B 7263-4:2007
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本望遠鏡工業会(JTMA)/財団法
人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標
準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 14490-4:2005,Optics and optical
instruments−Test methods for telescopic systems−Part 4: Test methods for astronomical telescopesを基礎として
用いた。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
JIS B 7263-4には,次に示す附属書がある。
附属書(参考)JISと対応する国際規格との対比表
JIS B 7263の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS B 7263-1 第1部:基本特性
JIS B 7263-2 第2部:双眼鏡
JIS B 7263-3 第3部:ライフルスコープ
JIS B 7263-4 第4部:天体望遠鏡
B 7263-4:2007
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 天体望遠鏡の光学試験方法 ································································································ 2
4.1 対物レンズ(対物ミラー)の有効径 ··················································································· 2
4.2 対物レンズ(対物ミラー)及び接眼レンズの焦点距離 ··························································· 2
4.3 分解能 ························································································································· 4
5. 試験報告書 ····················································································································· 6
附属書(参考)JISと対応する国際規格との対比表 ····································································· 7
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日本工業規格 JIS
B 7263-4:2007
望遠鏡試験方法−第4部:天体望遠鏡
Optics and optical instruments−Test methods for telescopic systems−
Part 4: Test methods for astronomical telescopes
序文 この規格は,2005年に第1版として発行されたISO 14490-4,Optics and optical instruments−Test
methods for telescopic systems−Part 4: Test methods for astronomical telescopesを基に,技術的内容を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて,附属書(参考)に示す。
1. 適用範囲 この規格は,アマチュア向けの天体望遠鏡の試験方法について規定する。
なお,望遠鏡の基本特性の試験方法については,JIS B 7263-1による。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
ISO 14490-4:2005,Optics and optical instruments−Test methods for telescopic systems−Part 4: Test
methods for astronomical telescopes (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 7157 望遠鏡用語
備考 ISO 14132-1,Optics and optical instruments−Vocabulary for telescopic systems−Part 1: General
terms and alphabetical indexes of terms in ISO 14132及びISO 14132-4 Optics and optical
instruments−Vocabulary for telescopic systems−Part 4: Terms for astronomical telescopesからの
引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS B 7263-1 望遠鏡試験方法−第1部:基本特性
備考 ISO 14490-1,Optics and optical instruments−Test methods for telescopic systems−Part 1: Test
methods for basic characteristicsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS B 7263-3 望遠鏡試験方法−第3部:ライフルスコープ
JIS T 7309 視力検査装置
備考 ISO 8596,Ophthalmic optics−Visual acuity testing−Standard optotype and its presentationからの
引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 8120 光学用語
2
B 7263-4:2007
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3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 7157及びJIS Z 8120による。
4. 天体望遠鏡の光学試験方法
4.1
対物レンズ(対物ミラー)の有効径 対物レンズ(対物ミラー)の有効径は,次のいずれかの方法
によって測定する。
a) 屈折望遠鏡及びファインダ望遠鏡は,対物レンズのレンズホルダの有効径を測定する。また,反射望
遠鏡は,ミラー表面の有効径を測定する。
b) 望遠鏡又はファインダ望遠鏡の光学系の視度を,視度計を用いてゼロ毎メートル(m−1)に設定し,接眼
レンズ側からコリメータによる平行光線束をゼロ入射角で入射させ,対物レンズ(対物ミラー)から
射出する光線束を光軸に垂直なスクリーンに投影してその直径を測定する。
c) すりガラスで拡散した光を望遠鏡又はファインダ望遠鏡の接眼レンズ側から入射させ,物体空間の対
物レンズ(対物ミラー)の直径を横切る方向に移動できる光軸に平行な移動顕微鏡を用いて,対物レ
ンズ(対物ミラー)口径の最小値を測定する。
4.2
対物レンズ(対物ミラー)及び接眼レンズの焦点距離 対物レンズ(対物ミラー)の焦点距離の試
験方法は,次による。
4.2.1
対物レンズ及び接眼レンズの焦点距離(ノーダルスライド法) 図1のように,コリメータレンズ
(図1の3)の光軸に平行なオプチカルベンチ(図1の6)上に光軸に垂直な回転軸をもつ回転テーブル(ノ
ーダルスライド台)(図1の8)を置く。コリメータレンズの焦点位置にはコリメータレチクル(図1の2)
をセットする。回転テーブル上にあり光軸方向に移動できるスライド台(図1の7)及びコリメータレン
ズの光軸とほぼ一致する光軸をもつ顕微鏡(図1の5)を設置して,次の手順に従って焦点距離(図1のf)
を測定する。
この方法に用いる顕微鏡の対物レンズの開口数値は0.1以上とし,光源は,波長が約0.55 μmとなるこ
とが望ましい。
4.2.1.1
図1のa)に示すように,調整用レチクル(図1の4)をスライド台上に設置し,その標線がテー
ブルの回転軸に一致するように調節する。レチクル像が鮮明に見えるように顕微鏡を調整した後,オプチ
カルベンチ上の顕微鏡の位置を読み取る。レチクルの横方向の位置は,回転台をわずかに回転しても標線
の像が横移動しなくなる位置に調節する。
4.2.1.2
次に,図1のb)に示すように,調整用レチクルの代わりに測定する対物レンズ(図1の9)を,
スライド台に載せる。顕微鏡を調節しながら,測定する対物レンズによって焦点板の像が鮮明に見えるま
で,スライド台を前後に移動させる。このとき,4.2.1.1と同様に対物レンズがノーダルスライドによって
垂直軸回りにわずかに回転したとき,コリメータのレチクル像が静止するような箇所に対物レンズの位置
を調整して顕微鏡を停止し,その位置をオプチカルベンチ上で読み取る。
4.2.1.3
測定する対物レンズの焦点距離(図1のf)は,4.2.1.1と4.2.1.2の顕微鏡の位置との差である。
3
B 7263-4:2007
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記号
1. 光源,2. コリメータレチクル,3. コリメータレンズ,4. 調整用レチクル,5. 顕微鏡,6. オプチカルベンチ,
7. スライド台,8. 回転テーブル,9. 被検対物レンズ,10. グリーンフィルタ(約0.55 μm),f. 焦点距離
図 1 対物レンズの焦点距離測定
4.2.2
対物ミラーの焦点距離(照明器付き顕微鏡を用いる方法) この方法は,中央に孔のある反射ミラ
ーには適用しない。
図2に示すように,照明器付き顕微鏡(図2の3)の光軸に平行なオプチカルベンチ(図2の6)上に回
転テーブル(図2の1)を配置し,次の手順に従って測定する。
回転テーブルの回転機構は,測定する対物ミラー(図2の2)の光軸と照明器付き顕微鏡の光軸とのア
ライメント用に用いる。
この方法で使用する照明器付き顕微鏡の対物レンズの開口数値は,0.1以上とする。
テーブルの回転軸を光軸と垂直に,かつ,照明器付き顕微鏡の光軸と同一平面にして,レチクル(図2
の4)を照明器付き顕微鏡の物体平面に,回転軸と平行に置く。
4.2.2.1
図2のa)に示すように,測定する対物ミラーを,照明器付き顕微鏡の前部の回転テーブルに載せ
る。
1
2
3
4
5
6
7
8
10
1
2
3
9
5
6
7
8
10
a)
b)
4
B 7263-4:2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.2.2
顕微鏡を移動させてレチクルの像が鮮明に見える位置で停止し,そのときの照明器付き顕微鏡の
オプチカルベンチ上の位置a(測定する対物ミラーの曲率中心C)を読み取る。
4.2.2.3
次に,図2のb)に示すように,対物ミラーの中心で反射したレチクルの像が鮮明に見える照明器
付き顕微鏡の位置bをオプチカルベンチ上で読み取る。
4.2.2.4
測定する対物ミラーの焦点距離は,4.2.2.2と4.2.2.3における照明器付き顕微鏡位置の読みとの差
の半分に等しい(すなわち,
)。
記号
1. 回転テーブル,2. 被検対物ミラー,3. 照明器付き顕微鏡,4. レチクル,5. 光源,6. オプチカルベンチ
C. 測定する対物ミラーの曲率中心
図 2 対物ミラーの焦点距離測定
4.3
分解能
4.3.1
主望遠鏡の分解能 主望遠鏡の分解能の測定は,視力のよい人(JIS T 7309によって測定したとき
矯正視力が1.0以上)が,適切に設計された接眼レンズを用いて行うのが望ましい。
複数のピンホール対をもつ試験標板を,コリメータを介して観察する。
試験標板の2個のピンホール間の距離は,コリメータ及び測定する主望遠鏡の焦点距離を考慮して,レ
イリー基準に合致するように適切な間隔で決められる。
1
2
6
C
4
a
2
3
4
5
6
1
b
a)
b)
3
5
b
a−
2
1
5
B 7263-4:2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2個のピンホールの像をちょうど分離して観察できたとき,そのピンホール対に対応する分解能と決定
する。
測定用に適切に設計された接眼レンズは,0.5 mmの射出ひとみ径をもつ高性能のレンズでなければなら
ない。
複数のピンホール対をもつ試験標板は,図3に示すようなものを使用する。
測定精度を維持するため,試験ピンホールの直径dは,間隔sに比較して,d ≦ 0.5 sと小さいものが
望ましい。
主望遠鏡及びファインダ望遠鏡を試験するコリメータの対物レンズの焦点距離は,2 000 mm以上が望ま
しい。
分解能が光軸上の値の2倍に低下する対物鏡だけによる像面直径を測定し記録することが望ましい。
dmin = 0.002
試験標板のピンホール間距離
(コリメータ焦点距離:2 500)
角度 秒
s
0.4
0.005
0.5
0.006
0.7
0.008
1.0
0.012
1.5
0.018
2.0
0.024
2.5
0.030
3.0
0.036
3.5
0.042
図 3 試験標板及び主望遠鏡の分解能の試験例
4.3.2
ファインダ望遠鏡の分解能 ファインダ望遠鏡の分解能測定方法については,JIS B 7263-3による。
s
φd
単位 mm
6
B 7263-4:2007
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5. 試験報告書 関連する試験方法に従った試験結果の提出のほか,該当する場合には,次の一般情報も
提示する。
a) 試験場所の名称
b) 試験者の氏名
c) 試験日
d) 被検天体望遠鏡の識別
e) 試験方法の詳細 試験方法が要求されている場合,及び/又はすべての部の関連試験方法で規定され
ているものと異なる場合,試験構成及び/又は手順についての詳細
f)
この規格の番号
試験報告書がこの規格を含むJIS B 7263の規格群のすべての部に従って複数の試験の結果を記録す
る場合,上記a)〜f)に規定する一般情報は,通常一回だけ記載する。
7
B 7263-4:2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書(参考)JISと対応する国際規格との対比表
JIS B 7263-4:2007 望遠鏡試験方法−第4部:天体望遠鏡
ISO 14490-4: 2005 望遠鏡試験方法−第4部:天体望遠鏡
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ) 国際
規格番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所:本体
表示方法:点線の下線
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの
評価
技術的差異の内容
1. 適用
範囲
アマチュア向けの天体望
遠鏡の試験方法について
規定
ISO
14490-4
1
JISと同じ
IDT
−
−
2.引用規
格
JIS B 7263-1及びJIS B
7263-3
JIS B 7157
JIS T 7309
JIS Z 8120
2
ISO 14132-1,
ISO 14132-4
ISO 8596
MOD/追加
IDT
MOD/変更
MOD/追加
用語規格であり実質的差異はない。
3.定義
JIS Z 8120,
JIS B 7157による。
3
ISO 14132-1,
ISO 14132-4による。
MOD/追加
MOD/変更
−
−
4. 天体
望遠鏡の
光学試験
方法
典型的な試験方法を示し,
類似した方法も許容
4
JISと同じ
IDT
−
−
4.1対物
レンズ
(対物ミ
ラー)の
有効径
対物レンズ(対物ミラー)
の有効径測定方法を規定
4.1
JISと同じ
IDT
−
−
2
B
7
2
6
3
-4
:
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
B 7263-4:2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ) 国際
規格番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所:本体
表示方法:点線の下線
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの
評価
技術的差異の内容
4.2対物
レンズ
(対物ミ
ラー)及
び接眼レ
ンズの焦
点距離
対物レンズ(対物ミラー)
及び接眼レンズの焦点測
定方法を規定
4.2
JISと同じ
IDT
−
−
4.2.1 対
物レンズ
及び接眼
レンズの
焦点距離
(ノーダ
ルスライ
ド法)
4.2.1
IDT
−
−
4.2.2 対
物ミラー
の焦点距
離(照明
器付き顕
微鏡を用
いる方
法)
IDT
−
−
2
B
7
2
6
3
-4
:
2
0
0
7
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B 7263-4:2007
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(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ) 国際
規格番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所:本体
表示方法:点線の下線
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの
評価
技術的差異の内容
4.3 分
解能
分解能の測定方法
4.3
JISと同じ
IDT
−
−
4.3.1 主
望遠鏡の
分解能
備考5 分解能が光軸上の
値の2倍に低下する・・・
4.3.1
JISと同じ
MOD/追加
日本語と英語の表現
の違いによる誤解を
避けるために表現を
追加
日本語と英語の表現の違い
4.3.2 フ
ァインダ
望遠鏡の
分解能
JIS B 7263-3による。
4.3.2
JISと同じ
MOD/変更
望遠鏡試験方法第3
部ライフルスコープ
の規格を引用
ISOの規定の誤りであり,ISOに変更
を提案する。
5. 試験
報告書
試験結果に併せて提示す
べき一般情報を規定
−
JISとほぼ同じ
MOD/追加
他の部に合わせ,複数の試験結果を記
録する場合を追加した。
ISOに提案する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価:MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― IDT……………… 技術的差異がない。
― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― MOD…………… 国際規格を修正している。
2
B
7
2
6
3
-4
:
2
0
0
7
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