C 1010-2-30：2019
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
3.5 安全性に関する用語 ······································································································· 2
4 試験······························································································································· 2
5 表示及び文書 ··················································································································· 2
6 感電に対する保護 ············································································································· 4
6.6 外部回路への接続 ·········································································································· 6
7 機械的なハザードに対する保護 ··························································································· 8
8 機械的ストレスに対する耐性 ······························································································ 8
9 火の燃え広がりに対する保護 ······························································································ 8
10 機器の温度限度及び耐熱性 ······························································································· 8
11 流体及び外来固形物に起因するハザードに対する保護···························································· 8
12 レーザを含む放射，音圧及び超音波圧に対する保護 ······························································ 8
13 漏えい（洩）ガス，漏えい物，爆発及び爆縮に対する保護 ····················································· 9
14 部品及びサブアセンブリ ·································································································· 9
14.101 主電源の測定に用いる測定回路で，過渡過電圧を制限するために用いる回路 ························ 9
14.102 プローブアセンブリ及び附属品 ··················································································· 10
15 インタロックによる保護 ································································································· 10
16 用途に起因するハザード ································································································· 10
17 リスクアセスメント ······································································································· 10
101 測定回路 ····················································································································· 10
101.1 一般 ························································································································ 10
101.2 電流測定回路 ············································································································ 11
101.3 入力とレンジとの誤った組合せに対する保護 ··································································· 11
101.4 主電源の過電圧に対する保護 ······················································································· 13
101.5 オーバレンジの表示 ··································································································· 14
附属書 ······························································································································· 16
附属書K（規定）6.7で対象となっていない絶縁についての要求事項 ············································· 16
附属書L（参考）定義した用語の索引······················································································ 22
附属書AA（規定）測定カテゴリ ···························································································· 23
附属書BB（参考）特定の環境下で実施する測定に起因するハザード ············································· 25
附属書CC（参考）4 mm“バナナ”端子 ·················································································· 28
附属書DD（参考）回路のタイプに対応する絶縁に対するフローチャート ······································ 30
C 1010-2-30：2019 目次
（2）
ページ
参考文献 ···························································································································· 32
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 33
C 1010-2-30：2019
（3）
まえがき
この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人
日本電気計測器工業会（JEMIMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日
本産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日
本産業規格である。これによって，JIS C 1010-2-30:2014は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 1010の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 1010-1 第1部：一般要求事項
JIS C 1010-2-30 第2-30部：試験回路又は測定回路をもつ機器に対する個別要求事項
JIS C 1010-2-32 第2-32部：電気的試験及び測定のための手持形及び手で操作する電流センサに対す
る個別要求事項
JIS C 1010-2-33 第2-33部：主電源電圧が測定可能な家庭用及び専門家用の手持形マルチメータ及び
他のメータに対する個別要求事項
JIS C 1010-2-101 第2-101部：体外診断用医療機器の個別要求事項
JIS C 1010-2-201 第2-201部：制御装置の個別要求事項
JIS C 1010-31 第31部：電気的試験及び測定のための手持形及び手で操作するプローブアセンブリに
対する安全要求事項
日本産業規格 JIS
C 1010-2-30：2019
測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−
第2-30部：試験回路又は測定回路をもつ
機器に対する個別要求事項
Safety requirements for electrical equipment for
measurement, control, and laboratory use-Part 2-30: Particular
requirements for equipment having testing or measuring circuits
序文
この規格は，2017年に第2版として発行されたIEC 61010-2-030を基に，技術的内容及び構成を変更し
て作成した日本産業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。また，この規格は，JIS C 1010-1と併読する規格である。た
だし，この規格の中で対応するJIS C 1010-1の内容と異なる場合には，この規格を優先する。
＜＞内の文章は，規定項目ではなく，追加，削除，置換などを指示する項目である。
1
適用範囲
適用範囲は，JIS C 1010-1の箇条1によるほか，次による。
1.1.1
適用範囲に含む機器
＜JIS C 1010-1の1.1.1を次に置き換える。＞
この規格は，試験又は測定の目的で，外部のデバイス又は回路に接続する，試験回路又は測定回路をも
つ機器の安全性に関する要求事項について規定する。
試験回路又は測定回路には，試験用電気機器，測定用電気機器，試験室用電気機器，又はプロセス制御
用機器の一部としての測定回路を含む。機器内の試験回路又は測定回路は，回路と操作者との間に追加の
保護手段が必要となる。
注記1 試験回路又は測定回路の例を，次に示す。
− 他の機器の回路内の電圧測定
− 熱電対を介する外部デバイスの温度測定
− ひずみ（歪）ゲージを介する外部デバイスに加わる力の測定
− 新規設計を解析するための回路への電圧の印加
試験回路又は測定回路をもつ機器は，主電源，通信網などの危険な導体での試験及び測定に使用するこ
ともある。様々な試験及び測定によって生じるハザードを考察するため，附属書BBを参照。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61010-2-030:2017，Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
2
C 1010-2-30：2019
laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for equipment having testing or measuring
circuits（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
引用規格は，JIS C 1010-1の箇条2によるほか，次による。
＜次の新たな引用規格を追加する。＞
JIS C 1010-2-32 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−第2-32部：電気的試験及び測定の
ための手持形及び手で操作する電流センサに対する個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61010-2-032，Safety requirements for electrical equipment for measurement,
control and laboratory use−Part 2-032: Particular requirements for hand-held and hand-manipulated
current sensors for electrical test and measurement
3
用語及び定義
用語及び定義は，JIS C 1010-1の箇条3によるほか，次による。
3.5
安全性に関する用語
＜JIS C 1010-1の3.5.4を次に置き換える。＞
3.5.4
主電源（mains）
低電圧主電源供給システム。
＜JIS C 1010-1の3.5に次を追加する。＞
3.5.101
測定カテゴリ（measurement category）
接続することを意図した主電源の種類による試験回路又は測定回路の分類。
注記 測定カテゴリは，過電圧カテゴリ，短絡電流レベル，試験又は測定を行う建造物設備の場所及
び建造物設備内でのエネルギー制限又は過渡状態中での保護の形態を考慮して決める。附属書
AAを参照。
4
試験
試験は，JIS C 1010-1の箇条4による。
5
表示及び文書
表示及び文書は，JIS C 1010-1の箇条5によるほか，次による。
5.1.5
端子，接続及び操作デバイス
＜JIS C 1010-1の5.1.5に次を追加する。＞
5.1.5.101 測定回路端子
5.1.5.101.1 一般
5.1.5.101.4で除外できる場合を除き，表示は次によらなければならない。
a) 測定回路端子には，定格対地間電圧の値を表示する。
3
C 1010-2-30：2019
b) 一組の測定回路端子には，該当する定格電圧の値又は定格電流の値を表示する。
c) 測定回路端子の各対には，該当する場合に，5.1.5.101.2及び5.1.5.101.3に従って測定カテゴリの記号
又は表1に示す番号14の記号（
）を表示する。
測定回路端子は，通常，複数の端子で構成する。一組の端子には，測定回路端子に対する定格電圧若し
くは定格電流又はその両方を指定していることがあり，また，個々の端子には，定格対地間電圧を指定し
ていることもある。一部の機器では，定格対地間電圧とは異なる端子間の測定の定格電圧を指定している
こともある。表示は，誤解を避けるために，明瞭でなければならない。
電流測定回路端子が，内部保護のない変流器（101.2参照）への接続の可能性がある場合には，表1に示
す番号14の記号（
）を表示しなければならない。
表示は，端子に隣接していなければならない。ただし，十分な面積がない場合（例えば，多点入力機器）
には，表示は定格銘板若しくは目盛板上にあってもよく，又は端子に表1に示す番号14の記号（
）を
表示してもよい。
任意の一組の測定回路端子に対する表1に示す番号14の記号（
）は，記号が端子に接近している場
合に，二つ以上を表示する必要はない。
適合性は，検査によって，かつ，該当する場合には，5.1.5.101.4の例外事項を考慮し，5.1.5.101.2及び
5.1.5.101.3の規定によって確認する。
5.1.5.101.2 測定カテゴリII，III又はIVを定格とする測定回路端子
測定カテゴリII，III又はIVの範囲内の測定に対応した定格の測定回路端子には，該当する測定カテゴ
リを表示しなければならない。測定カテゴリの表示は，該当する“CAT II”，“CAT III”又は“CAT IV”で
なければならない。
二つ以上の測定カテゴリ及び定格対地間電圧を表示してもよい。
適合性は，検査によって確認する。
5.1.5.101.3 6.3.1のレベルを超える電圧へ接続する定格の測定回路端子
測定カテゴリII，III又はIVの範囲内の測定に対応した定格でない測定回路端子で，6.3.1のレベルを超
える電圧へ接続する定格の場合には，表1に示す番号14の記号（
）を表示しなければならない［5.4.1 bb)
参照］。
適合性は，検査によって確認する。
5.1.5.101.4 永続接続の測定回路端子，専用の測定回路端子又は低い電圧の測定回路端子
次のいずれかの場合は，測定回路端子に定格を表示する必要はない。
a) 測定回路端子が，永続的に接続されるものであり，かつ，接触可能でないとき［5.4.3 aa)及び5.4.3 bb)
参照］。
b) 測定回路端子が，他の機器の特定の端子にだけ接続する専用端子であるとき。
c) 測定回路端子の定格電圧が6.3.1のレベル以下であることが，他の表示から明白であるとき。
注記 入力が6.3.1のレベル以下であることが明白である表示の例には，次のものがある。
− 単一レンジの電圧計若しくは電流計のフルスケールの値，又は多レンジマルチメータの最
大表示
− 電圧選択スイッチの最大レンジ表示
− 文書で交流30 V以下に相当する値であると説明した場合の定格電圧又は定格電力（dB，
mW又はWで表示）
適合性は，検査によって確認する。
4
C 1010-2-30：2019
5.4.1
一般
＜JIS C 1010-1の5.4.1の第1段落を次に置き換える。＞
操作者又は責任団体の必要性に応じて，安全目的に必要な，次のa)〜h)，aa)及びbb)を記載した文書を
機器に添付しなければならない。製造業者が認定したサービス要員に対する安全に関する文書は，サービ
ス要員が利用できるようにしなければならない。
＜JIS C 1010-1の5.4.1のh)の後に次の細別を追加する。＞
aa) 測定回路が測定カテゴリII，III又はIVの定格である場合には，該当する各測定カテゴリについての
情報（5.1.5.101.2参照）。
bb) 測定カテゴリII，III又はIVの定格ではなく，そのような回路に誤って接続する可能性のある測定回
路に対して，主電源の測定にその機器を用いてはならないという警告及び過渡過電圧を含む詳細な定
格（更なる情報については，AA.2.4を参照）。
同一の測定回路で複数の測定カテゴリの定格をもつ機器がある。そのような機器は，その機器を用いる
ことを意図した測定カテゴリ及びその機器を用いてはならない測定カテゴリを文書に明確に指定しなけれ
ばならない。
5.4.3
機器の設置
＜JIS C 1010-1の5.4.3の第1段落を次に置き換える。＞
文書には，設置の指示及び固有の試運転の指示，並びに安全性に必要な場合は，機器の設置若しくは試
運転中に，又は機器の不適切な設置若しくは試運転の結果として生じ得るハザードに対する警告を記載し
なければならない。該当する場合は，そのような情報には次のa)〜g)，aa)及びbb)を含める。
＜JIS C 1010-1の5.4.3のg)の後に次の細別を追加する。＞
aa) 測定カテゴリII，III又はIVを定格とする永続的に接続することを意図する測定回路端子に対して，
該当する測定カテゴリ，定格電圧及び定格電流に関する情報（5.1.5.101.2参照）。
bb) 測定カテゴリII，III又はIVを定格としない永続的に接続することを意図する測定回路端子に対して，
該当する定格電圧，定格電流及び定格過渡過電圧に関する情報（5.1.5.101.4参照）。
6
感電に対する保護
感電に対する保護は，JIS C 1010-1の箇条6によるほか，次による。
6.1.2
例外
＜JIS C 1010-1の6.1.2の第1段落を次に置き換える。＞
操作上の理由から，次のa)，b)及びaa)の部分が接触可能かつ危険な活電状態であることを防止できな
い場合は，危険な活電部分ではあっても，正常な使用中に操作者が接触可能となることを許容する。
＜JIS C 1010-1の6.1.2のb)の後に次の細別を追加する。＞
aa) 工具を用いる必要がない端子類を含む，ロックタイプ及びねじ止めタイプ測定回路端子。
＜JIS C 1010-1の6.1.2の第2段落を次に置き換える。＞
a)，b)及びaa)のいかなる部分であっても，内部のコンデンサから電荷を受ける場合は，これらの部分は
電源遮断10秒後に危険な活電状態であってはならない。
6.5.2.1
一般
＜JIS C 1010-1の6.5.2.1の第2段落を次に置き換える。＞
適合性は，6.5.2.2〜6.5.2.6及び6.5.2.101によって確認する。
6.5.2.3
保護導体端子
5
C 1010-2-30：2019
＜JIS C 1010-1の6.5.2.3のh) 2)を次のh) 2)に置き換える。＞
h) 2) いかなる開閉デバイス又は遮断デバイスも，保護接続を遮断しない。試験回路又は測定回路で間接
接続として用いるデバイス（6.5.2.101参照）は，保護接続の部分であると認める。
＜JIS C 1010-1の6.5.2に次を追加する。＞
6.5.2.101 試験回路又は測定回路での間接接続
間接接続は，故障の結果，接触可能な導電性部分が危険な活電状態になる場合に，保護導体端子と接触
可能な導電性部分との間の接続を確実にする。
間接接続となるデバイスは，次のいずれかによる。
a) 間接接続となるデバイスの破損を防止するために過電流保護とともに用い，当該デバイスに加わる電
圧が6.3.2 a)の該当する規定値を超えると導電性になる電圧制限デバイス。電流対作動時間は，図101
のレベルを超えてはならない。
適合性は，機器を正常な使用状態で動作させておき，接触可能な導電性部分を機器定格に従う最大
の危険な活電電圧に接続することによって確認する。接触可能な導電性部分と保護導体端子との間の
電流は，図A.1の回路で測定する。
b) 接触可能な導電性部分と保護導体端子との間に加わる電圧が6.3.2 a)の該当する規定値に達したとき，
すぐに主電源又は危険な活電電圧源の全ての極を遮断し，接触可能な導電性部分を保護導体端子に接
続する電圧検知引外しデバイス。電流対作動時間は，図101のレベルを超えてはならない。
適合性は，接触可能な導電性部分と保護導体端子との間に6.3.2 a)のレベルの該当電圧及び最大定格
電圧を順に加えることによって確認する。接触可能な導電性部分と保護導体端子との間の電流は，図
A.1の回路で測定する。
a)に規定する電圧制限デバイス及びb)に規定する電圧検知引外しデバイスは，測定回路端子の電圧定格
及び電流定格以上でなければならない。
適合性は，検査によって確認する。
6
C 1010-2-30：2019
A 交流電流（mA）
B 直流電流（mA）
注記1 この図は，IEC/TS 60479-1:2005の図20及び図22，並びにIEC/TS 60479-2:2007の図20に基づく。
注記2 10 ms未満では，Aの線は，Bの線に重なって伸びている。
図101−電流対作動時間
6.6
外部回路への接続
＜JIS C 1010-1の6.6に次を追加する。＞
6.6.101 測定回路端子
最大定格電圧を機器上の他の測定回路端子に入力した場合に，危険な活電状態になり得るかん（嵌）合
していない測定回路端子の導電性部分は，次によって分離しなければならない。
a) 交流1 000 V又は直流1 500 Vまでの電圧定格をもつ測定回路端子
テストフィンガを最も不利な位置で端子の外部部分に接触したとき（JIS C 1010-1の図1を参照），
最接近部から表101の空間距離及び沿面距離以上。
b) 交流1 000 V又は直流1 500 Vを超える電圧定格をもつ測定回路端子
テストフィンガを最も不利な位置で端子の外部部分に接触したとき，最接近部から空間距離及び沿
面距離に対して2.8 mm以上。
加えて，交流1 000 V又は直流1 500 Vを超える電圧定格をもつ測定回路端子は，テストフィンガを
最も不利な位置で端子の外部部分に接触したとき，最接近部から他の測定回路端子との間に，その端
子の定格電圧の1.25倍に等しい試験電圧を印加する6.8の電圧試験に耐える。
例 実効値4 000 Vの定格電圧に対し，試験電圧は実効値5 000 V（ピーク値7 070 V）である。計算
電流（mA）
10 000
1 000
100
10
1
0.1
t
(
m
s
)
1
10
100
1 000
10 000
A
B
作
動
時
間
（
）
ms
7
C 1010-2-30：2019
による空間距離は，表K.15のD2に従って13.1 mmである。平等電界に対して，より小さい空間
距離値は，試験によって確認することができる（平等電界についての更なる情報は，JIS C 60664-1
を参照）。
表101−交流1 000 V又は直流1 500 Vまでの危険な導電性活電部分がある
測定回路端子に対する空間距離及び沿面距離
端子の導電性部分の電圧（U）
交流実効値及び直流
V
空間距離及び沿面距離
mm
30＜U≦ 300
0.8
300＜U≦ 600
1.0
600＜U≦1 000
2.6
1 000＜U≦1 500 a)
2.8
注記 この表の値は，危険な活電状態の電圧［6.3.1 a)参照］未満の電圧には適用しない。
注a) 直流電圧だけに適用する。
湿った場所に対し，交流実効値16 Vを超え30 V以下，又は直流35 Vを超え60 V以下の電圧に対し，
空間距離及び沿面距離の要求はないが，かん合していない測定回路端子の導電性部分は，接触可能であっ
てはならない。
4 mm端子の推奨寸法に関する情報を，附属書CCに記載する。
適合性は，検査，接触可能部分の判定，該当する空間距離及び沿面距離の測定，並びに該当する場合，
6.8の電圧試験によって確認する。
6.6.102 特定の測定回路端子
ある特定の測定回路端子に接続を意図する部品，センサ及びデバイスは，他の測定回路端子にそれぞれ
の最大定格電圧を印加したとき，正常状態又は単一故障状態のいずれにおいても，接触可能であってはな
らず，危険な活電状態になってはならない。
注記 特定の測定回路端子には，半導体測定用，静電容量測定用及び熱電対ソケット用端子を含む。
ただし，それらに限定しない。
適合性は，検査及び測定によって確認する。特定の測定回路端子に接続する意図の部品，センサ及びデ
バイスを接続し，該当する場合，次の各電圧を他の測定回路端子に入力しても，6.3.1及び6.3.2のレベル
を超えないことを確認するために，6.3の限度値を測定する。
a) あらゆる定格主電源周波数での最大定格交流電圧
b) 最大定格直流電圧
c) 関連する最大定格測定周波数での最大定格交流電圧
6.7.1.3
沿面距離
＜JIS C 1010-1の6.7.1.3の第3段落の後に，新たに次の段落を追加する。＞
主電源又は測定回路のいずれからも給電されない手持形機器に対し，沿面距離は，全ての絶縁材料に対
し，材料グループIによってもよい。
6.7.1.5
回路のタイプによる絶縁要求事項
＜JIS C 1010-1の6.7.1.5の本文を次に置き換える。＞
個別のタイプの回路における絶縁要求事項は，次のように規定する。
8
C 1010-2-30：2019
a) 公称電源電圧300 Vまでの過電圧カテゴリIIの主電源回路に対しては，6.7.2による。
注記1 主電源の公称電圧については，附属書Iを参照する。
b) 変圧器によってa)の回路から分離する二次側回路に対しては，6.7.3による。
c) 過電圧カテゴリIII若しくは過電圧カテゴリIVの主電源回路，又は過電圧カテゴリIIの300 Vを超え
る主電源回路に対しては，K.1による。
d) 変圧器によってc)の回路から分離する二次側回路に対しては，K.2による。
e) 一つ以上の次の特性をもつ回路に対しては，K.3による。
1) 発生する可能性がある最大過渡過電圧を，主電源回路で想定するレベル未満の既知のレベルまで電
源供給源で制限するか，又は機器内で制限する。
2) 発生する可能性がある最大過渡過電圧が，主電源回路で想定するレベルを超えている。
3) 動作電圧が，2回路以上の電圧の和，又は混合電圧である。
4) 動作電圧が，周期的な非正弦波形又は何らかの規則性で起こる非周期的波形をもつ，反復ピーク電
圧を含んでいる。
5) 動作電圧の周波数が，30 kHzを超える。
6) 回路は，測定カテゴリが適用されない測定回路である。
f)
測定カテゴリII，III及びIVの測定回路に対しては，K.101による。
注記2 これらの要求事項は，附属書DDのフローチャートに例示される。
注記3 スイッチング電源のようなスイッチング回路に対する要求事項については，K.3を参照す
る。
注記4 主電源に対して想定される過渡過電圧レベルは，IEC 60364-4-44:2007及びAmendment
1:2015の表443.2に定義される。
7
機械的なハザードに対する保護
機械的なハザードに対する保護は，JIS C 1010-1の箇条7による。
8
機械的ストレスに対する耐性
機械的ストレスに対する耐性は，JIS C 1010-1の箇条8による。
9
火の燃え広がりに対する保護
火の燃え広がりに対する保護は，JIS C 1010-1の箇条9による。
10 機器の温度限度及び耐熱性
機器の温度限度及び耐熱性は，JIS C 1010-1の箇条10による。
11 流体及び外来固形物に起因するハザードに対する保護
流体及び外来固形物に起因するハザードに対する保護は，JIS C 1010-1の箇条11による。
12 レーザを含む放射，音圧及び超音波圧に対する保護
レーザを含む放射，音圧及び超音波圧に対する保護は，JIS C 1010-1の箇条12による。
9
C 1010-2-30：2019
13 漏えい（洩）ガス，漏えい物，爆発及び爆縮に対する保護
漏えい（洩）ガス，漏えい物，爆発及び爆縮に対する保護は，JIS C 1010-1の箇条13による。
14 部品及びサブアセンブリ
部品及びサブアセンブリは，JIS C 1010-1の箇条14によるほか，次による。
＜JIS C 1010-1の箇条14に次を追加する。＞
14.101 主電源の測定に用いる測定回路で，過渡過電圧を制限するために用いる回路
主電源の測定に用いる測定回路に，過渡過電圧の制御を用いている場合は，その過電圧制限部品又は回
路は，起こり得る過渡過電圧を制限するための適切な耐性がなければならない。
適合性は，複合インパルス発生器（IEC 61180-1参照）からの1分以内の間隔をおいた表102の該当す
るインパルス電圧で，正極性5回及び負極性5回のインパルスを印加することによって確認する。発生器
は，出力インピーダンス（ピーク開回路電圧をピーク短絡電流で除したもの）が，測定カテゴリIII及び
IVに対して2 Ω，測定カテゴリIIに対しては12 Ωで，1.2/50 µsの開回路電圧波形及び8/20 µsの短絡電流
波形を発生する。出力インピーダンスを上げる必要がある場合は，抵抗器を直列に追加してもよい。
試験電圧は，正常な使用状態で回路が動作している間に，主電源電圧に重畳して，電圧制限部品又は回
路がある，主電源の測定に用いる端子の各組間に印加する。
主電源電圧は，測定する主電源の最大定格ライン対中性点間電圧である。交流実効値又は直流400 Vを
超える主電源のライン対中性点間電圧を定格とする測定回路に対して，少なくとも交流実効値又は直流
400 Vのライン対中性点間電圧をもつ電圧源で試験を行ってもよい。この場合，電圧源は，測定回路定格
に一致する必要はないが，交流を定格とする回路は交流源で試験し，直流を定格とする回路は直流源で試
験する。
例 測定する主電源の公称ライン対中性点間電圧及びインパルス電圧の例を次に示す。
a) 測定する主電源の公称ライン対中性点間電圧交流実効値300 V，測定カテゴリIIIの場合には，
重畳される主電源電圧が交流実効値300 Vで，インパルス電圧が4 000 Vである。
b) 測定する主電源の公称ライン対中性点間電圧交流実効値1 000 V，測定カテゴリIIIの場合に
は，重畳される主電源電圧が交流実効値400 V〜1 000 Vで，インパルス電圧が8 000 Vであ
る。
注記 この試験は極めて危険である。試験を実施する要員を保護するために，防爆壁及び他の方策を
用いることができる。
過電圧制限部品又は回路は，試験中，破裂してはならず，また，過熱してもならない。試験結果に疑問
があるか又は結論が出せない場合，試験を更に2回繰り返す。
10
C 1010-2-30：2019
表102−インパルス電圧
単位 V
測定する主電源の公称ライン
対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
インパルス電圧
測定カテゴリII
測定カテゴリIII
測定カテゴリIV
U≦
50
500
800
1 500
50＜U≦ 100
800
1 500
2 500
100＜U≦ 150
1 500
2 500
4 000
150＜U≦ 300
2 500
4 000
6 000
300＜U≦ 600
4 000
6 000
8 000
600＜U≦1 000
6 000
8 000
12 000
1 000＜U≦1 500 a)
8 000
10 000
15 000
我が国では，公称電圧が100 Vの場合に，150 Vまでのインパルス電圧を適用する。
注a) 直流電圧だけに適用する。
14.102 プローブアセンブリ及び附属品
JIS C 1010-31の適用範囲内のプローブアセンブリ及び附属品，並びにJIS C 1010-2-32の適用範囲内の
電流センサは，その要求事項を満たさなければならない。
適合性は，検査によって確認する。
15 インタロックによる保護
インタロックによる保護は，JIS C 1010-1の箇条15による。
16 用途に起因するハザード
用途に起因するハザードは，JIS C 1010-1の箇条16による。
17 リスクアセスメント
リスクアセスメントは，JIS C 1010-1の箇条17による。
＜JIS C 1010-1に次を追加する。＞
101 測定回路
101.1 一般
機器は，次に示すように，測定回路の正常な使用及び合理的に予見可能な誤使用に起因するハザードに
対する保護を備えなければならない。
a) ハザードになり得る場合は，電流測定回路は，レンジの切り替え中，又は内部保護のない変流器の使
用中に，被測定電流を中断しない（101.2参照）。
b) あらゆる設定可能な機能及びレンジで，端子の仕様範囲内である電気的な量をその端子又は他の互換
性のあるあらゆる端子に印加したとき，ハザードにならない（101.3参照）。
c) 機器とその機器で用いることを意図した他のデバイス又は附属品との間のあらゆる相互接続は，文書
又は表示がその相互接続を禁じていても，その機器を測定目的で使用している間は，ハザードになら
ない（6.6参照）。
d) 一つ以上の機能接地端子がある測定回路に対し，保護導体端子を外してその機器を動作させ，かつ，
11
C 1010-2-30：2019
操作者が意図せずに機能接地端子に他の端子のための定格電圧を接続した場合に，起こり得るハザー
ドをリスクアセスメント（箇条16及び箇条17参照）によって対応する。
注記 オシロスコープ及びスペクトラムアナライザは，測定回路に機能接地端子が付いていること
がある機器の例である。機能接地端子を接地電位から浮かすことができるように，操作者は
保護導体端子を外すことがよくある。これによって操作者はフローティング測定ができるが
ハザードを招く。その状態で操作者が不注意に機能接地端子を危険な活電電圧に接続した場
合，その測定機器のシャシも危険な活電電圧に接続することになり，操作者又は近くにいる
人がシャシから感電することがある。
e) 電圧測定機能の測定回路端子に印加される一時的過電圧又は過渡過電圧は，ハザードにならない
（101.4参照）。
f)
合理的に予見可能な誤使用で起こり得る他のハザードを，リスクアセスメント（箇条16及び箇条17
参照）によって対応する。
適合性は，6.6，箇条16，箇条17，101.2，101.3及び101.4の該当する規定に従って確認する。
101.2 電流測定回路
電流測定回路は，レンジを切り換えた場合に，ハザードになる中断が発生しないように設計しなければ
ならない。
適合性は，検査，及び疑わしい場合には，切換えデバイスで最大定格電流を6 000回切り換えることに
よって，確認する。
内部保護のない変流器への接続を意図した電流測定回路は，操作中に電流測定回路の中断からハザード
になることを防止するために，適切に保護しなければならない。
適合性は，最大定格電流の10倍で1秒間の過負荷試験，及び該当する場合，その機器で最大定格電流を
6 000回切り換えることによって確認する。試験中に，ハザードになり得るいかなる中断もあってはならな
い。
101.3 入力とレンジとの誤った組合せに対する保護
101.3.1 一般
正常状態及び合理的に予見可能な誤使用の場合は，機能とレンジとの設定のあらゆる組合せで，測定回
路端子の最大定格電圧又は最大定格電流が，その端子又は他の互換性のあるあらゆる端子に印加されたと
き，いかなるハザードも生じてはならない。
注記 入力とレンジとの誤った組合せは，たとえ文書又は表示がそのような誤使用を禁じていても，
合理的に予見可能な誤使用の例である。典型的な例は，電流用又は抵抗用の測定入力に高電圧
を不注意に接続することである。起こり得るハザードには，感電，やけど，発火，アーク，爆
発などがある。
明らかに類似の種類ではない端子，及びプローブ又は附属品のコネクタを保持しない端子は，試験する
必要はない。工具を用いてだけアクセスできる端子は，試験する必要はない。
機器は，ハザードに対する保護を備えなければならない。次のいずれかの方法を用いなければならない。
a) ハザードが生じる前に短絡電流を遮断するために，認証された過電流保護デバイスを用いる。この場
合は，101.3.2の要求事項及び試験を適用する。
b) ハザードが生じるのを防止するために，認証されていない電流制限デバイス，インピーダンス又は両
者の組合せを用いる。この場合は，101.3.3の要求事項及び試験を適用する。
適合性は，検査，機器の設計評価，並びに該当する場合には，101.3.2及び101.3.3によって確認する。
12
C 1010-2-30：2019
101.3.2 認証された過電流保護デバイスによる保護
次の全ての要求事項を満たしている場合で，独立した機関が認証している過電流保護デバイスは，適切
であるとみなす。
a) 過電流保護デバイスの交流定格電圧及び直流定格電圧は，その機器のあらゆる測定回路端子の最大定
格交流電圧及び最大定格直流電圧と，同等以上の大きさである。
b) 過電流保護デバイスの定格時間−電流特性（応答速度）は，定格入力電圧，端子及びレンジ選択の起
こり得る組合せで，ハザードを発生させないものである。
注記 実際には，保護される部品及びプリント配線板の配線のような回路部品は，過電流保護デバ
イスを通過するエネルギーに耐えることができるように選択する。
c) 過電流保護デバイスの交流及び直流定格遮断容量は，それぞれ起こり得る交流及び直流短絡電流より
も大きい。
起こり得る交流及び直流短絡電流は，あらゆる端子に対する最大定格電圧を過電流保護された測定
回路のインピーダンスで除すことによって計算する。このとき，101.3.4によるテストリードのインピ
ーダンスも考慮する。
測定カテゴリII及びIIIに対して，起こり得る交流短絡電流は，表AA.1の該当する値を超える必要
はない。
さらに，機器内の過電流保護デバイス及びそれに続く測定回路内の保護デバイスの周囲には，保護デバ
イスが開放になった後にアークを防止するのに十分に大きい空隙がなければならない。
適合性は，過電流保護デバイスの定格の検査及び次の試験によって確認する。
保護デバイスがヒューズである場合には，それを開回路になったヒューズで置き換える。保護デバイス
が回路遮断器である場合には，回路遮断器をその開位置にセットする。あらゆる端子に対する最大定格電
圧の2倍の電圧を，過電流保護された測定回路の端子に1分間印加する。試験中及び試験後に，機器は，
いかなる損傷も生じてはならない。
101.3.3 認証されていない電流制限デバイス又はインピーダンスによる保護
電流制限用に用いるデバイスは，正常状態及び合理的に予見可能な誤使用の場合における，あらゆる互
換性がある端子の最大定格電圧を印加することで生じるエネルギーに耐え，消費し，又は遮断することが
安全にできなければならない。
電流制限用に用いるインピーダンスは，次の一つ以上を満たさなければならない。
a) 関連するハザードに対する保護の安全性及び信頼性が保証されるように，構成，選択，かつ，試験し
てある適切な単一部品。特に，その部品は，次の該当する全てを満たす部品である。
1) 正常状態又は合理的に予見可能な誤使用中に発生し得る最大電圧に対する定格を満たす。
2) 抵抗の場合は，正常状態又は合理的に予見可能な誤使用から生じ得る電力消費又はエネルギー消費
の2倍の定格を満たす。
3) 部品の端子間は，附属書Kの該当する基礎絶縁の空間距離及び沿面距離に対する要求を満たす。
b) 次の全てを満たす部品の組合せである。
1) 正常状態又は合理的に予見可能な誤使用中に発生し得る最大電圧に耐える。
2) 正常状態又は合理的に予見可能な誤使用から生じ得る電力又はエネルギーを消費できる。
3) 部品の組合せの終端間は，附属書Kの該当する基礎絶縁の空間距離及び沿面距離に対する要求を満
たす。
注記1 空間距離及び沿面距離は，各絶縁に加わる動作電圧を考慮する。
13
C 1010-2-30：2019
適合性は，検査及び次の試験によって確認し，試験は装置の同一ユニットに対し3回実施する。試験の
結果，いずれかの部品の温度が上昇した場合には，試験を繰り返す前にその部品を冷却してもよい。電流
制限用に用いるデバイスが損傷した場合には，試験を繰り返す前にそのデバイスを交換する。
起こり得る交流及び直流短絡電流は，それぞれの端子に対する最大定格電圧を電流制限する測定回路の
インピーダンスで除することによって計算する。このとき，101.3.4によるテストリードのインピーダンス
を考慮する。測定カテゴリII及びIIIに対して，起こり得る交流短絡電流は，表AA.1の値を超えないこと
が望ましい。
あらゆる端子における最大定格電圧に等しい電圧を，測定回路端子間に1分間印加する。試験電圧源は，
流れることがある該当する交流又は直流短絡電流以上を供給できなければならない。機能又はレンジの設
定が入力回路の電気的特性に何らかの影響を与える場合には，機能とレンジとの設定のあらゆる組合せで
試験を繰り返す。試験中，試験電圧源の電圧出力を測定する。10 msを超えて試験電圧源の電圧が20 %よ
りも大きく低下する場合には，試験の結論を出さず，より低いインピーダンスの試験電圧源で試験を繰り
返す。
試験中及び試験後に，いかなるハザードも生じてはならず，また，感電，発熱，アーク又は発火に対し
保護するための，インピーダンス制限デバイス，並びに外装及びプリント配線板の配線を含めた他のあら
ゆる部品は，発火，アーク，爆発又は損傷の痕跡があってはならない。
注記2 この試験は極めて危険である。試験を実施する要員を保護するために，防爆壁及び他の方策
を用いることができる。
101.3.4 101.3.2及び101.3.3の試験のためのテストリード
101.3.2及び101.3.3の試験は，機器に含まれているか又はその機器とともに使用するために製造業者が
提供する全てのテストリードで実施し，また，製造業者が指定していない場合は，次の全ての仕様を満た
すテストリードを用いる。
a) 長さ：1 m
b) 導体の断面積：1.5 mm2の銅より線
注記1 16 AWG（American Wire Gauge）の断面積の導体は許容できる。
c) 測定回路端子と互換性がある機器コネクタ
d) 適切なねじ端子，はめ筒コネクタ（ツイストオンコネクタ）又は低インピーダンス接続を備えた同等
の手段による試験電圧源への接続
e) 可能な限り真っすぐにしたもの
注記2 これらの仕様に合うテストリードは，1本当たり約15 mΩ，又は1対当たり約30 mΩの直
流抵抗になる。101.3.2及び101.3.3で起こり得る故障電流の計算のため，テストリードのイ
ンピーダンスとして30 mΩを用いることができる。
製造業者が提供するテストリードを機器に永続的に接続してある場合には，製造業者が提供する附属の
テストリードを改造せずに用いる。
101.4 主電源の過電圧に対する保護
アークせん（閃）光又は発火に対する保護を確実にするために，主電源電圧の測定を定格とした測定回
路は，主電源に接続した異極の導電性部分間において，少なくとも基礎絶縁に相当する空間距離及び沿面
距離をもたなければならない。
適合性は，検査及び測定によって確認する。
測定カテゴリIII又はIVを定格とする電圧測定回路の測定回路端子は，電圧測定機能のセレクタを適切
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C 1010-2-30：2019
な機能及びレンジに設定して，ハザードを引き起こす可能性がある損傷なく，表K.106の該当する過渡過
電圧に耐えなければならない。
適合性は，表102の該当するインパルス電圧を用いて，次のインパルス電圧試験によって確認する。
測定カテゴリIII又はIVを定格とする各対の端子間に，インパルス電圧を印加する。インパルス電圧試
験は，複合インパルス発生器（IEC 61180-1参照）からの1分以内の間隔をおいた5回のインパルスを各
極性で印加する。発生器は，出力インピーダンス（ピーク開回路電圧をピーク短絡電流で除したもの）が，
測定カテゴリIII及びIVに対して2 Ωで，1.2/50 μsの開回路電圧波形及び8/20 μsの短絡電流波形を発生す
る。出力インピーダンスを上げる必要がある場合は，抵抗器を直列に追加してもよい。
インパルス電圧は，その回路が正常な使用状態下で動作している間に，主電源電圧に重畳させて印加す
る。
試験のために用いる主電源電圧は，測定する主電源の最大定格ライン対中性点間電圧である。交流実効
値又は直流400 Vを超える主電源ライン対中性点間電圧を定格とする測定回路に対して，少なくとも交流
実効値又は直流400 Vのライン対中性点間電圧をもつ利用可能な主電源電圧源で試験を行ってよい。この
場合，主電源電圧源は，測定回路定格に一致する必要はないが，交流を定格とする回路は交流源で試験し，
直流を定格とする回路は直流源で試験する。
注記1 この試験は極めて危険である。試験を実施する要員を保護するために，防爆壁及び他の方策
を用いることができる。
インパルス電圧試験によって機器内の空間距離を検証するとき，規定のインパルス電圧が確実にその空
間距離にかかっていることを確認する必要がある。
各インパルスの波形を，観測する（注記2参照）。インパルス電圧波形のひずみが，変化なく繰り返し起
こる場合は，固体絶縁の（部分）破壊を示すものではなく，過電圧制限デバイスの動作に起因している可
能性がある。
試験中，空間距離でのフラッシュオーバ及び固体絶縁の絶縁破壊が起きてはならないが，部分放電は許
容する。部分放電は，連続するインパルス波の比較的早い時点で発生し，試験中の各波形のある階段的な
ひずみとして現れる。最初のインパルスでの絶縁破壊は，絶縁システムの完全な故障か，又は機器内の過
電圧制限デバイスの動作のいずれかを示すものと考える。過電圧制限デバイスがある場合，それらは，試
験中，破壊してはならず，また，過熱もしてはならない。試験結果に疑問があるか，結論が出せない場合，
試験を更に2回繰り返す。
注記2 ボイドでの部分放電は，各インパルス波形内で繰り返される極端に持続時間の短い部分的な
ノッチ（切込み）になることがある。
101.5 オーバレンジの表示
機器に表示した数値（例えば，電圧）を操作者が信頼することによってハザードになり得る場合には，
機器の設定したレンジの正の最大値を超える数値，又は負の最小値未満の数値のいずれでも，表示器には
曖昧さのないように表示しなければならない。
注記 別個の明瞭なオーバレンジ値表示がない限り，曖昧になる表示の例を次に示す。
a) レンジの上下限の位置にストッパが付いたアナログメータ
b) 真の値がレンジの最大値を超えたときに低い値を示すディジタルメータ（例えば，1 001.5 V
を001.5 Vと表示する。）
c) 真の値がレンジの最大値より高いときでも，レンジの最大値である記録紙の端で線を記録
するチャートレコーダ
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適合性は，検査，及びオーバレンジの状態を発生させて確認する。
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附属書
附属書は，JIS C 1010-1の附属書によるほか，次による。
附属書K
（規定）
6.7で対象となっていない絶縁についての要求事項
K.3 6.7，K.1及びK.2に規定していない回路の絶縁
＜JIS C 1010-1のK.3のタイトルを次に置き換える。＞
K.3 6.7，K.1，K.2及びK.101に規定していない回路，並びに測定カテゴリが適用されない測定回路に対
する絶縁
K.3.1 一般
＜JIS C 1010-1のK.3.1の本文を次に置き換える。＞
回路は，次の一つ以上の特性がある。
a) 発生する可能性がある最大過渡過電圧を，主電源回路で想定するレベル未満の既知のレベルまで電源
供給源で制限するか，又は機器内（K.4参照）で制限する。
b) 発生する可能性がある最大過渡過電圧が，主電源回路で想定するレベルを超えている。
c) 動作電圧が，2回路以上の電圧の和，又は混合電圧である。
d) 動作電圧が，周期的な非正弦波形，又は何らかの規則性で起こる非周期的波形をもつ，反復ピーク電
圧を含んでいる。
e) 動作電圧の周波数が，30 kHzを超える。
f)
回路は，測定カテゴリが適用されない測定回路である。
a)〜c)及びf)の場合，基礎絶縁及び補強絶縁に対する空間距離は，K.3.2に従って決める。
d)及びe)の場合，空間距離は，K.3.3に従って決める。
全ての場合，K.3.4で沿面距離を，K.3.5で固体絶縁を規定している。
注記 これらの要求事項を，附属書DDのフローチャートに例示する。
＜JIS C 1010-1の附属書Kに次を追加する。＞
K.101 測定カテゴリII，III及びIVの測定回路に対する絶縁についての要求事項
K.101.1 一般
測定回路は，測定又は試験中に接続する回路から，動作電圧及び過渡ストレスを受ける。主電源の測定
に測定回路を用いる場合，過渡ストレスは，設備内の測定を行う場所によって見積もることができる。他
の電気的信号を測定するのに測定回路を用いる場合は，過渡ストレスが測定機器の能力を超えないことを
確実にするように，測定の際には過渡ストレスを考慮する必要がある。
測定回路を主電源に接続して用いる場合は，アークせん光爆発のリスクがある。測定カテゴリは，有効
エネルギー量を規定するが，これはアークせん光の規模に影響を及ぼす。アークせん光が起こり得る状況
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C 1010-2-30：2019
では，アークせん光からの衝撃及びやけどに関するハザードを減少させるために，製造業者が特定する付
加的予防策を使用者文書に記載することが望ましい（附属書AA及び附属書BB参照）。
K.101.2 空間距離
被測定回路から電力の供給を受ける意図の機器に対し，主電源回路の空間距離は，定格測定カテゴリの
要求事項に従って設計しなければならない。ただし，より低い測定カテゴリに一致するレベルに過渡過電
圧を軽減するために，過電圧制限デバイスを用いてもよい（K.102参照）。追加の表示要求は，5.1.5.2及び
5.1.5.101である。
測定カテゴリII，III及びIVの測定回路に対する空間距離は，表K.101による。
注記1 主電源の公称電圧は，附属書Iを参照する。
2 000 mを超える高度で動作する定格の機器の場合は，空間距離は，表K.1の該当する係数を乗じる。
基礎絶縁，補強絶縁及び強化絶縁に対する最小空間距離は，汚染度2で0.2 mm，汚染度3で0.8 mmと
する。
注記2 他の測定回路に対する空間距離は，K.3に従って計算する。
表K.101−測定カテゴリII，III及びIVの測定回路に対する空間距離
測定する主電源の公称ラ
イン対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
V
空間距離 mm
基礎絶縁及び補強絶縁
強化絶縁
測定カテゴリ
II
測定カテゴリ
III
測定カテゴリ
IV
測定カテゴリ
II
測定カテゴリ
III
測定カテゴリ
IV
U≦ 50
0.04
0.1
0.5
0.1
0.3
1.5
50＜U≦ 100
0.1
0.5
1.5
0.3
1.5
3.0
100＜U≦ 150
0.5
1.5
3.0
1.5
3.0
6.0
150＜U≦ 300
1.5
3.0
5.5
3.0
5.9
10.5
300＜U≦ 600
3.0
5.5
8
5.9
10.5
14.3
600＜U≦1 000
5.5
8
14
10.5
14.3
24.3
1 000＜U≦1 500 a)
8
11
18
14.3
19.4
31.4
我が国では，公称電圧が100 Vの場合に，150 Vまでの空間距離を適用する。
注a) 直流電圧だけに適用する。
適合性は，検査及び測定，又は要求する空間距離に対する表K.16の該当する試験電圧を用いた5秒以
上の6.8.3.1の交流電圧試験，6.8.3.3のインパルス電圧試験，若しくは直流だけのストレスを受ける測定回
路に対して，5秒以上の6.8.3.2の直流電圧試験によって確認する。直流試験電圧は，交流実効値試験電圧
に2を乗じた値とする。
K.101.3 沿面距離
K.2.3の要求事項を適用する。
適合性は，K.2.3によって確認する。
K.101.4 固体絶縁
K.101.4.1 一般
固体絶縁は，全ての定格環境条件（1.4参照）において，機器の意図する寿命まで正常な使用で起こり得
る電気的及び機械的ストレスに耐えなければならない。
製造業者は，絶縁材料の選択時に，機器の期待寿命を考慮することが望ましい。
適合性は，次の両方の試験によって確認する。
18
C 1010-2-30：2019
a) 表K.102〜表K.104の該当する試験電圧を用いた5秒以上の6.8.3.1の交流電圧試験，6.8.3.3のインパ
ルス電圧試験，又は直流だけのストレスを受ける測定回路に対して，5秒以上の6.8.3.2の直流電圧試
験。
直流試験電圧は，交流実効値試験電圧に2を乗じた値とする。
b) 表K.105の該当する試験電圧を用いた1分以上の6.8.3.1の交流電圧試験，又は直流だけのストレスを
受ける測定回路に対して，6.8.3.2の1分以上の直流電圧試験。
注記 試験a)は，過渡過電圧の影響を確認し，試験b)は，固体絶縁の長期ストレスの影響を確認す
る。
固体絶縁は，該当する場合には，次の要求事項も満たさなければならない。
1) 外装又は保護用バリアとして用いる固体絶縁は，箇条8の要求事項
2) 成型部分及び含浸部分は，K.101.4.2の要求事項
3) プリント配線板の絶縁層は，K.101.4.3の要求事項
4) 薄膜絶縁は，K.101.4.4の要求事項
適合性は，該当する場合には，K.101.4.2〜K.101.4.4，及び箇条8によって確認する。
表K.102−測定カテゴリIIの測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧
単位 Ｖ
測定する主電源の公称ライン
対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
試験電圧
5秒間交流電圧試験
実効値
インパルス電圧試験
ピーク値
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
U≦ 150
840
1 390
1 550
2 500
150＜U≦ 300
1 390
2 210
2 500
4 000
300＜U≦ 600
2 210
3 510
4 000
6 400
600＜U≦1 000
3 310
5 400
6 000
9 600
1 000＜U≦1 500 a)
4 260
7 400
8 000
12 800
注a) 直流電圧だけに適用する。
表K.103−測定カテゴリIIIの測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧
単位 V
測定する主電源の公称ライン
対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
試験電圧
5秒間交流電圧試験
実効値
インパルス電圧試験
ピーク値
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
U≦ 150
1 390
2 210
2 500
4 000
150＜U≦ 300
2 210
3 510
4 000
6 400
300＜U≦ 600
3 310
5 400
6 000
9 600
600＜U≦1 000
4 260
7 400
8 000
12 800
1 000＜U≦1 500 a)
5 330
9 250
10 000
16 000
注a) 直流電圧だけに適用する。
19
C 1010-2-30：2019
表K.104−測定カテゴリIVの測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧
単位 V
測定する主電源の公称ライン
対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
試験電圧
5秒間交流電圧試験
実効値
インパルス電圧試験
ピーク値
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
U≦ 150
2 210
3 510
4 000
6 400
150＜U≦ 300
3 310
5 400
6 000
9 600
300＜U≦ 600
4 260
7 400
8 000
12 800
600＜U≦1 000
6 600
11 940
12 000
19 200
1 000＜U≦1 500 a)
8 250
14 930
15 000
24 000
注a) 直流電圧だけに適用する。
表K.105−測定回路における固体絶縁の長期間ストレスを試験するための電圧
単位 V
測定する主電源の公称ライン
対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
試験電圧
1分間交流電圧試験
実効値
1分間直流電圧試験
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
基礎絶縁及び
補強絶縁
強化絶縁
U≦ 150
1 350
2 700
1 900
3 800
150＜U≦ 300
1 500
3 000
2 100
4 200
300＜U≦ 600
1 800
3 600
2 550
5 100
600＜U≦1 000
2 200
4 400
3 100
6 200
1 000＜U≦1 500 a)
−
−
3 200
6 400
注a) 直流電圧だけに適用する。
K.101.4.2 成型部分及び含浸部分
基礎絶縁，補強絶縁及び強化絶縁のために，一体成型した同じ二つの層間にある導体は，成型した後，
表K.9の該当する最小距離以上で分離しなければならない（図K.1のL参照）。
適合性は，検査，及び分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。
K.101.4.3 プリント配線板の絶縁層
基礎絶縁，補強絶縁及び強化絶縁のために，同じ二つの層間にある導体は，表K.9の該当する最小距離
以上で分離しなければならない（図K.2のL参照）。
適合性は，検査，及び分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。
プリント配線板の絶縁層の強化絶縁は，それぞれの層に，適切な電気的強度がなければならない。次の
いずれかの方法を用いなければならない。
a) 絶縁の厚さは，表K.9の該当する値以上である。
適合性は，検査，及び分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。
b) 絶縁は，プリント配線板材料の二つ以上の分離層で構成し，各分離層の電気的強度に対する材料製造
業者による定格は，表K.102〜表K.104の基礎絶縁に対する該当する試験電圧以上である。
適合性は，製造業者の仕様の検査によって確認する。
c) 絶縁は，プリント配線板材料の二つ以上の分離層で構成し，組み合わせた分離層の電気的強度に対す
20
C 1010-2-30：2019
る材料製造業者による定格は，表K.102〜表K.104の強化絶縁に対する該当する試験電圧以上である。
適合性は，製造業者の仕様の検査によって確認する。
K.101.4.4 薄膜絶縁
基礎絶縁，補強絶縁及び強化絶縁のために，同じ二つの層間にある導体は，K.101.2及びK.101.3の該当
する空間距離及び沿面距離以上で分離しなければならない（図K.3のL参照）。
適合性は，検査，及び分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。
薄膜絶縁の層からなる強化絶縁は，適切な電気的強度がなければならない。次のいずれかの方法を用い
なければならない。
a) 絶縁の厚さは，表K.9の該当する値以上である。
適合性は，検査，及び分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。
b) 絶縁は，薄膜材料の二つ以上の分離層で構成し，各分離層の電気的強度に対する材料製造業者による
定格は，表K.102〜表K.104の基礎絶縁に対する該当する試験電圧以上である。
適合性は，製造業者の仕様の検査によって確認する。
c) 絶縁は，薄膜材料の三つ以上の分離層で構成し，いずれの二つの組合せの分離層も，適切な電気的強
度を示すために試験してある。
適合性は，表K.102〜表K.104の強化絶縁に対する該当する試験電圧を，二つの層に印加する1分
間の6.8.3.1の交流電圧試験によって確認する。
この試験の目的のために，材料を二層で構成する特別なサンプルを用いてもよい。
K.102 過電圧制限デバイスの使用による過渡過電圧の低減
回路又は部品の組合せで回路内の過渡過電圧を制限することがある。このような用途に使用できる部品
には，バリスタ及びガス封入サージアレスタを含む。
過電圧制限デバイス又は回路が，それに続く回路の空間距離を短縮できるように，過渡過電圧を低減す
ることを意図している場合に，次の両方の観点を考慮して，リスクアセスメント（箇条17参照）を行わな
ければならない。
a) 回路は，単一故障状態下でも，過渡過電圧を設計によってより低い電圧値に減じる。
単一故障状態には，MOV（金属酸化物バリスタ）の短絡及び開放を含む。
b) 回路は，繰返しの過渡過電圧に耐えた後でも，意図するように動作する。
測定カテゴリ及び測定する主電源電圧に従って発生し得る最大過渡過電圧は，表K.106を参照する。
適合性は，リスクが除去されたか，又は許容可能なリスクだけが残っているかを確実にするために，リ
スクアセスメント文書の評価によって確認する。
21
C 1010-2-30：2019
表K.106−最大過渡過電圧
単位 Ｖ
測定する主電源の公称ライ
ン対中性点間電圧（U）
交流実効値又は直流
最大過渡過電圧
ピーク値
測定カテゴリII a)
測定カテゴリIII a)
測定カテゴリIV a)
U≦ 50
500
800
1 500
50＜U≦ 100
800
1 500
2 500
100＜U≦ 150
1 500
2 500
4 000
150＜U≦ 300
2 500
4 000
6 000
300＜U≦ 600
4 000
6 000
8 000
600＜U≦1 000
6 000
8 000
12 000
1 000＜U≦1 500 b)
8 000
10 000
15 000
我が国では，公称電圧が100 Vの場合に，150 Vまでの最大過渡過電圧を適用する。
注a) 測定カテゴリII，III及びIVは，交流実効値1 000 V及び直流1 500 Vまでの主電源の測定にだ
け適用する。
b) 直流電圧だけに適用する。
22
C 1010-2-30：2019
附属書L
（参考）
定義した用語の索引
＜次の用語をリストに追加する。＞
測定カテゴリ（measurement category） ··············································································· 3.5.101
23
C 1010-2-30：2019
＜JIS C 1010-1の附属書に次の附属書AA及び附属書BBを追加する。＞
附属書AA
（規定）
測定カテゴリ
AA.1 一般
この規格の目的のために，次の測定カテゴリを用いる。測定カテゴリは，JIS C 60664-1及びJIS C 1010-1
の附属書Kに従う過電圧カテゴリ，又はIEC 60364-4-44:2007及びAmendment 1:2015に従う定格インパル
ス電圧（過電圧カテゴリ）の分類と同一ではない。
測定カテゴリは，主電源における測定場所に基づく。
注記 JIS C 60664-1，並びにIEC 60364-4-44:2007及びAmendment 1:2015のカテゴリは，主電源内で
用いられる構成部材及び機器の絶縁協調を達成するために作成されている。
AA.2 測定カテゴリ
AA.2.1 測定カテゴリII
測定カテゴリIIは，主電源設備の使用点（コンセント及び類似の箇所）に直接接続する試験回路又は測
定回路に適用する（表AA.1及び図AA.1参照）。
例 家電製品，携帯器具及び類似の機器の主電源回路の測定，並びに固定設備に設けられたコンセン
トの消費者が触れる側だけでの測定。
AA.2.2 測定カテゴリIII
測定カテゴリIIIは，建造物の主電源設備の配電部分に接続する試験回路又は測定回路に適用する（表
AA.1及び図AA.1参照）。
大きな短絡電流から生じるハザードに起因するリスクを回避するために，追加の絶縁及び他の装備を必
要とする。
固定設備の一部である機器に対し，その設備のヒューズ又は回路遮断器は，短絡電流に対して適切な保
護を提供するとみなす。
例 固定設備での配電盤（二次側メータを含む。），光発電パネル，回路遮断器，配線，付帯するケー
ブル，バスバー，接続ボックス，スイッチ及びコンセントでの測定，並びに，固定設備に永続接
続する産業用機器及び据付けのモータのような他の機器での測定。
AA.2.3 測定カテゴリIV
測定カテゴリIVは，建造物の主電源設備の供給源に接続する試験回路又は測定回路に適用する（表AA.1
及び図AA.1参照）。
この回路は，潜在的な短絡電流が大きいため，測定を行うときに起こり得るいかなる偶発的な短絡も，
近くにいる人に極めて危険である，高エネルギーレベルのアークせん光を発生し得る。あらゆる短絡の危
険を回避するために，細心の予防措置を講じなければならない。
例 建造物設備内の主電源ヒューズ又は回路遮断器の前に設置されたデバイスにおける測定。
AA.2.4 測定カテゴリ定格のない測定回路
多くの試験回路又は測定回路は，主電源に直接接続するようになっていない。測定回路には非常に低い
エネルギーへの使用を意図したものもあるが，それら以外の測定回路は，大きい短絡電流又は高い開放電
24
C 1010-2-30：2019
圧のために，非常に大きな有効エネルギーを受けるおそれがある。測定回路に対し規定された標準的な過
渡レベルはない。絶縁要求事項及び短絡電流要求事項を決めるために，測定回路における動作電圧，ルー
プインピーダンス，一時的過電圧及び過渡過電圧の分析が必要となる。
例 熱電対測定回路，高周波測定回路，自動車テスタ，装置を主電源に接続する前に主電源設備の特
性を測定するために用いるテスタ類。
O
：測定カテゴリのない測定回路
CAT II
：測定カテゴリII
CAT III
：測定カテゴリIII
CAT IV ：測定カテゴリIV
図AA.1−測定回路の場所を特定するための例
表AA.1−測定カテゴリの特性
測定カテゴリ
短絡電流（代表値）
kA a)
建造物設備の場所
II
＜10
主電源のコンセント及び主電源設備の類似の箇所
に接続する回路
III
＜50
建造物の主電源配電の部分
IV
50＜
建造物の主電源設備の供給源
注a) ループインピーダンス（設置インピーダンス）の値は，試験リードの抵抗及び測定機器内部のイン
ピーダンスを考慮しない。短絡電流は，設備の特性によって変化する。
25
C 1010-2-30：2019
附属書BB
（参考）
特定の環境下で実施する測定に起因するハザード
BB.1 一般
この附属書は，特定の環境下で電気的な量を測定することを意図する機器に対して考慮することが望ま
しいハザードについて，機器の製造業者にガイドを提供するものである。この附属書のハザードが，全て
を網羅したものであるとみなしてはならない。他のハザードは，特定の環境及び他の環境で間違いなく存
在する。
BB.2 主電源回路
BB.2.1 一般
試験回路又は測定回路は，測定又は試験中に接続する回路から動作電圧及び過渡ストレスを受ける。主
電源の測定に測定回路を用いる場合は，測定を行う設備内の場所によって，過渡ストレスを推定すること
ができる。
活電状態の主電源の測定に測定回路を用いる場合は，アーク爆風のリスクがある。測定カテゴリ（附属
書AA参照）は，アークせん光に与える有効エネルギー量を規定している。アークせん光が起こり得る場
合には，取扱説明書では，アークせん光からの衝撃及びやけどに関するハザードを軽減するために付加的
予防策を指定する必要がある。
BB.2.2 感電
主電源回路は，感電のハザードになる。電圧及び電流は許容レベル（6.3参照）を超え，かつ，測定を行
うために，回路への接近が通常，必要になる。製造業者は，操作者に感電のハザードを知らせる適切な情
報を提供し，この規格及び他の関連規格（例えば，電圧プローブアセンブリに対するJIS C 1010-31）の設
計要求事項を満たすことを保証することが望ましい。
BB.2.3 アーク爆風
アークせん光は，プローブチップ又は低インピーダンス測定回路のような導体が一時的に二つの高エネ
ルギー導体を橋絡し，次に離すか又は取り去るときに起こる。これが，空気をイオン化するアークになり
得る。イオン化した空気は導電性であり，導体の近傍で継続して電流が流れる。
アーク爆風は，操作者及び近くにいる他の人々に主たるリスクとなる，かなりの量の非常に熱い空気，
及び溶融した金属小片又は気化した金属小片を（活性化している導体から）放出する可能性がある。
十分な有効エネルギーがある場合には，空気のイオン化は広がり続け，空気中を流れる電流は増え続け
る。その結果は爆発に似ており，操作者又は近くにいる人を重傷又は死に至らしめるおそれがある。アー
クせん光を引き起こすおそれのある電圧及びエネルギーレベルについては，附属書AAの測定カテゴリの
記載を参照する。
BB.3 やけど
二つの高エネルギーの導体を接続するどのような導電性の物品（例えば，装飾金属のような）も，その
導電性の物品を介して流れる電流で熱くなるおそれがある。これは，その導電性の物品付近の皮膚にやけ
どをもたらし得る。
26
C 1010-2-30：2019
BB.4 電気通信網
電気通信網に継続的に存在する電圧及び電流は，危険な活電状態とみなされるレベル未満である。しか
し，リング電圧（受話器が着呼の合図を示すために電気通信線に重畳する電圧）は，通常は交流90 V近辺
であり，危険な活電状態とみなされる。着呼中に，技術者がその導体に接触する場合には，その技術者は
感電し得る。
EN 41003は，電気通信網に接続する機器に対する安全要求事項を規定している。それは，電気通信導体
への接触による感電の可能性を取り扱っており，コネクタによる接近制限によって，リスクは無視できる
レベルまで軽減すると結論付けている。しかし，試験又は測定の過程で導体が完全に接触可能になってい
る場合には，感電の可能性がある。
電気通信網の試験又は測定のために用いられる機器の製造業者は，リング電圧のハザードを知り，ハザ
ードを軽減する適切な方法（可能な場合は，その導体への接近制限による。他の場合は，操作者に対する
適切な指示及び警告による。）を採ることが望ましい。危険な活電電圧で用いられる電圧プローブに対しバ
リアを規定するJIS C 1010-31も参照する。
BB.5 誘導性回路における電流測定
電流測定デバイスを誘導性回路に直列に挿入する場合は，その回路が突然，開回路になったとき（例え
ば，プローブが離れ落ちる又はヒューズが溶断する。），ハザードになるおそれがある。そのような突然の
出来事は，回路の意図しない開放で，その部分間に誘導性電圧スパイクを生じさせる。このスパイクは，
回路の動作電圧の大きさの何倍にもなり，かつ，絶縁破壊又は操作者に感電をもたらす可能性がある。
製造業者は，電流測定デバイスを誘導性回路に直列に用いない，又は直列に用いることが必要な場合に
は，電圧スパイクによる感電のハザードを緩和するために予防策を採ることを確実にするための指示を操
作者に提供することが望ましい。
BB.6 電池で駆動する回路
電池は，電池又は電池に関連する回路の試験者への電気的ハザード，爆発のハザード及び火災のハザー
ドになり得る。予備電源用又はモータを動作するために用いる電池が，その例である。
感電のハザード，電池の端子間の短絡による爆発のハザード又は充電サイクル中に電池から放出したガ
スへのアーク着火による爆発のハザードが生じるおそれがある。
BB.7 高い周波数での測定
測定機器には，被測定回路への接続が誘導性結合によるものがある。誘導性結合を用いる幾つかの電流
プローブの例については，JIS C 1010-2-32を参照する。この場合の測定回路の動作は，被測定信号の周波
数に依存する。設計よりも高い周波数を測定するために測定デバイスを用いる場合は，流れる電流は，測
定デバイスの幾つかの導電性部分の非常な発熱を引き起こし得る。
製造業者は，そのようなデバイスの使用に対する適切な指示を提供することが望ましい。
BB.8 機能接地端子付きの測定回路を用いる測定
オシロスコープ及びスペクトラムアナライザは，測定回路に機能接地端子が付いていることがある機器
の例である。合理的に予見可能な誤使用の例として，機能接地端子を接地電位から浮かすことができるよ
うに，操作者は保護接地端子を外すことがある。これによって操作者はフローティング測定ができるが，
27
C 1010-2-30：2019
ハザードを招く。その状態で操作者が不注意に機能接地端子を危険な活電電圧に接続した場合には，その
測定機器のシャシも危険な活電電圧に接続することになり，操作者又は近くにいる人がシャシから感電す
ることがある。
28
C 1010-2-30：2019
附属書CC
（参考）
4 mm“バナナ”端子
CC.1 一般
コネクタ及び端子がかん合しているように見えても導電性部分同士が接触していない場合は，機器に表
示される値を操作者が信じてしまい，ハザードを生じ得る。
この附属書では，JIS C 1010-31の附属書E（4 mmコネクタ）に適合するプローブアセンブリに接続で
きる4 mm端子の安全目的のための推奨寸法を示す。この4 mm端子は，“バナナコネクタ”と呼ばれるこ
とが多い。
CC.2 寸法
図CC.1の寸法は，1 000 Vまでの測定カテゴリII，III又はIVの端子に対する要求事項を満たしている。
この寸法は，コネクタと端子とがかん合した状態，かん合していない状態又は部分的にかん合した状態
において，6.6.101の空間距離を満たし，かつ，かん合したコネクタと端子の導電性部分とが接触している
ことを保証する。
注記 この附属書では，挿抜力及び接触抵抗値は，考慮していない。
29
C 1010-2-30：2019
A＝3.90 mm±0.05 mm（圧縮時）
M＝4.00 mm＋0.05 mm
B≧6.6 mm
G≦6.4 mm
C≦7.9 mm
K≧8.1 mm
2.6 mm≦E≦6 mm
4 mm≦H≦6 mm
F≦12 mm
L≧20 mm
許容差の記載がない寸法の許容差は，±0.1 mmである。
1は，おす端子である。
2は，めす端子である。
Xは，最良の接触が得られる位置である。
Aは，接触が起こる最大直径である。
E及びHの最小値は，プラスチック部分の寸法による。空間距離は，2.6 mm以上でなければならない。
図CC.1−4 mm端子の推奨寸法
30
C 1010-2-30：2019
附属書DD
（参考）
回路のタイプに対応する絶縁に対するフローチャート
回路は二つ以上の分類に入ることがある。そのとき，図DD.1のフローチャートの二つ以上の分岐に従
い，その結果を比較することが必要である。例えば，ある測定回路は測定カテゴリIIIの定格であり，1 MHz
で信号を測定する定格でもある場合がある。この場合，測定回路は，K.3.3及びK.101の両方に従って評
価する。
31
C 1010-2-30：2019
図DD.1−空間距離，沿面距離及び固体絶縁に対する要求事項
ACC：表3
ACC：表K.1
ACC：表3
ACV：表10
沿面距離
6.7.3.3
表K.10，表K.11
又は表K.12
ACC：表K.1
試験電圧
表K.10，表K.11又は
表K.12による
ACV：表10
表K.15
ACC：表K.1
試験電圧
表K.16による
ACC：表K.1
ACC：表K.1
試験電圧
表K.16による
空間距離，沿面距離及び固体絶縁の要求事項（6.7.1.5参照）
主電源回路
主電源から給電され
る二次側回路
他の回路
CAT II，III及びIV
測定回路
表K.13
表4
表K.2，
表K.3又は表
K.4
表K.2，
表K.3又は表
K.4
他の主電源
空間距離
K.1.2
空間距離
6.7.2.1
空間距離
6.7.3.2
試験電圧
表6による
空間距離
電圧試験による
検証
表4
沿面距離
6.7.2.1
沿面距離
K.1.2
表6
空間距離
K.2.2
空間距離
電圧試験による
検証
沿面距離
K.2.3
K.3.1の
a)〜c)，f)の場合
ACV：表10
表7
表K.13
表K.13
表K.17
表K.13
沿面距離
K.101.3
空間距離
電圧試験による
検証
空間距離
K.101.2
ACV：表10
沿面距離
K.3.4（K.2.3）
沿面距離
K.3.4（K.2.3）
表K.101
固体絶縁
6.7.3.4
試験電圧
表6 & 6.7.3.4.1 b)
による
固体絶縁
距離又は厚さ
成型部分及び
含浸部分，PCB，薄膜
表8
固体絶縁
6.7.2.2
固体絶縁
K.1.3
試験電圧
表5による
固体絶縁
K.2.4
固体絶縁
K.3.5（K.2.4）
固体絶縁
K.3.5（K.2.4）
固体絶縁
K.101.4
固体絶縁
距離又は厚さ
固体絶縁
距離又は厚さ
成型部分及び
含浸部分，PCB，
薄膜≧0.4 mm
試験電圧
表K.5，表K.6又は表
K.7 & 表K.8による
成型部分及び
含浸部分，PCB，薄膜
表K.9
試験電圧
表K.10，表K.11
又は表K.12 &
K.2.4.1 b)による
表K.17
試験電圧
表K.16 &K.2.4.1 b)に
よる
試験電圧
表K.16 & K.2.4.1 b)
による
固体絶縁
距離又は厚さ
試験電圧
表K.102，表K.103
又は表K.104 &
表K.105による
固体絶縁
距離又は厚さ
固体絶縁
距離又は厚さ
固体絶縁
距離又は厚さ
成型部分及び
含浸部分，PCB，薄膜
表K.14
成型部分及び
含浸部分，PCB，薄膜
表K.14
成型部分及び含浸部分，
PCB，薄膜
表K.14
成型部分及び
含浸部分，PCB，薄膜
表K.9
空間距離
K.3.2
空間距離
K.3.3
空間距離
電圧試験による
検証
ACM：試験電圧
表5による
ACM：試験電圧
表K.5，表K.6又は
表K.7による
ACM：試験電圧
表K.10，表K.11又は
表K.12による
ACM：試験電圧
表K.16による
ACM：試験電圧
表K.16による
ACM：試験電圧
表K.102，表K.103又は
表K.104による
ACM：試験電圧
表6による
表K.15
他の主電源
K.3.1の
d)，e)の場合
≦300V
過電圧カテゴリII
≦300V
過電圧カテゴリII
ACC
空間距離の定格高度補正
ACV
試験場所での試験電圧の高度補正
&
双方の試験を要する
ACM
代替適合化手段
適用可能なとき
任意の試験経路
PCB
プリント配線板
1
0
C
1
0
1
0
-2
-3
0
：
2
0
1
9
32
C 1010-2-30：2019
参考文献
参考文献は，JIS C 1010-1によるほか，次による。
＜JIS C 1010-1の参考文献は，次を除き適用できる。＞
＜次の参考文献を削除する。＞
JIS C 1010-2-30 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−第2-30部：試験及び測定回路に対す
る個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61010-2-030，Safety requirements for electrical equipment for measurement,
control, and laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for testing and measuring circuits
＜次の参考文献を追加する。＞
IEC 61010-2-033，Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and laboratory use−
Part 2-033: Particular requirements for hand-held multimeters and other meters, for domestic and
professional use, capable of measuring mains voltage
IEC TS 60479-1:2005，Effects of current on human beings and livestock−Part 1: General aspects
IEC TS 60479-2:2007，Effects of current on human beings and livestock−Part 2: Special aspects
EN 41003:1999，Particular safety requirements for equipment to be connected to telecommunications networks
and/or a cable distribution system
33
C 1010-2-30：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 1010-2-30:2019 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性−第2-30
部：試験回路又は測定回路をもつ機器に対する個別要求事項
IEC 61010-2-030:2017，Safety requirements for electrical equipment for measurement,
control, and laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for equipment having
testing or measuring circuits
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
14 部品及
びサブアセ
ンブリ
表102 インパルス
電圧
表102
JISとほぼ同じ
追加
“我が国では，公称電圧が100 Vの
場合に，150 Vまでのインパルス電
圧を適用する。”を追加した。
我が国の配電事情を考慮した。
IECへの提案は不要である。
附属書K
（規定）
表K.101 測定カテ
ゴリII，III及びIV
の測定回路に対す
る空間距離
表K.101
JISとほぼ同じ
追加
“我が国では，公称電圧が100 Vの
場合に，150 Vまでの空間距離を適
用する。”を追加した。
我が国の配電事情を考慮した。
IECへの提案は不要である。
K.101.2 空間距離
K.101.2
−
追加
“直流試験電圧は，交流実効値試験
電圧に2を乗じた値とする。”を
追加した。
明確化。直流電圧試験時の電圧値
の記載がないため，明確にした。
IEC規格の見直しの際，修正を提
案する。
K.101.4 固体絶縁
K.101.4.1
−
追加
“直流試験電圧は，交流実効値試験
電圧に2を乗じた値とする。”を
追加した。
明確化。直流電圧試験時の電圧値
の記載がないため，明確にした。
IEC規格の見直しの際，修正を提
案する。
表K.106 最大過渡
過電圧
表K.106
JISとほぼ同じ
追加
“我が国では，公称電圧が100 Vの
場合に，150 Vまでの最大過渡過電
圧を適用する。”を追加した。
我が国の配電事情を考慮した。
IECへの提案は不要である。
1
0
C
1
0
1
0
-2
-3
0
：
2
0
1
9
34
C 1010-2-30：2019
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61010-2-030:2017，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
1
0
C
1
0
1
0
-2
-3
0
：
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0
1
9