C 1111：2019
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
3.1 一般用語 ······················································································································ 2
3.2 測定対象量によるトランスデューサの種類 ·········································································· 5
3.3 出力負荷によるトランスデューサの種類············································································· 6
3.4 公称値 ························································································································· 6
3.5 使用者による調整 ·········································································································· 7
3.6 影響量及び標準状態 ······································································································· 8
3.7 誤差及び影響変動値 ······································································································· 9
3.8 精度，精度階級及び階級指数 ··························································································· 9
4 階級指数，固有誤差の許容限度，補助電源及び標準状態 ·························································· 9
4.1 トランスデューサの一般構成 ··························································································· 9
4.2 階級指数 ······················································································································ 9
4.3 センサと組み合わせるトランスデューサの階級指数 ····························································· 10
4.4 固有誤差 ····················································································································· 10
4.5 固有誤差の試験条件 ······································································································ 10
4.6 補助電源 ····················································································································· 12
4.7 安全に関する要求事項 ··································································································· 12
5 要求事項························································································································ 13
5.1 入力値 ························································································································ 13
5.2 アナログ出力信号 ········································································································· 13
5.3 出力特性 ····················································································································· 14
5.4 ディジタル出力信号 ······································································································ 14
5.5 リプル（アナログ出力に適用） ······················································································· 14
5.6 応答時間 ····················································································································· 14
5.7 測定対象量の過入力による影響変動値··············································································· 14
5.8 出力信号の限界値 ········································································································· 14
5.9 動作条件の限界 ············································································································ 14
5.10 測定範囲の限界 ··········································································································· 15
5.11 保存条件及び輸送条件の限界 ························································································· 15
5.12 封印 ·························································································································· 15
5.13 安定性 ······················································································································· 15
6 試験······························································································································ 15
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6.1 一般事項 ····················································································································· 15
6.2 補助電源の電圧による影響変動値····················································································· 16
6.3 補助電源の周波数による影響変動値·················································································· 17
6.4 周囲温度による影響変動値 ····························································································· 17
6.5 入力量の周波数による影響変動値····················································································· 18
6.6 入力電圧による影響変動値 ····························································································· 19
6.7 入力電流による影響変動値 ····························································································· 19
6.8 力率による影響変動値 ··································································································· 20
6.9 出力負荷による影響変動値 ····························································································· 20
6.10 入力量のひずみによる影響変動値 ··················································································· 21
6.11 外部磁界による影響変動値 ···························································································· 22
6.12 不平衡電流による影響変動値 ························································································· 22
6.13 測定素子間の相互作用による影響変動値 ·········································································· 23
6.14 自己加熱による影響変動値 ···························································································· 23
6.15 連続動作による影響変動値 ···························································································· 24
6.16 コモンモード干渉による影響変動値 ················································································ 24
6.17 シリーズモード干渉による影響変動値 ············································································· 25
6.18 許容過入力 ················································································································· 25
6.19 電圧試験，絶縁試験及びその他の安全性に関する要求事項 ·················································· 26
6.20 インパルス電圧試験 ····································································································· 26
6.21 温度上昇試験 ·············································································································· 26
6.22 その他の試験 ·············································································································· 26
7 情報及び表示 ·················································································································· 27
7.1 ケース上の表示 ············································································································ 27
7.2 標準状態及び公称使用範囲に関する表示············································································ 28
7.3 接続及び端子の区別 ······································································································ 29
7.4 別資料に記載する情報 ··································································································· 29
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 30
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まえがき
この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人
日本電気計測器工業会（JEMIMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日
本産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日
本産業規格である。これによって，JIS C 1111:2006は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本産業規格 JIS
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交流及び直流入力トランスデューサ
Electrical measuring transducers for converting a.c. and d.c. electrical
quantities to analogue or digital signals
序文
この規格は，2012年に第3版として発行されたIEC 60688を基とし，技術的内容を変更して作成した日
本産業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，交流又は直流の電気的量を測定するためのトランスデューサについて規定する。トランス
デューサの出力信号は，アナログ形式又はディジタル形式のいずれでもよいが，アナログ形式は直流電圧
又は直流電流の出力信号だけとする。
この規格は，次のような測定対象量を出力信号に変換するトランスデューサに適用する。
− 電流
− 電圧
− 有効電力
− 無効電力
− 力率
− 位相角
− 周波数
− 高調波又は全高調波ひずみ
− 皮相電力
− 直流電力
測定範囲内では，出力信号は測定対象量の関数である。このため補助電源の供給が必要な場合がある。
この規格は，次のトランスデューサにも適用できる。
− 入力の公称周波数が，0 Hz〜1.5 kHzのもの。
− 測定用トランスデューサが，非電気的量の測定装置の一部となる場合であって，かつ，この規格の適
用範囲に含まれるトランスデューサ。
− テレメータ，プロセス制御などの用途及び限定された環境の下で使用するトランスデューサ。
この規格は，次のトランスデューサには適用しない。
− IEC 61869シリーズを適用する計器用変成器
− IEC 60770シリーズを適用する工業プロセス用の伝送器
2
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− IEC 61557-12を適用する測定及び監視装置（PMD）
この規格は，次のことを目的とする。
− 主な用途が工業用のトランスデューサに関する用語及び定義を規定する。
− トランスデューサの性能を評価するための試験方法を統一し，規定する。
− トランスデューサの精度限界及び出力値を規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60688:2012，Electrical measuring transducers for converting A.C. and D.C. electrical quantities to
analogue or digital signals（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。
JIS C 1010-1:2014 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−第1部：一般要求事項
注記 IEC 61010-1:2010，Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
laboratory use−Part 1: General requirements
JIS C 1010-2-30:2014 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−第2-30部：試験及び測定回路
に対する個別要求事項
注記 IEC 61010-2-030:2010，Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for testing and measuring circuits
JIS C 1102-1:2011 直動式指示電気計器−第1部：定義及び共通する要求事項
注記 IEC 60051-1:1997，Direct acting indicating analogue electrical measuring instruments and their
accessories−Part 1: Definitions and general requirements common to all parts
JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験信号：Fc）
注記 IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration（sinusoidal）
JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験信号：Ea）
注記 IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and guidance: Shock
JIS C 61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部：一般要
求事項
注記 IEC 61326-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC
requirements−Part 1: General requirements
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
一般用語
3.1.1
トランスデューサ
入力量に対して一定の関係がある信号を出力する変換器。
3
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3.1.2
アナログ出力トランスデューサ（analogue transducer）
測定のために，交流又は直流の測定対象量を，直流電流又は直流電圧の信号に変換するトランスデュー
サ。
3.1.3
ディジタル出力トランスデューサ（digital transducer）
測定のために，交流又は直流の測定対象量をディジタル信号に変換するトランスデューサ。
3.1.4
補助電源（auxiliary supply）
トランスデューサを正常に動作させるために必要な，測定対象量以外の交流電源又は直流電源。
3.1.5
補助回路（auxiliary circuit）
通常，補助電源によって給電される回路。
注記 補助回路は，ときには入力量の一つから給電されることもある。
3.1.6
ゼロオフセット付トランスデューサ（transducer with offset zero）
測定対象量がゼロのとき，ゼロ以外のあらかじめ定められた出力を与えるトランスデューサ。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.7
ゼロサプレス付トランスデューサ（transducer with suppressed zero）
正の量だけの測定又は負の量だけの測定において，測定対象量がゼロを超えたとき，その測定対象量に
対して，ゼロに相当した信号を出力するトランスデューサ。
3.1.8
全ひずみ率（total distortion factor）
交流の実効値に対する含有全ひずみ成分の実効値の比。
注記 全ひずみ率は，基本波の選択に依存する。使用する基本波が自明でない場合，基本波を表示し
なければならない。
3.1.9
出力負荷（output load）
アナログ出力トランスデューサで，出力端子の外部に接続される回路及び装置の全抵抗。
3.1.10
アナログ出力信号のリプル含有量（ripple content of an analogue output signal）
定常入力状態のときの出力変動分のピークピーク値を，基底値に対する百分率で表した値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.11
出力信号（output signal）
測定対象量に対応したアナログ形式又はディジタル形式の出力。
3.1.12
出力電力（output power）
トランスデューサの出力端子から出力される電力。
4
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注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.13
出力電流，出力電圧（output current，output voltage）
出力信号のうちアナログ出力トランスデューサから出力される測定対象量に対応した電流又は電圧。
3.1.14
可逆出力電流，可逆出力電圧（reversible output current，reversible output voltage）
アナログ信号出力で，測定対象量の符号又は方向の変化に応じ，極性を反転する出力電流又は出力電圧。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.15
トランスデューサの測定素子（measuring element of a transducer）
測定対象量又は測定対象量の一部を相当する信号に変換する，トランスデューサのユニット又はモジュ
ール。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.16
単素子トランスデューサ（single element transducer）
一つの測定素子をもつトランスデューサ。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.17
多素子トランスデューサ（multi-element transducer）
二つ以上の測定素子をもつトランスデューサ。出力信号は個々の素子による測定対象量に対応した信号
を結合して出力する。
3.1.18
複合トランスデューサ（combined transducer）
一つ以上の出力機能をもち，独立した測定回路を二つ以上もったトランスデューサ。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.19
応答時間（response time）
測定対象量が，規定された値へ急に変化したときから，出力信号が最終の静止値又は最終の静止値を中
心とする規定の幅の中に収まるまでの時間。
3.1.20
コンプライアンス電圧（compliance voltage）
出力負荷が規定の範囲をもった電流出力のトランスデューサにおいて，この規格に適合して動作できる
出力端子の電圧値。
3.1.21
出力シリーズモード干渉電圧（output series mode interference voltage）
出力端子と負荷との間に直列に現れる不必要な交流電圧。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.22
出力コモンモード干渉電圧（output common mode interference voltage）
出力端子の各々と基準点との間に存在する不必要な交流電圧。
5
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注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.23
保存条件（storage condition）
トランスデューサを損傷なく，（非動作状態で）保存できる条件。温度又は他の特定条件の影響量の範囲
で示す。
3.1.24
安定性（stability）
全ての影響量を規定範囲に保持した状態で，規定された期間にわたって性能特性を変化することなく維
持できるトランスデューサの能力。
3.1.24.1
短期間安定性（short-term stability）
24 時間を通じての安定性。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.24.2
長期間安定性（long-term stability）
1 年間を通じての安定性。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.1.25
使用グループ（usage group）
特定の環境条件下で動作する，トランスデューサの分類。
3.2
測定対象量によるトランスデューサの種類
3.2.1
電圧トランスデューサ（voltage transducer）
交流又は直流電圧の測定用のトランスデューサ。
3.2.2
電流トランスデューサ（current transducer）
交流又は直流電流の測定用のトランスデューサ。
3.2.3
皮相電力トランスデューサ（apparent power transducer）
交流電気的量の皮相電力の測定用のトランスデューサ。
3.2.4
有効電力トランスデューサ（active power transducer）
交流電気的量の有効電力の測定用のトランスデューサ。
3.2.5
無効電力トランスデューサ（reactive power transducer）
交流電気的量の無効電力の測定用のトランスデューサ。
3.2.6
周波数トランスデューサ（frequency transducer）
交流電気的量の周波数の測定用のトランスデューサ。
6
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3.2.7
位相角トランスデューサ（phase angle transducer）
同一周波数の二つの交流電気的量間の位相角の測定用のトランスデューサ。
3.2.8
力率トランスデューサ（power factor transducer）
交流回路の力率の測定用のトランスデューサ。
3.2.9
高調波トランスデューサ（harmonics transducer）
交流回路の高調波又は全高調波ひずみの測定用のトランスデューサ。
3.2.10
直流電力トランスデューサ
直流の電力の測定用のトランスデューサ。
3.3
出力負荷によるトランスデューサの種類
3.3.1
固定出力負荷トランスデューサ（fixed output load transducer）
出力負荷が公称値の規定の限度内のときだけ，この規格に適合するトランスデューサ。
3.3.2
可変出力負荷トランスデューサ（variable output load transducer）
出力負荷が特定の範囲の任意の値のとき，この規格に適合するトランスデューサ。
3.4
公称値
3.4.1
公称値（nominal value）
トランスデューサの使用条件を示すための値。
注記 測定対象量の下限公称値及び上限公称値は，出力信号の下限公称値及び上限公称値に対応する。
3.4.2
スパン（出力スパン）（span）
出力信号の上限公称値と下限公称値との代数差。
3.4.3
基底値（fiducial value）
トランスデューサの精度を規定するための基準の値。
注記 基底値はスパンである。ただし，可逆で対称の出力信号をもつトランスデューサで，製造業者
が基底値をスパンの1/2と指定した場合は除く。
3.4.4
回路絶縁電圧（circuit insulation voltage）
トランスデューサの対地最高回路電圧。この電圧で，電圧試験が決められる。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.4.5
公称力率（nominal power factor）
公称電力を得るために，公称電圧と公称電流との積に乗じる係数。
7
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A
V
W
×
=
ϕ
cos
ここに，
cosφ： 公称力率
W： 公称電力
V： 公称電圧
A： 公称電流
注記 電流及び電圧が正弦波で，かつ，電流と電圧との位相差がϕのとき，公称力率はcosϕである。
無効電力トランスデューサについては，公称力率はsinϕ（無効率）である。
3.4.6
入力電流及び入力電圧の最大許容値（maximum permissible values of input current and voltage）
トランスデューサが長時間損傷なく耐えられる製造業者によって指定された，電流値及び電圧値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.4.7
出力信号の限界値（limiting value of the output signal）
いかなる状態においても超えることのない出力信号（電流又は電圧）の上限値。
3.4.8
測定範囲（measuring range）
性能がこの規格の要求事項に適合する測定対象量の二つの値によって定まる範囲。
（出典：JIS C 1102-1:2011の2.4.3を修正した。）。
3.4.9
測定電圧の公称値（nominal value of the measured voltage）
トランスデューサの電圧入力回路に接続する外部回路（例えば，変圧器の二次巻線）の電圧公称値。
3.4.10
測定電流の公称値（nominal value of the measured current）
トランスデューサの電流入力回路に接続する外部回路（例えば，変流器の二次巻線）の電流公称値。
3.4.11
測定対象量の公称値（nominal value of the measurand）
有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサの測定電圧，測定電流及び力率の各公称値に
対応する測定対象量の値。
直流電力トランスデューサの測定電圧及び測定電流の各公称値に対応する測定対象量の値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.5
使用者による調整
トランスデューサは，使用者が調整することを前提として，出荷してもよい。その場合は，十分な安定
性及び精度をもつ電源及び測定機器が必要なことを明示することが望ましい。このようなトランスデュー
サに，次の定義を適用する。
3.5.1
校正値（calibration value）
特定の用途に対し，公称値を使用者による調整で変更した値。
3.5.2
測定電圧の校正値（calibration value of the measured voltage）
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トランスデューサの電圧入力回路に加える電圧の値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.5.3
測定電流の校正値（calibration value of the measured current）
トランスデューサの電流入力回路に加える電流の値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.5.4
測定対象量の校正値（calibration value of the measurand）
使用者による調整の結果として得られる測定対象量の値。
3.5.5
出力信号の校正値（calibration value of the output signal）
調整後の測定対象量の校正値に対応するトランスデューサの出力信号の値。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.5.6
調整範囲（adjustment range）
測定電流又は測定電圧の調整可能な範囲。
3.5.7
変換係数（conversion coefficient）
測定対象量の値と対応する出力信号の値との関係。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.6
影響量及び標準状態
3.6.1
影響量（influence quantity）
トランスデューサの性能に影響を与える可能性のある（測定対象量以外の）量。
3.6.2
標準状態（reference conditions）
トランスデューサの固有誤差に関する要求を満足する，規定された状態。
注記 標準状態は，基準値又は基準範囲のいずれかで定義される。
3.6.2.1
基準値（reference value）
トランスデューサの固有誤差に関する要求を満足する，影響量の規定された単一の値。
3.6.2.2
基準範囲（reference range）
トランスデューサの固有誤差に関する要求を満足する，影響量の値の規定された範囲。
3.6.3
公称使用範囲（nominal range of use）
トランスデューサの出力信号の変化が，規定の限度を超えることのない，影響量の値の規定された範囲。
9
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3.7
誤差及び影響変動値
3.7.1
誤差（error）
出力信号の実際の値から計算上（入出力特性の理論値）の値を減じ，代数的に表現した値。
3.7.2
百分率誤差（error expressed as a percentage of the fiducial value）
誤差の基底値に対する百分率。
3.7.3
固有誤差（intrinsic error）
トランスデューサの標準状態での誤差。
3.7.4
影響変動値（variation due to an influence quantity）
同じ測定対象量の値に対して，一つの影響量を順次二つの異なる値にしたときの出力信号の値の差。
3.7.5
百分率影響変動値（variation due to an influence quantity expressed as a percentage of the fiducial value）
基底値に対する百分率で表した影響変動値。単に影響変動値ということもある。
注記 この規格で使われていないが，対応国際規格と合わせるため記載した。
3.8
精度，精度階級及び階級指数
3.8.1
精度（accuracy）
固有誤差の限度及び影響変動値の限度によって定義した値。
3.8.2
精度階級（accuracy class）
トランスデューサの階級。その階級に属する全てのトランスデューサの精度が同じ数字で示され，この
規格の全ての要求に適合する。
3.8.3
階級指数（class index）
精度階級を示す数字。
注記1 階級指数は，影響変動値に対するのと同様に，固有誤差に対しても適用できる。
注記2 この規格をとおして“階級指数のx %”とは“階級指数に対応する誤差の限度のx %”を意
味する。
4
階級指数，固有誤差の許容限度，補助電源及び標準状態
4.1
トランスデューサの一般構成
トランスデューサの入力は，一般に低電圧システムのように直接接続することも，電圧センサ，電流セ
ンサのような計測用のセンサを介して接続することもある。
4.2
階級指数
トランスデューサの階級指数は，表1から選定する。
10
C 1111：2019
表1−基底値の百分率で表した固有誤差の限度と階級指数との関係
階級指数
0.1
0.2
0.5
1
2
2.5
3
5
10
20
固有誤差の限度 % ±0.1
±0.2
±0.5
±1
±2
±2.5
±3
±5
±10
±20
注記 階級指数の0.25，0.3及び1.5は推奨しない。
4.3
センサと組み合わせるトランスデューサの階級指数
トランスデューサをセンサと組み合わせて使用する場合は，製造業者はトランスデューサとセンサとを
組み合わせた全体の階級指数について明示することが望ましい。
トランスデューサがセンサを内蔵していない場合には，組合せの不確かさは考慮されていないことがあ
る。トランスデューサがセンサを内蔵している場合には，組合せの不確かさは考慮されている。
4.4
固有誤差
トランスデューサが標準状態にあるとき，出力信号の上限公称値と下限公称値との間のいかなる点でも，
百分率誤差は表1に示す固有誤差の限度を超えてはならない。
トランスデューサに補正表が付いている場合であっても，その数値を誤差の決定のときに計算に入れて
はならない。
4.5
固有誤差の試験条件
固有誤差の試験条件は，次による。
a) 予備状態の前及び固有誤差の試験の前に，製造業者の指示に従って予備調整を実施する。トランスデ
ューサは，標準温度状態に置かれていなければならない。
b) トランスデューサは，表2に示す条件の回路に接続しておく。
表2−予備状態
条件
数値
電圧（補助電源を含む。）
公称値
電流
公称値
周波数
基準値
力率
基準値
回路に接続してから誤差の試験をするまでの時間
30分
c) 使用者が調整するための機構があるトランスデューサでは，指定された予備状態の後に，製造業者の
指示に従って調整をする。
d) 各々の影響量についての標準状態は，表3に規定する。測定対象量についての標準状態は，表4に規
定する。
11
C 1111：2019
表3−影響量の標準状態及び試験時の許容限度
影響量
特別な表示がない場合の標準
状態
単一基準値に適用する試験時
の許容限度a)
周囲温度
使用グループ（6.1.2参照）
I
II
III
形式試験の成績書に記載す
る。
20 ℃，23 ℃又は27 ℃
15 ℃〜30 ℃
0 ℃〜45 ℃
±1 ℃
−
−
−
入
力
量
の
周
波
数
周波数の影響を受けにくいもの
公称値
±2 %
周波数の影響を受けやすいもの
形式試験の成績書に記載す
る。
±0.1 %
入力量の波形
正弦波。ただし，高調波トラ
ンスデューサは除く。
製造業者が指定しない限り，
全ひずみ率の100倍が階級指
数を超えてはならない。
出
力
負
荷
固定出力負荷トランスデューサ
公称値
±1 %
可変出力負荷トランスデューサ
公称範囲の中心値
±1 %
補
助
電
源
交流電圧
公称値
±2 %
直流電圧
公称値
±1 %
周波数
公称値
±1 %
全ひずみ率
最大0.05
−
外部磁界
なし
任意の方向で直流から65 Hz
までの周波数で40 A/mb)
注a) 基準範囲で表示された場合，許容限度は認めない。
b) 40 A/mは，ほぼ地磁界の最大値である。
12
C 1111：2019
表4−測定対象量に関する標準状態
測定対象量
標準状態
電圧
電流
力率又は無効率
皮相電力
公称電圧±2 %
公称電流までの任意の電流
｜cosφ｜又は｜sinφ｜
＝1.0〜0.8
遅相又は進相
有効電力
公称電圧±2 %
公称電流までの任意の電流
｜cosφ｜＝1.0〜0.8
遅相又は進相
無効電力
公称電圧±2 %
公称電流までの任意の電流
｜sinφ｜＝1.0〜0.8
遅相又は進相a)
直流電力
公称電圧±2 %
公称電流までの任意の電流
−
位相角又は力率
公称電圧±2 %
公称電流の40 %〜100 %
−
周波数
公称電圧±2 %
−
−
多相の量
対称電圧b)
対称電流b)
−
注a) 皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ，及び無効電力トランスデューサは，通
常は共に使用され，変流器及び変圧器に接続される。ここでのsinφ＝1.0〜0.8は，試験を容易に
するために用いることに注意しなければならない。
b) 任意の二つの線間電圧の差，及び任意の二つの相電圧の差は，その平均（線間電圧及び相電圧そ
れぞれの平均）の1 %を超えない。各相の電流は，それらの電流の平均との差が1 %以下である。
各々の電流とそれに対応した相電圧との位相は，それらの位相の平均との差が2 %以下である。
多素子トランスデューサの各測定素子間の相互の関係が明らかな場合は，単相で試験してもよい。
4.6
補助電源
4.6.1
一般
トランスデューサは，必要な場合，4.6.2及び4.6.3に指定された補助電源を用いてもよい。
補助電源は，測定電圧又は測定電流から供給してもよい。
4.6.2
直流電源
直流電源は，次による。
a) 直流電源の電圧値は，5.1.3による。
b) 電池電源は，接地又は非接地でもよい。トランスデューサは，適切な方法で電源と入力及び出力の回
路間との絶縁が確保されていなければならない（電圧試験の詳細は6.19参照）。
c) トランスデューサは，直流電源に重畳される，最大10 %ピークピーク値までのリプルに耐えなければ
ならない。
d) トランスデューサから電池電源へのノイズの帰還は，100 MHzまでの全周波数において，規定された
電源抵抗で測定する場合，100 mVのピークピーク値に制限しなければならない。
さらに，トランスデューサに供給している電池電源が，電話装置にも使用されている場合，トランスデ
ューサからのノイズは，2 mVの評価雑音電圧を超えてはならない。
注記 評価雑音電圧の重み付け特性は，ITU-T勧告O.41に示されている。
4.6.3
交流電源
交流電源の電圧の公称値は，5.1.1による。
4.7
安全に関する要求事項
トランスデューサは，JIS C 1010-1の安全に関する要求事項に加え，空間距離及び沿面距離の要求事項
には次の条件を選択する。
空間距離及び沿面距離は，少なくとも次に従って選択する。
13
C 1111：2019
− 汚染度2
− 測定入力回路は，測定カテゴリIII
− 主電源回路は，過電圧カテゴリIII
注記 測定カテゴリは，JIS C 1010-2-30に定義されている。
5
要求事項
5.1
入力値
5.1.1
公称値
電圧，電流，周波数及び補助電源の公称値は，製造業者が指定する。
5.1.2
調整範囲
使用者が調整可能なトランスデューサの調整範囲は，次による。
a) 入力電圧は，公称値の80 %〜120 %
b) 入力電流は，公称値の60 %〜130 %
これは，上記公称値の範囲の測定対象量で，出力信号の公称値に調整することができるということを意
味する。
5.1.3
直流補助電源の推奨公称値
直流補助電源の推奨公称値は，24 V，48 V又は110 Vとする。
5.2
アナログ出力信号
5.2.1
一般
出力信号の下限公称値及び上限公称値並びにそのコンプライアンス電圧は，5.2.2及び5.2.3，又は5.2.6
から選定する。
5.2.2
出力電流
出力電流は，4 mA〜20 mAの信号を優先する。
注記 “0 mA”には，特別な意味がある（IEC 60381-1参照）。
その他の許容値の選択は，次のいずれかによる。
a) 0 mA〜20 mA
b) 0 mA〜1 mA
c) 0 mA〜10 mA
d) −1 mA〜1 mA
e) −5 mA〜5 mA
f)
−10 mA〜10 mA
g) −20 mA〜20 mA
5.2.3
コンプライアンス電圧
コンプライアンス電圧は，次のいずれかによる。
a) 10 V
b) 15 V
5.2.4
最大出力電圧
製造業者は，出力負荷及び入力の任意の状態で起こり得る出力電圧の最大値を，記載する。この電圧値
は，安全特別低電圧の限度を超えてはならない。
14
C 1111：2019
5.2.5
出力電流の障害についてのリスク
出力電流が低い値のときで，障害が起こる可能性がある場合は，その注意事項を記載する。
5.2.6
出力電圧
出力電圧は，次による。
a) 0 V〜1 V
b) 0 V〜10 V
c) −1 V〜1 V
d) −10 V〜10 V
注記 電圧出力をもつトランスデューサは，推奨しない。
5.3
出力特性
アナログ出力トランスデューサの出力特性は，入力に対して直線を基本とする。
直線でない場合の入力及び出力の関係は，別資料に記載する（7.4参照）。
5.4
ディジタル出力信号
ディジタル出力信号は，伝送装置の規定だけでなく，トランスデューサの精度及び応答時間に関する規
定にも対応して選定する。
5.5
リプル（アナログ出力に適用）
出力信号の最大のリプル含有量は，階級指数の2倍を超えてはならない。
5.6
応答時間
応答時間は，次による。
a) 応答時間の試験をする前に，トランスデューサは標準状態に置く。補助回路は，それが入力量の一つ
から印加され，かつ，別々に印加にできない場合を除き，少なくとも予備状態の間，印加する。
b) 応答時間は，製造業者が明示する。応答時間は，出力信号が基底値の0 %から90 %まで変化するステ
ップ入力を加えて試験する。
c) 入力を減少させる試験が必要な場合は，出力信号が基底値の100 %から10 %まで変化するステップ入
力を加える。
d) 幅（3.1.19参照）は，出力信号の上限公称値の±1 %とする。
e) 周波数トランスデューサ及びゼロサプレス付トランスデューサの試験方法は，製造業者が明示する。
5.7
測定対象量の過入力による影響変動値
製造業者と使用者との合意によって，トランスデューサが公称値の150 %の入力まで動作することを要
求する場合には，入力の公称値の100 %の固有誤差と150 %（標準状態で）における誤差との差は，階級
指数の50 %を超えてはならない。
有効電力トランスデューサ，無効電力トランスデューサ及び直流電力トランスデューサでは，公称値の
150 %は，電圧を公称値に保ち，電流を増加することによって得る。
5.8
出力信号の限界値
出力信号は，上限公称値の2倍以内に制限しなければならない。
トランスデューサは，測定対象量が下限公称値と上限公称値との間にないとき，下限公称値と上限公称
値との間に出力があってはならない。
5.9
動作条件の限界
箇条6に規定する公称使用範囲の限界とは，この範囲以内でトランスデューサがこの規格の要求を満足
するという意味である。トランスデューサは，この限界を超えて動作し得るが，この場合，使用者は次の
15
C 1111：2019
ことを留意する必要がある。
− 精度は，維持されない可能性がある。
− 設計上の動作寿命は，減少する可能性がある。
例えば，多くのトランスデューサは，−25 ℃又は＋70 ℃付近の周囲温度でも動作するが，製造業者は，
精度及び寿命の両面で起こり得る低下について助言するのが望ましい。
5.10 測定範囲の限界
測定範囲の限界が出力の下限公称値及び上限公称値と異なる場合は，測定範囲の限界を表示しなければ
ならない［7.1 j) 参照］。
5.11 保存条件及び輸送条件の限界
製造業者が明示している場合を除き，トランスデューサは，−40 ℃〜＋70 ℃の温度範囲で，損傷する
ことなく耐えなければならない。
標準状態に戻したとき，この規格の要求事項を満足しなければならない。
製造業者は，トランスデューサが損傷しないことを保証するために，必要な追加制限条件があれば明示
しなければならない。
5.12 封印
トランスデューサが不用意に調整されることを防ぐために封印する場合は，封印を破らなければ内部回
路及びケース内部の部品に触れられないようにしなければならない。
5.13 安定性
トランスデューサは，製造業者が指定した使用，輸送及び保存上の各条件に従っている場合には，製造
業者が指定した期間を通じて，各々の精度階級で規定された固有誤差の限度を満足しなければならない。
注記 期間は，一般的に一年を超えない。
6
試験
6.1
一般事項
6.1.1
影響変動値の試験
影響変動値は，次の要求事項を満足しなければならない。
a) 影響変動値は，各々の影響量について試験しなければならない。試験中は，他の全ての影響量は標準
状態に維持する。
b) 全ての影響量は，試験手順，計算及び使用グループごとに，階級指数の百分率で示した許容影響変動
値とともに，それぞれの項目で示す。全ての影響変動値試験で許容値を超えない。
c) 影響変動値は，出力の上限公称値及び少なくとも別のもう一点において，試験する。皮相電力トラン
スデューサ，有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサについては，電圧及び力率を
標準状態にして，電流の値を変化させて試験する。直流電力トランスデューサについては，電圧を標
準状態にして，電流の値を変化させて試験する。
d) 基準範囲が規定されている場合は，各々の基準範囲の限度及び基準範囲の限度に隣接した側の公称使
用範囲の任意の値に，影響量を変化させる。
16
C 1111：2019
6.1.2
環境条件
温度及び湿度の条件は，表5に示した使用グループに分ける。
使用グループの定義は，次による。
a) 使用グループI 屋内用であり，研究室，工場などで一般にみられる条件下で，その装置が注意して
取り扱われる場所で使用されるもの。
b) 使用グループII 厳しい環境から保護された場所で，取扱いがグループIとグループIIIとの中間の条
件で使用されるもの。
c) 使用グループIII 屋外用で，かつ，厳しい条件で使用されるもの。
表5−使用グループ
使用グループ
温度の公称使用範囲
相対湿度
I
II
III
10 ℃〜35 ℃
0 ℃〜45 ℃
−10 ℃〜55 ℃
93 %以下
注記 JIS C 60068-2-78を参照した。
周囲温度は，トランスデューサが普通に動作する一つの代表点で測定する。この測定点は，トランスデ
ューサの近くで，通風があり，トランスデューサの発熱，太陽の照射熱及び他の熱源による著しい影響を
受けない場所とする。
湿度は，環境条件が規定の限度内であるときは影響量と考えなくてよい。
6.1.3
計算
計算は，それぞれの項目に示す式によって行う。式の記号は，次による。
− Rは，標準状態における出力信号の値。
− X（又はY）は，影響量の極限で測定された出力信号の値。
− Fは，基底値。
6.2
補助電源の電圧による影響変動値
6.2.1
適用
直流又は交流の補助電源を必要とする全てのトランスデューサに適用する。ただし，補助電源を入力の
電圧又は電流から供給する場合で，試験時に補助電源と入力の接続を分離できないものは除く。
6.2.2
手順
補助電源電圧の公称値を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，補助電源電圧を，6.2.4に規定する範囲の下限に減少させ，出力信号の値（X）を
記録する。
補助電源電圧を，6.2.4に規定する範囲の上限に増大させ，このときの出力信号の値（Y）を記録する。
6.2.3
計算
影響変動値は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.2.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，次の表5A及び表5Bによる。
17
C 1111：2019
表5A−交流補助電源
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
90〜110
50
II
80〜120
50
III
80〜120
50
表5B−直流補助電源
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
85〜125
50
II
85〜125
50
III
85〜125
50
6.3
補助電源の周波数による影響変動値
6.3.1
適用
交流補助電源を必要とする全てのトランスデューサに適用する。ただし，補助電源を入力の電圧又は電
流から供給する場合で，試験時に補助電力と入力の接続を分離ができないものは除く。
6.3.2
手順
補助電源の周波数の公称値を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量一定で，補助電源の周波数を6.3.4に規定する範囲の下限に減少させ，このときの出力信号の
値（X）を記録する。
補助電源の周波数を6.3.4に規定する範囲の上限に増大させ，このときの出力信号の値（Y）を記録する。
6.3.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.3.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Cによる。
表5C−補助電源の周波数による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
90〜110
50
II
90〜110
50
III
90〜110
50
6.4
周囲温度による影響変動値
6.4.1
適用
全てのトランスデューサに適用する。
6.4.2
手順
基準温度で，ある一定の測定対象量における出力信号の値（R）を記録する。
18
C 1111：2019
周囲温度を6.4.4に規定する上限に上昇させ，状態が安定するまで十分な時間を与える（通常，30分が
適切）。このときの出力信号の値（X）を記録する。
周囲温度を6.4.4に規定する下限に下降させ，状態が安定するまで十分な時間を与える。このときの出力
信号の値（Y）を記録する。
6.4.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.4.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Dによる。
表5D−周囲温度による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
℃
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
10〜35
100
II
0〜45
100
III
−10〜55
100
6.5
入力量の周波数による影響変動値
6.5.1
適用
周波数トランスデューサを除く，全てのトランスデューサに適用する。周波数に敏感なトランスデュー
サ（例えば，移相回路をもつもの）は，例外として公称使用範囲を常に明示する。
6.5.2
手順
入力周波数の公称値を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，周波数を6.5.4に規定する範囲の下限まで減少させ，このときの出力信号の値（X）
を記録する。
周波数を6.5.4に規定する範囲の上限まで増大させ，このときの出力信号の値（Y）を記録する。
6.5.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.5.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Eによる。
表5E−入力量の周波数による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
90〜110
100
II
90〜110
100
III
90〜110
100
周波数に敏感なもの
明示された範囲
100
19
C 1111：2019
6.6
入力電圧による影響変動値
6.6.1
適用
電圧トランスデューサ及び電流トランスデューサを除く，各種トランスデューサに適用する。
6.6.2
手順
入力電圧の公称値を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，電圧を6.6.4に規定する範囲の下限に減少させ，このときの出力信号の値（X）を
記録する。
電圧を6.6.4に規定する範囲の上限まで増大させ，このときの出力信号の値（Y）を記録する。
6.6.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.6.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Fによる。
表5F−入力電圧による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
90〜110
50
II
80〜120
50
III
80〜120
50
6.7
入力電流による影響変動値
6.7.1
適用
位相角トランスデューサ及び力率トランスデューサに適用する。
6.7.2
手順
入力電流の公称値を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，入力電流を6.7.4に規定する範囲の下限に減少させ，このときの出力信号の値（X）
を記録する。
入力電流を6.7.4に規定する範囲の上限に増大し，出力信号の値（Y）を記録する。
6.7.3
計算
影響変動値は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.7.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Gによる。
20
C 1111：2019
表5G−入力電流による許容影響変動数
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
20〜120
100
II
20〜120
100
III
20〜120
100
6.8
力率による影響変動値
6.8.1
適用
皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサに適用する。
6.8.2
手順
力率1.0で入力電流の公称値の50 %（5 %）を加え，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，それぞれ，入力電流を公称値の100 %（10 %）に増加させ，0.5の遅れ又は進み力
率にする。出力信号の二つの値（X，Y）を記録する。さらに，入力電流を公称値の5 %（力率1.0）及び
10 %（力率0.5）で試験する。
無効電力トランスデューサを試験する場合は，力率を無効率（sinφ）に読み替える。また，有効電力ト
ランスデューサは力率0，無効電力トランスデューサでは無効率0で，誤差を試験する。
6.8.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.8.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Hによる。
表5H−力率による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
（力率又は無効率）
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
0.5〜1〜0.5
50
II
0.5〜1〜0.5
50
III
0.5〜1〜0.5
50
全てのトランスデューサで力率0（又は無効率0）の誤差は，階級指数の100 %を超えてはならない。
6.9
出力負荷による影響変動値
6.9.1
適用
全ての可変出力負荷トランスデューサに適用する。
6.9.2
手順
出力負荷の値は，公称範囲の中心値とし，出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，出力負荷の抵抗を6.9.4に規定する下限値に減少させ，出力信号の値（X）を記録
する。
出力負荷の抵抗を6.9.4に規定する上限値に増大させ，出力信号の値（Y）を記録する。
21
C 1111：2019
6.9.3
計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
100
×
−
×
−
F
R
Y
F
R
X
及び
6.9.4
許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Iによる。
表5I−出力負荷による許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
%
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
10〜100
50
II
10〜100
50
III
10〜100
50
6.10 入力量のひずみによる影響変動値
6.10.1 適用
高調波トランスデューサを除き，製造業者がひずみ波形用とした全ての交流電気的量のトランスデュー
サに適用する。
6.10.2 手順
ひずみのない入力量で適切な値を加え，出力信号の値（R）を記録する。実効値を同じに保ち6.10.4に
規定する第3高調波を加え，出力信号の値（X）を記録する。高調波と基本波との間の位相は，影響変動
値が最も大きくなるように加える。
皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサでは，この試験
は，ひずみ電流波形で行い，次にひずみ電圧波形で繰り返す。
皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ及び移相器をもたない無効電力トランスデュー
サの許容影響変動値は，6.10.4に規定している。
移相器をもつ無効電力トランスデューサの許容影響変動値は，製造業者が明示する。
6.10.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.10.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Jによる。
表5J−入力量のひずみによる許容影響変動値
使用グループ
公称使用範囲
（全ひずみ率）
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
0.0〜0.2
200
II
0.0〜0.2
200
III
0.0〜0.2
200
22
C 1111：2019
6.11 外部磁界による影響変動値
6.11.1 適用
全てのトランスデューサに適用する。
6.11.2 手順
トランスデューサを，平均直径1 mの方形断面で，かつ，径方向の厚さが直径に比べて小さいコイルの
中心に置く（注記参照）。このコイルは400 アンペアターンで，被測定トランスデューサがない場合，0.4
kA/mの磁界が発生する。
磁界は，測定回路で使用するのと同じ種類・周波数の電流によって発生させ，影響変動値が最も大きく
なる位相及び方向とする。交流磁界の値は，実効値で示す。
250 mmを超える外形寸法のトランスデューサは，計器の最大寸法の4倍以上の平均直径をもつコイル
で試験する。磁界の強さは上記のものと同じとする。
注記 適切で均一な磁界を発生する他の装置を使用してもよい。
外部磁界がないときの出力信号の値（R）を記録する。
測定対象量は一定で，外部磁界を印加したときの出力信号の値（X）を記録する。
6.11.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.11.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Kによる。
表5K−外部磁界による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
100
II
100
III
100
6.12 不平衡電流による影響変動値
6.12.1 適用
多素子の皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサに適用
する。
6.12.2 手順
電流は平衡とし，出力がスパンのほぼ中央となるように調整する。出力のゼロがスパンの中にある場合
は，出力がゼロと上側の公称出力値との中央とする。
出力信号の値（R）を記録する。
一つの電流回路を外し，電圧を平衡に，かつ，対称に保ち，他の電流回路を等しくし，測定対象量の初
期値を保つように調整する。
出力信号の値（X）を記録する。
23
C 1111：2019
6.12.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.12.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Lによる。
表5L−不平衡電流による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
100
II
100
III
100
6.13 測定素子間の相互作用による影響変動値
6.13.1 適用
多素子の皮相電力トランスデューサ，有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサに適用
する。ただし，三つの電流回路で三相4線不平衡電力を測る二つの測定素子をもつトランスデューサ （2 1/2
素子と呼ばれることもある。），及び交差結線方式の多素子無効電力トランスデューサを除く。
6.13.2 手順
一つの電圧入力回路だけに公称電圧を印加する。他の測定回路の電流入力には，順次公称電流を加える。
電圧と電流との位相差を360°変化させ，このときの出力信号と測定対象量ゼロに相当する出力信号と
の差の最大値（X）を記録する。
なお，補助電源が電圧入力回路と共通の場合には，この回路に電圧を印加する。
6.13.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
F
X
6.13.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Mによる。
表5M−測定素子間の相互作用による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
50
II
50
III
50
6.14 自己加熱による影響変動値
6.14.1 適用
全てのトランスデューサに適用する。
24
C 1111：2019
6.14.2 手順
トランスデューサは，周囲温度の下で4時間以上通電しないでおく。その後，4.5（表2の30分間の通
電はしない。）に従って通電する。
通電後1分〜3分の間に，出力信号の値（X）を記録する。さらに，30分〜35分の間に，出力信号の値
（R）を記録する。
6.14.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.14.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Nによる。
表5N−自己加熱による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
100
II
100
III
100
6.15 連続動作による影響変動値
6.15.1 適用
全てのトランスデューサに適用する。
6.15.2 手順
トランスデューサを標準状態にし，少なくとも予備状態の時間は通電する。このときの出力の値（R）
を記録する。連続動作後の適切な時間（例えば，6時間）に出力の値（X）を記録する。
6.15.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.15.4 許容影響変動値
変動は許容されるが，トランスデューサの出力は，その精度階級の要求事項を満足し続けなければなら
ない。
6.16 コモンモード干渉による影響変動値
6.16.1 適用
アナログ出力信号をもつ全てのトランスデューサに適用する。
6.16.2 手順
上限公称値に近い一定の測定対象量を加え，出力信号の値（R）を記録する。実効値100 Vの電圧を45 Hz
〜65 Hzに変化させながら，出力端子の片側と接地との間に加える。出力信号の値（R）との差が最も大き
い出力信号の値（X）を記録する。
25
C 1111：2019
6.16.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.16.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Oによる。
表5O−コモンモード干渉による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
100
II
100
III
100
6.17 シリーズモード干渉による影響変動値
6.17.1 適用
アナログ電流出力をもつ全てのトランスデューサに適用する。
6.17.2 手順
上限公称値に近い一定の測定値を加え，コンプライアンス電圧が最大値の80 %となるようにして，出力
信号の値（R）を記録する。
実効値1 Vの電圧を45 Hz〜65 Hzに変化させながら，出力信号に直列に加える。出力信号の値（R）と
の差が最も大きい出力信号の値（X）を記録する。
注記 シリーズモード干渉の電源の内部直流抵抗が大きすぎる場合は，特に固定出力負荷トランスデ
ューサについて，試験結果に影響を及ぼす可能性がある。
6.17.3 計算
影響変動値の計算は，次式による。
100
×
−
F
R
X
6.17.4 許容影響変動値
許容影響変動値は，表5Pによる。
表5P−シリーズモード干渉による許容影響変動値
使用グループ
影響変動値
（精度階級に対する%）
I
100
II
100
III
100
6.18 許容過入力
6.18.1及び6.18.2の試験を終了し，周囲温度の基準値で平衡状態に戻った後，トランスデューサは，そ
の階級指数の要求事項を満足しなければならない。
26
C 1111：2019
6.18.1 連続過入力
トランスデューサは，次の過入力を同時に24時間加え，耐えなければならない。
a) 電圧入力は，補助電源を含めて，その電圧の公称値の120 %を印加する。
b) 電流入力は，電流の公称値の120 %を通電する。
6.18.2 短時間過入力
試験は，標準状態で実施する。トランスデューサは，次の短時間過入力を加える。試験回路は実質的に
非誘導性なものとする。試験後，トランスデューサの固有の特性が変化してはならない。
a) 電圧入力は，測定電圧の公称値の200 %の電圧を1秒間印加する。これを10秒間隔で10回繰り返す。
b) 電流入力は，測定電流の公称値の10倍の電流を1秒間通電する。これを300秒間隔で5回繰り返す。
6.19 電圧試験，絶縁試験及びその他の安全性に関する要求事項
電圧試験，絶縁試験及びその他の安全性に関する要求事項は，JIS C 1010-1による。
6.20 インパルス電圧試験
インパルス電圧試験は，次の試験手順で行う。
a) 標準波形1.2/50 µsで，ピーク値5 kVの正及び負の試験電圧を，トランスデューサに次のように加え
る。
1) 接地端子と他端子全部一括との間。ただし，出力回路は除く。
2) 各回路の端子間に順次加え，他の全回路は接地する。ただし，出力端子間には印加しない。
3) 正及び負それぞれ3回のインパルスを5秒間以上の間隔で加える。設計的に意図されていないフラ
ッシュオーバ（キャパシタンス放電）は，故障と判定する。
b) インパルス電圧試験が終了後，トランスデューサは，その階級指数の要求事項を満足しなければなら
ない。
c) 40 Vを超える基準電圧をもった補助回路は，他の回路で実施したものと同じ条件の下でインパルス電
圧試験を行う。
インパルス電圧試験の詳細については，JIS C 1010-1 及び JIS C 1010-2-30 を参照する。
6.21 温度上昇試験
トランスデューサを，次の条件で通電する。
a) 各電流回路は公称電流の1.1倍
b) 各電圧回路は公称電圧の1.2倍
これらの条件は，2時間以上継続する。試験中トランスデューサは，強制通風及び太陽光にさらされな
いようにする。トランスデューサ各部の温度上昇は，次の値を超えてはならない。
c) 入力回路：60 K
d) 外部表面：25 K
6.22 その他の試験
製造業者と使用者との合意によって，その他の試験が要求された場合は，次の規格を基準とする。
a) 振動：JIS C 60068-2-6
b) 衝撃：JIS C 60068-2-27
c) 電磁両立性（EMC）：JIS C 61326-1
27
C 1111：2019
7
情報及び表示
7.1
ケース上の表示
トランスデューサには，外箱表面（又は見通せるところ）に次の事項を表示する。表示は読みやすく，
かつ，容易に消えないものとする。次に示す記号については，表6による。
a) 製造業者名又は略号
b) 形名
c) 製造番号又は日付コード
d) ソフトウェアバージョン［トランスデューサ内部のソフトウェアのバージョン（ディジタル出力トラ
ンスデューサが対象）］
e) 階級指数（記号E-10又はE-11）
f)
測定対象量の種類及び回路数（記号B-1，B-2，B-4又はB-6〜B-10）
g) 測定対象量の上限公称値及び下限公称値
h) 変成器と組み合わせる場合，その変成比
i)
規格を満足する出力電流（電圧）及び出力負荷の範囲（アナログ信号だけ）
j)
該当する場合，測定範囲の限界（5.10参照）
k) 該当する場合，組み合わされる機器の製造番号
l)
補助電源の値
m) 別資料があることを示す記号（記号F-33）
n) 調整データ用記入欄（該当する場合）
o) 使用グループの記号I，II又はIIIで表した，温度に対する公称使用範囲
p) コモンモード電圧
q) 測定カテゴリ（JIS C 1010-2-30参照）
r) 汚染度（JIS C 1010-1参照）
s)
安全記号（JIS C 1010-1参照）
カバーのような容易に取外しができる箇所に表示及び記号がある場合，製造番号は，トランスデューサ
本体に付けなければならない。
入力と出力との間に非直線的関係があるトランスデューサは，記号F-33を付け，入力と出力との間の実
際の関係を別資料に記載しなければならない。
注記 ケース上に十分な場所がない場合は，別資料に記載する。
28
C 1111：2019
表6−トランスデューサに表示するための記号
No.
項目
記号
B
入力の種類及び測定回路の数
B-1
直流回路
B-2
交流回路（単相）
B-3
直流回路及び交流回路
B-4
三相交流回路（一般記号）
B-6
3線式回路用単測定素子
3
1E
B-7
4線式回路用単測定素子
B-8
不平衡負荷3線式回路用2測定素子
3
2E
B-9
不平衡負荷4線式回路用2測定素子
3N
2E
B-10
不平衡負荷4線式回路用3測定素子
3N
3E
C
安全（JIS C 1010-1を参照）
E
精度階級
E-10
基底値がスパンに相当するときの階級指数（例 1）
｜1｜
E-11
基底値がスパンの半分に相当するときの階級指数（例 0.5）
｜0.5/0.5｜
F
一般記号
F-31
接地端子（一般記号）
F-33
別資料参照
F-42
フレーム又はシャーシ端子
F-43
保護接地端子
F-44
ノイズレス接地端子
F-45
測定回路接地（グランド）端子
F-46
正極端子
+
F-47
負極端子
−
7.2
標準状態及び公称使用範囲に関する表示
標準状態及び公称使用範囲に関する表示の要求事項は，次による。
a) 基準値（又は基準範囲）及び公称使用範囲が，表3，表4及び箇条6に規定したものと異なる場合，
トランスデューサ上又は別資料に表示しなければならない。
b) 基準値又は基準範囲を表示するときは，下線で区別する。
c) 表7には，温度を例に表示方法を示す。
29
C 1111：2019
表7−温度についての標準状態及び公称使用範囲の表示例
例
意味
10 ... 23 ... 35 ℃
使用グループIに従う
0 ... 15 ... 30 ... 45 ℃
使用グループIIに従う
−10 ... 0 ... 45 ... 55 ℃
使用グループIIIに従う
0 ... 25 ... 40 ℃
基準値：25 ℃
公称使用範囲：0 ℃〜40 ℃
−5 ... 20 ... 30 ... 35 ℃
基準範囲：20 ℃〜30 ℃
公称使用範囲：−5 ℃〜35 ℃
注記 表示は，公称使用範囲の限度及び基準値（又は範囲）を増加する順序
で記入し，各数字の間を3個の点で分ける。
7.3
接続及び端子の区別
トランスデューサを正しく使用するために必要な場合，接続図又は表を添付し，正しい接続方法が分か
るように端子を明瞭に表示しなければならない。
測定回路の端子が，接地電位又はその近くの電位（安全又は機能的な理由のため）に接続するときには，
交流電源回路の中性線に接続する端子は，大文字のNを表示し，その他の場合は，記号F-45（表6参照）
を表示する。
接地端子には，記号F-31及び／又はF-42〜F-45の中から適切なものを使用し表示する。
7.4
別資料に記載する情報
トランスデューサには，次の情報を附属の別資料に記載しなければならない。
− 応答時間
− 外部磁界による影響変動値
− 直線でない場合の入力及び出力間の実際の関係
参考文献 IEC 61869-1:2007，Instrument transformers−Part 1: General requirements
IEC 61869-2:2012，Instrument transformers−Part 2: Additional requirements for current transformers
IEC 60770-1:2010，Transmitters for use in industrial-process control systems−Part 1: Methods for
performance evaluation
IEC 61557-12:2018，Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V AC and 1 500 V
DC−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures−Part 12: Power
metering and monitoring devices（PMD）
IEC 60381-1:1982，Analogue signals for process control systems. Part 1: Direct current signals
JIS C 60068-2-78:2015，環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試
験記号：Cab）
ITU-T Recommendation O.41 PSOPHOMETER FOR USE ON TELEPHONE-TYPE CIRCUITS
30
C 1111：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 1111:2019 交流及び直流入力トランスデューサ
IEC 60688:2012，Electrical measuring transducers for converting A.C. and D.C. electrical
quantities to analogue or digital signals
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1
直流電力
1
−
追加
測定対象量に直流電力を追加した。 IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
IEC 61869シリーズ
を適用する計器用
変成器
1
IEC 60044シリーズを
適用する計器用変成器
変更
IEC 60044シリーズをIEC 61869シ
リーズに変更した。
IEC 60044シリーズが廃止され
IEC 61869シリーズに置き換えら
れたため変更した。IEC規格の見
直しの際に，修正を提案する。
3.1.1
トランスデューサ
（transducer）
入力量に対して一
定の関係がある信
号を出力する変換
器。
3.1.1
電気測定用トランスデ
ューサ（electrical
measuring transducer）
測定のために，交流又は
直流の測定量を，直流電
流，直流電圧又はディジ
タル信号に変換する装
置。
変更
“電気測定用”を削除し，“入力量
に対して一定の関係がある信号を
出力する変換器”に変更した。
電気測定用は他で使用されておら
ず，不適切のため削除した。
アナログ信号又はディジタル信号
に変換するトランスデューサにつ
いては別で定義しているため削除
した。IEC規格の見直しの際に，
修正を提案する。
3.1.6
ゼロオフセット付
トランスデューサ
ゼロオフセット付トラ
ンスデューサ
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.7
“正の量だけの測
定又は負の量だけ
の測定において”
3.1.7
−
追加
“正の量だけの測定又は負の量だ
けの測定において，”を追加した。
定義を明確にしただけで，IECへ
の提案はしない。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
31
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3.1.10
アナログ出力信号
のリプル含有量
3.1.10
アナログ出力信号のリ
プル含有量
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.12
出力電力
3.1.12
出力電力
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.14
可逆出力電流，可逆
出力電圧
3.1.14
可逆出力電流，可逆出力
電圧
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.15
トランスデューサ
の測定素子
3.1.15
トランスデューサの測
定素子
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.16
単素子トランスデ
ューサ
3.1.16
単素子トランスデュー
サ
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.18
複合トランスデュ
ーサ
3.1.18
複合トランスデューサ
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.21
出力シリーズモー
ド干渉電圧
3.1.21
出力シリーズモード干
渉電圧
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.22
出力コモンモード
干渉電圧
3.1.22
出力コモンモード干渉
電圧
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.24.1
短期間安定性
3.1.22.
1
短期間安定性
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.1.24.2
長期間安定性
3.1.22.
2
長期間安定性
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
32
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3.2.3
交流電気的量の皮
相電力の測定用の
トランスデューサ
3.2.3
皮相電力の測定用のト
ランスデューサ
追加
“交流電気的量の”を追加した。
直流電力と区別するため“交流電
気的量の”を追加した。定義を明
確にしただけで，IECへの提案は
しない。
3.2.4
交流電気的量の有
効電力の測定用の
トランスデューサ
3.2.4
有効電力の測定用のト
ランスデューサ
追加
“交流電気的量の”を追加した。
直流電力と区別するため“交流電
気的量の”を追加した。定義を明
確にしただけで，IECへの提案は
しない。
3.2.5
交流電気的量の無
効電力の測定用の
トランスデューサ
3.2.5
無効電力の測定用のト
ランスデューサ
追加
“交流電気的量の”を追加した。
直流電力と区別するため“交流電
気的量の”を追加した。定義を明
確にしただけで，IECへの提案は
しない。
3.2.10
直流電力トランス
デューサ
−
−
追加
直流電力測定用のトランスデュー
サを追加した。
交流電気的量の電力と区別するた
め追加した。IEC規格の見直しの
際に，修正を提案する。
3.4.4
回路絶縁電圧
3.4.4
回路絶縁電圧
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.4.6
入力電流及び入力
電圧の最大許容値
3.4.6
入力電流及び入力電圧
の最大許容値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.4.11
測定対象量の公称
値
3.4.11
測定対象量の公称値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.4.11
直流電力トランス
デューサの測定電
圧及び測定電流の
各公称値に対応す
る測定対象量の値
3.4.11
−
追加
直流電力トランスデューサに対す
る説明を追加した。
交流電気的量の電力と区別するた
め追加した。IEC規格の見直しの
際に，修正を提案する。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
33
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3.5.2
測定電圧の校正値
3.5.2
測定電圧の校正値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.5.3
測定電流の校正値
3.5.3
測定電流の校正値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.5.5
出力信号の校正値
3.5.5
出力信号の校正値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.5.7
変換係数
3.5.7
変換係数
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.7.5
百分率影響変動値
3.7.5
百分率影響変動値
追加
この規格では使われていないが，対
応国際規格と合わせるため記載し
ていることを注記に記載した。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
3.7.5
“単に影響変動値
ということもある”
3.7.5
−
追加
“単に影響変動値ということもあ
る”を追加した。
−
4.1
トランスデューサ
の入力は，一般に低
電圧システムのよ
うに直接接続する
ことも，電圧セン
サ，電流センサのよ
うな 計測用のセン
サを介して接続す
ることもある。
4.1
測定対象の電気的量は，
一般に低電圧システム
のように直接接続する
ことも，電圧センサ，電
流センサのような計測
用のセンサを介して接
続することもある。
変更
“トランスデューサの入力は”に変
更した。
適切な表現に変更した。定義を明
確にしただけで，IECへの提案は
しない。
−
−
図1
トランスデューサの構
成図
削除
トランスデューサの構成図を削除
した。
アナログ変換器と矛盾があるため
削除した。IEC規格の見直しの際
に，修正を提案する。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
34
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4.2
−
4.2
この階級指数の定義は
アナログ出力のトラン
スデューサだけに適用
する。
追加
アナログ出力のトランスデューサ
だけに適用することを削除した。
ディジタル出力のトランスデュー
サにも適用させるため。IEC規格
の見直しの際に，修正を提案する。
4.2
表1
0.1，0.2，0.5，1，2，
2.5，3，5，10，20
4.2
0.2，0.5，1，2，2.5，3，
5，10，20
追加
表1に0.1を追加し，注記に0.25
について記載した。
我が国で常用されている階級指数
を追加したため，IECへの提案は
しない。
4.3
製造業者はトラン
スデューサとセン
サとを組み合わせ
た全体の階級指数
について明示する
ことが望ましい。
4.3
製造業者はトランスデ
ューサとセンサとを組
み合わせた全体の階級
指数について明示する。
変更
“明示することが望ましい”に変更
した。
適切な表現に変更した。定義を明
確にしただけで，IECへの提案は
しない。
4.5
a)〜d)
固有誤差の試験条
件
4.5.1
〜
4.5.4
固有誤差の試験条件
変更
箇条を細別に変更した。
読者に分かりやすくするための追
加であり，IECへの提案はしない。
4.5
表3
20 ℃，23 ℃又は
27 ℃
15 ℃〜30 ℃
0 ℃〜45 ℃
表3
K55
K70
Kx
変更
温度範囲を数値で表現した。
IEC規格では，温度の公称使用範
囲を含め変更されていたが，6.4.4
と矛盾が発生したため，JISでは，
旧規格のままとした。
4.6.1
補助電源は，測定電
圧又は測定電流か
ら供給してもよい。
4.6.1
−
追加
“補助電源は測定電圧又は測定電
流から供給してもよい。”を追加し
た。
IEC規格では，4.6.3交流電源に記
載されていたが，直流電源にも対
応するため，補助電源の一般に記
載場所を変更した。IEC規格の見
直しの際に，修正を提案する。
5.1.1
公称値
5.1.1
−
追加
箇条の題名を追加した。
読者に分かりやすくするための追
加であり，IECへの提案はしない。
5.1.2
調整範囲
5.1.2
−
追加
箇条の題名を追加した。
読者に分かりやすくするための追
加であり，IECへの提案はしない。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
35
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5.1.3
直流補助電源の推
奨公称値
5.1.3
−
追加
箇条の題名を追加した。
読者に分かりやすくするための追
加であり，IECへの提案はしない。
5.3
アナログ出力トラ
ンスデューサの出
力特性は，入力に対
して直線を基本と
する。
直線でない場合の
入力及び出力の関
係は，別資料に記載
する。
5.3
アナログトランスデュ
ーサの出力特性は次の
いずれかとする。
出力特性図A〜F
変更
アナログ出力トランスデューサの
出力特性は，入力に対して直線を基
本とする。
直線でない場合の入力及び出力の
関係は，別資料に記載する旨に変更
し，出力特性図を削除した。
特性図は誤解を招くため削除し
た。
IEC規格の見直しの際に，修正を
提案する。
5.4
−
5.4
ディジタル出力の階級
指数は，IEC 61557-12
の性能階級に一致した
ものとする。
リレー出力がある場合
は，IEC 60255-151に適
合したものとする。
削除
ディジタル出力の階級指数及びリ
レー出力の適用規格について削除
した。
国内事情に合わせディジタル出力
の階級指数及びリレー出力につい
て削除したため，IECへの提案は
しない。
5.7
有効電力トランス
デューサ，無効電力
トランスデューサ
及び直流電力トラ
ンスデューサでは，
公称値の150 %は，
電圧を公称値に保
ち，電流を増加する
ことによって得る。
5.7
有効電力トランスデュ
ーサ及び無効電力トラ
ンスデューサでは，公称
値の150 %は，電圧を公
称値に保ち，電流を増加
することによって得る。
追加
直流電力測定用のトランスデュー
サを追加した。
交流電気的量の電力と区別するた
め追加した。IEC規格の見直しの
際に，修正を提案する。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
36
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.1.2
表5
使用グループによ
る温度及び湿度の
条件
6.1.2
表5
使用グループによる温
度及び湿度の条件
変更
使用グループ名及び温度公称使用
範囲を変更した。
IEC規格では，温度の公称使用範
囲を含め変更されていたが，6.4.4
と矛盾が発生したため，JISでは，
温度の条件については旧規格のま
まとし，湿度については見直しを
行った。
6.2.4
表5A，表5B
6.2.4
−
変更
交流補助電源の許容影響変動値を
表5A，直流補助電源の許容影響変
動値を表5Bに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.3.4
表5C
6.3.4
−
変更
補助電源の周波数による許容影響
変動値を表5Cに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.4.4
表5D
6.4.4
−
変更
周囲温度による許容影響変動値を
表5Dに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.5.4
表5E
6.5.4
−
変更
入力量の周波数による許容影響変
動値を表5Eに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.6.4
表5F
6.6.4
−
変更
入力電圧による許容影響変動値を
表5Fに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.7.4
表5G
6.7.4
−
変更
入力電流による許容影響変動値を
表5Gに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.8.4
表5H
6.8.4
−
変更
力率による許容影響変動値を表5H
に変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.9.4
表5I
6.9.4
−
変更
出力負荷による許容影響変動値を
表5Iに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.10.4
表5J
6.10.4
−
変更
入力量のひずみによる許容影響変
動値を表5Jに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.11.4
表5K
6.11.4
−
変更
外部磁界による許容影響変動値を
表5Kに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.12.4
表5L
6.12.4
−
変更
不平衡電流による許容影響変動値
を表5Lに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
37
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.13.4
表5M
6.13.4
−
変更
測定素子間の相互作用による許容
影響変動値を表5Mに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.14.2
4.5（表2の30分間
の通電はしない。）
6.14.2
4.5.4（表2の30分間の
通電はしない。）
変更
参照先の箇条番号を変更した。
−
6.14.4
表5N
6.14.4
−
変更
自己加熱による許容影響変動値を
表5Nに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.16.2
出力信号の値（R）
との差が最も大き
い出力信号の値（X）
を記録する。
6.16.2
出力信号の値（X）を記
録する。
追加
“出力信号の値（R）との差が最も
大きい”を追加した。
規定を明確にしただけであり，
IECへの提案はしない。
6.16.4
表5O
6.16.4
−
変更
コモンモード干渉による許容影響
変動値を表5Oに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.17.2
出力信号の値（R）
との差が最も大き
い出力信号の値（X）
を記録する。
6.17.2
出力信号の値（X）を記
録する。
追加
“出力信号の値（R）との差が最も
大きい”を追加した。
規定を明確にしただけであり，
IECへの提案はしない。
6.17.4
表5P
6.17.4
−
変更
シリーズモード干渉による許容影
響変動値を表5Pに変更した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
6.18
許容過入力
6.17.5
許容過入力
変更
箇条番号を変更した。
IEC規格の箇条番号が誤記である
ため変更した。IEC規格の見直し
の際に，修正を提案する。
6.18.1
連続過入力
6.17.6
連続過入力
変更
箇条番号を変更した。
IEC規格の箇条番号が誤記である
ため変更した。IEC規格の見直し
の際に，修正を提案する。
6.18.2
短時間過入力
6.17.7
短時間過入力
変更
箇条番号を変更した。
IEC規格の箇条番号が誤記である
ため変更した。IEC規格の見直し
の際に，修正を提案する。
6.19
電圧試験，絶縁試験
及びその他の安全
性に関する要求事
項
6.18
電圧試験，絶縁試験及び
その他の安全性に関す
る要求事項
変更
箇条番号を変更した。
IEC規格の箇条番号が誤記である
ため変更した。IEC規格の見直し
の際に，修正を提案する。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
38
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.20
インパルス電圧試
験
6.19
インパルス電圧試験
変更
箇条番号を変更した。
IEC規格の箇条番号が誤記である
ため変更した。IEC規格の見直し
の際に，修正を提案する。
6.20
a)
“ただし，出力回路
は除く。”
6.19
−
追加
1) 接地端子と他端子全部一括との
間に“ただし，出力回路は除く。”
2) 各回路の端子間に“ただし，出
力端子間には印加しない”を追加し
た。
試験回路を明確にした。
また，出力回路への印加は国内事
情を考慮しJISでは旧規格と同様
に除外とした。
7.1
表6
7.1
表7
変更
表7トランスデューサに表示する
ための記号を表6に変更した。
表の記載を適切な位置に変更した
だけであり，IECへの提案はしな
い。
7.1
q)
測定カテゴリ（JIS
C1010-2-30参照）
7.1
q)
過電圧カテゴリ（IEC
61010シリーズ）
変更
“過電圧カテゴリ”を“測定カテゴ
リ”に変更した。
測定回路を接続することを意図し
た主電源回路の種類による試験及
び測定回路の分類は測定カテゴリ
のため，“測定カテゴリ”に変更し
た。IEC規格の見直しの際に，修
正を提案する。
7.2
表7
7.2.3
表6
変更
表6温度についての標準状態及び
公称使用範囲の表示例 を表7に変
更した。
表の記載を適切な位置に変更した
だけであり，IECへの提案はしな
い。
7.2
表7
使用グループI：
10 ... 23 ... 35 ℃
使用グループII：0 ...
15 ... 30 ... 45 ℃
使用グループIII：−
10 ... 0 ... 45 ... 55 ℃
7.2.3
表6
使用グループI：−5 ...
23 ... 55 ℃
使用グループII：−25 ...
15 ... 30 ... 70 ℃
使用グループIII：−
35 ... 0 ... 45 ... 75 ℃
変更
各使用グループの温度範囲を変更
した。
国内事情を考慮してJISでは旧規
格のままとした。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9
39
C 1111：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番
号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7.2
表7
表示は，公称使用範
囲の限度及び基準
値（又は範囲）を増
加する順序で記入
し，各数字の間を3
個の点で分ける
7.2.3
表6
−
追加
注記に“表示は，公称使用範囲の限
度及び基準値（又は範囲）を増加す
る順序で記入し，各数字の間を3個
の点で分ける”を追加した。
適切な表記方法に変更しただけで
あり，IECへの提案はしない。
7.4
直線でない場合の
入力及び出力間の
実際の関係
7.4
入力及び出力間の実際
の関係
追加
入力及び出力間の実際の関係に“直
線でない場合”を追加した。
記載が必要となる条件を明確にす
るためであり，IECへの提案は行
わない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60688:2012，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
4
C
1
11
1
：
2
0
1
9