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1

C

 3801-

1 : 1

999

 解

解説付表

2

JIS

と対応する国際規格との対比表

JIS C 3801-1

 : 1999

  がいし試験方法−第

1

部:架

空線路用がいし

対応国際規格番号:

IEC 60383-1

 : 1993

  交流系統で使用する磁器又はガラスがいし−定義,試験方法及び判定基準

IEC 60383-2

 : 1993

  交流系統で使用するがいし連及びがいし装置−定義,試験方法及び判定基準

対比項目

規定項目

(I) 

JIS

の規定内容

 (II) 

国 際 規 格 番

(III) 

国際規格の規定内容

 (IV) 

JIS

と国際規格との相違点

 (V) 

JIS

と国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策

(1) 

適用範囲

○ ・本体規格には架空線路に用

いる磁器製懸垂がいし,ラ
インポストがいし,ピンが

いしなどの試験方法につ
いて規定

・附属書は国際規格の内容

IEC 60383-1 

IEC 60383-2 

○ 公称電圧が

1000V

を超え,

周波数

100 Hz

以下の交流架空線路及

び架空電車線路に使用される磁

器又はガラスがいしに適用

ADP

国際規格の内容以外に本体
規格に独自規定を追加

JIS

は試験方法だけを規定

し,

IEC

は製品規格的要素が

強く,互換性に問題がある。

このため,今回は,従来

JIS

に関連

IEC

規格を附属書

(規

定)として規定することで整

合化を進めた。

しかし,一部の項目(吸湿試
験の試験液)については,安

全性を優先し,国際規格の規
定内容を変更して規定する
こととし,最終的な評価は不

整合となった。

国際規格は,今回変更規定し
た内容で改正されることが

決定しており,その改正によ
って,整合化が図れる。

(2) 

用語・記号

○ ・本体規格の用語の定義は

JIS C 3803

による

・附属書は国際規格の内容

同上

○ 当該規格に用いる用語の定義を

規定

ADP

国際規格の内容以外に本体
規格に独自規定を追加

(3) 

試験(分析)
の種類・項目

○ ・本体規格の試験は

25

項目

を規定

①構造試験

②外観試験

③電気的試験〔

13

項目〕

④機械的試験〔

6

項目〕

⑤課電破壊荷重試験

⑥冷熱試験

⑦吸湿試験

⑧亜鉛めっき試験

・附属書は国際規格の内容

同上

○ 形式,抜取り,全数試験の

3

種類

に分類され,がいし種類,材質,

寸法などにより試験項目を規定

①高電圧試験(

5

項目)

②寸法検査(変位検査含む。

③誤電破壊荷重試験

④破壊荷重試験

⑤エージング試験

⑥割りピン試験(固定装置検
査)

⑦冷熱試験

⑧熱衝撃試験

⑨吸湿試験

⑩亜鉛めっき試験

⑪全数外観試験

⑫全数機械試験

ADP

国際規格の内容以外に本体
規格に独自規定を追加

吸湿試験の試験液について
は,安全性を優先し,国際規
格の規定内容 フクシン を

アストラゾン に変更して

規定

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C

 3801-

1 : 1

999

 解

解説付表

2

JIS

と対応する国際規格との対比表(続き)

JIS C 3801-1

 : 1999

  がいし試験方法−第

1

部:架

空線路用がいし

対応国際規格番号:

IEC 60383-1

 : 1993

  交流系統で使用する磁器又はガラスがいし−定義,試験方法及び判定基準

IEC 60383-2

 : 1993

  交流系統で使用するがいし連及びがいし装置−定義,試験方法及び判定基準

対比項目

規定項目

(I) 

JIS

の規定内容

 (II) 

国 際 規 格 番

(III) 

国際規格の規定内容

 (IV) 

JIS

と国際規格との相違点

 (V) 

JIS

と国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策

(4) 

装置・器具

○ ・本体規格に次の試験装置・

器具を規定

(1) 

打撃試験装置

(2) 

電気的試験における電
極寸法・試料配置

・附属書は国際規格の内容

IEC 60383-1 

IEC 60383-2 

IEC 60060-1 

(1) 

電気試験における器具とし
て電極寸法・試料配置を規定

(2) 

電気試験の詳細・装置につい

IEC 60060-1

を規定

ADP

国際規格の内容以外に本体
規格に独自規定を追加

電気事業法では,

JIS

以外の

製品も認めているが,安全性
の観点から従来のがいしと

混在が不可能なため,

ADP

部分は,

TBT

例外事項とし

て扱う。

(5) 

材料・試料

( 抜 取 試 験

個数)

○ ・本体規格に規定なし

・附属書は国際規格の内容

IEC 60383-1 

IEC 60383-2 

(1) 

形式試験

がいし種類,材質別に試料

数を規定

(2) 

抜取試験

ロット個数,がいし種類,

材質別に試料数を規定

ADP

材料・試料(抜取試験個数)
について本体規格に規定な

(6) 

手順・方法

(合否判定)

○ ・本体規格に規定なし

・附属書は国際規格の内容

同上

(1) 

形式試験,抜取試験ともに合
否判定基準を規定

(2) 

抜取試験の再試験手順を既

ADP

手順・方法(合否判定)につ
いて本体規格に規定なし

(7) 

その他

○ ・本体規格に規定なし

・附属書は国際規格の内容

同上

○ 寸法許容差を規定

ADP

寸法許容差について本体規
格に規定なし

備考

1.

表中の

(I)

及び

(III)

欄にある

は,該当する規定項目を規定していることを示す。

2.

表中の

(IV)

欄にある

ADP

は,

JIS

は国際規格を技術的内容の変更なしで採用しているが,

JIS

として必要な規定内容を追加していることを示す。