C 1805-1 : 2001
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき、社団法人日本電気計測器工業会 (JEMIMA) ／
財団法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり、日本
工業標準調査会の審議を経て、経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
今回の制定は，日本工業規格を国際規格に整合させるため，IEC 61298-1 : 1995を基礎として用いた。
JIS C 1805-1には，次に示す附属書がある。
附属書A（参考） 参考文献
附属書1（参考） JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 1805の規格群は、次に示す4部から構成する。
JIS C 1805-1 第1部：一般的考察
JIS C 1805-2 第2部：基準状態における試験
JIS C 1805-3 第3部：影響量の効果に関する試験
JIS C 1805-4 第4部：評価報告書の内容
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日本工業規格 JIS
C 1805-1 : 2001
プロセス計測制御機器−
性能評価の一般的方法及び手順−
第1部：一般的考察
Process measurement and control devices−
General methods and procedures for evaluating performance−
Part 1 : General considerations
序文 この規格は，1995年に第1版として発行されたIEC 61298-1, Process measurement and control devices
−General methods and procedures for evaluating performance−Part 1 : General considerationsを翻訳し，編集上
及び／又は技術的内容を一部変更して作成した日本工業規格である。
この規格に記載されたIEC規格番号は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであ
る。これより前に発行された規格については，規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り
換えてある。これは，番号だけの切換えであり，内容は同一である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて，附属書1に示す。
1. 適用範囲 この規格は，プロセス計測制御機器の機能及び'性能に関する試験の実施と報告のための，
一般的な方法と手順を規定する。この規格に規定された方法と手順は，いずれの種類の試験又はいずれの
タイプのプロセス計測制御機器にも適用できる。各試験は固有の入力変量及び出力変量並びに入力／出力
関係（伝達関数）によって特性付けられるいずれの機器にも適用でき，アナログ機器もディジタル機器も
含まれる。特別な試験が必要な機器に対しては，この規格は，特別な試験を規定したその製品固有の規格
と合わせて使用しなければならない。
JIS C 1805のこの部は，この規格全体に適用する一般的原則について述べている。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 61298-1 : 1995, Process measurement and control devices−General methods and procedures for
evaluating performance−Part 1 : General considerations (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0155 : 工業プロセス計測制御用語及び定義
2
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備考 IEC 60902 : 1987, Industrial−Process measurement and control−Terms and definitionsからの引用
事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 1805-2 : プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順一第2部：基準状態における
試験
備考 IEC 61298-2 : 1995, Process measurement and control devices−General methods and procedures for
evaluating performance−Part 2 : Tests under reference conditionsからの引用事項は，この規
格の該当事項と同等である。
JIS C 1805-4 プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第4部：評価報告書の内容
備考 IEC 61298-4 : 1995, Process measurement and control devices−General methods and procedures for
evaluating performances−Part 4 : Evaluation report contentが，この規格と一致している。
JIS Z 8202-0〜JIS Z 8202-10及びJIS Z 8202-12〜JIS Z 8202-13 量及び単位
備考 ISO 31, Quantities and unitsが，この規格と一致している。
JIS Z 8203 国際単位系 (SI) 及びその使い方
JIS Z 9901 品質システム−設計，開発，製造，据付け及び付帯サービスにおける品質保証モデル
備考 ISO 9001 : 1994, Quality systems−Model for quality assurance in design, development, production,
installation and servicingが，この規格と一致している。
JIS Z 9902 品質システム−製造，据付け及び付帯サービスにおける品質保証モデル
備考 ISO 9002 : 1994, Quality systems−Model for quality assurance in production, installation and
servicingが，この規格と一致している。
JIS Z 9903 品質システム−最終検査・試験における品質保証モデル
備考 ISO 9003 : 1994, Quality systems−Model for quality assurance in final inspection and testが，この
規格と一致している。
IEC 60410 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes
3. 定義 この規格で用いられる主な用語の定義は，次による。
備考 “*” のついた用語はJIS B 0155の用語と同一であるが，定義の文章表現については，IEC
61298-1 : 1995による。
3.1
被試験機器 (DUT) 試験を受ける機器。
3.2
変量* (variable) 値が変化しうる量又は状態であって通常測定ができるもの（例：温度，流量，速
度，信号など）。
3.3
信号* (signal) 物理的な変量。その1以上のパラメータは，信号が表す1以上の変数に関する情報
を伝える。
3.4
レンジ* (range) 対象とする量の上限値と下限値の間の領域。
3.5
スパン* (span) 与えられたレンジの上限値と下限値の間の代数的な差。
3.6
設定値* (set point) 基準変量を表す信号。
備考 手動設定，自動設定，プログラムされたものなどがある。
3.7
最大誤差* (inaccuracy) 規定の条件及び規定の手順で試験を行ったときに観測される，規定の特性
曲線からの正と負の最大偏差。
3.8
誤差* (error) 測定変量の真の値と測定値との間の代数的差。
備考 誤差は測定値が真値より大きいときを正とし，一般に対応するスパンに対する百分率で表す。
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3.9
最大測定誤差 (maximum measured error) それぞれの測定点において上昇平均曲線及び下降平均曲
線から決まる正又は負の誤差の中の最大値。
3.10 非一致性 (non-conformity) 一致性の偏差。
備考 一致性はJIS B 0155に定義あり。
3.11 非直線性 (non-linearity) 直線性の偏差。
備考1. 直線性はJIS B 0155に定義あり。
2. 非一致性と非直線性にはヒステリシスを含まない。
3.12 非繰返し性 (non-repeatability) JIS B 0155にある繰返し性誤差の定義を参照。
3.13 ヒステリシス* (hysteresis) 印加された入力値の方向性前歴に依存して入力値に対応する出力値が
異なる機器又は計器の特性。
3.14 不感帯* (dead band) 出力変量に感知できる変化を全く生じることのない入力変化の有限範囲。
3.15 調節性 (adjustability) 調節機構を変化させることによって，調節可能な最小の出力変化。
3.16 むだ時間* (dead time) 入力が変化した瞬間から，それによって出力の変化が始まるまでの時間（JIS
B 0155付図2を参照）。
3.17 立上がり時間* (rise time) ステップ応答において，出力信号がゼロから始まって最終定常値の小さ
なパーセント値（例えば，10%）に達した瞬間から，大きなパーセント値（例えば，90%）に最初に達す
る瞬間までの時間（JIS B 0155 付図2を参照）。
3.18 整定時間 (settling time) 入力がステップ状に変化したときから，その結果として起こる出力の変動
が，その最終定常値の許容差内に収まるまでの時間。この規格では許容差として1%が適用される。
3.19 ステップ応答時間 (step response time) ステップ入力が加えられた時点から，出力が最終定常値の
90%に最初に達するまでの時間（JIS B 0155 付図2を参照）。
3.20 時定数* (time constant) 線形一次システムにおいて，ステップ入力又はインパルス入力を加えたと
き，出力が全変化分の63.2%に達するのに要する時間。
3.21 過渡行過ぎ量* (transient overshoot) ステップ応答において，出力変量の最終定常値からの過渡的な
偏差の最大値を，初期定常値と最終定常値との差の百分率で表したもの。
3.22 予期せぬ事態 (unexpected event) 評価試験中に生じ，機器の製造業者による修理が必要な，機器の
故障，動作不良，異常又は不注意による損傷。
3.23 試験手順 (test procedure) 製造業者，試験所と購入者／使用者との間で事前に同意された，実施す
べき試験と試験条件に関する記述。
4. 試験の分類 規定された試験は，二つに分類することができる。
完全試験 これらは性能評価又は形式試験からなり，適切な動作条件における機器の性能を確定し，製造
業者が公表した機器の性能仕様又は使用者の要求事項との比較を可能にする。
簡略試験 これらは完全試験の抜粋からなり，機器の特定の特性をチェックする（例えば，出荷前の全製
品に対する定常試験又は製品のランダム抜取試験など）。
全範囲の試験を実施しない場合は，その旨を試験報告書に記載し，理由（例えば，経済性，特定の用途
と関係のないこと，機器の故障など）も加える。規定された試験手順との相違も記録する。
この規格に従って用意する試験計画は，試験を開始する前に，試験所，依頼者／購入者及び適当な場合
には機器供給者又は製造業者の間で合意を得なければならない。この規格の一般的な性格から，列挙され
た試験は特定の要求に対しては広範囲に過ぎたり，包括性が不十分かもしれないので，合意のうえ試験計
4
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画を変更してもよい。
試験結果の合格判定基準（例えば，期待値や限界値）及び被試験機器の品質及び合格の判定のための基
準は，試験結果のその後の利用と密接に関係するので，この規格の適用範囲外である。
5. 一般的基準
5.1
現実的な動作条件 理想的には，機器が実際に使用されるそれぞれの条件で評価することが望まし
い。しかし，動作条件のすべての可能な組合せについて性能を評価することは実際的ではない。そこで，
試験室の条件下で実際的であるとともに，現場での性能の予測を行うに十分なデータがそれほど苦労なく
得られる標準試験手順を規定する。レンジをカバーする少数の標準条件を使用するので，試験が単純化さ
れ，異なる機器に対する試験の比較が容易になる。
5.2
経済的な見地 試験手順並びに試験点の数及び測定回数は，目標及び結果の適切さとそれに対する
試験の費用及び技術的困難さとの間で最良の妥協が得られるように選ぶ。
標準手順を使用することが望ましいが，経済的，その他の理由で試験を省略したり短縮した場合には，
試験報告書にそのことを記載する。
5.3
試験の繰返し及び結果の比較可能性 異なる時と場所で，異なる操作者により，同機種の異なる機
器について行われた試験から比較可能な結果を得るために，試験手順と方法は明白で再現可能でなければ
ならない。特に次に示すことが必要である。
5.3.1
試験方法の標準化 評価の際に従う試験方法は開始前に決定し，可能な限り，標準化された試験方
法に従わなければならない。標準の方法からの相違を記録しなければならない。
5.3.2
影響要因 試験の間，被試験機器の動作に影響するすべての要因を確かめ，（試験対象となる特定
の条件を除き）できるだけ一定に保つ。
5.3.3
試験方法の文書化 試験報告書は，評価の際に引用した規格を明確に示し，試験条件を記述すると
ともに評価の際に生じた規定条件からの相違を記述する（完全な評価報告書の形式は，JIS C 1805-4参照）。
5.4
結果の処理 経済的な見地（5.2参照）から，試験中の測定回数はしばしば最小限に抑えられるので，
統計的には無意味となる。したがって，統計的方法では意味のある情報（評価）が得られないので，結果
の処理は従来の方法で行う。
結論として，被試験機器を特性付けるパラメータ（例えば，最大誤差，ヒステリシス，繰返し性，不感
帯など）の一般的性質から，計算は測定値と取決めによる真値との差の（正又は負の）最大値に基づくが，
幾つかの量（例えば，測定誤差，直線性）については平均値を使用する。
5.5
他の試験による影響の排除 試験の結果が，先行する試験の影響を受けないように，特別の注意を
払わなければならない。
6. 試験とサンプルの一般的条件
6.1
環境試験条件 試験は，表1による。
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表1 環境試験条件
周囲試験条件
温度
℃
相対湿度
%
気圧
kPa
標準基準大気条件
20
65
101.3
推奨範囲
15〜25
45〜75
86〜106
判定測定
a
20±2
65±5
86〜106
b
23±2
50±5
86〜106
試験値は，上記の標準基準大気条件に計算によって補正する。標準基準大気条件は，製造業者が一般に
正常基準動作条件と呼んでいるものと同一である。
湿度を補正するための係数は，存在しないかもしれない。周囲条件の推奨範囲内における測定が不十分
で，標準大気条件にパラメータを換算する補正係数が不明のときは，上記の表のaやb，又はその他の製
造業者が決めた基準動作条件と等価な条件をIEC 60160から選んで，繰り返し測定（判定測定）を行って
もよい。
備考 基本的な試験条件を規定範囲内に維持するために，特別の装置が必要となるかもしれない。
参考 IEC 60160は既に廃止されているが，IEC 60068-1に同様の規定があり，その国際一致規格であ
るJIS C 0010にも採用されている。
6.1.1
測定のための周囲条件の推奨範囲 電磁界は関係があれば，値を示す。
どの試験でも許容される周囲温度の最大変化率は10分間で1℃，かつ，1時間で3℃以下とする。
6.2
供給条件
6.2.1
基準値 製造業者によって規定された値。
6.2.2
許容差 使用者と製造業者の間でより厳しい許容差の合意がない限り，次の許容差を適用する。
電源
− 定格電圧：±1%
− 定格周波数：±1%
− 高調波ひずみ（交流電源）：5%以下
− リップル（直流電源）：0.1%以下
空気源
− 定格空気圧：±3%
− 供給空気温度：周囲温度±2℃
− 供給空気湿度：露点温度が機器本体温度より少なくとも10℃低いものとする
− 油とほこり：
油： 質量で1ppmより小さいものとする
ほこり： 3μm径を超える粒子がないものとする
供給流体（化学分析計及び流量計）
− 流量は，製造業者が規定する最大値と最小値の平均値とし，流体温度は適切な値の±2℃以内とする。
6.3
負荷条件
6.3.1
定格値 被試験機器は，製造業者が規定した範囲内の負荷に接続する。
備考 電気式伝送器では100Ωが通常使用される値である。
6.3.2
特定の条件 評価における負荷値は
a) 電気式計器の場合
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− 電圧出力信号をもつ機器について製造業者が規定する最小値
− 電流出力信号をもつ機器について製造業者が規定する最大値
b) 空気式計器の場合 製造業者及び／又は特定の適用規格が特に規定していない場合，標準的に出力が
小容量（例えば，機器／伝送器）に接続されて動作している機器については，長さ8m，内径4mmの
硬い管を20cm3の容量に接続する。流量は，機器について規定される限界値内とする。
特別な機器（例えば，ポジショナ）では，典型的な動作条件に相当する別の負荷容量が必要となること
がある。
6.4
取付姿勢 被試験機器は正規の使用姿勢の一つにおいて，±3度以下の許容差で，製造業者の指示に
従って据え付ける。
適切な場合には，機器に附属する取付用ブラケットを用いる。
機器には，すべてのカバーを取り付けておく。
6.5
外部振動 機器の据付けは，試験中に機器の外部からの振動によって影響を受けないように行う。
6.6
外部機械的拘束 製造業者が勧める取付方法以外の外的な機械的拘束を加えてはならない。電気及
び配管の接続は柔軟性をもたせる。
6.7
選択
6.7.1
基準 試験を受ける機器の選択は，5.2の基準を考慮して行う。
抜取品は，その測定結果が一群の全機器について有効な近似となり，その一群を代表するように選択し
なければならない。
抜取計画及び抜取品選択の基準は，実施する試験の目的及び分類に従い，そして矛盾があってはならな
い。
6.7.2
選択手順 試験を受ける機器の選択は，関連する試験分類に従って，製造業者と顧客との間で合意
しなければならない。
a) 性能評価及び形式試験
− これらの試験での測定は，製造ライン又は製造業者の在庫品から抜き取った，1台の機器だけにつ
いて行う。
− 試験を受ける機器は，その製品を代表していなければならない。すなわち，特別に選択したり，引
渡し前に再校正しない方がよい。
b) 定常試験
− 定常試験は，製造中又は製造後の全機器について行う。したがって，選択手順は含まない。
− 関係者の事前の合意によって，特別に抜取技法を利用してもよい。
c) 抜取試験
− 抜取試験は，試験者がランダムに選んだ何台かの代表的な機器について行う。IEC 60410に述べら
れているような抜取手法を推奨する。
6.8
機器の引渡し 機器は標準の包装で，据付け及び試運転に必要な附属品，及び取扱説明書とともに，
試験場所に届ける。
6.9
識別と検査 試験場所において，機器は適切な周囲条件及び包装状態で保管し，試験の開始直前に
取り出して使用する。
被試験機器と包装の目視検査を行って，輸送中に損傷を受けていないかを調べる。試験報告書は，包装
の適切さ及び引渡しの際に確認した欠陥の観察を含む。
被試験機器は，記号又は銘板で識別できることが望ましい。
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7. 一般的な試験手順及び注意
7.1
試験所 試験所は，国家標準機関の認定を受けているか（認定事業者），又は“JIS Z 9901〜JIS Z 9903
のいずれかについて4.11 検査，測定及び試験装置の管理”の要求事項を満足していなければならない。
認定の実施が困難な特殊な試験の場合は例外で，報告書にその旨を記載する。
7.2
試験の準備 試験手順及び予期しない事態が発生した場合に取る行動は試験開始前に合意しておく
方がよい。機器に備え付けられた取扱説明書を読んだ後，試験者は製造業者の取扱説明書に従って機器を
設置し動作させる。特殊な機器の場合は，供給者に依頼してもよい。
試験計画で定めている場合には，試験報告書に取扱説明書の評価を含める。
7.3
測定装置の選択
7.3.1
基準 測定装置は，費用及び市場での入手可能性も考慮したうえで，被試験機器の性能が正しく測
定（正確さ及び信頼性において）できるように選択する。
7.3.2
測定システムの不確かさ 測定システムの精度定格は，被試験機器よりも優れていなければならな
い。
測定システムの不確かさは，被試験機器の公称誤差限界の1/4以下でなければならない。
測定システムの不確かさは関連国際規格に従って計算し，すべての最終試験報告書に記載することが望
ましい（JIS C 1805-4も参照）。
参考 不確かさ関連国際規格
ISO International vocabulary on basic and general terms in metrology 2nd ed, (1993)
ISO guide to the expression of uncertainty in measurement 1st ed, (1993)
測定システムの不確かさの値と極性が分かっているときは，測定システムによる不確かさに基づいて試
験の各測定を補正する。
備考 試験用計器が仕様誤差をスパンの百分率で表している場合は，注意が必要である。例えば，仕
様誤差がスパンの±0.1%である計器を被試験機器の出力測定に用いる場合，出力信号が標準計
器の目盛の最初の1/3までしかない場合には，その計器が使用される有効範囲での実効誤差は
±0.3%となり，不適切となることが多い。
7.3.3
トレーサビリティ 測定機器は，国家標準機関の定める間隔で，適切な国家標準につながる経路が
確立された機器又は手順に対して定期的に校正し，証明を受けなければならない。
7.4
入力変量の品質 入力変量信号は，試験結果に重大な影響を与えるような外部ノイズを含んでいて
はならない。ノイズ及び／又は振動を除去できない場合は，ノイズ及び／又は振動の影響が最小となるよ
うな特別の配慮が必要である，例えば，流量試験において，各流量値において数回流すことが，正確さと
繰返し性の測定について信頼性のある結果を得るために必要であろう。
7.5
タッピング 試験計画で定める場合にだけ，被試験機器を軽くたたいたり振動させることが望まし
い。タッピングの影響を確認するため，試験計画でタッピングありとなしの場合を採用してもよい。
7.6
引渡し前に行われた校正のチェック 使用者校正のため，機器が校正なしで引き渡される場合を除
き，試験者は機器が試験場所に引き渡されたときに入力出力特性（1測定サイクルで十分）を検証する。
その後は，異常が発生しない限り校正を変更してはならない（7.7参照）。
7.7
試験の順序 各々の一連の試験の前に被試験機器の校正を確認し，報告することが望ましい。
試験順序は，被試験機器の性能に修復不能な影響を及ぼすかもしれない試験又は破壊の可能性がある試
験（例えば，振動，加速寿命，オーバーレンジ又は過電圧）が最後の予定となるように計画する方がよい。
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異常が発生した場合は，供給者と顧客との合意に従って，試験を続ける前に被試験機器を再校正しても
よい（5.5参照）。
7.8
各一連の測定における中断及び測定時間 被試験機器の不安定性による長期的及び中期的な影響又
は環境条件の重大な変動の影響を避けるため，各々の一連の測定は中断なしに，必要最小限の合理的な時
間内で実施する（5.3.2参照）。
7.9
試験中の異常及び故障
7.9.1
一般 試験中の被試験機器に予期しない事態，異常動作又は故障が発生した場合は，試験者は，関
連する原因及びとられた処置とともにそれらを試験報告書に記録する。
7.9.2
手順 性能評価及び形式試験では，試験者は，可能であれば取扱説明書に従って機器を修理し，又
は製造業者の助けを求めることができる。その後も引き続き，機器が他の異常又は故障を起こす場合は，
製造業者と顧客の間でさらなる処置に合意するとともに計画された試験を中断し，異常によって影響され
なかった試験結果だけを有効とする。定常試験及び抜取試験では，故障した機器を修理して再試験を行う
か，合意された手順に従って不合格とする（7.2参照）。
7.10 再試験 試験を中断した場合は，試験基準及び発生した故障又は異常を考慮に入れて，試験を継続
するか再試験するかどうかを熟考する必要がある。
故障修理後に評価を再開する場合は，初めから測定をやり直す方が賢明である。なぜなら，故障となる
前に進行中の障害がそれまでの測定に影響を与えていたかもしれない。
異常又は故障が被試験機器の誤操作によって生じた場合には，それ以前の結果は報告しない。
7.11 調整の設定 進行中の試験に影響を与えるが，試験の目的ではない被試験機器のすべてのフィルタ
やダンピング調整は，試験計画又は製造業者の取扱説明書に従って，若しくは影響が最小となるように，
設定する。
特定の試験に対するこれらの設定は，JIS C 1805-2を参照。
7.12 前処理
7.12.1 基準 被試験機器は，十分な時間動作させて安定した温度状態とすることによって，前処理を行う。
備考 時間は，被試験機器の質量及び消費エネルギーの関数である。
7.12.2 手順 被試験機器に通電した状態で，被試験機器の動作温度を安定化するのに十分な時間をかける。
試験計画で特に指示のない場合は，この時間は上記の基準に基づいて決めるが，30分以上とする。
被試験機器と組み合わせる試験装置の安定化も図る。
7.13 レンジ下限値及びスパンの校正調整 機器が無校正で供給されたが，（例えば，レンジ下限値及びス
パンの）校正調整機能を備えている場合は，試験を開始する前に製造業者の指示に従って設定する。その
後は，校正が製造業者の仕様から大きく外れた場合に限って再校正を行う。これが生じたときは，その事
実を評価報告書に記載する。
7.14 動作条件と設定の固定 試験対象となる特定の動作条件だけを変える。他のすべての動作条件及び
設定は基準条件に維持する。
7.15 入力変量／出力変量の関係
7.15.1 基準 入力変量／出力変量の関係は，複数の既定値を，入力変量又は出力変量の，不確かさがより
高い方に割り当て，他方のそれぞれの値を測定することによって決定する。機器の出力信号としては，デ
ィジタル表示又はアナログ表示を含む。
備考 既定値は，測定又は調整がより難しい（すなわち，測定においてより高い不確かさをもつ）変
量に割り当てる方がよい。
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7.15.2 手順 一般に入力／出力関係は，レンジ内の既定値を入力変量に割り当て，対応する出力信号を測
定することによって明確にされる。
既定値の設定が難しい場合は（例えば，流量発信器，化学分析計などの場合），既定値の近辺で何回か測
定し，計算で既定値に補正してもよい。他方で，ある種の機器（例えば，指示計，記録計など）の場合は，
理想的な出力値が得られるように入力値を調整して，そのときの入力値を記録するようにした方が都合が
よい。データの符号は重要である。
この方法は，ゲインの調整可能な機器（例えば，調節計）の場合にも便利である。
備考 校正限界（例えば，入力又は出力の0%及び100%）のある機器について測定を行うときは，性
能限界の影響を避けるために校正限界の少し内側の点で（例えば，スパンの5%及び95%）測
定を行う方がよい。
7.16 誤差の評価 誤差は入力変量を確認したうえで，規定した入力出力関係からのずれとして表す。例
えば，温度発信器には入力電圧に対して直線的な出力を出すものと，温度に対して出力を直線化するため
の回路をもつものがある。誤差を決定するためには，1番目の場合は入力出力関係を電圧対出力とし，2
番目の場合は温度対出力とする。同じ手順が適用されるにもかかわらず，測定誤差は異なる評価を受ける。
7.17 測定の記号と単位 試験に関するすべてのデータは，JIS Z 8202-0〜JIS Z 8202-10及びJIS Z 8202-12
〜JIS Z 8202-13（ISO 31シリーズ）で規定する国際単位系 (SI) の，測定の記号及び単位を用いて表す。
参考 SI単位の内容及び使用ルールについては，JIS Z 8203を参照。
7.18 試験報告書及び証拠書類 試験完結後，評価についての完全な試験報告書をJIS C 1805-4に従って
作成する。試験中に行った測定に関するすべての証拠書類は，報告書発行後少なくとも2年間は試験所が
保管する。
10
C 1805-1 : 2001
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A（参考） 参考文献
この附属書（参考）は，本体に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。
JIS C 0020 : 1995 環境試験方法−電気・電子−低温（耐寒性）試験方法
備考 IEC 60068-2-1 : 1990, Environmental testing−Part 2 : Tests. Tests A : Coldが，この規格と一致して
いる。
JIS C 0021 : 1995 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）試験方法
備考 IEC 60068-2-2 : 1974, Environmental testing−Part 2 : Tests. Tests B : Dry heatが，この規格と一致し
ている。
JIS C 0025 : 1988 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
備考 IEC 60068-2-14 : 1984, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test N : Change of temperatureからの
引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 0040 : 1999 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
備考 IEC 60068-2-6 : 1995, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test Fc : Vibration (sinusoidal) が，この
規格と一致している。
JIS C 0043 : 1995 環境試験方法−電気・電子−面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法
備考 IEC 60068-2-31 : 1969, Environmental testing−Part 2 : Tests. Test Ec : Drop and topple, primarily for
equipment-type specimens及びAmendment 1 (1982) が，この規格と一致している。
JIS C 1000-4-2 : 1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-2 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 2 : Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publicationからの引用事項
は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 1000-4-3 : 1997 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術 第3節：放射無線周波電磁界イミュニテ
ィ試験
備考 IEC 61000-4-3 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 3 : Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity testが，この規格と
一致している。
JIS C 1000-4-4 : 1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第4節：電気的ファストトランジェント
／バーストイミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-4 : 1995, Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4 : Testing and measurement
techniques−Section 4 : Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC Publicationからの引
用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 1804 : 1995 工業プロセス計測制御機器の使用環境条件
備考 IEC 60654-1 : 1993, Industrial-process measurement and control equipment−Operating conditions−
Part 1 : Climatic conditionsからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
IEC 60654-2 : 1979, Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment. Part 2 : Power,
IEC 60654-3 : 1983, Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment. Part 3 :
Mechanical influences
11
C
1
8
0
5
-1
:
2
0
0
1
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書1（参考） JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 1805-1 : 2001プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第1部：一般的考
察
IEC 61298-1 : 1995プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手
順−第1部：一般的考察
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
1. 適用範囲
プロセス計測制御機器の試
験実施と報告の方法と手順
を規定するJIS C 1805全体
に適用する一般原則を規定。
IEC
61298-1
1
JISに同じ
IDT
−
2. 引用規格
JIS B 0155，JIS C 1805-2，
JIS C 1805-4，JIS Z 8203，
JIS Z 9901〜JIS Z 9903，IEC
60410，IEC 60902，IEC
61298-2，IEC 61298-4，ISO
31，JIS Z 8202-0〜JIS Z
8202-10，JIS Z 8202-12〜JIS
Z 8202-13
2
IEC 60410，IEC 60902，
IEC 61298-2，IEC 61298-
4，ISO 31
MOD/
追加
7.1の修正に伴い，JISを追
記している。
7.1の修正に伴って追記したJIS
は当該箇条の見直しに従う。
3. 定義
性能表示関連用語ほか
3
JISに同じ
IDT
−
4. 試験の分類 完全試験，簡略試験
4
JISに同じ
IDT
−
5. 一般的基準 現実的な動作条件，経済的見
地，試験の繰返し及び結果の
比較可能性，結果の処理他の
試験による影響の排除
5
JISに同じ
IDT
−
1
2
C
1
8
0
5
-1
:
2
0
0
1
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
6. 試験とサ
ンプルの
一般的条
件
試験の環境条件，電源，空
気源，負荷条件，取付姿勢，
外部振動，外部機械的拘束，
被試験機器の選択
6
JISに同じ
IDT
−
7. 一般的な
試験手順
及び注意
試験の準備，測定装置の選
択，入力の品質，タッピン
グ，引渡し前校正のチェッ
ク，試験順序，測定の中断
及び測定時間，異常及び故
障，再試験，フィルタなど
の設定，前処理，レンジ下
限値及びスパンの校正調
整，動作条件の設定，入力
／出力の関係，誤差の評価，
記号と単位，試験報告書及
び証拠書類
7.
JISに同じ
7.1 試験所
試験実施箇所に要求される
条件
7.1
JISに同じ
ただし，国家標準機関の
認定しか認めない。
MOD/
選択
IEC規格では試験所が国家標準機関の認定を受けることを要
求している。しかし，現在我が国では認定事業者の数も少な
く，また種類によっては認定の手法・体制が確立していない
ものもあるので，JISにおいては“JIS Z 9901〜JIS Z 9903（ISO
9000の翻訳規格）のいずれかについて4.11 検査，測定及び
試験装置の管理の要求事項を満足していること”を併記した。
認定制度の充実・確立の状況によってこの箇条を見直す。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1．項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT………………… 技術的差異がない。
− MOD/追加………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
1
3
C
1
8
0
5
-1
:
2
0
0
1
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− MOD/選択………… 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。
2．JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD……………… 国際規格を修正している。
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C 1805-1 : 2001
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 1805-1（プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−
第1部：一般的考察）原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
土 屋 喜 一
早稲田大学理工学部
（幹事）
○ 福 田 達 夫
横河電機株式会社
窪 田 明
通商産業省機械情報産業局
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院標準部
橋 本 進
財団法人日本規格協会
梅 田 浩 和
日石三菱株式会社
白 川 公 一
千代田化工建設株式会社
○ 鈴 木 国 夫
千代田化工建設株式会社
近 藤 久 男
株式会社キャトックス
○ 公 江 春 樹
株式会社島津製作所
○ 小野瀬 俊 宏
株式会社日立製作所
○ 鍋 田 栄 一
富士電機インスツルメンツ株式会社
○ 島 方 哲 也
株式会社山武
（事務局）
新 畑 隆 司
社団法人日本電気計測器工業会
○印は，小委員会委員を兼ねる。