C 4556：2009
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 定格及び使用環境条件 ······································································································· 4
4.1 電気的動作条件 ············································································································· 4
4.2 周囲環境条件 ················································································································ 7
5 要求事項 ························································································································· 7
5.1 計数回路の機能 ············································································································· 7
5.2 電気的特性 ··················································································································· 7
5.3 機械的耐久性 ················································································································ 7
5.4 電気的耐久性 ················································································································ 8
5.5 耐振動性 ······················································································································ 8
5.6 耐衝撃性 ······················································································································ 8
5.7 熱環境性 ······················································································································ 8
5.8 耐火性 ························································································································· 9
5.9 絶縁 ···························································································································· 9
5.10 耐電源ノイズ性 ··········································································································· 11
5.11 電磁両立性（EMC） ···································································································· 12
5.12 機械的強度 ················································································································· 13
5.13 取付寸法 ···················································································································· 14
6 試験······························································································································ 14
6.1 一般事項 ····················································································································· 14
6.2 計数回路の機能確認試験 ································································································ 15
6.3 機械的耐久性試験 ········································································································· 16
6.4 電気的耐久性試験 ········································································································· 16
6.5 振動試験 ····················································································································· 16
6.6 衝撃試験 ····················································································································· 17
6.7 熱環境性試験 ··············································································································· 17
6.8 定格通電電流の確認試験 ································································································ 17
6.9 絶縁確認試験 ··············································································································· 18
6.10 耐電源ノイズ試験 ········································································································ 19
6.11 電磁両立性（EMC）試験 ······························································································ 20
6.12 端子及び通電部分の機械的強度の確認試験 ······································································· 20
6.13 接触抵抗の確認試験 ····································································································· 20
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6.14 その他の試験 ·············································································································· 21
6.15 試験報告書 ················································································································· 21
7 表示，識別及び取扱説明書 ································································································ 21
7.1 表示及び識別 ··············································································································· 21
7.2 取扱説明書 ·················································································································· 21
附属書A（規定）電磁両立性（EMC）試験 ·············································································· 22
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（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気
制御機器工業会(NECA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正
すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 4556:1987は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
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白 紙
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日本工業規格 JIS
C 4556：2009
工業用電子カウンタ
Electronic counter for industrial use
序文
この規格は，1987年に制定され，今回第1回目の改正を行った。その間に電子カウンタを取り巻く関連
規格の環境が国際化したことに対応するために改正した。
なお，対応国際規格は，現時点で制定されていない。
1
適用範囲
この規格は，周波数が50 Hz及び／又は60 Hzの交流250 V以下，又は直流250 V以下の工業用制御回
路に使用する電子カウンタ（以下，“カウンタ”という。）の要求事項及び試験方法について規定する。
工業用制御回路とは，工業地域，計測・試験室などを含む環境において，産業用全般に使用される制御
回路を示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
JIS C 4003 電気絶縁の耐熱クラス及び耐熱性評価
JIS C 5442 制御用小形電磁リレーの試験方法
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
JIS C 8201-1 低圧開閉装置及び制御装置−第1部：通則
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
JIS C 60695-2-10 耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
JIS C 60695-2-11 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
JIS C 60695-2-12 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
JIS C 60695-2-13 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ着火性試験方法
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験
2
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JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／バー
ストイミュニティ試験
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニティ
JIS C 61000-4-8 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第8節：電源周波数磁界イミュニティ試
験
JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び電圧
変動に対するイミュニティ試験
IEC 60664-1:1992，Insulation coordination for equipment with in low-voltage systems−Part 1: Principles,
requirements and tests
IEC 61554，Panel mounted equipment−Electrical measuring instruments−Dimensions for panel mounting
CISPR 11，Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment−Electromagnetic disturbance
characteristics−Limits and methods of measurement
CISPR 22，Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods of
measurement
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
電子カウンタ
計数要素に電子回路を用いたカウンタ。
なお，電子カウンタには，あらかじめセットされた数値までカウントしたとき出力部が動作するプリセ
ットカウンタ及び出力部をもたないトータルカウンタがある。
3.2
出力回路の定格使用電圧
定格使用電流の下で，電気的耐久性を規定するときに使用する電圧。
3.3
出力回路の定格使用電流
定格使用電圧の下で，電気的耐久性を規定するときに使用する電流。
3.4
出力回路の定格通電電流
出力部を開閉せずに，規定した温度上昇限度を超えることなく，連続して出力部に通電できる最大電流。
3.5
パルス
定常状態から振幅が遷移し，有限の時間だけ持続して元の状態に戻る波又は波形。
3.6
メーク比
計数信号のHレベル時間とLレベル時間との比率，又はオン時間とオフ時間との比率。
3
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3.7
カウント
外部からの入力パルスを計数すること。
3.8
ミスカウント
入力パルス数とカウント数とが一致しないこと。
3.9
最高計数速度
ミスカウントがなく，かつ，プリセットカウンタの場合は出力部が確実に動作する計数速度の最高値。
3.10
リセット
計数部及び出力部を計数開始前の状態に戻すこと。
3.11
電源リセット
操作電源の遮断によってリセットすること。
3.12
外部リセット
リセット端子に信号を加えてリセットすること。
3.13
均一電界
それぞれの半径が，相互間の距離より大きい二つの領域の間の空間のように，極間電圧こう配が一定な
電界。
3.14
不均一電界
極間電圧こう配が一定でない電界。
3.15
絶縁破壊
固体の誘電体で発生する放電破壊。
3.16
フラッシオーバ
誘電体の面上で発生する放電破壊。
3.17
残留電圧
指定した条件下で負荷電流を流しているカウンタの，能動出力端子間に観察される電位差。
3.18
漏れ電流
オフ状態において，カウンタの負荷回路を流れる電流。
3.19
機械的耐久性
無負荷時の最大動作回数。
4
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3.20
電気的耐久性
負荷時の最大動作回数。
3.21
出力応答時間
計数信号が入力されてから出力部が動作するまでの時間。
4
定格及び使用環境条件
4.1
電気的動作条件
4.1.1
電源回路
4.1.1.1
定格電圧
電源回路の定格電圧の推奨値を，表1に示す。
表1−電源回路の定格電圧の推奨値
単位 V
交流・直流の別
電源回路の定格電圧
交流
24 42 48 100 110 127 200 220 230 240
直流
12 24 48 60 110 125 220
4.1.1.2
許容電圧範囲
許容電圧範囲は，表1に規定する定格電圧の80 ％〜110 ％，85 ％〜110 ％又は90 ％〜110 ％の3種
類の中から選択する。
4.1.1.3
定格周波数
電源回路が交流のときの定格周波数を，表2に示す。
なお，許容変動値は，±1 Hzとする。
表2−定格周波数
単位 Hz
定格周波数
50 60 50/60
4.1.2
有接点出力回路
4.1.2.1
定格使用電圧
有接点出力回路の定格使用電圧の推奨値を，表3に示す。
表3−有接点出力回路の定格使用電圧の推奨値
単位 V
交流・直流の別
有接点出力回路の定格使用電圧
交流
24 42 48 100 110 127 200 220 230 240
直流
12 24 48 60 110 125 220
4.1.2.2
定格使用電流
有接点出力回路の定格使用電流の推奨値を，表4に示す。
5
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表4−有接点出力回路の定格使用電流の推奨値
単位 A
有接点出力回路の定格使用電流
0.1 0.2 0.3 0.5 1 2 3 4 5 7 8 10 15
4.1.2.3
定格通電電流
有接点出力回路の定格通電電流の推奨値を，表5に示す。
表5−有接点出力回路の定格通電電流の推奨値
単位 A
有接点出力回路の定格通電電流
0.1 0.2 0.3 0.5 1 2 3 4 5 7 8 10 15
4.1.3
無接点出力回路
4.1.3.1
定格使用電圧
無接点出力回路の定格使用電圧の推奨値を，表6に示す。
表6−無接点出力回路の定格使用電圧の推奨値
単位 V
交流・直流の別
無接点出力回路の定格使用電圧
交流
24 42 48 100 110 127 200 220 230 240
直流
12 24 48 60 110 125 220
4.1.3.2
定格使用電流
無接点出力回路の定格使用電流の推奨値を，表7に示す。
表7−無接点出力回路の定格使用電流の推奨値
単位 A
無接点出力回路の定格使用電流
0.005 0.01 0.02 0.03 0.05 0.1 0.2 0.3 0.5 1
4.1.3.3
定格通電電流
無接点出力回路の定格通電電流の推奨値は，4.1.3.2の値とする。
4.1.4
計数回路
4.1.4.1
計数信号
計数信号は，メーク比1：1の図1に示すパルスを標準とする。
図1−計数信号の入力波形
6
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4.1.4.2
計数信号の種類
4.1.4.2.1
電圧入力
入力端子間に印加するHレベル及びLレベルの電圧入力の推奨値を，表8に示す。
表8−電圧入力の推奨値
単位 V
電圧組合せ1
電圧組合せ2
Hレベル
3〜6
6〜30
Lレベル
0〜0.5
0〜2
4.1.4.2.2
無電圧入力
無電圧入力仕様は，表9のA又はBに示す組合せとする。
値については，受渡当事者間の協定による。
表9−無電圧入力仕様
A
B
短絡時の最大インピーダンス
○
短絡時の最大残留電圧
○
開放時の最小インピーダンス
○
開放時の最大漏れ電流
○
4.1.4.3
計数速度
計数速度は，4.1.4.1に示す計数信号をミスカウントしない最高速度とする。
最高計数速度の推奨値を，表10に示す。
表10−最高計数速度の推奨値
単位 Hz
最高計数速度
10 20 30 100 200 300 500 1 000 2 000 3 000 5 000 10 000 20 000
4.1.4.4
計数回路にかかわるその他の事項
次の事項は，受渡当事者間の協定による。
a) 電源リセットの最小電源遮断時間
b) 外部リセットの最小入力信号時間及び信号の種類。信号の種類は，4.1.4.2に示す計数信号の種類に準
ずる。
c) 電源電圧印加から計数可能となるまでの時間
d) 出力応答時間
4.1.5
その他の事項
4.1.5.1
最大残留電圧
定格使用電流における無接点出力回路の最大残留電圧は，受渡当事者間の協定による。
4.1.5.2
最大漏れ電流
最高使用周囲温度における無接点出力回路の最大漏れ電流は，受渡当事者間の協定による。
4.1.5.3
定格消費電力
定格電圧におけるカウンタの定格消費電力は，受渡当事者間の協定による。電源回路が複数個あるカウ
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ンタの場合は，各回路に対する定格消費電力を規定する。
注記 内部回路の状態によって消費電力が変化する場合は，最も大きい値をボルト・アンペア（VA）又
はワット（W）で表記する。
4.2
周囲環境条件
4.2.1
一般条件
カウンタは，次の条件下での使用に耐えなければならない。
4.2.1.1
周囲温度
周囲温度は，−5 ℃〜＋40 ℃とする。
4.2.1.2
相対湿度
相対湿度は，15 ％〜85 ％とするのがよい。
4.2.1.3
周囲の空気の汚損度
周囲の空気の汚損度は，JIS C 60664-1の4.6.2（ミクロ環境における汚損の等級）の汚損度2（ただし，
結露を除く。）とする。
4.2.1.4
気圧（標高）
気圧は，70 kPa〜110 kPa（標高約0 m〜2 000 m）とするのがよい。
4.2.2
特殊条件
特定の用途に対して特殊条件がある場合は，受渡当事者間の協定による。
ここで特殊条件とは，周囲温度，相対湿度，じんあい，煙，蒸気又は塩分による重度の周囲の空気の汚
損又は気圧に関する条件が，4.2.1と異なる場合をいう。
4.2.3
輸送条件及び保管条件
輸送時及び保管時の周囲温度の範囲は，次のとおりとする。
保管時：−25 ℃〜＋55 ℃
輸送時：−25 ℃〜＋70 ℃
5
要求事項
5.1
計数回路の機能
5.1.1
動作の確認
各試験におけるカウンタ動作の確認は，電源回路部に定格電圧を加えて，ミスカウントがなくリセット
及び出力部が確実に機能することによって行う。
5.2
電気的特性
5.2.1
有接点出力回路の接触抵抗
有接点出力端子間の接触抵抗は，100 mΩ 以下でなければならない。ただし，接点を除く導体の固有抵抗
が比較的大きなものは，導体抵抗を除いた値とする。
5.3
機械的耐久性
機械的耐久性の耐久回数の推奨値を，表11に示す。
有接点出力部の機械的耐久性は，6.3の機械的耐久性試験後に，次の規定を満足しなければならない（操
作部は機械的耐久性から除く）。
− 5.1.1の動作の確認
− 4.1.2.3の定格通電電流
− 5.9.3の耐電圧
8
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ただし，表14に示す耐電圧の0.75倍を超える値。
− 5.9.4の絶縁抵抗
ただし，2 MΩ 以上とする。
表11−機械的耐久性及び電気的耐久性の耐久回数の推奨値
単位 万回
耐久回数
3 10 20 30 50 100 200 300 500 1 000 2 000 3 000 5 000 10 000
5.4
電気的耐久性
電気的耐久性の耐久回数の推奨値を，表11に示す。
有接点出力部の電気的耐久性は，6.4の電気的耐久性試験後に，次の規定を満足しなければならない。
− 5.1.1の動作の確認
− 4.1.2.3の定格通電電流
− 5.9.3の耐電圧
ただし，表14に示す耐電圧の0.75倍を超える値。
− 5.9.4の絶縁抵抗
ただし，2 MΩ 以上とする。
5.5
耐振動性
5.5.1
誤動作振動
6.5.1の誤動作振動試験を行ったとき，各部に損傷がなく，カウント値及びセット値にずれがあってはな
らない。また，有接点出力部をもつものは，接点開離時間は3 ms以下でなければならない。
5.5.2
耐久振動
6.5.2の耐久振動試験を行ったとき，各部に損傷がなく，5.1.1の動作の確認を満足しなければならない。
5.6
耐衝撃性
5.6.1
誤動作衝撃
6.6.1の誤動作衝撃試験を行ったとき，各部に損傷がなく，カウント値及びセット値にずれがあってはな
らない。また，有接点出力部をもつものは，接点開離時間は1 ms以下でなければならない。
5.6.2
耐久衝撃
6.6.2の耐久衝撃試験を行ったとき，各部に損傷がなく，5.1.1の動作の確認を満足しなければならない。
5.7
熱環境性
5.7.1
耐熱性
6.7.2の高温（保管耐熱）試験を行ったとき，各部に損傷がなく，5.1.1の動作の確認，5.9.3の耐電圧及
び5.9.4の絶縁抵抗の規定を満足しなければならない。また，6.8の定格通電電流の確認試験を行ったとき，
内部回路に許容値以上の温度上昇がなく，また，接点機能にも変化があってはならない。
絶縁材料の耐熱クラス及び温度は，JIS C 4003に準拠し，表12に示す温度を超えてはならない。同等の
安全性を確保できる場合は，JIS C 4003に規定しない新材料を別の最高温度のもとで使用してもよい。ま
た，明らかな損傷の兆し又は特性に明確な変化が認められない場合は，絶縁材料の一部分の温度が指定限
界温度を超えてもよい。
9
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表12−耐熱クラス及び温度
耐熱クラス
温度 ℃
A
105
E
120
B
130
5.7.2
耐寒性
6.7.3の低温（保管耐寒）試験を行ったとき，各部に損傷がなく，5.1.1の動作の確認，5.9.3の耐電圧及
び5.9.4の絶縁抵抗の規定を満足しなければならない。
5.7.3
耐湿性
6.7.4の高温高湿（定常）試験を行ったとき，各部に損傷がなく，5.1.1の動作の確認，5.9.3の耐電圧及
び5.9.4の絶縁抵抗の規定を満足しなければならない。
5.8
耐火性
耐火性の絶縁材及びプラスチックは，JIS C 60695-2-10，JIS C 60695-2-11，JIS C 60695-2-12及びJIS C
60695-2-13に基づく次の要求事項を満足しなければならない。
− ハウジング ：750 ℃±10 ℃
− 通電部支持物：850 ℃±15 ℃
− 適用時間 ：30秒間
試験片の燃焼又は赤熱が起きないか，グローワイヤを引き離した後，試験片の燃焼又は赤熱が30秒以内
に消え，かつ，指定の敷物に着火してはならない。
5.9
絶縁
5.9.1
一般事項
5.9.1.1
可触部の絶縁
カウンタ内部の回路と接触可能な表面との間の絶縁は，試験回路の基準電圧を基に行う（JIS C 60664-1
参照）。
5.9.1.2
内部回路の絶縁
カウンタ内部の回路間の絶縁は，最も高い基準電圧，過電圧カテゴリ及び汚損度を基に行う（4.2.1.3参
照）。
カウンタの過電圧カテゴリは，表13に示す。
表13−過電圧カテゴリ
過電圧カテゴリ
用途
Ⅰ
過大な過渡過電圧が加わらない配慮をした回路に接続する用途
Ⅱ
一般の用途
Ⅲ
固定設備に使用し，特に信頼性が要求される用途
5.9.1.3
基準電圧
基準電圧は，内部回路の対地電圧の最大値によって，絶縁された回路ごとに規定する。
5.9.2
絶縁材料
絶縁に使用する材料は，十分な電気的，熱的及び機械的特性を備えたものでなければならない。
5.9.3
耐電圧
十分な耐電圧を備えるためには，5.9.6の沿面距離及び空間距離に規定する沿面距離及び空間距離を確保
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すると同時に，6.9.2.1の商用周波数による耐電圧試験又は6.9.2.2のインパルス耐電圧試験に耐えなくては
ならない。耐電圧試験電圧を，表14に示す。
表14−耐電圧試験電圧
基準電圧
（交流又は直流）
V
耐電圧試験電圧
（交流）
Vr.m.s
インパルス耐電圧試験電圧a) V
過電圧カテゴリ
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
50以下
50を超え 100以下
100を超え 150以下
150を超え 300以下
1 000
2 000
2 000
2 000
330
500
800
1 500
500
800
1 500
2 500
800
1 500
2 500
4 000
注a) インパルス耐電圧の試験電圧値は海面を基準にしているため，この数値を採用
する場合，高度補正は必要としない。しかし，海面より高い場所で試験を実施
する場合は，IEC 60664-1:1992の4.1.1.2.1.2に規定する補正係数を適用する。
耐電圧確認箇所は，次のようにする。
a) 各端子を一括接続した独立回路と露出した通電部分との間［絶縁きょう（筐）体をもつカウンタの形
式試験の場合は，露出した通電部分をきょう体全体を包む金属はく（箔）で代表させるが，端子への
フラッシオーバを避けるため，端子の周辺部分だけは除外する。］。
b) 各端子を一括接続した独立回路間。
明らかな場合を除いて，独立回路は製造業者が指定したものとする。
露出した非充電部分との間で試験するとき，基準電圧が同一の回路は一括接続してもよい。
試験電圧は，直接端子に印加する。
5.9.4
絶縁抵抗
絶縁抵抗は，6.9.3の絶縁抵抗試験を行ったとき，20 MΩ 以上でなければならない。
5.9.5
直接接触に対する保護
電圧が印加され，かつ，接触するおそれのある部品には，直接接触に対する十分な保護対策を施さなく
てはならない。JIS C 0920に規定する保護等級IP20に相当する端子などに適用するが，定格電圧が交流
50 V（実効値）又は直流60 V以下の場合は適用しない。また，制御盤内に入るものについては，その盤に
保護対策を施す場合にも適用しない。
直接接触に対する保護は，6.9.4を満足しなければならない。
5.9.6
沿面距離及び空間距離
5.9.6.1
一般事項
ここで規定する空間距離は，接点間には適用しない。また，汚損度2又は汚損度3に対する沿面距離及
び空間距離も，電子部品の内部，端子及びプリント配線板のはんだ付け部には適用しない。
5.9.6.2
沿面距離
沿面距離は，表15に示す値以上でなければならない。
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表15−最小沿面距離
単位 mm
電圧
実効値
又は直流 a)
V
プリント
配線板材料
その他の材料
汚損度
汚損度
1 b)
2 c)
1 b)
2
3
材料群
材料群
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
Ⅰ
Ⅱ
Ⅲ
50以下
50を超え 100以下
100を超え 160以下
160を超え 250以下
250を超え 320以下
320を超え 400以下
400を超え 500以下
500を超え 630以下
0.025
0.1
0.25
0.56
0.75
1.0
1.3
1.8
0.04
0.16
0.4
1.0
1.6
2.0
2.5
3.2
0.18
0.25
0.32
0.56
0.75
1.0
1.3
1.8
0.6
0.71
0.8
1.25
1.6
2.0
2.5
3.2
0.85
1.0
1.1
1.8
2.2
2.8
3.6
4.5
1.2
1.4
1.6
2.5
3.2
4.0
5.0
6.3
1.5
1.8
2.0
3.2
4.0
5.0
6.3
8.0
1.7
2.0
2.2
3.6
4.5
5.6
8.1
9.0
1.9
2.2
2.5
4.0
5.0
6.3
8.0
10.0
種々の材料をそれらの比較トラッキング指数（CTI）に基づいて次の群に分類する。
材料群Ⅰ
600≦CTI
材料群Ⅱ
400≦CTI＜600
材料群Ⅲa
175≦CTI＜400
材料群Ⅲb
100≦CTI＜175
上記のCTI値は，JIS C 2134の規定値に基づいて，特にこの目的のために用意した試料を溶液Aを用いて試験し
て得た結果である。
注a) この電圧は，定格電圧を印加した場合，電子カウンタの定格内での種々の動作条件の最も厳しい組合せ時に，
内部回路に発生し得る最高の電圧又は印加した定格電圧そのものを指す。
b) 材料群Ⅰ，Ⅱ，Ⅲa又はⅢb
c) 材料群Ⅰ，Ⅱ又はⅢa
5.9.6.3
空間距離
空間距離は，表16に示す値以上でなければならない。
表16−最小空間距離
単位 mm
定格インパルス
耐電圧a)
V
不均一電界
均一電界
汚損度
汚損度
1
2
3
1
2
3
330
500
800
1 500
2 500
4 000
6 000
0.01
0.04
0.1
0.5
1.5
3.0
5.5
0.2
0.2
0.2
0.5
1.5
3.0
5.5
0.8
0.8
0.8
0.8
1.5
3.0
5.5
0.01
0.04
0.1
0.3
0.6
1.2
2.0
0.2
0.2
0.2
0.3
0.6
1.2
2.0
0.8
0.8
0.8
0.8
0.8
1.2
2.0
注a) 表14のインパルス耐電圧試験電圧を適用する。
5.10 耐電源ノイズ性
耐電源ノイズ性は，6.10の耐電源ノイズ試験を行ったとき，誤動作がなく，試験後ミスカウントがなく，
かつ，リセット及び出力部が確実に動作しなければならない。この要求事項は，受渡当事者間の協定によ
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って適用する。
5.11 電磁両立性（EMC）
5.11.1 イミュニティ要求事項
イミュニティ要求事項を，表17に示す。各端子（ポート）に対する最低限必要な要求を，表17の基本
環境に示す。ただし，附属書Aに示す電磁環境が特定できる場合は，電磁環境A〜電磁環境Cの要求値を
適用する。
イミュニティ試験の結果は，次に示す性能評価基準に従って評価しなければならない。
− 性能評価基準A：試験実施中に，正常に動作する。
− 性能評価基準B：試験実施中に，自己回復可能な機能又は動作の一時的な低下又は喪失が起こる。
− 性能評価基準C：試験実施中に，人間の操作でシステムをリセットする必要が起こるなどの機能の一
時的な低下又は喪失が起こる。
イミュニティ試験中及び試験後は，動作を監視する。
表17−イミュニティ要求事項
端子
（ポート）
現象
試験規格
要求値
基本環境
電磁環境A
電磁環境B
電磁環境C
きょう（筐）
体
静電気放電（ESD）
放射無線周波電磁界
電源周波数磁界
JIS C 61000-4-2
JIS C 61000-4-3
JIS C 61000-4-8
4 kV/4 kV
接触／気中
3 V/m
不要
4 kV/8 kV
接触／気中
10 V/m
30 A/m e)
4 kV/8 kV
接触／気中
1 V/m
不要
4 kV/8 kV
接触／気中
3 V/m
不要
交流電源
電圧ディップ／短時
間停電
バースト
サージ
無線周波伝導妨害
JIS C 61000-4-11
JIS C 61000-4-4
JIS C 61000-4-5
JIS C 61000-4-6
1サイクル
／100 ％
1 kV
0.5 kV a)/1 kV b)
3 V f)
0.5サイクル，
両極性／100 ％
2 kV
1 kV a)/2 kV b)
3 V f)
0.5サイクル，
両極性／100 ％
1 kV
0.5 kV a)/1 kV b)
1 V f)
不要
不要
不要
不要
直流電源g)
バースト
サージ
無線周波伝導妨害
JIS C 61000-4-4
JIS C 61000-4-5
JIS C 61000-4-6
1 kV
0.5 kV a)/1 kV b)
3 V f)
2 kV
1 kV a)/2 kV b)
3 V f)
1 kV
不要
1 V
不要
不要
不要
入出力信号
／制御信号
バースト
サージ
無線周波伝導妨害
JIS C 61000-4-4
JIS C 61000-4-5
JIS C 61000-4-6
0.5 kV d)
1 kV b) c)
3 V d) f)
1 kV d)
1 kV b) c)
3 V d) f)
0.5 kV b)
不要
1 V d)
不要
不要
不要
電源と直接
接続される
入出力信号
／制御信号
バースト
サージ
無線周波伝導妨害
JIS C 61000-4-4
JIS C 61000-4-5
JIS C 61000-4-6
1 kV
0.5 kV a)/1 kV b)
3 V f)
2 kV
1 kV a)/2 kV b)
3 V f)
X h)
不要d)
X h)
不要
不要
不要
注a) 線間。
b) 線と接地（グラウンド）間。
c) 長距離線の場合だけ。建物内の30 m以上の配線，又は建物から出ていく配線（屋外設備の配線を含む）に適用
する。
d) 3 mを超える線の場合だけ。
e) 磁気に感受性の高いカウンタの場合だけ。1 A/m以上で発生するCRTディスプレイへの妨害は，許容する。
f) 無線周波伝導妨害試験は，各周波数に対する共振状態をシミュレートしており，より厳しい試験である。したが
って，無線周波伝導妨害試験レベルは，放射無線周波電磁界試験レベルよりも低くなる。
g) 直流配電ネットワークに接続されていないカウンタとシステムとの間の直流接続は，入出力信号又は制御信号端
子として扱う。
h) 受渡当事者間の協定による。
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5.11.2 エミッション（EMI）
エミッションは，使用する環境によって異なる。
環境1：住宅，商業，及び軽工業などの地域／設備の低圧の電力配電網に主として関係する。アーク
溶接のような高妨害電源はこの環境に含まない。
環境2：高妨害電源も含む低圧の電力配電網又は工業用配電網／地域／設備に主として関係する。
環境1のエミッション限界値を表18に，環境2のエミッション限界値を表19にそれぞれ示す。
表18−環境1のエミッション限界値
周波数（MHz）
限度
関連規格
ふく（輻）射エミ
ッション
30〜230 a)
30 dB (μV/m) 準ピーク値 10 m法b)
CISPR 11
クラスBの
グループ1
又は
CISPR 22
クラスB
230〜1 000 a)
37 dB (μV/m) 準ピーク値 10 m法b)
導電エミッション
0.15〜0.5
限界値は周波数の対数
で直線的に減少する。
66 dB (μV)〜56 dB (μV) 準ピーク値
56 dB (μV)〜46 dB (μV) 平均値
0.5〜5
56 dB (μV) 準ピーク値
46 dB (μV) 平均値
5〜30
60 dB (μV) 準ピーク値
50 dB (μV) 平均値
注a) 下限値は可変周波数で行う。
b) 3 m法で測定する場合は，10 dB加える。
表19−環境2のエミッション限界値
周波数 (MHz)
限度
関連規格
ふく（輻）射エミ
ッション
30〜230 a)
30 dB (μV/m) 準ピーク値 30 m法b)
CISPR 11
クラスAの
グループ1
又は
CISPR 22
クラスA
230〜1 000 a)
37 dB (μV/m) 準ピーク値 30 m法b)
導電エミッション
0.15〜0.5
79 dB (μV) 準ピーク値
66 dB (μV) 平均値
0.5〜5
73 dB (μV) 準ピーク値
60 dB (μV) 平均値
5〜30
73 dB (μV) 準ピーク値
60 dB (μV) 平均値
注a) 下限値は可変周波数で行う。
b) 10 m法で測定する場合は10 dB加え，3 m法で測定する場合は20 dB加える。
5.12 機械的強度
5.12.1 一般事項
部品及び接続には十分な強度をもたせ，確実に固定する。
内部の接続線は，鋭利な角などによって損傷を受けることのないよう設計する。
輸送後も，カウンタは5.1〜5.11の要求を満足しなければならない。構造上の配慮によってこの要求が満
たされない場合は，輸送に必要な手段を講じ，機械的な損傷からカウンタを保護しなければならない。
特別な場合は，こん包及び輸送指示書を添付しなければならない。
5.12.2 端子及び通電部分
端子を含む通電部分は，その用途に適した十分な強度をもたなければならない。JIS C 8201-1の箇条8
（試験）の試験の内容に基づいて試験を行う。
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5.13 取付寸法
カウンタの取付寸法は，IEC 61554による。
6
試験
6.1
一般事項
6.1.1
試験の種類及び項目
製造業者は，カウンタがこの規格の要求事項のすべてに適合していることを検証するために形式試験を
実施しなければならない。形式試験は，各形式系列から代表のサンプルを選定して行う。“形式系列”とは，
本質的に同一の構造，回路及びハウジングをもつカウンタのシリーズを指す。また，製造業者は，製品の
生産，受渡に当たって全数に対する受渡試験を実施しなければならない。ただし，エンジニアリング上又
は統計的な手法によって受渡試験の必要性がないことを示せれば，この製品の生産又は受渡ロットから抜
き取ったサンプルについて実施する抜取試験としてもよい。
定格及び要求事項と試験との関係を，表20に示す。
表20−試験及び要求事項一覧表
試験
形式試験
受渡試験又は抜取試験
定格及び要求事項a)
試験a)
振動
○
−
5.5
6.5
衝撃
5.6
6.6
機械的強度の確認
5.12
6.12
直接接触に対する保護の確認
○
−
5.9.5
6.9.4
インパルス耐電圧
○
−
5.9.3
6.9.2.2
絶縁抵抗
5.9.4
6.9.3
商用周波数による耐電圧
−
○
5.9.3
6.9.2.1
沿面距離及び空間距離の測定
○
−
5.9.6
6.9.5
熱環境性
○
−
5.7
6.7
定格通電電流の確認
○
−
4.1.2.3，4.1.3.3
6.8
計数回路の機能確認
○
−
4.1.4
6.2
計数速度の確認
−
○
4.1.4.3
6.2.2
接触抵抗の確認
○
−
5.2.1
6.13
機械的耐久性
○
−
5.3
6.3
電気的耐久性
○
−
5.4
6.4
耐電源ノイズ
○
−
5.10
6.10
電磁両立性（EMC）
5.11
6.11
表示
○
○
7
6.14.1
定格消費電力
○
−
4.1.5.3
6.14.2
注a) 細分箇条で表す。
6.1.2
標準試験状態
標準試験状態は，JIS C 60068-1の5.3［測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）］による（表21
参照）。また，外部磁界，振動及び衝撃のないところに指定した方向に正しく置くか又は取り付けて試験を
行う。
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表21−標準試験状態
温度a)
相対湿度a) b)
気圧a)
15 ℃〜35 ℃
25 ％〜75 ％
86 kPa〜106 kPa
注記 温度及び湿度の変動は，供試品に対する試験の一部として行う
一連の測定中では最小に維持することが望ましい。
注a) 〜で示した範囲は，その上下の値を含める。
b) 絶対湿度≦22 g/m3
6.1.3
標準試験電源
標準試験電源は，特に規定のない限り次による。
電圧変動 ：±1 ％
周波数変動：±1 ％
波形 ：交流 ひずみ率 5 ％以下
：直流 リプル率 3 ％以下
ひずみ率＝高周波分の実効値／基本波の実効値×100
リプル率＝（脈流分の最大値−脈流分の最小値）／直流電圧平均値×100
6.2
計数回路の機能確認試験
6.2.1
影響因子の効果確認
入力電圧及び周囲温度がカウンタ機能に与える影響を確認する。そのため，表22に示す変化させる量の
一方の値を変化させ，他方の値は一定に保つ。
評価方法は，6.2.2の計数速度の確認による。
表22−影響因子の変化
変化させる量
値
入力電圧
定格入力電圧a) の110 ％及び
80 ％，85 ％又は90 ％
周囲温度b)
−5 ℃
＋40 ℃
注a) 4.1.1.2の許容電圧範囲を参照。
b) 4.2.1.1の周囲温度で規定した値に従う。
6.2.2
計数速度の確認
6.1.2の標準試験状態及び6.1.3の標準試験電源で規定した試験条件で，4.1.4.1の計数信号を4.1.4.3の計
数速度で規定した最高計数速度で与えて動作させ，ミスカウント及び出力部の誤動作の有無を確認する。
ただし，4.1.4.1の計数信号は，形式試験の場合は，電圧入力については表8に示すHレベルの最小値及び
Lレベルの最大値で試験を行う。無電圧入力については，表9に示す組合せの各値で試験を行う。受渡試
験の場合は，受渡当事者間の協定による。
6.2.3
リセット信号の確認
6.1.2の標準試験状態及び6.1.3の標準試験電源で規定した試験条件で，4.1.4.4 b) で規定した信号でリセ
ットすることを確認する。
6.2.4
電源電圧印加から計数可能となるまでの時間の確認
電源電圧を印加してから4.1.4.4 c) で規定した時間経過後，最高計数速度の計数信号を1パルス印加し計
数可能となることを確認する。
16
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6.2.5
出力応答時間の確認
出力応答時間が4.1.4.4 d) で規定した時間内であることを確認する。
6.3
機械的耐久性試験
電源回路部には定格電圧を加え，表23に示すいずれかの開閉頻度によって繰り返し動作させる。ただし，
動作確認のため有接点出力部に負荷をつなぐ場合は，接点の開閉が確認でき，かつ，規定の耐久回数に影
響を及ぼさない程度の負荷とする。
6.4
電気的耐久性試験
有接点出力部には，表24に示すいずれかの負荷を加え，電源回路部には定格電圧を加え，表23に示す
いずれかの開閉頻度によって繰り返し動作させる。
表23−開閉頻度
単位 回／h
開閉頻度
12 30 120 300 600 1 200 1 800 3 600 7 200
表24−負荷の種類
試験電圧
試験電流 (I) d)
用途
投入c)
遮断
I/Ie b)
力率
I/Ie b)
力率
交流 Ue1a)
10
1
1
0.3〜0.4
交流電磁接触器，交流ソレノイド操作用
2
1
1
0.6〜0.7
交流電磁リレー操作用
1
1
1
0.9〜1.0
交流抵抗回路用（抵抗性負荷）
試験電圧
試験電流 (I) d)
用途
投入c)
遮断
I/Ie b) 時定数ms I/Ie b) 時定数ms
直流 Ue2a)
1
40±6
1
40±6
直流電磁接触器，直流ソレノイド操作用
1
7±1
1
7±1
直流電磁リレー操作用
1
1以下
1
1以下
直流抵抗回路用（抵抗性負荷）
注a) Ue：定格使用電圧
b) Ie：用途別の定格使用電流
c) 投入電流は投入後直ちに（0.05 s以下）遮断電流に低減する。
d) 試験中の平均通電電流は，定格通電電流を超えない。
6.5
振動試験
動作状態及び非動作状態の双方においてカウンタの試験を行う。
動作状態で試験する場合は，4.1.1.2の許容電圧範囲の規定に従い，定格電圧の下限値の電圧を印加して
試験を行う。出力部には，接点の開閉を判定するのに十分な定格負荷電流以下の任意の電流を流し，異常
の有無を確認する。
振動試験は，カウンタを正常な状態に取り付けて，JIS C 60068-2-6に規定する試験Fcを実施する。
試験終了後，カウンタの目視検査及び5.1.1の動作の確認を行う。
6.5.1
誤動作振動試験
カウンタに定格電圧を加え，振動数10 Hz〜55 Hz，掃引速度1オクターブ／分，片振幅0.15 mm，0.35 mm
又は0.75 mmの直線振動を上下，左右，前後の3軸方向に各10掃引サイクル数（45分）加えて試験を行
う。有接点出力部をもつものは，加振時間の1/2の間は出力部を動作状態とし，残りの1/2の間は復帰状
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態とする。出力部には，接点の開離を判定するのに十分な定格負荷電流以下の電流を流し，オシロスコー
プ又は同等以上の方法で接点の開離時間を測定する。
6.5.2
耐久振動試験
カウンタに電圧を加えないで，振動数10 Hz〜55 Hz，掃引速度1オクターブ／分，片振幅0.15 mm，0.35
mm又は0.75 mmの直線振動を上下，左右，前後の3軸方向に各10掃引サイクル数（45分）加えて試験
を行う。
6.6
衝撃試験
衝撃試験は，カウンタを正常な状態に取り付けて，JIS C 60068-2-27に従って行う。
試験終了後，カウンタの目視検査及び5.1.1の動作の確認を行う。
6.6.1
誤動作衝撃試験
カウンタに定格電圧を加え，ピーク加速度50 m/s2，100 m/s2又は150 m/s2の正弦半波の衝撃を上下，左
右，前後の各方向に各3回，計18回加えて試験する。有接点出力部をもつものは，2回は出力部を動作状
態とし，残りの1回は復帰状態とする。出力部には，接点の開離を判定するのに十分な定格負荷電流以下
の電流を流し，オシロスコープ又は同等以上の方法で接点の開離時間を測定する。
6.6.2
耐久衝撃試験
カウンタに電圧を加えないで，ピーク加速度300 m/s2，500 m/s2又は1 000 m/s2の正弦半波の衝撃を上下，
左右，前後の各方向に各3回，計18回加えて試験する。
6.7
熱環境性試験
6.7.1
耐熱性の確認
カウンタを加熱チャンバに入れ，チャンバ内の温度が最高周囲温度になるまで加熱する。出力回路には
定格電流を流し，入力電圧は連続許容最大値とし，通常の使用状態で見られる最大出力損失を発生させる。
温度変化率が1 K/h以下となったら，熱的平衡状態が達成されたものとみなし，5.1.1の動作の確認を行う。
その後，標準試験状態に取り出し，5.1.1の動作の確認を行う。
6.7.2
高温（保管耐熱）試験
高温（保管耐熱）試験は，カウンタを55±2 ℃又は70±2 ℃の温度の恒温槽に連続16時間放置し，標
準試験状態に取り出し，1時間以上2時間以内放置した後，5.7.1の耐熱性に規定する確認試験を行う。
6.7.3
低温（保管耐寒）試験
低温（保管耐寒）試験は，カウンタを−25±3 ℃の温度の恒温槽に連続72時間放置し，標準試験状態に
取り出し，十分に水滴をふき取った後，1時間以上2時間以内放置し，5.7.2の耐寒性に規定する確認試験
を行う。
6.7.4
高温高湿（定常）試験
高温高湿（定常）試験は，JIS C 60068-2-78に従って行う。試験時間は4日間とし，温度及び相対湿度
は受渡当事者間の協定による。試験中は，カウンタを外部電源に接続しない。カウンタの温度上昇値が無
視できる場合は，内部電源は接続したままでもよい。その後，カウンタを次の室内状況下に1時間以上2
時間以内放置し，5.7.3の耐湿性に規定する確認試験を行う。
− 室温 ：15 ℃〜30 ℃
− 相対湿度：30 ％以上
6.8
定格通電電流の確認試験
出力回路に抵抗性負荷を接続し，定格通電電流を流す。出力回路は，試験中に開閉してはならない。
有接点又は無接点出力部の近傍で熱的平衡状態が得られるまで放置し，定格通電電流を流したままの状
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態で温度上昇値を測定する。
コイルの温度上昇値については，コイル抵抗値の変化によって測定し，次の式によって算出する。
a
1
1
1
1
2
a
2
)
(
t
t
t
K
R
R
R
t
t
t
−
+
+
+
=
−
=
ここに，
t： コイルの温度上昇値（℃）
t1： 試験開始時の周囲の温度（℃）
t2： 試験終了時のコイルの温度（℃）
ta： 試験終了時の周囲の温度（℃）
R1： 温度t1におけるコイルの抵抗値（Ω）
R2： 温度t2におけるコイルの抵抗値（Ω）
K： 定数，銅に対してK＝234.5
ただし，｜t1−ta｜≦5 ℃でなければならない。
6.9
絶縁確認試験
6.9.1
一般事項
絶縁確認試験の目的は，カウンタが十分な耐電圧をもっていることの検証である。カウンタに電圧を印
加しないで，6.1.2の標準試験状態で試験を実施する。
空間距離を規定する場合（5.9.6.1参照）は，形式試験でインパルス耐電圧試験及び受渡試験で商用周波
数による耐電圧試験を実施しなければならない。
複数の基準電圧をもつ回路の場合は，各基準電圧に対して試験を行う。高い電圧回路の試験中は，低い
電圧回路は接地しておいてもよい。
互いに絶縁してある回路は，高い絶縁回路の基準電圧に従って相互間の耐電圧試験を実施する。
試験（受渡試験又は形式試験）は，外部端子に接続している回路だけを大地間又は各回路相互間に対し
て行う。
絶縁破壊又はフラッシオーバが発生せず，かつ，機能面で変化があってはならない。
絶縁破壊は，試験後も規定の絶縁抵抗を満たすことを測定で確認する。
6.9.2
耐電圧試験
6.9.2.1
商用周波数による耐電圧試験
試験電圧は，表14の耐電圧試験電圧による。試験継続時間は形式試験の場合は1分間，受渡試験の場合
は1秒以上とする。受渡試験の場合，試験電圧を10 ％上げる。
6.9.2.2
インパルス耐電圧試験
この試験の目的は，過渡的な過電圧に対して空間距離が耐えることの確認である。インパルス耐電圧試
験を行う場合の電圧波形は，1.2/50 μsの波形［JIS C 5442の図1（印加電圧波形）（1）（理想波形）参照］
とする。その目的は大気中に起こる過電圧を模擬することである。また，低圧電気機器のスイッチングの
ときに発生する過電圧も模擬する。試験電圧は，表14のインパルス耐電圧試験電圧による。
試験は，パルスの間隔を1秒以上，各極性のパルスを3回以上印加しなければならない。
6.9.3
絶縁抵抗試験
試験電圧は，表25による。絶縁抵抗計は，JIS C 1302による。また，試験箇所は，次による。
a) 充電部と露出した非充電金属部との間
b) 独立した充電部相互間
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表25−絶縁抵抗試験
単位 V
基準電圧
試験電圧（直流）a)
30以下
100
30を超え 60以下
250
60を超え 125以下
500
125を超え 300以下
500
注a) 絶縁抵抗計の測定電圧に対する定格電圧表示で供給を意図する電圧。
同時に絶縁抵抗計に表示された定格電圧値。
6.9.4
直接接触に対する保護の確認
JIS C 0920に規定する保護等級IP20及びIP11〜IP18の第一特性数字に適用する試験を行う。
6.9.5
沿面距離及び空間距離の測定
空間距離及び沿面距離の測定は，JIS C 6950-1の附属書F（空間距離及び沿面距離の測定）による。
6.10 耐電源ノイズ試験
耐電源ノイズ試験は，図2に示す試験回路で，カウンタの電源回路部に定格電圧を加え，表26に示すパ
ルスを加えて行う。
なお，パルスA，B及びCは，別々にそれぞれ10分間加える。
a，b： 電源回路部端子
c： 接地端子
d： 金属板（銅又はアルミニウム）
A，B，C： パルス
図2−耐電源ノイズ試験回路
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表26−耐電源ノイズ試験のパルス条件
パルス幅
100 ns〜1 000 nsの任意の値
パルスの立ち上がり時間
約1 ns
パルスの高さa)
5 U，10 U，20 U b)
パルスの極性
正及び負
パルスの繰返し
30 Hz〜100 Hzの任意の値c)
注a) 受渡当事者間の取決めによる。ただし，最高1 500 Vとする。
b) Uは，電源回路部の定格電圧。
c) 交流のカウンタで，電源電圧に同期させる場合は，0°〜360°のうち
最も影響の大きい位相とする。
6.11 電磁両立性（EMC）試験
6.11.1 一般事項
EMC試験は，標準試験状態で定格電圧を印加して行う。
試験中の動作モード及び試験回路の構成を，試験報告書に記載する。カウンタすべての機能を試験でき
ない場合は，最も重要な動作モードを選択して試験する。
6.11.2 イミュニティ
6.11.2.1 静電気放電イミュニティ試験
静電気放電イミュニティ試験は，JIS C 61000-4-2による。
6.11.2.2 放射無線周波電磁界イミュニティ試験
放射無線周波電磁界イミュニティ試験は，JIS C 61000-4-3による。
6.11.2.3 電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験
電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験は，JIS C 61000-4-4による。
6.11.2.4 サージイミュニティ試験
サージイミュニティ試験は，JIS C 61000-4-5による。
6.11.2.5 無線周波伝導妨害イミュニティ試験
無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ試験は，JIS C 61000-4-6による。
6.11.2.6 電圧ディップ／短時間停電イミュニティ試験
電圧ディップ及び短時間停電に対するイミュニティ試験は，JIS C 61000-4-11による。
6.11.2.7 電源周波数磁界イミュニティ試験
電源周波数磁界イミュニティ試験は，JIS C 61000-4-8による。
6.11.3 エミッション
6.11.3.1 ふく（輻）射エミッション（放射妨害電界強度）
CISPR 11又はCISPR 22によって試験を行う。
6.11.3.2 導電エミッション（電源端子妨害電圧）
CISPR 11又はCISPR 22によって試験を行う。
6.12 端子及び通電部分の機械的強度の確認試験
端子及び通電部分の機械的強度の確認試験は，JIS C 8201-1の箇条8（試験）による。
6.13 接触抵抗の確認試験
接触抵抗試験の方法は，有接点出力部に直流6 V以下の電圧を加え，電流1 A±10 ％（定格使用電流が
1 A以下の場合は，その値）を流し，電圧降下法によって出力部端子間で測定する。
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6.14 その他の試験
6.14.1 表示
表示は，判読可能であり容易に消えない方法で表示されていることを確認する。
6.14.2 定格消費電力
定格消費電力を確認する。
測定方法は，受渡当事者間の協定による。
6.15 試験報告書
この規格に従っていることを証明する形式試験の報告書は，製造業者が準備しなければならない。
試験の数値及びパラメータは，試験報告書の一部を構成する。
7
表示，識別及び取扱説明書
7.1
表示及び識別
識別のため，カウンタには最低限，次の表示を付ける。
なお，カウンタを通常の使用場所に取り付けた後も，製造業者名又は商標及び形式コードは，見やすい
状態になくてはならない。
a) 製造業者名又は商標
b) 形式コード
c) 定格入力電圧範囲及び直流又は交流の区別（4.1.1.1参照）
d) 定格周波数（4.1.1.3参照）
e) 接続及び回路の構成
f)
出力回路に関するデータ（定格使用電圧及び電流並びに接点出力の有無）（4.1.2又は4.1.3参照）
g) 金属部分の接地点表示
h) 製造年又はその略号
7.2
取扱説明書
取扱説明書には，次の情報を記載する。
a) 汚損度及びJIS C 60664-1に基づく過電圧カテゴリ並びに基準電圧
b) カウンタの機能類別
c) 定格電圧（4.1.1.1参照）
d) 出力回路の定格使用電流（4.1.2.2又は4.1.3.2参照）
e) 動作時の周囲温度範囲（4.2.1.1参照）
f)
相対湿度範囲（4.2.1.2参照）
g) 絶縁試験電圧（5.9.3参照）
h) EMCイミュニティ要求レベル（5.11.1参照）
i)
機械的耐久性及び電気的耐久性（5.3及び5.4参照）
j)
計数速度（4.1.4.3参照）
k) JIS C 0920に基づく保護等級（5.9.5参照）
l)
取付位置
m) 外形寸法
n) その他必要な事項
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附属書A
（規定）
電磁両立性（EMC）試験
カウンタを使用する電磁環境は，次から選択しなければならない。
A.1 電磁環境A
この環境条件は，工業地域に設置するカウンタに適用する（高いレベルの妨害源にきわめて近接して使
用するカウンタすべてを包含する。）。
注記 設置及びその使用方法によってEMC環境を制御できる場合には，工業地域で使用するために
特別に設計されていないカウンタを使用することができる。
A.2 電磁環境B
この環境条件は，管理された電磁環境をもつ試験所又は測定場で使用するカウンタに適用する。
製造業者はこの環境条件の要求を満足するカウンタに対して，管理した電磁環境においてだけ動作する
ように設計していることを宣言しなければならない。すなわち，この環境条件の要求を満足するカウンタ
の近傍では，携帯電話のような無線送信機を使用することはできない。
注記1 一般的に，解析，試験及びサービス試験所では，電磁環境を管理している。また，この分野
に属する人は，通常，試験結果を説明できるように教育されている。したがって，表17の電
磁環境Bに示す試験に用いる値は，電磁環境Aに示す値より緩い。
注記2 無線送信機をカウンタの近傍で使用する場合には，この環境の適用範囲のカウンタに妨害を
及ぼす可能性がある。
A.3 電磁環境C
この環境条件は，電池又はその機器の測定対象の回路から電源を供給される携帯形のカウンタ（電池駆
動式カウンタ）に適用する。充電中に操作するカウンタは，この環境条件の適用から除外する。
注記1 この環境の適用範囲に属するカウンタは，広範囲の場所で使用する。しかし，試験結果の評
価が可能な人だけが使用する。カウンタを電源に接続する場合，通常は試験端子又は測定端
子にだけ，かつ，試験の短い間だけ接続する。したがって，表17の電磁環境Cに示す試験
に用いる値は，電磁環境Aに示す値より緩い。
注記2 無線送信機をカウンタの近傍で使用する場合には，この環境の適用範囲のカウンタに妨害を
及ぼす可能性がある。
注記3 この環境の適用範囲内の製品に使う電源充電器は，試験の適用範囲外である。
参考文献 JIS C 1806-1 計測・制御及び試験室使用の電気装置−電磁両立性（EMC）要求