JISB6210-3:2010 横中ぐりフライス盤－精度検査－第３部：プレーナ形（コラム移動・テーブル移動形）

B 6210-3：2010

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 2

3 機械各部及び座標軸の名称 ································································································· 2

3.1 一般 ···························································································································· 2

3.2 運動の種類 ··················································································································· 2

4 横中ぐりフライス盤による中ぐり加工 ·················································································· 3

4.1 中ぐり加工 ··················································································································· 3

4.2 フライス削り作業 ·········································································································· 3

5 主要な要素の説明 ············································································································· 4

5.1 主軸頭 ························································································································· 4

5.2 テーブル ······················································································································ 4

5.3 中ぐり棒支え ················································································································ 4

6 一般事項························································································································· 5

6.1 測定単位 ······················································································································ 5

6.2 JIS B 6190（規格群）及びJIS B 6191の参照 ······································································· 5

6.3 検査の順序 ··················································································································· 5

6.4 実施する検査 ················································································································ 5

6.5 測定器 ························································································································· 5

6.6 工作精度検査 ················································································································ 5

6.7 ソフトウエア補正 ·········································································································· 5

6.8 最小許容値 ··················································································································· 5

7 静的精度検査 ··················································································································· 6

7.1 直進軸の真直度及び角度偏差 ··························································································· 6

7.2 二つの直進軸の直角度 ··································································································· 12

7.3 テーブル ····················································································································· 14

7.4 割出しテーブル又は回転テーブル····················································································· 17

7.5 中ぐり主軸 ·················································································································· 20

7.6 フライス主軸 ··············································································································· 25

7.7 ラム ··························································································································· 26

7.8 組込み式面板 ··············································································································· 29

7.9 面削りスライド運動（U軸）··························································································· 32

7.10 中ぐり棒支え ·············································································································· 33

8 工作精度検査 ·················································································································· 34

9 数値制御による位置決め精度検査 ······················································································· 39

B 6210-3：2010

（3）

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本工作機械工業会（JMTBA）及

び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，

日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

対応国際規格である，ISO 3070規格群が2007年に改正され，従来はPart 0（総則）を含む4部構成だっ

たものが，Part 1〜Part 3の3部構成に変更された。これに対応するJISとしては，従来はJIS B 6210，JIS

B 6222及びJIS B 6252の3規格であったが，この改正を機会に部編成を導入し，JIS B 6210の第1部〜第

3部として制定することとなった。

これによって，JIS B 6252:2004は廃止され，この規格に置き換えられた。

また，令和2年10月20日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標

準化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責

任はもたない。

JIS B 6210の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS B 6210-1 第1部：テーブル形（コラム固定・テーブル移動形）

JIS B 6210-2 第2部：床上形（コラム移動・テーブル固定形）

JIS B 6210-3 第3部：プレーナ形（コラム移動・テーブル移動形）

日本産業規格

JIS

B 6210-3：2010

横中ぐりフライス盤−精度検査−

第3部：プレーナ形（コラム移動・テーブル移動形）

Test conditions for testing the accuracy of boring and milling

machines with horizontal spindle-

Part 3: Machines with movable column and movable table

序文

この規格は，2007年に第3版として発行されたISO 3070-3を基とし，規格使用者の理解を助けるため，

技術的内容を変更して作成した日本産業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，JIS B 6190-2，JIS B 6190-7及びJIS B 6191に基づき，普通精度のはん（汎）用プレーナ形

（コラム移動・テーブル移動形）横中ぐりフライス盤の静的精度，工作精度及び数値制御による位置決め

精度の検査方法，並びにそれぞれの検査事項に対応する許容値について規定する。

プレーナ形横中ぐりフライス盤は，中ぐり主軸及びフライス主軸をもつ主軸頭，中ぐり主軸及び面板を

もつ主軸頭，又はラムをもつ主軸頭のいずれかの主軸頭を備えている。

この規格は，コラムベースの運動（W軸），テーブルの運動（X軸），主軸頭の運動（Y軸），中ぐり主

軸又はラムの運動（Z軸），及び該当する場合は，面削りスライドの運動（U軸）をもつ機械に適用する。

ただし，テーブルには，割出しテーブル又は回転テーブルを含む。

注記 JIS B 6210-1では，主軸及びラムの運動をW軸運動という。

この規格は，機械の精度の検査だけを取り扱う。一般に精度検査の前に行われる，機械の運転試験（振

動，異常騒音，運動部品のスティックスリップなど）及び機械特性試験（主軸速度，送り速度など）には

適用しない。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO 3070-3:2007，Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring and milling

machines with horizontal spindle−Part 3: Machines with movable column and movable table

（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

B 6210-3：2010

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。

JIS B 6190-2:2008 工作機械試験方法通則−第2部：数値制御による位置決め精度試験

注記対応国際規格：ISO 230-2:2006，Test code for machine tools−Part 2: Determination of accuracy and

repeatability of positioning numerically controlled axes（IDT）

JIS B 6190-7:2008 工作機械試験方法通則−第7部：回転軸の幾何精度試験

注記対応国際規格：ISO 230-7:2006，Test code for machine tools−Part 7: Geometric accuracy of axes of

rotation（IDT）

JIS B 6191:1999 工作機械−静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則

注記対応国際規格：ISO 230-1:1996，Test code for machine tools−Part 1: Geometric accuracy of

machines operating under no-load or finishing conditions（MOD）

ISO 1101:2004，Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerances of form,

orientation, location and run-out

機械各部及び座標軸の名称

3.1

一般

横中ぐりフライス盤は，回転しない工作物に対する切削工具の回転を主切削運動とし，切削工具の回転

によって切削エネルギーを与える工作機械である。

主切削運動は，主軸の回転，場合によっては面板の回転によって発生させる。

3.2

運動の種類

送り運動は，次による。

a) テーブルのX軸方向送り，及びB軸方向送り（該当する場合）。

b) 主軸頭のY軸方向送り

c) 主軸のZ軸方向送り

d) 主軸の軸線に平行な，コラムベース上のコラムのW軸方向送り

e) 該当する場合は，面削りスライドのＵ軸方向送り

表1は，図1に示す機械の主な構成要素の名称を示す。図1は，2種類のプレーナ形横中ぐりフライス

盤の形態を示す。図1のa)は，非回転形テーブルを示し，b)は，組込み形回転テーブルを示す。

表1−名称（図1参照）

番号

名称

対応英語（参考）

ベッド

bed

コラム

column

主軸頭

spindle head

コラムベース

column base

テーブル

table

割出しテーブル又は回転テーブル

index or rotary table

B 6210-3：2010

a) 非回転形テーブルを備えた機械

b) 組込み形回転テーブルを備えた機械

注記番号1〜6については，表1を参照。

図1−プレーナ形横中ぐりフライス盤

横中ぐりフライス盤による中ぐり加工

4.1

中ぐり加工

中ぐり加工は，回転しない工作物に対して，単刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし，その切

削工具の回転によって切削エネルギーを与え，様々な大きさ及び形状の穴を加工する方法である。

円筒穴，テーパ穴，止まり穴又は貫通穴を繰り広げて必要寸法に加工する作業は，中ぐり軸の軸平均線

に対する工具刃先位置を明確に位置決めできる中ぐり棒を使って行う。

同一工作物の相対する面にある同軸の穴の加工は，中ぐり棒を使って行う。この中ぐり棒の一方は，中

ぐり主軸にはめ，もう一方は，テーブルの一方の側にある中ぐり棒支えに入れて回転させる。

この方法に代えて，回転テーブルを備えた機械の場合には，中ぐり棒支えを用いないで中ぐり主軸に取

り付けた同一の中ぐり工具を使って，テーブルを180°回して工作物のもう一方の側を中ぐりすることが

できる（これを，“反転中ぐり”という。）。後者の加工方法は，経済的ではあるが，軸の回転精度及びテー

ブルの角度位置決めに高い精度が必要になる。

4.2

フライス削り作業

フライス削りは，回転しない工作物に対して，多刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし，その

切削工具の回転によって切削エネルギーを与え，様々な形状をした非軸対称面（非回転面）を加工する方

法である。

B 6210-3：2010

フライス削りは，ほとんどが正面フライス削り及びエンドミル削りである。工具は，中ぐり主軸（図2

参照）のテーパ穴，又はフライス工具の場合は，フライス主軸端に取り付ける。

主要な要素の説明

5.1

主軸頭

様々な種類の主軸頭の例を図2に示す。主要な要素の名称は，表2による。

面板は，一般に半径方向の面削りスライドをもっている。面板は，組込形又は着脱形のいずれかである

が，後者の場合は附属品になる。

組込形の面板は，通常，フライス主軸には取り付けることができないこと及び主軸軸受と独立した固有

の軸受を使用していることに注意するのが望ましい。

表2−名称（図2参照）

番号

名称

対応英語（参考）

中ぐり主軸

boring spindle

フライス主軸

milling spindle

面板

facing head

面削りスライド

facing head slide

ラム

ram

a) 中ぐり及びフライス

削り主軸頭

b) 面板及び面削りスラ

イド付き主軸頭

c) ラム形主軸頭

注記番号1〜5は，表2を参照。

図2−主軸頭の種類

5.2

テーブル

テーブルは，位置決め及び送りのために様々な直進運動及び回転運動ができる。

互いに直角に運動する二つの主な直進運動には，テーブルの位置決めと工作物の送りとがある。

テーブルの回転運動は，次の位置決め及び送り運動に使用する。

a) テーブルの回転面内での角度位置決め

b) フライス削りを行うための工作物の円弧送り

c) 旋削作業を行うための回転切削送り

5.3

中ぐり棒支え

長い中ぐり棒を使用した加工例が減少してきていることから，中ぐり棒支えは，オプション又は附属品

として扱うことができる。

B 6210-3：2010

一般事項

6.1

測定単位

この規格では，長さ，長さの偏差及び許容値は，ミリメートル（mm）で表す。角度は，度（°）で表

し，角度の偏差及び許容値は，通常，長さの比（例えば，0.00x/1 000）で表すが，マイクロラジアン（μrad）

又は秒（″）で表してもよい。ただし，これらの間には次の関係がある。

0.010/1 000 ＝10×10−6＝10 µrad≒2″

6.2

JIS B 6190（規格群）及びJIS B 6191の参照

この規格を適用するに当たって，特に検査前の機械の据付け，主軸及びそれ以外の運動部品の暖機運転，

測定方法並びに測定器の精度については，JIS B 6191を参照。

各検査事項の測定手順欄には，その検査に関係するJIS B 6190-2，JIS B 6190-7 又はJIS B 6191 の細分

箇条番号を併せて示す。

6.3

検査の順序

この規格に規定した検査の順序は，実際の検査の順序を決めるものではない。測定器の取付け又は検査

が容易になるようにするために，検査は，どのような順序で行ってもよい。

6.4

実施する検査

機械を検査するときは，必ずしもこの規格に規定したすべての検査を行う必要はない。使用者は，製造

業者との協定に基づいて検査事項を選択してもよい。検査事項は，機械を発注するときに明確にしなけれ

ばならない。実施する検査事項の指定がなく，また，その検査に要する経費についての協定もない状態で，

この規格を受取検査に引用するだけでは，受渡当事者間の拘束条件にはならない。

6.5

測定器

検査事項の測定器欄に示す測定器は，例として示したものである。

同じ物理量が測定でき，少なくとも同じ，又はそれよりも小さな不確かさをもつ他の測定器を使用して

もよい。使用する変位計の目量は，0.001 mm又はそれ以下とする。

6.6

工作精度検査

工作精度検査は，かなりの切削力を発生する荒削りではなく，仕上げ削りで行わなければならない。

6.7

ソフトウエア補正

組み込んだソフトウエア機能を使って幾何偏差，位置決め偏差，輪郭偏差及び熱変形の補正ができる場

合は，この検査のときに，これらの機能を使用するかどうかは，受渡当事者間の協定によるのが望ましい。

ソフトウエア補正を用いた場合は，そのことを検査報告書に記載しなければならない。

6.8

最小許容値

この規格で規定されている測定長さと異なる長さで許容値を決定する場合には（JIS B 6191の2.311参

照），許容値の最小値が0.005 mmであることを考慮する。

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静的精度検査

7.1

直進軸の真直度及び角度偏差

検査事項

コラムベース運動（W軸）の真直度
a) YZ面内（EYW）
b) ZX面内（EXW）

測定方法図

許容値

a)及びb)

測定長さ1 000 以下については， 0.02
測定長さ1 000 を超える場合は， 0.03
部分許容値：測定長さ300について 0.006

測定値
a)
b)

測定器

直定規，変位計及びブロックゲージ，又は光学式測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.232.11，5.232.12及び5.232.13

テーブルは，X軸方向の動きの中央に固定し，主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上で，a)垂直及びb)水平にして，コラムベース運動（W軸）と平行に定置する（平

行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付

ける。

変位計の測定子は，直定規の使用面に直角に当てる。
コラムベースをW軸方向に移動させて，読みを取る。

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検査事項

コラムベース運動（W軸）の角度偏差
a) YZ面内（EAW：ピッチ）
b) XY面内（ECW：ロール）
c) ZX面内（EBW：ヨー）

測定方法図

1 測定用精密水準器

5 レーザ光源

2 基準用精密水準器

6 干渉計

3 オートコリメータ

7 角度偏差測定用反射鏡

4 反射鏡

8 ビームベンダ

許容値

a)，b)及びc)

0.04/1 000
部分許容値：測定長さ300については 0.02/1 000

測定値
a)
b)
c)

測定器

a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.231.3及び5.232.2

測定用精密水準器又は反射鏡は，主軸頭上に定置する。

a) Z軸方向（オートコリメータについては，垂直面内の読みを取るように定置する。）
b) X軸方向
c) Z軸方向（オートコリメータについては，水平面内の読みを取るように定置する。）

基準用精密水準器は，テーブル上に定置し，主軸頭は，動きの中央に置く。
コラムベース運動（W軸）が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は，それぞれの角度偏差

の差も測定し，それを記録する。

測定は，移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。

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検査事項

テーブル運動（X軸）の真直度
a) XY面内（EYX）
b) ZX面内（EZX）

測定方法図

許容値

a)及びb)

測定長さ1 000以下については，0.02
測定長さ1 000を超える場合は，1 000増すごとに 0.01を加える。
最大許容値：0.05
部分許容値：測定長さ300について0.006

測定値
a)
b)

測定器

直定規，変位計及びブロックゲージ，又は光学式測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.232.11及び5.232.13

コラムベースは，Z軸方向の動きの中央に固定し，主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上中央で，a)垂直及びb)水平にして，テーブル運動（X軸）と平行に定置する（平

行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，直定規の使用面に直角に当てる。
テーブルをX軸方向に移動させて，読みを取る。

B 6210-3：2010

検査事項

テーブル運動（X軸）の角度偏差
a) XY面内（ECX：ピッチ）
b) YZ面内（EAX：ロール）
c) ZX面内（EBX：ヨー）

測定方法図

測定用精密水準器

レーザ光源

基準用精密水準器

干渉計

オートコリメータ

角度偏差測定用反射鏡

反射鏡

ビームベンダ

許容値

a)，b)及びc)

X≦4 000

0.04/1 000

X＞4 000

0.06/1 000

部分許容値：測定長さ300について0.02/1 000

測定値
a)
b)
c)

測定器

a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.231.3及び5.232.2

測定用精密水準器又は反射鏡は，テーブル上に定置する。

a) X軸方向（オートコリメータについては，垂直面内の読みを取るように定置する。）
b) Z軸方向
c) X軸方向（オートコリメータについては，水平面内の読みを取るように定置する。）

基準用精密水準器は，主軸頭上に定置し，主軸頭は，動きの中央に置く。
テーブル運動（X軸）が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は，それぞれの角度偏差も測

定し，記録する。

測定は，移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。

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検査事項

主軸頭運動（Y軸）の角度偏差
a) YZ面内（EAY）
b) ZX面内（EBY）

測定方法図

1 測定用精密水準器
2 基準用精密水準器
3 円筒スコヤ
4 精密水準器
5 特殊ジグ

許容値

a)及びb)

Y≦4 000 0.04/1 000
Y＞4 000 0.06/1 000

測定値
a)
b)

測定器

a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 定盤，円筒スコヤ，精密水準器，変位計及び特殊ジグ

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.231.3及び5.232.2

a) 精密水準器は，Z軸と平行に主軸頭上に定置する。基準用精密水準器は，テーブル上に同じ向きに定置する。

Y軸運動が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じさせる原因になる場合は，それぞれの角度偏差も測定し，
記録する。

b) 定盤をテーブルに載せて，その上面が水平になるように調整する。

その定盤上に円筒スコヤを定置し，主軸端に取り付けた特殊ジグ上に固定した変位計の測定子を円筒スコ

ヤに当てる。精密水準器は，定盤上にZ軸方向と平行に定置する。

主軸頭を移動（Y軸）させて，各測定位置で読みを取る。
次に，テーブルを距離dだけ移動させ，変位計の測定子が円筒スコヤに当たるように変位計を取り付け直

す。

テーブル運動のロールによって精密水準器が異なる値を示す場合は，定盤の水準が最初の位置での水準と

同じになるように調整し，最初の測定位置と同じ位置で変位計の読みを取る。

各測定位置における，二つの読みの差を距離dで除した値を求め，その最大差を角度偏差とする。
測定は，移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。

注記テーブルの二つの位置の間での水準の差は，測定結果に直接影響を及ぼす。

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7.2

二つの直進軸の直角度

検査事項

テーブル運動（X軸）とコラムベース運動（W軸）との直角度

測定方法図

許容値

測定長さ1 000について0.03

測定値

測定器

直定規，直角定規及び変位計

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.522.4

主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上で，コラムベース運動（W軸）と平行に定置し，その直定規に直角定規を押し当

てる（平行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

コラムベースは，できるだけ動きの中央で固定する。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，直角定規の使用面に当てる。
テーブルをX方向に移動させて，読みを取る。

注記この測定は，直定規を用いないで，直角定規の二つの使用面に直接変位計の測定子を当てて実行することが

できる。

B 6210-3：2010

検査事項
主軸頭運動（Y軸）と次の運動との直角度

a) テーブル運動（X軸）
b) コラムベース運動（W軸）

測定方法図

許容値

a)及びb)

測定長さ1 000について0.03

測定値
a)
b)

測定器

円筒スコヤ，定盤，変位計及び調整ブロック

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.522.4

定盤をテーブル上に載せて，その上面をテーブル運動（X軸）及びコラムベース運動（W軸）と平行に定置する

（平行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

円筒スコヤをその定盤上に定置する。
テーブル及びコラムベースは，それぞれ動きの中央で固定する。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
a) 変位計の測定子をX軸方向と平行に円筒スコヤに当て，主軸頭を測定長さだけY軸方向に移動させて，読み

の最大差を求める。

b) 変位計の測定子をZ軸方向と平行に円筒スコヤに当て，主軸頭を測定長さだけY軸方向に移動させて，読み

の最大差を求める。

B 6210-3：2010

検査事項

テーブル上面と次の運動との平行度

a) コラムベース運動（W軸）
b) テーブル運動（X軸）

G10

測定方法図

許容値

a)及びb)

測定長さ1 000以下の場合は，0.04
測定長さ1 000を超える場合は，1 000増すごとに0.01を加える。
最大許容値：0.06
部分許容値：測定長さ300について0.015

測定値
a)
b)

測定器

直定規，変位計及びブロックゲージ

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.422.21

主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，主軸中心線とほぼ同軸の垂直面内にくるように取り付ける。
直定規は，テーブル上面に平行に定置し，測定長さにわたってテーブル又はサドルを移動させ，読みの差を求め

る。

移動量が1 600を超える場合には，直定規を順次移動させて測定を行う。

a) テーブルは，動きの中央に固定して測定を行う。
b) コラム及び主軸頭は，固定して測定を行う。

直定規を使用しないで，変位計とブロックゲージとを使ってテーブル上面を直接測定してもよい。
回転テーブルについては，回転テーブルの0°，90°，180°及び270°の割出し位置で測定する。

B 6210-3：2010

7.5

中ぐり主軸

検査事項

中ぐり主軸の振れ及び軸方向の動き
a) 主軸を引っ込めたときのテーパ穴の振れ

1) テーパの口元で
2) 主軸端から300の位置で

b) 中ぐり主軸外面の振れ

1) 主軸を引っ込めた位置で
2) 主軸を300繰り出した位置で

c) 主軸を引っ込めたときの周期的な軸方向の動き

G15

測定方法図

許容値

D≦125

D＞125

a)及びb)

0.01

0.015

0.02

0.03

0.01

0.015

ここに，D：中ぐり主軸の直径

測定値
a)

1)
2)

測定器

変位計及びテストバー

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

a) 5.612.3
b) 5.612.2
c) 5.622.1及び5.622.2

力Fの大きさ及びその向きは，製造業者が指定する。
予圧をかけた軸受を使用している場合は，力をかける必要はない。

注記検査事項R1は，主軸の回転精度を評価するための検査である。

B 6210-3：2010

7.6

フライス主軸

検査事項

フライス主軸端の精度
a) 振れ
b) 軸方向の動き
c) 端面の振れ（軸方向の動きを含む。）

G20

測定方法図

1 特殊ジグ

許容値

D≦125 D＞125

0.01

0.015

0.01

0.015

0.02

0.03

ここに，D：フライス主軸の直径

測定値
a)
b)
c)

測定器

変位計及び特殊ジグ

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

a) 5.612.2
b) 5.622.1及び5.622.2

力Fの大きさ及び加える向きは，製造業者が指定する。
主軸に予圧をかけた軸受が使用されている場合は，力Fをかける必要はない。

c) 5.632

変位計と主軸中心線との間の距離Aは，できるだけ大きく取る。

注記検査事項R1は，主軸の回転精度を評価するための検査である。

B 6210-3：2010

7.9

面削りスライド運動（U軸）

検査事項

a) 水平面内の面削りスライド運動（U軸）とテーブル運動（X軸）との平行度
b) 垂直面内の面削りスライド運動（U軸）とコラムベース運動（W軸）との直角度

G27

測定方法図

許容値

a)及びb)
測定長さ300について0.025

測定値
a)
b)

測定器

a) 直定規，変位計及びブロックゲージ
b) 直定規，直角定規，変位計及びブロックゲージ

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

a) 5.422.2及び5.422.5

直定規の使用面を，テーブル上で，テーブル運動（X軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で直

定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直定規に当て，面削りスライドを移動させ，読みの差を求

める。

次に面板を180°回して，同様に測定する。

b) 5.522.2

直定規の使用面は，テーブル上で，コラムベース運動（W軸）と平行に定置し，その上に直角定規を定置

する。

面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直角定規に当て，面削りスライドを移動させ，読みの差を

求める。

次に面板を180°回して，同様に測定する。

B 6210-3：2010

7.10 中ぐり棒支え

検査事項
中ぐり棒支え穴と中ぐり主軸中心線との同軸度

a) YZ面内
b) ZX面内

注記この検査は，中ぐり棒支えの運動と主軸頭の運動とが同期できる機械に適用する。

G28

測定方法図

許容値

a) 測定長さ1 000について0.04
b) 測定長さ1 000について0.03

測定値
a)
b)

測定器

変位計，直定規，及び中ぐり棒又はテストバー

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

5.422

中ぐり主軸を引っ込めたときに，支持間の距離に応じて，中ぐり棒支えを完全に貫通するのに十分な長さの中ぐ

り棒又はテストバーを使用する。

直定規の使用面は，中ぐり穴端に取り付けた変移計を用いてコラムベース運動（W軸）と平行に定置する（平行

とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。

次に，コラムベースは，動きの中央に固定し，中ぐり主軸は引っ込める。
中ぐり棒又はテストバーに固定した変移計の測定子を，直定規の使用面に当てて，測定を行う。
測定は，主軸側の端部と中ぐり棒支えの近傍との2か所で行う。
主軸を繰り出して，同様の測定を繰り返す。
a) 測定は，主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの上端に置いて行い，次に下端に置いて行う。又は，その逆で行っ

てもよい。

b) 主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの中央に固定し，テーブル及び可能な場合は回転テーブルをそれぞれ動きの

中央に固定して行う。

大形機械の場合には，1本のテストバーの代わりに2本の短いテストバーを主軸及び中ぐり棒支え穴にそれぞれ

取り付けて測定してもよい。

B 6210-3：2010

M1（続き）

番号

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

円筒穴a1，a2及び
円筒外面b1の真
円度*（ISO 1101
の18.3参照）
− 主軸の繰出し

による加工

− コラムベース

運動による加
工

a1及びa2：

d≦125: 0.007 5
d＞125: 0.01

b1：

D≦300 : 0.01

300＜D≦600:0.015
直径が300増すご
とに0.005加える。

穴ゲージ及
びマイクロ
メータ又は
適切な不確
かさの測定
器

3.1，3.22，4.1，4.2，5.3，5.442，5.5，
5.512.42，5.611.3，6.6及び6.7

検査を開始する前に，テーブル上に

取り付ける取付台下面が平らであ
り，工作物を取り付ける面がそのハ
ウジングの中心線と直角であること
を確かめる。

加工の指示
1) 二つの円筒穴a1及びa2の中ぐり

並びに仕上げ削り。

テーブルを固定し，中ぐり主軸

を軸方向に繰り出すことによっ
て加工する。

2) 円筒外面b1の旋削。

面板に短い工具を取り付け，コ

ラムベース（W軸）の送りによ
って加工する。

3) コラム又はラムを300送って円

筒外面b2を旋削する。工具は，
適切な長さの支持台又は工具ホ
ルダを用いて面板に取り付ける。

4) 面削りスライドの自動送り又は

フライス削りによる面cの加工。

円筒穴a1及びa2
の円筒度*（ISO
1101の18.4参照）

d≦125:0.01
d＞125:0.015

円筒穴a1と円筒
外面b1との同心
度（ISO 1101の
18.13参照）

0.025

テストバー
及び変位計

円筒外面b1，b2と
円筒穴a1，a2の基
準軸との同軸度
（ISO 1101の
18.13参照）

コラムベースのW
軸方向運動300に
ついて0.04

加工面の平面度
（ISO 1101の
18.2参照）

直径D＝300につ
いて 0.015

直定規及び
ブロックゲ
ージ

加工面cと円筒穴
a1及びa2の基準軸
との直角度（ISO
1101の18.10参
照）

直径300について
0.025

テストバー
及び変位計
又は水準器
及び特殊支
持台

注*

真円度及び円筒度の公差の定義は，ISO 1101を参照。規定した許容値は，半径に対する値であって，直
径で表現する場合は2倍する。

B 6210-3：2010

検査事項

フライス削り
a) テ−ブルのX軸自動送り運動，主軸頭のY軸自動送り運動，及びコラムベースの手動W軸送り

運動による帯状面A，C及びDのフライス削り。

b) テ−ブルのX軸向自動送り運動，主軸頭の手動Y軸送り運動によって，少なくとも約5〜10mm

オーバラップさせて2回行う面Bのフライス削り。

工作物の形状，寸法及び取付け（例）

L≦1 000については l＝h＝150
L＞1 000については l＝h＝200
L（工作物の長さ又は二つの工作物の相対する面間の距離）＝1/2×（テーブルのX軸方向移動量）

注記工作物材料：鋳鉄

図中の番号1及び2は，次の検査事項番号を示す。

番号

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

各ブロックの面Bの平面
度

0.02

定盤，変位
計，又は三
次元座標
測定機

3.1，3.22，4.1，4.2，5.321，5.325 及び
5.5

工作物は，検査を開始する前に，面E

が平らになっていることを確かめる。

工作物は，長さLがテーブル中心の

両端で均等になるようにテーブルのX
軸方向運動と平行に取り付ける。

運転しないすべての運動部品は，切

削中は締め付ける。

帯状面A，C及びDを含
む面の相互の直角度並び
に面Bに対する直角度

測定長さ100

について0.02

直角定規及
びブロック
ゲージ

二つのブロックの高さH

0.03

ハイトゲ
ージ

切削条件及び工具

a) 主軸端に適当な長さの工具アーバを取り付け，側エンドミルを使用。
b) 同じ工具による平面フライス削り
工具は，工具アーバに付けて研削し，主軸に取り付けたときの許容値は，次による。

1) 直径差（ISO 1101参照）

≦0.01

2) 振れ

≦0.02

3) 端面の振れ

≦0.03

B 6210-3：2010

M3（続き）

検査事項

許容値

測定値

測定器

測定手順及びJIS B 6191の参照箇条

R1，R2及びR3を通
る垂直面と穴d1及
びd2の中心線との
等距離度（距離l1
＝l2）

測定長さ

L＝1 000につい

て
a) 0.06
b) 0.1
c) 0.15

テストバー，
変位計又は
ブロックゲ
ージ，ハイト
ゲージ，三次
元座標測定
機

3.1，3.22，4.1，4.2，5.321及び5.325

この検査の実施に当たって，工作物は取付

ジグから外してはならない。工作物を組み付
けた取付ジグは定盤上に置いてもよい。

検査を開始する前に，テーブルに取り付け

る取付ジグの面が平らであり，工作物を支持
するための穴の中心線及び心出し穴Cの中心
線は三つの基準ブロックR1，R2及びR3で決
定される垂直基準面から等距離にあること
を確かめる。

取付ジグをテーブル上に取り付ける前に，

テーブルの回転中心線が正確に中ぐり主軸
中心線を通る垂直面内にあることを確かめ
て，回転テーブルを固定する。

取付ジグの心出し穴Cは，可能な場合はプ

ラグMを使って，テーブルの回転中心と正確
に一致するようにテーブル上に載せた取付
具を調整する。

中ぐり主軸中心線を通る垂直面内で基準ブ

ロックR1及びR2を取り付けて，テーブル上
で取付具を回転させる。

テーブル上に取付ジグを固定し，図に示す

ように工作物を組み込む。

最初の工作物を直径dまで中ぐりする。
次に，テーブルを180°回転させて，次の

工作物を同様に中ぐりする。

B 6210-3：2010

数値制御による位置決め精度検査

この検査は，直進及び旋回軸の位置決めを数値制御で行う横中ぐりフライス盤だけに適用する。

この検査を実施するときには，特に環境条件，機械の暖機運転，測定方法，評価方法及び結果の表示方

法は，JIS B 6190-2を参照する。

検査事項

数値制御によるテーブル運動（X軸）の位置決め精度

測定方法図

1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡

許容値

測定長さ L

測定値

L≦500

500＜L≦

1 000

1 000＜L≦

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014

0.020

0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

0.007

0.009

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011

0.014

0.017

軸の平均反転値

¯B

0.005

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008

0.011

0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003

0.005

0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

箇条2，4.3.2及び4.3.3

レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。

B 6210-3：2010

検査事項

数値制御による主軸頭運動（Y軸）の位置決め精度

測定方法図

1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡

許容値

測定長さ L

測定値

L≦500

500＜L≦

1 000

1 000＜L≦

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014

0.020

0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

0.007

0.009

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011

0.014

0.017

軸の平均反転値

¯B

0.005

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008

0.011

0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003

0.005

0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

B 6210-3：2010

検査事項

数値制御によるコラムベース運動（W軸）の位置決め精度

測定方法図

1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡

許容値

測定長さ L

測定値

L≦500

500<L≦

1 000

1 000<L≦

2 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.014

0.020

0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

0.007

0.009

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.011

0.014

0.017

軸の平均反転値

¯B

0.005

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.008

0.011

0.013

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.003

0.005

0.006

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

B 6210-3：2010

検査事項

数値制御による中ぐり主軸又はラム運動（Z軸）の位置決め精度

測定方法図

1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡

許容値

測定長さ L

測定値

L≦500

500＜L≦1 000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.017

0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

0.007

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.014

0.017

軸の平均反転値

¯B

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.010

0.012

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.004

0.005

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

B 6210-3：2010

検査事項

数値制御による面削りスライド運動（U軸）の位置決め精度

測定方法図

1 レーザ光源
2 干渉計
3 反射鏡

許容値

測定長さL

測定値

L≦500

500＜L≦1000

軸の両方向位置決めの正確さ*

0.017

0.022

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

0.009

0.011

軸の両方向位置決めの繰返し性

0.014

0.017

軸の平均反転値

¯B

0.006

0.008

軸の両方向位置決めの系統偏差*

0.010

0.012

軸の平均両方向位置決め偏差*

0.004

0.005

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

レーザ干渉測長器又はリニアスケール

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

B 6210-3：2010

検査事項

数値制御による回転テーブルの角度位置決め精度
a) 固定割出し回転テーブル
b) 任意割出し回転テーブル

測定方法図

1 オートコリメータ
2 多面鏡

許容値（30°又は45°間隔の位置決め）

360°につき

測定値

軸の両方向位置決めの正確さ*

7″

11″

軸の一方向位置決めの繰返し性*

R↑又はR↓

4″

6″

軸の両方向位置決めの繰返し性

6″

8″

軸の平均反転値

¯B

4″

6″

軸の両方向位置決めの系統偏差*

4″

6″

軸の平均両方向位置決め偏差*

2″

4″

注*

機械の受渡検査の基本評価項目

測定器

多面鏡及びオートコリメータ，又は割出しテーブル付きレーザ干渉測長器

測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条

箇条2，4.3.2及び4.3.3

オートコリメータは，機械の固定部又は機械から離れた箇所に定置し，多面鏡は，テーブル中心近くに定置

し，最初の測定位置でオートコリメータと心合わせをする。

目標位置は，30°又は45°間隔とするか，又はJIS B 6190-2に従って選ぶ。
一般に回転角度位置決めの送り速度は，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって，任意の送り速

度で行ってもよい。

B 6210-3：2010

10 工具保持用主軸の回転精度

検査事項

工具保持用主軸（C）の半径方向誤差運動（ERC）
この検査は，フライス主軸及び中ぐり主軸について行う。

注記中ぐり主軸は，適用できる場合には，測定中は引っ込める。

測定方法図

1 非接触式変位計1
2 非接触式変位計2

許容値

最高速度の百分率で

10 %

50 %

100 %

半径方向誤差運動の値（ERC）

0.010

0.014

0.020

最低速度が，最高速度の10 %を超える場合には，その代わりに主軸は，最低速

度で回転させる。

測定値

測定器

テストバー又は精密球，非接触変位計，及び，場合によっては，回転角度測定装置

測定手順及びJIS B 6190-7の参照

この検査は，回転感度方向の主軸検査である（JIS B 6190-7の5.4参照）。
測定の準備が終わったのち，主軸は，最高速度の50 %の速度で10分間暖機運転するか，又は受渡当事者間の協

定による。

全誤差運動の定義は，JIS B 6190-7の3.2.4による。また，全誤差運動の値はJIS B 6190-7のF.3.4による。

半径方向誤差運動の値（ERC）（変位計1及び2を使用）

半径方向誤差運動の値の測定は，JIS B 6190-7の5.4.2による。半径方向誤差運動は，できるだけ主軸端近くで測

定しなければならない（測定方法図における変位計1及び2）。

半径方向誤差運動の値ERCについては，最小二乗円（LSC）中心（JIS B 6190-7の3.4.3）と合わせて全誤差運動

極座標表示（JIS B 6190-7の3.3.1）したグラフを提供しなければならない。

これらの検査について，次のパラメタを記載しなければならない。
− 測定した半径方向及び軸方向の位置
− 使用したすべてのジグ，目標物及び取付具
− 測定装置の配置
− 測定中に測定装置に接続されている直進テーブル又は回転テーブルの位置
− 感度方向の向き，例えば，軸方向，半径方向，又は必要に応じて，その中間の方向

B 6210-3：2010

R1（続き）

− 測定結果の表示，例えば，誤差運動の値，極座標表示グラフ，時間表示グラフ，周波数表示グラフ
− 主軸の回転速度（静的誤差運動については速度はゼロ）
− 時間（秒），又は主軸回転数
− 適切な暖機又は慣らしの手順
− 測定器の周波数応答（Hz又は1回転当たりの山の数），電気フィルタのロールオフ特性，デジタル測定器に

おいては，変位の分解能及びサンプリングレート

− 誤差運動を報告する主軸ハウジングに対する変位計の位置及び向きを含む構造ループ，主軸の軸線及び基準

座標軸が配置されている指定された要素，並びにこれらの要素に接続されている要素

− 測定の日時
− すべての測定器の形式及び校正状態
− 室温のような測定に影響を及ぼす他の運転条件

参考文献 JIS B 6310:2003 産業オートメーションシステム−機械及び装置の制御−座標系及び運動の記

号

注記対応国際規格：ISO 841:2001, Industrial automation systems and integration−Numerical

control of machines−Coordinate system and motion nomenclature（IDT）

JIS B 6210-1 横中ぐりフライス盤−精度検査第1部：テーブル形（コラム固定・テーブル移

動形）

注記対応国際規格：ISO 3070-1，Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of

boring and milling machines with horizontal spindle−Part 1: Machines with fixed column and

movable table（MOD）

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS B 6210-3:2010 横中ぐりフライス盤−精度検査−第3部：プレーナ形（コラム
移動・テーブル移動形）

ISO 3070-3:2007 Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring
and milling machines with horizontal spindle−Part 3: Machines with movable column
and movable table

(I)JISの規定

(II)
国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1適用範
囲

プレーナ形（コラム
移動・テーブル移動
形）横中ぐりフライ
ス盤の静的精度，工
作精度及び数値制
御による位置決め
精度の検査方法，並
びに許容値につい
て規定

JISとほぼ同じ

変更

第3段落を“この規格は，コラ
ムベースの運動（W軸），テーブ
ルの運動（X軸），主軸頭の運動
（Y軸），中ぐり主軸又はラムの
運動（Z軸），及び該当する場合
は，面削りスライドの運動（U
軸）をもつ機械に適用する。た
だし，テーブルには，割出しテ
ーブル又は回転テーブルを含
む。”とした。

運動の名称と軸名称が適切でない
ため，他の箇条に合わせ修正。
ISOに改正提案を行う。

3機械各
部及び座
標軸の名
称

3.2 運動の種類

3.2

JISとほぼ同じ

変更

表1の番号4の名称を“コラム
ベース”，対応英語（参考）を
“column base”とした。

ISO 3070-1にて定義されている
“コラムサドル”と区別するため。
ISOに改正提案を行う。

表1の番号6の名称を“割出し
テーブル又は回転テーブル”，対
応英語（参考）を“index or rotary
table”とした。

ISO規格の説明が不足しているた
め。
ISOに改正提案を行う。

5 主要な
要素の説
明

5.1 主軸頭

5.1

JISとほぼ同じ

変更

表2の番号4の対応英語（参考）
を“facing head slide”とした。

番号3“facing head”に合わせて修
正。
ISOに改正提案を行う。

6一般事
項

6.1 測定単位

6.1

JISとほぼ同じ

追加

各単位表記に“mm”，“°”，“μrad”
及び“″”を追加した。

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

-3

：

(I)JISの規定

(II)
国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7静的精
度検査

静的精度検査

JISとほぼ同じ

変更

W軸の運動名称及び軸名称につ
いて，“コラムベース”とした。

3.2の修正に合わせるため。
ISOに改正提案を行う。

追加

測定手順に“平行”に関する文
章を追加

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

7.1 直進軸の真直度
及び角度偏差

7.1

JISとほぼ同じ

削除

G1 測定器“microscope and taut
wire”を削除

測定に使用していないため。
ISOに改正提案を行う。

追加

G1 測定手順に“X軸方向の”の
文章を追加

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

G3測定手順1行目“コラムベー
スは，Z軸方向の動きの中央に固
定し，主軸頭は，できるだけ動
きの中央に固定する。”を追加

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

G2及びG4測定方法図にc)及び
キーを追加

レーザ測長器を使用した図が抜け
ていたので，使用者の理解を助け
るため追加した。
ISOに改正提案を行う。

G6にキーを追加

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

G6測定器に “定盤”を追加

測定に必要なため。
ISOに改正提案を行う。

7.2 二つの直進軸の
直角度

7.2

JISとほぼ同じ

変更

G8 測定手順のb)“W軸方向”
を“Z軸方向”とした。

ISO規格が間違っているため。
ISOに改正提案を行う。

7.3 テーブル

7.3

JISとほぼ同じ

削除

G9 測定器“other equipment”を
削除した。

該当する測定器がないため。
ISOに改正提案を行う。

7.4 割出しテーブル
又は回転テーブル

7.4

JISとほぼ同じ

削除

G13 測定器“test mandrel”を削
除した。

測定器としては必要ないため。
ISOに改正提案を行う。

7.5 中ぐり主軸

7.5

JISとほぼ同じ

追加

G18測定手順に文章を追加した。使用者の理解を助けるため及び規

格群に統一性をもたせるため。
ISOに改正提案を行う。

-3

：

(I)JISの規定

(II)
国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7静的精
度検査

7.6 フライス主軸

7.6

JISとほぼ同じ

追加

G20 測定方法図及び測定器に
“特殊ジグ”を追加した。

測定に必要なため。
ISOに改正提案を行う。

（続き）

7.9 面削りスライド
運動（U軸）

追加

7.9として“面削りスライド運動
（U軸）”を追加した。

ISO規格に項目が抜けているた
め。ISOに改正提案を行う。

変更

G27測定手順のb)参照箇条を
“5.522.2”に変更する。

ISO規格の参照が間違っているた
め。
ISOに改正提案を行う。

7.10 中ぐり棒支え

追加

G28 測定手順の参照箇条に
“5.422”を追加した。

ISO規格にて参照がないため。
ISOに改正提案を行う。

変更

G28 測定手順のb)“table base”
を“回転テーブル”とした。

ISO規格が旧規格の用語のままの
ため。ISOに改正提案を行う。

8工作精
度検査

工作精度検査

−

変更

W軸の運動名称及び軸名称につ
いて，“コラムベース”とした。

3.2の修正に合わせるため。
ISOに改正提案を行う。

追加

M1 “工作物の形状，寸法及び
取付け”に文章を追加。

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

JISとほぼ同じ

削除

M1及びM3測定方法図及びキー
を削除。

ここでの説明は不要なため。
ISO規格に改正提案を行う。

追加

M1の注*に文章を追加した。

使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。

M1，M2及びM3 測定手順に参
照箇条を追加する。

ISO規格では参照が不足のため。
ISOに改正提案を行う。

変更

M3 測定手順の“table base”を
“回転テーブル”とした。

ISO規格が旧規格の用語のままの
ため。ISOに改正提案を行う。

9数値制
御による
位置決め
精度検査

数値制御による位
置決め精度検査

JISとほぼ同じ

変更

W軸の運動名称及び軸名称につ
いて，“コラムベース”とした。

3.2の修正に合わせるため。
ISOに改正提案を行う。

削除

P1〜P5測定器“microscope”を
削除。

測定には，使用しないため。
ISOに改正提案を行う。

-3

：