B 6210-1：2010
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 機械各部及び座標軸の名称 ································································································· 2
3.1 一般 ···························································································································· 2
3.2 運動の種類 ··················································································································· 2
4 横中ぐりフライス盤による中ぐり加工 ·················································································· 3
4.1 中ぐり加工 ··················································································································· 3
4.2 フライス削り作業 ·········································································································· 4
5 主要な要素の説明 ············································································································· 4
5.1 主軸頭 ························································································································· 4
5.2 テーブル ······················································································································ 4
5.3 中ぐり棒支え ················································································································ 5
6 一般事項························································································································· 5
6.1 測定単位 ······················································································································ 5
6.2 JIS B 6190（規格群）及びJIS B 6191の参照 ······································································· 5
6.3 検査の順序 ··················································································································· 5
6.4 実施する検査 ················································································································ 5
6.5 測定器 ························································································································· 5
6.6 工作精度検査 ················································································································ 5
6.7 ソフトウエア補正 ·········································································································· 5
6.8 最小許容値 ··················································································································· 5
7 静的精度検査 ··················································································································· 6
7.1 直進軸の真直度及び角度偏差 ··························································································· 6
7.2 二つの直進軸の直角度 ··································································································· 12
7.3 テーブル ····················································································································· 14
7.4 割出し又は回転テーブル ································································································ 17
7.5 中ぐり主軸 ·················································································································· 20
7.6 フライス主軸 ··············································································································· 25
7.7 ラム ··························································································································· 26
7.8 組込み式面板 ··············································································································· 29
7.9 面削りスライド運動（U軸）··························································································· 32
7.10 中ぐり棒支え ·············································································································· 33
8 工作精度検査 ·················································································································· 34
9 数値制御による位置決め精度検査 ······················································································· 39
B 6210-1：2010 目次
（2）
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ページ
10 工具保持用主軸の回転精度 ······························································································ 45
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 47
B 6210-1：2010
（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本工作機械工業会（JMTBA）及
び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
対応国際規格である，ISO 3070規格群が2007年に改正され，従来はPart 0（総則）を含む4部構成だっ
たものが，Part 1〜Part 3の3部構成に変更された。これに対応するJISとしては，従来はJIS B 6210，JIS
B 6222及びJIS B 6252の3規格であったが，この改正を機会に部編成を導入し，JIS B 6210の第1部〜第
3部として制定することとなった。
これによって，JIS B 6210:1998は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS B 6210の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS B 6210-1 第1部：テーブル形（コラム固定・テーブル移動形）
JIS B 6210-2 第2部：床上形（コラム移動・テーブル固定形）
JIS B 6210-3 第3部：プレーナ形（コラム移動・テーブル移動形）
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日本工業規格
JIS
B 6210-1：2010
横中ぐりフライス盤−精度検査−
第1部：テーブル形（コラム固定・テーブル移動形）
Test conditions for testing the accuracy of boring and milling machines with
horizontal spindle-Part 1: Machines with fixed column and movable table
序文
この規格は，2007年に第3版として発行されたISO 3070-1を基とし，規格使用者の理解を助けるため，
技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，JIS B 6190-2，JIS B 6190-7及びJIS B 6191に基づき，普通精度のはん（汎）用テーブル形
（コラム固定・テーブル移動形）横中ぐりフライス盤の静的精度，工作精度及び数値制御による位置決め
精度の検査方法，並びにそれぞれの検査事項に対応する許容値について規定する。
テーブル形横中ぐりフライス盤は，中ぐり主軸及びフライス主軸をもつ主軸頭，中ぐり主軸及び面板を
もつ主軸頭，又はラムをもつ主軸頭のいずれかの主軸頭を備えている。
この規格は，テーブルサドルの運動（Z軸）及びテーブルの運動（X軸），主軸頭の運動（Y軸），中ぐ
り主軸又はラムの運動（W軸），並びに，該当する場合には，面削りスライドの運動（U軸）をもつ機械
に適用する。ただし，テーブルには，割出しテーブル又は回転テーブルを含む。
注記 JIS B 6210-2及びJIS B 6210-3では，主軸及びラムの運動をZ軸運動という。
この規格は，機械の精度の検査だけを取り扱う。一般に精度検査の前に行われる，機械の運転試験（振
動，異常騒音，運動部品のスティックスリップなど）及び機械特性試験（主軸速度，送り速度など）には
適用しない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 3070-1:2007，Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring and milling
machines with horizontal spindle−Part 1: Machines with fixed column and movable table（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS B 6190-2:2008 工作機械試験方法通則−第2部：数値制御による位置決め精度試験
2
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：ISO 230-2:2006，Test code for machine tools−Part 2: Determination of accuracy and
repeatability of positioning numerically controlled axes（IDT）
JIS B 6190-7:2008 工作機械試験方法通則−第7部：回転軸の幾何精度試験
注記 対応国際規格：ISO 230-7:2006，Test code for machine tools−Part 7: Geometric accuracy of axes of
rotation（IDT）
JIS B 6191:1999 工作機械−静的精度試験方法及び工作精度試験方法通則
注記 対応国際規格：ISO230-1:1996，Test code for machine tools−Part 1: Geometric accuracy of
machines operating under no-load or finishing conditions（MOD）
ISO 1101:2004，Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerances of form,
orientation, location and run-out
3
機械各部及び座標軸の名称
3.1
一般
横中ぐりフライス盤は，回転しない工作物に対する切削工具の回転を主切削運動とし，切削工具の回転
によって切削エネルギーを与える工作機械である。
主切削運動は，主軸の回転，場合によっては面板の回転によって発生させる。
3.2
運動の種類
送り運動は，次による。
a) テーブルサドルのZ軸方向送り，テーブルのX軸方向送り，及びB軸方向送り（該当する場合）
b) 主軸頭のY軸方向送り
c) 主軸のW軸方向送り
d) 該当する場合は，面削りスライドのU軸方向送り
表1は，図1に示す機械の主な構成要素の名称を示す。図1は，2種類のテーブル形横中ぐりフライス
盤の形態を示す。図1のa)は，非回転形テーブルを示し，b)は，組込み形回転テーブルを示す。
表1−名称（図1参照）
番号
名称
対応英語（参考）
1
ベッド
bed
2
コラム
column
3
主軸頭
spindle head
4
テーブルサドル
table saddle
5
テーブル
table
6
割出し又は回転テーブル
index or rotary table
3
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a) 非回転形テーブルを備えた機械
b) 組込み形回転テーブルを備えた機械
注記1 この規格では，JIB B 6310の規定とは異なる軸名称を用いる。
注記2 番号1〜6については，表1を参照。
図1−テーブル形横中ぐりフライス盤
4
横中ぐりフライス盤による中ぐり加工
4.1
中ぐり加工
中ぐり加工は，回転しない工作物に対して，単刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし，その切
削工具の回転によって切削エネルギーを与え，様々な大きさ及び形状の穴を加工する方法である。
円筒穴，テーパ穴，止まり穴又は貫通穴をくり広げて必要寸法に加工する作業は，中ぐり軸の軸平均線
に対する工具刃先位置を明確に位置決めできる中ぐり棒を使って行う。
同一工作物の相対する面にある同軸の穴の加工は，中ぐり棒を使って行う。この中ぐり棒の一方は，中
ぐり主軸にはめ，もう一方は，テーブルの一方の側にある中ぐり棒支えに入れて回転させる。
この方法に代えて，回転テーブルを備えた機械の場合には，中ぐり棒支えを用いないで中ぐり軸に取り
付けた同一の中ぐり工具を使って，テーブルを180°回して工作物のもう一方の側を中ぐりすることがで
きる（これを，反転中ぐりという。）。後者の加工方法は，経済的ではあるが，軸の回転精度及びテーブル
の角度位置決めに高い精度が必要になる。
4
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2
フライス削り作業
フライス削りは，回転しない工作物に対して，多刃切削工具を回転させる運動を主切削運動とし，その
切削工具の回転によって切削エネルギーを与え，様々な形状をした非軸対称面（非回転面）を加工する方
法である。
フライス削りは，ほとんどが正面フライス削り及びエンドミル削りである。工具は，中ぐり主軸（図2
参照）のテーパ穴，又はフライス工具の場合は，フライス主軸端に取り付ける。
5
主要な要素の説明
5.1
主軸頭
様々な種類の主軸頭の例を図2に示す。主要な要素の名称は，表2による。
面板は，一般に半径方向の面削りスライドをもっている。面板は，組込形又は着脱形のいずれかである
が，後者の場合は附属品になる。
組込形の面板は，通常，フライス主軸には取り付けることができないこと及び主軸軸受と独立した固有
の軸受を使用していることに注意するのが望ましい。
表2−名称（図2参照）
番号
名称
対応英語（参考）
1
中ぐり主軸
boring spindle
2
フライス主軸
milling spindle
3
面板
facing head
4
面削りスライド
facing head slide
5
ラム
ram
a) 中ぐり及びフライス
削り軸頭
b) 面板及び面削りスライド付き
主軸頭
c) ラム形主軸頭
注記 番号1〜5は，表2を参照。
図2−主軸頭の種類
5.2
テーブル
テーブルは，位置決め及び送りのために様々な直進運動及び回転運動ができる。
互いに直角に運動する二つの主な直進運動は，テーブルの位置決めと工作物の送りとがある。
テーブルの回転運動は，次の位置決め及び送り運動に使用する。
a) テーブルの回転面内での角度位置決め
b) フライス削りを行うための工作物の円弧送り
c) 旋削作業を行うための回転切削送り
5
B 6210-1：2010
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5.3
中ぐり棒支え
長い中ぐり棒を使用した加工例が減少してきていることから，中ぐり棒支えは，オプション又は附属品
として扱うことができる。
6
一般事項
6.1
測定単位
この規格では，長さ，長さの偏差及び許容値は，ミリメートル（mm）で表す。角度は，度（°）で表
し，角度の偏差及び許容値は，通常，長さの比（例えば，0.00x/1 000）で表すが，マイクロラジアン（μrad）
又は秒（″）で表してもよい。ただし，これらの間には次の関係がある。
0.010/1 000＝10×10−6＝10 μrad≒2″
6.2
JIS B 6190（規格群）及びJIS B 6191の参照
この規格を適用するに当たって，特に検査前の機械の据付け，主軸及びそれ以外の運動部品の暖機運転，
測定方法並びに測定器の精度については，JIS B 6191を参照。
各検査事項の測定手順欄には，その検査に関係するJIS B 6190-2，JIS B 6190-7又はJIS B 6191の細分箇
条番号を併せて示す。
6.3
検査の順序
この規格に規定した検査の順序は，実際の検査の順序を決めるものではない。測定器の取付け又は検査
が容易になるようにするために，検査は，どのような順序で行ってもよい。
6.4
実施する検査
機械を検査するときは，必ずしもこの規格に規定したすべての検査を行う必要はない。使用者は，製造
業者との協定に基づいて検査事項を選択してもよい。検査事項は，機械を発注するときに明確にしなけれ
ばならない。実施する検査事項の指定がなく，また，その検査に要する経費についての協定もない状態で，
この規格を受取検査に引用するだけでは，受渡当事者間の拘束条件にはならない。
6.5
測定器
検査事項の測定器欄に示す測定器は，例として示したものである。
同じ物理量が測定でき，少なくとも同じ，又はそれよりも小さな不確かさをもつ他の測定器を使用して
もよい。使用する変位計の目量は，0.001 mm又はそれ以下とする。
6.6
工作精度検査
工作精度検査は，かなりの切削力を発生する荒削りではなく，仕上げ削りで行わなければならない。
6.7
ソフトウエア補正
組み込んだソフトウエア機能を使って幾何偏差，位置決め偏差，輪郭偏差及び熱変形の補正ができる場
合は，この検査のときに，これらの機能を使用するかどうかは，受渡当事者間の協定によるのが望ましい。
ソフトウエア補正を用いた場合は，そのことを検査報告書に記載しなければならない。
6.8
最小許容値
この規格で規定されている測定長さと異なる長さで許容値を決定する場合には（JIS B 6191の2.311参
照），許容値の最小値が0.005 mmであることを考慮する。
6
B 6210-1：2010
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7
静的精度検査
7.1
直進軸の真直度及び角度偏差
検査事項
テーブルサドル運動（Z軸）の真直度
a) YZ面内（EYZ）
b) ZX面内（EXZ）
G1
測定方法図
a) b)
許容値
a)及びb)
測定長さ1 000 以下については，0.02
測定長さ1 000 を超える場合は，0.03
部分許容値：測定長さ300 について0.006
測定値
a)
b)
測定器
直定規，変位計及びブロックゲージ，又は光学式測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.232.11，5.232.12及び5.232.13
テーブルは，X 軸方向の動きの中央に固定し，主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上で，a)垂直及びb)水平にして，テーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置する（平
行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，直定規の使用面に直角に当てる。
テーブルサドルをZ軸方向に移動させて，読みを取る。
7
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
テーブルサドル運動（Z軸）の角度偏差
a) YZ面内（EAZ：ピッチ）
b) XY面内（ECZ：ロール）
c) ZX面内（EBZ：ヨー）
G2
測定方法図
1 測定用精密水準器
5 レーザヘッド
2 基準用精密水準器
6 干渉計
3 オートコリメータ
7 角度偏差測定用反射鏡
4 反射鏡
8 ビームベンダ
許容値
a)，b)及びc)
0.04/1 000
部分許容値：測定長さ300 については0.02/1 000
測定値
a)
b)
c)
測定器
a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定装置
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.231.3及び5.232.2
測定用精密水準器又は反射鏡は，テーブル上に定置する。
a) Z軸方向（オートコリメータについては，垂直面内の読みを取るように定置する。）
b) X軸方向
c) Z軸方向（オートコリメータについては，水平面内の読みを取るように定置する。）
基準用精密水準器は，主軸頭上に定置し，主軸頭は，動きの中央に置く。
テーブルサドル運動（Z軸）が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は，それぞれの角度偏
差の差も測定し，それを記録する。
測定は，移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。
8
B 6210-1：2010
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検査事項
テーブル運動（X軸）の真直度
a) XY面内（EYX）
b) ZX面内（EZX）
G3
測定方法図
a) b)
許容値
a)及びb)
測定長さ1 000以下については0.02
測定長さ1 000を超える場合は，1 000増すごとに0.01を加える。
最大許容値：0.05
部分許容値：測定長さ300について0.006
測定値
a)
b)
測定器
直定規，変位計及びブロックゲージ，又は光学式測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.232.11及び5.232.13
テーブルサドルは，Z軸方向の動きの中央に固定し，主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上中央で，a)垂直及びb)水平にして，それぞれテーブル運動（X軸）と平行に定置
する（平行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，直定規の使用面に直角に当てる。
テーブルをX軸方向に移動させて，読みを取る。
9
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
テーブル運動（X軸）の角度偏差
a) XY面内（ECX：ピッチ）
b) YZ面内（EAX：ロール）
c) ZX面内（EBX：ヨー）
G4
測定方法図
1 測定用精密水準器
5 レーザヘッド
2 基準用精密水準器
6 干渉計
3 オートコリメータ
7 角度偏差測定用反射鏡
4 反射鏡
8 ビームベンダ
許容値
a)，b)及びc)
0.04/1 000
部分許容値：測定長さ300について0.02/1 000
測定値
a)
b)
c)
測定器
a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.231.3及び5.232.2
測定用精密水準器又は反射鏡は，テーブル上に定置する。
a) X軸方向（オートコリメータについては，垂直面内の読みを取るように定置する。）
b) Z軸方向
c) X軸方向（オートコリメータについては，水平面内の読みを取るように定置する。）
基準用精密水準器は，主軸頭上に定置し，主軸頭は，動きの中央に置く。
テーブル運動（X軸）が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じる原因になる場合は，それぞれの角度偏差も測
定し，記録する。
測定は，移動方向に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。
10
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
主軸頭運動（Y軸）の真直度
a) YZ面内（EZY）
b) XY面内（EXY）
G5
測定方法図
a) b)
許容値
a)及びb)
測定長さ1 000について0.02
測定値
a)
b)
測定器
円筒スコヤ，定盤，変位計及び調整ブロック，又は光学式測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.232.11
円筒スコヤの使用面は，テーブル上で，主軸頭運動（Y軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で円筒ス
コヤに当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
テーブル及びテーブルサドルは，動きの中央に固定する。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
a) 変位計の測定子をZ軸方向と平行に円筒スコヤに当て，測定長さの全長にわたってY軸方向に主軸頭を移動
させる。
b) 変位計の測定子をX軸方向と平行に円筒スコヤに当て，上記と同様の手順で行う。
11
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
主軸頭運動（Y軸）の角度偏差
a) YZ面内（EAY）
b) ZX面内（EBY）
G6
測定方法図
a) b)
1 測定用精密水準器 4 精密水準器
2 基準用精密水準器 5 特殊ジグ
3 円筒スコヤ
許容値
a)及びb)
Y≦4 000 0.04/1 000
Y＞4 000 0.06/1 000
測定値
a)
b)
測定器
a) 精密水準器，レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 定盤，円筒スコヤ，精密水準器，変位計及び特殊ジグ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.231.3及び5.232.2
a) 測定用精密水準器は，Z 軸と平行に主軸頭上に定置する。基準用精密水準器は，同じ向きにテーブル上に定
置する。
Y軸運動が，主軸頭及びテーブルに角度偏差を生じさせる原因になる場合は，それぞれの角度偏差も測定
し，記録する。
b) 定盤をテーブルに載せて，その上面が水平になるように調整する。
その定盤上に円筒スコヤを定置し，主軸端に取り付けた特殊ジグ上に固定した変位計の測定子を円筒スコ
ヤに当てる。
精密水準器は，定盤上にZ軸方向と平行に定置する。主軸頭を移動（Y軸）させて，各測定位置で読みを
取る。
次に，テーブルを距離dだけ移動させ，変位計の測定子が円筒スコヤに当たるように変位計を取り付け直す。
テーブル運動のロールによって精密水準器が異なる値を示す場合は，定盤の水準が最初の位置での水準と
同じになるように調整し，最初の測定位置と同じ位置で変位計の読みを取る。
各測定位置における，二つの読みの差を距離dで割った値を求め，その最大差を角度偏差とする。
測定は，移動に沿って等間隔に少なくとも五つの位置で，運動の両方向において行う。
注記 テーブルの二つの位置の間での水準の差は，測定結果に直接影響を及ぼす。
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7.2
二つの直進軸の直角度
検査事項
テーブル運動（X軸）とテーブルサドル運動（Z軸）との直角度
G7
測定方法図
許容値
測定長さ500について0.02
測定値
測定器
直定規，直角定規及び変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.522.4
主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定する。
直定規の使用面は，テーブル上で，テーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置し，その直定規に直角定規を押し
当てる（平行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
テーブルサドルは，動きの中央で固定する。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，直角定規の使用面に当てる。
テーブルをX方向に移動させて，読みを取る。
注記 この測定は，直定規を用いないで，直角定規の二つの使用面に直接変位計の測定子を当てて実行することが
できる。
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検査事項
主軸頭運動（Y軸）と次の運動との直角度
a) テーブルサドル運動（Z軸）
b) テーブル運動（X軸）
G8
測定方法図
a) b)
許容値
a)及びb)
測定長さ500について0.02
測定値
a)
b)
測定器
円筒スコヤ，定盤，変位計及び調整ブロック
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.522.4
定盤をテーブル上に載せて，その上面をテーブル運動（X軸）及びテーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置す
る（平行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
円筒スコヤをその定盤上に定置する。
テーブル及びテーブルサドルは，それぞれ動きの中央で固定する。
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
a) 変位計の測定子をZ軸方向と平行に円筒スコヤに当て，主軸頭を測定長さだけY軸方向に移動させて，読み
の最大差を求める。
b) 変位計の測定子をX軸方向と平行に円筒スコヤに当て，上記と同様の手順で行う。
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7.3
テーブル
検査事項
テーブル上面の平面度
G9
測定方法図
許容値
O−X又はO−Zの長いほうの辺の長さに対して，
測定長さ1 000以下の場合は，0.03（中高であってはならない。）
1 000を超える測定長さの場合は，1 000増すごとに0.01を加える。
最大許容値：0.05
部分許容値：測定長さ300 について0.015
測定値
測定器
精密水準器，光学式測定器，又は直定規，変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.322，5.323及び5.324
テーブル及びテーブルサドルは，動きの中央で固定してよい。
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検査事項
テーブル上面と次の運動との平行度
a) テーブルサドル運動（Z軸）
b) テーブル運動（X軸）
G10
測定方法図
a) b)
許容値
a) 測定長さ1 000以下の場合は，0.04
測定長さ1 000を超える場合は，1 000増すごとに 0.01を加える。
最大許容値：0.06
部分許容値：測定長さ 300 について0.015
b) 測定長さ1 000以下の場合は，0.04
測定値
a)
b)
測定器
直定規，変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.422.21
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，主軸中心線とほぼ同軸の垂直面内にくるように取り付ける。
直定規の使用面は，テーブル上面と平行に定置し，測定長さにわたってテーブル又はサドルを移動させ，読みの
差を求める。
移動量が1 600を超える場合には，直定規を順次移動させて測定を行う。
a) テーブルは，動きの中央に固定して測定を行う。
b) テーブルサドルは，固定して測定を行う。
直定規を使用しないで，変位計とブロックゲージとを使ってテーブル上面を直接測定してもよい。
回転テーブルについては，回転テーブルの0°，90°，180°及び270°の割出し位置で測定する。
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検査事項
中央又は基準T溝とテーブル運動（X軸）との平行度
G11
測定方法図
許容値
測定長さ1 000について0.03
最大許容値：0.04
測定値
測定器
直角定盤及び変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.422.21
主軸を固定できる場合は，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合は，変位計は主軸頭に取り付ける。
変位計の測定子は，基準T溝又はその他の基準面に押し当てた直角定盤の使用面に当ててもよい。
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7.4
割出し又は回転テーブル
検査事項
回転運動中のテーブル上面の面振れ
G12
測定方法図
1，2，3，4：測定点
A，B，C，D：角部
許容値
測定直径1 000について0.02
測定値
測定器
変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.632
ブロックゲージをテーブルの角部Aの近くに置き，位置1で変位計を使って測定する。次に，ブロックゲージを
取り除いて，角部Bが測定位置にくるようにテーブルを回転させ，同じブロックゲージを測定子とテーブルとの間
に挿入し，測定を行う。テーブルを回転させて，同様に角部C及びDで測定を行う。
次に，順次測定位置2，3及び4で，又は少なくとも位置2で変位計を定置して，同じ測定を繰り返す。
それぞれの位置において，読みの最大差を記録する。
これらの差の最大値を面振れの測定値とする。
可能な場合は，測定を行う前に，テーブルを固定する。
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検査事項
テーブル回転中心線に対するテーブル心出し穴の振れ
G13
測定方法図
許容値
0.015
測定値
測定器
変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.612.3
主軸を固定できる場合には，変位計は主軸に取り付け，主軸を固定できない場合には，変位計は主軸頭に取り付
ける。
変位計の測定子は，心出し穴中心線と同軸になるようにし，かつ，できるだけテーブル上面に近くで当てる。
テーブルを回転させ，測定偏差として読みの最大差を記録する。
可能な場合は，テストバーを心出し穴にはめて測定してもよい。
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検査事項
テーブルの角度割出し位置，0°，90°，180°，270°の精度
a) 90°ごとに四つの固定位置割出しができる90°固定割出しテーブル
b) 四つの固定位置よりも多くの割出しができる多点割出しテーブル
c) 任意の角度位置決めができる任意割出し回転テーブル
G14
測定方法図
許容値
測定長さ500について
a) 0.03
b) 0.05
c) 0.075
測定値
a)
b)
c)
測定器
直角定規及び変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
6.41，6.42及び6.43
直角定規は，テーブル上で，その1辺を，テーブル運動（X軸）と平行にテーブル上に定置する。
テーブルを一方の向きに四つの位置（90°，180°，270°，360°）で割り出し，すべての割出し位置でテーブル
運動と対応する直角定規の使用面との平行度を測定する。
次に，テーブルを反対の向きに四つの位置（270°，180°，90°，0°）で割り出し，再びすべての割出し位置で
平行度を測定する。八つの読みの最大差は，許容値を超えてはならない。
注記 位置決め精度試験P6は，NC回転テーブルの検査条件について規定している。
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7.5
中ぐり主軸
検査事項
中ぐり主軸の振れ及び軸方向の動き
a) 主軸を引っ込めたときのテーパ穴の振れ
1) テーパの口元で
2) 主軸端から300の位置で
b) 中ぐり主軸外面の振れ
1) 主軸を引っ込めた位置で
2) 主軸を300繰り出した位置で
c) 主軸を引っ込めたときの周期的な軸方向の動き
G15
測定方法図
a) b) c)
許容値
D≦125 D＞125
a)及びb) 1) 0.01 0.015
2) 0.02 0.03
c) 0.01 0.015
ここに，D：中ぐり主軸の直径
測定値
a) 1) 2)
b) 1) 2)
c)
測定器
変位計及びテストバー
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
a) 5.612.3
b) 5.612.2
c) 5.622.1及び5.622.2
力Fの大きさ及びその向きは，製造業者が指定する。
予圧をかけた軸受を使用している場合は，力をかける必要はない。
注記 検査事項R1は，主軸の回転精度を評価するための検査である。
21
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
中ぐり主軸中心線とテーブルサドル運動（Z軸）との平行度
a) YZ面内（EZY）
b) ZX面内（EBY）
G16
測定方法図
許容値
a)及びb)
測定長さ300について0.02
測定値
a)
b)
測定器
変位計及びテストバー
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.412.1及び5.422.3
主軸頭は，できるだけ動きの中央に固定し，主軸は引っ込める。
テーブルは，動きの中央で固定してもよい。
測定は，主軸端にはめたテストバーを使用して行う。
測定は，主軸の半径方向の振れの平均位置で行うか，又は主軸を180°回転させた二つの位置で測定し，平均値
を求めてもよい。
22
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
中ぐり主軸中心線とテーブル運動（X軸）との直角度
G17
測定方法図
許容値
0.02/500
ここに，500は，変位計を当てた2点間の距離
測定値
測定器
直角定盤及び変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.512.1及び5.512.32
主軸頭（Y軸）は，できるだけ動きの中央に固定する。
主軸又はラムは，引っ込める。
テーブルサドル（Z軸）は，固定する。
主軸に取り付けた変位計の測定子は，テーブル上に定置した直角定盤に当てる。
中ぐり主軸を回転させ，直角定盤の同じ位置に変位計が当たるようにテーブルを移動させる。
直角度の偏差は，二つの読みの差を，2点間の距離で除した値とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
中ぐり主軸中心線と主軸頭運動（Y軸）との直角度
G18
測定方法図
許容値
0.02/500，α≦90°
ここに，500は，変位計を当てた2点間の距離
測定値
測定器
円筒スコヤ，定盤，変位計及び調整ブロック
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.512.1及び5.512.32
円筒スコヤの使用面が，テーブル上で，主軸頭運動（Y軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で円筒ス
コヤに当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸頭は，固定する。
中ぐり主軸及びラムは，できるだけ引っ込める。
テーブル及びテーブルサドルは，固定する。
中ぐり主軸に取り付けた変位計の測定子を円筒スコヤに当てて，読みを取り，次に，中ぐり主軸を180°回し，
再び円筒スコヤに当てて，読みを取る。
直角度の偏差は，二つの読みの差を，2点間の距離で除した値とする。
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検査事項
垂直面内における中ぐり主軸運動（W軸）とテーブルサドル運動（Z軸）との平行度
G19
測定方法図
許容値
主軸繰出し量が，次の量と等しいとき，
2D：＋0.015 （上向き）
4D：±0.02
6D：−0.06 （下向き）
ここに，D：中ぐり主軸の直径
主軸の繰出し量は，中ぐり主軸直径の6倍を限度とし，900を超えてはならない。
許容値は，中ぐり主軸直径150までに適用し，その中ぐり主軸直径が150を超え
る場合は，受渡当事者間の協定による。
測定値
測定器
直定規，変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.232.1及び5.422.22
直定規の使用面は，テーブル上で，テーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で直
定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸の回転は，固定する。
主軸端に取り付けた変位計の測定子を直定規の使用面に当てる。
主軸を必要な長さだけ繰り出し，順次各位置で変位計の読みを取る。
25
B 6210-1：2010
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7.6
フライス主軸
検査事項
フライス主軸端の精度
a) 振れ
b) 軸方向の動き
c) 端面の振れ（軸方向の動きを含む。）
G20
測定方法図
1 特殊ジグ
許容値
D≦125 D＞125
a)
0.01
0.015
b)
0.01
0.015
c)
0.02
0.03
ここに，D：フライス主軸の直径
測定値
a)
b)
c)
測定器
変位計及び特殊ジグ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
a) 5.612.2
b) 5.622.1及び5.622.2
力Fの大きさ及び加える向きは，製造業者が決める。
主軸に予圧をかけた軸受が使用されている場合は，力Fをかける必要はない。
c) 5.632
変位計と主軸中心線との間の距離Aは，できるだけ大きく取る。
注記 検査事項R1は，主軸の回転精度を評価するための検査である。
26
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.7
ラム
検査事項
ラム運動（W軸）とテーブルサドル運動（Z軸）との平行度
a) YZ面内
b) ZX面内
G21
測定方法図
許容値
a)及びb)
測定長さ500について0.03
測定値
a)
b)
測定器
直定規，変位計及び調整ブロック
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.422.22
直定規の使用面は，テーブル上で，a)垂直及びb)水平にして，テーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置する（平
行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
テーブルサドルは，動きの中央に固定する。
主軸頭は固定する。
ラムに取り付けた変位計の測定子を直定規に当てて，読みを取る。
27
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
ラム運動（W軸）と主軸頭運動（Y軸）との直角度
G22
測定方法図
許容値
測定長さ500について0.03
測定値
測定器
直定規，直角定規，変位計及び調整ブロック
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.522.4
直定規の使用面は，テーブル上で，ラム運動（W軸）と平行に定置し，その直定規の上に直角定規を定置する（平
行とは，動きの両端で直定規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸頭をY軸方向に移動させて，読みを取る。
28
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
a) フライス主軸とラムの前面の工具又は附属品心出し面との同心度
b) ラムの工具又は附属品の取付け面とフライス主軸の回転中心線との直角度
注記 この検査は，ラムに附属品用の円形取付け面がある場合に適用する。
G23
測定方法図
a) b)
許容値
a) 0.02
b) 0.02/500
ここに，500は，変位計を当てた2点間の距離
測定値
a)
b)
測定器
変位計及びテストバー
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
a) 5.442
同心度の偏差は，読みの最大差の1/2である。
b) 5.512.42
29
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7.8
組込み式面板
検査事項
中ぐり主軸回転中心線と面板中心線との同軸度
a) 主軸ハウジングの口元で
b) 主軸ハウジング面から300の距離で
注記 この検査は，面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。
G24
測定方法図
許容値
D≦125 D＞125
a)
0.02
0.03
b)
0.03
0.04
ここに，D：中ぐり主軸の直径
測定値
a)
b)
測定器
変位計及びテストバー
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.442
面板に取り付けた変位計を口元及び300の位置で中ぐり主軸に当てる。
それぞれの測定について，同軸度の偏差は，読みの最大差の1/2として求める。
30
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検査事項
面板の回転軸とテーブル運動（X軸）との直角度
注記 この検査は，面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。
G25
測定方法図
許容値
0.02/500
ここに，500は，変位計を当てた2点間の距離
測定値
測定器
直角定盤及び変位計
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.512.1及び5.512.32
主軸頭は，できるだけ動きの中央（Y軸）に固定する。
中ぐり主軸は，引っ込める。
テーブルサドル（Z軸）は，固定する。
面板上に固定した変位計の測定子を，直角定盤に当てて，読みを取り，次に，面板を180°回し，テーブルを移
動させて直角定盤の同じ位置に測定子を当てて，読みを取る。
直角度の偏差は，二つの読みの差を，2点間の距離で除した値とする。
31
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検査事項
面板の回転軸と主軸頭運動（Y軸）との直角度
注記 この検査は，面板が中ぐり主軸の軸受と独立した軸受で支持されている場合に適用する。
G26
測定方法図
許容値
0.02/500
ここに，500は，変位計を当てた2点間の距離
測定値
測定器
円筒スコヤ，定盤，変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.512.1及び5.512.32
円筒スコヤの使用面は，テーブル上で，主軸頭運動（Y軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で円筒ス
コヤに当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
主軸頭は，できるだけ固定し，主軸は引っ込める。
面板上に固定した変位計の測定子を，円筒スコヤに当てて，読みを取り，次に，面板を180°回し，再び測定子
を円筒スコヤに当てて，読みを取る。
直角度の偏差は，二つの読みの差を，2点間の距離で除した値とする。
32
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.9
面削りスライド運動（U軸）
検査事項
a) 水平面内の面削りスライド運動（U軸）とテーブル運動（X軸）との平行度
b) 垂直面内の面削りスライド運動（U軸）とテーブルサドル運動（Z軸）との直角度
G27
測定方法図
a) b)
許容値
a)及びb)
測定長さ300について0.025
測定値
a)
b)
測定器
a) 直定規，変位計及びブロックゲージ
b) 直定規，直角定規，変位計及びブロックゲージ
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
a) 5.422.2及び5.422.5
直定規の使用面は，テーブル上で，テーブル運動（X軸）と平行に定置する（平行とは，動きの両端で直
規に当てた変位計の読みが同じ値になる状態をいう。）。
面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直定規に当て，面削りスライドを移動させ，読みの差を求
める。
次に面板を180°回して，同様に測定する。
b) 5.522.2
直定規の使用面は，テーブル上で，テーブルサドル運動（Z軸）と平行に定置し，その上に直角定規を定
置する。
面削りスライドに取り付けた変位計の測定子を直角定規に当て，面削りスライドを移動させ，読みの差を
求める。
次に面板を180°回して，同様に測定する。
33
B 6210-1：2010
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7.10 中ぐり棒支え
検査事項
中ぐり棒支え穴と中ぐり主軸中心線との同軸度
a) YZ面内
b) ZX面内
注記 この検査は，中ぐり棒支えの運動と主軸頭の運動とが同期できる機械に適用する。
G28
測定方法図
a) b)
許容値
a) 測定長さ1 000について0.04
b) 測定長さ1 000について0.03
測定値
a)
b)
測定器
変位計及び中ぐり棒又はテストバー
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
5.422
中ぐり主軸を引っ込めたときに，支持間の距離に応じて，中ぐり棒支えを完全に貫通するのに十分な長さの中ぐ
り棒又はテストバーを使用する。
テーブル上に定置した変位計の測定子をテストバーに当て，テーブルサドルをその動きの全範囲にわたって移動
させる。
測定は，主軸側の端部と中ぐり棒支えの近傍との2か所で行う。
主軸を繰り出して，同様の測定を繰り返す。
a) 測定は，主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの上端に置いて行い，次に下端に置いて行う。又は，その逆で行っ
てもよい。
b) 主軸頭及び中ぐり棒支えを動きの中央に固定し，テーブル及び可能な場合は回転テーブルをそれぞれ動きの
中央に固定して行う。
大形機械の場合には，1本のテストバーの代わりに2本の短いテストバーを主軸及び中ぐり棒支え穴にそれぞれ
取り付けて測定してもよい。
34
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
工作精度検査
検査事項
一つの工作物について次の加工を行う。
a) 円筒穴a1及びa2の中ぐり
b) 円筒外面b1及びb2の旋削
c) 面cの面削り
注記 面削りcは，中ぐり主軸と組込形若しくは取付け形面板の両方，又は独立形フライス主軸をもつ機
械に適用する。
M1
工作物の形状，寸法及び取付け（例）
中ぐり径dは，中ぐり主軸径に等しいか，又はわずかに大きくする。
旋削径Dは，(D−d)/2の値が面削りスライドの最大移動量に等しいか，又はわずかに小さな値とする。
注記
工作物材料：鋳鉄
1 試験片
2 取付具
3 テーブル
図中の番号1〜6は，次の検査事項番号を示す。
35
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
M1（続き）
番号
検査事項
許容値
測定値
測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
1
円筒穴a1，a2及び円筒
外面b1の真円度*
（ISO 1101の18.3参
照）
− 主軸の繰出しに
よる加工
− コラム運動によ
る加工
a1及びa2：
d≦125：0.007 5
d＞125：0.01
b1：
D≦300：0.01
300＜D≦600：0.015
直径が300増すごと
に0.005加える。
穴ゲージ及
びマイクロ
メータ又は
適切な不確
かさの測定
器
3.1，3.22，4.1，4.2，5.3，5.442，5.5，
5.512.42，5.611.3，6.6及び6.7
検査を開始する前に，テーブル上に
取り付ける取付台下面が平らであり，
工作物を取り付ける面がそのハウジ
ングの中心線と直角であることを確
かめる。
2
円筒穴a1及びa2の円
筒度* （ISO 1101の
18.4参照）
d≦125：0.01
d＞125：0.015
加工の指示
1) 二つの円筒穴a1及びa2の中ぐり
並びに仕上げ削り。
テーブルを固定し，中ぐり主軸を
軸方向に繰り出すことによって
加工する。
2) 円筒外面b1の旋削。
面板に短い工具を取り付け，テー
ブルサドル（Z軸）の送りによっ
て加工する。
3) テーブルサドル（Z軸）を300送
って円筒外面b2を旋削する。工
具は，適切な長さの支持台又は工
具ホルダを用いて面板に取り付
ける。
4) 面削りスライドの自動送り又は
フライス削りによる面cの加工。
3
円筒穴a1と円筒外面
b1との同心度 （ISO
1101の18.13参照）
0.025
変位計及び
テストバー
4
円筒外面b1，b2と円
筒穴a1，a2の基準軸と
の同軸度（ISO 1101
の18.13参照）
テーブルサドルのZ
軸方向運動300につ
いて0.04
5
加工面の平面度
（ISO 1101の18.2参
照）
直径D＝300につい
て 0.015
直定規及び
ブロックゲ
ージ
6
加工面cと円筒穴a1
及びa2の基準軸との
直角度（ISO 1101の
18.10参照）
直径300について
0.025
テストバー
及び変位計
又は水準器
及び特殊支
持台
注*
真円度及び円筒度の公差の定義は，ISO 1101を参照。規定した許容値は，半径に対する値であって，直径で
表現する場合は2倍する。
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B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
フライス削り
a) テ−ブルのX軸自動送り運動，主軸頭のY軸自動送り運動，及びテーブルサドルの手動Z軸送り運動
による帯状面A，C及びDのフライス削り。
b) テ−ブルのX軸向自動送り運動，主軸頭の手動Y軸送り運動によって，少なくとも約5〜10 mmオー
バラップさせて2回行う面Bのフライス削り。
M2
工作物の形状，寸法及び取付け（例）
L≦1 000については l＝h＝150
L＞1 000については l＝h＝200
L（工作物の長さ又は二つの工作物の相対する面間の距離）＝21×（テーブルのX軸方向移動量）
注記 工作物材料：鋳鉄
図中の番号1及び2は，次の検査事項番号を示す。
番号
検査事項
許容値
測定値
測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
1
各ブロックの面Bの平
面度
0.02
定盤，変位計，
又は三次元座
標測定機
3.1，3.22，4.1，4.2，5.321，5.325及び5.5
工作物は，検査を開始する前に，面Eが
平らになっていることを確かめる。
工作物は，長さLがテーブル中心の両端
で均等になるようにテーブルのX軸方向
運動と平行に取り付ける。
運転しないすべての運動部品は，切削中
は締め付ける。
2
帯状面A，C及びDを含
む面の相互の直角度及
び面Bに対する直角度
測定長さ
100につい
て0.02
直角定規及び
ブロックゲー
ジ
3
二つのブロックの高さH
0.03
ハイトゲージ
切削条件及び工具
a) 主軸端に適当な長さの工具アーバを取り付け，側エンドミルを使用。
b) 同じ工具による平面フライス削り
工具は，工具アーバに付けて研削し，主軸に取り付けたときの許容値は，次による。
1) 直径差（ISO 1101参照） ≦0.01
2) 振れ ≦0.02
3) 端面の振れ ≦0.03
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検査事項
テ−ブル上面と平行で，テーブル回転中心と同軸の垂直面内にある一つの軸上に相対して取り付け
た二つの工作物の中ぐりによる仕上げ削り
a) 90°ごとに四つの固定位置割出しができる90°固定割出しテーブル
b) 四つの固定位置よりも多くの割出しができる多点割出しテーブル
c) 任意の角度位置決めができる任意割出し回転テーブル
M3
工作物の形状，寸法及び取付け（例）
1 試験片
2 取付ジグ
3 テーブル
4 定盤
C 穴
M プラグ
取付ジグの長さＬは，テーブル幅よりわずかに小さいか，又はほぼ等しくする。
穴径d1及びd2は，中ぐり主軸の直径の1/2以上とする。
右上の断面図は，測定のための取付け例を示す。
注記 工作物材料：鋳鉄
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M3（続き）
検査事項
許容値
測定値
測定器
測定手順及びJIS B 6191の参照箇条
R1，R2及びR3を通
る垂直面と穴d1及
びd2の中心線との
等距離度（距離l1
＝l2）
測定長さ
Ｌ＝1 000につい
て
a) 0.06
b) 0.1
c) 0.15
テストバー，
変位計又は
ブロックゲ
ージ，ハイト
ゲージ及び
三次元座標
測定機
3.1，3.22，4.1，4.2，5.321及び5.325
この検査の実施に際し，工作物は取付ジグ
から外してはならない。工作物を組み付けた
取付ジグは，定盤上に置いてもよい。
検査を開始する前に，テーブルに取り付け
る取付ジグの面が平らであり，工作物を支持
するための穴の中心線及び心出し穴Cの中
心線は三つの基準ブロックR1，R2及びR3で
決定される垂直基準面から等距離にあるこ
とを確かめる。
取付ジグをテーブル上に取り付ける前に，
テーブルの回転中心線が正確に中ぐり主軸
中心線を通る垂直面内にあることを確かめ
て，回転テーブルを固定する。
取付ジグの心出し穴Cは，可能な場合はプ
ラグMを使って，テーブルの回転中心と正
確に一致するようにテーブル上に載せた取
付具を調整する。
中ぐり主軸中心線を通る垂直面内で基準
ブロックR1及びR2を取り付けて，テーブル
上で取付具を回転させる。
テーブル上に取付ジグを固定し，図に示す
ように工作物を組み込む。
最初の工作物を直径dまで中ぐりする。
次に，テーブルを180°回転させて，次の
工作物を同様に中ぐりする。
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B 6210-1：2010
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9
数値制御による位置決め精度検査
この検査は，直進及び旋回軸の位置決めを数値制御で行う横中ぐりフライス盤だけに適用する。
この検査を実施するときには，特に環境条件，機械の暖機運転，測定方法，評価方法及び結果の表示方
法は，JIS B 6190-2を参照する。
検査事項
数値制御によるテーブル運動（X軸）の位置決め精度
P1
測定方法図
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値
測定長さ L
測定値
L≦500
500＜L≦
1 000
1 000＜L≦
2 000
軸の両方向位置決めの正確さ A
0.014
0.020
0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
0.007
0.009
0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
0.011
0.014
0.017
軸の平均反転値 B
0.005
0.006
0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
0.008
0.011
0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M
0.003
0.005
0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。
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B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
数値制御による主軸頭運動（Y軸）の位置決め精度
P2
測定方法図
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値
測定長さ L
測定値
L≦500
500＜L≦
1 000
1 000＜L≦
2 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A
0.014
0.020
0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
0.007
0.009
0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
0.011
0.014
0.017
軸の平均反転値 B
0.005
0.006
0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
0.008
0.011
0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M
0.003
0.005
0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。
41
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
数値制御によるテーブルサドル運動（Z軸）の位置決め精度
P3
測定方法図
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値
測定長さ L
測定値
L≦500
500＜L≦
1 000
1 000＜L≦
2 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A
0.014
0.020
0.022
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
0.007
0.009
0.011
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
0.011
0.014
0.017
軸の平均反転値 B
0.005
0.006
0.008
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
0.008
0.011
0.013
軸の平均両方向位置決め偏差* M
0.003
0.005
0.006
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。
42
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
数値制御による中ぐり主軸又はラム運動（W軸）の位置決め精度
P4
測定方法図
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値
測定長さ L
測定値
L≦500
500＜L≦1 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A
0.014
0.020
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
0.007
0.009
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
0.011
0.014
軸の平均反転値 B
0.005
0.006
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
0.008
0.011
軸の平均両方向位置決め偏差* M
0.003
0.005
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。
43
B 6210-1：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
数値制御による面削りスライド運動（U軸）の位置決め精度
P5
測定方法図
1 レーザヘッド
2 干渉計
3 反射鏡
許容値
測定長さ L
測定値
L≦500
500＜L≦1 000
軸の両方向位置決めの正確さ* A
0.014
0.017
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
0.007
0.009
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
0.011
0.014
軸の平均反転値 B
0.005
0.006
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
0.007
0.010
軸の平均両方向位置決め偏差* M
0.003
0.004
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
レーザ干渉測長器又はリニアスケール
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
レーザ干渉測長器の光軸又はリニアスケールは，移動軸と平行に置く。
一般に位置決めは，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって任意の送り速度で行ってもよい。
測定開始点の位置は，記録する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
検査事項
数値制御による回転テーブルの角度位置決め精度
a) 固定割出し回転テーブル
b) 任意割出し回転テーブル
P6
測定方法図
1 オートコリメータ
2 多面鏡
許容値（30°又は45°間隔の位置決め）
360°につき
測定値
a)
b)
軸の両方向位置決めの正確さ* A
7″
11″
軸の一方向位置決めの繰返し性* R↑又はR↓
4″
6″
軸の両方向位置決めの繰返し性 R
6″
8″
軸の平均反転値 B
4″
6″
軸の両方向位置決めの系統偏差* E
4″
6″
軸の平均両方向位置決め偏差* M
2″
4″
注* 機械の受渡検査の基本評価項目
測定器
多面鏡及びオートコリメータ，又は割出しテーブル付きレーザ干渉測長器
測定手順及びJIS B 6190-2の参照箇条
箇条2，4.3.2及び4.3.3
オートコリメータは，機械の固定部又は機械から離れた箇所に定置し，多面鏡は，テーブル中心近くに定置
し，最初の測定位置でオートコリメータと心合わせをする。
目標位置は，30°又は45°間隔とするか，又はJIS B 6190-2に従って選ぶ。
一般に回転角度位置決めの送り速度は，早送り速度で行うが，受渡当事者間の協定によって，任意の送り速
度で行ってもよい。
45
B 6210-1：2010
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10 工具保持用主軸の回転精度
検査事項
工具保持用主軸（C）の半径方向誤差運動（ERC）
この検査は，フライス主軸及び中ぐり主軸について行う。
注記 中ぐり主軸は，適用できる場合には，測定中は引っ込める。
R1
測定方法図
1 非接触式変位計1
2 非接触式変位計2
許容値
最高速度の百分率で
10 %
50 %
100 %
全半径方向誤差運動値，ERC
0.010
0.014
0.020
最低速度が，最高速度の10 %を超える場合には，その代わりに主軸は，最低速
度で回転させる。
測定値
測定器
テストバー又は精密球，非接触変位計，及び，場合によっては，回転角度測定装置
測定手順及びJIS B 6190-7の参照
この検査は，回転感度方向の主軸検査である（JIS B 6190-7の5.4参照）。
測定の準備が終わったのち，主軸は，最高速度の50 %の速度で10分間暖機運転するか，又は受渡当事者間の協
定による。
全誤差運動の定義は，JIS B 6190-7の3.2.4による。また，全誤差運動の値は，JIS B 6190-7のF.3.4による。
半径方向誤差運動の値ERC（変位計1及び2を使用）
半径方向誤差運動の値の測定は，JIS B 6190-7の5.4.2による。半径方向誤差運動は，できるだけ主軸端近くで測
定しなければならない（測定方法図における変位計1及び2）。
半径方向誤差運動の値ERCについては，最小二乗円（LSC）中心（JIS B 6190-7の3.4.3参照）と合わせて全誤差
運動極座標表示（JIS B 6190-7の 3.3.1参照）したグラフを提供しなければならない。
これらの検査について，次のパラメタを記載しなければならない。
− 測定した半径方向及び軸方向の位置
− 使用したすべてのジグ，目標物及び取付具
− 測定装置の配置
− 測定中に測定装置に接続されている直進テーブル又は回転テーブルの位置
46
B 6210-1：2010
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R1（続き）
− 感度方向の向き，例えば，軸方向，半径方向，又は必要に応じて，その中間の方向
− 測定結果の表示，例えば，誤差運動の値，極座標表示グラフ，時間表示グラフ，周波数表示グラフ
− 主軸の回転速度（静的誤差運動については速度はゼロ）
− 時間（秒），又は主軸回転数
− 適切な暖機又は慣らしの手順
− 測定器の周波数応答（Hz又は1回転当たりの山の数），電気フィルタのロールオフ特性，デジタル測定器に
おいては，変位の分解能及びサンプリングレート
− 誤差運動を報告する主軸ハウジングに対する変位計の位置及び向きを含む構造ループ，主軸の軸線及び基準
座標軸が配置されている指定された要素，並びにこれらの要素に接続されている要素
− 測定の日時
− すべての測定器の形式及び校正状態
− 室温のような測定に影響を及ぼす他の運転条件
参考文献 JIS B 6310:2003 産業オートメーションシステム−機械及び装置の制御−座標系及び運動の記
号
注記 対応国際規格：ISO 841:2001，Industrial automation systems and integration−Numerical
control of machines−Coordinate system and motion nomenclature（IDT）
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS B 6210-1:2010 横中ぐりフライス盤−精度検査−第1部：テーブル形（コラム
固定・テーブル移動形）
ISO 3070-1:2007 Machine tools−Test conditions for testing the accuracy of boring
and milling machines with horizontal spindle−Part 1: Machines with fixed column
and movable table
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3機械各
部及び座
標軸の名
称
3.2 運動の種類
3.2
JISとほぼ同じ
変更
表1の番号6の名称を“割出し
又は回転テーブル”，対応英語
を“index or rotary table”とし
た。
ISO規格の説明が不足しているた
め。
ISOに改正提案を行う。
5 主要な
要素の説
明
5.1 主軸頭
5.1
JISとほぼ同じ
変更
表2の番号4の対応英語を
“facing head slide”とした。
番号3“facing head”に合わせて修
正。
ISOに改正提案を行う。
6一般事
項
6.1 測定単位
6.1
JISとほぼ同じ
追加
各単位表記“mm”，“°”，
“μrad”，及び“″”を追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
7静的精
度検査
−
−
−
追加
測定手順に“平行”に関する文
章を追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
7.1 直進軸の真直
度及び角度偏差
7.1
JISとほぼ同じ
追加
G1測定手順の参照箇条に
“5.232.12”を追加
ISO規格の参照が不足しているた
め。
ISOに改正提案を行う。
G2及びG4に測定方法図c)及
びキーを追加
レーザ測長器を使用した図が抜
けていたため，使用者の理解を助
けるため追加した。
ISOに改正提案を行う。
G6にキーを追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
2
B
6
2
1
0
-1
：
2
0
1
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7静的精
度検査
（続き）
7.1 直進軸の真直
度及び角度偏差
（続き）
G6 測定手順のa)に“Y軸運動
が，主軸頭及びテーブルに角度
偏差を生じさせる原因になる
場合は，それぞれの角度偏差も
測定し，記録する。”の文章を
追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
7.3 テーブル
削除
G9 測定器“other equipment”
を削除
該当する測定器がないため。
ISOに改正提案を行う。
7.4 割出し又は回
転テーブル
7.4
JISとほぼ同じ
削除
G12測定方法図にキーを追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
削除
G13 測定器“test mandrel”を
削除
測定器としては必要ないため。
ISOに改正提案を行う。
7.5 中ぐり主軸
7.5
JISとほぼ同じ
追加
G17 測定手順に“主軸又はラ
ムは，引っ込める。”の文章を
追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
G18 測定手順に“次に，中ぐ
り主軸を180°回し，再び円筒
スコヤに当てて，読みを取る。
直角度の偏差は，二つの読みの
差を，2点間の距離で除した値
とする。”の文章を追加
使用者の理解を助けるため及び
他のパートと統一性をもたせる
ため。
ISOに改正提案を行う。
7.6 フライス主軸
7.6
JISとほぼ同じ
追加
G20 測定方法図及び測定器に
“特殊ジグ”を追加
測定に必要なため。
ISOに改正提案を行う。
7.9 面削りスライ
ド運動（U軸）
追加
箇条の題名“面削りスライド運
動（U軸）”を追加
ISO規格にタイトルが抜けている
ため。ISOに改正提案を行う。
G27測定手順のb) 参照箇条を
“5.522.2”に変更
ISO規格の参照が間違っているた
め。
ISOに改正提案を行う。
2
B
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1
0
-1
：
2
0
1
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7静的精
度検査
（続き）
7.10 中ぐり棒支え
7.9
JISとほぼ同じ
追加
箇条7.9から7.10に変更
7.9の追加に合わせて修正。
ISOに改正提案を行う。
追加
G28 測定手順の参照箇条に
“5.422”を追加
ISO規格には参照がないため。
ISOに改正提案を行う。
変更
G28 測定手順のb) “table
base”を“回転テーブル”とし
た。
ISO規格が旧規格の用語のままの
ため。
ISOに改正提案を行う。
8工作精
度検査
8 工作精度検査
8
JISとほぼ同じ
削除
M1及びM3の測定方法図及び
キーを削除
ここでの説明は不要なため。
ISOに改正提案を行う。
追加
M1の注*に文章を追加
使用者の理解を助けるため。
ISOに改正提案を行う。
追加
M1，M2及びM3 測定手順に
参照箇条を追加
ISO規格の参照不足のため。
ISOに改正提案を行う。
変更
M3 測定手順 “table base”を
“回転テーブル”とした。
ISO規格が旧規格の用語のままの
ため。ISOに改正提案を行う。
9数値制
御による
位置決め
精度検査
9数値制御による位
置決め精度検査
9
JISとほぼ同じ
変更
P3 検査事項 “table movement
(Z axis)”を“テーブルサドル
運動（Z軸）”とした。
ISO規格が適切でないため修正。
ISOに改正提案を行う。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 3070-1:2007，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。