B 7997-1：2020
（1）
目 次
ページ
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 測定原理及び用途 ············································································································· 1
4.1 測定原理 ······················································································································ 1
4.2 用途 ···························································································································· 2
5 計測器の測定レンジ ·········································································································· 2
6 計測器の性能 ··················································································································· 2
7 構成及び構造 ··················································································································· 3
7.1 構成 ···························································································································· 3
7.2 構造 ···························································································································· 3
7.3 使用温度範囲 ················································································································ 3
8 試験······························································································································· 4
8.1 試験条件 ······················································································································ 4
8.2 試験粉体 ······················································································································ 4
8.3 校正 ···························································································································· 4
8.4 相関係数 ······················································································································ 4
8.5 流速変動時安定性 ·········································································································· 4
8.6 振動安定性 ··················································································································· 5
8.7 温度安定性 ··················································································································· 5
8.8 電源電圧安定性 ············································································································· 5
8.9 繰返し性 ······················································································································ 5
8.10 ゼロドリフト ··············································································································· 5
8.11 スパンドリフト ············································································································ 5
8.12 応答時間 ····················································································································· 5
8.13 絶縁抵抗 ····················································································································· 5
8.14 耐電圧 ························································································································ 5
9 検査······························································································································· 5
10 報告書 ·························································································································· 6
11 表示 ····························································································································· 6
附属書A（参考）ゼロ校正及びスパン校正の例 ·········································································· 7
附属書B（参考）計測器の性能試験検査に関する報告書の例 ························································· 9
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まえがき
この規格は，産業標準化法に基づき，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本
産業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本産業規格 JIS
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排ガス中のダスト濃度自動計測器−
第1部：光散乱方式
Automated concentration monitoring instrument of dust in flue gas-
Part 1: Light scattering method
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適用範囲
この規格は，排ガス中に光（入射光）を照射したとき，ダストによって散乱した光の強度を計測するこ
とによって，主に極低濃度から中濃度領域までのダスト濃度を測定する目的に使用する光散乱方式のダス
ト濃度自動計測器（以下，計測器という。）について規定する。
注記 この規格では，極低濃度は5 mg/m3以下，低濃度は10 mg/m3以下，及び中濃度は50 mg/m3以下
をいう。また，この規格に示すダスト濃度は，標準状態［273.15 K（0 ℃），101.32 kPa］かつ乾
き状態に換算した値である。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 7996 排ガス中のダスト濃度自動計測器の性能評価方法
JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）
JIS K 0215 分析化学用語（分析機器部門）
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8808 排ガス中のダスト濃度の測定方法
JIS Z 8852 排ガス中のダスト濃度の連続測定方法
JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 7996，JIS K 0211，JIS K 0215，JIS Z 8103，JIS Z 8808，
JIS Z 8852及びJIS Z 8901による。
4
測定原理及び用途
4.1
測定原理
ダクト内を流れる排ガス中のダストに光を照射したとき，光がダストによって散乱される。この計測器
は，散乱光強度がダスト濃度と相関関係にあることを利用して，ダスト濃度を自動測定する（図1参照）。
散乱光強度Iθは，式(1)で表され，ダスト濃度に比例する。
2
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(
)
θ
λ
θ
2
4
3
p
0
cos
1+
=
kCd
I
I
······························································ (1)
ここに，
I0： 入射光強度
Iθ： 散乱光強度
θ： 散乱角（°）
λ： 波長（nm）
dp： 粒子径（μm）
C： ダスト濃度（mg/m3）
k： 定数
注記1 ここに示すダスト濃度は，標準状態ではなく，実際の排ガスの温度及び圧力状態での値であ
る。
図1−計測器の原理概念図
計測器には，直接，ダクト内に光を照射して散乱光を測定する方式（非吸引式）と排ガスを計測器内に
吸引して散乱光を測定する方式（吸引式）とがある。
注記2 光散乱方式の計測器においては，高い濃度領域（例えば，500 mg/m3以上）では多重散乱が
発生するので，注意が必要となる。
4.2
用途
この計測器は，主に火力発電所，製鉄所及び廃棄物焼却施設で使用する燃料の燃焼及びその他の燃焼に
伴って排出される排ガス中のダスト濃度を長期間かつ連続的に測定し，排出量監視又はプラント制御を目
的として使用する。
5
計測器の測定レンジ
計測器の測定レンジは，通常，0 mg/m3〜100 mg/m3とし，それ以外のレンジは，用途に合わせて適切な
ものを選ぶ。
6
計測器の性能
計測器は，箇条8によって試験を行ったとき，表1の性能を満足しなければならない。
3
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表1−計測器の性能
項目
性能
試験方法
相関係数
0.9以上
8.4
流速変動時安定性
JIS Z 8808に規定する測定によるダスト濃度値に対する計測器
のダスト濃度値の比の平均値が，90 %〜110 %の範囲内
8.5
振動安定性
0 mg/m3〜100 mg/m3 a) の
測定レンジ
試験前の指示値に対してフルスケ
ールの±2 %
8.6
温度安定性
10 ℃当たりフルスケールの±2 %
8.7
電源電圧安定性
フルスケールの±2 %
8.8
繰返し性
フルスケールの±2 %
8.9
ゼロドリフト
フルスケールの±2 %
8.10
スパンドリフト
フルスケールの±2 %
8.11
応答時間
60 s以内
8.12
絶縁抵抗
5 MΩ以上
8.13
耐電圧
異常がない
8.14
注a) 0 mg/m3〜100 mg/m3の測定レンジに対するスパン等価入力を設定できない場合は，100 mg/m3未満の
測定レンジでスパン等価入力を導入し，スパン設定を行い，そのフルスケールの±2 %を性能値とし
てもよい。
7
構成及び構造
7.1
構成
計測器の基本的な構成は，JIS B 7996のB.2（計測器の構成），B.3（試料採取部）及びB.4（計測部）に
よる。
7.2
構造
計測器の構造は，次による。
a) 組立及び各部の仕上りが良好かつ堅ろうな構造とする。
b) 通常の運転状態で危険性がなく，安全で円滑に作動する構造とする。
c) 各部は，容易に機械的故障及び電気的故障を起こさず，危険性のない構造とする。
d) 結露などによって計測器の作動に支障を生じない構造とする。
e) 光源，ヒータなどの発熱体に接する部分は，熱による変形及び機能低下を生じない構造とする。
f)
保守及び点検時の作業がしやすく，危険のない構造とする。
g) 外郭は，外来固形物及び／又は水の侵入に対して，測定値への影響がない構造とする。
なお，保護等級の指定がある場合は，受渡当事者間の協定による。
h) 計測器に記録された設定値などを無権限者が変更できないような保護機能をもつ構造とする。また，
受渡当事者間の協定によって，使用者側が保護機能を用意することも可能とする。
例 パスワード，メーカモードのロック機能，鍵又は特殊ビスなどによる操作部のガードなど
i)
設置場所において，計測器のゼロ校正及びスパン校正が確認できる構造とする。その具体的な例を，
附属書Aに示す。
7.3
使用温度範囲
計測器の使用温度範囲は，製造業者が決めた値とするが，受渡当事者間の協定によって使用温度範囲を
定めてもよい。
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8
試験
8.1
試験条件
試験条件は，JIS Z 8808のA.3.1.1（試験条件）によるほか，製造業者の指示による。ただし，計測器の
暖機時間は，製造業者の指示書による。
8.2
試験粉体
試験粉体は，JIS Z 8901の試験用粉体10種（フライアッシュ）が望ましい。
8.3
校正
試験を実施する前に，次によって計測器の校正を行う。
a) ゼロ校正 ゼロ等価入力を導入し，試験粉体を含まない状態（空気だけの状態）で指示値をゼロに合
わせる。
b) スパン校正 フルスケールの中央値付近〜100 %付近の指示値となるスパン等価入力を導入し，製造
業者の指示書に従って設定する。
8.4
相関係数
相関係数の求め方は，次による。
a) 試験ダクトを使用した相関係数の求め方 試験ダクトを使用して相関係数を求める場合は，JIS B
7996の4.4.1.1（試験ダクトを使用した相関係数の求め方）による。
b) 実煙道を使用した相関係数の求め方 実煙道を使用して相関係数を求める場合は，JIS Z 8852による。
8.5
流速変動時安定性
流速変動時安定性の試験方法は，次による。
a) 試験ダクトにおいて，計測器の測定レンジの範囲内で，8.2に規定する試験粉体を8 m/s〜15 m/sの範
囲内の任意の二つ以上の流速で，任意の3点以上のダスト濃度になるように粉体を供給して，JIS Z
8808に規定する測定をそれぞれの組合せごとに3回以上（合計18回以上）実施する。任意の流速に
ついては，10 m/s付近及び15 m/s付近の二つの流速とすることが望ましい。また，同時にそれぞれの
測定での計測器のダスト濃度値を記録する。試験ダクトの構成例は，JIS B 7996の図1（JIS Z 8808
に規定する測定及び計測器による測定のための試験ダクトの構成例）を参照。
b) a) のそれぞれの測定において，JIS Z 8808に規定する測定によるダスト濃度値に対する計測器のダス
ト濃度値の比を式(2)で，また，その平均値を式(3)で求める。
100
×
=
i
i
i
y
x
p
············································································· (2)
n
p
P
n
i
i
∑
=
=
1
················································································ (3)
ここに，
pi： JIS Z 8808に規定する測定によるダスト濃度値に対する
i番目の測定で得た計測器のダスト濃度値の比（%）
xi： i番目の測定で得た計測器のダスト濃度値（mg/m3）
yi： i番目の測定で得たJIS Z 8808に規定する測定によるダ
スト濃度値（mg/m3）
P： JIS Z 8808に規定する測定によるダスト濃度値に対する
n回の測定で得た計測器のダスト濃度値の比の平均値
（%）
n： 測定回数の総数
5
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8.6
振動安定性
振動安定性の試験方法は，次による。ただし，構造上，この試験が適用できない計測器の場合は，製品
仕様の取決め時にそのことを申告し，受渡当事者間の協定によって別の試験方法を取り決めてもよい。
a) 試験条件
1) 加振力 0.98 m/s2（0.1 G）
2) 加振方向 X，Y及びZの3方向
3) 周波数サイクル 10 Hz〜150 Hzの範囲で変動させる。
4) 時間 10 Hzから150 Hzまで周波数を上げるのに10分間程度，及び150 Hzから10 Hzまで周波数
を下げるのに10分間程度を1サイクルとして，1方向ごとに2サイクル行う。
b) 固定方法 計測器本体を，振動試験台座に固定する。
c) 振動試験機 a) 及びb) の条件を実現できる試験機を使用しなければならない。
d) 試験手順 計測器の試験前の指示値を一定の値に設定し，2サイクル終了後に試験前の指示値からの
最大変化値を求め，式(4)によって変化率を算出する。これをX，Y及びZの3方向ごとに実施する。
なお，試験前の指示値は，測定レンジの中央値付近に設定することが望ましい。
100
0
j
×
=
=aΔa
A
········································································· (4)
ここに，
Aj： 加振方向（j）での変化率（%）
a0： 測定レンジの最大値
Δa： 指示値からの最大変化値
j： X，Y又はZの3方向のいずれかの加振方向
8.7
温度安定性
温度安定性の試験方法は，JIS B 7996の4.4.2（温度安定性）による。
8.8
電源電圧安定性
電源電圧安定性の試験方法は，JIS B 7996の4.4.3（電源電圧安定性）による。
8.9 繰返し性
繰返し性の試験方法は，JIS B 7996の5.2.1（繰返し性）による。
8.10
ゼロドリフト
ゼロドリフトの試験方法は，JIS B 7996の5.2.2（ゼロドリフト）による。
8.11
スパンドリフト
スパンドリフトの試験方法は，JIS B 7996の5.2.3（スパンドリフト）による。
8.12
応答時間
応答時間の試験方法は，JIS B 7996の5.2.4（応答時間）による。
8.13
絶縁抵抗
絶縁抵抗の試験方法は，JIS B 7996の5.2.5（絶縁抵抗）による。
8.14
耐電圧
耐電圧の試験方法は，JIS B 7996の5.2.6（耐電圧）による。
9
検査
検査は，形式検査と性能試験検査とに区別する。形式検査は箇条8によって試験したとき，箇条6及び
箇条7に規定する全ての要求事項に適合したものを合格とする。
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なお，性能試験検査の項目は，次のとおりとする。
a) 繰返し性
b) ゼロドリフト
c) スパンドリフト
d) 応答時間
e) 絶縁抵抗
f)
耐電圧
10
報告書
性能試験検査に関する報告書には，次の事項を記載する。
なお，性能試験検査に関する報告書の例を，附属書Bに示す。
a) 規格番号
b) 試験実施年月日
c) 計測器の種類，名称，形式名及び製造番号
d) 製造業者名及び／又はその略号
e) 試験条件（温度，相対湿度，気圧，電源電圧及び電源周波数）
f)
試験結果（繰返し性，ゼロドリフト，スパンドリフト，応答時間，絶縁抵抗及び耐電圧）
g) 試験実施者及び試験実施場所
h) その他必要な事項
11
表示
この規格で規定する全ての要求事項に適合した計測器には，見やすい箇所に容易に消えない方法で次の
事項を表示しなければならない。ただし，これらの表示は，1か所にまとめて表示しなくてもよい。
a) 規格番号
b) 計測器の種類，名称及び製造業者が指定する形式名
例 非吸引式光散乱方式ダスト濃度自動計測器 ABC1000
c) 測定濃度範囲
d) 使用温度範囲
e) 定格電圧，定格周波数及び容量
f)
製造業者名又はその略号
g) 製造年月又はその略号
h) 製造番号
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附属書A
（参考）
ゼロ校正及びスパン校正の例
A.1 非吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の例
設置場所における非吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の具体例を，図A.1に示す。
a) 実測状態の例
ゼロ校正：受光の入力信号を切って指示値をゼロに合わせる。
スパン校正：投受光部から光ファイバを取り外して基準器をつなぐ。
基準器での測定値を測定記録値などと比較確認し合わせる。
b) ゼロ校正及びスパン校正の例
図A.1−非吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の例
投受光部内部は，石英ガラスなどで仕切られており，排ガスはダクト内から外部へ漏れださない構造に
よって，図A.1 b) に示すように，設置場所においても，ゼロ校正及びスパン校正が可能となる。
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A.2 吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の例
設置場所における吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の具体的な例を，図A.2に示す。
a) 実測状態の例
ゼロ校正：ダストのない状態で，指示をゼロに合わせる。
スパン校正：スパン校正棒を計測器に挿入する。測定値を校正棒の値に合わせる。
b) ゼロ校正及びスパン校正の例
図A.2−吸引式計測器のゼロ校正及びスパン校正の例
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附属書B
（参考）
計測器の性能試験検査に関する報告書の例
計測器の性能試験検査に関する報告書の例を，表B.1に示す。
表B.1−計測器の性能試験検査に関する報告書の例
規格番号 JIS B 7997-1
種類：非吸引式
試験者：
報告書番号：
報告日： 年 月 日
試験実施者：
承認者：
試験実施年月日： 年 月 日
試験実施場所：
製造業者名及び／又はその略号：
計測器の名称：
形式名：
製造番号：
試験条件 温度： ℃ 相対湿度： %
気圧： kPa
電源電圧： 電源周波数：
測定レンジ：0 mg/m3〜100 mg/m3
検査項目
判定基準
結果
判定
繰返し性
フルスケールの±2 %
ゼロドリフト
フルスケールの±2 %
スパンドリフト
フルスケールの±2 %
応答時間
60 s以内
絶縁抵抗
5 MΩ以上
耐電圧
異常のないこと
（その他必要な事項）