C 1273-2：2017
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 種類······························································································································ 11
5 計量に関する要件 ············································································································ 12
5.1 計量単位 ····················································································································· 12
5.2 定格動作条件 ··············································································································· 12
5.3 精度要件 ····················································································································· 13
5.4 表記 ··························································································································· 13
5.5 計量特性の保護 ············································································································ 14
5.6 使用のための適性 ········································································································· 18
6 性能······························································································································ 20
6.1 検定公差 ····················································································································· 20
6.2 電気的性能 ·················································································································· 21
6.3 影響 ··························································································································· 21
6.4 妨害 ··························································································································· 24
6.5 絶縁性能 ····················································································································· 28
6.6 材質 ··························································································································· 28
6.7 負荷電流導体及び端子の温度上昇····················································································· 29
6.8 複合電気計器の表示機構 ································································································ 29
6.9 発信装置及び分離することができる表示機構 ······································································ 29
6.10 出力機構 ···················································································································· 29
7 試験方法························································································································ 29
7.0 試験条件 ····················································································································· 29
7.1 器差試験 ····················································································································· 30
7.2 電気的性能の試験 ········································································································· 30
7.3 影響試験 ····················································································································· 31
7.4 妨害試験 ····················································································································· 35
7.5 絶縁性能の試験 ············································································································ 43
7.6 材質の試験 ·················································································································· 44
7.7 負荷電流導体及び端子の温度上昇試験··············································································· 44
7.8 複合電気計器の表示機構の試験 ······················································································· 44
7.9 発信装置及び分離することができる表示機構の試験 ····························································· 45
7.10 出力機構の試験 ··········································································································· 45
C 1273-2：2017 目次
（2）
ページ
8 検定······························································································································ 46
9 使用中検査 ····················································································································· 46
10 対応関係 ······················································································································ 46
附属書A（参考）複合器差の推定 ··························································································· 47
附属書B（規定）検定の方法 ································································································· 49
附属書C（規定）使用中検査 ································································································· 50
附属書D（参考）高温高湿の影響の試験条件 ············································································ 51
C 1273-2：2017
（3）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 1273の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 1273-1 第1部：一般仕様
JIS C 1273-2 第2部：取引又は証明用
日本工業規格 JIS
C 1273-2：2017
交流電子式無効電力量計−
第2部：取引又は証明用
Alternating-current static meters for reactive energy-
Part 2: Measuring instruments used in transaction or certification
序文
この規格に規定する交流電子式無効電力量計は，JIS C 1271-2又はJIS C 1272-2に規定する計器用変成
器と組み合わせて用いる有効電力量計と複合した一体形の計器又は組み合わせて一緒に用いる計器である
ことから，この規格は，要求事項の共通化を図るため，これらのJISの構成を基にした。
この規格は，交流電子式無効電力量計が計量法の特定計量器として要求される要件のうち，構造及び性
能に係る技術上の基準及び試験の方法を規定するために作成した日本工業規格であり，この規格に適合す
ることをもって計量法で定める検定に合格したということにはならない。また，この規格に適合するもの
であることを示す工業標準化法第19条の表示を付すことはできない。
1
適用範囲
この規格は，日本国内で取引又は証明における計量に使用される無効電力量計であって，三相3線式回
路及び三相4線式回路において，計器用変成器と組み合わせて使用する電子式の無効電力量計（以下，計
器という。）について規定する。
なお，この規格で規定する事項のほかは，JIS C 1210による。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
JIS C 1210 電力量計類通則
JIS C 1281 電力量計類の耐候性能
JIS C 3307 600 Vビニル絶縁電線（IV）
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）
試験方法（試験記号：Db）
JIS C 60068-2-47 環境試験方法−電気・電子−第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
2
C 1273-2：2017
JIS C 60068-2-64 環境試験方法−電気・電子−第2-64部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試
験記号：Fh）
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試験記号：
Cab）
JIS C 60068-3-1 環境試験方法−電気・電子−第3-1部：低温（耐寒性）試験及び高温（耐熱性）試
験の支援文書及び指針
JIS C 60068-3-4 環境試験方法−電気・電子−第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／バー
ストイミュニティ試験
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニティ
JIS C 61000-4-8 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び電圧
変動に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-6-1 電磁両立性−第6-1部：共通規格−住宅，商業及び軽工業環境におけるイミュニテ
ィ
JIS C 61000-6-2 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
JIS K 2246 さび止め油
IEC 60060-1:2010，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 61000-4-1:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-1: Testing and measurement techniques−
Overview of IEC 61000-4 series
IEC 61000-4-18:2011，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-18: Testing and measurement techniques
−Damped oscillatory wave immunity test
IEC 62053-23，Electricity metering equipment (a.c.)−Particular requirements−Part 23: Static meters for
reactive energy (classes 2 and 3)
IEC 62059-32-1，Electricity metering equipment−Dependability−Part 32-1: Durability−Testing of the
stability of metrological characteristics by applying elevated temperature
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次によるほか，JIS C 1210による。
3.1
無効電力量計
無効電力を時間で積算して連続的に無効電力量を計量し，その結果を保存する計器。
注記 “連続的に”は，この規格の要件を満たすのに十分高いサンプリングレートをもつ計器も含む。
3.2
時間帯別無効計器
季節，時間並びに負荷によって二つ以上の料金率を設定することができ，それぞれ独立に無効電力量を
3
C 1273-2：2017
計量及び表示することができる計器。
3.3
変成器付計器（transformer operated meter）
変成器と組み合わせて使用する計器。ただし，変成器は含まない。
3.4
電子式計器（static meter）
半導体などの電子部品によって計量及び動作する計器。
3.5
（計量）素子（measuring element）
入力電圧及び入力電流を乗算して無効電力に比例した電気的な量に変換する部分。
3.6
多素子計器
複数の素子をもつ計器。相及び線式が，三相3線式又は三相4線式の計器をいう。
3.7
電流回路（current circuit）
負荷電流又はこれに相応する電流が通じる回路。
3.8
電圧回路（voltage circuit）
供給電圧又はこれに相応する電圧が加わる回路。
3.9
計量値
計器の表示する物象の状態の量の値であって，計器で計量した電力量。
3.10
表示装置（indicating device）
電力量の計量値などを表示する装置。
注記 表示装置は，他の関連情報を表示するために使用する場合がある。
3.11
レジスタ（register）
電力量を計量する装置であり，計量する機能とその計量した計量値を保持する機能をもつ。
注記 レジスタには，機械式装置又は電子装置がある。レジスタは表示装置に含まれることもある。
3.12
レジスタに乗じる定数（register multiplier）
計量された無効電力量の値を得るために，レジスタの読みに乗じなければならない定数。
3.13
計量パルス（test output）
計器で計量する無効電力量に比例するパルスで，計器の試験に使用するもの。
3.14
計器定数（meter constant）
1 kvars当たりの計量パルスのパルス数を表す値。
4
C 1273-2：2017
3.15
パルス記号
発信装置から発信されるパルスの電気的特性を示す製造業者固有の記号。
3.16
パルス定数
発信装置から発信されるパルスの定数で，1 kvarh当たりのパルス数。
3.17
補助装置（ancillary device）
基本的な計量機能以外の計器内の装置。
3.18
電流（current），I
計器に流れる電流の実効値。
3.19
始動電流（starting current），Ist
計器が力率0.866，平衡負荷状態のとき，計量動作を開始しなければならない最小の電流値。
3.20
最小電流（minimum current），Imin
計器が精度要件を満たさなければならない最小の電流値。
3.21
転移電流（transitional current），Itr
最大許容器差に適合する電流値のうち，最大許容器差が小さい範囲における最小の電流値。
3.22
最大電流（maximum current），Imax
計器が精度要件を満たさなければならない最大の電流値。
3.23
定格電流，In
計器の正常動作のために，規定する電流値の中から製造業者が指定（選択）した電流値。
3.24
電圧（voltage），U
計器に印加する電圧の実効値。
3.25
定格電圧（nominal voltage），Unom
計器の正常動作のために，規定する電圧値の中から製造業者が指定（選択）した電圧値。
3.26
周波数（frequency），f
計器に供給される電圧及び電流の周波数。
3.27
定格周波数（nominal frequency），fnom
計器の正常動作のために，規定する周波数の中から製造業者が指定（選択）した電圧及び電流の周波数。
5
C 1273-2：2017
3.28
動作停止電圧
電圧を定格電圧から徐々に下げていったとき，計器が計量動作を停止する電圧。
3.29
動作開始電圧
電圧を0 Vから徐々に上げていったとき，計器が計量動作を開始する電圧。
3.30
高調波（harmonic）
定格周波数の整数倍の周波数部分。
3.31
分数調波（sub-harmonic）
定格周波数の整数分の一である周波数成分。定格周波数の1/n倍，ここでnは2以上の整数である。
3.32
高調波次数（harmonic number）
定格周波数に対する比で表す高調波を特定する整数。
3.33
ひずみ率（distortion factor），d
定格周波数成分の実効値に対する高調波成分の実効値の比。
3.34
力率（power factor）
有効電力の皮相電力に対する比。力率＝cosΦで表される（電圧Uと電流Iとの間の位相差Φの余弦）。
3.35
無効電力
有効電力の瞬時電圧の位相が90°遅れたもの（進みのときは位相が90°進んだもの）と瞬時電流との積。
3.36
無効電力量
無効電力の時間積分値。通常，kvarhで表される。
3.37
器差
計量値から基準器が示す真実の値を減じた値のその真実の値に対する割合。
3.38
最大許容器差（maximum permissible error）
計器において，規定する器差の限度値。
3.39
器差の差の限度（maximum permissible error shift）
基準条件の値をもつ影響因子が定格動作条件内で変動する際に，この規格で認められている計器の器差
の変化の最大値。
3.40
固有器差（intrinsic error）
基準条件下で決定する計器の器差。
6
C 1273-2：2017
3.41
初期固有器差（initial intrinsic error）
特性試験及び耐久性評価の前に決定する計器の固有器差。
3.42
影響量（influence quantity）
計量結果に影響を与える量。
3.43
影響因子（influence factor）
定格動作条件内の影響要素。
3.44
妨害（disturbance）
定格動作条件に規定されていない影響量。
3.45
定格動作条件（rated operating condition）
計器が設計どおりに機能しなければならない動作条件。
3.46
基準条件（reference condition）
計器の性能評価又は計量結果の比較のために指定する条件。
3.47
耐久性（durability）
計器が一定の使用期間にわたって，その性能特性を維持する能力。
3.48
誤り（fault）
計器の指示器差と固有器差との差。
注記 主に誤りは，存在するデータの望ましくない変化の結果である。
3.49
有意誤り（significant fault）
この規格で定める定格動作条件，影響及び妨害で規定された最大許容器差又は器差の差の限度を超える
ものであり，また，それによって生じる計量値の変化及び機能の損失。
3.50
誤り検出機能（checking facility）
計器に内蔵され，有意誤りを検知して，それに対応できる機能。
3.51
逆方向電流
計器の電流端子を接続したときに負荷側から電源側へ流れる電流。
注記 一般に電源から負荷側に流れる向きを順方向という。
3.52
単方向計器
一方向電流だけの電力量を計量する計器。
7
C 1273-2：2017
3.53
双方向計器
順方向電流の電力量を計量する計器と逆方向電流の電力量を計量する計器とが構造上一体となっている
複合計器。
3.54
法定計量に関連する（部分）
計量法の要求事項を満たす特定計量器としての構造，性能などを実現しているハードウェア及びソフト
ウェアの部分。
例 計量の正確さ，計器の正確な機能などに影響するハードウェア及びソフトウェア又はこれらの一
部分。
3.55
屋内形計器
雨水が全くかからず，直射日光が当たらない場所で，かつ，結露水，降雨（降雪）又は氷生成の影響を
受けない場所で使用することができる耐候構造の計器（IP5Xに相当）。
3.56
屋内耐候形計器
雨水が全くかからないが，直射日光が当たる場所，又は結露水若しくは雨水以外の源からの要因で水若
しくは氷生成の影響を受ける可能性がある場所で使用することができる耐候構造の計器（IP5Xに相当）。
3.57
発信装置
取引又は証明に使用するために，無効電力量に比例した電気的パルスを発生する装置。
3.58
発信装置付計器
発信装置を備えた計器。
3.59
出力機構
計量値などのデータを電子計算機などに出力する機構。発信装置は含まない。
3.60
出力機構付計器
出力機構を備えた計器。
3.61
単体計器
一つの測定量だけを計量する計器。
例 有効電力量だけを計量する計器として普通電力量計，無効電力量だけを計量する計器として無効
電力量計がある。
3.62
複合計器
二つ以上の電気計器（単体計器）が構造上一体となっている計器。
例 普通電力量計，無効電力量計及び最大需要電力計が一つの計器として一体となっているもの
8
C 1273-2：2017
3.63
複合電気計器
複合計器のうち，同種の電気計器を二つ以上含むもので，当該電気計器が同一の検出部及び中央演算処
理装置を備える計器。
3.64
監査証跡
法定計量に関連する計量特性に影響する可能性がある事象（装置のパラメータ値への変更，ソフトウェ
アの更新など）の情報記録をタイムスタンプ付きで漏れなく記録したデータファイル。
3.65
真正性
身元認証過程の結果（合格又は不合格）。
注記 身元認証とは，利用者，プロセス又は装置が宣言又は申し立てた身元の正当性を確認すること
をいう。
3.66
コマンド
入力インタフェース上の電気的，光学的若しくは電磁気的な信号列，又はデータ転送プロトコルにおけ
るコード列。コマンドには，計器又は電子装置のソフトウェアによって生成されるもの（ソフトウェアコ
マンド）と，計器のユーザインタフェースを通してユーザが生成するもの（ユーザコマンド）とがある。
3.67
通信
一定の規則に従った，二つ以上のユニット（例えば，ソフトウェアモジュール，電子装置など）の間で
の情報交換。
3.68
法定計量に関連するパラメータ
型式固有パラメータ及び装置固有パラメータ。法定計量に関連するソフトウェアの部分である。
3.69
法定計量に関連するソフトウェア
計器又は電子装置に組み込まれているソフトウェアで，法定計量に関連する機能を定義及び実行するも
の。
3.70
法定計量に関連する固定のソフトウェア
法定計量に関連するソフトウェアの部分で，実行コードが型式承認時と全く同じであり続けるもの。こ
の部分は，ソフトウェアの更新を監視及び実行の役割を担う。
3.71
通信インタフェース
計器が，外部又は計器の部品（例えば，電子装置）の間で情報の受け渡しを可能にする電子的，光学的，
無線などのインタフェース。出力機構の部分。
3.72
装置固有パラメータ
個々の計器によって異なる値を設定するもの。装置固有パラメータには校正に関するパラメータ（例え
9
C 1273-2：2017
ば，調整値，補正値など），設定に関するパラメータ（例えば，使用範囲の上限，下限，計量単位など）な
どがある。
3.73
型式固有パラメータ
計器の型式によって特定される値となる法定計量に関連するパラメータ。型式固有パラメータは法定計
量に関連するソフトウェアに含まれる。
3.74
電子装置
電子部品を用いて，特定の機能を実行する装置。電子装置は，別々のユニットとして製造され，独立し
て試験することができる。通常，計器の内部に組み込まれており，計器とともに試験される。
3.75
イベント
計器のパラメータ若しくは調整値の変更，又はソフトウェアモジュールの更新を伴う作業。
3.76
完全性
プログラム，データ又はパラメータが，利用，転送，保存，修復又は保守されるときに，不正な又は意
図されていない改ざん（竄）を受けていないことの保証。
3.77
封印
部品，ソフトウェアなどを不正に修正，再調整又は削除できないよう計器を保護するための手段。ハー
ドウェア，ソフトウェア，又は両者の組合せがある。
3.78
特別な動作モード
計器の機能，特性の設定などを行うための通常の動作状態とは異なる動作状態であり，アクセス権と関
連している。
3.79
ソフトウェア
コード，データ，パラメータ及びソフトウェアモジュールの集合。
3.80
ソフトウェア識別情報
ソフトウェア又はソフトウェアモジュールに固有に結び付いている判読可能な文字の列。
3.81
ソフトウェアインタフェース
プログラムコード及び専用のデータ領域から構成され，法定計量に関連する，しないにかかわらずソフ
トウェアモジュール間のデータの受取，フィルター処理，転送を行うもの。
3.82
ソフトウェアモジュール
プログラム，サブルーチン，ライブラリ，オブジェクトなどの論理的実体。データ領域を含む。また，
他の構成要素と関係をもつ場合がある。計器又は電子装置のソフトウェアは，一つ以上のソフトウェアモ
ジュールから構成される。
10
C 1273-2：2017
3.83
ソフトウェア保護
ハードウェア又はソフトウェアによる封印によって，計器ソフトウェア又はデータ領域を変更できない
ようにするための手段。ソフトウェアを変更するためには封印を除去する，封印に損傷を与える，又は封
印を破壊する必要がある。
3.84
ソフトウェア分離
計器又は電子装置内のソフトウェアを法定計量に関連する部分と，法定計量に関連しない部分とに分け，
識別する行為。
3.85
タイムスタンプ
あるイベント又は欠陥が起こった日付，又は日付及び時刻を指す文字列。
3.86
サイクリック
複数の計量値を一つの電子式の表示装置によって表示する場合に，計量値を周期的に繰り返し表示させ
る動作・機能。
3.87
アクセス
ソフトウェア部分へのアクセス及びハードウェア部分へのアクセス。前者は，ソフトウェア部分の変数，
コードの内容などを読み書きすることであり，具体的には，計器の機能，特性，器差などに関連するパラ
メータ，データについて読み書きすることである。後者は，ボタン又はスイッチによる計器の設定，表示
に関連する操作，部品交換，コネクタ部分の操作など，ハードウェア部分に直接関与することである。
3.88
アクセス権
アクセスにおける権限であり，アクセスする者とアクセスする内容について定義して，読込みだけの許
可，書込み禁止などの権限が設定される。
3.89
I/Oポート
通信などによる外部との入出力をする物理的な部分で，接続するための端子など。出力機構の部分。
3.90
端子ボックス
計器を配電線又は変成器からの接続線に接続するための接続端子をもつ部分。
注記 分離することができる端子ボックス（端子ブロック）は，この規格の適用範囲外である。
3.91
接続端子
配電線又は変成器からの接続線を接続する端子で，配電線又は接続線をねじなどで接続できる端子ボッ
クスの部分，又は計器内部の電圧回路及び電流回路を端子ボックスに接続する端子。
3.92
端子の記号
計器において，正しい接続を行うために，計器本体又は端子ボックスに記号で表示されるもの。
11
C 1273-2：2017
注記 JIS C 1210参照。
3.93
補助電源
計器において動作に必要な駆動電源を供給するために用意する電源。
3.94
分離することができる表示機構
電子装置の一種で，計器本体から，コードなどによって分離している表示機構又はコネクタなどで外付
けする表示機構。
3.95
型式承認表示
計量法に規定される特定計量器の型式について，その承認を取得している型式に属することを示す表示。
型の記号ともいい，銘板へ表記するもの。
3.96
表示機構
計量値を連続的に示すか又は一定間隔で断続的に表示する目盛標識の集合で，表示装置を含む電力量の
計量値などを表示する機構。
3.97
器差試験
計量法に規定される構造に係る技術上の基準に適合するかどうかを定めるために器差を測定すること。
3.98
検定
計量法に規定される特定計量器の検査。
注記 検定を行うものは，計量法によってその特定計量器の種類ごとに都道府県知事，指定検定機関，
国立研究開発法人産業技術総合研究所，日本電気計器検定所などと定められている。
3.99
使用中検査
電気計器及び計器用変成器の製造後，市場において使用されている計量器の性能などの検査。
3.100
検定公差
検定における器差の絶対値で表される許容差。
3.101
使用公差
使用中検査における器差の絶対値で表される許容差。
4
種類
計器の定格電圧，定格電流，定格周波数及び耐候区分による種類は，相及び線式に応じ，表1による。
12
C 1273-2：2017
表1−計器の種類
相及び線式
定格電圧
V
定格電流
A
定格周波数
Hz
計器の耐候区分
三相3線式
110
5
50
60
屋内形
屋内耐候形
三相4線式
110/3
110
240
注記 計器の定格電圧は，電圧回路に加わる電圧をいい，三相3線式では線間電圧を，三相4線式では相電圧をい
う。
5
計量に関する要件
5.1
計量単位
計量単位には，kvarhを用いる。
5.2
定格動作条件
計器は，表2に規定する条件で正しく動作し，最大許容器差を満足しなければならない。
表2−定格動作条件
項目
条件
周波数
fnom±2 %
電圧
Unom±10 %
電流
IstからImaxまで。
In，Imax，Itr，Imin及びIstは，表3に従う。
力率
0から0.866まで。遅電流用計器の場合は遅れ電流，進電流用計器の場合は進み電流。
双方向計器は，双方向に有効である。
温度
下限−20 ℃，上限＋55 ℃。ただし，屋内形計器の場合は，下限−5 ℃，上限＋40 ℃。
相線式
三相3線式：2素子，三相4線式：3素子
計器定数
表4による。
傾斜
取付け位置を規定する場合，±3°。
不平衡
三相3線式計器：平衡状態から1素子だけの電流回路の状態。
三相4線式計器：平衡状態から1素子又は2素子だけの電流回路の状態。
表3−定格動作条件（電流）
定格電流
In
A
最大電流
Imax
A
負荷電流（最大電流に対する割合）
転移電流
Itr
最小電流
Imin
始動電流
Ist
5
6
1/24
1/60
1/240
表4−定格動作条件（計器定数）
相及び線式
定格電圧
V
定格電流
A
計器定数
pulse/kvars
三相3線式
110
5
1 000
三相4線式
110/3
1 000
110
2 000/3
240
250
13
C 1273-2：2017
5.3
精度要件
5.3.1
総則
計器は，箇条6に規定する最大許容器差及び器差の差の限度を超えたり，有意誤りが発生したりしない
ように設計し製造しなければならない。計器に誤り検出機能を備える場合は，誤りを検出したことを明示
し，誤りが発生している期間の計量を識別できなければならない。
注記 試験点は最低限として規定しており，計器はIst〜Imaxの全ての電流値において，Ist〜Imin〜Itr〜Imax
に対応する器差の許容限度を満足する必要がある。
5.3.2
計量方向
単方向計器は，一方向だけの電力量を正確に計量し，その方向と逆に変化したときは計量してはならな
い。
双方向計器は，順方向及び逆方向それぞれの電力量に対応したレジスタによって，正確に計量しなけれ
ばならない。各レジスタは，指定の向きと逆に変化したときは計量してはならない。
5.3.3
時間帯別計器
時間帯別計器において，累積（全日）用のレジスタは使用中，常に動作し，その間に計量された値は各
時間帯用のレジスタに計量された値の総和と一致しなければならない。
5.4
表記
5.4.1
計器
計器には，その見やすい箇所に，次に掲げる事項を明瞭に，かつ，消滅しないように表記しなければな
らない。
a) 製造業者名又は登録商標
注記 商標法第二条第五項の登録商標をいう。
b) 定格電圧 ただし，三相4線式計器の場合は，相電圧を表記する。
c) 定格電流
d) 定格周波数
e) 型式承認番号 型式承認表示として取得した番号
f)
型式承認番号を付した年
g) 製造番号
h) 使用回路の相及び線式 表記を簡略する場合は“三相3線式”を三3，“三相4線式”を三4と表記
する。
i)
レジスタに乗じる定数
j)
計器固有の計器定数 表記は，…pulse/kvars又は…p/kvarsとする。
k) 西暦年による製造年
l)
種類 “無効電力量計”と表記する。ただし，表記を簡略する場合は，無電力量計と表記する。さら
に，銘板上に複合計器である旨の表記がある場合は，無と表記する。
m) 型の記号
n) 発信装置を備えるものは，パルス記号及びパルス定数 パルス定数の表記は，…pulse/kvarh又は…
p/kvarhとする。
o) 屋内形計器は，“屋内形”である旨の表示 “屋内形”と表記する。ただし，表記を簡略する場合は，
“屋内”と表記する。
p) 屋内耐候形計器は，“屋内耐候形”である旨の表示 “屋内耐候形”と表記する。ただし，表記を簡略
14
C 1273-2：2017
する場合は，“屋内耐候”と表記する。
q) 附属変成器の製造番号及び種類 種類は，“変流器”，“計器用変圧器”（“コンデンサ型変圧器”は，
その旨）又は“変圧変流器”である旨の表示。
r) 変成器の一次及び二次の定格値で表した変成比
s)
補助電源を備えるものは，“補助電源”付きである旨の表示及びその電圧値
5.4.2
分離することができる表示機構
分離することができる表示機構は，その見やすい箇所に，パルス記号及びパルス定数を明瞭に，かつ，
消滅しないように表記しなければならない。パルス定数の表記は，…pulse/kvarh又は…p/kvarhとする。
5.5
計量特性の保護
5.5.1
総則
計器は，その計量特性を保護する手段を備え，この規格における内容を満足しなければならない。
5.5.2
ソフトウェア識別情報
計器の法定計量に関連するソフトウェアは，ソフトウェア識別情報によって明確に識別しなければなら
ない。また，ハードウェアの構成と密接な関係があることを明確にし，文書化しなければならない。さら
に，その型式の計器の法定計量に関連するソフトウェアは，型式の承認において特定できなければならな
い。
ソフトウェア識別情報は，ソフトウェアのハッシュ値又はそのソフトウェアを構成するソフトウェアモ
ジュールごとのハッシュ値の全部によって構成し，その計器の法定計量に関連するソフトウェアと密接な
関係をもたなければならない。また，その正常な動作の確保に必要であれば，その計器のハードウェアを
識別する情報を含めなければならない。ソフトウェア識別情報は，必要なときに表示装置に表示できると
ともに通信インタフェースを通して出力できなければならない。ただし，法定計量に関連するソフトウェ
アの変更が不可能な計器であってインタフェースをもたないものは，その銘板に表示してもよい。
5.5.3
保護（封印）
5.5.3.1
計器は，意図する，意図しないにかかわらず，誤用の可能性が最小限になるように構成しなけれ
ばならない。
5.5.3.2
計器内部は，物理的な封印によって保護しなければならない。法定計量に関連するソフトウェア
は，物理的封印によって保護しなければならない。また，必要に応じて電子的封印を施さなければならな
い。電子的封印は，保護するための方法として十分なものでなければならない。
注記 電子的な封印において，単純な一つのパスワードは，保護するための方法として十分なものと
は認められない。
5.5.3.3
ソフトウェア保護は，保護した部分へ許可なくアクセスできないようにするか，又はそのアクセ
スの証拠をはっきりと分かるようにしなければならない。
例 アクセスの証拠としては，物理的な封印が破壊されている，監査証跡にアクセスの記録が残され
る，などがある。
5.5.3.4
ユーザインタフェースを通して動作する機能は全て明確にしなければならない。また，それは文
書化しなければならない。
5.5.3.5
法定計量に関連するパラメータは，変更できないよう保護しなければならない。検定において必
要な場合，表示装置に表示できなければならない。また，通信インタフェースをもつ計器はそのインタフ
ェースを通して出力できなければならない。検定後にパラメータを変更できない構造である場合は，パラ
メータを銘板に表記してもよい。
15
C 1273-2：2017
5.5.3.6
装置固有パラメータは，アクセス可能かどうかを分類し，可能なものは特別な動作モードによっ
てだけ変更できるようにしなければならない。また，計器は監査証跡を備えるとともにその記録を表示で
きなければならない。アクセス可能かを分類しない場合，装置固有パラメータは全て変更できないものと
する。
装置固有パラメータの変更をする場合，計器は計量を継続することが許されるが，その後の取引又は証
明に影響を及ぼす装置固有パラメータの変更においては計量を停止しなければならない。
注記 装置固有パラメータの変更時における計量の継続又は停止は型式承認において決定される。
例 装置固有パラメータには，製造番号，調整値，時刻，カレンダー，時間帯数，乗率，合成変成比
などがある。
5.5.3.7
型式固有パラメータは，同一型式全ての計器で同一で，製造後に変更することができてはならな
い。
例 型式固有パラメータとしては，相線式，定格電流などがある。
5.5.3.8
ソフトウェアの変更が可能な計器は，そのソフトウェア識別情報を照合検査する機能をもたなけ
ればならない。5.5.6による場合を除き識別情報の変更を検出した場合は，変更されたことを明確にしなけ
ればならない。
注記 照合検査は，計器の電源投入，パラメータの変更，コマンドなどによって実施できる。
例 変更されたことの明示は，表示装置に表示する，通信インタフェースを通して通知する，計量を
停止するなどの方法がある。
5.5.4
分離
計器は，計量特性を維持するために重要な部分はその他の部分から影響を受けない構造としなければな
らない。
注記 これらはハードウェア部分及びソフトウェア部分を含む。また，幾つかの部分で構成されてい
てもよい。
5.5.4.1
計器の各部分は，明確に識別・定義し，その旨を文書にしなければならない。法定計量に関連す
る部分を特定しない場合は，全ての部分を法定計量に関連するものとみなす。
インタフェースを通して処理される機能又はコマンドを明確に定義し，文書にしなければならない。
5.5.4.2
計器は，インタフェースを通して受信したコマンドによって各部分の性能及び機能に影響がない
構造としなければならない。
5.5.4.3
法定計量に関連するソフトウェア及び法定計量に関連しないソフトウェア（以下，連携ソフトウ
ェアという。）は，5.5.2に規定する識別をしなければならない。ただし，両者を識別しない場合はソフト
ウェア全体を法定計量に関連するソフトウェアとみなす。
なお，識別しない場合はソフトウェア分離する必要はない。
連携ソフトウェアは，法定計量に関連するソフトウェアに影響を与えるものであってはならない。
5.5.4.4
法定計量に関連するソフトウェアと連携ソフトウェアとが通信する場合は，ソフトウェアインタ
フェースを定義し，必ずこれを通して通信を実行しなければならない。法定計量に関連するソフトウェア
部分及びソフトウェアインタフェースは，明確に文書にしなければならない。ソフトウェアの法定計量に
関連する機能及びデータ領域は全て識別及びソフトウェア分離されていることが明確に判断できるように
文書にしなければならない。
注記1 ソフトウェアインタフェースを通しての通信には，コマンド及びそれに伴うデータの送受だ
けではなく，データ領域の指定，指定されたデータ領域におけるデータの送受，プログラム
16
C 1273-2：2017
の呼出しなどが含まれる。
注記2 識別及び分離に関して，連携ソフトウェアの機能及びデータ領域を明確にして識別及び分離
を文書化することで，法定計量に関連する機能及びデータ領域の識別及び分離の判断を明確
にすることができる。
5.5.4.5
法定計量に関連するソフトウェアと連携ソフトウェアとにおいて，データ領域を相互に利用する
場合は，そのデータ領域を明確に定義して文書化しなければならない。また，定義されたソフトウェアイ
ンタフェースを用いなければならない。
5.5.4.6
法定計量に関連するソフトウェアの全ての機能又はデータの変更に対するコマンド及びソフト
ウェアインタフェースを通して通信するコマンドは一義的割当てを定義し，全てのコマンドの完全性を明
確に文書化しなければならない。定義されたコマンド以外の処理は実行してはならない。
5.5.5
計量に係るデータの保存及び通信インタフェースによる出力
5.5.5.1
計量値
計量値を一時的に又は定期的に一定期間保存する機能，及びこれらの計量値を出力機構によって出力す
る機能は，5.5.5.2〜5.5.5.8に規定する要求事項を満たさなければならない。
注記 通信インタフェースによる出力に関して通信の安全性を考慮することが望ましい。
5.5.5.2
計量値を保存及び出力する場合，その後の取引又は証明に必要な該当情報が全て伴っていなけれ
ばならない。
5.5.5.3
計量に係るデータはソフトウェア手段で保護し，真正性，完全性，並びに計量値及び計量の時間
（時計及びタイムスタンプ）に関する情報の正しさを保証しなければならない。不正行為が検出された場
合はそのデータは破棄するか又は使用できないことを明確に表示しなければならない。
注記 計量に係るデータの保護には，保存されたデータの保護及びデータ出力時における保護が含ま
れる。
5.5.5.4
計量に係るデータを保護するためのソフトウェア手段に暗号化手法を使用する場合は計器に暗
号化に関連する機密を保持し保護しなければならない。それら機密の設定及び読出しは特定のアクセス権
による特別な動作モードだけで実行しなければならない。このアクセス権は限定されたもので高い権限レ
ベルでなければならない。
5.5.5.5
計量値の保存は，次による。
a) 計量値の保存は，ソフトウェアによって自動的に保存しなければならない。
b) インタフェースを通してコマンドによって保存する場合は，そのコマンドによって確実に保存できる
ものでなければならない。また，インタフェースを通してのアクセスの可否を分類し，アクセス可能
なコマンドは特別な動作モードによってだけ処理することが可能でなければならない。
c) ボタンなどの手動操作によって保存する場合は，その操作によって確実に保存できなければならない。
また，ボタンなどは不特定の操作ができないように保護し，それらの手動操作は特定のアクセス権を
必要とする特別の操作に限定しなければならない。
5.5.5.6
記憶装置は，通常の使用状態でデータが破損しないだけの十分な永続性及び十分な記憶容量がな
ければならない。
5.5.5.7
記憶装置が記憶容量の限界に達した場合，記憶されているデータの削除は，データの記憶順と同
じ順序で最も古いデータから削除しなければならない。ただし，データの削除は，取引又は証明が完了し
ていなければならない。削除は自動的に実行するか又は特定のアクセス権を必要とする特別の手動操作後
に実行するようにしなければならない。
17
C 1273-2：2017
注記1 データの削除は規定されたデータの構造単位とし，上書きも含む。
注記2 データの削除において，レジスタが示す計量値は除く。
5.5.5.8
通信インタフェースによる出力の実行においては，計量に関する機能及び記憶しているデータに
影響を与えてはならない。また，出力先の通信に問題がある場合でも，計量に関する機能及び記憶してい
るデータに影響を与えてはならない。
注記 機能への影響として，器差の変化，特性の変化，計量停止，計量値の異常変化・消失，計量に
係る表示の異常，有意誤りの発生などがある。データへの影響として，データの変化，消失な
どがある。
5.5.6
ソフトウェアの更新
ソフトウェアの更新が可能な計器のソフトウェアの更新は，5.5.6.1〜5.5.6.5に規定する要求事項に従っ
て計器において実施しなければならない。
更新できるソフトウェアは，連携ソフトウェア及び法定計量に関連するソフトウェアのうち通信に係る
ソフトウェアだけとし，5.5.2及び5.5.4に規定する識別・分離がされていなければならない。計器に読み
込まれるソフトウェアは，新規に型式承認されたソフトウェアである。更新後の検定は必要としない。
この更新は通信インタフェースを通して特定のアクセス権によって適切な手段を確立して実施しなけれ
ばならない。更新対象となるソフトウェアは，計器に直接又はネットワークを通して遠隔で読み込まなけ
ればならない。ソフトウェアの更新は，監査証跡に記録しなければならない。ソフトウェアの更新は，読
込み，完全性のチェック，発信源のチェック（認証），インストール，ロギング及び起動で構成される。
注記1 更新において通信の安全性を考慮することが望ましい。
注記2 更新は所有者及び使用者に情報提供され，更新に合意されていると想定している。
5.5.6.1
ソフトウェアの更新は，自動的に実施できなければならない。更新完了後のソフトウェアは，5.5
に規定する要求事項を満たすものでなければならない。
5.5.6.2
計器は，ソフトウェアの更新要件を達成するために必要なチェック機能及び監査証跡機能を全て
含んだ変更できない法定計量に関連する固定のソフトウェアを備えなければならない。
5.5.6.3
読み込んだソフトウェアについて次の事項を確認しなければならない。また，各事項の確認で不
合格となった場合，読み込んだソフトウェアをインストールしてはならない。計器はその時点で使用され
ているソフトウェアを継続して使用するか，又は当該ソフトウェアが実行する処理について動作しない状
態に切り替えなければならない。
a) 型式承認証明書に記載されている承認を受けた製造業者に由来している（真正性，認証）。
b) 型式に適合するソフトウェアが正しく読み込まれている（完全性）。
5.5.6.4
ソフトウェアのインストールに失敗した場合，計器はその時点で使用されているソフトウェアを
継続して使用するか，又は当該ソフトウェアが実行する処理について動作しない状態に切り替えなければ
ならない。
5.5.6.5
ソフトウェアの更新は，監査証跡に記録しなければならない。監査証跡は次の情報を含まなけれ
ばならない。また，これらの記録がトレースできることを確実にしなければならない。
a) ソフトウェア更新の成否
b) 更新した版のソフトウェア識別情報
c) 更新前の版のソフトウェア識別情報
d) タイムスタンプ（更新時刻）
e) 型式承認証明書に記載されている製造業者を識別する情報
18
C 1273-2：2017
監査証跡は，ソフトウェア更新の成否にかかわらず，各更新の試みに対して生成しなければならない。
また，記録した監査証跡は削除できず，全て読み出すことが可能でなければならない。
監査証跡を記録する記憶装置は，検定有効期間中のソフトウェアの更新の記録をするのに十分な容量を
もっていなければならない。記憶装置が記憶容量の限界に達した後は，封印を破らなければそれ以上のソ
フトウェア更新はできない構造でなければならない。
5.5.7
時間（時計及びタイムスタンプ）
時間の精度は，日差±10秒以内でなければならない。ただし，停電時にあっては日差±25秒以内とする。
時計は時刻の設定が可能な構造とし，その設定は特定のアクセス権を必要とする特別の操作でなければな
らない。設定は通信インタフェースを通してコマンドによって実行するか，又は特別の手動操作によって
実行するようにしなければならない。時計の時刻の設定は法定計量に関連する機能である。
タイムスタンプは，時計と一致しなければならない。
注記1 時間の精度は，計器の動作原理及び構造（電源同期，水晶制御など），並びに外部環境（周波
数の変動及び停電の頻度）を踏まえた，合計の時間である。IEC 62054-21参照。
注記2 時間が取引又は証明において密接に関連する場合もあるため，時間の精度はより正確なもの
となるよう，その不確かさを低減することが望ましい。
5.6
使用のための適性
5.6.1
結果の読取りやすさ
計器は，法定計量単位の数値を表示できる1以上の表示装置を備え，読みやすく，計量値の文字高さは
4 mm以上でなければならない。このとき，表示装置は小数部がはっきり分かるようにしなければならな
い。
表示装置は，取引又は証明用に関連するデータを全て表示できなければならない。一つの表示装置に複
数の値を表示する場合でも，関連する全ての内容を表示させる。サイクリックさせるときは，一表示当た
り5秒以上表示していなければならない。
注記1 サイクリック数が少ないときは，読取りやすさを考慮した長い時間とすることが望ましい。
例えば，10秒など。
注記2 結果の読取りやすさは表示装置に依存する。表示の明るさ，コントラスト，色などについて
使用（設置）環境を考慮した設計とすることが望ましい。
注記3 機械式レジスタである場合，小数部ドラムに異なったマークを付けるなどがある。
時間帯別無効計器の場合，有効な時間帯を反映するレジスタを表示しなければならない。それぞれの時
間帯のレジスタは計器から直接読取りでき，各レジスタをはっきり特定できなければならない。
電子式レジスタにおいては，停電時に保存した値を保持できるように不揮発性でなければならない。保
存した値は，電源復旧時に上書きしてはならない。かつ，電源復旧時に読み出し表示することが可能でな
ければならない。また，少なくとも1か月の期間定格動作をさせた場合でも，表示がオーバーフローせず，
電力量を保存及び表示できなければならない。この保存及び表示の機能は，双方向計器の各レジスタ及び
時間帯別無効計器の各レジスタを含む取引又は証明に用いられる全てのレジスタに適用する。さらに，結
果の保持期間は，取り外した計器に対して1年以上でなければならない。電子式の表示装置は，機能確認
のために，全ての表示セグメントをオンにできなければならない。
5.6.2
試験の容易性
計器は，試験を容易にするために，計量パルスを出力できなければならない。
電気的計量パルス出力については，5.6.2.1に示す特性をもたなければならない。
19
C 1273-2：2017
光学的計量パルス出力については，5.6.2.2及び5.6.2.3に示す特性をもたなければならない。
5.6.2.1
電気的計量パルス出力の電気的特性
電気的計量パルス出力は，図1による。
− パルス最大印加電流
IO： 10 mA±5 mA
− パルス最大印加電圧 VOH： 直流30 V
− T1，T2−T1
： 32 μs以上
− ローレベル出力電圧 VOL： 1.5 V以下
− ハイレベル出力電流 IOH： 0.1 mA以下
図1−電気的計量パルス出力
5.6.2.2
光学的計量パルス出力の機械的及び電気的特性
光学的計量パルス出力は，正面から受光でき，隣接する光パルス出力又は光学的状態表示器から適切な
距離を設け，伝送に影響しないものとする。
光学的計量パルス出力は，変調パルス又は非変調パルスとすることができる。非変調パルス出力による
場合は，図2による。
20
C 1273-2：2017
− tON≧21 μs
− tOFF≧21 μs
図2−光学的計量パルスの非変調パルス出力
5.6.2.3
光学的計量パルス出力の光学的特性
光学的計量パルスの光出力のピーク波長は，830 nm〜960 nmとする。
光学的計量パルス出力に関して，計器表面からの距離10 mm±1 mmにある基準面（受光面）における
放射照度Etの限度値は，次による。
− オン状態：
400 μW/cm2≦Et
− オフ状態：
Et≦2 μW/cm2
指向特性などは，図3による。
単位 mm
図3−光学的計量パルス出力の配置
6
性能
6.1
検定公差
計器は，7.1によって試験をしたとき，その器差が表5に規定する検定公差を満足しなければならない。
21
C 1273-2：2017
表5−無効電力量計の検定公差
電流値
力率
検定公差
%
Itr，10 Itr及びIn
0及び0.866
2.5
Imin
0及び0.866
3.0
6.2
電気的性能
6.2.1
一般事項
計器は7.2.1によって試験をしたとき，表6に規定する最大許容器差を満足しなければならない。
注記 最大許容器差は，複合最大許容器差及び複合器差によって，総合的に評価することもできる。
附属書A参照。
表6−無効電力量計の最大許容器差の限度
電流値
力率
最大許容器差
%
Itr，10 Itr，In及びImax
0及び0.866
2.5
Imin
0及び0.866
3.0
Ist
0.866
25.0
6.2.2
逆方向電流の影響
計器は，7.2.2によって試験をしたとき，計量パルスが発生せず，また，計量してはならない。双方向計
器においては，加えている電力と異なる方向の計量をしてはならない。
6.2.3
自己加熱
計器は，7.2.3によって試験をしたとき，自己加熱によって生じる器差の差の限度及び最大許容器差が，
表7の限度を超えてはならない。
表7−自己加熱による器差の差の限度及び最大許容器差
電流値
力率
器差の差の限度
%
最大許容器差
%
Imax
0
1.3
2.5
0.866
2.5
6.2.4
始動
計器は，7.2.4によって試験をしたとき，計量パルスが継続して発生しなければならない。
6.2.5
潜動
計器は，7.2.5によって試験をしたとき，試験時間内に計量パルスが発生してはならない。
6.2.6
計器定数
計器は，7.2.6によって試験をしたとき，計量パルス数に正しく比例して表示機構の表示が動作しなけれ
ばならない。また，比例する割合は計器定数に一致しなければならない。
6.3
影響
6.3.0
一般事項
22
C 1273-2：2017
計器は，6.3.1〜6.3.11の細分箇条ごとに試験を行い，各試験の前後の器差が，表6に規定する最大許容
器差を満足し，かつ，各細分箇条に規定する限度を超えてはならない。
6.3.1
温度特性
計器は，7.3.1によって試験をしたとき，周囲温度の変化によって生じる差（温度係数）が，表8の限度
を超えてはならない。
表8−温度係数
電流値
力率
温度係数
%/℃
Itr，10 Itr及びImax
0
0.13
0.866
0.19
6.3.2
不平衡負荷の影響
計器は，7.3.2によって試験をしたとき，不平衡負荷の影響によって生じる器差の差が，表9の限度を超
えてはならない。
表9−不平衡負荷の影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr及びImax
0
2.0
0.866
3.0
6.3.3
電圧特性
計器は，7.3.3によって試験をしたとき，定格電圧を基準とする±10 %の電圧の変化によって生じる器差
の差が，表10の限度を超えてはならない。
表10−電圧変化による器差の差の限度
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
90，100及び110
10 Itr
0
1.3
0.866
2.0
6.3.4
周波数特性
計器は，7.3.4によって試験をしたとき，定格周波数を基準とする±2 %の周波数の変化によって生じる
器差の差が，表11の限度を超えてはならない。
表11−周波数変化による器差の差の限度
周波数
（定格周波数に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
98，100及び102
10 Itr
0
1.0
0.866
1.3
23
C 1273-2：2017
6.3.5
傾斜の影響
取付け姿勢に制限のある計器は，7.3.5によって試験をしたとき，傾斜によって生じる器差の差が，表12
の限度を超えてはならない。
表12−傾斜による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
Itr
0
2.0
6.3.6
電圧変動
計器は，7.3.6のa)，b) 及びc) によって試験をしたとき，電圧が変動したことによって生じる器差の差
が，表13の限度を超えてはならない。
表13−電圧変動による器差の差の限度
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
器差の差の限度
%
80，100及び115
10 Itr
0
2.0
80未満
＋10〜−100 a)
注a) −100 %は，計量しない状態のことを指す。
6.3.7
1相又は2相の中断
計器は，7.3.7によって試験をしたとき，欠相によって生じる器差の差が，表14の限度を超えてはなら
ない。
表14−1相又は2相の中断による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
5.0
6.3.8
逆相順の影響
計器は，7.3.8によって試験をしたとき，逆相順によって生じる器差の差が，表15の限度を超えてはな
らない。
表15−逆相順による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
2.0
6.3.9
外部直流磁気の影響
計器は，7.3.9によって試験をしたとき，外部起源の直流磁気を与えたことによって生じる器差の差が，
表16の限度を超えてはならない。
24
C 1273-2：2017
表16−外部直流磁気による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
4.0
6.3.10
外部磁界の影響
外部起源の磁界の影響は，次による。
a) 計器は，7.3.10 a) によって試験をしたとき，外部起源の磁界を与えたことによって生じる器差の差が，
表17の限度を超えてはならない。
b) 計器は，7.3.10 b) によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。
表17−外部磁界による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr及びImax
0
3.0
6.3.11
電磁環境両立性
6.3.11.1
放射無線周波電磁界の影響
放射無線周波電磁界の影響は，次による。
a) 計器は，7.3.11.1 a) によって試験をしたとき，電磁波を照射したことによって生じる器差の差が，表
18の限度を超えてはならない。
b) 計器は，7.3.11.1 b) によって試験をしたとき，有意誤りが生じてはならない。
表18−放射無線周波電磁界による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
4.0
6.3.11.2
無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響
計器は，7.3.11.2によって試験をしたとき，伝導妨害によって生じる器差の差が，表19の限度を超えて
はならない。
表19−無線周波電磁界が誘導した伝導妨害への影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
4.0
6.4
妨害
6.4.1
総則
計器は，6.4.2〜6.4.14の細分箇条ごとに試験を行い，各試験の前後の器差が表20に規定する最大許容器
差を満足し，かつ，各細分箇条に規定する限度を超えてはならない。また，6.4.2〜6.4.14の細分箇条ごと
25
C 1273-2：2017
の試験条件で7.4.1によって試験をしたとき，有意誤りが生じてはならない。ただし，6.4.7 b) を除く。
表20−妨害試験後の最大許容器差
電流値
力率
最大許容器差
%
Itr
0
3.0
10 Itr
0.866
2.5
6.4.2
静電気の影響
計器は，7.4.2によって試験をしたとき，静電気放電によって有意誤りが生じてはならない。
6.4.3
高速過渡の影響
計器は，7.4.3のa)，b) 及びc) によって試験をしたとき，電気バースト信号によって有意誤りが生じて
はならない。また，電気バースト信号を加えることによって生じる器差の差が表21の限度を超えてはな
らない。
表21−高速過渡による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
7.5
6.4.4
電圧ディップ及び短時間停電の影響
計器は，7.4.4のa) 及びb) によって試験をしたとき，電圧ディップ及び短時間停電によって有意誤りが
生じてはならない。
6.4.5
交流主電源線上のサージの影響
計器は，7.4.5のa) 及びb) によって試験をしたとき，サージによって有意誤りが生じてはならない。
6.4.6
減衰振動波イミュニティ試験の影響
計器（変流器だけと組み合わせて使用する計器を除く。）は，7.4.6のa) 及びb) によって試験をしたと
き，減衰振動波によって有意誤りが生じてはならない。また，減衰振動波によって生じるの器差の差が，
表22の限度を超えてはならない。
表22−減衰振動波イミュニティ試験による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
In
0
4.0
0.866
6.4.7
過電流の影響
過電流の影響は，次による。
a) 計器は，7.4.7のa) 及びb) によって試験をしたとき，過電流によって生じる器差の差が，表23の限
度を超えてはならない。また，7.4.7 b) によって試験をしたとき，過電流によって有意誤り，不適切
な温度上昇，電気的損傷及び機械的損傷を生じてはならない。
26
C 1273-2：2017
例 不適切な温度上昇は，通常の使用状態における温度とは異なる高温状態，部分的な温度上昇箇
所の発生などである。電気的損傷は，電気回路の焼損，絶縁不良，放電痕などである。機械的
損傷は，計器外箱の変形又は破損，ねじの緩み，補償素子又は調整装置の変形又は破損などで
ある。
b) 計器は，7.4.7 c) によって試験をしたとき，計量パルス数に正しく比例して，表示機構の表示が動作
しなければならない。
表23−過電流による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
1.3
6.4.8
インパルス電圧の影響
計器は，7.4.8によって試験をしたとき，インパルス電圧によって有意誤りが生じてはならない。また，
負荷電流導体，補助電源回路，リード線などで放電したり，断線したりするなどの異常があってはならな
い。
6.4.9
地絡の影響
地絡中和器を備えている，又はスター点が絶縁されている配電網に接続する三相4線式の計器は，7.4.9
によって試験をしたとき，地絡したことによって有意誤りが生じてはならない。また，地絡によって生じ
る器差の差が，表24の限度を超えてはならない。
表24−地絡による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
1.3
6.4.10
補助装置の動作の影響
補助装置を備える計器は，7.4.10によって試験をしたとき，負荷電流に応じ，補助装置を動作させたこ
とによって有意誤りが生じてはならない。また，補助装置の動作によって生じる器差の差が，表25の限
度を超えてはならない。
表25−補助装置の動作による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
Itr及びImax
0
0.9
6.4.11
機械的性能
6.4.11.1
振動の影響
計器は，7.4.11.1によって試験をしたとき，機械的損傷及び有意誤りを生じてはならない。また，振動を
加えたことによって生じる器差の差が，表26の限度を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩みなどである。
27
C 1273-2：2017
表26−振動による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
0.9
6.4.11.2
衝撃の影響
計器は，7.4.11.2によって試験をしたとき，機械的損傷及び有意誤りを生じてはならない。また，衝撃を
加えたことによって生じる器差の差が，表27の限度を超えてはならない。
例 機械的損傷は，計器外箱又は内部構造部品の変形又は破損，ねじの緩みなどである。
表27−衝撃による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
0.9
6.4.12
粉じんの侵入の影響
計器は，7.4.12によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，次の変化があってはな
らない。
− 大量の粉じんの蓄積
− 計器の動作への妨害
− 安全性の損失
6.4.13
耐候性
6.4.13.1 耐光性
屋内耐候形計器は，7.4.13.1によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，次の変化が
あってはならない。
− 金属部分の進行性のさび
− 塗装面のひび割れ，膨れ，剝がれ及び著しい変退色
− カバー又はパッキンのひび割れ，膨れ及び変質
− 合成樹脂製の計器の場合，外箱の内部及び外部のひび割れ，変形及び変質
− 文字，標識などの読取りに支障となる，銘板，表示装置及びカバーの変退色
− 封印などの計量特性保護の手段の機能損失
− 計器の機能損失
6.4.13.2 高温乾燥の影響
計器は，7.4.13.2によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，高温乾燥の影響によっ
て生じる器差の差が表28の限度を超えてはならない。
表28−高温乾燥による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
0.9
28
C 1273-2：2017
6.4.13.3 低温の影響
計器は，7.4.13.3によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，低温の影響によって生
じる器差の差が表29の限度を超えてはならない。
表29−低温による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
0.9
6.4.13.4 高温高湿の影響
計器は，7.4.13.4によって試験をしたとき，次の各項目に適合しなければならない。
a) 有意誤りが生じない。また，高温高湿の影響によって生じる器差の差が，表30の限度を超えない。
b) 計器の機能損失がない。
c) 機械的損傷及び腐食の痕跡がない。
表30−高温高湿の影響による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
10 Itr
0
0.3
6.4.13.5 温度サイクルの影響
計器は，7.4.13.5によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，温度サイクルの影響に
よって生じる器差の差の限度が，1.0 %を超えてはならない。
6.4.14
耐久性
計器は，7.4.14によって試験をしたとき，有意誤りを生じてはならない。また，耐久性試験の影響によ
って生じる器差の差が，表31の限度を超えてはならない。
表31−耐久性による器差の差の限度
電流値
力率
器差の差の限度
%
Itr，10 Itr及びImax
0
0.9
6.5
絶縁性能
6.5.1
絶縁抵抗
計器は，7.5.1によって試験をしたとき，絶縁抵抗が5 MΩ以上でなければならない。
6.5.2
商用周波耐電圧
計器は，7.5.2によって試験をしたとき，これに耐えなければならない。
6.6
材質
材質は，次による。
a) 合成樹脂製の計器の外箱（ベース，カバー及び端子カバー）及び端子ボックスは，7.6 a) によって試
験をしたとき，グローワイヤの接触によって炎及び赤熱がないこと，又はグローワイヤを取り去った
29
C 1273-2：2017
後，試料が燃え尽きることなく，炎及び赤熱が30秒間以内に消滅しなければならない。試料の下方に
置いた木の板に焦げがなく，薄葉紙に着火があってはならない。
b) 合成樹脂製の計器の外箱は，7.6 b) によって試験をしたとき，破損してはならない。また，計器は，
その機能に支障があってはならない。
6.7
負荷電流導体及び端子の温度上昇
計器は，7.7によって試験をしたとき，負荷電流導体の表面及び電流端子の導線に接続される箇所の温度
上昇値が，計器の種類ごとに，表32の限度を超えてはならない。
表32−負荷電流導体及び端子の温度上昇値の限度
計器の耐候区分
温度上昇値の限度
℃
負荷電流導体の表面
電流端子
屋内形
65
40
屋内耐候形
55
40
6.8
複合電気計器の表示機構
複合電気計器は，7.8によって試験をしたとき，計量パルス数から換算した計量値の増分と各表示機構の
計量値の増分とが一致していなければならない。
6.9
発信装置及び分離することができる表示機構
発信装置付計器の発信装置又は分離することができる表示機構の機能は，7.9によって試験をしたとき，
機能に支障がなく，かつ，発信装置において発生するパルス数が無効電力量に正しく比例し，分離するこ
とができる表示機構がパルス数に応じて電力量を正しく表示しなければならない。
6.10
出力機構
出力機構付計器は，7.10によって試験をしたとき，機能に支障がなく，かつ，計量値を正しく出力しな
ければならない。
7
試験方法
7.0
試験条件
各試験において，試験中は表33に規定する条件を維持する。
表33−基準条件及びその許容差
項目
基準条件
許容差
電圧
試験電圧
±1 %
周囲温度
23 ℃
±2 ℃
周波数
試験周波数
±0.3 %
波形
正弦波
d≦2 %
基準周波数の外部磁気誘導
0 T
0.05 mT以下
無線周波電磁界30 kHz〜6 GHz
0 V/m
1 V/m以下
姿勢の影響を受ける計器の動作姿勢 製造業者が指定した姿勢
±0.5°
多相計器の相順
L1，L2，L3
−
負荷平衡
全ての電流回路で等しい電流値
電流±2 %
位相角±2°
30
C 1273-2：2017
なお，測定の不確かさ（信頼水準95 %）は最大許容器差の1/5未満が望ましい。
7.1
器差試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表34に規定する力率の負荷電流を通じて，器差を測定する。
表34−無効電力量計の器差試験の試験条件
電流値
力率
Imin，Itr，10 Itr及びIn
0
0.866
7.2
電気的性能の試験
7.2.1
電気的性能の試験条件
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表35に規定する力率の負荷電流を通じて，初期固有器差を測
定する。初期固有器差は，定格周波数及び定格電圧の下で，IstからImaxの順に測定した後，ImaxからIstの
順で測定し，試験点ごとの平均値によって求める。
7.3及び7.4に規定する試験は，この試験の後に行う。
表35−電気的性能の試験条件
電流値
力率
Ist
0.866
Imin，Itr，10 Itr，In及びImax
0
0.866
7.2.2
逆方向電流の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表36に示す力率の逆方向の負荷電流を通じて，計量パルスが
発生しないこと，及びレジスタが計量しないことを調べる。双方向計器においては，加えている電力の方
向と異なる方向のレジスタが計量しないことを調べる。試験時間は次とし，正方向に負荷電流を通じた場
合の時間から計算する。ただし，その時間が1分を超えない場合は1分とする。
− 単方向計器：計量パルスが10パルス以上発生するのに必要な時間
− 双方向計器：表示機構（表示装置）に表示される計量値の最小位桁の2単位量を計量する時間
表36−逆方向電流の影響の試験条件
電流値
力率
Imin及びImax
0.866
7.2.3
自己加熱
試験は，次による。
a) 長さ1 mで直径2 mmのJIS C 3307に規定する600 Vビニル絶縁電線の電流導線を使用する。
b) 計器は，定格周波数の下で，定格電圧を1時間以上加えた後，力率0のImaxを通じた場合において，
Imaxを通じた直後の器差と20分後の器差との差を求める。
c) その器差の差が表7に示す最大許容器差の限度の10 %を超える場合，さらに任意の20分間の器差の
差が当該最大許容器差の限度の10 %以内になるまで試験を継続する。ただし，上限を2時間とする。
31
C 1273-2：2017
d) 力率0.866においても同様に行う。
7.2.4
始動
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0.866のIstの負荷電流を通じる。
b) 次の式で時間τを求める。τが10秒未満である場合は，10秒とする。
k
I
U
m
×
=
st
nom
3
10
5.1
τ
（s）
ここに，
k： 計器定数（pulse/kvars）
m： 計量素子の数
Unom： 定格電圧（V）
Ist： 始動電流（A）
c) τの時間までに計量パルスが発生することを調べる。
d) 計量パルスが発生した後，次のτの時間までに計量パルスが発生することを調べる。
e) c) の計量パルスとd) の計量パルスとの時間の間隔を確定する。
f)
e) で確定した時間の1.2倍の時間までに3回目の計量パルスが発生することを調べる。
7.2.5
潜動
試験は，定格周波数及び定格電圧を加え，次の式で求めた試験時間内に計量パルスが発生しないことを
調べる。Δtが90秒未満であるときは，90秒とする。
min
nom
3
10
100
I
U
m
k
b
t
×
∆
≧
（s）
ここに，
b： Iminにおける最大許容器差（%）
k： 計器定数（pulse/kvars）
m： 計量素子の数
Unom： 定格電圧（V）
Imin： 最小電流（A）
7.2.6
計器定数
試験は，次による。
a) 次の式で最小計量値Eminを求める。
b
R
E
×
=000
1
min
（varh）
ここに，
R： 表示機構（表示装置）に表示される計量値の最小位桁の1
単位量（varh）
b： 負荷電流における最大許容器差（%）
b) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のItr以上の負荷電流を通じ，Eminを計量するまで電力を加え
る。
c) このとき，計器の計量値が正しく比例して増加することを調べる。また，Eminを計量したときに発信
した計量パルス数が，計器定数に一致することを調べる。
7.3
影響試験
7.3.1
温度特性
試験は，次による。周囲温度を変える場合は，温度衝撃が加わらないように，試験槽内の温度を平均毎
分1，最大毎分2 ℃の割合で変化させる。
32
C 1273-2：2017
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，表37，及び計器の耐候区分ごとに表38に規定する条件において器
差を測定する。
b) 次の式で温度係数cを求める。
l
u
l
u
t
t
e
e
c
−
−
=
（%/℃）
ここに，
eu： 対象の温度間での高温側の器差（%）
el： 対象の温度間での低温側の器差（%）
tu： 対象の温度間での高温側の温度（℃）
tl： 対象の温度間での低温側の温度（℃）
表37−温度特性の試験条件（電流値及び力率）
電流値
力率
Itr，10 Itr及びImax
0
0.866
表38−温度特性の試験条件（耐候区分及び周囲温度）
計器の耐候区分
周囲温度
℃
屋内形
−5，5，23及び40
屋内耐候形
−20，−10，5，23，40及び55
7.3.2
不平衡負荷の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表39に規定する力率の負荷電流を通じて平衡負荷状態で器差
を測定した後，1素子ごとに器差を測定し，不平衡負荷の影響によって生じる器差の差を求める。
表39−不平衡負荷の影響による試験条件
電流値
力率
10 Itr及びImax
0
0.866
7.3.3
電圧特性
試験は，定格周波数の下で，定格電圧の90 %，100 %及び110 %の電圧で，表40に規定する力率の負荷
電流を通じて器差を測定し，定格電圧からの電圧変化によって生じる器差の差を求める。
表40−電圧変化による試験条件
電圧
（定格電圧に対する百分率）
電流値
力率
90，100及び110
10 Itr
0
0.866
7.3.4
周波数特性
試験は，定格電圧の下で，定格周波数の98 %，100 %及び102 %の周波数で，表41に規定する力率の負
33
C 1273-2：2017
荷電流を通じて器差を測定し，定格周波数からの周波数変化によって生じる器差の差を求める。
表41−周波数変化による試験条件
周波数
（定格周波数に対する百分率）
電流値
力率
98，100及び102
10 Itr
0
0.866
7.3.5
傾斜の影響
試験は，計器を正常な姿勢並びに正常な姿勢から前，後，左及び右にそれぞれ3°傾斜させた場合にお
いて，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のItrの負荷電流を通じて器差を測定し，それぞれの傾斜に
よって生じる器差の差を求める。
7.3.6
電圧変動
試験は，次による。
a) 定格周波数の下で，定格電圧の80 %，100 %及び115 %の電圧で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて
器差を測定し，電圧変化によって生じる器差の差を求める。
b) 定格周波数の下で，定格電圧の70 %，60 %，50 %，40 %，30 %，20 %，10 %及び0 %の電圧で，力
率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定し，電圧変化によって生じる器差の差を求める。
c) 計器の動作停止電圧及び動作開始電圧を製造業者が指定している場合は，定格周波数の下で，動作停
止電圧の−2 V，及び動作開始電圧の＋2 Vに変化させ，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測
定し，電圧変化によって生じる器差の差を求める。
7.3.7
1相又は2相の中断
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，1相又
は2相の電圧回路を開放して器差を測定し，欠相によって生じる器差の差を求める。ただし，計量動作を
しない場合はその箇所の測定をしなくてもよい。
7.3.8
逆相順の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，複数の
相の中から二つの相を入れ替えて，器差を測定し，相を入れ替えたことによって生じる器差の差を求める。
7.3.9
外部直流磁気の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，IEC
62053-23に規定する電磁石を使用し，計器の各面ごとに電磁石を置いて器差を測定し，電磁石の磁力によ
って生じる器差の差を求める。電磁石に印加する起磁力の値は，1 000 Aとする。
7.3.10
外部磁界の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，表42に規定する力率の負荷電流を通じて器差を測定した後，
次の条件でJIS C 61000-4-8に従って行う。
a) 計器を磁化コイルの中心に置き，そのコイルの発生する磁界を計器に最大の影響を及ぼす方向に与え
て器差を測定し，外部磁界によって生じる器差の差を求める。磁化コイルは中心磁界の強さが400 A/m
となるコイルで，その電流は，計器の定格周波数で，また，計器に最大の影響を与える位相角とする。
b) 計器の電流回路を開放し，定格周波数及び定格電圧の下で，強さが1 000 A/mの磁界を3秒間与えた
後，7.4.1に示す試験を行い，有意誤りが生じないことを調べる。
34
C 1273-2：2017
表42−外部起源の磁界による試験条件
電流値
力率
10 Itr及びImax
0
7.3.11
電磁環境両立性
7.3.11.1
放射無線周波電磁界の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-3に従って行う。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて，表43に規定する条件1で電磁
波を照射し，照射前及び照射中において器差を測定し，電磁波を照射したことによって生じる器差の
差を求める。
b) 定格周波数及び定格電圧の下で，表43に規定する条件2で電磁波を照射した後，7.4.1の試験を行い，
有意誤りが生じないことを調べる。
表43−放射無線周波電磁界による影響試験条件
項目
条件1
条件2
周波数範囲
80 MHz〜6 000 MHzで掃引
80 MHz〜6 000 MHzで掃引
周波数ステップ
前の周波数の1 %
前の周波数の1 %
滞在時間
1周波数当たり0.5秒以上
1周波数当たり0.5秒以上
電界強度
10 V/m
80 MHz〜1 000 MHz
30 V/m
1 400 MHz〜1 520 MHz
1 700 MHz〜2 000 MHz
2 100 MHz〜2 200 MHz
3 400 MHz〜3 600 MHz
上記以外
10 V/m
振幅変調
1 kHzの正弦波で80 %
1 kHzの正弦波で80 %
ケーブルの長さ
1 m
1 m
7.3.11.2
無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条
件でJIS C 61000-4-6に従って行う。
表44に規定する条件の無線周波電磁界が誘導した信号を電圧回路，電流回路，補助電源回路及びI/Oポ
ートに注入して器差を測定し，注入したことによって生じる器差の差を求める。
表44−無線周波電磁界が誘導した伝導妨害の影響の試験条件
項目
条件
無線周波振幅（50 Ω）
10 V（e.m.f）
周波数範囲
0.15 MHz〜80 MHzで掃引
周波数ステップ
前の周波数の1 %
振幅変調
1 kHzの正弦波で80 %
35
C 1273-2：2017
7.4
妨害試験
7.4.1
総則
それぞれの妨害試験において，次によって，有意誤りがないことを調べる。
a) 妨害試験中，計量値が変化しないことを調べる。ただし，妨害試験中に計量させる試験を除く。
注記 計量値の桁上がりを考慮して試験する。
b) 妨害試験後，計器が動作及び計量できることを調べる。
c) 妨害試験後，表45に規定する条件で測定した器差が，最大許容器差を満足することを調べる。
表45−妨害後の器差の試験条件
電流値
力率
Itr
0
10 Itr
0.866
7.4.2
静電気の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-2に従って行う。
定格周波数及び定格電圧の下で，表46に規定する条件で直流電圧を電気回路以外の部分に加え，有意誤
りが生じないことを調べる。気中放電は，接触放電が実施できない場合に適用する。
表46−静電気放電の条件
項目
条件
きょう（筐）体の材質
金属
樹脂
放電回数
10回
放電間隔
1秒
極性
正 及び 負
接触放電
印加電圧
直流電圧 8 kV
印加方法
直接印加
間接印加
気中放電
印加電圧
行わない
直流電圧 15 kV
印加方法
直接印加
7.4.3
高速過渡の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条
件でIEC 61000-4-1及びJIS C 61000-4-4に従って行う。
a) 表47に規定する条件の電気バースト信号を電圧回路にコモンモードで重畳して器差を測定し，電気バ
ースト信号を重畳したことによって生じる器差の差をそれぞれ求める。
b) 電流回路を電圧回路と分離して使用する計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負
荷電流を通じて器差を測定した後，表47に規定する条件の電気バースト信号を電流回路にコモンモー
ドで重畳して器差を測定し，電気バースト信号を重畳したことによって生じる器差の差を求める。
c) 補助回路が電圧回路と分離され，かつ，補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び
定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，表47に規定する条件の電気
バースト信号を補助回路にコモンモードで重畳して器差を測定し，電気バースト信号を重畳したこと
によって生じる器差の差を求める。
36
C 1273-2：2017
表47−電気バースト信号の試験条件
項目
条件
電圧回路
4 kV
電圧回路と分離して使用する電流回路
4 kV
電圧回路と分離されている，駆動電圧が40 V
を超える補助回路
2 kV
極性
正 及び 負
ケーブル長さ
1 m
試験時間
1分以上
7.4.4
電圧ディップ及び短時間停電の影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-11，JIS C 61000-6-1及びJIS C 61000-6-2に従って行う。
a) 電圧ディップの影響 定格周波数及び定格電圧の下で，表48に規定するそれぞれの条件で電源を10
秒以上の間隔をもって10回低下させ，有意誤りが生じないことを調べる。ただし，電流回路は開の状
態にしておく。
b) 短時間停電の影響 定格周波数及び定格電圧の下で，表49に規定する条件で5秒間に相当する時間，
電源を10秒以上の間隔をもって10回遮断し，有意誤りが生じないことを調べる。ただし，電流回路
は開の状態にしておく。
表48−電圧ディップの試験条件
項目
条件1
条件2
条件3
定格電圧に対する百分率
30
60
60
サイクル
0.5
1
25（50 Hz）
30（60 Hz）
表49−短時間停電の試験条件
項目
条件
定格電圧に対する百分率
0
サイクル
250（50 Hz）
300（60 Hz）
7.4.5
交流主電源線上のサージの影響
試験は，次の条件でJIS C 61000-4-5に従って行う。
a) 電流回路を開放し，定格周波数及び定格電圧の下で，表50に規定する条件の電気サージを電圧回路に
印加し，有意誤りが生じないことを調べる。
b) 補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，表50に規定する条件
の電気サージを補助回路に印加し，有意誤りが生じないことを調べる。
37
C 1273-2：2017
表50−サージの試験条件
項目
電圧回路
駆動電圧が40 Vを超える補助回路
ケーブル長
1 m
位相角
交流主電源のゼロクロスに対して60°及び240°
電圧回路の発生器インピーダンス
2 Ω
42 Ω
コモンモードの試験電圧
4.0 kV
2.0 kV
ノーマルモードの試験電圧
2.0 kV
1.0 kV
試験回数
5回正極及び5回負極
繰返し率
毎分最大1回
7.4.6
減衰振動波イミュニティ試験の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0及び0.866のInの負荷電流を通じて器差を測定した後，
次の条件でIEC 61000-4-18に従って行う。
a) 表51に規定する条件の減衰振動波電圧を電圧回路に印加し，有意誤りが生じないことを調べる。また，
このときの器差を測定し，減衰振動波によって生じる器差の差を求める。
b) 補助回路の駆動電圧が40 Vを超える計器は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0及び0.866のIn
の負荷電流を通じて器差を測定した後，表51に規定する条件の減衰振動波電圧を補助回路に印加し，
有意誤りが生じないことを調べる。また，このときの器差を測定し，減衰振動波によって生じる器差
の差を求める。
表51−減衰振動波の試験条件
項目
条件
減衰振動波電圧の周波数
100 kHz
1 MHz
コモンモードの試験電圧
2.5 kV
ノーマルモードの試験電圧
1.0 kV
繰返し率
40 Hz
400 Hz
試験時間
各周波数で2秒オン，2秒オフを15サイクル
7.4.7
過電流の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) 次に，表52に規定する条件で過電流を通電し，有意誤りが生じないことを調べる。また，通電後，定
格電圧を1時間印加した後に，a) の条件で器差を測定し，過電流によって生じる器差の差を求める。
また，不適切な温度上昇，電気的損傷及び機械的損傷が生じていないことを調べる。
c) さらに，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のInの300 %の負荷電流を3分間通じて，計量パル
ス数及び表示機構の表示を調べる。
表52−過電流の試験条件
項目
条件
電流
20 Imax（0 %〜−10 %）
試験時間
0.5秒
38
C 1273-2：2017
7.4.8
インパルス電圧の影響
試験は，次の条件でIEC 60060-1に従って行う。
試験電圧を印加しない回路を“アース”に接地した状態で，計器の電気回路に表53に規定する条件で試
験電圧を30秒以上の間隔で各極性連続10回加え，有意誤りが生じないことを調べる。また，試験中は，
負荷電流導体，補助電源回路，リード線などで放電したり，断線したりするなどの異常がないことを調べ
る。“アース”及び印加箇所は，次による。
a) 計器のきょう（筐）体が金属の場合は，きょう（筐）体が“アース”となり，計器を平らな導電体表
面に接続する。計器のきょう（筐）体の全部又は一部が絶縁物である場合，アルミニウムなどの導体
はく（箔）で計器を覆い“アース”とし，計器を平らな導電体表面に接続する。このとき，導体はく
（箔）はきょう（筐）体の金属の部分と接しており，試験端子との隙間は，2 cm以下となるように覆
う。インパルス試験中，試験対象外の回路は“アース”に接続しなければならない。
b) 電圧回路及び電流回路が通常の使用中で接続されている場合，電圧回路の他の一端を“アース”に接
続して，試験電圧をその電流回路の端子と“アース”との間に印加する。複数の電圧回路をもち共通
点があれば，この点を“アース”に接続し，試験電圧を接続している電圧回路又は電流回路と“アー
ス”との間に連続してそれぞれ印加する。このとき，印加する電流回路の他端は開放しておく。
c) 電圧回路及び電流回路が通常の使用状態で分離して適切に絶縁されている場合，電圧回路及び電流回
路それぞれ別々に試験する。電流回路では，試験をしない他の回路の端子を“アース”に接続し，電
流回路の端子の一つと“アース”との間に試験電圧を印加する。電圧回路では，他の回路の端子と試
験する電圧回路の端子の一つを“アース”に接続し，その電圧回路の他の端子と“アース”との間に
試験電圧を印加する。
d) 駆動電圧40 Vを超え，計器の電圧回路又は変圧器と直接接続する補助回路は，電圧回路と短絡させて
試験を一緒に実施する。このとき，その他の補助回路には印加しない。
e) 計器の電気回路の端子及び駆動電圧40 Vを超える補助回路の端子は全て接続し，試験電圧を電気回路
と“アース”との間に印加する。このとき，駆動電圧40 V以下の補助回路は，“アース”に接続する。
表53−インパルス電圧の影響の試験条件
項目
条件
標準雷インパルス電圧波形
1.2/50 µs
電圧立ち上がり時間
±30 %
電圧降下時間
±20 %
電源エネルギー
10.0 J±1.0 J
試験電圧
定格電圧110/3Vの計器
3 000 V
定格電圧100 V及び110 Vの計器
6 000 V
定格電圧240 Vの計器
10 000 V
試験電圧公差
0 %〜＋10 %
7.4.9
地絡の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) 定格周波数及び定格電圧の110 %の電圧の下で，図4に示すように計器の中性端子（P0）を試験装置
の接地線から外し，装置の各電圧端子（P1，P2及びP3）に取り付け，10秒経過後，有意誤りが生じな
39
C 1273-2：2017
いことを調べる。
c) b) の試験後，計器を正常な接続状態に戻し，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷
電流を通じて器差を測定し，地絡によって生じる器差の差を求める。
図4−試験配線図
7.4.10
補助装置の動作の影響
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のItr及びImaxの負荷電流を通じて器差を測定する。
b) a) の条件で補助装置を動作させ，有意誤りが生じないことを調べる。
c) また，a) の条件で補助装置を動作させ，その動作中又は動作後において器差を測定し，補助装置を動
作させたことによって生じる器差の差を求める。
7.4.11
機械的性能の試験
7.4.11.1
振動の影響
試験は，計器を正常な姿勢に対して上下，左右及び前後の方向に，JIS C 60068-2-47及びJIS C 60068-2-64
の方法によって，表54に示す振動を加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。また，定格周波数及
び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて，それぞれの振動を加える前及び後の器差を測定し，
それぞれの振動によって生じる器差の差を求める。
表54−振動の影響の試験条件
全周波数範囲
10 Hz〜150 Hz
全実効値レベル
7 m/s2
加速度スペクトル密度（ASD）レベル10 Hz〜20 Hz
1 m2/s3
加速度スペクトル密度（ASD）レベル20 Hz〜150 Hz
−3 dB/oct
1軸当たり試験時間
2分以上
7.4.11.2
衝撃の影響
試験は，計器を正常な姿勢に対して上面，下面，左面，右面，前面及び背面の方向に，JIS C 60068-2-27
の方法によって，表55に示す衝撃を加えた後に，機械的損傷がないことを調べる。また，定格周波数及
び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて，それぞれの衝撃を加える前及び後の器差を測定し，
40
C 1273-2：2017
それぞれの衝撃によって生じる器差の差を求める。
表55−衝撃の影響の試験条件
パルス波形
正弦半波
パルスの作用時間
18 ms
ピーク加速度
300 m/s2
回数
3回
7.4.12
粉じんの侵入の影響
試験は，JIS C 0920に規定するIP5Xに対するカテゴリー2の外郭への試験方法で実施した後，次の試験
を行う。
a) 7.5.1の絶縁抵抗
b) 7.5.2の商用周波耐電圧
c) 計器の内部に蓄積した粉じんの程度を目視によって調べる。
7.4.13
耐候性の試験
7.4.13.1 耐光性
促進耐候試験及び大気暴露試験を，表56の順序によって3回繰り返した後，直ちに計器の内部及び外部
の変化を目視によって調べる。
表56−耐光性試験の順序
順序
試験項目
試験区分
1
促進耐候試験
サンシャインカーボンによる照射を48時間
（降雨の条件は除く。）
2
大気暴露試験
大気中に48時間放置
（計器に雨水がかかってはならない。）
表56の試験は，次による。
a) 促進耐候試験は，計器を正常な姿勢で，無通電で，JIS K 2246に規定する方法によって照射時間を変
更して行う。
b) 大気暴露試験は，基準環境に準じた地区において，日当たりの良い芝生地又はこれに準じた場所に，
アンダグラス試験台を正南面に設置し，計器をこれに取り付けて無通電で行う。アンダグラス試験台
は，JIS C 1281の4.3（耐光性試験）による。
7.4.13.2 高温乾燥の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条
件でJIS C 60068-2-2及びJIS C 60068-3-1に従い，図5のように行う。
a) 試験温度は，70 ℃とする。
b) 温度変化は，毎分1 ℃以内とし，絶対湿度変化は毎分20 g/m3以内とする。
c) 高温乾燥の状態で計器を2時間放置した後，計器の機能に支障がなく，有意誤りが生じないことを調
べる。
d) 放置後，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定し，高温乾燥
状態によって生じる器差の差を求める。
41
C 1273-2：2017
注記 試験は，器差測定を除き，計器を非動作状態にして行う。
また，図中の機能確認には，力率0のItr及び力率0.866の10 Itrの負荷条件の器差測定を含む。
図5−高温乾燥の試験
7.4.13.3 低温の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，次の条
件でJIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-3-1に従い，図6のように行う。
a) 試験温度は，−25 ℃とする。
b) 温度変化は，毎分1 ℃以内とする。
c) 低温の状態で計器を2時間放置した後，計器の機能に支障がなく，有意誤りが生じないことを調べる。
d) 放置後，定格周波数の定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定し，低温状態に
よって生じる器差の差を求める。
42
C 1273-2：2017
注記 試験は，器差測定を除き，計器を非動作状態にして行う。
また，図中の機能確認には，力率0のItr及び力率0.866の10 Itrの負荷条件の器差測定を含む。
図6−低温の試験
7.4.13.4 高温高湿の影響
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じて器差を測定した後，定格電
圧を印加した状態で，JIS C 60068-2-30，JIS C 60068-2-78及びJIS C 60068-3-4に規定する方法で，次の試
験を実施する。試験の条件は，附属書Dも参照する。
a) 屋内形計器の場合
1) 試験環境の温度を30 ℃，湿度を85 %の状態において2日間放置する。
2) 放置後，計器の機能確認を行い，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じ
て器差を測定し，高温高湿状態によって生じる器差の差を求める。
3) さらに24時間経過させ，有意誤りが生じないことを調べる。
4) 機械的損傷及び腐食の痕跡がないか調べる。
b) 屋内耐候形計器の場合
1) 試験環境の温度を25 ℃とする。
2) 試験環境の温度を25 ℃から40 ℃まで3時間かけて変化させる。40 ℃に達してからその温度にお
いて12時間放置する。
3) 試験環境の温度を40 ℃から25 ℃まで3時間以上6時間未満かけて変化させる。ただし，最初の1
時間30分における温度降下の割合は3時間かけて25 ℃に到達する時間とする。
4) 25 ℃に達した後，1回のサイクルが24時間となるように残りの時間を25 ℃に維持する。
5) 2)〜4) をさらに1回行う。
43
C 1273-2：2017
6) その後，計器の機能確認を行い，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の10 Itrの負荷電流を通じ
て器差を測定し，高温高湿状態によって生じる器差の差を求める。
7) さらに24時間経過させ，有意誤りが生じないことを調べる。
8) 機械的損傷及び腐食の痕跡がないか調べる。
7.4.13.5 温度サイクルの影響
試験は，図7によって，試験環境の温度を23 ℃，−10 ℃，55 ℃及び23 ℃と変化させ，かつ，それぞ
れの温度において3時間放置して行う。また，試験を始めるときの温度23 ℃及び終わるときの温度23 ℃
において，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0及び0.866のInの負荷電流を通じて器差を測定し，温
度サイクルの影響によって生じる器差の差を求める。
注記 試験は，器差試験を除き，計器を非動作状態にして行う。
注a) 試験槽内の温度変化の割合は，平均毎分1 ℃程度，最高毎分2 ℃とする。
図7−温度サイクル試験
7.4.14
耐久性
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のItr，10 Itr及びImaxの負荷電流を通じて器差を測定し
た後，IEC 62059-32-1及びJIS C 60068-2-2に規定する方法で，次の試験を実施する。
a) 温度を屋内形計器は40 ℃，屋内耐候形計器は55 ℃とした環境において，計器の定格周波数及び定格
電圧の110 %の下で，力率0のImaxの負荷電流を通じて1 000時間維持する。
b) 1 000時間後，計器を定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のItr，10 Itr及びImaxの負荷電流を通じて，
器差を測定し，影響によって生じるそれぞれの器差の差を求める。
c) 試験中は計器の機能を確認する。
7.5
絶縁性能の試験
7.5.1
絶縁抵抗
試験は，表57によって，直流電圧を加えて絶縁抵抗を測定する。
44
C 1273-2：2017
表57−絶縁抵抗の試験条件
区別
直流電圧
電圧回路とベースとの間
500 V
電流回路とベースとの間
電流回路相互間
電圧回路と電流回路との間
7.5.2
商用周波耐電圧
試験は，表58によって，定格周波数の正弦波又は正弦波に近い交流電圧を1分間加えて行う。
表58−商用周波耐電圧の試験条件
区別
交流電圧
電圧回路とベースとの間
2 kV
電流回路とベースとの間
電流回路相互間
電圧回路と電流回路との間
7.6
材質の試験
試験は，グローワイヤ（赤熱棒押付け）試験及びスプリングハンマ衝撃試験とし，次による。
a) グローワイヤ（赤熱棒押付け）試験 計器の外箱（ベース，カバー及び端子カバー）にあっては650 ℃，
端子ボックスにあっては960 ℃の温度のグローワイヤを衝撃力が1.0±0.2 Nを超えないように30秒
間接触させて，外箱及び端子ボックスを観察して行う。試験を行う場合は，グローワイヤと試料とが
接触する箇所の下方に薄葉紙をかぶせた木の板を置き，木の板に焦げがなく，薄葉紙に着火がないこ
との確認を観察して行う（JIS C 60695-2-10参照）。
b) スプリングハンマ衝撃試験 計器を正常な姿勢で，計器の外箱にスプリングハンマで0.2±0.02 Jの運
動エネルギーを加えて行う。
7.7
負荷電流導体及び端子の温度上昇試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のImaxの負荷電流を通じ，2時間後における負荷電流
導体の表面及び電流端子の温度を熱電対法で測定する。測定は，次による。
a) この試験に使用する接続導線は，長さ1.5 mで，直径2 mmのJIS C 3307に規定する600 Vビニル絶
縁電線とし，これを各電流端子に接続する。
b) 負荷電流導体の表面の測定箇所は，負荷電流導体のほぼ中央部とする。熱電対（JIS C 1602に規定す
る構成材料の種類の記号Tのものを推奨する。）は，直径0.3 mm程度のものを使用し，負荷電流導体
の絶縁を一部切り取ってはんだ付けをする。
c) 電流端子の温度上昇は，温度分布がほぼ一様で，測定に便利な電流端子の一部に熱電対を固定して測
定する。
7.8
複合電気計器の表示機構の試験
試験は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のInの負荷電流を通じたとき，計量パルス数から換算
した計量値の増分と各表示機構の計量値の増分とが一致することを調べる。
注記 計量値の桁上がりを考慮して試験する。
45
C 1273-2：2017
7.9
発信装置及び分離することができる表示機構の試験
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のInの負荷電流を通じたとき，発信装置において発生するパ
ルス数を測定する。分離することができる表示機構は，パルス数に応じて電力量を正しく表示してい
ることを調べる。また，機能に支障がないことを調べる。
b) 表59に示す試験項目において，定格周波数及び定格電圧の下で，影響中・妨害中に実施する場合は力
率0の各試験電流を，影響後・妨害後に実施する場合は力率0のInの負荷電流を通じたときの，それ
ぞれ発信装置において発生するパルス数を測定する。また，機能に支障がないことを調べる。
表59−実施対象の試験項目
項目
影響中・妨害中に実施 影響後・妨害後に実施
7.2.2 逆方向電流の影響
○
−
7.3.1 温度特性
（−20 ℃及び＋55 ℃，屋内形計器の場合は，−5 ℃及び＋40 ℃）
○
−
7.3.9 外部直流磁気の影響
○
−
7.3.10 外部磁界の影響
○
−
7.3.11 電磁環境両立性
−
○
7.4.2 静電気の影響
−
○
7.4.3 高速過渡の影響
−
○
7.4.4 電圧ディップ及び短時間停電の影響
−
○
7.4.5 交流主電源線上のサージの影響
−
○
7.4.6 減衰振動波イミュニティ試験の影響
−
○
7.4.7 c) 過電流の影響
−
○
7.4.14 耐久性
−
○
○：実施する。 −：実施しない。
7.10
出力機構の試験
試験は，次による。
a) 定格周波数及び定格電圧の下で，力率0のInの負荷電流を通じたとき，出力機構から正しく計量値を
出力することを調べる。また，機能に支障がないことを調べる。
b) 表60に示す試験項目において，定格周波数及び定格電圧の下で，影響中・妨害中に実施する場合は力
率0の各試験電流を，影響後・妨害後に実施する場合は力率0のInの負荷電流を通じたとき，出力機
構から正しく計量値を出力することを調べる。また，機能に支障がないことを調べる。
46
C 1273-2：2017
表60−実施対象の試験項目
項目
影響中・妨害中に実施 影響後・妨害後に実施
7.2.2 逆方向電流の影響
○
−
7.3.1 温度特性
（−20 ℃及び＋55 ℃，屋内形計器の場合は，−5 ℃及び＋40 ℃）
○
−
7.3.9 外部直流磁気の影響
○
−
7.3.10 外部磁界の影響
○
−
7.3.11 電磁環境両立性
−
○
7.4.2 静電気の影響
−
○
7.4.3 高速過渡の影響
−
○
7.4.4 電圧ディップ及び短時間停電の影響
−
○
7.4.5 交流主電源線上のサージの影響
−
○
7.4.6 減衰振動波イミュニティ試験の影響
−
○
7.4.7 c) 過電流の影響
−
○
7.4.14 耐久性
−
○
○：実施する。 −：実施しない。
8
検定
特定計量器検定検査規則（以下，検則という。）に規定する構造検定及び器差検定の方法は，附属書B
による。
9
使用中検査
検則に規定する使用中検査は，附属書Cによる。
10 対応関係
JISの項目と検則の項目との対応関係は，表61による。
表61−JIS項目と検則項目との対比表
JIS項目
検則項目
5.4 表記
第十八章第三節第一款第一目“表記事項”
箇条6 性能（6.1は除く。）
B.1 個々に定める性能 a)
第十八章第三節第一款第二目“性能”
6.1 検定公差
第十八章第三節第二款“検定公差”
箇条7 試験方法
B.1 個々に定める性能 b)
第十八章第三節第三款第一目“構造検定の方法”
B.2 器差検定の方法
第十八章第三節第三款第二目“器差検定の方法”
C.1 性能に係る技術上の基準
第十八章第四節第一款“性能に係る技術上の基準”
C.2 使用公差
第十八章第四節第二款“使用公差”
C.3 性能に関する検査の方法
第十八章第四節第三款第一目“性能に関する検査の方法”
C.4 器差検査の方法
第十八章第四節第三款第二目“器差検査の方法”
47
C 1273-2：2017
附属書A
（参考）
複合器差の推定
A.1 複合最大許容器差の推定
最大許容器差に影響量による器差の差を加えた結果，計器の器差は，その許容差を超えている可能性が
ある。そのため，型式ごとに総合の最大許容器差を評価するため，定格動作条件の範囲内の条件での不確
かさを推定する必要がある。
最大許容器差及び全ての器差の差を代数的に加えた場合，ある影響因子の値の組合せに対して，器差の
差が小さいもの又は符合が反転しているものがあり，互いに打ち消し合うことがある。また，その影響因
子が時間とともに変動する場合，影響量によって生じる器差は平均化される。
評価の際には，次を考慮する。
a) 積分効果が無視される可能性がある。
b) 影響因子の影響のどれも相互関連がない。
c) 影響量の値が，定格動作条件の限界よりもむしろ基準値に近い可能性がある。
d) 影響量及び影響因子の影響をガウス分布として取り扱うことができ，その結果，最大許容器差の1/2
の値を標準不確かさに使用することができる。
次に，複合最大許容器差（包含係数2）は，次の式1) を使って推定できる。
4
4
4
4
4
4
4
2
2
e
temperatur
2
tilt
2
harmonic
2
unbalance
2
frequency
2
voltage
2
base
v
v
v
v
v
v
v
v
+
+
+
+
+
+
×
=
ここに，
vbase： 最大許容器差
vvoltage： 電圧変動に対して許容される器差の差の限度
vfrequncy： 周波数変動に対して許容される器差の差の限度
vunbalance： 不平衡変動に対して許容される器差の差の限度
vharmonic： 高調波成分変動に対して許容される器差の差の限度
vtilt： 傾斜に対して許容される器差の差の限度
vtemperature： 温度変動に対して許容される器差の差の限度
注1) これは，測定における不確かさの表現に関するISOガイド（GUM）に一致する。
A.2 型式試験結果及び特定条件に基づく複合器差の推定
A.2.1 方法1
複合最大器差も，型式試験結果によって型式ごとに推定できる。
ガウス分布と仮定した場合，複合最大器差は，次の式を用いて推定する。
)
(
)
(
)
(
)
,
(
2
i,p
2
i,p
2
i,p
i
p
2
)i,p(c
f
e
U
e
T
e
I
PF
e
e
δ
δ
δ
+
+
+
=
各電流Ii及び各力率PFpについて，
ここに，
e(PFp, Ii)： 測定した計器の固有器差
δep,i (T )： 温度が定格動作条件で規定された範囲全体にわたって
変動したときに測定された最大器差
δep,i (U )： 電圧が定格動作条件で規定された範囲全体にわたって
変動したときに測定された最大器差
48
C 1273-2：2017
δep,i ( f )： 周波数が定格動作条件で規定された範囲全体にわたっ
て変動したときに測定された最大器差
A.2.2 方法2
ガウス分布でなく，く（矩）形分布と仮定した場合，次の式3) を用いて推定する。
3
3
3
3
3
3
3
2
2
e
temperatur
2
tilt
2
harmonic
2
unbalance
2
frequency
2
voltage
2
base
c
e
e
e
e
e
e
e
e
+
+
+
+
+
+
×
=
ここに，
ebase： 基本最大器差の試験で得た最大器差2)。
evoltage： 電圧変動に対して試験中に得た最大の器差の差
efrequncy： 周波数変動に対して試験中に得た最大の器差の差
eunbalance： 不平衡変動に対して試験中に得た最大の器差の差
eharmonic： 高調波成分変動に対して試験中に得た最大の器差の差
etilt： 傾斜影響に対して試験中に得た最大の器差の差
etemperature： 温度変動に対して試験中に得た最大の器差の差
注2) 測定の不確かさは，全体器差のそれぞれの成分eiに含める。一つの項は既知の値で，他の項は
不確かさであるので，これらを二つの相関のない統計的分布として取り扱わず，これらを代数
的に加算する。
3) 複合器差に寄与する成分は，次から構成されていることが望ましい。
ebase，efrequncy，etemperature及びevoltage
49
C 1273-2：2017
附属書B
（規定）
検定の方法
B.1
個々に定める性能
個々に定める性能及び試験方法は，次による。
a) 個々に定める性能は，6.2.4，6.2.5，6.9及び6.5.1による。
b) 個々に定める性能の試験方法は，7.2.4，7.2.5，7.9 a) 及び7.5.1による。ただし，7.2.4の規定の代わ
りに計器定数から10秒間に発生する計量パルスの数を計算し，求めたパルス数が2パルス未満の場合
は2パルス以上発生するのに必要な時間で，2パルス以上の場合は10秒間で計量パルスが継続して発
生することを調べることで試験を行ってよい。
B.2
器差検定の方法
無効電力量計の器差検定は，次による。
a) 器差検定は，個々の無効電力量計について7.1によって行う。
b) 複合電気計器に含まれる二つ以上の無効電力量計においては，最大電力が最大の無効電力量計のうち
任意の一つの無効電力量計について7.1によって器差検査を行い，それ以外の無効電力量計について
は，その任意の一つの無効電力量計において測定した器差によって行うことができる。
c) 器差の測定は，基準器検査規則第4条に規定する基準電力量計によって行う。
50
C 1273-2：2017
附属書C
（規定）
使用中検査
C.1 性能に係る技術上の基準
性能に係る技術上の基準は，6.2.4及び6.2.5による。
C.2 使用公差
使用公差は，4.0 %とする。
C.3 性能に関する検査の方法
性能に関する検査の方法は，7.2.4及び7.2.5による。
C.4 器差検査の方法
器差検査の方法は，次による。
a) 器差検査は，定格周波数及び定格電圧の下で，力率0の表C.1に規定する負荷電流を通じて，器差を
測定する。
表C.1−器差検査の条件
負荷電流
Itr，10 Itr及びIn
b) 複合電気計器に含まれる二つ以上の電力量計においては，最大電力が最大の電力量計のうち任意の一
つの電力量計についてa) によって器差検査を行い，それ以外の電力量計については，その任意の一
つの電力量計において測定した器差によって行うことができる。
c) 器差の測定は，基準器検査規則第4条に規定する基準電力量計によって行う。
51
C 1273-2：2017
附属書D
（参考）
高温高湿の影響の試験条件
D.1 屋内形計器の場合，図D.1による。
標準状態：試験室の標準大気条件と同じ試験槽に設置する。
計器の状態：動作が可能な状態にして槽内に入れる。
放置時間：規定した条件（又は温度は3 ℃以内）に達した時点からの時間とする。
温度変化：5分以内の平均が毎分1 ℃を超えないようにする。また，計器に結露が生じないようにする。
湿度変化：2時間以内に規定した厳しさになるように調整する。
試験中，試験終了後の試験には計器を槽から取り出さない。
後処理：相対湿度は30分以内に73 %〜77 %に調節し，その後，温度を30分以内に室温±1 Kになるように調節する。
後処理期間：規定の後処理条件に達した時点から開始する。
図D.1−高温高湿の影響の試験条件（屋内形計器）
52
C 1273-2：2017
D.2
屋内耐候形計器の場合，図D.2による。
注a) JIS C 60068-2-30の図1（安定化期間）参照。
b) JIS C 60068-2-30の図2 a)（試験サイクル−方法1）参照。
c) JIS C 60068-2-30の図3（管理された後処理条件）参照。
図D.2−高温高湿の影響の試験条件（屋内耐候形計器）
参考文献 JIS C 1211-2 電力量計（誘導形単独計器）−第2部：取引又は証明用
JIS C 1216-2 電力量計（変成器付計器）−第2部：取引又は証明用
JIS C 1263-2 誘導形無効電力量計−第2部：取引又は証明用
JIS C 1271-2 交流電子式電力量計−精密電力量計及び普通電力量計−第2部：取引又は証明用
JIS C 1272-2 交流電子式電力量計−超特別精密電力量計及び特別精密電力量計−第2部：取引
又は証明用
JIS C 1602 熱電対
JIS C 60695-2-10 耐火性試験−電気・電子−第2-10部：グローワイヤ／ホットワイヤ試験方
法−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
IEC 62054-21:2004，Electricity metering (a.c.)−Tariff and load control−Part 21: Particular
requirements for time switches
OIML R 46-1:2012，Active electrical energy meters. Part 1: Metrological and technical requirements
OIML R 46-2:2012，Active electrical energy meters. Part 2: Metrological controls and performance
tests