C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 略語······························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
5 試料······························································································································· 4
6 手順······························································································································· 5
7 計算······························································································································· 7
8 測定結果························································································································· 9
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会（OITDA）及
び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによってJIS C 6122-1及びJIS C 6122-2は廃止され，その一部を分割して制定したこの規格に置き
換えられた。
また，令和2年6月22日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標準
化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 6122の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 6122-1-1 第1-1部：パワーパラメータ及び利得パラメータ−光スペクトラムアナライザ法
JIS C 6122-1-2 第1-2部：パワーパラメータ及び利得パラメータ−電気スペクトラムアナライザ法
JIS C 6122-1-3 第1-3部：パワーパラメータ及び利得パラメータ−光パワーメータ法
JIS C 6122-3 第3部：雑音指数パラメータ
JIS C 6122-3-1 第3-1部：雑音指数パラメータ−光スペクトラムアナライザ法（予定）
JIS C 6122-3-2 第3-2部：雑音指数パラメータ−電気スペクトラムアナライザ試験方法
JIS C 6122-5-1 第5-1部：光反射率パラメータ測定方法−光スペクトラムアナライザを用いた測定方
法
JIS C 6122-6 第6部：漏れ励起光パラメータ測定方法
JIS C 6122-7 第7部：波長帯域外挿入損失測定方法
JIS C 6122-10-1 第10-1部：マルチチャネルパラメータ−光スイッチ及び光スペクトラムアナライザ
を用いたパルス法
JIS C 6122-10-2 第10-2部：マルチチャネルパラメータ−ゲート付き光スペクトラムアナライザを用
いたパルス法
JIS C 6122-10-3 第10-3部：マルチチャネルパラメータ−プローブ法（予定）
JIS C 6122-11-1 第11-1部：偏波モード分散パラメータ−ジョーンズマトリクス固有値解析（JME）
法
日本産業規格 JIS
C 6122-1-2：2011
(IEC 61290-1-2：2005)
光増幅器−測定方法−
第1-2部：パワーパラメータ及び利得パラメータ−
電気スペクトラムアナライザ法
Optical amplifiers-Test methods-Part 1-2: Power and gain
parameters-Electrical spectrum analyzer method
序文
この規格は，2005年に第2版として発行されたIEC 61290-1-2を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
この分野には新技術が多く，しかも日々進展中であるため，この規格は，改正版が発行されることが考
えられる。
1
適用範囲
この規格は，電気スペクトラムアナライザを用いて行う，光増幅器（OA）のパワーパラメータ測定及び
利得パラメータ測定の方法について規定する。
この規格の目的は，電気スペクトラムアナライザを用いて，JIS C 6121の箇条3（用語，定義及び略語）
で定義するOAの次のパラメータについて，正確かつ信頼性のある測定を行うために必要な一定の条件を
確立することにある。
a) 公称出力信号光パワー
b) 利得
c) 逆方向利得
d) 最大利得
e) 最大利得波長
f)
最大利得温度変動
g) 利得波長帯域
h) 利得波長変動
i)
利得安定度
j)
偏波依存利得変動
k) 大信号出力安定度
l)
飽和出力光パワー
m) 最大入力信号光パワー
n) 最大出力信号光パワー
2
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
o) 入力光パワー範囲
p) 出力光パワー範囲
q) 最大全出力光パワー
注記1 これらのパラメータのうち，技術的に確立されていない項目については，現在IECで審議中
である。
注記2 f)，h)及びi)は，対応国際規格の編集上の誤りによって，対応国際規格にはない事項である。
この規格は，特にシングルチャネル用OAに適用することを目的としている。マルチチャネル用OAに
ついては，IEC 61290-10シリーズ（マルチチャネルパラメータ測定方法）を参照。
この規格は，商用化されているOAに適用する。ここでいうOAには，光ファイバ増幅器（OFA），半導
体光増幅器（SOA）及び平面導波路形光増幅器（POWA）を含む。OFAには希土類添加OFA及びラマン効
果を用いたOFAを含む。
注記3 この規格に規定する試験方法の，分布ラマン増幅器への適用可能性は，更に検討を要する。
注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61290-1-2:2005，Optical amplifiers−Test methods−Part 1-2: Power and gain parameters−
Electrical spectrum analyzer method（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 6121 光増幅器−通則
注記 対応国際規格：IEC 61291-1:2006，Optical amplifiers−Part 1: Generic specification（IDT）
IEC 60793-1-40，Optical fibres−Part 1-40: Measurement methods and test procedures−Attenuation
注記 対応日本産業規格：JIS C 6823 光ファイバ損失試験方法（MOD）
3
略語
ASE
増幅された自然放出光
（Amplified spontaneous emission）
DBR
分布ブラッグ反射形（半導体レーザ） ［Distributed Bragg reflector (laser diode)］
DFB
分布帰還形（半導体レーザ）
［Distributed feed-back (laser diode)］
ECL
外部共振器形半導体レーザ
［External cavity laser (diode)］
LED
発光ダイオード
（Light emitting diode）
OA
光増幅器
（Optical amplifier）
OFA
光ファイバ増幅器
（Optical fibre amplifier）
POWA 平面導波路形光増幅器
（Planar optical waveguide amplifier）
SOA
半導体光増幅器
（Semiconductor optical amplifier）
4
装置
測定系の構成を，図1に示す。
3
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
a) 時間平均入力信号光パワーの測定
b) 電気信号で変調された入力信号の測定
c) 電気信号で変調された出力信号の測定
図1−電気スペクトラムアナライザによる利得及び光パワー測定系の構成
必要な測定機器及びその所要性能は，次による。
注記1 この規格で(*)を付けた全ての数値は，測定を確かなものとするための推奨値である。その他
の値を用いることも可能であるが，その妥当性を確認することが望ましい。
a) 光源 光源は，波長固定又は波長可変とする。
− 波長固定光源 この光源は，個別規格で規定する波長及び光パワーの光を発生する。その他の規定
がない場合，光源は，スペクトル半値全幅が1 nm(*)以下の変調された光を出力する。例えば，DFB
レーザ，DBRレーザ，外部共振器形半導体レーザ（ECL）又は狭帯域光フィルタ付LEDが適用で
きる。DFBレーザ，DBRレーザ，又はECLのサイドモード抑圧比は，30 dB(*)以上とする。出力光
パワー変動は，0.05 dB(*)以下とするが，これは光源の出力側に光アイソレータを接続すれば容易に
達成できる。
注記2 レーザ光源の場合，発振スペクトルの裾野の広がりは，最小限とすることが望ましい。
− 波長可変光源 この光源は，個別規格で規定する波長範囲及び光パワーの光を波長可変で発生する。
4
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
その他の規定がない場合，光源は，スペクトル半値全幅が1 nm(*)以下の変調された光を出力する。
例えば，ECL又は狭帯域光フィルタ付LEDが適用できる。ECLのサイドモード抑圧比は，30 dB(*)
以上とする。出力光パワー変動は，0.05 dB以下とするが，これは光源の出力側に光アイソレータを
接続すれば容易に達成できる。
注記3 ECLの発振スペクトルの裾野の広がりは，最小限とするのが望ましい。
LEDは，小信号利得の測定にだけ用いる。
注記4 小信号利得の定義は，JIS C 6121による。
b) 光パワーメータ 測定確度は，OAの動作波長帯域内で，入力光の偏波状態によらず，±0.2 dB以内
とする。ダイナミックレンジは，測定対象の利得範囲以上とする（例えば，40 dB）。
c) 電気スペクトラムアナライザ スペクトルパワー測定の確度は，±0.5 dB（光パワー換算）以内，直
線性は，±0.2 dB（光パワー換算）以内とする。
d) 光アイソレータ OAを挟んで直近の両端に用いるのが一般的である。光アイソレータの偏波依存損
失変動は0.2 dB(*)以下，アイソレーションは40 dB(*)以上，反射率は両端子とも−40 dB(*)以下とする。
e) 可変光減衰器 光減衰器の減衰範囲及び安定性は，それぞれ40 dB(*)以上，±0.1 dB(*)以内，反射率
は，両端子とも−40 dB(*)以下とする。
f)
偏波制御器 この装置は，入力信号光の全ての偏波［例えば，直線，だ（楕）円，円偏波］状態を提
供する。偏波制御器は，例えば，直線偏光子及びそれに続く全光ファイバタイプの偏波制御器，又は
直線偏光子，それに続く90°以上回転可能な四分の一波長板，及び180°以上回転可能な二分の一波
長板で構成する。この装置の損失変動は，0.2 dB(*)以下，反射率は，両端子とも−40 dB(*)以下とする。
偏波制御器を用いることは，偏波依存利得の測定では必須である。また，大きな偏波依存利得変動を
もつOAのパワーパラメータ及び利得パラメータに高い測定精度が要求される場合には，偏波制御器
を用いることが望ましい。
g) 光ファイバコード 接続する光ファイバコードのモードフィールド径は，OAの入出力端子の光ファ
イバのモードフィールド径にできるだけ一致させる。反射率は，両端とも−40 dB(*)以下，長さは，2
m以下とする。
h) 光コネクタ 接続損失再現性は，±0.2 dB以内とする。
i)
光検出器 偏波依存性を極力少なくし，直線性は，±0.2 dB以内とする。
注記5 大きな直流電流（d.c.）による飽和の影響を最小限にするために，光検出器の出力は，交流
（a.c.）結合とする。
j)
信号発生器 信号発生器は，数百kHz以上の周波数で，直線性が±1.5 dB以内の正弦波を発生する。
注記6 小信号利得測定には，光チョッパシステムを代用することができる。
k) 光カプラ 光カプラの無接続端子は，反射率が−40 dB(*)以下になるように終端処理する。
注記7 光カプラの分岐比の偏波依存性は，最小限とすることが望ましい。入力光の偏波状態の変
化は無視できるほど小さいものとするのが望ましい。
5
試料
OAは，公称動作条件で動作する。OAが不要な反射によるレーザ発振を引き起こす可能性がある場合は，
OAの前後に光アイソレータを用いる。これによって信号不安定性及び測定誤差を最小にすることができ
る。
箇条1のj)を除くa)〜q)のパラメータの測定では，測定の間，入力光の偏波状態を一定に維持する。入
5
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
力光の偏波状態の変化は，用いている光部品のもつ僅かな偏波依存性が原因で入力光パワーを変動させ，
測定誤差の原因となる。
6
手順
手順は，次による。
a) 公称出力信号光パワー 公称出力信号光パワーは，個別規格で規定する公称動作条件下で，規定の入
力信号光パワーに対する最小出力信号光パワーによって定める。この最小値を決定するために，入力
及び出力信号光パワーレベルを，個別規格の規定に従って偏波状態の変化及びその他の不安定性が存
在する条件下で，一定時間連続してモニタする。測定手順は，次による。
1) 光源を個別規格で規定する測定波長に設定する。
2) 光パワーメータを用いて，光カプラの2個の出力端から出射する信号光パワーレベルを測定し，光
カプラの分岐比を決定する。
3) 挿入損失測定法（IEC 60793-1-40の測定法Bを参照）を用いて，OAと光検出器との間を接続する
光ファイバコードの損失Ljを測定する［図1 c)参照］。
4) 個別規格で規定する周波数で強度変調された光を光源から発生するよう，信号発生器を調整する。
その他の規定がない場合，利得応答が遅くて波形がひずむのを避けるため，変調周波数は，数百 kHz
以上（例えば，1 MHz）とする。変調度は，測定の間一定に保持する。
5) 光検出器と電気スペクトラムアナライザとによって時間平均信号光パワーを測定するために，電気
スペクトラムアナライザを光パワーメータで校正する。校正手順は，次による。
− 個別規格の規定に従って，時間平均光パワーを光パワーメータによって測定してPcalとする［図1
a)参照］。
− 光検出器と電気スペクトラムアナライザとによって，入力電気パワーの交流（a.c.）成分Pe,calを
測定する［図1 b)参照］。
− 測定の間，変調度を一定に保持した状態で，電気スペクトラムアナライザによって信号電気パワ
ーの交流（a.c.）成分Peを測定し，時間平均信号光パワーPを次の式によって算出する。
cal
e,
e
calP
P
P
P=
6) OAの入力端で，光パワーが個別規格で規定する時間平均信号光パワーPinになるように，光源と可
変光減衰器とを設定する。図1 a)に示すように，光カプラのもう一つの出力端子（第2出力端子）
の光出力を光パワーメータによって測定して時間平均光パワーPOを記録する。
偏波制御器を用いる場合は，次の手順による。
7) 次の測定の間，光カプラの第2出力端子の時間平均光パワーPOをモニタし，これが一定となるよう
に可変光減衰器を調整して，OAの入力端で時間平均入力信号光パワーPinを，一定に保持する。
8) 個別規格で規定する偏波状態に偏波制御器を設定し，電気スペクトラムアナライザによってOAの
平均出力信号光パワーを規定の時間モニタし，最小値を記録する。
9) 偏波制御器を用いて入力信号光の偏波状態を個別規格で規定する種々の偏波状態に変化させ，手順
8)を繰り返す。
10) 電気スペクトラムアナライザで測定するOAの平均出力信号光パワーが最小値となる入力信号光の
偏波状態を手順9)によって探し，その最小となる平均出力信号光パワーを絶対最小出力信号光パワ
ーPout-minとして記録する。
6
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
注記1 光コネクタJ1及びJ2は，再接続による測定誤差を避けるために，測定中は取り外さない
ことが望ましい。
注記2 偏波制御器は，個別規格で規定する方法で操作する。回転可能な四分の一波長板と直線
偏光子とを用いる場合の操作方法は，次による。OAの出力光パワーが最大となるよう
に直線偏光子を調節し，次いで四分の一波長板を90°以上，数ステップにわたって回転
し，その各ステップごとに二分の一波長板を180°以上，数ステップにわたって回転す
る。
b) 利得 a)と同様の測定系を用いる。この測定では，変調された電気パワーSin及びSoutを測定すること
によって利得を決定する。ここで，電気パワーSin及びSoutは，それぞれ信号波長におけるOAの入力
及び出力信号光パワーに対応する。変調された入力信号と電気スペクトラムアナライザとを用いるこ
の方法は，出力信号とASEとを区別することが可能である。これは，ASEは規定の周波数で変調を
受けないため，変調周波数での出力電気パワーから直流分を差し引いたものからは，ASE成分が除か
れることによる。
測定手順は，次による。
1) 個別規格で規定する周波数で強度変調された光が光源から発生するよう，信号発生器を調整する。
その他の規定がない場合，利得応答が遅くて波形がひずむのを避けるため，変調周波数は数百kHz
以上（例えば，1 MHz）とする。
2) 光源は，個別規格に規定する測定波長に設定する。
3) 校正のため，図1 a)に示すように光パワーメータで時間平均入力信号光パワーを測定する。光パワ
ーがOAの入力端で，個別規格で規定する時間平均入力信号光パワーになるように，光源と可変光
減衰器とを設定する。
4) 図1 b)に示す光検出器と電気スペクトラムアナライザとによって，規定の時間，平均入力信号光パ
ワーに対応する変調周波数での電気パワーSinを測定する。
5) 図1 c)に示す光検出器と電気スペクトラムアナライザとによって，変調周波数でのOA出力信号光
に対応する電気パワーSoutを測定する。
注記3 光コネクタJ1及びJ2は，再接続による測定誤差を避けるために，測定中は取り外さない。
c) 逆方向利得 b)の操作を入出力を入れ替えて行う。
d) 最大利得 波長可変光源を用いて，個別規格で規定する波長範囲を網羅するように，種々の波長でb)
と同様に測定する。ただし，手順2)は，次の手順に置き換える。
2) 規定する波長範囲内の一つの測定波長に波長可変光源を設定する。
注記4 入力信号のない状態で（例えば，光スペクトラムアナライザ又は分光器によって）観測
されるASEスペクトルプロファイルが最大となる波長付近では，その他の規定がない場
合，波長は，1 nm(*)以下の間隔で変化させる。
注記5 1 550 nm付近の波長では，干渉じま（縞）計数法を用いた市販の波長計を用いることに
よって±0.01 nmの波長測定確度が達成できる。幾つかの市販の波長可変の外部共振器形
半導体レーザ光源を用いることによって±0.2 nmの波長測定確度が得られる。
e) 最大利得波長 d)と同様とする。
f)
最大利得温度変動 検討中。
g) 利得波長帯域 d)と同様とする。
h) 利得波長変動 d)と同様とする。
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C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
i)
利得安定度 検討中。
j)
偏波依存利得変動 b)と同様とする。ただし，図1 a)で可変光減衰器と光コネクタJ1との間に偏波制
御器を使用して，個別規格で規定する偏波の異なった状態で全ての手順を繰り返す。ただし，手順2)
は，次の手順に置き換える。
2) 個別規格で規定する測定波長に光源を設定し，偏波制御器を個別規格で規定する偏波状態に設定す
る。
注記6 測定中に原理的には全ての偏波状態がOAの入力端子に連続的に入力できるように，Sin
及びSoutの測定後，偏波制御器によって入力信号の偏波状態を変化させる。
注記7 偏波制御器は，個別規格で規定する方法で操作する。回転可能な四分の一波長板と直線
偏光子とを用いる場合の操作方法は，次による。OAの出力光パワーが最大になるよう
に直線偏光子を調節し，次いで四分の一波長板を90°以上，数ステップにわたって回転
し，その各ステップごとに二分の一波長板を180°以上，数ステップにわたって回転す
る。その他の方法としては，あらかじめ決められた4種類の偏波を選択し，マトリック
ス演算によって偏波依存利得を測定することができる。
注記8 OAの入力側に接続する光ファイバコードは，応力及び異方性によって生じる偏波状態
の変化を最小にするため，短くかつできるだけ直線状態を保つ。
注記9 光コネクタの偏波依存損失変動は，0.2 dB(*)以下とする。
k) 大信号出力安定度 検討中。
l)
飽和出力光パワー 検討中。
m) 最大入力信号光パワー 検討中。
n) 最大出力信号光パワー 検討中。
o) 入力光パワー範囲 検討中。
p) 出力光パワー範囲 検討中。
q) 最大全出力光パワー 検討中。
7
計算
計算方法は，次による。
a) 公称出力信号光パワー 公称出力信号光パワーP（dBm）を，次の式によって算出する。
P＝10 log (Pout-min)＋Lj（dBm）
ここに， Pout-min： 測定した出力信号光パワーの絶対最小値（mW）
Lj： OAと光検出器との間を接続する光ファイバコードの挿入
損失（dB）
注記1 測定誤差は，主に電気スペクトラムアナライザの確度によるが，±0.5 dB(*)より小さい。
b) 利得 信号波長における利得Gは，次の式によって算出する。
)
(
)
(
)
(
)
(
in
in
out
out
無変調
変調時
無変調
変調時
S
S
S
S
G
−
−
=
（リニア表示）
又は，
)
(
)
(
)
(
)
(
log
5
in
in
out
out
無変調
変調時
無変調
変調時
S
S
S
S
G
−
−
=
（デシベル表示）
注記2 小信号領域は，測定にかかるOAが線形領域で動作するような，十分小さな入力信号パワ
8
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
ー領域である。平均入力信号光パワーに対してGをプロットすることによってこれを確認
することができる。線形領域は，利得が平均入力信号光パワーによらない領域である（図
2参照）。−30 dBmから−40 dBmまでの平均入力信号光パワーは，一般的にこの領域に入
っている。飽和領域では，信号光パワーはASEを十分抑制するほどに大きい。
注記3 測定誤差は，主に光検出器及び電気スペクトラムアナライザの直線性によるが，±0.4 dB(*)
より小さい。
c) 逆方向利得 b)と同様とする。
d) 最大利得 b)によって，種々の波長における利得値を算出する。最大利得は，その最大値で与えられ
る。
e) 最大利得波長 d)によって，最大利得を算出する。最大利得を得る波長が最大利得波長である。
図2−入力信号光パワー対利得特性
f)
最大利得温度変動 検討中。
g) 利得波長帯域 d)によって最大利得を算出する。利得が最大利得からN dB低下する波長を決定する。
利得波長帯域は，利得が最大利得と最大利得からN dB低下した利得との間の値となる波長区間によ
って与えられる。
注記4 N＝3の値が代表的に適用される。
h) 利得波長変動 d)によって最大利得を算出する。規定する測定波長範囲で最小利得を計算する。利得
波長変動は，最大利得と最小利得との差である。
i)
利得安定度 検討中。
j)
偏波依存利得変動 種々の偏波状態での利得をb)によって算出し，最大利得Gmaxと最小利得Gminと
をそれぞれ決定する。偏波依存利得変動ΔGpは，次の式によって算出する。
ΔGp＝Gmax−Gmin（デシベル表示）
注記5 Gmax及びGminはb)のGと同様に定義する。
注記6 ΔGpは，必ずしも偏波依存利得変動の最大値を示すわけでない。被測定OAの損失が最大
9
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
になるのは，OAを構成する各光部品へのそれぞれの入力光の偏波状態が同時に各部品の
光損失をそれぞれ最大とするときだけである。
注記7 測定誤差は，主に光検出器及び電気スペクトラムアナライザの直線性によるが±0.4 dB(*)
より小さい。
k) 大信号出力安定度 検討中。
l)
飽和出力光パワー 検討中。
m) 最大入力信号光パワー 検討中。
n) 最大出力信号光パワー 検討中。
o) 入力光パワー範囲 検討中。
p) 出力光パワー範囲 検討中。
q) 最大全出力光パワー 検討中。
8
測定結果
次の測定結果について記載する。
a) 公称出力信号光パワー 次の項目についてその詳細を記載する。
1) 測定系の構成
2) 光源のスペクトル線幅（半値全幅）
3) 励起光パワー及びOFAの場合はポンプレーザの駆動電流，SOAの場合は注入電流（測定できる場
合）
4) 周囲温度（必要がある場合）
5) 平均入力信号光パワー Pin
6) 電気スペクトラムアナライザのスペクトル分解能
7) 測定波長
8) 公称出力信号光パワー P
9) 入力信号光に与えた偏波状態変化
b) 利得 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載する。
8) 利得
注記1 5)及び8)は，利得対時間平均入力信号光パワー曲線で代用できる。
c) 逆方向利得 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載する。
8) 逆方向利得
注記2 5)及び8)は，逆方向利得対時間平均入力信号光パワー曲線で代用できる。
d) 最大利得 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載する。
8) 測定波長範囲
9) 波長確度
10) 最大利得
注記3 5)及び10)は，最大利得対時間平均入力信号光パワー曲線で代用できる。
e) 最大利得波長 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載す
る。
8) 測定波長範囲
9) 波長確度
10
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
10) 最大利得波長
注記4 8)及び10)は，利得対入力信号波長曲線で代用できる。
f)
最大利得温度変動 検討中。
g) 利得波長帯域 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載す
る。
8) 測定波長範囲
9) 波長確度
10) 利得波長帯域
11) 波長帯域幅の決定に用いたN値
注記5 8)，10)及び11)は，利得対入力信号波長曲線で代用できる。
h) 利得波長変動 a)に記載されている1)から7)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記載す
る。
8) 測定波長範囲
9) 波長確度
10) 利得波長変動
注記6 8)及び10)は，利得対入力信号波長曲線で代用できる。
i)
利得安定度 検討中。
j)
偏波依存利得変動 b)に記載されている1)から8)までの項目に加え，次の項目についてその詳細を記
載する。
9) 光検出器の偏波依存性
10) 最大及び最小の利得，Gmax及びGmin
11) 偏波依存利得変動
12) 入力信号光に与えた偏波状態変化
k) 大信号出力安定度 検討中。
l)
飽和出力光パワー 検討中。
m) 最大入力信号光パワー 検討中。
n) 最大出力信号光パワー 検討中。
o) 入力光パワー範囲 検討中。
p) 出力光パワー範囲 検討中。
q) 最大全出力光パワー 検討中。
11
C 6122-1-2：2011 (IEC 61290-1-2：2005)
参考文献 IEC 60793-1-1，Optical fibres−Part 1-1: Measurement methods and test procedures−General and
guidance
IEC 60825-1，Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and requirements
IEC 60825-2，Safety of laser products−Part 2: Safety of optical fibre communication systems (OFCS)
IEC 60874-1，Connectors for optical fibres and cables−Part 1: Generic specification
IEC/TR 61931，Fibre optic−Terminology
IEC 61290-10-1，Optical amplifiers−Test methods−Part 10-1: Multichannel parameters−Pulse
method using an optical switch and optical spectrum analyzer
IEC 61290-10-2，Optical amplifiers−Test methods−Part 10-2: Multichannel parameters−Pulse
method using a gated optical spectrum analyzer
IEC 61290-10-3，Optical amplifiers−Test methods−Part 10-3: Multichannel parameters−Probe
methods