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B 6336-2 : 2002 

(1) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本工作機械工業会 (JMTBA) /

財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日

本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

これによって,JIS B 6336 : 1986及びJIS B 6338 : 1985は廃止され,JIS B 6336の規格群に置き換えられ

る。 

制定に当たっては,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日本工業規格を基礎にした国際規格原

案の提案を容易にするために,ISO 10791-2 : 2001, Test conditions for machining centres−Part 2 : Geometric 

tests for machines with vertical spindle or universal heads with vertical primary rotary axis (vertical Z-axis) を基礎

として用いた。 

JIS B 6336-2には,次に示す附属書がある。 

附属書A(規定) 補助水平主軸 

附属書B(規定) 一つの数値制御回転軸をもつロータリ主軸頭 

附属書C(規定) 互いに直角な二つの数値制御回転軸をもつ旋回主軸頭 

附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表 

JIS B 6336の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS B 6336-1 第1部:横形及び万能主軸頭をもつ機械の静的精度(水平Z軸) 

JIS B 6336-2 第2部:立て形及び万能主軸頭をもつ機械の静的精度(垂直Z軸) 

JIS B 6336-3 第3部:固定又は連続割出万能主軸頭をもつ機械の静的精度(垂直Z軸) 

JIS B 6336-4 第4部:直進及び回転運動軸の位置決め精度 

JIS B 6336-5 第5部:パレットの位置決め精度 

JIS B 6336-6 第6部:送り速度,主軸速度及び補間運動の精度 

JIS B 6336-7 第7部:工作精度 

JIS B 6336-8 第8部:直交3平面内での輪郭運動性能の評価 

JIS B 6336-9 第9部:工具交換及びパレット交換時間の評価 

JIS B 6336-10 第10部:熱変形の評価(予定) 

JIS B 6336-11 第11部:騒音放射の評価(予定)


 

 

日本工業規格          JIS 

 

B 6336-2 : 2002 

 

 

マシニングセンタ−検査条件− 

第2部:立て形及び万能主軸頭を 

もつ機械の静的精度(垂直Z軸) 

Test conditions for machining centres− 

Part 2 : Geometric tests for machines with vertical spindle or universal 

heads with vertical primary rotary axis (vertical Z-axis)  

 

 

序文 この規格は,2001年に発行されたISO 10791-2 : Test conditions for machining centres−Part 2 : 

Geometric tests for machines with vertical spindle or universal heads with vertical primary rotary axis (vertical 

Z-axis) を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。 

マシニングセンタは,フライス削り,中ぐり,穴あけ及びねじ立てを含む複数の切削作業ができ,かつ,

加工プログラムに従って工具マガジン又は同様の格納装置から工具を取り出し,自動交換できる数値制御

工作機械である。 

この規格の目的は,比較,受渡し,保守又はその他の目的のために行う検査に関してできるだけ幅広く,

かつ,理解しやすい情報を提供することである。 

この規格は,JIS B 6191の関係する箇条を参照して,横形又は立て形,若しくは種々の万能主軸頭をもち,

単独で使用するか又はフレキシブル生産システムに組み込んで使用するマシニングセンタの検査事項につ

いて規定する。 

この規格は,また,普通精度のはん(汎)用のマシニングセンタに対応する検査結果の許容値又は許容で

きる最大値についても規定する。 

構造形態,構成要素及び運動がこの規格に規定する検査事項とほとんど変わらなければ,この規格の全部

又は一部は,数値制御フライス盤及び数値制御中ぐり盤にも適用できる。 

 

1. 適用範囲 この規格は,JIS B 6191に基づいて,立て形(すなわち,垂直Z軸)マシニングセンタ(又

は数値制御フライス盤,数値制御中ぐり盤などの適用できるもの)の静的精度の検査条件について規定す

る。 

この規格は,基本的には3数値制御軸,すなわち,2 000mm以下の長さの直進(X,Y及びZ)軸をも

つマシニングセンタに適用するが,ラム,クイル又は万能主軸頭の回転軸(A',B'及びC')のような補助

軸の運動にも適用する。これ以外の運動は,特別な機能であるとみなし,それに関連する検査は,この規

格には含まない。 

この規格は,附属書A,附属書B及び附属書Cで3種類の万能主軸頭の静的精度試験についても規定す


B 6336-2 : 2002  

る。 

− 附属書A:補助水平主軸 (AG1〜AG6)  

− 附属書B:一つの数値制御回転軸をもつロータリ主軸頭(BG1及びBG2) 

− 附属書C:互いに直角な二つの数値制御回転軸をもつ旋回主軸頭 (CG1〜CG7)  

この規格は,機械の精度の検査だけを扱い,運転試験には適用しない。運転試験は,別途行うのが望ま

しい。無負荷又は仕上げ条件下で運転する機械の性能に関する検査は,JIS B 6336の他の部に含まれる。 

備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。 

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,ITD(一致している),MOD

(修正している),NEQ(同等でない)とする。 

ISO 10791-2 : 2001 Test conditions for machining centres−Part 2 : Geometric tests for machines with 

vertical spindle or universal heads with vertical primary rotary axis (vertical Z-axis) (MOD) 

 

2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによってこの規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS B 6191 工作機械−静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則 

備考 ISO 230-1: 1996, Test code for machine tools−Part 1 : Geometric accuracy of machines operating 

under no-load or finishing conditionsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 

JIS B 6337 工作機械用パレット−形状・寸法 

備考 ISO 8526-1 : 1990, Modular units for machine tools−Workholding pallets−Part 1 : Workholding 

pallets up to 800mm nominal size及びISO 8526-2 : 1990, Modular units for machine tools−

Workholding pallets−Part 2 : Workholding pallets of nominal size greater than 800mmからの

引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 

 

3. 一般事項 

3.1 

測定単位 この規格では,長さ,長さの偏差及び許容値は,mmで表す。角度は,度 (°) で表し,

角度の偏差及び許容値は,原則として長さの比(例えば,0.00x/1 000)で表すが,マイクロラジアン (

洀爀愀

又は秒 (〃) で表してもよい。ただし,これらの間には次の関係がある。 

0.010/1 000=10 洀爀愀搢刀

3.2 

JIS B 6191の参照 この規格を適用するに当たって,特に検査前の機械の据付け,主軸及び他の運

動部品の暖機運転,測定方法並びに測定器の推奨精度についてJIS B 6191を参照する。 

検査事項がJIS B 6191の検査方法と対応する場合には,4.及び附属書A〜Cの備考欄に示す説明を参照

する前にJIS B 6191の対応する箇条を参照する。 

3.3 

検査の順序 この規格に示す検査の順序は,実際の検査の順序を決めるものではない。測定器の取

付け及び検査が容易になるようにするために,検査は,どのような順序で行ってもよい。 

3.4 

実施する検査 機械を検査するときは,必ずしもこの規格に示すすべての検査を行う必要はない。

この検査が受渡しのために必要なとき,使用者は,製造業者との協定に基づいて関心のある機械の構成要

素及び/又は特性に関係する検査事項を選択してもよい。検査事項は,機械を発注するときに明確にしな

ければならない。実施する検査事項の指定がなく,また,その検査に要する経費についての協定もない状

態でこの規格をただ受取検査に引用するだけでは,受渡当事者間の拘束条件にはならない。 


B 6336-2 : 2002  

3.5 

測定器 この規格の4.及び附属書A〜Cの測定器欄に示す測定器は,例としてだけ示したものであ

る。同じ量が測定でき,少なくとも同じ精度をもつ他の測定器を使用してもよい。ダイヤルゲージの目量

は,0.001mm又はそれよりも小さいものでなければならない。 

3.6 

測定方法図 この規格に示す図は,簡単のために一つの機械の形態だけを示す。 

3.7 

パレット 数個のパレットを使う機械に対しては,静的精度又は機械の軸に関係する挙動の検査(検

査事項G15〜G20)は,使用者と製造業者との協定によって指定されていない場合は,規定された位置に

固定した1個のパレットで代表させて行う。 

3.8 

ソフトウエアによる補正 幾何学的な偏差の補正にソフトウエアの機能が使える場合には,使用者

と製造業者との協定に基づいて,関係する検査を行うときにその補正機能を使っても,使わなくてもよい。

ソフトウエア補正を使った場合には,そのことを検査報告書に記載しなければならない。 

3.9 

機械の構造形態 この規格に規定する機械は,その構造及び直進軸に平行に運動する部品に基づい

て12の構造形態に分類できる。図1に示すようにこの機械の構造形態は,01〜12の番号を使って表す。

その構造形態の分類は,表1(1)に示す。 

3.10 呼び マシニングセンタの構造を定義するために,呼びを短い番号で表す。この呼びは,次の四つ

の項目で,次の順序で表す。 

a) マシニングセンタ 

b) この規格の番号 

c) 垂直主軸形式 V 

d) 図1及び表1(左欄)に示す番号 

例 垂直主軸形式で,X軸に平行に移動するテーブル,Y軸に平行に移動するコラム及びZ軸に平行

に移動する主軸頭をもつマシニングセンタの呼び番号は, 

マシニングセンタ JIS B 6336-2 形式V07 

3.11 最小許容値 この規格に与えられている測定長さと異なる長さで許容値を決定する場合(JIS B 

6191-2.311参照)には,許容値の最小値が0.005mmであることを考慮する。 

                                                        
注(1) マシニングセンタには,V10(門形)又はV11(ガントリ形)に似た構造で,シングルコラムのもの
がある。この規格は,その検査に適用できる。その場合には,必要があれば,“門形”又は“ガントリ形”
の用語に代えて,“コラム”及び“アーム付きクロスレール”を使用するのが望ましい。 


B 6336-2 : 2002  

 

図1 


B 6336-2 : 2002  

表1 立て形マシニングセンタの構造形態分類 

 

X' 

Y' 

Z' 

01  

サドル上の
テーブル 

 

ベッド上の
テーブルサ
ドル 

コラム上の
主軸頭 

 

02 ベッド上の

コラム 

 

 

ベッド上の
テーブル 

コラム上の
主軸頭 

 

03  

サドル上の
テーブル 

 

ニー上のテ
ーブルサド
ル 

 

コラム上の
ニー 

04  

ベッド上の
テーブルサ
ドル 

 

サドル上の
テーブル 

コラム上の
主軸頭 

 

05 サドル上の

コラム 

 

ベッド上の
コラムサド
ル 

 

コラム上の
主軸頭 

 

06  

サドル上の
ニー 

コラム上の
主軸頭 

 

 

コラム上の
ニーサドル 

07  

ベッド上の
テーブル 

ベッド上の
コラム 

 

コラム上の
主軸頭 

 

08 ベッド上の

コラムサド
ル 

 

サドル上の
コラム 

 

コラム上の
主軸頭 

 

09  

ニーサドル コラム上の

主軸頭 

 

 

サドル上の
ニー 

10  

ベッド上の
テーブル 

クロスレー
ル上の主軸
頭スライド 

 

コラム上の
主軸頭 

 

11 ガントリ 

 

クロスレー
ル上の主軸
頭スライド 

 

コラム上の
主軸頭 

 

12 コラム上の

主軸頭スラ
イド 

 

スライド上
の主軸頭 

 

 

コラム上の
ニー 

 


B 6336-2 : 2002  

4. 静的精度検査 

4.1 

直進運動の真直度 

検査事項 

X軸運動の真直度の検査 

G1 

a) 垂直ZX平面内で (EZX)  
b) 水平XY平面内で (EYX) 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

       X≦500 

0.010 

    500<X≦800 

0.015 

    800<X≦1 250 

0.020 

    1 250<X≦2 000 

0.025 

部分許容値:測定長さ300について0.007 

測定値 

X=_____について 

a) 
b) 

測定器 

a) 直定規及びダイヤルゲージ,又は光学的方法 
b) 直定規及びダイヤルゲージ,測微顕微鏡及び鋼線,又は光学的方法 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.211,5.23,5.231.2,5.232.1及び5.233.1 
すべての構造形態について,直定規,鋼線又は真直度用反射鏡は,テーブル上に定置する。ダイヤルゲージ,測微

顕微鏡又は干渉計は,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付
ける。 

測定線は、できるだけテーブル中心線に近い位置を通すのが望ましい。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Y軸運動の真直度の検査 

G2 

a) 垂直YZ平面内で (EZY) 
b) 水平XY平面内で (EXY) 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

       Y≦500 

0.010 

     500<Y≦800 

0.015 

     800<Y≦1 250 

0.020 

    1 250<Y≦2 000 

0.025 

部分許容値:測定長さ300について0.007 

測定値 

Y=_____について 

a) 
b) 

測定器 

a) 直定規及びダイヤルゲージ,又は光学的方法 
b) 直定規及びダイヤルゲージ,測微顕微鏡及び鋼線,又は光学的方法 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.211,5.23,5.231.2,5.232.1及び5.233.1 
すべての構造形態について,直定規,鋼線又は真直度用反射鏡は,テーブル上に定置する。ダイヤルゲージ,測微

顕微鏡又は干渉計は,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付
ける。 

測定線は、できるだけテーブル中心線に近い位置を通すのが望ましい。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Z軸運動の真直度の検査 

G3 

a) Y軸に平行な垂直YZ平面内で (EYZ) 
b) X軸に平行な垂直ZX平面内で (EXZ) 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

       Z≦500 

0.010 

    500<Z≦800 

0.015 

    800<Z≦1 250 

0.020 

    1 250<Z≦2 000 

0.025 

部分許容値:測定長さ300について0.007 

測定値 

Z=_____について 

a) 
b) 

測定器 

a)及びb)について,直角定規及びダイヤルゲージ,光学的方法,又は測微顕微鏡及び鋼線 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.211,5.23,5.231.2,5.232.1及び5.233.1 
すべての構造形態について,直角定規又は鋼線は,テーブル上に定置する。ダイヤルゲージ,測微顕微鏡又は干渉

計は,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付ける。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


B 6336-2 : 2002  

4.2 

直進運動の角度偏差 

検査事項 

X軸運動の角度偏差の検査 

a) 軸の運動に平行な垂直ZX平面内で(ピッチ,EBX) 
b) 水平XY平面内で(ヨー,ECX) 
c)  軸の運動に直角な垂直YZ面内で(ロール,EAX) 

G4 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a),b)及びc)について 

0.060/1 000(又は,60

洀爀愀摓

は12'') 

測定値 
a) 
b) 
c) 

測定器 

a) (ピッチ,EBX) 精密水準器又は光学式角度偏差測定器 
b) (ヨー,ECX) 光学式角度偏差測定器 
c) (ロール,EAX) 精密水準器 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.231.3,5.232.2及び5.233.2 
測定器は,運動させる部品(主軸頭又はテーブル)上に定置する。 
a) (ピッチ,EBX) 長手方向 
b) (ヨー,ECX) 水平方向 
c) (ロール,EAX) 前後方向 
X軸運動によって主軸頭及びテーブルの両方に角度偏差が発生する場合には,その運動に伴う二つの角度偏差の差

を取り,その値を記録する。この測定に精密水準器を使用する場合には,基準となる水準器を主軸頭に定置し,測定
するテーブルの角度偏差との差を読み取る。 

測定位置は,運動の方向に平行,かつ,等間隔に設定し,その数は,最小で5点とする。測定は,このすべての位

置で,両方向について行う。読みの最大差は,許容値を超えてはならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 


10 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Y軸運動の角度偏差の検査 

G5 

a) 軸の運動に平行な垂直YZ平面内で(ピッチ,EAY) 
b) 水平XY平面内で(ヨー,ECY) 
c)  軸の運動に直角な垂直ZX平面内で(ロール,EBY) 

測定方法図 

 

 
許容値 

a),b)及びc)について 

0.060/1 000(又は,60

洀爀愀摓

は12'') 

測定値 
a) 
b) 
c) 

測定器 

a) (ピッチ,EAY) 精密水準器又は光学式角度偏差測定器 
b) (ヨー,ECY) 光学式角度偏差測定器 
c) (ロール,EBY) 精密水準器 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.231.3,5.232.2及び5.233.2 
測定器は,運動させる部品(主軸頭又はテーブル)上に定置する。 

a) (ピッチ,EAY) 長手方向 
b) (ヨー,ECY) 水平方向 
c) (ロール,EBY) 前後方向 

Y軸運動によって主軸頭及びテーブルの両方に角度偏差が発生する場合には,その運動に伴う二つの角度偏差の差

を取り,その値を記録する。この測定に精密水準器を使用する場合には,基準となる水準器を主軸頭に定置し,測定
するテーブルの角度偏差との差を読み取る。 

測定位置は,運動の方向に平行,かつ,等間隔に設定し,その数は,最小で5点とする。測定は,このすべての位

置で,両方向について行う。読みの最大差は,許容値を超えてはならない。 

 
 
 
 
 
 

 
 


11 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Z軸運動の角度偏差の検査 

a) 垂直YZ平面内で (EAZ)  
b) 垂直ZX平面内で (EBZ)  
c)  水平XY平面内で (ECZ) 

G6 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a),b)及びc)について 

0.060/1 000(又は,60

洀爀愀摓

は12'') 

測定値 
a) 
b) 
c) 

測定器 

a)  及びb) 精密水準器又は光学式角度偏差測定器 
c)  直定規,円筒スコヤ及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.231.3,5.232.2及び5.233.2 
測定位置は,運動の方向に平行,かつ,等間隔に設定し,その数は,最小で5点とする。測定は,このすべての位

置で,両方向について行う。読みの最大差は,許容値を超えてはならない。 

測定器は,運動させる部品(主軸頭又はテーブル)上に定置する。 
a) Y'方向における角度偏差 (EAZ)  
b) X'方向における角度偏差 (EBZ)  
Z軸運動によって主軸頭及びテーブルの両方に角度偏差が発生する場合には,二つの角度偏差の差を取り,その値

を記録する。この測定に精密水準器を使用する場合には,基準となる水準器を主軸頭に定置し,測定するテーブルの
角度偏差との差を読み取る。 

c)  (ロール,ECZ)Z軸とほぼ平行に円筒スコヤをテーブル上に定置し,特殊取付具に取り付けたダイヤルゲージ

の測定子を円筒スコヤに当てる。その読みをそれぞれの高さで記録し,スコヤ上の対応する高さに印する。X
軸に平行にテーブルを移動させ,次に,ダイヤルゲージを付け替えて,その測定子を同じ線上で再び円筒スコ
ヤに当てる。X軸運動のロールを測定し,考慮する。ダイヤルゲージを再びゼロに合わせ新しく測定を前と同
じ高さで行い,記録する。それぞれの高さについて,二つの読みの差を計算する。その差の最大及び最小を選
び,次の式による値 

d

最大差−最小差 

は,許容値を超えてはならない。ここに,dは,二つのダイヤルゲージ間の距離である。 
 
 


12 

B 6336-2 : 2002  

4.3 

二つの直進運動の直角度 

検査事項 

Z軸運動とX軸運動との直角度の検査 

G7 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

測定長さ500について0.02 

測定値 

測定器 

直定規又は定盤,直角定規及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.522.4 
ステップ1):まず,直定規又は定盤をX軸と平行に定置する。 
ステップ2):次に,直定規又は定盤上に立てた直角定規を使ってZ軸を検査する。 
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できな場合には,主軸頭に取り付け

る。 

角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


13 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Z軸運動とX軸運動との直角度の検査 

G8 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

測定長さ500について0.02 

測定値 

測定器 

直定規又は定盤,直角定規及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.522.4 
ステップ1):まず,直定規又は定盤をY軸と平行に定置する。円筒スコヤを使用する場合には,直定規又は定盤の

使用面は,X軸と平行にする。 

ステップ2):次に,直定規又は定盤上に立てた直角定規を使ってZ軸を検査する。 
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できな場合には,主軸頭に取り付け

る。 

角度

より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しなけ

ればならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 


14 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

Y軸運動とX軸運動との直角度の検査 

G9 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

測定長さ500について0.02 

測定値 

測定器 

直定規,直角定規及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.522.4 
ステップ1):まず,直定規をX軸(又はY軸)と平行に定置する。 
ステップ2):次に,直定規に直角定規の一方の面を当ててテーブル上に定置し,Y軸(又はX軸)を検査する。 
この検査は,直定規を使用しなくても実行できる。すなわち,直角定規の一方の使用面を一つの軸と平行に置き,

もう一方の使用面を使って検査する。 

ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できな場合には,主軸頭に取り付け

る。 

角度

より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しなけ

ればならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


15 

B 6336-2 : 2002  

4.4 

主軸 

検査事項 

a) 主軸の軸方向の動きの検査 
b) 主軸端面の振れの検査(2) 

注(2) この検査は,工具を装着するために端面を便用する主軸だけに適用する。 

G10 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a) 0.005 
b) 0.010 

測定値 

測定器 

ダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.621.1及び5.622.2 
a) この検査は,すべての主軸について行わなければならない。 

予圧をかけて使用しない軸受を使用する場合には,軸方向に力を加える。 

b) 距離Aは,できるだけ大きくとるのが望ましい。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


16 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸テーパ穴の振れの検査 

a) 主軸端で 
b) 主軸端から300の距離で 

G11 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a) 0.01 
b) 0.02 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.611.4及び5.612.3 
この検査は,すべての主軸について行わなければならない。 
この検査は,JIS B 6191の5.611.4の備考25.に従って少なくとも2回転させて行わなければならない 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


17 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線とZ軸運動との平行度の検査 

a) 垂直YZ平面内で 
b) 垂直ZX平面内で 

G12 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

測定長さ300について0.015 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.412.1及び5.422.3 
a) Y軸は,できれば固定する。 
b) X軸は,できれば固定する。 
可動式のクロスレールを備えた門形 (10) 及びガントリ形 (11) のマシニングセンタについては,コラム上のクロス

レールの位置を3か所(下部位置,中央位置,上部位置)変えて,それぞれの位置で検査する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


18 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとX軸運動との直角度の検査 
 

G13 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.02/300 

測定値 

測定器 

直定規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32,5.512.4及び5.512.42 
Z軸は,できれば固定する。 
直定規は,X軸と平行に定置する。 
直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G7及びG12b)からも導くことができる。 
角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


19 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとY軸運動との直角度の検査 

 

G14 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.02/300 

測定値 

測定器 

直定規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
Z軸は,できれば固定する。 
直定規は,Y軸に平行に定置するのが望ましい。 
直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G8及びG12a)からも導くことができる。 
角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


20 

B 6336-2 : 2002  

4.5 

テーブル又はパレット 

検査事項 

テーブル(3)上面の平面度の検査 

注(3) 組込形テーブル又は規定された位置に固定された1個のパレット 

G15 

 

測定方法図 

 

 
許容値 
       L≦500 

0.020 

     500<L≦800 

0.025 

     800<L≦1 250 

0.030 

    1 250<L≦2 000 

0.040 

ここに,Lは,テーブル又はパレットの短い方の辺の長さ 

部分許容値:測定長さ300について0.012 

測定値 

L=_____について 

測定器 

精密水準器又は直定規,ブロックゲージ及びダイヤルゲージ,若しくは光学的方法 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.322,5.323及び5.324 
X軸及びY軸は,動きの中央におく。 
テーブルの平面度は,2回検査しなければならない。1回目は,個定したテーブルで,その後に,固定しないで(で

きるものについては)測定する。この2回の測定から求めた偏差は,許容値を超えてはならない。 

この検査は,JIS B 6337に規定する寸法のパレットに適用する。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


21 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

テーブル(3)上面とX軸運動との平行度の検査 

注(3) 組込形テーブル又は規定された位置に固定された1個のパレット 

G16 

 

測定方法図 

 

 
許容値 
       X≦500 

0.020 

    500<X≦800 

0.025 

    800<X≦1 250 

0.030 

   1 250<X≦2 000 

0.040 

測定値 

X=_____について 

測定器 

直定規,ブロックゲージ及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.422.1及び5.422.2 
Y軸及びZ軸は,できれば固定する。 
ダイヤルゲージの測定子は,工具の刃先位置近くで当てる。測定は,テーブル上面に平行に定置した直定規上で行

わなければならない。 

ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付

ける。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


22 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

テーブル(3)上面とY軸運動との平行度の検査 

注(3) 組込形テーブル又は規定された位置に固定された1個のパレット 

G17 

 

測定方法図 

 

 
許容値 
       Y≦500 

0.020 

    500<Y≦800 

0.025 

    800<Y≦1 250 

0.030 

   1 250<Y≦2 000 

0.040 

測定値 

Y=_____について 

測定器 

直定規,ブロックゲージ及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.422.1及び5.422.2 
X軸及びZ軸は,できれば固定する。 
ダイヤルゲージの測定子は,工具の刃先位置近くで当てる。測定は,テーブル上面に平行に定置した直定規上で行

ってもよい。 

ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付

ける。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


23 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

テーブル(3)の0°位置での次のa),b)又はc)とX軸運動との平行度の検査 

a) 長手方向の基準溝又は基準T溝 
b) 二つの心出し穴の中心線(長手方向にあれば) 
c) 長い方のエッジロケータ 

注(3) 組込形テーブル又は規定された位置に固定された1個のパレット 

G18 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a),b)及びc)について 

測定長さ300について 0.015 

測定値 
a) 
b) 
c) 

測定器 

ダイヤルゲージ及び必要があれば,直定規及び基準ピン 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.422.1及び5.422.2 
Y軸は,できれば固定する。 
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付

ける。 

心出し穴がある場合には,突き出た部分をもつ2本の同一直径の基準ピンを心出し穴にはめて使わなければならな

い。直定規は,そのピンに押し当てて定置する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


24 

B 6336-2 : 2002  

4.6 

Z軸に平行な補助軸(W軸) 

検査事項 

W軸運動の真直度の検査 

a) 垂直YZ平面内で 
b) 垂直ZX平面内で 

G19 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

測定長さ300について0.015 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

円筒スコヤ及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.211,5.231.2,5.232.1及び5.233.1 
a) Y軸は,できれば固定する。 
b) X軸は,できれば固定する。 
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付

ける。 

 
 
 
 

 
 
 

 
 
 
 
 
 
 

 


25 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

W軸運動とZ軸運動との平行度の検査 

a) 垂直YZ平面内で 
b) 垂直ZX平面内で 

G20 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

測定長さ300について0.025 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

直角定規及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.422.2,及び5.422.5 
a) Y軸は,できれば固定する。 
b) X軸は,できれば固定する。 
二つの運動を同時にさせることができる場合には,同じ位置で直角定規にダイヤルゲージの測定子を常に接触させ

るように同じ量だけその二つを運動させる。 

それができない場合には,直角定規はZ軸に平行に定置するのが望ましい。直角定規をZ軸と平行に定置しない場

合は,平行度の狂いが測定値に含まれることを考慮しなければならない。 

ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合には,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合には,主軸頭に取り付

ける。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 


26 

B 6336-2 : 2002  

附属書A(規定) 補助水平主軸 

 

A.1 X軸に平行な補助主軸 

検査事項 

主軸軸線SとX軸運動との平行度の検査 

a) 垂直ZX平面内で 
b) 水平XY平面内で 

AG1 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

a)及びb)について 

測定長さ300について0.020 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.412.1及び5.422.3 
Y軸は,動きの中央におく。 

a) Z軸は,できれば固定する。 
b) Y軸は,できれば固定する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


27 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとY軸運動との直角度の検査 
 

AG2 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

直角規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
X軸は,できれば固定する。 
直定規は,Y軸と平行に定置する。 
直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G9及びAG1b)からも導くことができ

る。 

角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


28 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとZ軸運動との直角度の検査 

 

AG3 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

直角定規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
X軸は,できれば固定する。 
直角定規の使用面は,Z軸に平行に定置するのが望ましい。平行に定置しない場合には,平行度の狂いが測定値に

含まれることを考慮しなければならない。 

直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G7及びAG1a)からも導くことができる。 
角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


29 

B 6336-2 : 2002  

A.2 Y軸に平行な補助主軸 

検査事項 

主軸軸線SとY軸運動との平行度の検査 

a) 垂直YZ平面内で 
b) 水平XY平面内で 

AG4 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a)及びb)について 

測定長さ300について0.020 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.412.1及び5.422.3 
X軸は動きの中央におく。 

a) Z軸は,できれば固定する。 
b) X軸は,できれば固定する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


30 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとX軸運動との直角度の検査 

 

AG5 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

測定長さ300について0.025 

測定値 

測定器 

直定規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
Y軸は,できれば固定する。 
直角定規は,X軸と平行に定置する。 
直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G9及びAG4b)からも導くことができ

る。 

角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


31 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線SとZ軸運動との直角度の検査 

 

AG6 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

直角定規,特殊取付具及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1及び5.512.42 
X軸は,動きの中央におく。 
Y軸は,できれば固定する。 
直角定規は,Z軸と平行に定置する。 
直角度の偏差は、関係する偏差の和がここに示した許容値を超えなければ,G8及びAG4a)からも導くことができる。 
角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


32 

B 6336-2 : 2002  

附属書B(規定) 一つの数値制御回転軸をもつロータリ主軸頭 

検査事項 

XY平面と主軸頭の回転軸との直角度(又は,主軸頭の回転平面との平行度)の検査 

 

BG1 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.015/300 

測定値 

測定器 

定盤及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
定盤は,XY平面と平行に定置する。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 


33 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

水平位置にある主軸軸線Sとロータリ主軸頭の垂直旋回軸線との交差度の検査 

 

BG2 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.030 

測定値 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
主軸軸線Sが水平XY平面内でX(又はY)軸と平行になるようにロータリ主軸頭を調整し,ダイヤルゲージをゼ

ロに合わせる。主軸頭を180°回し,ダイヤルゲージを再設定することなく,X(又はY)軸及びZ軸だけを移動させ
て,X(又はY)軸と再び平行になるように調整し,新しく読みを取る。その読みの1/2が許容値を超えてはならない。
この検査の結果は,補正にも使える。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


34 

B 6336-2 : 2002  

附属書C(規定) 互いに直角な二つの数値制御回転軸をもつ旋回主軸頭 

検査事項 

ヨークのC軸とX軸運動との直角度の検査 

 

CG1 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

直定規又は定盤,及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
Z軸及びA軸は,できれば固定する。 
直定規は,X軸と平行に定置する。 
ダイヤルゲージは,ヨーク本体又は主軸頭に取り付ける。この場合には,主軸は,Z軸と直角になるように割り出

す。 

角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


35 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

ヨークのC軸とY軸運動との直角度の検査 

 

CG2 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

直定規または定盤,及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

5.512.1,5.512.32及び5.512.42 
Z軸及びA軸は,できれば固定する。 
直定規は,Y軸と平行に定置する。 
ダイヤルゲージは,ヨーク本体又は主軸頭に取りつける。この場合には,主軸は,Z軸と直角になるように割り出

す。 

角度

90°より小さいか,等しいか,又は90°より大きいかを,情報として,又は補正を行うために記録しな

ければならない。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


36 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸頭のA軸とヨークのC軸との直角度の検査 

 

CG3 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.035/300 

測定値 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

Y軸は,できれば固定する。 
ステップ1):右及び左のそれぞれの位置に主軸があるときの二つのダイヤルゲージの読みが等しくなるまで,ヨー

ク(C軸)の角度位置を調整する(A軸は,X軸と直角である。)。次に,ダイヤルゲージのゼロ合わ
せを行い,テストバー上の接触点に印を付ける。 

ステップ2):主軸を(YZ平面内で)垂直にするために,主軸頭(A軸)を90°回し,テストバー上の印を付けた

点に測定子が再び接触するまでZ軸とX軸とを移動させ,読みを取る。 

ステップ3):ヨーク(C軸)を180°回転させ,ステップ1)に示した調整を行った後に,ステップ2)に示した測定

を行う。 

ダイヤルゲージと主軸頭のA軸との間の距離で割ったステップ2)で行った二つの読みの差の1/2は,許容値を超え

てはならない。 

備考: ステップ2)での二つの読みの和の1/2,すなわち,平均値を,ダイヤルゲージと主軸頭のA軸との間の距

離で割った値は,垂直YZ平面内におけるA軸とY軸との間の平行度偏差となる。これは,G8及びCG2
を組み合わせたものに対応する。CG4で測定される主軸軸線SとA軸との直角度の偏差は,CG4で測定
しているために,ステップ1)の調整を行っている間にダイヤルゲージのゼロ合わせを行うことによって,
無視できる。 

 
 
 
 
 
 
 
 


37 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線Sと主軸頭A軸との直角度の検査 

 

CG4 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.025/300 

測定値 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

Y軸は,できれば固定する。 
ステップ1):CG3のステップ1)で行った調整をそのまま使う。 
ステップ2):主軸の任意の二つの水平位置で,主軸軸線Sと水平XY平面内のX軸との平行度の偏差を測定する。

この偏差は,主軸軸線SとA軸との直角度の偏差に等しい。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


38 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸軸線Sと主軸頭のA軸とが同一平面内にあることの検査 

 

CG5 

 

測定方法図 

 

 

許容値 

0.020 

測定値 

測定器 

テストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

Z軸は,できれば固定する。 
主軸頭を一方向に干渉しないように回し,テストバーが垂直ZX平面内でX軸に平行になるまでA軸を回す。 
ダイヤルゲージの読みをゼロに合わせテーブル上に固定する。 
ダイヤルゲージとの干渉を避けるために,X軸とZ軸とだけを移動させて主軸頭を遠ざける。A軸を180°回転さ

せて,X軸及びZ軸を移動させてダイヤルゲージとテストバーとを接触させる。 

ダイヤルゲージを再設定することなく,テストバーがその一方の側で再びX軸に平行になるまで,A軸を合わせる。 
最後の読みの1/2は,許容値を超えてはならない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


39 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

ヨークのC軸とZ方向に垂直な位置にある主軸軸線Sとの一致の程度の検査 

a) A軸及びC軸を含む垂直AC平面内で 
b) AC平面に直角な垂直面内で 

CG6 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

a) 0.015 
b) 0.030 

測定値 
a) 
b) 

測定器 

ダイヤルゲージ,又はテストバー及びダイヤルゲージ 

備考及びJIS B 6191の参照 

主軸軸線SとC軸との平行度の偏差を最小にするように主軸頭のA軸を合わせる。測定子は,主軸の外面又はテス

トバー,若しくは主軸の口元近くのテストバーに接触させる。C軸を90°ごとに4回回す。 

二つの平面a)及びb)内での読みを2で割り,許容値と比較する。 
A軸に垂直な平面内での測定b)は,CG5で検査した主軸軸線SとA軸との間の距離及びCG7で検査するA軸とC

軸との間の距離を含む。 

この検査のために,主軸軸線S及びC軸は両方ともZ軸に平行にする。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


40 

B 6336-2 : 2002  

 

検査事項 

主軸頭のA軸とヨークのC軸とか同一平面内にあることの検査 

 

CG7 

 

測定方法図 

 

 
許容値 

0.020 

測定値 

測定器 

ダイヤルゲージ及び直角定規 

備考及びJIS B 6191の参照 

X軸は,できれば固定する。 
直角定規は,YZ平面に平行に定置しなければならない。 
主軸を固定できる場合には,ダイヤルゲージは,主軸に固定する。 
主軸が直角定規と平行になるようにA軸とC軸とを合わせる。ダイヤルゲージの読みをゼロに合わせる。 
A軸とC軸とを両方とも180°回転させ,新しく読みを取る。 
この新しい読みの1/2は,許容値を超えてはならない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


41 

B 6336-2 : 2002  

参考文献 

 

[1] JIS B 6310 : 1998 産業オートメーションシステム−機械及び装置の制御−座標系及び運動の記号 

備考 ISO/DIS 841 : 1994, Industrial automation systems−Physical device control−Coordinate system 

and motion nomenclatureからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 


 
 

 

4

2

 

B

 6

3

3

6

-2

 : 

2

0

0

2

  

 

附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表 

JIS B 6336-2 : 2002:マシニングセンタ−検査条件−第2部:立て形及び万能主軸頭をも
つ機械の静的精度(垂直Z軸) 

ISO 10791-2 : 2001: マシニングセンタ−検査条件−第2部:立て形及び万能主
軸頭をもつ機械の静的精度(垂直Z軸) 

(I) JISの規定 

(II) 
国際規格
番号 

(III) 国際規格の規定 

(IV) JISと国際規格との技術的差異の項
目ごとの評価及びその内容 
 表示方法:本体,附属書 
 表示方式:点線の下線又は実線の測線 

(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策 

項目番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

 

1. 

適用範囲 
立て形(すなわち,垂直Z軸)
マシニングセンタ(又は数値
制御フライス盤,数値制御中
ぐり盤などの適用できるも
の)の静的精度の検査条件に
ついて規定する。 

ISO 
10791-2 

1. 

JISと同じ 

IDT 

− 

 

2. 

引用規格 
JIS B 6191 
JIS B 6337 

 

2. 

ISO 230-1 
ISO 8526-1 
ISO 8526-2 

IDT 

− 

 

3. 

一般事項 
3.1 測定単位 
3.2 JIS B 6191の参照 
3.3 検査の順序 
3.4 実施する検査 
3.5 測定器 
3.6 測定方法図 
3.7 パレット 
3.8 ソフトウエアによる補正 
3.9 機械の構造形態 
3.10 呼び 
3.11 最小許容値 

 

3. 
3.1 
3.2 
3.3 
3.4 
3.5 
3.6 
3.7 
3.8 
3.9 
3.10 
3.11 

 
JISと同じ 
JIS B 6191→ISO 230-1 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JISと同じ 
JIS B 6191→ISO 230-1 

IDT 

− 

 

 


 
 

 

4

3

 

B

 6

3

3

6

-2

 : 

2

0

0

2

  

 

(I) JISの規定 

(II) 
国際規格
番号 

(III) 国際規格の規定 

(IV) JISと国際規格との技術的差異の項
目ごとの評価及びその内容 
 表示方法:本体,附属書 
 表示方式:点線の下線又は実線の測線 

(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策 

項目番号 

内容 

 

項目 
番号 

内容 

項目ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

 

4. 

静的精度検査 
4.1 直進運動の真直度 
4.2 直進運動の角度偏差 
4.3 二つの直進運動の直角度 
 
4.4 主軸 
4.5 テーブル又はパレット 
4.6 Z軸に平行な補助軸(W軸) 

 

 
G4 b) 
 
G5 b) 
 
 
G10 

 

 
MOD/変
更 
MOD/変
更 
MOD/変
更 

 
測定方法図:レーザ干渉計の
位置 
測定方法図:レーザ干渉計の
位置 
注の追加 

 
ISO規格の内容に明らかな間違いがあ
るため,修正した。 
ISO規格の内容に明らかな間違いがあ
るため,修正した。 
ISO規格に規定された検査方法は困難
であるため,補足している。 

附属書A 
(規定) 

補助水平主軸 
A.1 X軸に平行な補助主軸 
A.2 Y軸に平行な補助主軸 

 

 

 

IDT 

 

 

附属書B 
(規定) 

一つの数値制御回転軸をもつ
ロータリ主軸頭 

 

 

 

IDT 

 

 

附属書C 
(規定) 

互いに直角な二つの数値制御
回転軸をもつ旋回主軸頭 

 

CG7 

 

MOD/変
更 

“Plate(通常は定盤)”を,
“直角定規”と翻訳 

測定方法図に合わせて,用語を修正し
た。 

 
JISと国際規格との対応の程度の全体評価:MOD  

 
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。 

  − IDT  技術的差異がない。 
  − MOD/変更  国際規格のC規定内容を変更している。 

2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。 

  − MOD  国際規格を修正している。 


44 

B 6336-2 : 2002 

 

原案作成委員会 構成表 

 

 

氏名 

所属 

(委員長) 

 

清 水 伸 二 

上智大学 

(委員) 

 

青 山 藤詞郎 

慶應義塾大学 

 

 

堤   正 臣 

東京農工大学 

 

 

竹 森 謙 三 

株式会社荏原製作所 

 

 

澤 江 政 信 

富士電機株式会社 

 

 

遠 藤 治 彦 

石川島播磨重工業株式会社 

 

 

江 草 友 良 

クレヴァ電機株式会社 

 

 

磯 部   章 

住友重機械工業株式会社 

 

 

岩 脇   晃 

トヨタ自動車株式会社 

 

 

鈴 木 治 男 

株式会社オギハラ 

 

 

加 藤 裕 之 

エンシュウ株式会社 

 

 

大 類 恒 夫 

日立精機株式会社 

 

 

田 島 琢 士 

日立ビアメカニクス株式会社 

 

 

輿 水 邦 義 

株式会社池貝 

 

 

吉 野 光 男 

倉敷機械株式会社 

 

 

川 名 秀 治 

株式会社牧野フライス製作所 

 

 

峯 岸 和 美 

三井精機工業株式会社 

 

 

岡 本 洋 一 

株式会社森精機製作所 

 

 

古 橋 静 児 

オークマ株式会社 

 

 

山 内 政 行 

大阪機工株式会社 

 

 

吉 田 博 通 

東芝機械株式会社 

 

 

神 谷 洋 治 

豊田工機株式会社 

 

 

佐 伯 英 樹 

ヤマザキマザック株式会社 

 

 

橋 本   進 

財団法人日本規格協会 

(事務局) 

 

櫻 庭   肇 

社団法人日本工作機械工業会 

 

 

大 槻 文 芳 

社団法人日本工作機械工業会 

 

 

米 谷 理 史 

社団法人日本工作機械工業会