B 7606-2：2019
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目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 試験器物（EUT）に対する試験の一般要件（附属書B参照） ··················································· 3
4.1 電源 ···························································································································· 3
4.2 ゼロ点設定 ··················································································································· 3
4.3 温度 ···························································································································· 3
4.4 回復 ···························································································································· 3
4.5 起動時間 ······················································································································ 3
4.6 自動ゼロ点設定 ············································································································· 3
4.7 誤差の評価 ··················································································································· 3
5 検査要件························································································································· 4
5.1 型式検査 ······················································································································ 4
5.2 受渡検査 ······················································································································ 4
6 計量性能試験 ··················································································································· 4
6.1 一般条件 ······················································································································ 4
6.2 起動時間試験 ················································································································ 4
6.3 現地試験 ······················································································································ 5
6.4 静荷重でのシミュレーション試験······················································································ 5
7 追加機能························································································································· 7
7.1 複数の表示装置間の一致 ································································································· 7
7.2 自動動作モードにおける調整 ··························································································· 7
7.3 構成部品及び事前設定制御装置の安全防護 ·········································································· 7
7.4 積算表示装置及び印字装置 ······························································································ 7
7.5 電源電圧遮断後の合計積算表示値の保持············································································· 7
7.6 主電源（DC）電圧又は電池電圧変動 ················································································· 7
8 影響因子試験及び妨害試験 ································································································· 7
8.1 一般 ···························································································································· 7
8.2 影響因子試験 ················································································································ 8
8.3 妨害試験 ····················································································································· 16
9 計量特性························································································································ 23
9.1 繰返し性 ····················································································································· 23
9.2 積算表示装置の識別能力 ································································································ 23
9.3 ゼロの積算に使用した積算表示装置の識別能力 ··································································· 24
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ページ
9.4 ゼロの安定性 ··············································································································· 24
10 無負荷試験 ··················································································································· 25
10.0A 繰返し性 ·················································································································· 25
10.1 ゼロ表示の変動の最大許容誤差 ······················································································ 25
10.2 ゼロ点設定に使用する積算表示装置の識別能力 ································································· 25
10.3 無負荷時の表示の最大変動 ···························································································· 26
11 現地試験 ······················································································································ 26
11.1 一般 ·························································································································· 26
11.2 管理方法 ···················································································································· 27
11.3 実量試験 ···················································································································· 27
11.4 テストチェーンを用いた試験 ························································································· 28
附属書A（規定）ソフトウェア制御のデジタル装置及びはかりの追加審査及び試験 ·························· 29
附属書B（参考）試験器物（EUT） ························································································ 32
附属書C（参考）耐久性試験要件 ··························································································· 34
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 35
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まえがき
この規格は，産業標準化法に基づき，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって，JIS B 7606-2:2018は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
注記 工業標準化法に基づき行われた日本工業標準調査会の審議等の手続は，不正競争防止法等の一
部を改正する法律附則第9条により，日本産業標準調査会の審議等の手続を経たものとみなさ
れる。
JIS B 7606の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS B 7606-1 第1部：計量要件及び技術要件
JIS B 7606-2 第2部：試験方法
日本産業規格 JIS
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コンベヤスケール−第2部：試験方法
Belt weighers-Part 2: Tests procedures
序文
この規格は，2014年に発行されたOIML R 50-2を基とし，技術的内容を変更して作成した日本産業規
格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，コンベヤスケールの試験方法について規定する。
ソフトウェア制御のデジタル装置及びはかりの追加審査及び試験を，附属書Aに規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
OIML R 50-2:2014，Continuous totalizing automatic weighing instruments (belt weighers). Part 2: Test
procedures（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 7606-1 コンベヤスケール−第1部：計量要件及び技術要件
注記 対応国際規格：OIML R 50-1:2014，Continuous totalizing automatic weighing instruments (belt
weighers). Part 1: Metrological and technical requirements
JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：
A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold
JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：
B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイク
ル）試験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30:1980，Environmental testing−Part 2: Tests.Test Db and guidance:
2
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Damp heat, cyclic (12 + 12-hour cycle) 及びAmendment 1:1985
JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試験記
号：Cab）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
heat, steady state
JIS C 60068-3-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第3-1部：低温（耐寒性）試験及び高温（耐熱性）
試験の支援文書及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-3-1:1974，Environmental testing−Part 3: Background information−
Section one: Cold and dry heat tests及びSupplement A:1978
JIS C 60068-3-4:2004 環境試験方法−電気・電子−第3-4部：高温高湿試験の指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-3-4:2001，Environmental testing−Part 3-4: Supporting documentation
and guidance−Damp heat tests
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test
JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test
JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
JIS Z 8103 計測用語
IEC 60654-2:1979，Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment−Part 2:
Power及びAmendment 1:1992
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語，定義，略語及び記号は，JIS B 7606-1及びJIS Z 8103による。
3
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4
試験器物（EUT）に対する試験の一般要件（附属書B参照）
4.1
電源
コンベヤスケールは，製造業者が指定した予熱時間以上通電し，試験中は，通電しておく。
4.2
ゼロ点設定
コンベヤスケールのゼロ点は，試験の開始前に設定し，有意な誤りが生じた場合のリセットを除いて，
試験中いかなる場合においても再設定してはならない。
自動ゼロ点設定装置の動作は，各試験に規定する。
4.3
温度
静的温度，ゼロ流量における温度影響及び高温高湿を除いて，試験は，安定した周囲温度及び各試験で
別に指定のない場合は，通常の室温で実施する。試験中に記録した最大温度差がコンベヤスケールの使用
温度範囲の5分の1を超えない場合，及び周囲温度の変化率が1時間当たり5 ℃を超えない場合，周囲温
度は，安定しているとみなす。
コンベヤスケールに結露が生じないようにしなければならない。ただし，8.2.3.2は除く。
4.4
回復
コンベヤスケールは，それぞれの試験の後，続いて行う試験の前に十分に回復させる。
4.5
起動時間［6.2及びJIS B 7606-1の6.5.3（起動時間）］
コンベヤスケールは，6.2に従って，起動時間試験を行わなければならない。
4.6
自動ゼロ点設定
試験中，自動ゼロ点設定装置は，インタロックによって無効にしてもよい。自動ゼロ点設定装置の動作
については，各試験に規定する場合は，それに従って行う。
4.7
誤差の評価
4.7.0A 一般
相対誤差の計算は，JIS B 7606-1の8.6（相対誤差の計算）の規定に従って行う。
4.7.1
管理はかりのより高い分解能
11.2に規定する現地試験に十分な分解能をもつ管理はかりを利用できない場合，次のような方法で追加
分銅を用いることによって，管理はかりのより高い分解能を確実なものとしてもよい。
ある荷重（L）において，表示値（I）を記録する。管理はかりの表示値が明らかに1目量（1 d）増加し
て，“I＋d”になるまで，例えば，0.1目量（0.1 d）の追加分銅を順次載せていく。荷重受け部に載せた追
加分銅の合計値（ΔL：追加荷重）によって，丸める前の計量値（P）を次の式によって求める。
L
d
I
P
Δ
5.0 −
+
=
丸める前の誤差（E）は，次の式によって求める。
L
L
d
I
L
P
E
−
−
+
=
−
=
Δ
5.0
例 1 kgの目量（d）をもつはかりに，100 kgの荷重を載せた場合，100 kgを表示する。続いて0.1 kg
の分銅を順次加えて，0.3 kgの追加荷重で表示が100 kgから101 kgに変化する。上の式にこの結
果を代入すると，次のようになる。
(
)
()
kg
2.
100
3.0
5.0
100
=
−
+
=
P
丸める前の計量値は100.2 kgであり，その誤差は，次のようになる。
(
)
()
kg
2.0
100
2.
100
＋
=
−
=
E
4.7.2
コンベヤスケールの読取り（表示が0.2 d以下の目量をもっている場合）
デジタル表示のコンベヤスケールが， 0.2 d以下の目量を恒常的に又は一時的に表示をする場合，この
4
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目量を用いて誤差を求めてもよいがこの目量を用いた場合には，型式検査報告書には，その旨を記録する。
4.7.3
コンベヤスケールの読取り（表示が0.2 d以下の目量をもっていない場合）
0.2 d以下の小さい目量をもっていない場合，次の方法を用いて誤差を決定することができる。JIS B
7606-1の表4［最小積算量（Σmin）の最小値］の値の5倍の試験荷重を積算するまで，コンベヤスケールを
運転する。
例 精度等級1のコンベヤスケールの場合，次のようになる。
− MPE＝0.35 %［JIS B 7606-1の表3（影響因子試験の最大許容誤差）参照］
− Σmin＝400 d（JIS B 7606-1の表4参照）
− 5×400 d＝2 000 d
したがって，MPEは7 dであって，1 dの誤差は，MPEの1/7となることが分かる。
これは，次のとおりで，0.2 dの表示を用いた場合の400 d（JIS B 7606-1の表4からのΣmin）の
試験荷重に等しい。
− MPE＝1.4 d
− 1/7 MPE＝0.2 d
試験荷重を増加することによって，dの値は，その試験荷重に対するMPEに比べ相対的に小さ
くなる。
注記 試験荷重の置換えによる測定の誤差は，全て考慮することが望ましい。
5
検査要件
5.1
型式検査［JIS B 7606-1の7.1（型式検査）］
箇条8に規定する試験は，ベルトコンベヤを用いずに静荷重で実施しなければならない［JIS B 7606-1
の8.3（シミュレーション試験）参照］。
箇条6〜箇条11の全ての試験は，JIS B 7606-1の箇条8（計量性能試験要件）の試験方法を用いて，型
式検査に適用する。
5.2
受渡検査
受渡検査は，箇条10及び箇条11を適用する。
6
計量性能試験
6.1
一般条件
試験においては，箇条4を，可能な限り適用する。
6.2
起動時間試験［4.5及びJIS B 7606-1の6.5.3（起動時間）］
この試験は，コンベヤスケール及びベルトコンベヤが起動時間後に計量性能を維持しているかを検証す
るために行う。試験方法は，少なくとも製造業者が指定した起動時間の間，要件を満たしていることを確
認するものである。コンベヤスケールの動作を，起動時間が経過するまで停止し，かつ，計量の結果の表
示又は伝送がないことを確認する。
この試験は，温度及び湿度に関する代表的計量条件を維持しながら，次の手順に従って行う。
a) コンベヤスケールを試験の前に8時間以上，電源を遮断する。
b) コンベヤスケールに電力を供給し，起動させる。
c) 表示器が安定した後，次の試験（試験A及び試験B）を実施する。
− 試験A コンベヤスケールのゼロ点を設定する。単速度コンベヤスケールの場合は，荷重受け部に
5
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Qminに等しい荷重（通常は，Maxの20 %）を載せ，又は可変速度及び多速度のコンベヤスケールの
場合は，Maxの20 %荷重を載せて，最大ベルト速度でΣminの積算を実施し，積算値及び試験の正確
な継続時間（通常は，パルス数の事前設定数）を記録する。
注記 この試験では，Maxの割合は，JIS B 7606-1の4.5［最小流量（Qmin）］から導き出し，通常
は，20 %であるが，それを超える場合がある。
− 試験B 試験Aと同じ継続時間において，直ちに，Maxにおける積算を実施し，また，可変速度及
び多速度のコンベヤスケールの場合は，試験Aで適用したのと同じ最大ベルト速度及びパルス数で
積算を実施し，その積算値を記録する。
30分間の間に，少なくとも3回繰り返すような時間間隔で，試験A及び試験Bを繰り返す。
誤差は，4.7に従って求める。割合で表す相対誤差は，その精度等級に該当するJIS B 7606-1の表3（影
響因子試験の最大許容誤差）に規定する値を超えてはならない。
6.3
現地試験
現地試験は，箇条11及びJIS B 7606-1の箇条8（計量性能試験要件）の手順による。
管理はかりは，コンベヤスケールで製品を計量する前又は後に，製品を計量するために使用する。試験
で使用する管理はかりは，JIS B 7606-1の8.2.1（管理はかり及び標準分銅）の要件を満たしていなければ
ならない。
テストチェーンを用いる場合は，JIS B 7606-1の8.2.2（テストチェーン）の要件を満たしていなければ
ならない。
現地試験における自動計量の誤差は，JIS B 7606-1の8.6（相対誤差の計算）に従って求める。誤差を計
算する場合，管理はかりの目量を考慮する必要がある。
6.4
静荷重でのシミュレーション試験［JIS B 7606-1の8.3（シミュレーション試験）］
6.4.1
シミュレーション速度の変動［JIS B 7606-1の4.7.1（模擬速度の変動）参照］
ベルトの走行を模擬するか，又は速度検出シミュレーション装置を動作し，安定させる。速度を変更し
た後は，ゼロ点設定を行わずに，模擬したベルトの整数回転と同じ回転数において，各試験を実施する。
Qmax付近の流量において，Σmin又は4.7.3を適用する場合，JIS B 7606-1の表4［最小積算量（Σmin）の最
小値］の値の5倍の積算を各動作速度に1回ずつ行う。動作速度は，次による。
− 公称速度の90 %
− 公称速度の110 %
多速度コンベヤスケールの場合は，各設定動作速度で行う。
可変速度コンベヤスケールの場合は，次のa)〜f)の動作速度で行う。
a) Vminの90 %の速度
b) Vminの110 %の速度
c) Vminに動作速度範囲（Vmax−Vmin）の1/3を加えた速度
d) Vmaxから動作速度範囲（Vmax−Vmin）の1/3を減じた速度
e) Vmaxに90 %を乗じた速度
f) Vmaxに110 %を乗じた速度
流量調整装置（定量供給装置など）を用いる場合は，次のg)〜k)の動作速度で行う。
g) Vmax
h) Vmaxから動作速度範囲（Vmax−Vmin）の1/4を減じた速度
i)
（Vmax＋Vmin）の1/2の速度
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j) Vminに動作速度範囲（Vmax−Vmin）の1/4を加えた速度
k) Vmin
g)〜k)の5段階で，低減しながら実施する。
誤差は，4.7に従って求める。求めた誤差は，JIS B 7606-1の表3に規定する値を超えてはならない。
6.4.2
偏置荷重［JIS B 7606-1の4.7.2（偏置荷重）］
試験は，荷重をベルトの走行方向に平行に，かつ，模擬したベルトの半分の幅に負荷する。
Maxの半分に等しい荷重に対して，Σminの模擬した積算試験荷重，又は次の場合は，三つの帯域でそれ
ぞれの荷重を用いて，JIS B 7606-1の表4［最小積算量（Σmin）の最小値］の値の5倍の荷重の個別積算を
（4.7.3に示したように）行う（図1参照）。
− 帯域1：荷重受け部の中心から（模擬した）ベルトの一端までである場合
− 帯域2：荷重受け部の中心とする場合
− 帯域3：帯域1と同じ条件であるが，もう一方の側である場合
誤差は，4.7に従って求める。求めた誤差は，JIS B 7606-1の表3（影響因子試験の最大許容誤差）に規
定する値を超えてはならない。
図1−荷重の配置−偏置荷重
6.4.3
ゼロ点設定装置の範囲［JIS B 7606-1の5.5（ゼロ点設定装置）］
荷重受け部に荷重がない状態で，コンベヤスケールをゼロ点に設定する。荷重受け部に試験荷重を載せ
て，ゼロ点設定装置を作動する。そのゼロ点設定装置が，コンベヤスケールをゼロ点設定できなくなるま
で試験荷重を増加し続ける。再度ゼロ点に設定できる最大荷重が，そのゼロ点設定範囲の正側の値である。
ゼロ点設定範囲の負側の部分を試験するため，まず，荷重受け部に追加分銅を載せてコンベヤスケール
を再度ゼロ点にする。この追加分銅は，その負側のゼロ点設定範囲より大きいことが望ましい。連続して
その分銅を取り除き，その取り除いたそれぞれのときに，ゼロ点設定装置を作動する。コンベヤスケール
をゼロ点設定装置で再度ゼロ点に設定できる取り除いた最大荷重が，そのゼロ点設定範囲の負側の値であ
る。
この追加分銅なしで，コンベヤスケールを再度ゼロ点に設定する。
ゼロ点設定範囲は，正側及び負側の値の和であって，Maxの4 %を超えてはならない。
6.4.4
ゼロ点設定の精度［JIS B 7606-1の4.7.3（ゼロ点設定）参照］
正側及び負側の部分のゼロ点設定範囲の50 %及び100 %に等しい荷重に対して，コンベヤスケールをゼ
ロ点に設定した後，QmaxにおいてΣminの積算を実行する。
誤差は，4.7に従って求める。求めた誤差は，JIS B 7606-1の表3に規定する値を超えてはならない。
それぞれのゼロ点積算継続時間は，最小流量における最小積算量を計量するために必要な時間に等しい。
走行方向 →
ベルト幅
帯域1
帯域2
帯域3
7
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7
追加機能
7.1
複数の表示装置間の一致［JIS B 7606-1の4.3（複数の表示装置間の一致）］
試験中に，同一目量をもついずれの表示装置間の差も，同一荷重に対して差がないことを検証する。
7.2
自動動作モードにおける調整［JIS B 7606-1の5.3.2（動作調整）参照］
自動計量運転中には，動作調整及び計量関連表示装置のリセットのいずれも不可能であることを検証す
る。
7.3
構成部品及び事前設定制御装置の安全防護［JIS B 7606-1の5.3.7（構成部品及び事前設定制御装置
の保護又は封印）参照］
構成部品，インタフェース，ソフトウェア装置及び事前設定制御装置の無許可の調整又はリセットは，
アクセスが自動的に明らかになることなく行うことが不可能であることを検証する。
7.4
積算表示装置及び印字装置［JIS B 7606-1の5.4（積算表示装置及び印字装置）］
計量結果の表示に対して，a)〜g)を検証する。
a) 積算表示装置及び印字装置を恒久的に接続している［JIS B 7606-1の5.4.6（積算表示装置の係合）参
照］。
b) 自動運転では，積算表示装置がゼロ点に設定できない［JIS B 7606-1の5.4.5（積算表示装置）参照］。
c) 自動運転が終了した場合，その積算値が自動的に記録されない限り，その部分積算表示装置をゼロ点
に設定できない。汎用積算表示装置を無効化し，部分積算表示装置のリセットを試みることによって
試験を行う（JIS B 7606-1の5.4.5参照）。
d) 部分積算表示装置の目量が，汎用積算表示装置の目量に等しい［JIS B 7606-1の5.4.3.2（部分積算表
示装置の目量）参照］。
e) 補足積算表示装置の目量は，積算目量の10倍以上である［JIS B 7606-1の5.4.3.3（補足積算表示装置
の目量）参照］。
f)
コンベヤスケールの一つ以上の積算表示装置が，最大流量において10時間計量する製品量に等しい値
を表示できる［JIS B 7606-1の5.4.4（表示の範囲）参照］。
g) 多機能表示器の場合，合計の自動表示は，その自動運転が中断したときに行うか，又は自動運転中に
直前の表示後，20秒以内に行う（JIS B 7606-1の5.4.5参照）。
7.5
電源電圧遮断後の合計積算表示値の保持［JIS B 7606-1の6.5.4（商用電源故障）］
汎用積算表示装置が，Σmin以上の総積算表示値を表示している間，コンベヤスケールへの電源を遮断す
る。この積算値を24時間以上保持し，かつ，電源投入後，5分間以上その情報を表示することを検証する。
7.6
主電源（DC）電圧又は電池電圧変動［JIS B 7606-1の6.5.4及び6.5.5（電池電源故障）］
コンベヤスケールが運転を停止するか，又は適切な計量値の表示を示さなくなるまで電圧を下げる。コ
ンベヤスケールが運転を停止する前に，誤動作又は有意な誤りが一切生じないことを検証する。コンベヤ
スケールが運転を停止又は適切な計量値の表示を示さなくなったときの電圧値を測定して記録し，その測
定値が製造業者が指定した値を下回らないことを確認する。
8
影響因子試験及び妨害試験
8.1
一般
8.1.0A 一般
コンベヤスケールは，JIS B 7606-1で規定する影響因子試験及び妨害試験の条件並びにこれらの要件を
満たさなければならない。
8
B 7606-2：2019
影響因子試験及び妨害試験は，コンベヤスケールが規定の環境及び条件下で意図したとおり動作及び機
能することを検証する。それぞれの試験には，該当する場合，固有誤差を決める標準条件が示されている。
走行ベルトに製品を載せた状態で自動運転を行っているコンベヤスケールには，影響因子試験及び妨害
試験を適用することは不可能である。したがって，コンベヤスケールを，次に規定するように模擬した条
件の下で影響因子又は妨害にさらす必要がある。模擬した条件の下で影響因子又は妨害の許容可能な影響
を，それぞれの場合に対して規定している。
− 一つの影響因子の影響を評価をするとき，それ以外の影響因子は，比較的一定で，通常に近い値に保
つ。
− 8.2の各試験の後，コンベヤスケールは，次に行う試験の前に，十分に回復させる。
− コンベヤスケールのモジュールを個別に試験する場合，JIS B 7606-1の7.1.5.7（誤差配分）に従って，
誤差を配分しなければならない。
− 8.2の各試験で，コンベヤスケール又はシミュレータの運転状態を記録する。
− 全ての定格動作条件によるゼロ点の偏差を記録し，計量結果を得るために，適宜その表示を補正する。
8.1.1
シミュレーション動作
シミュレーション試験中の影響因子試験及び妨害試験は，計量システムの全ての電子装置を含めて行わ
なければならない。
8.1.2
シミュレータの使用
シミュレーション試験に使用する標準分銅及び速度検出シミュレーション装置は，JIS B 7606-1の8.3（シ
ミュレーション試験）の規定に従って，試験器物（以下，EUTという。）に取り付けて試験を行う。シミ
ュレータを用いてモジュール試験を行う場合は，シミュレータの繰返し性及び安定性が，分銅を用いて完
成はかりを試験するときと同等以上の精度でモジュール評価を行える場合にだけ，得られた誤差をモジュ
ールのMPEの判断に用いることができる。
8.1.3
インタフェース［JIS B 7606-1の6.6（インタフェース）］
電子的インタフェースの使用から生じる他の機器への感受性は，試験で模擬しなければならない。した
がって，他の機器のインタフェースのインピーダンスを模擬するためには，3 m以上のインタフェースケ
ーブルを接続する。
8.2
影響因子試験［JIS B 7606-1の4.7.4（影響量）］
影響因子試験の概要を，表1に示す。
表1−影響因子試験の概要
影響因子試験
適用条件
箇条番号
静的温度
MPE a)
8.2.1
ゼロ流量における温度影響
8.2.2を参照
8.2.2
高温高湿（定常状態，非結露）
MPE a)
8.2.3.1
高温高湿（サイクル，結露）
MPE a)
8.2.3.2
主電源（AC）電圧変動
MPE a)
8.2.4
主電源（DC）電圧変動
MPE a)
8.2.5
内部電池の低電圧
MPE a)
8.2.6
注a) JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）に規定した最大許容誤差。
9
B 7606-2：2019
8.2.1
静的温度［JIS B 7606-1の4.7.4.1（温度）］
静的温度は，表2に従って，コンベヤスケールをJIS B 7606-1の4.7.4.1で規定する高温及び低温に，結
露を生じさせることなくさらし，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているか
を検証する。温度試験の一般的な手順を，図1Aに示す。
表2−静的温度（高温及び低温）
適用規格
JIS C 60068-2-1，JIS C 60068-2-2及びJIS C 60068-3-1
事前調整
製造業者が指定する予熱時間を考慮した上で，EUTを16時間以上通電しておく。
EUTの条件
− 試験中は，EUTを通電する。
− ゼロ点設定装置は，通常動作については動作可能である。
− ゼロ流量における温度影響と組み合わせて実行する場合，自動ゼロ点設定装置を
無効にすることによる試験結果への影響を考慮し，試験の前にはEUTを可能な限
りゼロ点に調整する。
試験手順
a) この試験は，2時間以上の間，自由空気条件下でJIS B 7606-1の4.7.4.1に規定す
る高温及び低温にさらすことからなる（規定する時間は，EUTが温度安定に達し
た時点後の時間である。）。
b) 自由空気条件下とは，安定した状態に温度を保つための十分な空気循環を意味す
る。
c) 温度変化は，加熱及び冷却中に毎分1 ℃を超えてはならない。各温度における安
定のための時間は，2時間以上である。
d) 試験環境の絶対湿度は，20 g/m3を超えてはならない。35 ℃未満の温度で試験を実
施するとき，相対湿度は，50 %を超えてはならない。
e) 試験温度は，次による。
1) 基準温度20 ℃
2) 規定の高温
3) 規定の低温
4) 規定の低温が0 ℃以下の場合，温度5 ℃
5) 基準温度20 ℃
f) 各試験温度での安定の後，次の流量ごとに2回ずつΣminの積算を実施する。
1) 最小流量Qmin
2) 中間流量（Qmax＋Qmin）/2
3) 最大流量Qmax
4) 最小流量Qmin
最大許容誤差
− 全ての機能は，設計どおりに動作しなければならない。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなければ
ならない。
10
B 7606-2：2019
S
：
E
U
T
が
温
度
安
定
状
態
に
到
達
W
t
：
待
ち
時
間
（
2
時
間
）
P
：
ゼ
ロ
点
設
定
W
e
：
流
量
試
験
R
：
回
復
Z
i
：
ゼ
ロ
流
量
試
験
試
験
温
度
（
℃
）
4
0
3
5
3
0
2
5
2
0
1
5
1
0
5
0
−
5
−
1
0
W
e
R
Z
1
W
t
P
S
図
1
A
−使
用
温
度
範囲
が
−
1
0
℃
〜
4
0
℃
の
場
合
の温
度
試験
の
一
般
的
な手
順
例
（
8
.2
.1
と
8
.2
.2
と
の
組合
せ
）
W
t
Z
2
W
e
R
S
Z
3
W
t
Z
4
W
e
R
S
Z
5
W
t
Z
6
W
e
R
S
Z
7
W
t
Z
8
W
e
R
S
11
B 7606-2：2019
8.2.2
ゼロ流量における温度影響［JIS B 7606-1の4.7.4.2（ゼロ流量における温度影響）］
ゼロ流量における温度影響は，表3に従って，コンベヤスケールをJIS B 7606-1の4.7.4.1（温度）で規
定する高温及び低温に，結露を生じさせることなくさらし，JIS B 7606-1の4.7.4.2への準拠を検証する。
温度試験の一般的な手順を，図1Aに示す。
表3−ゼロ流量における温度影響（高温及び低温）
適用規格
JIS C 60068-2-1，JIS C 60068-2-2及びJIS C 60068-3-1
試験の適用性
一般的に全てのEUTに適用可能だが，自動ゼロ点設定装置を全ての自動計量サイク
ルの一部として設定するコンベヤスケールに対しては実施しなくてもよい。この試験
は，表1で規定する静的温度と組み合わせて実施することができる。
事前調整
製造業者が指定する予熱時間を考慮した上で，EUTを16時間以上通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有意
な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整してはならない。
試験手順
a) コンベヤスケールをゼロ点に設定し，温度をJIS B 7606-1の4.7.4.1に規定する高
温及び低温並びに規定の低温が0 ℃以下の場合は5 ℃に変化させる。
b) 各温度での安定化後，ゼロ点の誤差を測定し，5 ℃当たりのゼロ点の誤差の変化を
求める。
c) 5 ℃当たりの誤差の変化は，試験の二つの連続する温度について，それぞれ求める。
d) 試験温度は，次による。
1) 基準温度20 ℃
2) 規定の高温
3) 規定の低温
4) 規定の低温が0 ℃以下の場合，温度5 ℃
5) 基準温度20 ℃
e) d)の1)の基準温度への設定及び安定の後，EUTをゼロ点に設定する。
f) 各試験温度での安定の後，次の試験を実施する。
− ゼロ流量で6分間積算し，ゼロ点の誤差を測定する。
− 5 ℃当たりのゼロ点誤差の変化を求める。
g) 5 ℃当たりのゼロ点誤差の変化は，二つの連続する全ての試験温度において求めな
ければならない。
h) 次の試験温度へ移行する直前に，その都度，ゼロ点の誤差を測定する。
最大許容誤差
− 全ての機能は，設計どおりに動作しなければならない。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.7.4.2で規定する値の範囲内でなければならない。
12
B 7606-2：2019
8.2.3
高温高湿［JIS B 7606-1の6.5.1（影響因子）］
試験は，8.2.3.1又は8.2.3.2による。選択した試験方法を型式検査報告書に記載する。
8.2.3.1
高温高湿（定常状態，非結露）
高温高湿（定常状態，非結露）は，表4に従って，コンベヤスケールを結露がない定常状態で規定する
高温高湿状態にさらし，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているかを検証す
る。
表4−高温高湿（定常状態，非結露）
適用規格
JIS C 60068-2-78及びJIS C 60068-3-4
事前調整
製造業者が指定する予熱時間以上，EUTを通電しておく。
EUTの条件
− 試験中は，EUTを通電する。
− ゼロ点設定装置は，通常動作については動作可能である。
試験手順
a) 試験は，JIS B 7606-1の4.7.4.1（温度）に規定する温度及びJIS B 7606-1の6.5.1
に規定する相対湿度にさらすことからなる。
b) EUTは，EUT表面上に結露が生じないように取り扱う。
c) 試験温湿度及び保持時間は，次による。
1) 基準温度20 ℃及び相対湿度を50 %に設定する。
2) 3時間，基準温度20 ℃及び相対湿度を50 %に保つ。
3) 規定の温度及び相対湿度を85 %に設定する。
4) 48時間，規定の温度及び相対湿度を85 %に保つ。
5) 基準温度20 ℃及び相対湿度を50 %に設定する。
6) 3時間，基準温度20 ℃及び相対湿度を50 %に保つ。
d) 各規定温度及び湿度で再度安定させた後，次の流量ごとに2回ずつΣminの積算を
実施する。
1) 最小流量Qmin
2) 中間流量（Qmax＋Qmin）/2
3) 最大流量Qmax
4) 最小流量Qmin
最大許容誤差
− EUTの誤差は，試験手順のc)の2)，4)及び6)において測定する。
− 全ての機能は，設計したとおりに動作しなければならない。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなければ
ならない。
13
B 7606-2：2019
8.2.3.2
高温高湿（サイクル，結露）
高温高湿（サイクル，結露）は，表5に従って，コンベヤスケールが結露した状態で規定する高温高湿
状態にさらし，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているかを検証する。
表5−高温高湿（サイクル，結露）
適用規格
JIS C 60068-2-30及びJIS C 60068-3-4
事前調整
製造業者が指定する予熱時間以上，EUTを通電しておく。
EUTの条件
− 試験中は，EUTを通電する。
− ゼロ点設定装置は，通常動作については動作可能である。
試験手順
a) 試験は，規定のサイクルで高温高湿にさらすことからなる。
b) EUTは，温度上昇中に表面上に結露が生じるように取り扱う。
c) 24時間サイクルは，次による。
1) 初めに3時間の温度上昇。
2) サイクル開始から12時間までは，温度を高温に維持する。
3) 3時間から6時間まで要して温度を低い温度まで下げる。
4) その後，24時間サイクルが完了するまで，温度を低い温度に維持する。
d) 試験は，次のサイクルについて，コンベヤスケールが安定した後に行う。
1) サイクル開始前の温度25 ℃及び相対湿度95 %以上
2) サイクルごとに規定の高温及び相対湿度93 %
3) サイクル開始後の温度25 ℃及び相対湿度95 %以上
e) d)の1)〜3)において，次の流量ごとに2回ずつΣminの積算を実施する。
1) 最小流量Qmin
2) 中間流量（Qmax＋Qmin）/2
3) 最大流量Qmax
4) 最小流量Qmin
試験サイクル数
2試験サイクル以上を実施する。
最大許容誤差
− EUTの誤差は，試験手順のd)の1)〜3)において測定する。
− 全ての機能は，設計したとおりに動作しなければならない。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなければ
ならない。
14
B 7606-2：2019
8.2.4
主電源（AC）電圧変動［JIS B 7606-1の4.7.4.3（電圧変動）及びJIS B 7606-1の6.5.4（商用電源
故障）］
主電源（AC）における電圧変動は，表6に従って，コンベヤスケールの主電源（AC）電圧を低電圧及
び高電圧に変動させ，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているかを検証する。
表6−主電源（AC）電圧変動
適用規格
JIS C 61000-4-11
試験の適用性
− 使用中に，一時的に又は継続的に主電源（AC）に接続するコンベヤスケールに適
用する。
事前調整
製造業者が指定する予熱時間以上，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定する。自動ゼロ点
設定装置をもつ場合は，各試験電圧を印加した後にゼロ点に設定する。
試験手順
a) 試験は，安定した周囲温度で，基準電圧によって十分安定させた後，EUTの主電
源（AC）電圧を各試験電圧に変化させて行う。
b) 試験電圧は，次による。
1) 基準電圧a)
2) 上限電圧Unom1
3) 下限電圧Unom2
4) 基準電圧
c) 三相電源の場合，電圧変動は，各相に連続して印加する。
d) EUTは，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
上限電圧
Unom1＋10 % a)
下限電圧
Unom2−15 % a)
最大許容誤差
− 誤差は，EUTに基準電圧を印加したとき，上限電圧を印加したとき，及び下限電
圧を印加したときに，測定する。
− 全ての機能は，設計どおりに動作しなければならない。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなければ
ならない。
注a) Unomの値は，コンベヤスケールに表記している値である。範囲を指定している場合，“Unom1”は上限電圧，
“Unom2”は下限電圧である。一つの公称電圧（Unom）だけを指定している場合は，“Unom1＝Unom2＝Unom”で
ある。基準電圧は，“(Unom1＋Unom2) /2”と等しい。
15
B 7606-2：2019
8.2.5
主電源（DC）電圧変動［JIS B 7606-1の4.7.4.3（電圧変動）及びJIS B 7606-1の6.5.4（商用電源
故障）］
主電源（DC）における電圧変動は，表7に従って，コンベヤスケールの主電源（DC）電圧を低電圧及
び高電圧に変動させ，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているかを検証する。
表7−主電源（DC）電圧変動
適用規格
IEC 60654-2
試験の適用性
− 使用中に，一時的に又は継続的に主電源（DC）に接続するコンベヤスケール
に適用する。
事前調整
製造業者が指定する予熱時間以上，EUTを通電しておく。
EUTの条件
− 試験中は，EUTを通電する。
− 試験の前に可能な限りゼロ点に設定する。
試験手順
a) 試験は，安定した周囲温度で，規定する基準電圧a)で十分安定させた後，EUT
の主電源（DC）電圧を各試験電圧に変化させて行う。
b) 試験電圧は，次による。
1) 基準電圧a)
2) 上限電圧
3) 下限電圧b)
4) 基準電圧
c) EUTは，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
上限電圧は，EUTが自動的に上限を超えたことを検出するよう設計した電圧で
あって，Unom＋20 %，又はUmax＋20 %を超える製造業者が指定した値である。
最大許容誤差
− 誤差は，EUTに基準電圧を印加したとき，上限電圧を印加したとき，及び下
限電圧を印加したときに，測定する。
− 全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなけ
ればならない。
注a) 基準電圧は，製造業者が指定した公称直流電圧（Unom）である。
b) 下限電圧は，JIS B 7606-1の4.7.4.3で規定するコンベヤスケールが適切に動作する電圧又はその電圧が製造
業者の指定した最小動作電圧である。
16
B 7606-2：2019
8.2.6
内部電池の低電圧［JIS B 7606-1の4.7.4.3（電圧変動）及びJIS B 7606-1の6.5.5（電池電源故障）］
主電源に接続されていない内部電池における電源電圧変動は，表8に従って，コンベヤスケールの内部
電池電圧を低電圧に変動させ，JIS B 7606-1の4.2.2（影響因子試験の最大許容誤差）を満たしているかを
検証する。
表8−（主電源に接続されていない）内部電池の低電圧
適用規格
適用可能な規格なし
試験の適用性
内部電池によって電力を供給する全てのコンベヤスケールに適用する。
事前調整
製造業者が指定する予熱時間以上，EUTを通電しておく。
EUTの条件
− 試験中は，EUTを通電する。
− 試験の前に可能な限りゼロ点に設定する。自動計量動作の一部として自動ゼロ点設定
装置をもつ場合は，各試験電圧を印加した後にゼロ点に設定する。
試験手順
a) 試験は，安定した周囲温度で，試験電圧で十分安定させた後，EUTの内部電池電圧を
各試験電圧に変化させて行う。
b) 代替電源を用いることによって，電池を模擬する場合，型式の電池の内部インピーダ
ンスも模擬し，十分な電流を供給する。
c) 試験電圧は，次による。
1) 基準電圧a)
2) 上限電圧
3) 下限電圧b)
4) 基準電圧
d) EUTは，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
上限電圧は，製造業者が指定した公称直流電圧（Unom）又はUmaxである。
最大許容誤差
全ての誤差は，JIS B 7606-1の4.2.2で規定する最大許容誤差の範囲内でなければならな
い。
注a) 基準電圧は，製造業者が指定した公称直流電圧（Unom）である。
b) 下限電圧は，JIS B 7606-1の4.7.4.3で規定するコンベヤスケールが適切に動作する電圧，又はその電圧が
製造業者の指定した最小動作電圧である。
8.3
妨害試験［JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）及びJIS B 7606-1の6.5.2（妨害）］
8.3.0A 一般
妨害試験の概要は，表9による。
表9−妨害試験の概要
妨害試験
適用条件
箇条番号
主電源（AC）電圧ディップ，短時間停電及び電圧低下
有意な誤りa)
8.3.1
主電源線並びに信号線，データ線及び制御線に対するバースト
（高速過渡試験）
有意な誤り
8.3.2
主電源（AC）線及び主電源（DC）線並びに信号線，データ線
及び制御線に対するサージ
有意な誤り
8.3.3
静電気放電
有意な誤り
8.3.4
電磁界イミュニティ
有意な誤り
8.3.5
注記 試験は，電気的試験に対する適切な分類に従って実施する。8.3.1〜8.3.5に規定した厳しさレベルは，OIML
D 11の等級E2の工業環境でみることが多い電磁妨害に相当する重大な，又は高レベルの電磁妨害を伴う
場所の中に設置して使用するコンベヤスケールに適用している。
注a) JIS B 7606-1の3.4.5.4（有意な誤り）に規定した最大許容誤差。
17
B 7606-2：2019
コンベヤスケール（又はシミュレータ）にインタフェースが存在する場合，その他の機器へのこれらの
インタフェースの使用は，試験で模擬する。この目的のために，その他の機器のインタフェースのインピ
ーダンスを模擬するための適切な周辺装置，又は3 mのインタフェースケーブルのいずれかを，異なる型
式のインタフェースの各々に接続する。
8.3.1
主電源（AC）電圧ディップ，短時間停電及び電圧低下
主電源（AC）電圧ディップ，短時間停電及び電圧低下は，表10に従って，JIS C 61000-4-11で規定する
試験設定を用いて，主電源電圧の短時間低下を注入し，短時間の主電源電圧低下の標準条件下において，
JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）を満たしているかを検証する。
表10−主電源（AC）の電圧ディップ，短時間停電及び電圧低下
適用規格
JIS C 61000-4-11
試験の適用性
この試験は，主電源（AC）によって電力を供給するEUTに適用する。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有意
な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 規定する継続時間において，主電源（AC）電圧の振幅を低減するのに適した試験
発生器を用いる。
b) 試験発生器の性能は，EUTを接続する前に検証する。
c) 主電源電圧低下試験は，各試験間に10秒以上の間隔を空けて，10回繰り返す。
d) 試験は，測定時間中に連続して適用する。
e) 停電及び低下は，全ての試験を実施するために必要な時間において繰り返す。し
たがって，10回を超える停電及び低下が必要となる場合もある。
f) EUTは，各試験中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
g) EUTの誤りは，異なるディップ及び低下のそれぞれで個別に測定する。
試験レベル
試験
公称電圧の低さ（Unom）
試験a
低下値（V）
0
継続時間（サイクル）
0.5
試験b
低下値（V）
0
継続時間（サイクル）
1
試験c
低下値（Unomの%）
40
継続時間（サイクル）
10/12
試験d
低下値（Unomの%）
70
継続時間（サイクル）
25/30
試験e
低下値（Unomの%）
80
継続時間（サイクル）
250/300
短時間停電
低下値（V）
0
継続時間（サイクル）
250/300
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処するか
によって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
18
B 7606-2：2019
8.3.2
主電源線並びに信号線，データ線及び制御線に対するバースト（高速過渡試験）
電気的バースト試験（高速過渡試験）は，表11及び表12に従って，JIS C 61000-4-4で規定する試験設
定を用いて，電気的バーストを注入し，JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）を満たしているかを検証する。
表11−信号線，データ線及び制御線に対するバースト（過渡）
適用規格
JIS C 61000-4-4
試験の適用性
使用中に外部の電気信号線路，データ線路及び／又は制御線路に恒久的に又は一
時的に接続する能動電子回路を内蔵するEUTに適用する。信号線路に対するバー
スト試験は，ケーブルの長さが3 mを超える（製造業者が指定する値）I/O信号ポ
ート，データポート及び制御ポートだけに適用する。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有
意な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 適用規格で定めているバースト発生器を使用する。
b) 発生器の特性は，EUTを接続する前に検証する。
c) 試験は，適用規格で定めている50 Ω及び1 000 Ωの負荷への出力電圧に対する
電圧スパイクのバーストにさらすことからなる。
d) バーストの正及び負の極性を両方とも，印加する。
e) 試験の継続時間は，各振幅及び各極性について1分以上とする。
f) バーストをI/O線路及び通信線路へ結合するために，規格で定めている容量結
合クランプを使用する。
g) EUTは，バースト中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
振幅（ピーク値）
（kV）
パルス波形
（ns）
繰返し率
（kHz）
1
5/50
5
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処する
かによって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
19
B 7606-2：2019
表12−主電源（AC）線及び主電源（DC）線に対するバースト（過渡）
適用規格
JIS C 61000-4-4
試験の適用性
使用中に，一時的に又は恒久的に主電源に接続するEUTに適用する。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は
有意な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 適用規格で定めているバースト発生器を使用する。
b) 発生器の特性は，EUTを接続する前に検証する。
c) 試験は，適用規格で定めている50 Ω及び1 000 Ωの負荷への出力電圧に対する
電圧スパイクのバーストにさらすことからなる。
d) バーストの正及び負の極性を両方とも，印加する。
e) 試験の継続時間は，各振幅及び各極性について1分以上とする。
f) 主電源への注入網は，バーストエネルギーが主電源内で放散されるのを防ぐた
めに，ブロッキングフィルタを含む。
g) 10回以上，正及び負の無作為に整相したバーストを印加する。
h) バーストは，試験を実施するのに必要な時間全てにおいて，印加する。したが
って，上記g)より多くの回数のバーストが必要になる場合がある。
i)
EUTは，バースト中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
振幅（ピーク値）
（kV）
パルス波形
（ns）
繰返し率
（kHz）
2
5/50
5
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処する
かによって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
20
B 7606-2：2019
8.3.3
主電源（AC）線及び主電源（DC）線並びに信号線，データ線及び制御線に対するサージ
電気的サージ試験は，表13に従って，JIS C 61000-4-5で規定する試験設定を用いて，電気サージを注
入し，JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）を満たしているかを検証する。
表13−主電原（AC）線及び主電源（DC）線並びに信号線，データ線及び制御線に対するサージ
適用規格
JIS C 61000-4-5
試験の適用性
− 使用中に，一時的に又は恒久的に主電源網に接続するEUT及び長さ10 mを超
えることがある電気信号線路，データ線路及び／又は制御線路に一時的に又は
恒久的に接続する能動電子回路を内蔵するEUTに適用する。
− この試験は，屋内ネットワークを通じて局所電源に接続したEUTには適用し
ない。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有
意な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 適用規格で規定しているサージ発生器を使用する。
b) 発生器の特性は，EUTを接続する前に検証する。
c) 試験は，適用規格で，その立ち上がり時間，パルス幅，インピーダンスの高い
及び低い負荷に対する出力電圧及び出力電流のピーク値，並びに二つの連続す
るパルス間の最小時間を定めている電気サージにさらすことからなる。
d) 3回以上の正のサージ及び3回以上の負のサージを印加する。
e) 主電源（AC）線路に対するサージは，交流電源周波数と同期させ，また主電源
の位相に合わせた四つの位相（0°，90°，180°及び270°）全てに対するサ
ージの注入を網羅するように繰り返す。
f) 注入ネットワーク回路は，適用する導体によって決まり，適用規格で定める。
g) サージは，試験を実施するのに必要な全ての時間，印加する。そのため，上記
よりも多くの回数のサージが必要となる場合がある。
h) 該当する信号線及びデータ線がある場合は，適用可能な注入ネットワークは，
サージを結合させる配線の種類によって決まり，適用規格の中で定める。
i)
EUTは，サージ中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
交流・直流又は非対称線路
対称線路
シールドI/O線路
及び通信線路
線間
線と接地との間
線と接地との間
線と接地との間
1.0 kV
2.0 kV
2.0 kV
2.0 kV
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処する
かによって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
21
B 7606-2：2019
8.3.4
静電気放電
静電気放電は，表14に従って，JIS C 61000-4-2に規定する試験設定を用いて静電気を放電し，JIS B
7606-1の6.1.1（妨害）を満たしているかを検証する。
表14−静電気放電
適用規格
JIS C 61000-4-2
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有
意な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 試験は，EUTを電気的放電にさらすことからなる。
b) 適用規格の中で定めているESD発生器を用いて，試験設定は，適用規格で規定
した寸法，使用材料及び条件に従う。
c) 試験を開始する前に，ESD発生器の性能を検証する。
d) 事前に選択した放電箇所当たり，20回（正極10回及び負極10回）の放電を印
加する。
e) 安全接地接続をもたないEUTは，次に行う放電にさらす前に，完全に放電させ
る。
f) 連続する放電間の時間間隔は，1秒以上とする。
g) 適切な試験方法は，接触放電である。気中放電は，接触放電を印加できない場
合にだけ用いる。
h) EUTは，各放電中において，最大流量でΣminの積算を実施する。
直接印加
i)
導電面で行う接触放電モードでは，放電始動前に電極をEUTに接触させる。そ
のような場合，接触放電端部の真空リレー内で放電火花が生じる。
j) 絶縁面の場合だけは，気中放電を用いることができる。火花放電が生じるまで，
帯電電極をEUTに近づける。
k) 気中放電においては，試験レベル以外（2 kV及び4 kV）でも，それぞれi)及び
j)の手順を繰り返し行う。
間接印加
接触モードで，EUTの直近に取り付けた結合面だけに放電を印加する。
試験レベル
放電
試験電圧
（kV）
接触放電
6
気中放電
8
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処する
かによって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
22
B 7606-2：2019
8.3.5
電磁界イミュニティ
注記 試験時間は，次の場合に適用できる。
a) 流量の表示分解能が，有意な誤りを明白に判別できる場合
b) 流量表示を恒久的に表示することができる場合
c) 積算表示に影響を与える流量を表示している場合
8.3.5.1
放射電磁界イミュニティ
放射電磁界に対するイミュニティは，表15に従って，JIS C 61000-4-3で規定する試験設定を用いて，
放射無線周波電磁界にさらし，JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）を満たしているかを検証する。
表15−放射無線周波電磁界
適用規格
JIS C 61000-4-3
試験の適用性
能動電子回路を内蔵するコンベヤスケールに適用する。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有意
な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) EUTは，適用規格で定めている要求電界強度及び電界均一性をもつ電磁界にさら
す。
b) 規定する電界強度のレベルは，非変調搬送波によって生じた電界を参照している。
c) EUTを変調波場にさらす。周波数掃引は，必要な場合にRF信号レベルを調整す
るため又はRF発生機器，増幅器及びアンテナを切り替えるためだけの一時停止と
する。
d) 周波数範囲を徐々に掃引する場合，刻み幅は，前の周波数値の1 %を超えてはなら
ない。
e) 各周波数における振幅変調搬送波の滞留時間は，EUTが動作して応答するのに必
要な時間より短くてはならないが，いずれの場合も0.5秒以上とする。
f) 十分な電磁場は，異なる種類の設備，EUTの寸法及び設備の周波数範囲によって
その使用を制限する設定の中で発生することができる。
g) EUTは，試験中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
周波数範囲
RF振幅
AM，正弦波変調
(26)80 MHz
〜2 000 MHz
10 V/m
80 %
1 kHz
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処するか
によって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
注記 外部配線（主電源線路，信号線路，データ線路及び制御線路）をもつコンベヤスケールは，26 MHz〜80 MHz
の範囲では，8.3.5.2による伝導性電磁界イミュニティの試験を実施することが望ましい。外部配線がなく，
8.3.5.2による試験ができない場合は，周波数範囲の下限を26 MHzとする。
23
B 7606-2：2019
8.3.5.2
伝導性電磁界イミュニティ
伝導電磁界に対するイミュニティ試験は，表16に従って，JIS C 61000-4-6で規定する試験設定を用い
て，無線周波電磁界への暴露に相当する無線周波数電流を注入し，JIS B 7606-1の6.1.1（妨害）を満たし
ているかを検証する。
表16−無線周波電磁界によって発生する伝導（共通状態）電流
適用規格
JIS C 61000-4-6
試験の適用性
能動電子回路を内蔵し，スループット用又は外部配線（主電源線路，信号線路，
データ線路及び制御線路）接続用のポートをもつコンベヤスケールに適用する。
事前調整
製造業者が指定した予熱時間以上は，EUTを通電しておく。
EUTの条件
試験中は，EUTを通電する。試験の前に可能な限りゼロ点に設定し，試験中は有
意な誤りが表示された場合のリセットを除いて，いかなる場合も再調整しない。
試験手順
a) 適用規格で定めている結合装置及び減結合装置を用いて，EUTの電源ポート及
びI/Oポートに，電磁界の影響を模擬する無線周波数電磁電流を結合又は注入
する。
b) 無線周波数発生器，（減）結合装置，減衰器などで構成する試験装置の特性は，
EUTを接続する前に検証する。
c) EUTが複数の装置で構成されており，ケーブルの両端ともEUTの一部である
場合，試験は，ケーブルの両端それぞれで実施する。
d) EUTは，各試験中に，最大流量でΣminの積算を実施する。
試験レベル
周波数範囲
RF振幅
AM，正弦波変調
0.15 MHz
〜80 MHz
10 V（e.m.f）
80 %
1 kHz
最大許容偏差
− 有意な誤りが生じないか，又はチェック装置が有意な誤りを検出して対処する
かによって，誤りの発生を防ぐ。
− 妨害試験中にコンベヤスケールが測定結果を表示しなくてもよい。
9
計量特性［JIS B 7606-1の4.7.5（計量特性）］
9.1
繰返し性［JIS B 7606-1の4.7.5.1（繰返し性）］
試験は，荷重受け部にa)〜d)の分布荷重に加えて，Σmin又は4.7.3を適用する場合は，JIS B 7606-1の表
4［最小積算量（Σmin）の最小値］に規定する値の5倍の積算を，任意の速度において，2回ずつ速度検出
シミュレーション装置を用いて行う。積算を繰り返す前に，必要な場合はゼロ点設定を行う。
a) Maxの20 %の荷重
b) Maxの50 %の荷重
c) Maxの75 %の荷重
d) Maxの荷重
荷重受け部に同じ条件の下で置いた同じ荷重に対して得られたいずれか二つの結果の差異は，JIS B
7606-1の表3（影響因子試験の最大許容誤差）で規定した値の絶対値を超えてはならない。
9.2
積算表示装置の識別能力［JIS B 7606-1の4.7.5.2（積算表示装置の識別能力）］
試験は，次による。
a) Maxの20 %の分布荷重において，Σmin又は4.7.3を適用する場合，JIS B 7606-1の表4に規定する値の
5倍の積算を，任意の速度において，試験の適切な継続時間（通常，パルス数の設定値）に留意して
速度検出シミュレーション装置を用いて行う。
b) 精度等級に応じて，1)〜4)の追加荷重を加えてから，再度，同じベルトの長さでの積算を行う。
24
B 7606-2：2019
1) 精度等級0.2の場合，追加荷重は既存荷重の0.07 %
2) 精度等級0.5の場合，追加荷重は既存荷重の0.175 %
3) 精度等級1の場合，追加荷重は既存荷重の0.35 %
4) 精度等級2の場合，追加荷重は既存荷重の0.7 %
c) Maxの50 %の荷重において，a)及びb)を繰り返す。
d) Maxの75 %の荷重において，a)及びb)を繰り返す。
e) Maxの荷重において，a)及びb)を繰り返す。
追加荷重のある場合と追加荷重のない場合との表示の差異は，追加荷重に関連する計算値の2分の1以
上でなければならない。
9.3
ゼロの積算に使用した積算表示装置の識別能力［JIS B 7606-1の4.7.5.3（ゼロの積算に使用した積算
表示装置の識別能力）］
試験は，次による。
a) 荷重受け部に荷重がないときに，コンベヤスケールをゼロ点に設定して，全ての自動ゼロ点設定装置
を無効にする。
b) 無負荷で3分間（又は3分間相当の設定したパルス数の間）積算し，積算表示装置の読みを記録する。
積算表示装置をゼロ点にリセットすることができる場合は，3分間の試験が終わるごとに積算表示装
置をゼロ点にリセットする。精度等級に応じて，荷重受け部に1)〜4)の微小荷重を加える。
1) 精度等級0.2の場合，Maxの0.02 %
2) 精度等級0.5の場合，Maxの0.05 %
3) 精度等級1の場合，Maxの0.1 %
4) 精度等級2の場合，Maxの0.2 %
c) 更に3分間積算し，積算表示装置の読みを記録する。
d) 微小荷重を降ろし，3分間（又は3分間相当の設定したパルス数の間）積算し，積算表示装置の読み
を記録する。
e) 荷重受け部に分銅を載せて，コンベヤスケールをゼロ点にリセットし，あらゆる自動ゼロ点設定装置
を無効にし，ゼロ点から分銅を降ろした上で，上記b)の試験を繰り返す。
f)
短期ゼロ点ドリフトの影響又はその他の一過性の影響を除去するために，必要に応じて，試験を繰り
返す。微小荷重がある場合と微小荷重がない場合との連続する二つの表示間の差異は，明確に目視で
確認する。
9.4
ゼロの安定性［JIS B 7606-1の4.7.5.4（ゼロの安定性）］
試験は，コンベヤスケールに荷重を加えず，あらゆる自動ゼロ点設定装置を動作させて実施する。表示
器は，9.3で使用した表示器を用いる。安定性は，次による。
a) 短期安定性（初期）
1) ゼロ点設定を行う。これ以降のゼロ点設定を行ってはならない。
2) 速度検出シミュレーション装置を用いて，無負荷の状態において，最大ベルトVmaxで積算を開始し，
初期積算値を記録する。
3) 3分ごとに15分間，積算値を記録する（3分後，6分後，9分後，12分後及び15分後の計5回）。
4) 2)の初期積算値を含み6回の積算値の最大値と最小値との差を算出し，JIS B 7606-1の4.7.5.4.1（ゼ
ロの短期安定性）を満たしているかを確認する。
b) 短期安定性（3時間後）
25
B 7606-2：2019
1) 速度検出シミュレーション装置を用いて，無負荷の状態において，最大ベルトVmaxで積算を3時間
連続して行う。
2) 調整は行わずに，積算値を記録する。
3) 3分ごとに15分間，積算値を記録する（3分後，6分後，9分後，12分後及び15分後の計5回）。
4) 2)の積算値を含み6回の積算値の最大値と最小値との差を算出し，JIS B 7606-1の4.7.5.4.1を満た
しているかを確認する。
c) 長期安定性 a)及びb)によって得られた12回の積算値の最大値と最小値との差を算出し，JIS B
7606-1の4.7.5.4.2（ゼロの長期安定性）を満たしているかを確認する。
10 無負荷試験［JIS B 7606-1の4.8（型式検査に適用する現地要件）］
10.0A 繰返し性［JIS B 7606-1の4.8.1（繰返し性）］
繰返し性については，箇条11の試験によって要件を満たしているかを確認する。
10.1 ゼロ表示の変動の最大許容誤差［JIS B 7606-1の4.8.2（ゼロ表示の変動）］
試験手順は，次のa)〜f)による。ただし，最小積算量が最大流量Qmaxにおけるベルト3回転以下である
場合は，10.3の手順においても行う。
a) 事前に静止しているベルトに印を付ける。
b) コンベヤスケールは，通電状態で動作していることが望ましい。
c) ゼロ点設定を行うとき，ベルトの印に注目してコンベヤスケールをゼロ点に設定し，全ての自動ゼロ
点設定装置を無効にする。
d) 可能な限り，3分以上で，3分に近い時間でベルトの整数回転運転を行う。
e) ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を停止するか又は記録する。
f)
誤差（ゼロ点設定に使用した表示装置上に表示したゼロ点からの変化量）は，試験と同じ時間でQmax
において積算した荷重の次の割合を超えてはならない。
1) 精度等級0.2の場合，0.02 %
2) 精度等級0.5の場合，0.05 %
3) 精度等級1の場合，0.1 %
4) 精度等級2の場合，0.2 %
適切な結果が得られない場合には，この手順をもう一度繰り返して適切な結果を得る。
10.2 ゼロ点設定に使用する積算表示装置の識別能力［JIS B 7606-1の4.8.3（ゼロ点設定に使用する積算
表示装置の識別能力）］
試験手順は，次による。事前に静止しているベルトに印を付ける。コンベヤスケールは，通電状態で動
作する。
試験A及び試験Bは，次による。
a) 試験A ベルトを運転状態で，自動ゼロ点設定装置を無効にして，コンベヤスケールをゼロ点にする。
ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を停止するか又は記録する。
ベルトを無負荷で整数回転作動させ，可能な限り，3分に近い時間作動させる。ゼロ点設定に用い
た積算表示装置上の表示を記録する。ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を
停止するか又は記録する。
識別用荷重を荷重受け部に載せて，ベルトを同じ回転数作動させる。ゼロ点設定に用いた積算表示
装置上の表示を記録する。ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を停止するか
26
B 7606-2：2019
又は記録する。
b) 試験B 識別用荷重を荷重受け部に載せて，ゼロ点設定に用いた積算表示装置を無効にして，コンベ
ヤスケールをゼロ点にする。ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を停止する
か又は記録する。
試験Aと同じ回転数だけ，識別用荷重を載せてベルトを作動させる。ゼロ点設定に用いた積算表示
装置上の表示を記録する。ベルトを停止するか又はこれが実行不可能な場合には，積算を停止するか
又は記録する。
荷重受け部から識別用荷重を取り除き，同じ回転数だけベルトを作動させる。ゼロ点設定に使用し
た積算表示装置上の表示を記録する。
試験A及び試験Bの両方でゼロ点設定に用いた積算表示装置のゼロ点表示と識別用荷重適用時の表示と
の間に，目視で確認できる差がなければならない。
識別用荷重は，Maxの次の割合に等しくなければならない。
a) 精度等級0.2の場合，0.02 %
b) 精度等級0.5の場合，0.05 %
c) 精度等級1の場合，0.1 %
d) 精度等級2の場合，0.2 %
試験A及び試験Bを交互に連続して，更に3回繰り返す。
10.3 無負荷時の表示の最大変動［JIS B 7606-1の4.8.4（無負荷時の表示の最大変動）］
最小積算量が最大流量Qmaxにおいて，ベルト3回転以下である場合，10.1の試験に加えて，10.1のc)
及びf)を，試験開始時の積算表示装置の読み並びに試験中に得た表示器の最大及び最小の読みを記録する。
その積算表示装置は，試験の期間中に最大流量Qmaxにおいて，最小積算量Σminの次の割合を超えてはなら
ない。
a) 精度等級0.2の場合，0.07 %
b) 精度等級0.5の場合，0.18 %
c) 精度等級1の場合，0.35 %
d) 精度等級2の場合，0.7 %
11 現地試験［JIS B 7606-1の4.8，7.2.2.1（現地試験）及び8.1（現地試験）］
11.1 一般
11.1.1 条件及び製品
現地試験は，コンベヤスケールを完全に組み立てて，使用を意図した位置に固定し，コンベヤスケール
の代表的計量条件下で，使用している製品又は使用予定の製品で実施しなければならない。
型式検査又は受渡検査のために実施した現地試験は，最大許容誤差が，コンベヤスケールの精度等級に
応じて，JIS B 7606-1の表2（自動計量の最大許容誤差）を満たしていることを明らかにし，また，繰返し
性については，ほぼ同一の流量において，ほぼ同量の製品で，同一条件下で得られた幾つかの結果の相対
誤差（JIS B 7606-1の4.8.1参照）は，JIS B 7606-1の表2（自動計量の最大許容誤差）に規定する値の絶
対値を超えてはならない。
全ての現地試験は，繰返し性評価を可能にするために，2回行う。また，同一製品荷重及びその他の規
定パラメータ（できるだけ現実的に）での再運転としてもよい。
27
B 7606-2：2019
11.2 管理方法
現地試験に使用する管理方法は，JIS B 7606-1の表2の自動計量の最大許容誤差の3分の1以下の誤差
で，試験に用いる製品質量の決定を可能にしなければならない。
十分な分解能をもった管理はかりが入手できない場合，4.7.1に規定する追加分銅を使用することによっ
て，管理はかりよりも更に高い分解能をもつものでもよい。ただし，テストチェーンを用いた試験の場合
の管理方法は，JIS B 7606-1の附属書JCによる。
管理方法は，次による。
a) 自動運転中のコンベヤスケールで，必要な回数の試験を実施し，製品の試験荷重が管理はかりを用い
て計量できることを確実にし，最大，最小及び中間供給流量における表示された質量を記録する。
b) コンベヤスケールの表示質量値は，試験開始時の表示と一次積算装置を用いた試験終了時の表示との
間の差とする。
c) 試験荷重の真の質量は，管理はかりで試験荷重を計量することで決定する。
d) 自動計量の誤差は，上記c)の管理はかりで計量した試験荷重の真の質量と上記b)の積算表示から得た
値との間の差とする。その相対誤差は，JIS B 7606-1の8.6（相対誤差の計算）及び4.7によって計算
する。この値が，JIS B 7606-1の4.2.1（自動計量の最大許容誤差）を満たしているかを確認する。
11.3 実量試験
11.3.1 単速度コンベヤスケール
試験の前に，ベルトコンベヤが平衡状態に達したことを確認するために，ベルトコンベヤを30分間以上
運転し，安定させる。
各試験の前に，ゼロ点表示を確認し，必要な場合，コンベヤスケールをゼロ点に設定する。
各試験の終了時に試験荷重の積算を記録する。
次の供給流量で試験を実施しなければならない。また，同一の積算荷重及び継続時間において，繰返し
性の要件を確認する。
a) 最大供給流量において，2回の試験
b) 最小供給流量において，2回の試験
c) 中間供給流量において，1回の試験
ただし，最小供給流量に応じて，上のa)〜c)は次の手順とする。
・ 最小供給流量が，最大流量の50 %以上である場合，a)及びb)を実施する。
・ 最小供給流量が，最大流量の80 %以上である場合，a)及びb)を各1回実施するか，又はa)とb)との
間の供給流量において2回実施する。
それぞれの試験について，最大許容誤差は，コンベヤスケールの精度等級に応じて，JIS B 7606-1の表2
に規定する値でなければならない。
繰返し性については，同一流量及びほぼ同一の積算荷重の各試験の相対誤差の差は，JIS B 7606-1の表2
に規定する値の絶対値を超えてはならない。
11.3.2 多速度コンベヤスケール
11.3.1に規定する試験を，最小速度，中間速度及び最大速度のそれぞれの動作速度において，各供給流
量を1回ずつ行う。ただし，荷重受け部上の荷重がMaxを超える又はMinを下回ることを避けるために，
予防措置を講じなければならない。
28
B 7606-2：2019
11.3.3 可変速度コンベヤスケール
11.3.1に規定する試験は，最小速度，中間速度及び最大速度のそれぞれの動作速度において，各供給流
量を1回ずつ行う。ただし，荷重受け部上の荷重がMaxを超える又はMinを下回ることを避けるために，
予防措置を講じなければならない。
11.4 テストチェーンを用いた試験
11.4.1 単速度コンベヤスケール
試験の前に，ベルトコンベヤが平衡状態に達したことを確認するために，ベルトコンベヤを30分間以上
運転し，安定させる。
各試験の1回目の前に，ゼロ点表示を確認し，必要な場合，コンベヤスケールをゼロ点に設定する。
各試験の終了時に試験荷重の積算を記録する。
試験は，次のa)及びb)を実施する。また，同一の積算荷重及び継続時間において，繰返し性の要件を確
認する。
a) ひょう量の80 %のテストチェーンにおいて，2回の試験
b) ひょう量の40 %のテストチェーンにおいて，2回の試験
それぞれの試験について，最大許容誤差は，コンベヤスケールの精度等級に応じて，JIS B 7606-1の表2
に規定する値でなければならない。
繰返し性については，同一流量及びほぼ同一の積算荷重の各試験の相対誤差の差は，JIS B 7606-1の表2
に規定する値の絶対値を超えてはならない。
11.4.2 多速度コンベヤスケール
11.4.1に規定する試験を，最小速度及び最大速度のそれぞれの動作速度において，各質量を1回ずつ行
う。
11.4.3 可変速度コンベヤスケール
11.4.1に規定する試験は，最小速度及び最大速度のそれぞれの動作速度において，各質量を1回ずつ行
う。
29
B 7606-2：2019
附属書A
（規定）
ソフトウェア制御のデジタル装置及びはかりの追加審査及び試験
A.1 組込みソフトウェアを搭載した装置及びはかり
JIS B 7606-1の6.8（ソフトウェア）の規定に従って，システム文書を精査し，製造業者が，説明又は宣
言する次の組込みソフトウェアの内容に関して確認することが望ましい。
− ソフトウェアがシステム文書に定められたハードウェア環境及びソフトウェア環境で，通常どおりに
作動する。
− 封印後は，いかなるインタフェースを介して又は他の手段によっても修正又はアップロードできては
ならない。
− 封印方法の説明があって，介入した証拠が記録される。
− 計量関連ソフトウェアには，明確に割り当てられたソフトウェア識別があって，システム文書の記載
どおりに作動する。
− ソフトウェア識別が，はかりで容易に行える。
A.2 プログラム可能な又はロード可能なソフトウェアを搭載するコンピュータ及びその他の装置
A.2.1 ソフトウェアについてのシステム文書（JIS B 7606-1の6.8参照）
製造業者のシステム文書には，JIS B 7606-1の6.8の規定に従って，計量関連ソフトウェアを試験するた
めに必要な全ての情報を含んでいるかを確認する。
A.2.2 ソフトウェアの保護［JIS B 7606-1の6.8.1（計量関連ソフトウェアの保護）参照］
A.2.2.1 使用者がオペレーティングシステム及び／又はプログラムに直接アクセスできない場合
使用者がオペレーティングシステム及び／又はプログラムに直接アクセスできない場合は，次による。
− システム文書にコマンド（例えば，外部インタフェースを介した機能キー又はコマンド）が供給され，
存在するかを確認する。
− 製造業者がコマンドのリストに漏れがなく，完全であることを記載した宣言書を提出しているかを確
認する。
A.2.2.2 使用者がオペレーティングシステム及び／又はプログラムに直接アクセスできる場合
使用者がオペレーティングシステム及び／又はプログラムに直接アクセスできる場合は，次による。
− 計量関連ソフトウェア（計量管理及び型式特有パラメータの対象となるプログラムモジュール）に対
して，チェックサム又は同等の署名を生成することを確認する。
− テキストエディタを用いて，コードが改ざんされた場合は，計量関連ソフトウェアが起動しないこと
を確認する。
A.2.2.3 ソフトウェア保護の追加事項
ソフトウェアへの要求事項は，A.2.2.1又はA.2.2.2によるほか，次による。
− 全ての装置特有パラメータが，チェックサム等によって十分に保護されているかを確認する。
− 装置特有パラメータの保護ができるように監査証跡をもち，その監査証跡の説明がシステム文書にあ
ることを確認する。
− 保護策及び機能がシステム文書の記載どおりに動作するか，抜取検査を行う。
30
B 7606-2：2019
A.2.3 ソフトウェアインタフェース
ソフトウェアインタフェースは，次の確認を行う。
− 計量関連ソフトウェアのプログラムモジュールが，明確に定義されているか，又は明確に定義されて
いる保護ソフトウェアインタフェースによって，関連ソフトウェアのプログラムモジュールからは分
離されている。
− 保護ソフトウェアインタフェースは，計量関連ソフトウェアの一部であることが望ましい。
− 保護ソフトウェアインタフェースを介して解除することができる計量関連ソフトウェアの機能を，明
確に定め，説明をしていることが望ましい。
− 保護ソフトウェアインタフェースを介してやり取りするパラメータを，明確に定め，説明をしている
ことが望ましい。
− 機能及びパラメータの説明が，後で変更の余地がない完全なものである。
− システム文書に記載した各機能及び各パラメータが，この規格の要件と矛盾していない。
− ソフトウェアインタフェースの保護機能について，システム文書などに適切な説明がある。
A.2.4 ソフトウェア識別
ソフトウェア識別は，次の確認を行う。
− 計量関連ソフトウェア及び型式特有パラメータのプログラムモジュールに対して，適切なソフトウェ
ア識別が，プログラム実行時に生成される。
− ソフトウェア識別情報がマニュアルコマンドによって表示でき，その値が固定された識別の基準値と
比較参照可能である。
− 計量関連ソフトウェアの全てのソフトウェアのプログラムモジュール及び装置特有パラメータが，ソ
フトウェア識別に含まれている。
− チェックサム又はそれと同等の署名が，システム文書に記載されているとおりに生成され機能するこ
とを，任意の回数で抜取検査を実施する。
− 有効な監査証跡が存在しているかを確認する。
A.3 データ記憶装置［JIS B 7606-1の6.7（データ記憶装置）参照］
システム文書を精査して，製造業者が計量関連データの長期保存での使用を意図した装置（はかり内に
組み込まれているか又は外部接続されているかは問わない。）を想定しているかを確認する。
計量関連データの長期保存での使用を想定している場合は，次の確認を行うことが望ましい。
− データ保存用ソフトウェアは，組込みソフトウェア（A.1）を搭載する又はプログラム可能な若しくは
ロード可能なソフトウェア（A.2）を搭載するかのいずれで実現させたかを確認する。その結果によっ
て，A.1又はA.2のいずれかをデータ保存用ソフトフェアの試験に適用する。
− データが正しく保存され，正しく取り出せることを確認する。
− 製造業者が記載した，保存装置の容量及び許容できないデータの損失を防ぐ手段の説明が，十分であ
る。
− 保存されたデータが，過去の計量を再現するのに必要な全ての関連情報を含んでいるかを確認する。
関連情報とは，次のものを指す。
・ 総量
・ 正味量
・ 風袋量（該当する場合，風袋及び事前設定風袋の区別と共に）
31
B 7606-2：2019
・ 小数点
・ 単位記号（例えば，kgをコード化してもよい）
・ 保存データの識別情報
・ データ記憶装置に複数のはかり若しくは荷重受け部が接続されている場合は，はかり又は荷重受
け部の識別番号
・ 記憶されたデータセットのチェックサム又は他の署名
− 保存データが，偶発的又は意図的な変更に対して十分に保護されている。
− データを保存装置へ伝送中，そのデータは少なくともパリティチェックで保護されている。
− 組込みソフトウェアを搭載した保存装置の場合，データが少なくともパリティチェックで保護されて
いる。
− プログラム可能な又はロード可能なソフトウェアを搭載した保存装置の場合，データが十分なチェッ
クサム又は署名（2バイト以上，例えば，非表示多項式をもつCRC-16チェックサム）で保護されて
いる。
− 保存データの識別及び表示も可能である。
− 識別番号は，後に使用できるように保存され，実際に使用される記憶媒体に記録される（例えば，識
別番号がプリントアウト上に印刷されている。）。
− データが操作者の判断に依存することなく自動的に保存される。
− 識別を用いて照合を行う必要のある全てのデータが，その装置上に表示又は印字される。
A.4 試験報告書の様式
（試験報告書の様式は，適用しない。）
32
B 7606-2：2019
附属書B
（参考）
試験器物（EUT）
B.1
EUTの選択
はかりは，主としてはかりの構成に基づく基礎的な技術設計によって分類することができる。設計のカ
テゴリには，基本的に，次の動作原則を含むことがあるが，これらに限定するものではない。
− 機械的であって電子装置ではない。
− アナログ，ひずみゲージ型ロードセル
− デジタルロードセル
ロードセル技術を用いたこれらのはかりは，ロードセルの質量受け要素及び表示構造への取付け及び接
続方法によって，更に分類してもよい。例えば，次が含まれるが，これらに限定するものではない。
− チェックロッドを用いないロードセルの直接取付け
− ロードセルへのレバーシステムを介した計量要素の接続
− 計量した質量から直接生じるのではない力からの分離
同一型式内のはかりを分類する追加的な方法は，計量要素の中で用いられているローラの数及び構成に
基づく可能性がある。例えば，次が含まれるが，これらに限定するものではない。
− 完全懸垂式多重ローラ
− モジュラ式多重ローラ
− 単一ロードセルにレバーを接続させた計量フレームと前後の搬送ローラで構成される。
同一型式装置を伴う型式検査の手順を簡素化するために，少なくとも，同一型式装置の中から“最悪の
事例”の試料に相当するEUTを選択することが望ましい。これは，同一型式装置の中の性能データ範囲を
定めるために最悪の事例を選択するだけでなく最善の（又はよりよい）事例も評価することができること
を確実なものとするためである。次に基づいて最悪の事例のはかりを選択することが望ましい。
a) 試験所設定で行われる試験の場合
− 力変換器からの最も低い入力信号［JIS B 7606-1の7.1.5.6（使用したロードセルの最小目量vminに
対する要件）参照］
− 全てのインタフェースをもつユニット（すなわち，周辺機器，ハードウェア構成部品）
− 全ての必要なロードセルをもつユニット
− ベルト速度検出装置の出力の最高周波数をもつユニット
b) 現地試験の場合 同一型式装置の中で最小数の計量ローラが望ましい。これが可能でない場合，今後
のローラの数がより少ないはかりが，JIS B 7606-1の4.8を満たす場合は，これを同一型式の範囲とし
て含めることを考慮する。
B.2
考慮する他の計量特性
関連する特性の試験は，単一のEUTに対して実施することが望ましい。例えば，ゼロ点荷重表示に対す
33
B 7606-2：2019
る温度影響を一つのEUTで試験し，複合影響を別の一つのEUTで試験することは許容されない。次のよ
うな異なる計量関連の特性及び機能の変動は，その特性によって影響を受けるこれらの要因の追加の部分
的試験が必要になる場合がある。
− 容器
− 荷重受け部
− 温度範囲及び湿度範囲
− はかり機能
− 変位変換器
− 表示器
これらの追加試験は，可能な場合，同じEUTに対して実施することが望ましいが，それが可能でない場
合は，試験所の責任の下で，一つ以上の追加EUTに対する試験を実施してもよい。
最小数のローラを用いているシステムを評価するとき，通常，この少ない数のローラが，ある期間及び
使用期間において意図したとおりに動作するためのコンベヤスケールの能力の不適切な低下を招く結果と
ならないことを確かめるために，初期現地試験を実施した後で後続試験を実施することを推奨する。
はかりの評価中に全ての求められる性能試験に耐える能力は，耐久性のよい目安となる可能性がある。
34
B 7606-2：2019
附属書C
（参考）
耐久性試験要件
（この規格では規定しない。）
参考文献 OIML D 11:2013，General requirements for measuring instruments−Environmental conditions
35
B 7606-2：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS B 7606-2:2019 コンベヤスケール−第2部：試験方法
OIML R 50-2:2014，Continuous totalizing automatic weighing instruments (belt
weighers). Part 2: Test procedures
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲
−
1
JISと同じ。
一致
−
−
2 引用規格
3 用語及び
定義
−
2
JISと同じ。
一致
−
−
4 試験器物
（EUT）に
対する試験
の一般要件
−
3
JISと同じ。
一致
−
−
5 検査要件
−
4
JISと同じ。
一致
−
−
6 計量性能
試験
6.3 現地試験
5.3
JISとほぼ同じ。
追加
テストチェーンを用いる試験につ
いて追加した。
国内の伝統的かつ有効な独自の手
法であるため，追加した。
6.4.1 シミュレーシ
ョン速度の影響
5.4.1
JISとほぼ同じ。
変更
流量調整装置を用いる場合の動作
速度について明記した。
対応国際規格は，試験動作速度が
規定されておらず不明瞭なため，
この規格では，等間隔の5段階で
規定した。
7 追加機能
−
6
JISと同じ。
一致
−
−
8 影響因子
試験及び妨
害試験
8.2.1 静的温度
8.2.2 ゼロ流量にお
ける温度影響
7.2.1
7.2.2
JISとほぼ同じ。
追加
温度試験の一般的な手順を図1Aに
表し追加した。
規格の利用者の利便性を考慮し
た。
9 計量特性
−
8
JISと同じ。
一致
−
−
4
B
7
6
0
6
-2
：
9
9
9
9
36
B 7606-2：2019
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
10 無負荷
試験
−
9
JISとほぼ同じ。
追加
題名を追加。
題名の追加だけで技術的差異はな
い。
11 現地試
験
11.2 管理方法
10.2
JISとほぼ同じ。
追加
テストチェーンの管理方法につい
て，附属書の内容を引用した。
国内の伝統的かつ有効な独自の手
法であるため，追加した。
11.4 テストチェー
ンを用いた試験
10
−
追加
テストチェーンによる場合の試験
方法を追加した。
国内の伝統的かつ有効な独自の手
法であるため，追加した。
附属書A
（規定）
A.1〜A.3
A.1〜A.3
JISとほぼ同じ。
変更
既存のコンベヤについて規定して
いないため，推奨事項とした。
国内では既存のベルトコンベヤを
改造してコンベヤスケールとする
ものが多く，規定が現実的ではな
いため変更した。
A.4 試験報告書の
様式
A.4
試験報告書の様式
変更
A.4の試験報告書の様式は，適用し
ない。
この規格では，規定する必要がな
いため適用しないこととした。
附属書B
（参考）
試験器物（EUT）
附属書B
JISと同じ。
一致
−
−
附属書C
（参考）
−
附属書C
使用中の耐久性審
査の規定。
削除
この規格では採用しないこととし
た。
国内では法定計量外であるため使
用中の規制に関する附属書は採用
しない。
−
−
附属書D
参考文献
変更
−
JIS様式に従って，箇条2へ移動
した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：OIML R 50-2:2014，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 一致 ················ 技術的差異がない。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
4
B
7
6
0
6
-2
：
9
9
9
9