B 7506：2004
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本精密測定機器
工業会（JMA）から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会
の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS B 7506:1997は改正され，この規格に置き換えられる。
改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO 3650:1998, Geometrical Product
Specifications（GPS）−Length standards−Gauge blocksを基礎として用いた。
この規格の一部が,技術的性質を持つ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用
新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質を持つ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認ついて，責任はもたない。
JIS B 7506には，次に示す附属書がある。
附属書A（参考）ブロックゲージの比較測定装置の例
附属書B（参考）GPSマトリックスにおける関係
附属書C（参考）参考文献
附属書1（規定）ブロックゲージの附属品
附属書2（参考）ブロックゲージの呼び寸法及びセット（組合せ）
附属書3（参考）ブロックゲージの材料
附属書4（参考）光波干渉測定用波長標準としての放射
附属書5（参考）JISと対応する国際規格とその対比表
B 7506：2004
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ................................................................................... 1
1. 適用範囲 ............................................................................ 1
2. 引用規格 ............................................................................ 1
3. 定義及び記号 ........................................................................ 2
4. 名称 ················································································ 3
5. 等級 ················································································ 4
6. 精度 ················································································ 4
6.1 概要 ··············································································· 4
6.2 寸法許容差 ········································································· 4
6.3 寸法許容差幅 ······································································· 5
6.4 測定面の平面度 ····································································· 5
6.5 測定面の密着性 ····································································· 6
7. 形状・寸法 ·········································································· 6
7.1 断面寸法 ··········································································· 6
7.2 りょう ············································································· 6
7.3 側面の平面度公差及び平行度公差 ····················································· 6
7.4 側面の直角度公差 ··································································· 6
7.5 継ぎ足し用の穴 ····································································· 7
8. 材質 ················································································ 7
8.1 材質 ··············································································· 7
8.2 熱膨張係数 ········································································· 7
8.3 硬さ ··············································································· 7
8.4 寸法の安定度 ······································································· 7
9. 測定の基礎，トレーサビリティ及び標準状態 ············································ 8
9.1 長さの単位：メートル ······························································· 8
9.2 ブロックゲージの寸法のトレーサビリティ ············································· 8
9.3 標準状態 ··········································································· 8
9.4 ブロックゲージの標準姿勢 ··························································· 8
10. ブロックゲージの校正 ······························································· 8
10.1 光波干渉計による測定 ······························································ 8
10.2 比較測定 ·········································································· 9
10.3 密着試験 ········································································· 10
11. 製品の呼び方 ······································································ 10
12. 表示 ·············································································· 10
12.1 表示事項 ········································································· 10
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（3）
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12.2 指示位置の表示 ··································································· 11
12.3 等級の表示 ······································································· 11
12.4 寸法検査表及び等級検査表 ························································· 11
附属書A（参考） ブロックゲージの比較測定装置の例····································· 13
附属書B（参考） GPSマトリックスにおける関係 ········································ 16
附属書C（参考） 参考文献 ···························································· 17
附属書1（規定） ブロックゲージの附属品 ··············································· 18
附属書2（参考） ブロックゲージの呼び寸法及びセット（組合せ） ························· 22
附属書3（参考） ブロックゲージの材料 ················································· 24
附属書4（参考） 光波干渉測定用波長標準としての放射 ··································· 25
附属書5（参考） JISと対応する国際規格とその対比表 ···································· 27
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（4）
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日本工業規格 JIS
B 7506：2004
ブロックゲージ
Gauge blocks
序文 この規格は，1998年に第1版として発行されたISO 3650:1998 Geometrical Product Specifications
（GPS）−Length standards−Gauge blocksを元に，対応する部分については対応国際規格を翻訳し，技術的
内容を変更することなく作成した日本工業規格であるが，対応国際規格に規定されていない項目を日本工
業規格として追加している。その主な内容は次のとおりである。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはないか，又は追加をした事
項である。変更の一覧表をその説明を設けて附属書5（参考）に示す。
a) 標準状態：標準水蒸気圧及び標準二酸化炭素含有率
b) 光波干渉測定における補正項目：二酸化炭素含有率
c) ブロックゲージの寸法検査表又は等級検査表
1. 適用範囲 この規格は，呼び寸法0.5mm以上1000 mm以下の長方形断面をもつ，等級がK級，0級，
1級及び2級のブロックゲージについて規定する。
なお，ブロックゲージの附属品については，附属書1で規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），MOD（修
正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO 3650:1998，Geometrical Product Specifications（GPS）−Length standards−Gauge blocks (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格を引用することによって，この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0021 幾何公差の図示方法
参考 ISO/DIS 1101:1996, Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−
tolerancing of form, orientation, location and run-out.
JIS B 0641 - 1 製品の幾何特性仕様（GPS）−製品及び測定装置の測定による検査
−第1部：仕様に対する合否判定基準
参考 ISO 14253-1:1998, Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by measurement of
workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving conformance or
non-conformance with specifications.
JIS Z 2244 ビッカース硬さ試験方法
参考 ISO 6507-1:1997, Metallic materials − Vickers hardness test − Part 1: Test method.
JIS Z 8103 計測用語
2
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ISO 1 Standard reference temperature for industrial length measurements
3. 定義及び記号 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 8103によるほか，次による。
a) ブロックゲージ 耐久性がある材料で作り，長方形断面で平行な二つの測定面をもち，その測定面は
他のブロックゲージ又は補助体（基準平面）ともよく密着する性質をもっている端度器。
b) ブロックゲージの寸法(l) ブロックゲージの寸法は，測定面上の点から他の測定面に密着させた同一
材料，同一表面状態の基準平面までの距離 (l) (図1参照)。
注(1) ブロックゲージの寸法には，密着のときに生じる密着層の厚さを含む。
図 1 ブロックゲージの寸法
c) ブロックゲージの中央寸法(lc) ブロックゲージの測定面の中心における寸法(図2参照)。
参考 ブロックゲージの中央寸法は，その測定面が平行でないとき，二つの測定面に対応してlcとlc1
とがある。この規格で規定した精度の範囲では，lcとlc1との差は事実上問題にならない(
図2 b参照)。
図 2 ブロックゲージの中央寸法
3
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d) 任意の位置における寸法の呼び寸法からの寸法差（e） 任意の位置における寸法lの呼び寸法lnから
の寸法差l−ln 。
備考 呼び寸法からの最大寸法差(ed)は，lmax−ln又はln−lminのうち数値の大きい方とする（図3参照）。
図 3 ブロックゲージの寸法差及び寸法差幅
e) ブロックゲージの寸法許容差(te) 測定面の任意の位置における寸法の呼び寸法からの許容すること
のできる寸法差（図3参照）。
f)
ブロックゲージの寸法差幅（v） ブロックゲージの最大寸法lmaxと最小寸法lminとの差。
参考 中央寸法からの寸法差foとfuの和に等しい(図3参照)。
g) ブロックゲージの寸法許容差幅(tv) ブロックゲージの寸法差幅(v)の許容することのできる値。
h) 測定面の平面度(fd) 測定面上のすべての点をその間に挟む二つの平行平面間の最小距離(図4及び
JIS B 0021参照)。
図 4 測定面の平面度
i)
密着（リンギング） ブロックゲージの測定面と，他のブロックゲージの測定面又はそれと同等な面
との分子力などによる結合現象。
4. 名称 ブロックゲージの各部の名称は，図5による。
備考 te：呼び寸法からの寸法許容差
4
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図 5 ブロックゲージの各部の名称
5. 等級 ブロックゲージは，精度によってK級，0級，1級及び2級の4等級とする。K級は，光波干
渉測定法によって校正し，主に0級，1級，2級のブロックゲージの校正に用い，常に寸法検査表などに示
した値を補正して使用する。0級，1級及び2級は，比較測定法によって校正する。
6. 精度
6.1 概要 ブロックゲージは，その等級の要求事項に適合しなければならない。
見積もった校正の不確かさは，寸法許容差に含むものとし，その許容限界値の内側において考慮する（JIS
B 0641-1参照）。
精度の要求事項は，側面から測って最大0.8mmの周辺部分を除いた測定面に適用する。この周辺部分の
表面は，測定面より低くなければならない。
6.2 寸法許容差 ブロックゲージの寸法許容差(te)は，表1による。
5
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表 1 呼び寸法からの寸法許容差及び寸法許容差幅
単位 µm
呼び寸法ln
(mm)
K級
0級
1級
2級
を超え 以下
寸法許
容差
te
(±)
寸法許容
差幅
tv
寸法許
容差
te
(±)
寸法許容
差幅
tv
寸法許
容差
te
(±)
寸法許容
差幅
tv
寸法許
容差
te
(±)
寸法許容
差幅
tv
0.5 (2)
10
25
50
10
25
50
75
0.20
0.30
0.40
0.50
0.05
0.05
0.06
0.06
0.12
0.14
0.20
0.25
0.10
0.10
0.10
0.12
0.20
0.30
0.40
0.50
0.16
0.16
0.18
0.18
0.45
0.60
0.80
1.00
0.30
0.30
0.30
0.35
75
100
150
100
150
200
0.60
0.80
1.00
0.07
0.08
0.09
0.30
0.40
0.50
0.12
0.14
0.16
0.60
0.80
1.00
0.20
0.20
0.25
1.20
1.60
2.00
0.35
0.40
0.40
200
250
300
250
300
400
1.20
1.40
1.80
0.10
0.10
0.12
0.60
0.70
0.90
0.16
0.18
0.20
1.20
1.40
1.80
0.25
0.25
0.30
2.40
2.80
3.60
0.45
0.50
0.50
400
500
600
500
600
700
2.20
2.60
3.00
0.14
0.16
0.18
1.10
1.30
1.50
0.25
0.25
0.30
2.20
2.60
3.00
0.35
0.40
0.45
4.40
5.00
6.00
0.60
0.70
0.70
700
800
900
800
900
1000
3.40
3.80
4.20
0.20
0.20
0.25
1.70
1.90
2.00
0.30
0.35
0.40
3.40
3.80
4.20
0.50
0.50
0.60
6.50
7.50
8.00
0.80
0.90
1.00
注(2)
呼び寸法の0.5mmは，この寸法区分に含む。
6.3
寸法許容差幅 ブロックゲージの寸法許容差幅(tv)は，表1による。
6.4
測定面の平面度 ブロックゲージの測定面の平面度公差(tfd)は，表2による。呼び寸法2.5mm以下
のブロックゲージは，十分な剛性とよい平面度をもつ補助体(3)に密着した状態で測定することとし，密着
しないときの測定面の平面度は，4µmを超えてはならない。
注(3)
補助体の厚さは，11mm以上とする。
表 2 測定面の平面度公差
単位 µm
呼び寸法(mm)
K級
0級
1級
2級
を超え
以下
0.5(4)
150
500
150
500
1000
0.05
0.10
0.15
0.10
0.15
0.18
0.15
0.18
0.20
0.25
0.25
0.25
注(4) 呼び寸法の0.5mmは，この寸法区分に含む。
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6.5 測定面の密着性 ブロックゲージの測定面は容易に密着できるものでなければならない。測定面の
細かいきずは，返りがなく，密着の特性を損なわないものでなければならない。
7. 形状・寸法
7.1 断面寸法 ブロックゲージの測定面に平行な断面寸法は，表3による。
表 3 断面寸法
単位 mm
呼び寸法
断面寸法
0.5以上10以下
0.05
0.2
0
0.3
9
30
−−
−
×
10を超え1000以下
0.05
0.2
0
0.3
9
35
−−
−
×
7.2
りょう ブロックゲージの測定面のりょうは，0.3mmを超えない大きさの丸み付け又は面取りを施さ
なければならない。測定面と面取りの交点は，密着に影響を与えたり，相手の測定面にきずを付けたりし
ないような状態でなければならない。
7.3 側面の平面度公差及び平行度公差 ブロックゲージの側面の平面度公差及び平行度公差は，表4に
よる。
表 4 側面の平面度公差及び平行度公差
単位 µm
呼び寸法(mm)
平面度公差
平行度公差
0.5以上100以下
40
80
100を超え1000以下
40+40×10-3×ln
80+80×10-3×ln
備考 ln: mmで表した呼び寸法
7.4 側面の直角度公差 ブロックゲージの側面の直角度公差は，表5による（図6及びJIS B0021参照）。
隣接する側面の間の角度は，90゜±10´とする。
表 5 側面の直角度公差
単位 µm
呼び寸法(mm)
側面の直角度公差
を超え
以下
10(5)
25
60
150
400
25
60
150
400
1000
50
70
100
140
180
注(5) 呼び寸法の10mmは，この寸法に含む。
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図 6 側面の直角度
7.5 継ぎ足し用の穴 100 mmを超えるブロックゲージを継ぎ足したり，密着したものを保持するために，
ブロックゲージに穴を設ける場合は，図7による（6）。
注(6) K級のブロックゲージは，継ぎ足し用の穴を用いて締結してはならない。
単位 mm
図 7 継ぎ足し用の穴
8. 材質
8.1 材質 ブロックゲージは，鋼又はこれと同等な耐摩耗性があり，容易に密着する表面に仕上げるこ
とのできる材料であって，かつ，寸法が安定であるものとする。
8.2
熱膨張係数 10〜30℃の範囲において，鋼製のブロックゲージの熱膨張係数は，(11.5±1.0)×10-6 K-1
とする。鋼製のK級ブロックゲージ及びこの熱膨張係数の範囲内にない材料並びに鋼以外の材料で作った
すべての等級のブロックゲージには，熱膨張係数及びその見積もった不確かさを明記しなければならない。
8.3
硬さ 鋼製ブロックゲージの測定面の硬さは，ビッカース硬さで800HV0.5(JIS Z 2244参照)以上と
する。
8.4
寸法の安定度 ブロックゲージの寸法の安定度は，経年による寸法の変化が表6の許容値を超えて
はならない。寸法の安定度は，試料による試験で確認し，その期間中，試料を寸法の安定度に特別の影響，
すなわち，異常な温度，振動，衝撃，磁界又は機械的な力がない状態で保管しなければならない。試験期
間は，寸法測定の精度を考慮して，寸法の変化を識別するのに十分な長い期間でなければならない。
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表 6 寸法の安定度
単位 µm／年
等級
年当たりの許容寸法変化量
K，0
±(0.02 +0.25×10-3 × ln)
1，2
±(0.05 +0.5×10-3 × ln)
備考 ln: mmで表した呼び寸法
9. 測定の基礎，トレーサビリティ及び標準状態
9.1
長さの単位：メートル（参考） メートルは，1秒の1/299 792 458の間に真空中を光が伝わる行程
の長さである(1983年第17回国際度量衡総会)。この定義は国際度量衡委員会(Comité International des Poids
et Mesures)が勧告した測定用標準波長によって現示することができる。
9.2 ブロックゲージの寸法のトレーサビリティ（参考） 測定結果は，不確かさが表記された切れ目の
ない比較測定の連鎖を通じて，適正な波長標準を用いた干渉計によって校正したブロックゲージに関連づ
けられていれば，ブロックゲージの寸法は国家又は国際標準とトレーサビリティを保つ。
9.3 標準状態 ブロックゲージの寸法は，標準温度20℃(ISO 1参照)，標準気圧101 325 Pa（＝1.013 25
bar）， 標準水蒸気圧1 333 Pa及び標準二酸化炭素含有率0.03％において求める(7)。
注(7) 標準気圧，標準水蒸気圧及び標準二酸化炭素含有率からの偏差によって生じるブロックゲージ
の変形は，通常の大気の状態では無視してもよい。
9.4 ブロックゲージの標準姿勢 呼び寸法100 mm以下のブロックゲージの寸法は，測定面を水平にした
垂直姿勢における寸法とする。呼び寸法100 mmを超えるブロックゲージの寸法は，測定面を垂直にした
水平姿勢における寸法であって，狭い方の側面を負荷応力がない状態で面端からそれぞれ呼び寸法の0.211
倍の距離で適正に支持した姿勢における寸法とする。ブロックゲージを水平姿勢で光波干渉計によって測
定する場合，測定面の一つに密着した補助体の質量を補正しなければならない。
10. ブロックゲージの校正
10.1 光波干渉計による測定
10.1.1 測定された寸法 K級ブロックゲージの寸法は，光波干渉の方法を用いて図2に示す測定面の中
央で測定しなければならない。校正結果を，一つの測定面に補助体を密着したブロックゲージで求めた1
回測定の測定値とするか，又は二つの測定面の各々に順番に補助体を密着したブロックゲージで求めた2
回測定の平均値とするかを決めなければならない。
10.1.2 補助体（基準平面）補助体はブロックゲージと同じ表面状態であることが望ましい。もし，水晶
のような他の材料の補助体を用いる場合，必要な補正を考慮しなければならない（10.1.3参照）。補助体は，
厚さが11mm以上で，直径が40 mmを超えるもので，密着面の平面度は，0.025µm未満でなければならな
い。
10.1.3 光波干渉測定における補正 光波干渉測定においては，次の補正を行う。
a) 光の波長に対する温度，気圧及び大気の湿度並びに二酸化炭素の濃度
b) 20℃からのブロックゲージの温度の差
c) ブロックゲージと補助体とが異なる材質の場合，ブロックゲージの寸法に対する密着の効果
d) 光波の反射に対する光の位相の変化
e) 干渉しまの位置に対する干渉計の口径（絞りの寸法と焦点距離）
9
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
f) 直立位置で測定する場合，100 mmを超えるブロックゲージの重力による圧縮変形
10.1.4 寸法検査表 寸法検査表には，次の測定項目を含まなければならない。
a) 中央寸法又は中央寸法の呼び寸法からの寸法差lc−ln
b) 見積もった不確かさ
c) 用いた波長及びそのトレーサビリティ
d) 熱膨張係数
e) 測定の際に密着した測定面
10.2 比較測定
10.2.1 中央寸法 標準ブロックゲージの中央寸法に対する測定するブロックゲージの中央寸法の差を求
める。測定で求めた差は標準ブロックゲージの寸法に加算する。ブロックゲージの測定面は，図8の方法
で互いに反対方向から接触し測定する。標準ブロックゲージは光波干渉法によって直接測定したもの，又
は光波干渉法で測定した標準ブロックゲージから1回若しくは数回の比較測定を経たものでよい。
参考 標準ブロックゲージの密着の影響は，比較測定の値に含まれている。
図 8 中央寸法の比較測定
10.2.2 比較測定の方法 測定するブロックゲージの中央寸法の寸法差は，寸法差の小さい標準ブロック
ゲージの中央寸法を基にして高感度比較測定器で求める。
10.2.3 寸法差幅 寸法差幅は，比較測定法によって求める。寸法差幅は，測定面の中央位置と側面から
約1.5mmの四隅の5点における最大寸法と最小寸法の差によって決定する。上記の測定点以外で測った寸
法差幅はその測定位置を寸法検査表などに明示しなければならない。
10
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考 ブロックゲージの寸法測定は，参考図1に示す5か所で行う。
参考図 1 ブロックゲージの寸法測定個所
10.2.4 比較測定における補正 比較測定においては，次の補正を行う。
a) 測定装置の系統誤差
b) 20℃からのブロックゲージの温度の差，及びブロックゲージの熱膨張係数の差の影響
c) 標準ブロックゲージと測定するブロックゲージが異なった材料の場合，測定子の形状による面の変形
の差の影響
10.2.5 寸法検査表 寸法検査表には，次の測定項目を含まなければならない。
a) 中央寸法又は中央寸法の呼び寸法からの寸法差lc−ln（12.4参照）
b) 見積もった不確かさ
c) トレーサビリティの説明
d) 熱膨張係数
10.3 密着試験 ブロックゲージの測定面の密着特性は，平面度公差0.1µmを満足するオプチカルフラッ
トを用いて試験する。密着した測定面はオプチカルフラットを通して観測し，干渉じま，色及び輝点によ
って判断する。ただし，1級及び2級のブロックゲージについては，小さい輝点又は陰があってもよい。
11. 製品の呼び方 ブロックゲージの呼び方は，規格番号若しくは名称，呼び寸法及び等級による。
例 JIS B 7506 100 mm 0級
12. 表示
12.1 表示事項 ブロックゲージには，次の事項を表示する。すべての表示は鮮明であり，製造業者名又
はその略号及び呼び寸法の文字の大きさは，1.5mm以上でなければならない。
a) 製造業者名又はその略号
b) 呼び寸法
c) 製造番号（8）
注(8) 製造番号の最初の2けたは，製造時の西暦年号の10位と1位の数を表す。ただし，年号とそれ
以外の数字を切り離して表示してもよい。
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表示を行う面は，呼び寸法が6mm以上のブロックゲージでは側面とし，6mm未満のブロッ
クゲージでは測定面でもよい。測定面に刻印する場合，測定面の中央9×12 mmの範囲内及び各
四隅の2.5mm×2.5mmの範囲内には表示してはならない（図9参照）。 表示の位置は，図9に
よることが望ましい。
12.2 支持位置の表示 呼び寸法が100 mmを超えるブロックゲージには，支持位置を示すためのマークを，
測定面から呼び寸法×0.211のところに表示することが望ましい。
12.3 等級の表示 ブロックゲージに等級を表示する場合は，次の刻印を使用する。
K級：K
0級：0
1級：−
2級：＝
12.4 寸法検査表及び等級検査表 K級及び0級のブロックゲージには寸法検査表を，1級及び2級のブロ
ックゲージにはその等級を保証する等級検査表を付ける。寸法検査表に表示する値は，中央寸法又は中央
寸法の呼び寸法からの寸法差lc−lnとし，等級検査表には等級だけを表示する。
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附属書A（参考）ブロックゲージの比較測定装置の例
序文 この附属書は，ブロックゲージの比較測定装置の例について記述するものであり，規定の一部では
ない。
A.1 比較測定装置 比較測定装置には，縦形比較測長器及び横形比較測長器の二つがあり，ブロックゲー
ジの寸法及び寸法差幅の比較測定に使用する。
A.2 縦形比較測長器 縦形比較測長器の例を附属書A図1に示す。a）は，2点測定法による比較測長器
の例で，上部測定子と下部測定子との間にテーブルの上のブロックゲージを挟んで寸法を測定する。二つ
の測定子の間を結ぶ線は，ブロックゲージの測定面に直角でなければならない。b）は，1点測定法による
比較測長器の例で，測定テーブルの上にブロックゲージを置いて上から測定子をブロックゲージの測定面
に接触させて寸法を測定する。測定テーブルの上部は3又はそれ以上の山をもち，小さい接触面積でブロ
ックゲージを安定して支持できる構造とする。測定子は，測定テーブル中央の山の上面に直角な線上に位
置していなければならない。
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A.3 横形比較測長器 横形比較測長器の例を附属書A図2に示す。横形比較測長器は，一般的に長い寸
法のブロックゲージの寸法測定に使用する。水平姿勢でブロックゲージの寸法を測定する場合，支持が水
平面内及び垂直面内で調整でき，一つの測定子がブロックゲージの一つの測定面に接触し，もう一つの測
定子がブロックゲージの他の測定面に接触しながら寸法の最小値を得るまで測定面上を移動できるものと
する。
テーブル
a) 2点測定法による比較測長器の例
b) 1点測定法による比較測長器の例
附属書A図1 縦形比較測長器の例
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附属書A図2 横形比較測長器の例
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附属書B（参考）GPSマトリックスにおける関係
序文 この附属書は，参考として示すもので，規定の一部ではない。
GPS（製品の幾何特性仕様）マトリックスモデルの詳細は, ISO/TR 14638:1995，Geometrical Product
Specifications（GPS）−Master planを参照。
B.1 規格及びその利用についての情報 この規格は,ブロックゲージの特性について規定している。ブロ
ックゲージは具現化した標準として工業でよく使われる長さの標準器である。また、この規格はブロック
ゲージの4等級を定義し、ブロックゲージの二つの校正方法（光波干渉測定及び比較測定）について述べ
ている。
B.2 GPSマトリックスモデルにおける位置付け この規格は, 附属書B図1に示すGPS基本マトリック
スにおける規格チェーンのリンク番号6（校正にかかわる要求事項―測定標準）のサイズと距離にかかわ
る基本規格である。
GPS
原理
規格
GPS共通規格
GPS基本規格マトリックス
リンク番号
1
2
3
4
5
6
サイズ
距離
半径
角度
データムに無関係な線の形状
データムに関係する線の形状
データムに無関係な面の形状
データムに関係する面の形状
姿勢
位置
円周振れ
全振れ
データム
粗さ曲線
うねり曲線
断面曲線
表面欠陥
エッジ
附属書B図1
B.3 関連規格 関連規格は, 附属書B図1に示す規格のチェーンに含まれる規格である。
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附属書C（参考）参考文献
[１] ISO/TR 14638:1995，Geometrical Product Specifications（GPS）−Master plan
[２] Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement（GUM）, BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML,
First edition, revised in 1995, ISO
参考 この文書は, 飯塚幸三監修 計量研究所GUM翻訳委員会（委員長 今井秀孝）： 国際度量衡局,
国際電気標準会議, 国際臨床化学連合, 国際標準化機構, 国際純正応用化学連合, 国際純粋
応用物理連合, 国際法定計量機関 共同編集 ；ISO国際文書 計測における不確かさの表現ガ
イド − 統一される信頼性表現の国際ルール, 1996, 日本規格協会に相当する。
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B 7506：2004
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附属書1（規定）ブロックゲージの附属品
1. 適用範囲 この附属書は，ブロックゲージの附属品(以下，附属品という。)について規定する。
2. 種類 附属品の種類は，次のとおりとする。
a) 丸形ジョウ(内側測定用・外側測定用)
b) 平形ジョウA形(内側測定用・外側測定用)，B形(外側測定用)
c) スクライバポィント
d) センタポイント
e) ホルダ
f)
ベースブロック
3. 密着面 附属品の密着面は，ブロックゲージと容易に密着できるものでなければならない。
4. 材料 附属品の材料は，高品位かつ均質で，この附属書に定めている性質を満足し，その測定面(*)
及び密着面の硬さは，800HV0.5以上でなければならない。
注* スクライバポイント及びセンタポイントの先端を含む。
5. 丸形ジョウ 丸形ジョウの寸法及び精度は，附属書1表1及び次による。
附属書1表1 丸形ジョウの寸法及び精度
備考 この図は詳細を示すものではない。
単位 mm
呼び寸法
a
b
c
(参考)
d
(参考)
e
(参考)
f
(参考)
基準寸法
許容差
(µm)
2
2
±0.5
05
.02.0
9−−
40
5.5
7.5
0.05
5
5
45
14
8
8
50
18.5
8.5
12.5
12.5
75
25
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a) 密着面の平面度公差は，0.5µmとする。
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b) 密着面に対する円筒状測定面の母線の平行度公差は，0.5µmとする。
c) 側面と密着面の直角度公差は，50µmとする。
6. 平形ジョウ 平形ジョウは，A形及びB形の2種類とし，寸法及び精度は，附属書1表2及び次によ
る。
附属書1表2 平形ジョウの寸法及び精度
備考 この図は詳細を示すものではない。
単位 mm
呼び寸法
a
b
c
(参考)
θ
(参考)
A形
B形
(参考)
基準寸法
許容差
(µm)
100
20
±1
20
05
.02.0
9−−
100
20°
150
150
a) 密着面の平面度公差は，1µmとする。
b) A形の密着面の平行度公差は，1µmとする。
c) 側面と密着面の直角度公差は，50µmとする。
7. スクライバポイント スクライバポイントの寸法及び精度は，附属書1図1及び次による。
a) 密着面の平面度公差は，0.5µmとする。
50(参考)
8.5
(
参
考
)
備考 この図は詳細を示すものではない。
附属書1図1 スクライバポイントの寸法
20
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 側面と密着面の直角度公差は，50µmとする。
8. センタポイント センタポイントの寸法及び精度は，附属書1図2及び次による。
a) 密着面の平面度公差は，0.5µmとする。
b) ポイントの中心と密着面との食い違いは，10µm以下とする。
c) 側面と密着面の直角度公差は，50µmとする。
9. ホルダ ホルダの寸法及び精度は，附属書1図3及び次による。
a) ホルダの呼び寸法は，固定ブロックと移。動ブロックの最大間隔による。
b) 固定ブロックのラップ面に対する側板の倒れの許容値は，最大間隔が300mm以下において，0.3mm
とする。
c) 附属書1図3に示すホルダの側板の距離は，最大間隔が300mm以下のものについて適用する。
φ
9
(
参
考
)
50(参考)
6
0
°
(
参
考
)
8
.
5
(
参
考
)
備考 この図は詳細を示すものではない。
附属書1図2 センタポイントの寸法
備考 この図は詳細を示すものではない。
附属書1図3 ホルダの寸法
21
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10. ベースブロック ベースブロックの寸法及び精度は，附属書1図4及び次による。
a) ホルダ取付部の側面の密着面に対する直角度公差は，50µmとする。
b) ホルダ取付面の密着面に対する平行度公差は，2µmとする。
c) 密着面の平面度公差は，0.5µmとする。
d) 底面の平面度公差は，1µmとする。
e) 密着面に対する底面の平行度公差は，0.8µmとする。
11. 製品の呼び方 附属品の呼び方は，規格番号，種類,及び呼び寸法とする。
例 JIS B 7506 平形ジョウ A形 150mm
12. 表示 附属品には，次の事項を表示する。
a) 製造業者名又はその略号
b) 呼び寸法(呼び寸法があるものに限る）
35
(参考)
備考 この図は詳細を示すものではない。
附属書1図4 ベースブロックの寸法
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附属書2（参考）ブロックゲージの呼び寸法及びセット（組合せ）
序文 この附属書は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。
1. 呼び寸法 ブロックゲージの呼び寸法は，一般的には附属書2表1による。ブロックゲージの保護の
ために，その両端に密着して使用する保護ブロックゲージを含む。
附属書 2 表 1 呼び寸法の種類 単位 mm
呼び寸法
寸法の段階
1.0005
−
0.991
0.992
0.993
0.994
0.995
0.996
0.997
0.998
0.999
0.001
1.001
1.002
1.003
1.004
1.005
1.006
1.007
1.008
1.009
1.01
1.10
1.19
1.28
1.37
1.46
1.02
1.11
1.20
1.29
1.38
1.47
1.03
1.12
1.21
1.30
1.39
1.48
1.04
1.13
1.22
1.31
1.40
1.49
1.05
1.14
1.23
1.32
1.41
1.06
1.15
1.24
1.33
1.42
1.07
1.16
1.25
1.34
1.43
1.08
1.17
1.26
1.35
1.44
1.09
1.18
1.27
1.36
1.45
0.01
1.6
1.7
1.8
1.9
0.1
0.5
5.0
9.5
14.0
18.5
23.0
1.0
5.5
10.0
14.5
19.0
23.5
1.5
6.0
10.5
15.0
19.5
24.0
2.0
6.5
11.0
15.5
20.0
24.5
2.5
7.0
11.5
16.0
20.5
25.0
3.0
7.5
12.0
16.5
21.0
3.5
8.0
12.5
17.0
21.5
4.0
8.5
13.0
17.5
22.0
4.5
9.0
13.5
18.0
22.5
0.5
30
40
50
60
70
80
90
10
75
100
125
150
175
200
25
250
−
300
400
500
600
700
800
900
1000
100
750
−
備考 保護ブロックゲージの呼び寸法は，1mm及び2mmとする。
2. セット(組合せ)
2.1 セット ブロックゲージのセットは，一つの格納箱に納められ，それらのブロックゲージは，すべ
て同一等級のものでなければならない。
2.2 格納箱 セットの格納箱は，ブロックゲージを個別に確実に収納し，その出し入れが容易であり，
防塵・防錆に効果がある十分に強固な構造でなければならない。セットの主な種類を，附属書2表2に示
すものとする。
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附属書2表2 主なセットの種類
寸法段階
(mm)
0.001 0.01 0.1 0.5
1
-
-
25 − 100 総
個
数
寸法範囲
(mm)
0
.
9
9
1
〜
0
.
99
9
1
.
0
0
1
〜
1
.
00
9
1
.
0
1
〜
1
.
0
9
1
.
0
1
〜
1
.
4
9
1
.
1
〜
1
.
9
0
.
5
〜
9
.
5
0
.
5
〜
2
4
.
5
1
〜
9
1
〜
2
4
1
.
0
0
0
5
1
.
0
0
5
1
0
2
0
2
5
3
0
4
0
5
0
6
0
7
5
1
0
0
1
2
5
〜
2
0
0
2
5
0
3
0
0
〜
5
0
0
ｾｯﾄ記号
個数
S112(1)
9 49
49
1
1
1 1 1
112
S103
49
49
1
1
1 1 1
103
S76
49 19
1 1 1 1 1 1 1 1
76
S47
9 9
24 1
1
1 1 1
47
S32
9 9
9
1 1 1 1
1(2)
32
S18
9 9
18
S9(+)
9
9
S9(-)
9
9
S8
4 1
3
8
注(1) S112の1.0005を除いてS111（111個組）としてもよい。
(2) 60mmの代わりに50mmにしてもよい。
備考 上記のセットに保護ブロックゲージ（2個）を加えたものの記号は，そのセット記号の末尾にP
を付ける。
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B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書3（参考）ブロックゲージの材料
序文 この附属書は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。
1. 材料の種類及び記号 ブロックゲージの主な材料の種類及び記号は，附属書 3 表 1による。
附属書 3 表 1 材料の種類及び記号
材料の種類
記号
高炭素高クロム鋼
クロムカーバイド
CC
タングステンカーバイド
TC
セラミックス
ジルコニア
ZO
窒化けい素
SN
25
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書4（参考）光波干渉測定用波長標準としての放射
序文 この附属書は，国際度量衡委員会が光波干渉測定用波長標準として勧告した放射のリストについて
記述するものであり，規定の一部ではない。
1. 光波干渉測定用波長標準 ブロックゲージの光波干渉計による測定に用いる光波長標準としての放射
は，附属書4表1,附属書4表2及び附属書4表3による。(1)
注(1) T J Quinn, Practical realization of the definition of the metre, including recommended radiations of
other optical frequency standards (2001), Metrologia40(2003), pp103-133による。
附属書4表1 飽和吸収によって安定化したレーザの放射
No.
レーザの名称 吸収原子,
分子
遷移, 成分
周波数 ｆ
(kHz)
真空波長 λ
(fm)
不確かさ
(k=1)
1.1 946 nm Nd: YAG
レーザ周波数
の４逓倍
115In+
5s2 1S0 -5s5p3P0
1 267 402 452 899.92
236 540 853.549 75
3.6×10-13
1.2
486 nm色素
レーザ周波数
の２逓倍
1H
1S-2S
1 233 030 706 593.55
243 134 624.626 04
2.0×10-13
1.3
563 nm色素レ
ーザ周波数の
２逓倍
199Hg+
5d106s 2S1/2(F=0)
-5d96s2 2D5/2(F=2)
ΔmF=0
1 064 721 609 899.143
281 568 867.591 969 1.9×10-14
1.4
871 nm半導体
レーザ周波数
の２逓倍
171Yb+
6s 2S1/2(F=0,mF=0)
-5d 2D3/2(F=2,mF=0)
688 358 979 309.312
435 517 610.739 69
2.9×10-14
1.5 934 nmﾁﾀﾝｻﾌｧｲ
ｱﾚｰｻﾞ周波数の
２逓倍
171Yb+
2S1/2(F=0,mF=0)
-2F7/2(F=3,mF=0)
642 121 496 772.6
466 878 090.061
4.0×10-12
1.6
よう素安定化
Nd:YAGﾚｰｻﾞ
127I2
R(56) 32-0
a10 component
563 260 223 513
532 245 036.104
8.9×10-12
1.7
よう素安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
127I2
R(127) 11-5
a16 (f) component
473 612 353 604
632 991 212.58
2.1×10-11
1.8
ｶﾙｼｳﾑ安定化
ﾚｰｻﾞ
40Ca
1S0-3P1;ΔmJ=0
455 986 240 494.150
657 459 439.291 67
1.1×10-13
1.9 ｽﾄﾛﾝﾁｳﾑ安定化
半導体ﾚｰｻﾞ
88Sr+
5 2S1/2-42D5/2
444 779 044 095.5
674 025 590.863 1
7.9×10-13
1.10 ﾙﾋﾞｼﾞｳﾑ安定化
半導体ﾚｰｻﾞ
85Rb
5S1/2(Fg=3)
-5D5/2(Fe=5)
385 285 142 375
778 105 421.23
1.3×10-11
1.11 ｱｾﾁﾚﾝ安定化半
導体ﾚｰｻﾞまた
は固体ﾚｰｻﾞ
13C2H2
P(16)(ν1＋ν3)
194 369 569.4（MHｚ）
1 542 383 712
5.2×10-10
1.12.1
ﾒﾀﾝ安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
CH4
P(7)ν3
F2(2) component
分解されないｽﾍﾟｸﾄﾙ
88 376 181 600.18
3 392 231 397.327
3.0×10-12
1.12.2
ﾒﾀﾝ安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
CH4
P(7)ν3
F2(2) component
分解された超微細構造
88 376 181 600.5
3 392 231 397.31
2.3×10-11
1.13
ｵｽﾐｳﾑ安定化
CO2ﾚｰｻﾞ
OsO4
12C16O2
R(10)(000 1)-(100 0)
29 054 057 446.579 10 318 436 884.460
1.4×10-13
26
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書4表2 スペクトルランプの放射
No.
ランプの名称
同位元素
遷移
周波数
真空波長 λ
(pm)
不確かさ
(k=3)
2.1
ｸﾘﾌﾟﾄﾝﾗﾝﾌﾟ
86Kr
5d5-2p10
-
605 780.210 3
3.9×10-9
2.2
ｸﾘﾌﾟﾄﾝﾗﾝﾌﾟ
86Kr
2p9-5d´4
2p8-5d4
1s3-3p10
1s4-3p8
-
645 807.20
642 280.06
565 112.86
450 361.62
2.0×10-8
水銀ﾗﾝﾌﾟ
198Hg
61P1-61D2
61P1-63D2
63P2-73S1
63P1-73S1
-
579 226.83
577 119.83
546 227.05
435 956.24
5.0×10-8
ｶﾄﾞﾐｳﾑﾗﾝﾌﾟ
114Cd
51P1-51D2
53P2-63S1
53P1-63S1
53P0-63S1
-
644 024.80
508 723.79
480 125.21
467 945.81
7.0×10-8
附属書4表3 その他の光源
No.
レーザの名称 吸収原子,
分子
遷移
周波数 ｆ
(MHz)
真空波長 λ
(fm)
不確かさ
(k=1)
2.3
よう素安定化
Arｲｵﾝﾚｰｻﾞ
127I2
P(13) 43-0
a3 component
582 490 603.38
514 673 466.4
2.5×10-10
2.4
よう素安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
127I2
R(12) 26-0
a9 component
551 579 482.97
543 516 333.1
2.5×10-10
2.5
よう素安定化
色素ﾚｰｻﾞ（2逓
倍He-Neﾚｰｻﾞ）
127I2
P(62) 17-1
a1 component
520 206 808.4
576 294 760.4
4.0×10-10
2.6
よう素安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
127I2
R(47) 9-2
a7 component
489 880 354.9
611 970 770.0
3.0×10-10
2.7
よう素安定化
He-Neﾚｰｻﾞ
127I2
P(10) 8-5
a9 component
468 218 332.4
640 283 468.7
4.5×10-10
27
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書5（参考）JISと対応する国際規格とその対比表
JIS B 7506 ブロックゲージ
ISO 3650 Geometrical product specification (GPS) ‒ Length standards ‒ Gauge
blocks （製品の幾何特性仕様 ‒ 長さ標準器 ‒ ブロックゲージ）
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
（Ⅲ）国際規格の規定
（Ⅳ）JISと国際規格との技
術的差異の項目ごとの評
価及びその内容
表示箇所：本体, 附属書
表示方法：点線の下線
（Ⅴ）JISと国際規格と
の技術的差異の理由
及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目
ごとの
評価
技術的差異の内
容
1適用範囲
ブロックゲージの寸法, 等
級, 附属書1の附属品に
ついての規定
ISO
3650
1
ブロックゲージの寸
法, 等級
MOD
/追加
付属品についての
規定を追加してい
る。
現場で有効に使用す
るための附属品を規
定として位置づけてい
る。
3定義及び記
号
定義, 記号
ブロックゲージ
ブロックゲージの寸法
中央寸法
寸法差
寸法許容差
寸法差幅
寸法許容差幅
平面度
密着
図1 寸法
図2 中央寸法, 測定面,
補助体
図3 寸法差及び寸法
差幅
図4 平面度
3
定義, 記号
ブロックゲージ
ブロックゲージの寸
法
中央寸法
寸法差
寸法差幅
平面度
密着
図1 寸法, 中央寸
法, 測定面, 補助体
図3 寸法差及び寸
法差幅
図2 平面度
MOD
/追加
JISの方が詳細な
説明を行ってい
る。
2引用規格
JIS B 0021
JIS B 0641
JIS Z 2244
JIS Z 8103
ISO 1
2
ISO 1101
ISO 14253-1
ISO 6507
VIM
ISO 1
IDT
4名称
各部の名称
図5 各部の名称
4
面の名称
図4 面の名称
MOD
/追加
JISの方が詳細な
説明を行ってい
る。
5等級
等級
ISOにこの項目は
ない
MOD
/追加
ISOは適用範囲及
び校正の項目中に
簡単に述べてい
る。
28
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
（Ⅲ）国際規格の規定
（Ⅳ）JISと国際規格との技
術的差異の項目ごとの評
価及びその内容
表示箇所：本体, 附属書
表示方法：点線の下線
（Ⅴ）JISと国際規格と
の技術的差異の理由
及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目
ごとの
評価
技術的差異の内
容
6精度
精度
概要として等級の要求事
項, 校正の不確かさの取
扱いを示す。
寸法許容差,寸法許容差
幅, 表1
測定面の平面度, 表2
密着性
7
7.1
7.2
測定学上の要求
概要として等級の
要求事項, 校正の
不確かさの取扱い
を示す。
測定面の平面度,
表3
寸法許容差及び寸
法許容差幅, 表5
測定面（密着,りょ
う）
IDT
IDT
ISOでは寸法許容
差及び寸法許容
差幅の値が表5に
示している。
JISの方が解りやすく
記述し,使用者の便を
はかっている。ISOを
このようなスタイルに直
すよう働きかける。
7形状・寸法
断面寸法, 表3
りょう
側面の平面度公差及び平
行度公差, 表4
側面の直角度公差,
表5及び図6
継ぎ足し用の穴, 図7
6
6.1
7.3
7.4
外観形状寸法, 材
質, マーキング
一般寸法, 表1, 継
ぎ足し用の穴, 図5
測定面, りょう
側面
平面度公差, 表3
平行度公差,
直角度公差, 表4,
図6
IDT
IDT
IDT
ISOでは形状・外
観寸法の許容値も
性能一つとして規
定している。JISで
はそれらを分けて
規定している。
8材質
材質
熱膨張係数
硬さ
寸法の安定度, 表6
6.2
材質
熱膨張係数
硬さ
寸法の安定度, 表
2
IDT
9測定の基
礎，トレーサビ
リティ，標準状
態
長さの単位：メートル
寸法のトレーサビリティ
標準状態
標準姿勢
5
長さの単位：メート
ル
寸法のトレーサビリ
ティ
標準温度及び標準
気圧
標準姿勢
MOD
/追加
JISは，標準状態
に，標準水蒸気
圧及び標準二酸
化炭素含有率を
追加している。
JISは日本の環境条
件を考慮している。
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B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
（Ⅲ）国際規格の規定
（Ⅳ）JISと国際規格との技
術的差異の項目ごとの評
価及びその内容
表示箇所：本体, 附属書
表示方法：点線の下線
（Ⅴ）JISと国際規格と
の技術的差異の理由
及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目
ごとの
評価
技術的差異の内
容
10ブロックゲ
ージの校正
光波干渉計による測定
測定された寸法
補助体
補正
寸法検査表
比較測定
中央寸法, 図8 中央寸
法の測定
測定の方法
寸法差幅, 参考図1
補正
寸法偏差表
密着試験
8
8.1
8.3
8.4
8.2
ブロックゲージの校
正
概要
光波干渉計による
測定
測定された寸法
補助体
補正
校正表
比較測定
測定の原理, 図7
中央寸法の測定
中央寸法
比較測定による寸
法の決め方, 附属
書A
寸法差幅
補正
寸法偏差表
密着試験
IDT
MOD
/追加
MOD
/追加
IDT
JISは，測定項目
に記述している。
JISは，光波干渉
測定における補
正項目に，炭酸
ガス濃度を追加
し, また 比較測
定のおける寸法
差幅の測定箇所
を参考図で示して
いる。
JISでは，日本の環境
条件及び使用条件を
考慮している。
11製品の呼び
方
製品の呼び方を規定
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
12表示
表示事項（表示面及び位
置）, 図9 表示
支持位置の表示
等級の表示
寸法検査表及び等級検
査表
6.3
表示（表示事項,表
示面及び位置）
MOD
/追加
JISでは，K級及
び0級のブロック
ゲージには寸法
検査表を，1級及
び2級のブロック
ゲージには等級
検査表を添付す
ることを追加して
規定している。
附属書A（参
考）ブロックゲ
ージの比較測
定装置の例
２点測定法の装置及び１
点測定法の装置並びに長
尺に用いる横形比較測長
器を例示
２点測定法の装置
を例示
MOD
/追加
JISは，日本で使
用されている装置
の例を追加してい
る。
附属書B（参
考）GPSマトリ
ックスにおける
関係
IDT
附属書C（参
考）参考文献
IDT
30
B 7506：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
（Ⅲ）国際規格の規定
（Ⅳ）JISと国際規格との技
術的差異の項目ごとの評
価及びその内容
表示箇所：本体, 附属書
表示方法：点線の下線
（Ⅴ）JISと国際規格と
の技術的差異の理由
及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目
ごとの
評価
技術的差異の内
容
附属書1（規
定）ブロックゲ
ージの附属品
ブロックゲージを使用する
際に必要な附属品につい
て規定
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
ブロックゲージの附
属品があって, ブロッ
クゲージは有効に使
用できる。
JISは使用者の便を
はかっている。
ISOは基準を示すこ
とを主としている。従
ってこの状態が続く。
（以下同様）
附属書2（参
考）ブロックゲ
ージの呼び寸
法及びセット
（組合せ）
ブロックゲージの呼び寸法
の種類と，主なセット（組合
せ）の種類を参考として記
載
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
JISは使用者の便を
はかっている。
附属書3（参
考）ブロックゲ
ージの材料
ブロックゲージの材料と，
それを示す記号を参考と
して記載
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
JISは製造業者及び
使用者の便をはかっ
ている。
附属書4（参
考）光波干渉
測定用波長標
準としての放
射
光波干渉測定波長標準と
して国際度量衡委員会か
ら出された勧告を参考とし
て記載
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
JISは光波干渉測定
者の便をはかってい
る。
附属書5（参
考）JISと対応
する国際規格
とその対比
JISと対応する国際規格
ISO3650
：1998との対応比較
MOD
/追加
ISOは規定してい
ない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT ·············· 技術的差異がない。
− MOD/追加 ····· 国際規格にない規格項目又は規定内容を追加している。
2.
JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD ············ 国際規格に内容の追加を行い修正している。