JISC4610:2005 機器保護用遮断器

C 4610：2005

（1）

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電機

工業会(JEMA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査

会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって，JIS C 4610:1996は改正され，この規格に置き換えられる。

改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60934: 2000, Circuit-breakers for

equipmentを基礎として用いた。

また，令和2年10月20日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標

準化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願に係わる確認について，責任はもたない。

JIS C 4610には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）時間−電流範囲(9.10及び表9参照)

附属書B（規定）空間距離及び沿面距離の決定

附属書C（規定）証明をするために行う試験シーケンス及び供試品の数

附属書D（規定）ISO及びAWG銅導体の対比

附属書E（規定）端子の例

附属書F（参考）同一回路で関連しているCBEと短絡保護装置(SCPD)との協調

附属書G（規定）機器保護用遮断器の電磁環境性能

附属書H（規定）定格インパルス耐電圧を決定するための電源システムの公称電圧及び相関電圧に関

する補正

附属書J（規定）受渡試験又は抜取試験

附属書K（規定）CBE−スイッチの電気的性能に対する追加要求

附属書1（参考）JISに対応する国際規格との対比表

C 4610：2005

（2）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲及び目的 ············································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 定義 ······························································································································ 3

4. 分類 ····························································································································· 11

5. CBEの特性 ··················································································································· 13

6. 表示及び製品情報 ··········································································································· 15

7. 標準使用状態 ················································································································· 16

8. 製作及び動作に関する要求事項 ························································································· 16

9. 試験 ····························································································································· 30

附属書A（規定）時間−電流範囲(9.10及び表9参照) ································································· 51

附属書B（規定）空間距離及び沿面距離の決定 ·········································································· 52

附属書C（規定）証明をするために行う試験シーケンス及び供試品の数 ········································· 54

附属書D（規定）ISO及びAWG銅導体の対比 ·········································································· 57

附属書E（規定）端子の例 ···································································································· 58

附属書F（参考）同一回路で関連しているCBEと短絡保護装置 (SCPD)との協調 ···························· 67

附属書G（規定）機器保護用遮断器の電磁環境性能 ··································································· 78

附属書H（規定）定格インパルス耐電圧を決定するための電源システムの公称電圧及び相間電圧に関す

る補正 ······························································································································· 80

附属書J（規定）受渡試験又は抜取試験 ··················································································· 81

附属書K（規定）CBE−スイッチの電気的性能に対する追加要求 ················································· 82

附属書1（参考）JISに対応する国際規格との対比表 ·································································· 83

日本産業規格 JIS

C 4610：2005

機器保護用遮断器

Circuit-breakers for equipment

序文この規格は，2000年に第3版として発行されたIEC 60934 Circuit-breakers for equipmentを翻訳し，

技術的内容を変更して作成した日本産業規格である。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にない事項又は原国際規格の内

容を理解しやすくするための参考である。変更の一覧表をその説明を付けて，附属書1（参考）に示す。

1. 適用範囲及び目的この規格は，電気機器内の回路を保護することを目的とする“機器保護用遮断器”

(以下，CBEという。)として設計された機械的開閉装置について適用するものである。

備考1. “機器”という用語には，器具も含められる。

2. 保護される部品は通常，モータ，変圧器，内部配線などである。

CBEは，過負荷条件において必要とされる定格短絡容量より高い定格短絡容量をもつ場合があり，更に，

指定された短絡保護装置(SCPD)と連携して，条件付の短絡電流定格をもつ場合がある。

この規格は，過電圧又は不足電圧に対する電気機器の保護用の開閉器にも適用される。

この規格は，440 V以下の交流及び/又は250 V以下の直流，並びに125 A以下の定格電流に適用される。

この規格は，次のCBEを網羅する。

− 自動遮断及び非自動リセット，又は，自動リセットのもの。

− 自動遮断及び非自動リセット，又は，自動リセットのもの，かつ，手動開閉操作を行うもの。

自動遮断の手段が禁止されているか，又は，存在しないCBEスイッチ(3.1.3参照)も含む。

備考3. この規格は，AC630 Vまでの電圧に対する指標としても用いることができる。

4. 断路(アイソレーション)に適したCBEの要求事項は，検討中である。

この規格は，上記の装置が要求される動作特性に準拠することを，形式試験によって保証するためのす

べての要求事項を含む。また，この基準は，試験の要求事項及び試験結果の再現性を保証するための試験

方法に関する詳細事項をも含む。

備考5. この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60934:2000，Circuit-breakers for equipment (MOD)

2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その

最新版（追補を含む。）を適用する。

C 4610：2005

JIS C 0664 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：原理，要求事項及び試験

備考 IEC 60664-1:1992 Principles， requirements and testsからの引用事項は，この規格の該当事項

と同等である。

JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)

備考 IEC 60529:1989 Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)が，この規格と一致して

いる。

JIS C 3662(全ての部)シリーズ定格電圧450/750 V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル

備考 IEC 60227 (all parts) Polyviniyl choride insulated cables of rated voltages up to and including

450/750 Vからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。

JIS C 6950 情報技術機器の安全性

備考 IEC 60950:1999 Safety of information technology equipmentからの引用事項は，この規格の該

当事項と同等である。

JIS C 8269(全ての部) 低電圧ヒューズ

備考 IEC 60269 (all parts) Low-voltage fusesが，この規格と一致している。

JIS C 60068-2-20 :1996 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法

備考 IEC 60068-2-20:1979 Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Solderingが，この規格と一致

している。

JIS C 60695-2-10 環境試験方法−電気・電子−耐火性試験グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

備考 IEC 60695-2-10 Fire Hazard testing - Part 2-10: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire

apparatus and common test procedureが，この規格と一致している。

JIS C 60695-2-11 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

備考 IEC 60695-2-11 Fire hazard testing - Part 2-11: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire

flammability test method for end-productsが，この規格と一致している。

JIS C 60695-2-12 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

備考 IEC 60695-2-12 Fire hazard testing - Part 2-12: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire

flammability test method for materialsが，この規格と一致している。

JIS C 60695-2-13 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ着火性試験方法

備考 IEC 60695-2-13 Fire hazard testing - Part 2-13: Glowing/hot-wire based test methods - Glow-wire

ignitability test method for materialsが，この規格と一致している。

JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-2 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4 : Testing and measurement

techniques - Section 2 : Electrostatic discharge immunity testが，この規格と一致している。

JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第3節：放射無線周波電磁界イミュニテ

ィ試験

備考 IEC 61000-4-3 Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4 : Testing and measurement techniques

- Section 3 : Radiated， radio-frequency， electromagnetic field immunity testが，この規格と一

致している。

JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第4節：電気的ファストトランジェント

／バーストイミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-4 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4 : Testing and measurement

C 4610：2005

techniques - Section 4 : Electrical fast transient/burst immunity testからの引用事項は，この規格の

該当事項と同等である。

JIS C 61000-4-5 電磁両立性第4部：試験及び測定技術第5節：サージイミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-5 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4 : Testing and measurement

techniques - Section 5 : Surge immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項と同等であ

る。

IEC 60050 (151):1978 International Electrotechnical Vocabulary (IEV)， Chapter 151 : Electrical and

magnetic devices

IEC 60050 (441):1984 International Electrotechnical Vocabulary (IEV)， Chapter 441 : Switchgear，

controlgear and fuses

IEC 60050 (604):1987 International Electrotechnical Vocabulary (IEV)， Chapter 604 : Generation，

transmission and destribution of electricaly - Operation

IEC 60050 (826):1982 International Electrotechnical Vocabulary (IEV)， Chapter 826 : Electrical

installations of buildings， Amendment 1 (1990)， Amendment 2 (1995)， Amendment 3 (1999)

IEC 60060-1:1989 High-voltage test techniques - Part 1 : General definitions and test requirements

IEC 60099-1:1991 Non-linear resistor type gapped surge arresters for a.c. systems

IEC 60417:1998 Graphical symbols for use on equipment - Part 1 : Overview and application

IEC 60664 (all parts) Insulation co-ordination for equipment within low voltage system

IEC 60664-3:1992 Use of coatings to achieve insulation co-ordination of printed board assemblies

IEC 60898:1995 Electrical accessories - Circuit-breaker for overcurrent protection for household and similar

installations

IEC 60947-1:1999 Low voltage switchgear and controlgear - Part 1 : General rules

CISPR 22 : 1997 Information technology equipment - Radio disturbance characteristics - Limits and methods

of measurement

3. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

3.1

開閉機器及び保護に関する定義

3.1.1

遮断器(機械的)[circuit-breaker(mechanical)][IEV 441-14-20] 通常の回路条件の下で，電流を投

入，通電及び遮断することができ，かつ，回路の短絡のような特定の異常回路条件の下でも，投入，規定

した時間の通電及び遮断することができる能力をもつ機械式開閉機器。

3.1.2

機器保護用遮断器[circuit breaker for equipment (CBE)] 機器保護用に特に設計された遮断器。

3.1.3

CBEスイッチ(CBE-switch) 電圧又は機械的手段による引外し装置をもち，過電流引外し装置が

ないCBE。

備考関連する特別の仕様要求事項は，附属書Kによる。

3.1.4

ヒューズ(fuse)[IEV 441-18-01] 種類に応じて仕様設計された部品(component)の溶断機能を用い

たもので，ある一定時間の電流がある一定値を超えるとき，それが挿入されている回路の電流を遮断する

ことによって開路する装置。装置を構成するすべての部品でヒューズが完成する。

3.1.5

開閉機器(switching device)[IEV 441-14-01] 回路において，電流を投入又は遮断するために設計

した機器。

C 4610：2005

3.1.6

機械式開閉機器(mechanical switching device)[IEV 441-14-02] 開離できる接点を用いて，電気回

路を開閉するように設計した開閉機器。

3.1.7

開閉器(機械式)[switch(mechanical)][IEV 441-14-10] 規定した過負荷条件での動作を含む通常の

回路条件の下で，電流を投入，通電及び遮断することができ，かつ，回路の短絡によって生じるような，

特定の異常回路条件の下でも規定した時間，電流を流すことができる能力をもつ機械式開閉機器。

3.1.8

断路器(disconnector)[IEV 441-14-05] 開路位置で，断路機能の規定要求事項に対応する機械式開

閉機器。

3.1.9

断路(disconnection) 電源を断とうしている部分と電源との間の絶縁を確実にする電気回路の切

断。

3.1.10 完全断路(full-disconnection) 接点の開離によって基礎絶縁と同等の絶縁を確保する断路。

3.1.11 微少断路(micro-disconnection) 接点の開離による性能に適合させる断路。

3.1.12 断路(アイソレーション)(断路機能)[isolation(isolating function)] 安全のために，あらゆる電気エ

ネルギー源から，設備又は区域を分離することによって，設備のすべて又は分離された区域から電源を切

り離す機能。

3.2

共通用語

3.2.1

周囲温度(ambient air temperature)[IEV 441-11-13] 規定した条件の下で決まる遮断器を取り巻

く空気の温度(箱入りCBEについては，エンクロージャの外側の温度である。)。

3.2.2

給与電圧(applied voltage)[IEV 441-17-24] 遮断器を投入する直前の電圧であって，遮断器の極の

端子間に存在する電圧。交流の場合は，実効値である。

3.2.3

主回路(CBEの)[main circuit(of a CBE)][IEV 441-15-02] 閉路又は開路するために設計した回路

を含むCBEのすべての導電部。

3.2.4

制御回路(CBEの)[control circuit(of a CBE)][IEV 441-15-03] CBEの閉動作若しくは開動作，又

はその両方に用いる(主回路を除く。)，CBEのすべての回路。

3.2.5

補助回路(CBEの)[auxiliary circuit(of a CBE)][IEV 441-15-04] CBEの主回路及び制御回路以外

の回路を含めたCBEのすべての導電部。

3.2.6

極(CBEの)[pole(of a CBE)][IEV 441-15-01] 主回路を開閉する接点を備え，主回路の電気的に

分離している一つの導電路を独立して組み合わせたCBEの部分。ただし，極をともに取り付けたり，操作

したりする手段を備える部分は除外する。

3.2.7

保護極(protected pole) 過電流引外し(素子ともいう。)を備えた極(3.6.2参照)。

3.2.8

非保護極(unprotected pole) 過電流引外し(3.6.2参照)がない極。ただし，一般的には同一のCBE

の保護極と同一の性能をもつ。

3.2.9

中性線(neutral conductor)(記号はN)[IEV 826-01-03] システムの中性点に接続し，電気エネルギ

ーの伝達に用いることができる導体。

3.2.10 閉路位置(closed position)[IEV 441-16-22] CBEの主回路が規定の導通状態を保持している位置。

3.2.11 開路位置(open position)[IEV 441-16-23] 遮断器の主回路において，開離した接点間が規定の空間

距離を確保している位置。

3.2.12 一体式取付方法(incorporated mounting) 機器の取付位置にCBEを固定させえるためのくぼ（凹）

みを使用者がその機器に準備した取付方法。

3.3

電流に関する定義

3.3.1

電流(currents) 電路を通る電荷の流れ。

C 4610：2005

3.3.2

定格電流(rated current) CBEに規定された動作状態のために製造業者によって指定された電流

値。

3.3.3

過電流(overcurrent)[IEV 441-11-06] 定格電流を超える電流。

3.3.4

過負荷電流(overload current) 電気的に損傷していない回路に生じる過電流。

3.3.5

短絡電流(short-circuit current)[IEV 441-11-07] 通常状態では電位差をもつ回路において，そのイ

ンピーダンスが非常に小さい値になるような事故によって生じる過電流。

備考短絡電流は，誤結線又は事故によって起こることもある。

3.3.6

規約動作電流(It)[conventional tripping current(It)] CBEが規定時間(規約時間)内で引外しする

電流の規定値。

3.3.7

規約不動作電流(Int)[conventional non-tripping current(Int)] CBEが引外ししないで規定時間(規

約時間)通電できる電流の規定値。

3.3.8

瞬時引外し電流[instantaneous tripping current(Ii)] CBEが0.1秒未満で自動遮断動作(意図的な

時間遅れなしに)する電流の最小値。

3.3.9

瞬時不動作電流(Ini)[instantaneous non-tripping current(Ini)] CBEが意図的な時間遅れなしに，

0.1秒以下では，自動的に動作しない電流値。

3.4

電圧に関する定義

3.4.1

定格電圧(Rated voltages) 動作及び性能特性に関して製造業者がCBE又はコンポーネントに対し

て決めた電圧値。

備考装置の形式によっては，一つ以上の定格電圧，又は定格電圧範囲をもつことがある。

3.4.2

ワーキング電圧(Working voltage) 装置に定格電圧を加えたとき，それぞれの絶縁物間に発生して

いる最高の交流実効値又は直流電圧。

備考1. 過渡状態は，無視される。

2. 開路状態又は通常動作状態も考慮される。

3.4.3

過電圧(overvoltage) 通常の使用状態で，最大定常電圧(maximum steady state voltage)に一致するピ

ーク値を超えるピーク値をもつあらゆる電圧。

3.4.4

一時過電圧(temporary overvoltage) 比較的長い期間(数秒)の過電圧。

3.4.5

過渡過電圧(transient overvoltages)[IEV 604-03-13] 周期的又は非周期的で，通常は大きく減衰す

る数msより小さな短期間の過電圧。

3.4.6

一時耐電圧(temporary withstand voltage) 指定された状態の下で絶縁破壊を生じない一時過電圧

の最大値。

3.5

CBEの構造上の要素に関する定義

3.5.1

アクセス可能な部分(accessible part) 通常の使用時に触ることができる部分。

3.5.2

導電部(conductive part)[IEV 441-11-09] 使用電流を必ずしも通電しなくてもよいが，電気を導通

させる機能がある部分。

3.5.3

露出導電部(exposed conductive part)[IEV 441-11-10] 容易に人の接触が可能で，通常は充電部に

はなっていないが，故障したとき充電部となり得る導電部。

備考典形的な露出導電部には，金属製のエンクロージャの周囲の壁，金属製の操作ハンドルなどが

ある。

3.5.4

充電部(live part)[IEV 826-03-01] 通常の使用状態で電圧が印加されている導体又は導電部をい

い，中性線を含むが慣例的にPEN導体は含まない。

C 4610：2005

備考この用語は，必ずしも感電の危険性を意味しない。

3.5.5

取外し可能部品(detachable part) 工具なしで取り外すことができる部分。

3.5.6

主接点(main contact)[IEV 441-15-07] 遮断器の主回路に用いられ，閉路位置で主回路の電流が流

れるようになっている接点。

3.5.7

補助接点(auxiliary contact)[IEV 441-15-10] 遮断器の補助回路に設けた接点で，遮断器によって

機械的に動作する接点(例えば，接点の位置を表示するためのもの。)。

3.5.8

制御接点(control contact)[IEV 441-15-09] 遮断器の制御回路に設けた接点で，遮断器によって機

械的に動作する接点。

3.5.9

“a”接点("a" contact)又は投入接点(Make contact)[IEV 441-15-12] 機械式開閉機器の主接点が

閉じたとき閉路し，主接点が開いたときに開路する制御接点又は補助接点。

3.5.10 “b”接点("b" contact)又は遮断接点(Break contact)[IEV 441-15-13] 機械式開閉機器の主接点が

閉じたとき開路し，主接点が開いたときに閉路する制御接点又は補助接点。

3.5.11 “c”接点("c" contact)又は投入−遮断接点(Make-Break contact) 投入，遮断の3端子切換えエレ

メントをもつ制御接点又は補助接点。

3.5.12 操作部(actuator)[IEV 441-15-22] 外部から駆動力が加えられる動作システムの一部分。

備考操作部は，ハンドル，ノブ，押しボタン，ローラ，プランジャなどの形態をしている。

3.5.13 動作システム(CBEの)[actuating system(of a CBE)] 接点片に駆動力を伝えるCBEの操作手段の

すべて。

3.5.14 駆動力(モーメント)[actuating force(moment)][IEV 441-16-17] 意図した動作を完了するのに必

要な操作部に加えられる力(モーメント)。

3.6

CBEの引外し装置に関する定義

3.6.1

引外し装置(release)[IEV 441-16-33] CBEに機械的に接続した(又は内蔵した)装置で，CBEの保

持機構を引外し，CBEを自動開放させる装置。

3.6.2

過電流引外し装置(overcurrent release)[IEV 441-16-33] 引外し装置の電流が規定値を超過したと

きには，時間遅れの後に又は瞬時にCBEを開路させる引外し装置。場合によっては，この値は，電流の上

昇値に依存することができる。

3.6.3

反限時時延過電流引外し装置(inverse time-delay overcurrent release) 過電流値によって決まる反

限時動作の経過時間後に動作する過電流引外し装置。このような引外し装置の時延は，過電流の高い値に

対して最低値を決め，設定するように設計していてもよい。

3.6.4

直接過電流引外し装置(direct overcurrent release) CBEの主回路の電流によって直接付勢される

過電流引外し装置。

3.6.5

瞬時過電流引外し装置(instantaneous overcurrent release) CBEを意図的な時間遅れなしで動作さ

せる引外し装置。

3.6.6

過負荷引外し装置(overload release)[IEV 441-16-38] 過負荷に対する保護を目的とした過電流引

外し装置。

3.6.7

短絡引外し装置(short-circuit release) 短絡に対して保護をする過電流引外し。

3.6.8

電圧引外し装置(shunt release)[IEV441-16-41] 電源電圧で励磁される引外し装置。

備考1. この電源電圧は，主回路の電圧とは関係なくてもよい。

2. CBEにおいて主回路と無関係な電圧引外し装置は，リレー引外しと呼ばれることがある。

C 4610：2005

3.6.9

不足電圧引外し装置(undervoltage release)[IEV 441-16-42] 端子間の電圧があらかじめ設定した

値以下になったとき，時延の有無に関わらずCBEを開放する引外し装置。

3.6.10 無電圧引外し装置(zero-voltage release)[IEV 441-16-41] 電源電圧が定格電圧の0.1倍以下に低下

したことによってCBEを引き外す装置。

3.6.11 過電圧引外し装置(over-voltage release) 引外し装置の端子にかかる電圧が規定以上になったとき，

時延又は瞬時で動作するような装置。

3.6.12 熱動形過負荷引外し装置(thermal overload release)[IEV 441-16-39] (時延を含めた)動作が，引外

し装置に流れる電流による熱作用に依存する反限時時延過負荷引外し装置。

3.6.13 電磁過負荷引外し装置(magnetic overload release)[IEV 441-16-40] 電磁石のコイルを励磁してい

る主回路の電流によって働く力で動作する過負荷引外し装置。

備考通常，このような引外し装置は，反限時時延/電流特性になっている。

3.7

CBEの絶縁及び空間距離に関する定義

3.7.1

機能絶縁(functional insulation) 機器が固有の機能を果たすだけのために必要な充電部間の絶縁。

3.7.2

基礎絶縁(basic insulation) 感電に対して，基本的な保護をする充電部間に適用する絶縁。

備考基礎絶縁は，機能的に用いられる絶縁を必ずしも含んではいない。

3.7.3

付加絶縁(supplementary insulation) 基礎絶縁が破壊された場合に，確実に感電防止ができるよう

に基礎絶縁に付加して設けられた独立した絶縁。

3.7.4

強化絶縁(reinforced insulation) 感電に対して，二重絶縁と等価な保護の程度を備えた充電部間に

与える単一の絶縁システム。

3.7.5

二重絶縁(double insulation) 基礎絶縁と付加絶縁を含んでいる絶縁。

3.7.6

空間距離(clearance)[IEV 441-17-31] 二つの導電部間の最短距離。

3.7.7

対地空間距離(clearance to earth)[IEV 441-17-33] 任意の導電部と接地又は接地を意図した部分

との空間距離。

3.7.8

開接点間の空間距離(ギャップ)[clearance between open contacts(gap)][IEV 441-17-34] 開路位置

における機械式開閉機器の極の接点間又は接点に接続された導電部の間の総空間距離。

3.7.9

断路距離(CBEの極の)[isolating distance(of a pole of a CBE)][IEV 441-17-35] 断路器に対し規定

されている安全に関する要求事項に適合する接点間の空間距離。

3.7.10 沿面距離(creepage distance)[IEV 151-03-37] 二つの導電部間の絶縁材料の表面に沿う最短距離。

3.7.11 絶縁協調(insulation coordination) ミクロ環境及びほかの影響するストレスを考慮した電気装置

の絶縁特性に関する相互関係。

3.7.12 インパルス耐電圧(impulse withstand voltage) 規定試験条件の下では絶縁破壊を起こさない，規

定された波形及び極性をもつインパルス電圧の最大ピーク値。

3.7.13 商用周波耐電圧(power-frequency withstand voltage) 規定試験条件の下で，絶縁破壊を起こさない

商用周波数の正弦波電圧の実効値。

3.7.14 汚染(pollution) 絶縁耐力又は絶縁物の表面抵抗に影響する，固体，液体，又はガス状(イオン化

したガス)の外部物質の付着。

3.7.15 汚損度(pollution degree) ミクロ環境において予測される汚染を数値化したもの。

備考汚損度 1，2，3，4が用いられる(JIS C 0664の2.5.1を参照)。

3.7.16 過電圧種別(overvoltage category) 回路に発生する推定過電圧の制限値(又は制御値)及び過電圧

に影響を与える使用された手段に基づく番号。

C 4610：2005

3.7.17 均一電界(homogeneous field) それぞれの半径が，相互間の距離より大きい二つの領域の間の空間

のように，本質的に極間電圧こう配が一定な電界。

3.7.18 不均一電界[inhomogeneous(non-uniform)field] 本質的に極間電圧こう配が一定ではない電界。

3.7.19 マクロ環境(macro-environment) 機器が取り付けられるか，用いられる部屋，その他の場所の環

境。

3.7.20 ミクロ環境(micro-environment) 特に沿面距離の寸法に影響する絶縁に直接関係する環境。

3.8

CBEの動作に関する定義

3.8.1

動作(operation)[IEV 441-16-01] 開位置から閉位置又はその反対への可動接点の移動。もし，区

別が必要な場合，投入又は遮断のような電気的な感覚の動作は電気的開閉動作といい，閉路又は開路のよ

うな機械的な感覚の動作は機械的動作という。

3.8.2

動作サイクル(operating cycle)[IEV 441-16-02] ある位置からほかの位置への動作，及び最初の位

置に戻るような動作の継続。

3.8.3

動作シーケンス(operating sequence)[IEV 441-16-03] 定められた時間間隔で進行するようにした，

定められた動作の継続。

3.8.4

暫定的責務(temporary duty) CBEが熱的平衡状態に到達するには不十分な時間，CBEの主接点

が閉路状態を維持し，無負荷期間が冷却媒体によって完全に冷えきるまでの十分な時間切り離したときの

責務。

3.8.5

連続責務(uninterrupted duty) CBEの主接点が閉路状態で，長時間(数週間，数か月又は数年)遮

断なしで定常電流を通電する責務。

3.8.6

間欠責務(intermittent duty) 装置の主接点が閉路状態に保たれ，通電期間と無通電期間との関係

が定義され，両方の期間ともCBEが熱的平衡に達するには短かすぎる通電期間をもつ責務。

3.8.7

閉動作(closing operation)[IEV 441-16-08] CBEを開路位置から閉路位置まで移動させる動作。

3.8.8

開動作(opening operation)[IEV 441-16-09] CBEを閉路位置から開路位置まで移動させる動作。

3.8.9

引外し自由CBE(trip free CBE)[IEV 441-16-31] 閉動作が行われた後，閉の命令が維持されてい

ても，開動作が開始すると，開路位置に戻るか又はそのまま開の状態を保持するようになっている可動接

点をもつCBE。この設計のCBEは，強制引外し自由と呼ばれることもある。

3.8.10 サイクル引外し自由CBE(cycling trip-free CBE) 閉操作が行われた後に開動作が開始すると開位

置に戻るようになっていて，閉の命令が維持されている間，一時的な再閉路動作を繰り返す可動接点をも

つCBE。

3.8.11 非引外し自由CBE(non trip-free CBE) 投入命令が維持されているならば，自動的に開動作しよう

としたとき可動接点が開かないCBE。

備考非引外し自由CBEの使用条件は，4.7.3を参照。

3.9

CBEの動作特性に関する定義

3.9.1

動作時間(tripping time) 主回路に引外し電流が流れたときから，(すべての極の)その電流を遮断

したときまでの時間。

3.9.2

動作特性(tripping characteristic)[IEV 441-17-13] この特性を超えれば，CBEが必ず動作する時間

電流特性。

3.9.3

不動作特性(non-tripping characteristic) この特性より低ければ，CBEが動作しない時間電流特性。

3.9.4

動作領域(tripping zone) 3.9.2及び3.9.3の特性によって限定された時間電流領域。

C 4610：2005

3.9.5

自動リセット時間(self resetting time) 主回路の接点を開いたときから再投入されたときまでの時

間。

3.10 特性値に関する定義

3.10.1 定格値(rated value) 規定したすべての特性値で，CBEを設計したり，組み込んだりする使用条件

を明確にする値。

3.10.2 限界値(limiting value)[IEV 151-04-02] 仕様に関する特性値の一つであって，最大又は最小の許容

される値。

3.10.3 定格(Rating)[IEV 151-04-04] 定格値と動作条件の組合せ。

3.10.4 推定電流(prospective current)[IEV 441-17-01] CBEの各極を無視できるほど小さいインピーダン

スの導体で置き換えたとき，その回路に流れる電流。

3.10.5 開閉(投入及び遮断)容量[switching capacity(making and breaking capacity)] 使用上及び操作の

規定の条件の下で定常電圧でCBEが投入でき，かつ，遮断できる電流値。

3.10.6 短絡(投入及び遮断)容量[short-circuit(making and breaking)capacity] CBEが，規定の条件の下

で投入でき，開極時間の間通電でき，かつ，遮断できるように設計されている，実効値で表される推定電

流の交流成分。

3.11 CBEと組み合わせるSCPDとの間の協調に関する定義

3.11.1 短絡保護装置(SCPD)[short-circuit protective device(SCPD)] 短絡の電流に対して，回路を遮断す

ることによって，その回路及び回路部品を保護する装置。

3.11.2 バックアップ保護協調(back-up protection) CBEの保護装置の助けの有無にかかわらず，SCPD確

実に過電流保護を行い，CBEの過度のストレスを防止するような直列に接続された二つの過電流保護装置

の過電流協調。

3.11.3 選択遮断(over-current discrimination)[IEV 441-17-15] CBEは動作するが，SCPDは動作しないよ

うな限度内の過電流が生じたときのCBE及びSCPD間の動作特性の協調。

3.11.4 選択限界電流(IS)[selectively-limit current(IS)] 選択限界電流とは，次の電流の限界値のことであ

る(図F.1参照)。

− 選択限界電流より低い電流では，SCPDが動作を開始する時間までにCBEが遮断を完了する(選択

性は確保する。)。

− 選択限界電流より高い電流では，SCPDが動作を開始する時間までにはCBEが遮断を完了しない(選

択性は不確実となる。)。

3.11.5 条件付短絡電流(conditional short-circuit current) 規定された短絡保護装置で直列接続された

SCPDによってCBEが保護できる短絡電流値。

3.11.6 電気力学的な接点の開離(electrodynamic contact separation) 開閉機構が閉状態にあるとき，接点

の開離を生じさせるピーク電流の最も低い値。

3.11.7 CBEの短時間耐電流(short-time withstand current)[IEV 441-17-17] CBEが規定された使用及び

動作条件の下で，規定された短時間の間流すことができる電流。

3.11.8 テイクオーバ電流(take-over current) 直列接続された二つの過電流保護装置の動作特性が，0.05

秒以上の動作時間で交差する協調上の電流。

備考直列に接続されている二つの過電流引外し装置は，0.05秒未満の動作時間についての組合せを

検討しなければならない(附属書F参照。)。

3.12 端子及び接続部に関する定義

C 4610：2005

3.12.1 接続部(termination) 特別な手法を用いて行うことができる二つ以上の導電性の部品の間の接続。

備考特別な手法とは，特殊な工具によって処理された導体，はんだ付け又は溶接であってよい。

3.12.2 端子(terminal) 特別な手法を用いることなく電気的接続を繰り返し行えるようにした，装置の導

電部分。

3.12.2.1 未処理導体のための端子(terminal for unprepared conductor) 絶縁物の除去及び端子に挿入す

る前の導体のくせ直し又はより線端末強化のためのねじり以外に，導体に特別な処理を必要としない端子。

参考導体をほぼ均等に二つに分けて先端を整えるものは，特別な方法にはみなしていない。

3.12.2.2 処理導体のための端子(terminal for prepared conductor) 導体にケーブル用ラグ端子，アイレッ

ト(Eyelet)又は類似の装置のような特別な処理が必要な端子。

3.12.2.3 内部導体の端子(工場で配線された端子)[terminal for internal conductors(factory-wiring

terminal)] 装置の内部導体の接続用端子。

備考 CBEは，通常内部導体用端子が準備されている。しかし，必ずしも必要とは限らない。

3.12.3 ねじ式端子(screw-type terminal) 導体を接続及び取外し，又は，二つ以上の導体の相互接続及び

切離しに用いる，各種のねじ，ナットなどを用いて直接又は間接的に接続する端子。

3.12.4 ピラー端子(pillar terminal)(箱形端子又はソルダレス端子) 導体が穴又は空洞に差し込まれ，ね

じの先端で締め付けられる方式のねじ式端子の一種で，締付け圧力がねじの先端から直接加えられるか，

又はねじの軸の圧力が中間の締付け金具を介して加えられるもの。

備考ピラー端子の例を，附属書Eに示す。

3.12.5 ねじ端子(screw terminal) 導体がねじの頭で締め付けられる方式のねじ式端子の一種で，締付け

圧力が，ねじの頭で直接的に加えられるか，又は，座金，当て金，電線の広がり防止金具などの中間部品

を介して加えられるもの。

備考ねじ端子の例を，附属書Eに示す。

3.12.6 スタッド端子(stud terminal) 導体がナットの下で締め付けられる方式のねじ式端子の一種で，締

付け圧力が，適切な形のナットで直接に加えられるか，又は，座金，当て金，電線の広がり防止金具など

の中間部品を介して加えられるもの。

備考スタッド端子の例を，附属書Eに示す。

3.12.7 サドル端子(suddle terminal) 導体が，二つ以上のねじ又はナットによって，サドルの下で締め付

けられるねじ式端子の一種。

備考サドル端子の例を，附属書Eに示す。

3.12.8 ラグ端子(lug terminal) ねじ又はナットで導体接続用ラグ又は銅帯を締め付けるように設計した

ねじ端子又はスタッド端子。

備考ラグ端子の例を，附属書Eに示す。

参考我が国では圧着端子，又は，銅帯接続端子ともいう。

3.12.9 ねじなし端子(screw less terminal) 一つ以上の導体の接続及び/又は相互接続若しくは切離しを，

ねじ以外の方法で直接又は間接的に接続することができる端子。

備考ねじなし端子とみなされない場合。

− 端子を導体に固定させる前に，導体に特別な装置の取付けを必要としている端子，例えば，

平形接続子。

− 導体の巻付きが必要な端子。例えば，巻付き端子。

− エッジ又は点で絶縁を貫通させて導体を直接接触させる端子。

C 4610：2005

ねじなし端子は，図E.5〜図E.14参照。

3.12.9.1 汎用的なねじなし端子(universal screwless terminal) あらゆるタイプの導体の接続のためのね

じなし端子。

3.12.9.2 汎用的ではないねじなし端子(non-universal screwless terminal) ある特定のタイプの導体専用

のねじなし端子。

備考 − 単線用の電線を押さえて固定させる装置。

− 単線及びより線両用の電線を押さえて固定させる装置。

3.12.10 平形接続子(flat quick-connect termination) 工具なしで挿入したり引き抜いたりできるメールタ

ブ及び平形接続端子から構成されている電気的接続。

3.12.11 メールタブ(male tab) 平形接続端子をうける平形接続子の接続部分。

備考メールタブは，図E.6参照。

3.12.12 平形接続端子(female connector) メールタブに差し込む平形接続子の接続部分。

備考平形接続端子は，図E.14参照。

3.12.13 戻り止め(detent) 平形接続端子に引っ掛かって抜けを防止させるメールタブのへこみ(ディンプ

ル)又は孔。

3.12.14 はんだ付け端子(solder termination) はんだ付けによる接続が行えるように準備した導電部。

3.12.15 外部導体(external conductor) CBEが取り付けられている装置の外にあるケーブル，コード，コ

ア又は導体。

3.12.16 統合導体(integrated conductor) CBEの部品を恒久的な相互の接続に用いられる導体。

3.12.17 内部導体(internal conductor) 装置内部にあるケーブル，コード，コア，又は導体。しかし，外部

導体又は統合導体ではない。

3.12.18 タッピンねじ(tapping screw) 変形に対してより弱い材料の孔にねじ込んで用いたとき，変形に対

してより強度がある材料でねじ山を形成するねじ。

ねじの端部のねじ山の谷径に適合するテーパ部をもつ，テーパねじで構成され，テーパ部のねじ山数を

超える十分な回転の後に，ねじが確実に形成できるように作られているねじ。

3.12.19 ねじ山形成ねじ(thread-forming screw) 連続したねじ山をもつタッピンねじ。このねじ山の機能

は孔から材料を除去するものではない。

備考付図1に，ねじ山形成タッピンねじの一例を示す。

3.12.20 ねじ山切削ねじ(thread-cutting screw) 断続したねじ山をもつタッピンねじ。このねじ山は孔から

材料を取り除くことを意図している。

備考付図2に，ねじ山切削タッピンねじの一例を示す。

3.13 試験の定義

3.13.1 形式試験(type test)[IEV 151-04-15] ある定められた設計によって作られた1個以上の機器に対し

て，その設計が規定の仕様に適合しているかどうかを証明する試験。

3.13.2 受渡試験(routine test)[IEV 151-04-16] 規定の基準に合致しているかどうかを確かめるために，

個々の機器それぞれに対し，製造中及び/又は製造後に行う試験。

3.13.3 特殊試験(special test)[IEV 151-04-18] 形式試験及び受渡試験に加え，製造業者の判断又は受渡当

事者間の合意の下に行う試験。

4. 分類 CBEは，次の基準に従って分類される。

C 4610：2005

4.1

極の数による分類

− 極数

− 保護極の数

備考保護極ではない極には，次の二つがある。一つは非保護極，もう一つは開閉専用中性極である。

4.2

取付方法による分類

− 表面形

− 埋込形

− パネル取付形

− 組合せ形

備考1. パネル取付形は，スナップオン形及びフランジ形を含む。

2. 組合せ形は，固定手段によって位置が固定され，ほかの取付手段を必要としない。

4.3

接続方法による分類

− 接続が機械的な取付けと兼用していないCBE。

− 接続が機械的な取付けと一つ又は複数兼ねているCBE，例えば，次のようなものがある。

・差込形

・ボルトオン形

・スクリューイン形

・はんだ付け形

備考あるCBEでは，負荷端子を通常の電源電線に適するようにし，電源側だけを差込形又はボルト

オン形とする場合もある。

4.4

動作方法による分類

4.4.1

R-形自動遮断し，非自動(手動)リセットするCBE。

4.4.2

M-形自動遮断し，非自動(手動)リセットするCBEで，必要に応じて手動開閉するための手動開

閉機構を備え，通常の負荷状態の下では，正規の手動開閉機構を備えていないCBE。

4.4.3

S-形自動遮断し，非自動(手動)リセットするCBEで，通常の負荷条件の下で手動開閉器として

用いることができる(5.2.2備考参照)。

4.4.4

J-形自動遮断し，自動復帰するCBE。

備考 J-形CBEは，更に手動操作機構をもってもよい。この場合は，ほかの形に関する適切な要求事

項が適用できる。

4.5

引外し方式による分類

4.5.1

電流(過電流)引外し

引外し方式

類別記号

− 熱動式

− 熱動電磁式

− 電磁式

− 流体電磁式

− ハイブリッド式

備考ハイブリッド式とは，何かほかの引外し方式と組み合わせた電子制御装置のことを意味する。

4.5.2

電圧引外し

C 4610：2005

引外し方式

類別記号

− 過電圧

− 不足電圧

4.5.3

スイッチ

引外し方式

類別記号

− 引外し素子なし

− 電圧による引外し

− 機械手段による引外し Z

4.6

周囲温度の影響による分類

4.6.1

動作が温度に依存するCBE。

4.6.2

動作が温度に依存しないCBE。

4.7

引外し自由の動作方式による分類

4.7.1

引外し自由(積極的な引外し自由)。

4.7.2

サイクリング引外し自由。

4.7.3

非引外し自由非引外し自由CBEは，短絡責務で用いられるようには意図されていない。

備考道具を用いないで，アクセス可能な場所では，非引外し自由形を用いてはならない。

4.8

取付位置の影響による分類

4.8.1

取付位置に依存しない。

4.8.2

取付位置に依存する。

4.9

電気的性能

4.9.1

誘導負荷を含む一般的な回路用。

4.9.2

大部分が抵抗負荷だけの回路用。

5. CBEの特性

5.1

特性表適用によって，CBEの特性は次の用語で表される。

− 極数，保護極の数(4.1参照)，もしあれば，中性路の数

− 取付方法(4.2参照)

− 接続方法(4.3参照)

− 動作方法(4.4参照)

− 定格値(5.2参照)

− 動作特性(3.9参照)

5.2

定格値特に指定がない限り，すべての電流及び電圧の値は，実効値とする。

5.2.1

定格電圧 CBEは，次の定格電圧によって定義される。

5.2.1.1

定格使用電圧(Ue) CBEの定格使用電圧(以下，定格電圧という。)とは，性能基準となる電圧値

をいう。

備考同一のCBEは，複数の定格電圧と関連する定格開閉容量(5.2.4参照)を指定してもよい。

5.2.1.2

定格絶縁電圧(Ui) CBEの定格絶縁電圧とは，耐電圧試験，空間距離及び沿面距離の基準となる

電圧値をいう。

特に指定がない限り，定格絶縁電圧は，CBEの最大定格電圧とする。

いかなる場合においても，最大定格電圧は，定格絶縁電圧を超えてはならない。

C 4610：2005

5.2.1.3

定格インパルス耐電圧(Uimp) 規定された波形及び極性をもつインパルス電圧のピーク値で，

CBEが定義された試験条件のもとで耐えることができ，空間距離の基準となる。

機器の定格インパルス耐電圧は，機器が設置される回路における過渡過電圧値と同一か高くなければな

らない。

電源の定格電圧と定格インパルス耐電圧の関係は，附属書Hに示す。

絶縁強調の検証のインパルス耐電圧試験電圧を，表21に示す。

5.2.1.4

不足電圧及び無電圧引外しの定格電圧(Un) 不足電圧引外し及び/又は無電圧引外しの定格電圧

は，性能基準となる電圧値。

5.2.2

定格電流(In) CBEが指定された基準周囲気温で電流を遮断することなく(3.8.5参照)通電できる，

製造業者が(指定した性能に基づいて表11又は表12によって)指定した電流値。

基準周囲温度は，23±2 ℃である。

基準周囲温度が標準値と異なる場合は，製造業者が指定したディレーティング率を適用しなくてはなら

ない(7.1参照)。

備考 S-形CBEの場合，表11に基づくものとは異なる定格電流は，製造業者によって誘導負荷のた

めに指定してもよい。

5.2.3

定格周波数 CBEに対し指定されるもので，ほかの特性の値に影響する電源周波数。

5.2.4

定格開閉容量(定格投入及び遮断容量) 製造業者がCBEに対して指定した，開閉容量の値(3.10.5

参照)。

備考交流の場合は，電流の実効値で表される。

5.2.5

定格条件付短絡電流(Inc) 製造業者がCBEに対して指定した条件付短絡電流の値(3.11.5参照)。

備考1. ここでは，交流の定格条件付短絡電流の値に対してだけ規定し，直流の場合の定格条件付短

絡電流に関しては，検討中である。

2. この目的のために，二つの性能種別を規定する(5.2.5.1及び5.2.5.2参照)。

5.2.5.1

定格条件付短絡電流，性能種別PC1(Inc1)(9.12.4.2参照) その指定条件に，CBEの短絡遮断後の

継続使用を前提としていない定格条件付短絡電流値。

5.2.5.2

定格条件付短絡電流，性能種別PC2(任意項目)(Inc2)(9.12.4.3参照) その指定条件に，CBEの定

格遮断後の継続使用を前提としている定格条件付短絡電流値。

5.2.6

定格短絡容量(Icn) CBEの定格短絡容量は，製造業者が3.10.6に基づき，CBEに対して指定する

電流値である。

定格短絡電流値は，次の値以上でなければならない。

− ACの場合，6In

− DCの場合，4In

5.3

標準値及び推奨値

5.3.1

定格電圧の推奨値定格電圧の推奨値は，次のとおりである。

− AC

50，60，100，100/200，110，110/220，120，200，240/120，220，230，240，265，380/220，

400/230，415/240，380，400，415，440 V

− DC

12，24，48，60，100，110，120，125，240，200，220，250 V

備考 IEC 60038では，AC 400/230 Vの回路電圧値が標準化されている。この値は，順次380/220 V

C 4610：2005

及び415/240 Vに置き換えなければならない。

5.3.2

標準定格周波数標準定格周波数は，50，60及び400 Hzである。

5.3.3

定格条件付短絡電流の標準値定格条件付短絡電流の標準値は，

300，600，1 000，1 500及び3 000 Aである。

6. 表示及び製品情報各CBEは，耐久性がある方法で次の事項を表示しなければならない。

a) 製造業者の名称又は商標

b) 形式又は製造番号

c) 定格電圧

d) 定格電流(符号でもよい。例形式の最後に“A”を付けずに電流の値を表示する。)

抵抗負荷専用の場合は，製造業者のカタログに記載しなくてはならない。

e) 定格周波数(ただし，CBEが50 Hz及び60 Hzの共用以外の場合)

この規格で指定の周囲温度(5.2.2参照)以外の周囲温度で校正されたCBEの基準周囲温度。

例基準周囲温度が40 ℃の場合は，“T40”と表示する。

g) (電圧動作形のCBEの)動作電圧の範囲

h) 指定された空間距離より小さな接点ギャップをもつ形式のCBEでは，記号“μ”を表示する。

動作方法，R，M，S又はJ形(4.4参照)

k) 引外し方式(4.5参照)

引外し自由の動作方式段階(4.7参照)

m) 過電圧種別がII以外の場合は，過電圧種別を表示。また，汚損度が2以外の場合は，汚損度を表示(8.1.3

参照)。

n) 関連する場合，定格条件付短絡電流，性能種別PC1(Inc1)

o) 関連する場合，定格条件付短絡電流，性能種別PC2(Inc2)，必要な場合

p) 定格インパルス耐電圧

q) 適用する場合，定格短絡容量Icn(5.2.6参照)

r) 自動リセット時間

小形の製品で表示スペースが十分にない場合には，少なくともa)，b)及び適用する場合はg)及びh)を製

品上に表示しなければならない。また，可能な場合，c)及びd)も製品上に表示しなければならない。その

他情報は，カタログに記載しなければならない。

押しボタンで操作するCBE以外では，開位置を記号“O”で表示し，閉位置を記号“|”(短い縦の直線)

で表示する。

二つの押しボタンで操作するCBEでは，開操作用の押しボタンだけを赤色又は記号“O”で表示する。

備考 “O”及び” | ”以外の国内記号も使用可能である。

備考1. 我が国では，通常“ON”，“OFF”で表示してもよい。

赤色は，ほかの押しボタンには用いることができないが，オン/オフ位置が明確に表示されていれば，例

えばハンドル，ロッカなど，ほかの種類の操作部に用いることができる。

電源端子と負荷端子を識別する必要がある場合，前者をCBE側に向かう矢印で，後者をCBE側から離

れる向きを矢印で示さなければならない。

備考その他の国内及び国際表示方法，例えば，供給端子を1，3，5で表示し，負荷端子を2，4，6

で表示する方法も使用可能である。

C 4610：2005

備考1. 我が国では，“Line”，“Load”又は“Line”だけを表示してもよい。

中性点専用の端子は，“N”で表示しなければならない。

保護導体用の端子がある場合，それを記号，“ ”(IEC 60417-5019)で表示しなければならない。

適合性は，検査及び9.3の試験によって判定する。

もし接続配線が明確でなければ，可能な限りのところでCBEに配線図を付けなくてはならない。

配線図では，端子を“―○”記号で表さなければならない。

表示は耐久性があり，容易に判読できなければならない。かつ，ねじ，座金，その他の取外し可能な部

品に表示してはならない。

7. 標準使用状態この基準に適合するCBEは，次の標準条件で用いることができなければならない。

7.1

周囲温度

7.1.1

校正のための基準周囲温度 T この規格に指定された基準周囲温度は，23±2 ℃である。

しかし，CBEが異なる基準周囲温度 T℃で校正された場合，6. f)に従い表示しなくてはならない。

7.1.2

使用温度範囲標準条件(基準周囲温度T＝23 ℃)の場合，周囲温度は，40 ℃を超えず，24時間の

その平均温度は35 ℃を超えない。周囲気温の下限は，−5 ℃である。

23 ℃を超える基準周囲温度 TのCBEにおいては，上限はT＋10 ℃に設定する。下限は，製造業者の情

報による。

7.2

標高設置場所の標高は，2 000 m(6 600 ft)を超えてはならない。

標準使用状態より高い標高において用いられる場合には，空気の冷却効果と絶縁耐力の低下を考慮する

必要がある。

そのような場所で用いられるCBEは，特別に設計されているか又は受渡当事者間の合意に従って用いら

れなければならない。

製造業者のカタログに記載する情報は，このような合意の代わりとしてもよい。

7.3

雰囲気空気は清浄でその相対湿度は40 ℃最高温度で85 ％を超えてはならない。より高い相対湿

度は20 ℃で90 %のように低い温度では認めてもよい。

温度変化によって露結及び氷結が生じる場合，特別な手段(例えば，排水孔)が必要である。

8. 製作及び動作に関する要求事項

8.1

機械的設計

8.1.1

一般事項 CBEが標準使用状態においてその性能が確実であるように，そして使用者又はその周

囲に危険がないように設計され，かつ，構成されていなければならない。一般に適合性は，規定されてい

るすべての関連試験を行うことによって判定する。

8.1.2

機構多極CBEの可動接点は，機械的に連結されている共通引外し機構をもち，自動操作中，手

動操作中のいずれにもかかわらず，過負荷が一極だけに起きた場合であっても，すべての保護極及び非保

護極は同時に投入し遮断しなければならない。製造業者はCBEが引外し自由，サイクリング引外し自由で

ないことを，カタログに記載しなければならない。

手動操作手段をもたないJ-形CBEを除いたCBEは，閉路位置と開路位置を示す手段が付いていなけれ

ばならない。もし，カバー又はカバープレートを装備した場合でも，容易に識別できなくてはならない。

操作手段が接点の位置を示すために用いられる場合には，接点の位置に一致する二つの明確な静止位置を

もたなくてはならない。引き外したとき，操作部は，自動的に可動接点に一致する位置を取らなければな

C 4610：2005

らない。しかし，自動開路において，操作部の第3の明確な位置をもっていてもよい。

機構の動きは，エンクロージャ又はカバーの位置によって影響されてはならない。そして取外し可能部

品と独立していなければならない。

操作部は，その軸に確実に固定しなければならない。そして工具を用いないで操作部を取り外すことが

できてはならない。カバーに直接固定される操作部は許容する。

上記要求に対する適合性は，検査及び手動試験によって判定する。

8.1.3

空間距離及び沿面距離(附属書B参照) CBEの空間距離及び沿面距離は，CBEの期待寿命中で起

こる周囲の影響を考慮した電気的，機械的及び熱的ストレスに十分耐えれるように作られていなくてはな

らない。

備考1. 要求及び試験は，JIS C 0664に基づく。

CBEに対しては，一般に次の条件が適用されると想定している。

− 過電圧種別II

− 汚損度2

備考2. CBEは，ほかの過電圧種別及び汚損度用に設計してもよい。

3. 沿面距離は，関連する空間距離より小さくすることはできない。それで，可能な最小沿面距

離は必要な空間距離に等しくする。

8.1.3.1

空間距離 CBEの空間距離は，附属書Hの表H.1に示す定格電圧及び過電圧種別を考慮し，5.2.1.3

に従い製造業者が指定した定格インパルス耐電圧に耐えるような寸法でなければならない。

表1の寸法は，インパルス耐電圧試験に合致すると考えられる。

備考定格インパルス耐電圧を決定するために電源システムの定格電圧と相間電圧との間の関係は，

附属書Hに示す。

8.1.3.1.1

基礎絶縁のための空間距離基礎絶縁のための空間距離は，表1に示す値より小さくてはなら

ない。ただし，CBEが9.7.6のインパルス耐電圧に適合する場合で，なおかつ，次の条件に適合している

なら，表1に示す値より小さくてもよい。

− 部品がモールドによって固められているか，又は，取り付けられている場合。

− 構造的な部品のひずみ，又は，部品が動くことによって空間距離が減る可能性がない場合。

− 通常使用状態における取付け，接続によってCBEのインパルス耐電圧試験に適合しないように空間距

離が減る可能性がない場合。

適合性は，測定及び必要な場合，9.7.6の試験によって判定する。

8.1.3.1.2

機能絶縁のための空間距離機能絶縁のための空間距離は，表1で指定される値より小さくて

はならない。基礎絶縁に対して規定された条件の下で用いる場合，より小さい値であってもよい。

適合性は，測定及び必要な場合，9.7.6の試験によって判定する。

8.1.3.1.3 付加絶縁のための空間距離表1で与えられた値より小さい空間距離が許されない場合を除き，

付加絶縁のための空間距離は，8.1.3.1.1の基礎絶縁で指定される値以下ではあってはならない。

適合性は，測定によって判断する。

備考付加絶縁は，基礎絶縁と組み合わせて用いる。

8.1.3.1.4

強化絶縁のための空間距離強化絶縁のための空間距離は，表1で指定される値より小さくて

はならない。

適合性は，測定によって判定する。

C 4610：2005

表 1 基礎絶縁及び強化絶縁の最小空間距離

インパルス

耐電圧 a)

最小空間距離 d)

基礎絶縁，汚損度

絶縁強化，汚損度

2 (8.1.3参照)

330

0.01

0.2 b) c)

0.8 c)

0.04

0.2 b) c)

0.8 c)

500

0.04

0.2 b) c)

0.8 c)

0.10

0.2 b) c)

0.8 c)

800

0.10

0.2 b) c)

0.8 c)

0.5

0.8 c)

1500

0.5

0.8 c)

1.5

2500

1.5

4000

5.5

6000

5.5

この電圧は，

− 機能絶縁については，空間にかかると推定される最大インパルス電圧。
− 低圧電源からの過渡過電圧によって重大な影響を受けているか，又はその過渡電圧に直接さらされて

いる基礎絶縁については，CBEの定格インパルス耐電圧。

− 低圧電源からの過渡過電圧によってほとんど影響を受けていない，又はその過渡電圧に直接さらされ

ていない基礎絶縁については，回路で発生する最大インパルス電圧。

c) CBE内部の基板については，汚損度1が適用される。ただし，値は，0.04 mm以上とする。

c) 基礎的データというよりは，経験に基づいた値。

c) 指定された空間距離より小さな接点ギャップをもつCBEも認められるが，“μ”の記号を表示しなくてはなら

ない。

8.1.3.1.5

微少断路における空間距離微少断路に対する空間距離は，一時過電圧に耐える距離でなけれ

ばならない(3.4.4参照)。

適合性は，9.11.1.3の試験で判断する。

8.1.3.1.6

完全断路における空間距離完全断路に対する空間距離は，過渡過電圧に耐える距離でなけれ

ばならず，表1の基礎絶縁の値より小さくてはならない。CBEが9.9及び9.11の試験後，開状態にてイン

パルス耐電圧の試験電圧に耐えられるなら，より小さい空間距離も認められる。

適合性は，測定及び9.7.6の試験で判定する。

8.1.3.2

沿面距離 CBEの沿面距離は，通常使用状態において推定される電圧に対し適する値より小さく

てはならない。また，材料グループ及び汚損度に対しての検討も要する。

8.1.3.2.1

基礎絶縁のための沿面距離基礎絶縁の沿面距離は表2の値より小さくてはならない。

備考沿面距離は，関連する空間距離より小さくすることはできない。

材料グループとPTI値との関係は，次のとおりである。

材料グループⅠ

600 ≦ PTI

材料グループⅡ

400 ≦ PTI ＜ 600

材料グループⅢa

175 ≦PTI ＜ 400

材料グループⅢb

100 ≦ PTI ＜ 175

基板についてはCTI値が適用される。

備考 CTI値についてはIEC 60112によって，溶液Aを用いる。

適合性は，計測によって判定する。

8.1.3.2.2

機能絶縁のための沿面距離機能絶縁のための沿面距離は，表2の値より小さくてはならない。

適合性は，測定によって判定する。

C 4610：2005

備考ガラス，セラミック及び無機材料は，トラッキングがないので，沿面距離は関連する距離より

大きい必要はない。

表 2 最小沿面距離

沿面距離
に対する
動作電圧

基板 f)
汚損度

基礎絶縁のための最小沿面距離

汚損度e)

1 b)

2 c)

1 b)

2 (8.1.3参照)

材料グル

ープⅠ

材料グル

ープⅡ

材料グル

ープⅢd)

材料グル

ープⅠ

材料グル

ープⅡ

材料グル

ープⅢd)

10
12.5
16

0.025
0.025
0.025

0.04
0.04
0.04

0.08
0.09
0.10

0.04
0.42
0.45

1.0
1.05
1.1

20
25
32

0.025
0.025
0.025

0.04
0.04
0.04

0.11
0.125
0.14

0.48
0.50
0.53

1.2
1.25
1.3

40
50
63

0.025
0.025
0.04

0.04
0.04
0.063

0.16
0.18
0.20

0.56
0.6
0.63

0.8
0.85
0.9

1.1
1.2
1.25

1.4
1.5
1.6

1.6
1.7
1.8

1.8
1.9
2.0

100
125

0.063
0.1
0.16

0.1
0.16
0.25

0.22
0.25
0.28

0.67
0.74
0.75

0.95
1.0
1.05

1.3
1.4
1.5

1.7
1.8
1.9

1.9
2.0
2.1

2.1
2.2
2.4

160
208
250

0.25
0.4
0.56

0.4
0.63
1.0

0.32
0.42
0.56

0.8
1.0
1.25

1.1
1.4
1.8

1.6
2.0
2.5

2.0
2.5
3.2

2.2
2.8
3.6

2.5
3.2
4.0

320
400
500 a)

0.75
1.0
1.3

1.6
2.0
2.5

0.75
1.0
1.3

1.6
2.0
2.5

2.2
2.8
3.6

3.2
4.0
5.0

4.0
5.0
6.3

4.5
5.6
7.1

5.0
6.3
8.0

より高い電圧に対しては，JIS C 0664の表4の値を用いる。

材料グループ Ⅰ，Ⅱ，Ⅲa，Ⅲb。

材料グループ Ⅰ，Ⅱ，Ⅲa。

材料グループⅢにはⅢa及びⅢbを含む。

CBEにおいてはミクロ環境への適用が想定されている。

f) IEC 60664-3に従うコーティングが施されている基板については，この値を適用する必要はない。

8.1.3.2.3

付加絶縁のための沿面距離付加絶縁のための沿面距離は，基礎絶縁の値より小さくてはなら

ない。

適合性は，測定によって判定する。

8.1.3.2.4

強化絶縁のための沿面距離強化絶縁のための沿面距離は，規定の基礎絶縁の値の2倍より小

さくてはならない。

適合性は，測定によって判定する。

8.1.4

ねじ，通電部及び接続部

8.1.4.1 接続部は，電気的なものであっても，又は機械的なものであっても，通常使用時に発生する機械

的ストレスに耐えなければならない。

ねじによる接続は，9.8，9.9，9.11，9.13及び9.14の試験によって確認する。

8.1.4.2 絶縁材料の収縮又はへこみに対して補正するために，金属部に十分な弾性がない限り，電気接続

はセラミック，純マイカ又は適切な特性をもつ材料を除く絶縁材料を介して接触圧が伝達されないように

設計しなければならない。

C 4610：2005

備考材料の適合性は，寸法の安定性について評価する

8.1.4.3 保護導体の導電部及び接点は，次のいずれかでなければならない。

− 銅

− 冷間加工した部分に対して少なくとも58 ％，又はほかの部分に対して少なくとも50 ％の銅を含む合

金。

− 銅より耐腐食性が強く，適切な機械的特性をもつほかの金属又は適切にめっきした金属。

備考耐腐食性を決める検証試験のための新しい規定は，検討中である。この規定は，適切にめっき

してある場合は，ほかの材料の使用も認めている。

この規定は，接点，磁気回路，ヒータ素子，バイメタル，シャント，電子機器の部品，ねじ，ナット，

座金，締付板及び端子の類似部品には，適用しない。

8.1.5

ねじ式及びねじなし式端子

8.1.5.1

端子は，必要な接触圧力が確実に得えられるように導体と接続しなければならない。

適合性は，検査及び9.5.1の試験によって判定する。

8.1.5.2

端子は，導体を接続しているときであっても，していないときであっても，緩まないように固定

しなければならない。

適合性は，検査，測定及び9.4.1の試験によって判定する。

8.1.5.3

外部導体(3.12.15参照)の接続端子は，表3に示す範囲の公称断面積の銅導体が接続できなければ

ならない。

導体，内部導体(3.12.17参照)及び統合導体(3.12.16参照)の端子は，製造業者が用いると指定した最大及

び最小の銅導体の接続ができなければならない。もし，指定されていない場合は，表3を適用する。

端子の形状又は寸法例を，附属書Eに示す。

適合性は，検査及び規定範囲の最大最小断面積の指定した形式の導体を取り付けることによって判定す

る。

表 3 ねじ式及びねじなし式の銅導体の接続可能断面積

定格電流 In

締め付けられる公称断面積の範囲

mm2

6以下

0.5

〜

1.0

を超え

13以下

0.75

〜

1.5

を超え

20以下

〜

2.5

を超え

25以下

1.5

〜

を超え

32以下

2.5

〜

を超え

50以下

〜

を超え

63以下

〜

を超え

80以下

〜

を超え

100以下

〜

100

を超え

125以下

〜

備考より小さい断面積，及びより大きい断面積の適用も認められる。

8.1.5.4

可とう導体の接続に適している未処理銅導体の端子は，接続時，可とう導体の線が接続時端子か

ら逃げるなら，充電部とアクセス可能な金属部との接触の危険がなく，かつ，クラスⅡ用機器のCBEにつ

いては，充電部にアクセス可能な金属部から分離された金属部部分と充電部との間で接触の危険がないよ

うに付加絶縁だけによって配置し，カバーしなければならない。

C 4610：2005

適合性は，検査及び9.5.3の試験によって判定する。

8.1.5.5

端子に導体を締め付けるための手段は，端子を規定の位置に固定したり，又は端子が回転しない

ようにする以外にほかの部品を固定するために用いてはならない。

適合性は，検査及び9.5の試験によって判定する。

8.1.5.6

端子は，導体の挿入によってCBEの沿面距離及び/又は空間距離が小さくなったり，機構に影響

を及ぼす場合には，ストッパによって導体の進入を防ぐように設計されていなければならない。

適合性は，検査によって判定する。

8.1.5.7

端子は，導体自身に過度な損傷を与えることなく導体を固定できるように設計しなければならな

い。

適合性は，検査及び9.5.2の試験によって判定する。

8.1.5.8

端子は，金属面どうしを確実に接続し，導体に過度の損傷がないように設計しなければならない。

適合性は，検査及び9.4，9.5の試験によって判定する。

8.1.5.9

端子は，金属面どうしで，導体を接続できなければならない。ただし，端子が0.2 Aを超えない

電流しか流さない回路用で表面の一つが金属でない場合を除く。

8.1.5.10 定格電流が32 Aまでの外部導体の接続用端子は，未処理の銅導体の接続ができなければならな

い。

適合性は，検査によって判定する。

8.1.5.11 処理された銅導体用端子は，その接続が製造業者の書類に指定されているように，その目的を満

たさなければならない。

適合性は，検査及び9.5.3の試験によって判定する。

8.1.5.12 ねじ式端子は，十分な強度をもたなければならない。導体を締め付けるねじ及びナットは，メー

トルISOねじ又はピッチ及び機械的強度において同等のねじでなければならない。

適合性は，検査並びに9.4及び9.5.1の試験によって判定する。

備考暫定的に，SI，BA及びUNねじは，ピッチ及び機械的強度においてメートルISOねじと実質

的に等価として考えて用いてよい。

8.1.5.13 保護導体接続用の固定ねじ又はナットは，偶然緩むことがないよう適切に固定しなければなら

ない。

適合性は，検査及び9.5の試験によって判定する。

一般的に，図E.1〜図E.4による端子の設計は，この要求に適合する十分な弾性をもつ。そのほかのデ

ザインの場合には，偶然の外れが起こりそうにない十分な弾性部品を用いるような特別な準備の必要があ

ることもある。

8.1.5.14 外部導体を接続するためのねじ及びナットは，金属のねじ山と結合されなければならず，タッピ

ング形であってはならない。

8.1.5.15 ピラー端子の場合，締付けねじと導体の終端との距離は，最大挿入時少なくとも，表4に示す値

でなければならない。

締付けねじと導体の終端との距離の最小値は，導体が貫通できないピラー端子だけに適用する。

C 4610：2005

表 4 最大挿入時の締付けねじと導体終端との最小距離

定格電流

最小値

一つの締付けねじをもつ場合

二つの締付けねじをもつ場合

6以下

1.5

を超え

1以下

1.5

を超え

16以下

1.8

1.5

を超え

25以下

1.8

1.5

を超え

32以下

2.0

1.5

を超え

50以下

2.5

2.0

を超え

80以下

3.0

2.0

を超え 100以下

4.0

3.0

100

を超え 125以下

検討中

適合性は，製造業者が規定した断面積範囲の最大の単線を最大に挿入し，表15で示すトルクにて締め付

けた後，測定によって判定する。

8.1.5.16 ねじなし式端子は(図E.5参照)，製造業者によって指定がない限り，表3に示す導体が接続でき

なくてはならない。その場合，表記は不要である。

もし，ねじなし式端子が単線だけ接続可能なら，接続可否を明確にするため，製品の端に“sol”のはっ

きりした表示をするか，最小単位の箱に表示するか，製造業者の技術情報又はカタログに表示しなければ

ならない。

もし，ねじなし式端子が剛導体(単線，より線)だけ接続可能な場合，接続可否を明確にするため，製品

の端に“r”のはっきりした表示をするか，最小単位の箱に表示するか，製造業者の技術情報又はカタログ

に表示しなければならない。

適合性は，検査及び9.4.1の試験によって判定する。

8.1.5.17 ねじなし式端子は，通常使用状態で起こる機械的ストレスに耐えなければならない。導体の取付

け又は取外しは，次によって行われる。

− 一般的な端子の場合，一般的な目的の道具の使用によって又は端子についている完全な装置で，導体

を挿入又は取外しのために開くように設計されている。

− 単純な挿入によるプッシュ電線端子の場合，導体の取外しのため，導体を引っ張る以外の操作が必要

でなければならない。

一般目的の道具又は端子についている便利な装置の利用は，それを開くため，また，導体を挿入取外し

の補助をするために認められる。

適合性は，検査及び9.4の試験によって判定する。

8.1.5.18 ねじなし式端子は，導体の適切な接続ができなければならない。

備考1. このタイプの端子は，16 Aより高い定格電流では用いてはならない。

導体の挿入及び取外しの方法は明白でなければならず，取扱説明書は製造業者によって準備しなくては

ならない。

備考2. ねじなし端子の例は，図E.5に示す。

導体を取り外そうとする場合は，通常用いられる道具の使用の有無にかかわらず手動で効果を得られる

ような，導体を引っ張る以外の操作を必要としなければならない。

挿入又は断路を補助する目的で工具を用いるための開口部は，導体用の開口部と明確に区別できなけれ

ばならない。

C 4610：2005

適合性は，検査，測定及び表2に従う断面積の適切な可とう導体及び/又は剛導体の挿入によって確認す

る。

8.1.5.19 一つ以上の導体を内部接続に用いる目的をもち，締付け手段をもつねじなし式端子は，挿入後の

ある一つの導体の締付け手段の操作は，ほかの導体の締付け手段の操作と独立している。取外しにおいて，

導体はいずれも同時に又は独立し取り外せてもよい。

適合性は，検査及び製造業者が指定した組合せによる試験によって確認する。

8.1.6

はんだ付端子

8.1.6.1

はんだ付端子は，十分なはんだ付け性能をもたなければならない。

適合性は，9.4.2.1の試験を適用することによって確認しなければならない。

8.1.6.2

はんだ付端子に隣接した材料は，はんだ付けの熱に対して十分耐えなければならない。

適合性は，9.4.2.2の試験を適用することによって確認する。

8.1.6.3 はんだ付端子は，はんだとは関係なく導体を機械的に強固に固定するための手段をもたなければ

ならない。

それらの手段は，次によって提供される。

− 導体の引っ掛けに適切な孔。

− はんだ付け前に，端子への導体の巻き付けができる端子の形状。

− はんだ接続部に隣接した締付け手段。

備考プリント基板上に接続するためのはんだ付端子は，この規格では考慮されていない。

適合性は，検査によって確認する。

8.1.7

メールタブ端子(付図E.6〜図E.13)

8.1.7.1

メールタブ端子は，表5，表6及び表7に従った寸法に適合しなければならない。

備考現有する有効な国家規格に従ったほかの寸法は，過渡的に10年間認められる。

C 4610：2005

表 5 タブの寸法表

単位 mm(J欄を除く。)

公称サイズ

最小

J *)

最小

2.8×0.5 くぼみ

0.6
0.3

7.0

0.54
0.47

2.90
2.70

1.8
1.3

1.3
1.1

12°

8°

1.7
1.4

1.4
1.0

1.4
0.3

8.1

孔

0.6
0.3

7.0

0.54
0.47

2.90
2.70

1.8
1.3

1.3
1.1

−

1.4
0.3

8.1

2.8×0.8 くぼみ

0.6
0.3

7.0

0.84
0.77

2.90
2.70

1.8
1.3

1.3
1.1

12°

8°

1.7
1.4

1.4
1.0

1.4
0.3

8.1

孔

0.6
0.3

7.0

0.84
0.77

2.90
2.70

1.8
1.3

1.3
1.1

12°

8°

−

1.4
0.3

8.1

4.8×0.8 くぼみ

1.0
0.7

6.2

0.84
0.77

4.80
4.60

2.8
2.3

1.5
1.3

12°

8°

1.7
1.4

1.5
1.2

1.8
0.7

7.3

孔

1.0
0.6

6.2

0.84
0.77

4.90
4.67

3.4
3.0

1.5
1.3

12°

8°

−

1.8
0.7

7.3

6.3×0.8 くぼみ

1.0
0.7

7.8

0.84
0.77

6.40
6.20

4.1
3.6

2.0
1.6

12°

8°

2.5
2.2

2.0
1.8

1.8
0.7

8.9

孔

1.0
0.5

7.8

0.84
0.77

6.40
6.20

4.7
4.0

2.0
1.6

12°

8°

−

1.8
0.7

8.9

9.5×1.2 孔

1.3
0.7

12.0

1.23
1.17

9.60
9.40

5.5
4.5

2.0
1.7

14°

6°

−

2.0
1.0

13.1

必要な場合，タブへの電線のはんだ付け及び関連する寸法違いは検討中。

表 6 タブの寸法

単位 mm

公称サイズ

T *)

2.8×0.5 くぼみ

−

最大1.7

最大7.0

−

孔

最大1.7

最大2.7

−

2.8×0.8 くぼみ

−

最大1.7

最大7.0

−

孔

最大1.7

最大2.7

最小1

−

4.8×0.8 くぼみ

−

最大6.2

最大1.6

0.7±0.1

1.0±0.2

0.5±0.2

孔

最大2.2

最大4.2

最小2

最大1.7

−

最大1.6

0.7±0.1

1.0±0.2

−

6.3×0.8 くぼみ

最大2.5

最大7.8

最大2.9

1.0±0.1

1.0±0.2

0.5±0.2

孔

最大3.5

最大5.5

最小2

−

最大2.9

1.0±0.1

1.0±0.2

−

9.5×1.2 くぼみ

−

最大4

最大12.0 最大2.9

1.5±0.1

1.4±0.2

0.7±0.2

孔

最大5

最大7.5

2.5

−

最大2.9

1.5±0.1

1.4±0.2

−

図E.10及び図E.11が組み合わせられる場合，寸法Tは，寸法Gの実寸に材料の厚さCを足したものより大
きくなくてはならない。

表7で規定されていない異なったものの場合，寸法E1及び寸法F1による寸法はより大きいメールタブ

に対しては表5及び表6に規定する寸法に等しく，より小さいメールタブに対してはB2，E2及びF2の寸

法に等しく，適合しなければならない。

端子の設計及び寸法の例は，図E.6〜図E.13の中に示す。

8.1.7.2

メールタブは，引掛け用のためのオプションの移動止めをもってもよい。丸形ディンプル戻止め，

角形ディンプル戻止及び丸穴式戻止めは，図E.10の中で示されたように，メールタブのセンタ線上にある

斜線部分に位置しなければならない。

備考メールタブは，はんだ付けができるように大きい穴をもってもよい。

C 4610：2005

表 7 二つの異なる寸法の平形接続端子用の結合されたメールタブの寸法

単位 mm

公称サイズ

2.8×0.8

−

最小6

2.0...2.4

1.3...1.5

6.3×0.8

4.0...4.5

1.6....1.9

−

8.1.7.3

表裏取付けができないように制限するための方法は，メールタブのセンタ線に沿って，図E.11

の“LG”部分と図E.12の“KR”の範囲内に位置してもよい。

備考1. 図E.10及び図E.11を組み合わせた場合は，寸法Tは実際の寸法Gに材料の厚さCをたした

ものより大きくなくてはならない。寸法Jの値のために，GとCは，表5及び表6を参照す

る。

2. 図E.12に従ったメールタブは，表5の寸法E及びFの値による穴又はディンプルをもつよ

う設計してはならない。

8.1.7.4

メールタブは，図E.14に示す1個の平形接続端子をCBEの更なる使用を損なうような破損なし

で，正しく挿入でき，かつ，抜取りができるように設計しなければならない。

適合性は，9.4.3.1の試験によって確認する。

8.1.7.5

メールタブは，確実に保持されていなければならない。

適合性は，9.4.3.2の機械的過重力試験によって確認する。

8.1.7.6

図E.13に示したようなメールタブは，二つの異なる寸法の平形接続端子への導体への接続が可

能な設計であってもよい。

8.1.7.7

類似の寸法及び設計のメールタブで，かつ，寸法的に表5及び表6の寸法に類似したメールタブ

は，図E.14に示す平形接続端子の適合性試験に合格できた場合は，認められなければならない。

平形接続端子及び想定できる寸法の例は，図E.14に示す。

適合性は，9.4.3の試験によって確認する。

8.1.7.8

寸法基準が8.1.7.1及び8.1.7.7で想定されていないメールタブは，寸法及び形状が，図E.14の平

形接続端子に接続できる程度の違いがある場合だけは認められる。

8.1.7.9

メールタブは，絶縁されていない平形接続端子を接続できるように適切に間隔をあけなければな

らない。

適合性は，製造業者の取扱説明書の最も厳しい方法に従って，該当する平形接続端子をそれぞれ異なっ

た設計/形状のメールタブに適用することによって確認する。この操作の間，メールタブ端子又は隣接した

部分に張り又はゆがみを生じず，沿面距離又は空間距離も8.1.3に規定す値よりも減少してはならない。

備考平形接続端子が1方向だけに用いることができ，逆位置で挿入されないように表裏取付防止ス

トッパを含んでもよい。

図E.11又は図E.12に適合するメールタブ端子のための適切な平形接続端子は，図E.14に示す。

8.2

感電に対する保護機器に取り付けた後で，アクセスできるCBEの部品は，感電に対する保護をし

なければならない。

適合性は，9.6の試験で検証する。

CBEを取り付けた後の感電に対する保護の達成は，機器の製造業者が責任を負う。

C 4610：2005

8.3

温度上昇

8.3.1

温度上昇限界 CBEの各部分の温度上昇は，9.8.2で規定する条件に従って測定し，表8で指定す

る値を超えてはならない。

表 8 異なる基準周囲温度(T)でのCBEについての温度上昇値

部品 a) b)

Tに従った温度上昇 (K) e)

T=23 ℃ e)

（基準温度）

T=40 ℃e)

T=55 ℃e)

端子c)

60 d)

50 d)

35 d)

通常操作中に触れるおそれがある絶縁材料の操作手段を含む外郭部

操作手段の外部金属部品

その他の，取付面に直接接触するCBEの面を含む外郭部

a) 大部分のCBEの設計は，接点の温度の直接測定が部品の変更又は取外しを伴い，試験の再現性に影響を

与える危険なしではできないので，接点の値は規定しない。

28日試験(8.9参照)は，使用中の過度の過熱に関して，接点の状態を間接的に確認するのに十分である

と考えられている。

b) この表以外の部品は規定されていないが，絶縁材料の隣接部品に損傷なく，CBEの操作を損なってはなら

ない。

c) 差込形CBEについては，CBEが取り付けられたベースの端子。

d) CBEの取付けを意図する装置の内部導体としての端子は，より高い温度も許容してもよい。

それらの値に関する関連した情報は，装置製造業者から提供する。

e) ほかのTの値に対して，許容温度上昇は，表で示す値の合計によって得られる値(T＋K)の置換えによっ

て決定する。

f) 公差±2 ℃

備考温度上昇値は，JIS C 6950の表4aによる。

適合性は，9.8の試験によって確認する。

8.3.2

周囲温度表8に示す温度上昇限界は，周囲温度が7.1.2で示した範囲内にある場合にだけ適用で

きる。

8.4

絶縁特性

8.4.1

商用周波数での絶縁耐力 CBEは，商用周波数において適切な絶縁耐力をもたなければならない。

適合性は，新品状態の試供品で，9.7.1，9.7.2及び9.7.3の試験によって確認する。

9.11の電気的開閉性能の検証の後，9.7.1の加湿の前処理なしで，CBEは9.7.5に示した電圧の0.75倍の

試験電圧で，9.7.3の試験に耐えなければならない。

8.4.2

絶縁協調についての空間距離 CBEの空間距離は，絶縁協調の要求を満足しなければならない。

適合性は，8.1.3で規定された空間距離の測定，又は，9.7.6に規定されたインパルス耐電圧試験によって

確認しなければならない。

8.5

自動動作の条件

8.5.1

標準時間−電流領域動作領域(3.9.4参照)は，製造業者がカタログ中(附属書A参照)に記載する

情報によって定義される。9.2で指定される基準条件に関するものである。

備考1. CBEの引外し動作特性は，不要動作を起こすことなく，装置に対する十分な保護を確保する

ことを目的とする。

CBEの動作領域は，エンクロージャがなく，静止空気中に設置されているCBE一台に対して指定され

る。

備考2. 規定と異なる温度条件及び取付けの条件(エンクロージャの種類，同一エンクロージャ中の複

C 4610：2005

数のCBEの取付け，など)によって，CBEの動作領域が左右される可能性がある。

製造業者は，(23±2)℃の基準周囲温度以外の周囲温度に関する特性を明らかにし，その他の基準条件か

らの逸脱(例えば，垂直面以外の面への取付け)による引外し動作特性の変化に関する情報を与える必要が

ある。

動作領域の例を附属書Aの図A.1〜図A.4に示す。熱動式，熱動−電磁式又は流体電磁式の引外し機構

をもつCBEに関しては，製造業者は，次の値を示さなければならない。

− 定格電流の倍数として表した表9に示す試験電流(mIn)

− 該当する表9に示す時間(t1，t2，t3，t4，t5及びt6)

表 9 時間電流動作特性

試験電流

初期条件

時間

要求される結果

Int

コールドa)

不動作

不動作試験の直後

≦1h

動作

2In

コールドa)

t1 ≦ t ≦t2

動作

6In

コールドa)

t3 ≦ t ≦t4

動作

mIn b)

コールドa)

t5 ≦ t ≦t6

動作

Ini

コールドa)

0.1s

不動作

コールドa)

＜0.1s

動作

“コールド”とは，事前に負荷がかかっていない状態を示す(附属書A参照)。

任意試験

備考3. ハイブリッドCBEの引外しモードの値は，現在検討中である。

8.5.2

引外し動作特性 CBEの引外し動作特性は，8.5.1で定義した領域内でなければならない。

備考 9.2の規定と異なる温度条件及びエンクロージャの条件は，CBEの引外し動作特性を左右する

可能性がある。

8.5.2.1

引外し動作特性に対する多極CBEの単極負荷の影響複数の保護極をもつCBEの極のうちの一

つの保護極だけにコールド状態から負荷をかける場合，次の電流値において，規約時間内に動作しなけれ

ばならない。

− 二つの保護極をもつ二極CBEの場合，動作電流(3.3.6参照)の1.1倍。

− 三極及び四極CBEの場合，動作電流の1.2倍。

規約時間は，1時間である。

適合性は，9.10.3の試験によって確認する。

8.5.2.2

引外し特性に対する周囲温度の影響適用する場合，製造業者は，装置が基準値(5.2.2参照)と異

なる周囲温度で操作するときの定格電流の増加率又は低下率の係数を示さなければならない。

8.5.3

過電圧引外し装置を製造業者によって指定された動作限界で試験する。

適合性は，9.11.5の試験によって確認する。

8.5.4

不足電圧及び無電圧引外し装置は，表10によって動作限度で試験する。

表 10 不足電圧及び無電圧引外しの動作限度(交流及び直流)

引外し種類

保持(吸引)

引外し(開放)

リセットa)

耐えるレベル

不足電圧引外し

U ≧0.7 Un

U ≦0.35 Un

U ≧0.85 Un

U = 1.1 Un

無電圧引外し

U ≧0.7 Un

U ≦0.1 Un

U ≧0.85 Un

U = 1.1 Un

電気的にリセットされる機器においては，動作いき（閾）値。

C 4610：2005

備考ほかの値は，製造業者と使用者との間の合意で決めてもよい。

表10の欄の見出しは，次の意味である。

− 保持(吸引)：その値以上では，引外し装置が自動的に動作しない電圧値。

− 引外し(開放)：その値以下では，引外し装置が自動的に動作する電圧値。

− リセット：引外し装置に電圧を印加したとき，その値以上でリセットがかかる電圧値。

− 耐えるレベル：引外し装置が継続使用に耐える最大電圧値。

適合性は，9.11.6.1及び9.11.6.3の試験によって確認する。

8.5.5

製造業者は，カタログなどで不足電圧引外しの電気的耐久性に関する情報を提供しなければならな

い。

適合性は，9.11.6.2の試験によって確認する。

8.6

電気的性能 CBEは，動作サイクルの回数を適切に遂行できなければならない。

適合性を，9.11の試験によって確認する。

CBEは，定格周波数，定格使用電圧の105 ％(±5 ％)に等しい電圧，並びに表11及び表12に規定され

ている範囲の適切な下限より小さくない力率において，定格開閉容量に相当する値以下のどのような値の

電流でも投入及び遮断できることが要求されている。

8.7

条件付短絡電流状況下における性能 CBEは，指定のSCPDと組み合わせたとき，機器の操作者又

は装置に対し危険となる炎，火花又は熱イオン化したガスの放出などの現象を起こすことなく，短絡電流

によるストレスに対し，耐えなければならない。

適合性は，9.12の試験によって確認する。

8.8

耐機械衝撃性及び耐打撃性 CBEは，設置及び使用時に負担を受ける，十分な機械特性をもたなけ

ればならない。

適合性を，9.13(考慮中)の試験によって確認する。

8.9

耐熱性 CBEは，十分な耐熱性をもっていなければならない。

適合性は，9.14の試験によって確認する。

8.10 異常熱及び火に対する耐性絶縁材料からなるCBEの外郭部品は，それに隣接する導電部が故障又

は過負荷状態において高温に達した場合，発火又は燃え広がりのおそれがあってはならない。

適合性を，9.15の試験によって確認する。

8.11 耐トラッキング性 CBEの通電部品を保持する絶縁材料の部分は，耐トラッキング性材料からなる

ものでなければならない。

適合性を，検査及び9.16の試験によって確認する。

8.12 耐食性鉄製の部品は，さび(錆)に対し十分保護されているものでなければならない。

適合性を，9.17の試験によって確認する。

C 4610：2005

表 11 誘導回路を含む一般用途における電気的性能の試験条件

項次の性能に関

するタイプテ
スト

動作方法によ
る形式(4.4参
照)

試験条件

要求事項

動作サイ
クルの回
数

開位置の
時間

試験電圧

交流

直流

試験電流

力率

試験電流

時定数

定格電流
低領域過負荷

R，J

500

15
20

In
In

2In

0.55

〜

0.65

In
In

2In

2〜3

定格開閉
容量

R，J

60〜80

1.05Ue

6In

0.55

〜

0.65

4In

2〜3

定格短絡容量

Icn

(任意)

Icn＜500 A

AC用の
R，J，M，S

試験は，次の条件のもとJIS C 8211で指定される方法に
従って実施しなければならない。

単極CBEの場合は，回路は500 Aに代えて，Icnで校正し，
JIS C 8211の9.12.11.2に従って試験を行う。

多極CBEの場合は，各極で上記の要領で試験を行った後，
1 500 Aに代えてIcnにて9.12.11.3の多極試験を行う。

Icn≦500 A

2〜3

500 A＜Icn≦
1 500 A

AC用の
R，J，M，S

試験は，次の条件のもと，JIS C 8211で指定される方法に
従って実施しなければならない。

単極CBEの場合は，JIS C 8211の9.12.11.2(500 A)に従っ
て試験を行った後，引き続き回路をIcnにて校正し，JIS C
8211の9.12.11.3に従って試験を行う。

多極CBEの場合は，各極でJIS C 8211の9.12.11.2の要領
で試験を行った後，Icnにて回路を校正し，JIS C 8211の
9.12.11.3に従って引続き試験を行う。

Icn≦1 000 A

Icn＞1 000 A

2〜3

4〜6

Icn＞1 500 A

AC用の
R，J，M，S

JIS C 8211の9.12.11に従って試験を行わなければならな
い。

Icn＞1 500 A

4〜6

DC用の
R，J，M，S

300〜360

1.05Ue

−

Icn

製造業者は器具の分類に従って，推奨値3 000，10 000，30 000，50 000，100 000の中から，選択した回数を提示
しなければならない。

機器をリセットするのに必要な時間によって決まる。

C 4610：2005

表 12 抵抗だけの回路に用いるCBEの電気的性能の試験条件[6.d).参照]

項次の性能に関

する性能テス
ト

動作方法に
よる形式
（4.4参照）

試験条件

要求事項

交流

直流

動作サイク

ルの回数

開位置
の時間

試験電圧

試験電流

力率

試験電流

時定数

1 定格電流

低領域過負荷

R，J

500

15
20

In
In

2In

0.95〜1

In
In

2In

0〜0.5

2 定格開閉容量

R，J

60〜80

1.05Ue

6In

0.95〜1

4In

0〜0.5

3 定格短絡容量

Icn（任意）

M，S，R，

300〜

360

1.05Ue

Icn

0.93〜

0.98

Icn≦

1 000 A

Icn＞

1 000 A

1〜2

2〜3

製造業者は器具の分類に従って，推奨値3 000，10 000，30 000，50 000，100 000の中から，選択した回数を提示
しなければならない。

機器をリセットするのに必要な時間によって決まる。

9. 試験

9.1

形式試験及びシーケンス

9.1.1

CBEの特性は，形式試験によって立証される。

この規格において要求される形式試験を，表13に示す。

表 13 形式試験表

試験

項目

− 表示の不滅性

9.3

− 端子，通電部及び接続部の信頼性

9.4

− 外部導体用端子の信頼性

9.5

− 感電に対する保護

9.6

− 耐電圧性能

9.7

− 温度上昇

9.8

− 28日試験

9.9

− 引外し動作特性

9.10

− 電気的開閉性能

9.11

− 条件付短絡容量

9.12

− 機械的衝撃及び打撃に対する耐性

9.13

− 耐熱性

9.14

− 異常過熱及び火災に対する耐性

9.15

− トラッキング性

9.16

− 耐食性

9.17

9.1.2

証明のためには，形式試験を試験シーケンスに従って実施する。

試験シーケンス及び供試品数は，附属書Cに示す。

別途指定がない限り，各形式試験(又は形式試験のシーケンス)は，清浄，かつ，新品のCBEで行わなけ

ればならない。

C 4610：2005

9.2

試験条件別途指定がない限り，CBEは，周囲温度が23±2 ℃の大気中で沿直面，個別に取り付け，

不適切な外部からの過熱又は冷却に対して，保護される。

別途の指定がない限り，CBEは，表14に規定する該当ケーブルで配線し，CBEが非金属性のエンクロ

ージャ内においてだけ用いられるものでない限り，CBEを金属板に取り付ける。非金属性のエンクロージ

ャ内においてだけ用いられるCBEの場合，実際の使用になるべく近い形で取り付ける。

別途指定しない限り，試験は定格周波数±5 Hzで実施する。

試験中は，試供品の保守又は分解は許されない。

9.8，9.9及び9.10の試験に対しては，CBEを次のとおりに接続する。

1) 接続線には，JIS C 3662の，単心のPVC絶縁銅導体を用いる。

2) 試験は，単相電流で実施し，9.10.2による試験以外は，すべての極を直列に接続して行う。

3) 接続線を大気中に置き，互いから端子間距離以上離す。

4) 各接続線の最小長さは，次のとおりである。

− 断面積が10 mm2以下の場合は，1 m。

− 断面積が10 mm2を超える場合は，2 m。

端子ねじに適用される締付トルクは，表15に規定される値の2/3である。

表 14 定格電流に対応する銅導体の標準断面積

mm2

1.5

2.5

定格電流値

＞6

〜13

＞13

〜20

＞20

〜25

＞25

〜32

＞32

〜50

＞50

〜63

＞63

〜80

＞80

〜100

＞100

〜125

9.3

表示の不滅防止この試験は，水に浸した綿布を手に持って表示を15秒間こすり，更に，試薬に浸

した綿布で15秒間こする。

備考1. 用いる試薬は，カウリ・ブタノール価29，初留温度約65 ℃，乾点約69 ℃の比重約0.65 g/cm3

の芳香族を体積含有量で最大0.1 ％を含む，脂肪族溶剤ヘキサンと定義する。又は，JIS K 8843

のヘキサンでもよい。

モールド，プレス又は彫刻による表示は，この試験の対象としない。この試験後，表示は容易に判読で

きなければならない。また，この規格のすべての試験の後も，表示は容易に判読できなければならない。

ラベルは簡単にはがれてはならないし，また，めくれあがってはならない。

備考2. この試験の改訂を検討中である。

9.4

端子，通電部及び接続部の信頼性試験

9.4.1

ねじ式及びねじなし式端子 8.1.5.3の要求事項の適合性は絶縁被覆をはぎ，より線及び可とう導体

の末端を整形後，最大の導体の挿入によって確認される。絶縁材を取り除いた導体の端末は，余分な力を

加えずに端子内に完全に入らなければならない。

9.4.1.1

ねじ式端子 8.1.4の要求事項の適合性は，目視によって確認し，CBEの接続時に用いるねじ及

びナットについては，次の試験で確認する。

ねじ及びナットを次に示す回数，締めたり，緩めたりする。

− 絶縁材料のねじ山に挿入するねじに対しては，10回(8.1.4.2参照)

− すべてその他の場合，5回

絶縁材料のねじ山に挿入するねじ又はナットは，各回とも完全に取り外し，再挿入する。

この試験は，適切な試験用ねじ回し又はスパナを用いて，表15に示すトルクを加えて行う。

C 4610：2005

ねじ及びナットは，急に締めてはならない。

導体はねじ又はナットを緩めるたびに動かす。

表 15 ねじ径及び加えられるトルク

ねじ山の公称直径

トルク

Ⅰ

Ⅱ

Ⅲ

2.8以下

0.2

0.4

2.8

を超え 3.0以下

0.25

0.5

3.0

を超え 3.2以下

0.4

0.6

3.2

を超え 3.6以下

0.6

0.8

3.6

を超え 4.1以下

0.7

1.2

4.1

を超え 4.7以下

0.8

1.8

4.7

を超え 5.3以下

0.8

2.0

5.3

を超え 6.0以下

1.2

2.5

3.0

6.0

を超え 8.0以下

2.25

3.5

6.0

8.0

を超え 10.0以下

−

4.0

10.0

欄Iは，ねじ締付け時，穴から突き出ない頭なしねじ及び，ねじの直径より広い刃をもつねじ回しで締

付けできないその他のねじに適用する。

欄IIは，ねじ回しで締め付けるその他のねじに適用する。

欄IIIは，ねじ回し以外の方法で締め付けるねじ又はナットに適用する。

ねじ回しによる締付け用溝付き六角頭をもつねじで欄Ⅱ及び欄Ⅲの値が異なる場合，試験は2回実施し，

第1回目は欄Ⅲの規定トルク値を六角頭に加え，次の別の供試品に欄にⅡの規定トルクを加えてねじ回し

による試験を実施する。欄Ⅱ及びⅢの値が同じ場合は，ねじ回しによる試験だけを行う。

試験中，ねじ止めした接続部が緩んだり，CBEの継続使用を損なわれるようなねじの破損又はねじ頭部

の溝，ねじ山，ワッシャ又は当て金などの損傷があってはならない。

さらに，エンクロージャ及びカバーに破損があってはならない。

9.4.1.2

ねじなし式端子 8.1.5.3の要求事項による適合性は，目視によって確認し，CBEを接続の時操作

されるねじなし式端子に対しては，次の試験を行う。

端子は，その構造によって，次の各種の導体を取り付ける。

− 単線だけ

− 単線及びより線

− 単線，より線及び可とう電線

端子の使用範囲の最大断面積のそれぞれの導体を挿入し，その後，取り外す。

この試験は，5回実施する。

5回目を除いて，4度の挿入に用いる導体は新品のものを用いて，同じ場所に締め付ける。各挿入に対し

て，導体は，できるだけ端子に押し込むか，深く挿入し，適切に接続する。各挿入後，導体は90度ねじっ

て，外す。これらの試験後，端子はその後の使用を損なうような破損があってはならない。

9.4.2

はんだ付け式端子

9.4.2.1

はんだ付性試験 8.1.6.1の要求事項への適合性を，JIS C 60068-2-20のテストTaによる試験で確

認する。製造業者によって別途指定がない限り，方法1(235 ℃でのはんだ槽)を適用する。

C 4610：2005

9.4.2.2

はんだ付熱に対する耐性 8.1.6.2の要求事項への適合性を，JIS C 60068-2-20(テストTb)による

試験を適用することによって確認する。製造業者によって別途指定がない限り，方法1B(350 ℃でのはん

だ槽)を適用する。

はんだ付端子は，CBEのハウジングからの距離が2.0 mmから2.5 mm以内のハンダ槽に浸し，5±1秒

間浸されなければならない。

試験後，はんだ付端子は，継続使用を損なうようなぐらつき又は外れがあってはならない。

適合性は，検査によって確認する。

9.4.3

平形接続子

9.4.3.1

挿入力及び引抜力試験

表 16 挿入力及び引抜力

サイズ

挿入力

最大

引抜力

最小

2.8

4.8

6.3

9.5

100

8.1.7の要求に対する適合性は，図E.14の中で示す平形接続端子を使うことによって確認する。メール

タブを約1 mm/sの一定速度で，6回ゆっくりと挿入，引抜きをしなければならない。

挿入力及び引抜力は，表16の中で指定する限度の範囲内でなければならない。

挿入力及び引抜力の測定には，正確な心合わせができて，測定値が読み取れる試験装置を用いなければ

ならない。

9.4.3.2

機械的押込力及び引張力試験適切な試験装置で表17に示す値と等しい軸方向の力を1回だけ

加える。継続使用ができないような損傷が，タブ又はCBEにあってはならない。

適合性は，検査によって確認する。

表 17 押込力及び引張力

サイズ

押込力及引張力

2.8

4.8

6.3

9.5

110

9.5

外部導体用端子の信頼性試験 (3.12.15参照) 8.1.5の規定への適合性を，次によって検証する。表3

に規定の最大断面積をもつ銅導体を端子に接続して検査及び9.4の試験を行う(6 mm2を超える公称断面積

ではより線，その他の公称断面積では単線導体を用いる。)。また，9.5.1，9.5.2及び9.5.3の試験を行う。

これらの最後の試験は，表15に示すトルクを適切なねじ回し又はスパナを用いて加える。

9.5.1

端子は，表3の最小及び最大断面積の銅導体で，単線又はより線のより不利な方のいずれかを取り

付ける。

導体は，決められた最小長さだけ端子に挿入するか，また，決められた長さがない場合は，端がちょう

ど突き抜けるまで，電線が抜けないようにする最もよい位置で挿入する。

次に，表15の該当欄の値の2/3に等しいトルクで締付けねじを締める。次に，各導体に表18に示すニ

C 4610：2005

ュートン単位の引張力をかける。引張力は，急にかけずに導体の軸方向に1分間かける。

表 18 引張力

端子に入れる導体断面積

mm2

≦ 1.5

≦ 4

≦ 6

≦ 10

≦ 16

≦ 50

引張力 N

100

試験中，導体は端子内で容易に気付くような移動があってはならない。

9.5.2

端子は，表3に規定の最小及び最大断面積の銅導体で単線又はより線のうちより不利な方を取り付

け，ねじ式端子の場合，表15の該当欄の値の2/3に等しいトルクで締付けねじを締める。次に締付けねじ

を緩め，端子に影響する可能性がある導体の部分を検査する。

試験中，端子が緩んだり，端子の継続使用を害するようなねじの破損があってはならないし，又は頭の

溝，ねじ山，座金若しくは当て金への損傷があってはならない。

試験後，導体には過度の損傷又は切れた線があってはならない。

備考導体に深い，又は鋭い刻み目を認めた場合，過度の損傷とみなす。

9.5.3

端子は，表19に示す構成をもつより線を取り付ける。

表 19 導体寸法

締付け公称断面積の範囲

mm2

より線

線の本数

本

線の直径

0.5

〜

1.5 a)

0.50

0.75

〜

2.5 a)

0.67

〜

4 a)

0.85

1.5

〜

6 a)

1.04

2.5

〜

1.35

〜

1.70

〜

2.14

〜

1.53

〜

検討中

単線だけを締め付ける目的の端子の場合(表3の備考参照)，この試験は
実施しない。

端子に差し込む前に，導体の素線は適切に再形成する。

導体が端子の底面に達するまで，又は，端子の反対側に突き抜ける位置に達し，線が最も抜けやすい位

置まで導体を端子の中へ差し込む。次に，表15の該当欄の2/3のトルクで，締付けねじ又はナットを締め

る。

試験の後，導体の電線が要求された空間距離及び沿面距離を低減するような状態に締付装置から抜け出

してはならない。

9.6

感電に対する保護試験 CBEは，機器(装置)に取り付けられた状態で用いる。

それゆえ，個々のCBEに対して実施せず，製造業者の取扱説明書に従って取り付けたときに接触可能と

なる部分に限定して試験を行う。

この試験は，CBEを取り付けたときに接触可能となるCBEの部分に対し，付図7に示す標準試験指を

用いて行う。ねじ式端子又はねじなし式端子のCBEには，表3に規定した最小及び最大断面積の導体が接

続される。標準試験指は，連結部分の各々が，指の軸に関して同一方向に90度の角度へ回転できるように

設計されている。試験指は，実際の指の可能な限り曲げた位置に適用し，電気的接触表示は，充電部に接

C 4610：2005

触したことを表示するのに用いる。

接触の表示のためにランプを推奨し，その電圧は40 V以上でなければならない。

9.7

絶縁性能

9.7.1

湿度に対する耐性

9.7.1.1

試験に対してのCBEの準備この試験は，エンクロージャが用いられていない状態のCBE単体

に対し，行われる。

特殊な場合で，一体式のエンクロージャを用いる場合，入口に開口部があれば，それらを開放状態にし

ておく。ノックアウト穴がある場合，そのうちの一つはあける。

備考 “一体式エンクロージャ”とは，CBEがそれなしでは，正常に機能できないものを意味する。

工具なしに取り外すことができる箇所は取り外して，主要部分とともに湿度処置を行う。ばねふたはこ

の処置中開放状態とする。

9.7.1.2

試験条件湿度処理は，91〜95 ％の間で維持した相対湿度の大気からなる恒湿度槽内で行う。

試供品が置かれる空気の温度は，20〜30 ℃の間の都合がよい値，Tの±1 ℃に維持する。

湿度槽内に置く前に，試供品はTからT＋4 ℃の間の温度までもっていく。

9.7.1.3

試験手順供試品は48時間の間，槽内に放置する。

備考1. 相対湿度が91〜95 ％の間になるように，湿度槽内には，空気に対して十分広い接触面積をも

つように，硫酸トリウム(Na2SO4)又は硝酸カリウムの飽和水溶液を入れておく。

2. 槽内を規定状態にするためには，空気の一定の循環を行い，一般には熱的遮へいした槽を用

いることを推奨する。

9.7.1.4

試験後のCBEの状態 9.7.1.3の処理の後，供試品は損傷があってはならない。さらに9.7.2及び

9.7.3の試験に耐えなければならない。

9.7.2

主回路の絶縁抵抗 CBEは，9.7.1で規定するように処理する。この処理に引き続き，次のように

連続して，約500 Vの直流電圧を印加して，絶縁抵抗を5秒間測定する。

a) 開路位置で，電源側と負荷側の端子間を各極順番に行う。

備考1. この試験は，手動操作機構をもたないJ形のCBEには適用しない。

b) 閉路位置で，各極と一括接続したほかの極との間を各極順番に測定する。

c) 閉路位置で，フレーム[絶縁材の内部エンクロージャを用いている場合は，エンクロージャの外側表面

に接してはり付けた金属はく(箔)を含む。]と，一括接続したすべての極との間を測定する。

d) 機構の金属部品とフレームとの間を測定する。

e) 内側に絶縁材量の裏打ち(ライニング)をする金属エンクロージャをもつCBEに対しては，ブッシング

と同様の装置を含む絶縁材料の裏打ちのうち側表面に接してはり付けた金属はく(箔)とフレームとの

間で行う。

試験a)，b)及びc)の測定は，すべての補助回路をフレームに接続した後実行する。

備考2. “フレーム”という言葉は次のものを含む。

− 標準使用状態と同じように取り付けた後，接近するおそれがある絶縁材料の表面に接し

てはり付けた金属はく(箔)と，人の触れるおそれがあるすべての金属部。

− CBEが取り付けられた基盤の表面であり，必要な場合において金属はく(箔)で覆われて

いる。

− 基盤をその支持部に固定するためのねじ及びその他の固定具。

− 8.1.2で関係する操作手段の金属部分及びCBEを取り付けるとき，取り外す必要がある

C 4610：2005

固定カバー用のねじ。

CBEが保護導体の相互接続用の端子を備えている場合，これはフレームに接続する。

a)からe)までの測定に当たって，金属はく(箔)は，シール材があるとすれば，実用上試験される方法で

適用する。

絶縁抵抗は，次の値以上でなければならない。

− a)及びb)に従った測定に対して 2 MΩ。

− ほかの測定に対して 5 MΩ。

9.7.3

主回路の耐電圧 CBEが9.7.2の試験に合格した後，9.7.5に規定した試験電圧を，9.7.2に規定し

た各箇所に1分間印加する。

最初に規定の電圧の半分以下を印加し，その後，5秒以内に全電圧へ上昇する。試験中にいかなるフラ

ッシュオーバ又は絶縁破壊が起こってはならない。

電圧降下がないグロー放電は，無視する。

9.7.4

補助回路の耐電圧この試験のため，主回路はフレームに接続しなければならない。9.7.5に規定

した試験電圧は，次のように1分間印加する。

a) 通常主回路に接続されていないすべての補助回路をつなぎ合わせ，それとCBEのフレームとの間。

b) 適用する場合は，補助回路のほかの部分から絶縁されている補助回路の各部分と，相互に接続したほ

かの部分との間。

試験中，フラッシュオーバ又は絶縁破壊が起こってはならない。

9.7.5

試験電圧値試験電圧は，実際上正弦波形であり，周波数は，45〜65 Hzの間でなければならない。

9.7.2のa)，b)，c)，d)及びe)に従って印加する試験電圧値を，表20に示す。

試験電圧の電源は，少なくとも0.2 Aの短絡電流を流すことができなければならない。

出力回路内の電流が100 mAより小さいときには変圧器の過電流装置は，動作してはならない。

表 20 試験電圧

単位 V(実効値)

定格電圧値又は動作電圧値

≦50

＞50 ≦125

＞125 ≦250

＞250 ≦440

9.7.3及び9.7.4 a)に従って実施され
る耐電圧試験の試験電圧値

500

1000

1500

2000

9.7.4 b)に従って実施される耐電圧
試験の試験電圧値

250

500

1000

1500

備考付加絶縁及び強化絶縁の試験電圧は検討中。

9.7.6 インパルス耐電圧試験による絶縁協調の検証試験表1の規定の値より小さい場合に，この試験は，

絶縁協調の空間距離の妥当性を証明するために用いる(8.1.3.1.6参照)。

この試験は，CBEが通常の使用時と同じ取付けで配線した状態で，IEC 60060-1の図6に示すインパル

ス電圧で行う。

インパルス発生器で加える正・負のインパルスは，波頭長1.2 μs及び波尾長50 μsとし，許容範囲は次

による。

許容差は，次による。

− ピーク値

±5 ％

− 波頭長

±30 ％

− 波尾長

±5 ％

C 4610：2005

インパルス波形は，CBEをインパルス発生器に接続して調整する。

試験には，適切な分圧器及び電圧計測器を用いなければならない。

インパルス波形の小さい振動は，その振幅がインパルスのピーク値の5 ％以下である場合は，許容する。

波頭の始めの半分での振動は，ピーク値の10 ％以下は許容する。

9.7.2の試験に合格後，表21に規定するインパルス耐電圧試験値を，9.7.2に規定する部分に印加する。

試験の第1段階は，インパルス電圧をCBEの各極一括と中性極(又は電路)に印加する。

試験の第2段階はインパルス電圧を金属支持枠(もしあれば保護導体のための端子も接続して)と，各電

圧極及び中性極(又は電路)一括間に印加する。

インパルス電圧は，正・負それぞれ3回，1秒以上の間隔で印加する。

試験中，故意でない破壊放電が発生してはならない。

もし，1回だけ破壊放電が発生した場合，故障が発生したときと同一接続，同一極性で6回追加して印

加する。

そのとき，故意でない破壊放電が再発生してはならない。

備考1. 試験装置のサージインピーダンスは，500 Ωとする。この値の実質的減少値については，検

討中である。

2. “故意でない破壊放電”の語句は，電気的ストレスの下で，電圧の低下又は電流が流れるな

どの絶縁不良現象を含めるため用いた。

3. 故意の放電は，組み込まれたサージアレスタの放電を含む。

表 21 絶縁協調の検証のためのインパルス耐電圧値

定格インパルス

耐電圧値

試験を実施する場所の標高に対する適用インパルス電圧値(1.2/50 μs pulse) a)

標高0 m b)

標高200 m

標高500 m

標高1 000 m

標高2 000 m

330

350

340

330

500

550

540

530

520

500

800

910

900

850

800

1 500

1 750

1 700

1 600

1 500

2 500

2 950

2 800

2 700

2 500

4 000

4 800

4 700

4 400

4 000

6 000

7 300

7 200

7 000

6 700

6 000

表中の値は，IEC 60947-1の表12から引用した。

表21では規定していない標高に対するインパルス電圧値は，補間法によって決定する。

9.8

温度上昇試験

9.8.1

周囲気温 CBEの高さの中心(約2分の1)の位置で約1 m離れた場所であって，CBEの周囲で対

称的な位置に，少なくとも二つの温度計又は熱電対を置いて，周囲温度は試験期間の最後の4分の1の間

で測定しなければならない。

温度計又は熱電対は，空気の流れ及び放射熱から保護されなければならない。

9.8.2

試験方法試験は，7.1.1に規定された基準周囲温度で実施する。

温度上昇が安定状態の値に達するに十分な時間，又は，規約時間のいずれかよりも長い期間(ただし，8

時間を超えない。)適切な電圧で，Inに等しい電流をCBEの全極同時通電する。

実際，この安定状態は，温度上昇の変動が1時間当たり1 Kを超えないときに到達する。

三つの保護極をもつ4極のCBEに対しては，最初の試験は，三つの保護極だけに規定の電流を通電する。

C 4610：2005

それから中性極と最も近い保護極について，同じ電流値を通電することによって，試験を繰り返す。

試験中，温度上昇は表8に示した値を超えてはならない。

CBEが定常熱状態に到達する前(規約時間の後)に，引外しを起こした場合，引外し動作前に到達された

温度が記録される。

9.8.3

各部の温度の測定表8の種々の部分の温度は，最も高温部分に最も近接した接触可能な場所で細

線の熱電対か又は等価の方法で測定しなければならない。

試験中，熱電対と測定箇所の表面との間の熱伝導は良好であることを確認しなければならない。

9.8.4

各部の温度上昇各部の温度上昇は，9.8.3に従って測定した各部品の温度と，9.8.1に従って測定

した周囲気温との差である。

9.9

28日間試験 CBEは，9.2の試験条件で少なくとも30 Vの開放電圧(open circuit-voltage)で，定格電

流に等しい電流を21時間通電し，そして，3時間無通電とすることを各1サイクルとして，28サイクル試

験を行う。

CBEは，閉路状態とし，補助の開閉器で電流は通電し遮断する。この試験の間，CBEは動作してはなら

ない。

電流通電の最後の期間の直後にCBEに規約の不動作電流を流す。

CBEは，規約時間内に動作してはならない。端子の温度上昇を，規約動作時間が過ぎた直後に測定しな

ければならない。

この温度上昇は，温度上昇試験(9.8参照)に測定された値より，15 K以上超えてはならない。

この温度上昇の測定後直ちに，電流を規約動作電流まで5秒以内に一様に電流を上げる。

CBEは，規約時間内に動作しなければならない。

9.10 引外し特性試験この試験は，CBEが8.5.1の要求事項に適合していることを検証するために行う。

受渡当事者間の協定がない限り，この試験は，表9に規定する試験電流を用いて実施する。

(23±2 ℃)以外の基準周囲温度で校正されたCBEについては，この試験をCBEを校正した温度±2 ℃に

て実施する。

9.10.1 電流−時間特性の試験

9.10.1.1 規約の不動作電流に等しい電流を，コールド状態(表9参照)で規定した規約時間の間全極同時通

電する。

CBEは，動作してはならない。

その後，電流を5秒以内に規約動作電流まで一様に上昇させる。

CBEは，規約時間内に動作しなければならない。

9.10.1.2 2Inに等しい電流をコールド状態から始めて全極同時通電する。

開路時間は，製造業者によって指定される，t1とt2の限界値の間に入らなければならない(図A.1，図A.3

及び図A.4参照)。

9.10.2 (電磁式の)瞬時引外しの試験 Iniに等しい電流をコールド状態から始めて全極同時通電する。

CBEは，0.1秒以内の時間で動作してはならない。

この試験に続き，Iiに等しい電流をコールド状態から始めて全極同時通電する。

CBEは，0.1秒以内の時間で動作しなければならない。

9.10.3 多極遮断器に対する単極負荷での引外し試験 9.2に従って接続したCBEを，8.5.2.1に規定した条

件で試験を行うことによって，適合性を検証する。

CBEは，規約動作時間内に動作しなければならない。

C 4610：2005

9.10.4 周囲温度の引外し特性への影響試験 CBEは，7.1.2に規定した最高と最低の温度で製造業者がこ

れらの温度に対して指定した変化計数を2Inに乗じた電流で試験する。

CBEは，表9に従って製造業者が指定した，t1とt2の限界値の間に動作しなければならない。

備考流体電磁式のCBEについては，低減率は適用できない。基準周囲温度以外の温度での引外し時

間の限界は，製造業者の資料に記載された値に従って試験を行う。

9.11 電気的開閉性能

9.11.1 一般的要求事項電気性能の検証に関する試験は，8.6に示される代表的な使用条件に相当する電

流をCBEが投入及び遮断できることを検証することを目的とする。

9.11.1.1 試験条件試験は，表11又は表12に示される試験電圧及び試験電流を用いて実施する。試験量

の許容差は，次のとおりである。

電流：50

+％電圧：±5 ％

周波数：±5 ％

試験は，負荷端子に直列に接続された，抵抗及びリアクトルによって，表11又は表12で指定した値に

調整された電流で，図3〜図6に示される試験回路にて実施する。

空心リアクトルを用いる場合，リアクトルに通る電流の0.6 ％を引き込む抵抗を各リアクトルに対し，

並列に接続する。

鉄心リアクトルを用いる場合，これらのリアクトルの鉄損によって，回復電圧に影響があってはならな

い。

ACの場合，電流は正弦波であり，力率が表11又は表12に示すような値のものでなければならない。

DCの場合，電流はほとんどリップルがなく(実質値＜5 ％)，時定数が表11又は表12に示すような値の

ものでなければならない。

CBEは，表14に示す寸法の導体を用いて接続する。

電源側又は負荷側の指定がない端子をもつ装置については，試供品の一つを逆に接続した状態で試験を

実施する。

9.11.1.2 試験方法 CBEを，表11又は表12に示す電流値と回数の動作サイクルにかける。

CBEは，標準使用状態にて操作する。

備考1. 標準状態には，標準値と異なる基準周囲温度での使用も含む。

2. 試験数を少なくするために，製造業者の承諾が得られれば，標準基準周囲温度に対応する定

格電流を通電し，基準周囲温度 Tでの試験を実施してよい。

各動作サイクルは，投入動作とそれに続く遮断動作からなる。

各動作サイクルの間，CBEは表11及び表12で指定した時間の間，開に保持しなければならない。M-

形及びS-形のCBEの場合，受渡当事者間の協定がない限り，オン位置での時間は1秒を超えてはならな

い。

R-形及びJ-形のCBEの場合，オン時間は，CBEを引き外すのに必要な時間とする。

各動作サイクルの後，図3〜図6に示すヒューズFが溶断してはならない。

9.11.1.3 試験後のCBEの状態 9.11.2，9.11.3及び9.11.4の試験を行って，供試品は次の現象が現れては

ならない。

− 過度の消耗。

− 可動接点の位置と表示装置の相当する位置との間の相違。

C 4610：2005

− 試験指で充電部に近接できるようなエンクロージャの破損(9.6参照)。

− 電気的及び機械的な接続部の緩み。

− シーリング材がある場合，シーリング材の流れ出し。

さらに，CBEは9.7.5に従った電圧の0.75倍の電圧において，9.7.1の事前の湿度処理なしの条件で，9.7.3

に従った耐電圧試験に耐えなければならない。

9.11.1.4 試験後の引外し特性の検証

9.11.1.4.1 熱動式，熱動電磁式又は流体電磁式の引外しのCBEは，9.11.1.2及び9.11.1.3の試験に引き続き，

次の試験を行う。

− CBEに時間t1の間，1.8Inの電流をコールド状態から全極通電した場合，CBEは引き外してはならない。

− CBEに2.2Inの電流をコールド状態から全極通電した場合，CBEは時間t2以内に引き外さなければな

らない。

9.11.1.4.2 電磁式の引外しだけのCBEは，9.11.1.2及び9.11.1.3の試験に引き続き，次の試験を行う。

− 0.9Iniの電流を通電した場合，CBEは引き外してはならない。1.1Iniの電流を通電した場合，CBEは引

き外さなければならない。

9.11.1.4.3 ハイブリッド式の引外しのCBEの場合 (検討中)

9.11.2 定格電流における動作(R-形及びJ-形CBEの場合は低過負荷における) R-形及びJ-形CBEは，

手動で引外しができないので，遮断動作を実行させるために，試験は，低過負荷状態において行う。

試験条件は，表11又は表12の第1項で規定している，製造業者の表示する性能に応じた条件とする。

9.11.3 定格開閉容量における動作試験条件は，表11又は表12の第2項で規定している，製造業者の表

示する性能に応じた条件とする。

9.11.4 指定の定格短絡容量における動作これは任意(optional)試験である。

JIS C 8211の附属書Hに記載されたグリッドの距離は，製造業者の指定する値とする。

試験条件は，製造業者が指定する性能より表11又は表12の第3項で規定しているものとする。ただし，

製造業者が指定する定格短絡電流値において次の動作シーケンスとする。

a) 引外し自由CBE，サイクリング引外し自由及び J-形の場合

O-t-CO-t-CO

サイクル引外し自由CBEの場合には，3回の遮断動作の間，閉指令を保持して試験を行う。

b) 非引外し自由CBEの場合(備考参照)

O-t-O-t-O

ここに，

O：開路動作

CO：閉路動作に続く開路動作

t：連続する二つの短絡動作の間の間隔で次による。

− 引外し自由CBE：表11又は表12の第3項の規定値

− サイクル引外し自由CBE及びJ-形CBE：CBEの自動復帰時間

− 非引外し自由CBE：CBEが再投入できるまでの十分な時間

備考非引外し自由CBEの試験は，この形式のCBEが短絡状態で閉路を意図しないことを基本根拠

としている(4.7.3参照)。

9.11.5 動作限界での過電圧引外し試験 (検討中)

9.11.6 不足電圧及びゼロ電圧引外し装置での動作

C 4610：2005

9.11.6.1 不足電圧及びゼロ電圧引外し装置の動作限界の検証この試験は，新しい供試品で行わなければ

ならない。表10に規定されている試験条件に従わなければならない。

9.11.6.2 不足電圧及びゼロ電圧引外し装置の電気的耐久試験不足電圧及びゼロ電圧引外し装置をもつ

CBEは，製造業者が指定する開閉回数の試験を実施しなければならない。各操作サイクルは，不足電圧及

びゼロ電圧引外し装置に定格電圧をかけて投入操作を行う。続いて，電圧を外部補助スイッチによって不

足電圧及びゼロ電圧引外し装置の電圧を切ることによって，自動的に遮断動作を行わせることからなる。

9.11.6.3 不足電圧及びゼロ電圧引外し装置の耐久試験 (検討中)

9.12 条件付短絡試験

9.12.1 一般事項条件付短絡電流の条件下での性能を検証するための試験は，CBEの製造業者によって

指定される形式，定格及び特性をもつSCPDを用いて実施する。

性能分類PC1の場合，SCPDの定格は最低15 Aとしなければならない。

CBEの取付方法は，9.2によらなければならない。

JIS C 8211の附属書Hに規定された金網を，製造業者の取扱説明書によって決めた距離だけCBEのア

ーク穴から離して設置する。

試験回路は，図10〜図13の中で適切なものとしなければならない。

校正には，図10〜図13の中のCBE及びSCPDを無視できるインピーダンスの結線に置き換えなければ

ならない。

試験回路は，表22による電流及び力率で，製造業者によってCBEに対し指定された定格条件付短絡電

流の値に対し，校正される。

表 22 試験回路の力率及び時定数

試験電流Icc

力率

(範囲)

時定数

A.C.

300＜ Icc ≦1 500

1 500＜ Icc ≦3 000

0.93 〜 0.98
0.85 〜 0.90

−

D.C.

Icc ≦1 000
Icc ＞1 000

−

2.5±0.5

5.0±1

備考 3 000 Aを超える試験では，JIS C 8211の9.12.5を参照しなければならない。

図10〜図13の配線を含めて，SCPD及びCBEを無視できるインピーダンスの接続に置き換えて試験回

路を校正した後，CBEは図に示した長さで表3によるCBEの定格電流に対する最大断面積をもつ銅導体

を用いて図10〜図13に示したように接続する。

試験回路の校正後，わずかなインピーダンスを，SCPD及びCBEに置き換えなければならない。

その際，図10〜図13に示す長さ及び，表3によるCBEの定格電流に対する最大断面積をもつ銅導体を

用いてCBEを接続する。

9.12.2 試験値定格条件付短絡電流の検証に関するすべての試験は，製造業者によって指定され，この規

格の該当する表に従った電流，電圧及び力率において実施しなければならない。

印加電圧の値は，指定された商用周波回復電圧を発生するために必要な値とする。各相における商用周

波回復電圧は，試験するCBEの定格使用電圧の105 ％に相当する値に等しくなければならない。

9.12.3 試験値の許容差試験は，次の許容差のうちで規定した値と相違した場合，実効値(r.m.s値)を試

験成績書に記入した場合は，有効として認められる。

電流

：50

+％

C 4610：2005

電圧

：±5 ％（商用周波回復電圧を含め）

周波数：±5 ％

9.12.4 試験方法

9.12.4.1 一般事項試験手順は，動作シーケンスからなる。

動作シーケンスの定義に，次の記号を使う。

：開路動作

CO ：閉路動作に続く開路動作

：“O”試験と“CO”試験との時間間隔であり，次に示す。

− SCPDが動作する場合：CBEが再投入できるようになるのに必要な時間で3分以上。

− SCPDが動作しない場合：

・引外し自由又は非引外し自由CBE：3分。

・J-形及びサイクリング引外し自由CBE：装置の自己復帰時間

tの実際の時間は，試験成績表に明記しなければならない。

CBEの動作シーケンスは，次のとおりである。

引外し自由，サイクル引外し自由及び J-形CBEの場合：

O-t-CO-t-CO

非引外し自由CBEの場合：

O-t-O-t-O

単相試験の場合，最初のO動作の短絡電流が流れ始める瞬間は，SCPDの通過エネルギーの最大値が発

生するようなものでなくてはならない。

− ヒューズに関しては，JIS C 8269シリーズを参照しなければならない。

− エネルギー限流特性をもつ遮断器に関しては，製造業者が該当するエネルギー限流特性の情報を提供

しなければならない。

次の条件が満たされた場合，CBEを合格品とみなすことができる。

− 地絡検出ヒューズが溶断されない。ただし，SCPDは作動してもよい。

− 一体式エンクロージャがある場合，そのエンクロージャにおいて，試験指で通電部分に接触すること

を可能とするような損傷(9.6参照)がない。

− グリッド回路(JIS C 8211の図H.3参照)ヒューズの溶断がない。

9.12.4.2 性能種別PCIに関する定格条件付短絡電流の検証(Inc1) CBEは，定格条件付短絡電流に相当す

る試験電流を流し，9.12.4.1でした試験の手順で行う。

短絡試験の後，次のCBEの状況は合格とみなす。

− 1回目，2回目又は3回目の動作の後，動作不能となる。

− リセット不能となる。

− 規定限度内において引外し不能となる。

− 接点位置(開又は閉)を示すことができなくなる。

− 接点の溶着

− CBE内の内部損傷

9.12.4.3 性能種別PC2に関する定格条件付短絡電流の検証(Inc2) 二つのグループのCBE(表C.2及び表

C.3参照)が，次に示す試験電流を流し，9.12.4.1で指定された試験手順で行う。

a) 一つのグループの供試品を，定格条件付短絡電流に相当する試験電流で試験する。

C 4610：2005

b) もう一方のグループの供試品を，相当する試験電流で試験する(8.6参照)。

これらの試験後，CBEは9.12.4.1で規定した条件に適合しなければならない。また，CBEは，次の状態

を示してはならない。

− 可動接点の位置とそれに対応する表示装置の位置との相違。

− シーリング材がある場合，シーリング材の流れ出し。

さらに，CBEは9.7.5で規定している電圧の0.75倍の電圧において，9.7.1の事前の湿度処理なしの条件

で，9.7.3による耐電圧試験に耐えなければならない。

試験の後，CBEが9.11.1.3及び9.11.1.4に適合すれば，合格しなければならない。

9.13 機械的衝撃及び打撃に対する耐性試験 (検討中)

9.14 耐熱性試験

9.14.1 CBEを100±2 ℃の温度の加熱槽の中に1時間入れる。

試験の間，CBEにおいて，継続使用を損なうような変化があってはならない。また，シーリング材があ

る場合，それは充電部が露出するほどに流れ出してはならない。

試験後，供試品がおよそ室温にまで冷えてしまってから，標準試験指を5 Nを超えない力で触れたとき，

供試品が標準使用状態に取り付けられているときに，普通触れられない充電部に触れられる状態になって

はならない。

試験後，表示はまだ見える状態でなければならない。

シーリング材の変色，膨れ及び微細な位置のずれは，この規格の目的の範囲内で安全が損なわれなけれ

ば，無視してもよい。

9.14.2 通電部又は保護回路部の位置を保持するのに必要な絶縁材からなるCBEの外郭部は，付図8に示

す器具によってボールプレッシャ試験を行う。ただし，箱の中の保護導体用の端子の位置を保持するのに

必要な絶縁部品は，9.14.3に従って試験する。

試験する部品は水平位置で適切な面をもつ鉄の支持台上に置き，直径5 mmの鋼球を20 Nの力でこの面

に対して押し付ける。

試験は，125±2 ℃の温度で加熱槽の中に入れて行う。

1時間後，球は供試品から外し，冷水に浸しておよそ室温にまで10秒間以内に冷やす。

球によってできた跡の直径を測定し，2 mmを超えてはならない。

9.14.3 通電部品及び保護回路の部品を保持する必要がない，絶縁材料からなるCBEの外郭部は，これら

がお互いに接触している場合でも，9.14.2に従ってボールプレッシャ試験を行う。ただし，試験は75±2 ℃

か，又は9.8の試験で関連部品が到達した最高温度上昇値に40±2 ℃を加えた値のいずれか高い方の温度

を使って行う。

23±2 ℃以外の基準周囲温度で校正されたCBEの試験は，9.8の試験中で関係する部分について得られ

た最大温度上昇値に7.1.2に従った周囲温度の上限値を加えた値か，又は75±2 ℃のうちいずれか大きい方

で行わなければならない。

備考1. 9.14.2及び9.14.3の試験のために，表面形CBEのベースは，外郭部とみなされる。

2. 9.14.2及び9.14.3の試験は，セラミック材料からなる部品に対しては行わない。

3. 8.14.2及び8.14.3で規定した絶縁部品の二つ以上の部品が同一材料からできている場合には，

試験は，これらの部品のうち一つだけを使って9.14.2及び9.14.3の試験を個々に行う。

4. この試験の改正を現在検討中である。

C 4610：2005

9.15 異常過熱及び火災に対する耐性の試験(グローワイヤ試験) 8.10の要件に対する適合性は，グロー

ワイヤ試験によって確認しなければならない。この試験は，次の条件の下でJIS C 60695-2-10の4.から10.

に従って行う。

− 通電部及び保護回路部を正常位置に保持するのに必要な絶縁材料からなる遮断器の外郭部は，960±

10 ℃の温度での試験による。

− その他の絶縁材料で作られたすべての外郭部は，650±10 ℃の温度での試験による。

備考1. この試験の目的のためには，表面形CBEのベースは，外郭部とみなす。

2. 試験は，セラミック材料の部品には行わない。

3. 多くの絶縁部が同一材料で作られている場合，適切なグローワイヤ試験の温度によって試験

はこれらの一つだけで行う。

グローワイヤ試験は，定義された試験条件の下で，電気的に加熱された試験ワイヤによって絶縁部品が

引火しないことを保証するか，又は，定義された試験条件の下で，電気的に加熱された試験ワイヤによっ

て引火した絶縁部品が試験された部品から落ちる滴下物，燃えた部品又は炎によって燃え広がらない限度

時間を保証する。

試験は，1個の供試品で行う。

疑わしい場合は，試験は更に2個の供試品で繰り返さなければならない。

試験は，グローワイヤを一度当てることで行う。

供試品は，試験中は，考えられる使用上で最も不利な位置に置かなければならない(試験面を垂直にして)。

熱せられた又は白熱する素子が供試品と接触するかもしれないと考えられる使用条件を考慮し，指定し

た試験供試品の面にグローワイヤの先端をあてなければならない。

供試品は，次の条件に適合すればグローワイヤ試験に合格とする。

− 目に見える炎がなく赤熱部が持続しない場合。

− 供試品上の炎及び赤熱がグローワイヤを取り除いた後，30秒以内に消える場合。

ティシュペーパの発火又は松の板の焦げはあってはならない。

備考4. この試験の改正を検討中である。

9.16 トラッキングに対する特性次の試験によって，セラミック以外の材料の，8.11の要件に対する適

合性を確認する。

試験すべき部品の平たん部分を水平に置く。この部分は，できれば15 mm×15 mm以上のものを使う。

図9に示す寸法をもつ二つの白金電極を，図9に示すように電極の丸まった端が，その全長にわたって

サンプルに接触するように置く。各々の電極によってサンプル表面に加えられる力は，約1 Nとする。

材料CTI(表1参照)に対応する周波数45〜65 Hzの正弦波である100 V，400 V又は600 Vの電圧の電源

を白金電極に接続する。

電極を短絡したときの電流が1.0±0.1 Aで，力率が0.9〜1の間の値となるように回路の総インピーダン

スを可変抵抗で調整する。最低0.5秒の引外し時間をもつ過電流継電器を回路に組み入れる。

塩化アンモニウムの蒸留水溶液の液滴を電極間の中心に落とし，サンプル表面を濡らす。

この溶液は，約0.1 ％の濃度において，25 ℃にて400 Ωcmの抵抗率をもつ。

液滴は，20 mm3の体積をもち，30 mmから40 mmの高さから落ちる。

一つの液滴から次の液滴の間の時間は30±5秒とする。

全部で50の液滴が落ちる前に，電極間のフラッシュオーバや放電破壊があってはならない。

備考各試験を始める前に，電極が清浄で，正しい形をもち，正しく配置されているよう注意しなけ

C 4610：2005

附属書C（規定）証明をするために行う試験シーケンス及び供試品の数

C.1 試験シーケンス試験は，表C.1に従って行い，各シーケンス内の試験は，規定した順序で行わなけ

ればならない。

表C.1 試験シーケンス

試験順序

箇条番号

試験(又は検査)

6.
8.1

8.1.1

8.1.2

8.1.3

9.3
9.4
9.5
9.6
9.14
9.15
9.17

表示事項
機械的設計

一般事項

機構

空間距離及び沿面距離

表示の不滅性
端子，通電部品及び接続の信頼性
外部導体用端子の信頼性
感電保護
耐熱性能
異常過熱及び火災に対する耐性
耐食性能

9.7

9.7.1

9.7.2

9.7.3

9.7.4

9.7.6
9.8
9.9
9.16

絶縁性能

耐湿性

主回路の絶縁抵抗

主回路の耐電圧

補助回路の耐電圧

インパルス耐電圧(必要である場合)
温度上昇
28日間試験
耐トラッキング性

9.10
9.11.2
9.11.1.3
9.11.1.4

引外し特性
定格電流における動作
試験後のCBEの状態
試験後の引外し特性検証

9.10
9.11.3
9.11.1.3
9.11.1.4

引外し特性
定格開閉容量の検証
試験後のCBEの状態
試験後の引外し特性検証

（任意）

9.10.1.2
9.11.4
9.11.1.3
9.11.1.4

引外し特性
指定の定格短絡容量Icnにおける動作
試験後のCBEの状態
試験後の引外し特性検証

9.10.1.2
9.12.4.2

引外し特性
性能種別PC1(Inc1)に関する定格条件付短絡電流

（任意）

9.10.1.2
9.12.4.3
9.11.1.3
9.11.1.4

引外し特性
性能種別PC2(Inc2)に関する定格条件付短絡電流
試験後のCBEの状態
試験後の引外し特性検証

C 4610：2005

C.2 全試験シーケンス用供試品数試験のために1形式のCBEを提出する場合，異なる一連の試験を行

う供試品数は，表C.2に示す。また，表C.2は，最小判定基準数を示す。

表C.2の第2欄に従って行う全供試品が試験に合格した場合，この規格に適合すると認定する。

第3欄での最小値だけが試験に合格する場合，第4欄で示す追加供試品を試験し，そのとき試験シーケ

ンスを完全に満足しなければならない。

二つ以上の定格電流をもつ遮断器の場合，遮断器の二つの別々のシーケンスのセットで各試験シーケン

スを行う。最大定格電流で調整した1セットと，最少定格電流で調整した第2セット。

表C.2 すべての試験シーケンスに対する供試品の数

試験シーケンス

供試品数

合格とする供試

品数の最小数

再試験の供試品数a)

−

2×3

2×2

2×3

再試験ではすべての試験結果が満足できるものでなければならない。

C.3 同一基本設計のCBEシリーズを同時に試験する場合の簡略化した試験法に対する供試品数。

C.3.1 同一基本設計のCBEシリーズに対して，試験する供試品の数は，表C.3に従って低減してもよい。

CBEは，次の条件の場合，同一基本設計であるとみなすことができる。

a) 電流定格が異なるために変更した部品を除いて，すべての部品が同じである場合。

多くの設計において，異なる部品とは，例えば

−バイメタル，コイル及びこれらの部品間の接続部。

b) ハウジングの形状だけが違う場合。

c) 単極のCBEの組合せか，又は，一極ごとの寸法が単極のCBEと同一部品から構成されている多極の

CBEである場合。

d) 明らかに性能に影響を与えない部品を省略する場合(例えば，補助，制御回路など)。

e) 端子部だけが異なるCBEの場合。適切かどうか温度上昇試験を行うことがある(9.8参照)。

C 4610：2005

表C.3 異なる極数をもつCBEのシリーズの供試品の低減

試験シーケンス

極数による供試品の数 a)

単極 b)

2極 c)

3極

4極 d)

A h)

1 最大定格電流
1 最小定格電流

1 最大定格電流

3 最大定格電流

3 最大定格電流 e)

3 最大定格電流 f)

3 最大定格電流

3 最大定格電流 e)

3 最大定格電流 f)

3 最大定格電流

E g)

3 最大定格電流
3 最小定格電流

F g)

3 最大定格電流
3 最小定格電流

G g)

2×3 最大定格電流
2×3 最小定格電流

試験がC.2の規定に従って再試験を行わなければならない場合，新しい供試品のセットを関係する試験に対し
て用いる。再試験において，すべての試験結果は，満足しなければならない。

b) 多極CBEだけの場合，この項目は最少極数をもつ供試品のセットに適用する。

c) 一つの保護極及び中性極をもつCBEにも適用する。

d) 三つの保護極及び中性極をもつCBEにも適用する。

e) 3極又は4極のCBEを試験する場合，この試験は省略する。

f) 4極のCBEを試験する場合，この試験は省略する。

g) CBEの内部インピーダンスで短絡電流が限流されることを考慮した場合，最小定格の代わりに中間定格で試験

してもよい。

h) 多極CBEを試験する場合，最大四つの外部導体用ねじ式接続端子は9.5の試験に供される。

C 4610：2005

備考1. B3及びL2を変化させて，平形接続端子の寸法を決定するとき，最も不安定な状態でも，タブと平形接続端子

とのかみ合い状態(もし，適用する場合，戻り止めも)が正常であることを保証するためにタブの寸法も参照
する必要がある。

2. 戻り止めがあれば，寸法Xは，性能の要求に適合するために製造業者の自由採用に委ねる。
3. 平形接続端子の設計は，導体を過度に挿入した場合，目で見て分かったり，又は導体と十分差し込んだタブ

との間に干渉がないように，止まりを設けていなければならない

4. この図は，次に示す寸法に関する以外は，規定しない。

メールタブ寸法

平形接続端子寸法

インチ

最大B3

最大L2

最大B3

最大L2

2.8×0.5

3.8

2.3

0.150

0.091

2.8×0.8

3.8

2.3

0.150

0.091

4.8×0.8

6.2

2.9

0.244

0.114

6.3×0.8

7.8

3.5

0.307

0.138

9.5×1.2

11.1

4.0

0.437

0.157

図E.14 メールタブ用平形接続端子の寸法

平形接続端子の外形

最大1.5 mm

C 4610：2005

附属書F（参考）同一回路で関連しているCBEと短絡保護装置

(SCPD)との協調

この附属書は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。

序文大抵の使用においてCBEは，電気システムにおいて同一回路内の二つ以上の過電流保護装置と関連

して働く役割をしている。

したがって，システム協調の面から，次の事項を考慮する必要がある。

a) バックアップ保護

b) 選択遮断

この附属書は，主としてバックアップ保護に関するものであるが，選択遮断に関するガイドも提供する。

バックアップ保護は，CBEを取付位置での推定短絡電流がCBEの定格短絡容量を超える場合に必ず必

要となる。

製造業者によって，定格短絡容量(5.2.6参照)が指定されていない場合，定格短絡容量の代りに定格開閉

容量(5.2.4参照)を使用するべきである。

多くの取付位置では，推定短絡電流がCBEの定格短絡容量(又は，適用する場合における定格開閉容量)

を超える可能性がある。

したがって，CBEが推定故障電流を確実に遮断できる能力をもたない限り，適切なバックアップ保護が，

機器と一体化した部分として準備されるか，又は製造業者の取扱説明書によって指定されていなければな

らない。

最大の故障電流が，CBEの定格短絡容量を超える場合，CBEとSCPDが正しく協調していることが立証

されている。要求事項を満たすことができる。

この附属書は，机上研究及び/又は試験に基づいて，協調を達成する方法についてのガイダンスを与える。

また，見込まれる使用者に対して，どのような情報を提供すべきかについてのガイダンスも提供する。

F.1 適用範囲この附属書は，ヒューズ又は遮断器で構成されるSCPDとCBEとの間の協調に関するガ

イダンスを与える。

ここでは，次の事項について説明する。

− CBEとそれに関連したSCPDとの協調のための一般的な必要項目。

− ヒューズ又は遮断器によってCBEをバックアップ保護するための要求事項。

− 特定の条件で，選択遮断及び/又はバックアップ保護が机上で検証するためのCBEとSCPDとの組合

せ。

− 協調を机上で検証するための方法。

− 協調のための条件が適合していることを検証するための試験。

F.2 CBEとそれに関連したSCPDとの協調のための一般必要項目

C 4610：2005

F.2.1 一般考慮事項 SCPDに直列に接続されているCBEは，選択度限界電流ISまでの短絡電流を，SCPD

の援助なしに遮断する。

ISを超える電流では，CBEとそれに関連したSCPDは，条件付短絡電流Incまでのすべての電流において，

安全に動作しなければならない。

バックアップ保護に関しては，次の考慮事項が適用する。

a) 取付場所での推定故障電流がCBEの定格短絡容量より低い場合，SCPDは，バックアップ保護以外の

目的のために回路に組み込まれていると推定できる。

b) 取付位置での推定故障電流がCBEの定格短絡容量を超える場合，SCPDは，F.2.3及びF.2.3の要求事

項に適合していることが確実となるように，選択しなければならない。

F.2.2 ヒューズ又は遮断器によるCBEのバックアップ保護の条件

F.2.2.1 一般的な動作 CBEとそれに関連したSCPDに対し指定された定格条件付短絡電流以下で，かつ，

ISを超えるすべての過電流値において，CBEの投入動作及び連携機構の遮断動作は，操作者に危険を与え

たり，火災の危険となるような外部現象を引き起こしてはならない。

性能種別2のCBEについては，CBEが継続使用に適した状態に維持されるような組合せでなくてはな

らない。その適合性は，9.12の関連する試験によって検証する。

F.2.2.2 テークオーバ電流テークオーバ電流IBは，CBE単独の定格短絡容量を超えてはならない(IB≦

Icn)。

F.2.3 選択遮断に関する要求事項選択限界電流IS以下のすべての過電流に対して，CBEはバックアップ

遮断器を動作することなく，又は継続使用ができなくなるようなバックアップヒューズの損傷を引き起こ

すことなく，電流を遮断しなければならない。

F.2.4 必要となる情報短絡保護協調の検証には，SCPDと同様にCBEの性能情報が必要となる。この情

報は次の項目からなる。

CBEに関するものとして次の項目がある。

− 形式及び定格

− 動作特性

− I 2t耐量

− 定格短絡容量Icn

− 定格条件付短絡電流Inc(5.2.5参照)

− 電気力学的な接点の開離が発生する電流

− 接点の溶着が発生する電流

SCPDが遮断器の場合，次の項目がある。

− 遮断器の形式及び定格

− エネルギー抑制クラス(ただし，入手可能で，適用する場合だけに適用する。)

− 遮断器の動作特性

備考この情報は，瞬時引外し電流Iiも含む。

− 遮断器の時間/電流特性の不動作の値

− 遮断器の定格短絡容量

関連の規格が参照されなければならない。

SCPDがヒューズの場合，次の項目がある。

− ヒューズの形式及び定格

C 4610：2005

− 溶断特性

− 許容特性

− ヒューズの定格遮断容量

JIS C 8269が参照されるべきである。

F.3 協調の検証

F.3.1 机上による検証のための条件を含めた一般考慮事項 F.2.4で示した必要情報が入手できる場合，か

つ，CBEには過負荷保護だけが組み込まれ，更に次の二つの条件が満たされている場合，その協調を個々

の特性の比較によって決めることができる。

a) 推定短絡電流が1 500 Aを超えない。

b) 定格条件付短絡容量Incまでの電流で，電気力学的な接点の開離及び接点溶着が発生しない。

協調が机上で検証できる組合せを図F.1に示す。

短絡協調を検証するためには，時間/電流特性よりもI 2t特性を使用することを推奨する。

備考現在，一部の関連特性は，この規格がそれらの評価方法を規定していないので，利用できない

かもしれない。F.3.2.1でこのような例を挙げる。

ある組合せにおいては，個々の特性が利用できるかもしれないが，この組合せの挙動を予測できない。

例として，類似の瞬時引外し時間をもつ，二台の電磁式遮断器を直列に接続した場合をあげることができ

る。このような組合せでは，机上の考察で選択遮断の範囲を予測できるが，条件付短絡電流の検証には試

験が必要である。

F.3.2 選択遮断の検証

F.3.2.1 机上の考察による選択遮断の検証ある組合せに対しては，同じ縮尺で描かれた関連特性を重ね

合わすことによって，選択遮断を検証することができる。このような例を，次の図に示す。

− 図F.1 熱動−電磁式遮断器によってバックアップされた熱動式CBE

− 図F.2 ヒューズによってバックアップされた熱動式CBE

− 図F.3 熱動−電磁式遮断器によってバックアップされた熱動−電磁式CBE

− 図F.4 熱動−電磁式遮断器によってバックアップされた流体電磁式CBE

− 図F.5 流体電磁式遮断器によってバックアップされた熱動式CBE

ある組合せにおいては，バックアップ遮断器の必要な不動作特性(＝アンラッチング特性)が利用できな

いため，現時点では机上の検証ができない。このことは，エネルギー抑制式CBEと一般の熱動−電磁式バ

ックアップ遮断器の組合せについていえる。

現時点で製造業者が提供する動作特性の曲線は，電流が遮断されるまでに経過する時間の限界を示して

いる。これらの曲線は，推定短絡電流に関するものである。

要求されている曲線は，1/2サイクルより短い，サイン波形と異なる形の電流パルスに対するバックア

ップ遮断器の応答を示さなければならない。これらの曲線は，現時点で規格化されていない。現時点で，

バックアップ遮断器の製造業者によって提供される曲線を用いると誤った結論を出すかもしれない。図F.6

は，このような例を示す。

F.3.2.2 試験による選択遮断の検証 F.3.1の条件が満たされない場合，試験によって検証が必要となる。

F.3.2.1で示した一部のバックアップ遮断器とCBEとの組合せには試験による検証が適用されるが，ヒュー

ズの許容特性が利用可能なヒューズとCBEとの組合せには適用されない。

F.3.2.3 ISの検証 ISの検証のための試験は，9.12による方法で実施されるが，各試験電流の動作シーケ

C 4610：2005

ンスをO-t-Oとし，力率を0.6±0.05としなければならない。この試験は，バックアップ遮断器が動作する

電流まで，徐々に高い電流に上げながら繰り返されなければならない。バックアップ遮断器の動作しない

試験電流の最大値が，選択限界電流ISである。

この選択限界電流において，試験シーケンスをもう一度繰り返さなければならない。

F.3.3 バックアップ保護協調の検証

F.3.3.1 机上の考察によってバックアップ保護協調の検証

a) 性能種別1（PC1，5.2.5.1参照）のCBEの場合 IBの検証は，F.3.3.2による試験を必要とするので，

F.2.2.2の要求事項に対する適合性とは関連がない。

b) 性能種別2（PC2，5.2.5.2参照）のCBEの場合 F.3.1の要求事項が満たされ，次の情報が利用できれ

ば，F.2.2の要求事項に対する適合性が机上の考察で検証できる。

− CBEの動作特性

− SCPDの動作特性

− CBEの定格短絡容量，又は，関連する場合，CBEの定格開閉容量

− CBEが耐え得る最大I 2t値

− 接点の溶着が起こる電流値より小さいピーク電流

− 電気力学的な接点の開離が起こる電流値より小さいピーク電流

図は，図F.4に示す。

F.3.3.2 試験によるバックアップ保護協調の検証 F.2.2の要求事項に対する適合性は，9.12による条件付

短絡電流試験によって確認することができる。

備考1. 9.12では，性能種別PC1とPC2とに対し，異なる判断基準を規定している。

2. IB≦Icn(F.2.2.2参照)の要求事項に対する適合性を机上の考察で検証しなければならない。

F.4 机上の考察による協調の検証の例ここでは，同じ縮尺で描かれた，比較可能な特性を重ね合わせる

ことによって，CBEとSCPDの組合せの協調が検証できる場合又はできない場合の例を図で示す。

ある例では，一つの図の中に電流の全範囲を示すのに適した時間−電流特性が用いられ，また，ほかの

例では，電流の短絡領域を示すのに特に適している，電流特性に対するI 2tの図が使用されている。

ここでは，次の記号が用いられている。

動作特性

バックアップ遮断器の時間/電流特性による不動作電流値

バックアップヒューズの許容特性

I2t

熱動式CBEの耐I 2t耐量

Icnは，定格短絡容量(CBE)

IBは，テークオーバ電流

CBEの動作領域

Incは，組合せの条件付短絡電流

ISは，選択限界電流

SCPDの動作領域

C 4610：2005

附属書G（規定）機器保護用遮断器の電磁環境性能

G.1 総則 CBEは，機器に組み込むために特別に設計されたものである。種々の機器の規格は，それら

を用いる環境に依存して，イミュニティ及びエミッションの要求事項を規定している。関連する部品を使

って設計と組込みする機器の製造業者は(もしあるならば)特別な機器の電磁両立性(EMC)規格，又は，そ

の機器を組み込む環境の一般規格と考慮する。(CBEのような)部品によって満足するEMCの条件は，機

器への組込みによって依存する。したがって，CBEに対してはEMCに関する一般要求事項は規定できな

い。

それにも関わらず，適切に選択し，保護する機器に適切に組み込むために，CBEの電磁波エミッション

及びイミュニティ性能の情報は，機器の製造業者に提供しなければならない。

この目的のために，この附属書は設計に依存するCBEsのEMC動作，CBEに要求される最小限のEMC

性能を規定し，そして，CBEの製造業者がCBEの適切な選定のために機器の製造業者に提供しなければ

ならないEMC性能に関する追加情報を明らかにする。

G.2 イミュニティ

G.2.1 電子回路をもたないCBE 電子回路をもたないCBEは，電磁妨害に対して敏感でないので，イミ

ュニティ試験は要求されない。

瞬時電圧降下，瞬時停電及び電圧変動における過電圧又は不足電圧引外しをもつCBEの動作は，この規

格の8.5.4の試験で評価する。

G.2.2 電子回路をもつCBE

a) 単純な整流器だけが組み込まれたCBEは，電磁妨害に対して敏感でないので，イミュニティ試験は必

要ではない。

b) G.2.2のa)以外の電子回路をもち，引外し装置をもつCBEについては，製造業者は次の試験条件にお

ける性能を示さなければならない。

− JIS C 61000-4-4に規定されるファストトランジェント(バースト)

− JIS C 61000-4-5に規定されるサージ(1.2/50)μsイミュニティ

− JIS C 61000-4-2に規定される静電気放電

− JIS C 61000-4-3に規定される放射高周波電磁界

これらの性能(performance)は，どの場合も次の最低条件レベルを満足する。

C 4610：2005

表G.2.2 CBEの最小限のイミュニティ性能(performance)

試験の種類

JIS C 61000-4の厳しさのレベル

値

1.2/50 μs サージ

JIS C 61000-4-5

2 kV(MC) a)

1 kV(MD) b)

ファストトランジェント(バースト)

JIS C 1000-4-5

2 kV

電磁界

JIS C 61000-4-3

3 V/m

静電気放電

JIS C 61000-4-2

6 kV c)

気中放電

コモンモード

差動モード

操作前面より印加

試験中にCBEは動作しなくてもよい。

表G.2.2の試験後，CBEは2Inで8.5.1の，そして，適用可能なら8.5.4の要求事項に適合しなければなら

ない。

G.3 エミッション

G.3.1 電子回路をもたないCBE 電子回路をもたないCBEは連続した妨害を発生させず，スイッチング

の間だけ過渡的な妨害を発生するだけである。これらの過渡的な妨害の頻度及びその結果引き起こされる

現象は，低電圧設備の通常の電磁環境の一部分としてみなされる。このタイプのCBEには，EMCの規定

は必要ない。

G.3.2 電子回路をもつCBE

a) 連続的に発振する回路をもたないCBEは，スイッチングの期間以外は，連続的又は過渡的な妨害は発

生しない。

これらのエミッションの頻度，レベル及びその結果引き起こされる現象は，低電圧設備の通常の電

磁環境の一部分としてみなされる。

b) 連続して発振する回路をもつCBEに対しては，製造業者はCISPR 22(0.15 MHz-30 MHz及び

30 MHz-1000 MHz)の試験条件での性能を示さなければならない。

C 4610：2005

附属書H（規定）定格インパルス耐電圧を決定するための電源

システムの公称電圧及び相間電圧に関する補正

表H.1に示される定格インパルス耐電圧は，保護手段が必要である。その手段は，IEC 60099-1に規定

される電圧よりも小さくない最小電圧と抑制電圧との比率をもつサージアレスタを含むことによって得ら

れる。

表H.1 公称電圧及び対応する定格インパルス耐電圧

電圧

電圧相−中性

相間

電源の公称電圧

装置に対する定格インパルス電圧

三相-4線式
接地された
中性相付き

三相-3線式
接地又は接

地なし

単相-2線式
a.c.又はd.c.

単相-3線式
a.c.又はd.c.

過電圧種別

Ⅰ

Ⅱ

(標準種別)

Ⅲ

適用せず

30-60

330

500

800

100

66/115

−

500

800

1 500

150

120/208(1)

127/220

100，115
120，127

100，110，
120，125

100-200
110-220
120-240

800

1 500

2 500

300

220/380
230/400
240/415
260/440
277/480

200，222
230，240
260，277

200，220，
250

220-440

1 500

2 500

4 000

600

347/600
380/660
400/690
417/720
480/830

347，380
400，415
440，480
500，577

600

480

480-960

2 500

4 000

6 000

1 000

−

660，690
720，830

1 000

−

4 000

6 000

8 000

注(1) 米国及びカナダで用いる。

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附属書J（規定）受渡試験又は抜取試験

この附属書で規定する試験は，安全に関して材料又は製造に許容できない変化が生じたことを明らかに

することを意図する。

各々のCBEがこの規格の試験に耐えた供試品と同一であることを確認するために製造業者によって得

られた実績に基づいて更なる試験を行ってもよい。

エンジニアリング及び統計上の分析によれば，各々のCBEの受渡試験は常に必要ではなく，その受渡試

験がない場合，その代替としてサンプリング試験を行ってもよい。

J.1 引外し特性の検証受渡当事者間の合意がある以外は，次に示す試験電流を置き換えて受渡試験は，

9.10に基づいて行わなければならない。

a) TO(熱動式)引外しをもつCBE

− 約2Inの電流を通電したとき，CBEは製造業者によって示された特性曲線の時間内で，引き外さなけ

ればならない。

b) MO(電磁式)引外しをもつCBE

− 0.95Iniの電流を0.1秒間通電したとき，CBEは引き外してはならない。

− 1.05Iiの電流を通電したとき，CBEは0.15秒以内に引き外さなければならない。

c) TM(熱動電磁式)引外しをもつCBE

− 0.95Iniの電流を1秒間通電したとき，CBEは引き外してはならない。

1.05Iiの電流を通電したとき，CBEは0.1秒以内で引き外さなければならない。

− 2Inの電流を通電したときCBEは製造業者によって示された特性曲線の時間内で，引き外さなければ

ならない。

d) HM(流体電磁式)引外しをもつCBE

− 2In及び6Inの電流を通電したとき，CBEは製造業者によって示された特性曲線の時間内で，引き外さ

なければならない。

e) EH(ハイブリッド式)引外しをもつCBE

− 製造業者が指定する二つの電流を通電したとき，CBEは製造業者によって示された特性曲線の時間内

で，引き外さなければならない。

J.2 耐電圧の検証表20に規定している50 Hz又は60 Hzの正弦波形の実効値電圧を1秒間印加する。

a) CBEを開位置とし，電源−負荷端子間で行う。

b) CBEを閉にして，ある1極とほかの極を一括接続した間で行う。さらに極を変えて繰り返し行う。

フラッシオーバ又は絶縁破壊が生じてはならない。

接点間の空間距離を検証するための便利な方法が使われてもよい(例えば，X線解析)。

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附属書1（参考）JISに対応する国際規格との対比表

この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。

JIS C 4610 機器保護用遮断器

IEC 60934, Ed.3: 2000, Circuit-breakers for equipment

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ)国際規

格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の項目ごと

の評価及びその内容

表示箇所：本体

表示方法：点線の下線又は実線の側線

(Ⅴ)JISと国際規格との技術

的差異の理由及び今後の
対策

項目

内容

項目ごと

の評価

JISと国際規格との相違点

5.3.1 定格電圧
の推奨値

定格電圧の推奨値が示されてい
る。

IEC 60934 同左

MOD/追加国内で使用されている定格値を追

加した。

国内で主に使用されている
電圧を考慮した。

6.表示及び製品
情報

機器の表示事項を規定

同左

MOD/追加開位置，閉位置の識別記号に”ON”，

”OFF”を使用してもよいこととし
た。
電源端子，負荷端子の識別記号
に”Line”及び”Load”又は”Line”だ
けで表示してもよい。

国内で主に使用されている
記号を考慮した。

9.3 表示の不滅
防止

表示の印字の耐久性を試験

同左

MOD/追加試験に使用する試薬にJIS K 8843

のヘキサンを追加した。

国内での試薬の入手に考慮
した。

附属書E，図E.4 ラグ端子の一例図

同左

MOD/追加国内で使用されているラグ端子の

一例を追加した。

国内で主に使用されている
例を追加。

附属書H

定格インパルス耐電圧を決定する
ために電源システムの公称電圧及
び相関電圧に関する補正

同左

MOD/追加我が国の主な公称電圧を追加した。国内で主に使用されている

公称電圧を考慮した。

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