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Z 4334

:2005

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気

計測器工業会(JEMIMA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS Z 4334:1992 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 8769:1988,Reference sources for the

calibration of surface contamination monitors−Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and

alpha-emitters を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案権登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査

会は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用

新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS Z 4334

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


Z 4334

:2005

(2) 

目  次

ページ

序文 

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

2

4.

  参照標準線源のトレーサビリティ

2

5.

  線源の特性,性能及び構造 

3

5.1

  一般仕様 

3

5.2

  クラス 参照標準線源 

3

5.3

  クラス 参照標準線源 

4

5.4

  実用標準線源 

4

6.

  仲介測定器 

5

6.1

  仲介測定器 

5

6.2

  校正

5

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

6


     

日本工業規格

JIS

 Z

4334

:2005

放射性表面汚染モニタ校正用線源−

β線放出核種(最大エネルギー0.15MeV 以上)

及びα線放出核種

Reference sources for the calibration of surface contamination monitors

Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and

alpha-emitters

序文  この規格は,1988 年に第 1 版として発行された ISO 8769,Reference sources for the calibration of surface

contamination monitors-Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters を翻訳し,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧

表をその説明を付けて,

附属書(参考)に示す。

1.

適用範囲  この規格は,放射性表面汚染モニタを校正するための大面積の標準線源について規定する。

この規格は,β線放出核種(最大エネルギーが 0.15 MeV 以上)及びα線放出核種を適用範囲とし,α線

又はβ線表面放出率で校正する標準線源の特性を規定するものであって,これらの線源を使った放射性表

面汚染モニタの校正方法を規定するものではない。

備考1.  標準線源を用いた放射性表面汚染モニタの校正方法については,JIS Z 4504 による。

2.

  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修  正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO 8769:1988

, Reference sources for the calibration of surface contamination monitors −

Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters (MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む)を適用する。

JIS Z 4001

  原子力用語

備考 ISO 

921 Nuclear energy – Vocabulary

IEC 60050-393 International Electrotechnical Vocabulary –

Chapter 393 及び IEC 60050-394 International Electrotechnical Vocabulary – Chapter 394 からの引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 4504

  放射性表面汚染の測定方法

備考 ISO 

7503-1:1988

  Evaluation of surface contamination−Part 1: Beta-emitters (maximum beta


2

Z 4334

:2005

     

energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters からの引用事項は,この規格の該当事項と同等

である。

JIS Z 8103

  計測用語

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 4001 及び JIS Z 8103 によるほか,次による。

a) 

放射性表面汚染モニタ(surface contamination monitors)  放射性表面汚染用サーベイメータ,ハン

ドフットモニタ及び体表面モニタのように,物品又は人体表面の放射性汚染を測定する機器の総称。

b)

表面放出率(surface emission rate)  線源の表面又は線源窓から単位時間に放出されるあるエネルギ

ー以上の特定の粒子の数。

c) 

機器効率(instrument efficiency)  線源に対して,決められた幾何学的条件で測定したときの測定器

の正味計数率と線源の表面放出率との比(

1

)。

(

1

機器効率は,放射線のエネルギーに依存する。

d)

線源効率(source efficiency)  表面放出率と線源(飽和層厚さ以上の厚さの線源は飽和層)の中で単

位時間に放出される同じ種類の放射線粒子数の比(

2

)。

(

2

線源効率は,この定義によれば 0.5 を超えないこととなるが,後方散乱によって,0.5 より高く

なることもある。

e)

均一性(uniformity)  線源の全表面にわたって測定した単位面積当たりの表面放出率のばらつき。

線源表面全体の平均値に対する各部分の測定値の標準偏差を平均値に対する百分率で表し,分割の

面積は,10 cm

2

又はそれ以下とする。

備考1.  均一性の評価方法には,放出される最大エネルギーの粒子を吸収できる十分な厚さをもち,

適切な大きさの穴があいたマスキングプレートを線源と検出器との間に挿入して測定する方

法などがある。

2. 

線源の均一性が十分に確認できれば,線源の一部分を利用して測定器を校正してもよい。

4.

参照標準線源のトレーサビリティ  放射性表面汚染モニタの校正に用いる実用標準線源は,参照標準

線源及び仲介測定器を介して国家標準にトレーサビリティがあるものでなければならない。このトレーサ

ビリティを明確にするために参照標準線源を,次の 2 種類に分類する。

a) 

クラス 1 参照標準線源:国家標準機関が,表面放出率を校正した参照標準線源。

参考  我が国の放射能に関する国家標準機関は,独立行政法人産業技術総合研究所である。

b) 

クラス 2 参照標準線源:核種及び一般構造が同一のクラス 1 参照標準線源で校正した仲介測定器を用

いて,表面放出率を校正した参照標準線源。

参考  我が国の計量法トレーサビリティ制度においては,国家標準機関が特定標準器を用いて校正し

た標準線源がクラス 1 参照標準線源であり,同制度における認定事業者がその所有する特定二

次標準器を用いて校正した標準線源は,クラス2参照標準線源にあたる。

仲介測定器でクラス 2 参照標準線源を校正するときのジオメトリは,クラス 1 参照標準線源で仲介測定

器を校正したジオメトリと同一でなければならない。

クラス 1 参照標準線源の表面放出率は,窓なしガスフロー比例計数装置などを用いた絶対測定によるか,

又は絶対測定で値付けした標準線源で校正した測定器を用いて校正しなければならない。また,必要に応

じて,クラス 1 参照標準線源の校正方法を明示しなければならない(

3

)。

放射性表面汚染モニタの形式試験を行う場合は,適切なクラス 1 参照標準線源又はクラス 2 参照標準線


3

Z 4334

:2005

     

源を用いる。放射性表面汚染モニタを校正する場合は,クラス 1 参照標準線源,クラス 2 参照標準線源又

は実用標準線源を用いる。

(

3

他国の国家標準機関が校正したクラス 1 参照標準線源を有効なものとしてもよい。

備考  実用標準線源は,放射性表面汚染モニタを設置場所で校正するためのものであって,動作確認

用の線源とは異なる。

放射性表面汚染モニタの校正に用いる実用標準線源の表面放出率は,仲介測定器を用いてクラス 1 参照

標準線源又はクラス 2 参照標準線源と比較測定することによって校正する。

実用標準線源で放射性表面汚染モニタを校正する場合に,校正用ジグを用いるか又は特定のジオメトリ

で校正するときは,同じジグ又は同じジオメトリで実用標準線源の表面放出率を校正できるように,仲介

測定器の校正をしなければならない。ただし,実用標準線源がジグから脱着できれば,一般的な方法で校

正してもよい。

高精度の校正を必要とする場合などには,クラス 1 参照標準線源又はクラス 2 参照標準線源を実用標準

線源として用いてもよい。

5.

線源の特性,性能及び構造

5.1

一般仕様  線源構造には,例えば次のようなものがある。

  導電性のバッキング材の表面又は表面層に放射性物質をマウントした線源。この場合のバッキング材

は,放射線粒子が線源の後方に放出しない十分な厚さでなければならない。

  少なくとも飽和層厚さと等しい厚さの材質に放射性物質が一様に分布している線源。

参照標準線源の放射性核種純度は,他の妨害核種の影響が無視できる純度でなければならない。

備考  β線放出核種の不純物を定量することは難しい。γ線を同時に放出する核種の場合には,ゲル

マニウム半導体検出器などの高分解能スペクトロメータを利用して推測できる。不純物核種の

β線最大エネルギーE

max

が主核種のものより高ければ,残留最大エネルギーE

res

を測定すること

によって不純物を推定することも可能である。

β線最大エネルギーが 0.4 MeV 以上のβ線放出核種に対する線源効率は,0.25 より高くなければならな

い。β線最大エネルギーが 0.15 MeV 以上,0.4 MeV 未満のβ線放出核種及びα線放出核種に対する線源効

率は,0.05 より高くなければならない。

5.2

クラス 参照標準線源

5.2.1

一般要求事項  クラス 1 参照標準線源は,導電性のバッキング材の表面又は表面層に放射性物質を

マウントし,自己吸収を最小限にした平面状の線源でなければならない(

4

)。

(

4

クラス 1 参照標準線源は,可能な限り自己吸収を少なくするために薄い線源であることが望ま

しいが,α線源及び低エネルギーβ線源については,自己吸収を無視することはできない。

放射能面積は,100 cm

2

以上でなければならない。推奨するサイズは,10 cm×15 cm である。

バッキング材は,後方散乱による粒子放出量が飽和するように十分厚くなければならない。推奨するバ

ッキング材質及び必要な最小の厚さを

表 に示す。

線源には,次の事項を記載した校正証明書を添付しなければならない。

a) 

公称放射能及び基準日

b) 

放射能面積

c) 

表面放出率,不確かさ及び基準日

d) 

放射性核種及び半減期


4

Z 4334

:2005

     

e) 

線源番号

f) 

均一性

g) 

線源のクラス

その他必要な情報を校正証明書に記載してもよい。

線源には核種及び線源番号を表示しなければならない。

  1  クラス 1 参照標準線源に推奨する核種及びバッキング材

最小バッキング材厚

核種

半減期

最大エネルギー

単位面積当たりの質量

アルミニウム

ステンレス鋼

年 keV

mg/cm

2

 mm

mm

14

C 5

730  156

22

0.08  0.03

147

Pm 2.62

225

35

0.13  0.04

36

Cl 3×10

5

 710

170

0.6  0.20

204

Tl 3.78  763

180

0.7  0.23

90

Sr+

90

Y 28.5

2

274

850

3.1

1.1

106

Ru+

106

Rh

1.01

3 540

1 300

4.8

1.7

241

Am 432.6  5

544

6

0.02

0.01

5.2.2

放射能及び表面放出率  クラス 1 参照標準線源の放射能は,バックグラウンド,計数率及び不感時

間による不確かさを考慮して,表面放出率が 2 000∼10 000 s

-1

となるようにすることが望ましい。

表面放出率は,国家標準機関が校正し,不確かさは,3  %以内とする(

5

)。

(

5

この規格における不確かさは,1 標準偏差とする。

5.2.3

均一性  クラス 1 参照標準線源における表面放出率の均一性は,±10 %とする。

5.2.4

核種  クラス 1 参照標準線源の核種は,可能な限り次の核種から選ぶことが望ましい(これら核種

の特性は,

表 を参照。)。

a) 

α線放出核種:

241

Am

b) 

β線放出核種:

14

C,

147

Pm,

36

Cl,

204

Tl,

 90

Sr+

90

Y(

6

)

c) 

その他,国家標準機関が認める核種(高エネルギーβ線源としては,

106

Ru+

106

Rh を推奨する。)。

(

6

フィルタ付きの

90

Sr+

90

Y 線源を含む。

90

Y からの高エネルギーβ線だけを利用するときは,130

mg/cm

2

のフィルタが必要である。

5.3

クラス 参照標準線源

5.3.1

一般要求事項  クラス 2 参照標準線源に対する一般要求事項は,クラス 1 参照標準線源と同一とす

る。

5.3.2

放射能及び表面放出率  クラス 2 参照標準線源の放射能は,使用者の要望を満足することが望まし

い。表面放出率は,仲介測定器を用いて校正し,不確かさを明示しなければならない。クラス 2 参照標準

線源の表面放出率の不確かさは,6  %以内とする。

5.3.3

均一性  クラス 2 参照標準線源における表面放出率の均一性は,±10  %であることが望ましい。

5.3.4

核種  クラス 2 参照標準線源の核種は,クラス 1 参照標準線源と同一とする。

5.4

実用標準線源

5.4.1

一般要求事項  実用標準線源に対する要求事項は,次の項目を考慮して使用者が決定する。

a) 

放射性表面汚染モニタの校正を実施するのに必要な数量と大きさの実用標準線源を用意しなければな


5

Z 4334

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らない。

b) 

実用標準線源には,基準日における表面放出率,核種及び線源番号を表示しなければならない。ただ

し,

基準日における表面放出率を線源に表示できない場合には,

校正証明書に記載する方法でもよい。

必要に応じて,校正したときのジオメトリの詳細,又は放射性表面汚染モニタを校正するときの当該

実用標準線源の使用方法を記した説明書を添付する。

c) 

実用標準線源は,日常の取扱いに耐えるだけの十分な強度がなければならない。

d) 

実用標準線源は,参照標準線源の要求事項を可能な限り満足するものとする。

5.4.2

表面放出率  実用標準線源の表面放出率は,使用者と製造業者との間で取り決めることが望ましい。

表面放出率の校正は,

同形状のクラス 1 又はクラス 2 の参照標準線源で校正した仲介測定器を用いて行う。

5.4.3

均一性  実用標準線源の均一性は,クラス 2 参照標準線源と同等であることが望ましい。

5.4.4

核種  実用標準線源の核種は,使用者の要求するα線放出核種又はβ線放出核種から選択するもの

とする。例えば,5.2.4 に規定する核種のほか,

 60

Co,

137

Cs などがある。

6.

仲介測定器

6.1

仲介測定器  この規格のエネルギー範囲における仲介測定器の機器効率は,0.5 を超えなければなら

ない。

仲介測定器は,10 cm×15 cm  の大きさの線源を測定する場合に,線源の位置が多少ずれても,その影響

を無視することができるだけの十分な大きさであることが望ましい。

仲介測定器は,不感時間及びバックグラウンド計数率を補正できるものでなければならない。

β線計測の場合の下限エネルギーレベルは,590 eV(

55

Fe の崩壊に伴って放出される Mn の KX 線エネル

ギーの 1/10)の光子エネルギー相当に設定する。α線計測の場合の下限エネルギーレベルは,計測システム

の雑音をカットするところに設定することが望ましい。

仲介測定器としては,保護格子がない大面積タイプのガスフロー形比例計数管で,有効面積の部分に最

大 1 mg/cm

2

の導電性の窓をもち,ガス供給レギュレータ,高圧電源,前置増幅器,主増幅器,波高弁別器,

表示部などを装備したものを推奨する。

6.2

校正  仲介測定器の校正は,使用開始前及び使用期間中は定期的に使用者の責任で行わなければな

らない。

5.2.4

の b)又は c)に規定する核種以外のβ線放出核種を実用標準線源として校正する場合は,仲介測定器

の機器効率を補間法によって求めてもよい。ただし,エネルギー特性が良好でないガスフロー比例計数管

で,β線最大エネルギーが 0.5 MeV 未満のβ線放出核種を校正する場合には,補間法は大きな誤差の要因

になるので十分な注意が必要である。


6

Z 4334

:2005

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS Z 4334:2005

:放射性表面汚染モニタ校正用線源−β線放出核種(最大エネルギ

ー0.15 MeV 以上)及びα線放出核種

ISO 8769:1988

,放射性表面汚染モニタ校正用線源−β線放出核種(最大エネルギー0.15

MeV 以上)及びα線放出核種

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容 
  表示箇所:本体,附属書

  表示方法:点線の下線

項目

番号

内容

(Ⅱ) 
  国 際
規 格

番号

項目

番号

内容

項目ご

との評

技術的差異の内容

(Ⅴ) JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

1.適用範囲

放射性表面汚染モニタ
を校正するための大面
積の標準線源−最大エ

ネルギー0.15MeV 以上
の β 線放出核種及びα
線放出核種

ISO 
8769 

1

JIS と同じ

IDT

2.引用規格

JIS Z 4001 

JIS Z 8103 

JIS Z 4504 

2

ISO 921

ISO 6980ISO 

7503-1

IEC 60050(391)

IEC 60050(392)

, IEC 

60325 

MOD 
/削除 
/追加

ISO 6980

及び IEC 60325 を削除

ISO 921

, ISO 7503-1 , IEC 

60050(391)

及び IEC 60050(392)

は,対応する JIS を引用。

特に引用する必要がないため削除し
た。

3.定義

放射性表面汚染モニタ,

表面放出率,機器効率,
線源効率及び均一性

3

放射能,表面放出率,飽

和層厚さ,機器効率,線
源効率,自己吸収,トレ
ーサビリティ,不確かさ

及び均一性

MOD 
/削除 
/追加

ISO 規格の用語から放射能,

飽和層厚さ,自己吸収,トレー
サビリティ及び不確かさを削除

JIS に放射性表面汚染モニタの

用語を追加

削除した用語は,引用規格の JIS Z 

4001

及び JIS Z 8103 に定義されてお

り,内容もほぼ一致しているため削除。
追加した用語は,JIS Z 4001 が規定し

ている用語の内容と少し異なってお
り,混乱を避けるため追加。

4.参照標準線源の
トレーサビリティ

クラス 1 参照標準線源

クラス 2 参照標準線源

4

JIS と同じ

IDT

5.線源の特性,性
能及び構造 
5.1 一般仕様

 
 
線源構造 
線源効率


 
5.1

JIS と同じ 
 
JIS と同じ

IDT 

IDT


7

Z 4334

:2005

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容 
  表示箇所:本体,附属書

  表示方法:点線の下線

項目 
番号

内容

(Ⅱ) 
  国 際
規 格

番号

項目
番号

内容

項目ご
との評

技術的差異の内容

(Ⅴ) JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

5.2 クラス 1 参照
標準線源 
5.2.1 一般要求事

 
 
 
線源構造及びサイズ

校正証明書 
線源の表示

5.2 
 
 
5.2.1

JIS と同じ 
 
 
JIS とほぼ同じ

ただし,校正証明書に記
載する 公称放 射能 を放
射能としている。

IDT 
 
 
MOD 
/削除 
/追加

 
 
 
ISO

規格が規定している校正証

明書の記載事項から放射能を削
除し,公称放射能を JIS に追加。

 
 
 
JIS

では放射能校正を規定しないため

記載事項から放射能を削除し,実際の
放射線管理に必要な公称放射能の記載
を追加規定した。次回 ISO 規格改正時

に追加を提案する。

5.2.2 放射能及び
表面放出率

放射能

表面放出率 

5.2.2

JIS とほぼ同じ 

MOD 
/削除

JIS

は,ISO 規格が規定している

放射能校正を削除。 

ISO

規格が規定している放射能校正の

実施は困難であり,モニタを校正する
場合の必要性も低いことから削除し
た。次回 ISO 規格改正時に削除を提案

する。

5.2.3 均一性

表面放出率の均一性

5.2.3

JIS と同じ IDT

5.2.4 核種

クラス 1 参照標準線源に

用いる核種

5.2.4

JIS と同じ IDT

5.3 クラス 2 参照
標準線源 
5.3.1 一般要求事

 
 
 
クラス 1 参照標準線源と

同一

5.3 
 
 
5.3.1

JIS

と同じ

 
 
JIS と同じ

IDT 
 
 
IDT

 

5.3.2 放射能及び
表面放出率

放射能

表面放出率 

5.3.2

JIS とほぼ同じ

MOD 
/削除

JIS

は,ISO 規格が規定している

放射能校正を削除。

ISO

規格が規定している放射能校正の

実施は困難であり,モニタを校正する
場合の必要性も低いことから削除し
た。次回 ISO 規格改正時に削除を提案

する。

5.3.3 均一性

表面放出率の均一性

5.3.3

JIS と同じ IDT


8

Z 4334

:2005

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容 
  表示箇所:本体,附属書

  表示方法:点線の下線

項目 
番号

内容

(Ⅱ) 
  国 際
規 格

番号

項目
番号

内容

項目ご
との評

技術的差異の内容

(Ⅴ) JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

5.3.4 核種

クラス 2 参照標準線源に用

いる核種

5.3.4

JIS と同じ IDT

5.4 実用標準線
源 
5.4.1 一 般 要 求
事項

 
 
実用線源に対する一般要
求事項

5.4 
 
5.4.1

JIS と同じ 

JIS とほぼ同じ

IDT 
 
MOD 
/追加

JIS では,線源表示事項のうち,基
準日における表面放出率を表示で
きない場合の救済規定を削除。

線源に表面放出率を表示することが困
難な場合があり,JIS に救済規定を追

加した。次回 ISO 規格改正時に追加を
提案する。

5.4.2 表 面 放 出

表面放出率

5.4.2

放射能及び表面放出率

MOD 
/削除

ISO

規格では,放射能校正を規

定している。JIS では,放射能校
正の規定はない。

ISO

規格が規定している放射能校正の

実施は困難であり,モニタを校正する
場合の必要性も低いことから削除し

た。

次回 ISO 改正時に削除を提案する。

5.4.3 均一性

表面放出率の均一性

5.4.3

JIS と同じ IDT

5.4.4 核種

実用標準線源に用いる核

5.4.4

JIS とほぼ同じ 

MOD 
/追加

60

Co,

137

Cs など

JIS

を理解しやすくするため核種を追

加。

6.仲介測定器 
6.1 仲介測定器

 
仲介測定器の仕様


6.1

JIS と同じ

JIS と同じ

IDT 
IDT

6.2 校正

仲介測定器の校正

6.2

JIS と同じ IDT

J IS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD 

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  IDT………………  技術的差異がない。

    ―  MOD/削除………  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    ―  MOD/追加………  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

2. JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  MOD……………

国際規格を修正している。 


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Z 4334

:2005