C 1283-2：2017
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 表示方式························································································································ 12
5 誘導形計器の表記 ············································································································ 12
6 誘導形計器の性能 ············································································································ 13
6.1 検定公差 ····················································································································· 13
6.2 電気的性能 ·················································································································· 13
6.3 機械的性能 ·················································································································· 14
6.4 絶縁性能 ····················································································································· 15
6.5 耐候性（耐光性） ········································································································· 15
7 誘導形計器の試験方法 ······································································································ 15
7.1 器差試験 ····················································································································· 15
7.2 電気的性能の試験 ········································································································· 15
7.3 機械的性能の試験 ········································································································· 16
7.4 絶縁性能の試験 ············································································································ 18
7.5 耐候性（耐光性）の試験 ································································································ 18
8 電子式計器の種類 ············································································································ 19
8.0 計器の種類 ·················································································································· 19
8.1 計量単位 ····················································································································· 19
8.2 定格動作条件 ··············································································································· 19
8.3 精度要件 ····················································································································· 20
8.4 表記 ··························································································································· 20
8.5 計量特性の保護 ············································································································ 21
8.6 使用のための適性 ········································································································· 25
9 電子式計器の性能 ············································································································ 26
9.1 検定公差 ····················································································································· 26
9.2 電気的性能 ·················································································································· 26
9.3 影響 ··························································································································· 27
9.4 妨害 ··························································································································· 30
9.5 絶縁性能 ····················································································································· 34
9.6 材質 ··························································································································· 34
9.7 負荷電流導体及び端子の温度上昇····················································································· 34
9.8 複合電気計器の表示機構 ································································································ 34
C 1283-2：2017 目次
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9.9 出力機構 ····················································································································· 34
9.10 機械的性能 ················································································································· 34
9.11 需要時限 ···················································································································· 35
10 電子式計器の試験方法 ···································································································· 35
10.0 試験条件 ···················································································································· 35
10.1 器差試験 ···················································································································· 35
10.2 電気的性能の試験 ········································································································ 36
10.3 影響試験 ···················································································································· 36
10.4 妨害試験 ···················································································································· 42
10.5 絶縁性能の試験 ··········································································································· 51
10.6 材質の試験 ················································································································· 52
10.7 負荷電流導体及び端子の温度上昇試験 ············································································· 52
10.8 複合電気計器の表示機構の試験 ······················································································ 52
10.9 出力機構の試験 ··········································································································· 53
10.10 機械的性能の試験 ······································································································ 53
10.11 需要時限の試験·········································································································· 53
11 検定 ···························································································································· 53
12 使用中検査 ··················································································································· 54
13 対応関係 ······················································································································ 54
附属書A（規定）検定の方法 ································································································· 55
附属書B（規定）使用中検査 ································································································· 57
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
電気計測器工業会（JEMIMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。これによって，JIS C 1283-2:2014は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 1283の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 1283-1 第1部：一般仕様
JIS C 1283-2 第2部：取引又は証明用
日本工業規格 JIS
C 1283-2：2017
最大需要電力計−第2部：取引又は証明用
Maximum demand meter-
Part 2: Measuring instruments used in transaction or certification
序文
この規格は，最大需要電力計が計量法の特定計量器として要求される要件のうち，構造及び性能に係る
技術上の基準及び試験の方法を規定するために作成した日本工業規格であり，この規格の適合だけをもっ
て計量法で定める検定に合格したということにはならない。また，この規格に適合するものであることを
示す工業標準化法第19条の表示を付すことはできない。
1
適用範囲
この規格は，日本国内で取引又は証明における計量に使用される最大需要電力計であって，計器用変成
器と組み合わせて使用する，次の計器（以下，計器という。）について規定する。
− 発信装置付電力量計から伝送されるパルスを受信して最大需要電力を表示する分離形の表示装置（誘
導形）
− 電力量計と複合された最大需要電力計（電子式）
なお，この規格で規定する事項のほかは，JIS C 1210，JIS C 1216-1，JIS C 1216-2，JIS C 1283-1，JIS C
1271-2及びJIS C 1272-2による。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
JIS C 1210 電力量計類通則
JIS C 1216-1 電力量計（変成器付計器）−第1部：一般仕様
JIS C 1216-2 電力量計（変成器付計器）−第2部：取引又は証明用
JIS C 1271-2 交流電子式電力量計−精密電力量計及び普通電力量計−第2部：取引又は証明用
JIS C 1272-2 交流電子式電力量計−超特別精密電力量計及び特別精密電力量計−第2部：取引又は証
明用
JIS C 1281 電力量計類の耐候性能
JIS C 1283-1 電力量，無効電力量及び最大需要電力表示装置（分離形）−第1部：一般仕様
JIS C 3307 600 Vビニル絶縁電線（IV）
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
2
C 1283-2：2017
JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：
B）
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイク
ル）試験方法（試験記号：Db）
JIS C 60068-2-47:2008 環境試験方法−電気・電子−第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
JIS C 60068-2-64 環境試験方法−電気・電子−第2-64部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試
験記号：Fh）
JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試験記
号：Cab）
JIS C 60068-3-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第3-1部：低温（耐寒性）試験及び高温（耐熱性）
試験の支援文書及び指針
JIS C 60068-3-4:2004 環境試験方法−電気・電子−第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-6-1:2008 電磁両立性−第6-1部：共通規格−住宅，商業及び軽工業環境におけるイミュ
ニティ
JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
JIS K 2246 さび止め油
IEC 60060-1:2010，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 61000-4-1:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-1: Testing and measurement techniques−
Overview of IEC 61000-4 series
IEC 61000-4-18:2011，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-18: Testing and measurement techniques
−Damped oscillatory wave immunity test
IEC 62053-21，Electricity metering equipment (a.c.)−Particular requirements−Part 21: Static meters for
active energy (classes 1 and 2)
IEC 62059-32-1，Electricity metering equipment−Dependability−Part 32-1: Durability−Testing of the
stability of metrological characteristics by applying elevated temperature
3
C 1283-2：2017
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次によるほか，JIS C 1210，JIS C 1216-2，JIS C 1271-2及びJIS
C 1272-2による。
3.1
変成器付計器（transformer operated meter）
変成器と組み合わせて使用する計器。ただし，変成器は含まない。
3.2
電子式計器（static meter）
半導体などの電子部品によって計量及び動作する計器。
3.3
誘導形計器
固定コイルに流れる電流によって，誘導可動素子（一般に円板）に誘導される電流で動作する計器。
3.4
（計量）素子（measuring element）
誘導形計器では，回転子軸に駆動トルクを与える作動装置の一組。電子式計器では，入力電圧及び入力
電流を乗算して電力に比例した電気的な量に変換する部分。
3.5
多素子計器
複数の素子をもつ計器。相及び線式が，三相3線式又は三相4線式の計器をいう。
3.6
電流回路（current circuit）
負荷電流又はこれに相応する電流が通じる回路。
3.7
電圧回路（voltage circuit）
供給電圧又はこれに相応する電圧が加わる回路。
3.8
計量値
計器の表示する物象の状態の量の値であって，計器で計量した電力。
3.9
表示装置（indicating device）
最大需要電力の計量値などを表示する装置。
注記 表示装置は，他の関連情報を表示するために使用する場合がある。
3.10
レジスタ（register）
電力を計量する装置であり，計量する機能とその計量した計量値を保持する機能をもつ。
注記 レジスタには，機械式装置又は電子装置がある。レジスタは表示装置に含まれることもある。
3.11
レジスタに乗じる定数（register multiplier）
計量された電力の値を得るために，レジスタの読みに乗じなければならない定数。
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3.12
計量パルス（test output）
計器で計量する電力量に比例するパルスで，計器の試験に使用するもの。
3.13
需要時限
平均電力を求めるため定められた時間。
3.14
時限パルス
計器の時限に同期するパルスで，計器の試験に使用するもの。
3.15
計器定数（meter constant）
誘導形計器では，計器の1 kWh当たりの回転子の回転数を表す値。電子式計器では，1 kWs当たりの計
量パルスのパルス数を表す値。
3.16
パルス定数
発信装置及び表示装置（パルス合成器を含む。）から発信されるパルスの定数で，1 kWh当たりのパルス
数。
3.17
補助装置（ancillary device）
基本的な計量機能以外の計器内の装置。
3.18
電流（current），I
計器に流れる電流の実効値。
3.19
始動電流（starting current），Ist
計器が力率1，多素子計器では平衡負荷状態のとき，計量動作を開始しなければならない最小の電流値。
3.20
最小電流（minimum current），Imin
計器が精度要件を満たさなければならない最小の電流値。
3.21
転移電流（transitional current），Itr
最大許容器差に適合する電流値のうち，最大許容器差が小さい範囲における最小の電流値。
3.22
最大電流（maximum current），Imax
計器が精度要件を満たさなければならない最大の電流値。
3.23
定格電流，In
計器の正常動作のために，規定する電流値の中から製造業者が指定（選択）した電流値。
3.24
電圧（voltage），U
5
C 1283-2：2017
計器に印加する電圧の実効値。
3.25
定格電圧（nominal voltage），Unom
計器の正常動作のために，規定する電圧値の中から製造業者が指定（選択）した電圧値。
3.26
周波数（frequency），f
計器に供給される電圧及び電流の周波数。
3.27
定格周波数（nominal frequency），fnom
計器の正常動作のために，規定する周波数の中から製造業者が指定（選択）した電圧及び電流の周波数。
3.28
動作停止電圧
電圧を定格電圧から徐々に下げていったとき，計器が計量動作を停止する電圧。
3.29
動作開始電圧
電圧を0 Vから徐々に上げていったとき，計器が計量動作を開始する電圧。
3.30
高調波（harmonic）
定格周波数の整数倍の周波数部分。
3.31
分数調波（sub-harmonic）
定格周波数の整数分の一である周波数成分。定格周波数の1/n倍，ここでnは2以上の整数である。
3.32
高調波次数（harmonic number）
定格周波数に対する比で表す高調波を特定する整数。
3.33
ひずみ率（distortion factor），d
定格周波数成分の実効値に対する高調波成分の実効値の比。
3.34
力率（power factor）
有効電力の皮相電力に対する比。力率＝cosΦで表される（電圧Uと電流Iとの間の位相差Φの余弦）。
3.35
有効電力（active power）
瞬時電圧と瞬時電流との積。
3.36
有効電力量（active energy）
有効電力の時間積分値。通常，kWhで表される。
3.37
器差
計量値から基準器が示す真実の値を減じた値のその真実の値に対する割合。
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注記 JIS C 1283-1では“誤差”と表現している。
3.38
最大許容器差（maximum permissible error）
計器において，規定する器差の限度値。
3.39
器差の差の限度（maximum permissible error shift）
基準条件の値をもつ影響因子が定格動作条件内で変動する際に，この規格で認められている計器の器差
の変化の最大値。
3.40
固有器差（intrinsic error）
基準条件下で決定する計器の器差。
3.41
初期固有器差（initial intrinsic error）
特性試験及び耐久性評価の前に決定する計器の固有器差。
3.42
影響量（influence quantity）
計量結果に影響を与える量。
3.43
影響因子（influence factor）
定格動作条件内の影響要素。
3.44
妨害（disturbance）
定格動作条件に規定されていない影響量。
3.45
定格動作条件（rated operating condition）
計器が設計どおりに機能しなければならない動作条件。
3.46
基準条件（reference condition）
計器の性能評価又は計量結果の比較のために指定する条件。
3.47
耐久性（durability）
計器が一定の使用期間にわたって，その性能特性を維持する能力。
3.48
誤り（fault）
計器の指示器差と固有器差との差。
注記 主に誤りは，存在するデータの望ましくない変化の結果である。
3.49
有意誤り（significant fault）
この規格で定める定格動作条件，影響及び妨害で規定された最大許容器差又は器差の差の限度を超える
ものであり，また，それによって生じる計量値の変化及び機能の損失。
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3.50
誤り検出機能（checking facility）
計器に内蔵され，有意誤りを検知して，それに対応できる機能。
3.51
逆方向電流
計器の電流端子を接続したときに負荷側から電源側へ流れる電流。
注記 一般に電源から負荷側に流れる向きを順方向という。
3.52
単方向計器
一方向電流だけの電力量を計量する計器。
3.53
双方向計器
順方向電流の電力量を計量する計器と逆方向電流の電力量を計量する計器が構造上一体となっている複
合計器。
3.54
法定計量に関連する（部分）
計量法の要求事項を満たす特定計量器としての構造，性能などを実現しているハードウェア及びソフト
ウェアの部分。
例 計量の正確さや，計器の正確な機能などに影響するハードウェア及びソフトウェア，又はこれら
の一部分。
3.55
屋内形計器
雨水が全くかからず，直射日光が当たらない場所で，かつ，結露水，降雨（降雪）又は氷生成の影響を
受けない場所で使用することができる耐候構造の計器（IP5Xに相当）。
3.56
屋内耐候形計器
雨水が全くかからないが，直射日光が当たる場所，又は結露水若しくは雨水以外の源からの要因で水若
しくは氷生成の影響を受ける可能性がある場所で使用することができる耐候構造の計器（IP5Xに相当）。
3.57
発信装置
取引又は証明に使用するために，電力量又は無効電力量に比例した電気的パルスを発生する装置。
3.58
出力機構
計量値などのデータを電子計算機などに出力する機構。発信装置は含まない。
3.59
出力機構付計器
出力機構を備えた計器。
3.60
複合計器
二つ以上の電気計器（単体計器）が構造上一体となっている計器。
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なお，一つの測定量だけを計量する計器は単体計器と呼ぶ。
例 普通電力量計，無効電力量計及び最大需要電力計が一つの計器として一体となっているもの
3.61
複合電気計器
複合計器のうち，同種の電気計器を二つ以上含むもので，当該電気計器が同一の検出部及び中央演算処
理装置を備える計器。
3.62
監査証跡
法定計量に関連する計量特性に影響する可能性がある事象（装置のパラメータ値への変更，ソフトウェ
アの更新など）の情報記録をタイムスタンプ付きで漏れなく記録したデータファイル。
3.63
真正性
身元認証過程の結果（合格又は不合格）。
注記 身元認証とは，利用者，プロセス又は装置が宣言又は申し立てた身元の正当性を確認すること
をいう。
3.64
コマンド
入力インタフェース上の電気的，光学的若しくは電磁気的な信号列，又はデータ転送プロトコルにおけ
るコード列。コマンドには，計器又は電子装置のソフトウェアによって生成されるもの（ソフトウェアコ
マンド）と，計器のユーザインタフェースを通してユーザが生成するもの（ユーザコマンド）とがある。
3.65
通信
一定の規則に従った，二つ以上のユニット（例えば，ソフトウェアモジュール，電子装置など）の間で
の情報交換。
3.66
法定計量に関連するパラメータ
型式固有パラメータ及び装置固有パラメータ。法定計量に関連するソフトウェアの部分である。
3.67
法定計量に関連するソフトウェア
計器又は電子装置に組み込まれているソフトウェアで，法定計量に関連する機能を定義及び実行するも
の。
3.68
法定計量に関連する固定のソフトウェア
法定計量に関連するソフトウェアの部分で，実行コードが型式承認時と全く同じであり続けるもの。こ
の部分は，ソフトウェアの更新を監視及び実行の役割を担う。
3.69
通信インタフェース
計器が，外部又は計器の部品（例えば，電子装置）の間で情報の受け渡しを可能にする電子的，光学的，
無線などのインタフェース。出力機構の部分。
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3.70
装置固有パラメータ
個々の計器によって異なる値を設定するもの。装置固有パラメータには校正に関するパラメータ（例え
ば，調整値，補正値など），設定に関するパラメータ（例えば，使用範囲の上限，下限，計量単位など）な
どがある。
3.71
型式固有パラメータ
計器の型式によって特定される値となる法定計量に関連するパラメータ。型式固有パラメータは法定計
量に関連するソフトウェアに含まれる。
3.72
電子装置
電子部品を用いて，特定の機能を実行する装置。電子装置は，別々のユニットとして製造され，独立し
て試験することができる。通常，計器の内部に組み込まれており，計器とともに試験される。
3.73
イベント
計器のパラメータ若しくは調整値の変更，又はソフトウェアモジュールの更新を伴う作業。
3.74
完全性
プログラム，データ又はパラメータが，利用，転送，保存，修復又は保守されるときに，不正な又は意
図されていない改ざん（竄）を受けていないことの保証。
3.75
封印
部品，ソフトウェアなどを不正に修正，再調整又は削除できないよう計器を保護するための手段。ハー
ドウェア，ソフトウェア，又は両者の組合せがある。
3.76
特別な動作モード
計器の機能，特性の設定などを行うための通常の動作状態とは異なる動作状態であり，アクセス権と関
連している。
3.77
ソフトウェア
コード，データ，パラメータ及びソフトウェアモジュールの集合。
3.78
ソフトウェア識別情報
ソフトウェア又はソフトウェアモジュールに固有に結び付いている判読可能な文字の列。
3.79
ソフトウェアインタフェース
プログラムコード及び専用のデータ領域から構成され，法定計量に関連する，しないにかかわらずソフ
トウェアモジュール間のデータの受取，フィルター処理，転送を行うもの。
3.80
ソフトウェアモジュール
10
C 1283-2：2017
プログラム，サブルーチン，ライブラリ，オブジェクトなどの論理的実体。データ領域を含む。また，
他の構成要素と関係をもつ場合がある。計器又は電子装置のソフトウェアは，一つ以上のソフトウェアモ
ジュールから構成される。
3.81
ソフトウェア保護
ハードウェア又はソフトウェアによる封印によって，計器ソフトウェア又はデータ領域を変更できない
ようにするための手段。ソフトウェアを変更するためには封印を除去する，封印に損傷を与える，又は封
印を破壊する必要がある。
3.82
ソフトウェア分離
計器又は電子装置内のソフトウェアを法定計量に関連する部分と，法定計量に関連しない部分とに分け，
識別する行為。
3.83
タイムスタンプ
あるイベント又は欠陥が起こった日付，又は日付及び時刻を指す文字列。
3.84
サイクリック
複数の計量値を一つの電子式の表示装置によって表示する場合に，計量値を周期的に繰り返し表示させ
る動作・機能。
3.85
アクセス
ソフトウェア部分へのアクセス及びハードウェア部分へのアクセス。前者は，ソフトウェア部分の変数，
コードの内容などを読み書きすることであり，具体的には，計器の機能，特性，器差などに関連するパラ
メータ，データについて読み書きすることである。後者は，ボタン又はスイッチによる計器の設定，表示
に関連する操作，部品交換，コネクタ部分の操作など，ハードウェア部分に直接関与することである。
3.86
アクセス権
アクセスにおける権限であり，アクセスする者とアクセスする内容について定義して，読込みだけの許
可，書込み禁止などの権限が設定される。
3.87
I/Oポート
通信などによる外部との入出力をする物理的な部分で，接続するための端子など。出力機構の部分。
3.88
端子ボックス
計器を配電線又は変成器からの接続線に接続するための接続端子をもつ部分。
注記 分離することができる端子ボックス（端子ブロック）は，この規格の適用範囲外である。
3.89
接続端子
配電線又は変成器からの接続線を接続する端子で，配電線又は接続線をねじなどで接続できる端子ボッ
クスの部分，又は計器内部の電圧回路及び電流回路を端子ボックスに接続する端子。
11
C 1283-2：2017
3.90
端子の記号
計器において，正しい接続を行うために，計器本体又は端子ボックスに記号で表示されるもの。
注記 JIS C 1210参照。
3.91
補助電源
計器において動作に必要な駆動電源を供給するために用意する電源。
3.92
分離することができる表示機構
電子装置の一種で，計器本体から，コードなどによって分離している表示機構又はコネクタなどで外付
けする表示機構。
3.93
型式承認表示
計量法に規定される特定計量器の型式について，その承認を取得している型式に属することを示す表示。
型の記号ともいい，銘板へ表記するもの。
3.94
表示機構
計量値を連続的に示すか又は一定間隔で断続的に表示する目盛標識の集合で，表示装置を含む電力の計
量値などを表示する機構。
3.95
器差試験
計量法に規定される構造に係る技術上の基準に適合するかどうかを定めるために器差を測定すること。
3.96
検定
計量法に規定される特定計量器の検査。
注記 検定を行うものは，計量法によってその特定計量器の種類ごとに都道府県知事，指定検定機関，
国立研究開発法人産業技術総合研究所，日本電気計器検定所などと定められている。
3.97
使用中検査
電気計器及び計器用変成器の製造後，市場において使用されている計量器の性能などの検査。
3.98
検定公差
検定における器差の絶対値で表される許容差。
3.99
使用公差
使用中検査における器差の絶対値で表される許容差。
3.100
アナログ指示機構
計量値を連続的に示す目盛標識の集合。“アナログ式”ともいう。
12
C 1283-2：2017
3.101
デジタル表示機構
計量値を一定間隔で断続的に表示する目盛標識の集合。“デジタル式”ともいう。
3.102
時限装置
需要時限を定める装置。
3.103
需要電力
需要時限中における電力の平均値。
3.104
需要指針
指針形の計器において，時限ごとに需要電力を繰り返して示す表示。
3.105
需要指標
数字表示形の計器において，時限ごとに需要電力を繰り返して示す表示。
3.106
押し手
指針形の計器において，時限ごとの需要電力に応じて，最大需要電力を繰り返して表示する需要指針を
押し進める機構。
3.107
復帰装置
最大需要電力及び需要電力の表示を，零位に復帰させる装置。
3.108
補助電源回路
表示装置を動作させるための電圧が加えられる回路で，表示装置の補助電源端子間の回路部分。
3.109
定格負荷
計器用変成器二次側の定格電圧，定格電流，定格周波数及び力率1の場合の負荷。
4
表示方式
計器の表示方式は，指針形又は数字表示形とする。
5
誘導形計器の表記
計器には，その見やすい箇所に，次に掲げる事項を明瞭に，かつ，消滅しないように表記しなければな
らない。
a) 種類 “最大需要電力計”と表記する。
b) 型の記号
c) 使用回路の相及び線式 ただし，表記を簡略する場合は，“三相3線式”を三3，“三相4線式”を
三4と表記する。
d) 計器固有の定格電圧，定格電流，定格周波数，定格負荷及び定格需要時限 ただし，三相4線式計器
13
C 1283-2：2017
の場合は，相電圧を表記する。
e) 分離形計器の受量装置は，補助電源の定格周波数及び定格電圧
f)
分離形計器は，パルス記号及びパルス定数 パルス定数の表記は，…pulse/kWh又は…p/kWhとする。
g) 型式承認番号 型式承認表示として取得した番号。
h) 製造番号
i)
製造業者名又は登録商標
注記 商標法第二条第五項の登録商標をいう。
j)
西暦年による製造年
k) 附属変成器の製造番号及び種類 種類は，“変流器”，“計器用変圧器”（“コンデンサ型変圧器”は，そ
の旨）又は“変圧変流器”である旨の表示。
l)
屋内形計器は，“屋内形”である旨の表示 “屋内形”と表記する。ただし，表記を簡略する場合は，
“屋内”と表記する。
m) 屋内耐候形計器は，“屋内耐候形”である旨の表示 “屋内耐候形”と表記する。ただし，表記を簡略
する場合は，“屋内耐候”と表記する。
n) 変成器の一次及び二次の定格値で表した変成比
o) 補助電源を備えるものは，“補助電源”付きである旨の表示及びその電圧値
6
誘導形計器の性能
6.1
検定公差
計器は，7.1によって試験をしたとき，その器差（器差百分率で表す。）が負荷電流に応じ，表1の検定
公差を満足しなければならない。
表1−最大需要電力計の検定公差
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
力率
検定公差
%
20 a)，35 b)，50及び100
1
3.0
100
0.5（遅れ電流）
3.0
注a) 機械式でデジタル式のものに適用する。
b) アナログ式のものに適用する。
6.2
電気的性能
6.2.1
温度特性
計器は，7.2.1によって試験をしたとき，周囲温度の変化によって生じる器差の差の限度が，力率1にあ
っては0.6 %，力率0.5（遅れ電流）にあっては1.0 %を超えてはならない。
6.2.2
電圧特性
計器は，7.2.2によって試験をしたとき，定格電圧を基準とする±10 %の電圧変化によって生じる器差の
差の限度が，いずれも1.0 %を超えてはならない。
6.2.3
周波数特性
計器は，7.2.3によって試験をしたとき，定格周波数を基準とする±5 %の周波数の変化によって生じる
器差の差の限度が，力率1にあっては1.0 %，力率0.5（遅れ電流）にあっては2.0 %を超えてはならない。
6.2.4
外部磁界の影響
14
C 1283-2：2017
計器は，7.2.4によって試験をしたとき，外部磁界を与えたことによって生じる器差の差の限度が，1.0 %
を超えてはならない。
6.2.5
過電流の影響
計器は，7.2.5によって試験をしたとき，表示機構の表示は正しく表示しなければならない。
6.3
機械的性能
6.3.1
機構など
計器の表示機構，歯車比，復帰装置及び時限装置は，次による。
a) 計器は，7.3.1 a) によって試験をしたとき，試験開始直後に対する500時間経過ごとの器差の差の限
度が，1.5 %を超えてはならない。
b) 計器の表示機構の歯車比及びそのかみ合わせ又は表示回路は，7.3.1 b) によって試験をしたとき，負
荷電流に応じ，表2の最大許容器差を満足しなければならない。
表2−歯車比などの影響による最大許容器差
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
最大許容器差
%
20 a)，35 b)
±2.0
100
±1.0
注a) 機械式でデジタル式のものに適用する。
b) アナログ式のものに適用する。
c) 計器の復帰装置，時限装置，並びにアナログ式のものにあっては需要指針及び押し手，デジタル式の
ものにあっては最大需要電力表示器及び需要指標は，次による。
1) 復帰装置は，アナログ式のものにあっては需要指針及び押し手を確実に零位に復帰させることがで
き，かつ，上位方向へ移動してはならない。デジタル式のものにあっては最大需要電力表示器の表
示を確実に零位に復帰させることができ，かつ，増加してはならない。
2) 時限装置は，定格周波数の定格電圧の80 %の電圧において，確実に動作しなければならない。
d) アナログ式の計器の場合，需要指針は，押し手によって円滑に上位方向に移動し，かつ，押し手が零
位に復帰するときはその位置に静止しなければならない。デジタル式の計器の場合，最大需要電力表
示器は，需要指標によってその表示が確実に増加し，かつ，需要指標が零位に復帰するとき又はその
表示を超えないときはその表示は変化してはならない。
e) アナログ式の計器の場合，押し手は，需要電力の増加に応じて需要指針を確実に上位方向へ移動させ
なければならない。デジタル式の計器の場合，需要指標は，需要電力の増加に応じて最大需要電力表
示器の表示を確実に増加させなければならない。
f)
計器は，7.3.1 c) によって試験をしたとき，器差の最大と最小との差が2.0 %を超えてはならない。
6.3.2
傾斜の影響
計器は，7.3.2によって試験をしたとき，傾斜によって生じる器差の差の限度が，いずれも1.5 %を超え
てはならない。
6.3.3
振動の影響
計器は，7.3.3によって試験をしたとき，機械的損傷を生じてはならない。また，振動を加えたことによ
って生じる器差の差の限度が，いずれも1.5 %を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩み，電圧又は電流コイルの
15
C 1283-2：2017
断線などである。
6.3.4
衝撃の影響
計器は，7.3.4によって試験をしたとき，機械的損傷を生じてはならない。また，衝撃を加えたことによ
って生じる器差の差の限度が，いずれも1.5 %を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩み，電圧又は電流コイルの
断線などである。
6.3.5
需要時限
計器は，定格需要時限の99 %以上101 %以下の時間で電力の平均値を算出するものでなければならない。
また，7.3.5によって試験をしたとき，その測定した時間が，定格需要時限の99 %以上101 %以下でなけれ
ばならない。
6.4
絶縁性能
6.4.1
絶縁抵抗
計器は，7.4.1によって試験をしたとき，絶縁抵抗が5 MΩ以上でなければならない。
6.4.2
商用周波耐電圧
計器は，7.4.2によって試験をしたとき，これに耐えなければならない。
6.4.3
雷インパルス耐電圧
計器は，7.4.3によって試験をしたとき，電圧コイル，電流コイル，補助電源回路，リード線などで放電
したり，電圧コイルが断線したりするなどの異常があってはならない。
6.5
耐候性（耐光性）
屋内耐候形計器は，7.5によって試験をしたとき，次の変化があってはならない。
− 金属部分の進行性のさび
− 塗装面のひび割れ，膨れ，剝がれ及び著しい変退色
− カバー又はパッキンのひび割れ，膨れ及び変質
− 文字，標識などの読取りに支障となる，銘板，試験標，表示装置及びカバーの変退色
7
誘導形計器の試験方法
7.1
器差試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表3に規定する力率の負荷電流の電力，又はこの電力に相当
するパルスを加えて，器差を測定する。
表3−器差試験の条件
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
力率
20 a)，35 b)，50及び100
1
100
0.5（遅れ電流）
注a) 機械式でデジタル式のものに適用する。
b) アナログ式のものに適用する。
7.2
電気的性能の試験
7.2.1
温度特性
試験は，次による。温度を変える場合は，温度衝撃が加わらないように，試験槽内の温度を毎分1 ℃程
16
C 1283-2：2017
度，最大毎分2 ℃の割合で変化させる。
定格周波数及び定格電圧の下で，力率1及び0.5（遅れ電流）のInの負荷電流の電力，又はこの電力に
相当するパルスを加えて，−10 ℃，0 ℃，10 ℃，20 ℃，30 ℃及び40 ℃の周囲温度において器差を測
定し，10 ℃変化することによって生じる器差の差を求める。
7.2.2
電圧特性
試験は，定格周波数の下で，定格電圧の90 %，100 %及び110 %の電圧で，表4に規定する力率の負荷
電流の電力，又はこの電力に相当するパルスを加えて器差を測定し，定格電圧からの電圧変化によって生
じる器差の差を求める。
表4−電圧特性の試験の負荷電流及び力率
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
力率
10及び100
1
100
0.5（遅れ電流）
7.2.3
周波数特性
試験は，定格電圧の下で，定格周波数の95 %，100 %及び105 %の周波数で，表5に規定する力率の負
荷電流の電力，又はこの電力に相当するパルスを加えて器差を測定し，定格周波数からの周波数変化によ
って生じる器差の差を求める。
表5−周波数特性の試験の負荷電流及び力率
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
力率
10及び100
1
50
0.5（遅れ電流）
7.2.4
外部磁界の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの10 %の負荷電流の電力，又はこの電力に相当す
るパルスを加えて器差を測定した後，計器を磁化コイルの中心に置き，そのコイルの発生する磁界を計器
に最大の影響を及ぼす方向に与え，器差を測定し，外部磁界によって生じる器差の差を求める。磁化コイ
ルは直径1 mで起磁力100 Aの円形コイルとし，その電流は，計器の定格周波数で，また，計器に最大の
影響を与える位相角とする。
7.2.5
過電流の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの300 %の負荷電流の電力，又はこの電力に相当
するパルスを3分間加えて，回転子の回転数又はパルス数に正しく比例して表示機構の表示が動作するこ
とを調べる。
7.3
機械的性能の試験
7.3.1
機構など
試験は，次による。
a) 連続動作による影響の試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流の電力，又は
この電力に相当するパルスを加えて，2 000時間連続動作させ，通電直後，1 000時間経過後及び2 000
17
C 1283-2：2017
時間経過後に器差の測定を，次の方法によって行い，通電直後に対する1 000時間経過ごとにおける
器差の差を求める。
各経過時間の試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの20 % 1)，35 % 2) 及び100 %の
負荷電流の電力，又はこれらの電力に相当するパルスを加えて行う。
b) 歯車比などによる影響の試験は，温度が−10 ℃，20 ℃及び40 ℃における歯車比及びそのかみ合わ
せ又は表示回路による器差の測定を，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の20 % 1)，35 % 2) 及び
100 %の負荷電流の電力，又はこれらの電力に相当するパルスを加えて行う。
c) 試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの20 % 1)，35 % 2) 及び100 %の負荷電流の電力，
又はこれらの電力に相当するパルスを加えて器差を10回繰り返し連続して測定し，器差の最大と最小
との差を求める。
注1) 機械式でデジタル式のものに適用する。
2) アナログ式のものに適用する。
7.3.2
傾斜の影響
試験は，計器を，正常な姿勢並びに正常な姿勢から前，後，左及び右にそれぞれ3°傾斜させた場合に
おいて，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの20 % 1)，35 % 2) 及び100 %の負荷電流の電力，又
はこれらの電力に相当するパルスを加えて器差を測定し，それぞれの傾斜によって生じる器差の差を求め
る。
7.3.3
振動の影響
試験は，計器を，正常な姿勢に対して上下，左右及び前後の方向に，JIS C 60068-2-6の方法によって，
振動数16.7 Hz，全振幅（複振幅）4 mmの振動をそれぞれ1時間加えた場合において，それぞれの振動を
加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。また，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの20 % 1)，
35 % 2) 及び100 %の負荷電流の電力，又はこれらの電力に相当するパルスを加えてそれぞれの振動を加え
る前及び後の器差を測定し，それぞれの振動によって生じる器差の差を求める。
7.3.4
衝撃の影響
試験は，計器を，正常な姿勢に対して上下及びこれに直角の方向に，JIS C 60068-2-27の方法によって，
表6に示す衝撃を加えた場合において，それぞれの衝撃を加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。
また，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの20 % 1)，35 % 2) 及び100 %の負荷電流の電力，又は
これらの電力に相当するパルスを加えてそれぞれの衝撃を加える前及び後の器差を測定し，それぞれの衝
撃によって生じる器差の差を求める。
表6−衝撃の影響の試験条件
パルス波形
正弦半波
パルスの作用時間
11 ms
ピーク加速度
500 m/s2
回数
2回
7.3.5
需要時限
試験は，定格周波数及び定格電圧を加えた場合において，アナログ式のものにあっては押し手が，デジ
タル式のものにあっては需要指標が零位に復帰してから再び零位に復帰するまでの時間を測定する。
18
C 1283-2：2017
7.4
絶縁性能の試験
7.4.1
絶縁抵抗
試験は，電圧回路とベースとの間，電流回路とベースとの間，電圧回路と電流回路との間及び電流回路
相互間に，直流電圧500 Vを加えて絶縁抵抗を測定する。分離形の表示装置は，補助電源回路とベースと
の間にも，直流電圧500 Vを加えて絶縁抵抗を測定する。
7.4.2
商用周波耐電圧
試験は，電圧回路とベースとの間，電流回路とベースとの間，電圧回路と電流回路との間及び電流回路
相互間に，定格周波数の正弦波又は正弦波に近い交流電圧2 kVを1分間加えて行う。分離形の表示装置は，
補助電源回路とベースとの間にも定格周波数の正弦波又は正弦波に近い交流電圧2 kVを1分間加えて行う。
7.4.3
雷インパルス耐電圧
試験は，次による。
a) 印加電圧 計器の電気回路に印加する電圧は，次による。
− 正極性の標準雷インパルス電圧波形：＋1.2/50 μs
− 全波電圧：5 kV。ただし，変流器だけと組み合わせて使用する計器は，6 kV。
b) 印加方法 次に規定する端子間に試験電圧を各1回加える。ただし，ベースは接地しない。
1) 三相3線式の場合，次による。
− 1S・P1−P2間
− 3S・P3−P2間
− 1S・P1−3S・P3間
2) 三相4線式の場合，次による。
− 1S・P1−P0間
− 2S・P2−P0間
− 3S・P3−P0間
− 1S・P1−2S・P2間
− 2S・P2−3S・P3間
− 1S・P1−3S・P3間
3) 補助電源回路を備える計器にあっては，MA−MB間を追加して行う。
7.5
耐候性（耐光性）の試験
促進耐候試験及び大気暴露試験を，表7の順序によって3回繰り返した後，直ちに計器の内部及び外部
の変化を目視によって調べる。
表7−耐光性試験の順序
順序
試験項目
試験区分
屋内耐候形計器
1
促進耐候試験
サンシャインカーボンによる照射を48時間
（降雨の条件は除く。）
2
大気暴露試験
大気中に48時間放置
（計器に雨水がかかってはならない。）
表7の試験の方法は，次による。
a) 促進耐候試験は，計器を正常な姿勢で，無通電で，JIS K 2246の6.36（耐候性試験方法）に規定する
19
C 1283-2：2017
方法によって照射時間を変更して行う。
b) 大気暴露試験は，基準環境に準じた地区において，日当たりの良い芝生地又はこれに準じた場所に，
アンダグラス試験台を正南面に設置し，計器をこれに取り付けて無通電で行う。アンダグラス試験台
は，JIS C 1281の4.3（耐光性試験）による。
8
電子式計器の種類
8.0
計器の種類
計器の定格電圧，定格電流，定格周波数及び耐候構造による種類は，相及び線式に応じ，表8による。
ただし，JIS C 1271-2及びJIS C 1272-2で規定する変成器付交流電子式電力量計と複合された最大需要電
力計に限る。
表8−計器の種類
相及び線式
定格電圧
V
定格電流
A
定格周波数
Hz
耐候構造
三相3線式
110
5
50
60
屋内形
屋内耐候形
三相4線式
110/3
110
240
注記 計器の定格電圧は，電圧回路に加わる電圧をいい，三相3線式では線間電圧
を，三相4線式では相電圧をいう。
8.1
計量単位
計量単位には，kWを用いる。
8.2
定格動作条件
計器は，表9及び表10に規定する条件で正しく動作し，最大許容器差を満足しなければならない。
表9−定格動作条件
項目
条件
周波数
fnom±2 %
電圧
Unom±10 %
電流
IstからImaxまで。
In，Imax，Itr，Imin及びIstは，表10に従う。
力率
0.5遅れから1まで。
単方向計器だけとする。
温度
下限−20 ℃，上限＋55 ℃。ただし，屋内形計器の場合は，下限−5 ℃，上限＋40 ℃。
相線式
三相3線式：2素子，三相4線式：3素子
傾斜
取付け位置を規定する場合，±3°。
高調波
10.3.4に規定する電圧及び電流。
ひずみ率：電流0 %〜40 %，電圧0 %〜5 %
各高調波成分：電流I1/h，電圧0.12 U1/h（hは高調波次数）
不平衡
三相3線式計器：平衡状態から1素子だけの電流回路の状態。
三相4線式計器：平衡状態から1素子又は2素子だけの電流回路の状態。
20
C 1283-2：2017
表10−定格動作条件（電流）
定格電流
In
A
最大電流
Imax
A
負荷電流（最大電流に対する割合）
転移電流
Itr
最小電流
Imin
始動電流
Ist
5
6
1/24
1/60 a)，1/120 b) 1/480 a)，1/600 c)，1/1 200 d)
注a) 普通電力量計と複合したもの
b) 普通電力量計を除く電力量計と複合したもの
c) 精密電力量計と複合したもの
d) 超特別精密電力量計又は特別精密電力量計と複合したもの
8.3
精度要件
8.3.1
総則
計器は，箇条9に規定する最大許容器差及び器差の差の限度を超えたり，有意誤りが発生したりしない
ように設計し製造しなければならない。計器に誤り検出機能を備える場合は，誤りを検出したことを明示
し，誤りが発生している期間の計量を識別できなければならない。
注記 試験点は最低限として規定しており，計器はIst〜Imaxの全ての電流値において，Ist〜Imin〜Itr〜Imax
に対応する器差の許容限度を満足する必要がある。
8.3.2
計量方向
一方向だけの電力を正確に計量し，その方向と逆に変化したときは計量してはならない。
8.3.3
時間帯別計器
時間帯別計器において，全日レジスタはリセットされるまで常に動作し，その間に計量された値は各時
間帯レジスタに計量された値のうちの最大値と一致しなければならない。
8.4
表記
8.4.1
計器
計器には，その見やすい箇所に，次に掲げる事項を明瞭に，かつ，消滅しないように表記しなければな
らない。
a) 製造業者名又は登録商標
注記 商標法第二条第五項の登録商標をいう。
b) 定格電圧 ただし，三相4線式計器の場合は，相電圧を表記する。
c) 定格電流
d) 定格周波数
e) 定格負荷
f)
定格需要時限
g) 型式承認番号 型式承認表示として取得した番号
h) 型式承認番号を付した年
i)
製造番号
j)
使用回路の相及び線式 ただし，表記を簡略する場合は，“三相3線式”を三3，“三相4線式”を
三4と表記する。
k) レジスタに乗じる定数
l)
計器固有の計器定数 表記は，…pulse/kWs又は…p/kWsとする。
注記 複合された電力量計の固有の計器定数である。
21
C 1283-2：2017
m) 西暦年による製造年
n) 種類 “最大需要電力計”と表記する。ただし，表記を簡略する場合は，最需と表記する。
o) 型の記号
p) 屋内形計器は，“屋内形”である旨の表示 “屋内形”と表記する。ただし，表記を簡略する場合は，
“屋内”と表記する。
q) 屋内耐候形計器は，“屋内耐候形”である旨の表示 “屋内耐候形”と表記する。ただし，表記を簡略
する場合は，“屋内耐候”と表記する。
r) 附属変成器の製造番号及び種類 種類は，“変流器”，“計器用変圧器”（“コンデンサ型変圧器”は，そ
の旨）又は“変圧変流器”である旨の表示。
s)
変成器の一次及び二次の定格値で表した変成比
t)
補助電源を備えるものは，“補助電源”付きである旨の表示及びその電圧値
8.4.2
分離することができる表示機構
分離することができる表示機構は，その見やすい箇所に，パルス記号及びパルス定数を表記しなければ
ならない。パルス定数の表記は，…pulse/kWh又は…p/kWhとする。
8.5
計量特性の保護
8.5.1
総則
計器は，その計量特性を保護する手段を備え，この規格における内容を満足しなければならない。
8.5.2
ソフトウェア識別情報
計器の法定計量に関連するソフトウェアは，ソフトウェア識別情報によって明確に識別しなければなら
ない。また，ハードウェアの構成と密接な関係があることを明確にし，文書化しなければならない。さら
に，その型式の計器の法定計量に関連するソフトウェアは，型式の承認において特定できなければならな
い。
ソフトウェア識別情報は，ソフトウェアのハッシュ値又はそのソフトウェアを構成するソフトウェアモ
ジュールごとのハッシュ値の全部によって構成し，その計器の法定計量に関連するソフトウェアと密接な
関係をもたなければならない。また，その正常な動作の確保に必要であれば，その計器のハードウェアを
識別する情報を含めなければならない。ソフトウェア識別情報は，必要なときに表示装置に表示できると
ともに通信インタフェースを通して出力できなければならない。ただし，法定計量に関連するソフトウェ
アの変更が不可能な計器であってインタフェースをもたないものは，その銘板に表示してもよい。
8.5.3
保護（封印）
8.5.3.1
計器は，意図する，意図しないにかかわらず，誤用の可能性が最小限になるように構成しなけれ
ばならない。
8.5.3.2
計器内部は，物理的な封印によって保護しなければならない。法定計量に関連するソフトウェア
は，物理的封印によって保護しなければならない。また，必要に応じて電子的封印を施さなければならな
い。電子的封印は，保護するための方法として十分なものでなければならない。
注記 電子的封印において，単純な一つのパスワードは，保護するための方法として十分なものとは
認められない。
8.5.3.3
ソフトウェア保護は，保護した部分へ許可なくアクセスできないようにするか，又はそのアクセ
スの証拠をはっきりと分かるようにしなければならない。
例 アクセスの証拠としては，物理的な封印が破壊されている，監査証跡にアクセスの記録が残され
る，などがある。
22
C 1283-2：2017
8.5.3.4
ユーザインタフェースを通して動作する機能は全て明確にしなければならない。また，それは文
書化しなければならない。
8.5.3.5
法定計量に関連するパラメータは，変更できないよう保護しなければならない。検定において必
要な場合，表示装置に表示できなければならない。また，通信インタフェースをもつ計器はそのインタフ
ェースを通して出力できなければならない。検定後にパラメータを変更できない構造である場合は，パラ
メータを銘板に表記してもよい。
8.5.3.6
装置固有パラメータは，アクセス可能かどうかを分類し，可能なものは特別な動作モードによっ
てだけ変更できるようにしなければならない。また，計器は監査証跡を備えるとともにその記録を表示で
きなければならない。アクセス可能かを分類しない場合，装置固有パラメータは全て変更できないものと
する。
装置固有パラメータの変更をする場合，計器は計量を継続することが許されるが，その後の取引又は証
明に影響を及ぼす装置固有パラメータの変更においては計量を停止しなければならない。
注記 装置固有パラメータの変更時における計量の継続又は停止は型式承認において決定される。
例 装置固有パラメータには，製造番号，調整値，時刻，カレンダー，時間帯数，定格需要時限，乗
率，合成変成比などがある。
8.5.3.7
型式固有パラメータは，同一型式全ての計器で同一で，製造後に変更することができてはならな
い。
例 型式固有パラメータとしては，相線式，定格電流などがある。
8.5.3.8
ソフトウェアの変更が可能な計器は，そのソフトウェア識別情報を照合検査する機能をもたなけ
ればならない。8.5.6による場合を除き識別情報の変更を検出した場合は，変更されたことを明確にしなけ
ればならない。
注記 照合検査は，計器の電源投入，パラメータの変更，コマンドなどによって実施できる。
例 変更されたことの明示は，表示装置に表示する，通信インタフェースを通して通知する，計量を
停止するなどの方法がある。
8.5.4
分離
計器は，計量特性を維持するために重要な部分はその他の部分から影響を受けない構造としなければな
らない。
注記 これらはハードウェア部分及びソフトウェア部分を含む。また，幾つかの部分で構成されてい
てもよい。
8.5.4.1
計器の各部分は，明確に識別・定義し，その旨を文書にしなければならない。法定計量に関連す
る部分を特定しない場合は，全ての部分を法定計量に関連するものとみなす。
インタフェースを通して処理される機能又はコマンドを明確に定義し，文書にしなければならない。
8.5.4.2
計器は，インタフェースを通して受信したコマンドによって各部分の性能及び機能に影響がない
構造としなければならない。
8.5.4.3
法定計量に関連するソフトウェア及び法定計量に関連しないソフトウェア（以下，連携ソフトウ
ェアという。）は，8.5.2に規定する識別をしなければならない。ただし，両者を識別しない場合はソフト
ウェア全体を法定計量に関連するソフトウェアとみなす。
なお，識別しない場合はソフトウェア分離する必要はない。
連携ソフトウェアは，法定計量に関連するソフトウェアに影響を与えるものであってはならない。
8.5.4.4
法定計量に関連するソフトウェアと連携ソフトウェアとが通信する場合は，ソフトウェアインタ
23
C 1283-2：2017
フェースを定義し，必ずこれを通して通信を実行しなければならない。法定計量に関連するソフトウェア
部分及びソフトウェアインタフェースは，明確に文書にしなければならない。ソフトウェアの法定計量に
関連する機能及びデータ領域は全て識別及びソフトウェア分離されていることが明確に判断できるように
文書にしなければならない。
注記1 ソフトウェアインタフェースを通しての通信には，コマンド及びそれに伴うデータの送受だ
けではなく，データ領域の指定，指定されたデータ領域におけるデータの送受，プログラム
の呼出しなどが含まれる。
注記2 識別及び分離に関して，連携ソフトウェアの機能及びデータ領域を明確にして識別及び分離
を文書化することで，法定計量に関連する機能及びデータ領域の識別及び分離の判断を明確
にすることができる。
8.5.4.5
法定計量に関連するソフトウェアと連携ソフトウェアとにおいて，データ領域を相互に利用する
場合は，そのデータ領域を明確に定義して文書化しなければならない。また，定義されたソフトウェアイ
ンタフェースを用いなければならない。
8.5.4.6
法定計量に関連するソフトウェアの全ての機能又はデータの変更に対するコマンド及びソフト
ウェアインタフェースを通して通信するコマンドは一義的割当てを定義し，全てのコマンドの完全性を明
確に文書化しなければならない。定義されたコマンド以外の処理は実行してはならない。
8.5.5
計量に係るデータの保存及び通信インタフェースによる出力
8.5.5.1
計量値
計量値を一時的に又は定期的に一定期間保存する機能，及びこれらの計量値を出力機構によって出力す
る機能は，8.5.5.2〜8.5.5.8に規定する要求事項を満たさなければならない。
注記 通信インタフェースによる出力に関して，通信の安全性を考慮することが望ましい。
8.5.5.2
計量値を保存及び出力する場合，その後の取引及び証明に必要な該当情報が全て伴っていなけれ
ばならない。
8.5.5.3
計量に係るデータはソフトウェア手段で保護し，真正性，完全性，並びに計量値及び計量の時間
（時計及びタイムスタンプ）に関する情報の正しさを保証しなければならない。不正行為が検出された場
合はそのデータは破棄するか又は使用できないことを明確に表示しなければならない。
注記 計量に係るデータの保護には，保存されたデータ及びデータ出力時における保護が含まれる。
8.5.5.4
計量に係るデータを保護するためのソフトウェア手段に暗号化手法を使用する場合は計器に暗
号化に関連する機密を保持し保護しなければならない。それら機密の設定及び読出しは特定のアクセス権
による特別な動作モードだけで実行しなければならない。このアクセス権は限定されたもので高い権限レ
ベルでなければならない。
8.5.5.5
計量値の保存は，次による。
a) 計量値の保存は，ソフトウェアによって自動的に保存しなければならない。
b) インタフェースを通してコマンドによって保存する場合は，そのコマンドによって確実に保存できる
ものでなければならない。また，インタフェースを通してのアクセスの可否を分類し，アクセス可能
なコマンドは特別な動作モードによってだけ処理することが可能でなければならない。
c) ボタンなどの手動操作によって保存する場合は，その操作によって確実に保存できなければならない。
また，ボタンなどは不特定の操作ができないように保護し，それらの手動操作は特定のアクセス権を
必要とする特別の操作に限定しなければならない。
8.5.5.6
記憶装置は，通常の使用状態でデータが破損しないだけの十分な永続性及び十分な記憶容量がな
24
C 1283-2：2017
ければならない。
8.5.5.7
記憶装置が記憶容量の限界に達した場合，記憶されているデータの削除は，データの記憶順と同
じ順序で最も古いデータから削除しなければならない。ただし，データの削除は，取引又は証明が完了し
ていなければならない。削除は自動的に実行するか又は特定のアクセス権を必要とする特別の手動操作後
に実行するようにしなければならない。
注記1 データの削除は規定されたデータの構造単位とし，上書きも含む。
注記2 データの削除において，レジスタが示す計量値は除く。
8.5.5.8
通信インタフェースによる出力の実行においては，計量に関する機能及び記憶しているデータに
影響を与えてはならない。また，出力先の通信に問題がある場合でも，計量に関する機能及び記憶してい
るデータに影響を与えてはならない。
注記 機能への影響として，器差の変化，特性の変化，計量停止，計量値の異常変化又は消失，計量
に係る表示の異常や有意誤りの発生などがある。データへの影響として，データの変化，消失
などがある。
8.5.6
ソフトウェアの更新
ソフトウェアの更新が可能な計器のソフトウェアの更新は，8.5.6.1〜8.5.6.5に規定する要求事項に従っ
て計器において実施しなければならない。
更新できるソフトウェアは，連携ソフトウェア及び法定計量に関連するソフトウェアだけとし，8.5.2及
び8.5.4に規定する識別・分離がされていなければならない。計器に読み込まれるソフトウェアは，新規
に型式承認されたソフトウェアである。更新後の検定は必要としない。
この更新は通信インタフェースを通して特定のアクセス権によって適切な手段を確立して実施しなけれ
ばならない。更新対象となるソフトウェアは，計器に直接又はネットワークを通して遠隔で読み込まなけ
ればならない。ソフトウェアの更新は，監査証跡に記録しなければならない。ソフトウェアの更新は，読
込み，完全性のチェック，発信源のチェック（認証），インストール，ロギング及び起動で構成される。
注記1 更新において通信の安全性を考慮することが望ましい。
注記2 更新は所有者及び使用者に情報提供され，更新に合意されていると想定している。
8.5.6.1
ソフトウェアの更新は，自動的に実施できなければならない。更新完了後のソフトウェアは，8.5
に規定する要求事項を満たすものでなければならない。
8.5.6.2
計器は，ソフトウェアの更新要件を達成するために必要なチェック機能及び監査証跡機能を全て
含んだ変更できない法定計量に関連する固定のソフトウェアを備えなければならない。
8.5.6.3
読み込んだソフトウェアについて次の事項を確認しなければならない。また，各事項の確認で不
合格となった場合，読み込んだソフトウェアをインストールしてはならない。計器はその時点で使用され
ているソフトウェアを継続して使用するか，又は当該ソフトウェアが実行する処理について動作しない状
態に切り替えなければならない。
a) 型式承認証明書に記載されている承認を受けた製造業者に由来している（真正性，認証）。
b) 型式に適合するソフトウェアが正しく読み込まれている（完全性）。
8.5.6.4
ソフトウェアのインストールに失敗した場合，計器はその時点で使用されているソフトウェアを
継続して使用するか又は当該ソフトウェアが実行する処理について動作しない状態に切り替えなければな
らない。
8.5.6.5
ソフトウェアの更新は，監査証跡に記録しなければならない。監査証跡は次の情報を含まなけれ
ばならない。また，これらの記録がトレースできることを確実にしなければならない。
25
C 1283-2：2017
a) ソフトウェア更新の成否
b) 更新した版のソフトウェア識別情報
c) 更新前の版のソフトウェア識別情報
d) タイムスタンプ（更新時刻）
e) 型式承認証明書に記載されている製造業者を識別する情報
監査証跡は，ソフトウェア更新の成否にかかわらず，各更新の試みに対して生成しなければならない。
また，記録した監査証跡は削除できず，全て読み出すことが可能でなければならない。
監査証跡を記録する記憶装置は，検定有効期間中のソフトウェアの更新の記録をするのに十分な容量を
もっていなければならない。記憶装置が記憶容量の限界に達した後は，封印を破らなければそれ以上のソ
フトウェア更新はできない構造でなければならない。
8.5.7
時間（時計及びタイムスタンプ）
時間の精度は，日差±10秒以内でなければならない。ただし，停電時にあっては日差±25秒以内とする。
時計は時刻の設定が可能な構造とし，その設定は特定のアクセス権を必要とする特別の操作でなければな
らない。設定は通信インタフェースを通してコマンドによって実行するか，又は特別の手動操作によって
実行するようにしなければならない。時計の時刻の設定は法定計量に関連する機能である。
タイムスタンプは時計と一致しなければならない。
注記1 時間の精度は，需要時限の精度に関係している。需要時限の狂いは最大需要電力の計量結果
に大きく影響するものであり，複合している電力量計の階級を踏まえてより高い精度をもつ
ことが望まれる。
注記2 時間の精度は，計器の動作原理及び構造（電源同期，水晶制御など）並びに外部環境（周波
数の変動及び停電の頻度）を踏まえた，合計の時間である。IEC 62054-21参照。
注記3 時間が取引又は証明において密接に関連する場合があるため，時間の精度はより正確なもの
となるよう，その不確かさを低減することが望ましい。
8.6
使用のための適性
8.6.1
結果の読取りやすさ
計器は，法定計量単位の数値を表示できる1以上の表示装置を備え，読みやすく，計量値の文字高さは
4 mm以上でなければならない。このとき，表示装置は，小数部がはっきり分かるようにしなければなら
ない。
表示装置は，取引又は証明用に関連するデータを全て表示できなければならない。一つの表示装置に複
数の値を表示する場合でも，関連する全ての内容を表示させる。サイクリックさせるときは，一表示当た
り5秒以上表示しなければならない。
注記1 サイクリック数が少ないときは，読取りやすさを考慮した長い時間とすることが望ましい。
例えば，10秒など。
注記2 結果の読取りやすさは表示装置に依存する。表示の明るさ，コントラスト，色などについて
使用（設置）環境を考慮した設計とすることが望ましい。
注記3 機械式レジスタである場合，小数部ドラムに異なったマークを付けるなどがある。
時間帯別計器の場合，有効な時間帯を反映するレジスタを表示しなければならない。それぞれの時間帯
のレジスタは計器から直接読み取りでき，各レジスタをはっきり特定できなければならない。
電子式レジスタにおいては，停電時に保存した値を保持できるように不揮発性でなければならない。保
存した値は，電源復旧時に上書きしてはならない。かつ，電源復旧時に読み出し表示することが可能でな
26
C 1283-2：2017
ければならない。この保存及び表示の機能は，時間帯別計器の各レジスタを含む取引又は証明に用いられ
る全てのレジスタに適用する。さらに，結果の保持期間は，取り外した計器に対して1年以上でなければ
ならない。電子式の表示装置は，機能確認のために，全ての表示セグメントをオンにできなければならな
い。
8.6.2
試験の容易性
計器は，試験を容易にするために，時限パルスを出力できなければならない。
電気的時限パルスは，図1に示す電気的時限パルス出力の電気的特性要件を満足しなければならない。
・T1，T2−T1
：150 μs以上
T1：時限パルス T2：定格需要時限
図1−電気的時限パルス出力
9
電子式計器の性能
9.1
検定公差
計器は，10.1によって試験をしたとき，その器差が負荷電流に応じ，表11の検定公差を満足しなければ
ならない。
表11−最大需要電力計の検定公差
電流値
力率
検定公差
%
2 Itr，10 Itr及びIn
1
2.0
In
0.5（遅れ電流）
2.5
9.2
電気的性能
9.2.1
一般事項
計器は，10.2.1によって試験をしたとき，表12に規定する最大許容器差を満足しなければならない。
表12−最大需要電力計の最大許容器差
電流値
力率
最大許容器差
%
2 Itr，10 Itr及びIn
1
2.0
In
0.5（遅れ電流）
2.5
9.2.2
計器定数
27
C 1283-2：2017
計器は，10.2.2によって試験をしたとき，計量パルス数に正しく比例して表示機構の表示が動作しなけ
ればならない。また，比例する割合は計器定数に一致しなければならない。
9.3
影響
9.3.0
一般事項
計器は，9.3.1〜9.3.13の各細分箇条ごとに試験を行い，各試験の前後の器差が表12に規定する最大許容
器差を満足し，かつ，各細分箇条に規定する限度を超えてはならない。
9.3.1
温度特性
計器は，10.3.1によって試験をしたとき，周囲温度の変化によって生じる器差の差の限度が，力率1に
あっては1.0 %，力率0.5（遅れ電流）にあっては2.0 %を超えてはならない。
9.3.2
電圧特性
計器は，10.3.2によって試験をしたとき，定格電圧を基準とする±10 %の電圧の変化によって生じる器
差の差が，表13の限度を超えてはならない。
表13−電圧変化による器差の差の限度
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
90，100及び110
In
1
1.0
0.5（遅れ電流）
1.5
9.3.3
周波数特性
計器は，10.3.3によって試験をしたとき，定格周波数を基準とする±2 %の周波数の変化によって生じる
器差の差が，表14の限度を超えてはならない。
表14−周波数変化による器差の差の限度
周波数
（定格周波数に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
98，100及び102
In
1
0.8
0.5（遅れ電流）
1.0
9.3.4
電圧及び電流の高調波の影響
計器は，10.3.4のa) 及びb) によって試験をしたとき，高調波成分を含めたことによって生じる器差の
差が，いずれの試験においても表15の限度を超えてはならない。
表15−電圧及び電流の高調波による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
1.0
9.3.5
傾斜の影響
取付け姿勢に制限のある計器は，10.3.5によって試験をしたとき，傾斜によって生じる器差の差が，表
16の限度を超えてはならない。
28
C 1283-2：2017
表16−傾斜による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
1.5
9.3.6
電圧変動
計器は，10.3.6のa)，b) 及びc) によって試験をしたとき，電圧が変動したことによって生じる器差の
差が，表17の限度を超えてはならない。
表17−電圧変動による器差の差の限度
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
80，100及び115
In
1
1.5
80未満
＋10〜−100 a)
注a) −100 %は計量しない状態のことを指す。
9.3.7
1相又は2相の中断
計器は，10.3.7によって試験をしたとき，欠相によって生じる器差の差が，表18の限度を超えてはなら
ない。
表18−1相又は2相の中断による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
4.0
9.3.8
電流回路の分数調波の影響
計器は，10.3.8によって試験をしたとき，電流回路に分数調波を含めたことによって生じる器差の差が，
表19の限度を超えてはならない。
表19−電流回路の分数調波による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
1
3.0
9.3.9
電流回路の高調波の影響
計器は，10.3.9によって試験をしたとき，電流回路に高調波を含めたことによって生じる器差の差が，
表20の限度を超えてはならない。
表20−電流回路の高調波による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
1
1.0
29
C 1283-2：2017
9.3.10
外部直流磁気の影響
計器は，10.3.10によって試験をしたとき，外部起源の直流磁気を与えたことによって生じる器差の差が，
表21の限度を超えてはならない。
表21−外部直流磁気による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
1
3.0
9.3.11
外部磁界の影響
外部起源の磁界の影響は，次による。
a) 計器は，10.3.11 a) によって試験をしたとき，外部起源の磁界を与えたことによって生じる器差の差
が，表22の限度を超えてはならない。
b) 計器は，10.3.11 b) によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。
表22−外部磁界による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
2 Itr及びIn
1
2.5
9.3.12
電磁環境両立性
9.3.12.1 放射無線周波電磁界の影響
放射無線周波電磁界の試験は，次による。
a) 計器は，10.3.12.1 a) によって試験をしたとき，電磁波を照射したことによって生じる器差の差が，表
23の限度を超えてはならない。
b) 計器は，10.3.12.1 b) によって試験をしたとき，有意誤りが生じてはならない。
表23−放射無線周波電磁界による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
3.0
9.3.12.2 無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響
計器は，10.3.12.2によって試験をしたとき，伝導妨害によって生じる器差の差が，表24の限度を超えて
はならない。
表24−無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
3.0
30
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9.3.13 高次高調波の影響
計器は，10.3.13のa) 及びb) によって試験をしたとき，電圧回路又は電流回路に高次高調波を含めたこ
とによって生じる器差の差が，表25の限度を超えてはならない。
表25−高次高調波による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
1
1.0
9.4
妨害
9.4.1
総則
計器は，9.4.2〜9.4.14の細分箇条ごとに試験を行い，各試験の前後の器差が表26に示す最大許容器差を
満足し，かつ，各細分箇条に規定する限度を超えてはならない。また，10.4.2〜10.4.14の細分箇条ごとの
試験条件で10.4.1によって試験をしたとき，有意誤りが生じてはならない。
表26−妨害試験後の最大許容器差
電流値
力率
最大許容器差
%
In
1
2.0
9.4.2
静電気の影響
計器は，10.4.2によって試験をしたとき，静電気放電によって有意誤りが生じてはならない。
9.4.3
高速過渡の影響
計器は，10.4.3のa)，b) 及びc) によって試験をしたとき，電気バースト信号によって有意誤りが生じ
てはならない。また，電気バースト信号を加えることによって生じる器差の差が，表27の限度を超えて
はならない。
表27−高速過渡による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
6.0
9.4.4
電圧ディップ及び短時間停電の影響
計器は，10.4.4のa) 及びb) によって試験をしたとき，電圧ディップ及び短時間停電によって有意誤り
が生じてはならない。
9.4.5
交流主電源線上のサージの影響
計器は，10.4.5のa) 及びb) によって試験をしたとき，サージによって有意誤りが生じてはならない。
9.4.6
減衰振動波イミュニティ試験の影響
計器（変流器だけと組み合わせて使用する計器を除く。）は，10.4.6のa) 及びb) によって試験をしたと
き，減衰振動波によって有意誤りが生じてはならない。また，減衰振動波によって生じる器差の差が，表
28の限度を超えてはならない。
31
C 1283-2：2017
表28−減衰振動波イミュニティ試験による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
3.0
0.5（遅れ電流）
9.4.7
過電流の影響
過電流の影響は，次による。
a) 計器は，10.4.7のa) 及びb) によって試験をしたとき，過電流によって生じる器差の差が，表29の限
度を超えてはならない。また，10.4.7 b) によって試験したとき，過電流によって有意誤り，不適切な
温度上昇，電気的損傷及び機械的損傷を生じてはならない。
例 不適切な温度上昇は，通常の使用状態における温度とは異なる高温状態，部分的な温度上昇箇
所の発生などである。電気的損傷は，電気回路の焼損，絶縁不良，放電痕などである。機械的
損傷は，計器外箱の変形又は破損，ねじの緩み，補償素子又は調整装置の変形又は破損などで
ある。
b) 計器は，10.4.7 c) によって試験をしたとき，計量パルス数に正しく比例して，それぞれ表示機構の表
示が動作しなければならない。
表29−過電流による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
1.0
9.4.8
インパルス電圧の影響
計器は，10.4.8によって試験をしたとき，インパルス電圧によって有意誤りが生じてはならない。また，
負荷電流導体，補助電源回路，リード線などで放電したり，断線したりするなどの異常があってはならな
い。
9.4.9
地絡の影響
地絡中和器を備えている，又はスター点が絶縁されている配電網に接続する三相4線式の計器は，10.4.9
によって試験をしたとき，地絡したことによって有意誤りが生じてはならない。また，地絡によって生じ
る器差の差が，表30の限度を超えてはならない。
表30−地絡による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
1.0
9.4.10
補助装置の動作の影響
補助装置を備える計器は，10.4.10によって試験をしたとき，負荷電流に応じて，補助装置を動作させた
ことによって有意誤りが生じてはならない。また，補助装置の動作によって生じる器差の差が，表31の
限度を超えてはならない。
32
C 1283-2：2017
表31−補助装置の動作による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
2 Itr及びIn
1
0.7
9.4.11
機械的性能
9.4.11.1
振動の影響
計器は，10.4.11.1によって試験をしたとき，機械的損傷及び有意誤りを生じてはならない。また，振動
を加えたことによって生じる器差の差が，表32の限度を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩みなどである。
表32−振動による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
0.7
9.4.11.2
衝撃の影響
計器は，10.4.11.2によって試験をしたとき，機械的損傷及び有意誤りを生じてはならない。また，衝撃
を加えたことによって生じる器差の差が，表33の限度を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩みなどである。
表33−衝撃による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
0.7
9.4.12
粉じんの侵入の影響
計器は，10.4.12によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，次の変化があってなら
ない。
− 大量の粉じんの蓄積
− 計器の動作への妨害
− 安全性の損失
9.4.13
耐候性
9.4.13.1 耐光性
屋内耐候形計器は，10.4.13.1によって試験をしたとき，次の変化があってはならない。
− 金属部分の進行性のさび
− 塗装面にひび割れ，膨れ，剝がれ及び著しい変退色
− カバー又はパッキンのひび割れ，膨れ及び変質
− 文字，標識などの読取りに支障となる，銘板，試験標，表示装置及びカバーの変退色
− 封印などの計量特性保護の手段の機能損失
− 計器の機能損失
33
C 1283-2：2017
9.4.13.2 高温乾燥の影響
計器は，10.4.13.2によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，高温乾燥の影響によ
って生じる器差の差が，表34の限度を超えてはならない。
表34−高温乾燥による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
0.7
9.4.13.3 低温の影響
計器は，10.4.13.3によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，低温の影響によって
生じる器差の差が，表35の限度を超えてはならない。
表35−低温による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
0.7
9.4.13.4 高温高湿の影響
計器は，10.4.13.4によって試験をしたとき，次の各項目に適合しなければならない。
a) 有意誤りが生じない。また，高温高湿の影響によって生じる器差の差が，表36の限度を超えない。
b) 計器の機能損失がない。
c) 機械的損傷及び腐食の痕跡がない。
表36−高温高湿の影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1
0.7
9.4.13.5 温度サイクルの影響
計器は，10.4.13.5によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，温度サイクルの影響
によって生じる器差の差が，表37の限度を超えてはならない。
表37−温度サイクルの影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
1及び0.5（遅れ電流）
1.0
9.4.14
耐久性
計器は，10.4.14によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，耐久性試験の影響によ
って生じる器差の差が，表38の限度を超えてはならない。
34
C 1283-2：2017
表38−耐久性による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
2 Itr及びIn
1
0.7
9.5
絶縁性能
9.5.1
絶縁抵抗
計器は，10.5.1によって試験をしたとき，絶縁抵抗が5 MΩ以上でなければならない。
9.5.2
商用周波耐電圧
計器は，10.5.2によって試験をしたとき，これに耐えなければならない。
9.6
材質
材質は，次による。
a) 合成樹脂製の計器の外箱（ベース，カバー及び端子カバー）及び端子ボックスは，10.6 a) によって試
験をしたとき，グローワイヤの接触によって炎及び赤熱がないこと，又はグローワイヤを取り去った
後，試料が燃え尽きることなく，炎及び赤熱が30秒間以内に消滅しなければならない。試料の下方に
置いた木の板に焦げがなく，薄葉紙に着火があってはならない。
b) 合成樹脂製の計器の外箱は，10.6 b) によって試験をしたとき，破損してはならない。また，計器は，
その機能に支障があってはならない。
9.7
負荷電流導体及び端子の温度上昇
計器は，10.7によって試験をしたとき，負荷電流導体の表面及び電流端子の導線に接続される箇所の温
度上昇値が，計器の種類ごとに，表39の限度を超えてはならない。
表39−負荷電流導体及び端子の温度上昇値の限度
計器の種類
温度上昇値の限度
℃
負荷電流導体の表面
電流端子
屋内形計器
65
40
屋内耐候形計器
55
40
9.8
複合電気計器の表示機構
複合電気計器は，10.8によって試験をしたとき，計量パルス数から換算した計量値と各表示機構の計量
値が一致していなければならない。
9.9
出力機構
出力機構付計器は，10.9によって試験をしたとき，機能に支障がなく，かつ，計量値を正しく出力しな
ければならない。
9.10
機械的性能
9.10.1
機構など
計器の復帰装置，時限装置並びに最大需要電力及び需要電力の表示機構は，次による。
a) 表示機構の表示回路は10.10.1 a) によって試験をしたとき，器差がItrの負荷電流にあっては2.0 %，In
の負荷電流にあっては1.0 %の最大許容器差を満足しなければならない。
b) 復帰装置は，最大需要電力及び需要電力の表示機構の表示を確実に零位に復帰させることができ，か
35
C 1283-2：2017
つ，これらの表示を増加させてはならない。
c) 時限装置は，定格周波数の定格電圧の80 %の電圧において，確実に動作しなければならない。
d) 最大需要電力の表示機構は，需要電力の表示機構によってその表示が確実に増加し，かつ，需要電力
の表示機構が零位に復帰するとき又はその表示を超えないときはその表示は変化してはならない。
e) 需要電力の表示機構は，その増加に応じて最大需要電力の表示機構を確実に増加させるものでなけれ
ばならない。
f)
計器は，10.10.1 b) によって試験をしたとき，器差の最大と最小との差が2.0 %を超えてはならない。
9.11
需要時限
計器は，定格需要時限の99 %以上101 %以下の時間で電力の平均値を算出するものでなければならない。
また，10.11によって試験をしたとき，その測定した時間が，定格需要時限の99 %以上101 %以下でなけ
ればならない。ただし，定格需要時限の±1 %の時間が±10秒を超える場合は±10秒以下でなければなら
ない。
注記 需要時限は，8.5.7に規定する時間と関係している。計器の時計と同期していること（例えば，
時計の毎時00分，30分に同期して動作するなど）が推奨される。
10
電子式計器の試験方法
10.0
試験条件
各試験において，試験中は表40に規定する条件を維持する。
表40−基準条件及びその許容差
項目
条件
許容差
電圧
試験電圧
±1 %
周囲温度
23 ℃
±2 ℃
周波数
試験周波数
±0.3 %
波形
正弦波
d≦2 %
基準周波数の外部磁気誘導
0 T
0.05 mT以下
無線周波電磁界 30 kHz〜6 GHz
0 V/m
1 V/m以下
姿勢の影響を受ける計器の動作姿勢
製造業者が指定した姿勢
±0.5°
多相計器の相順
L1，L2，L3
−
負荷平衡
全ての電流回路で等しい電流値
電流±2 %
位相角±2°
なお，測定の不確かさ（信頼水準95 %）は，最大許容器差の1/5未満が望ましい。
10.1
器差試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表41に規定する力率の負荷電流を通じて，器差を測定する。
表41−器差試験の試験条件
電流値
力率
2 Itr，10 Itr及びIn
1
In
0.5（遅れ電流）
36
C 1283-2：2017
10.2
電気的性能の試験
10.2.1
電気的性能の試験条件
試験は，次による。
a) 試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表42に規定する力率の負荷電流を通じて，初期固有器差を
測定する。10.3及び10.4に規定する試験は，この試験の後に行う。
b) 最大需要電力を表示する分離することができる表示機構の試験は，10.3及び10.4に規定する試験にお
いて，検出部と組み合わせて試験条件で示される電力，又はこの電力に相当するパルスを加えて試験
することができる。
表42−電気的性能の試験条件
電流値
力率
2 Itr，10 Itr及びIn
1
In
0.5（遅れ電流）
10.2.2
計器定数
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のItr以上の負荷電流を通じる。
b) 計器は，計量パルス数に正しく比例して表示機構の表示が増加することを調べる。
注記 表示機構の表示は需要電力を示す。
10.3
影響試験
10.3.1
温度特性
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表43，及び計器の種類ごとに表44に規定する条件において
器差を測定する。周囲温度を変える場合は，温度衝撃が加わらないように，試験槽内の温度を平均毎分1 ℃
程度，最大毎分2 ℃の割合で変化させる。
表43−温度特性の試験条件（電流値及び力率）
電流値
力率
In
1
10 Itr
0.5（遅れ電流）
表44−温度特性の試験条件（耐候区分及び周囲温度）
計器の種類
周囲温度
℃
屋内耐候形
−20，23及び55
屋内形
−5，23及び40
10.3.2
電圧特性
試験は，定格周波数の下で，定格電圧の90 %，100 %及び110 %の電圧で，表45に規定する力率の負荷
電流を通じて器差を測定し，定格電圧からの電圧変化によって生じる器差の差を求める。
37
C 1283-2：2017
表45−電圧変化による試験条件
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
90，100及び110
In
1
0.5（遅れ電流）
10.3.3
周波数特性
試験は，定格電圧の下で，定格周波数の98 %，100 %及び102 %の周波数で，表46に規定する力率の負
荷電流を通じて器差を測定し，定格周波数からの周波数変化によって生じる器差の差を求める。
表46−周波数変化による試験条件
周波数
（定格周波数に対する百分率）
電流値
力率
98，100及び102
In
1
0.5（遅れ電流）
10.3.4
電圧及び電流の高調波の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，その定格電圧と
負荷電流とに表47に示す割合の高調波（図2参照）を含めて器差を測定し，高調波によって生じる器
差の差を求める。
b) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，その定格電圧と
負荷電流とに表48に示す割合の高調波（図3参照）を含めて器差を測定し，高調波によって生じる器
差の差を求める。
表47−方形波
高調波次数
電流振幅
%
電流位相角
°（度）
電圧振幅
%
電圧位相角
°（度）
1
100
0
100
0
3
30
0
3.8
180
5
18
0
2.4
180
7
14
0
1.7
180
11
9
0
1.0
180
13
5
0
0.8
180
38
C 1283-2：2017
図2−方形波形の電流振幅
表48−せん（尖）頭波
高調波次数
電流振幅
%
電流位相角
°（度）
電圧振幅
%
電圧位相角
°（度）
1
100
0
100
0
3
30
180
3.8
0
5
18
0
2.4
180
7
14
180
1.7
0
11
9
180
1.0
0
13
5
0
0.8
180
図3−せん（尖）頭波形の電流振幅
10.3.5
傾斜の影響
試験は，計器を正常な姿勢並びに正常な姿勢から前，後，左及び右にそれぞれ3°傾斜させた場合にお
いて，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定し，それぞれの傾斜に
よって生じる器差の差を求める。
10.3.6
電圧変動
試験は，次による。
39
C 1283-2：2017
a) 定格周波数の下で，定格電圧の80 %，100 %及び115 %の電圧で，力率1のInの負荷電流を通じて器
差を測定し，電圧変化によって生じる器差の差を求める。
b) 定格周波数の下で，定格電圧の70 %，60 %，50 %，40 %，30 %，20 %，10 %及び0 %の電圧で，力
率1のInの負荷電流を通じて器差を測定する。
c) 計器の動作停止電圧及び動作開始電圧を指定している場合は，定格周波数の下で，動作停止電圧の−2
V，及び動作開始電圧の＋2 Vに変化させ，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定する。
10.3.7
1相又は2相の中断
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，1相又は
2相の電圧回路を開放して器差を測定し，欠相によって生じる器差の差を求める。ただし，計量動作をし
ない場合はその箇所の測定をしなくてもよい。
10.3.8
電流回路の分数調波の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，図4
に示す分数調波を通じて器差を測定し，分数調波によって生じる器差の差を求める。
a) 基準電流波形
b) 分数調波試験電流2サイクルオン，2サイクルオフ
図4−分数調波試験用電流波形
10.3.9
電流回路の高調波の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，図5
及び図6に示す高調波を通じて器差を測定し，高調波によって生じる器差の差を求める。
40
C 1283-2：2017
a) 基準電流波形
b) 高調波試験電流，位相0°〜90°及び180°〜270°はゼロ電流
図5−高調波試験に用いる電流波形
立ち上がり時間：0.2 ms±0.1 ms（50 Hzの場合）
図6−試験電流の立ち上がり
10.3.10 外部直流磁気の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，IEC
41
C 1283-2：2017
62053-21に規定する電磁石を使用し，計器の各面ごとに電磁石を置いて器差を測定し，電磁石の磁力によ
って生じる器差の差を求める。電磁石に印加する起磁力の値は，1 000 Aとする。
10.3.11 外部磁界の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表49に規定する力率の負荷電流を通じて器差を測定した後，
次の条件でJIS C 61000-4-8に従って行う。
a) 計器を磁化コイルの中心に置き，そのコイルの発生する磁界を計器に最大の影響を及ぼす方向に与え
て器差を測定し，外部磁界によって生じる器差の差を求める。磁化コイルは中心磁界の強さが400 A/m
となるコイルで，その電流は，計器の定格周波数で，また，計器に最大の影響を与える位相とする。
b) 計器の電流回路を開放し，定格周波数及び定格電圧の下で，強さが1 000 A/mの磁界を3秒間与えた
後，10.4.1の試験を行い，有意誤りが生じないことを調べる。
表49−外部起源の磁界による試験条件
電流値
力率
2 Itr及びIn
1
10.3.12 電磁環境両立性
10.3.12.1 放射無線周波電磁界の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-3に従って行う。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて，表50に規定する条件1で電磁波
を照射し，照射前及び照射中において器差を測定し，電磁波を照射したことによって生じる器差の差
を求める。
b) 定格周波数及び定格電圧の下で，表50に規定する条件2で電磁波を照射した後，10.4.1の試験を行い，
有意誤りが生じないことを調べる。
表50−放射無線周波電磁界による影響の試験条件
項目
条件1
条件2
周波数範囲
80 MHz〜6 000 MHzで掃引
80 MHz〜6 000 MHzで掃引
周波数ステップ
前の周波数の1 %
前の周波数の1 %
滞在時間
1周波数当たり0.5秒以上
1周波数当たり0.5秒以上
電界強度
10 V/m
80 MHz〜1 000 MHz
30 V/m
1 400 MHz〜1 520 MHz
1 700 MHz〜2 000 MHz
2 100 MHz〜2 200 MHz
3 400 MHz〜3 600 MHz
上記以外
10 V/m
振幅変調
1 kHzの正弦波で80 %
1 kHzの正弦波で80 %
ケーブルの長さ
1 m
1 m
10.3.12.2 無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条件
でJIS C 61000-4-6に従って行う。
表51に規定する条件の無線周波電磁界が誘導した信号を電圧回路，補助電源回路及びI/Oポートに注入
42
C 1283-2：2017
して器差を測定し，注入したことによって生じる器差の差を求める。
表51−無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響の試験条件
項目
条件
無線周波振幅（50 Ω）
10 V（e.m.f）
周波数範囲
0.15 MHz〜80 MHzで掃引
周波数ステップ
前の周波数の1 %
振幅変調
1 kHzの正弦波で80 %
10.3.13 高次高調波の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の高
調波を重畳し，高調波によって生じる器差の差を求める。器差は，高調波を低周波数から高周波数及び高
周波数から低周波数へ掃引した場合の各々について測定する。
a) 電圧回路の場合
− 振幅：0.02 Unom
− 高調波次数：15 fnom〜40 fnom
b) 電流回路の場合
− 振幅：0.1 Itr
− 高調波次数：15 fnom〜40 fnom
注記 a) において全ての電圧回路へ同時に高調波を重畳し，b) において全ての電流回路へ同時に
高調波を重畳する。
10.4
妨害試験
10.4.1
総則
それぞれの妨害試験において，次によって有意誤りがないことを調べる。
a) 妨害試験中，計量値が変化しないことを調べる。ただし，妨害試験中に計量させる試験を除く。
注記 計量値の桁上がりを考慮して試験する。
b) 妨害試験後，計器が動作及び計量できることを調べる。
c) 妨害試験後，表52に規定する条件で測定した器差が，最大許容器差を満足することを調べる。
表52−妨害後の器差の試験条件
電流値
力率
In
1
10.4.2
静電気の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-2に従って行う。
定格周波数及び定格電圧の下で，表53に規定する条件で直流電圧を電気回路以外の部分に加え，有意誤
りが生じないことを調べる。気中放電は，接触放電が実施できない場合に適用する。
43
C 1283-2：2017
表53−静電気放電の試験条件
項目
条件
きょう（筐）体の材質
金属
樹脂
放電回数
10回
放電間隔
1秒
極性
正 及び 負
接触放電
印加電圧
直流電圧 8 kV
印加方法
直接印加
間接印加
気中放電
印加電圧
行わない
直流電圧
15 kV
印加方法
直接印加
10.4.3
高速過渡の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条件
でIEC 61000-4-1及びJIS C 61000-4-4に従って行う。
a) 表54に規定する条件の電気バースト信号を電圧回路にコモンモードで重畳して器差を測定し，電気バ
ースト信号を重畳したことによって生じる器差の差を求める。
b) 計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，表54
に規定する条件の電気バースト信号を電流回路にコモンモードで重畳して器差を測定し，電気バース
ト信号を重畳したことによって生じる器差の差を求める。
c) 補助回路が電圧回路と分離され，かつ，補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び
定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，表54に規定する条件の電気バ
ースト信号を補助回路にコモンモードで重畳して器差を測定し，電気バースト信号を重畳したことに
よって生じる器差の差を求める。
表54−電気バースト信号の試験条件
項目
条件
電圧回路
4 kV
電圧回路と分離して使用する電流回路
4 kV
電圧回路と分離されている，駆動電圧が40 Vを超
える補助回路
2 kV
極性
正 及び 負
ケーブル長さ
1 m
試験時間
1分以上
10.4.4
電圧ディップ及び短時間停電の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-11，JIS C 61000-6-1及びJIS C 61000-6-2に従って行う。
a) 電圧ディップの影響 定格周波数及び定格電圧の下で，表55に規定するそれぞれの条件で電源を10
秒以上の間隔をもって10回低下させ，有意誤りが生じないことを調べる。ただし，電流回路は開の状
態にしておく。
b) 短時間停電の影響 定格周波数及び定格電圧の下で，表56に規定する条件で5秒間に相当する時間，
電源を10秒以上の間隔をもって10回遮断し，有意誤りが生じないことを調べる。ただし，電流回路
は開の状態にしておく。
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C 1283-2：2017
表55−電圧ディップの試験条件
項目
条件1
条件2
条件3
定格電圧に対する百分率
30
60
60
サイクル
0.5
1
25（50 Hz）
30（60 Hz）
表56−短時間停電の試験条件
項目
条件
定格電圧に対する百分率
0
サイクル
250（50 Hz）
300（60 Hz）
10.4.5
交流主電源線上のサージの影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-5に従って行う。
a) 電流回路を開放し，定格周波数及び定格電圧の下で，表57に規定する条件の電気サージを電圧回路に
印加し，有意誤りが生じないことを調べる。
b) 補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，表57に規定する条件
の電気サージを補助回路に印加し，有意誤りが生じないことを調べる。
表57−サージの試験条件
項目
電圧回路
駆動電圧が40 Vを超える
補助回路
ケーブル長
1 m
位相角
交流主電源のゼロクロスに対して60°及び240°
電圧回路の発生器インピーダンス
2 Ω
42 Ω
コモンモードの試験電圧
4.0 kV
2.0 kV
ノーマルモードの試験電圧
2.0 kV
1.0 kV
試験回数
5回正極及び5回負極
繰返し率
毎分最大1回
10.4.6
減衰振動波イミュニティ試験の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1及び0.5（遅れ電流）のInの負荷電流を通じて器差を
測定した後，次の条件でIEC 61000-4-18に従って行う。
a) 表58に規定する条件の減衰振動波電圧を電圧回路に印加し，有意誤りが生じないことを調べる。また，
このときの器差を測定し，減衰振動波によって生じる器差の差を求める。
b) 補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1及び0.5（遅れ
電流）のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，表58に規定する条件の減衰振動波電圧を補助回
路に印加し，有意誤りが生じないことを調べる。また，このときの器差を測定し，減衰振動波によっ
て生じる器差の差を求める。
45
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表58−減衰振動波の試験条件
項目
条件
減衰振動波電圧の周波数
100 kHz
1 MHz
コモンモードの試験電圧
2.5 kV
ノーマルモードの試験電圧
1.0 kV
繰返し率
40 Hz
400 Hz
試験時間
各周波数で2秒オン，2秒オフを15サイクル
10.4.7
過電流の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) 次に，表59に規定する条件の過電流を通電し，有意誤りが生じないことを調べる。通電後，定格電圧
を1時間印加した後に，a) の条件で器差を測定し，過電流によって生じる器差の差を求める。また，
不適切な温度上昇，電気的損傷及び機械的損傷が生じていないことを調べる。
c) さらに，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの300 %の負荷電流を3分間通じて，計量パル
ス数の測定及び表示機構の表示を調べる。
注記 表示機構は需要電力を示す。
表59−過電流の試験条件
項目
条件
電流
20 Imax（0 %〜−10 %）
試験時間
0.5秒
10.4.8
インパルス電圧の影響
試験は，次の条件でIEC 60060-1に従って行う。
試験電圧を印加しない回路を“アース”に接地した状態で，計器の電気回路に表60に規定する条件で試
験電圧を30秒以上の間隔で各極性連続10回加え，有意誤りが生じないことを調べる。また，試験中は，
負荷電流導体，補助電源回路，リード線などで放電したり，断線したりするなどの異常がないことを調べ
る。“アース”及び印加箇所は次による。
a) 計器のきょう（筐）体が金属の場合は，きょう（筐）体が“アース”となり，計器を平らな導電体表
面に接続する。計器のきょう（筐）体の全部又は一部が絶縁物である場合，アルミニウムなどの導体
はく（箔）で計器を覆い“アース”とし，計器を平らな導電体表面に接続する。このとき，導体はく
（箔）はきょう（筐）体の金属の部分と接しており，試験端子との隙間は，2 cm以下となるように覆
う。インパルス試験中，試験対象外の回路は“アース”に接続しなければならない。
b) 電圧回路及び電流回路が通常の使用中で接続されている場合，電圧回路の他の一端を“アース”に接
続して，試験電圧をその電流回路の端子と“アース”との間に印加する。複数の電圧回路をもち共通
点があれば，この点を“アース”に接続し，試験電圧を接続している電圧回路又は電流回路と“アー
ス”との間に連続してそれぞれ印加する。このとき，印加する電流回路の他端は開放しておく。
c) 電圧回路及び電流回路が通常の使用状態で分離して適切に絶縁されている場合，電圧回路及び電流回
路それぞれ別々に試験する。電流回路では，試験をしない他の回路の端子を“アース”に接続し，電
流回路の端子の一つと“アース”との間に試験電圧を印加する。電圧回路では，他の回路の端子と試
46
C 1283-2：2017
験する電圧回路の端子の一つを“アース”に接続し，その電圧回路の他の端子と“アース”との間に
試験電圧を印加する。
d) 駆動電圧40 Vを超え，計器の電圧回路又は変圧器と直接接続する補助回路は，電圧回路と短絡させて
試験を一緒に実施する。このとき，その他の補助回路には印加しない。
e) 計器の電気回路の端子及び駆動電圧40 Vを超える補助回路の端子は全て接続し，試験電圧を電気回路
と“アース”との間に印加する。このとき，駆動電圧40 V以下の補助回路は，“アース”に接続する。
表60−インパルス電圧の影響の試験条件
項目
条件
標準雷インパルス電圧波形
1.2/50 µs
電圧立ち上がり時間
±30 %
電圧降下時間
±20 %
電源エネルギー
10.0 J±1.0 J
試験電圧
定格電圧110/3Vの計器
3 000 V
定格電圧100 V及び110 Vの計器
6 000 V
定格電圧240 Vの計器
10 000 V
試験電圧公差
0 %〜＋10 %
10.4.9
地絡の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) 定格周波数及び定格電圧の110 %の電圧の下で，図7に示すように計器の中性端子（P0）を試験装置
の接地線から外し，装置の各電圧端子（P1，P2及びP3）に取り付け，10秒経過後，有意誤りが生じな
いことを調べる。
c) b) の試験後，計器を正常な接続状態に戻し，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流
を通じて器差を測定し，地絡によって生じる器差の差を求める。
図7−試験配線図
10.4.10 補助装置の動作の影響
試験は，次による。
47
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a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の2 Itr及びInの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) a) の条件で補助装置を動作させ，有意誤りが生じないことを調べる。
c) また，同じ条件で補助装置を動作させ，その動作中又は動作後において器差を測定し，補助装置を動
作させたことによって生じる器差の差を求める。
10.4.11 機械的性能の試験
10.4.11.1 振動の影響
試験は，計器を，正常な姿勢に対して上下，左右及び前後の方向に，JIS C 60068-2-47及びJIS C 60068-2-64
の方法によって，表61に示す振動を加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。また，定格周波数及
び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて，それぞれの振動を加える前及び後の器差を測定し，
それぞれの振動によって生じる器差の差を求める。
表61−振動の影響の試験条件
全周波数範囲
10 Hz〜150 Hz
全実効値レベル
7 m/s2
加速度スペクトル密度（ASD）レベル10〜20 Hz
1 m2/s3
加速度スペクトル密度（ASD）レベル20〜150 Hz
−3 dB/oct
1軸当たり試験時間
2分以上
10.4.11.2 衝撃の影響
試験は，計器を，正常な姿勢に対して上面，下面，左面，右面，前面及び背面の方向に，JIS C 60068-2-27
の方法によって，表62に示す衝撃を加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。また，定格周波数及
び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて，それぞれの衝撃を加える前及び後の器差を測定し，
それぞれの衝撃によって生じる器差の差を求める。
表62−衝撃の影響の試験条件
パルス波形
正弦半波
パルスの作用時間
18 ms
ピーク加速度
300 m/s2
回数
3回
10.4.12 粉じんの侵入の影響
試験は，JIS C 0920に規定するIP5Xに対するカテゴリー2の外郭への試験方法で実施した後，次の試験
を行う。
a) 10.5.1の絶縁抵抗
b) 10.5.2の商用周波耐電圧
c) 計器の内部に蓄積した粉じんの程度を目視によって調べる。
10.4.13 耐候性の試験
10.4.13.1 耐光性
促進耐候試験及び大気暴露試験を，表63の順序によって3回繰り返した後，直ちに計器の内部及び外部
の変化を目視によって調べる。
48
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表63−耐光性試験の順序
順序
試験項目
試験区分
屋内耐候形計器
1
促進耐候試験
サンシャインカーボンによる照射を48時間
（降雨の条件は除く。）
2
大気暴露試験
大気中に48時間放置
（計器に雨水がかかってはならない。）
表63の試験は，次による。
a) 促進耐候試験は，計器を正常な姿勢で，無通電で，JIS K 2246の6.36（耐候性試験方法）に規定する
方法によって照射時間を変更して行う。
b) 大気暴露試験は，基準環境に準じた地区において，日当たりの良い芝生地又はこれに準じた場所に，
アンダグラス試験台を正南面に設置し，計器をこれに取り付けて無通電で行う。アンダグラス試験台
は，JIS C 1281の4.3（耐光性試験）による。
10.4.13.2 高温乾燥の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条件
でJIS C 60068-2-2及びJIS C 60068-3-1に従い，図8のように行う。
a) 試験温度は，70 ℃とする。
b) 温度変化は毎分1 ℃以内とし，絶対湿度変化は毎分20 g/m3以内とする。
c) 高温乾燥の状態で計器を2時間放置した後，計器の機能に支障がなく，有意誤りが生じないことを調
べる。
d) 放置後，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定し，高温乾燥状
態によって生じる器差の差を求める。
49
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注記 試験は，器差測定を除き，計器を非動作状態にして行う。
また，図中の機能確認には，力率1のInの負荷条件の器差測定を含む。
図8−高温乾燥の試験
10.4.13.3 低温の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条件
でJIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-3-1に従い，図9のように行う。
a) 試験温度は，−25 ℃とする。
b) 温度変化は毎分1 ℃以内とする。
c) 低温の状態で計器を2時間放置した後，計器の機能に支障がなく，有意誤りが生じないことを調べる。
d) 放置後，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定し，低温状態に
よって生じる器差の差を求める。
50
C 1283-2：2017
注記 試験は，器差測定を除き，計器を非動作状態にして行う。
また，図中の機能確認には，力率1のInの負荷条件の器差測定を含む。
図9−低温の試験
10.4.13.4 高温高湿の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，定格電圧
を印加した状態で，JIS C 60068-2-30，JIS C 60068-2-78及びJIS C 60068-3-4に規定する方法で，次の試験
を実施する。
a) 屋内形計器の場合
1) 試験環境の温度を30 ℃，湿度を85 %の状態において2日間放置する。
2) 放置後，計器の機能確認を行い，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて
器差を測定し，高温高湿状態によって生じる器差の差を求める。
3) さらに24時間経過させ，有意誤りが生じないことを調べる。
4) 機械的損傷及び腐食の痕跡がないか調べる。
b) 屋内耐候形計器の場合
1) 試験環境の温度を25 ℃とする。
2) 試験環境の温度を25 ℃から40 ℃まで3時間かけて変化させる。40 ℃に達してからその温度にお
いて12時間放置する。
3) 試験環境の温度を40 ℃から25 ℃まで3時間以上6時間未満かけて変化させる。ただし，最初の1
時間30分における温度降下の割合は3時間かけて25 ℃に到達する時間とする。
4) 25 ℃に達した後，1回のサイクルが24時間となるように残りの時間を25 ℃に維持する。
5) 2)〜4) をさらに1回行う。
51
C 1283-2：2017
6) その後，計器の機能確認を行い，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じて
器差を測定し，高温高湿状態によって生じる器差の差を求める。
7) さらに24時間経過させ，有意誤りが生じないことを調べる。
8) 機械的損傷及び腐食の痕跡がないか調べる。
10.4.13.5 温度サイクルの影響
試験は，図10によって，試験環境の温度を23 ℃，−10 ℃，55 ℃及び23 ℃と変化させ，かつ，それ
ぞれの温度において3時間放置して行う。また，試験を始めるときの温度23 ℃及び終わるときの温度23 ℃
において，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1及び0.5（遅れ電流）のInの負荷電流を通じて器差を
測定し，温度サイクルの影響によって生じる器差の差を求める。
注記 試験は，器差測定を除き，計器を非動作状態にして行う。
注a) 試験槽内の温度変化の割合は，平均毎分1 ℃程度，最高毎分2 ℃とする。
図10−温度サイクル試験
10.4.14 耐久性
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の2 Itr及びInの負荷電流を通じて器差を測定した後，
IEC 62059-32-1及びJIS C 60068-2-2に規定する方法で，次のとおり行う。
a) 温度を屋内形計器は40 ℃，屋内耐候形計器は55 ℃とした環境において，計器の定格周波数及び定格
電圧の110 %の下で，力率1のImaxの負荷電流を通じて1 000時間維持する。
b) 1 000時間後，計器を定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の2 Itr及びInの負荷電流を通じて，器差
を測定し，耐久性試験によって生じるそれぞれの器差の差を求める。
c) 試験中は計器の機能を確認する。
10.5
絶縁性能の試験
10.5.1
絶縁抵抗
試験は，表64によって，直流電圧を加えて絶縁抵抗を測定する。
52
C 1283-2：2017
表64−絶縁抵抗の試験条件
区別
直流電圧
電圧回路とベースとの間
500 V
電流回路とベースとの間
電流回路相互間
電圧回路と電流回路との間
10.5.2
商用周波耐電圧
試験は，表65によって，定格周波数の正弦波又は正弦波に近い交流電圧を1分間加えて行う。
表65−商用周波耐電圧の試験条件
区別
交流電圧
電圧回路とベースとの間
2 kV
電流回路とベースとの間
電流回路相互間
電圧回路と電流回路との間
10.6
材質の試験
試験は，グローワイヤ（赤熱棒押付け）試験及びスプリングハンマ衝撃試験とし，次による。
a) グローワイヤ（赤熱棒押付け）試験 計器の外箱（ベース，カバー及び端子カバー）にあっては650 ℃，
端子ボックスにあっては960 ℃の温度のグローワイヤを衝撃力が1.0±0.2 Nを超えないように30秒
間接触させて，外箱及び端子ボックスを観察して行う。試験を行う場合は，グローワイヤと試料とが
接触する箇所の下方に薄葉紙をかぶせた木の板を置き，木の板に焦げがなく，薄葉紙に着火がないこ
との確認を観察して行う（JIS C 60695-2-10参照）。
b) スプリングハンマ衝撃試験 計器を正常な姿勢で，計器の外箱にスプリングハンマで0.2±0.02 Jの運
動エネルギーを加えて行う。
10.7
負荷電流導体及び端子の温度上昇試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のImaxの負荷電流を通じ，2時間後における負荷電流
導体の表面及び電流端子の温度を熱電対法で測定する。測定は，次による。
a) この試験に使用する接続導線は，長さ1.5 mで，直径2 mmのJIS C 3307に規定する600 Vビニル絶
縁電線とし，これを各電流端子に接続する。
b) 負荷電流導体の表面の測定箇所は，負荷電流導体のほぼ中央部とする。熱電対（JIS C 1602に規定す
る構成材料の種類の記号Tのものを推奨する。）は，直径0.3 mm程度のものを使用し，負荷電流導体
の絶縁を一部切り取ってはんだ付けをする。
c) 電流端子の温度上昇は，温度分布がほぼ一様で，測定に便利な電流端子の一部に熱電対を固定して測
定する。
10.8
複合電気計器の表示機構の試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じたとき，計量パルスから換算し
た電力と時間帯別の最大需要電力とが一致することを調べる。
注記 計量値の桁上がりを考慮して試験する。
53
C 1283-2：2017
10.9
出力機構の試験
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率1のInの負荷電流を通じたとき，出力機構から正しく計量値を
出力することを調べる。また，機能に支障がないことを調べる。
b) 表66に示す試験において，定格周波数及び定格電圧の下で，影響中・妨害中に実施する場合は力率1
の各試験電流を，影響後・妨害後に実施する場合は力率1のInの負荷電流を通じたとき，出力機構か
ら正しく計量値を出力することを調べる。また，機能に支障がないことを調べる。
表66−実施対象の項目
項目
影響中・妨害中に実施 影響後・妨害後に実施
10.3.1 温度特性
（−20 ℃及び＋55 ℃，屋内形計器の場合は，−5 ℃及び＋40 ℃）
○
−
10.3.10 外部直流磁気の影響
○
−
10.3.11 外部磁界の影響
○
−
10.3.12 電磁環境両立性
−
○
10.3.13 高次高調波の影響
−
○
10.4.2 静電気の影響
−
○
10.4.3 高速過渡の影響
−
○
10.4.4 電圧ディップ及び短時間停電の影響
−
○
10.4.5 交流主電源線上のサージの影響
−
○
10.4.6 減衰振動波イミュニティ試験の影響
−
○
10.4.7 c) 過電流の影響
−
○
10.4.14 耐久性
−
○
○：実施する。 −：実施しない。
10.10 機械的性能の試験
10.10.1 機構など
試験は，次による。
a) 表示機構の表示回路の試験は，温度が屋内耐候形計器の場合は，−20 ℃，23 ℃及び55 ℃，屋内形
計器の場合は，−5 ℃，23 ℃及び40 ℃における表示回路による器差の測定を，定格周波数及び定格
電圧の下で，力率1のItr及びInの負荷電流の電力，又はこれらに相当する電力のパルスを加えて行う。
b) 試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1の2 Itrの負荷電流を加えて器差を10回繰り返し連続
して測定し，器差の最大と最小との差を求める。
10.11
需要時限の試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下，需要電力が零位に復帰してから再び零位に復帰するまでの時間
を測定する。
注記 試験の力率，負荷電流は，需要電力が零位から零位に復帰するまでが確認できるのに十分な任
意の条件でよい（例えば，力率1，定格電流）。
11
検定
特定計量器検定検査規則（以下，検則という。）に規定する構造検定及び器差検定の方法は，附属書A
による。
54
C 1283-2：2017
12
使用中検査
検則に規定する使用中検査は，附属書Bによる。
13
対応関係
JISの項目と検則の項目との対応関係は，表67による。
表67−JIS項目と検則項目との対比表
JIS項目
検則項目
箇条5 誘導形計器の表記
第十八章第一節第一款第一目“表記事項”
箇条6 誘導形計器の性能（6.1は除く。）
A.1 個々に定める性能 a) 及びb)
第十八章第一節第一款第二目“性能”
6.1 検定公差
第十八章第一節第二款“検定公差”
箇条7 誘導形計器の試験方法
A.1 個々に定める性能 c)
第十八章第一節第三款第一目“構造検定の方法”
A.2 器差検定の方法
第十八章第一節第三款第二目“器差検定の方法”
B.1 性能に係る技術上の基準
第十八章第二節第一款“性能に係る技術上の基準”
B.2 使用公差
第十八章第二節第二款“使用公差”
B.3 性能に関する検査の方法
第十八章第二節第三款第一目“性能に関する検査の方法”
B.4 器差検査の方法
第十八章第二節第三款第二目“器差検査の方法”
8.4 表記
第十八章第一節第一款第一目“表記事項”
箇条9 電子式計器の性能（9.1は除く。）
A.1 個々に定める性能 a) 及びb)
第十八章第一節第一款第二目“性能”
9.1 検定公差
第十八章第一節第二款“検定公差”
箇条10 電子式計器の試験方法
A.1 個々に定める性能 c)
第十八章第一節第三款第一目“構造検定の方法”
A.2 器差検定の方法
第十八章第一節第三款第二目“器差検定の方法”
B.1 性能に係る技術上の基準
第十八章第二節第一款“性能に係る技術上の基準”
B.2 使用公差
第十八章第二節第二款“使用公差”
B.3 性能に関する検査の方法
第十八章第二節第三款第一目“性能に関する検査の方法”
B.4 器差検査の方法
第十八章第二節第三款第二目“器差検査の方法”
55
C 1283-2：2017
附属書A
（規定）
検定の方法
A.1 個々に定める性能
個々に定める性能及び試験方法は，次による。
a) 個々に定める性能は，誘導形計器にあっては6.3.1 b)3)，6.3.5及び6.4.1，電子式計器にあっては
9.10.1 a)3)，9.11及び9.5.1による。
注3) 計器の分離することができる表示機構に限る。
b) 最大需要電力計の復帰装置の個々に定める性能は，誘導形計器にあっては6.3.1 c) 1)，電子式計器にあ
っては9.10.1 b) による。
c) 個々に定める性能の検定方法は，誘導形計器にあっては7.3.1 b)，7.3.5及び7.4.1，電子式計器にあっ
ては10.10.1 a)，10.11及び10.5.1のほか，目視その他必要と認められる適切な方法による。ただし，
最大需要電力計の分離することができる表示機構が，6.3.1 b) 及び9.10.1 a) の規定に適合するかどう
かの試験は，7.3.1 b) 及び10.10.1 a) の規定にかかわらず，定格周波数及び定格電圧の下で，力率1
の表A.1及び表A.2の負荷電流の電力，又はこの電力に相当するパルスを加えた場合において，歯車
比及びそのかみ合わせ又は表示回路による器差を測定して行うことができる。この場合において，そ
の器差が表A.1及び表A.2の最大許容器差を満足しなければならない。
表A.1−個々に定める性能における歯車比などの影響による最大許容器差（誘導形計器）
負荷電流
（定格電流に対する百分率）
最大許容器差
%
20 a) 及び35 b)
±2.0
50 c) 及び100
±1.0
注a) 機械式でデジタル式のものに適用する。
b) アナログ式のものに適用する。
c) 電子式でデジタル式のものを除く。
表A.2−個々に定める性能における歯車比などの影響による最大許容器差（電子式計器）
負荷電流
最大許容器差
%
10 Itr及びIn
±1.0
A.2 器差検定の方法
最大需要電力計の器差検定は，次による。
a) 器差検定は，個々の最大需要電力計について，誘導形計器にあっては7.1，電子式計器にあっては10.1
によって行う。ただし，電子式計器の試験は，10.1の規定にかかわらず，定格周波数及び定格電圧の
下で，力率1のInの負荷電流を通じるか，又はその電力に相当するパルスを加えた場合において，当
該計器の表示機構の表示によって測定した器差から，電力を計量するパルスによって測定した器差を
減じた値と，定格周波数及び定格電圧の下で，表A.3に規定する力率の負荷電流を通じた場合におい
て電力を計量するパルスによって測定した器差との代数和を算出して行うことができる。
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表A.3−器差試験の負荷電流及び力率（電子式計器）
負荷電流
力率
2 Itr，10 Itr及びIn
1
In
0.5（遅れ電流）
b) 複合電気計器に含まれる二つ以上の最大需要電力計においては，任意の一つの最大需要電力計につい
て10.1によって器差検査を行い，それ以外の最大需要電力計については，その任意の一つの最大需要
電力計において測定した器差によって行うことができる。
c) 器差の測定は，基準器検査規則第4条に規定する基準電力量計によって行う。
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附属書B
（規定）
使用中検査
B.1
性能に係る技術上の基準
性能に係る技術上の基準は，誘導形計器にあっては6.3.1 c) 1) 及び6.3.5，電子式計器にあっては9.10.1 b)
及び9.11による。
B.2
使用公差
使用公差は，4.0 %とする。
B.3
性能に関する検査の方法
性能に関する検査の方法は，誘導形計器にあっては7.3.5，電子式計器にあっては10.11による。
B.4
器差検査の方法
器差検査は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，表B.1に規定する力率の負荷電流を通じるか，又はその電力に相当
するパルスを加えて行う。
表B.1−器差検査の負荷電流及び力率
負荷電流
力率
10 Itr a)
1
注a) 定格電流に対する百分率は，50となる。
b) 複合電気計器に含まれる二つ以上の最大需要電力計においては，任意の一つの最大需要電力計につい
てa) によって器差検査を行い，それ以外の最大需要電力計については，その任意の一つの最大需要
電力計において測定した器差によって行うことができる。
c) 器差の測定は，基準器検査規則第4条に規定する基準電力量計によって行う。
参考文献 JIS C 1602 熱電対
JIS C 60695-2-10 耐火性試験−電気・電子−第2-10部：グローワイヤ／ホットワイヤ試験方
法−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
IEC 62054-21，Electricity metering (a.c.)−Tariff and load control−Part 21: Particular requirements for
time switches