································································· 3
4 光ブースタアンプ(BA)の性能仕様テンプレート ·································································· 4
5 光プリアンプ(PA)の性能仕様テンプレート ········································································ 5
6 光ラインアンプ(LA)の性能仕様テンプレート ····································································· 6
7 電磁両立性(EMC)に関する必要条件 ················································································· 6
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって,JIS C 6123-4:2008は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 6123の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 6123-1 第1部:単一チャネル用光増幅器
JIS C 6123-4 第4部:マルチチャネル用光増幅器
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 6123-4:2015
(IEC 61291-4:2011)
光増幅器−性能仕様テンプレート−
第4部:マルチチャネル用光増幅器
Optical amplifiers-Performance specification template-
Part 4: Optical amplifiers for multichannel applications
序文
この規格は,2011年に第3版として発行されたIEC 61291-4を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は,マルチチャネル用光増幅器(OA)デバイス及びサブシステムで使用する性能仕様書を作成
するための性能仕様テンプレートについて規定する。単一チャネル用光増幅器については,JIS C 6123-1
に規定する。
性能仕様書作成者は,個々の用途のために仕様パラメータ及び/又は仕様パラメータ群を加えてもよい。
しかし,この規格で規定する仕様パラメータを省いてはならない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 61291-4:2011,Optical amplifiers−Part 4: Multichannel applications−Performance specification
template(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 6121 光増幅器−通則
注記 対応国際規格:IEC 61291-1,Optical amplifiers−Part 1: Generic specification(IDT)
JIS C 6121-5-2 光増幅器−第5-2部:品質評価規格−光ファイバ増幅器の信頼性評価
注記 対応国際規格:IEC 61291-5-2,Optical amplifiers−Part 5-2: Qualification specifications−
Reliability qualification for optical fibre amplifiers(IDT)
JIS C 6122-3 光増幅器−測定方法−第3部:雑音指数パラメータ
注記1
対応国際規格:IEC 61290-3,Optical amplifiers−Test methods−Part 3: Noise figure parameters
(IDT)
注記2
対応国際規格では,この箇条でIEC 61290 (all parts),Optical amplifiers−Test methodsと記
2
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
載している。次に挙げるJIS C 6122-3-1,JIS C 6122-3-2,JIS C 6122-4規格群,JIS C 6122-5-1,
JIS C 6122-6,JIS C 6122-10規格群及びJIS C 6122-11-1に対しても同様である。
JIS C 6122-3-1 光増幅器−測定方法−第3-1部:雑音指数パラメータ−光スペクトラムアナライザ法
注記 対応国際規格:IEC 61290-3-1,Optical amplifiers−Test methods−Part 3-1: Noise figure
parameters−Optical spectrum analyzer method(IDT)
JIS C 6122-3-2 光増幅器−測定方法−第3-2部:雑音指数パラメータ−電気スペクトラムアナライザ
試験方法
注記 対応国際規格:IEC 61290-3-2,Optical amplifiers−Test methods−Part 3-2: Noise figure
parameters−Electrical spectrum analyzer method(IDT)
JIS C 6122-4規格群 光増幅器−測定方法
注記 対応国際規格:IEC 61290-4 series,Optical amplifiers−Test methods(IDT)
JIS C 6122-5-1 光ファイバ増幅器−測定方法−第5-1部:光反射率パラメータ測定方法−光スペクト
ラムアナライザを用いた測定方法
注記1
対応国際規格:IEC 61290-5-1,Optical amplifiers−Test methods−Part 5-1: Reflectance
parameters−Optical spectrum analyzer method(MOD)
注記2
対応国際規格では,IEC 61290-5 seriesと記載しているが,その規格群には,IEC 61290-5-2
及びIEC 61290-5-3を含んでいる。
JIS C 6122-6 光ファイバ増幅器−測定方法−第6部:漏れ励起光パラメータ測定方法
注記1
対応国際規格:IEC 61290-6 series,Optical fibre amplifiers−Basic specification(IDT)
注記2
対応国際規格では,IEC 61290-6 seriesと記載しているが,その規格群は,IEC 61290-6-1
だけである。
JIS C 6122-10規格群 光増幅器−測定方法
注記 対応国際規格:IEC 61290-10 series,Optical amplifiers−Test methods(IDT)
JIS C 6122-11-1 光増幅器−測定方法−第11-1部:偏波モード分散パラメータ−ジョーンズマトリク
ス固有値解析(JME)法
注記1
対応国際規格:IEC 61290-11-1,Optical amplifiers−Test methods−Part 11-1: Polarization mode
dispersion parameter−Jones matrix eigenanalysis (JME)(IDT)
注記2
対応国際規格では,IEC 61290-11 seriesと記載しているが,その規格群には,IEC 61290-11-2
を含んでいる。
JIS C 6123-1 光増幅器−性能仕様テンプレート−第1部:単一チャネル用光増幅器
JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
注記 対応国際規格:IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and
requirements(IDT)
IEC 61290-3-3,Optical amplifiers−Test methods−Part 3-3: Noise figure parameters−Signal power to total
ASE power ratio
IEC 61290-5-2,Optical amplifiers−Test methods−Part 5-2: Reflectance parameters−Electrical spectrum
analyser method
IEC 61290-5-3,Basic specification for optical amplifier test methods−Part 5-3: Test methods for reflectance
parameters−Reflectance tolerance test method using electrical spectrum analyzer
IEC 61290-11-2,Optical amplifiers−Test methods−Part 11-2: Polarization mode dispersion parameter−
3
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Poincaré sphere analysis method
3
用語,定義及び略語
3.1
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 6121による。
3.2
マルチチャネルの概要
マルチチャネルの概要は,JIS C 6121の3.1(概要)を参照する。
注記 対応国際規格ではマルチチャネルについての概要があるが,JIS C 6121の内容と重複するため,
この規格では削除した。
3.3
略語
この規格で用いる主な略語は,次による。
ASE
増幅された自然放出光(Amplified spontaneous emission)
BA
光ブースタアンプ,光パワーアンプ[Booster (power) amplifier]
LA
光ラインアンプ(Line amplifier)
OA
光増幅器(Optical amplifier)
OFA
光ファイバ増幅器(Optical fiber amplifier)
PA
光プリアンプ(Pre-amplifier)
PMD
偏波モード分散(Polarization mode dispersion)
4
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
光ブースタアンプ(BA)の性能仕様テンプレート
マルチチャネル用途のBAとして用いるOAデバイスの性能仕様書を作成するための性能仕様テンプレ
ートは,表1による。表1には,最低限規定する仕様パラメータのリスト,及び対応する標準試験方法も
規定する。また,要求事項(最大値及び最小値)の欄も記載する。
表1−性能仕様テンプレート マルチチャネル用途のBAに最低限規定する関連仕様パラメータのリスト
パラメータ
単位
最小値
最大値
標準試験方法
透過特性
チャネル配置
nm又はTHz
IECで審議中
チャネル入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
総入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
チャネル出力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
最大総出力光パワー
dBm
−
JIS C 6122-10規格群
チャネル増減設利得応答
dB
−
JIS C 6122-4規格群
マルチチャネル利得偏差
dB
−
JIS C 6122-10規格群
チャネル信号光-ASE間雑音指数
dB
−
JIS C 6122-3
JIS C 6122-3-1
JIS C 6122-3-2
IEC 61290-3-3
入力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
出力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
入力漏れ励起光(OFAだけ)
dBm
−
JIS C 6122-6
環境パラメ
ータ
動作温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大動作相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大動作振動
条件
振動数範囲
Hz
JIS C 6121-5-2
全振幅
mm
−
継続時間
s
−
保存温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大保存相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大衝撃条件,
自由落下
落下高さ
mm
−
JIS C 6121-5-2
安全性パラ
メータ
レーザ安全性分類
a)
JIS C 6802
最大値及び最小値の欄の空欄は数値を規定し,“−”は適用しないことを表す。
注a) レーザの安全性の程度に応じて分類されるレーザ安全クラスを記載する。
5
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
光プリアンプ(PA)の性能仕様テンプレート
マルチチャネル用途のPAとして用いるOAデバイスの性能仕様書を作成するための性能仕様テンプレ
ートは,表2による。表2には,最低限規定する仕様パラメータのリスト,及び対応する標準試験方法も
規定する。また,要求事項(最大値及び最小値)の欄も記載する。
表2−性能仕様テンプレート マルチチャネル用途のPAに最低限規定する関連仕様パラメータのリスト
パラメータ
単位
最小値
最大値
標準試験方法
透過特性
チャネル配置
nm又はTHz
IECで審議中
チャネル入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
総入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
チャネル出力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
最大総出力光パワー
dBm
−
JIS C 6122-10規格群
チャネル増減設利得応答
dB
−
JIS C 6122-4規格群
チャネル信号光-ASE間雑音指数
dB
−
JIS C 6122-3
JIS C 6122-3-1
JIS C 6122-3-2
IEC 61290-3-3
チャネル利得
dB
−
JIS C 6122-10規格群
マルチチャネル利得偏差
dB
−
JIS C 6122-10規格群
入力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
出力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
出力漏れ励起光(OFAだけ)
dBm
−
JIS C 6122-6
環境パラメ
ータ
動作温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大動作相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大動作振動
条件
振動数範囲
Hz
JIS C 6121-5-2
全振幅
mm
−
継続時間
s
−
保存温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大保存相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大衝撃条件,
自由落下
落下高さ
mm
−
JIS C 6121-5-2
安全性パラ
メータ
レーザ安全性分類
a)
JIS C 6802
最大値及び最小値の欄の空欄は数値を規定し,“−”は適用しないことを表す。
注a) レーザの安全性の程度に応じて分類されるレーザ安全クラスを記載する。
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C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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光ラインアンプ(LA)の性能仕様テンプレート
マルチチャネル用途のLAとして用いるOAデバイスの性能仕様書を作成するための性能仕様テンプレ
ートは,表3による。表3には,最低限規定する仕様パラメータのリスト,及び対応する標準試験方法も
規定する。また,要求事項(最大値及び最小値)の欄も記載する。
表3−性能仕様テンプレート マルチチャネル用途のLAに最低限規定する関連仕様パラメータのリスト
パラメータ
単位
最小値
最大値
標準試験方法
透過特性
チャネル配置
nm又はTHz
IECで審議中
チャネル入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
総入力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
チャネル出力光パワー範囲
dBm
JIS C 6122-10規格群
最大総出力光パワー
dBm
−
JIS C 6122-10規格群
チャネル信号光-ASE間雑音指数
dB
−
JIS C 6122-3
JIS C 6122-3-1
JIS C 6122-3-2
IEC 61290-3-3
マルチチャネル利得偏差
dB
−
JIS C 6122-10規格群
チャネル増減設利得応答
dB
−
JIS C 6122-4規格群
マルチチャネル利得傾斜
dB/dB
JIS C 6122-10規格群
チャネル利得
dB
JIS C 6122-10規格群
入力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
出力端光反射率
dB
−
JIS C 6122-5-1
IEC 61290-5-2
IEC 61290-5-3
偏波モード分散(PMD)
ps
−
JIS C 6122-11-1及び
IEC 61290-11-2
環境パラメ
ータ
動作温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大動作相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大動作振動
条件
振動数範囲
Hz
JIS C 6121-5-2
全振幅
mm
−
継続時間
s
−
保存温度範囲
℃
JIS C 6121-5-2
最大保存相対湿度
%
−
JIS C 6121-5-2
許容最大衝撃条件,
自由落下
落下高さ
mm
−
JIS C 6121-5-2
安全性パラ
メータ
レーザ安全性分類
a)
JIS C 6802
最大値及び最小値の欄の空欄は数値を規定し,“−”は適用しないことを表す。
注a) レーザの安全性の程度に応じて分類されるレーザ安全クラスを記載する。
7
電磁両立性(EMC)に関する必要条件
この規格の対象となる部品及びアセンブリは,それらを組み込む個別の使用方法又は環境によって,電
磁両立性のための必要条件を,エミッション及びイミュニティの両面において満足しなければならない。
注記 このような電磁両立性のための必要条件の文書化についての手引は,IEC Guide 107に記載が
ある。静電気放電(ESD)に対する手引については,現在,IECで審議中である。
7
C 6123-4:2015 (IEC 61291-4:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献 IEC 61280 (all parts),Fibre optic communication subsystem basic test procedures
IEC 61291-2,Optical amplifiers−Part 2: Digital applications−Performance specification template
IEC/TR 61292 (all parts),Optical amplifiers
IEC/TR 61930,Fibre optic graphical symbology
IEC Guide 107,Electromagnetic compatibility−Guide to the drafting of electromagnetic compatibility
publications
ITU-T Recommendation G.957,Optical interfaces for equipments and systems relating to the
synchronous digital hierarchy