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日本工業規格

JIS

 Z

4917

-1984

X

線変調度伝達関数測定用

テストチャート

Test Charts for Modulation Transfer Function of X-ray Equipment

1.

適用範囲  この規格は,X 線装置及び映像装置(X 線フィルム,増感紙など)の変調度伝達関数(以

下,MTF という。

)を測定するときに用いる X 線吸収体(以下,吸収体という。

)を材料とする X 線 MTF

測定用テストチャート(以下,テストチャートという。

)について規定する。ただし,このテストチャート

で測定し,得られるのは,方形波 MTF であり,正弦波 MTF を求めるには換算を必要とする。

引用規格:

JIS B 7502

  外側マイクロメータ

JIS B 7507

  ノギス

JIS G 4305

  冷間圧延ステンレス鋼板

JIS K 6718

  メタクリル樹脂板

関連規格:JIS Z 4916  X 線用解像力テストチャート

2.

用語の意味  この規格で用いる主な用語は,次による。

(1)  MTF (modulation transfer function)

像伝達系に正弦波入力を加えるとき,出力像のコントラス及び位相

が変化するが,この入出力のコントラストの比だけを空間周波数の関数として表したもの。

方形波 MTF と区別するために,正弦波 MTF ということもある。

通常,空間周波数ゼロにおける値で 1.0 に正規化する。

(2)

方形波 MTF (square wave MTF)  像伝達系に方形波入力を加えるとき,出力像のコントラストと位相が

変化するが,この入出力のコントラストの比だけを空間周波数の関数として表したもの。

(3)

空間周波数 (spatial frequency) 単位長さ当たりに存在する等しい幅をもつ明暗の線対の組数。単位は

通常 LP/cm(1cm 当たりの線対数)又は LP/mm(1mm 当たりの線対数)を用いる。

3.

種類  テストチャートの種類は,吸収体の材質及び厚さ並びに形状,寸法及び配列によって表 のと

おりとする。空間周波数の変化は,等比及び等差の両系列とする。


2

Z 4917-1984

表 1

区分

用途

種類

空間周波数の範囲

LP/mm

吸収体の厚さ

µm

一般用

M

−1 W 50 R,

M

−1 Pb 50 R

M

−1 W 50 D,

M

−1 Pb 50 D

 50

1

高圧用

M

−1 W 100 R,

M

−1 Pb 100 R

M

−1 W 100 D,

M

−1 Pb 100 D

0.5

∼ 5.0

100

M

−2 SUS 45 R,

M

−2 Sn 40 R

1.0

∼ 8.0

45

又は 40

2

低圧用

M

−2 SUS 45 D,

M

−2 Sn 40 D

0.5

∼10.0 45 又は 40

3

X

線イメージ

インテンシフ
ァイア用

M

−3 W 100 R,

M

−3 Pb 100 R

M

−3 W 100 D,

M

−3 Pb 100 D

0.5

∼ 6.3

0.5

∼ 6.0

100

4

拡大用

M

−4 Au 30 R

2.0

∼ 20

  30

備考  表 に示す種類は,次の意味をもつ文字と数字との組合せで示す。

1

項  2 項

3

4

5

“文字”−“数字”  “文字”  “数字”  “文字”

(1)  1

項は,MTF 測定用を示す文字,M

(2)  2

項は,区分を示す数字

(3)  3

項は,吸収体の材料を示す文字記号(

表 参照)

(4)  4

項は,吸収体の厚さを示す数字(単位

µm)

(5)  5

項は,空間周波数の変化を示す文字

R

:空間周波数の変化が等比数列であることを示す。

D

:空間周波数の変化が等差数列であることを示す。

テストチャートの記号の記載例:区分が 1 で,吸収体の材料がタングステ

ン,その厚さが 100

µm,空間周波数の変化が等比の場合

M

−1 W 100 R

4.

材料,構造及び形状・寸法

(1)

吸収体は

表 に示す材料を用い,図 2に示す図形を抜き出す。吸収体は通常の取り扱いで容易に破

損しないように,

図 に示す 2 枚の透明な保護板で挟んだ構造とする。1 枚の保護板の厚さは 1mm 以

下,

図 の 及び は 10mm 以下とする。

表 2

記号

材料

W

タングステン

(純度 99.5% 以上)

Pb

(純度 99.5% 以上)

SUS

ステンレス

JIS G 4305(冷間圧延ステンレス鋼板)
に規定の SUS 304]

Sn

すず

(純度 99.5% 以上)

Au

(純度 99.5% 以上)


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図 1  チャートの構造

なお,接着剤を使用する場合には,MTF の測定結果に影響を与えないようにする。

(2)

保護板は,JIS K 6718(メタクリル樹脂板)に規定する一般用の無色透明なメタクリル樹脂板とする。

(3)

吸収体の形状及び寸法は,種類別に

図 2のとおりとする。

空間周波数の表示値に対する許容差は±8%以下,吸収体の厚さ及び外形寸法の許容差は±10%以下

とする。また,

図 2に示す eは線群に直角な方向を示すためのものである。は 1mm 以下,

2mm

以上とする。

また,マークは左右対称に設ける。

吸収体の線群の外に設けた角穴は,MTF を正規化するためのものである。

線群の間隔は 2mm とする。ただし,

図 に示すものは 0.5mm とする。

備考1.  吸収体の厚さの測定は,JIS B 7502(外側マイクロメータ)によるマイクロメータ,寸法測

定には JIS B 7507(ノギス)によるノギスを用いる。

2.

空間周波数の測定は,テストチャートを拡大鏡で見るか,又は拡大投影機で観察して,規定

の許容差内にあるかどうかを調べる。

図 2  M1 W 50 RM1 Pb 50 RM1 W 100 RM1 Pb 100 R

備考 0.5∼0.8LP/mm の線数は 3 本,1.0∼5.0LP/mm は 5 本とする。


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図 3  M1 W 50 DM1 Pb 50 DM1 W 100 DM1 Pb 100 D

備考 0.5LP/mm の線数は 5 本,1.0∼5.0LP/mm は 10 本とする。

図 4  M2 SUS 45 RM2 Sn 40 R

備考  線数はすべて 5 本とする。

図 5  M2 SUS 45 DM2 Sn 40 D

備考 0.5LP/mm の線数は 5 本,1.0∼10.0LP/mm は 10 本とする。


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図 6  M3 W 100 RM3 Pb 100 R

備考 0.5∼1.6LP/mm の線数は 3 本,2.0∼6.3LP/mm は 5 本とする。

図 7  M3 W 100 DM3 Pb 100 D

備考 0.5LP/mm の線数は 3 本,0.75∼6.0LP/mm は 5 本とする。


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Z 4917-1984

図 8  M4 Au 30 R

備考 2.0∼3.2LP/mm の線数は 3 本,4.0∼20LP/mm は 5 本とする。

5.

空間周波数  空間周波数は,表 による。

空間周波数と線幅及び線間の関係は,次式に示すとおりである。

d

u

2

1

=

ここに,

  u

空間周波数

 (LP/mm)

d

線幅及び線間の寸法

 (mm)

表 3

種類

空間周波数

LP/mm

M

−1 W 50 R,

M

−1 Pb 50 R

M

−1 W 100 R,

M

−1 Pb 100 R

0.5

,0.63,0.8,1.0,1.25,1.6,

2.0

,2.5,3.2,4.0,5.0

M

−1 W 50 D,

M

−1 Pb 50 D

M

−1 W 100 D,

M

−1 Pb 100 D

0.5

,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0,4.0,

5.0

M

−2 SUS 45 R,

M

−2 Sn 40 R

1.0

,1.25,1.6,2.0,2.5,3.2,

4.0

,5.0,6.3,8.0

M

−2 SUS 45 D,

M

−2 Sn 40 D

0.5

,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0,4.0,

5.0

,6.0,8.0,10.0

M

−3 W 100 R,

M

−3 Pb 100 R

0.5

,0.63,0.8,1.0,1.25,1.6,

2.0

,2.5,3.2,4.0,5.0,6.3

M

−3 W 100 D,

M

−3 Pb 100 D

0.5

,0.75,1.0,1.25,1.5,1.75,

2.0

,2.25,2.5,2.75,3.0,3.5,

4.0

,5.0,6.0

M

−4 Au 30 R

2.0

,2.5,3.2,4.0,5.0,6.3,8.0,

10.0

,12.5,16,20


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Z 4917-1984

6.

表示及び附属資料

6.1

表示  テストチャートには次の事項を表示する。

(1)

種類の記号

(2)

空間周波数

(3)

製造番号

(4)

製造業者名又はその略号

6.2

附属資料  テストチャートには,次の附属資料を添付する。

(1)

仕様書

(2)

取扱説明書

(3)

形状,寸法及び厚さの検査成績表

(4)

製造年月及び製造番号

なお,これらの資料は包装に表示してもよい。

7.

包装  テストチャートは適当なクッションをもつ容器に収納し,輸送中に損傷が生じないようにする。


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Z 4917-1984

原子力部会  医用放射線装置  及び  附属品専門委員会構成表

氏名

所属

(委員会長)

野辺地  篤  郎

聖路加国際病院

島      弘  志

通商産業省機械情報産業局

向  井      保

工業技術院標準部

代  田  久米雄

厚生省薬務局

橋  詰      雅

麻布大学獣医学部

飯  沼      武

放射線医学総合研究所

山  根      巌

株式会社日立メディコ

小  泉  祐一郎

キヤノン株式会社小杉事業所

奥  野  孝  司

朝日レントゲン工業株式会社技術部

津  田  元  久

株式会社島津製作所医用機器事業本部

岡  崎  玄  右

株式会社大林製作所川口工場

橋  本  健二郎

東京芝浦電気株式会社医用機器事業部

矢  野      太

株式会社田中レントゲン製作所

岡  部  美  夫

肥田電機工業株式会社

安  藤  喜  市

株式会社風雲堂電機製作所

関      義  孝

社団法人日本放射線機器工業会

大  出  良  平

防衛医科大学校

浜  田  政  彦

東邦大学大橋病院

竹  中  栄  一

東京大学医学部

神  田  幸  助

立正佼正会附属病院

橋  本      宏

社団法人日本放射線技術学会

山  下  久  雄

財団法人慶応ガンセンター

蜂  屋  順  一

日本電信電話公社関東逓信病院

平  松  慶  博

筑波大学

片  山      仁

順天堂大学医学部

(専門委貝)

山  本      昭

鶴見大学医学部

安  藤  正  一

日本大学歯学部

村  上  文  男

株式会社日立メディコ

(事務局)

横  溝  眞一郎

工業技術院標準部電気規格課

池  川  澄  夫

工業技術院標準部電気規格課


9

Z 4917-1984

JIS Z 4917

  原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

野辺地  篤  郎

聖路加国際病院

大  出  良  平

防衛医科大学校

代  田  久米雄

厚生省薬務局

竹  中  栄  一

東京大学医学部

宅  間  昌  輔

工業技術院標準部

橋  詰      雅

麻生大学

浜  田  政  彦

東邦大学大橋病院

渡  辺  正  信

通商産業省機械情報産業局

橋  詰  辰  夫

株式会社島津製作所医用機器事業部

津  田  元  久

株式会社島津製作所医用機器事業部

橋  本  健二郎

東京芝浦電気株式会社医用機器事業部

矢  野      太

株式会社田中レントゲン製作所製造部

山  根      巌

株式会社日立メディコ企画室

仙  貫  忠  夫

三井記念病院放射線部

深  栖      一

早期胃癌検診協会中央診療所

X

線診断科

(事務局)

東      常  義

社団法人日本放射線機器工業会

関      義  孝

社団法人日本放射線機器工業会技術部

JIS Z 4917

  原案調査作成分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

橋  詰  辰  夫

株式会社島津製作所医用機器事業部

青  木  久  敏

東京芝浦電気株式会社那須工場

毛  塚      隆

伊藤放射線株式会社技術部

坂  井  光  明

株式会社ミクロメディカル

白  木  英  成

株式会社日立メディコ柏工場

竹  田  浩  美

小西六写真工業株式会社技術部

福  岡  孝  義

富士写真フイルム株式会社

三  浦  典  夫

化成オプトニクス株式会社技術部

川  村  義  彦

日本医科大学附属病院

仙  貫  忠  夫

三井記念病院放射線部

千  葉  隆  次

東京医科歯科大学歯学部病院

保  科  正  夫

東京医科歯科大学歯学部病院

(事務局)

関      義  孝

社団法人日本放射線機器工業会技術部