B 7988：2007
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気
計測器工業会(JEMIMA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS B 7988には，次に示す附属書がある。
附属書1（参考）ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式（GC−ECD）による分析計
附属書2（参考）試料非吸引採取方式による排ガス中の一酸化二窒素計測器
B 7988：2007
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目 次
ページ
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 1
4. 計測器の種類及び測定範囲 ································································································ 2
5. 計測器の性能 ·················································································································· 2
6. 構造 ······························································································································ 3
6.1 構造一般 ······················································································································ 3
6.2 構成 ···························································································································· 3
6.3 試料採取部 ··················································································································· 4
6.4 分析計 ························································································································· 5
6.5 指示記録用信号 ············································································································· 6
7. 性能試験 ························································································································ 7
7.1 試験条件 ······················································································································ 7
7.2 試験に用いるガス ·········································································································· 7
7.3 校正 ···························································································································· 7
7.4 試験方法 ······················································································································ 7
8. 試験報告書 ····················································································································· 9
9. 表示 ······························································································································ 9
10. 取扱説明書 ··················································································································· 9
附属書1（参考）ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式（GC−ECD）による分析計 ························· 11
附属書2（参考）試料非吸引採取方式による排ガス中の一酸化二窒素計測器 ··································· 13
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日本工業規格 JIS
B 7988：2007
排ガス中の一酸化二窒素自動計測器
Continuous analyzers for dinitrogen monoxide in flue gas
1. 適用範囲 この規格は，工場及び事業所の各種製造の工程において，燃料，その他の物の燃焼に伴っ
て，煙突，ダクトなどへ排出されるガス中の一酸化二窒素濃度を連続的に測定するための赤外線吸収方式
に基づくもので，現場に設置して長期間連続測定を行う自動計測器（以下，計測器という。）について規定
する。
なお，この規格で規定する赤外線吸収方式以外の計測器として，ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式
(GC−ECD) 及び試料非吸引採取方式に基づくものがあり，それぞれを附属書1（参考）及び附属書2（参
考）に示す。
備考 この規格は，地球温暖化対策などの温室効果ガスの排出状況の調査及び管理に関連する標準化
を目的としている。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 7551 フロート形面積流量計
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS K 0002 標準物質−標準ガス−一酸化炭素
JIS K 0003 標準物質−標準ガス−二酸化炭素
JIS K 0004 標準物質−標準ガス−二酸化硫黄
JIS K 0055 ガス分析装置校正方法通則
JIS K 0095 排ガス試料採取方法
JIS K 0151 赤外線ガス分析計
JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）
JIS K 0212 分析化学用語（光学部門）
JIS K 0213 分析化学用語（電気化学部門）
JIS K 0215 分析化学用語（分析機器部門）
JIS Z 8103 計測用語
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS K 0211，JIS K 0212，JIS K 0213，JIS K 0215及びJIS
Z 8103によるほか，次による。
a) 試料ガス 排ガスを一次フィルタ，除湿器などを通して前処理し，分析計に導入されるガス。
b) ゼロガス 計測器の最小目盛値を校正するために用いるガス。
c) スパンガス 計測器の最大目盛値を校正するために用いるガス。
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d) 分散形 プリズム，回折格子などによって波長分散を行う光学系をもつ計測器の形式名。
e) 非分散形 光学フィルタ，又は波長選択性がある検出器を用い，波長分散を行う光学系をもたない計
測器の形式名。
f)
繰返し性 同一の分析計を用い，同一の方法で同一の測定対象ガスを同じ条件で比較的短い時間に繰
り返し測定した場合，個々の測定値が一致する度合。
g) ゼロドリフト 計測器の最小目盛に対応する指示値のある期間の変動。
h) スパンドリフト 計測器の最大目盛に対応する指示値のある期間の変動。
i)
設定流量 計測器の定められた試料ガス，校正ガスなどの流量。
j)
volppm 濃度を百万分率で表した体積比率。
k) 指示誤差 中間点ガスを導入したときの指示値とその表示濃度との差の最大目盛に対する百分率。
l)
応答時間 計測器の指示値が，試験用ガスを導入してから最終指示値の90 ％に相当する値に達する
のに要する，応答遅れ時間（lag time）と立ち上がり時間（rise time）とを合わせた時間。
m) 最小検出限界 ゼロ試験用ガス流通時の指示値の標準偏差を2倍した値の最大目盛に対する百分率。
4. 計測器の種類及び測定範囲 計測器の種類は，原理別に分類し，個々の計測器の測定範囲（以下，レ
ンジという。）は，表1による。レンジは，表1で示した中で適切なものを選ぶ。
なお，表1以外のガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式（GC−ECD）及び試料非吸引採取方式に基づく
計測器については，それぞれ附属書1（参考）及び附属書2（参考）に示す。
表 1 計測器の種類及びレンジ
種類
レンジ
volppm
測定対象ガス
適用条件
赤外線吸収方式
0〜20
から
0〜5 000
一酸化二窒素
共存する二酸化炭素，一酸化炭素，二酸化硫黄及び
メタンの影響を無視できる場合，又は影響を除去で
きる場合に適用する。
5. 計測器の性能 計測器は，7.の性能試験を行ったとき，表2の性能を満足しなければならない。
表 2 計測器の性能
項目
性能
試験方法
繰返し性
最大目盛値の±2 ％
7.4のa)
ゼロドリフト
最大目盛値の±2 ％
7.4のb)
スパンドリフト
最大目盛値の±2 ％
7.4のc)
指示誤差
最大目盛値の±4 ％
7.4のd)
最小検出限界
最大目盛値の1 ％以下
7.4のe)
応答時間
240 s以下
7.4のf)
干渉成分の影響
最大目盛値の±5 ％
7.4のg)
試料ガス流量の変化に対する安定性
最大目盛値の±2 ％
7.4のh)
電源電圧に対する安定性
最大目盛値の±2 ％
7.4のi)
耐電圧
異常を生じてはならない。
7.4のj)
絶縁抵抗
5 MΩ以上
7.4のk)
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6. 構造
6.1
構造一般 計測器の構造は，次の各項目に適合しなければならない。
a) 形状が正しく，組立及び各部の仕上がりが良好で，堅ろうでなければならない。
b) 通常の運転状態で危険の生じるおそれがなく，安全で円滑に作動しなければならない。
c) 各部は，容易に機械的故障・電気的故障を起こさず，危険を生じない構造でなければならない。
d) 結露などによって計測器の作動に支障を生じない構造でなければならない。
e) 光源，ヒータなどの発熱部に接する部分は，熱による変形及び機能の変化を起こさない構造でなけれ
ばならない。
f)
保守又は点検のとき，作業しやすく，危険のない構造でなければならない。
6.2
構成 排ガス中から試料ガスを吸引し，導管及び試料前処理装置を通して，試料ガスを分析計に連
続供給する試料ガス吸引採取方式を用いる。図1及び図2に示すように，試料採取部，分析計などで構成
する。試料ガス中の水分濃度が高く，水分が吸引経路の途中で凝縮する可能性がある場合には，試料加熱
方式を採用する。
図 1 試料ガス加熱吸引採取方式の構成例
4
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図 2 試料ガス非加熱吸引採取方式の構成例
6.3
試料採取部 排ガス中のダストを除去し，必要に応じて水分を除去又は一定量に保つ機能をもち，
測定対象成分の損失を可能な限り抑制しつつ，必要な試料ガスの一定量を連続的に分析計に供給するもの
であって，JIS K 0095に準拠し，採取管，一次フィルタ，導管，除湿器，二次フィルタ，吸引ポンプ，流
量計，切換弁，校正用ガス導入口などで構成する(1)。各部の材料は排ガスの性状に応じて選択する。
注(1) 水の共存下で，NO2とSO2との反応によってN2Oが生成することがあるので，試料ガスが長時
間滞留しないようにする。
a) 採取管 煙道壁などに取り付けて試料ガスを採取する管で，ステンレス鋼管，チタン管，セラミック
ス管，石英ガラス管などを用いる。
b) 一次フィルタ 排ガス中のダストを除去するためのもので，水分が凝縮しない温度で用いる。フィル
タの材質は石英ガラス繊維，ステンレス鋼製の網などを用いる。
c) 導管 排ガスを一次フィルタから試料導入口に導入する管で，一般に四ふっ化エチレン樹脂製のもの
を用いる。水分が吸引経路の途中で凝縮することを防止するため，必要に応じて加熱する。
d) 除湿器 排ガス中の水分を除去する装置で，空冷（外気温），電子冷却などの方式，水蒸気の選択浸透
による半透膜気相除湿方式などを用い，排ガスの性状に応じて複数個設置する。
e) 二次フィルタ 試料ガス中の微細ダストを除去するためのもので，ガラス繊維，四ふっ化エチレン樹
脂などの材料を用いる。
f)
吸引ポンプ 試料ガスなどを吸引するポンプで，一般にダイアフラムポンプを用いる。接ガス部は，
耐食材料，例えば硬質塩化ビニル樹脂などの材料を用いる。
g) 流量計 JIS B 7551のフロート形面積流量計などを用い，かつ，耐食性のあるものとする。
h) 切換弁 手動弁又は電磁弁を用い，その材質は耐食性のあるものとする。
i)
流量調整弁 ニードル弁などを用い，その材質は耐食性のあるものとする。
j)
校正用ガス導入口 校正用ガスを導入する部分で，図1及び図2に例を示すように，その目的に合わ
せて選択する(2)。
導入口1) は計測器の総合的校正を行う場合，導入口2) は除湿器以降を含んで校正する場合，導入
口3) は分析計だけを校正する場合に用いる(3)。
注(2) 本来は導入口1) から導入し，校正すべきであるが，多くの時間を要すため，日常的な校正は導
入口2) 又は導入口3) を選択してもよい。
(3) 導入口3) を選択する場合，校正用ガスと除湿器とによって処理された試料ガス中の水分の差
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は，測定の必要上，その分圧を補正してもよい。
k) コンバータ 試料ガス中の一酸化炭素を除去するためのもので，二酸化マンガンと酸化銅の混合物又
は白金などの酸化触媒で構成し，加熱したものを用いる。必要に応じてサンプリング部又は分析計内
部に付加する。
6.4
分析計
6.4.1 非分散形赤外線ガス分析計 物質を構成している分子は，それぞれ特有の原子間振動をもっており，
この振動モードの振動数に応じた波長の光を吸収し，圧力が一定のガス体では濃度に対応した吸収を示す。
非分散形赤外線吸収方式による一酸化二窒素分析計は，一酸化二窒素の4.5 μm付近又は7.3 μm付近にお
ける赤外線吸収を計測することによって，その成分濃度を測定する方法である。赤外線ガス分析計は，JIS
K 0151に適合するものを用い，図3に例を示すように，光源，回転セクタ，光学フィルタ，試料セル，比
較セル，検出器，増幅器などで構成する。
図 3 非分散形赤外線ガス分析計の構成例
a) 光源 通常，ニクロム線，炭化けい素などの抵抗体に電流を流して加熱したものを用いる。
b) 回転セクタ 試料セルを通る光と比較セルを通る光とを一定周期で断続し，光学的に変調を行うもの
で，断続周期が1〜60 Hzの交互断続方式又は同時断続方式とする。
c) 光学フィルタ 試料ガス中に含まれる干渉成分の吸収波長域の赤外線を吸収除去できるもので，ガス
フィルタ，固体フィルタのいずれか，又はその組合わせたものを用いる。
d) 試料セル 試料ガスが流通し，両端の窓から赤外線が透過するものを用いる。
e) 比較セル 試料セルと同じ形状のもので，アルゴン又は窒素を封入したものを用いる。
f)
検出器 赤外線の吸収を電気信号に変換するもので，選択的検出器（測定成分ガスなどを適切な分圧
で封入したコンデンサマイクロホン又は熱式流量計）又は非選択的検出器（焦電形などの熱検出素子，
PbSeなどの半導体検出素子）を用いる。干渉成分の影響を少なくするため，測定成分を検出する主検
出器と，特定干渉成分を検出する補償検出器とを組み合わせて用いる場合がある。
g) 増幅器 検出器の信号を指示記録及び伝送信号に必要な電気信号が得られるように増幅するもので，
増幅回路，演算処理回路などからなる。
6.4.2
ガスフィルタ相関法赤外線ガス分析計 JIS K 0151に準拠し，図4に例を示すように，試料ガスを
試料セルに導入し，一酸化二窒素を封入したフィルタ（フィルタ1）と比較ガスを封入したフィルタ（フ
ィルタ2）とからなるガス相関フィルタ及び回転セクタを一定周期で回転させ，フィルタ1とフィルタ2
とで得られる差信号を用い，測定値とする方式。
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図 4 ガスフィルタ相関法赤外線ガス分析計の構成例
a) ガス相関フィルタ 測定ガス（一酸化二窒素を含むガス）及び比較ガス（ゼロガス）を封入した2種
類のフィルタから構成されるものを用いる。
b) 反射ミラー 試料ガス中の一酸化二窒素を測定するのに十分な光路長とするために，試料セル内で光
を複数回反射させるためのもので，赤外線の損失が少ない材質のものを用いる。
6.4.3
フーリエ変換形赤外線ガス分析計 干渉計から得られる赤外線の分光スペクトルを試料セルの入
射光とする。試料セルに試料ガスを導入又は定期的に窒素ガスを導入し，各々の透過光強度を赤外線検出
器で電気信号に変換し，フーリエ変換・濃度演算などを行う。排ガス中の一酸化二窒素濃度は，4.4〜4.7 μm
の吸収波長によって測定する。分析計は，図5に示す干渉計，試料セル，検出器，データ処理部などで構
成する。
図 5 フーリエ変換形赤外線ガス分析計の構成例
a) 光源部 測定用赤外線光源と光路調整用レーザー光源とからなる。
b) 干渉計 マイケルソン干渉計を使用し，分光スペクトルの波長領域は2.5〜25 μm程度，分解能は1 cm
−1程度のものを用いる。
c) 試料セル 試料ガスが流通し，両端の窓から赤外線が透過するものを用いる。
d) 検出器 赤外線検出器とレーザー検出器とからなる。
e) データ処理部 AD変換，フーリエ変換，スペクトル信号処理，濃度演算処理などを行うもので，コ
ンピュータなどからなる。
6.5
指示記録用信号 一酸化二窒素濃度を等分目盛で指示記録するものとする。デジタル表示方式のも
のは，測定単位が印字されるものとする。
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7. 性能試験
7.1
試験条件 試験条件は，次のa)〜f)による。
a) 周囲温度 5〜35 ℃の間の任意の温度で試験中の変化幅は5 ℃。
b) 湿度 相対湿度は85 ％以下。
c) 大気圧 95〜106 kPaで，試験中の変化幅は5 kPa (4)。
注(4) 試験開始時の気圧から±0.5 kPaを超えた場合は，気圧補正をする。
d) 電源電圧 定格電圧
e) 電源周波数 定格周波数
f)
暖機時間 取扱説明書に記載された時間
備考 指示誤差，耐電圧及び絶縁抵抗以外の各項目については，その計測器の最小目盛範囲における
試験結果をもって各レンジごとの性能としてもよい。
7.2
試験に用いるガス 校正用ガス，干渉影響試験用ガス，スパン試験用ガス及びゼロ試験用ガスとす
る。
干渉影響試験用ガスは，JIS K 0002，JIS K 0003及びJIS K 0004に規定するもの，並びにJIS K 0055で
規定する方法で調製されたもの，又はこれらの規格に準じる方法で調製されたものを用いる。これらのガ
スの種類及び適用する試験項目は，表3による。
表 3 試験に用いるガス
項 目
ガスの種類
成分濃度
適用試験項目
校正用ガス
スパンガス
最大目盛値(5)の80〜100 ％ 7.4のd)，e)，g)
中間点ガス
最大目盛値(5)の50 ％付近 7.4のd)
ゼロガス
最大目盛値(5)の0 ％
7.4のd)，e)，g)
干渉影響試験用ガス
二酸化炭素 (JIS K 0003) 10 vol％ (CD 10)
7.4のg)（赤外線吸収方式：4.5 μm吸収帯）
一酸化炭素 (JIS K 0002) 500 volppm (CM-P 500)
7.4のg)（赤外線吸収方式：4.5 μm吸収帯）
二酸化硫黄 (JIS K 0004) 500 volppm (SD-P500)
7.4のg)（赤外線吸収方式：7.3 μm吸収帯）
メタン
450〜500 volppm
7.4のg)（赤外線吸収方式：7.3 μm吸収帯）
スパン試験用ガス
最大目盛値(5)の80〜95 ％ 7.4のa)，b)，c)，f)，h)，i)
ゼロ試験用ガス
最大目盛値(5)の0 ％
7.4のa)，b)，e)，f)
注(5) 選択したレンジの最大目盛値
備考1. 校正用ガス及びメタンは，JIS K 0055に規定された質量比混合法によって調製されたガスとする。
2. スパン試験用ガス及びゼロ試験用ガスとは，校正用ガスによってその濃度が確認されたガスとする。
3. 高圧ガスの安全取扱方法については，“高圧ガス保安法”（昭和26年6月7日法律第204号）及び“環境大気
自動測定における高圧ガス管理取扱手引書”（環境庁大気測定安全対策委員会，昭和48年10月）を参考にし
て安全を確保する。
7.3
校正 計測器の校正は暖機終了後，表3に示すゼロガス及びスパンガスを用いて，次の方法で行う。
a) ゼロ調整 ゼロガスを設定流量で計測器に導入し，指示が安定した時点でゼロ調整を行う。
b) スパン調整 スパンガスを設定流量で計測器に導入し，指示が安定した時点でスパン調整を行う。
c) 必要に応じてa)及びb)の調整を繰り返し，ゼロ調整及びスパン調整のそれぞれが合うまで行う。
7.4
試験方法 試験方法は，次のとおりとする。
a) 繰返し性 ゼロ試験用ガスを設定流量で導入し，最終指示値を確認し記録した後，スパン試験用ガス
を同様に導入し，最終指示値を確認し記録する。この操作を3回繰り返し，ゼロ指示値，スパン指示
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値の各々の平均値を算出し，各測定値と平均値との差の最大目盛値に対する百分率を求める。
b) ゼロドリフト ゼロ試験用ガスを設定流量で導入し，必要な場合はゼロ指示値を最大目盛値の5 ％程
度に設定して，24時間連続測定を行う。この間におけるゼロ指示値の初期の指示値からの最大変動幅
の最大目盛値に対する百分率を求める。
c) スパンドリフト ゼロドリフト試験において，試験開始時，試験終了時（24時間後）及び中間に2回
以上(6)ゼロ試験用ガスに代えてスパン試験用ガスを導入し，指示値を記録する。この間におけるスパ
ン指示値の初期の指示値からの最大変動幅の最大目盛値に対する百分率を求める(7)。
注(6) 各スパン測定点の測定時間間隔は，4時間以上離れていなければならない。
(7) 大気圧変化に対する指示値への影響を自動補正する機能がない計測器において大気圧の影響が
見られるときは，次の式を用いて大気圧の変動分を補正したものを用いる。ただし，計測器に
大気圧変化に対する指示値への影響量が示されている場合は，その値を用いて補正する。
(
)
100
0
0
×
−
×
=
F
S
/P
P
S
δ
ここに， δ： スパンドリフト（％）
S： スパン試験用ガスを導入した時の指示値（volppm）
S0： 初期にスパン試験用ガスを導入した時の指示値（volppm）
P0： 試験開始時の大気圧（kPa）
P： 試験開始時とスパン試験用ガスを導入したときの大気圧（kPa）
F： 最大目盛値（volppm）
なお，ゼロドリフトの影響が見られるときは，次の式によってその変動を補正する。
(
)
100
Z
0
0
×
−
×
=
F
S
/P
P
S
δ
−
ここに，
Z： スパン試験用ガス導入直前のゼロ指示値（volppm）
d) 指示誤差 ゼロ校正，スパン校正を行った後，中間点ガスを導入し，指示値を記録する。この指示値
と中間点ガスの表示濃度との差の最大目盛値に対する百分率を求める。
e) 最小検出限界 ゼロ校正，スパン校正を行った後，ゼロ試験用ガスを設定流量で導入し，指示記録さ
せる。2分間隔で25点以上の指示を読み，標準偏差(sx0)を求める。その標準偏差を2倍した値の最大
目盛値に対する百分率を最小検出限界(x)とし，次の式によって求める。
100
2
0×
=
c
s
x
x
ここに， sx0： ゼロ試験用ガスによる指示値の標準偏差（volppm）
c： 最大目盛値（volppm）
備考 指示値の平滑（移動平均）時間を可変できる計測器にあっては，表2で要求される性能（応答
時間）を満たす設定範囲で行わなければならない。
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f)
応答時間 試料導入口から設定流量のゼロ試験用ガスを導入し，指示安定後，導入ガスをスパン試験
用ガスに切り換える。このときの指示記録において，スパン試験用ガスの導入の時点から最終指示値
の90 ％値に達するまでの時間を測定する。
g) 干渉成分の影響 ゼロ校正，スパン校正を行った後，干渉影響試験用ガスを導入し，そのときの指示
値の最大目盛値に対する百分率を求める。
h) 試料ガスの流量の変化に対する指示値の安定性 設定流量のスパン試験用ガスを導入し，指示が安定
したときの値をAとする。次に流量を設定値から＋5 ％変化させ，指示が安定したときの値をBとす
る。さらに，流量を設定値から−5 ％変化させ，指示が安定したときの値をCとする。B−A，C−A
の値の最大目盛値に対する百分率を求める。
i)
電源電圧に対する指示値の安定性 電源電圧を定格電圧にしてスパン試験用ガスを導入し，指示が安
定したときの値をAとする。次に電源電圧を定格電圧の＋10 ％に変化させ，指示が安定したときの
値をBとする。さらに，電源電圧を定格電圧の−10 ％に変化させ，指示が安定したときの値をCと
する。B−A，C−Aの値の最大目盛値に対する百分率を求める。
j)
耐電圧 計測器電源スイッチ“入り”の状態で，電源端子一括と外箱（接地端子）との間に定格周波
数の交流1 000 Vを1分間加えて，異常の有無を調べる。
k) 絶縁抵抗 計測器電源スイッチ“入り”の状態で，電源端子一括と外箱（接地端子）との間の絶縁抵
抗を，JIS C 1302に規定する直流500 V絶縁抵抗計で測定する。
8. 試験報告書 試験報告書には，次の項目を含む。
a) 7.1，7.2のうち必要な事項
b) 表1のうち必要な事項
c) 試験結果
d) 特記事項
9. 表示 計測器には，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければならない。
a) 計測器の名称及び製造業者が指定する形名
b) 測定対象成分
c) 測定濃度範囲
d) 使用吸収波長帯（4.5 μm又は7.3 μm）
e) 使用温度範囲
f)
定格電圧，定格周波数及び消費電力
g) 製造業者名又はその略号
h) 製造年月
i)
製造番号
備考 これらの表示は，1か所にまとめて表示しなくてもよい。
10. 取扱説明書 取扱説明書には，次の事項を記載しなければならない。
a) 設置場所に関する注意事項
b) 試料ガスの温度，流量，ダスト濃度及び干渉成分のそれぞれの許容範囲
c) 試料ガスの前処理方法
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) 配管及び配線
e) 暖機時間
f)
使用方法
1) 測定の準備及び校正
2) 測定操作
3) 測定停止時の処置
g) 保守点検
1) 日常点検の指針
2) 定期点検の指針
3) 流路系の清掃
4) 故障時の対策
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附属書1（参考）ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式（GC−ECD）
による分析計
この附属書は，ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式による分析計に関する事柄を記載するもので，規
定の一部ではない。
1. 測定原理 試料ガス中の一酸化二窒素をガスクロマトグラフで分離し，電子捕獲検出器（ECD）で測
定する方式。測定周期は5〜15分である。
2. 性能 主な性能は，本体の表2に準じる。
3. 構造 分析計は，附属書1図1に示す流量制御部，検出器，分離部，演算制御部などで構成する。
なお，試料採取部は本体の6.3（試料採取部）に準じる。
附属書1図 1 ガスクロマトグラフ電子捕獲検出方式（GC−ECD）による分析計の構成例
a) 流量制御部 試料ガス及びキャリアガスの流量を制御するためのもので，流路切換弁，抵抗管，流量
調整弁，圧力調整器，流量計，圧力計などで構成する。
b) 検出器 放射性同位元素のβ線源，コレクター電極などから構成された放射線源式電子捕獲検出方式，
及び放射性同位元素の代わりにヘリウムなどのガスの放電機構を備えた非放射線源式電子捕獲検出方
式がある。検出器は200〜300 ℃の恒温槽の中に収納されている。
備考 放射線源式の検出器を備えた装置の設置及び廃棄に当たっては，“放射性同位元素等による放
射線障害の防止に関する法律”（昭和32年法律167号）に従って，あらかじめ文部科学省に届
出を行うか，又は許可を受けなければならない。
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c) 分離部 分離管を収納する恒温槽などで構成する。試料導入機構は，試料ガスの一定量を精度よく採
取し，キャリアガス流中に導入させるためのもので，自動流路切換弁，試料計量管などで構成する。
分離管は，試料ガス中の一酸化二窒素を分離できるものを用いる。
d) 演算制御部 試料ガスの導入，分離，バックフラッシュ（逆洗），流路切換，ゼロ調整，濃度演算など
の操作を自動的に行わせる機能をもつものを用いる。
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附属書2（参考）試料非吸引採取方式による排ガス中の
一酸化二窒素計測器
この附属書は，排ガス中の一酸化二窒素濃度を試料非吸引採取方式によって連続的に測定する自動計測
器（パスモニター）に関する事柄を記載するもので，規定の一部ではない。
1. 測定原理 固定発生源の排ガス流に測定光路部を設置することによって，試料ガスを吸引採取せずに
測定する方法。一酸化二窒素の吸収波長の光を排ガス流に直接照射し，その透過光を計測する方法で，発
光器からの照射光強度と受光器で計測した透過光強度との関係から排ガス中の一酸化二窒素濃度を測定す
る。計測器には，波長分散方式（差分光吸収法 DOAS：Differential optical absorption spectroscopy）と単一
波長赤外レーザを用いた波長非分散単光束方式とによるものがある。
なお，測定値は，湿りガス濃度（水分を含んだ状態での濃度）として測定される。
2. 性能 主な性能は，附属書2表1による。性能試験は所定長さの校正用ガスセルを測定光路部に挿入
し，試験用ガスを導入又は封入することによって行う。
附属書2表 1 主な性能
波長分散方式
波長非分散単光束方式
レンジ
0〜50 volppmから 0〜5 000 volppm
0〜350 ppmから 0〜3.5 vol％
繰返し性
最大目盛値の ±2 ％
最大目盛値の ±2 ％
ゼロドリフト
最大目盛値の ±2 ％
最大目盛値の ±2 ％
スパンドリフト
最大目盛値の ±2 ％
最大目盛値の ±2 ％
指示誤差
最大目盛値の ±4 ％
最大目盛値の ±4 ％
最小検出限界
最大目盛値の 1 ％以下
最大目盛値の 1 ％以下
応答時間（90 ％応答）
50 s 以下
2 s 以下
備考 この値は，光路長1 m，測定時間30秒（波長分散方式）の場合で，製品カタログなどを参考にして記載した。
3. 構造 計測器は，附属書2図1及び附属書2図2に示す測定光路部，発光器，受光器，分光検出器，
校正用ガスセル，パージガスセル，データ処理部などで構成する。
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附属書2図 1 波長分散方式の構成例
附属書2図 2 波長非分散単光束方式の構成例
a) 発光器 一酸化二窒素の吸収波長域の光を発生するもので，波長分散方式では高圧キセノンランプな
どを，波長非分散方式では単色光が得られる半導体レーザーなどを用いる。
b) 受光器 排ガス流を透過した一酸化二窒素の吸収波長域の透過光を集光しスペクトロメータなどに導
入するもので，集光に凹面鏡などを用い，分析部への導入に光ファイバーケーブルなどを用いる。
c) 分光検出器 導入された光を分光及び検出するもので，回折格子，走査装置，光電子増倍管などから
なる。
d) 検出器 排ガス流を透過した一酸化二窒素の吸収波長域の透過光を集光し，検出するもので，光電変
換素子などを用いる。
e) 測定光路部 煙道に設置した発光器と受光器又は検出器との間の長さで，最大測定光路長は15〜30 m
程度である。
f)
パージガスセル 発光器及び受光器，又は検出器に付着する粉じんなどを除去するために，窒素ガス
又は除湿及び除じんした圧縮空気を吹き付けるセル。
g) 校正用ガスセル 試験用ガスを連続的に導入又は封入する構造であり，両端のセル窓には赤外線を透
過するものを用いる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
h) データ処理部 波長分散方式では得られた一酸化二窒素の吸収スペクトルグラムを差分光吸収法
（DOAS）処理し，濃度を算出するもので，AD変換器，制御器，演算器などからなる。波長非分散方
式では検出器で得られた電気信号から濃度を算出するもので，濃度算出に必要な測定光路長，排ガス
温度，排ガス圧力などのパラメータを設定する制御器，演算器などからなる。