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Z 4341

:2006

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)/

財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本

工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61005:2003,Radiation protection

instrumentation−Neutron ambient dose equivalent (rate) meters を基礎として用いた。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS Z 4341

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)1 cm 線量当量換算係数

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


Z 4341

:2006

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

2

4.

  性能

3

4.1

  相対基準誤差

3

4.2

  警報誤差

3

4.3

  エネルギー特性

4

4.4

  方向特性

4

4.5

  他の放射線の影響

4

4.6

  指示値変動

4

4.7

  応答時間

4

4.8

  ドリフト

4

4.9

  予熱時間

4

4.10

  オーバロード特性

4

4.11

  温度特性

4

4.12

  耐湿性

4

4.13

  電源電圧の変動に対する安定性

4

4.14

  耐衝撃性

5

4.15

  耐振動性

5

4.16

  静電気放電の影響

5

4.17

  放射電磁界の影響

5

4.18

  無線周波電磁界の影響

5

4.19

  サージ及び振動波の影響

5

4.20

  電気的ファストトランジェント・バーストの影響

5

4.21

  外部磁界の影響

5

5.

  構造

5

5.1

  構造一般

5

5.2

  指示計器

5

5.3

  電源

5

5.4

  有効測定範囲

6

5.5

  除染性

6

5.6

  密閉性

6

5.7

  保管及び輸送

6

6.

  試験

6


Z 4341

:2006  目次

(3)

ページ

6.1

  試験条件

6

6.2

  試験方法

7

7.

  表示

12

8.

  取扱説明書

12

附属書 A(規定)1 cm 線量当量換算係数

13

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

15

解  説

23


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:2006

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 Z

4341

:2006

中性子用線量当量(率)サーベイメータ

Neutron ambient dose equivalent (rate) meters

序文  この規格は,2003 年に第 2 版として発行された IEC 61005,Radiation protection instrumentation −

Neutron ambient dose equivalent (rate) meters を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧

表をその説明を付けて,

附属書 1(参考)に示す。

1.

適用範囲  この規格は,15 MeV 以下のエネルギーをもつ中性子の 1 cm 線量当量(率)を測定する放

射線サーベイメータ(以下,サーベイメータという。

)について規定するものであり,サーベイメータには

少なくとも次の装置のものを含む。

a)

検出器の周りに減速材や吸収材を取り付けた熱中性子用検出器からなる検出装置

b)

検出装置を内蔵する計測装置,又はケーブルで検出装置を接続した計測装置

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 61005:2003

,Radiation protection instrumentation−Neutron ambient dose equivalent (rate) meters

(MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その

最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 61000-4-2

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試験

備考  IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4:Testing and measurement

techniques−Section 2:Electrostatic discharge immunity test  が,この規格と一致している。

JIS C 61000-4-4

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 4 節:電気的ファストトランジェント

/バーストイミュニティ試験

備考  IEC 61000-4-4:1995,Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-4:Testing and measurement

techniques−Electrial fast transient/burst immunity test  からの引用事項は,この規格の該当事項

と同等である。

JIS C 61000-4-5

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 5 節:サージイミュニティ試験

備考  IEC 61000-4-5:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement

techniques−Surge immunity test からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。


2

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JIS C 61000-4-6

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 6 節:無線周波電磁界によって誘導さ

れた伝導妨害に対するイミュニティ

備考  IEC 61000-4-6:1996,Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4: Testing and measurement

techniques−Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields  から

の引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 4001

  原子力用語

備考  IEC 60050-393:1996,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393 及び IEC 60050- 

394:1995

,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394 からの引用事項は,この規格

の該当事項と同等である。

JIS Z 8103

  計測用語

IEC 60086-1:2000

,Primary batteries−Part 1:General

IEC 61000-4-3:2002

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement techniques−

Radiated,radio-frequency,electromagnetic field immunity test

IEC 61000-4-8:1993

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−

Section 8: Power frequency magnetic field immunity test. Amendment 1 (2000)

IEC 61000-4-12:1995

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−

Section 12: Oscillatory waves immunity test. Amendment 1 (2000)

IEC 61187:1993

,Electrical and electronic measuring equipment−Documentation

ISO 8529-1:2001

,Reference neutron radiations−Part 1: Characteristics and methods of production

ISO 8529-2:2000

,Reference neutron radiations−Part 2: Calibration fundamentals of radiation protection

devices related to the basic quantities characterizing the radiation field

ISO 8529-3:1998

,Reference neutron radiations−Part 3: Calibration of area and personal dosimeters and

determination of response as a function of energy and angle of incidence

ISO 11929-1:2000

, Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing radiation

measurements−Part 1: Fundamentals and application to counting measurements without the influence of

sample treatment

3.

定義  この規格に用いる主な用語の定義は,JIS Z 4001 及び JIS Z 8103 によるほか,次による。

a)

フルエンス Φ (fluence) (m

-2

)  断面積 da をもつ球に入射する中性子数を dN としたとき,dN を da で除

した値。

da

dN /

=

φ

b)

フルエンス率 Φ

(fluence rate) (m

2

s

1

)    単位時間 dt 当たりのフルエンス。

dt

/

φ

φ =

c)

1 cm

線量当量  (率) H * (10) [ambient dose equivalent (rate)]  ICRU 球を単一方向の面平行ビームの中

性子又は光子で照射したときの,入射方向に沿い入射面から主軸上 1 cm の深さにおける線量当量(率)

なお,中性子の 1 cm 線量当量は,フルエンスに

附属書 に示す換算係数を乗じて求める。

d)

サーベイメータの基準点  (reference point of an assembly)  基準線量(率)が既知の点にサーベイメー

タを設置するための校正の基準点。この基準点は,製造業者がサーベイメータの表面に印などで表示

する。

e)

試験点  (point of test)  照射野において,基準線量(率)が既知の点。放射線を用いて行うすべての試験


3

Z 4341

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(方向特性試験は除く。

)に関して,サーベイメータの基準点は,製造業者が指定する配置で,この試

験点に置く。

f)

基準の向き  (reference orientation)  サーベイメータを校正するときに,放射線の入射方向に対して,

製造業者が指定するサーベイメータの向き。

g)

校正距離  (calibration distance)  サーベイメータの基準点と校正用線源の中心との距離。

h)

基準線量(率)[conventionel true value of ambient dose equivalent (rate)]  一次標準にトレーサブルな

基準測定器,標準線源などで決定した基準となる 1 cm 線量当量(率)。

i)

レスポンス(R) (ambient dose equivalent response)  試験点におけるサーベイメータの指示値 H

i

と基準

線量(率)H

t

との比。

t

i

H

H

R

=

で表す。

j)

指示誤差  (error of an indication)  試験点におけるサーベイメータの指示値 H

i

と基準線量(率)H

t

の差。

t

i

H

H

で表す。

k)

相対指示誤差  ( ) (relative error of an indication)  指示誤差と基準線量(率)との比。

}

{

100

/

)

(

t

t

i

×

=

H

H

H

I

で表す。

l)

相対基準誤差  (relative intrinsic error)  基準の試験条件下で,基準放射線を用いたときの相対指示誤

差と基準線量(率)の不確かさの和。相対指示誤差を I,基準線量(率)の不確かさを とすると相

対基準誤差は(I)で表す。以下この規格における の包含係数を,k=2 とする。

m)

変動係数  ()    (coefficient of variation)  個の測定値(x

i

)の標準偏差の推定値(S)の,平均値( )に対す

る比をいい,次の式による。

å

=

=

=

n

i

x

x

n

x

x

S

V

1

2

i

)

(

1

1

1

n)

有効測定範囲  (effective range of measurement)  サーベイメータが,この規格の規定する性能を満たす

測定範囲。

4.

性能  サーベイメータの種類によっては,この規格が規定する性能要件をすべて満足する必要がある

とは限らない。その場合には,製造業者と使用者で性能に関する合意を図ってもよいが,性能確認のため

の試験方法はこの規定に従うことが望ましい。

4.1

相対基準誤差  6.2.2 の方法で試験したとき,相対基準誤差の許容範囲は,有効測定範囲において,

±(20+U)  %とする。ただし,基準線量(率)の不確かさを とする。

4.2

警報誤差  警報誤差は,次による。

なお,この規定は,警報機能付きサーベイメータだけに適用する。

4.2.1

1 cm

線量当量率警報誤差  6.2.3 a)の方法で試験し,警報設定値の 0.8 倍のレベルで 10 分間照射し

たとき,警報の発生割合は 10  %以下とする。また,  警報設定値の 1.2 倍のレベルで 10 分間照射したとき,

警報の発生割合は 90  %以上とし,更に警報は,照射後 5 秒以内に発生するか又は,警報設定値と照射後

警報を発するまでの時間の積を 10 µSv 以下とする。

4.2.2

1 cm

線量当量警報誤差  6.2.3 b)の方法で試験し,警報設定値の 0.8 倍のレベルで照射したとき警

報が発生してはならない。また,警報設定値の 1.2 倍のレベルで照射したとき警報が確実に発生しなけれ

ばならない。


4

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4.3

エネルギー特性  製造業者は,6.2.4 によって試験したとき,標準中性子線源に対するレスポンスを

1 としたときの各エネルギーに対するレスポンスの比を示さなければならない。また,製造業者は,熱中

性子から 15 MeV までの各デカード当たり少なくとも 2 点についてのレスポンスの計算値を示さなければ

ならない。エネルギー特性は,±50  %であることが望ましい。

4.4

方向特性  指示値の検出部に対する中性子の入射方向特性で表し,6.2.5 によって試験したとき,方

向特性の許容範囲は±90°の角度範囲に対して±25  %とする。

なお,

±90°∼±180°の角度範囲における方向特性について,

製造業者は附属の取扱説明書に明示する。

ただし,許容範囲を規定しない。

4.5

他の放射線の影響

4.5.1

α 線及び

β

線の影響  中性子用のサーベイメータは,α線やβ線に対して感度がないので規定しな

い。

4.5.2

γ 線の影響

137

Csγ 線源を用いて,10 mSv・h

1

の 1 cm 線量当量率でサーベイメータを照射したと

き,指示値が 0.1 mSv・h

1

を超えてはならない。

4.6

指示値変動  6.2.6 によって試験したとき,変動係数は 0.2 以下でなければならない。

4.7

応答時間  6.2.7 によって試験したとき,応答時間は次のとおりとする。

a) 0.1

mSv・h

1

以下の 1 cm 線量当量率については,30 秒以下。

b) 0.1

∼1 mSv・h

1

の 1 cm 線量当量率については,10 秒以下。

c) 1

mSv・h

1

を超える 1 cm 線量当量率については,4 秒以下。

製造業者は,応答時間を明示しなければならない。

4.8

ドリフト  6.2.8 によって試験したとき,指示値の変化がアナログ方式の場合にはフルスケールの±

2  %,ディジタル式の場合には最小有意ディジットの 5 以下とする。

4.9

予熱時間  製造業者は,必要な場合予熱時間を明示しなければならない。

4.10

オーバロード特性  6.2.9 によって試験したとき,アナログ方式の場合には,指針の位置が高線量率

側の目盛範囲外を指示していなければならない。ディジタル方式の場合には,表示ランプ点滅などによっ

てオーバスケールを表示していなければならない。また,オーバロード特性試験後,4.1 の性能を満足しな

ければならない。

4.11

温度特性

4.11.1

温度安定度  6.2.10 a)  によって試験したとき,表 に適合しなければならない。

なお,種類については製造業者が附属の取扱説明書に明示する。

  1  温度特性の許容範囲

種類

温度範囲

(℃)

許容範囲

(%)

室内用 

    10∼35 

±10 

室外用 

−10∼45 

±20 

特殊室外用(

1

)

−25∼50 

±50 

注(

1

)  特殊室外用は,極高温又は極低温で用いるサーベ

イメータだけに適用する。

4.11.2

温度衝撃  6.2.10 b)  によって試験したとき,指示値の変化は,±15  %とする。

4.12

耐湿性  6.2.11 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。

4.13

電源電圧の変動に対する安定性  電源電圧の変動に対する安定性の許容範囲は,次による。


5

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4.13.1

電池使用時  6.2.12 a)で試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。

4.13.2

交流電源使用時  6.2.12 b)  1)で試験したとき,電源電圧の変動に対する指示値の変化は,±10  %

とする。また,6.2.12 b) 2)で試験したとき,電源周波数の変動に対する指示値の変化は,±10  %とする。

なお,サーベイメータに電源周波数と同期をとる機能がない場合には,この規定は適用しない。

4.14

耐衝撃性  6.2.13 によって試験したとき,損傷があってはならない。

4.15

耐振動性  6.2.14 によって試験したとき,指示値の変化は,±15  %とする。

4.16

静電気放電の影響  6.2.15 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。また,警報は

作動しないものとする。

4.17

放射電磁界の影響  6.2.16 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。

4.18

無線周波電磁界の影響  6.2.17 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。また,警

報は作動しないものとする。

なお,ケーブルをもたない電池駆動のサーベイメータは,この規定の適用範囲外とする。

4.19

サージ及び振動波の影響  6.2.18 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %とする。また,

警報は作動しないものとする。

なお,電池駆動のサーベイメータは,この規定の適用範囲外とする。

4.20

電気的ファストトランジェント・バーストの影響  6.2.19 によって試験したとき,指示値の変化は,

±10  %とする。また,警報は作動しないものとする。

なお,電池駆動のサーベイメータは,この規定の適用範囲外とする。

4.21

外部磁界の影響  6.2.20 によって試験したとき,指示値の変化は,±10  %を超えないことが望まし

い。また,警報は作動しないものとする。

5.

構造

5.1

構造一般  構造一般は,次による。

a)

検出器,指示計器及び電源が一体として構成されるか,又はケーブルで接続され,操作及び持運びに

便利で,かつ,置いたときに安定性のよい堅ろうな構造とする。

b) 1

cm 線量当量(率)が直接指示できるものとする。

c)

振動,衝撃,電磁環境などの影響を受けにくい構造とする。

d)

必要に応じて,記録計用出力端子,警報信号出力端子,プリアンプへの入力端子,増幅器からの出力

端子,波高弁別器の出力端子などを備えてもよい。

e) 1

cm 線量当量の積算値が測定できる機能を付加してもよい。

f)

校正及び試験のための基準点をサーベイメータの外側に示さなければならない。

g)

警報機能付きサーベイメータは,4.2 の規定を満足しなければならない。

5.2

指示計器  指示計器は,直線目盛若しくは対数目盛に目盛るか又はディジタル表示とする。単位の

表示は,µSv,mSv,µSv/h,mSv/h  などの 1 cm 線量当量(率)とする。

5.3

電源  電源は,次による。

a)

電源は,電池式とする。ただし,交流電源(定格電圧:100  V,周波数:50 Hz 又は 60 Hz)を併用す

る方式でもよい。

b)

電源用電池の消耗度が容易に確認できる機能をもたなければならない。

c)

一次電池は,正しい極性で接続できるようにサーベイメータに明示しなければならない。一次電池を

用いる場合には,IEC 60086-1 に規定するものから選択することが,望ましい。


6

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d)

二次電池は,充電時間 16 時間以内で満充電できなければならない。

5.4

有効測定範囲  有効測定範囲は,少なくとも 4 デカードをカバーしなければならない。一般的には,

1 µSv・h

1

∼10 mSv・h

1

である。100 mSv・h

1

までの高線量率の要求があるときの有効測定範囲は,使

用者と製造業者の合意で決定する。アナログ式又はディジタル式によって区分し,それぞれの有効測定範

囲は,次による。

a)

アナログ式サーベイメータの有効測定範囲は,それぞれのレンジの最大目盛の 10∼100  %とする。

b)

ディジタル式サーベイメータの有効測定範囲は,第二最小ディジットから最大指示値とする(例えば,

99.9 の表示をもつサーベイメータの有効測定範囲は,1.0 µSv・h

1

∼9.99 mSv・h

1

。)。

5.5

除染性  サーベイメータは,汚染除去が容易な構造とする。例えば,滑らかな表面をもつか,又は

薄く柔軟なケースを準備してもよい。

5.6

密閉性  屋外仕様のサーベイメータについて,製造業者は,防水又は防湿に対する注意を示さなけ

ればならない。

5.7

保管及び輸送  サーベイメータは,電池を取り除き製造業者のこん包状態にて−25∼50  ℃の環境下

で,少なくとも 3 か月間保管した後でも正常に動作するよう設計されていなければならない。

6.

試験

6.1

試験条件

6.1.1

共通試験条件  6.2 の各試験方法において,基準条件は,表 による。特に指定のある場合を除き

この規格における試験は,

表 に示す標準試験条件で行う。標準試験条件で行えない場合は,温度,気圧

及び湿度を明示し,基準条件のレスポンスに補正しなければならない。

  2  共通試験条件

項目

基準条件

(製造業者の指定がないとき)

標準試験条件

(製造業者の指定がないとき)

標準中性子線源

241

Am-Be,

252

Cf 又は D(d,n)

3

He

241

Am-Be,

252

Cf 又は D(d,n)

3

He

予熱時間  分 15

15 以上

環境温度  ℃ 20

18∼22(

3

)

相対湿度  % 65

50∼75(

3

)

気圧 kPa

101.3

86∼106(

3

)

電源電圧(

2

)

正規電源電圧

正規電源電圧±1  %

電源周波数(

2

)

正規電源周波数

正規電源周波数±1  %

電源波形(

2

)

正弦波

正弦波からのひずみ 5  %以下

放射線入射角度

製造業者が指定

±10°

外部電磁波

無視できるレベル

影響の認められるレベル以下

外部磁気誘導

無視できるレベル

地球磁界の 2 倍以下

サーベイメータを置く方向

製造業者が指定

±5°

放射性物質による汚染

無視できるレベル

無視できるレベル

注(

2

)  商用電源を用いる場合に適用する。

(

3

)  試験時点での実際の値を明示する。これらの値は,温暖な気候に適用可能である。標準試験条件より暑い,

又は寒い気候時には,試験時の実際の値を明示しなければならない。海抜の高いところでは,70 kPa まで

許容する。

6.1.2

標準中性子線源  標準中性子線源は,

241

Am-Be,

252

Cf,又は D(d,n)

3

He 反応を用いた加速器ターゲ

ット線源とする。

6.1.3

試験の種類  試験の種類には,品質試験と受渡試験とがあり,次による。


7

Z 4341

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a)

品質試験  仕様の要求事項を満たしていることを実証するために行う試験。品質試験には形式試験と

製造試験とがある。

1)

形式試験  所定の仕様を満足していることを示すために,製品を代表する一つ又は二つ以上のサー

ベイメータを用いて行う試験。

2)

製造試験  サーベイメータが所定の基準を満足しているかを確認するために,製造過程において,

又は,製造後に個々のサーベイメータに対して行う試験。

b)

受渡試験  サーベイメータが所定の条件下で仕様を満足していることを顧客に示すための契約上の試

験。

6.2

試験方法

6.2.1

試験方法一般  試験方法一般は,次による。

a)

すべての試験は,15 分間の予熱時間が経過した後に実施するものとする。

b)

試験条件のうちのある項目の条件を変化させて試験する場合には,その項目以外の条件は,

表 の標

準試験条件の範囲にあるものとする。

c) 1

cm 線量当量は,中性子エネルギーに応じ,附属書 に示す換算係数を中性子フルエンスに乗じて求

める。

d)

照射試験において,統計変動が大きい場合には,十分な回数の指示値を読取り,平均値が十分な精度

をもつようにしなければならない。この場合,ISO 11929-1 の推奨する方法を用いることが望ましい。

また,指示値の読取り間隔は,統計的に独立とみなせる時間間隔でなければならない。

e)

6.2.15

6.2.20 の電磁気両立性に関する試験において,すべての試験は測定状態にて行う。最高感度レ

ンジや有効測定範囲の下限で測定する場合には,チェック線源(例えば,適切な強度の

252

Cf 線源)を

サーベイメータに密着させて動作を確認することが望ましい。ただし,チェック線源が試験の邪魔に

なってはならない。試験中は,サーベイメータの電源は切ってはならない。レンジ切り替えが可能な

場合は,最高感度レンジに設定しておく。

6.2.2

相対基準誤差試験  相対基準誤差試験は,標準中性子線源を用い,次によって行う。

a)

形式試験

1)

直線目盛の場合は,有効測定範囲の各レンジについて,最大目盛値の 20  %,50  %及び 80  %近辺

の指示値について,

指示値から基準線量率を差し引いた値の,

基準線量率に対する百分率を求める。

2)

対数目盛及びディジタル方式の場合は,有効測定範囲の各デカードの 20  %,50  %及び 80  %近辺

の指示値について,

指示値から基準線量率を差し引いた値の,

基準線量率に対する百分率を求める。

b)

製造試験

1)

直線目盛の場合には,有効測定範囲の各レンジについて,最大目盛値の 50  ∼75  %の 1 ポイントの

指示値について,指示値から基準線量率を差し引いた値の,基準線量率に対する百分率を求める。

2)

対数目盛及びディジタル方式の場合には,有効測定範囲の各デカードの任意の指示値について,指

示値から基準線量率を差し引いた値の,基準線量率に対する百分率を求める。

c)

標準中性子線源  標準中性子線源は,6.1.2  に規定する中性子線源のいずれかを用いなければならない。

これらの標準線源の使用条件は,ISO 8529-1ISO 8529-2  及び ISO 8529-3  に従わなければならない。

試験点における基準線量率の不確かさは,±10  %とする。また,散乱線の指示値に与える影響を適切

に補正しなければならない。

なお,

附属書 に示す換算係数には,不確かさはないものとする。

d)

等価電気試験  線源による照射試験が困難な場合は,等価な電気信号によって試験を行ってもよいが,


8

Z 4341

:2006

形式試験においては,有効測定範囲のできるだけ高い線量率の一つ,及びできるだけ低い線量率の一

つについて線源による試験を行わなければならない。また,製造試験においては,できるだけ低い線

量率の一つについて線源による試験を行わなければならない。

試験は,検出器からの信号に近似した波形の電気信号を用いて行う。

相対基準誤差 E (%)は,次による。

100

)

1

/

(

×

=

Iq

iQ

E

ここに,

I

:  基準線量率で照射したときの,サーベイメータの指示値

Q

:  と同じ指示値を与える電気信号のパルス計数率

q

:  入力する任意のパルス計数率

i

:  任意のパルス計数率 を入力したときの指示値

備考  Iは入力する任意のパルス計数率 に対する換算係数となる。したがって,Iqをパルス

計数率 のときの基準線量当量率とみなすことができる。

なお,等価電気試験方法を使用した場合には,附属の取扱説明書にその旨を示すことが望ましい。

6.2.3

警報誤差試験  警報誤差試験は,次による。

a)  1 cm

線量当量率警報誤差試験  この試験は,少なくとも有効測定範囲の最大値付近及び第 2 最小デカ

ードの最大値付近の二つの警報設定値で行う。照射する 1 cm 線量当量率は,それぞれの警報設定値に

対し,0.8(1−U/100)  倍及び 1.2(1+U/100)  倍とし,10 分間の照射時間に対して警報を発する時間を

積算する。警報発生の積算時間を照射時間で除して警報の発生割合を求める。1.2(1+U/100)  倍の照射

を行うときには,照射開始から警報を発するまでの時間も測定する。ただし,基準線量率の不確かさ

を とする。

b)  1 cm

線量当量警報誤差試験  この試験は,少なくとも有効測定範囲の最大値付近及び第 2 最小デカー

ドの最大値付近の二つの警報設定値で行う。

照射する 1 cm 線量当量は,

それぞれの警報設定値に対し,

0.8(1−U/100)  倍及び 1.2(1+U/100)  倍とする。ただし,基準線量率の不確かさを とする。

6.2.4

エネルギー特性試験  標準中性子線源[

241

Am-Be,

252

Cf,又は,D(d,n)

3

He]  からの中性子に対する

レスポンスを求める。

次の a)∼e)に示す中性子エネルギー範囲に適合するエネルギーの中性子線源を各エネルギー範囲につい

て少なくとも一つ選択し,標準中性子線源に対するレスポンスを1としたときの,各エネルギーに対する

レスポンスの比を求める。照射する線量当量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視

できる 1 cm 線量当量率とする。

なお,使用する中性子線源は,ISO 8529 シリーズによる。

a)

熱中性子

b) 1

∼50 keV のエネルギー範囲

c) 50

∼600 keV のエネルギー範囲

d) 1

∼5 MeV のエネルギー範囲

e) 13.5

∼15 MeV のエネルギー範囲

6.2.5

方向特性試験  製造業者が指定する中性子の入射方向を 0°とし,その方向を含む水平及び垂直の

2 平面について 0°から 30°ステップで±180°まで,各方向から中性子を照射し,指示値を読み取る。ま

た,0°方向の値を基準値とし,各方向に対する指示値から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分

率を求める。照射する線量当量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる 1 cm 線

量当量率とする。


9

Z 4341

:2006

校正距離は,

検出器の最大寸法と線源の最大寸法の和の少なくとも 3 倍以上とする。指示値に対する散乱

線の寄与は,直接線による指示値の 20  %を超えてはならない。

なお,散乱線の寄与の評価は,ISO 8529-2 による。

6.2.6

指示値変動試験  次に示す指示値に相当する線量当量率の中性子を照射し,統計的に独立とみなせ

る時間間隔(応答時間の 1.5 倍程度)で少なくとも 20 回指示値を読み取り,3. m)の式によって変動係数を

求める。

a)

直線目盛の場合には,最高感度指示範囲の最大目盛の 30  %近辺の指示値とする。

b)

対数目盛の場合には,最小デカードの 3 倍近辺の指示値とする。

c)

ディジタル式の場合には,最小有意ディジットの 10 倍近辺の指示値とする。

6.2.7

応答時間試験  サーベイメータに対する 1 cm 線量当量率を急に変化させ,指示値が N

i

から N

t

にな

るとき,指示値が N

i

から次式で示す値になるまでに要する時間を測定する。

)

(

9

.

0

i

f

i

N

N

N

+

測定は,指示値を増加させる場合及び減少させる場合について行い,増加の場合には N

f

/ N

i

  が,減少の

場合には N

i

/ N

f

が 10 以上になる 1 cm 線量当量率で行う。

なお,等価な電気信号でこの試験を行う場合には,製造業者は取扱説明書にその旨を示さなければなら

ない。

6.2.8

ドリフト試験  ドリフト試験は,次による。

バックグラウンド測定状態において,30 分間サーベイメータを動作させた後の指示値を基準値とする。

さらに,8 時間連続動作させ 1 時間ごとに指示値を記録する。

a)

アナログ式の場合には,基準値からの最大のずれ  (正・負いずれか)  の,フルスケールに対する百分

率を求める。

b)

ディジタル式の場合には,基準値からの最大のずれ  (正・負いずれか)  を求める。

なお,  対数式のような非線形の目盛をもつサーベイメータでは零点を示さない場合があるので,この場

合には,適宜指針を振らせて試験を行ってもよい。

6.2.9

オーバロード特性試験  アナログ式の場合には,各指示範囲の最大目盛値の約 10 倍又は 250 mSv・

h

1

のいずれか小さい値の 1 cm 線量当量率で 5 分間照射する。ディジタル式の場合には,有効測定範囲の

最大値の約 10 倍又は 250 mSv・h

1

のいずれか小さい値の 1 cm 線量当量率で 5 分間照射する。

なお,等価な電気信号でこの試験を行う場合には,製造業者は取扱説明書にその旨を示さなければなら

ない。

6.2.10

温度特性試験  温度特性試験は,次による。

a)

温度安定試験  サーベイメータを恒温槽内に設置し,4.11.1 の表 に示す温度範囲の最低温度及び最

高温度でそれぞれ 24 時間放置し,最後の 30 分間の指示値を記録する。

表 に示す基準条件の温度に

おける指示値を基準値とし,それぞれの周囲温度における指示値から基準値を差し引いた値の,基準

値に対する百分率を求める。

なお,照射する線量当量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる 1 cm 線

量当量率とする。また,温度を変化させる場合の温度こう(勾)配は 1 時間当たり 10  ℃以下とする。

b)

温度衝撃試験  温度衝撃試験は,次による。

1)

装置を恒温槽内に設置し,20±2  ℃の温度で 60 分以上放置して指示値を記録する。次に 45∼50  ℃

の温度に設定した恒温槽内に 5 分以内に移動させる。その後 15 分ごとに値を記録し,2 時間測定す

る。20  ℃における指示値を基準として,2 時間のそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の,


10

Z 4341

:2006

基準値に対する百分率を求める。この試験の後,サーベイメータの温度が 45∼50  ℃の温度範囲で安

定するまで保持する。

2) 45

∼50  ℃の温度範囲における指示値を記録する。次に 20±2  ℃の温度に設定した恒温槽内に 5 分以

内に移動させる。その後 15 分ごとに値を記録し,2 時間測定する。45∼50  ℃における指示値を基

準として,2 時間のそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分率を求め

る。この試験の後,サーベイメータの温度が 20±2  ℃の温度範囲で安定するまで保持する。

3)  1)

2)と同様に,20  ℃から−10  ℃にしたとき,及び−10  ℃から 20  ℃にしたときの温度衝撃試験

を行う。ただし,−10  ℃における温度は,−5∼−10  ℃とする。

なお,照射する線量当量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる 1 cm 線量当

量率とし,線源とサーベイメータは恒温槽内に移動後も,その幾何学的配置が変わってはならない。

6.2.11

耐湿性試験  周囲温度を 35  ℃とし,相対湿度 65  %及び 95  %のそれぞれの環境下にサーベイメ

ータを動作状態にして 24 時間以上放置し,

バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる 1 cm

線量当量率の中性子を照射して最後の 30 分間の指示値を読む。65  %における指示値を基準値とし,95  %

における指示値から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分率を求める。

6.2.12

電源電圧の変動に対する安定性試験  製造業者指定の新しい一次電池又は完全に充電した二次電

池を使用し,次の試験を行う。照射する線量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視

できる線量率とする。

a)

電池使用時

1)

一次電池  サーベイメータを標準試験条件で 40 時間断続稼働(8 時間連続駆動の後 16 時間電源を

切る。この操作を 5 日間繰り返す。

)し,動作開始時と終了時にそれぞれ 10 回指示値を読み取り,

平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の,開始時の指示値の

平均に対する百分率を求める。

2)

二次電池  サーベイメータを標準試験条件で 12 時間連続稼働し,動作開始時と終了時にそれぞれ

10 回指示値を読み取り,平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた

値の,開始時の指示値の平均に対する百分率を求める。

b)

交流電源使用時

1)

電源電圧の変動に対する試験  電源電圧を定格電圧値の 88  %,100  %及び 110  %にした場合の指

示値を読む。定格電圧における指示値を基準値とし,各電圧における指示値から基準値を差引いた

値の,基準値に対する百分率を求める。

2)

電源周波数の変動に対する試験  電源周波数を定格周波数 50(60) Hz から 53(63) Hz 及び 47(57) Hz

にした場合の,指示値を読む。定格周波数における指示値を基準値とし,各周波数における指示値

から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分率を求める。

6.2.13

耐衝撃性試験  サーベイメータに 300 m・s

2

の加速度で,18 ms の作用時間の調和振動を 3 直交方

向に加える。

6.2.14

耐振動試験  サーベイメータに 20 m・s

2

の加速度で,周波数 10∼21 Hz の調和振動を 3 直交方向

にそれぞれ 15 分間加える。引き続き 20 m・s

2

の加速度で,周波数 22∼35 Hz の調和振動を 3 直交方向に

それぞれ 15 分間加える。

振動試験前の指示値を基準とし,

振動試験後の指示値から基準値を差引いた値の,

基準値に対する百分率を求める。

なお,照射する 1 cm 線量当量率は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる 1 cm

線量当量率とする。


11

Z 4341

:2006

6.2.15

静電気放電の影響試験  150 pF のコンデンサに 330  Ωの抵抗を介して 6 kV でチャージした状態に

相当する放電を与える  (JIS C 61000-4-2  レベル 3 の接触放電)。表面が絶縁されているものは,8 kV (JIS C 

61000-4-2

レベル 3)  の気中放電とする。標準試験条件における指示値を基準とし,放電時における指示

値から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分率を求める。

なお,放電は,使用者が通常の使用状態で触れることのできる種々の箇所について,少なくともそれぞ

れ 5 回行う。

6.2.16

放射電磁界の影響試験  IEC 61000-4-3 に基づき放射電磁界試験を実施する。

a) 10

V・m

1

の強度で,80 MHz から 1 000 MHz までの周波数を 1.5×10

3

デカード/秒  を超えない,又

は,ステップサイズが元の周波数の 1  %を超えないように自動スイープさせて各周波数での指示値を

読み取る。標準試験条件における指示値を基準とし,各周波数における指示値から基準値を差し引い

た値の,基準値に対する百分率を求める。

b)

信号は,1 kHz の正弦波で 80  %振幅変調したものが望ましい。

c)

自動スイープ試験ができない場合は,次の周波数で試験をすることができる。27,80,90,100,110,

120,130,140,150,160,180,200,220,240,260,290,320,350,380,420,460,510,560,
620,680,750,820,900 及び 1 000 MHz。

d)  b)

の方法で,4.17 で規定した許容値の 1/3 以上の指示変化があった場合には,IEC 61000-4-3 に規定す

る 3 方向で,その周波数の周辺を 1  %ステップで±5  %の範囲までの追加試験が必要である。

6.2.17

無線周波電磁界の影響試験  JIS C 61000-4-6 に基づき,無線周波電磁界による試験を実施する(レ

ベル 3 において)

。標準試験条件における指示値を基準とし,各周波数における指示値から基準値を差し引

いた値の,基準値に対する百分率を求める。

a) 140

dB の強度で,150 kHz∼80 MHz の範囲で周波数を変化させる。

b)

信号は,1 kHz の正弦波で 80  %振幅変調したものが望ましい。

c) 1.5

×10

3

デカード/秒を超えない,又はステップサイズが元の周波数の 1  %を超えないように自動

スイープさせて各周波数での指示値を読み取ることが望ましい。

6.2.18

サージ及び振動波の影響試験  JIS C 61000-4-5  及び IEC 61000-4-12 (レベル 3)  に基づき交流電源

の終端に,結合・減結合回路網を介してパルス発生器からの信号を入力する。標準試験条件における指示

値を基準とし,各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の,基準値に対する百分率を求める。

a)

サージ間の時間間隔が 1 分以上で,10 パルスを供給することが望ましい。

b)

それぞれのパルスは,2 kV の強度のコンビネーション波形(1.2/50 µs−8/20 µs)であることが望まし

い。

c)

リング波のパルスは,2 kV を超えないことが望ましい。

6.2.19

電気的ファストトランジェント・バーストの影響試験  JIS C 61000-4-4    (レベル 3)  に基づき交流

電源の終端に結合・減結合回路網を介して電気的ファストトランジェント又はバーストを加える。標準試

験条件における指示値を基準とし,各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の,基準値に対す

る百分率を求める。

a) 1

分間に 1 回を超えない割合で繰り返す。

b)

ピーク電圧は±2 kV とする。

6.2.20

外部磁界の影響試験  試験方法及び強度  (IEC 61000-4-8 参照)  は,製造業者と使用者の合意によ

って,次の方法を推奨する。

a) 50

Hz 又は 60 Hz の周波数で,30 A・m

1

の場に設定する。


12

Z 4341

:2006

b)

少なくとも 0°及び 90°の配置でサーベイメータを照射する。

備考 1

A・m

1

は,1.26 mT の空間場と等価である。

7.

表示  サーベイメータには,見やすい箇所に容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければなら

ない。

a)

名称

b)

形名(製造業者による。

c)

製造番号

d)

製造年月又はその略号

e)

製造業者名又はその略号

8.

取扱説明書  サーベイメータには,少なくとも次の内容を記載した取扱説明書を添付しなければなら

ない(詳細は,IEC 61187 参照)

a)

製造業者名又は登録商標

b)

測定レンジの目盛範囲

c)

校正に用いた標準中性子線源及び換算係数

d)

相対基準誤差

e)

エネルギー特性

f)

γ 線の影響

g)

サーベイメータの基準点及び基準の向き

h)

検出器の形式及び仕様

i)

寸法及び質量

j)

方向特性試験に用いた線源

k)

方向特性

l)

危険物及び可燃物に対する注意

m)

操作方法

n)

検出器及び減速材の詳細

o)

不感時間のデータ

p)

パルス状の放射線場に関する動作

q)

サービス,機器の配置及び試験に関する情報

r)

メンテナンスに関するガイダンス


13

Z 4341

:2006

附属書 A(規定)1 cm 線量当量換算係数

附属書   1  1 cm 線量当量換算係数(場所にかかわる 1 cm 線量当量)

中性子のエネルギー

(MeV)

フルエンスから 1 cm 線量当量への換算係数(

1

)

(pSv・cm

2

)

1.00×10

-9

    6.60

1.00×10

-8

    9.00

2.53×10

-8

    10.6

1.00×10

-7

    12.9

2.00×10

-7

    13.5

5.00×10

-7

    13.6

1.00×10

-6

    13.3

2.00×10

-6

    12.9

5.00×10

-6

    12.0

1.00×10

-5

    11.3

2.00×10

-5

    10.6

5.00×10

-5

    9.90

1.00×10

-4

    9.40

2.00×10

-4

    8.90

5.00×10

-4

    8.30

1.00×10

-3

    7.90

2.00×10

-3

    7.70

5.00×10

-3

    8.00

1.00×10

-2

    10.5

2.00×10

-2

    16.6

3.00×10

-2

    23.7

5.00×10

-2

    41.1

7.00×10

-2

    60.0

1.00×10

-1

    88.0

1.50×10

-1

 132

2.00×10

-1

 170

3.00×10

-1

 233

5.00×10

-1

 322

7.00×10

-1

 375

9.00×10

-1

 400

1.00 416 
1.20 425 
2.00 420 
3.00 412 
4.00 408 
5.00 405 
6.00 400 
7.00 405 
8.00 409 
9.00 420 
10.0 440 
12.0 480 
14.0 520


14

Z 4341

:2006

附属書   1  1 cm 線量当量換算係数(場所にかかわる 1 cm 線量当量)(続き)

中性子のエネルギー

(MeV)

フルエンスから 1 cm 線量当量への換算係数(

1

)

(pSv・cm

2

)

15.0 
16.0

540 
555

注(

1

)  フルエンスから深さ 10 mm の周辺線量当量 H*(10)への換算係数である。

参考  ICRU Report 57:1998 及び ICRP Publication 74:1996  から求めた。

附属書   2  中性子線源に対する 1 cm 線量当量換算係数

線源

フルエンス

平均エネルギー

(MeV)

線量当量

平均エネルギー

(MeV)

フルエンスから

1 cm 線量当量への換算係数

(pSv・cm

2

)

241

Am-Be

252

Cf(fission)

D(d,n)

3

He

4.16 
2.13

2.8

4.4 
2.3 
2.8

391 
385 
413

出典:ISO 8529-1 及び ISO 8529-3


15

Z 434

1


200

6

15

Z 434

1


200

6

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS Z 4341

:2006  中性子用線量当量(率)サーベイメータ

IEC 61005

:2003,放射線保護具−中性子用線量当量(率)サーベイメータ

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体 
  表示方法:点線の下線

項目 
番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目 
番号

内容

項 目 ご と
の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

1.適用範

15 MeV 以下のエネルギー
をもつ中性子の 1 cm 線量
当量( 率) を測定する放 射

線 サ ー ベ イ メ ー タ につ い
て規定。

IEC 

61005 


JIS

とほぼ同じ MOD/ 変

16 MeV を 15 MeV に
変更。

現在使用するものは,最大で 15 MeV の
ため,実態に即した適用範囲とした。

2.引用規

JIS C 61000-4-2

ほか,合計

15 の引用規格を規定。

 2 JIS に加え,

ISO 4037-1

-2-3

ISO 12789

ICRU Report 43

ICRU Report 51

の記載あり。

MOD/ 削
除・追加

引用規格は,ほぼ一致
しているが JIS が引用
し て い な い 左 記 の 規

格については,次項以
降 に 述 べ る 性 能 要 件
を 変 更 し た こ と に よ

っ て 引 用 不 要 と な っ
たため削除した。

JIS Z 8103

の用語を追加した。

3.定義

JIS Z 4001

及び JIS Z 8103

ほか,合計 14 の用語の定
義を規定。

 3 JIS とほぼ同じ MOD/ 削

JIS

は,常識的な用語

“周辺線量当量”,“周
辺 線 量 当 量 率 ”,“ 中

性子線量当量率計”及
び“指示値”,  並びに

IEC

規格で使用されて

い な い “ 使 用 上 の 定
格”,及び“使用上の
最小定格”を削除。


16

Z 434

1


200

6

16

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

4.性能 
4.1 相 対
基準誤差


6.1 
6.1.1

特性

JIS

と同じ

IDT

4.2 警 報
誤差

6.2 
6.2.1

JIS

と同じ IDT

4.3 エ ネ
ルギー特

・15 MeV まで

・±50  %が望ましい。

 6.3

6.3.1

・16 MeV まで。

・±50  %が望ましい。
し か し な が ら こ の 規
格 が 発 行 さ れ る と き

に,この性能が達成で
きるとは思えない。し
たがって,製造業者は

こ の 性 能 が 達 成 で き
る よ う に 努 力 し な け
ればならない。

MOD/ 変
更 

・16 MeV を 15 MeV に

変更した。 
努力目標を削除。

・適用範囲に同じ。 
ICE 規格の努力目標については JIS

にはなじみがなく,規定として意味
がないので削除した。

ICE 規格の修正を提案する。

4.4 方 向
特性

6.4 
6.4.1

JIS

とほぼ同じ IDT

4.5 他 の
放射線の
影響

6.6 
6.6.1 
6.6.2

JIS

とほぼ同じ MOD/ 削

JIS

は,IEC 規格の中

性子+γ線の試験(高
エ ネ ル ギ ー γ 線 の 試

験)を削除。

現国内施設では,中性子照射施設でγ
線照射は不可能なため。

4.6 指 示
値変動


7.1 
7.1.1

JIS

と同じ IDT

4.7 応 答
時間

7.2 
7.2.1

JIS

と同じ IDT

4.8 ド リ
フト 

 7.4

7.4.1 

JIS

と同じ

IDT


17

Z 434

1


200

6

17

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

4.9 予 熱
時間

7.5 
7.5.1

JIS

と同じ IDT

4.10 オー
バロード

特性

10 
10.1 
10.1.1

JIS

と同じ IDT

4.11 温度
特性

11 
11.1 
11.2

JIS

と同じ IDT

4.12 耐湿

11.3 
11.3.1

JIS

と同じ IDT

4.13 電源
電圧の変
動に対す
る安定性

7.6 
7.6.1∼.3 
7.7 
7.7.1

JIS

と同じ IDT

4.14 耐衝
撃性


9.1

JIS

と同じ IDT

4.15 耐振
動性

9.3 
9.3.1

JIS

と同じ IDT

4.16 静電
気放電の

影響

8.2 
8.2.1

JIS

と同じ IDT

4.17 放射
電磁界の

影響

8.3 
8.3.1

JIS

と同じ IDT

4.18 無線
周波電磁
界の影響 

8.4 
8.4.1 

JIS

と同じ

IDT


18

Z 434

1


200

6

18

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

4.19 サー
ジ及び振

動波の影

8.5 
8.5.1

JIS

と同じ IDT

4.20 電気
的ファス
トトラン

ジェント
/バース
トの影響

8.6 
8.6.1

JIS

と同じ IDT

 

 

4.21 外部
磁界の影

8.7 
8.7.1

JIS

と同じ IDT

5.構造 
5.1 構 造
一般


4.1

JIS

と同じ IDT

5.2 指 示
計器

4.2

JIS

と同じ IDT

5.3 電源

7.6.1

JIS

と同じ IDT

5.4 有 効
測定範囲

4.4

JIS

と同じ IDT

5.5 除 染

10.2

JIS

と同じ IDT

5.6 密 閉

11.5

JIS

と同じ IDT

5.7 保 管
及び輸送 

11.6 JIS と同じ

IDT


19

Z 434

1


200

6

19

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

6.試験 
6.1 試 験
条件


5.1 
5.5 
3.4

JIS

と同じ IDT

6.2 試 験
方法 
6.2.1 試
験方法一

5.2 
5.3 
5.4 
8.1

JIS

と同じ IDT

6.2.2 相
対基準誤
差試験

照射値 20  %, 50  %, 80  %

6.1.2 
∼6.1.6

照射値 30  %,60  %,
90  %

MOD/ 変

IEC

規格の 90  %近辺の照射では照射

時フルスケールオーバーする可能性が
ある。

IEC

規格の修正を提案する。

6.2.3 警
報誤差試

6.2.3

JIS

と同じ IDT

6.2.4 エ
ネルギー
特性試験

6.3.2

JIS

と同じ IDT

6.2.5 方
向特性試

6.4.2

JIS

と同じ IDT

6.2.6 指
示値変動

試験

読取り回数を指定   7.1.2

MOD/ 追

IEC

規格には読取り回

数の指定なし。

IEC

規格の修正を提案する。

6.2.7 応
答時間試
 

7.2.2 JIS と同じ

IDT


20

Z 434

1


200

6

20

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

6.2.8 ドリ
フト試験

7.4.2

JIS

と同じ IDT

6.2.9 オ
ーバロー

ド特性試

10.1.2

JIS

と同じ IDT

6.2.10 温
度特性試

11.1.2 
11.2.2

JIS

と同じ IDT

6.2.11 耐
湿性試験

11.3.2

JIS

と同じ IDT

6.2.12 電
源電圧の
変動に対

する安定
性試験

7.6.4 
7.7.2

JIS

と同じ IDT

6.2.13 耐
衝撃性試

9.1

JIS

と同じ IDT

6.2.14 耐
振動試験

9.3.2

JIS

と同じ IDT

6.2.15 静
電気放電

の影響試

8.2.2

JIS

と同じ IDT

6.2.16  放
射電磁界
の影響試

8.3.2

JIS

と同じ 

IDT


21

Z 434

1


200

6

21

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

6.2.17 無
線周波電

磁界の影
響試験 

8.4.2 JIS と同じ

IDT

6.2.18 サ
ージ及び
振動波の

影響試験

8.5.2

JIS

と同じ IDT

6.2.19 電
気的ファ
ストトラ
ンジェン

ト/バー
ストの影
響試験

8.6.2

JIS

と同じ IDT

 

 

6.2.20 外
部磁界の

影響試験

8.7.2

JIS

と同じ IDT

7.表示

− MOD/ 追

装置の表示は,識別のために重要であ
り内外の製品においても常識である。

IEC

規格の修正を提案する。

8.取扱説
明書

12.1 
12.2

JIS

と同じ IDT


22

Z 434

1


200

6

22

Z 434

1


200

6

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ)  国際
規格番号

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

附属書 A 
1 cm 線
量当量換
算係数

Annex A

JIS

と同じ IDT

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  IDT……………… 技術的差異がない。 
    ―  MOD/削除………  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    ―  MOD/追加………  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    ―  MOD/変更………  国際規格の規定内容を変更している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  MOD……………  国際規格を修正している。