B 7517：2018
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 設計仕様（設計特性） ······································································································· 2
4.1 一般 ···························································································································· 2
4.2 主要部の名称 ················································································································ 3
4.3 寸法 ···························································································································· 4
4.4 表示方式 ······················································································································ 5
4.5 測定子及びスクライバ ··································································································· 10
4.6 ベース ························································································································ 10
4.7 構造及び機能 ··············································································································· 10
4.8 硬さ ··························································································································· 11
5 計測特性及び性能 ············································································································ 11
5.1 一般 ··························································································································· 11
5.2 検査条件 ····················································································································· 11
5.3 スライダの固定 ············································································································ 11
5.4 指示値の最大許容誤差（MPE） ······················································································· 11
5.5 性能 ··························································································································· 16
6 製品文書における表示 ······································································································ 17
7 仕様への適合の検証 ········································································································· 18
7.1 一般 ··························································································································· 18
7.2 計測特性及び性能の校正のための標準器············································································ 18
7.3 標準温度 ····················································································································· 18
8 検査······························································································································ 18
9 表示······························································································································ 18
附属書A（参考）使用上の注意 ······························································································ 19
附属書B（参考）設計仕様（設計特性），計測特性及び性能の仕様表示例 ······································· 20
附属書JA（参考）製品文書における表示 ················································································· 21
附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 22
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（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本精密測定機器
工業会（JMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正
すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS B 7517:1993は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本工業規格 JIS
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ハイトゲージ
Vernier, dial and digital height gauges
序文
この規格は，2012年に第1版として発行されたISO 13225を基とし，製造及び使用の実状に見合う合理
性を備えた規格とするため，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。
1
適用範囲
この規格は，バーニヤ目盛又はダイヤル目盛を備えたアナログ表示のハイトゲージ，及びデジタル表示
のハイトゲージについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 13225:2012，Geometrical product specifications (GPS)−Dimensional measuring equipment；
Height gauges−Design and metrological characteristics（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様（GPS）−製品及び測定装置の測定による検査−第1部：仕様に対
する合否判定基準
注記 対応国際規格：ISO 14253-1，Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
conformance or non-conformance with specifications
JIS B 0642 製品の幾何特性仕様（GPS）−測定器の一般的な概念及び要求事項
注記 対応国際規格：ISO 14978，Geometrical product specifications (GPS)−General concepts and
requirements for GPS measuring equipment
JIS B 0680 製品の幾何特性仕様（GPS）−製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
注記 対応国際規格：ISO 1，Geometrical Product Specifications (GPS)−Standard reference temperature
for geometrical product specification and verification
JIS B 7503 ダイヤルゲージ
JIS B 7506 ブロックゲージ
2
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JIS B 7513 精密定盤
JIS B 7526 直角定規
JIS B 7533 てこ式ダイヤルゲージ
JIS B 7536 電気マイクロメータ
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)
JIS Z 8103 計測用語
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 0641-1，JIS B 0642及びJIS Z 8103によるほか，次による。
3.1
ハイトゲージ（height gauge）
ベース基準面に対して垂直な本尺又は柱に沿って動く，スクライバ又は測定子を備えたスライダの移動
量で距離（高さ）の寸法量を与える測定器。
注記1 ハイトゲージは，ベースの基準面が定盤に接して置かれることを想定した設計である。
注記2 指示値の表示は，アナログ（バーニヤ目盛又はダイヤル目盛）表示又はデジタル表示がある。
注記3 ハイトゲージは，スクライバを含め様々な測定子を使用することが可能である。
注記4 ハイトゲージは，設計仕様によってスライダの自動移動機能を備えているものがある。
注記5 ハイトゲージは，設計仕様によって測定力を調整する機能を備えているものがある。
注記6 ハイトゲージは，設計仕様によって倣い測定機能及び本尺に垂直な測定機能をもつものがあ
る。
3.2
測定面接触（measuring-face contact）
測定面と測定対象物との接触。
3.2.1
全測定面接触（full measuring-face contact）
測定面の全面と測定対象物との接触。
3.2.2
部分測定面接触（partial measuring-face contact）
測定面の一部と測定対象物との接触。
3.3
指示誤差（error of indication）
ハイトゲージの指示値から対応する入力量としての真の値を差し引いた値。
注記 真の値は，概念的な値で，実際には求められないため取決めによる真の値を用いる。
4
設計仕様（設計特性）
4.1
一般
ハイトゲージの一般的な設計仕様（設計特性）は，製造業者又は供給業者が別に指定する場合を除き，
この規格の要求に従わなければならない。
使用者に情報を提供する場合の仕様表示例を，参考として附属書Bに示す。
3
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4.2 主要部の名称
ハイトゲージの一般的な構造に関する設計仕様の例として，次に示すバーニヤ目盛を備えたもの及びデ
ジタル目盛を備えたものの二つがある。
主要部の名称は，図1及び図2による。
なお，図は単に主要部の名称を示すものであって，設計の詳細を示すものではない。
1 ベース
7 ジョウ
13 止めねじ
2 ベース基準面
8 スクライバクランプ
14 微動送り
3 本尺
9 スクライバ
15 微動送りねじ
4 基準端面
10 スクライバ測定面
16 柱
5 微動送り車
11 本尺目盛
17 本尺移動装置
6 スライダ
12 バーニヤ目盛
図1−バーニヤ目盛を備えたハイトゲージの例及び主要部の名称
7
13
8
10
1
2
11
6
4
9
3
5
12
3
16
17
13
本尺移動装置付きのもの
14
15
4
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1 ベース
6 ジョウ
2 ベース基準面
7 スクライバクランプ
3 本尺
8 測定子
4 基準端面
9 デジタル表示部
5 スライダ
10 止めねじ
図2−デジタル表示を備えたハイトゲージの例及び主要部の名称
4.3
寸法
製造業者は，ハイトゲージの主要寸法として，図3に示す寸法を製品情報として提供する。
ハイトゲージの寸法を使用者に製品情報として提供する場合の仕様表示例を，附属書Bに示す。
1
2
6
7
8
9
4
5
3
10
5
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W ベースの幅
P プローブオフセット
D ベースの奥行き
M 測定子長さ
H 全長
図3−ハイトゲージの主要寸法を表す記号
4.4
表示方式
4.4.1
一般
ハイトゲージの表示は，バーニヤ目盛若しくはダイヤル目盛を備えたアナログ表示，又はデジタル表示
とする。
アナログ表示のハイトゲージは，目量又は最小読取値，及びそれらの単位を表示しなければならない。
デジタル表示のハイトゲージは，表示値の単位を表示しなければならない。
4.4.2
アナログ表示
4.4.2.1
一般
バーニヤ目盛を備えたハイトゲージの場合，本尺目盛の目幅は1 mmとする。本尺目盛はハイトゲージ
の最大測定長より，少なくともバーニヤ目盛の長さ一つ分長い範囲まで，目盛がなければならない。
P
W
D
M
H
6
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ダイヤル目盛を備えたハイトゲージの場合，本尺目盛の目幅は1 mmとすることが望ましい。
4.4.2.2
バーニヤ目盛及び本尺目盛
バーニヤ目盛を備えたアナログ表示の最小読取値は，0.05 mm又は0.02 mmとする。例を，図4に示す。
本尺目盛の数字“10”は，100 mmを示す。
注記 この図の読取値は，151.00 mmとなる。
図4−バーニヤ目盛を備えたアナログ表示の例
4.4.2.3
バーニヤ目盛の設計
バーニヤ目盛の目盛形式は，表1による。表1のバーニヤ目盛の目盛形式に対応した例を図5〜図7に
示す。
表1−バーニヤ目盛の目盛形式
単位 mm
本尺の目量
バーニヤの目盛形式
最小読取値
説明図
1
19 mmを20等分
0.05
図5
39 mmを20等分
図6
49 mmを50等分
0.02
図7
1 本尺目盛
2 バーニヤ目盛
3 本尺
4 スライダ
1
2
3
4
7
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本尺目盛の数字“1”は，10 mmを示す。
注記 この図の読取値は，21.50 mmとなる。
本尺目盛の数字“1”は，10 mmを示す。
注記 この図の読取値は，7.60 mmとなる。
図5−最小読取値0.05 mm（19 mmを20等分）の例 図6−最小読取値0.05 mm（39 mmを20等分）の例
本尺目盛の数字“1”は，10 mmを示す。
注記 この図の読取値は，19.68 mmとなる。
図7−最小読取値0.02 mm（49 mmを50等分）の例
8
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バーニヤ目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さは，特に指定がない限り，表2による。
表2−バーニヤ目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さ
単位 mm
項目
太さ
太さむら
本尺目盛線
0.08〜0.20
0.03以下
バーニヤ目盛線
4.4.2.4
バーニヤ目盛の目盛面
本尺目盛面とバーニヤ目盛面との段差及び隙間の寸法は，図8及び図9による。
図8−傾斜したバーニヤ目盛を備えたスライダ
図9−平面のバーニヤ目盛を備えたスライダ
4.4.2.5
ダイヤル目盛及び本尺目盛
ダイヤル目盛を備えたアナログ表示の目量は，0.02 mm又は0.01 mmとする。本尺目盛は本尺に表示し，
ダイヤル目盛はスライダに配置する。ダイヤル目盛には，目量及びその単位を表示しなければならない。
ダイヤル目盛の例を，図10に示す。
1 本尺目盛
2 バーニヤ目盛
3 本尺
4 スライダ
1
2
3
4
1 本尺目盛
2 バーニヤ目盛
3 本尺
4 スライダ
1
2
3
4
9
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本尺目盛の数字“10”は，100 mmを示す。
注記 この図の読取値は，109.56 mmとなる。
図10−ダイヤル目盛を備えたアナログ表示の例
4.4.2.6
ダイヤル目盛の設計
ダイヤル目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さは，特に指定がない限り，表3による。
表3−ダイヤル目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さ
単位 mm
項目
太さ
太さむら
本尺目盛線
0.10〜0.30
0.03以下
ダイヤル目盛線
4.4.3
デジタル表示
本尺上に電子式スケール及びスライダ上にデジタル表示をもつハイトゲージの例を，図11に示す。
1 本尺目盛
2 ダイヤル目盛
3 本尺
4 スライダ
5 本尺目盛の読取り基準
1
2
3
4
5
10
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図11−デジタル表示の例
指示値を測定データとして出力する機能をもつ場合は，そのデータ出力プロトコル（インタフェース）
について，カタログ，仕様書などの製品文書（以下，製品文書という。）などに記載する。また，デジタル
表示のハイトゲージは，高速でのスライダ移動によって誤った指示値を示すおそれがある場合，及び電源
電圧が低下した場合，エラーメッセージなどの異常を表示する機能を備えていなければならない。
4.4.4
デジタル表示の使用環境に対する保護
デジタル表示のハイトゲージについて，防じん（塵）・防水を保証する場合，与える保護等級（JIS C 0920
に従ったIPコード）を製品，カタログなどに明示しなければならない。
4.5
測定子及びスクライバ
測定子及びスクライバは，交換可能でなければならない。
スクライバ測定面は，耐摩耗性があり，また，スクライバ測定面の表面性状は，Ra 0.4以下とする。
スクライバの先端は鋭角になっているものとする。
4.6
ベース
エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の表面性状は，Ra 0.4以下とする。ベースは，定盤上を
安定して移動ができるように設計しなければならない。エア浮上式で外部からエア供給の必要がある場合，
製造業者又は供給業者は必要な情報を提供しなければならない。
4.7
構造及び機能
ハイトゲージの構造及び機能は，次による。
a) スライダは，作動範囲全域にわたって滑らかで，かつ，緩みがなく作動し，有害な遊びがあってはな
らない。
b) 本尺が移動できる機種では，本尺の移動は滑らかで，かつ，使用時には止めねじによって柱に確実に
固定できるものでなければならない。
c) スライダ及び微動送りは，止めねじなどによって本尺又は柱に確実に固定できるものでなければなら
1
2
3
4
1 デジタル表示部
2 本尺
3 電子式スケール
4 スライダ
11
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ない。
4.8
硬さ
エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の硬さは，500 HV以上又は49 HRC以上とし，スクライ
バ測定面の硬さは，700 HV以上又は60 HRC以上とする。
5
計測特性及び性能
5.1
一般
ハイトゲージの計測特性及び性能の詳細を5.4に示すが，製造業者又は供給業者は，ハイトゲージの機
能に応じた計測特性及び性能を提供する必要がある。
ハイトゲージの計測特性及び性能は，適切な機器及び不確かさが明確な標準器，例えばJIS B 7506に規
定するブロックゲージなどによって測定する。測定は，ハイトゲージの測定範囲全域の計測特性及び性能
を評価できるものでなければならない。
注記 使用上，注意すべき事項を参考として附属書Aに示す。
5.2
検査条件
製造業者又は供給業者は，特別な測定条件が必要な場合，使用者の要求によって，測定条件を示さなけ
ればならない。測定条件とは，例えば測定力，測定子径補正（双方向長さ測定誤差），温度補正（使用可能
であれば）などがある。
5.3
スライダの固定
スライダを固定する場合，指示値は次の条件を満たさなければならない。
− アナログ表示のハイトゲージの場合，指示値は変化しない。
− デジタル表示のハイトゲージの場合，指示値の変化は1デジタルステップを超えない。
注記 デジタル表示は，指示値が切り替わる僅かな範囲にスライダが位置した場合，1デジタルステ
ップ変化する可能性がある。
5.4
指示値の最大許容誤差（MPE）
5.4.1
一般
指示誤差の特性は，5.1及び5.2に示した条件に基づく任意の指示値に適用する。
注記 指示誤差の特性のシンボル及びこれに対応する表示を，附属書JAに示す。
5.4.2
高さ測定誤差 E（最大許容誤差 EMPE）
高さ測定誤差は，ハイトゲージのベース基準面に垂直で，かつ，接触方向が下方向の場合の指示誤差と
する。高さ測定誤差は，全測定面接触又は部分測定面接触による指示誤差に適用する。
ハイトゲージの高さ測定誤差の最大許容誤差 EMPEは，表5によって測定したとき表4による。ただし，
表4の許容値は，この場合の基点合わせを定盤上で行うものとする。
12
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表4−高さ測定誤差の最大許容誤差 EMPE
単位 mm
測定長（L）
目量，最小表示量又は最小読取値
0.05
0.02又は0.01
50以下
±0.05
±0.02
50を超え 100以下
±0.06
±0.03
100を超え 200以下
±0.07
200を超え 300以下
±0.08
±0.04
300を超え 400以下
±0.09
400を超え 500以下
±0.10
±0.05
500を超え 600以下
±0.11
600を超え 700以下
±0.12
±0.06
700を超え 800以下
±0.13
800を超え 900以下
±0.14
±0.07
900を超え1 000以下
±0.15
この表以外の測定長及び目量，最小表示量又は最小読取値をもつハイトゲージのEMPEは，受渡当事者間
の協定による。
注記 EMPEは，真直度，測定面の平面度及び基準面との平行度によって生じる測定誤差を含む。
高さ測定誤差は，ブロックゲージ又はゲージを用いて，ハイトゲージの測定範囲の異なる高さを測定す
る（図12参照）。
注記1 高さ測定誤差は，ハイトゲージの使用方法，例えば測定範囲内の測定位置，測定子の長さ及
び形状が，測定結果に影響するため，注意が必要である。
注記2 定盤の形状偏差は，測定結果に影響するため，注意が必要である。
13
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図12−高さ測定誤差の測定
高さ測定誤差の測定方法は，表5による。
表5−ハイトゲージの高さ測定誤差の測定方法
項目
測定方法
図
測定用具
高さ測定誤差
a) 精密定盤上に置かれた
ブロックゲージ又はゲ
ージ類をハイトゲージ
のスクライバ測定面で
挟んで測定する。
b) ハイトゲージの読みか
らゲージの寸法を減じ
て測定誤差を求める。
・JIS B 7506に規定
する2級ブロッ
クゲージ又はこ
れと同等以上の
ゲージ
・JIS B 7513に規定
する1級精密定
盤
1
2
3
1 ハイトゲージ
2 精密定盤
3 ブロックゲージ
精密定盤
ブロックゲージ
ハイトゲージ
14
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5.4.3
高さ測定誤差の繰返し精密度 R（最大許容誤差 RMPE）
高さ測定誤差の繰返し精密度は，同一の測定条件下で，測定範囲の任意の位置で行われる，同一の測定
量の連続した測定結果の一致の精密さとする。
部分測定面接触誤差の繰返し精密度は，スクライバ又は測定子の測定面の任意の位置で，任意の寸法（測
定範囲内の位置）に対して，ブロックゲージ又はゲージを用いて測定する。
注記 製造業者又は供給業者は，使用者からの要求によって，繰返し精密度の詳細を提供する場合が
ある。
5.4.4
双方向長さ測定誤差 B（最大許容誤差 BMPE）
双方向長さ測定誤差は，ハイトゲージのベース基準面に垂直で，かつ，下方向と上方向に接触して測定
した長さの指示誤差とする。
双方向長さ測定誤差は，ステップゲージ又はリングゲージなどの標準器を用いて測定する（図13参照）。
双方向長さ測定誤差の最大許容誤差BMPEは，各製品の設計特性に応じて，製造業者又は供給業者が使用
者の要求によって提供する。
注記1 双方向長さ測定誤差は，ハイトゲージの使用方法，例えば測定範囲内の測定位置，測定子の
長さ及び形状が，測定結果に影響するため，注意が必要である。
注記2 目盛誤差だけでなく，測定子の測定面の平行度及び形状偏差も含まれる。
注記3 定盤の形状偏差は，測定結果に影響するため，注意が必要である。
15
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図13−双方向長さ測定誤差の測定
5.4.5
直角度測定誤差 S（最大許容誤差 SMPE）
直角度測定機能をもつハイトゲージを直角度測定に用いる場合，直角度測定誤差は，本尺の基準端面に
垂直な方向の指示誤差とする。
直角度測定誤差の最大許容誤差SMPEは，各製品の設計特性及び追加アクセサリの影響を受けるため，製
造業者又は供給業者が使用者の要求によって提供する。
直角度測定誤差は，例えば円筒スコヤのような直角定規を用いて測定する（図14参照）。
注記 定盤の形状偏差は，測定結果に影響するため，注意が必要である。
1
2
3
1 ハイトゲージ
2 精密定盤
3 ステップゲージ
16
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図14−直角度測定誤差の測定
5.5
性能
5.5.1
ハイトゲージの性能
a) ベース基準面の平面度 エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の平面度は，5.5.2によって測
定したとき0.005 mm以内とする。
b) ベース基準面と本尺又は柱の基準端面との直角度 ハイトゲージのベース基準面と本尺又は柱の基
準端面との直角度（mm）は，5.5.2によって測定したとき，次の式によって求められた値以内とする。
+
=
000
1
01
.0
L
直角度
ここに，
L： 測定長を表す数値（mm）
1 ハイトゲージ
（直角度測定機能付き）
2 精密定盤
3 直角定規
1
2
3
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c) ベース基準面とスクライバ測定面との平行度 ハイトゲージのベース基準面とスクライバの測定面
との平行度は，5.5.2によって測定したとき0.01 mm以内とする。
5.5.2
性能の測定方法
ハイトゲージの性能の測定方法は，表6による。
表6−ハイトゲージの性能の測定方法
種類
測定方法
図
測定用具
ベース基準
面の平面度
a) 精密定盤上に定置した呼び
寸法の等しい2個のブロッ
クゲージ又はゲージ類の上
にハイトゲージを載せる。
b) スタンドに取り付けた てこ
式ダイヤルゲージ又は電気
マイクロメータの測定子を
ベース基準面に当てて測定
する。得られた最大値と最小
値との差を求める。
・JIS B 7506に規定す
る2級ブロックゲー
ジ又はこれと同等
以上のゲージ
・JIS B 7513に規定す
る1級の精密定盤
・JIS B 7533に規定す
る目量0.002 mmて
こ式ダイヤルゲー
ジ
・JIS B 7536に規定す
る電気マイクロメ
ータ
・スタンド
ベース基準
面と本尺又
は柱の基準
端面との直
角度
a) 堅ろうなスタンドに目量
0.01 mmのダイヤルゲージ2
個をハイトゲージの柱又は
本尺の上下端に接触するよ
うに取り付ける。
b) 精密定盤上で直角定規で0
点調整して測定する。
・JIS B 7513に規定す
る1級の精密定盤
・JIS B 7526に規定す
るI形1級，平形又
は台付直角定規
・JIS B 7503に規定す
る目量0.01 mmダイ
ヤルゲージ
・スタンド
ベース基準
面とスクラ
イバ測定面
との平行度
a) 精密定盤上にハイトゲージ
のベース基準面を密着させ
て載せる。
b) スタンドに取り付けた てこ
式ダイヤルゲージ又は電気
マイクロメータの測定子を
スクライバ測定面に当てて
測定する。
c) 得られた最大値と最小値と
の差を求める。
・JIS B 7513に規定す
る1級の精密定盤
・JIS B 7533に規定す
る目量0.002 mmて
こ式ダイヤルゲー
ジ
・JIS B 7536に規定す
る電気マイクロメ
ータ
・スタンド
6
製品文書における表示
製品文書における最大許容誤差の表示の記号を，参考として附属書JAに示す。
スタンド
ダイヤル
ゲージ
直角定規
精密定盤
ハイト
ゲージ
精密定盤
スタンド
てこ式ダイヤル
ゲージ又は
電気マイクロメータ
ハイトゲージ
スタンド
てこ式ダイヤル
ゲージ又は
電気マイクロメータ
ハイトゲージ
精密定盤
ブロックゲージ
18
B 7517：2018
7
仕様への適合の検証
7.1
一般
仕様への適合及び不適合の検証は，国際的に認められている仕様の範囲と合格の範囲が等しい場合の合
格基準（simple acceptance）を用いる。
注記 国際的に認められている合格基準とは，ISO/TR 14253-6:2012である。ただし，高性能機種の仕
様への適合及び不適合の検証は，JIS B 0641-1に準じることが望ましい。
7.2
計測特性及び性能の校正のための標準器
標準器は，国家標準又は国際単位系（SI）に対してトレーサブルな標準器を用いる。
7.3
標準温度
この規格で規定する性能の仕様は，JIS B 0680に規定する標準温度20 ℃における値とする。
8
検査
ハイトゲージの検査は，寸法，表示方式，測定子及びスクライバ，ベース，構造及び機能，硬さ，並び
に計測特性及び性能について行い，4.3〜4.8及び箇条5の規定に適合しなければならない。
9
表示
ハイトゲージには，見やすい箇所に，容易に消えることがなく，かつ，品質を損なわない方法で，次の
事項を表示する。
a) アナログ表示の場合：目量又は最小読取値，及びそれらの単位記号
デジタル表示の場合：表示値の単位記号
b) 最大測定長
c) 製造業者名若しくは供給業者名又はその略号
d) 製造番号（英数字）
19
B 7517：2018
附属書A
（参考）
使用上の注意
A.1 定圧装置がないハイトゲージは，適正でかつ均一な測定力で測定するようにしなければならない。
さらに，ハイトゲージは，アッベの原理に則していないことから，測定子の先で測定したときに誤差が大
きくなる傾向があるため，注意を要する。
A.2 温度及び変形要素は，長さ方向への測定値に対する影響をもっている。その影響によって，見込ま
れる最小の不確かさが，ハイトゲージの目量，最小表示量又は最小読取値より大きくなる可能性がある。
これは，測定結果を評価するときに考慮する必要がある。不確かさの詳細は，ISO 14253-2を参照する。
A.3 デジタル表示の場合，ハイトゲージの電装部品に影響を与える環境要因に注意する。
20
B 7517：2018
附属書B
（参考）
設計仕様（設計特性），計測特性及び性能の仕様表示例
次の仕様表示例は，カタログ，パンフレットなどによって，製造業者又は供給業者から使用者に製品情
報を提供するときの一例を示している。これらの項目は，一般的に寸法図及び一覧表として示される場合
が多い。
品 名
：
製 品 概 要
：
設計仕様（設計特性）
種類
：
表示方式
：
最小読取値，目量又は 最小表示量
：
mm
測定範囲
：
mm
寸法
ベースの幅（W）
：
mm
ベースの奥行き（D）
：
mm
全長（H）
：
mm
測定長（L）
：
mm
プローブオフセット（P）
：
mm
計測特性及び性能
指示値の最大許容誤差 MPE
高さ測定による指示値の最大許容誤差 EMPE
：
mm
高さ測定誤差の繰返し精密度の最大許容誤差 RMPE（必要な場合）：
mm
双方向長さ測定による指示値の最大許容誤差 BMPE（必要な場合）：
mm
直角度測定誤差 SMPE（必要な場合）
：
mm
会 社 名
：
日付，版数など
：
21
B 7517：2018
附属書JA
（参考）
製品文書における表示
表JA.1に示す表示は，下付き添字の量を減らし，より見やすく，分かりやすくするために，製品文書，
図などにおいて使用することができる。
表JA.1−製品文書，図などにおける記号及びこれに対応する表示
この文書における記号
対応する表示
EMPE
MPEE
RMPE
MPER
BMPE
MPEB
SMPE
MPES
参考文献
[1] ISO 8015，Geometrical product specifications (GPS)−Fundamentals−Concepts, principles and rules
[2] ISO 14253-2，Geometrical product specifications (GPS)−Inspection by measurement of workpieces and
measuring equipment−Part 2: Guidance for the estimation of uncertainty in GPS measurement, in
calibration of measuring equipment and in product verification
[3] ISO/TR 14253-6:2012，Geometrical product specifications (GPS)−Inspection by measurement of
workpieces and measuring equipment−Part 6: Generalized decision rules for the acceptance and
rejection of instruments and workpieces
[4] ISO/TR 14638:1995，Geometrical product specification (GPS)−Masterplan
[5] ISO/TR 16015:2003，Geometrical product specifications (GPS)−Systematic errors and contributions to
measurement uncertainty of length measurement due to thermal influences
22
B 7517：2018
附属書JB
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS B 7517:2018 ハイトゲージ
ISO 13225:2012，Geometrical product specifications (GPS)−Dimensional measuring
equipment; Height gauges−Design and metrological characteristics
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 用語及び
定義
3
JISとほぼ同じ
追加
指示誤差の記述を追加した。
用語の追加であり実質的な差異は
ない。
4 設計仕様
（設計特
性）
4.1 一般
4.2 主要部の名称
4.1
JISとほぼ同じ
変更
一般的な設計の事例として二つの
事例を示した。
名称は設計の詳細ではないと明記
した。
我が国で一般的な表現とした。
技術的差異はない。
4.3 寸法
4.2
JISとほぼ同じ
追加
附属書Bを参照の記述を追加した。 旧規格には，寸法の記述はなく，
国際規格のAnnexBを附属書Bと
して参照の記述を追加した。
4.4.2.2 バーニヤ目
盛及び本尺目盛
4.3.2.2
JISとほぼ同じ
追加
最小読取値の指定を追加した。
最小読取値を標準化するため，旧
規格に合わせて追加した。
4.4.2.3 バーニヤ目
盛の設計
4.3.2.3
JISとほぼ同じ
追加
削除
目盛形式の挿入図を追加した。
目盛線の太さの寸法を追加した。
最小読取値の0.1 mmを削除した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。技術的差異は
ない。
旧規格を踏襲し削除した。
4.4.2.4 バーニヤ目
盛の目盛面
4.3.2.4
JISとほぼ同じ
追加
バーニヤの段差及び隙間の寸法を
追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
4.4.2.5 ダイヤル目
盛及び本尺目盛
4.3.3
JISとほぼ同じ
追加
目量の指定を追加した。
目量を標準化するため，旧規格に
合わせて追加した。
4.4.2.6 ダイヤル目
盛の設計
−
−
追加
目盛線の太さの寸法を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
3
B
7
5
1
7
：
2
0
1
8
23
B 7517：2018
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4 設計仕様
（設計特
性）
4.4.3 デジタル表示
4.3.4
JISとほぼ同じ
追加
エラーメッセージに関する規定を
追加した。
異常を視覚的に確認できるように
するため，旧規格に合わせて追加
した。
4.4.4 デジタル表示
の使用環境に対す
る保護
4.4
JISとほぼ同じ
変更
保護等級の表示を，防じん（塵）防
水を保証しているデジタル表示だ
けに限定した。
全機種での保護等級の表示は実用
的ではないため，対象を限定した。
削除
耐電磁場に関する記述を削除した。 実用的ではないため削除した。
4.5 測定子及びスク
ライバ
4.5
−
追加
表面性状の許容値を追加した。
スライダへの固定が確実に行える
ことを追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
4.6 ベース
4.6
JISとほぼ同じ
追加
表面性状の許容値を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
4.7 構造及び機能
4.7
−
追加
スライダ作動に関する規定を追加
した。
本尺が移動できる機種において，本
尺の移動と固定に関する規定を追
加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
4.8 硬さ
4.7
−
追加
ベース基準面とスクライバ測定面
の硬さの許容値を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
3
B
7
5
1
7
：
2
0
1
8
24
B 7517：2018
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5 計測特性
及び性能
−
5
Annex A
JISとほぼ同じ
変更
章立てを統一した。
JISの認証において測定方法は重
要となるため，本文の規定に変更
した。
5.4.2 高さ測定誤差
E
5.4.2
A.2.2
JISとほぼ同じ
追加
最大許容誤差の一覧表を追加した。
測定方法の詳細を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
なお，正負記号は今後のISO規格
の方針及び旧規格に合わせて省略
せずに記載した。
我が国で一般的な測定方法につい
て，旧規格に合わせて追加した。
5.4.4 双方向長さ測
定誤差 B
5.4.4
A.2.4
JISとほぼ同じ
変更
機能をもつ機種だけに限定した。
双方向長さ測定誤差は設計特性に
よるため，対象を限定した。
5.4.5 直角度測定誤
差 S
5.4.5
A.2.5
JISとほぼ同じ
変更
機能をもつ機種だけに限定した。
直角度測定誤差は設計特性による
ため，対象を限定した。
5.5 性能
−
−
追加
ベース基準面の平面度，本尺又は柱
の基準端面の直角度，スクライバ測
定面の平行度の記述を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
5.5.1 a) ベース基準
面の平面度
−
−
追加
平面度の許容値を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
5.5.1 b) ベース基準
面と本尺又は柱の
基準端面との直角
度
−
−
追加
直角度の許容値を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
5.5.1 c) ベース基準
面とスクライバ測
定面との平行度
−
−
追加
平行度の許容値を追加した。
一定の品質を保つため，旧規格に
合わせて追加した。
5.5.2 性能の測定方
法
−
−
追加
測定方法の詳細を追加した。
我が国で一般的な測定方法につい
て，旧規格に合わせて追加した。
3
B
7
5
1
7
：
2
0
1
8
25
B 7517：2018
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 製品文書
における表
示
−
製品文書における表
示
追加
製品文書における表示は特例とし
て，詳細を附属書JAに変更した。
仕様シートの例を削除した。
基本的に本文の表示で運用するた
め変更した。
7 仕様への
適合の検証
7.1 一般
6.1
JISとほぼ同じ
変更
合否判定基準を
ISO/TR
14253-6:2012に準じる内容に変更
した。
不確かさの評価に関する記述を削
除した。
実用的な合否判定基準に変更し
た。
7.2 計測特性及び性
能の校正のための
標準器
6.2
JISとほぼ同じ
追加
対応する日本工業規格がない標準
器は，国家標準にトレーサブルな標
準器を用いることを明記した。
対応する日本工業規格のない標準
器が記載されているため，標準器
と国家標準を結びつける規定を追
加した。
7.3 標準温度
−
−
追加
寸法及び指示誤差などが標準温度
の値であることを明確にした。
使用の利便のため，具体的な規定
を追加した。
8 検査
−
−
追加
検査において，適合が必須の規定を
指定した。
JISの認証を考慮して追加した。
9 表示
7
JISとほぼ同じ
追加
最大測定長の規定を追加した。
製造番号は国際規格に整合させ
た。
−
−
Annex C
削除
校正に関する項目を削除した。
規格の明瞭化を考慮して削除し
た。
附属書JA
（参考）
−
−
−
追加
製品文書における表示を追加した。 基本的に本文の表示で運用する
が，参考として附属書に追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 13225:2012，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
3
B
7
5
1
7
：
2
0
1
8