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Z 4401

:2006

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気

計測器工業会(JEMIMA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS Z 4401:1993 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60248:1984,Dimensions of planchets

used in nuclear electronic instruments

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

JIS Z 4401

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


Z 4401

:2006

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  種類

1

4.

  材料

1

5.

  形状及び寸法

1

5.1

  JIS 

1

5.2

  IEC 

2

6.

  平面度

3

7.

  表面仕上げ

3

8.

  試験方法

4

9.

  包装表示

4

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

5

 


日本工業規格

JIS

 Z

4401

:2006

放射線測定用試料皿

Planchets used in radiation measurement instruments

序文  この規格は,1984 年に第 2 版として発行された IEC 60248:1984,Dimensions of planchets used in nuclear

electronic instruments

を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変

更の一覧表をその説明を付けて,

附属書(参考)に示す。

1.

適用範囲  この規格は,放射性核種から放出される放射線を測定するための放射線測定用試料皿(以

下,試料皿という。

)について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60248:1984

,Dimensions of planchets used in nuclear electronic instruments (MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 7533

  てこ式ダイヤルゲージ

JIS B 7507

  ノギス

JIS G 4305

  冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯

3.

種類  試料皿の種類は,JIS 形及び IEC 形の 2 種類とする。

4.

材料  試料皿の材料は,JIS G 4305 に規定する SUS 304-CP で,仕上げ厚さ 0.2 mm 若しくは 0.3 mm

のステンレス鋼板又はこれと同等のものとする。ただし,IEC 形は,材料を規定しない。

5.

形状及び寸法

5.1

JIS

形  JIS 形試料皿の形状は,図 に示す。また,寸法及び許容差は,表 による。


2

Z 4401

:2006

  1  JIS 形試料皿

  1  JIS 形試料皿の寸法及び許容差

単位  mm

直径

高さ

A

許容差

B

許容差

厚さ

R

(外側)

3.2

25.4

0

−0.2

6.2

0.2

3.3

50.6

0

−0.4

6.3

±0.2

0.3

0.8

以下

5.2

IEC

形  IEC 形試料皿の形状は,ウェルタイプ,リム付きタイプ及びフラットタイプとし,図 24

に示す。また,各タイプの寸法及び許容差は,

表 2による。

  2  IEC 形(ウェルタイプ)試料皿

  2  IEC 形(ウェルタイプ)試料皿の寸法及び許容差

単位  mm

直径

高さ

許容差

B

許容差

厚さ

R

(外側)

12.7

25.4

30.0

38.1

50.8

60.0

77.0

100.0

140.0

200.0

0

−0.2

1.2

3.2

4.9

6.4

8.0

12.0

12.8

0

−0.2

0.6

以下

1

±0.5


3

Z 4401

:2006

  3  IEC 形(リム付きタイプ)試料皿

  3  IEC 形(リム付きタイプ)試料皿の寸法及び許容差

単位  mm

直径

直径

高さ

A

許容差

B

許容差

C

許容差

直径

厚さ

R

(外側)

2.0

3.2

25.4

21.2

6.4

15.0

以上

3.2

50.8

0

−0.2

46.6

0

−0.2

6.4

0

−0.2

40.0

以上

0.6

以下 0.5 以下

38.1 (

1

) 33.9

26.0

以上

60.0 (

2

)

0

−0.2

55.8

0

−0.2

2.0 0

−0.2

52.0

以上

0.6

以下 0.5 以下

注(

1

) 1

インチフィルタ用

(

2

) 2

インチフィルタ用 

  4  IEC 形(フラットタイプ)試料皿

  4  IEC 形(フラットタイプ)試料皿の寸法及び許容差

単位  mm

直径

A

許容差

厚さ

t

25.4 0

−0.2

0.6

以下

6.

平面度  試料皿の平面度は,平たん(坦)部分の長さ方向 20 mm に対して,偏差が 0.1 mm 以下でな

ければならない。

7.

表面仕上げ  試料皿は,測定に支障を来さないように,内外面のほか,端縁も十分滑らかで,かつ,

清浄に仕上げなければならない。


4

Z 4401

:2006

8.

試験方法  試料皿の試験は,次による。

a)

寸法試験  JIS B 7507 に規定する最小目盛値 1/20 mm,測定長 300 mm 以下のノギス又はこれと同等以

上の精度のものを用いる。

b)

平面度試験  JIS B 7533 に規定する最小目盛値 1/100 mm 以下のてこ式ダイヤルゲージ又はこれと同

等以上の精度のものを用いる。

9.

包装表示  試料皿の包装には,次の事項を表示しなければならない。

a)

名称

b)

種類・形状及び寸法

例  JIS 形  直径 25.4 mm  高さ 6.2 mm,IEC 形(ウェルタイプ)直径 25.4 mm  高さ 3.2 mm,IEC 形(リ

ム付きタイプ)直径 25.4 mm  高さ 2.0 mm

c)

製造年月又はその略号

d)

製造業者名又はその略号


5

Z 4401

:2006

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS Z 4401

:2006  放射線測定用試料皿

IEC 60248

:1984,放射線測定用試料皿の寸法

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)  国 際

規格番号

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の項目ご

との評価及びその内容 
  表示箇所:本体 
  表示方法:側線又は点線の下線

(

Ⅴ)  JIS と国際規格と

の技術的差異の理由及
び今後の対策

項目 
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごとの
評価

技術的差異の内容

1.

適用範囲

放射性核種から放出される
放射線を測定するための試

料皿について規定。

IEC 60248

1

JIS

とほぼ同じ。 MOD/変更

IEC

規格は,寸法だけ規定。JIS

は,材料,試験方法なども規定。

品質確保のために必要
な項目を追加。

2.

引用規格

JIS B 7533

JIS B 7507

JIS G 4305

IEC

に規定なし。 MOD/追加

品 質 評 価 に 必 要 で あ
る。

3.

種類

JIS

形及び IEC 

IEC

に規定なし。 MOD/追加

JIS

形を追加。

国 内 で 使 わ れ て い る

JIS

形を追加。

次回 IEC

規 格 改 正 時 に 提 案 す
る。

4.

材料

JIS G 4305

の SUS 304-CP

ステンレスとする。

IEC

に規定なし。 MOD/追加

JIS

形の材料を追加。

品質を確保するため必
要。次回 IEC 規格改正
時に提案する。

5.

形状及び

寸法

5.1 JIS

形  1 種類

IEC

に規定なし。 MOD/追加

次回 IEC 規格改正時
に提案する。

 5.2 IEC

3

ウェルタイプ,リム付きタ
イプ,フラットタイプの 3
種類

MOD/

削除

IEC

規格の上面図を削除。

なくても理解できるた
め。

6.

平面度

長さ方向 20 mm に対して,
偏差は 0.1 mm 以下。

3.3

JIS

と同じ。 IDT

7.

表面仕上

端縁も十分滑らかで,清浄
に仕上げる。

IEC

に規定なし。 MOD/追加

JIS

に表面仕上げを追加。

品質を確保するため必
要。次回 IEC 規格改正
時に提案する。

2

Z 4401


2006


6

Z 4401

:2006

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)  国 際

規格番号

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の項目ご

との評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:側線又は点線の下線

(

Ⅴ)  JIS と国際規格と

の技術的差異の理由及
び今後の対策

項目

番号

内容

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

8.

試験方法

寸法試験及び平面度試験。

IEC

に規定なし。 MOD/追加

JIS

に 試 料 皿 の 測 定 方 法 を 追

加。

品質を確保するため必
要。次回 IEC 規格改正

時に提案する。

9.

包装表示

試料皿の包装に表示すべき

事項を規定。

IEC

に規定なし。 MOD/追加

JIS

に表示方法を追加。

品質を確保するため必

要。次回 IEC 規格改正
時に提案する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  IDT………………  技術的差異がない。 
    ―  MOD/削除………  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    ―  MOD/追加………  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    ―  MOD/変更………  国際規格の規定内容を変更している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  MOD……………  国際規格を修正している。 

2

Z 4401


2006