2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 2524-1997
電熱線及び帯の寿命試験方法
Accelerated life test of electric
heating wires and rolled wires
1. 適用範囲 この規格は，電熱線及び帯の寿命試験の方法について規定する。
備考 この規格の引用規格を，次に示す。
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8706 光高温計による温度測定方法
2. 方法の区分 寿命試験は，表1によってI法又はU法によって行う。
表1 試験方法の区分
方法の区分 支持端子取付け後の試料の形状 試験温度*
適用電熱線及び帯
I法
直線状
1 200℃
ニッケルクロム電熱線及び帯
U法
U状
1 300℃
鉄クロム電熱線及び帯
注*
試験温度は光高温計による。
3. 寿命値 寿命値は，5.の方法によって試験を行い，試験片が断線するまでの通電回数の平均値で，JIS
Z 8401によって1位に丸める。
4. 試験片 試験片は，同一溶解から，径0.50±0.01mm，長さ約220mmのものを3個調整してこれを1
組とする。
5. 試験方法
5.1
I法
5.1.1
試験装置 I法の試験装置は，次による。
(1) 支持端子 試験片の支持端子は，上部端子及び下部端子からなり，図1に示すように試験片の一端を
上部端子に固定し，他端には約10gの下部端子を付けて水銀中に浸す。上下の支持端子間の距離は約
200mmとし，支持端子取付け後の試験片の形状は直線状となるようにする。
(2) 試験箱 試験片は気流の影響を避けるため，図2に示すような試験箱に納め，内面を黒色に塗装する。
箱には温度測定用の窓を付けるものとする。この箱はU法にも共用できる。
(3) 断続器 試験片の電流を2分間通電・2分間休止を繰り返させる断続器を付けるものとする。
(4) 計数器 通電回数を表示する計数器を取り付けるものとする。
(5) 比較光源 温度測定のために，図2に示すような白色内面塗装電球を試験片の背面の暗箱内に納める。
輝度が均一で，かつ，調整できるほかの光源を用いてもよい。
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(6) 光高温計 光高温計は，JIS Z 8706に規定する方法で試験温度の測定が可能なものとする。
(7) 電源 電源にはその電圧変動を±0.5%に保ちうるような自動電圧調整器を備え，試験片及び光源の電
流調整には，それぞれを自由に調整できるような抵抗器又は調整器を備える。
図1 I法試験片取付図
図2 I法寿命試験装置
5.1.2
試験温度 試験温度は，試験片の温度とし，光高温計によって設定する。
5.1.3
試験片の取付け 試験片を端子に支持したのち赤熱する程度の電流を通じ，下部端子によるわずか
な張力によって試験片が垂直になるようにする。
5.1.4
温度調整
(1) 光高温計の読みを試験温度 (1 200℃) に合わせ，次に比較光源電流を調整して，その表面の輝度を光
高温計のフィラメントの輝度と一致させる。
(2) 光高温計と同じ分光透過率をもった色ガラスをとおして試験片の輝度が光源の輝度に一致するよう試
験片の電流を調整する。
5.1.5
操作 試験の操作は，次の順序によって行う。
(1) 試験片の電流を増し，2分以内に試験温度に合わせて15分間その温度に保持し，抵抗値を安定させる。
(2) 計数器の読みを0に合わせ，断続器を動作させて2分間通電・2分間休止の試験を開始する。ただし，
2分間以上の休止を行ってもよいが，試験終了までに5回を超えてはならない。
(3) 試験中試験片の温度を試験温度に保持するために図3に示すように試験開始後およそ15分間，1時間，
5時間及び24時間，以後24時間ごとに5.1.4(2)の方法で温度調整を行う。
(4) 各試験片が断線したときの通電回数を計数器から読み取る。
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図3 寿命試験の計画図（I法）
5.2
U法
5.2.1
試験装置 U法の試験装置は，次による。
(1) 支持端子 試験片の支持端子は，図4に示すように，試験片の両端を端子間げき50mmの支持端子に
固定する。端子間の試験片の長さは約200mmとし，支持端子取付け後の試験片の形状はU状となる
ようにする。
(2) 試験箱 5.1.1(2)による。ただし，図2によらず図5による。
(3) 断続器 5.1.1(3)による。
(4) 計数器 5.1.1(4)による。
(5) 比較光源 5.1.1(5)による。
(6) 光高温計 5.1.1(6)による。
(7) 電源 5.1.1(7)による。
図4 U法試験片取付図
図5 U法寿命試験装置
5.2.2
試験温度 5.1.2による。
5.2.3
試験中の取付け 試験片を端子に支持したのち赤熱する程度の電流を通じ，温度測定窓からU状
試験片の底部が観測されるように調整する。
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5.2.4
温度調整 5.1.4(1)，(2)による。ただし，試験温度は1 300℃とし，U状試験片の温度測定部は図4
に示す試験片の底部とする。
5.2.5
操作 試験の操作は，次の順序によって行う。
(1) 5.1.5(1)による。
(2) 5.1.5(2)による。
(3) 試験中試験片の温度を試験温度に保持するために図6に示すように試験開始後およそ15分間，30分
間，1時間，1.5時間及び2時間，以後1時間ごとに5.1.4(2)の方法で温度調整を行う。
(4) 試験中に試験片が伸びたり曲がったりする場合があるので，図4に示す温度測定部が常に温度測定窓
のほぼ中央にくるように端子支持軸を上下させて調整する。
(5) 5.1.5(4)による。
図6 寿命試験の計画図（U法）