C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 試験のための供試品 ·········································································································· 3
5 表記及び取扱説明書 ·········································································································· 3
6 備えるべき機能及び一般要求事項 ························································································ 3
7 環境試験，静電場試験及び無線周波試験 ··············································································· 5
7.1 一般事項 ······················································································································ 5
7.2 環境試験条件の測定の不確かさ ························································································ 6
7.3 静圧の影響 ··················································································································· 6
7.4 周囲温度，相対湿度及び静圧の限度値················································································ 7
7.5 温湿度の変化による影響の試験における順応 ······································································· 7
7.6 周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによる短縮試験 ··························································· 7
7.7 周囲温度による影響 ······································································································· 9
7.8 相対湿度による影響 ······································································································ 10
7.9 静電気放電による影響 ··································································································· 11
7.10 電源周波数磁界及び無線周波電磁界による影響 ································································· 11
8 無線周波エミッション及び商用電源への妨害 ········································································ 14
9 電気音響性能試験 ············································································································ 15
9.1 一般事項 ····················································································································· 15
9.2 校正点検周波数での指示値 ····························································································· 16
9.3 指向特性 ····················································································································· 16
9.4 音響信号を用いた周波数重み付け特性の試験 ······································································ 17
9.5 電気信号による周波数重み付け特性の試験 ········································································· 21
9.6 サウンドレベルメータのきょう（筐）体からの反射及びマイクロホンの周囲の回折の影響に対する
補正 ·································································································································· 22
9.7 自由音場又はランダム入射サウンドレベルを得るための補正値 ·············································· 23
9.8 レベル直線性 ··············································································································· 23
9.9 アンダーレンジ指示 ······································································································ 25
9.10 自己雑音 ···················································································································· 25
9.11 時間重み付け特性F及び時間重み付け特性Sの減衰時定数 ·················································· 25
9.12 時間重み付きサウンドレベルのトーンバースト応答 ··························································· 26
9.13 音響暴露レベル又は時間平均サウンドレベルのトーンバースト応答 ······································ 27
9.14 時間平均サウンドレベルメータの繰返しトーンバースト列に対する応答 ································ 27
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017) 目次
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9.15 過負荷指示 ················································································································· 28
9.16 C特性ピークサウンドレベル ························································································· 29
9.17 リセット ···················································································································· 29
9.18 電気出力端子 ·············································································································· 29
9.19 計時機能 ···················································································································· 29
9.20 チャンネル間のクロストーク ························································································· 30
9.21 電源 ·························································································································· 30
10 型式評価試験報告書 ······································································································· 30
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
（3）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，公益社団法人日本
騒音制御工学会（INCE/J）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS C 1509-2:2005は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 1509の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 1509-1 第1部：仕様
JIS C 1509-2 第2部：型式評価試験
JIS C 1509-3 第3部：定期試験（予定）
日本工業規格 JIS
C 1509-2：2018
(IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−
第2部：型式評価試験
Electroacoustics-Sound level meters-Part 2: Pattern evaluation tests
序文
この規格は，2013年に第2版として発行されたIEC 61672-2及びAmendment 1（2017）を基に，技術的
内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格である。ただし，追補（amendment）については，
編集し，一体とした。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 1509-1:2017で規定する時間重み付けサウンドレベルメータ，積分平均サウンドレベ
ルメータ又は積分サウンドレベルメータ（以下，機器という。）に対する要求事項に適合しているか否かの
確認に必要な試験及び試験方法について規定する。この規格は，多チャンネルサウンドレベルメータの各
チャンネルに必要に応じて適用する。この規格は，クラス1及びクラス2のサウンドレベルメータに適用
する。この規格の目的は，全ての試験機関が一致した方法を用いて，型式評価試験を行うことである。
注記1 この規格は，特に規定がない場合，JIS C 1509-1:2017及びIEC 61672-3:2013を参照する。
注記2 JIS C 1509-1:2005の規定事項に適合するために作成したサウンドレベルメータの型式評価試
験手順は，JIS C 1509-2:2005を用いる。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61672-2:2013，Electroacoustics−Sound level meters−Part 2: Pattern evaluation tests及び
Amendment 1:2017（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1508 騒音計のランダム入射及び拡散音場校正方法
注記 対応国際規格：IEC 61183，Electroacoustics−Random-incidence and diffuse-field calibration of
sound level meters
JIS C 1509-1:2017 電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−第1部：仕様
注記 対応国際規格：IEC 61672-1:2013，Electroacoustics−Sound level meters−Part 1: Specifications
JIS C 1515 電気音響−音響校正器
2
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
注記 対応国際規格：IEC 60942，Electroacoustics−Sound calibrators
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2010，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部：試験及び測定技術−TEM（横方向電磁界）導波管の
エミッション及びイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-20:2010，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing
and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)
waveguides
JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-6-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic
standards−Immunity for industrial environments
IEC 61094-1，Measurement microphones−Part 1: Specifications for laboratory standard microphones
IEC 61094-5，Measurement microphones−Part 5: Methods for pressure calibration of working standard
microphones by comparison
IEC 62585，Electroacoustics−Methods to determine corrections to obtain the free-field response of a sound
level meter
ISO/IEC Guide 98-3，Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM: 1995)
ISO/IEC Guide 99，International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
(VIM)
ISO 26101:2012，Acoustics−Test methods for the qualification of free-field environments
CISPR 16-1-1，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-1:
Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus
CISPR 16-1-2:2006，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Conducted
disturbances
CISPR 16-2-1:2010 (Ed. 2.1)，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods−Part 2-1: Methods of measurement of disturbances and immunity−Conducted disturbance
measurements
CISPR 16-2-3:2010 (Ed. 3.1)，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods−Part 2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance
3
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
measurements
CISPR 22:2008，Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods
of measurement
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 1509-1:2017，JIS C 61000-4-2:2012，JIS C 61000-4-3:2012，
JIS C 61000-4-6:2017，ISO/IEC Guide 98-3及びISO/IEC Guide 99による。
4
試験のための供試品
4.1
型式評価試験のために，サウンドレベルメータの製造事業者は，同一型式のサウンドレベルメータ
を3台以上供試品として提出する。試験機関は，試験のためにそのうちの2台の供試品を選ぶ。その2台
の供試品のうちの1台について，この規格の手順に従って全ての試験を行う。試験機関は，型式評価のた
めに，残りの1台の供試品についても全ての試験が必要か，又は限定した試験だけで十分かを判断する。
4.2
サウンドレベルメータの取扱説明書及び通常動作状態で不可欠な要素として取扱説明書に記載され
た全ての附属品を，3台のサウンドレベルメータとともに提出する。例えば，附属品としては，マイクロ
ホン延長装置又はケーブル及び周辺装置がある。
4.3
サウンドレベルメータの製造事業者がサウンドレベルメータにケーブルによって接続される装置を
供給している場合，その装置及びケーブルも提出する。
4.4
取扱説明書に記載された形式の校正済みの音響校正器及びその取扱説明書も提出する。音響校正器
の形式は，JIS C 1509-1:2017の5.2.2に従って，該当するクラスにおいて，JIS C 1515のクラスによるもの
でなければならない。
5
表記及び取扱説明書
5.1
サウンドレベルメータの表記は，JIS C 1509-1:2017の箇条8（表記）の要求事項に従って表記してい
ることを確認する。
5.2
取扱説明書には，JIS C 1509-1:2017によって要求されるサウンドレベルメータがもつ機能の全てに
ついての情報が記載されていることを確認する。
5.3
サウンドレベルメータが，5.1及び5.2の要求事項に適合していない場合，型式評価試験は行わない。
5.4
試験の後，受容限度値を超えていないこと，及び全ての情報が適切に記載されていることを確認す
る。
6
備えるべき機能及び一般要求事項
6.1
サウンドレベルメータは，JIS C 1509-1に要求事項のある機能をもっている場合，この規格による試
験を省略してはならない。型式が証明されたサウンドレベルメータが設計変更され，新たに型式の証明の
依頼が試験機関にあった場合は，試験機関の判断によって，設計変更による影響のない電気音響性能に関
する試験を繰り返す必要はない。
6.2
時間重み付けサウンドレベルメータでは，時間重み付け特性FによるA特性時間重み付きサウンド
レベルを表示でき，かつ，過負荷状態及びアンダーレンジ状態を指示できるものであることを確認する。
6.3
積分平均サウンドレベルメータでは，A特性時間平均サウンドレベルを表示でき，かつ，過負荷状
態及びアンダーレンジ状態を指示できることを確認する。
4
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
6.4
積分サウンドレベルメータでは，A特性音響暴露レベルを表示でき，かつ，過負荷状態及びアンダ
ーレンジ状態を指示できることを確認する。
6.5
サウンドレベルメータの全ての表示装置が，JIS C 1509-1:2017の5.18.2による分解能で，サウンド
レベル又は音響暴露レベルを表示できることを確認する。また，表示範囲が，JIS C 1509-1:2017の5.18.2
による値以上であることを確認する。
6.6
サウンドレベルメータが時間重み付きサウンドレベルの最大値若しくはピークサウンドレベル，又
はその両者を測定できる場合は，レベル保持機能を備えていることを確認する。
6.7
クラス1のサウンドレベルメータでは，周波数重み付け特性Cを備えていることを確認する。
6.8
サウンドレベルメータがC特性ピークサウンドレベルを表示できる場合は，C特性時間重み付きサ
ウンドレベル又はC特性時間平均サウンドレベルも表示できることを確認する。
6.9
複数のレベルレンジをもつサウンドレベルメータでは，レベルレンジの重なりが，JIS C 1509-1:2017
の5.6.9の要求事項に適合することを確認する。
6.10 複数の測定量が表示できるサウンドレベルメータでは，表示する測定量が何であるかを明確に示す
手段を備えていることを確認する。
6.11 サウンドレベルメータが6.2〜6.10の要求事項に適合していない場合，そのサウンドレベルメータは，
JIS C 1509-1:2017の要求事項に適合していないため，型式評価試験は行わない。
6.12 全ての型式評価試験において，サウンドレベルメータの構成は，全ての必要な附属品を含み，取扱
説明書に記載された通常動作状態とする。ウインドスクリーンが通常動作状態で不可欠な要素であるか，
サウンドレベルメータがマイクロホンにウインドスクリーンを装着した状態でJIS C 1509-1:2017の要求
事項に適合する旨を取扱説明書に記載する場合は，ウインドスクリーンを含んだ構成とする。試験は，取
扱説明書に記載する形式のウインドスクリーンを装着して行う。サウンドレベルメータがJIS C
1509-1:2017に適合するために取扱説明書に記載された全ての構成について，試験を行う。
6.13 サウンドレベルメータがオプションの機能を含んだ状態でも，JIS C 1509-1:2017に適合する旨を取
扱説明書に記載されている場合には，オプションの機能を組み合わせた状態でも，関連する要求事項への
適合性を確認するための試験を行う。
6.14 サウンドレベルメータが電気出力端子をもち，試験機関が電気出力端子を表示装置の代替えとして
利用する場合，試験機関は，印加する音響信号又は電気入力信号のレベル変化によって生じる，表示装置
が指示する信号レベルの変化と，出力端子での信号レベルの変化との差が，JIS C 1509-1:2017の5.19.4の
要求事項に適合することを確認する。多チャンネルシステムでは，チャンネルごとに確認する。複数の出
力端子をもち，試験に用いるための出力端子が取扱説明書に指定されている場合は，型式評価試験では，
指定された出力端子を用いることが望ましい。
6.15 全ての試験において，サウンドレベルメータは，取扱説明書において推奨する電源で駆動する。
6.16 試験のために電源を供給する前に，サウンドレベルメータを周囲の環境条件に順応させる。
6.17 環境条件の変化による影響に関する試験は，電気音響性能に関する試験を行う前に行うことが望ま
しい。
6.18 サウンドレベルメータが複数の信号処理チャンネルをもつ場合は，異なる信号処理手法を利用した
チャンネルごとに，型式評価試験を行う。全てのチャンネルの機能が同じであるシステムでは，試験機関
の判断によって，試験するチャンネル数を減らしてもよい。多チャンネルシステムでは，試験が必要なチ
ャンネルの数は，それぞれのマイクロホンが信号を供給する各チャンネルの入力について，どのチャンネ
ルが同一の手法を利用して信号を処理しているかを考慮して決定することが望ましい。チャンネルの数及
5
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
びチャンネルの選択は，取扱説明書に記載されたそれぞれのチャンネルで，採用している信号処理手法の
違いを考慮して，決定することが望ましい。同一機能に対して，複数のチャンネルを試験する手順が取扱
説明書に記載されている場合は，その手順に従う。
注記 多チャンネルサウンドレベルメータ（例えば，表示は並列にされるが，ディジタル化したデー
タを時分割処理する複数の個別の信号入力をもつサウンドレベルメータ）では，多くの場合，
複数のチャンネルの機能を同一処理に設定してそれらの表示を読むか，又はそれらの表示の比
較を可能とする特別の試験設定手順に従ってチャンネルの機能を切り換えて，同一の機能に対
して複数のチャンネルを試験することで対応することができる。
6.19 JIS C 1509-1:2017の要求事項への適合性は，次の基準を満たした場合に実証することができる。
a) 設計目標値からの偏差が，受容限度値を超えない。
b) 95 %の包含確率で，測定の不確かさがJIS C 1509-1:2017の附属書B（測定の不確かさの最大許容値）
による測定の不確かさの最大許容値を超えない。
これらの基準を用いた適合性の評価例は，JIS C 1509-1:2017の附属書C（この規格の仕様に対する適合
性の評価例）を参照する。
6.20 試験機関が試験に用いる装置は，該当する量について，国家標準へのトレーサビリティをもって校
正したものでなければならない。
6.21 型式評価を行う試験機関は，ISO/IEC Guide 98-3の指針に従って，全ての測定について測定の不確
かさを求める。実際の測定の不確かさは，95 %の包含確率を用いて求める。特定の試験における実際の測
定の不確かさの計算は，次の不確かさを考慮する。
− 音響校正器を含む，試験を実施するために用いる個々の試験装置の校正に起因する不確かさ
− 環境の影響又は補正に起因する不確かさ
− 印加する信号に存在する小さな誤差に起因する不確かさ
− 測定結果の再現性に関連する不確かさ。試験機関が1回だけ測定を行う場合，その試験機関は，総合
的な測定の不確かさへの偶然性による寄与を推定することになる。推定は，同種のサウンドレベルメ
ータの性能に対して過去に行われた数回の測定に基づいて求める。
− 試験中の騒音計の表示装置の分解能に関する不確かさ。信号レベルを0.1 dBの分解能で指示するディ
ジタル表示装置の不確かさ成分は，−0.05 dB〜＋0.05 dBの一様分布として考慮する。
− 自由音場試験設備内にサウンドレベルメータを取り付ける装置に関する不確かさ
− 理想的な自由音場と自由音場試験設備内の音場との違いによる偏差に関する不確かさ
− 測定データに適用する各補正に関する不確かさ
6.22 測定の不確かさが測定の不確かさの最大許容値を超える場合，試験結果は，要求事項への適合性を
実証するために用いてはならない。したがって，型式評価試験は行うことができない。
6.23 必要に応じて，試験機関は，型式評価試験を行うために取扱説明書に記載された推奨事項を利用す
る。
7
環境試験，静電場試験及び無線周波試験
7.1
一般事項
7.1.1
この箇条による試験を行う前に，校正点検周波数でのA特性サウンドレベルの指示値を4.4による
音響校正器を用いて点検する。一連の試験の実施中に，この調整を行ってはならない。必要な場合，基準
環境条件でサウンドレベルを指示するように調整する。多チャンネルサウンドレベルメータでは，それぞ
6
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
れのチャンネルの指示値を点検する。
7.1.2
指示値の点検を行ったときの環境条件を記録する。
7.1.3
音響校正器の取扱説明書に記載された方法及び校正データに従って，音響校正器が発生する音の音
圧レベルへの環境条件の影響を考慮する。環境条件の影響は，基準環境条件で発生する音の音圧レベルを
基準として評価する。
7.1.4
環境試験では，サウンドレベルメータのマイクロホンに既知の音圧レベルを加えることのできる音
響校正器を用いる。クラス1のサウンドレベルメータでは，JIS C 1515のクラスLS又はクラス1による
音響校正器を用いる。クラス2のサウンドレベルメータでは，JIS C 1515のクラスLS，クラス1又はクラ
ス2による音響校正器を用いる。音響校正器が1 kHzの公称周波数に対して適用可能なクラスの要求事項
に適合する場合，環境試験は1 kHzで行う。音響校正器のカプラ内に発生する音の音圧レベルについての
静圧，周囲温度及び相対湿度による影響は，試験による環境条件の全範囲において，既知でなければなら
ない。
注記 型式評価試験による環境条件の範囲は，クラスLSの音響校正器に対するJIS C 1515による範
囲を超える。
7.1.5
サウンドレベルメータは，基準レベルレンジにおいて，時間重み付きサウンドレベル，時間平均サ
ウンドレベル又は音響暴露レベルの代表的な測定を行うように設定する。また，サウンドレベルメータは，
周波数重み付け特性Aに設定する。
7.1.6
各試験条件において，音響校正器からの音響信号に対してサウンドレベルメータが指示する時間重
み付きサウンドレベル，時間平均サウンドレベル又は音響暴露レベルの値を記録する。必要な場合，時間
平均サウンドレベルは，JIS C 1509-1:2017の式(6)によって，音響暴露レベルの指示値及びサウンドレベル
メータの表示する経過時間から求める。
7.2
環境試験条件の測定の不確かさ
静圧の実際の測定の不確かさは，0.2 kPaを超えてはならない。周囲温度及び相対湿度の実際の測定の不
確かさは，それぞれ，0.3 ℃及び相対温度の値で4 %を超えてはならない。これらの測定の不確かさは，
95 %の包含確率で求める。
7.3
静圧の影響
7.3.1
静圧の影響の測定中の周囲温度は，基準周囲温度に対して，±2.0 ℃に維持しなければならない。
基準静圧での相対湿度は，基準相対湿度に対し相対湿度の値で＋20 %〜−10 %の範囲に維持しなければな
らない。
7.3.2
実務的な理由から，相対温度は，基準静圧における値とする。サウンドレベルメータが置かれた試
験装置内の減圧又は加圧によって，試験装置内の相対湿度は変化するが，この影響についての補正は行わ
ない。
7.3.3
静圧による影響は，基準静圧及びその他の七つの静圧で試験する。各静圧で，7.1.4による音響校
正器及びサウンドレベルメータ（又は構成要素）は，サウンドレベルの指示値を記録する前に，順応させ
るため，10分以上放置する。静圧による影響の試験では，順応させている間，音響校正器は，サウンドレ
ベルメータのマイクロホンと結合させた状態のままとする。サウンドレベルメータの電源は，供給したま
までもよいし，遠隔操作によって電源スイッチを遮断してもよい。
7.3.4
JIS C 1509-1:2017の6.2（静圧）による最低静圧と最高静圧との間にほぼ等間隔に配置した公称静
圧において，サウンドレベルを2回測定する。このとき，2回の静圧の測定値の差は，1 kPa以下でなけれ
ばならない。
7
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
なお，1回目の測定は，最低静圧から，選択した公称静圧値を経て最高静圧までの加圧中に行い，2回目
の測定は，最高静圧から，選択した公称静圧値を経て最低静圧までの減圧中に行う。また，最高静圧にお
けるサウンドレベルの指示値を1回だけ記録する。
7.3.5
試験条件の下での音響校正器が発生する音の音圧レベルと基準環境条件の下での音響校正器が発
生する音の音圧レベルとの差がある場合，その差に基づき，サウンドレベルの指示値を補正する。
7.3.6
7.3.3及び7.3.4の静圧試験条件で，基準静圧での最初のサウンドレベルの指示値からの，サウンド
レベルの指示値の偏差は，JIS C 1509-1:2017の6.2（静圧）による受容限度値を超えないことを確認する。
7.4
周囲温度，相対湿度及び静圧の限度値
7.5の順応に関する要求事項を含む，周囲温度及び相対湿度による影響の各試験において，周囲温度は規
定温度に対して±1.0 ℃，相対湿度は規定相対湿度に対して相対湿度の値で±5 %，周囲の静圧の最大値と
最小値との差は，6.0 kPaを超えてはならない。
7.5
温湿度の変化による影響の試験における順応
7.5.1
サウンドレベルメータの周囲温度及び相対湿度の変化による影響を試験するために，7.1.4による
音響校正器及びサウンドレベルメータ（又は構成要素）を，環境試験装置内に置く。
7.5.2
周囲温度及び相対湿度の変化による影響の試験では，周囲の環境条件に順応させている間，音響校
正器は，サウンドレベルメータとマイクロホンとを結合せず，音響校正器及びサウンドレベルメータの電
源スイッチは遮断する。
7.5.3
音響校正器及びサウンドレベルメータを基準環境条件に順応させるために，初期順応時間として
12時間以上放置する。
7.5.4
試験機関は，短い順応時間でも十分であるという確認が得られない限り，基準環境条件を除く全て
の試験条件では，初期順応時間に加え，各測定条件を順応させるために，音響校正器及びサウンドレベル
メータを更に7時間以上放置する。
7.5.5
順応に要する時間が経過した後，音響校正器をサウンドレベルメータのマイクロホンに結合し，両
方の装置に電源を供給する。
7.5.6
試験機関は，環境試験装置内の周囲温度及び相対湿度に影響を与えない，音響校正器とサウンドレ
ベルメータのマイクロホンとを結合する装置を用いてもよい。このような装置を利用する場合，マイクロ
ホンを結合することによる圧力平衡に必要な，取扱説明書に記載された時間を経過した後で，サウンドレ
ベルを記録してもよい。このような装置をもたない場合は，試験を開始する前に，更に3時間以上の順応
時間が必要となる。
7.6
周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによる短縮試験
7.6.1
周囲温度及び相対湿度による影響を確認するための時間の短縮及び労力の削減のために，まず，周
囲温度と相対湿度との特定の組合せによる短縮試験を行う。
7.6.2
周囲温度と相対湿度との組合せによる短縮試験では，受容限度値は，JIS C 1509-1:2017の6.3（周
囲温度）及び6.4（湿度）による値よりも狭める。規定する全ての試験条件で，サウンドレベルメータがこ
の狭めた受容限度値を満たす場合には，JIS C 1509-1:2017の6.3及び6.4の要求事項に適合するとみなす。
この場合，いかなる追加試験も不要である。規定する試験条件のいずれかで，サウンドレベルメータが狭
めた受容限度値を満たさない場合には，JIS C 1509-1:2017の要求事項への適合性を判定するために，周囲
温度及び相対湿度の追加試験を行う。この追加試験は，7.7及び7.8による。
7.6.3
7.5による順応の手順の後，周囲温度と相対湿度との特定の組合せにおける，7.1.4による音響校正
器を用いたときのサウンドレベルの指示値を記録する。試験条件の設定のとき，環境試験装置内の周囲温
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C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
度の急激な変化は，避けることが望ましい。環境試験装置内の温度が変化しているとき，結露しないよう
に注意することが望ましい。周囲温度が変化するときに，環境試験装置内の相対湿度が規定する範囲を超
えないことを確認するために，相対湿度を監視することが重要である。
注記 7.6.4及び7.6.5の周囲温度と相対湿度との組合せは，利用可能な環境試験装置での露点を考慮
して選択する。また，この組合せは，クラス1及びクラス2のサウンドレベルメータの一般的
な用途での環境条件の範囲を反映させたものでもある。
7.6.4 全ての構成要素がJIS C 1509-1:2017の6.3.1に規定する周囲温度及び相対湿度の広い範囲において，
動作可能であるサウンドレベルメータの試験条件は，次による。基準周囲温度及び基準相対湿度はJIS C
1509-1:2017による。
a) クラス1のサウンドレベルメータの場合。
− 基準環境条件
− 周囲温度−10 ℃，相対湿度65 %
− 周囲温度＋5 ℃，相対湿度25 %
− 周囲温度＋40 ℃，相対湿度90 %
− 周囲温度＋50 ℃，相対湿度50 %
b) クラス2のサウンドレベルメータの場合。
− 基準環境条件
− 周囲温度0 ℃，相対湿度30 %
− 周囲温度＋40 ℃，相対湿度90 %
7.6.5
JIS C 1509-1:2017の6.3.2に規定する環境条件が管理された室内だけで動作する旨が取扱説明書に
記載されたサウンドレベルメータの構成要素の試験条件は，次による。
− 基準環境条件
− 周囲温度＋5 ℃，相対湿度25 %
− 周囲温度＋35 ℃，相対湿度80 %
7.6.6
環境条件範囲の異なる構成要素の組合せで構成するサウンドレベルメータでは，短縮試験は，次の
3段階に分けて行う。
a) 第1段階 広い範囲の環境条件で動作可能な構成要素［例えば，マイクロホン及び前置増幅器（プリ
アンプ）］と管理された環境条件だけで動作が可能な構成要素（例えば，コンピュータ）とを，基準環
境条件に置く。
b) 第2段階 広い範囲の環境条件に対応する構成要素を7.6.4による環境条件の組合せ（クラス1のサウ
ンドレベルメータでは4種類，クラス2のサウンドレベルメータでは2種類）に置き，管理された環
境条件に対応する構成要素は，基準環境条件のままとする。
c) 第3段階 管理された環境条件に対応する構成要素を7.6.5による2種類の環境条件の組合せに置き，
広い範囲の環境条件に対応する構成要素は，基準環境条件に置く。マイクロホンを基準環境条件に置
いている場合，音響校正器からの音響信号に代えて等価な電気信号を用いてもよい。そのとき，実測
した測定の不確かさは，不確かさの最大許容値を超えてはならない。
各試験条件において，順応の手順は，7.5による。また，音響校正器を用いたときのそれぞれの段階での
サウンドレベルの指示値を記録する。
7.6.7
全ての試験において，それぞれの試験条件の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルと基準環境
条件の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルとの差がある場合，その差に基づき，サウンドレベルの
9
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
指示値を補正する。
7.6.8
構成要素が分離しないサウンドレベルメータでは，各試験条件で，基準周囲温度及び基準相対湿度
でのサウンドレベルの指示値からの，サウンドレベルの指示値の最も大きい偏差の絶対値を求める。環境
条件範囲が異なる構成要素から成るサウンドレベルメータでは，7.6.6のa)（第1段階）で測定したサウン
ドレベルに対する7.6.6のb)（第2段階）で測定したサウンドレベルの最も大きい偏差の絶対値と，7.6.6
のa)（第1段階）で測定したサウンドレベルに対する7.6.6のc)（第3段階）で測定したサウンドレベル
の最も大きい偏差の絶対値との和を求める。
7.6.9
7.6.8で求めた最も大きい偏差の絶対値，又は最も大きい偏差の絶対値の和は，クラス1のサウン
ドレベルメータでは0.7 dB，クラス2のサウンドレベルメータでは1.2 dBの狭めた受容限度値を超えては
ならない。
7.6.10 周囲温度及び相対湿度のサウンドレベルメータの性能に与える影響についての上記の試験に加え，
温度が上昇したときのレベル直線性偏差に与える影響について，9.8.2による試験も行う。
7.7
周囲温度による影響
7.7.1
サウンドレベルメータが，7.6の短縮試験の要求事項に適合することができない場合，次の周囲温
度の影響に対する試験を行う。相対湿度は，基準相対湿度とする。周囲温度が変化するときに，相対湿度
が規定する範囲を超えないことを確認するために，環境試験装置内の相対湿度を監視することが重要であ
る。試験条件の設定に当たって，環境試験装置内の周囲温度の急激な変化は，避けることが望ましい。環
境試験装置内の温度が変化しているとき，結露しないように注意することが望ましい。
7.7.2
全ての構成要素が，JIS C 1509-1:2017の6.3（周囲温度）による広い温度範囲で動作可能なサウン
ドレベルメータでは，次の五つの周囲温度について，7.1.4による音響校正器を用いたときのサウンドレベ
ルの指示値を記録する。
− 基準周囲温度
− JIS C 1509-1:2017の6.3による適用可能な最低周囲温度
− JIS C 1509-1:2017の6.3による適用可能な最高周囲温度
− ＋15 ℃
− ＋30 ℃
各試験条件において，順応の手順は，7.5による。
7.7.3 環境条件範囲の異なる構成要素で構成するサウンドレベルメータでは，次の3段階に分けて周囲温
度の影響を試験する。
a) 第1段階 全ての構成要素を，基準周囲温度に置く。
b) 第2段階 広い範囲の環境条件に対応する構成要素を次の条件に置き，管理された環境条件に対応す
る構成要素は，基準周囲温度のままとする。
− JIS C 1509-1:2017の6.3による最低周囲温度
− JIS C 1509-1:2017の6.3による最高周囲温度
− ＋15 ℃
− ＋30 ℃
c) 第3段階 管理された環境条件に対応する構成要素をJIS C 1509-1:2017の6.3による最低周囲温度及
び最高周囲温度に置き，広い範囲の環境条件に対応する構成要素は，基準周囲温度のままとする。
各試験条件において，順応の手順は，7.5による。音響校正器を用いたときのそれぞれの段階でのサウン
ドレベルの指示値を記録する。
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C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
7.7.4
全ての試験において，それぞれの試験条件の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルと基準環境
条件の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルとの差がある場合，その差に基づき，サウンドレベルの
指示値を補正する。
7.7.5
構成要素が分離しないサウンドレベルメータでは，各試験条件で，基準周囲温度でのサウンドレベ
ルの指示値からの，サウンドレベルの指示値の最も大きい偏差の絶対値を求める。環境条件範囲が異なる
構成要素から成るサウンドレベルメータでは，7.7.3のa)（第1段階）で測定したサウンドレベルに対する
7.7.3のb)（第2段階）で測定したサウンドレベルの最も大きい偏差の絶対値と，7.7.3のa)（第1段階）
で測定したサウンドレベルに対する7.7.3のc)（第3段階）で測定したサウンドレベルの最も大きい偏差
の絶対値との和を求める。
7.7.6
7.7.5で求めた最も大きい偏差の絶対値，又は最も大きい偏差の絶対値の和は，JIS C 1509-1:2017
の6.3（周囲温度）による受容限度値を超えないことを確認する。
7.8
相対湿度による影響
7.8.1
サウンドレベルメータが，7.6による短縮試験の要求事項に適合することができない場合，次の相
対湿度の影響に対する試験を行う。
7.8.2
相対湿度の影響について，試験中の静圧と規定する静圧との偏差は，7.4による限度値を超えては
ならない。7.8.3及び7.8.4による目標相対湿度からの，実際の相対湿度の偏差は，7.4による限度値を超え
てはならない。
7.8.3
全ての構成要素が，JIS C 1509-1:2017の6.4（湿度）による広い相対湿度範囲で動作可能なサウン
ドレベルメータでは，次の四つの周囲温度と相対湿度との組合せについて，7.1.4による音響校正器を用い
たときのサウンドレベルの指示値を記録する。
− 基準周囲温度における基準相対湿度
− ＋40 ℃の周囲温度におけるJIS C 1509-1:2017の6.4による最低相対湿度
− ＋40 ℃の周囲温度におけるJIS C 1509-1:2017の6.4による最高相対湿度
− ＋40 ℃の周囲温度における70 %の相対湿度
各試験条件において，順応の手順は，7.5による。
7.8.4 環境条件範囲の異なる構成要素を構成するサウンドレベルメータでは，次の3段階に分けて相対湿
度の影響を試験する。
a) 第1段階 全ての構成要素を，基準相対湿度及び基準周囲温度に置く。
b) 第2段階 広い範囲の環境条件に対応する構成要素を周囲温度40 ℃及び次の条件に置き，管理され
た環境条件に対応する構成要素は，基準相対湿度及び基準周囲温度のままとする。
− JIS C 1509-1:2017の6.4による最低相対湿度
− JIS C 1509-1:2017の6.4による最高相対湿度
− 70 %の相対湿度
c) 第3段階 管理された環境条件に対応する構成要素を周囲温度35 ℃及びJIS C 1509-1:2017の6.4に
よる最低相対湿度及び最高相対湿度に置き，広い範囲の環境条件に対応する構成要素は，基準相対湿
度及び基準周囲温度のままとする。
各試験条件において，順応の手順は，7.5による。音響校正器を用いたときのそれぞれの条件の下でのサ
ウンドレベルの指示値を記録する。
7.8.5
全ての試験において，それぞれの試験条件の下で音響校正器が発生する音圧レベルと基準環境条件
の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルとの差がある場合，その差に基づき，サウンドレベルの指示
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C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
値を補正する。
7.8.6
構成要素が分離しないサウンドレベルメータでは，各試験条件で，基準相対湿度でのサウンドレベ
ルの指示値からの，サウンドレベルの指示値の最も大きい偏差の絶対値を求める。環境条件範囲が異なる
構成要素から成るサウンドレベルメータでは，7.8.4のa)（第1段階）で測定したサウンドレベルに対する
7.8.4のb)（第2段階）で測定したサウンドレベルの最も大きい偏差の絶対値と，7.8.4のa)（第1段階）
で測定したサウンドレベルに対する7.8.4のc)（第3段階）で測定したサウンドレベルの最も大きい偏差
の絶対値との和を求める。
7.8.7
7.8.6で求めた最も大きい偏差の絶対値，又は最も大きい偏差の絶対値の和は，JIS C 1509-1:2017
の6.4（湿度）による受容限度値を超えないことを確認する。
7.9
静電気放電による影響
7.9.1
サウンドレベルメータの動作に対する静電気放電の影響を判定するために必要な試験装置は，JIS
C 61000-4-2:2012の箇条6（ESD発生器）によるものを用いる。試験セットアップ及び試験手順は，JIS C
61000-4-2:2012の箇条7（試験セットアップ）及び箇条8（試験手順）による。
7.9.2
サウンドレベルメータを，予備試験で決定した静電気放電に対してイミュニティが最も小さくなる
ように置いて動作させて，静電気放電試験を行う。サウンドレベルメータが装置接続用のコネクタをもっ
ているが通常の動作モードでは接続する必要がない場合，静電気放電試験中，ケーブルは接続しない。複
数の信号処理チャンネルをもつサウンドレベルメータでは，2チャンネル以上にマイクロホンを装着する。
7.9.3
コネクタの表面又はサウンドレベルメータのきょう（筐）体の表面よりも奥にあるピンに対しては，
放電は行わない。
7.9.4
JIS C 1509-1:2017の6.5.1によって，それぞれの極性で最大となる電圧の接触放電及び気中放電を，
それぞれ10回ずつ印加する。放電は，試験機関が適切と判断した，サウンドレベルメータの任意の点に加
える。ただし，放電を加える点は，通常の使用状態で触れることができる点に制限する。使用者がサウン
ドレベルメータの内部に触れる可能性がある場合は，そのときの静電気放電による損傷についての注意が
取扱説明書に記載されていない場合，それらの点も試験の対象に含める。放電を繰り返す前に，サウンド
レベルメータの帯電を完全に除いておくことが望ましい。
7.9.5
放電後，サウンドレベルメータは，放電前と同じ動作状態に復帰することを確認する。放電前にサ
ウンドレベルメータに格納していたデータは，放電前の状態から変化しないことを確認する。ただし，放
電を加えたことによるサウンドレベルメータの性能の非量的変化は，状態の変化とはみなさない。
7.10 電源周波数磁界及び無線周波電磁界による影響
7.10.1 音響信号
7.10.1.1 音響信号は，印加する電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対して，影響を与えないような方法
で，マイクロホンに加えなければならない。また，音響信号は，サウンドレベルメータの通常勤作状態及
びサウンドレベルメータの電源周波数磁界又は無線周波電磁界によるイミュニティに対して影響を与えな
いような方法で，加えなければならない。
7.10.1.2 JIS C 1509-1:2017の6.6.6による特性の音響信号を，A特性時間平均サウンドレベル又は時間重
み付け特性FによるA特性重み付きサウンドルベルの指示値が，74±1 dBとなるように調整する。時間平
均サウンドレベルで指示する場合は，平均時間も記録する。複数のレベルレンジをもつ場合は，レベルレ
ンジの指定する下限値が70 dB以下で，かつ，最も70 dBに近いレベルレンジとする。サウンドレベルメ
ータが音響暴露レベルだけを指示する場合，時間平均サウンドレベルは，JIS C 1509-1:2017の式(6)を用い
て算出することが望ましい。
12
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
7.10.2 電源周波数磁界試験
7.10.2.1 電源周波数磁界による影響の試験では，磁界の強さが実効値80 A/mの一様な交流磁界の発生が
可能な試験装置を用いる。その試験装置は，交流磁界中に，サウンドレベルメータ全体又は取扱説明書に
記載する構成要素を暴露できるものを用いる。交流磁界の周波数は，50 Hz又は60 Hzとする。磁界の強
さの実際の測定の拡張不確かさは，8 A/m以下でなければならない。
7.10.2.2 サウンドレベルメータは，電源周波数磁界に対するイミュニティが最小となる旨が取扱説明書に
記載されている向きに置く。JIS C 1509-1:2017の要求事項に適合するために，マイクロホンに延長ケーブ
ルを必要とするサウンドレベルメータでは，電源周波数磁界の試験は，マイクロホン部分も含めて行う。
7.10.2.3 交流磁界による影響の試験を開始する前に，マイクロホンに7.10.1.2による音響信号を加え，A
特性サウンドレベルの指示値を記録する。サウンドレベルメータを交流磁界に暴露して，マイクロホンに
同じ音響信号を加え，サウンドレベルの指示値を記録する。暴露の時間は，10秒以上とする。交流磁界に
暴露する前のA特性サウンドレベルの指示値からの，A特性サウンドレベルの指示値の偏差を求める。
注記 JIS C 1509-1:2017の附属書B（測定の不確かさの最大許容値）には，磁界の強さの測定の不確
かさの寄与は含んでいない。
7.10.2.4 7.10.2.3で求めた偏差は，JIS C 1509-1:2017の6.6.7による受容限度値を超えないことを確認する。
7.10.3 無線周波電磁界試験
7.10.3.1 無線周波電磁界によるサウンドレベルメータの動作への影響の試験では，JIS C 61000-4-3:2012
の箇条6（試験装置）による試験装置を用いる。無線周波電磁界に対するイミュニティの試験に用いる電
波無響室の特性は，JIS C 61000-4-3:2012の附属書C（電波無響室）を参照する。無線周波電磁界を発生さ
せるアンテナは，JIS C 61000-4-3:2012の附属書B（電磁界発生アンテナ）を参照する。試験設備内の無線
周波電磁界の均一性の手順は，JIS C 61000-4-3:2012の6.2（電界校正）による。試験セットアップ及び試
験手順は，JIS C 61000-4-3:2012の箇条7（試験セットアップ）及び箇条8（試験手順）による。
JIS C 61000-4-3:2012による試験方法の代わりに，イミュニティ試験にTEM（横方向電磁界）導波管の
イミュニティ試験を用いてもよい。TEM導波管に対する要求事項は，JIS C 61000-4-20に，試験方法は，
JIS C 61000-4-20の附属書B（TEM導波管によるイミュニティ試験）による。試験に用いる試験装置に対
する性能要求事項は，試験周波数範囲及び周波数刻みを含んで変更しない。
7.10.3.2 サウンドレベルメータを取扱説明書に記載された通常動作状態に設定して，無線周波電磁界によ
る影響の試験を行う。サウンドレベルメータがマイクロホンをケーブルで接続するように構成されている
場合は，サウンドレベルメータのきょう（筐）体中央部の上方250 mmの位置にマイクロホンを置く。ケ
ーブルの長さが250 mmを超える場合，ケーブルが8の字を描くように折り畳む。折り畳んだケーブルの
長さが等しくなるようにして偶数回折り返し，折り返しの各端部及び中央を結束する。サウンドレベルメ
ータは，まず，取扱説明書に記載された基準の向きを，無線周波電磁界を放射するアンテナの主軸と一致
させる。
7.10.3.3 サウンドレベルメータが接続装置又はケーブルを接続する端子をもつ場合は，全ての接続可能な
装置及びケーブルを接続して無線周波電磁界による影響を試験する。ケーブルは，取扱説明書に記載され
た推奨の長さとする。サウンドレベルメータの製造事業者がサウンドレベルメータにケーブルで接続する
装置を提供していない場合，全てのケーブルは終端せず，JIS C 61000-4-3:2012の7.3（配線の処理）によ
って配置する。サウンドレベルメータに接続する装置を提供している場合は，全ての装置を互いに接続し
た状態で，無線周波電磁界の影響を試験する。
7.10.3.4 同じ接続端子に複数の装置が接続可能な場合，無線周波電磁界に対するイミュニティが最小とな
13
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
る旨が取扱説明書に記載されている構成で，無線周波電磁界による影響を試験する。イミュニティがこの
構成と同等以上となるその他の構成が，一覧として取扱説明書に指定されている場合がある。試験を行っ
た構成がJIS C 1509-1:2017の6.6（電源周波数磁界及び無線周波電磁界）の要求事項に適合する場合，取
扱説明書の一覧に記載された構成の試験は，行わなくてもよい。
7.10.3.5 グループZの携帯形サウンドレベルメータでは，無線周波電磁界の試験中，JIS C 61000-4-6:2017
によって，必要に応じて携帯する附属品又はキーボードの周辺に擬似手を配置する。
7.10.3.6 電界強度の実効値（無変調時）は，JIS C 1509-1:2017の6.6.4による。変調信号の搬送波の周波
数は，26 MHz〜500 MHzの範囲では，4 %以下の増分で変化させる。500 MHz〜1 GHzの範囲及び1.4 GHz
〜2.7 GHzの範囲の周波数では，周波数の増分は2 %以下とする。電界強度の実効値は，目標とする無線周
波電磁界の電界強度以上とし，＋40 %を超えてはならない。
注記 周波数の増分2 %又は4 %とは，直前の信号の周波数に対する次の信号の周波数を，それぞれ，
1.02又は1.04の比率で増加させることを意味する。JIS C 61000-4-3:2012の8.2（試験の実施）
では，搬送波の周波数の増分を1 %以下と規定しているが，この規格の目的から，2 %又は4 %
の周波数の増分が適切である。
7.10.3.7 無線周波電磁界による影響の試験を開始する前に，7.10.1.2による音響信号をサウンドレベルメ
ータに加え，A特性サウンドレベルの指示値を記録する。各搬送波の周波数で，マイクロホンに同じ音響
信号を加え，A特性サウンドレベルの指示値を記録する。各搬送波の周波数での時間平均サウンドレベル
（又は音響暴露レベル）は，各測定開始時にリセットしてから測定する。測定時間は，無線周波電磁界の
有無にかかわらず，10秒以上とする。
7.10.3.8 無線周波電磁界に暴露する前のA特性サウンドレベルの指示値からの，A特性サウンドレベルの
指示値の偏差は，JIS C 1509-1:2017の6.6.7による受容限度値を超えないことを確認する。
注記 JIS C 1509-1:2017の附属書B（測定の不確かさの最大許容値）には，電界強度の測定の不確か
さの寄与は含まれていない。
7.10.3.9 JIS C 1509-1:2017の6.6.4及び6.6.5によるよりも強い電界強度で，サウンドレベルメータが，JIS
C 1509-1:2017の6.6の要求事項に適合することが可能である旨が取扱説明書に記載されている場合，取扱
説明書に記載されている最も強い電界強度で，無線周波電磁界による影響に対する全ての試験を繰り返す。
7.10.3.10 7.10.3.6の離散的な周波数での試験は，JIS C 1509-1:2017の6.6.4及び6.6.5による範囲内の全て
の搬送波の周波数において，JIS C 1509-1:2017の6.6の要求事項への適合性を除外するものではない。
7.10.3.6による二つの連続する搬送波の周波数の間で，JIS C 1509-1:2017の6.6.7による受容限度値を超え
る指示値が発生する可能性がある場合，その他の搬送波の周波数でも試験を行う。
7.10.3.11 7.10.3.2〜7.10.3.5による構成を維持したまま，その他の一つ又はそれ以上の測定平面内におい
て，無線周波電磁界による影響を測定するために，7.10.3.6〜7.10.3.10の試験を繰り返す。その他の測定平
面は，試験装置の位置決めの範囲内で，基準の向きでの主要平面に対して，おおよそ直交させる。無線周
波電磁界に暴露する前のA特性サウンドレベルの指示値からの，A特性サウンドレベルの指示値の偏差は，
JIS C 1509-1:2017の6.6.7による受容限度値を超えないことを確認する。
7.10.3.12 サウンドレベルメータは，無線周波電磁界に暴露しても，無線周波電磁界に暴露する前と同じ
状態で動作を続けなければならない。
7.10.3.13 サウンドレベルメータは，サウンドレベルが74 dB未満であってもJIS C 1509-1:2017の6.6（電
源周波数磁界及び無線周波電磁界）の要求事項に適合することが可能である旨が取扱説明書に記載されて
いる場合がある。この場合，該当するレベルレンジごとに，無線周波電磁界による影響について，追加の
14
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
試験を行う。追加の試験は，JIS C 1509-1:2017に適合する旨が取扱説明書に記載されている最小のサウン
ドレベルで実施する。追加の試験においても，7.10.1.1による音源及び7.10.1.2による音響信号を用いる。
7.10.3.14 音源からの信号レベルごとに，無線周波電磁界を暴露する前のA特性サウンドレベルの指示値
からの，A特性サウンドレベルの指示値の偏差を，それぞれ求める。求めた偏差は，JIS C 1509-1:2017の
6.6.7による受容限度値を超えないことを確認する。
7.10.3.15 グループY又はグループZのサウンドレベルメータでは，交流電源入力端子及び交流電源出力
端子に対する無線周波電磁界のイミュニティについてのJIS C 1509-1:2017の6.6.7への適合性を確認する
ために，JIS C 61000-6-2:2008の表4（イミュニティ 交流入力電源ポート及び交流出力電源ポート）によ
る追加の試験を行う。電界強度の実効値は，目標とする無線周波電磁界の電界強度以上とし，＋40 %を超
えてはならない。
7.10.3.16 構成要素間を接続するために3 m以上のケーブルを利用又は指定するグループZのサウンドレ
ベルメータでは，無線周波妨害に対する信号端子及び制御端子のイミュニティに関して，JIS C 1509-1:2017
の6.6.9の要求事項への適合性を確認するために，JIS C 61000-6-2:2008の表2（イミュニティ 信号ポー
ト）による追加の試験を行う。交流電源電圧は，目標とする電圧以上とし，＋5 %を超えてはならない。
8
無線周波エミッション及び商用電源への妨害
8.1
1 μV/mを基準とするデシベル（dB）で表した無線周波エミッションレベルは，CISPR 16-2-3:2010
による方法で測定する。準せん頭値検出器は，JIS C 1509-1:2017の5.21.2による周波数範囲において，
CISPER 16-1-1:2006によるものを用いる。測定用受信機，アンテナ及び試験手順は，CISPR 22:2008の箇
条10による。全てのエミッションレベルは，JIS C 1509-1:2017の5.21.2に適合することを確認する。試
験時の環境条件を記録する。サウンドレベルメータは，推奨する電源によって駆動し，無線周波エミッシ
ョンレベルが最大となる旨が取扱説明書に記載されているモード及びレベルレンジに設定して動作させる。
8.2
サウンドレベルメータ（該当する場合，マイクロホン及び延長ケーブルを含む。）の位置を固定する
ために使うジグ及び備品類は，無線周波エミッションの測定に与える影響が無視できる程度のものでなけ
ればならない。
8.3
無線周波エミッションレベルは，サウンドレベルメータを取扱説明書に記載された基準の向きにし
て，JIS C 1509-1:2017の5.21.2による周波数範囲において測定する。取扱説明書に記載された構成におい
て，ケーブルを介してマイクロホンを接続するサウンドレベルメータでは，マイクロホン及びケーブルを
7.10.3.2によって配置する。多チャンネルサウンドレベルメータでは，各チャンネルの入力にマイクロホ
ンを接続する。
8.4
該当する場合，8.3によるマイクロホン，ケーブル及びきょう（筐）体の配置を維持したまま，試験
機関が選択したもう一つの測定平面で，無線周波エミッションレベルを測定する。もう一つの測定平面は，
無線周波エミッションレベルを測定するのに用いる試験設備内の配置の限界内で，基準の向きでの主要平
面に対して，おおよそ直交させる。
8.5
サウンドレベルメータが接続装置又はケーブルを接続する端子をもつ場合は，全ての接続可能な装
置及びケーブルを接続して無線周波エミッションレベルを測定する。ケーブルは，取扱説明書に記載され
た推奨の長さの最長とする。サウンドレベルメータの製造事業者がサウンドレベルメータにケーブルで接
続する装置を提供していない場合，全てのケーブルは終端せず，CISPR 22:2008の8.2に従って配置する。
サウンドレベルメータに接続する装置を提供している場合は，全ての装置を互いに接続した状態で，無線
周波エミッションレベルを測定する。
15
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
8.6
同じ接続端子に複数の装置が接続可能の場合は，無線周波エミッションレベルが最大となる旨が取
扱説明書に記載されている構成で，無線周波エミッションレベルを測定する。無線周波エミッションがこ
の構成と同等以下となるその他の構成が，一覧として取扱説明書に指定されている場合がある。試験を行
った構成がJIS C 1509-1:2017の5.21.2の要求事項に適合する場合，取扱説明書の一覧に記載された構成の
試験は，行わなくてもよい。
8.7
商用電源で駆動するグループY及びグループZのサウンドレベルメータでは，CISPR 22:2008の箇
条9によって，商用電源への伝導妨害波を測定する。商用電源への伝導妨害を測定する方法は，CISPR
16-1-2:2006による測定装置を用いて，CISPR 16-2-1:2010による方法で測定する。レベルレンジの指定が
取扱説明書に記載されていない場合，サウンドレベルメータは，基準レベルレンジに設定する。サウンド
レベルメータは，JIS C 1509-1:2017の5.21.2，及びJIS C 1509-1:2017の表6（商用電源電圧への伝導妨害
の限度値）に適合することを確認する。
9
電気音響性能試験
9.1
一般事項
9.1.1
この箇条に規定する試験は，各試験で規定する音響信号又は電気信号を用いて行う。音響信号を用
いる試験では，音場に操作者がいない状態で試験を行う。マイクロホン出力と等価な電気信号は，取扱説
明書に記載された入力装置を通して，サウンドレベルメータに加える。出力端子での信号を試験に用いる
場合には，表示装置上に指示される信号レベルの変化と，これに対応する出力端子での信号レベルの変化
との差が，JIS C 1509-1:2017の5.19.4の要求事項に適合することを確認する。
9.1.2
音響信号を用いる試験では，サウンドレベルメータのマイクロホンの位置での音圧レベルを，IEC
61094-1による校正済みの標準マイクロホンで測定する。音圧レベルを設定する場合は，各試験周波数で
の標準マイクロホンの周波数特性を考慮する。同一のマイクロホンを同一の取付形状で用いる多チャンネ
ルサウンドレベルメータでは，一つのチャンネルを試験し，試験機関の判断によって，それ以上のチャン
ネルについて試験する。マイクロホン又はマイクロホンの取付形状が異なる場合には，取付形状が異なる
チャンネルごとに試験を行う。
9.1.3
標準マイクロホンによる測定とサウンドレベルメータによる測定との間のサウンドレベルの安定
性は，事前に評価するか，又は監視用マイクロホンを用いて音響信号の試験の間，監視する。
9.1.4
規定する周波数からの，電気入力信号における周波数の偏差は，±0.25 %を超えてはならない。
9.1.5
音響信号を用いる試験及び自己雑音の測定の場合，試験時の環境条件は，静圧が97 kPa〜103 kPa，
周囲温度が20 ℃〜26 ℃，相対湿度が40 %〜70 %の範囲とする。
9.1.6
試験機関が9.1.5による範囲に静圧を維持することが事実上困難な場所にある場合，試験機関は，
7.3によって行った試験結果を用いて，基準静圧でのサウンドレベルメータの性能を求めてもよい。この場
合，実際の測定の不確かさには，周囲の静圧と基準静圧との差の影響を考慮するために用いた補正に対す
る付加成分を含める。
9.1.7
試験時の環境条件を，記録する。
9.1.8 自由音場試験設備で行う試験では，特定の自由音場設備の特性及び用いる特定の試験方法について，
反射のない理想的な音場に対して設備内の音場の違いによる偏差によって生じる不確かさによって，サウ
ンドレベルメータの音響特性の測定の不確かさへの関与を評価する。
注記1 自由音場設備における測定のための実用的な考察は，IEC 61094-8に記載されている。
注記2 無響室の性能を規定するために，ISO 26101が推奨する基本的な認定基準は，サウンドレベ
16
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
ルメータの音響特性における測定の不確かさを計算するには適切ではない。ISO 26101の附
属書Dには，考慮する必要な基準に関する情報が記載されている。理想的な自由音場条件か
らの音場の違いによる偏差によってもたらされる不確かさは，サウンドレベルメータの性能
評価における総合的な測定の不確かさの一部である。
9.2
校正点検周波数での指示値
9.2.1
この箇条の音響信号を用いる試験を行う前に，校正点検周波数での指示値を，4.4による音響校正
器を用いて点検し，必要な場合，基準環境条件で測定した音圧レベルの指示値となるように調整する。こ
の点検及び調整は，試験中は行わない。
9.2.2
基準環境条件の下で音響校正器が発生する音の音圧レベルに対する環境条件による影響は，音響校
正器の取扱説明書に記載された手順に従って校正データを用いて補正する。環境条件の影響は，基準環境
条件で発生する音の音圧レベルを基準として求める。
9.2.3
サウンドレベルメータの取扱説明書に記載された校正点検周波数での調整値は，IEC 62585による
方法又は同等の方法で確認する。
測定した調整値と取扱説明書に記載された調整値との差が，JIS C 1509-1:2017の5.2.5による受容限度
値を超えていないことを確認する。
9.3
指向特性
9.3.1
サウンドレベルメータの指向特性は，自由音場試験設備内の平面進行正弦音波を用いて求める。サ
ウンドレベルメータがJIS C 1509-1:2017の5.4（指向特性）の要求事項に適合する旨を取扱説明書に記載
する全ての構成について試験する。
9.3.2
電気出力端子が利用可能で，それを指向特性の試験に用いる場合には，表示装置上の周波数重み付
き信号レベルの指示値と電気出力信号電圧から求めた出力レベル値とが一致しているか否かを調べるため
の予備試験を行う。電気出力端子をもたないサウンドレベルメータでは，製造事業者が提供する，物理的
に全く同じ寸法及び形状で，音響的及び電気的にも等価な，電気出力端子をもつ装置を用いて，試験を行
う。
9.3.3
時間平均サウンドレベル又は時間重み付け特性Fのサウンドレベルを測定する。必要な場合，利用
しやすい積分時間で求めた音響暴露レベルの指示値から，JIS C 1509-1:2017の式(6)によって，時間平均サ
ウンドレベルを求める。利用可能な場合は，周波数重み付け特性C又は周波数重み付け特性Zを選択する。
これらが選択できない場合は，周波数重み付け特性Aを選択する。
9.3.4
マイクロホンの主軸に対して軸対称なサウンドレベルメータ，又は延長ケーブル若しくはその他の
装置によって接続するサウンドレベルメータでは，主軸を含む平面で指向特性を測定する。表示装置上の
サウンドレベルの指示値，又は電気出力から求めたサウンドレベルの指示値に等価な値を，JIS C
1509-1:2017の表2（指向特性の設計目標値からの偏差に対する受容限度値）による基準方向に対する相対
角度の適用範囲において，マイクロホンへの入射音に対して記録する。音の入射角度の一つは，基準方向
とする。
9.3.5
通常の使用のための構成の一部であるウインドスクリーン及び附属品を含めマイクロホンの主軸
に対して非対称なサウンドレベルメータでは，指向特性は互いに直交する二つの平面で測定する。いずれ
の場合も平面は，マイクロホンの主軸を含める。一方の平面は，可能な限り，サウンドレベルメータの制
御部及び表示部を含む平面と垂直にする。
9.3.6
サウンドレベルメータ全体の指向特性が，JIS C 1509-1:2017の5.4（指向特性）及び表2の要求事
項に適合する旨を示す詳細な表が取扱説明書に記載されていない場合，次の試験手順を用いる。
17
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
− クラス1及びクラス2のサウンドレベルメータでは，音響信号の周波数は，500 Hz〜2 kHzは1/3オク
ターブ間隔とし，2 kHzを超えて，8 kHz以下は1/6オクターブ間隔とする。
− クラス1のサウンドレベルメータでは，音響信号の周波数は，8 kHzを超えて12.5 kHz以下は1/12オ
クターブ間隔とする。
− 1/3オクターブ，1/6オクターブ及び1/12オクターブ間隔での試験周波数は，JIS C 1509-1:2017の附属
書D（1/Nオクターブ間隔の周波数）による。
− 各試験周波数で，指向特性を測定する角度の間隔は，10°を超えてはならない。
9.3.7
指向特性（該当する場合は，ランダム入射の指向指数）の詳細な表が取扱説明書に記載されている
場合には，各対称面についてJIS C 1509-1:2017の表2による音の入射角度の全範囲において，30°を超え
ない角度の間隔で指向特性を測定する。試験信号は，クラス1のサウンドレベルメータでは，500 Hz〜12.5
kHzの範囲で1/3オクターブ間隔の周波数，クラス2のサウンドレベルメータでは，500 Hz〜8 kHzの範囲
のオクターブ間隔の周波数で試験を行う。
9.3.8
ランダム入射音を測定するように設計されたサウンドレベルメータでは，各測定平面について，基
準方向に対して±180°の音の入射角において指向特性を測定する。
9.3.9
サウンドレベルメータ又は音源を移動して行う，異なる音の入射角度での指向特性の測定は，マイ
クロホンの回転対称軸及び音源の主軸を同一平面，通常は水平面に維持して行う。水平面内でのサウンド
レベルメータの移動は，マイクロホンの基準点を通過する鉛直軸を中心とする回転であることが望ましい
（JIS C 1508を参照。）。時間平均サウンドレベル又は音響暴露レベルの測定による場合には，各角度にお
いて安定した指示値が得られるように，十分な平均時間又は積分時間をとる。
注記 指向特性の測定中，音源及びマイクロホンの基準点が固定した位置に維持している場合，試験
室内の音場の僅かな変化による影響は，実用的に最小化できる。
9.3.10 各試験周波数で，様々な音の入射角度となるようにサウンドレベルメータの位置を変化させても，
音源の信号レベルは一定に保つ。全ての試験で，マイクロホン位置におけるサウンドレベルは，音源を動
作させないときに指示するサウンドレベルの値よりも30 dB以上大きくなければならない。
9.3.11 別の試験手順として，音の入射角度を固定しながら音響信号の周波数を変化させることによって指
向特性を測定してもよい。この試験は，各音の入射角度に対して繰り返す。サウンドレベルメータのマイ
クロホンの位置での音圧レベルは，あらゆる音の入射角度での試験周波数に対して，同一でなければなら
ない。それぞれの音の入射角度の各試験周波数で，同じ音響信号を用いることが望ましい。
9.3.12 それぞれの測定面及び全ての適用可能な周波数に対して，JIS C 1509-1:2017の表2（指向特性の設
計目標値からの偏差に対する受容限度値）による音の入射角度の各範囲において，二つの入射角度に対し
て表示するサウンドレベルの差の絶対値の最大値が，JIS C 1509-1:2017の表2の受容限度値を超えていな
いことを確認する。
9.3.13 指向特性の詳細な表が取扱説明書に記載されている場合，限定した数の音の入射角度及び限られた
信号周波数で指向特性の測定を行ったとき，9.3.12の要求事項に適合することを確認するとともに，サウ
ンドレベルの差の絶対値の最大値が，取扱説明書に記載されたサウンドレベルの差の絶対値の最大値の公
称値を超えていないことを確認する。
9.4
音響信号を用いた周波数重み付け特性の試験
9.4.1
一般事項
9.4.1.1
自由音場試験設備での試験による周波数重み付け特性を確認するための9.4.3による手順では，
サウンドレベルメータが電気出力をもっていないこと，及びサウンドレベルメータの位置での音圧レベル
18
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
が校正済み標準マイクロホンによって既に求められていることを前提にしている。電気出力が活用できる
場合には，逆の順序で測定する方が実施しやすい場合がある。すなわち，まず，サウンドレベルメータを，
試験設備に設置し，サウンドレベルメータに規定の指示値を与えるように音源を調節する。その後，サウ
ンドレベルメータを取り外し，その場の自由音場音圧レベルを求めるために，標準マイクロホンをサウン
ドレベルメータのマイクロホンがあった位置に設置する。
9.4.1.2
電気出力が利用可能で，それを周波数重み付け特性試験に用いる場合には，表示装置上の周波数
重み付き信号レベルの指示値と電気出力信号電圧から求めた出力レベル値とが一致しているか否かを調べ
るための予備試験を行う。周波数重み付け特性試験では，レベル直線性偏差の補正はしない。
9.4.1.3
JIS C 1509-1:2017による周波数重み付け特性の一つ又はそれ以上について，音響正弦波信号及び
電気正弦波信号を入力して試験する。設計目標値及び受容限度値がJIS C 1509-1:2017によるか，又は取扱
説明書に記載されている，サウンドレベルメータがもつその他の周波数重み付け特性については，音響信
号又は電気信号のいずれかを入力して試験する。その他の周波数重み付け特性を電気信号で試験する場合
は，サウンドレベルメータの周波数重み付け特性の設計目標値からの，周波数重み付きレスポンスの偏差，
並びにサウンドレベルメータのきょう（筐）体からの反射及びマイクロホンの周囲の回折の平均的な影響
を考慮する。
9.4.1.4
サウンドレベルメータは，時間重み付け特性Fの時間重み付きサウンドレベルを測定するように
設定し，それが不可能な場合は，時間平均サウンドレベル又は音響暴露レベルを測定するように設定する。
必要な場合，利用しやすい積分時間で求めた音響暴露レベルの指示値から，JIS C 1509-1:2017の式(6)によ
って，時間平均サウンドレベルを求める。
9.4.1.5
周波数重み付け特性の全ての試験は，可能な場合，サウンドレベルメータを基準レベルレンジに
設定して行う。レベルレンジ調整器の設定が周波数重み付け特性の要求事項に対する適合性に影響を与え
ていると試験機関が判断した場合は，その他のレベルレンジでも追加試験を行う。
9.4.1.6
音響信号を用いた試験は，利用可能な場合，周波数重み付け特性C又は周波数重み付け特性Zで
行う。これらが利用できない場合は，試験は，周波数重み付け特性Aで行う。自由音場試験設備の下限周
波数よりも高い周波数では，自由音場試験設備内の平面進行波を用いて試験を行う。下限周波数よりも低
い周波数では，比較カプラを用いて試験を行う。
9.4.1.7
マイクロホンの主軸とサウンドレベルメータの基準方向とが平行でない場合，基準方向及びマイ
クロホンの主軸を中心とした基準方向に回転対称な円すい（錐）表面上のその他の三つ以上の方位角の位
置で，周波数重み付け特性の要求事項に適合することを確認する。
9.4.2
ウインドスクリーン補正
9.4.2.1
6.12でウインドスクリーンを必要とし，かつ，サウンドレベルメータがウインドスクリーンを含
む構成とウインドスクリーンを含まない構成との両方でJIS C 1509-1:2017の要求事項に適合する旨を取
扱説明書に記載する場合，指定する形式のウインドスクリーンをマイクロホンの周囲に装着した状態及び
装着しない状態の両方で，音響信号による周波数重み付け特性を自由音場試験設備内において求める。ウ
インドスクリーンを装着した状態と装着しない状態との周波数重み付け特性の差を，基準方向からの，音
の入射に対して測定したウインドスクリーンの補正値とする。各試験周波数において，IEC 62585による
手順によって，取扱説明書に記載したウインドスクリーンの補正値及び測定の不確かさを求める。測定し
たウインドスクリーンの補正値と取扱説明書に記載されたウインドスクリーンの補正値との差は，JIS C
1509-1:2017の表1（測定したウインドスクリーンの補正値と取扱説明書に記載する補正値との差に対する
受容限度値）による受容限度値を超えないことを確認する。
19
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
9.4.2.2
マイクロホンの主軸とサウンドレベルメータの基準方向とが平行でない場合，基準方向及びマイ
クロホンの主軸を中心とした基準方向に回転対称な円すい（錐）表面上のその他の三つ以上の方位角の位
置でウインドスクリーンの補正値を求める。
9.4.3
自由音場試験
9.4.3.1
定期試験で必要となる自由音場補正量を確認するために，音響信号を用いた自由音場試験に周波
数重み付け特性C又は周波数重み付け特性Zを選択する場合，自由音場補正量が取扱説明書に記載された
周波数についてだけ，周波数重み付け特性Aにおいても周波数重み付け特性試験を行う。
9.4.3.2
クラス1及びクラス2のサウンドレベルメータの試験では，自由音場試験設備における音響信号
の周波数は，試験設備の下限周波数から2 kHz以下は1/3オクターブ間隔とし，2 kHzを超えて，8 kHz以
下は1/6オクターブ間隔とする。クラス1のサウンドレベルメータでは，音響信号の周波数は，8 kHzを超
えて，20 kHz以下は1/12オクターブ間隔とする。1/Nオクターブ間隔の試験周波数は，JIS C 1509-1:2017
の附属書D（1/Nオクターブ間隔の周波数）による。
9.4.3.3
詳細な周波数重み付け特性の表が取扱説明書に記載されている場合には，その特性の表に記載さ
れた値とサウンドレベルメータの特性を確認するための試験は，クラス1のサウンドレベルメータでは1/3
オクターブ間隔，クラス2のサウンドレベルメータではオクターブ間隔に限ってもよい。
9.4.3.4
全ての試験周波数で，サウンドレベルメータのマイクロホンの基準位置において，サウンドレベ
ルメータが音場にないときの音圧レベルを，標準マイクロホンを用いて測定する。音波の向きは，マイク
ロホンを校正した方向から標準マイクロホンの基準点に到達するように設定する。各試験周波数で，音源
を動作させたときの音圧レベルは，音源を動作させないときの音圧レベルよりも30 dB以上大きくなけれ
ばならない。
9.4.3.5
各試験周波数で，自由音場試験設備内の選択した位置において，基準音圧レベルを発生するよう
に音源の出力を調整する。各試験周波数で，基準音圧レベルを維持することが不可能な場合，その他の音
圧レベルを用いてもよい。音圧レベル及び適用した全ての補正値を記録する。
9.4.3.6
標準マイクロホンをサウンドレベルメータに置き換える。サウンドレベルメータのマイクロホン
の基準点の位置を，標準マイクロホンの基準点のあった位置と一致させる。指定する基準方向からマイク
ロホンに音波が到達するようにする。各試験周波数で，標準マイクロホンで測定したときと同じ音響信号
が音源から出るようにする。各試験周波数で，サウンドレベルメータが指示した信号レベルを記録する。
9.4.3.7
各試験周波数で，サウンドレベルメータによる周波数重み付きサウンドレベルの指示値から，標
準マイクロホンで測定した音圧レベルを減じて，周波数重み付け特性を求める。
9.4.3.8
9.4.3.2〜9.4.3.7による試験は，自由音場試験設備内で，音源とマイクロホンとの間の距離及び配
置を適切に変えて，更に2回以上繰り返す。
9.4.3.9
各試験周波数で，音源とマイクロホンとの間の距離及び配置を変えて算出した周波数重み付け特
性の算術平均によって，周波数重み付け特性の測定値を求める。
9.4.4
比較カプラ試験
9.4.4.1
自由音場試験設備の下限周波数よりも低い周波数に対して，クラス1のサウンドレベルメータで
は，10 Hzから設備の下限周波数まで，クラス2のサウンドレベルメータでは，20 Hzから設備の下限周波
数までの1/3オクターブ間隔の周波数範囲で，周波数重み付け特性を測定する。比較カプラ試験では，サ
ウンドレベルメータのマイクロホン及び標準マイクロホンを，比較カプラ又はこれと等価な装置内部の音
場に暴露する。サウンドレベルメータで測定したサウンドレベル及び標準マイクロホンで測定した音圧レ
ベルを記録する。比較カプラ試験では，ウインドスクリーンを装着している場合，これを取り外してもよ
20
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
い。比較カプラ試験では，校正済の標準マイクロホンの代わりに，IEC 61094-5:2016によって校正された
作業標準マイクロホンを使用してもよい。
9.4.4.2
約250 Hz以下の低い周波数では，比較カプラ内の音場にマイクロホンの圧力平衡孔を暴露した
場合，カプラに挿入したマイクロホンを用いて測定した音圧レスポンスは，自由音場特性又はランダム入
射特性に等しいとみなしてもよい。比較カプラ試験の上限周波数が約250 Hzを超える場合，音圧レスポン
スの測定，自由音場試験設備内での基準方向における測定及びランダム入射での測定の等価性について，
試験機関はそれを示さなければならない。比較カプラ内の音場にマイクロホンの圧力平衡孔を暴露しない
場合，試験機関は，音圧レスポンスと，自由音場特性又はランダム入射特性との差を考慮しなければなら
ない。
9.4.4.3
周波数重み付け特性Aの試験を10 Hz以下の低い周波数で行うためには，サウンドレベルメータ
の直線動作範囲は，70 dBを超えて広い範囲が必要である。必要な場合，取扱説明書に記載された直線動
作範囲の下限よりも5 dB以上大きいサウンドレベルの指示値を示す状態に維持して，周波数重み付け特性
Aの試験を最低周波数まで行う。
9.4.4.4
比較カプラ試験では，サウンドレベルメータによる周波数重み付きサウンドレベルの指示値か
ら，標準マイクロホンで測定した音圧レベルを減じて，周波数重み付け特性を求める。
9.4.4.5
比較カプラ内での周波数重み付け特性の試験は，3回以上行う。各試験で，マイクロホンを一時
カプラから取り外し，再びカプラに装着する。各試験周波数で，各々求めた値の算術平均として，周波数
重み付け特性を求める。
9.4.5
適合性
周波数重み付け特性の設計目標値からの偏差が，JIS C 1509-1:2017の表3（周波数重み付け特性及び受
容限度値）による受容限度値を超えないことを確認する。周波数重み付け特性の設計目標は，JIS C
1509-1:2017の表3による値，又はJIS C 1509-1:2017の式(E.1)，式(E.6)若しくは式(E.9)によって求めて，
1/10デシベルを単位として丸めた値として与えられる。
9.4.6
ランダム入射
9.4.6.1
ランダムな方向から入射する音波を測定するように設計したサウンドレベルメータでは，音響信
号を用いた試験は，取扱説明書に記載された相対周波数重み付きランダム入射特性を求めるため，JIS C
1508による自由音場法を用いて行う。適用可能な場合は，ランダム入射に対するウインドスクリーン補正
を確認するため，マイクロホンの周囲にウインドスクリーンを装着した状態及び装着しない状態の両方で，
ランダム入射試験を行う。
9.4.6.2
相対周波数重み付きランダム入射特性は，クラス1のサウンドレベルメータでは，自由音場試験
設備の下限周波数から12.5 kHz以下，クラス2のサウンドレベルメータでは，設備の下限周波数から8 kHz
以下の周波数範囲の1/3オクターブ間隔で求める。下限周波数より低い周波数でのランダム入射音の周波
数重み付け特性は，比較カプラ試験によって求める。
9.4.6.3
ランダム入射に対する指向指数は，9.3による指向性試験で得られるデータを用いてJIS C 1508
による手順によって求める。求めた指向指数は，基準入射方向に対する相対周波数重み付き自由音場特性
と対応する指向指数との和として，相対周波数重み付きランダム入射特性の算出に用いる。
9.4.6.4
各試験周波数において求めたランダム入射の周波数重み付け特性が，相対周波数重み付きランダ
ム入射特性である。ランダム入射の周波数重み付け特性の設計目標値からの偏差は，JIS C 1509-1:2017に
よる受容限度値を超えないことを確認する。
注記 より確実な情報が得られるまで，JIS C 1509-1:2017の附属書B（測定の不確かさの最大許容値）
21
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
をランダム入射周波数重み付け特性の測定に適用可能と考える。
9.5
電気信号による周波数重み付け特性の試験
9.5.1
一般事項
9.5.1.1
電気信号を用いた試験は，サウンドレベルメータがもつ周波数重み付け特性について，設計目標
値及び受容限度値がJIS C 1509-1:2017によるか，又は取扱説明書に記載されているもの全てに対して行う。
周波数間隔が1/3オクターブを超えない限り，9.4の試験で用いたものと同じ試験周波数の正弦波電気信号
を用いる。この細分箇条（9.5）の全ての試験は，サウンドレベルメータを9.4の試験で用いたものと同じ
レベルレンジに設定して行う。
9.5.1.2
電気信号を用いた周波数重み付け特性試験には，二種類の手順がある。9.5.2の第1の試験手順で
は，各試験周波数及び各周波数重み付け特性において，音響信号のときと同じ指示値となるように，電気
信号の入力レベルを調整する。この手順に従った場合，レベル直線性偏差の影響を最小とすることができ
るが，幾つかの周波数では，入力信号が過大となり過負荷指示が発生して周波数重み付け特性の試験が不
可能となる場合がある。事前の試験で，周波数重み付け特性及び試験周波数において，過負荷指示を発生
することが分かる場合，全ての試験は，9.5.3の第2の試験手順を用いて行う。
9.5.1.3
いずれの試験手順でも，サウンドレベルメータのレベル直線性偏差を考慮しない。
注記 選択したレベルレンジでの直線動作範囲が十分に広い場合は，全ての試験周波数において，9.5.3
の第2の試験手順によって周波数重み付け特性の試験が可能となるが，レベル直線性偏差の影
響は，第1の試験手順よりも幾分大きくなることがある。
9.5.2
第1の試験手順（入力信号レベルを変化）
9.5.2.1
9.4による音響信号を用いた試験で選択した周波数重み付け特性について，9.4で用いたものと同
じ試験周波数で，音響信号を用いた試験において得られた値とサウンドレベルメータの指示値とが一致す
るように，正弦波電気入力信号レベルを調整する。その他の周波数重み付け特性について，試験を繰り返
す。これらの電気入力信号レベル及び対応する指示値を記録する。
注記 入力信号レベルの大きさは，実効値電圧から求めた出力レベルで記録してもよく，入力信号減
衰器のデシベルで，表した設定値で記録してもよい。
9.5.2.2
音響信号を用いた試験で得られたものと等価な周波数重み付け特性は，次によって求める。各周
波数で，試験対象の周波数重み付け特性について，記録した入力信号レベルと，9.4による音響信号を用い
た試験で選択した周波数重み付け特性について記録した入力信号レベルとの差を求める。入力信号レベル
の差を，音響信号を用いた試験で求めた周波数重み付け特性の値から減じて，電気入力信号試験による等
価な周波数重み付け特性を求める。
注記 入力信号レベル間の差は，入力信号減衰器の設定値の差で求めてもよいし，音響信号を用いた
試験で試験対象の周波数重み付け特性及び選択した周波数重み付け特性について測定した実効
値電圧をそれぞれV2及びV1として，“10 lg (V2／V1)2（dB）”の式から求めてもよい。
9.5.3
第2の試験手順（入力信号レベル一定）
9.5.3.1
第2の試験手順では，9.4による音響信号を用いた試験で選択した周波数重み付け特性について，
1 kHzの電気入力信号レベルを，取扱説明書に記載された1 kHzの直線動作範囲の上限より5 dB小さい指
示値となるように調整する。その他の試験周波数での信号レベルは，1 kHzの信号と同じとする。これら
の入力信号レベル及び対応する指示値を記録する。
9.5.3.2
その他の周波数重み付け特性の各試験周波数で，入力信号レベルは，9.5.3.1で記録した入力信号
のものと同じレベルに調整し，これらに対応する指示値を記録する。
22
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
9.5.3.3
各試験周波数で，9.5.3.2で記録した指示値と9.5.3.1で記録した指示値との差を求める。これらの
指示値の差を，音響信号を用いて測定した周波数重み付け特性の値に加えて，電気入力信号試験による等
価な周波数重み付け特性を求める。
9.5.4
適合性
等価な周波数重み付け特性の設計目標値からの偏差は，JIS C 1509-1:2017の表3（周波数重み付け特性
及び受容限度値）による受容限度値又は取扱説明書に記載された受容限度値を超えないことを確認する。
9.5.5
1 kHzにおける周波数重み付け特性C及び／又は周波数重み付け特性Z
9.5.5.1
周波数重み付け特性C及び／又は周波数重み付け特性Zをもつサウンドレベルメータでは，1 kHz
の定常正弦波電気信号で，周波数重み付け特性による指示値の差を試験する。最初に，周波数重み付け特
性Aを用いて，基準レベルレンジの基準音圧レベルを指示するように入力信号レベルを調整し，指示値を
記録する。同じ入力信号を用いて，周波数重み付け特性C又は周波数重み付け特性Zで，時間重み付け特
性F若しくは特性Sの時間重み付き特性サウンドレベル，時間平均サウンドレベル又は音響暴露レベルの
指示値を記録する。
9.5.5.2
周波数重み付け特性Aで求めた測定値からの，周波数重み付け特性C又は周波数重み付け特性Z
で求めた測定値の偏差は，JIS C 1509-1:2017の表3（周波数重み付け特性及び受容限度値）による受容限
度値を超えないことを確認する。
9.6
サウンドレベルメータのきょう（筐）体からの反射及びマイクロホンの周囲の回折の影響に対する
補正
9.6.1
この箇条の試験は，サウンドレベルメータのきょう（筐）体からの反射及びマイクロホンの周囲の
回折の影響として，取扱説明書に記載された代表的な補正値及び関連する測定の不確かさの確認を意図し
ている。取扱説明書に記載する補正値又は不確かさは，IEC 62585による手順によって求める。試験は，
取扱説明書に記載された通常動作状態でのサウンドレベルメータに対して行う。ただし，マイクロホンを
取り付けた状態及びウインドスクリーンを装着しない状態で行う。
9.6.2
補正値は，定常正弦波電気信号を用いて確認する。周波数重み付け特性は，9.4による音響信号を
用いた周波数重み付け特性の試験で選択した特性とする。サウンドレベルメータに複数のマイクロホンの
形式が用いることができる旨が取扱説明書に記載されていて，きょう（筐）体による反射及びマイクロホ
ンの周囲の回折の影響に対して，異なる補正値をもつ場合は，マイクロホンの各形式について，取扱説明
書に記載された補正値と相違がないことを確認する。
9.6.3
入力信号の周波数は，クラス1のサウンドレベルメータでは，自由音場試験設備の下限周波数から
16 kHz以下，クラス2のサウンドレベルメータでは，下限周波数から8 kHz以下の周波数範囲で1/3オク
ターブ間隔とする。
9.6.4
電気入力信号は，1 kHzにおいて，その指示値が9.4による音響信号を用いた試験において1 kHz
で得られた値と同じレベルレンジで一致するように調整する。電気入力信号レベル及び対応する指示値を
記録する。
注記 入力信号レベルの大きさは，実効値電圧で記録してもよいし，入力信号減衰器のデシベルで表
した設定値で記録してもよい。
9.6.5
入力信号レベルを一定に維持したままで，1 kHz以外の試験周波数でのサウンドレベルメータの指
示値を記録する。
9.6.6
電気信号の相対周波数重み付け特性は，試験周波数での指示値から1 kHzでの指示値を減じて求め
る。
23
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
9.6.7
各試験周波数で，サウンドレベルメータのきょう（筐）体による反射及びマイクロホンの周囲の回
折の影響の値は，9.4による音響信号を用いて求めた周波数重み付け特性から9.6.6による電気信号を用い
て求めた相対周波数重み付け特性を減じて求める。
9.6.8
各試験周波数で，求めた反射及び回折の影響の値と取扱説明書に記載された補正値との差は，取扱
説明書に記載された不確かさを超えないことを確認する。
注記 反射及び回折の影響を確認するこの方法では，自由音場施設内で測定したサウンドレベルと電
気信号に応答した指示値との間のレベル直線性の誤差については考慮していない。
9.7
自由音場又はランダム入射サウンドレベルを得るための補正値
9.7.1
製造事業者が，定期試験において複数の周波数で音を発生する校正済の音響校正器，比較カプラ又
は静電駆動器の使用を推奨する場合，これらを用いたときに指示するA特性サウンドレベルを調整して自
由音場内基準方向から入射する平面波，又はランダム入射音場に対して指示するのと等価なサウンドレベ
ルとするためのデータが取扱説明書に記載されていることを確認する。その記載された補正値及び関連す
る測定の不確かさは，IEC 62585による手順によって求める。補正値及び関連する不確かさは，型式評価
試験の一部として確認する。
9.7.2
取扱説明書に記載された補正値を確認するための試験を行う前に，1 kHzにおける周波数重み付け
特性Aの測定値の設計目標値からの偏差が，JIS C 1509-1:2017の表2（指向特性の設計目標値からの偏差
に対する受容限度値）による受容限度値を超えていないことを，音響信号を用いた9.4による周波数重み
付け特性の試験によって確認する。音響校正器，比較カプラ又は静電駆動器を用いたときに指示するA特
性サウンドレベルを，補正値が取扱説明書に記載されている各周波数について記録する。
9.7.3
必要な場合，音響校正器が試験周波数で発生する音圧レベルと1 kHzで発生する音圧レベルとの
差，又は比較カプラ若しくは静電駆動器の相対周波数特性レベルの該当する差に基づいて，サウンドレベ
ルの指示値を補正する。その補正したサウンドレベルに対して，基準方向からの，音の入射に対する自由
音場サウンドレベル又はランダム入射サウンドレベルと等価な値を求めるために，取扱説明書に記載され
た補正値を適用し，A特性サウンドレベルを求める。各周波数において，等価なA特性サウンドレベルの
相対値は，1 kHzでの等価なA特性サウンドレベルの値の相対値として求める。求めた値が，A特性相対
周波数特性の相対値と等価なものとなる。
9.7.4
1 kHz以外の周波数で，自由音場試験設備内で測定したA特性相対周波数重み付き特性の算術平均
値又は9.4.6に従って測定した相対周波数重み付きランダム入射特性と，音響校正器，比較カプラ又は静
電駆動器を用いて求めた等価なA特性相対周波数特性との差は，取扱説明書に記載された不確かさを超え
ないことを確認する。
9.7.5
サウンドレベルメータに複数のマイクロホンの形式が用いることができる旨が取扱説明書に記載
されていて，自由音場又はランダム入射に対して異なる補正値をもつ場合は，マイクロホンの各形式につ
いて，取扱説明書に記載された補正値を確認する手順を繰り返す。
9.8
レベル直線性
9.8.1
基準周囲温度に近い周囲温度での試験
9.8.1.1
レベル直線性は，定常正弦波電気信号を用いて試験する。周囲温度は，利用しやすい相対湿度及
び静圧の下で，18 ℃〜28 ℃とする。信号の周波数は，クラス1のサウンドレベルメータでは，31.5 Hz，
1 kHz及び12.5 kHzとし，クラス2のサウンドレベルメータでは，31.5 Hz，1 kHz及び8 kHzとする。
9.8.1.2
レベル直線性は，測定機能をもつサウンドレベルメータでは，時間重み付け特性FによるA特性
時間重み付きサウンドレベルを指示するように設定して試験し，更にA特性時間平均サウンドレベルを指
24
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
示するように設定して試験する。A特性音響暴露レベルだけを表示するサウンドレベルメータでは，利用
しやすい積分時間で求めたA特性音響暴露レベルの指示値からJIS C 1509-1:2017の式(6)によって求めた
A特性時間平均サウンドレベルで試験する。
9.8.1.3
レベル直線性偏差は，全ての入力信号に対する，対応するサウンドレベルの指示値とサウンドレ
ベルの予測値との差である。サウンドレベルの予測値は，各試験周波数及びレベルレンジで，取扱説明書
に記載された基準レベルレンジでの開始点に，入力信号レベルと開始点におけるサウンドレベルを表示す
る入力信号との差を加算して求める。
注記1 各試験周波数で，基準レベルレンジでの開始点におけるレベル直線性偏差は，ゼロである。
注記2 デシベルで表した入力信号レベルの変化は，入力信号減衰器の設定の変化から求めてもよい
し，入力信号を変化させる前後の実効値電圧の比から求めてもよい。
9.8.1.4
レベル直線性の試験は，全ての試験周波数で，基準レベルレンジでの開始点のサウンドレベルを
表示するように入力信号を調整してから開始する。レベル直線性偏差は，入力信号レベルを1 dB以下の間
隔で変化させて測定する。開始点から過負荷指示を最初に発生させるまで信号レベルを増加させる。次に，
開始点を通過して，アンダーレンジ指示が最初に発生するまで，信号レベルを減少させて，試験を行う。
その後，開始点まで信号レベルを増加させながら試験を続行する。レベルを増加及び減少するときに用い
る入力信号レベルは，同一とする。
9.8.1.5
基準レベルレンジ以外のレベルレンジでは，レベル直線性偏差は，入力信号レベルを10 dB以下
で変化させ，取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限値に向かって測定する。次に，下限値に向かっ
て測定する。これらの各レベルレンジにおけるレベル直線性偏差の試験は，基準レベルレンジ上で開始点
を表示する入力信号を，基準レベルレンジの設定を基準としたレベルレンジ調整器の公称変化を考慮して
調整した，入力信号に応答して指示するサウンドレベルから開始する。各レベルレンジで，指定する上限
値から5 dB以内及び指定する下限値から5 dB以内では，過負荷指示及びアンダーレンジ指示が最初に発
生するまで，入力信号レベルの変化は1 dB以下とする。
注記 各試験周波数で，基準レベルレンジ以外のレベルレンジの開始点におけるレベル直線性偏差は，
必ずしもゼロとなるとは限らない（9.8.1.3参照）。
9.8.1.6
各試験周波数及び各レベルレンジに対して，取扱説明書に記載された直線動作範囲において，レ
ベル直線性偏差の測定値は，JIS C 1509-1:2017の5.6.5による受容限度値を超えないことを確認する。
9.8.1.7
入力信号レベルの1 dB〜10 dBの変化に対応するレベル直線性偏差の測定値は，JIS C 1509-1:2017
の5.6.6による受容限度値を超えないことを確認する。
9.8.1.8
各試験周波数で，レベル直線性偏差の測定値が受容限度値を超えないA特性サウンドレベルの直
線動作全範囲は，取扱説明書に記載された直線動作全範囲よりも狭くないことを確認する。
9.8.2
周囲温度を上昇して行う試験
9.8.2.1
7.6.10によって，周囲温度を上昇した状態でも，レベル直線性偏差を測定する。この試験は，1 kHz
の定常正弦波電気信号を用いて行う。この試験では，広い範囲の環境条件に対応する構成要素を7.6.4に
よる最高周囲温度から2 ℃以内で最高周囲温度を超えない周囲温度に置く。相対湿度及び静圧は，利用し
やすい値でよい。
9.8.2.2
周囲温度を上昇して行う試験では，9.8.1の試験手順による。ただし，試験は，基準レベルレンジ
だけで行い，入力信号レベルの変化は，開始点から取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限まで，上
限から下限まで，及び下限から開始点まで，上限及び下限の値を含み，10 dB刻みとする。
9.8.2.3
レベル直線性偏差の測定値は，JIS C 1509-1:2017の5.6.5及び5.6.6による受容限度値を超えない
25
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
ことを確認する。レベル直線性偏差の測定値が受容限度値を超えないA特性サウンドレベルの直線動作全
範囲は，取扱説明書に記載された直線動作全範囲よりも狭くないことを確認する。
9.9
アンダーレンジ指示
各レベルレンジ及びレベル直線性試験で用いる周波数で，時間重み付きサウンドレベル，時間平均サウ
ンドレベル又は音響暴露レベルが取扱説明書に記載された直線動作範囲の下限値以上である場合は，アン
ダーレンジ指示器が動作しないことを確認する。アンダーレンジ状態を表示する場合は，アンダーレンジ
指示器がJIS C 1509-1:2017の5.12に従って，動作することを確認する。
9.10 自己雑音
9.10.1 自己雑音のレベルは，サウンドレベルメータにマイクロホンを装着して測定する。取扱説明書に記
載された通常動作状態の構成としたサウンドレベルメータを，音圧レベルの十分に低い環境に置く。通常
動作状態でマイクロホンの延長ケーブルの使用が指定されている場合，延長ケーブルのマイクロホンと反
対側に接続されるサウンドレベルメータの構成要素は，音圧レベルの低い環境に置かなくてもよい。サウ
ンドレベルメータに複数のマイクロホンの形式が用いることができる旨が取扱説明書に記載された各形式
のマイクロホンについて，自己雑音レベルを測定する。また，マイクロホンを取扱説明書に記載された電
気入力装置に置き換えて，取扱説明書に記載された方法で終端し，自己雑音レベルを測定する。
9.10.2 取扱説明書に記載された最も大きい自己雑音レベルに対応するレベルレンジに設定して，自己雑音
レベルを測定する。
9.10.3 自己雑音レベルの測定では，周囲温度及び相対湿度は，9.1.5による範囲を超えてはならない。
9.10.4 自己雑音レベルは，利用可能な全ての周波数重み付け特性について記録する。時間重み付け特性F
サウンドレベル及び特性Sの時間重み付きサウンドレベルは，60秒間にランダムに10回測定し，算術平
均して求める。時間平均サウンドレベルの測定では，平均時間は，取扱説明書に記載された，予想される
自己雑音レベルが最も大きな値での平均時間とする。
9.10.5 マイクロホンの各形式及びマイクロホンと置き換える電気入力装置での自己雑音レベルの測定値
は，取扱説明書に記載された，予想される自己雑音レベルが最も大きな値に，10 dBを加えた値を超えて
はならない。
注記 自己雑音レベルは，単に情報として報告するものであって，要求事項に対する評価には用いな
い。
9.11 時間重み付け特性F及び時間重み付け特性Sの減衰時定数
9.11.1 時間重み付け特性F及び時間重み付け特性Sの減衰時定数は，4 kHzの定常正弦波電気信号を用い
て試験する。信号レベルは，取扱説明書に記載された基準レベルレンジにおける直線動作範囲の上限値よ
りも3 dB小さいサウンドレベルを指示するように調整する。定常信号は，10秒以上加える。
9.11.2 信号を急に停止させ，停止したときからの，サウンドレベルの指示値の減衰速度を測定する。時間
重み付け特性F及び時間重み付け特性Sの減衰速度の設計目標との差が，JIS C 1509-1:2017の5.8.2によ
る受容限度値を超えないことを確認する。
注記 減衰速度は，ストップウォッチ又はこれと等価な計時装置によって経過時間を確認しながら表
示装置上のサウンドレベルを目視観測することで測定してもよいし，ディジタル信号レベルの
表示の更新周期から求められるサンプリングレートから測定してもよい。ビデオカメラ又はこ
れと等価な装置を用いて，表示装置上のサウンドレベルをミリ秒の分解能で時刻を表示するデ
ィジタル時計とともに記録する方法によってもよい。
9.11.3 時間重み付け特性Sをもつサウンドレベルメータでは，時間重み付け特性Fによって，基準レベ
26
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
ルレンジの基準音圧レベルを指示するように1 kHzの正弦波電気入力信号を調整し，A特性サウンドレベ
ルを記録する。同じ入力信号を用いて，時間重み付け特性SによるA特性サウンドレベルの指示値を記録
する。
9.11.4 時間重み付け特性Fで測定したサウンドレベルからの，時間重み付け特性Sで測定したサウンド
レベルの偏差は，JIS C 1509-1:2017の5.8.3による受容限度値を超えないことを確認する。
9.11.5 サウンドレベルメータが該当する時間重み付け特性で適切な分解能をもって時間関数としてのレ
ベルを表示する機能をもっている場合には，この機能を用いて試験してもよい。
9.12 時間重み付きサウンドレベルのトーンバースト応答
9.12.1 時間重み付け特性F又は特性Sの時間重み付きサウンドレベルを測定するサウンドレベルメータ
のトーンバースト応答は，基準レベルレンジで，4 kHzの正弦波電気信号を用いて試験する。
9.12.2 トーンバースト応答の試験は，周波数重み付け特性Aに設定したサウンドレベルメータに定常信
号を加えて開始する。時間重み付け特性Fで，取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限値よりも3 dB
小さい値を指示するように，入力信号を調整する。時間重み付け特性Fの時間重み付きサウンドレベルの
指示値を記録する。測定機能をもつ場合，時間重み付け特性Sの時間重み付きサウンドレベルについても，
同じ指示値となるように手順を繰り返す。
9.12.3 時間重み付け特性F及び該当する場合，時間重み付け特性SについてJIS C 1509-1:2017の表4（4
kHzの基準トーンバースト応答及び受容限度値）による全てのトーンバースト継続時間で，振幅及び周波
数が定常信号と同じトーンバーストを加える。トーンバーストに応答するサウンドレベルの最大の指示値
を記録する。
9.12.4 9.12.2による指示値から開始して，定常信号の指示値を20 dBずつ減少させて，トーンバースト応
答の試験を繰り返す。20 dBずつのレベルの減少は，取扱説明書に記載された直線動作範囲の下限値より
も20 dB以上大きい場合に繰り返す。トーンバースト応答は，定常信号が，この直線動作範囲の下限値よ
りも10 dB大きい指示値を発生するレベルでも測定する。
9.12.5 各ステップで，定常信号に対する時間重み付け特性F及び特性Sの時間重み付きサウンドレベル
の指示値，並びにトーンバーストに対する時間重み付け特性F及び特性Sの時間重み付きサウンドレベル
の最大値を記録する。
各ステップで，時間重み付け特性F及び特性Sの時間重み付きサウンドレベルの最大値について，JIS C
1509-1:2017の表4による全てのトーンバースト継続時間でのトーンバースト応答を測定する。時間重み付
け特性F及び特性Sの時間重み付きサウンドレベルの最大値は，取扱説明書に記載された基準レベルレン
ジに対するA特性周波数重み付きの自己雑音レベルよりも16 dBを超える場合，測定する。
9.12.6 9.12.2による指示値から過負荷を最初に指示するレベルまで定常信号の指示値を1 dBずつ増加さ
せて，トーンバースト応答の試験を行う。トーンバーストの継続時間は，時間重み付け特性F及び時間重
み付け特性Sについて，JIS C 1509-1:2017の表4（4 kHzの基準トーンバースト応答及び受容限度値）に
よる最も短い継続時間とする。
9.12.7 トーンバースト応答の測定値は，トーンバースト信号に応答する時間重み付け特性F及び特性S
の時間重み付きサウンドレベルの最大値の指示値から，対応する定常信号に対する時間重み付け特性F及
び特性Sの時間重み付きサウンドレベルの指示値をそれぞれ減じて求める。
9.12.8 JIS C 1509-1:2017の表4による基準トーンバースト応答からの，トーンバースト応答の測定値の偏
差は，受容限度値を超えないことを確認する。
27
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
9.13 音響暴露レベル又は時間平均サウンドレベルのトーンバースト応答
9.13.1 音響暴露レベル若しくは時間平均サウンドレベル，又はその両者を測定するサウンドレベルメータ
のトーンバースト応答は，基準レベルレンジで，4 kHzの正弦波電気信号を用いて試験する。音響暴露レ
ベルだけを測定するサウンドレベルメータでは，定常信号に対する時間平均サウンドレベルは，音響暴露
レベルの測定値及び積分時間から求める。時間平均サウンドレベルだけを測定するサウンドレベルメータ
では，トーンバーストに対する音響暴露レベルは，時間平均サウンドレベルの測定値及び平均時間から求
める。
9.13.2 トーンバースト応答の試験は，周波数重み付け特性Aに設定したサウンドレベルメータに定常信
号を加えて開始する。取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限値よりも3 dB小さい値を指示するよう
に，入力信号を調整する。音響暴露レベルだけを表示するサウンドレベルメータの場合は，規定する時間
平均サウンドレベルに対応する音響暴露レベルの指示値となるように，入力信号を調整する。音響暴露レ
ベルがJIS C 1509-1:2017の式(6)による時間平均サウンドレベルよりも10 dB高くなる，10秒の積分時間
を推奨する。時間平均サウンドレベル及びその平均時間，又は音響暴露レベル及びその積分時間を記録す
る。平均時間又は積分時間を表示するサウンドレベルメータの場合は，その指示値を用いる。
9.13.3 音響暴露レベルについて，JIS C 1509-1:2017の表4による全てのトーンバースト継続時間で，振幅
及び周波数が定常信号と同じトーンバーストを加える。各試験で，音響暴露レベルの指示値又は時間平均
サウンドレベルの指示値及び平均時間を記録する。音響暴露レベルの指示値を求めるための積分時間は，
トーンバーストの全ての部分を含むことができるように，十分長くする。時間平均サウンドレベルだけを
表示するサウンドレベルメータの場合は，JIS C 1509-1:2017の式(4)によって，時間平均サウンドレベル及
び対応する平均時間から，トーンバーストの音響暴露レベルを求める。時間平均サウンドレベルの平均時
間は，トーンバースト継続時間よりも長くする。
9.13.4 9.13.2による指示値から開始して，定常信号の指示値を20 dBずつ減少させて，トーンバースト応
答の試験を繰り返す。20 dBずつのレベルの減少は，時間平均サウンドレベルの次の指示値が，取扱説明
書に記載された直線動作範囲の下限値よりも20 dB以上大きい場合繰り返す。トーンバースト応答は，定
常信号が，この直線動作範囲の下限値よりも10 dB大きい指示値を発生するレベルでも，測定する。各ス
テップで，定常信号に対する時間平均サウンドレベルの指示値及びトーンバーストに対する音響暴露レベ
ルの指示値を記録する。音響暴露レベル又は時間平均サウンドレベルについて，JIS C 1509-1:2017の表4
による全てのトーンバースト継続時間でのトーンバースト応答を測定する。これらの応答は，取扱説明書
に記載された4 kHzの直線動作範囲の下限以上でないことを確認する。
9.13.5 9.13.2による指示値から過負荷を最初に指示するレベルまで定常信号の指示値を1 dBずつ増加さ
せて，トーンバースト応答の試験を行う。トーンバーストの継続時間は，0.25 msとする。
9.13.6 トーンバースト応答の測定値は，トーンバースト信号の音響暴露レベルの指示値又は計算値から対
応する定常信号に対する時間平均サウンドレベルの指示値又は計算値をそれぞれ減じて求める。
9.13.7 基準トーンバースト応答に対するトーンバースト応答の測定値の偏差は，JIS C 1509-1:2017の表4
（4 kHzの基準トーンバースト応答及び受容限度値）による受容限度値を超えないことを確認する。
9.14 時間平均サウンドレベルメータの繰返しトーンバースト列に対する応答
9.14.1 時間平均サウンドレベルを測定するサウンドレベルメータの4 kHzの繰返し正弦波トーンバース
ト列電気信号に対する応答は，基準レベルレンジで試験する。
9.14.2 繰返しトーンバースト列に対する応答の試験は，周波数重み付け特性Aに設定したサウンドレベ
ルメータに定常信号を加えて開始する。取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限値よりも3 dB小さい
28
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
時間平均サウンドレベルを指示するように，入力信号を調整する。時間平均サウンドレベル及びその平均
時間を記録する。
9.14.3 トーンバースト列の振幅及び周波数は，定常信号の振幅及び周波数と同じにする。繰返しトーンバ
ースト列の中の単一トーンバーストは，音響暴露レベルに対するJIS C 1509-1:2017の表4による継続時間
とする。平均時間中の各繰返しトーンバースト列には，時間平均サウンドレベルを安定して測定するのに
十分な数のトーンバーストを含める。トーンバースト列の中の個々のトーンバーストは，ゼロ交差で開始
しゼロ交差で終了する。個々のトーンバースト間の時間は，個々のトーンバースト継続時間の3倍以上と
する。各トーンバースト列に対して，時間平均サウンドレベルを記録する。平均時間は，定常信号の時間
平均サウンドレベルを求めたときの平均時間とする。
9.14.4 取扱説明書に記載された直線動作範囲の下限値よりも10 dB大きい時間平均サウンドレベルを指
示する定常入力信号レベルで，繰返しトーンバースト列に対する応答の試験を繰り返す。時間平均サウン
ドレベルの指示値を規定するJIS C 1509-1:2017の表4の，音響暴露レベルごとの全てのトーンバースト継
続時間について，繰返しトーンバースト列に対する応答の試験を行う。定常信号及び繰返しトーンバース
ト列について，時間平均サウンドレベル及びその平均時間を記録する。
9.14.5 トーンバースト列の時間平均サウンドレベルから，対応する定常信号の時間平均サウンドレベルを
減じて，繰返しトーンバースト列に対する応答の測定値とする。
9.14.6 理論的なトーンバースト応答からの，繰返しトーンバースト列に対する応答の測定値の偏差は，JIS
C 1509-1:2017の表4による受容限度値を超えないことを確認する。理論的な応答は，JIS C 1509-1:2017の
式(9)によって求める。
9.15 過負荷指示
9.15.1 過負荷指示は，レベル直線性及びトーンバースト応答の測定の一部として試験を行うほか，9.15.2
〜9.15.6の追加試験を行う。
9.15.2 過負荷指示は，A特性時間重み付きサウンドレベル又はA特性時間平均サウンドレベルを表示す
るように設定したサウンドレベルメータの基準レベルレンジで試験する。時間重み付きサウンドレベルの
過負荷指示は，時間重み付け特性Fで試験する。時間重み付け特性Sをもっている場合，それも試験する。
試験には，31.5 Hz，1 kHz及び4 kHzの周波数の単一の正の半周期及び負の半周期による正弦波電気信号
を用いる。各試験周波数で，半周期の試験入力信号は，信号レベルが等しい定常正弦波入力信号から抜き
出し，ゼロ交差で開始しゼロ交差で終了する。
9.15.3 各試験周波数で，時間重み付きサウンドレベル又は時間平均サウンドレベルの指示値が，取扱説明
書に記載された直線動作範囲の上限値よりも1 dB低くなるように定常入力信号を加える。過負荷指示が発
生するまで，定常信号から抜き出した正に向かう半周期入力信号レベルを0.1 dBずつ増加する。同じ手順
を負に向かう半周期の信号でも繰り返す。過負荷指示は，最初に発生させた半周期信号レベルを0.1 dBの
分解能で記録する。
注記 半周期入力信号の相対レベルは，入力減衰器の設定から求めてもよい。
9.15.4 C特性ピークサウンドレベルの測定機能をもつサウンドレベルメータでは，C特性ピークサウンド
レベルを測定するように設定して，正に向かう半周期信号及び負に向かう半周期信号を用いて過負荷指示
の試験を繰り返す。
9.15.5 過負荷指示が最初に発生する正に向かう半周期入力の信号レベルと負に向かう半周期入力の信号
レベルとの差は，JIS C 1509-1:2017の5.11.3による受容限度値を超えないことを確認する。
9.15.6 サウンドレベルメータを時間重み付け特性F又は特性Sの時間重み付きサウンドレベルの測定に
29
C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
用いる場合，JIS C 1509-1:2017の5.11.4に従って，過負荷指示を表示することを確認する。時間平均サウ
ンドレベル，音響暴露レベル，時間重み付きサウンドレベルの最大値又はC特性ピークサウンドレベルの
測定においては，JIS C 1509-1:2017の5.11.5に従って，過負荷指示を提示し続けることを確認する。
9.16 C特性ピークサウンドレベル
9.16.1 C特性ピークサウンドレベルの指示値は，定常正弦波電気信号並びに一周期及び半周期の電気入力
信号を用いて試験する。一周期及び半周期の信号は，JIS C 1509-1:2017の表5（C特性ピークサウンドレ
ベルの差の理論値及び受容限度値）によるものとし，定常正弦波信号から取り出す。一周期及び半周期の
信号は，ゼロ交差で開始しゼロ交差で終了する。
9.16.2 基準レベルレンジ及び最も感度の低いレベルレンジにおいて，三つの定常信号レベルでC特性ピ
ークサウンドレベルの指示値を試験する。一つ目の定常信号レベルは，時間重み付け特性FによるC特性
時間重み付きサウンドレベル又はC特性時間平均サウンドレベルの指示値が取扱説明書に記載されたピー
クレベルレンジの上限値よりも4 dB小さくなるようなレベルとする。二つ目の定常信号レベルは，C特性
サウンドレベルの指示値がピークレベルレンジとして取扱説明書に記載された下限値よりも1 dB大きく
なるようなレベルとする。三つ目の定常信号レベルは，指示値が取扱説明書に記載されたピークレベルレ
ンジの上限値と下限値との中間に最も近い1 dB単位で丸めたレベルとする。
9.16.3 9.16.2による三つの信号レベルで，JIS C 1509-1:2017の表5による一周期及び半周期の信号につい
て，C特性ピークサウンドレベルを測定する。対応する定常信号のC特性時間平均サウンドレベル又は時
間重み付け特性FによるC特性時間重み付きサウンドレベルを測定する。一周期及び半周期信号のC特性
ピークサウンドレベルの指示値と，これに対応する定常信号のC特性時間平均サウンドレベル又は時間重
み付け特性FによるC特性時間重み付きサウンドレベルとの差を求める。
9.16.4 C特性ピークサウンドレベルとこれに対応定常信号のC特性サウンドレベルとの測定値の差と，
JIS C 1509-1:2017の表5による差の理論値との偏差は，表5による受容限度値を超えないことを確認する。
9.16.5 上記のC特性ピークサウンドレベルの全ての測定中，過負荷指示が発生しないことを確認する。
9.17 リセット
リセット機能をもつサウンドレベルメータでは，リセット機能の作動によって，表示装置上のリセット
前の指示値が消去することを確認する。また，リセット機能の作動によって，表示装置上に不要な指示値
を発生しないことも確認する。
9.18 電気出力端子
サウンドレベルメータの電気入力装置に，1 kHzの正弦波電気信号を加える。サウンドレベルメータは，
時間重み付け特性FによるA特性重み付きサウンドレベル又はA特性時間平均サウンドレベルを測定する
ように設定する。基準レベルレンジの基準音圧レベルを指示するように入力信号レベルを調整し，指示値
を記録する。全てのアナログ電気出力端子について，1回に一つだけ短絡回路を接続し，指示値を記録す
る。測定した全てのサウンドレベルの指示値の差は，JIS C 1509-1:2017の5.19.2による受容限度値を超え
ないことを確認する。
9.19 計時機能
時間平均サウンドレベルの測定における最小の平均時間又は音響暴露レベルの測定における最小の積分
時間が，取扱説明書に記載された最小時間以下であることを確認する。同様に，最大平均時間又は最大積
分時間が取扱説明書に記載された最大時間以上であることを確認する。この規格で確認した最大平均時間
又は最大積分時間が，24時間を超えていないことが望ましい。
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C 1509-2：2018 (IEC 61672-2：2013，Amd.1：2017)
9.20 チャンネル間のクロストーク
9.20.1 多チャンネルシステムでは，全てのチャンネル間のクロストークについて，31.5 Hz，1 kHz及び8
kHzの周波数の定常電気入力信号を，一方のチャンネルの電気入力装置に加えて試験する。
9.20.2 各試験周波数で，取扱説明書に記載された直線動作範囲の上限値を指示するように，入力信号レベ
ルを調整し，その指示値を記録する。信号を加えたチャンネル及び信号を加えない全てのチャンネルの信
号レベルの指示値を記録する。信号レベルの指示値間の差は，JIS C 1509-1:2017の5.22.2による値以上で
ないことを確認する。周波数重み付け特性は，特性C，特性Z，又は必要な場合，特性Aとする。
9.21 電源
9.21.1 最初に，取扱説明書に記載された公称電圧を供給する電源を用いて，サウンドレベルメータを試験
する。サウンドレベルメータとともに提出された音響校正器を用いて，基準レベルレンジに設定したサウ
ンドレベルメータのマイクロホンに音響信号を加え，時間重み付け特性FのA特性時間重み付きサウンド
レベル又はA特性時間平均サウンドレベルを記録する。次に，取扱説明書に記載された最大電圧及び最小
電圧を供給する電源を用いて，試験を繰り返す。
9.21.2 公称電圧でのサウンドレベルの指示値からの，最大電圧及び最小電圧でのサウンドレベルの指示値
の偏差は，JIS C 1509-1:2017の5.23.2による受容限度値を超えないことを確認する。
注記 電源には，電池も含まれる。
10 型式評価試験報告書
10.1 装着した場合，ウインドスクリーン及び附属品を含めた試験したサウンドレベルメータの構成，サ
ウンドレベルメータの向き，環境条件を含めた試験条件，並びに試験結果の詳細を，型式評価試験報告書
に記載する。それぞれの試験結果は，JIS C 1509-1の仕様に対する適合又は不適合の記載とともに設計目
標値からの偏差及び実際の測定の不確かさを記録する。型式評価試験報告書は，標準的な様式を用いるこ
とが望ましい。
10.2 自己雑音レベルの試験について，型式評価試験報告書には，サウンドレベルの指示値があるレベル
レンジに対して，取扱説明書に記載された予想される自己雑音レベルが最も大きい値よりも10 dB大きい
場合，その旨を記載する。
10.3 型式評価試験報告書には，その形式のサウンドレベルメータ全体が，当該サウンドレベルメータの
製造事業者が指定するクラスにおいて，JIS C 1509-1:2017の要求事項に適合するか否かを記載する。また，
当該形式のサウンドレベルメータが型式の証明を受けたか否かも記載する。当該形式のサウンドレベルメ
ータが型式の証明を受けた場合には，その後行われる定期試験に用いるために，型式の証明書は，公的に
利用可能であることが望ましい。
10.4 JIS C 61000-4-3:2012の箇条10による試験報告を，この型式評価試験報告書に記載する。また，静
電気放電，電源周波数磁界及び無線周波電磁界を用いた一連の試験終了時に，一時的な性能低下若しくは
機能損失，又はデータの消失があった場合には，型式評価試験報告書にその旨を記載する。
参考文献 IEC 61094-8，Measurement microphones−Part 8: Methods for determining the free-field sensitivity of
working standard microphones by comparison