B 3502：2011
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 この規格への適合性 ······································································································· 2
1.3 引用規格 ······················································································································ 3
2 形式試験························································································································· 6
2.1 EUT［equipment under test（供試品）］ ·············································································· 6
2.2 イミュニティ及びEMCに関する試験の特徴 ······································································· 8
2.3 耐力試験 ······················································································································ 9
2.4 検証手順 ······················································································································ 9
2.5 製造業者が用意する試験プログラム及び正規の機能検証手順［proper functioning verification
procedures (PFVP)］に関する要求事項 ······················································································ 9
2.6 試験に関する一般事項 ···································································································· 9
3 用語及び定義 ·················································································································· 10
4 通常の稼動条件及び要求事項 ····························································································· 17
4.1 環境条件及び要求事項 ··································································································· 17
4.2 機械的な稼動条件及び要求事項 ······················································································· 18
4.3 輸送及び保管条件並びに要求事項····················································································· 19
4.4 電気的稼動条件及び要求事項 ·························································································· 20
4.5 特殊稼動条件及び要求事項 ····························································································· 20
5 機能に関する要求事項 ······································································································ 21
5.1 電源供給及びメモリバックアップ機能に関する要求事項 ······················································· 22
5.2 デジタル入出力 ············································································································ 23
5.3 アナログ入出力 ············································································································ 32
5.4 通信インタフェースの要求事項 ······················································································· 32
5.5 PLCシステムの主処理装置及びメモリの要求事項 ······························································· 32
5.6 リモートI/O（RIOS）の要求事項 ···················································································· 33
5.7 周辺装置（PADT，TE及びHMI）の要求事項 ···································································· 33
5.8 PLCシステムの自己試験及び診断の要求事項 ····································································· 33
5.9 機能接地 ····················································································································· 34
5.10 据付けに関する要求事項 ······························································································· 34
5.11 表示への一般要求事項 ·································································································· 34
5.12 通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証に関する要求事項 ············································ 35
5.13 通常稼動及び機能に関する情報の要求事項 ······································································· 35
6 通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証 ········································································ 35
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6.1 耐候性試験 ·················································································································· 35
6.2 （内容を考慮して6.1に含めたため，削除） ······································································ 37
6.3 機械的試験 ·················································································································· 37
6.4 電源端子及びメモリバックアップへの特殊機能要求仕様の検証−電源端子の特殊イミュニティ限界
········································································································································ 39
6.5 入出力特性の検証 ········································································································· 44
6.6 通信インタフェース要求事項の検証·················································································· 47
6.7 主処理装置（MPU）の特性の検証 ···················································································· 47
6.8 リモート入出力局の検証 ································································································ 47
6.9 周辺装置（PADT，TE及びHMI）の特性の検証 ································································· 48
6.10 PLCシステムの自己診断機能の検証 ··············································································· 48
6.11 表示及び製造業者ドキュメントの検証 ············································································· 48
7 製造業者の提供情報 ········································································································· 48
7.1 文書情報の種類及び内容 ································································································ 48
7.2 この規格に対する適合性に関する情報··············································································· 48
7.3 信頼性に関する情報 ······································································································ 49
7.4 その他の条件での情報 ··································································································· 49
7.5 出荷及び保管に関する情報 ····························································································· 49
7.6 AC及びDC電源に関する情報 ························································································· 49
7.7 デジタル入力に関する情報 ····························································································· 49
7.8 デジタル交流出力に関する情報 ······················································································· 50
7.9 デジタル直流出力に関する情報 ······················································································· 50
7.10 アナログ入力に関する情報 ···························································································· 50
7.11 アナログ出力に関する情報 ···························································································· 52
7.12 通信インタフェースに関する情報 ··················································································· 52
7.13 PLCシステムのMPU及びメモリに関する情報 ································································· 53
7.14 リモート入出力に関する情報 ························································································· 53
7.15 周辺装置（PADT，TE及びHMI）に関する情報 ······························································· 54
7.16 自己診断に関する情報 ·································································································· 54
8 電磁両立性（EMC）に関する要求事項 ················································································ 54
8.1 一般 ··························································································································· 54
8.2 エミッションに関する要求事項 ······················································································· 55
8.3 EMCイミュニティに関する要求事項 ················································································ 55
8.4 EMCの試験及び検証に関する要求事項 ············································································· 61
8.5 EMCに関する情報についての要求事項 ············································································· 61
9 電磁両立性（EMC）形式試験及び検証 ················································································ 61
9.1 電磁両立性関連試験 ······································································································ 61
9.2 試験環境 ····················································································································· 62
9.3 放射妨害の測定 ············································································································ 62
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9.4 伝導妨害の測定 ············································································································ 62
9.5 静電気放電 ·················································································································· 63
9.6 放射無線周波電磁界−振幅変調 ······················································································· 63
9.7 電源周波数磁界 ············································································································ 64
9.8 ファストトランジェント・バースト·················································································· 64
9.9 サージ ························································································································ 65
9.10 無線周波電磁界伝導妨害 ······························································································· 65
9.11 減衰振動波（ゾーンCだけ対象）··················································································· 66
9.12 電圧ディップ及び瞬時停電 ···························································································· 67
10 製造業者が提示しなければならない電磁両立性（EMC）に関する提供情報 ······························· 67
11 安全要求事項 ················································································································ 67
11.1 装置タイプ及び保護 ····································································································· 67
11.2 感電に対する保護 ········································································································ 69
11.3 延焼に対する保護 ········································································································ 73
11.4 空間距離及び沿面距離への要求事項 ················································································ 74
11.5 非金属材料の難燃性に対する要求事項 ············································································· 80
11.6 温度限界 ···················································································································· 81
11.7 きょう体 ···················································································································· 81
11.8 操作者が接触可能な危険充電状態になる現場配線端子構造上の要求事項································· 82
11.9 保護接地に関する条項 ·································································································· 82
11.10 配線 ························································································································ 83
11.11 スイッチング機器 ······································································································· 84
11.12 安全要求に関係する構成要素 ························································································ 84
11.13 電池への要求事項 ······································································································· 84
11.14 最大及び最小電圧 ······································································································· 84
11.15 表示及び識別············································································································· 84
11.16 安全性に対する形式試験及び検証への要求事項 ································································ 86
11.17 安全性に対する定常試験及び検証への要求事項 ································································ 86
11.18 安全性の情報に関する要求事項 ····················································································· 86
12 安全性形式試験及び検証 ································································································· 87
12.1 安全性関連機械的試験及び検証 ······················································································ 87
12.2 安全性関連電気試験 ····································································································· 89
12.3 単一故障状態試験 ········································································································ 93
12.4 電力制限回路試験 ········································································································ 94
13 安全定常試験 ················································································································ 95
13.1 絶縁耐力試験 ·············································································································· 95
13.2 絶縁耐力検証試験 ········································································································ 95
13.3 保護接地試験 ·············································································································· 95
14 製造業者による安全性に関する情報 ·················································································· 96
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B 3502：2011 目次
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14.1 開放形装置のきょう体についての評価情報（消費電力） ····················································· 96
14.2 端子接続の構造に関する情報 ························································································· 96
附属書A（参考）PLCシステムのハードウェア定義図 ································································ 97
附属書B（参考）デジタル入力の標準動作範囲の計算式 ······························································ 98
附属書C（規定）試験ツール ································································································· 99
附属書D（参考）ゾーンCにおけるEMCイミュニティレベル ··················································· 101
附属書E（参考）過電圧の例 ································································································ 103
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ····································································· 105
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（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電機
工業会（JEMA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準
調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS B 3502:2004は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
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プログラマブルコントローラ−
装置への要求事項及び試験
Programmable controllers-Equipment requirements and tests
序文
この規格は，2007年に第3版として発行されたIEC 61131-2を基に作成した日本工業規格であるが，技
術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，機械制御及び工業プロセスのために用いることを前提とするプログラマブルコントローラ
［programmable controllers (PLC)］，関連周辺装置であるプログラミング・デバッキング ツール
［programming and debugging tools (PADT)］，ヒューマン−マシンインタフェース［human-machine interfaces
(HMI)］などの要求事項及び試験について規定する。
PLC及び関連周辺装置は，工業環境下で用いることを前提とし，開放形及び閉鎖形の装置がある。
PLC及び関連周辺装置を工業環境下以外（軽工業，商業及び住宅地域）で用いる場合には，用いる環境
に関する要求事項，規格及び設置する手段を，PLC及び関連周辺装置に対して追加して適用することが望
ましい。
この規格は，PLC及び／又は関連周辺装置の機能を構成する全ての製品に関して適用する。
この規格で対象とする装置は，装置電源の定格電圧がAC 1 000 V（実効値）（50/60 Hz）又はDC 1 500 V
を超えない低電圧の過電圧カテゴリII（IEC 60664-1参照）において用いることを前提とする（仮に，PLC
又は関連周辺装置を過電圧カテゴリIIIで用いる場合には，それらの用途に対する装置の適合性を決定する
ために，追加検討が必要である。）。
この規格は，自動化システム全体に関する機能安全又はその関連事項については扱わない。PLC，その
アプリケーションプログラム及び関連周辺装置は，制御システムの構成要素として捉えている。
PLCは，構成要素であるため，設備及びアプリケーションを含んだ自動化システム全体に関する安全性
への配慮は，この規格の適用範囲外である。JIS C 60364-1又は適用可能な電気の設備に関する地域・国の
規制及び指針を参照する。
しかし，感電，火災，電気的妨害イミュニティ，パリティチェック，自己診断などのPLCシステムで用
いるエラー検出動作に関連するPLCの安全性は，この規格の適用範囲である。
これらの一連の規格1) の目的は，次のとおりである。
注1) これらの一連の規格とは，JIS B 3501，JIS B 3502，JIS B 3503，IEC/TR 61131-4，IEC 61131-5，
2
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IEC 61131-7及びIEC/TR 61131-8をいう。
a) PLC及び関連周辺装置の選定及び適用に関連する定義の確立及び主な特性の明確化。
b) PLC及び関連周辺装置に適用する機能特性，電気的特性，機械的特性，環境特性，構造特性，稼動条
件，安全性，EMC，使用者のプログラム作成及び試験に関して最小限の要求事項を規定。
この規格では，次の事項についても規定する。
− PLC及び関連周辺装置に対して，稼動，保管及び輸送に関する要求事項（箇条4）。
− PLC及び関連周辺装置に対して，機能に関する要求事項（箇条5）。
− PLC及び関連周辺装置に対して，EMCに関する要求事項（箇条8）。
− PLC及び関連周辺装置に対して，安全性に関する要求事項（箇条11）。
− 製造業者の提供情報（箇条7，箇条10及び箇条14）。
− PLC及び関連周辺装置が，要求事項に適合しているかどうかを検証するために用いる試験方法及び手
順（箇条6，箇条9及び箇条12）。
− PLC及び周辺装置に対する安全定常試験（箇条13）。
試験とは，形式試験又は製造定常試験であって，PLCシステムの適用方法に関する試験ではない。
1.2
この規格への適合性
この規格に対する適合性を制限なしで明記する場合は，この規格で要求している全ての試験及び検証を
含め，全ての要求条項に対して適合していることが確かめられていることが望ましい。さらに，形式試験
を必要としない場合，又は実用上の理由によって試験条件を制限している場合においても，この規格で明
示している責任を製造業者は放棄できない。
この規格のいずれかの一部に対する適合性を示す場合は，その要求条項に対してだけ適合していること
を確かめてあればよい。ただし，製造業者の責任については，上記と同様に放棄できない。この規格に対
する適合の最小単位は，箇条5の機能に関する要求事項，箇条8のEMCに関する要求事項又は箇条11の
安全性に関する要求事項のような一つのまとまった箇条とすることが望ましい。
この規格の一部分に対する適合性に関しては，特定の適合評価条件に関する労力を軽減するために，例
えば，EU電磁両立性指令への適合条件としての箇条8，箇条9及び箇条10，又はEU低電圧指令への適合
条件としての箇条11，箇条12，箇条13，箇条14などがある。
構造に関する要求事項及び製造業者が提供する情報に関する要求事項に対しての適合性は，適切な試験，
外観検査及び／又は測定によって確かめられることが望ましい。
試験及び検証の要求条項に従って試験していない全ての事項は，受渡当事者間の協定に基づいた手順に
従って検証することが望ましい。
請求があった場合，製造業者は，この規格の全て又は一部に対する適合性への要求事項全てに関する適
合性検証情報を提供しなければならない。
出荷したPLC及び関連周辺装置が，この規格に従って形式試験したEUT（供試品）と同等であり，し
たがって，この規格の要求事項に適合していることを保証するのは，製造業者の責任である。
重要な変更は，適切な版数表示及び識別（5.11及び11.15参照）の使用によって示し，この規格に適合
しなければならない。
注記1 適合性を認証するために，新規の形式試験を必要とする場合もある。
製造業者は，幾つかの任意選択機能の中で選択できるものに関して，カタログ及び／又はデータシート
に，PLCシステム装置のどの部分が対応しているかを明確に指定しなければならない。これは，瞬時停電
の厳しさレベル（表7に基づくPS1又はPS2）及びデジタル入力のタイプ（3.12及び3.13に基づくタイプ
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1又はタイプ2）に適用する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61131-2:2007，Programmable controllers−Part 2: Equipment requirements and tests（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 3501:2004 プログラマブルコントローラ−一般情報
注記 対応国際規格：IEC 61131-1:2003，Programmable controllers−Part 1: General information（IDT）
JIS C 0365:2007 感電保護−設備及び機器の共通事項
注記 対応国際規格：IEC 61140:2001，Protection against electric shock−Common aspects for installation
and equipment（IDT）
JIS C 0920:2003 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529:2001，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)（IDT）
JIS C 1010-1:2005 測定，制御及び研究室用電気機器の安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61010-1:2001，Safety requirements for electrical equipment for measurement,
control, and laboratory use−Part 1: General requirements（MOD）
JIS C 1604 測温抵抗体
JIS C 2134:2007 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112:2003，Method for the determination of the proof and the comparative
tracking indices of solid insulating materials（IDT）
JIS C 2812 機器取付け用レール
JIS C 6950-1:2009 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1:2001，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements（MOD）
JIS C 8201-5-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電
気機械式制御回路機器
注記 対応国際規格：IEC 60947-5-1:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control
circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices（IDT）
JIS C 8201-7-1:2010 低圧開閉装置及び制御装置−第7部：補助装置−第1節：銅導体用端子台
注記 対応国際規格：IEC 60947-7-1:2002，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 7-1: Ancillary
equipment−Terminal blocks for copper conductors（MOD）
JIS C 60050-161:1997 EMCに関するIEV用語
注記 対応国際規格：IEC 60050-161:1990，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 161:
Electromagnetic compatibility（IDT）
JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：
A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold（IDT）
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B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 60068-2-2:1995 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）−試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:1974，Environmental testing−Part 2: Tests−Tests B: Dry heat（IDT）
JIS C 60068-2-6:1999 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:1995，Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)（IDT）
JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 60068-2-31:1995 環境試験方法−電気・電子−面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験
方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-31:1969，Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ec: Drop and
topple, primarily for equipment-type specimens（IDT）
JIS C 60068-2-32:1995 環境試験方法−電気・電子−自然落下試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-32:1975，Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ed: Free fall
（IDT）
JIS C 60364-1:2010 低圧電気設備−第1部：基本的原則，一般特性の評価及び用語の定義
注記 対応国際規格：IEC 60364-1:2005，Low-voltage electrical installations−Part 1: Fundamental
principles, assessment of general characteristics, definitions（IDT）
JIS C 60364-4-41:2010 低圧電気設備−第4-41部：安全保護−感電保護
注記 対応国際規格：IEC 60364-4-41:2005，Low-voltage electrical installations−Part 4-41: Protection for
safety−Protection against electric shock（IDT）
JIS C 60664-3:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第3部：汚損保護のためのコーティング，ポッティ
ング及びモールディングの使用
注記 対応国際規格：IEC 60664-3:2003，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution（IDT）
JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-11:2000，Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire flammability test method for end-products（IDT）
JIS C 60695-11-10:2006 耐火性試験−電気・電子−第11-10部：試験炎−50 W試験炎による水平及び
垂直燃焼試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-11-10:1999，Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W
horizontal and vertical flame test methods（IDT）
JIS C 61000-4-2:1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試
験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test（IDT）
5
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2003，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
（MOD）
JIS C 61000-4-8:2003 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第8節：電源周波数磁界イミュニテ
ィ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-8:1993，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and
measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test（MOD）
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
（IDT）
JIS C 61000-6-1:2008 電磁両立性−第6-1部：共通規格−住宅，商業及び軽工業環境におけるイミュ
ニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-6-1:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-1: Generic
standards−Immunity for residential, commercial and light-industrial environments（IDT）
JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-6-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic
standards−Immunity for industrial environments（MOD）
IEC 60038:2002，IEC standard voltages
IEC 60050-131:2002，International Electrotechnical Vocabulary−Part 131: Circuit theory
IEC 60050-151:2001，International Electrotechnical Vocabulary−Part 151: Electrical and magnetic devices
IEC 60050-195:1998，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Part 195: Earthing and protection
against electric shock
IEC 60060-1:1992，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60068-2-27:1987，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and guidance: Shock
IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat, cyclic (12 h + 12-hour
cycle)
IEC 60417，Graphical symbols for use on equipment
IEC 60445:2006，Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification−
Identification of equipment terminals and conductor terminations
IEC 60664-1:1992，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−Part 1: Principles,
requirements and tests, Amendment 1:2000及びAmendment 2:2002
IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement techniques−
Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
6
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
IEC 61000-4-18:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-18: Testing and measurement techniques
−Damped oscillatory wave immunity test
IEC 61000-4-29:2000，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-29: Testing and measurement techniques
−Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity test
IEC 61000-6-4:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-4: Generic standards−Emission standard
for industrial environments
IEC 61131-3:2003，Programmable Controllers−Part 3: Programming languages
IEC/TR 61131-4:2004，Programmable controllers−Part 4: User guidelines
CISPR 14-1:2005，Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and
similar apparatus−Part 1: Emission
CISPR 16-1-2:2003，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Conducted
disturbances
CISPR 16-1-4:2004，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Radiated disturbances
CISPR 16-2-1:2005，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
2-1: Methods of measurement of disturbances and immunity−Conducted disturbance measurements
CISPR 16-2-3:2006，Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance measurements
2
形式試験
この箇条の目的は，この規格の要求事項に関して，PLC及び関連周辺装置の適合性を検証する方法を定
義することである。この適合性検証には，次を含む。
a) 形式試験（箇条6，箇条9及び箇条12参照）による検証。
b) 適切な試験，外観検査及び／又は測定による検証。
これらの試験は，PLCの適用に関する試験ではなく，機器の適合性検証である。この規格の範囲による
と，a) 及びb) の適合性検証は，使用者が意図した自動化システムの要求事項を満足させるPLCシステム
の能力を検証するものではない。この規格で規定していない特別な試験が必要な場合は，受渡当事者間に
よって協定する。
なお，定常試験は，箇条13で規定する。
注記 PLCシステムと同じ環境で用いる周辺装置は，PLCシステムと同じ要求事項を満たすことが望
ましい。
2.1
EUT［equipment under test（供試品）］
PLCシステムは，独立形の製品からモジュール構造の製品までの範囲にわたる。これは，実際に使用者
が組み立てるPLCシステム構成の種類が無限にあることを意味する。現実的には，ほとんどの場合，使用
者が構築するPLCシステムと同じEUTで形式試験を行うことはできない。このため，設計上の判断が必
要になる。したがって，製造業者は，EUTを定義して，次の原則を満たす試験計画及び試験プログラムを
文書化しなければならない。
試験・EUT・試験プログラムの組合せは，合理的に考えて，次のようでなければならない。
− 製造業者の仕様及び設置説明書に従って使用者が組み立てた，いかなる構成においても，同じ試験に
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B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
は問題なく合格して再現性を確保できる。
− その構成は，通常使用状態を反映することを意図した試験であるので，その状態で正常に機能する。
この規格でほかに規定がない場合には，製造業者は，所定の形式試験の目的を達成するために，様々な
EUTを用いてもよい。
基本PLC又はリモートI/O［Remote Inputs / Outputs (RIOS)］のEUTがモジュール構成の場合，次の最小
限の要求を満たさなければならない。
− 全ての種類のモジュールは，許容する組合せの一つ以上のEUTの中になければならない。
− 全ての種類のモジュールは，EUTの中に配置し，そして，少なくとも一度は試験しなければならない。
注記 多数の入出力（例えば，100以上）の場合には，サンプルに基づいた統計的な基準を適用し
てもよい。
一つのEUTの中に含めるにはあまりにも多くのファミリがある場合には，製造業者は，次のように幾つ
かのEUTを定義してもよい。
− 非常に似かよったモジュール（すなわち，同じ回路及び同じ基本的な製造方法を用いた，主に入出力
点数などが違う程度）をもつファミリの形式試験の場合には，製造業者は，このファミリモジュール
の中から選択した任意の1モジュールだけを，基本PLCシステムの中に含ませてもよい。形式試験が
モジュール自体の違いに依存している場合には，ただ一つのモジュールだけをファミリ内から選択す
るのは望ましくない。
− カタログに記載した電源装置，アプリケーションメモリ，処理装置などにおける特定の任意選択機能
については，これらを用いて妥当なEUTを構築しなければならない。
− ローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり，その最大ケーブル長が3 m以下の場合には，PLCの
内部バスと考えられる。このような場合，試験をするポートとしてはならない。
− ローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり，3 mより長いケーブルで動作する場合には，リンク
の片端だけはEUTの一部であり，通信ポートであるとみなす。
この規格に従って，既に十分な試験が完了しているPLCシステムが最初に製品化された後で，新しいユ
ニット又はモジュールを追加する場合には，もともと用いられたものより単純なEUTを用いることができ
る。ただし，もともと試験したEUT中でこれらの新しいユニット又はモジュールを試験したときと同等の
場合で，かつ，製造業者が上記のようなEUT及び関連試験プログラムによって適切な検証が可能な場合に
限り，上記のような単純なEUTを用いてもよい。
この規格でほかに規定がない場合，製造業者は，新しいEUTで各々の形式試験を実施してもよい。また，
同じEUTで連続して幾つかの形式試験を実施してもよい。
一つのEUTだけを容易に対象にできる試験もあるが，一連の複数のEUTを組み合せて試験するほうが
よりふさわしい場合がある。EUTは，この必要性を考慮しなければならない。EUTに関する推奨事項につ
いては，試験を規定している各箇条を参照する。
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B 3502：2011
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2.2
イミュニティ及びEMCに関する試験の特徴
インタフェース又はポートは，全ての接続ではなく，主な接続の一例を示す。ほとんどのEUTが，試験中にアクテ
ィブな複数のインタフェース又はポートをもつ。
図1−EUT構成
図2に示しているPLCシステムの各々の構成部分が，図1のEUT A，B，C，D，E及び／又はFとして
一つのEUTを構成する。各々のEUTの異なったポートを動作させるために，製造業者は，サブシステム
を定義して，別々のEUTを順番に試験してもよい。
試験は，通常，ただ一つのサブシステムに対して行い，ほかは補助装置とみなす。
EUT Aの試験の場合には，他のEUTの装置を接続していても試験の対象にはならない。
PLCシステムの電磁妨害イミュニティを確認する場合の例では，製造業者は，次のいずれかの手段を選
択できる。
a) PADT・TE・RIOSを含む単一で全体的なEUTを構築し，全体の構成を確認する。
b) 例えば，PADT・TE・RIOSを含まないPLCシステム，一つのPADT，一つのRIOS及び一つのTE，
又は意味があるそれら一組の部分的な組合せのような，より単純な一組のEUTを定義する。そして，
PADT・TE・RIOSの代用として，各EUTの適切なポートを，試験台の設備部分（EUTを試験するた
めに必要な実験装置）とともに動作させる。
便宜上，製造業者は，EUTのポートを動作させるために実際のPADT・TE・RIOSを用いてもよい。
EUTにあるいずれかの種類のうち少なくとも一つのポート，又は典型的な数のI/Oポートを接続して，
動作することが望ましい。
PLCの最も典型的な機能しか試験できないことを考慮して，機能モードを選択しなければならない。
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B 3502：2011
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2.3
耐力試験
一般的に，製造業者のカタログに記載したモジュールは，単独で試験することが望ましい。また，複数
のモジュールが混在した状態で試験する場合には，試験の結果に影響してはならない。詳細に関しては，
各々，耐力試験の箇条を参照することが望ましい。
2.4
検証手順
特に規定しない限り，形式試験は，2.1で定義するEUTに対して実施しなければならない。
製造業者は，次に従って各々の試験を実施する。
a) 構成の設置方法及び外部との接続方法を指定する。
b) 試験中に実行する適切な試験プログラムを用意する。
c) アナログ入出力における精度及び一時的な偏差の測定方法を含む，正規の操作の検証手順を用意する。
製造業者が用意する適切な試験プログラム及び正規の機能検証手順は，2.5で規定する要求事項を満たさ
なければならない。
2.5
製造業者が用意する試験プログラム及び正規の機能検証手順［proper functioning verification
procedures (PFVP)］に関する要求事項
形式試験中に，次のことがあってはならない。
a) 試験で要求する場合を除く，ハードウェアの破壊
b) オペレーティングシステム及び試験プログラムの修正及び／又はそれらの実行の変化
c) 内蔵システム又は外付けシステム，及びアプリケーションデータの，意図的でない変更
d) EUTの異常又は意図しない動作
e) 7.10.2の項目4及び7.11.2の項目3で規定する，アナログ入出力の動作限度を超える偏差
EUTにおける全ての関連機能及び全構成要素，すなわち，ユニット及びモジュールは，用いている機能
及び構成要素間で情報が伝達するように機能しなければならない。
EUTの全ての入出力及び通信チャネルが，機能しなければならない。
注記 多数の入出力（例えば，100以上）の場合には，サンプルに基づいた統計的な基準を適用して
もよい。
全ての外部的及び内部的な製品のステータス情報を通知する手段，すなわち，ディスプレイ，ランプ，
警報信号，自己診断結果を格納するレジスタなどが機能していなければならない。試験手順には，関連す
る動作を検証するための条件を含む。
始動及び停止，コールド，ウォーム，ホットの再始動，“正常運転”，“正常停止”，“PADTによるプログ
ラム・モニタ”など，使用者が行うPLCシステムの重要な全種類の操作モードに関して，性能及び動作を
検証しなければならない。
始動及び停止が正常であることを確認するため，全てのシステム構成要素の初期化状態及びリセット状
態を検証しなければならない。“運転”，“プログラム”，“モニタ”などの各種モードに関して，その性能及
び動作を検証しなければならない。
この規格で規定していない場合でも，基本的なPLCシステムの正規な操作に必要な全ての特殊な機能又
は性能については，動作させて試験しなければならない。
2.6
試験に関する一般事項
試験は，適切な手順に従って実施しなければならない。
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B 3502：2011
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試験は，特に規定しない限り，表1の一般試験条件の下で実施しなければならない。
特に規定しない限り，形式試験の順序は定めない。
表1−一般試験条件
項目
試験条件
装置電源
定格電圧，定格周波数
温度
15〜35 ℃
相対湿度
≦75 %
気圧
86〜106 kPa（650〜800 mmHg）
出力負荷
定格負荷
汚損度
汚損度2
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 3501によるほか，次による。
3.1
アナログ入力（analog input）
PLCシステムにおいて，連続信号を，独立した値をもつビットバイナリ値に変換する機器。
3.2
アナログ出力（analog output）
PLCシステムからの多ビットバイナリ値を，連続信号に変換する機器。
3.3
接触可能（accessible）
正しい実装状態で，ジョイント試験指又はテストピンによって接触が可能であること（12.1.2，12.1.3及
び附属書C参照）。
3.4
基本PLC（システム）
少なくともCPU，電源及びI/Oからなる構成（図2参照）。
3.5
電池（battery）
充電可能又は充電不可能な電気化学的エネルギー源。
3.6
空間距離（clearance）
二つの導体部間の空間における最小の距離（IEC 60664-1の3.2参照）。
3.7
コーティング（coating）及び保護（protective）
プリント配線基板の空間距離及び／又は沿面距離の空間を封じ，外気を遮断し，インパルス及び連続し
た電位に耐え得る空間距離及び／又は沿面距離を確保するためにプリント配線基板を覆う適切な絶縁物の
被覆。
注記 通常，コーティングは，外気の影響を防ぎ，コーティングがない場合には，不十分な空間距離
及び／又は沿面距離の絶縁耐圧特性を強化するために適用する。不十分なコーティングは，外
気を防ぐことはあっても，絶縁特性を強化する信頼性はない。
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3.8
比較トラッキング指数［comparative tracking index (CTI)］
材料が50滴の塩化アンモニア（NH4Cl）溶液に対してトラッキングが発生しない最大電圧値（JIS C 2134
の3.5と同等）。
3.9
沿面距離（creepage distance）
二つの導電部間の絶縁固形材料の表面に沿った最短距離（IEC 60050のIEV 151-15-50）。
3.10
電流シンク（current sinking）
電流が流入すること。
3.11
電流ソース（current sourcing）
電流が流出すること。
3.12
デジタル入力，タイプ1（digital input，type 1）
リレー接点，押しボタンスイッチ，スイッチなどの機械接点をもつ機器からの信号を検出する機器。基
本的には，2値信号を単一のビットバイナリ値に変換する。
注記 タイプ1デジタル入力は，センサ，近接スイッチなどの半導体機器とともに用いることが適さ
ないこともある。
3.13
デジタル入力，タイプ2（digital input，type 2）
2線式近接スイッチなどの半導体機器からの信号を検出する機器。基本的には，2値信号を単一のビット
バイナリ値に変換する。
注記 ここで記述した2線式近接スイッチは，IEC 60947-5-2に規定している。このタイプは，タイプ
1又はタイプ3のアプリケーションにも適用できる。
3.14
デジタル入力，タイプ3（digital input，type 3）
2線式近接スイッチなどの半導体機器からの信号を検出する機器。基本的には，2値信号を単一のビット
バイナリ値に変換する。タイプ3デジタル入力は，タイプ2デジタル入力よりも低い電力特性を提供する。
注記 このタイプは，タイプ1のアプリケーションにも適用でき，一般的には，モジュール又は製品
の入力チャネル数の高密度化を可能とする。タイプ3は，オフ状態で低電流であり，IEC
60947-5-2デバイスと互換性がある点でタイプ2と異なる。動作範囲の詳細は，表8を参照。タ
イプ2に互換性がある近接スイッチの大半は，タイプ3にも互換性がある。
3.15
デジタル出力（digital output）
単一のビットバイナリ値を2値信号に変換する機器。
3.16
接地（earth）
いかなる点においても，電位が通常0とみなされる大地の導電性の部分（IEC 60050のIEV 195-01-01）。
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3.17
EMC（電磁両立性）（electromagnetic compatibility）
同一環境におけるいかなるものに対しても，耐えられないような電磁妨害を与えることなく，その電磁
環境において満足に機能するための装置又はシステムの能力（JIS C 60050-161の番号161-01-07参照）。
3.18
閉鎖形装置（enclosed equipment）
人が誤って充電部分又は可動部分に接触することを防止し，中程度の大きさの固形異物の侵入から装置
を保護し，機械的強度，難燃性及び安定性（適用可能な場合）の要求事項に合致させるために，取付面を
除く，全ての面を閉鎖した装置。保護等級は，11.1.2を参照。
3.19
きょう（筐）体（enclosure）
用途に適した保護の等級及び種別を与える収納体（IEC 60050のIEV 195-02-35）。
3.20
EUT［equipment under test］
製造業者が定義した，形式試験に用いる代表的な構成（箇条2参照）。供試品ともいう。
3.21
外部配線（external wiring）
使用者が設置するPLCシステム装置の配線。
3.22
現場配線（field wiring）
現場で施す外部配線。
3.23
機能接地導体（functional earthing conductor）
妨害イミュニティ対策の目的で，例えば，大地と電気的に接触させる導体。
3.24
ハンドヘルド形装置（hand-held equipment）
片手に持ち，もう一方の手で操作できる装置。
3.25
危険状態（hazardous live）
通常使用及び単一故障状態において，感電又は電気熱傷を生じる状態。
注記 通常状態で適用する値は11.2.1.1を参照し，単一故障状態で適用する値は11.2.1.2を参照する。
3.26
イミュニティ（妨害に対する）［immunity (to disturbance)］
電磁妨害が発生する環境において，機器，装置又はシステムが，能力を減じることなく機能する能力（JIS
C 60050-161の番号161-01-20参照）。
注記 この規格においては，EMCだけに対して用いる用語ではなく，例えば，振動，湿度などに引用
してもよい。
3.27
イミュニティ（形式）試験［immunity type test (immunity test)］
通常の稼動条件を模して定めた特定の作用を与える物理量を一定量与えても，基本PLCシステムの動作
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が変化しないことを検証する形式試験。
3.28
絶縁材料（insulation）
機器の導電部を絶縁するために用いる全ての材料及び部品（IEC 60050のIEV 151-15-41）。次に，関連
事項を示す。
− 絶縁材料は，固体，液体，気体（例えば，空気）又はそれらの任意の組合せのいずれでもよい（IEC 60050
のIEV 151-03-30）。
− 絶縁（insulate） 分離した導体間の導通を防止すること（IEC 60050のIEV 151-03-28）。
− 絶縁（isolate） 装置又は回路を，ほかの装置又は回路から確実に非接続状態にすること。いかなる
充電回路に対しても，指定する保護の等級を（分離することによって）満足させること（IEC 60050
のIEV 151-03-29）。
3.29
基礎絶縁（basic insulation）
基本的な保護を行う危険充電部の絶縁（IEC 60050のIEV 195-06-06）。
注記 この概念は，機能を目的とする絶縁以外にも適用する。
3.30
付加絶縁（supplementary insulation）
保護が損なわれた場合に備えて，基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁（IEC 60050のIEV 195-06-07）。
3.31
二重絶縁（double insulation）
基礎絶縁及び付加絶縁の両方からなる絶縁（IEC 60050のIEV 195-06-08）。
3.32
強化絶縁（reinforced insulation）
感電に対して，二重絶縁と同等の保護の等級を満足させる危険充電部の絶縁（IEC 60050のIEV
195-06-09）。
注記 強化絶縁は，基礎絶縁又は付加絶縁として個別に試験できない複数の層で構成することができ
る。
3.33
インタフェース（interface）
情報又は電気エネルギーを受け渡す，あるシステムと別のシステムとの間，又はシステムの部分間が共
有する境界。
3.34
内部配線（internal wiring）
製造業者によって設置する，PLCシステム装置内部の配線。
3.35
絶縁された（装置，回路）［isolated (devices，circuit)］
電気的結合がない装置及び回路。
3.36
充電部分（live part）
通常動作時に電圧を印加する導体又は導電性部分。中性点導体は含むが，一般的には，PEN導体，PEM
14
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
導体又はPEL導体は含まない。
注記 この概念は，感電の危険に対しては適用する必要がない（IEC 60050のIEV 195-02-19）。
1) PEN導体 中性点導体と保護接地導体とを接続する機能導体（IEC 60050のIEV 195-02-12）。
2) PEM導体 中間点導体と保護接地導体とを接続する機能導体（IEC 60050のIEV 195-02-13）。
3) PEL導体 ライン導体と保護接地導体とを接続する機能導体（IEC 60050のIEV 195-02-14）。
3.37
材料グループ（material group）
トラッキング指数（CTI）区分による絶縁材料の分類（11.4.3参照）。
3.38
ミクロ環境（micro-environment）
着目する沿面距離又は空間距離を取り囲む周囲状態。
注記 装置の環境ではなく，沿面距離及び空間距離のミクロ環境が絶縁効果を決定する。ミクロ環境
は，装置の環境よりもよい場合もあるし，悪い場合もある。これには，環境，電磁気，汚損な
どの絶縁に影響を及ぼす全ての要因を含む（IEC 60664-1参照）。
3.39
モジュール（module）
バックプレーン又はベースに装着し，明確な機能（MPU，アナログ入力など）をもつPLCシステムの一
部。
3.40
多チャネルモジュール（マルチチャネルモジュール）（multi-channel module）
複数の入力及び／又は出力の信号インタフェースを含むモジュール。これらの信号インタフェースは，
互いに絶縁している場合も絶縁していない場合もある。
3.41
通常操作（normal use）
運用のための指示，又は意図した明確な目的に沿った指示による操作。待機も含む。
注記 通常稼動状態については，箇条4参照。
3.42
通常状態（normal condition）
全ての保護手段を損なっていない状態。無欠陥状態ともいう。
3.43
開放形装置（open equipment）
CPUのように充電部分が接触可能な状態にある機器。開放形装置は，安全を確保するために作った機器
に組み込むことが望ましい。
3.44
操作者（operator）
PLCに接続したHMIによって，機械又はプロセスに対して指示及び監視する人。操作者は，PLCハー
ドウェア構成，ソフトウェア又はアプリケーションプログラムの変更は行わない。PLCは，教育を受けて
いない人が用いることを意図していない。操作者は，工業環境での一般的な危険に関しては，認識してい
ることが想定されている。
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B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.45
過電圧カテゴリ（回路又は電気システムに対する）（overvoltage category）
回路内（又は異なる公称電圧をもつ電気システム内）で発生し得る一時的な過電圧値を，制限又は制御
する数値を基準にした種別。過電圧による影響を打ち消す手段に依存する（IEC 60664-1の3.10と同等）。
注記1 電気システムにおいて，ある過電圧カテゴリからより低いカテゴリへの移行は，インタフェ
ースの要求に合致した的確な手段によって得られる。このインタフェースが要求するものは，
サージ電流エネルギーの拡散，吸収又は転換を行う機能をもつ過電圧保護素子又は直列シャ
ント抵抗配列である。また，それらは，低いほうの過電圧カテゴリで規定する過渡的な過電
圧値まで，過渡的過電圧を下げなければならない。
注記2 この規格に規定する過電圧カテゴリIIでの使用を想定している。
3.46
常設設備（permanent installation）
意図したアプリケーションの機能を実行するために必要なPLCシステムの一部。
注記 附属書A参照。
3.47
汚損度（ミクロ環境における）（pollution degree）
空間距離及び沿面距離を評価する目的のために，ミクロ環境における3.48〜3.50の汚染の程度を規定す
る。
注記1 汚染された絶縁の導電性は，異物の付着及び湿気による。
注記2 汚損度2及び3で決められる最小空間距離は，基礎データよりも経験による。
3.48
汚損度1（pollution degree 1）
汚染なし又は乾燥しているだけで，導電性の汚染がない状態。汚染は，絶縁に影響しない。
3.49
汚損度2（pollution degree 2）
通常，導電性の汚染がない状態。しかし，場合によっては，結露で一時的な導電性が発生し得る状態。
3.50
汚損度3（pollution degree 3）
導電性汚染がある状態，又は結露によって導電性をもつようになる乾燥した非導電性汚染がある状態。
3.51
ポート（port）
電源若しくは信号を入出力する場所，又は機器若しくはネットワークにおいて観測若しくは測定する場
所（IEC 60050のIEV 131-12-60）。
注記 一般にEMC関連でよく用いる。
3.52
可搬形装置（portable equipment）
操作中又は給電のために接続されたままで移動可能な閉鎖形装置。
注記 プログラミングツール（PDAT）及び試験装置（TE）がこれに当たる。
3.53
保護導体（protective conductor）
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B 3502：2011
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安全，例えば，感電に対する保護のために用意した導体（IEC 60050のIEV 195-02-09）。
3.54
保護超低電圧（PELV）回路（protective extra-low voltage circuit）
通常状態及び単一故障状態において，回路の電圧がAC 30 V（実効値），42.4 V（ピーク値）又はDC 60 V
以下の回路。ただし，ほかの回路の接地故障状態は除く。
PELV回路は，保護接地に接続されたSELV回路と同等である。
3.55
保護インピーダンス（protective impedance）
危険充電部と部分接触可能導体とを接続した場合に，通常状態時及び単一故障状態時において，この規
格の要求する保護を実現する，次のものによって構成されるインピーダンス。
− 無故障と認められる単一構成要素
− 部品の結合体
− 基礎絶縁と電流制限デバイス又は電圧制限デバイスとの集合体
− インピーダンス
− 構造
− 信頼性
3.56
公衆電源（public mains）
建屋内の常設設備の主幹線からの電源。
3.57
繰返しピーク電圧（recurring peak voltage）
ある一定周期で繰返し発生する電圧のピーク電圧。
3.58
定常試験（routine test）
各個別の機器が，ある基準に合致しているかを確認するために，製造中又は製造後に実施する試験（IEC
60050のIEV 151-16-17）。
3.59
安全超低電圧（SELV）回路（safety extra-low voltage circuit）
通常状態及び単一故障状態において，回路の電圧がAC 30 V（実効値），42.4 V（ピーク値）又はDC 60 V
以下の回路。ほかの回路の接地故障を含む。
SELV回路は，保護接地には接続しない。
3.60
保全者（service personnel）
PLCのハードウェア構成又はアプリケーションプログラムを変更若しくは修理する人。
保全者は，製造業者が提供する改定版ソフトウェアを実装してもよい。保全者は，プログラム作成並び
にPLC装置の操作及び使用に関して教育を受けていることを想定している。
保全者は，業務遂行上，遭遇し得る危険（特に，電気的な危険），及び自分自身又は第三者若しくは装置
に与える危険を最小化する方策を認識するのに必要な適切な技術的教育を受けた人であり，それらの経験
をもった人である。
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B 3502：2011
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3.61
全出力電流（一つの出力モジュールに対して）（total output current）
多チャネルモジュールで，通常の稼動条件における最も過酷な組合せで動作させても，絶縁，端子，露
出した導電性部などのいずれの部分も，規定の温度制限以下で供給可能な電流値。
注記 一般に，多チャネルモジュールでは，全出力電流はチャネルごとの出力電流の合計よりも小さ
い。
3.62
形式試験（type test）
意図した仕様を満足していることを確認するために，1台以上の機器に対して行う試験（IEC 60050の
IEV 151-16-16）。
3.63
ユニット（unit）
常設のユニットに対してはケーブルで，可搬形ユニットに対してはケーブル又はほかの手段によって，
システム内のほかのユニットと接続する集合体（この集合体は，装着するか又は別の方法で集合体に接続
したモジュールで構成してもよい。）。
3.64
耐力（形式）試験［withstand type test (withstand test)］
より深刻な影響をもたらす一定量の物理量を作用させて，PLCシステムの正規の機能を遂行するための
能力を損なわないことを検証する形式試験。
3.65
動作電圧（working voltage）
機器に定格電圧（Ue）を供給したときに，個々の絶縁部に印加する交流（実効値）又は直流の最高電圧
値。次に，関連事項を示す。
− 過渡状態は，考慮しない。
− 開回路状態及び通常動作状態の両状態を考慮する。
4
通常の稼動条件及び要求事項
通常の稼動条件では，機器の稼動条件を超えないように用いることが，使用者の責任である。PLC及び
PLCシステムは，工業環境で用いることを意図している。
使用者は，この規格で規定する環境条件を満足する設置環境にしなければならない。
4.1
環境条件及び要求事項
4.1.1
動作周囲温度
装置は，表2に示す動作周囲温度に適合しなければならない。
表2−PLCシステムの動作周囲温度
単位 ℃
閉鎖形装置
開放形装置
動作周囲温度
範囲
最高
40
55
最低
5
5
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
自然対流による非換気方式の装置においては，きょう体の垂直中央を通る水平面上で，きょう体から50
mm以内の1点での温度を動作周囲温度とする。
換気を行う装置においては，周囲温度は，装置の空気流入面から50 mm以内の1点での流入空気温度を
動作周囲温度とする。
強制外部空冷は想定しない。PLCシステムの一部として常設される開放形周辺装置は，PLCの動作周囲
温度範囲を満足しなければならない。ほかの装置（例えば，盤面に取り付けたHMIなど）は，開放形及び
閉鎖形装置の組合せ特性を適用する。
この要求事項は，6.1.1及び6.1.2に基づいて検証する。
4.1.2
相対湿度
装置は，結露なしで，10〜95 %の相対湿度に適合しなければならない。
この要求事項は，6.1.3に基づいて検証する。
4.1.3
高度
装置は，標高2 000 mまでの運用に適合しなければならない。
検証試験は不要である。
4.1.4
汚損度
製造業者による特別な指定がない限り，装置は，汚損度2での使用を想定して設計する。
4.2
機械的な稼動条件及び要求事項
振動，衝撃及び自然落下の条件は，設置状態及び環境によって幅広く変化するため，機械的な稼動条件
を規定するのは困難である。
こん（梱）包を解いた状態の携帯形及びハンドヘルド形装置と同様に，固定装置に適用する次の要求事
項で間接的に機械的な稼動条件を規定する（例外については，4.2.2を参照。）。これらは，PLCシステム及
び関連周辺装置だけに適用する。
これらの要求事項に適合する機器装置は，工業環境での固定設置に適していることが経験的に分かって
いる。固定装置は，常設の設備の一部である。
4.2.1
振動
イミュニティ要求事項は，表3による。
表3−PLCシステムに対する正弦波振動の稼動条件
周波数範囲a)
Hz
連続的な振動を受ける場合b)
断続的な振動を受ける場合b)
5≦f＜8.4
定振幅 1.75 mm
定振幅 3.5 mm
8.4≦f≦150
定加速度 4.9 m/s2
定加速度 9.8 m/s2
注記 Gpeak＝9.8×0.004 024 f 2Dpeak
ここに，Gpeak ：重力加速度（ピーク値）（m/s2）
f
：周波数（Hz）
Dpeak ：振幅（ピーク値）（mm）
注a) クロスオーバ周波数（約8.4 Hz）は，定振幅から定加速度による振動へ滑らかに移行す
るように調整しなければならない。
b) 数値は，ピーク値を示す。
振動は，相互に直交する3軸方向の各々に適用する。
製造業者は，携帯形及びハンドヘルド形周辺装置の取付方法を指定する。
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この要求事項は，6.3.1に基づいて検証する。
4.2.2
衝撃
イミュニティ要求事項は，次による。
加える衝撃は，相互に直交する3軸方向の各々において，147 m/s2，11 ms，正弦波パルスである。
CRTを組み込んだ機器は，この要求事項から除外する。
有接点リレーは，147 m/s2の衝撃に一時的に応動しても差し支えない。試験中の一時的な誤動作は許容
するが，装置は試験後，全ての機能が動作しなければならない。
この要求事項は，6.3.2に基づいて検証する。
4.2.3
自然落下（携帯形及びハンドヘルド形装置）
自然落下に対するイミュニティ要求事項は，表4による。
表4−堅固な面への自然落下（携帯形及びハンドヘルド形装置）
携帯形及びハンドヘルド形
（質量によらない。）
耐力試験
ハンドへルド形
（質量によらない。）
イミュニティ試験
規定項目
ランダム落下
−
1 000 mm 2回
a) b) c)
水平落下
100 mm 2回
−
a) c)
支持落下
30°又は100 mm 2回
−
a) c) d)
注a) 衝撃時の一時的な誤動作は許容するが，試験後は全ての機能が動作し，衝撃による致命
的な故障があってはならない。したがって，落下中に装置が動作し，衝撃によって誤動
作した場合には，修正操作を必要としてもよい。
b) 表18で規定している姿勢（通常の使用位置）からの落下。
c) ランダム落下は，任意の辺，面又は角からの落下である。水平落下は，面からの落下で
ある。支持落下は，辺からの落下である。
d) 表18参照。
この要求事項は，6.3.3に基づいて検証する。
4.3
輸送及び保管条件並びに要求事項
次の要求事項は，製造業者が出荷こん包したモジュールに適用する。こん包していない携帯形装置の輸
送及び保管は，4.2の要求事項に適合しなければならない。
特定の制限条件がある部品（CMOS部品，電池など）を装置が含む場合には，製造業者が定めた輸送及
び保管の手段に従わなければならない。
4.3.1
温度
許容温度範囲は，−40〜＋70 ℃である。−25〜＋70 ℃も許容するが，将来の設計では推奨しない。
この要求事項は，6.1.1に基づいて検証する。
4.3.2
相対湿度
相対湿度は，10〜95 %（結露なし）である。
この要求事項は，6.1.3に基づいて検証する。
4.3.3
高度
輸送時の気圧の仕様は，標高0〜3 000 mと同等（最低70 kPa）でなければならない。
検証試験は不要である。
4.3.4
自然落下（製造業者の出荷こん包状態でのPLCユニット）
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製造業者の出荷こん包によるユニットの耐久要求事項は，表5による。試験後，全ての機能を満足し，
物理的な損傷の形跡があってはならない。
表5−製造業者の出荷こん包状態での堅固な面への自然落下
出荷こん包状態での質量
kg
ランダム落下高さ
mm
試行回数
回
出荷こん包状態
製品こん包状態
＜10
1 000
300
5
10〜40
500
300
5
＞40
250
250
5
この要求事項は，6.3.4に基づいて検証する。
4.3.5
その他の条件
この規格に規定していない機械的条件に対しては，受渡当事者間の協定による。この協定に，極低温で
の保管，より高い高度での標高輸送などの項目を含めてもよい。
4.4
電気的稼動条件及び要求事項
4.4.1
交流・直流の装置電源
5.1.1参照。
4.4.2
過電圧カテゴリ及び過渡的な過電圧の抑制
使用者は，設置の状態が過電圧カテゴリIIの条件の範囲内でなければならない。
装置電源の接続部における過渡的な過電圧は，過電圧カテゴリIIの条件の範囲内となるように，使用者
が抑制しなければならない。すなわち，過渡的な過電圧が，基礎絶縁のための定格電圧に対応するインパ
ルス電圧以下でなければならない。装置又は過渡的な過電圧を抑制する手段が，過渡的なエネルギーを吸
収できるようにしなければならない。
4.4.3
非周期的な過電圧
工場環境における非周期的な過電圧のピークは，高エネルギー装置の電力遮断の結果（例えば，三相シ
ステムの一相のヒューズ溶断）として装置電源の電源ラインに現れる。この結果，比較的低い電圧（装置
電源電圧の約2倍のピーク電圧）の高電流パルスを発生する。使用者は，PLCシステムの損傷を防ぐため，
例えば，変圧器の設置などの必要な処置を施さなければならない。
4.5
特殊稼動条件及び要求事項
稼動条件が4.1，4.2，4.3及び4.4の規定より厳しいとき，又はちり，ほこり，煙，腐食性粒子，放射性
粒子，蒸気若しくは塩分による空気汚染，菌類，虫若しくは小動物によって被害が生じるおそれなど，劣
悪な環境条件があるときには，受渡当事者間の協定による。
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5
機能に関する要求事項
代表的なPLCシステム及びインタフェースは，図2による。
注記 Al ：ローカル拡張ラック用インタフェース
Ar ：リモート入出力局制御フィールドバス用インタフェース
Be ：オープン通信インタフェース，及び第三者の装置との通信インタフェース
Bi ：周辺装置用の内部通信インタフェース
C ：デジタル及びアナログ入力信号とのインタフェース
D ：デジタル及びアナログ出力信号とのインタフェース
E ：第三者装置とのデータ通信用のシリアル又はパラレル通信インタフェース
F ：装置電源とのインタフェース
装置電源は，電源投入，電源遮断及び瞬時停電の間，下流の装置を有効にしておかなければならない。
G ：保護接地とのインタフェース
H ：機能接地とのインタフェース
J ：I/O電源とのインタフェース
K ：補助電源出力用インタフェース
図2−PLCシステムの代表的なインタフェース構成
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5.1
電源供給及びメモリバックアップ機能に関する要求事項
5.1.1
交流及び直流の電源供給
この要求事項は，6.4.1，6.4.2及び6.4.3に基づいて検証する。
5.1.1.1
定格値及び動作範囲
PLCシステム及び入出力モジュールへの外部供給電源の種類は，表6による。この要求事項は，6.4.1に
基づいて検証する。
表6−外部供給電源の定格及び動作範囲
電圧
周波数
推奨使用
注記b)
定格
（Ue）
許容範囲
（最小又は最大）
定格
（Fn）
許容範囲
（最小又は最大）
供給電源
入出力信号a)
DC 24 V
＋20 %
−15 %
−
−
○
○
c)
DC 48 V
○
○
c) d)
DC 125 V
−
−
−
AC 24 V
＋10 %
−15 %
50 Hz又は
60 Hz
＋4 %
−6 %
−
−
e)
AC 48 V
−
−
e)
AC 100 V
○
○
−
AC 110 V
○
○
−
AC 120 V
○
○
e)
AC 200 V
○
○
−
AC 230 V
○
○
e)
AC 240 V
○
○
−
AC 400 V
○
−
e) f)
注a) アナログ入出力への供給電源については，7.10.3の項目5及び7.11.3の項目3を参照。
b) 表8に記載以外の定格電圧の許容範囲については，この表及び注c)を適用する。これらの電圧範囲は，附
属書Bの計算式によって，表8の入力限界を算出するために用いる。
c) 電圧許容範囲に加えて，定格電圧の5 %のピーク値をもつAC成分は許容する。
この場合，絶対定格は，DC 24 VでDC 19.2〜30 V，DC 48 VでDC 38.4〜60 Vとする。
d) タイプ2のデジタル入力を外部供給電源として用いる場合は，表8の注g)を参照。
e) これらの定格電圧は，IEC 60038による。
f) 三相電源供給
5.1.1.2
電圧高調波
交流電圧は，装置への入力点で測定した合計実効値（r.m.s）を意味する。
公称周波数の10次未満の高調波成分（公称周波数の整数倍）の合計実効値（r.m.s）は，測定した電圧の
10 %に及ぶことがある。
10次以上の高調波成分の影響は，測定した電圧の約2 %になることがあるが，一定の比較結果を得るた
めに，位相角0°及び180°における10 %の第3高調波分だけで装置を試験する。
エネルギー源の出力インピーダンスがPLCシステムの電源装置の入力インピーダンスより相対的に高
いとき，PLCシステムに供給する電源の高調波成分に影響を及ぼす。PLCシステム用としてインバータの
ような専用電源の仕様を決めるときは，受渡当事者間の協定が必要である。電源ラインコンディショナ（ア
クティブフィルタなど）の使用を考慮することが望ましい（IEC/TR 61131-4参照）。
この要求事項は，6.4.1.2に基づいて検証する。
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5.1.1.3
瞬時停電
次の制限は，装置電源供給端子（図2のF端子）に適用する。
表7に規定するように電源に対する短時間の電源障害に対し，PLCシステム［RIOS（5.6参照），非恒久
的に設置した周辺機器を含む。］は，正常動作を継続しなければならない。
より長い時間の電源停止に対しては，PLCシステムは，正常動作を継続するか，又は電源が正常に戻る
まであらかじめ設定した状態に遷移し，明確に規定された動作を継続しなければならない。
注記 同一の電源で駆動する出力及び高速応答入力は，これら電源の変動の影響を受ける可能性があ
る。
この項の要求事項は，6.4.2.3に基づいて検証する。
表7−瞬時停電（機能要求）
電源タイプa)
電源条件の厳しさレベルb) c)
最大電源停止時間
Ue minからUeに対する% d)
DC
PS1
1 ms
0 %
DC
PS2
10 ms
0 %
AC
PS2
0.5周期e)
0 %
注a) 電源電圧低下は，Ue minからの低下とする。
b) PS1は，バッテリから電源供給するPLCシステムに適用。
c) PS2は，AC電源，ACから平滑した電源及びDC電源から電源供給するPLCシステムに適用。
d) Ue minは，表6の許容範囲の最小電圧値。
e) 任意位相角度で Fn＝50又は60 Hz（6.4.2.3参照）。
5.1.2
メモリバックアップ
揮発性メモリのバックアップは，メモリバックアップ用電源が定格容量状態（交換を必要とする電源の
場合，定格容量とは，指示した交換の方法及び期間を満たしている場合の容量）において，通常の稼動条
件のもとで，少なくとも300時間，25 ℃以下では1 000時間，メモリの内容を保持するものでなければな
らない。
上記と異なる場合，製造業者は，揮発性メモリのバックアップ時間を指定しなければならない。
バックアップ用電源は，メモリの内容を失うことなく交換又は回復が可能でなければならない［4.3，7.6
h) 及び7.13 d) 参照］。
メモリのバックアップを電池で行う場合は，電池電圧低下のアラームを設けなければならない。
この要求事項は，6.4.4に基づいて検証する。
5.2
デジタル入出力
デジタル入力の形式には，電流シンク入力及び電流ソース入力があり，また，デジタル出力の形式には，
電流シンク出力及び電流ソース出力がある。デジタル入出力の組合せの例は，図3及び図3A〜図3Cによ
る。
24
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図中の記号の意味は，次のとおりである。
C ：出力スイッチ
有接点又は無接点，例えば，リレー接点，トライアック，トランジスタなど。
Z ：入力
入力インピーダンス
PS ：外部電源
注記 アプリケーションによっては，外部電源（PS）のコモンは，入力，出力及びPLCシステムに共通であってもよ
い。
図3−電流シンク入力・電流ソース出力
図3A−電流ソース入力・電流シンク出力
デジタル入出力は，次の要求事項を満たさなければならない。
a) PLCシステムは，5.2.1，5.2.2及び5.2.3で定義している中から少なくとも一つの入力インタフェース
及び少なくとも一つの出力インタフェースを備えていなければならない。
b) デジタル入力は，5.2.1に示す標準電圧に対応した諸定格の要求を満たさなければならない。標準電圧
外のデジタル入力は，附属書Bに示す計算式に従わなければならない。
c) デジタル出力は，交流に対しては5.2.2.1，また，直流に対しては5.2.3.1に示す標準電流に対応した諸
定格の要求を満たさなければならない。
d) PLCシステムにおいては，出力を入力に接続する場合があるので，デジタル入出力の形式を正しく選
択することによって，入力と出力とを相互接続できなければならない。外部負荷の追加が必要な場合
は，製造業者がそれを指定しなければならない。
25
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e) 交流入力のマルチサーキットモジュールは，異なる位相からの信号入力が可能であり，この場合モジ
ュールは，チャネル間で生じ得る最大電位差に対応しなければならない。異なる位相からの信号入力
が不可能な場合は，製造業者は，取扱説明書に“全てのチャネルは，同じ位相から供給する”ことを
記載しなければならない。
f)
複数の異なる位相の電源が使用可能な場合には，交流入出力のマルチチャネルモジュールは，チャネ
ル間電圧に応じた空間距離及び沿面距離の要求事項，並びに絶縁耐力試験に適合しなければならない。
この規格で規定していないインタフェース，すなわち，TTL，CMOS回路などのインタフェースをもっ
たPLCシステムの場合は，製造業者は，適切な情報を全て使用者に提供しなければならない。
図3Bの電流シンク入力・電流ソース出力において，入力信号が断線又はコモンと短絡［外部電源（PS）
を接地している場合は地絡］した場合，入力信号は“OFF状態”となる。また，出力信号が断線又は外部
電源（PS）の接地側と短絡（地絡）した場合，負荷は“OFF状態”となる。一方，図3Cの電流ソース入
力・電流シンク出力において，外部電源（PS）を接地している場合，入力信号線の地絡は入力信号の“ON
状態”，また，出力信号線の地絡は負荷の“ON状態”となり，適用に当たっては，外部電源を非接地にす
るなどの配慮をしなければならない。
図3B−電流シンク入力・電流ソース出力のときの短絡−断線状態
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B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図3C−電流ソース入力・電流シンク出力のときの地絡状態
5.2.1
デジタル入力
この要求事項は，6.5.2に基づいて検証する。
5.2.1.1
電圧・電流動作領域
入力回路の電圧・電流動作領域は，図4による。動作領域は“ON領域”，“遷移領域”及び“OFF領域”
からなる。“OFF領域”から“遷移領域”に入るためには，UT min及びIT minの両方を超えなければならず，
また，“遷移領域”から“ON領域”に入るためには，IH min及びUH minの両方を超えなければならない。全
ての入力の電圧・電流特性は，これらの境界条件を満足しなければならない。0 V以下の領域は，直流入
力だけに適用する“OFF領域”の一部とする。
27
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
UH max及びUH minは，ON領域（状態1）に対する電圧限界。
IH max及びIH minは，ON領域（状態1）に対する電流限界。
UT max及びUT minは，遷移領域（ON又はOFF）の電圧限界。
IT max及びIT minは，遷移領域（ON又はOFF）の電流限界。
UL max及びUL minは，OFF領域（状態0）に対する電圧限界。
IL max及びIL minは，OFF領域（状態0）に対する電流限界。
UL maxは，IT min以下ではUH minと等しく，IT min以上ではUT minに等しい。
Ue，Ue max及びUe minは，外部電源電圧の定格電圧及びその限界。
注記1 状態1はON領域を示し，状態0はOFF領域を示す。
注記2 この図は，コモンに対するシンク入力の電圧及び電流を示すものであり，ソース入力の場合は，電圧及び電
流の極性を反転させてこの図を用いる。
図4−電流入力の電圧・電流動作領域
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B 3502：2011
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5.2.1.2
デジタル入力の標準動作範囲
デジタル入力は，表8に示す限界内で動作しなければならない。
表8−デジタル入力の標準動作範囲a)
定格
電圧
Ue b)
定格
周波数
Fn
(Hz)
限界
種別
タイプ1限界値c)
タイプ2限界値c)
タイプ3限界値c)
注記
状態0
遷移
状態1
状態0
遷移
状態1
状態0
遷移
状態1
UL
(V)
IL
(mA)
UT
(V)
IT
(mA)
UH
(V)
IH
(mA)
UL
(V)
IL
(mA)
UT
(V)
IT
(mA)
UH
(V)
IH
(mA)
UL
(V)
IL
(mA)
UT
(V)
IT
(mA)
UH
(V)
IH
(mA)
DC 24 V
−
最大 15/5 15
15
15
30
15 11/5 30
11
30
30
30 11/5 15
11
15
30
15
d) e)
最小 −3 ND
5
0.5
15
2
−3 ND
5
2
11
6
−3 ND
5
1.5
11
2
f) g)
DC 48 V
−
最大 34/10 15
34
15
60
15 30/10 30
30
30
60
30 30/10 15
30
15
60
15
d) e)
最小 −6 ND 10
0.5
34
2
−6 ND 10
2
30
6
−6 ND 10
1.5
30
2
f)
AC 24 V 50/60 最大 14/5 15
14
15
27
15 10/5 30
10
30
27
30 10/5 15
10
15
27
15
d) h)
最小 0
0
5
1
14
2
0
0
5
4
10
6
0
0
5
2
10
5
AC 48 V 50/60 最大 34/10 15
34
15
53
15 29/10 30
29
30
53
30 30/10 15
30
15
53
15
d) h)
最小 0
0
10
1
34
2
0
0
10
4
29
6
0
0
10
2
30
5
AC 100 V
AC 110 V
AC 120 V
50/60
最大 79/20 15
79
15
1.1
Ue
15 74/20 30
74
30
1.1
Ue
30 74/20 15
74
15
1.1
Ue
15
d) f)
最小 0
0
20
1
79
2
0
0
20
4
74
6
0
0
20
2.5
74
5
h) i)
AC 200 V
AC 230 V
AC 240 V
50/60
最大 164/
40
15 164 15
1.1
Ue
15 159/
40
30 159 30
1.1
Ue
30 159/
40
15 159 15
1.1
Ue
15
d) f)
最小 0
0
40
2
164
3
0
0
40
5
159
7
0
0
40
2.5 159
5
h) i)
ND：定義なし
“/”は，“又は”を示す。
注記 JIS C 8201-5-2の近接スイッチは，タイプ2に適合し得る。この表の注h)も参照。
注a) この表は，コモンに対するシンク入力の電圧及び電流を示すものであり，ソース入力の場合は，電圧及び電流の極
性を反転させて，この表を用いる。
b) この表に記載のないDC 12 V，DC 110 V，AC 220 Vなどについては，附属書Bで算出する。
c) 定義は，3.12，3.13及び3.14参照。
d) 全ての論理信号は正論理。入力オープンは，状態0として解釈する。この表の数値を算出するために用いた計算式
及び前提条件並びに追加コメントについては，附属書B参照。
e) 電圧限界値は，交流成分を含む。
f) 一般使用及び新規設計に推奨する。
g) 2線式近接スイッチに接続するタイプ2のDC 24 V外部電源電圧の最低値はDC 20 V以上，又は十分な安全余裕を
確保するために，UH minはDC 11 V未満でなければならない。
h) 無接点スイッチは，入力信号の高調波の合計実効値（r.m.s.）に影響を与える。このため，特に，タイプ2のAC 24
Vにおいて近接スイッチと直接接続する場合の互換性に影響を与えることがあるので，その要求事項については
5.1.1.1参照。
i) 通常用いられている複数の定格電圧を一種類の入力モジュールで共用することを促すため，限界値は，絶対値で示
す。限界値の計算は，附属書B参照。
5.2.1.3
追加要求事項
各入力チャネルは，入力状態1のときに点灯するランプ又は同等の手段をもっていなければならない。
5.2.2
デジタル交流出力
この要求事項は，6.5.3に基づいて検証する。
29
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5.2.2.1
定格値及び動作範囲（交流）
デジタル交流出力は，5.1.1.1によって製造業者が定めた出力電圧において，表9及び図5に示す定格値
を満足しなければならない。
表9−デジタル交流出力の定格値及び動作範囲
定格電流（状態1）
Ie
（A）
0.25
0.5
1
2
注記
状態1に対する電流範囲
（最大電圧における連続定格値）
最小 （mA）
10 (5)
20
100
100
a) b)
最大 （A）
0.28
0.55
1.1
2.2
a)
出力電圧降下 Ud
（状態1）
保護なし出力
最大 （V）
3
3
3
3
a)
保護付及び短絡
保護付出力
最大 （V）
5
5
5
5
a)
漏れ電流
（状態0）
半導体出力
最大 （mA）
5 (3)
10
10
10
a) b) c)
接点出力
最大 （mA）
2.5
2.5
2.5
2.5
a) c)
一時的な過負荷の繰返し頻度
（図5参照）
半導体出力
最大
（s）
1
2
2
2
−
接点出力
最大
（s）
10
10
10
10
−
注a) 電流及び電圧は，実効値とする。
b) 括弧内の数値は，RC回路又は同等のサージ抑制回路によって保護されていないモジュールに適用する。ほか
の全ての数値は，サージ抑制回路付きのモジュールに適用する。
c) 漏れ電流が3 mAを超える半導体出力は，タイプ2のデジタル入力を駆動するための追加外部負荷を必要とす
る。
Ie：
定格電流
t1：
定格電源周波数の2サイクル
t2：
ON時間
t3 - t2： OFF時間（OFF時間＝ON時間）
t3：
動作周期
図5−交流出力の一時的な過負荷の波形
30
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5.2.2.2
追加要求事項
5.2.2.2.1
出力表示器
各出力チャネルには，出力状態1のとき点灯するランプ又は同等の手段をもたなければならない。
5.2.2.2.2
保護付出力
製造業者が保護付出力と定めた出力は，次の条件を満たさなければならない。
a) 定格電流（Ie）の1.1倍以上の定常負荷電流に耐えなければならない，及び／又は保護素子によって出
力を保護しなければならない。
b) 保護素子だけをリセット又は交換することによって，PLCシステムは，正常動作に戻らなければなら
ない。
c) 任意選択機能としての再始動の能力は，次の三つの形式から選択することができる。
1) 自動再始動保護付出力 過負荷がなくなると自動的に復帰する保護付出力。
2) 信号制御再始動保護付出力 遠隔操作信号などによって復帰する保護付出力。
3) 手動再始動保護付出力 人的操作によって復帰する保護付出力（保護は，ヒューズ，電気的インタ
ロックなどでよい。）。
この要求事項は，6.5.3.2に基づいて検証する。
注記1 長時間の過負荷状態は，モジュールの動作寿命に影響を与える場合がある。
注記2 保護付出力は，外部配線を保護する必要はない。必要に応じて使用者の責任で外部配線の保
護を施す。
5.2.2.2.3
短絡保護付出力
製造業者が短絡保護付出力と定めた出力については，次の条件を満足しなければならない。
a) 許容最大負荷電流を超える定格値（Ie）の2倍までの出力電流に対して正常に動作し，また，一時的
な過負荷に対しても耐えなければならない。製造業者は，そのような一時的な過負荷を定めなければ
ならない。
b) 出力電流が定格値の20倍になる前に保護素子は動作しなければならない。その保護素子だけをリセッ
ト又は交換することによって，PLCシステムは，正常動作に復帰しなければならない。
c) 定格値の2倍から20倍の出力電流又は製造業者が定めた限度a) を超える一時的な過負荷に対しては，
そのモジュールの修理又は交換が必要になる場合がある。
これらの要求事項は，6.5.3.2に基づいて検証する。
5.2.2.2.4
保護なし出力
製造業者が保護なし出力と定めた出力については，製造業者が準備又は指定した保護素子を付加した場
合，5.2.2.2.3の全ての要求事項を満足しなければならない。
5.2.2.2.5
有接点リレー出力
有接点リレー出力は，開閉素子の使用負荷種別 AC-15（寿命クラス0.3）（JIS C 8201-5-1参照）の場合，
少なくとも30万回の電気的寿命が必要である。
注記 そのリレーがJIS C 8201-5-1の要求を満たしている場合には，形式試験は必要としない。
5.2.3
デジタル直流出力
この要求事項は，6.5.3に基づいて検証する。
31
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5.2.3.1
定格値及び動作範囲（直流）
デジタル直流出力は，5.1.1.1によって製造業者が定めた出力電圧において，表10及び図6に示す定格値
を満足しなければならない。
表10−デジタル直流出力の定格値及び動作範囲
定格電流（状態1）
Ie （A）
0.1
0.25
0.5
1
2
注記
最大電圧における連続電流（状態1） 最大（A）
0.12
0.3
0.6
1.2
2.4
−
出力電圧降下 Ud
（状態1）
保護なし出力
最大（V）
3
3
3
3
3
−
保護付及び短絡
保護付出力
最大（V）
3
3
3
3
3
a)
漏れ電流（状態0）
最大（mA）
0.1
0.5
0.5
1
1
b) c)
一時的な過負荷
最大（A）
図6参照，又は製造業者の仕様による。
−
注a) 1 A及び2 A定格の逆極性電圧印加保護付出力の場合，電圧降下は，5 Vまで許容する。したがって，同一電
圧定格のタイプ1入力とは接続できない。
b) 外部負荷を追加しないで，DC入力とDC出力とを直接接続して用いることができるかどうかは，次の表によ
る。
定格出力電流 Ie（A）
0.1
0.25
0.5
1
2
タイプ1入力
可
可
可
不可
不可
タイプ2入力
可
可
可
可
可
タイプ3入力
可
可
可
可
可
c) 適切な外部負荷を接続した場合，全てのDC出力は，タイプ1，タイプ2及びタイプ3の全ての入力と接続で
きる。
t1：
サージ時間＝10 ms
t2：
ON時間
t3 - t2： OFF時間（OFF時間＝ON時間）
t3：
動作周期＝1 s
図6−デジタル直流出力の一時的な過負荷の波形
5.2.3.2
追加要求事項
次の変更を除いて，その他の要求事項は，5.2.2.2に記述したデジタル交流出力と同じである。
− 保護付出力に対して，定格電流（Ie）の1.1倍を1.2倍に置き換える。
− 有接点リレー出力に対して，JIS C 8201-5-1に規定したAC-15からDC-13に置き換える。
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5.3
アナログ入出力
この項で規定しないインタフェース，すなわち，特別に設計した回路，機器などのインタフェースをも
つPLCシステムを提供する場合もあり得る。
このような場合，製造業者は，適切な情報を全て使用者に提供しなければならない。
この要求事項は，6.5.4に基づいて検証する。
5.3.1
アナログ入力
PLCシステムのアナログ入力の信号範囲及びインピーダンスの限界値は，表11による。
表11−アナログ入力の定格値及びインピーダンスの限界値
信号範囲
入力インピーダンスの限界値
注記
−10〜＋10 V
≧ 10 kΩ
−
0〜＋10 V
≧ 10 kΩ
−
＋ 1〜＋5 V
≧ 5 kΩ
−
＋ 4〜＋20 mA
≦300 Ω
−
0〜＋20 mA
≦300 Ω
a)
注a) 新規設計には推奨しない。
アナログ入力は，標準的な熱電対，JIS C 1604に規定する白金測温抵抗体Pt100センサなどの測温抵抗
体（RTD）と直接接続できるように設計してもよい。熱電対アナログ入力は，冷接点補償付きでなければ
ならない。
5.3.2
アナログ出力
PLCシステムのアナログ出力に対する信号範囲及び負荷インピーダンスの限界値は，表12による。
表12−アナログ出力の信号範囲及び負荷インピーダンスの限界値
信号範囲
負荷インピーダンスの限界値
注記
−10〜＋10 V
≧ 1000 Ω
a)
0〜＋10 V
≧ 1000 Ω
a)
＋ 1〜＋5 V
≧ 500 Ω
a)
＋ 4〜＋20 mA
≦ 600 Ω
b)
0〜＋20 mA
≦ 600 Ω
b) c)
注a) アナログ電圧出力は，短絡に至る過負荷にも耐えなければならない。
b) アナログ電流出力は，開放に至る過負荷にも耐えなければならない。
c) 新規設計には推奨しない。
5.4
通信インタフェースの要求事項
この規格の箇条2に従った試験の構成には，製造業者が指定した通信インタフェースモジュール及び通
信方法，並びに手順を装備していなければならない。
この要求事項は，6.6に基づいて検証する。
5.5
PLCシステムの主処理装置及びメモリの要求事項
この箇条は，JIS B 3501及びこの規格の5.6及び5.7と関連して読まなければならない（RIOS及び周辺
装置の各々について）。
PLCシステム，主処理装置［main processing unit (MPU)］，メモリ及びほかの構成要素に関する定義及び
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説明については，図2及び附属書Aを参照する。
主処理装置及びメモリは，PLCシステムの常設部分であり，それらに応じた試験をしなければならない。
この要求事項は，6.7に基づいて検証する。
5.6
リモートI/O（RIOS）の要求事項
リモート入出力局は，PLCシステムの常設装置の一部であり，それらに応じた試験をしなければならな
い。しかし，試験の容易性のために，独立したRIOSは必要に応じて試験してもよい。
電源の電圧ディップ及び瞬時停電に対する要求事項は，リモート入出力局にも全て適用する。
これらの要求事項は，5.1.1による。
主処理装置のアプリケーションプログラムとの交信が失われた場合には，リモート入出力局は，規定時
間内に，規定していない状態を経由しないで，規定した出力状態に固定することができ，さらに，故障表
示信号を出すことができなければならない。
主処理装置は，アプリケーションプログラムに対して，リモート入出力局の現在の状態を示す適切な情
報を与えなければならない。この要求事項は，6.8に基づいて検証する。
5.7
周辺装置（PADT，TE及びHMI）の要求事項
PLCシステムの常設でない周辺装置は，オペレーティングシステムとの通信の開始及び停止のときに，
システムの誤動作を発生させてはならない。
周辺装置のためのコネクタは，誤った接続を防ぐために逆差し防止機構を設けなければならない。又は，
接続を誤った場合でも，PLCシステムに誤動作を発生させないように設計しなければならない。
上記の要求事項は，6.3.5に基づいて検証する。
周辺装置及びPLCシステムで構成するシステムでは，PLCシステムで実行するプログラム及び周辺装置
に表示するプログラムが機能的に同一となるように設計しなければならない。
周辺装置によって，PLCシステムのアプリケーションプログラム及び／又は動作モードのオンライン変
更（PLCシステムが制御対象を制御しているときの変更）が可能である場合は，次によらなければならな
い。
a) 周辺装置は，“オンライン変更中”，“表示プログラム及びPLCシステム実行プログラムが不一致”，
“制御対象の制御が××ms中断”などと同等で明確な警告を自動的に行わなければならない。
b) 周辺装置は，“実行しますか？”などの質問を出し，操作者が肯定の回答をした後にだけ，そのコマン
ドを実行しなければならない。
c) 変更後のアプリケーションプログラムを，製造業者が提供したデータ媒体にアップロードすることが
でき，その記録が，変更後のアプリケーションプログラムと機能的に同等であることをオンラインで
照合できなければならない。
d) 誤って操作しないようにするための手段（ハードウェア又はソフトウェア）をもたなければならない。
a)〜c) の要求事項は，6.9に基づいて検証する。
5.8
PLCシステムの自己試験及び診断の要求事項
製造業者は，PLCシステムの自己診断の手段を提供しなければならない。そのような手段をPLCシステ
ムに組み込んでいること，及び／又はアプリケーション側で自己診断を行う方法を推奨する。
次の手段が備わっていなければならない。
a) 使用者のアプリケーションプログラムを監視するための手段（ウォッチドグタイマなど）。
b) メモリの整合性を確認するためのハードウェア又はソフトウェアの手段。
c) メモリ，処理装置及び入出力モジュールの間で交換するデータの正当性確認のための手段（アプリケ
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ーションのループバックテストなど）。
d) 電源ユニットから供給する内部電圧及び電流が，ハードウェア設計の許容限界を超えないように確認
するための手段。
e) 主処理装置の状態をモニタするための手段。
PLCシステムは，警報信号を出力する機能をもたなければならない。システムが正常に動作していると
きは，警報出力はあらかじめ定めた状態とし，異常の場合にはそれとは反対の状態にならなければならな
い。製造業者は，正常機能状態の条件及び警報出力が動作する条件を定めなければならない。
リモート入出力局は，電源消失の場合及び主処理装置との正常な通信が不能になった場合には，警報信
号をデジタル出力モジュールなどを介して出力し，あらかじめ定めた出力状態にしなければならない（5.6
参照）。
これらの要求事項は，6.10に基づいて検証する。
5.9
機能接地
5.11.3による表示を除き，機能接地端子に対して，妨害イミュニティ抑制及び電波障害［radio frequency
interference (RFI)］保護のような構造上の要求事項はない。
5.10 据付けに関する要求事項
支持面に対して，装置の安全な据付方法を提供しなければならない。
その代わりの方法として，安全に据え付けるために，JIS C 2812の機器取付け用レールのような代替の
据付方法も提供しなければならない。
注記 JIS C 2812の機器取付け用レールは，一般にDINレールと呼ばれる。
装置の構成要素を取り付けるために用いるボルト，ねじ又はほかの部品は，支持面，DINレールなどに
装置を固定させるために用いてはならない。
5.11 表示への一般要求事項
全ての装置については，最低限として機器上に表示した情報で，製造業者（市場にその製品を提供する
会社）及び機器を識別しなければならない。残りの情報は，データシートで提供しなければならない（箇
条7参照）。
製造業者が提供しなければならない情報は，次による。
a) 製造業者の名称，商標など。
b) モデル・カタログ番号，形式名称又は名称。
c) ソフトウェアのシリアル番号及び／又は改版番号（1.2参照）。
d) ハードウェアのシリアル番号又はシリーズ，及び／又は改版番号（1.2参照），及び日付又はそれに準
じるもの。
この要求事項は，6.11に基づいて検証する。
5.11.1 機能の識別
各入出力モジュールの機能は，製造業者の付けた見やすい表示によって，装着及び稼動状態のときに明
確に識別できなければならない。
全ての操作者用のスイッチ，表示ランプ及びコネクタは，識別できなければならない。
5.11.2 モジュールの位置及び識別
各モジュール及び各入出力チャネルの識別のために，モジュールの表面又は近くに記入スペースを設け
なければならない。
5.11.3 機能接地端子の表示
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妨害イミュニティ向上など，安全以外の目的で用いる機能接地端子には，機能接地端子記号を表示しな
ければならない。
注記 適切な寸法は，IEC 60417の5018 (2002-10) 参照。
5.12 通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証に関する要求事項
通常稼動及び機能に関する試験及び検証は，箇条6に従って製造業者が行わなければならない。
5.13 通常稼動及び機能に関する情報の要求事項
通常稼動及び機能に関する情報は，箇条7の要求事項に従って，製造業者が提供しなければならない。
6
通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証
6.1
耐候性試験
試験は，EUT（供試品）の包装を解いた状態で行う。
使用者によって通常着脱できるような，温度に対して敏感な構成要素は，製造業者の要求によって取り
外してもよい。
6.1.1
高温（耐熱性）及び低温（耐寒性）試験
高温（耐熱性）及び低温（耐寒性）試験は，表13による。
表13−高温（耐熱性）及び低温（耐寒性）試験
高温
低温
引用規格
JIS C 60068-2-2 試験Bb
JIS C 60068-2-1 試験Ab
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験条件
無通電
−
試験温度a)（℃）
＋70±2
−40±3 b)
放置時間（h）
16±1
16±1
中間測定
なし
後
処
理
手
順
時間
1 h以上
温度，湿度，気
圧条件
2.6及び6.1による。
特記事項
−
ただし，結露があってはなら
ない。c)
電源
無通電
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
注a) 試験温度は，換気を行う装置において空気流入面から50 mm以内の1点を測
定した値か，又は非換気方式装置において，きょう体の垂直中央を通る水平
面上できょう体から50 mm以内の1点を測定した温度である。
b) −25±3 ℃も許容するが，将来の設計では推奨しない。
c) 電源を再投入する前に，基本PLCシステムの外部及び内部の結露を，空気を
吹き付けて取り除く。
36
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.1.2
温度変化試験
温度変化試験は，表14による。
表14−温度急変耐久試験及び定速温度変化イミュニティ試験
温度急変耐久試験
定速温度変化イミュニティ試験
引用規格
JIS C 60068-2-14 試験Na
JIS C 60068-2-14 試験Nb
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験条件
無通電
通電
中間測定
なし
a)
設定温度（低温）b)（℃）
−40±3 c)
＋5±2
設定温度
（高温）b)（℃）
開放形装置
＋70±2
＋55±2
閉鎖形装置
＋70±2
＋40±2
設定温度における放置時間 （min） 3 h±30
移し換え時間
（min） 3
−
温度変化の割合
（℃/min）
−
1±0.2
サイクル数
5サイクル
2サイクル
後処理
手順
時間
2 h以内
−
温度，湿度，気圧条件 2.6及び6.1による。d)
−
電源
無通電
−
最終測定
e)
f)
注記 IEC 61131-2では，“温度変化の割合”を3±0.6 ℃/minと規定しているが，我が国の実情を考慮して
1±0.2 ℃/minとした。
注a) マルチチャネル出力モジュールの測定は，製造業者の指定によって，定格より低減してもよい。
b) 試験温度は，換気を行う装置において空気流入面から50 mm以内の1点を測定した値か，又は非換
気方式装置において，きょう体の垂直中央を通る水平面上できょう体から50 mm以内の1点を測定
した温度である。
c) −25±3 ℃も許容するが，将来の設計では推奨しない。
d) 電源を再投入する前に，基本PLCシステムの外部及び内部の結露を，空気を吹き付けて取り除く。
e) 2.5に基づくPFVPは，後処理後に実施する。
f) 2.5に基づくPFVPは，温度変化試験の間，連続して実施する。
37
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6.1.3
温湿度サイクル耐久試験
温湿度サイクル耐久試験は，表15による。
表15−温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）耐久試験
引用規格
IEC 60068-2-30 試験Db
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験条件
指定なし
中間測定
なし
取付け
なし
試験方法
方法2
特記事項
無通電
温度a)（℃）
＋55
サイクル数
2サイクル
後処理期間
温度，湿度，気圧
条件
IEC 60068-2-30による。b)
電源
無通電b)
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
後処理後に測定。
注a) 試験温度は，換気を行う装置において空気流入面から50 mm以内の1点を
測定した値か，又は非換気方式装置において，きょう体の垂直中央を通る水
平面上できょう体から50 mm以内の1点を測定した温度である。
b) 電源を再投入する前に，基本PLCシステムの外部及び内部の結露を，空気
を吹き付けて取り除く。
6.2
（内容を考慮して6.1に含めたため，削除）
6.3
機械的試験
6.3.1
振動（通常稼動条件）試験
振動（通常稼動条件）試験は，表16による。
表16−振動イミュニティ試験
引用規格
JIS C 60068-2-6 試験Fc
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
取付け
携帯形及びハンドヘルド形機器について
は，製造業者の仕様による。
基本運動
時間の正弦関数
振動振幅・
加速度
5≦f ＜8.4 Hz a)
定振幅
3.5 mm（ピーク）
8.4≦f ≦150 Hz a)
定加速度
9.8 m/s2（ピーク）
振動形式
掃引，1オクターブ/min（±10 %）
掃引サイクル数
相互に直交する3軸方向の各軸について
10掃引サイクル
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
注a) クロスオーバ周波数（約8.4 Hz）は，定振幅から定加速度による振動へ滑ら
かに移行するように，調整しなければならない。
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6.3.2
衝撃（通常稼動条件）試験
衝撃（通常稼動条件）試験は，表17による。
表17−衝撃イミュニティ試験
引用規格
IEC 60068-2-27 試験Ea
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
取付け
携帯形及びハンドヘルド形周辺装置については，製造業
者の仕様による。
パルス波形
正弦半波パルス
厳しさ
ピーク加速度
147 m/s2
作用時間
11 ms
衝撃方法及び回数
相互に直交する3軸方向について3回（合計18回）。
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
6.3.3
自然落下（通常稼動条件）試験
自然落下（通常稼動条件）試験は，表18による。
表18−自然落下耐力試験・イミュニティ試験（携帯形及びハンドヘルド形周辺装置）
引用規格
ランダム落下及び水平
落下
JIS C 60068-2-32 方法1
支持落下
JIS C 60068-2-31 面落下
前処理
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
コードの取付け
カタログ記載のコード付き
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
6.3.4
自然落下（輸送及び保管の条件）試験
自然落下（輸送及び保管の条件）試験は，表19による。
表19−自然落下耐力試験（製造業者の出荷包装したモジュール及びユニット）
引用規格
JIS C 60068-2-32 方法1
EUT（供試品）の選択
同一包装形態ごとに最も重いモジュール及びユニット
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
コードの取付け
カタログ記載のコード付き
中間測定
なし
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
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6.3.5
モジュール類の着脱試験
モジュール類の着脱試験は，表20による。
表20−モジュール類の着脱試験
引用規格
なし
常設のもの
50回の着脱を無通電で行った後，PFVP（2.5参照）によって確認する。
非常設のもの
PFVP（2.5参照）の機能試験プログラムを実行中に500回の着脱を行い，基本PLCシステ
ムの正常な運転に影響しないことを確認する。
着脱試験中の通信チャネルは，通信しなくてもよい。
6.4
電源端子及びメモリバックアップへの特殊機能要求仕様の検証−電源端子の特殊イミュニティ限界
次の6.4.1及び6.4.2の試験の間，PFVP（2.5参照）の適正機能検証手順を実行する。
電源端子とは，図2のポートF，すなわち，装置電源供給端子である。
6.4.1
装置電源入力端子の機能検証（交流又は直流）
6.4.1.1
電圧範囲，電圧リップル及び周波数範囲試験
電圧範囲，電圧リップル及び周波数範囲試験は，表21による。
表21−電圧リップル及び周波数範囲イミュニティ試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験方法a)
最低動作電圧
最高動作電圧
AC電圧（k×Ue）b)
k＝0.85
k＝1.10
AC周波数（k×Fn）b)
k＝0.94
k＝1.04
DC電圧（k×Ue）b)
k＝0.85
k＝1.20
含有リップル（k×Ue）b)
k＝0.05
k＝0.05
試験時間
（min）
30
30
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
最終試験
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
A（8.3.2参照）
注a) PLCシステムに装置電源が二つ以上供給されている場合には，この試験は個々に実施してもよい。
b) 詳細は，表6参照。
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6.4.1.2
第3高調波イミュニティ試験
第3高調波イミュニティ試験は，表22及び図7による。
表22−第3高調波イミュニティ試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験方法a)
装置電源定格電圧の10 %に調整した第3高調波電圧（150 Hz又は180 Hz）を
AC装置電源に位相0°及び180°で重畳させる（図7参照）。
各位相での測定時間（min）
5
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
最終試験
PFVP（2.5参照）による。
注a) PLCシステムに装置電源を二つ以上供給している場合には，この試験は，個々に実施してもよい。
図7−第3高調波試験
6.4.1.3
電源遮断試験（瞬時停電割込）
試験方法は，電源遮断から停止までのPLCシステムの動作及び停止中のPLCシステムの動作を確認す
る。試験は，2回繰り返す。
性能判定基準は，上記の要求事項を満たさなければならない。さらに，割込みの開始から電源遮断まで
通常試験プログラムによって変更が起こってはならない。また，異常又はいかなる種類の意図しない状態
になってはならない。
6.4.1.4
始動試験
製造業者の仕様に従い外部電源を供給すると，PLCシステムは，製造業者の仕様に従って再び始動する
（自動始動又は手動始動，初期化など）。始動試験中は，異常又はいかなる種類の意図しない状態になって
はならない。
6.4.2
外部供給電源変動イミュニティ試験
通常稼動条件を外れた通常稼動条件の最小制限以下の電圧及び／又は周波数では，PLCシステムは，通
常稼動を維持するか，又はあらかじめ定めた状態に移行して正常に復帰するまで明確に規定した動作をし
なければならない。
判定については，試験中，PFVP（2.5参照）は，製造業者が指定した基本PLCシステムの動作を，保証
41
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しなければならない。また，PFVP試験プログラム以外の変更がなく，異常又はいかなる種類の意図しな
い状態があってはならない。
6.4.2.1
緩やかな停止・始動試験
緩やかな停止・始動試験は，表23及び図8による。
表23−緩やかな停止・始動試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験方法
図8参照
初期・最終条件
定格電圧（Ue），定格周波数（Fn），リップルなし
最低電圧（V）
0（ゼロ）
最低電圧での放置時間（s）
（10±20）%
サイクル数
3サイクル
サイクル間隔 t（s）
1＜t≦10
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
停止限界電圧（SDL）
電圧降下中に，PLCシステムが製造業者が定めた停止シーケンス，又はPFVP
によらない動作を始める電圧。
平均SDL（SDLav.）
3サイクル測定したSDLの平均。
判定
6.4.2による。
注a) 製造業者の仕様によるか又は10±2 s
図8−緩やかな停止・始動試験
42
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6.4.2.2
供給電源変動試験
供給電源変動試験は，表24，図9及び図10による。
表24−供給電源変動試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験方法
高速変動（図9参照）
低速変動（図10参照）
初期・最終条件
定格最低電圧（Ue min），定格周波数（Fn），リップルなし
最低電圧（U）
（V） 0
0.9×SDLav.±10 % a)
最低電圧での放置時間 （s） 0
0
サイクル数
3サイクル
3サイクル
試行間の時間間隔 t
（s） 1＜t≦5
中間測定
PFVP（2.5参照）による。
判定
6.4.2による。
注a) SDLav.は，緩やかな停止・始動試験（6.4.2.1）の結果による。
図9−高速供給電源変動試験
図10−低速供給電源変動試験
43
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6.4.2.3
瞬時停電試験
瞬時停電試験は，表25による。
対象電源供給端子は，図2のF（装置電源供給端子）とする。
試験中は，PFVP（2.5参照）を満足しなければならない。
表25−瞬時停電試験
引用規格
JIS C 61000-4-11
IEC 61000-4-29
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
供給電圧，電源周波数
Ue min a)，Fn
Ue min a)
交流電源
直流電源
継続時間
ゼロクロスから開始し0.5サイクルb) c)
PS1：≧1 ms c)
PS2：≧10 ms c)
最低電圧（V）
0
0
0
性能判定基準
PLCシステムは，正しく動作を継続しなければならない。
機能面又は性能面で損失があってはならない。d)
サイクル数
20サイクル
試行間の時間間隔 t （s） 1＜t＜10
中間測定
PFVP（2.5参照）に従って通常の操作が維持できなければならない。e)
最終判定
PLCシステムは，PFVP（2.5参照）に従って正しく動作を継続しなければならない。
注a) Ue minは，表6におけるUeの許容範囲内の最小の電圧である。
b) 製造業者は，任意の位相を選択してもよい。
c) 製造業者は，この表より長い瞬時停電時間を仕様としてもよい。
d) これらの基準は，表31の性能判定基準Aと同意である。
e) 同じ電源に接続している出力又は応答が速い入力は，試験中一時的に影響を受けても，電源回復後は正常動
作に復帰しなければならない。
6.4.3
装置電源誤接続試験
6.4.3.1
直流電源の逆極性耐力試験（耐力試験）
逆極性の定格電圧を10秒間加える。その結果，ヒューズ溶断など，製造業者が指定した状態にならなけ
ればならない。
試験後，PLCシステムは，PFVP（2.5参照）に合格しなければならない。ヒューズなどの保護素子は，
検証前にリセットしてもよい。
6.4.3.2
許容範囲外電圧及び／又は周波数の試験
通常稼動条件上限（Ue max）を超える電圧範囲，及び／又は通常稼動条件（Fn max及びFn min）の範囲外周
波数に対しては，受渡当事者間の協定による。
44
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6.4.4
メモリバックアップ要求事項の検証
6.4.4.1
バックアップ期間耐久試験
バックアップ期間耐久試験は，表26による。
表26−メモリバックアップ期間耐久試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
PFVP（2.5参照）による。
準備時間
製造業者の指定による（十分に充電するために必要な時間）。
試験方法の選択
試験A又は試験B
試験方法
試験A
試験B
初期条件
メモリバックアップ電源は，十分に充電
しなければならない。
外部供給電源を，接続してはならない。
メモリバックアップ電源は，十分に充電
しなければならない。
外部供給電源を，接続してはならない。
温度（℃）
開放形装置：55
閉鎖形装置：40
一般試験条件（2.6）
試験時間（h）
300
1 000
最終判定
PFVP（2.5参照）によって，PLCシステムが正常であることを確認する。
メモリの保持内容が変化していないことを確認する。
6.4.4.2
メモリバックアップ電源の交換方法の検証
メモリバックアップ電源の交換方法の検証は，表27による。
表27−メモリバックアップ電源の交換試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
PFVP（2.5参照）による。
交換バックアップ電源
製造業者の仕様に従うメモリバックアップ電源
（十分に充電しなければならない。）
最終判定
PFVP（2.5参照）によって，PLCシステムが正常であることを確認する。
メモリの保持内容が変化していないことを確認する。
6.4.4.3
その他の要求事項の検証
メモリバックアップ電源を取り外し，可変電圧電源を接続してメモリバックアップ電源電圧低下のアラ
ームについて試験を行う（5.1.2参照）。
6.5
入出力特性の検証
6.5.1
一般事項
試験手順の詳細については，特に規定しない。1.2で規定する条件を満たす詳細な試験手順については，
受渡当事者間の協定による。
試験手順の詳細については，特に規定しないが，各試験項目については，全て実施する。
特に指定がない限り，全ての試験は，同一入出力チャネルに対し2回行う。
a) 1回目の試験 最低動作周囲温度（表2の5 ℃又はTmin）
b) 2回目の試験 最高動作周囲温度（表2の40 ℃，55 ℃又はTmax）
アナログ入力モジュール及びデジタル入力モジュールについては，形式ごとに1チャネル試験すればよ
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い。ただし，全形式について試験する。
マルチチャネル出力モジュールは，全チャネルを試験する。
6.5.2
デジタル入力の検証
6.5.2.1
動作範囲試験
全ての要求事項に適合することを確認する。
試験手順は，受渡当事者間の協定による。
6.5.2.2
信号の逆極性耐力試験
試験手順は，デジタル入力に逆極性信号を10秒間加える。
判定は，製造業者が指定した状態になった場合，装置は，PFVP（2.5参照）に合格しなければならない。
ヒューズなどの保護素子は，検証実施前にリセットしてもよい。
6.5.2.3
その他の要求事項の検証
5.2.1及び5.2.1.3のデジタル入出力の要求事項に適合していることを検証しなければならない。
6.5.3
デジタル出力の検証
6.5.3.1
動作範囲試験
全ての要求事項に適合することを確認する。
試験手順は，次による。
a) 電流範囲 受渡当事者間の協定による。
b) 電圧降下 受渡当事者間の協定による。
c) 漏れ電流 出力保護素子又は回路を取り除かない。
d) 通常の使用状態における一時的な過負荷 交流出力の場合は，JIS C 8201-5-1のAC-15，直流出力の
場合はJIS C 8201-5-1のDC-13を適用する。
交流短絡保護付出力の一時的な過負荷電流値は，通常，定格電流の2倍から20倍となる（5.2.2.2.3
参照）。
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6.5.3.2
保護付出力，保護なし出力及び短絡保護付出力の試験
保護付出力，保護なし出力及び短絡保護付出力の試験は，表28による。
表28−デジタル出力の過負荷及び短絡試験
引用規格
なし
EUT（供試品）設定
製造業者の仕様による。
取付け
製造業者の仕様による。
負荷条件
EUT（供試品）の形式ごとに1チャネルを試験すればよい。
初期測定
PFVP（2.5参照）による。
試験方法
試験A
試験B
試験C
試験D
試験E
試験電流（k×Ie）のk値
（Ie：定格電流）
1.2又は1.3 a)
1.5
2
5
21
試験時間（min）
5
5
5
5
5
試験の順序
最低動作周囲温度で
1番目
2番目
3番目
4番目
5番目
最高動作周囲温度で
6番目
7番目
8番目
9番目
10番目
試験間隔 t（min）
10≦ t ≦60
試験実施
の要否
保護付出力
要
要
要
要
要
短絡保護付出力
不要
不要
要b)
不要
要c)
保護なし出力d)
不要
不要
要b)
不要
要c)
中間測定
5.2.2.2及び5.2.3.2による。
過負荷印加中
PFVP（2.5参照）による。
過負荷印加終了直後
PFVP（2.5参照）による。
最終測定
PFVP（2.5参照）による。
注a) 交流出力は1.2×Ie，直流出力は1.3×Ieとする。
b) 定格電流の2倍から20倍の電流に対しては，供試モジュールの修理又は交換が必要になる場合がある。
c) 保護素子が動作しなければならない。保護素子は，次の試験に備え，リセット又は交換しなければな
らない。
d) 製造業者が指定した保護素子を取り付ける。
6.5.3.3
信号の逆極性耐力試験
信号の逆極性接続を防止するように設計した装置は，目視検査によって確認してもよい。
試験手順は，デジタル直流出力に逆極性信号を10秒間加える。
判定は，製造業者が指定した状態にならなければならない。装置は，PFVP（2.5参照）に合格しなけれ
ばならない。ヒューズなどの保護素子は，検証実施前にリセットしてもよい。
6.5.3.4
その他の要求事項の検証
5.2.2又は5.2.3のデジタル入出力に対する要求事項，並びに5.2.2.2又は5.2.3.2の出力表示器及び有接点
リレー出力に対する要求事項に適合していることを確認する。
6.5.4
アナログ入出力の検証
6.5.4.1
動作範囲試験
全ての要求事項に適合していることを検証する。
試験手順は，受渡当事者間の協定による。
6.5.4.2
アナログ入力の過負荷耐力試験
試験手順は，受渡当事者間の協定による。
47
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
測定及び検証は，次による。
a) 中間測定 最大許容過負荷を印加中に，物理的損傷，発煙，異臭，過熱などの異常現象が発生しない
ことを確認する。
b) 最終測定 入力信号範囲の最小値及び最大値における精度を，PFVP（2.5参照）によって確認する。
6.5.4.3
電圧出力の短絡試験及び電流出力の開放試験
電圧出力の短絡試験及び電流出力の開放試験を実施したときに，物理的損傷，発煙，異臭，過熱などの
異常現象が発生しないことを確認する。試験後，PFVP（2.5参照）を実行する。
6.5.4.4
外部供給電源の変動試験
この試験は，アナログ入出力モジュールが独立電源，例えば，PLCシステムのほかの入出力モジュール
電源から独立して外部から供給する場合に行わなければならない。
外部供給電源を可変電圧電源に交換し，電圧を製造業者が指定した上限及び下限に設定する。モジュー
ルは，PFVP（2.5参照）に合格し，出力変動は，規定範囲内になければならない。
6.5.4.5
信号の逆極性耐力試験
信号の逆極性接続を防止するように設計した装置は，耐力試験を実行せず，目視検査によって確認して
もよい。
試験手順は，有極性アナログ入力に逆極性信号を10秒間加える。
判定は，製造業者が指定した状態にならなければならない。装置は，PFVP（2.5参照）に合格しなけれ
ばならない。ヒューズなどの保護素子は，検証実施前にリセットしてもよい。
6.5.4.6
その他の要求事項の検証
形式試験では規定しない。形式試験を実施しない特性については，受渡当事者間の協定による。
6.6
通信インタフェース要求事項の検証
形式試験では規定しない。形式試験を実施しない特性については，受渡当事者間の協定による。
6.7
主処理装置（MPU）の特性の検証
形式試験では規定しない。形式試験を実施しない特性については，受渡当事者間の協定による。
6.8
リモート入出力局の検証
6.8.1
応答時間試験
試験手順は，入力状態をそのまま出力とする試験用アプリケーションプログラムを，次の4種類の構成
について実行し，総合応答時間を測定する。
a) ローカル入力からローカル出力へ
b) リモート入力からローカル出力へ
c) ローカル入力からリモート出力へ
d) リモート入力からリモート出力へ
合否判定としては，総合応答時間，リモート入力情報をアプリケーションプログラムが取り込むのに要
する時間，及び演算結果がリモート出力に達するまでの転送時間は，製造業者の指定に適合しなければな
らない。
6.8.2
交信遮断試験
通信を切り離した場合，製造業者が定めた時間内に，ほかの状態を経由せず，製造業者が定めた出力状
態に移行し，通信異常を使用者に伝達しなければならない。
試験手順としては，この試験は，通信リンク及びリモート入出力局用外部供給電源の切離しをそれぞれ
実施し，リモート入出力局，出力，主処理装置（MPU）などの状態を確認する。
48
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
合否判定は，要求事項に従う。
6.8.3
その他の要求事項の検証
形式試験では規定しない。形式試験を実施しない特性については，受渡当事者間の協定による。
6.9
周辺装置（PADT，TE及びHMI）の特性の検証
形式試験を実施しない全ての要求事項については，受渡当事者間の協定による。
6.10 PLCシステムの自己診断機能の検証
形式試験を実施しない全ての要求事項については，受渡当事者間の協定による。
6.11 表示及び製造業者ドキュメントの検証
外観検査によって，5.11の要求事項を検証する。
7
製造業者の提供情報
製造業者は，PLCシステムの適用設計，据付，運転，操作及び保全のために必要な情報を使用者に提供
しなければならない。さらに，製造業者は，使用者へのトレーニングを行うとよい。
利用可能な情報は，印刷形式以外のものでも可能である。
7.1
文書情報の種類及び内容
文書の形式は，次の三つがある。
a) カタログ及びデータシート
b) ユーザーズマニュアル
c) 技術資料
注記 説明書の作成については，JIS C 0457及びIEC 61506を参照。
7.1.1
カタログ及びデータシート
カタログ及びデータシートには，PLCシステム及び関連周辺機器の説明及び仕様が含まれる。さらに，
機能特性，機器の構成方法，通常稼動条件，寸法，質量，適合規格リストなどを含む製品の使用方法及び
応用を支援する適切な情報が含まれていなければならない。
7.1.2
ユーザーズマニュアル
ユーザーズマニュアルには，PLCシステムの正しい設置方法，配線，トラブルシューティング，ユーザ
プログラム及び運転に関する必要な情報を含まなければならない。少なくとも次の内容を含まなければな
らない。
a) 設置及び運転に関する指示事項
b) プログラム作成及びトラブルシューティングに関する指示事項
c) 保全及びサービスに関する要求事項
d) 附属品，ヒューズなどの予備品のリスト
7.1.3
技術資料
技術資料には，回路図，内部又は外部プロトコル，バスの信号割付け，物理諸元，外部供給可能な電源
容量，ファームウェア，内部試験プログラム，修理方法などを含む。製造業者は，これらを必要に応じて
提供してもよい。
7.2
この規格に対する適合性に関する情報
製造業者は，この規格に適合しているレベルが，次のいずれかであることを示さなければならない。
a) 制限なしに，この規格の全ての要求事項に完全適合。
b) 製品が適合するこの規格の特定の要求事項を文書で明確にした部分適合。
49
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
詳細については，1.2を参照。
7.3
信頼性に関する情報
通常稼動条件におけるユニット，モジュール及び形式試験時の構成（基本PLCシステム）の平均故障間
隔時間（MTBF）を提出する場合には，製造業者は，その条件も明らかにしなければならない。
7.4
その他の条件での情報
この規格で規定しない機械的条件は，受渡当事者間の協定による。
7.5
出荷及び保管に関する情報
製造業者は，出荷及び保管の方法の情報を提供しなければならない。
7.6
AC及びDC電源に関する情報
製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
a) 各電源供給点に規定電圧を供給するための，適切な電源系統を選択できるデータ。この情報には，電
源投入時の突入電流，全負荷時の繰返しピーク入力電流及び定常実効値入力電流を含む。
b) 電源供給インタフェースの外部端子配列
c) 電源供給及び信号電源の代表的な接続例
d) PLCシステムに複数の電源から供給する場合，又は5.1.1.1に含まれていない電圧及び周波数で供給す
る場合には，特殊電源の設置に関する要求事項。
e) 次に示す電源の誤接続に対する影響
− 逆極性
− 不適切な電圧及び周波数
− 不適切な電線の接続
f)
通常の電源の投入及び遮断順序に対するPLCシステムの動作に関する詳細な情報
g) PLCシステムのいかなる構成においても，正常な動作に影響を与えない瞬時停電時間の最大値を検討
するためのデータ，及びDC電源が供給される装置については，PS1又はPS2の区別。
h) 温度に関連したメモリバックアップ時間，及び保全への要求事項
i)
バックアップ用電源の推奨交換期間，交換方法及び交換に伴うPLCシステムへの影響
j)
コールドスタート及びウォームスタート時のピーク突入電流，又は推奨ヒューズサイズ及びヒューズ
の溶断特性
7.7
デジタル入力に関する情報
製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
a) 許容範囲又はその同等値を含めた全動作範囲の電圧・電流特性曲線
b) 状態0から1，及び状態1から0へ遷移するときのデジタル入力遅延時間
c) コモンの数及び1コモン当たりのチャネル数
d) 入力端子に誤配線した場合の影響
e) 通常の稼動条件における，チャネル及びGND（接地）を含むほかの回路との間及びチャネル相互間の
絶縁耐力
f)
入力タイプ（タイプ1，タイプ2又はタイプ3）
g) 状態表示器のモニタリングの箇所並びに点灯及び消灯の状態
h) 電源を入れたまま入力モジュールを着脱（活線挿抜）したときの影響
i)
入力及び出力を相互接続するための外部負荷
j)
信号判定の方法。例えば，スタティックな判定，ダイナミックな判定，割込み入力による判定など
50
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
k) 推奨ケーブル及びその耐電磁環境性に対応したケーブル長
l)
端子配列
m) 外部接続の代表例
7.8
デジタル交流出力に関する情報
製造業者は，デジタル交流出力に関して，次の情報を提供しなければならない。
a) 次に示す保護の種類に応じた情報
− 保護付出力 定格電流（Ie）の1.1倍を超えた場合の特性として，保護素子が働く電流値，及び電流
と時間との関係についての情報
− 短絡保護付出力 保護素子の交換又はリセットに関する情報
− 保護なし出力 必要によって，使用者が用意する保護素子の仕様
b) 状態0から1，及び状態1から0へ遷移するときのデジタル出力遅延時間
c) ゼロクロススイッチングのコミュテーション特性及びターンオン電圧
注記 コミュテーションとは，ソリッドステートリレーが指定の条件でON状態を保ち，OFF時に転
流点でON状態に移行しない最大の電圧上昇率。
d) コモンの数及び1コモン当たりのチャネル数
e) 端子配列
f)
外部接続の代表例
g) 出力の点数並びにa（NO）接点及びb（NC）接点，ソリッドステートリレー，チャネルの絶縁などの
出力の形式
h) 有接点リレーについては，5.2.2.2.5に従った接点の定格電流及び定格電圧
i)
白熱灯のような負荷に対する出力定格
j)
マルチチャネルモジュールの合計出力電流（3.40参照）
k) 誘導性負荷から発生するサージのピーク電圧を抑制するために，出力回路に内蔵する保護回路の特性
l)
必要によって，外部に接続する保護回路の種類
m) 出力端子に誤接続した場合の影響
n) 通常の稼動条件における，チャネル及びGND（接地）を含むほかの回路及びチャネル相互間の絶縁耐
力
o) 状態表示器のモニタリングしている箇所，例えば，MPU側又は負荷側
p) 出力モジュールを交換する推奨手順
q) MPU制御の中断，電圧ディップ，瞬時停電，電源投入及び電源遮断時の出力の動作（5.6参照）
r) 出力の方法，例えば，ラッチ形又はノンラッチ形
s)
マルチチャネルモジュールにおいて，複数の過負荷が発生したときの影響
7.9
デジタル直流出力に関する情報
デジタル直流出力に関して製造業者が提供する情報は，7.8で定義した同じ情報でなければならない。し
かし，ゼロクロススイッチングのコミュテーションの仕様は適用しない。また，有接点リレー出力に関し
ては，5.2.2.2.5におけるAC-15をDC-13に置き換える。
7.10 アナログ入力に関する情報
入力のタイプ及び標準範囲のほかに，製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
51
B 3502：2011
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7.10.1 アナログ入力静特性に関する情報
項目
静特性
単位，例など
1
信号範囲における入力インピーダンス
Ω
2
アナログ入力の誤差
25 ℃における最大誤差
フルスケールの±%
温度係数
フルスケールの±%/℃
3
全温度範囲にわたる最大誤差
フルスケールの±%
4
デジタル分解能
ビット数
5
アプリケーションプログラムでのデータ形式
2進数，BCD，その他
6
最下位ビットの値
mV，mA
7
最大許容過負荷（非破壊）
V，mA
8
過負荷状態を示すデジタル出力
例えば，フラグ
9
入力の種類
例えば，差動入力
10
コモンモード特性（直流，50 Hz及び60 Hz）
同相電圧除去比（dB）
同相電圧（V）
11
その他の入力
（熱電対，RTD，その他）
センサの種類
J，K，T，その他：Pt100，その他
計測範囲
温度範囲（℃）
直線性の補正方法
内蔵又は使用者で準備
7.10.2 アナログ入力動特性に関する情報
項目
動特性
単位，例など
1
サンプリング時間（セトリング時間を含む。）
ms
2
サンプリング間隔
ms
3
入力フィルタ特性
次数
一次遅れ，二次遅れ，その他
遮断周波数
Hz
4
各種ノイズ試験中の最大瞬時偏差
フルスケールの±%
7.10.3 アナログ入力一般特性に関する情報
項目
一般特性
単位，例など
1
変換方法
積分形，逐次比較形，その他
2
動作モード
トリガ方式，自己スキャン方式，その他
3
保護の種類
抵抗・コンデンサ，光絶縁，MOVs，その他
4
チャネルとGND（接地）を含むほかの回路，ほかのチャ
ネル，電源及びインタフェース相互間の通常稼動条件での
絶縁耐力
V
5
外部電源に関するデータ（必要な場合）
技術データ
6
コモンの数及び1コモン当たりのチャネル数
−
7
ノイズイミュニティ向上のために推奨するケーブルの種
類，長さ及び設置基準
ツイストペア線
最大50 m
8
定格の精度を保つための校正及び調整の期間
月，年
9
端子配列
−
10
外部接続の代表例
−
11
入力端子に誤接続したときの影響
−
7.10.4 アナログ入力のその他の特性に関する情報
項目
その他の特性
単位，例など
1
単調性
あり，なし
2
直流，50 Hz及び60 Hzにおけるチャネル間のクロストー
ク
dB
3
非直線性
フルスケールの%
4
規定された安定時間後の一定温度における再現性
フルスケールの%
5
リレーによるマルチプレクサの寿命
回数，時間
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7.11 アナログ出力に関する情報
出力のタイプ及び標準範囲のほかに，製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
7.11.1 アナログ出力静特性に関する情報
項目
静特性
単位，例など
1
信号範囲における負荷インピーダンス
Ω
2
アナログ出力の誤差
25 ℃における最大誤差
フルスケールの±%
温度係数
フルスケールの±%/℃
3
全温度範囲にわたる最大誤差
フルスケールの±%
4
デジタル分解能
ビット数
5
アプリケーションプログラムでのデータ形式
2進数，BCD，その他
6
最下位ビットの値
mV，mA
7.11.2 アナログ出力動特性に関する情報
項目
動特性
単位，例など
1
最大範囲変換時のセトリング時間
ms
2
オーバシュート
フルスケールの%
3
各種ノイズ試験中の最大瞬間偏差
フルスケールの±%
7.11.3 アナログ出力一般特性に関する情報
項目
一般特性
単位，例など
1
保護の種類
光絶縁，その他
2
チャネルとGND（接地）を含むほかの回路及びほかのチ
ャネルとの間の通常稼動条件での絶縁耐力
V
3
外部電源に関するデータ（必要な場合）
技術データ
4
外部電源を必要とする電流出力については，全出力範囲に
おける出力端子での最大及び最小の電圧降下
V
5
ノイズイミュニティ向上のために推奨するケーブルの種
類，長さ及び設置基準
ツイストペア線
最大 50 m
6
定格の精度を維持するための校正及び調整の期間
月，年
7
端子配列
−
8
コモン数及び1コモン当たりのチャネル数
−
9
接続可能な負荷の種類
フローティング，接地
10
電圧出力での容量性負荷の最大許容値
pF
11
電流出力での誘導性負荷の最大許容値
mH
12
外部接続の代表例
−
13
電源投入及び遮断時の出力応答
−
14
出力端子に誤配線した場合の影響
−
7.11.4 アナログ出力のその他の特性に関する情報
項目
その他の特性
単位，例など
1
単調性
あり，なし
2
直流，50 Hz及び60 Hzにおけるチャネル間のクロストー
ク
dB
3
非直線性
フルスケールの%
4
規定された安定時間後の一定温度における再現性
フルスケールの%
5
出力のリップル
フルスケールの%
7.12 通信インタフェースに関する情報
製造業者が機種専用装置とは別の，例えば，第三者装置に対する通信インタフェースを用意していると
きは，正しく動作させるために必要な情報を提供しなければならない。これは，ボーレート及び用いるケ
ーブルの種類のような任意の選択機能の詳細とともに，特定の規格又は仕様を引用してもよい。
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7.13 PLCシステムのMPU及びメモリに関する情報
MPU及びメモリに関して製造業者が提供する情報は，次による。
a) プログラムメモリの構成及び容量。
b) データメモリの構成，容量及びワードのビット長。
c) 用いることができるメモリの種類（CMOS-EPROMなど）。
d) メモリのバックアップ機能及び稼動条件。
e) 構成を決定するためのデータ，制約事項及び手順（ラック，ケーブル，バスエキスパンダ，電源ユニ
ット，形式ごとの入出力の最大点数，入出力モジュールの最大個数など）。
f)
PLCシステム（PADTとMPUとの組合せ）が支援しているプログラム言語の説明。
g) オブジェクト，命令，語義，文法などの違いの部分を含めてIEC 61131-3で定義している言語をどこ
まで実装しているかの説明。
h) メモリ使用量を決定するための計算方法（アプリケーションプログラム及びデータ並びに利用するこ
とができるファームウェアのプログラム及びデータ），及び全ての関連時間（スキャンタイム，総合応
答時間，転送時間及び実行時間）の平均，最小若しくは最大の値，又は計算方法。
i)
入出力処理のメカニズム（システムが周期的にリフレッシュしている入出力イメージテーブル，直接
入出力命令，割込みによる事象駆動のプログラムの使用など），及びこれによる次の項目への影響。
− 総合応答時間。
− 再始動時の種類，例えば，コールド，ウォーム及びホットの再始動。
− 入力，出力，処理などに関する詳細な時間。
j)
PLCシステムのインタフェースに対する非常設周辺装置の物理的及び論理的な接続又は切離しによる
h) の関連時間に及ぼす影響。
k) コールド，ウォーム及びホット再始動に関するPLCシステムの状態情報。ウォーム及びホット再始動
を決めるために用いるプログラマブルタイマの解説及び使用法。
l)
装備している自己診断機能（5.8参照）
7.14 リモート入出力に関する情報
製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
a) 通信リンクに必要なケーブル，その他の機器を選定するための仕様。
b) 電源の選定を含む全体システムの適切な設置のための仕様。
c) 入出力の通信ネットワークの方式。例えば，1対1，スター，マルチドロップ，リングなど。
d) 通信リンクで用いる方式，手順，伝送速度，誤りの検出，誤りコードの生成，並びに最良，通常及び
最悪の場合の伝送遅れを考慮した実際のデータ伝送能力。
e) アプリケーションプログラムがリモート入力情報及びリモート入出力局の状態を取り込むのに要する
転送時間，並びに演算結果がリモート出力に達するまでの転送時間。
f)
5.6に基づいて規定する数値及び遅れ時間。
g) 構成に関するデータ（単一PLCシステムにおけるリモート入出力局の最大局数，並びに各局の最大及
び最小点数）。
h) 全体の入出力システムのうち，リモート入出力局に用いることができる入出力モジュールの種類及び
／又は機能。
i)
冗長の種類，構成及び特性。
j)
適用できるモデム及びリピータ。リピータの有無による最大距離。
54
B 3502：2011
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k) 終端用の部品。
l)
絶縁特性，最大許容コモンモード電圧，組込みの短絡保護のような通信インタフェースの電気的特性
及び機械的特性。
m) 標準リンクインタフェースの種類。
n) 機能接地及び保護接地の仕様。
o) オンラインの手順のような，PLCシステム及びリモート入出力局の論理的及び物理的な接続又は切離
しの手順。
7.15 周辺装置（PADT，TE及びHMI）に関する情報
製造業者は，次の情報を適切な文書及び表示で提供しなければならない。
a) 例えば，PLCシステムの状態の変更，メモリのデータ又はプログラムの変更，強制入出力などの制御
状態の変更機能を用いるときに守らなければならない警告及び注意。
b) リモート入出力局での周辺装置の使用の可否。
c) 箇条4で規定した環境条件より，よい条件で用いるように設計された周辺装置の稼動条件（このよう
な周辺装置には，PLCシステムに通信線を通じて，遠方から接続してもよい。）。
d) 通信リンクに必要なケーブル，その他の機器を選定するための仕様。
e) 電源の選定を含む全体システムの適切な設置のための仕様。
f)
入出力の通信ネットワークの方式。例えば，1対1，スター，マルチドロップ，リングなど。
g) 通信リンクで用いる方式，手順，伝送速度，誤りの検出，誤りコードの生成，並びに最良，通常及び
最悪の場合の伝送遅れを考慮した実際のデータ伝送能力。
h) 終端用の部品。
i)
絶縁特性，最大許容コモンモード電圧，組込みの短絡保護のような通信インタフェースの電気的特性
及び機械的特性。
j)
標準リンクインタフェースの種類。例えば，EIAのRS232，RS422，RS485など。
k) 機能接地及び保護接地の仕様。
7.16 自己診断に関する情報
製造業者は，次の情報を適切な文書及び表示で提供しなければならない。
a) 備えている自己診断の説明及び常時，周期的，アプリケーションプログラムからの要求時，立上げ時
など，自己診断がいつ実行されるかについての説明。
b) 警報出力の正常機能状態及び駆動条件（5.8参照）。
8
電磁両立性（EMC）に関する要求事項
この箇条では，PLCシステム装置（MPU，RIOS，常設・非常設周辺装置など）に対する電磁両立性（EMC）
要求事項を規定する。
注記 この規格の箇条8，箇条9及び箇条10は，EU電磁両立性指令の適合要求事項を包含している。
8.1
一般
放射装置としての潜在性を保有するため，設置したPLCシステム及びほかの機器は，伝導及び放射電磁
気妨害を放出する可能性がある。
受信装置としての潜在性を保有するため，PLCシステムは，外部で生成した伝導妨害，放射電磁界及び
静電気放電の影響を受ける可能性がある。
8.2及び8.3の要求事項は，PLCシステム装置のEMC特性を明確にすることを目的とするもので，これ
55
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らは，製造業者の責任とする。製造業者の助言を受け，使用者は，設置した製品のEMCに関して責任を
負う。
PLCシステムは，自動化システム全体の構成要素の一つにすぎないので，この規格は，自動化システム
全体のEMCを扱うものではない。
任意選択のEMCきょう体（キャビネットなど）及びほかの保護装置（フィルタなど）を，製造業者が
指定している場合，供試品（EUT）の一部としてそれを含めなければならない。
EMCきょう体のポートは，PLCシステムの物理的境界であり，それを通して電磁界が出入りする場合が
ある（3.51参照）。
8.2
エミッションに関する要求事項
製造業者が別の方法に関する明確な情報を出していない場合，PLCは，IEC 61000-6-4で規定する工業
環境を対象に設計する。
8.2.1
エミッションに関する一般要求事項
エミッションに関して，表29に示す要求事項の目的は，無線周波数帯の保護を確実に行うことである。
8.2.2
低周波数帯域におけるエミッション限度値
PLCシステムは，公衆電源に接続しないため，150 kHzまでは特に要求事項はない。
8.2.3
高周波数帯域におけるエミッション限度値
高周波数帯域におけるエミッション限度値は，表29による。
表29−エミッション限度値
ポート
周波数帯域
強度（規格に対応）
厳しさレベル（任意）
準拠規格
きょう体ポート
（放射）
−
10 m法で測定
30 m法で測定
IEC 61000-6-4
30〜230 MHz
40 dB（μV/m）準せん頭値
30 dB（μV/m）準せん頭値
230〜1 000 MHz
47 dB（μV/m）準せん頭値
37 dB（μV/m）準せん頭値
AC電源ポート
（伝導）a)
0.15〜0.5 MHz
79 dB（μV）準せん頭値
−
IEC 61000-6-4
66 dB（μV）平均
0.5〜30 MHz
73 dB（μV）準せん頭値
60 dB（μV）平均
注a) 1分間に5回未満のインパルス妨害（クリック）は対象外。
クリックが1分間に30回以上発生する場合は，限度値を適用する。
クリックの発生回数が1分間に5〜30回の場合には，限度値を20 log 30/Nだけ緩和してもよい（Nは，1
分間に発生するクリックの回数）。
離散したクリックに対する判定基準は，CISPR 14-1による。
この要求事項は，9.3及び9.4によって検証する。
8.3
EMCイミュニティに関する要求事項
製造業者が別の方法に関する明確な情報を出していない場合，PLCは，JIS C 61000-6-2で規定された工
業環境を対象に設計する。
8.3.1
一般
工業環境におけるEMC及び干渉結合メカニズムは，図11及び表30による。ゾーンの区分は，配電，
設置方法及びI/O配線によって決まる次の3区分とする。
− ゾーンC 工場の主電源（専用変圧器によって公衆電源から絶縁）。一次サージ保護のため干渉結合が
強い。このゾーンは，JIS C 61000-6-2で規定する一般工業環境より厳しい環境として規定する。
56
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− ゾーンB 専用配電。二次サージ保護のため干渉結合が中程度。このゾーンは，JIS C 61000-6-2で規
定する一般工業環境として規定する。
− ゾーンA ローカル配電。I/Oインピーダンス制限による保護のため干渉結合が弱い。このゾーンは，
一般工業環境（ゾーンB）で取り囲んでおり，次の特徴がある。最短配線，良好な絶縁電源（SELV/PELV），
入出力インピーダンス制限，保護ネットワーク，AC/DCコンバータ，絶縁トランス，サージ減衰器の
設置など。ゾーンAイミュニティ環境は，JIS C 61000-6-1における軽工業環境と同等である。
製造業者が別の方法に関する明確な情報を出していない場合，JIS C 61000-6-2に規定する一般工業環境
（ゾーンB）を対象に設計する。ゾーンBは，ゾーンAを包含する。
製品を複数ゾーンで用いる場合には，その対象となるゾーンの要求事項の組合せの中で最も厳しい条件
に従って設計及び試験を行う。
この図の破線は，物理的分離又は隔離を示すものではない。
この図で参照する文字（F，K，C，Dなど）は，図2で参照する文字と対応する。これらの文字は，インタフェー
ス又はポートを示す。
図11−EMCイミュニティゾーン
57
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表30−EMCイミュニティゾーン
EMCゾーン
内容
ゾーンC
工場主幹電源
高定格電圧
一次サージ保護
電圧サージ結合が強い
4 000 V
ゾーンB
専用配電
≦300 V定格電圧
二次サージ保護
I/Oインピーダンス制限
電圧サージ結合が中程度
2 000 V
ゾーンA
ローカル配電
≦120 V定格電圧
≦100 V定格電圧
≦ 50 V定格電圧
I/Oインピーダンス制限
電圧サージ結合が弱い
1 000 V
800 V
500 V
8.3.2
性能判定基準
性能判定基準は，表31による。
表31−EMC障害に対するPLCシステムの性能判定基準
性能判定基準
基準
動作
試験時
試験後
A
PLCシステムは，正しく動作を継続しなければならない。PFVP
（2.5参照）に従って機能面又は性能面での損失があってはな
らない。
PLCシステムは，正しく動作を継続
しなければならない。
B
性能の低下は許容する。
例 製造業者指定の制限範囲内でのアナログ値の変動，製造業
者指定の制限範囲内での通信遅延時間の変動，HMIディス
プレイのちらつきなどは許容する。
動作モードの変更があってはならない。
例 通信時のデータ喪失又は修復不能エラーがあってはなら
ない。システムによってデジタルI/Oの予想外の変化があ
ってはならない。PFVP（2.5参照）による格納データは，
取り消し可能であってはならない。
PLCシステムは，正しく動作を継続
しなければならない。
一時的に性能が低下しても自己回復
できなければならない。
C
機能を失ってもよいが，ハードウェア及びソフトウェア（プロ
グラム及びデータ）の破壊があってはならない。
PLCシステムは，手動での再起動又
は電源のOFF/ONの後に，自動的に
設定どおりに動作を継続しなければ
ならない。
58
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.3
イミュニティレベル
イミュニティレベルは，表32〜表34による。
表32−熱きょう体ポート試験（ゾーンA及びゾーンB）
項目
準拠規格
試験
厳しさレベル 試験条件 性能判定基準
注記
静電気放電
JIS C 61000-6-2 接触
±4 kV
表38
B
a)
気中
±8 kV
無線周波
電磁界振幅変調
JIS C 61000-6-2 80 % AM
1 kHz
正弦波
2.0〜2.7 GHz
1 V/m
表39
A
b)
1.4〜2.0 GHz
3 V/m
80〜1 000 MHz
10 V/m
電源周波数磁界
JIS C 61000-6-2 60 Hz
30 A/m
表40
A
c) d)
50 Hz
30 A/m
注a) ESD試験は，次の対象に適用する。
1) 操作者が触れることができる機器（例えば，HMI，PADT，TE）
2) きょう体のポート
3) 不用意な接触への保護をしていないもので，操作者が触れることができる部品（例えば，スイッチ，キー
ボード，保護・機能接地，モジュール収納体，コネクタを正しく取り付けている通信ポート及び金属コネ
クタ）
ESD試験は，コネクタがない通信ポート，I/Oポート又は電源ポートには適用してはならない。
b) このレベルは，PLCシステムに隣接する無線機器が放射する電磁界を示すものではない。
c) この試験は，工場で通常発生する磁界に対する機器の感度を検査する目的で行う。試験の適用対象は，磁界
の影響を受けやすい機器を含む装置（ホール効果素子，CRTディスプレイ，ディスクドライブ，磁気メモリ
及び同等品）に限られる。基本仕様のPLCは，通常，このような機器は含まないが，HMIのようなほかの機
器を含む可能性がある。この試験は，溶接及び誘導加熱処理に関連するような強力な磁界をシミュレートす
る目的で行うものではない。影響を受けやすい部品に適用する試験において，部品供給業者がこの要求事項
を満たしても差し支えない。
d) 誤差は3 A/m以下とする。この値を超えた場合，製造業者側は，CRTディスプレイインタフェースの許容誤
差を指定する。
59
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ゾーンBレベルは，最も典型的な工業環境レベルである。
表33−伝導イミュニティ（ゾーンB）
項目
ファストトラン
ジェント・バースト
イミュニティ
サージ
イミュニティ
a)
無線周波
電磁界
伝導妨害
イミュニティ
引用元規格
準拠規格
JIS C 61000-6-2
JIS C 61000-6-2 JIS C 61000-6-2
−
試験条件
表41
表42
表43
−
性能判定基準
B
B
A
−
インタ
フェー
ス又は
ポート
（図2
参照）
データ通信
Al及びAr：I/O
ラック用
Be，Bi及びE：
周辺機器用
シールドケーブル
1 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
JIS C 61000-6-2
の表2
非シールドケーブル
1 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
C及びD：デジ
タル
I/O，アナログ
I/O
シール
ドケー
ブル
AC I/O
1 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
JIS C 61000-6-2
の表2
DC I/O/ア
ナログ
1 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
非シー
ルドケ
ーブル
AC I/O
2 kV b)
2 kV CM c)
1 kV DM c)
10 V b)
JIS C 61000-6-2
の表4
DC I/O/ア
ナログ
1 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
JIS C 61000-6-2
の表2
F：装置電源
AC電源
2 kV
2 kV CM
1 kV DM
10 V
JIS C 61000-6-2
の表4
DC電源
2 kV d)
0.5 kV CM e)
0.5 kV DM e)
10 V
JIS C 61000-6-2
の表3
J：I/O電源及び
K：補助電源出
力
AC I/O及び
AC補助電源
2 kV b)
2 kV CM c)
1 kV DM c)
10 V
JIS C 61000-6-2
の表4
DC I/O及び
DC補助電源
2 kV b) d)
0.5 kV CM c)
0.5 kV DM c)
10 V
JIS C 61000-6-2
の表3
注a) CM：コモンモード電圧，DM：ディファレンシャルモード電圧（JIS C 60050-161による。）
b) ケーブルが3 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
c) ケーブルが30 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
d) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は
何も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならな
い。3 m以内のケーブルで接続する入力及び出力ポートに対しては，試験は不要である。
e) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は
何も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならな
い。入力及び出力ポートに関しては，DC分散電源網に接続せず，かつ，ケーブルが30 m以内と指定がある場合
には，試験は不要である。
60
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ゾーンAのレベルは，設置方法によって，工業環境レベルがゾーンBのレベルより低くなる場合に適用
する。図11に示すように，保護回路，AC/DCコンバータ，絶縁変圧器，サージ抑制器，I/Oインピーダン
ス制限，最短配線，良好な絶縁電源（SELV/PELV）などの設備を導入する場合，このレベルが適用できる。
表34−伝導イミュニティ（ゾーンA）
項目
ファストトラン
ジェント・バースト
イミュニティ
サージ
イミュニティ
a)
無線周波
電磁界
伝導妨害
イミュニティ
引用元規格
準拠規格
JIS C 61000-6-1
JIS C 61000-6-1 JIS C 61000-6-1
−
試験条件
表41
表42
表43
−
性能判定基準
B
B
A
−
インタ
フェー
ス又は
ポート
（図2
参照）
データ通信
Al及びAr：I/O
ラック用
Be，Bi及びE：
周辺装置用
シールドケーブル
0.5 kV b)
試験なし
3 V b)
JIS C 61000-6-1
の表2
非シールドケーブル
0.5 kV b)
試験なし
3 V b)
C及びD：デジ
タル
I/O，アナログ
I/O
シール
ドケー
ブル
AC I/O
0.5 kV b)
試験なし
3 V b)
JIS C 61000-6-1
の表2
DC I/O/ア
ナログ
0.5 kV b)
試験なし
3 V b)
JIS C 61000-6-1
の表2
非シー
ルドケ
ーブル
AC I/O
1 kV b)
2 kV CM c)
1 kV DM c)
3 V b)
JIS C 61000-6-1
の表4
DC I/O/ア
ナログ
0.5 kV b)
試験なし
3 V b)
JIS C 61000-6-1
の表2
F：装置電源
AC電源
1 kV
2 kV CM
1 kV DM
3 V
JIS C 61000-6-1
の表4
DC電源
0.5 kV d)
0.5 kV CM e)
0.5 kV DM e)
3 V
JIS C 61000-6-1
の表3
J：I/O電源及び
K：補助電源出
力
AC I/O及び
AC補助電源
1 kV b)
2 kV CM c)
1 kV DM c)
3 V
JIS C 61000-6-1
の表4
DC I/O及び
DC補助電源
0.5 kV b) d)
0.5 kV CM c)
0.5 kV DM c)
3 V
JIS C 61000-6-1
の表3
注a) CM：コモンモード電圧，DM：ディファレンシャルモード電圧（JIS C 60050-161による。）
b) ケーブルが3 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
c) ケーブルが30 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
d) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は
何も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならな
い。3 m以内のケーブルで接続する入力及び出力ポートに対しては，試験は不要である。
e) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は
何も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならな
い。入力及び出力ポートに関しては，DC分散電源網に接続せず，かつ，ケーブルが30 m以内と指定がある場合
には，試験は不要である。
ゾーンCで用いる場合には，製造業者は，附属書Dを満足する装置を準備しなければならない。
この要求事項は，9.5〜9.10に従って検証する。
61
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.4
電圧ディップ及び瞬時停電
これらの制限は，図2の装置電源インタフェース又はポート（F）に適用する。
PLCシステム（リモート入出力局及び非常設の周辺機器を含む。5.6参照。）は，表35に示す電源の瞬
時停電時間においても正常動作を維持しなければならない。
電源の瞬時停電時間が長い場合には，PLCシステムは，正常動作を維持するか又はあらかじめ定めた状
態に移行し，正常動作に復帰するまで明確に規定した動作をしなければならない。
注記1 同じ電源に接続する出力及び応答が速い入力は，電源変動に応答するものもある。
表35−電圧ディップ及び瞬時停電（EMC要求事項）
電源タイプa)
電源条件の厳しさレベルb)
最大瞬時停電時間
UeからUeに対する割合c)
%
性能判定基準
AC
PS2
0.5周期d)
0 %
A
5 s（250/300周期）e)
0 %
C
0.2 s（10/12周期）e)
40 %
C
0.5 s（25/30周期）e)
70 %
C
注a) 電圧ディップ及び瞬時停電は，Ueから開始する。
b) PS2は，AC電源供給のPLCシステムに適用する。
c) Ueは，表6の定格電圧値を示す。
d) Fn＝50/60 Hzでの任意の位相角（9.12参照）
e) 電源周波数Fn＝50/60 Hz
注記2 表35のEMC電圧ディップ及び瞬時停電の限界は，JIS C 61000-6-2の要求から若干異なる。
電圧ディップ及び瞬時停電の要求事項は，この規格の旧版から引き継いだ。さらに，JIS C
61000-6-2では，判定Bと定義しているが，これは，PLCシステムのアプリケーションでは
有用ではない。とりわけ，PLCシステムのアプリケーションでは，0.5〜1周期の瞬時停電で，
判定Aが必要である。実際のPLCシステムでは，工業環境の要求事項は，上記の要求事項
が必要であることが経験的に裏付けられている。
この要求事項は，9.12に従って検証する。
8.4
EMCの試験及び検証に関する要求事項
EMCの試験及び検証は，箇条9に従って製造業者側で実施する。
8.5
EMCに関する情報についての要求事項
EMCに関する情報は，箇条10に従って製造業者側が提供する。
9
電磁両立性（EMC）形式試験及び検証
EMCの形式試験については，表31の性能判定基準による。
9.1
電磁両立性関連試験
PLCシステムの伝導，エミッション及び各々のイミュニティについては，製造業者のガイドラインに従
って試験を行わなければならない。
全てのEMC試験は，正当に定義され，再現可能な方法によって実施しなければならない。
全てのEMC試験は，形式試験である。
ある試験が不適切で不要であるかどうかは，特定の機器の電気的特性及び使用状況を考慮して決定する
62
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ことができる。この場合，試験を行わないという決定及びその根拠を試験報告書に記録しなければならな
い。
9.2
試験環境
EUTは，指定の試験サイト内に設置し，補助装置は，試験環境の影響範囲外に設置しなければならない。
特定の環境では，少なくとも放射体から近距離にある装置は，妨害の影響を受ける可能性があることを想
定することが望ましい。
工業環境では，30 mの距離をとることが望ましい。
全ての入力・出力ケーブルは，モニタリング及び試験のために，通常どおりループバックしてもよい，
及び／又は標準的な負荷を接続しても差し支えない。
一般に，マルチチャネルI/Oの場合，全てのチャネルを調べる代わりに，代表として一つの回路を試験
してもよい。ON/OFF状態及び／又は許容負荷の最大の点数を，試験しなければならない。
9.3
放射妨害の測定
放射妨害の測定は，表36による。
表36−放射エミッションの測定
準拠規格
CISPR 16-2-3
試験条件
CISPR 16-2-3 a) による。
距離及び方法b)
表29参照
取付条件
製造業者の仕様による。
周波数帯域
表29参照
限度値
表29参照
注a) オープンサイトの物理的特性をもたない放射試験サイトで試験してもよい。
CISPR 16-1-4に示すように，CISPR 16-1-4によって測定したサイトの水平・垂直方向の減衰値が
サイトのCIS理論減衰値を基準に±4 dBの誤差の範囲にある場合，周波数帯域30 MHz〜1 GHzの
放射試験サイトを代わりに用いる。
代替放射試験サイトで有効な結果が得られたことを示すため，この代替放射試験サイトで30 MHz
又は1 GHzの周波数帯域において測定した距離を考慮したうえで有効とする。
このような代替サイトは，有効な結果が得られることを示す根拠を準備しなければならない。
b) 測定距離は，EUT若しくはそのきょう体と試験サイトの測定用受信アンテナとの距離であるか，又
は装置を設置する建物の外壁と試験サイトの測定用受信アンテナとの距離である。
9.4
伝導妨害の測定
伝導妨害の測定は，表37による。
表37−伝導エミッションの測定
準拠規格
CISPR 16-2-1及びCISPR 16-1-2
試験条件
CISPR 16-2-1の7.4.1及びCISPR 16-1-2の4.3による。
適用ポート
AC装置電源ポート（F）
取付条件
製造業者の仕様による。
周波数帯域
表29参照
限度値
表29参照
63
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.5
静電気放電
静電気放電は，表38による。
表38−静電気放電イミュニティ試験
準拠規格
JIS C 61000-4-2
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
製造業者の仕様及びJIS C 61000-4-2の規定による。
適用ポイントの選択
a) ESD試験は，次の対象に適用する。
1) 操作者が触れることができる機器（例えば，HMI，PADT，TE）
2) きょう体のポート
3) 不用意な接触への保護をしていないもので，操作者が触れることが
できる部品（例えば，スイッチ，キーボード，保護・機能接地，モ
ジュール収納体，コネクタを正しく取り付けている通信ポート及び
金属コネクタ。）
b) ESD試験は，コネクタがない通信ポート，I/Oポート又は電源ポート
には適用してはならない。
試験方法
接触放電法
EUT，水平・垂直結合板
気中放電法
EUT
試験の厳しさレベル
表32又は表D.1参照
放電間隔
≧1 s
1か所当たりの放電回数
EUT（供試品）を大地に放電後10回
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表32又は表D.1 a) 参照
注a) 試験中に，供試基本PLCシステムに誤動作が1回発生した場合だけ，2回目の10回放電を実施し，
再度誤動作が発生した場合には，不合格とする。
9.6
放射無線周波電磁界−振幅変調
放射無線周波電磁界は，表39による。
表39−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
準拠規格
IEC 61000-4-3
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
EUTは，校正済試験フィールドに設置する。
掃引周波数帯域
表32又は表D.1参照a)
変調
表32又は表D.1参照
試験電磁界の強度
表32又は表D.1 b) 参照
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表32又は表D.1参照
注a) IEC 61000-4-3の附属書Hも参照。
b) 国際電気通信連合放送周波数帯域，87〜108 MHz，174〜230 MHz及び470〜790 MHzは，電界強度
レベルを3 V/mとする。
64
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.7
電源周波数磁界
電源周波数磁界は，表40による。
表40−電源周波数磁界イミュニティ試験
準拠規格
JIS C 61000-4-8
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
EUTは，1 m四方の誘導コイルの磁界に置く。
周波数（電源ライン）
表32又は表D.1参照
試験方法
連続磁界にEUTを置く方法。
試験磁界の強度
表32又は表D.1参照
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表32又は表D.1 a) 参照
注a) CRTの場合，磁界強度が3 A/mより大きいときは，性能判定基準はBである。
9.8
ファストトランジェント・バースト
ファストトランジェント・バーストは，表41による。
表41−ファストトランジェント・バーストイミュニティ試験
準拠規格
JIS C 61000-4-4
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
EUTは，例えば指定の容量性結合によって，入出力配線で受ける
放射電磁妨害の影響を受けないようにしなければならない。
定格電圧時における厳しさのレベル
表33，表34又は表D.2参照
試験時間
1分以上
適用ポート・
方法
Al，Ar，Be，Bi，E：
通信
50〜200 pFの容量性結合クランプ
C，D：I/O
J：I/O電源
K：補助電源出力
F：装置電源
33 nF直接結合
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表33，表34又は表D.2参照
注記 この試験の繰返し精度は，容量性結合クランプ内の配線数と配線との相対位置に密接に関係する。
65
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.9
サージ
サージは，表42による。
表42−サージイミュニティ試験
準拠規格
JIS C 61000-4-5
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
製造業者の仕様による。
定格電圧時における厳しさのレベル
表33，表34又は表D.2参照
放電回数
正極，負極のそれぞれで5回
繰返し間隔
1分間に1回以上
適用ポート・方法
容量性接続による結合方法
シールド
Al，Ar，Be，Bi，E：
通信
シールドと基準接地との間で2 Ω
C，D：I/O
非シールド Al，Ar，Be，Bi，E：
通信
42 Ω/0.5 μF CM 42 Ω/0.5 μF DM
C，D：I/O
J：I/O電源
K：補助電源出力
F：装置電源
12 Ω/9 μF CM 2 Ω/18 μF DM
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表33，表34又は表D.2参照
9.10 無線周波電磁界伝導妨害
無線周波電磁界伝導妨害は，表43による。
表43−無線周波電磁界伝導妨害イミュニティ試験
準拠規格
JIS C 61000-4-6
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
EUTは，例えば指定の磁気的結合によって，入出力配線で受ける
放射電磁妨害の影響を除去しなければならない。
定格電圧時における厳しさのレベル
表33，表34又は表D.2参照
掃引周波数帯域
150 kHz〜80 MHz
変調
1 kHzの正弦波によって80 %振幅変調
試験レベル（非変調）
表33，表34又は表D.2参照
適用
ポート
Al，Ar，Be，Bi，E：通信
EUTとクランプ又はCDN（結合・減結合回路網）との間の全て
のケーブルは，可能な限り短くする（0.3 m以下）。
CDN，EM又は電流結合クランプ
C，D：I/O
F：装置電源
J：I/O電源
K：補助電源出力
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表33，表34又は表D.2参照
66
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9.11 減衰振動波（ゾーンCだけ対象）
減衰振動波は，表44による。
注記 この規格で規定しているPLCは，ゾーンB及びゾーンAでの適用を基本としており，ゾーンC
での適用は規定していない。ただし，ゾーンBより高い干渉レベルにさらされる場合，ゾーン
Cの要求事項に適用するのが望ましいため，参考として，ゾーンCの要求事項を附属書Dに追
記している。ここで，ゾーンCの場合もゾーンBの場合などと同様に9.5〜9.10の試験が必要
であり，さらに，ゾーンCの場合だけ，9.11への適用が必要のため，ここに試験仕様を規定し
ている。しかし，この規格で規定しているのはゾーンB及びゾーンAであるため，この試験仕
様は，この規格の要求事項には不要である。
表44−減衰振動波イミュニティ試験
準拠規格
IEC 61000-4-18
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
取付条件
製造業者の仕様による。
試験条件
波形
包絡線が3〜6サイクル後に初期ピーク値の50 %に達する減衰振
動波形（波の正弦形を検証）
周波数
1 MHz±10 %
ノイズ発生出力・インピ
ーダンス
200 Ω±10 %非シールド
繰返し精度
400回/s
試験時間
2 s以上
試験ケーブル長
2 m以内
定格電圧時における厳しさのレベル
表D.2参照
適用ポー
ト・方法
C，D：I/O
CM，DM
F：装置電源
J：I/O電源
K：補助電源出力
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。
性能判定基準
表D.2参照
67
B 3502：2011
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9.12 電圧ディップ及び瞬時停電
電圧ディップ及び瞬時停電は，表45による。
電源ポートは，図2の装置電源入力ポートであるポートFとする。
試験時には，PFVP（2.5参照）の適切な機能検証手順を実施する。
表45−電圧ディップ及び瞬時停電イミュニティ試験（EMC試験）
準拠規格
JIS C 61000-4-11
EUT構成
製造業者の仕様による。
初期条件
PFVP（2.5参照）による。
供給電圧及び周波数
Ue a)，Fn
試
験
条
件
A
C
電
源
時間，位相
0.5周期
ゼロクロスから
開始する。b) c)
5 s
（250/300周期）d)
0.2 s
（10/12周期）d)
0.5 s
（25/30周期）d)
UeからUeに対する% a)
0 %
0 %
40 %
70 %
判定基準
表35参照
回数
20回
間隔 t
（s）
1 ＜ t ＜ 10
試験中の測定及び検証
PFVP（2.5参照）による。正常動作運転を保持するe)。
試験後の検証
PFVP（2.5参照）による。
注a) Ueは，表6の定格電圧値を示す。
b) 製造業者は，任意の位相を選択してもよい。
c) 製造業者は，この表より長い瞬時停電時間を仕様としてもよい。
d) 電源周波数Fn＝50/60 Hz
e) 同じ電源に接続する出力又は応答が速い入力は，試験中，一時的に影響を受けても電源回復後は正常動作に
復帰しなければならない。
10 製造業者が提示しなければならない電磁両立性（EMC）に関する提供情報
提供する情報は，書面以外の形式でもよい。
設置の一般規則については，IEC/TR 61131-4に規定する。特定の設置情報については，製造業者が提供
しなければならない。
製造業者は，機器を通常稼動条件又は過酷でない（オフィス環境のような）使用条件のもとで用いるよ
う設計したかどうかを明確にしなければならない。PLCがゾーンB（ゾーンAを包む。）以外のゾーンを
対象としている場合には，製造業者は，対象となるゾーンを明確にしなければならない。
試験報告書には，全試験の内容，EUTの典型的（代表的）構成を選択した根拠及び試験結果を記述しな
ければならない。
試験時のEUTのソフトウェアについて文書化しなければならない。
11 安全要求事項
ここでは，PLCシステム装置（例 MPU，RIOS，常設・非常設の周辺機器）における電気，火災及び
機械・物理的な安全要求事項を規定する。
注記 箇条11〜箇条14は，EU低電圧指令の適合要件を含む。
11.1 装置タイプ及び保護
11.1.1 開放形PLCシステム装置
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
開放形PLCシステム装置は，I/Oモジュールの端子台などの接触可能な電気充電部をもつ装置である。
感電に対する保護は，表46に示すインタフェースに施さなければならない。
開放形装置は，安全を提供する組立品の中に組み込まなければならない。
11.1.2 閉鎖形PLCシステム装置
閉鎖形PLCシステム装置は，取り付け面を除いて，全ての面を覆っている装置であり，人が偶然に装置
の中にある充電又は可動部に接触することを防ぎ，直径12.5 mm以上の固形異物の侵入に対して装置を保
護し，かつ，適用可能な程度において機械的強度，難燃性及び安定性の要求事項に適合しなければならな
い。保護等級は，JIS C 0920に規定するIP20以上でなければならない。
感電に対する保護を施す要求事項として，閉鎖形PLCシステムの各本体は，次のクラス1，クラス2，
クラス3又はこれらを複合した要求事項に適合しなければならない。保護等級は，IP20以上でなければな
らない。
感電に対する保護は，表46に示すインタフェースに施さなければならない。
11.1.2.1 装置クラス
装置クラスは，設置した装置の通常状態又は単一故障状態における感電保護の手段を規定する（JIS C
0365の箇条7参照）。
11.1.2.1.1 クラス1装置
基礎絶縁だけでなく，基礎絶縁が破壊した場合に，危険充電部となり得る導電部分を保護接地導体へ接
続することで，感電に対する保護を達成する装置。
注記 クラス1装置は，二重絶縁，強化絶縁の部分又は安全超低電圧で動作する部分を含んでもよい。
フレキシブルコードを用いる場合は，コードセットの一部として保護接地導体を含まなければならない。
単一故障で危険充電部になる可能性があるPLCシステムの接触可能な導体部分は，PLCシステムの保護
回路に接続しなければならない。ねじ，リベット，銘板などの単一故障下で危険充電部になり得る導体部
は，危険充電部とならないように二重絶縁又は強化絶縁のような手段によって保護しなければならない。
通常の保全のために，PLCシステムの一部をきょう体から取り外したときに，PLCシステムのほかの部
分の保護回路が分断してはならない。
保護接地に対する要求事項については，11.9.1に示す。
11.1.2.1.2 クラス2装置
感電に対する保護を基礎絶縁だけに頼るのではなく，二重絶縁，付加絶縁などの追加的な安全保護を提
供する装置。保護接地が提供されないか又は設置条件に対する依存性がない。
保護インピーダンスは，二重絶縁の代替として用いてもよい。
装置の接触可能部分で二重絶縁を維持している場合，例えば，接地された内部の部品又は導体の表面に
よって，回路の接続を維持してもよい。
保護目的の二重絶縁を維持している場合，例えば，無線周波電磁界伝導妨害抑制などのために機能的目
的で接地端子を接続してもよい。
このような装置は，次のいずれかに当てはまる。
a) 銘板，ねじ，リベットなどのような小さい部品を除いた全ての導体部分を少なくとも強化絶縁と同等
な手段によって危険充電部分から絶縁していて，耐久性があり，実質的に連続なきょう体に絶縁格納
してある。
b) 強化絶縁を用いた部分を除いて，全ての部分で二重絶縁を用いていてほぼ連続する金属きょう体に格
納してある。
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c) a) とb) との組合せ
注記1 絶縁格納は，付加絶縁又は強化絶縁の一部分を構成してもよい。
注記2 保護接地端子又は接触子をもつ，全体が二重絶縁及び／又は強化絶縁の使用は，クラス1の
構造とみなす。
注記3 安全超低電圧で動作する部分を含んでもよい。
11.1.2.1.3 クラス3装置
安全超低電圧（SELV）を給電し，かつ，発生する電圧がSELVの制限を超えない回路によって感電保護
を提供する装置。
無線周波電磁界伝導妨害抑制などのために，機能的目的で接地端子を接続してもよい。
次のいずれかを満たさなければならない。
− SELV/PELV回路への配線は，それ以外の回路への配線から分離しなければならない。
− 全ての導体の絶縁は，最も高い電圧に対応する定格でなければならない。
− JIS C 60364-4-41に基づいて接地した遮へい（蔽）又は追加の絶縁を，SELV/PELV回路への配線の周
囲又は非SELV/PELV回路への配線の周囲に施さなければならない。
11.2 感電に対する保護
通常状態及び単一故障状態においては，PLCシステムの感電に対する保護を維持しなければならない。
単一故障状態であっても，装置の接触可能部は，危険充電部になってはならない。保護は，基本的には閉
鎖形装置を対象にしているが，その要求事項は開放形装置にも適用する。開放形装置にその要求事項を適
用するときは，装置は，製造業者の指示に従って設置しなければならない。
保護は，11.2.2の絶縁耐力要求事項，11.2.3の感電保護要求事項，11.2.4の通常状態要求事項，11.2.5の
単一故障状態要求事項，並びに11.4の空間距離及び沿面距離への要求事項に適合しなければならない。
SELV/PELV回路では感電の危険がないので，感電リスクの追加評価を要求しない。
次の二次回路も感電の危険はなく，感電リスクの追加評価を要求しない。
a) クラス2回路
b) 電圧電流制限回路
c) 電圧制限回路
d) AC 30 V（実効値）又は42.4 V（ピーク値）以下の開放回路に係る電力制限回路
e) 制限インピーダンス回路
これらの回路は，11.2.6.1〜11.2.6.5で説明する。
11.2.1 接触可能部分の許容限度
接触可能部が危険充電部ではないことを確認するために，接触可能部と試験参照接地との間，又は同一
装置上で1.8 m（沿面又は空間）以内の任意の接触可能部間の，電圧，電流，又は蓄積エネルギーは，通
常状態で11.2.1.1，単一故障状態では11.2.1.2の値以下でなければならない。
それらの接触可能な電圧は，測定しなければならない。電圧が11.2.1.1又は11.2.1.2に示す制限より低い
ときは，接触可能な電流及び静電容量を測定する必要はない。電圧がその値を超えた場合には，電流及び
静電容量を，測定しなければならない。
11.2.1.1 通常条件時の値
通常条件においては，a)，b) 又はc) のレベルを超えた値は危険充電部とする。
a) 電圧レベルがAC 30 V（実効値）及び42.4 V（ピーク値），又はDC 60 V。
b) 電圧がa) のいずれかを超えたとき，電流レベルは，次による。
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− 正弦波AC 0.5 mA（実効値），非正弦波0.7 mA（ピーク値），又はDC 2 mA。JIS C 1010-1の図A.1
の測定回路に基づいて測定する。周波数が100 Hz以下の場合には，JIS C 1010-1の図A.2の測定回
路を用いてもよい。
− AC 70 mA（実効値）。JIS C 1010-1の図A.3の測定回路に基づいて測定する。
注記 これは，高周波数における電気的やけどと関係する。
c) 電圧がa) の値のいずれかを超えた場合には，静電容量の電荷又はエネルギーレベルは，次による。
− 15 kV（ピーク値）以下の電圧又は直流で電荷が45 μC。
− 15 kV（ピーク値）を超えた電圧又は直流において蓄積エネルギーが350 mJ。
11.2.1.2 単一故障条件の値
単一故障時においては，a)，b) 又はc) を超えた値は，危険充電部とする。
a) 電圧レベルがAC 50 V（実効値）かつ70 V（ピーク値）又はDC 120 V。
b) 電圧がa) の値のいずれかを超えた場合には，電流レベルは，次による。
− 正弦波AC 3.5 mA（実効値），非正弦波5 mA（ピーク値），又はDC 15 mA。JIS C 1010-1の図A.1
の測定回路に基づいて測定する。周波数が100 Hz以下の場合には，JIS C 1010-1の図A.2の測定回
路を用いてもよい。
− AC 500 mA（実効値）。JIS C 1010-1の図A.3の測定回路に基づいて測定する。
注記 これは，高周波数における電気的やけどと関係する。
c) 電圧がa) の値のいずれかを超えた場合には，容量のレベルはJIS C 1010-1の図2のレベルとする。
11.2.2 絶縁耐力
12.2.1の絶縁耐力試験は，感電に対する保護のために，基礎絶縁，強化絶縁又は二重絶縁を施した全て
の部分と回路との間で，行わなければならない。ただし，12.2.1の絶縁耐力試験は，次の場合，行う必要
はない。
a) SELV/PELV回路と操作者接触可能部（フレーム，きょう体，接地端子など）との間。
b) SELV回路とほかのSELV回路との間。
絶縁耐力試験は，次の条件を全て満たし，かつ，関連する規格に従って個別に試験したユニット（基本
PLCシステムの部品）に対しては，行わなくてもよい。
− 表60及び表61の値を満足する。
− 絶縁耐力が組立てによって劣化しない。
11.2.3 保護を必要とするポート
表46に，操作者が接触可能で，感電保護を要するPLCシステムのポートを定義する。ポートAr，Be
及びE以外では，12.1.2で規定した試験で“接触不可能”とすることによって，保護を達成することも可
能である。
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表46−開放形装置及び閉鎖形装置の感電保護の要否
ポート
感電保護の要否
開放形装置
閉鎖形装置
Al
（ローカル拡張ラック用インタフェース）
否
要
Ar a) （リモート入出力局制御フィールドバス用インタフェース）
要
要
Be a) （オープン通信インタフェース，及び第三者の装置との通信インタフェース）
要
要
Bi
（周辺装置用の内部通信インタフェース）
否
否
C
（デジタル及びアナログ入力信号とのインタフェース）
否
要
D
（デジタル及びアナログ出力信号とのインタフェース）
否
要
E a)
（第三者装置とのデータ通信用のシリアル又はパラレル通信インタフェース）
要
要
F
（装置電源とのインタフェース）
否
要
G
（保護接地とのインタフェース）
否
要
H
（機能接地とのインタフェース）
否
要
J
（I/O電源とのインタフェース）
否
要
K
（補助電源出力用インタフェース）
否
要
注a) ほかの機器に接続する可能性のある回路を含むポートAr，Be及びEは，接触可能としなければならない。こ
れらの回路は，PLCの通常状態及び単一故障状態において危険充電部とならないように保護しなければなら
ない。
ただし，特別な条件においては，受渡当事者間で協定のもとで，開放形又は閉鎖形装置における任意の
ポートに対する“感電保護の要否”を個別に定めてもよい。
11.2.4 通常状態での保護
操作者接触可能部及び表46のポートは，通常状態のもとで危険充電部になることを，次の方法の一つ又
は複数によって防がなければならない。
− 基礎絶縁
注記 適切な絶縁体，トランス及び光絶縁素子によって施すことができる。
− きょう体又は遮へい体
− 保護インピーダンス（11.2.5.3参照）
きょう体及び遮へい体は，11.7.2.2の剛性に関する要求事項に適合しなければならない。きょう体又は遮
へい体が，絶縁によって保護を提供している場合には，それは基礎絶縁に適合しなければならない。
接触可能部と危険充電部との間の空間距離，沿面距離及び絶縁は，11.4の要求事項及び基礎絶縁に関す
る絶縁耐力試験の要求事項に適合しなければならない。
適合は，次によって検証する。
− 12.1.2の測定
− 11.2.2の基礎絶縁の絶縁耐力要求事項
− 12.1.7のきょう体及び遮へい体の剛性についての試験
注記 例えば，ラッカ，エナメル，酸化物，金属の酸化皮膜など損傷を受けやすい物質は，適切な絶
縁体にはならない。紙，繊維，繊維状の物質などの含浸処理していない吸湿性がある物質も適
切な絶縁体にはならない。
11.2.5 単一故障状態での保護
単一故障が起きたときにも，操作者接触可能導体部及び表46のポートが危険充電部になることを，保護
の追加によって防がなければならない。この追加の保護は，次の手段の一つ以上を備えなければならない。
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a) 保護接地及び結合（11.2.5.1参照）
b) 付加絶縁（11.2.5.2参照）
c) 保護インピーダンス（11.2.5.3参照）
例えば，部品又は基礎絶縁が短絡するなど，単一の保護手段がその保護を維持できなくなった場合には，
単一故障とみなさなければならない。
故障試験又は解析は，保護インピーダンス，短期間又は断続的な動作のための部品，絶縁トランス，出
力，冷却手段及び絶縁に関して行わなければならない。装置にとって最も過酷な条件下で，試験又は解析
を行い，適切な部分に対しての短絡，開放及び遮断の結果を得なければならない。試験は，一度に1か所
適用する。ヒューズの開放で故障が終了し，かつ，ヒューズが約1秒以内に開放にならない場合には，装
置は，ヒューズ開放時間の最長時間動作しなければならない。
故障を発生させた後，装置は，事前の調整なしで，全ての操作者接触部が危険充電部になっていてはな
らない，かつ，12.2.1の絶縁耐力試験を満足しなければならない。
この要求事項は，12.3.1〜12.3.4に従って検証しなければならない。
11.2.5.1 保護接地及び結合
11.2.5に規定する基本的な保護手段の単一故障によって，操作者接触可能導体部分が危険充電部になる
場合，それを保護導体端子に結合しなければならない。又は，このような接触可能部分は，保護導体端子
に結合された導電性の保護スクリーン又は遮へい体によって，危険充電部から隔離しなければならない。
全ての危険充電部から二重絶縁又は強化絶縁によって，操作者が接触可能な導体を隔離している場合に
は，それを保護接地端子に結合する必要はない。
適合は，12.2.2に沿った検査及び確認で検証する。
11.2.5.2 付加絶縁
空間距離は，11.4.1及び11.4.2に従わなければならない。沿面距離は，11.4.3に従わなければならない。
二重絶縁又は強化絶縁は，単一故障条件においても，保護の要求事項を満たさなければならない。
11.2.5.3 保護インピーダンス
保護インピーダンスは，11.2.1.1による通常状態又は11.2.1.2による単一故障条件のもとで，操作者が接
触可能な部分が危険充電部にならないように電圧を制限するか，又はSELVの値に制限しなければならな
い。
危険の原因になりにくい単一部品を，用いてもよい（JIS C 1010-1の14.6参照）。
この要求事項は，12.3.3に従って検証しなければならない。
11.2.6 感電を生じない二次回路
11.2.6.1 クラス2回路
クラス2回路は，強化絶縁又は二重絶縁した独立した電源から給電しなければならない。その最大出力
電圧は，次のいずれかでなければならない。
− 42.4 V（ピーク値）（正弦波又は非正弦波AC）
− DC 60 V
− デューティ比50 %前後，又は200 Hz以下の断続的DC 24.8 V
クラス2電源の最大出力電流は，本質的電力制限の有無に依存する。本質的電力制限には表47を適用し，
非本質的電力制限には表48を適用する。
11.2.6.2 電圧電流制限回路
電圧電流制限回路は，強化絶縁又は二重絶縁された独立した電源から給電しなければならない。その電
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源は，開回路電圧がAC 30 V（実効値）かつ42.4 V（ピーク値）未満で，許容電流は動作1分後に測定し
て8 A未満とする。
この要求事項に適合するために，絶縁形トランスの二次巻線を用いてもよい。
許容電流を制限するために用いる二次ヒューズ，又はそれに類する二次保護素子の定格は，回路定格が
20 V（ピーク値）以下の場合は5 A以下，回路定格が20〜30 V（ピーク値）の場合は100 VA以下でなけ
ればならない。
電流制限素子を一次回路で提供する場合，二次回路の許容電流を8 Aに制限しているときには，電流定
格には制限を設けない。
11.2.6.3 電圧制限回路
電圧制限回路には，許容電流又は許容皮相電力を制限することなく，開回路電圧がAC 30 V（実効値）
かつ42.4 V（ピーク値）未満である強化絶縁又は二重絶縁した独立した電源から，給電しなければならな
い。また，過電流保護は，過負荷又は短絡状態から生じる二次回路の配線絶縁の焼損に対する保護を提供
しなければならない。この保護は，機器に備えた一次回路における過電流保護素子，又は分岐回路素子に
よって提供してもよい。
11.2.6.4 AC 30 V（実効値）かつ42.4 V（ピーク値）以下の開回路となり得るエネルギー制限回路
エネルギー制限回路は，強化絶縁又は二重絶縁した独立した電源から給電しなければならない。また，
その電源は，回路への最大皮相電力許容能力が，AC 100 V（実効値）の最大開回路電圧において200 VA
以下でなければならない。この要求事項に適合するために，絶縁形トランスの二次巻線を用いてもよい。
最大許容皮相電力を制限するために，一次ヒューズ，二次ヒューズ，その他の回路保護素子を用いてもよ
い。
11.2.6.5 制限インピーダンス回路
制限インピーダンス回路は，次の二つの要求事項に適合したインピーダンスを経由して給電しなければ
ならない。
a) インピーダンスの二次回路で短絡が生じた場合の計算上のインピーダンスの電力損が，インピーダン
スの定格電力を上回らない。
b) インピーダンスにおける電力損は，15 W以下でなければならない。
計算上の電力損が定格を超えるとき，電力が15 W以下で，インピーダンスの下流回路を渡って印加し
た直接短絡が生じたときに，インピーダンスが開放又は短絡しない場合，そのインピーダンスを用いても
よい。
制限インピーダンスは，インピーダンスによって制限した回路を閉じない場合，単一故障条件において
も有効でなければならない。
11.12によって検証した単一の抵抗又は単一の線間コンデンサは，この制限インピーダンス要求事項に適
合しているとみなす。
11.3 延焼に対する保護
延焼に対する保護の要求事項は，次の回路には求めない。
a) クラス2回路（11.2.6.1）
b) 電圧電流制限回路（11.2.6.2）
c) 制限インピーダンス回路（11.2.6.5）
d) 電力制限回路（11.3.1）
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これらの回路に対しては，部品及び空隙は評価する必要がない，また，11.5は適用しない。
延焼に対する保護は，電力制限回路，クラス2回路，電圧電流制限回路及び制限インピーダンス回路と
ほかの回路との間で評価しなければならない。
部品の故障が伴うところは，検証は，12.3.2に従って行わなければならない。
11.3.1 電力制限回路
電力制限回路は，開回路電位がAC 30 V（実効値）かつ42.4 V（ピーク値）又はDC 60 Vを超えない電
池，トランスなどのような電源によって電力の供給を受ける回路であり，回路へのエネルギーを，次のい
ずれかの手段の一つによって制限する。
− 最大出力電流及び電力を，本質的には表47の値を超えないように制限する。
− 全ての条件のもとでの最大出力電流及び電力を，表47の値を超えないようインピーダンスで制限する。
− 過電流保護装置によって，表48の値を超えないよう，最大出力電流及び電力を制限する。
− 調節回路（フィードバック回路など）によって，通常の使用時又は調節回路の単一故障の状態におい
ても，表47の値を超えないように最大出力電流及び電力を制限する。
− 調節回路によって，通常状態で，表47の値を超えないように最大出力電流及び電力を制限し，かつ，
調整回路における単一故障状態において，過電流保護装置によって，表48の値以下になるよう最大出
力電流及び電力を制限する。
過電流保護装置を用いる場合には，それはヒューズ又は調整不可能で自己リセットできない素子でなけ
ればならない。
表47−本質的な電力制限の出力電流及び出力電力の限界
開放回路出力電圧 U
最大出力電流
（A）
最大出力電力
（V×A）
V（実効値）（AC）
V（DC）
≦20
≦20
8.0
5×U
20＜U≦30
20＜U≦30
8.0
100
−
30＜U≦60
150/U
100
非正弦波AC及び10 %を超えるリップルをもつDCについては，ピーク電圧は42.4 V（ピーク値）を超
えてはならない。
表48−非本質的な電力制限の過電流保護装置の出力電流，出力電力及び定格の限界
開放回路出力電圧 U
最大出力電流
（A）
最大出力電力
（V×A）
過電流保護装置の定格電流値
（A）
V（実効値）（AC）
V（DC）
≦20
≦20
1000/U
250
≦5
20＜U≦30
20＜U≦60
1000/U
250
≦100/U
過電流保護装置の定格電流値は，表48の最右の列の値の210 %の電流値で120秒以内に電流を遮断する
ヒューズ及び回路遮断器のためにある。
この要求事項は，12.4によって検証する。
11.4 空間距離及び沿面距離への要求事項
空間距離及び沿面距離は，次によって設計しなければならない。
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なお，沿面距離の値は主に汚損度によって規定し，空間距離の値は主に過電圧によって規定する。
a) 回路間の空間距離及び沿面距離は，最も高い動作電圧に関連する要求事項に適合しなければならない。
これには，操作者の接触可能部分における機能接地も含む。
b) 多層プリント配線基板の内層に関しては，空間距離及び沿面距離への要求事項はない。
c) 実際の空間距離及び沿面距離への要求事項は，評価時の回路の動作電圧及び製造業者が指定する汚損
度に基づかなければならない。
d) 機器の機能を実現するだけであり，電気的絶縁に関する要求事項に対して寄与しない，特定の回路内
の空間距離及び沿面距離は，故障によって火災の危険が発生しないような大きさの値だけが必要であ
る。
e) 沿面距離は，直線補間してもよい。ただし，外部電源に直接接続しておらず，トランス，コンバータ，
絶縁素子又は同等の絶縁素子を通して電力供給した回路又は部品だけに対して，空間距離を補間して
よい。また，空隙を緩和するに当たっては，JIS C 1010-1の6.7.3の要求事項に基づいてもよい。
f)
プリント配線基板上に実装した部品が動作電圧においてフォトカプラ及び／又は線間コンデンサなど
の適切な部品の規格に適合していない場合，沿面距離及び空間距離の要求事項をそれらに適用する。
機能又は配置が機器の安全に対して重要な影響を及ぼす部品に対してだけ，これらの要求事項を適用
する。この決定は，表52〜表56の要求事項に従って，又は表60若しくは表61の試験要求に従って
行わなければならない。
g) 二重絶縁の要求事項は，SELV/PELV回路及び接地していない接触可能部と危険充電部との間の，空間
距離及び沿面距離に，適用しなければならない。
h) 全ての場合，規定の値以上でなければならない。
注記1 表49，表50，表51，表52，表54及び表56は空間距離及び沿面距離の理論的最小値を示す
が，実際は，製造工程で機械的許容差を管理できる範囲によって，その理論値にどれだけ近
付けるかが決まる。
注記2 管理した条件下の工場で装置を製造し，現場配線端子以外の追加が必要でないように組み立
てた場合には，最小値に近付くことは可能である。
注記3 サービス部門又は通常の使用による部品の交換（例えば，ヒューズ）は，管理した条件の一
部とみなす。
注記4 装置を実際に取り付けて接続する場合には，設置の方法及び現場配線端子での配線方法を考
慮しなければならないので，余裕をもった空間距離が必要となる。
これらの要求事項は，12.1.8に従って検証する。
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11.4.1 過電圧カテゴリIIに関する空間距離
11.4.1.1 現場配線端子以外の空間距離
基礎絶縁及び付加絶縁についての空間距離を表49に，二重絶縁及び強化絶縁についての空間距離を表
50に，それぞれ示す。
表49−過電圧カテゴリIIの条件に対応した現場配線端子以外の最小空間距離（基礎絶縁又は付加絶縁）
動作電圧 Ue
最小空間距離
（mm）
V（実効値）（AC），又はV（DC）
汚損度1
汚損度2
汚損度3
50 a)
0.04
0.2 b)
0.8
100
0.1
0.2 b)
0.8
150
0.5
0.5
0.8
300
1.5
1.5
1.5
600
3.0
3.0
3.0
1 000
5.5
5.5
5.5
注記 この表は，IEC 60664-1から引用。
注a) DCでは，60 Vとする。
b) プリント配線材料については，汚損度1に対する値を適用する。
表50−過電圧カテゴリIIの条件に対応した現場配線端子以外の最小空間距離（二重絶縁又は強化絶縁）
動作電圧 Ue
最小空間距離
（mm）
V（実効値）（AC），又はV（DC）
汚損度1
汚損度2
汚損度3
50 a)
0.1
0.2
0.8
100
0.5
0.5
0.8
150
1.5
1.5
1.5
300
3.0
3.0
3.0
600
5.5
5.5
5.5
1 000
11
11
11
注記 この表は，IEC 60664-1から引用。
注a) DCでは，60 Vとする。
空間距離は，実測又は前処理を除く12.2.1に従った絶縁耐力試験によって検証しなければならない。
変形の可能性がある金属きょう体面との空間距離は，12 mm以上でなければならない。
表49及び表50で規定した空間距離は，12.1.6に適合した保護コーティングで全ての部品を完全に覆っ
たプリント基板には適用しない。
同様に，過電圧を抑制している部位には適用しない（11.4.2及び表52参照）。
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11.4.1.2 現場配線端子の空間距離
現場配線端子間及び現場配線端子ときょう体との間の最小空間距離は，表51の要求事項に従わなければ
ならない。
表51−現場配線端子における最小空間距離
動作電圧 Ue
端子の空間距離
（mm）
V（実効値）（AC），又はV（DC）
一般使用
制限した使用a) b)
変形の可能性がある金属
きょう体と端子との間
0＜Ue≦ 50
1.6
1.6
12
50＜Ue≦300
3.2
1.6
12
300＜Ue≦600
6.4
4.8
12
注a) 51〜150 Vで15 A以下，151〜300 Vで10 A以下，又は301〜600 Vで5 A以下の定格である
機器に適用。
b) 一度に接続する負荷の合計が51〜150 Vで30 A，151〜300 Vで20 A，又は301〜600 Vで10
A以下の，複数の負荷を制御する機器に適用。
11.4.2 電圧を抑制しているミクロ環境での空間距離
ピーク電圧を抑制している場合，これらのピーク電圧に基づいた最小空間距離は，表52による。機器が
表52に示す適切な電圧に制限した設計である場合に，ピーク電圧を抑制しているとみなす。これは，表
60のインパルス電圧試験を実施し，その回路で電圧を抑制していることを検証する。
表52−電圧を抑制しているミクロ環境での最小空間距離
全ての過渡電圧及びインパルスを含むピーク電圧 Vp
（V）
最小空間距離
（mm）
汚損度1
汚損度2
汚損度3
330
0.01
0.20 a)
0.80
500
0.04
0.20 a)
0.80
800
0.1
0.2
0.80
1 500
0.5
0.5
0.80
2 500
1.5
1.5
1.5
4 000
3.0
3.0
3.0
6 000
5.5
5.5
5.5
8 000
8.0
8.0
8.0
注記 この表は，IEC 60664-1から引用。
注a) プリント基板に対しては，汚損度2の空間距離は，330 V及び500 Vの両方のピーク電圧で0.04 mmでもよい。
空間距離は，実測又は前処理を除く12.2.1に従った絶縁耐力試験によって検証しなければならない。
変形の可能性がある金属きょう体面との空間距離は，12 mm以上でなければならない。
11.4.3 基礎絶縁及び付加絶縁の沿面距離
沿面距離は，少なくとも空間距離と等しいか又はそれ以上とする。しかし，この寸法的な制限以外に，
最小空間距離と最小沿面距離との間に物理的な関係はない。
12.2.1で適用する表60及び表61に基づいた絶縁耐圧が，空間距離にとって十分であるとき，表49，表
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50及び表52に規定の空間距離より短い沿面距離は，汚損度1及び2の条件のもとだけで用いてもよい。
これは，同じ空間距離でも非同相の設計に対して，より大きいインパルス耐圧を達成できる同相の構成
で回路を設計した場合である。
注記 同相及び非同相の説明は，IEC 60664-1を参照。
絶縁材料は，比較トラッキング指数（CTI）によって，4種類に分類する。沿面距離は，表53で規定す
る特定の物質のCTIによる。
表53−トラッキング指数（CTI）による材料グループの分類
CTI
材料グループの分類
100≦CTI＜175
3b
175≦CTI＜400
3a
400≦CTI＜600
2
600≦CTI
1
注記1 絶縁材料グループの分類は，IEC 60664-1を参照。
注記2 CTIの決定方法については，JIS C 2134を参照。
11.4.3.1 最小沿面距離（基礎及び付加絶縁）
11.4.3.1.1 プリント配線基板以外の最小沿面距離
最小沿面距離は，表54及び適用する空間距離より大きくなければならない。
表54−プリント配線基板以外の最小沿面距離a)
動作電圧 Ue
沿面距離c)
（mm）
汚損度1
汚損度2
汚損度3
全ての
材料分類
材料分類
材料分類
V（実効値）（AC），又はV（DC）b)
1
2
3a，3b
1
2
3a，3b
基礎絶縁及び付加絶縁
50
0.18
0.6
0.85
1.2
1.5
1.7
1.9
100
0.25
0.71
1.0
1.4
1.8
2.0
2.2
125
0.28
0.75
1.05
1.5
1.9
2.1
2.4
160
0.32
0.8
1.1
1.6
2.0
2.2
2.5
250
0.56
1.25
1.8
2.5
3.2
3.6
4.0
320
0.75
1.6
2.2
3.2
4.0
4.5
5.0
630
1.8
3.2
4.5
6.3
8.0
9.0
10.0
1000
3.2
5.0
7.1
10.0
12.5
14.0
16.0 d)
注記 この表は，IEC 60664-1から引用。
注a) この表で規定する沿面距離は，繰返しピーク電圧を含まない交流電圧又は直流電圧に対するものである。繰返
しピーク電圧が存在するミクロ環境については，表56を適用する。
b) 正弦波の実効値。
c) 複数回路間の沿面距離（及び空間距離）は，それらの回路の最高電圧及びその絶縁耐力電圧に対応する値でな
ければならない。
d) 材料分類3aだけに対して適用する。630 Vを超える場合，材料分類3bを汚損度3で用いることは一般的に推奨
しない。
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11.4.3.1.2 プリント配線基板の最小沿面距離
プリント配線基板において，基礎絶縁及び付加絶縁に必要で，保護コーティングした部分及び保護コー
ティングしていない部分に関する最小沿面距離は，表55又は適用する空間距離の値以上でなければなら
ない。
表55−プリント配線基板の最小沿面距離（基礎絶縁及び付加絶縁）a) b) c)
動作電圧 Ue
V（実効値）（AC），又はV（DC）d)
保護コーティングした部分b) e) f) g)
（mm）
保護コーティングしていない部分
（mm）
汚損度1 h)
汚損度2 i)
50
0.025
0.025
0.04
100
0.1
0.1
0.16
125
0.16
0.16
0.25
160
0.25
0.25
0.4
250
0.56
0.56
1.0
320
0.75
0.75
1.6
630
1.8
1.8
3.2
1 000
3.2
3.2
5.0
注記 この表は，IEC 60664-1から引用。
注a) この表で規定する沿面距離は，繰返しピーク電圧を含まない交流電圧又は直流電圧に対するものである。繰
返しピーク電圧が存在するミクロ環境については，表56を適用する。
b) 部品が未実装のコーティングしている試験基板については，11.2.2の絶縁耐力試験に耐えなければならない。
c) 複数回路間の沿面距離（及び空間距離）は，それらの回路の最高電圧及び絶縁耐力電圧に対応する値でなけ
ればならない。
d) 正弦波又は非正弦波の交流電圧の実効値。
e) 保護コーティングは，湿気及び汚損を遮断し，11.2.2で規定した過電圧に対して効果的で確実な絶縁が得られ
るように基板に密着しなければならない。
f) 全ての材料分類並びに汚損度1，2及び3に適用する。
g) 保護コーティングが12.1.6に規定する要求事項に適合していることを製造業者が証明する場合，この試験は
不要である。12.1.6の要求事項に適合しない限り，はんだマスクは保護コーティングとみなさない。
h) 全ての材料分類に対して適用する。
i) 材料分類1，2及び3aに対して適用する。
11.4.3.2 繰返しピーク電圧に対する沿面距離の要求事項
11.4.3.2.1 原理
部分放電現象は，高湿度及び繰返しピーク電圧（インパルス）に長時間さらされる表面に起こる。繰返
しピーク電圧は，導体間の小さな部分に絶縁破壊を起こし，放電路の領域を増大させながらフラッシオー
バを発生させる。結果的に，全面的な放電路を形成し，完全な絶縁破壊に至る。表56に示す値は，部分
的な放電の発生を防ぎ，汚損度1及び2に対して有効である。
11.4.3.2.2 繰返しピーク電圧に対する沿面距離の要求事項
繰返しピーク電圧がある場合には，空間距離及び沿面距離の要求事項に加えて，表56に示す沿面距離の
要求事項も同時に満たさなければならない。
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表56−コーティングなしのプリント配線基板上の繰返しピーク電圧に対する
最小沿面距離（汚損度1及び2）a)
最大繰返しピーク電圧b) c)
（V）
沿面距離
（mm）
330
0.1
400
0.2
450
0.25
600
0.4
640
0.5
800
0.75
1 140
1.5
1 150
1.6
1 250
1.8
1 650
3.0
1 700
3.2
2 200
5.0
2 300
5.5
2 800
8.0
注a) この表は，装置電源の50/60 Hzの正弦波のピーク値には適用しない。た
だし，50/60 Hzの正弦波に重畳する短時間のサージ電圧には適用する。
b) 繰返しピーク電圧値は，部分的な放電に関する統計的なデータに基づい
ている。
c) 繰返しピーク電圧は，回路解析によってもよい。
11.4.4 二重絶縁又は強化絶縁の沿面距離
二重絶縁又は強化絶縁に対する沿面距離は，基礎絶縁に対する値の2倍とする。
11.4.5 現場配線端子の沿面距離
現場配線端子に対する沿面距離は表54によるが，表51で規定する空間距離以上でなければならない。
11.5 非金属材料の難燃性に対する要求事項
この細分箇条（11.5）は，次の回路には適用しない。
a) クラス2回路（11.2.6.1）
b) 電圧電流制限回路（11.2.6.2）
c) 制限インピーダンス回路（11.2.6.5）
d) 電力制限回路（11.3.1）
11.5.1 非金属きょう体材料
最終のきょう体をなす非金属きょう体材料は，延焼を防ぐか又は最小限に留める適切な難燃性をもたな
ければならないので，V-0，V-1又はV-2の燃焼性分類に適合しなければならない。
燃焼性分類は，JIS C 60695-11-10に規定する。
装飾目的（例えば，ラベル）又は機能目的（例えば，ガスケット，キーパッドカバーなど）に用いる非
金属材料及びきょう体の基本的な部分を構成しない材料は，特別な難燃添加剤及び難燃性を要求しない。
11.5.2 充電部を支持する非金属きょう体材料
絶縁している遮へい体を含み，充電部分を支持するのに用いる非金属材料（例えば，プリント配線基板，
トランスボビン，バッテリケースなど）は，延焼を防ぐか又は最小限に留める適切な特性をもたなければ
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ならない。これらの物質は，燃焼性分類V-0，V-1又はV-2の特性をもち，JIS C 60695-2-11によるグロー
ワイヤ試験で750 ℃かつ30秒の条件を適用し，30秒以下の消火時間及びトラッキング指数が175以上で
なければならない。
PLC製造業者が，この条件に適合しているか又はこれと同等であるという証明ができる場合には，試験
は不要とする。部品（例えば，トランス，集積回路，コンデンサなど）に用いる非金属材料は，この要求
事項から除外する。
11.5.3 非金属部品
非金属部品は，JIS C 60695-11-10若しくは同等の規格に規定の燃焼性分類V-2又はそれ以上のものでな
ければならない。
11.5.4 装飾及びラベルの材料
装飾部品の材料（非金属の化粧材）及びラベルの材料は，11.5の要求事項に適合する必要はない。
11.5.5 内部配線又は相互接続配線ケーブル
非制限回路に用いる絶縁した配線は，JIS C 60695-11-10又は同等の規格に規定の燃焼性分類V-1又はそ
れ以上でなければならない。
制限電力回路に用いる配線には，難燃性は要求されない。
11.6 温度限界
温度限界は，次による。
a) 部品温度限界（11.12に規定するものを除く。）について，この規格の安全面から要求する機能又は特
性に関わる部品及び部材は，定格温度限界又は定格温度上昇を超えてはならない。
b) 保全者又は通常操作において，表46に定義の，操作者が容易に接触し得る部分などは，表57の温度
限界を超えてはならない。
温度試験中，現場配線端子の温度を測定しなければならない。現場配線絶縁温度定格を決定するために，
その測定データを機器の定格雰囲気と関連して用いる。
表57−温度限界
装置又は部品
接触時間
絶対最大温度
（℃）
例
金属
非金属
操作者が手で持って操作する装置
連続
55
70
ハンドヘルド端末
操作者が操作で通常触れる部品
一時的
70
85
きょう体上の押しボタン
修理点検時，通常の操作で触れる部品
一時的
70
85
PLC上のキースイッチ
修理点検時，通常の操作で触れない部品
一時的
100 a)
100 a)
ヒートシンク
注a) 温度がこの値を超える場合，警告ラベル表示が必要である（箇条14参照）。
11.7 きょう体
きょう体は，危険な充電部又は可動部品に対する保護を提供しなければならない。
装置のきょう体は，11.7.1又は11.7.2の要求事項に適合しなければならない。
11.7.1 開放形装置
開放形装置の収納体は，きょう体とはみなさない。製造業者の設置説明書は，この規格のきょう体に対
する要求事項に適合するように，開放形装置をどのように設置するかを明記しなければならない。
11.7.2 閉鎖形装置
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操作者が用いる条件のもとで，閉鎖形装置は，最低でもJIS C 0920に規定する保護等級IP20に適合し
なければならない。
11.7.2.1 つまみ及び軸
きょう体の外部の導電キーパッド，つまみ及び軸は，充電部分に接触してはならない。
通常に用いるつまみ類は，その絶縁故障によって感電の危険をもたらしてはならない。
11.7.2.2 機械的強度
きょう体の機械的強度は，通常の取扱いに耐えるものでなければならない。きょう体による保護は，12.1.1
及び12.1.7の適用の後に，検証しなければならない。
11.8 操作者が接触可能な危険充電状態になる現場配線端子構造上の要求事項
製造業者の指定に沿って配線したときに，端子部は，沿面距離及び空間距離の要求事項を満たすように
設計しなければならない。これは，12.1.9に従って検証しなければならない。
注記 導線のばらけた素線の存在は，製造業者が指示する設置方法の想定外である。
接触及び通電を保つ端子の全ての部分は，適切な機械的強度をもった金属でなければならない。これは，
JIS C 8201-7-1及び関連するJIS又はIEC規格に従って検証しなければならない。
必要な接触圧力を稼動条件の全範囲において確保するために，端子接続は，ねじ・ばね・ワイヤラップ・
着脱端子台・クランプ接続などの手段によって，接続できるものでなければならない。
装置の動作を損なわないように，端子台の導体及び端子自身が外れてはならない。また，端子の空間距
離及び沿面距離は，要求値以下になってはならない。
外部接続部分の機械的設計では，導線の曲げ半径は，外被，覆い及び充てん材を除いたいずれの導線部
の直径の6倍以下であってはならない。
配線端子と接地端子との間の空間距離は，11.4.1.2による。
11.9 保護接地に関する条項
次に規定している要求事項は，保護接地が必要でないSELV回路には適用しない。
11.9.1 閉鎖形機器の保護接地に関する要求事項
クラス1装置の接触可能な部分，例えば，シャシ，フレーム及び金属きょう体の固定部分は，感電の危
険性がないほかの部分とは異なり，外部の保護導体に接続するために，電気的に相互結合したうえで保護
接地端子に接続しなければならない。
この要求事項は，十分な導電性をもつ構造部品によって満たすことができる。そして，この装置が，単
独での使用又は組み込んでの使用のいずれの場合にも適用する。
クラス1の可搬形周辺装置に電源を供給するコード又はケーブルは，保護接地線を備えなければならな
い。
保護接地線の絶縁被覆は，緑地に黄のしま（縞），又は緑一色でなければならない。
接触可能で絶縁された導電部分は，危険にならないように考慮し，たとえ充電部に接触しないように配
置されていたとしても，強化絶縁に関する表61中の，そのユニットの最大定格動作電圧に当たる絶縁試
験電圧に耐えなければならない。
クラス2装置は，内部に機能接地のための導体を備えてもよいが，保護接地端子又は装置電源の入力コ
ード内の保護接地線を備えてはならない。
保護接地端子は，PLCシステムが保護接地端子を備える場合（クラス1装置），上記の一般的な接続仕
様に加えて，次の要求事項も適用する。
a) 保護接地端子は，容易に取扱いが可能であり，カバーなどの取外しができる部品を外しても外部の保
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護接地導体との接続を維持する場所に配置しなければならない。
b) 周辺機器のようにコードを接続して用いる製品の保護接地端子は，コードが取外し可能な場合には，
プラグ又はソケットと一体でなければならない。
c) 保護接地端子は，ねじ止め式，ボルト式又は圧着式で，適切な耐腐食性の材質でなければならない。
d) 保護接地端子の取付方法は，偶然に外れることがなく，また，工具を用いなければ外せないものでな
ければならない。
e) 保護接地端子及び接地接触子は，PLCシステムの中性点端子と直接接続してはならない。ただし，保
護接地端子と中性点端子との間に，コンデンサ，サージサプレッサなどの適切な定格の素子で接続し
てもよい。
f)
保護接地端子及びそれに接続したPLCシステム内部の保護装置は，12.2.2で規定する試験に適合しな
ければならない。
g) 保護接地端子に他の機能をもたせてはならない。
11.9.2 開放形機器の保護接地に関する構造上の要求事項
開放形機器は，外部の保護接地導体の代わりに用いる“最終的きょう体への接続手段”に関する規定を
除いて，11.9.1の要求事項に適合しなければならない。
11.10 配線
次の要求事項は，PLCシステムの内部及び／又は外部の，製造業者が提供する全ての配線に適用しなけ
ればならない。
11.10.1 内部配線
装置の全ての内部配線に関する絶縁性能は，使用状態における電圧及び温度の定格を満足しなければな
らない。
全ての結線部分及び接続部分は，機械的に確実に固定し，電気的に導通していなければならない。
内部配線は，内部配線自体及び電気的接続部分に力が加わったり又は機械的な損傷を受けないような経
路で配線し，確実に固定しなければならない。運転中又は保全中に折り曲げる内部配線は，その導線が単
線か又は絶縁皮膜の厚さが0.8 mm未満である場合には，12.1.4で規定する柔軟性について試験しなければ
ならない。
電気的な結合は，はんだ付け，溶接，かしめ，その他の方法で確実に接続しなければならない。
機械的な応力を受けるおそれがあるはんだ付けされた接続部分は，はんだによる固定とは別に，機械的
に固定しなければならない。このような接続は，構造部品の固定などほかの目的に用いてはならない。
ねじによる接続は，緩まないように固定しなければならない。
この要求事項は，SELV/PELV回路には適用しない。
11.10.2 相互配線
この細分箇条（11.10.2）は，PLCシステム及び製造業者が供給するコネクタ付きケーブルだけに適用し，
PLCシステムを用いる工業用制御システム全体には適用しない。
装置の相互接続用に供給するケーブル及び電線は，11.10.1の要求事項に適合しなければならない。
装置の一部と一部との間，又はPLCシステムのユニット間を接続するケーブル及び可とう電線は，用い
る電圧及び温度に耐える種類のものでなければならず，適切な張力を調整する手段を備えなければならな
い。ただし，電力制限回路を除く。
プラグとソケットとの組合せ誤り，マルチピンコネクタの誤挿入及び操作者が触れることができるコネ
クタの挿抜によって，機械的な損傷，PLCシステムの火災の危険，感電又は負傷事故が発生してはならな
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い。
11.10.3 装置電源電線
製造業者が供給する装置電源電線は，JIS C 1010-1の6.10による主電源コードへの要求事項に適合しな
ければならない。
脱着可能な又は固定したコードセットに接続する回路は，11.2によるとおり，プラグ及び／又はレセプ
タクルを抜いて1秒後にピンに触っても感電するおそれがないように設計しなければならない。この試験
は，12.2.3に従って実施しなければならない。
11.11 スイッチング機器
出力を制御するスイッチング機器は，JIS C 8201-5-1に従いそれらの定格内で用いるか，又はスイッチ
ング機器を用いている装置に，それぞれ12.2.4及び12.2.5で規定した過負荷試験及び耐久試験を実施しな
ければならない。
同一のサンプルを最初に過負荷試験で用い，その後，耐久試験で用いる。耐久試験又は過負荷試験だけ
を単独で実施する場合には，12.2.1で規定する絶縁耐力試験を，直後に実施しなければならない。
耐久試験は，汎用又は抵抗用途の半導体出力機器に対して実施してはならない。
11.12 安全要求に関係する構成要素
構成要素は，この規格の安全に関する要求事項に適合しなければならない。
構成要素は，関連するJIS又はIECの製品規格の適切な安全上の要求事項に適合するか，又は認可を得
た試験機関が適切な安全上の要求事項に準拠していることを認証しなければならない。
なお，適切な規格に適合した部品は再試験する必要はない。
関連するJIS又はIECの製品規格が存在しないか又は回路内で構成要素を仕様外の条件で用いている場
合，その構成要素を装置内で発生し得る最悪の条件下で試験しなければならない。
注記 構成要素とは，PLCシステムユニットの部品であり，例えば，コンデンサ，抵抗，プリント基
板，リレー，変圧器，スイッチなどである。
11.13 電池への要求事項
可燃性ガスの蓄積又は腐食性液体の漏れによる損傷から，電池の箱又は仕切りを保護されるように設計
しなければならない。
PLCシステムで再充電可能又は不可能な電池を用いる場合には，その電池セルの内部又は外部に適切な
保護を行い，電池が爆発するおそれを最小限にしなければならない。その設計においては，温度，逆電流
の可能性及び防止機能，限界放電なども考慮しなければならない。
再充電不可能な電池に対しては，通常の状態及び単一故障状態の両方において，充電を防止し放電電流
を制限するための手段を提供しなければならない。
適合性は，解析又は12.3.2の試験によって検証しなければならない。
11.14 最大及び最小電圧
装置は，最大電圧又は最小電圧において，火災又は感電の危険性を増加させることなく，意図したとお
りに動作しなければならない。この要求事項は，12.1.5で検証する。
11.15 表示及び識別
次に示す表示は，閉鎖形装置の外部から識別できるか，又はその装置のカバー及び扉が操作者によって
取り外したり開けられるように意図している場合には，道具を用いることなく，カバーを取り外したり扉
を開けたりした状態で識別できなければならない。開放形装置の場合には，表示は，その装置をラック又
はパネルから外した状態で識別できる場所であればよい。
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全ての装置において，機器上に表示する情報によって，少なくとも製造業者（市場にその製品を提供す
る会社）及びその機器を特定できなければならない。その他の情報は，その機器とともに提供するデータ
シートに記載しなければならない。
製造業者は，次の情報を提供しなければならない。
a) 製造業者の名称，商標，ほかの識別記号など。
b) モデル・カタログ番号，形式名称又は名称。
c) ハードウェアのシリアル番号又はシリーズ及び／又は版数（1.2参照）及び日付又はそれに準じるもの。
d) 電流，電圧及び形式を含む交換用ヒューズの情報。
e) 充電部（11.15.2参照）及び保護接地端子（11.15.3参照）の表示は，規定どおりの表示でなければなら
ない。
11.15.1 外部配線端子の識別
外部配線端子には，電源，負荷，制御回路などへの適切な接続を指示するように表示するか又はその端
子への配線図を提供しなければならない。表示又は製造業者の設置説明書によって，その端子へ接続する
現場配線の温度定格を明確にしなければならない。
11.15.2 充電部
11.2.1.1に定義する危険充電限界を超える充電部で，非充電部と間違いやすく，保全者に対してむき出し
になっている充電部には，次の“危険電圧”記号を表示しなければならない。
注記 IEC 60417-5036 (2002-10) による記号。
11.15.3 保護接地端子の表示
保護接地端子の表示は，耐久性があり明確に識別できなければならない。
識別するために，次のいずれかを表示する。
− PEと表記する。
− 装置上に図記号を表記する。
− 緑地に黄のしま，又は緑一色の色付けにする。
PE表記は，IEC 60445の5.3による。
図記号は，次を用いなければならない。
注記 IEC 60417-5019 (2002-10) による記号。
11.15.4 閉鎖形クラス2装置
全面的に二重・強化絶縁によって保護した装置（クラス2）は，それが保護端子を備えない場合には，
次の記号を表示しなければならない。
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部分的にだけ，二重・強化絶縁によって保護した装置には，この記号を表示してはならない。
注記 IEC 60417-5172 (2003-02) による記号。
11.15.5 SELV/PELVによって電源を供給する装置
SELV/PELVだけから電源を供給する装置は，装置上に表示するか，及び／又は装置の説明書に記載しな
ければならない。
11.15.6 定格情報
装置には，次の情報を適切に表示しなければならない。ただし，e) 又はf) のいずれかの表示でもよい。
a) 定格電圧又は電圧範囲を，ボルト単位（V）
b) 定格周波数を，ヘルツ単位（Hz）
c) 電源供給システムの種類（AC，DC，AC/DC又はIEC 60417の5032，5031，5033の記号）
d) 単相以上の場合，交流の相数
e) 定格電流を，アンペア単位（A）
f)
入力及び／又は出力の定格電力を，ワット単位（W）又はボルト−アンペア単位（VA）
開放形の装置の場合には，装置上に表示するかマニュアル中に記載しなければならない。
11.16 安全性に対する形式試験及び検証への要求事項
安全性に対する試験及び検証は，箇条12に従って，製造業者が行わなければならない。
11.17 安全性に対する定常試験及び検証への要求事項
安全性に対する定常試験又は等価な検証方法（箇条13参照）は，製造業者が，13.1及び13.3に従って
行わなければならない。
11.17.1 絶縁耐力に対する検証への要求事項
感電に対する保護は，非SELV回路とSELV回路との間，非SELV回路と接触可能な導体部との間，及
び絶縁した非SELV回路間において，検証しなければならない。検証は，次のいずれかの方法で行わなけ
ればならない。
製品に対しての定常試験内の絶縁耐力試験は，13.2に従う。
製品開発工程における検証とは，全ての関連する絶縁材料，製品の空間距離及び沿面距離又は全ての絶
縁した構成要素が，次のいずれかの条件を満たすことを確認することである。
a) 11.12の構成要素に対する要求事項
b) 100 %の絶縁耐力試験
c) 要求する空間距離及び沿面距離を満たしていることの，実測による検証
11.17.2 保護接地の検証における要求事項
製造業者は，13.3に規定する試験に従い，保護接地のインタフェース又はポートと，操作者が接触する
おそれがある接地するべき全ての金属部との間で，保護接地の連続性を検証しなければならない。
11.18 安全性の情報に関する要求事項
安全性の情報は，箇条14に従って製造業者が提供しなければならない。
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12 安全性形式試験及び検証
12.1 安全性関連機械的試験及び検証
12.1.1 鋼球衝突耐力試験
鋼球衝突耐力試験は，表58による。
表58−鋼球衝突耐力試験a)
引用規格
JIS C 60950-1
EUT（供試品）の選択 安全超低電圧（SELV）又は保護超低電圧（PELV）を超える電圧が加わる部分もつ閉鎖形装置。
適用除外
ハンドヘルド形装置，ディスプレイ，表示灯及び可動部をもつ記憶装置。
試験方法
図12による。
試験回数
各面につき1回。
最終測定
操作者接触安全性試験（12.1.2及び12.1.3），絶縁耐力試験（12.2.1）
注a) EUT（供試品）は，試験前後において機能する必要はない。
EUT（供試品）に質量500±25 g，直径約50 mmの滑らかな表面の鋼球を衝突させる（図12参照）。EUT
（供試品）の上面への試験は，鉛直方向1 300 mmからEUT（供試品）へ鋼球を自然落下させる。EUT（供
試品）の側面への試験は，鋼球をひもでつるし，振り子として衝突位置から鉛直方向1 300 mmの位置で
放す。
単位 mm
a) 上面
b) 側面
注記 ひもが鉛直になったとき，鋼球がEUT（供試品）に接しなければならない。
図12−鋼球衝突耐力試験
12.1.2 操作者接触安全性試験
操作者接触安全性試験は，表59による。
この試験は，隔離による感電保護の可否の確認を目的とする。閉鎖形機器及び表46の感電保護が必要な
ポートは，評価の対象の一例である。
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表59−操作者接触安全性試験
引用規格
JIS C 0920
EUT（供試品）の選択
閉鎖形装置
EUT（供試品）の数
形式ごとに1台
前処理
新品
取付け
製造業者の仕様による。
ドレン抜き孔・通風窓
使用時と同じ状態
可動部品に対する試験
EUT（供試品）が通電及び動作状態のとき実施
感電試験
EUT（供試品）が無通電状態のとき実施
判定
ジョイント試験指（IP2X）及びテストピン（12.1.3）は，全ての危険充電部又は
可動部品（滑らかな回転軸を除く。）に接触してはならない。
その部分が操作者に接触可能かどうか判定できない場合には，12.1.3の定義に従う。特に指定がない場
合には，ジョイント試験指（図C.1）及びテストピン（図C.2）を通じて力を加えない。ある部分が，ジョ
イント試験指若しくはテストピンで触れることができる場合，又は適切な絶縁部で覆わない条件下で触れ
ることができる場合には，その部品は接触可能とみなす。
プラグインモジュールとして受け入れる装置に対して，その装置の開放部から180 mmの深さまでジョ
イント試験指で触れることができない場合（12.1.3），その部分は接触可能とみなさない。また，開口部か
ら180 mm以上の深さにある部分も接触可能とみなさない。
（道具の有無にかかわらず）通常の操作者が意図した操作によって接触の可能性が増す場合，その操作
は，12.1.3の試験前に実施すべきである。その例としては，カバーを取り除く場合，扉を開ける場合，操
作部を調整する場合，消耗品を交換する場合，部品を取り外す場合などがある。
12.1.3 開放部の一般試験（接触可能部分の判定）
ジョイント試験指（図C.1）は，あらゆる可能な位置に触れなければならない。
力を加えることで接触可能となる部分に対し，硬く曲がらないように作ったジョイント試験指は，10 N
の力を加えて，触れなければならない。その力は，硬く曲がらないように作ったジョイント試験指の先端
からEUT（供試品）に作用するので，（EUTの）くさび状部分及びレバー動作部への接触は避ける。試験
は，底面を含む全ての外面に実施しなければならない。
テストピン（図C.3）は，危険な充電部となる部分上の全ての開口部に挿入する。テストピンは，自由
な方向に保持し，100 mmまで突き刺してもよい。11.2.5による単一故障状況下での保護についての追加の
安全測定は，該当する部分がこの試験のときだけ接触可能となるので，単独で実施する必要はない。
テストピン（図C.4）は，ねじ回し，その他工具が必要なプリセット調節部に達するための貫通孔に挿
入する。テストピンは，孔を通し全ての可能な方向を試験する。貫入長さは，きょう体表面から調整器の
軸までの3倍又は100 mmまでのいずれか短い側で，その長さを超えないようにする。
12.1.4 配線曲げの検証
曲げ試験は，導体が単線であるか又は絶縁被覆の厚さが0.8 mm未満であり，操作中及び保全時に曲げ
ることがある配線に適用する。
試験手順は，次による。
電線及びケーブルを，その最大折り曲げ範囲で往復させる。
曲げ回数は，次による。
− 通常使用時に曲げることがある配線は，500回。
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− 保全時にだけ曲げることがある配線は，25回。
判定基準は，絶縁耐力試験（12.2.1及び次の絶縁破壊試験）に合格することである。
絶縁破壊試験方法は，供試ケーブルを装置から取り外し，ケーブルの曲げ部に導電性はく（箔）を巻き
付け，表60又は表61で規定する試験電圧を，各しん（心）線とほかのしん線一括との間，及び各しん線
と導電性はく（箔）との間に順次加える。
12.1.5 温度試験
温度は，装置が最大の損失を生み出している状態で測定しなければならない。この損失は，負荷電流，
入力電圧，入力周波数，入出力デューティサイクルなどの幾つかの組合せによる。装置は，PLCシステム
の動作周囲温度（表2）の最大値に等しい周囲試験温度中で，通常使用位置に据え付ける。しかし，装置
の測定温度が，最大定格時の動作温度と実際の試験温度との間の違いによって増加した場合には，装置は，
より低い試験温度環境下に置いてよい。装置は，定常状態で測定しなければならない。試験温度は，換気
する装置の場合は，空気流入面から50 mm以上離れない1点での測定値とし，換気しない装置の場合は，
その垂直中央を通る水平面から50 mm以上離れない1点での測定値とする。試験中の装置の周囲環境は，
試験中の装置でない部分を源とする空気の流れの影響を受けないようにする。
配線は，装置の最大定格電流及び製造業者の指示に従って，必要最小限の長さにすることが望ましい。
絶縁耐力試験（12.2.1）は，温度試験に続いて実施しなければならない。
12.1.6 保護コーティングの試験
試験は，JIS C 60664-3のタイプ1によって行うか，又は認可を受けた試験機関によって適切な安全上の
要求事項の認定を得なければならない。
12.1.7 剛性試験
装置は，硬い支持物に対し確実に固定し，半球状の先端をもつ直径12 mmの硬い棒で30 Nの力を加え
なければならない。棒は，装置使用中に接触可能で破壊時に危険を生じる可能性があるきょう体部分のあ
らゆる箇所を試験しなければならない。非金属きょう体をもつ装置には，周囲温度40 ℃又は4.1.1で規定
する装置の最高動作周囲温度で試験を行わなければならない。
検証は，力を加える試験中及び試験後に12.1.2による。
12.1.8 空間距離及び沿面距離の検証
11.4の空間距離及び沿面距離への要求事項は，可能な限り，実測によって検証しなければならない。製
造業者の仕様（図面など）を，EUT（供試品）の代わりに用いてもよい。
12.1.9 現場配線端子構造の検証
端子は，11.8の要求に従って設計しなければならない。これは，被覆を8 mm又は設置手順で示された
長さだけむ（剥）いたより（撚）線を十分差し込んだ状態で検証しなければならない。
注記 導線がばらけた素線の存在は，製造業者が指示する設置方法の想定外である。
12.2 安全性関連電気試験
基本PLCシステムに接続する試験装置を保護するために，必要な場合には，外部インピーダンス（フィ
ルタ）を設置してもよい。
12.2.1 絶縁耐力検証試験
絶縁耐力試験は，40±2 ℃又は装置の最高定格動作雰囲気温度（条件追加）の温度条件下，相対湿度（92.5
±2.5）%で48時間放置し，前処理したEUTで行う。前処理完了後1時間以内に絶縁耐力試験を実施しな
ければならない。
前処理は，絶縁耐力試験が12.1.1の衝突耐力試験，12.1.5の温度試験など，その他の試験に続けて行う
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場合には，必要ではない。
− 交流試験又は直流試験は，表60又は表61で示した試験電圧で実施しなければならない。試験電圧は，
回路の最大の動作電圧に基づく。
− インパルス試験は，空間距離が表49，表50又は表52に満たない場合に限り，実施しなければならな
い。
− 表60又は表61は，11.2で示した絶縁要求事項に基づき選択する。
試験特性は，次による。
− インパルス試験（IEC 60060-1及び次の条件による。）
波形
1.2/50 μs
出力インピーダンス 500 Ω±10 %
出力エネルギー
0.5 J±20 %
接続ケーブル長
2 m以下
インパルスの間隔
5 s以上
− 交流試験（IEC 60060-1及び次の条件による。）
試験時間
1分以上
電圧波形
0 Vから開始する（ゼロクロス）
短絡電流
5 mA以下
− 直流試験（IEC 60060-1及び次の条件による。）
試験時間
1分以上
短絡電流
5 mA以下
注記 一般的にフィルタ用コンデンサを用いている箇所（ライン−接地間）は，直流試験を推奨する。
絶縁耐力試験電圧は，次の間で加える。
a) 絶縁した非SELV回路の間
b) 絶縁した非SELV回路とSELV回路との間
c) 絶縁した非SELV回路と接触可能な導電部との間
試験は，図13に示すように，試験回路に接続しているそれぞれのユニット及びモジュールに対して実施
する。モジュールを試験する場合，試験対象以外のモジュールは取り外してもよい。全ての機械式スイッ
チは，“ON”の位置にする。全ての接触可能なきょう体の絶縁部分は，金属はく（箔）で覆わなければな
らない。金属はくは，接触可能な導体部とみなす。
試験中，絶縁箇所に意図しないフラッシオーバ又は絶縁破壊があってはならない（意図したフラッシオ
ーバは，装置に組み込んだサージ抑制素子の正常な動作の一つである。）。
保護素子などの意図した動作は，不合格としない。
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表60−基礎絶縁又は付加絶縁におけるインパルス，電源周波数交流及び直流の試験値a)
回路の動作電圧b)
V（実効値）（AC），又はV（DC）
標高0〜2 000 mにおける試験電圧
（V）
基礎絶縁，又は付加絶縁
インパルスのピーク値
［波形1.2/50 μs c)］
AC
（試験時間1 min以上）
DC
（試験時間1 min以上）
0 ＜Ue≦
50 d)
500
350
500
50 ＜Ue≦ 100 e)
800
490
700
100 ＜Ue≦ 150
1500
820
1150
150 ＜Ue≦ 300
2500
1350
1900
300 ＜Ue≦ 600
4000
2200
3100
600 ＜Ue≦ 1000
6000
3250
4600
注a) SELV/PELV回路及びユニットについては，試験不要とする。
b) 装置又は回路の現場配線端子での動作電圧とする。
c) 正3回及び負3回を，それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
d) DCの場合は，0＜Ue≦60。
e) DCの場合は，60＜Ue≦100。
表61−二重絶縁又は強化絶縁におけるインパルス，電源周波数交流及び直流の絶縁耐圧a)
回路の動作電圧b)
V（実効値）（AC），又はV（DC）
標高0〜2 000 mにおける試験電圧
（V）
二重絶縁，又は強化絶縁
インパルスのピーク値
［波形1.2/50 μs c)］
AC
（試験時間1 min以上）
DC
（試験時間1 min以上）
0 ＜Ue≦
50 d)
850
510
720
50 ＜Ue≦ 100 e)
1360
740
1050
100 ＜Ue≦ 150
2550
1400
1950
150 ＜Ue≦ 300
4250
2300
3250
300 ＜Ue≦ 600
6800
3700
5250
600 ＜Ue≦ 1000
10200
5550
7850
注a) SELV/PELV回路及びユニットについては，試験不要とする。
b) 装置又は回路の現場配線端子での動作電圧とする。
c) 正3回及び負3回を，それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
d) DCの場合は，0＜Ue≦60。
e) DCの場合は，60＜Ue≦100。
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方法a)
方法b)
方法c)
絶縁回路とほかの一括接地した
接触可能な導体部と非SELVの
SELV回路と非SELV回路との
回路との間の試験
回路との間の試験
間の試験
図13−絶縁耐力試験電圧印加方法
12.2.2 保護接地との導通試験
保護接地との導通試験方法は，次による。
a) 接地していて，人が接触可能な導体部と保護接地端子又は接地接触子との間に，30 Aの定電流を2分
間以上流す。
b) 試験中は，30 Aになるように電流を維持又は調整する。
c) 12 V以下の電圧を用いる。
d) 電流経路の電圧降下を測定する。測定時，測定プローブの接触抵抗が測定に影響しないように注意す
る。
判定基準は，測定値が0.1 Ωを超えないことである。
12.2.3 充電エネルギー試験
装置は，装置電源の外部切断点で装置電源回路に接続したコンデンサの残留電荷による感電の危険がな
いように，設計しなければならない。
電源を切断するスイッチが存在する可能性を考慮して，装置の検査及び適切な回路図によって適合性を
確認する。
定格容量0.1 μFを超え，外部装置電源回路に接続したコンデンサが，次の時定数を超えることがない放
電の手段をもつ場合，装置は適合したとみなす。
− 脱着可能な装置については，1秒
− 固定装置については，10秒
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関連する時定数は，マイクロファラド（μF）単位の静電容量及びメガオーム（MΩ）単位の放電抵抗の
積である。静電容量及び抵抗値を求めることが難しい場合は，電圧の減衰の測定を用いてもよい。時定数
に等しい時間で，電圧は，元の値の37 %まで減衰する。
12.2.4 過負荷試験
スイッチング機器は，表62に示す電流値，電圧値及び力率値をもつ試験回路を開閉しなければならない。
入時間1秒及び切時間9秒のタイミングからなる入切1回を1サイクルとした，50サイクルを開閉する
ことで試験を完了しなければならない。50サイクルの試験完了後，12.2.5及び必要がある場合，11.11に示
す耐久試験を行わなければならない。
表62−過負荷試験回路値
使用目的
電流
電圧
力率
交流一般負荷
定格×1.5
定格
0.75〜0.80
直流一般負荷
定格×1.5
定格
1.0
交流抵抗負荷
定格×1.5
定格
1.0
直流抵抗負荷
定格×1.5
定格
1.0
交流電磁負荷
定格a)
定格×1.1 b)
＜0.35
直流電磁負荷
定格a)
定格×1.1 b)
1.0
注a) その他特別な規定がない限り，突入電流は，定常値の10倍。
b) 定格電圧値及び電流値でEUTを設定し，その後で負荷調整をすることなく電圧を10 %まで上昇させる。
試験の合格・不合格は，装置の電気的，絶縁的及び機械的故障がないことの確認による。
12.2.5 耐久試験
12.2.4の過負荷試験が完了した後，スイッチング装置は，表63の電流，電圧及び力率をもつ試験回路を
入切させる。入切1回で1サイクルとし，計6 000回行わなければならない。入時間1秒及び切時間9秒
のタイミングとなるサイクルとするが，予備負荷としての最初の1 000サイクルは除く。予備負荷最初の
1 000サイクルは，1秒間に1サイクルとし，最初の10〜12サイクルは，可能な限り早くその状態にしな
ければならない。
耐久試験は，汎用又は抵抗用途の半導体出力装置に対して実施する必要はない。
表63−耐久試験回路値
使用目的
電流
電圧
力率
交流一般負荷
定格
定格
0.75〜0.80
直流一般負荷
定格
定格
1.0
交流抵抗負荷
定格
定格
1.0
直流抵抗負荷
定格
定格
1.0
交流電磁負荷a)
定格
定格
＜0.35
直流電磁負荷a)
定格
定格
1.0
注a) 試験は，電圧が定格電圧であることを除いては，過負荷試験と同じ。
試験の合格・不合格は，装置の電気的，絶縁的及び機械的故障がないことの確認による。
12.3 単一故障状態試験
12.3.1 単一故障状態−概要
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故障状態が，危険な状態に陥る可能性があるか判断するために，装置及びその回路図面を検証しなけれ
ばならない。少なくとも良好な通常状態下で装置が稼動している間に，これらの故障状態を適用しなけれ
ばならない。単一故障状態の幾つかの特殊条件は，12.3.2，12.3.3及び12.3.4に示す。
装置は，適用された故障の結果による更なる変化が見込まれない時点まで操作する。これは，通常1時
間以内である。1時間後に延焼の危険性，感電又は人への危害を示す徴候が現れた場合には，これらの試
験は，それらの危険状況の一つが発生するまで又は最大4時間続行しなければならない。
開放形装置に対しては，きょう体を模擬するため装置の1.5倍の大きさの金網かごを用意してもよい。
きょう体又は金網かご及び接地箇所又はむき出しの非充電金属部は，大地へアーク放電しない電源供給回
路の電極に3 Aの高速（ディレイなし）ヒューズを通じて接続しなければならない。
故障状態は，適切な順番で一度に一つずつ適用しなければならない。複合かつ同時に発生する故障状態
は実施しなくてよい。
それぞれの故障状態を適用した後，装置は，次のとおりでなければならない。
a) 発炎及び部品の融解がない又は試験中装置の周りに置かれた布製品への着火がない。
b) 接触可能危険充電部を生じない。
c) 3 Aヒューズの溶断がない。
12.3.2 単一故障状態−部品破壊試験
コンデンサ，ダイオード，その他半導体素子などの個々の部品は，試験中短絡又は開放しなければなら
ない。
試験を不要とする例外条件は，次による。
− その他部品，回路の一部分が，ほかの部品が開回路状態又は短絡状態とみなした結果によって，重大
な過負荷になることはないと回路の解析によって判明した場合。
− その故障が，火災又は感電の危険性を増加させるかもしれない部品で，事前に調べられ，装置への適
用が適切であると認められた部品。
12.3.3 単一故障状態−保護インピーダンス試験
保護インピーダンスを各部品の組合せで形成する場合には，各部品は短絡又は開放いずれかで，少しで
も厳しい方法を取らなければならない。
保護インピーダンスが，基礎絶縁と電流制限デバイス又は電圧制限デバイスとの組合せで形成される場
合，基礎絶縁及び電流制限デバイス又は電圧制限デバイスの両方共，単一故障状態を一度に一回適用する。
基礎絶縁は短絡させ，電流制限デバイス又は電圧制限デバイスは，回路短絡又は回路開放のいずれかで，
少しでも厳しい方法を取らなければならない。
12.3.4 単一故障状態−絶縁変圧器試験
絶縁変圧器の二次巻線は，一度に1巻線分短絡させなければならない。
変圧器二次側に直結されている電流制限インピーダンス回路又は過電流保護回路は，この試験中接続し
なければならない。
12.4 電力制限回路試験
出力電圧，最大出力電流及び最大許容電力を次の条件で測定することで，電力制限回路の一致性を確認
する。
a) 出力電圧は，無負荷状態で測定する。
b) 出力電流及び許容電力は，最大電流及び最大電力を個別に生じさせ得る抵抗負荷（短絡回路を含む。）
を接続し，任意の保護素子を短絡させて60秒間の動作の後に測定する。
95
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
13 安全定常試験
13.1 絶縁耐力試験
絶縁物の安全性及び／又は遮へい体の安全性は，箇条11の要求事項に従って確認する。絶縁物及び／又
は遮へい体の製造品質は，次の方法のうちの一つによって確認しなければならない。
a) 13.2に従う，製品の定常絶縁耐力試験。
− この方法を選択した場合には，13.2の試験は，操作者接触可能充電部をもつ装置に対してだけ行わ
なければならない。
− その後の製造工程が，これらの試験結果に影響しないと証明できない場合，これら試験は，完全に
組み立てられたモジュール又は装置に対して行わなければならない。
b) モジュール又は装置に用いられた全ての絶縁部品は，構成要素として全数耐力試験を実施しているこ
との検証又は11.12の構成要素の要求項目に合致したものとして供給されていることの検証。
この方法が選択された場合には，次によるものと併せて用いる。
1) 11.2.2の絶縁耐力の要求に合致する形式試験によって検証したもの。
2) 製品の設計段階で，11.4の空間距離及び沿面距離に合致すると検証したもの。
3) 製造された製品との一貫性を保障する，自動化された組立て及び品質管理された製造工程。
13.2 絶縁耐力検証試験
表64に示す試験電圧は，危険充電部となる端子又は回路と危険充電部ではないほかの装置の回路と接続
する端子を含む全ての接触可能な端子との間に加えなければならない。表64に示す試験項目のうち一つ
を実施しなければならない。
表64−定常絶縁耐力試験a)
回路の動作電圧b)
標高0〜2 000 mにおける試験電圧
（V）
V（実効値）（AC），又はV（DC）
インパルスのピーク値
［波形1.2/50 μs c)］
AC
（試験時間2 s以上）
DC
（試験時間2 s以上）
0 ＜Ue≦
30
試験不要
試験不要
試験不要
30 ＜Ue≦
50 d)
500
350
500
50 ＜Ue≦
100 e)
800
490
700
100 ＜Ue≦
150
1500
820
1150
150 ＜Ue≦
300
2500
1350
1900
300 ＜Ue≦
600
4000
2200
3100
600 ＜Ue≦ 1000
6000
3250
4600
注a) SELV/PELV回路及びユニットについては，試験不要とする。
b) 全ての操作者が接触可能な装置又は回路の端子での動作電圧とする。
c) 正3回及び負3回を，それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
d) DCの場合は，30＜Ue≦60
e) DCの場合は，60＜Ue≦100
13.3 保護接地試験
保護接地インタフェースと接地することを意図した操作者が接触可能な全ての金属部との間で，簡易導
通試験を行わなければならない。試験は，非SELV/PELVの定格電圧をもつ全てのユニットに対して行わ
なければならない。
抵抗値は，0.1 Ωを超えてはならない。
96
B 3502：2011
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14 製造業者による安全性に関する情報
製造業者の提供情報には，少なくとも次の情報を含まなければならない。
a) 保護接地に関する要求事項，及び感電に対する人命保護についての推奨事項。
b) 保護接地回路，過電流保護装置などの保護装置の保全，及びメモリバックアップ用バッテリの保全を
行うのに必要な要求事項。
c) PLCシステムが開放形装置の場合には，適切なきょう体は，次の事項を必要とする。
− 必要なレベルの安全確保，及び周囲環境からの保護
− 安全上必要な場合，次の少なくとも一つ以上の指針
取付方法に関する指針
取付間隔に関する指針
内部遮へい体又はシールドに関する指針
d) 運転中のPLCからモジュールを取り外したときに，感電，火災又は電気的破損を発生させる場合の警
告注意。
e) 3.45で定義した過電圧カテゴリに沿ってPLCシステムを使用するということを，明記した文書。
f)
通常の稼動条件における接地を含むほかの回路とチャネルとの間の絶縁耐力。
情報は，印刷形式以外でもよい。
14.1 開放形装置のきょう体についての評価情報（消費電力）
製造業者の説明書には，全てのPLCの構成，ユニット及びモジュールに対する消費電力を計算できる情
報，及び通常使用状態で適切な冷却を確保するために，必要な最小限の空間の情報を記載しなければなら
ない。
14.2 端子接続の構造に関する情報
製造業者は，簡便な文書及び／又はマークで，次の情報を提供しなければならない。
a) PLCシステムに接続する導体の種類，断面積及び材質
b) シールドケーブル使用の推奨，その接続及び接地の方法
97
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
PLCシステムのハードウェア定義図
この規格の目的を明確にするために，PLCシステムのハードウェアの定義を，図A.1に示す。
図A.1−PLCシステムのハードウェア定義図
可搬形，携帯形及びハンドヘルド形の周辺装置には特別な要求事項があり，常設周辺装置と区別しなけ
ればならない（4.2.3参照）。
98
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
デジタル入力の標準動作範囲の計算式
次の式は，表8の値の算出に用いる（例外は，注記に示す。）。
直流の場合の計算式
交流の場合の計算式
注記
UH max＝1.25×Ue
UH max≒1.1×Ue
UH min≒0.8×Ue−Ud−1 V
UH min≒0.85×Ue−Ud−1 V
a) b)
UT max＝UH min
UT max＝UH min
UL max＝UH min (I≦IT min)
UL max＝UH min (I≦IT min)
UT min≒0.2×Ue
UT min≒0.2×Ue
a)
UL max＝UT min (I＞IT min)
UL max＝UT min (I＞IT min)
UL min＝−3 V (DC 24 V)
UL min＝0
UL min＝−6 V (DC 48 V)
IL min：定義しない
IL min＝0
タイプ1入力：
タイプ1入力：
IH max＝IT max＝IL max＝15 mA
IH max＝IT max＝IL max＝15 mA
IH min≒IT min＋1 mA
IH min≒IT min＋1 mA［Ue≦120 V（実効値）］又は
IH min≒IT min＋2 mA［Ue＞120 V（実効値）］
IT min≒UH max / Z
IT min≒UH max / Z
c)
Ud＝3 V（表10参照）
Ud＝5 V（表9参照）
d)
タイプ2入力：
タイプ2入力：
IH max＝IT max＝IL max＝30 mA
IH max＝IT max＝IL max＝30 mA
IH min≒Im＋1 mA＝6 mA
IH min≒Im＋1 mA＝6 mA
IT min≒Ir＝1.5 mA
IT min≒Ir＝3 mA
e)
Ud＝DC 8 V
Ud＝AC 10 V（実効値）
e)
タイプ3入力：
タイプ3入力：
IH max＝IT max＝IL max＝15 mA
IH max＝IT max＝IL max＝15 mA
UH max / Z≦IH min≦Im＝5 mA
IH min≒Im＝5 mA
IT min≒Ir＝1.5 mA
IT min≒Ir＝3 mA
e)
Ud＝DC 8 V
Ud＝AC 10 V（実効値）
e)
注a) 定格電圧AC 100 V，110 V及び120 V（実効値），並びにAC 200 V，220 V，230 V及び240 V（実効値）の全
ての入力に対して，1種類のモジュールで共用させるために，AC 100 V（実効値）及びAC 200 V（実効値）
とする。
b) 外部接続線の電圧降下は，1 V（AC又はDC）と仮定している。
c) Zは，経験上最も悪い場合のリレー接点で，オープン接触抵抗は，100 kΩである。
d) 最大電圧降下であるUdは，DC及びACのデジタル出力である。
e) Ir，Ud及びImの値は，IEC 60947-5-2による。ただし，DC 12 Vの場合のUdは，4 Vとする。
99
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（規定）
試験ツール
C.1 ジョイント試験指
ジョイント試験指を，図C.1に示す。
単位 mm
誤差が図に明記されていない部分の誤差は，次による。
− アングル部：
0
1
0′
−
′
− 25 mm以下の直線部：
05
.0
0
−
mm
− 25 mm超過の直線部：±0.2 mm
試験指は，熱処理された鉄及び適切な絶縁物で構成しなければならない。
試験指の両ジョイント部は，片側一方向に
10
0
90+°の角度まで曲げられるようにする。
図C.1−ジョイント試験指
100
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C.2 テストピン
テストピンを，図C.2〜図C.4に示す。
単位 mm
図C.2−15 mm×3 mmテストピン
単位 mm
図C.3−100 mm×4 mmテストピン
単位 mm
図C.4−100 mm×3 mmテストピン
101
B 3502：2011
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附属書D
（参考）
ゾーンCにおけるEMCイミュニティレベル
ゾーンBより高い干渉レベルにさらす場合，ゾーンCに関連した次の表D.1及び表D.2に示すレベルを
適用してもよい。
表D.1−きょう体ポート試験（ゾーンC）
項目
準拠規格
試験
厳しさレベル
試験条件
性能判定基準
注記
静電気放電
JIS C 61000-6-2 接触
±4 kV
表38
B
a)
気中
±8 kV
無線周波
電磁界振幅変調
JIS C 61000-6-2 80 %AM
1 kHz
正弦波
2.0〜2.7 GHz
1 V/m
表39
A
b)
1.4〜2.0 GHz
3 V/m
80〜1 000 MHz
10 V/m
電源周波数磁界
JIS C 61000-6-2 60 Hz
30 A/m
表40
A
c) d)
50 Hz
30 A/m
注a) ESD試験は，次の対象に適用する。
1) 操作者が触れることができる機器（例えば，HMI，PADT，TE）
2) きょう体のポート
3) 不用意な接触への保護をしていないもので，操作者が触れることができる部品（例えば，スイッチ，キー
ボード，保護・機能接地，モジュール収納体，コネクタを正しく取り付けている通信ポート及び金属コネ
クタ）
ESD試験は，コネクタがない通信ポート，I/Oポート又は電源ポートには適用してはならない。
b) このレベルは，PLCシステムに隣接する無線機器が放射する電磁界を示すものではない。
c) この試験は，工場で通常発生する磁界に対する機器の感度を検査する目的で行う。試験の適用対象は，磁界の
影響を受けやすい機器を含む装置（ホール効果素子，CRTディスプレイ，ディスクドライブ，磁気メモリ及び
同等品）に限られる。基本仕様のPLCは，通常，このような機器は含まないが，HMIのようなほかの機器を含
む可能性がある。この試験は，溶接及び誘導加熱処理に関連するような強力な磁界をシミュレートする目的で
行うものではない。影響を受けやすい部品に適用する試験において，部品供給業者がこの要求事項を満たして
も差し支えない。
d) 誤差は3 A/m以下とする。この値を超えた場合，製造業者側は，CRTディスプレイインタフェースの許容誤差
を指定する。
102
B 3502：2011
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表D.2−伝導イミュニティ（ゾーンC）
項目
ファストトラン
ジェント・バースト
イミュニティ
サージ
イミュニティa)
無線周波
電磁界
伝導妨害
イミュニティ
減衰振動波a)
準拠規格
JIS C 61000-6-2
JIS C 61000-6-2 JIS C 61000-6-2 IEC 61000-4-18
試験条件
表41
表42
表43
表44
性能判定基準
B
B
A
B
インタ
フェー
ス又は
ポート
（図2
参照）
データ通信
Al及びAr：I/O
ラック用
Be，Bi及びE：
周辺機器用
シールドケーブル
1 kV b)
2 kV CM c)
10 V b)
0.5 kV CM
非シールドケーブル
1 kV b)
2 kV CM c)
10 V b)
試験なし
C及びD：デジ
タル
I/O，アナログ
I/O
シールドケ
ーブル
AC I/O
2 kV b)
2 kV CM c)
10 V b)
0.5 kV CM
DC I/O/
アナログ
2 kV b)
2 kV CM c)
10 V b)
0.5 kV CM
非シールド
ケーブル
AC I/O
2 kV b)
2 kV CM c)
1 kV DM c)
10 V b)
2.5 kV CM
1 kV DM
DC I/O/
アナログ
2 kV b)
1 kV CM c)
10 V b)
1 kV CM
0.5 kV DM
F：装置電源
AC電源
4 kV
4 kV CM
2 kV DM
10 V
2.5 kV CM
1 kV DM
DC電源
2 kV d)
1 kV CM e)
1 kV DM e)
10 V
2.5 kV CM d)
1 kV DM d)
J：I/O電源及び
K：補助電源出
力
AC I/O及び
AC補助電源
4 kV b)
4 kV CM c)
2 kV DM c)
10 V
2.5 kV CM
1 kV DM
DC I/O及び
DC補助電源
2 kV b) d)
1 kV CM c)
1 kV DM c)
10 V
2.5 kV CM d)
1 kV DM d)
注a) CM：コモンモード電圧，DM：ディファレンシャルモード電圧（JIS C 60050-161による。）
b) ケーブルが3 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
c) ケーブルが30 m以内と指定があるポートに対しては，試験は不要である。
d) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は何
も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならない。
3 m以内のケーブルで接続する入力及び出力ポートに対しては，試験は不要である。
e) 電池又は充電時に装置から取り外す必要がある充電形電池に接続するよう設計した入力ポートには，適用不可。
AC/DCアダプタとともに用いるように設計した入力ポートでは，製造業者の指定のAC/DC電源アダプタ，又は何
も指定がない場合には，一般的なAC/DC電源アダプタのAC電源入力端子に対して試験を行わなければならない。
入力及び出力ポートに関しては，DC分散電源網に接続せず，かつ，ケーブルが30 m以内と指定がある場合には，
試験は不要である。
103
B 3502：2011
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附属書E
（参考）
過電圧の例
図E.1は，一般的設計の電源装置の各部分に適用する要求事項を示す。図E.1の例では，次を仮定して
いる。
− 過電圧カテゴリII
− 汚損度2
− 材料分類2
− 過電圧保護なし
− 定格8 A
− 特に記載がない電圧値は，230 V（実効値）として推定
範囲1 表51から推量する現場配線端子の空間距離1.6 mmは，表54から求めた沿面距離である1.64 mmに対して，
優先して考える。それゆえ，1.6 mmの最小空間距離及び1.64 mmの沿面距離を保たなければならない。現場
配線端子以外では，最小空間距離は，表49による1.5 mm以上でなければならない。また，沿面距離は，表
54による1.64 mm以上でなければならない。
図E.1−繰返しピーク電圧が発生する回路の沿面距離
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B 3502：2011
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範囲2 プリント基板上では，動作電圧450 Vでの表49による基礎絶縁距離2.25 mmを保たなければならない。また，
繰返しピーク電圧1 600 Vでの表56による沿面距離を保たなければならない。
SELV回路の絶縁境界では，表50から求めた2.3 mmの最小空間距離は，表55から得た内挿補間値0.87 mm
に11.4.4に示す二重絶縁による係数2を乗じた値である1.73 mmの沿面距離に対して，優先して考える。し
たがって，2.3 mmの最小空間距離及び沿面距離を保たなければならない。
範囲3 SELV回路では，繰返しピーク電圧は現れないので，一般的な安全要求値を適用する。
図E.1−繰返しピーク電圧が発生する回路の沿面距離（続き）
参考文献 JIS B 3503:1997 プログラマブルコントローラ−プログラム言語
JIS C 0457:2006 電気及び関連分野−取扱説明の作成−構成，内容及び表示方法
注記 対応国際規格：IEC 62079:2001，Preparation of instructions−Structuring, content and
presentation（IDT）
JIS C 8201-5-2 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第2節：近
接スイッチ
IEC 60947-5-2:2004，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-2: Control circuit devices and
switching elements−Proximity switches
IEC 61131-5，Programmable controllers−Part 5: Communications
IEC 61131-7，Programmable controllers−Part 7: Fuzzy control programming
IEC/TR 61131-8，Programmable controllers−Part 8: Guidelines for the application and implementation
of programming languages
IEC 61506:1997，Industrial-process measurement and control−Documentation of application software
105
B 3502：2011
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附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS B 3502:2011 プログラマブルコントローラ−装置への要求事項及び試験
IEC 61131-2:2007 Programmable controllers−Part 2: Equipment requirements and tests
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 用語及
び定義
アナログ入出力，接
触可能，基本PLC
（システム）など
3
JISと同じ。
変更
3.30〜3.32の順序を入れ替え
た。
原典IEVの出典順序に整合させた。
次回見直し時に検討する。
4 通常の
稼動条件
及び要求
事項
4.2.1の表3
機械的な稼動条件
及び要求事項のう
ちの振動条件
4.2.1
table 3
JISと同じ。
追加
表3の加速度の単位をSI単位
に変更した。また，注記に単位
表現及び記号の説明を追加し
た。
加速度の単位（IEC規格：G）をm/s2
とした。注記の式もm/s2を前提にし
た式とした。また，Gpeak，f，Dpeakの
説明を追加した。
次回見直し時に検討する。
5 機能に
関する要
求事項
5.2 デジタル入出力
5.2
JISとほぼ同じ
追加
“電流ソース入力・電流シンク
出力”タイプの説明を追加し
た。併せて，地絡した場合の挙
動なども追加した。
IEC規格では，電流ソース入力及び
電流シンク出力の組合せは，適用範
囲外としているが，実際の使用に当
たっては注意が必要であると記載し
ている。このため，我が国の実情に
合わせて説明を追加し，併せて地絡
した場合の挙動についての説明も追
加した。
次回見直し時に検討する。
2
B
3
5
0
2
：
2
0
11
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106
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(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 通常稼
動及び機
能に関す
る形式試
験及び検
証
6.1.2 表14 温度変
化試験
6.2.1
table 14
JISとほぼ同じ。
変更
“温度変化の割合”を我が国の
実情に合わせて変更した。
IEC規格では，“温度変化の割合”を
3±0.6 ℃/minと規定しているが，我
が国の実情を考慮して1±0.2 ℃/min
とした。
6.1.1 表13 高温（耐
熱性）及び低温（耐
寒性）試験
6.1.2 表14 温度変
化試験
6.1.3 表15 温湿度
サイクル（12＋12時
間サイクル）耐久試
験
6.2
table 13
6.2.1
table 14
6.2.2
table 15
JISとほぼ同じ。
変更
内容を考慮して箇条番号を変
更し，IEC規格の6.2，6.2.1及
び6.2.2を，JISではそれぞれ
6.1.1，6.1.2及び6.1.3とした。
また，JISでは6.2は空番とし
た。
次回見直し時に検討する。
8 電磁両
立性
（EMC）
に関する
要求事項
8.3.3 表33， 表34
伝導イミュニティ
（ゾーンA及びゾ
ーンB）のサージイ
ミュニティの要求
仕様
8.3.3
table 33
table 34
JISとほぼ同じ。
追加
表33及び表34のサージイミュ
ニティにおける“CM”及び
“DM”の説明をJIS C
60050-161から引用し，“CM：
コモンモード電圧”及び
“DM：ディファレンシャルモ
ード電圧”とした。
次回見直し時に検討する。
8.3.4 表35 電圧デ
ィップ及び瞬時停
電（EMC要求事項）
8.3.4
table 35
JISとほぼ同じ。
追加
表35の最大瞬時停電時間の周
期表記を時間（s）とした。
電源周波数によって周期数は異なる
が，混乱を避けるため時間表記とし
た。ただし，周期数を括弧内に併記
した。
次回見直し時に検討する。
2
B
3
5
0
2
：
2
0
11
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(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
9 電磁両
立性
（EMC）
形式試験
及び検証
9.9 サージ
9.9
JISとほぼ同じ
削除
シールドケーブルと接地との
間のインピーダンスを2 Ωと
し，10 nFを削除した。
参照規格のJIS C 61000-4-5:2009に準
拠した。
次回見直し時に検討する。
9.10 無線周波電磁
界伝導妨害
9.10
JISとほぼ同じ
削除
表43の“H：機能接地ポート”
は，8.3.3の伝導イミュニティ
要求で試験対象ではないので，
削除した。
IEC規格の誤記である。
IECに提案する。
9.11 減衰振動波
9.11
JISとほぼ同じ
追加
ゾーンCだけを対象とした減
衰振動波イミュニティについ
て，説明を追加した。
IEC規格では説明はないが，ゾーンC
を対象とした9.11の位置付けを説明
した。
次回見直し時に検討する。
11 安全要
求事項
11.9.1 閉鎖形機器
の保護接地に関す
る要求事項
11.9.1
JISとほぼ同じ
変更
保護接地線の絶縁被覆につい
て，IEC規格では“緑地に黄の
しま（縞）”であるが，JISで
は“緑一色”も追加した。北米
についての注記は，削除した。
我が国の事情に合わせた。
一層の標準化に努める。
11.15.3 保護接地端
子の表示
11.15.3
JISとほぼ同じ
変更
保護接地線の絶縁被覆につい
て，IEC規格では“緑地に黄の
しま（縞）”であるが，JISで
は“緑一色”も追加した。北米
についての注記は，削除した。
我が国の事情に合わせた。
一層の標準化に努める。
12 安全性
形式試験
及び検証
12.1.1 鋼球衝突耐
力試験
12.1.1
JISとほぼ同じ
追加
表58（鋼球衝突耐力試験）の
EUT（供試品）の選択において，
適用除外品を追加した。
IEC規格では，ハンドヘルド形装置，
ディスプレイ及び表示器が適用対象
除外となっているが，我が国の事情
に合わせて“可動部をもつ記憶装置”
を試験対象除外に追加した。
一層の標準化に努める。
12.1.3 開放部の一
般試験（接触可能部
分の判定）
12.1.3
JISと同じ
追加
項目名に副題として“（接触可
能部分の判定）”を追加した。
試験の内容を明確化するために，副
題を追加した。
2
B
3
5
0
2
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
108
B 3502：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
12 安全性
形式試験
及び検証
（続き）
12.2.1 絶縁耐力検
証試験
12.2.1
JISとほぼ同じ
追加
表60及び表61において，IEC
規格の試験時間“1 min”を，
JISでは本文に合わせて“1 min
以上”とした。
表60及び表61と本文との整合を図
った。
次回見直し時に検討する。
13 安全定
常試験
13.2 絶縁耐力検証
試験
13.2
JISとほぼ同じ
追加
表64において，IEC規格の試
験時間“2 s”を，JISでは本文
に合わせて“2 s以上”とした。
表60に倣って修正した。
一層の標準化に努める。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61131-2:2007，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
2
B
3
5
0
2
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。