B 1585-3：2017
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 記号及び単位 ··················································································································· 2
5 検査の目的 ······················································································································ 4
6 検査方法························································································································· 4
6.1 検査方法A ··················································································································· 4
6.2 検査方法B ···················································································································· 4
6.3 測定力 ························································································································· 5
7 検査方法の選択及び指定 ···································································································· 5
7.1 検査方法の選択 ············································································································· 5
7.2 検査方法の指定 ············································································································· 6
8 測定装置························································································································· 6
9 測定装置の必要事項 ·········································································································· 7
9.1 一般 ···························································································································· 7
9.2 測定時に加える力の公差 ································································································· 7
9.3 測定子の接近速度 ·········································································································· 8
9.4 測定子の構造 ················································································································ 8
9.5 当て金の測定面の精度 ···································································································· 8
10 基準面を定めるためのゲージ類 ························································································· 8
10.1 一般事項 ····················································································································· 8
10.2 基準測定ブロック（単体で使用される。） ·········································································· 8
10.3 単体で使用するライン用測定ブロック ·············································································· 8
10.4 マスターシェルとともに使用されるライン用測定ブロック ··················································· 8
11 測定ブロックの必要事項 ·································································································· 9
11.1 一般事項 ····················································································································· 9
11.2 基準測定ブロック ········································································································· 9
11.3 ライン用検査ジグ ········································································································ 11
12 マスターシェル及び基準軸受の必要事項 ············································································ 13
12.1 マスターシェルの必要事項 ···························································································· 13
12.2 基準軸受の必要事項 ····································································································· 15
13 補正量 ························································································································· 15
13.1 参照器具：基準測定ブロックの補正量，Ccor,chm·································································· 15
13.2 ライン用器具 ·············································································································· 15
B 1585-3：2017 目次
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13.3 刻印 ·························································································································· 16
14 検査手順 ······················································································································ 16
15 検査される半割り軸受の条件 ··························································································· 16
16 測定上の注意点 ············································································································· 16
17 各検査方法の精度 ·········································································································· 17
17.0A 一般 ························································································································ 17
17.1 検査条件 ···················································································································· 17
17.2 許容値 ······················································································································· 18
17.3 計算 ·························································································································· 18
18 軸受図面への明記 ·········································································································· 18
19 測定機器の管理 ············································································································· 19
19.1 測定ジグの検査 ··········································································································· 19
19.2 測定装置の検査 ··········································································································· 19
附属書A（参考）基準測定ブロックの補正量の算出方法−検査方法A ············································ 20
附属書B（参考）基準測定ブロックの補正量の算出方法−検査方法B ············································ 24
附属書C（参考）ライン用測定ブロック（単独使用）の補正量の算出方法 ······································ 28
附属書D（参考）マスターシェル及び基準軸受の補正量の算出方法··············································· 29
附属書E（参考）試験及び計算の繰返し性，再現性及び同等性 ····················································· 30
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 32
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本機械学会（JSME）及び一
般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによって，JIS D 3102:1987及びJIS D 3106:1988は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS B 1585の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS B 1585-1 第1部：公差，設計及び検査方法
JIS B 1585-2 第2部：肉厚及びつば厚の測定
JIS B 1585-3 第3部：周長の測定
日本工業規格 JIS
B 1585-3：2017
滑り軸受−つば付き及びつばなし薄肉半割り軸受−
第3部：周長の測定
Plain bearings-Thin-walled half bearings with or without flange-
Part 3: Measurement of peripheral length
序文
この規格は，2012年に第1版として発行されたISO 3548-3を基とし，我が国の使用実態に合わせ，か
つ，関連する日本工業規格との整合を図るために，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，JIS B 1585-1に規定するつば付き及びつばなし薄肉半割り軸受の周長の測定方法について
規定する。ただし，合せ面部テーパ量の測定方法は除く。
注記1 薄肉半割り軸受は弾性をもち，自由状態のときに形状が真円とならない。よって，その周長
は特別な計測装置を用い，拘束力を与えた状態で測定する必要がある。
注記2 測定にはこの規格に記載されている測定装置と異なるものも使用可能である。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 3548-3:2012，Plain bearings−Thin-walled half bearings with or without flange−Part 3:
Measurement of peripheral length（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 1585-1 滑り軸受−つば付き及びつばなし薄肉半割り軸受−第1部：公差，設計及び検査方法
注記 対応国際規格：ISO 3548-1，Plain bearings−Thin-walled half bearings with or without flange−Part
1: Tolerances, design features and methods of test（MOD）
ISO 12301，Plain bearings−Quality control techniques and inspection of geometrical and material quality
characteristics
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
2
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3.1
周長（peripheral length）
合せ面からもう一方の合せ面までの外周の円周方向長さ。
3.2
クラッシュ（crush height）
内径dchの測定ブロックに対して半割り軸受をは（嵌）め，所定の力Fを与えたときの測定ブロックの
周長から突出した量（図1参照）。
注記 実際には，測定ブロックの基準面がクラッシュh測定の起点となる。
図1−クラッシュ
3.3
繰返し性（repeatability）
同一の試験片に対し，同一の測定条件（同一の測定者，測定装置及び測定場所で時間を空けて）で，同
一の方法で得られた一連の結果間の一致の程度。
注記 繰返し性は，その標準偏差σΔで評価される（附属書E参照）。
3.4
再現性（reproducability）
同一の試験片に対して，異なる測定条件（同一又は異なる測定者，測定装置，測定場所及び時間）で，
同一の方法で得られた個々の結果間の一致の程度。
注記 この規格では，再現性は2種類の測定装置から取得したそれぞれの平均の差である（附属書E
参照）。
3.5
同等性（comparability）
同一の試験片に対し，場所及び時間が異なる複数の測定者が，それぞれ検査方法A及び検査方法Bで異
なる測定ブロックを用いて測定した結果の精度。
注記 同等性は，二つの検査方法で取得したそれぞれの平均値の差から評価する（附属書E参照）。
4
記号及び単位
この規格で用いる量記号及び単位は，表1による。また，添字は表2による。
3
B 1585-3：2017
表1−量記号及び単位
量記号
定義
単位
B
つばなし薄肉半割り軸受の幅
mm
Bch1
測定ブロックの幅（つば付き薄肉半割り軸受）
mm
Bch2
測定ブロック底部の幅
mm
Bch3
測定ブロックの幅（つばなし薄肉半割り軸受）
mm
Bms
マスターシェルの幅
mm
Ccor
補正量
mm
dch
測定ブロックの内径
mm
Dbs
検査される薄肉半割り軸受の外径
mm
Dms
マスターシェルの外径
mm
E
弾性率
MPa
f
軸受と測定ブロックとの間の摩擦係数
F＝F1＝F2
測定力
N
h又は
h1＋h2
クラッシュ
mm
Hch
測定ブロックの底部から基準面までの高さ
mm
ΔHch
力を与えたときの測定ブロックの高さの弾性変形量
mm
K1
測定ブロックの面取り（つばなし半割り軸受）
mm
K2
測定ブロックの面取り（つば付き半割り軸受）
mm
l
周長
mm
Δl
測定ブロックの実際の周長の偏差
mm
pE
弾性変形による測定子のへこ（凹）み
mm
Ra
粗さパラメータ
μm
scs
基準軸受の肉厚
mm
sms
マスターシェルの肉厚
mm
stot
半割り軸受の全肉厚
mm
W
測定子の接触幅
mm
Z
つば付き半割り軸受のつば間の長さ
mm
δ
検査方法の違いによる，合せ面の弾性変形量の差を補正する
ための補正量
mm
δx
計算によって推定される補正量
mm
σ
標準偏差
mm
表2−添字
添字
定義
bs
検査される軸受
ch
測定ブロック
chm
基準測定ブロック
chs
ライン用測定ブロック
cs
基準軸受
M
測定値
ms
マスターシェル
th
理論値
4
B 1585-3：2017
5
検査の目的
ハウジング内径に対して半割り軸受が必要なしめしろを確保するために，クラッシュがJIS B 1585-1及
びISO 12301に規定する公差内にあることを確保する。
6
検査方法
6.1
検査方法A
半割り軸受の一方の合せ面を止め金に当てておき，反対側の合せ面に当てたピボット式の当て金を備え
た測定子に力Fを直接与える方法（図2参照）。
1 止め金（ストッパー）
2 ダイヤルゲージ
3 可動式測定子
4 基準面
5 当て金
6 測定ブロック
図2−測定原理（検査方法A）
6.2
検査方法B
半割り軸受の両方の合せ面に当て金をあて，それぞれの当て金を備えた測定子に力F1及びF2を与える
方法（図3参照）。
クラッシュhを次の式(1)で求める。
2
1h
h
h
+
=
················································································ (1)
5
B 1585-3：2017
1 ダイヤルゲージ
2 基準面
3 固定式当て金a)
4 測定ブロック
5 ピボット式当て金
注a) 二つのピボット式当て金を用いて測定してもよい。
図3−測定原理（検査方法B）
6.3
測定力
検査方法Aでは，一方の当て金に所定の力を加え，止め金は反力を受けるだけである。一方，検査方法
Bでは，測定装置によって両方の当て金に直接力を加える。
例 測定力の例
検査方法A
F＝6 000 N
検査方法B
F1＝6 000 N，F2＝6 000 N
7
検査方法の選択及び指定
7.1
検査方法の選択
検査する半割り軸受の寸法に応じて望ましい検査方法を表3に示す。
表3−検査方法の選択方法
単位 mm
Dbs
望ましい検査方法
Dbs≦200
A，B
200＜Dbs≦500
B
さらに，受渡当事者間の協定によって，軸受の寸法にかかわらず検査方法を選択することができる。そ
の場合には，検査方法Aと検査方法Bとの間で異なる合せ面における弾性変形量の差を補正するための補
正量δを考慮する必要がある。その補正量δは，式(2)を満たす。
δ
+
+
=
2
1h
h
h
··········································································· (2)
6
B 1585-3：2017
δの値は，用いる二つの測定装置で得られる実際の測定値から経験的に決定する必要がある。異なる製
造業者の測定装置はその形状も異なるので，ある製造業者で決められた補正量δは他の製造業者の測定装
置には適用できず，個別に定められなければならない。
附属書Eの例を参照。
一般に，ベルトの摩擦に対する理論から，補正量δは式(3)から算出できる。
(
)
2/
ms
ms
M
ch,
2
1
2
1
π
π
δ
f
f
e
e
Ef
B
s
F
d
−
−
−
+
=
··················································· (3)
摩擦係数をf＝0.15，弾性率をE＝210 000 MPaとすると，式(3)は式(4)となる［箇条16 c) を参照］。
ms
ms
M
ch,
7
x
10
7
B
s
F
d
−
×
=
δ
···································································· (4)
7.2
検査方法の指定
外径Dbsが340 mmの薄肉半割り軸受の検査を検査方法Bに指定するときの指定方法を，一例として次
に示す。
例 検査方法JIS B 1585-3-B-340
8
測定装置
検査方法A及び検査方法Bによってクラッシュを測定するための一般的な測定装置を，図4及び図5
に示す。
なお，図4及び図5は油圧作動式であるが，空気圧又は機械作動式を用いてもよい。
1 測定ブロック
2 ピボット式当て金
3 圧力調整弁
4 駆動モータ
5 油ポンプ
6 圧力シリンダ
7 可動式測定子
8 ダイヤルゲージ
9 圧力ゲージ
図4−コラム式の測定装置例（検査方法A）
7
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1 固定式当て金a)
2 ダイヤルゲージ
3 可動式測定子
4 圧力ゲージ
5 圧力シリンダ
6 ピボット式当て金
7 ダイヤルゲージ
8 測定ブロック
注a) 二つのピボット式当て金を用いてもよい。
図5−コラム式の測定装置例（検査方法B）
9
測定装置の必要事項
9.1
一般
測定装置の精度，すなわち測定するクラッシュの精度に影響を与える最も重要な因子を，9.2〜9.5に示
す。
9.2
測定時に加える力の公差
測定時に加える力の許容範囲を表4に示す。
表4−測定時に加える力の許容範囲
F
（N）
許容範囲
（±%）
F≦ 2 000
1.25
2 000＜ F≦ 5 000
1.00
5 000＜ F≦ 10 000
0.75
10 000＜ F≦ 50 000
0.50
50 000＜ F
0.25
8
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9.3
測定子の接近速度
半割り軸受の合せ面に力Fを加える際は，衝撃力が発生しないようにしなければならない。そのために
測定子の移動速度は，10 mm/s±2 mm/sとする場合もある。
測定子の移動速度が固定式の場合，力を加えた後に一旦除荷し，再度力を加えて測定を行わなければな
らない。
9.4
測定子の構造
測定子は，測定ブロックの基準面に対して正確に直角に案内され動くように設計及び製造しなければな
らない。当て金と測定ブロックの基準面との平行度を保証するため，測定子に備えられた当て金と測定ブ
ロックの支持面との間の平行度は，半径方向に100 mm当たり0.04 mmを超えてはならない。
9.5
当て金の測定面の精度
当て金の測定面の精度は，表5による。
表5−当て金の測定面の精度
Dbs
（mm）
粗さパラメータRa
（μm）
平面度
（mm）
Dbs≦160
0.2
0.001 5
160＜Dbs≦340
0.4
0.003 0
340＜Dbs≦500
0.4
0.004 0
10
基準面を定めるためのゲージ類
10.1
一般事項
測定には，次のゲージを使用してもよい。
− （基準測定のための）基準測定ブロック（箇条11参照）
− （製造ラインのための）ライン用測定ブロック（箇条11参照）
− （製造ラインのための）マスターシェル（箇条12参照）
これらのゲージの基準は，10.2〜10.4に示す三つの方法で管理される。
10.2
基準測定ブロック（単体で使用される。）
基準測定ブロックは，製造ラインでの検査で使用される他の測定ブロックの基準となる。
10.3
単体で使用するライン用測定ブロック
単体で使用するライン用測定ブロックの内径の周長は，基準測定ブロックとの比較によって決定する。
このライン用測定ブロックは，マスターシェル及び基準軸受を使用しない製造ラインでの検査に用いら
れる。
10.4
マスターシェルとともに使用されるライン用測定ブロック
このライン用測定ブロックの内径の周長は，基準測定ブロックによって周長が決定したマスターシェル
又は同様に周長が決定した基準軸受によって決定する。
このゲージの組合せは，製造ラインでの検査に用いられる。
注記 製造ラインでの検査では，ライン用測定ブロックを基準測定ブロックとともに使用することも
あるが，このゲージの組合せは，この規格の適用範囲から外れる。
9
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11
測定ブロックの必要事項
11.1
一般事項
必要事項の事例として示すが，国内の運用実態と異なる。
なお，詳細は，受渡当事者間の協定によってもよい。
代表的な測定ブロックを図6に示す。内径dch，及び高さHchの測定部に軸受を固定し測定する。
測定力が与えられたときに箇条16の要件を満足させるため，測定ブロックはできれば焼入れ鋼を用い，
剛性を高く設計・製造する必要がある。
測定ブロックの内径面にクロムめっきを施してはならない。
半割り軸受の位置決めつめが干渉しないように，測定ブロックには逃げ溝を設ける必要がある。逃げ溝
の大きさは，位置決めつめよりも幅をおおよそ1 mm広く，深さをおおよそ1 mm深く，長さをおおよそ
1.5 mm長くしなければならない。
11.2
基準測定ブロック
11.2.1
基準測定ブロック
1 Ccor,ch及びCcor,chsのための基準面（13.1，13.2.1参照）
2 dch,M，Hch,M及びCcor,ch（又はCcor,chs）の刻印部
3 突出し用穴（任意追加）
注a) 表6，表7及び表8に示される数値を用いることが望ましい。
b) つばなし半割り軸受のBch1は，Bch2と同じでもよい。又はBch1は半割り軸受の幅に準じてもよい。すなわちK1,max
＝0.4 mmのときBmax＋1.2 mmまでとする。
c) つば付き半割り軸受のBch1は，表7を参照。K2＝hmax＋0.5 mm
d) K1又はK2
図6−測定ブロック
10
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11.2.2
加工許容値
11.2.2.1
加工許容値
基準測定ブロックの加工許容値及び仕様を表6に示す。
表6−基準測定ブロックの加工許容値及び仕様
外径
Dbs
（mm）
dchmの公差
（mm）
測定ブロック内面粗さ
パラメータ
Ra
（μm）
Hchmの公差
（mm）
基準面の粗さ
パラメータ
Ra
（μm）
Dbs≦ 75
＋0.003 0
0
0.2
＋0.003 0
0
0.3
75＜Dbs≦110
＋0.004 0
0
＋0.003 5
0
110＜Dbs≦160
＋0.005 0
0
＋0.004 0
0
160＜Dbs≦250
＋0.006 0
0
0.4
＋0.004 5
0
0.6
250＜Dbs≦340
＋0.007 5
0
0.6
＋0.005 0
0
1.0
340＜Dbs≦500
＋0.010 0
0
＋0.006 0
0
11.2.2.2
幾何公差
基準測定ブロックの幾何公差を表7及び表8に示す。
表7−幾何公差−No.1
外径
Dbs
（mm）
つばなし軸
受用のBch3
（mm）
つば付き軸受用の
Bch1
（mm）
粗さパラ
メータ
Ra1
（μm）
幾何公差
（mm）
Bch3,min
Bch1,min
Bch1,max
t1
t2
t3
t4
t5
t6
Dbs≦ 75
Bmax＋0.4
Zmin−0.1
Zmin−0.05
1.2
0.002 0.002 0.002 0.002 0.002 0.005
75＜Dbs≦110
110＜Dbs≦160
160＜Dbs≦250
0.005 0.005 0.005 0.004 0.003 0.006
250＜Dbs≦340
340＜Dbs≦500
0.007
0.007
表8−幾何公差−No.2
B
（mm）
Bch2
（mm）
粗さパラメータ
Ra2
（μm）
平行度
t7
（mm）
B≦55
60
02
＋
1.2
0.002
55＜ B≦80
85
02
＋
0.003
80＜ B
B＋5
02
＋
0.004
11
B 1585-3：2017
11.2.2.3
粗さパラメータRa1及びRa2
表7及び表8による。
11.2.2.4 Bch1，Bch2及びBch3の仕様
表7及び表8による。
11.2.3
dchm,M及びHchm,Mを測定する機器の測定精度
dchm,M及びHchm,Mは，次の測定精度の測定装置を使って決める必要がある。
dchm,M≦160 mm の場合 ±0.001 mm
160 mm＜dchm,M の場合 ±0.002 mm
これらの値は，式(5)から求めた周長lchm,Mに基づく補正量Ccor,chm（13.1参照）を算出するために必要で
ある。
−
+
=
2
2
2
π
M
chm,
M
chm,
M
chm,
M
chm,
d
H
d
l
·············································· (5)
11.2.4
許容摩耗限界
11.2.2に規定する基準測定ブロックの公差を超えて摩耗してはならない。基準測定ブロックに公差内の
摩耗が発生した場合には，その補正量を修正する必要が生じる場合がある。
11.3
ライン用検査ジグ
11.3.1
単独で使用されるライン用検査ジグ
単独で利用されるライン用測定ブロックの内径の周長は基準測定ブロックとの比較で決定される（11.2
参照）ので，dchs及びHchsには，より大きな公差が許容される。
11.3.2
製造公差，補正量及び許容摩耗限界
11.3.2.1
製造公差
ライン用測定ブロックの製造公差を表9〜表11に示す。
表9−ライン用測定ブロックの製造公差−No.1
外径
Dbs
（mm）
dchsの公差
（mm）
測定ブロック内面粗さパラメータ
Ra
（μm）
Hchsの公差
（mm）
基準面の粗さパラメータ
Ra
（μm）
Dbs≦ 75
＋0.008
0
0.2
＋0.008
0
0.3
75＜Dbs≦110
＋0.010
0
＋0.009
0
110＜Dbs≦160
＋0.012
0
＋0.010
0
160＜Dbs≦250
＋0.014
0
0.4
＋0.010
0
0.6
250＜Dbs≦340
＋0.017
0
0.6
＋0.011
0
1.0
340＜Dbs≦500
＋0.022
0
＋0.012
0
12
B 1585-3：2017
表10−ライン用測定ブロックの製造公差−No.2
外径
Dbs
（mm）
つばなし
軸受用の
Bch3
（mm）
つば付き軸受用の
Bch1
（mm）
粗さパラ
メータ
Ra1
（µm）
幾何公差
（mm）
Bch1,min
Bch1,max
t1
t2
t3
t4
t5
t6
Dbs≦ 75
Bmax＋0.4
Zmin−0.1
Zmin−0.05
1.2
0.004 0.004 0.004 0.004 0.004 0.010
75＜Dbs≦110
110＜Dbs≦160
160＜Dbs≦250
0.010 0.010 0.010 0.008 0.006 0.012
250＜Dbs≦340
340＜Dbs≦500
0.014
0.014
表11−ライン用測定ブロックの製造公差−No.3
B
（mm）
Bch2
（mm）
粗さパラメータ
Ra2
（µm）
平行度
T7
（mm）
B≦55
60
02
＋
1.2
0.004
55＜ B≦80
85
02
＋
0.006
80＜ B
B＋5
02
＋
0.008
11.3.2.2
補正量Ccor,chs
補正量Ccor,chsは，13.2.1による。
11.3.2.3
許容摩耗限界
ライン用測定ブロックの摩耗は，初期状態の補正量Ccor,chs,newと摩耗状態の補正量Ccor,chs,wornとの差が，
表12に示す値以下がよい。
表12−ライン用測定ブロックの許容摩耗限界
単位 mm
測定ブロック径
dchs
補正量の差の許容差
| Ccor,chs,new−Ccor,chs,worn |
dchs≦ 75
0.012
75＜dchs≦110
0.016
110＜dchs≦160
0.020
160＜dchs≦250
0.024
250＜dchs≦340
0.030
340＜dchs≦500
0.040
11.3.3
マスターシェル又は基準軸受とともに使用されるライン用測定ブロック
11.3.3.1
製造公差
ライン用測定ブロックの製造公差を表9〜表11に示す。
11.3.3.2
補正量
補正量Ccor,chsは，13.2.2による。
11.3.3.3
許容摩耗限界
13
B 1585-3：2017
ライン用測定ブロックの摩耗は，初期状態の補正量Ccor,chs,newと摩耗状態の補正量Ccor,chs,wornとの差が，
表12に示す値以下がよい。
12
マスターシェル及び基準軸受の必要事項
12.1
マスターシェルの必要事項
12.1.0A
一般
必要事項の事例として示すが，国内の運用実態と異なる。
なお，詳細は，受渡当事者間の協定によってもよい。
マスターシェルの基本寸法は，検査する半割り軸受に対応する必要がある（図7参照）。
マスターシェルは測定ブロックに装着したとき，半割り軸受と類似の挙動をする必要がある。
注記1 円筒状のマスターシェルは，つば付き半割り軸受の検査でも使用することができる。
マスターシェルは，焼入れ鋼から作られる必要がある（硬さはHRC58以上）。通常，マスターシェルは
直径200 mmまで使用される。
一つのマスターシェルでアンダーサイズ1 mmの軸受まで使うことができるように，マスターシェルの
肉厚smsは半割り軸受の全肉厚stot＋0.125 mmと等しくする必要がある。
注記2 アンダーサイズとは，軸を再使用する際に，軸の摩耗及び再研磨によるクリアランスの増加
を相殺するために使用する肉厚の厚い軸受のことである。
注a) Dms,M，F及びCcor,msの刻印部（13.2.3参照のこと）
b) 平行度t8及び平面度t9は，基準ブロックに装着して所定の力がかかった状態での値を示す。
図7−マスターシェル
マスターシェルの幾何公差は，検査する軸受に近いことが必要である。摩擦及び弾性変形が検査する軸
受と大きく異なってしまう可能性があるため，異なる幾何寸法のマスターシェルを使用してはならない
（図8参照）。
14
B 1585-3：2017
図8−段差のあるマスターシェル（均一な肉厚の軸受を検査するためには適切ではない場合）
12.1.1
製造公差
マスターシェルの製造公差を表13及び表14に示す。
表13−マスターシェルの製造公差−No.1
外径
Dms
（mm）
Bmsの公差
（mm）
smsの公差
（mm）
粗さパラメータ
Ra3
（μm）
粗さパラメータ
Ra5
（μm）
Dms≦160
±0.10
±0.015
0.2
2
160＜Dms≦200
±0.15
±0.020
表14−マスターシェルの製造公差−No.2
外径
Dms
（mm）
粗さパラメータ
Ra4
（μm）
平行度
t8
（mm）
自由状態での張り
平面度
t9
（μm）
Dms≦160
0.3
0.004
検査する半割り軸受
の公差内
0.003
160＜Dms≦200
0.5
0.006
12.1.2
補正量Ccor,ms
13.2.3による。
12.1.3
許容摩耗限界
マスターシェルの摩耗は，初期状態の補正量Ccor,ms,newと摩耗状態の補正量Ccor,ms,wornとの差が表15に示
す値以下がよい。
表15−マスターシェルの許容摩耗限界
単位 mm
測定ブロック径
Dms
補正量の差の許容差
| Ccor,ms,new−Ccor,ms,worn |
Dms≦160
0.030
160＜Dms≦200
0.035
15
B 1585-3：2017
12.2
基準軸受の必要事項
半割り軸受のクラッシュは，マスターシェルではなく基準軸受を用いて決めてもよい。
基準軸受はステンレス鋼又は冷間若しくは熱間圧延鋼から作る必要がある。特別な場合には，通常の製
品軸受を用いてもよい。
製造公差は，受渡当事者間の協定による。
13
補正量
13.1
参照器具：基準測定ブロックの補正量，Ccor,chm
基準測定ブロック内径の周長lchm,Mは，式(6)による（11.2.3参照）。
−
+
=
2
2
2
π
M
chm,
M
chm,
M
chm,
M
chm,
d
H
d
l
·············································· (6)
基準測定ブロック内径の理論的な周長lchm,thは，式(7)による（11.2.3参照）。
th
chm,
th
chm,
2
πd
l
=
·········································································· (7)
したがって，基準測定ブロックの補正量は，式(8)による。
th
chm,
M
chm,
chm
cor,
l
l
C
−
=
·································································· (8)
他に考慮する因子及びその計算方法は，附属書A（検査方式A用）又は附属書B（検査方式B用）によ
るのがよい。
補正量Ccor,chmを算出する基準は，基準測定ブロックの基準面である。
13.2
ライン用器具
13.2.1
単独で使用されるライン用測定ブロックの補正量Ccor,chs
補正量Ccor,chsは，ある半割り軸受に対して等しい検査条件において，基準測定ブロックを用いて測定し
たクラッシュhchmとライン用測定ブロックを用いて測定したクラッシュhchsとの差である（算出方法は，
附属書Cによるのがよい。）。
M
chs,
M
chm,
chs
cor,
h
h
C
−
=
·································································· (9)
ダイヤルゲージを設定する際は，補正量Ccor,chsだけを考慮する。
補正量Ccor,chsの基準は，ライン用測定ブロックの基準面である。
13.2.2
マスターシェルとともに使用されるライン用測定ブロックの補正量
マスターシェルを用いて測定を行うときに，ライン用測定ブロックの補正量Ccor,chsを使ってはならない。
この値は，ライン用測定ブロックの摩耗限界を評価するためだけに用いる。
ダイヤルゲージを設定するときは，マスターシェルの補正量Ccor,msだけを考慮する（13.2.3参照）。
13.2.3
マスターシェルの補正量Ccor,ms
マスターシェルの補正量Ccor,msは，マスターシェルに所定の力を加えた状態で基準測定ブロック内面に
装着したときの周長と，基準測定ブロック内径の理論上の周長との差である。
補正量Ccor,msの算出方法は，附属書Dによるのがよい。
ダイヤルゲージを設定する場合，マスターシェルの補正量Ccor,msを考慮する必要がある。
補正量Ccor,msの基準は，マスターシェルの合せ面及び13.1によって測定する基準測定ブロックの周長で
ある。
注記 補正量Ccor,msの値は，内径dchmが検査する半割り軸受の外径Dbsに一致する基準ブロックの周
16
B 1585-3：2017
長に対して，マスターシェルの周長が等しくなるように調整しているときにゼロとなる。
13.2.4
基準軸受の補正量Ccor,cs
基準軸受の補正量Ccor,csは，基準軸受に所定の力を加えた状態で基準測定ブロック内面に装着したとき
の周長と，基準測定ブロック内周の理論上の周長との差である。
補正量Ccor,csの算出方法は，附属書Dによるのがよい。
ダイヤルゲージを設定する場合，基準軸受の補正量Ccor,csを考慮する必要がある。
補正量Ccor,csの基準は，マスターシェルの合せ面及び13.1によって測定する基準測定ブロックの周長で
ある。
注記 補正量Ccor,csの値は，内径dchmが検査する半割り軸受の外径Dbsに一致する基準ブロックの周長
に対して，基準軸受の周長が等しくなるように調整しているときにゼロとなる。
13.3
刻印
算出した補正量は，検査ジグのそれぞれに刻印する必要がある。
14
検査手順
検査手順の代表例を次に示す
a) 測定ブロックを測定装置に設置し，横方向に動かないように装着する。
b) 仕様に応じて，加える力の大きさを設定する。
c) 所定の力を加えながら，マスターシェル又は基準軸受の合せ面に対して直角になるように，ピボット
式当て金（検査方法Aの場合）又は二つの当て金（検査方法Bの場合）を下げる。
検査方法Aの場合には，測定ブロック（Ccor,ch又はCcor,chs），マスターシェル（Ccor,ms）又は基準軸受
（Ccor,cs）のいずれかに刻印した補正量の値にダイヤルゲージを調整する。
検査方法Bの場合には，補正量の半分の値になるよう，両方のダイヤルゲージを調整する（図3参
照）。
d) マスターシェルを取り外し，測定ブロックに検査する半割り軸受を配置し（箇条15も参照），測定ヘ
ッドを介して力を加える。
e) 半割り軸受のクラッシュの偏差を決定する。検査方法Aの場合には，ダイヤルゲージの値から直接読
み取る。検査方法Bの場合には，二つのダイヤルゲージで記録した偏差を足し合わせる。
f)
基準ブロックを使用する場合，測定温度は20 ℃と25 ℃の間でなければならない。ただし，測定装置
及び検査される半割り軸受の両方が同じ温度である場合には，ラインにおける検査は室温で行うこと
ができる。
g) 基準測定（10.1参照）を行うときには，クラッシュの値は，20 ℃の温度で測定した3回の平均を用い
る。
15
検査される半割り軸受の条件
半割り軸受の合せ面及び背面には，異物，グリース及びきずがあってはならない。また，その温度は，
使用する測定ブロックと同じとする。
16
測定上の注意点
次の要因によって測定誤差が生じるため注意を要する。
a) 測定装置
17
B 1585-3：2017
1) 測定ブロックが誤った位置に設置される（縦又は横方向）。
2) 測定ブロックが測定装置に誤って固定される。
3) 力の大きさが誤まって設定される。
4) 力を加える際の測定子の接近速度が速すぎる。
5) ピボット式当て金がきつ過ぎる，又は過大のクリアランスをもつ。
6) 当て金の損傷又は摩耗。
b) 測定ブロック
1) 半割り軸受と測定ブロックとの温度差
2) 測定ブロックの破損及び摩耗
3) 大き過ぎるつめ逃げ溝
4) 測定ブロックのつめ逃げ溝の汚損
5) 測定ブロックの内径のクロムめっき
6) 軸受の止め金が合せ面全体を覆っていない（検査方法Aの場合）。
7) 止め金の過度な変形，又は取付け不良（検査方法Aの場合）
8) 止め金の損傷及び摩耗
9) つばなし軸受の場合，測定ブロック幅Bch3が，軸受幅よりも短い。
10) つば付き軸受用の測定ブロック幅Bch1又はBch3が過大であるため，軸受背面とつば間のフィレット
半径部で軸受と測定ブロックとが干渉する（不適切な面取りK1又はK2）。
c) 補正量
1) dch,M及びHch,M測定時の読取り誤差
2) 補正量の計算誤差
d) 半割り軸受
1) 外周又は合せ面のグリース，汚れ又は破損
2) 過大な合せ面のテーパ
e) 検査方法の選定 半割り軸受を図面で指示された方法と異なる方法で検査する場合，補正量δを考慮
しないと誤差が生じる場合がある（7.1及びE.3を参照）。
17
各検査方法の精度
17.0A 一般
この細分箇条では，測定結果の繰返し性，再現性及び同等性を算出し，検査方法A及び検査方法Bで得
られる結果を比較することによって，各検査方法の精度を評価するための統計的手法の一例を紹介する。
17.1
検査条件
検査条件は，表16による。
18
B 1585-3：2017
表16−検査方法の管理仕様（No.1）
項目
繰返し性
再現性
同等性
ケース1 a)
ケース2 b)
半割り軸受
S
S
S
S
測定装置
S
S又はI
I又はD
D
測定ブロック
S
S
I又はD
D
作業者
S
S又はD
D
D
検査場所
S
S又はD
D
D
検査時間
短期間で実施
D
D
D
S：同一（same）＝物理的に同じ
I：類似（identical）＝この規格に準じており，かつ，同じ設計，図面及び仕様
D：異なる（different）＝この規格に準じているが，異なる設計，図面及び仕様
注a) 同じ半割り軸受について，同じ測定ブロックを用いて測定する。測定装置は同一又は同一の測定ブロックを
搭載できる類似の測定装置を用い，同一又は異なる作業者が，同一又は異なる場所で，異なるときに測定す
る。
b) 同じ半割り軸受を，類似又は異なる測定ブロックと類似又は異なる測定装置を用い，異なる場所の異なる作
業者が，異なる時に測定する。
17.2
許容値
検査結果を判定するときの基準となる値は，表17による（附属書E参照）。
表17−検査精度の管理仕様（No.2）
外径
Dbs
繰返し性
σΔB
再現性
2
1l
l−
max.
同等性a)
B
Al
l−
max.
ケース1 b)
ケース2 c)
（mm）
（μm）
（μm）
（μm）
（μm）
Dbs≦ 75
1.1
3
8
10
75＜Dbs≦160
1.4
4
9
14
160＜Dbs≦340
2.2
6
16
24
340＜Dbs≦500
2.8
8
18
30
注a) 特に厚い軸受のとき，この値を取得するためには，当て金（止め金）と軸受合せ面との間を良好に接触させ
ることが最も重要である。
b) 同じ半割り軸受について，同じ測定ブロックを用いて測定する。測定装置は同一又は同一の測定ブロックを
搭載できる類似の測定装置を用い，同一又は異なる作業者が，同一又は異なる場所で，異なるときに測定す
る。
c) 同じ半割り軸受を，類似又は異なる測定ブロックと類似又は異なる測定装置を用い，異なる場所の異なる作
業者が，異なる時に測定する。
17.3
計算
計算方法，並びに繰返し性，再現性及び同等性の検査結果の解釈の方法を，附属書Eに示す。
18
軸受図面への明記
周長を測定するための情報として，次の事項を図示又は別の方法によって図面に明記する。
a) 望ましい検査方法（A又はB）（箇条7参照）
b) 測定時の力
19
B 1585-3：2017
c) クラッシュ
d) 測定ブロックの内径dch,th及び底面から基準面までの高さHch,th
19
測定機器の管理
19.1
測定ジグの検査
測定ジグは，定期的に検査する必要がある。この検査で重大な損傷があれば，更新する必要があり，寸
法変化があれば，そのジグに表示する必要がある。
19.2
測定装置の検査
測定装置は，所定の時間間隔をおき統計的手法を用いて，その精度を検査する必要がある。
20
B 1585-3：2017
附属書A
（参考）
基準測定ブロックの補正量の算出方法−検査方法A
A.1 計算用紙
社名
図面番号
軸受の種類・仕様
1 補正前周長（図A.2参照）
2 Δlchm1及びΔlchm2の偏差（図A.2の注記の定義を考慮する。）
3 弾性変形量Hchm,th（図A.3参照）
4 止め金及び当て金のくぼみ弾性変形量（図A.4参照）
5 拘束力を与えたときの止め金変形量（図A.5参照）
6 測定周長（補正後）
7 理論周長
8 基準測定ブロック補正量
注記 測定項目の1，2及び5は，測定値を表す。
図A.1−計算用紙
21
B 1585-3：2017
注記
2
2
M
,
chm
M
,2
chm
M
,2
chm
M
,
chm
M
,1
chm
M
,1
chm
d
H
l
d
H
l
−
=
∆
−
=
∆
及び
図A.2
注a) 当て金と測定ブロックとの接触幅w（mm）
図A.3
22
B 1585-3：2017
注a) 炭化など硬化表面処理された止め金及び当て金であれば，pE1及びpE2は無視できる。
図A.4
図A.5
23
B 1585-3：2017
A.2 計算例
社名
図面番号
軸受の種類・仕様
1 補正前周長（図A.2参照）
2 Δlchm1及びΔlchm2の偏差（図A.2の注記の定義を考慮する。）
3 弾性変形量Hchm,th（図A.3参照）
4 止め金及び当て金のくぼみ弾性変形量（図A.4参照）
5 拘束力を加えたときの止め金変形量（図A.5参照）
6 測定周長（補正後）
7 理論周長
8 基準測定ブロック補正量
注記 測定項目の1，2及び5は，測定値を表す。
図A.6−計算用紙
24
B 1585-3：2017
附属書B
（参考）
基準測定ブロックの補正量の算出方法−検査方法B
B.1
計算用紙
社名
図面番号
軸受の種類・仕様
1 補正前周長（図B.2参照）
2 Δlchm1及びΔlchm2の偏差（図B.2の注記の定義を考慮する。）
3 弾性変形量Hchm,th（図B.3参照）
4 当て金のくぼみ弾性変形量（図B.4参照）
5 測定周長（補正後）
6 理論周長
7 基準測定ブロック補正量
注記 測定項目の1及び2は，測定値を表す。
図B.1−計算用紙
25
B 1585-3：2017
注記
2
2
M
,
chm
M
,2
chm
M
,2
chm
M
,
chm
M
,1
chm
M
,1
chm
d
H
l
d
H
l
−
=
∆
−
=
∆
及び
図B.2
注a) 当て金と測定ブロックとの接触幅w（mm）
図B.3
26
B 1585-3：2017
注a) 炭化など硬化表面処理された当て金であれば，pE1及びpE2は無視できる。
図B.4
27
B 1585-3：2017
B.2
計算例
社名
図面番号
軸受の種類・仕様
1 補正前周長（図B.2参照）
2 Δlchm1及びΔlchm2の偏差（図B.2の注記の定義を考慮する。）
3 弾性変形量Hchm,th（図B.3参照）
4 当て金のくぼみ弾性変形量（図B.4参照）
5 測定周長（補正後）
6 理論周長
7 基準測定ブロック補正量
注記 測定項目の1及び2は，測定値を表す。
図B.5−計算用紙
28
B 1585-3：2017
附属書C
（参考）
ライン用測定ブロック（単独使用）の補正量の算出方法
C.1 基準測定ブロックを用いた周長測定
次の手順による。
a) 測定装置に基準測定ブロックを設置する。
b) 軸受の仕様に応じて測定力Fを調整する。
c) 当て金付きの測定子をライン用測定ブロックの基準面まで下げる。
d) 測定力Fを加えた状態で測定目盛を基準測定ブロックの補正量Ccor,chmに設定する。
e) 半割り軸受を基準測定ブロックにはめ込む。
f)
半割り軸受の合せ面に測定力Fを加える。
g) hchm,Mを測定目盛から読み取る。
C.2 ライン用測定ブロックを用いた周長測定
次の手順による。
a) 検査装置にライン用測定ブロックを設置する。
b) C.1 b) と同様に測定力Fを調整する。
c) 当て金付きの測定子をライン用測定ブロックの基準面まで下げる。
d) 測定力Fを加えた状態で測定目盛を ゼロ に設定する。
e) C.1 e) と同様に半割り軸受をライン用測定ブロックにはめ込む。
f)
半割り軸受の合せ面に測定力Fを加える。
g) achs,Mを測定目盛から読み取る。
C.3 補正量算出
補正量は，周長C.1 g) とC.2 g) との差から式(C.1)によって求める。
M
chs,
M
chm,
chs
cor,
h
h
C
−
=
································································ (C.1)
測定目盛を調整する。補正量Ccor,chsは，正又は負の値となるので注意する。
例 hchm,M＝＋40 μm hchs,M＝＋45 μm のとき Ccor,chs＝40−45＝−5 μmとなり，測定目盛を−5 μm
にセットする。
29
B 1585-3：2017
附属書D
（参考）
マスターシェル及び基準軸受の補正量の算出方法
D.1 マスターシェルの周長
マスターシェルの周長は，測定対象となる半割り軸受の周長とほぼ同等でなければならない。
D.2 マスターシェルの校正及び補正量Ccor,msの決定
次の手順による。
a) 測定装置に基準測定ブロックを装着する。
b) 軸受の仕様に応じて，測定力Fを調整する。
c) 当て金付きの測定子を基準測定ブロックの基準面まで下げる。
d) 測定力Fを付与した状態で測定ブロックのダイヤルゲージに補正量Ccor,chmをセットし，測定完了まで
この補正量を維持する。
e) 基準測定ブロックから当て金付きの測定子を離す。
f)
基準測定ブロックにマスターシェルを装着する。
g) 測定力Fをマスターシェルの合せ面に与える。
h) ダイヤルゲージの指示値を読み取る。これがマスターシェルの補正量Ccor,msとなる。
i)
補正量Ccor,msをマスターシェルに刻印する。
D.3 基準軸受の周長
基準軸受の周長は，測定対象となる半割り軸受とほぼ同等でなければならない。
D.4 基準軸受の校正及び補正量Ccor,csの決定
次の手順による。
a) 測定装置に確認用の基準測定ブロックを装着する。
b) 軸受の仕様に応じて，測定力Fを調整する。
c) 当て金付きの測定子を基準測定ブロックの基準面まで下げる。
d) 測定力Fを付与した状態で基準測定ブロックのダイヤルゲージに補正量Ccor,chmをセットし，測定完了
までこの補正量を維持する。
e) 基準測定ブロックから当て金付きの測定子を離す。
f)
基準測定ブロックに基準軸受を装着する。
g) 測定力Fを基準軸受の合せ面に与える。
h) ダイヤルゲージの指示値を読み取る。これが基準軸受の補正量Ccor,csとなる。
i)
補正量Ccor,csを基準軸受に刻印する。
30
B 1585-3：2017
附属書E
（参考）
試験及び計算の繰返し性，再現性及び同等性
E.1
繰返し性の評価
次の手順による。
a) n個の半割り軸受を抜取りで準備し，番号i (=1〜n)を付ける。
b) 1番目の軸受を測定ブロックに装着し周長l11を測定する。残りのn−1個の軸受も測定する。
c) 表16に従い，1番目の軸受に対して2回目の測定l21を実施し，残りのn−1個も同様に2回目の測定
を実施する。
d) 同じ番号iの軸受の1回目と2回目との測定値の差Δli (=l1i−l2i)を求める。
e) 標準偏差の推定値σΔを次の式で求める。
()
∆
−
∆
−
=
∑
∑
=
=
∆
n
1
i
2
n
1
i
i
2
i
1
1
1
l
n
l
n
σ
得られたσΔが表17に示すσΔBの値と同等又はそれ以下であれば，用いた測定方法の繰返し性は妥当で
あると考えられる。
E.2
再現性の評価
次の手順による。
a) E.1のa) 及びb) に従って1回目の測定を実施し，表16に従い2回目の測定を実施する。
b) 1回目及び2回目の測定値の平均をそれぞれ計算する。
n
l
l
n
i
i
∑
=
=
1
1
1
及び
n
l
l
n
i
i
∑
=
=
1
2
2
得られた
2
1l
l−
が表17に示す値より小さければ，測定の再現性は妥当であると考えられる。
E.3
同等性の評価
次の手順による。
a) E.1のa)，b) 及び表16に従って検査方法A及び検査方法Bによる測定を実施する。
b) 検査方法A及び検査方法Bによる測定値の平均をそれぞれ計算する。
n
l
l
n
i
Ai
A
∑
=
=
1
及び
31
B 1585-3：2017
n
l
l
n
i
Bi
B
∑
=
=
1
得られた
B
Al
l−
が表17に示す値より小さければ，同等性は妥当であると考えられる。
32
B 1585-3：2017
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS B 1585-3:2017 滑り軸受−つば付き及びつばなし薄肉半割り軸受−第3部：
周長の測定
ISO 3548-3:2012，Plain bearings−Thin-walled half bearings with or without flange−Part
3: Measurement of peripheral length
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
11 測定ブ
ロックの必
要事項
測定ブロックに必
要な事項について
記載
11
ISO規格では測定ブロ
ックの幾何公差を規定
している。
変更
国内の運用と異なる部位が見られ
るため，受渡当事者間の協定による
旨を記載
測定精度への影響はなく実質的な
差異はない。
12 マスタ
ーシェル及
び基準軸受
の必要事項
周長測定に用いる
基準について記載
12
ISO規格ではMaster
shell及びComparison
shellを用いて，周長測
定を行うことを規定し
ている。
追加
当初Master shellを基準軸受，
Comparison shellを比較用軸受と表
現したが，我が国において誤解を招
くおそれがあるため，Master shell
はマスターシェル，Comparison shell
は基準軸受と表現した。
測定精度への影響はなく実質的な
差異はない。
マスターシェル及
び基準軸受に必要
な事項について記
載
12
ISO規格ではマスター
シェル及び基準軸受の
運用方法を規定してい
る。
変更
国内の運用と異なる部位が見られ
るため，受渡当事者間の協定による
旨を記載
測定精度への影響はなく実質的な
差異はない。
アンダーサイズに
関する記載
12
ISO規格ではアンダー
サイズに関する内容が
不十分。
追加
長期運転後に軸を再使用する場合
に限定し，アンダーサイズに関する
記載を追加した。
使用者の利便性を考慮したため。
2
B
1
5
8
5
-3
：
2
0
1
7
33
B 1585-3：2017
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 3548-3:2012，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
B
1
5
8
5
-3
：
2
0
1
7