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Z 4324:2017  

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  2 

4 性能 4 

4.1 直線性  4 

4.2 エネルギー特性  4 

4.3 方向特性  4 

4.4 指示値変動  4 

4.5 応答時間  4 

4.6 ドリフト  4 

4.7 オーバロード特性  4 

4.8 警報レベルの誤差  5 

4.9 警報レベルの安定性  5 

4.10 温度特性  5 

4.11 湿度特性  5 

4.12 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性  5 

4.13 放射無線周波数電磁界に対するイミュニティ特性  5 

4.14 電源周波数磁界イミュニティ特性  5 

4.15 静電気放電イミュニティ特性  5 

4.16 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性  5 

4.17 サージイミュニティ特性  5 

4.18 耐インパクト特性  5 

4.19 動作安定性  6 

5 構造 6 

5.1 一般  6 

5.2 検出部  6 

5.3 指示部  6 

5.4 警報部  6 

5.5 測定範囲  6 

6 試験 6 

6.1 試験条件  6 

6.2 試験方法  7 

7 検査 13 

7.1 一般  13 


 

Z 4324:2017 目次 

(2) 

ページ 

7.2 形式検査  13 

7.3 受渡検査  14 

8 表示 14 

9 取扱説明書  14 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表  15 

 

 


 

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(3) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本

電気計測器工業会(JEMIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工

業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工

業規格である。これによって,JIS Z 4324:2009は,この規格を含むJIS Z 4324:2017及びJIS Z 4344:2017

に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

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X線及びγ線用据置形エリアモニタ 

Installed area monitors for X and γ rays 

 

序文 

この規格は,2010年に第3版として発行されたIEC 60532を基とし,我が国の使用状況及びその後の技

術進歩に伴い,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

 

適用範囲 

この規格は,原子力施設及び放射線施設の建屋内の作業環境における,X線及びγ線の周辺線量当量率

(以下,線量率という。)を連続的に監視するための据置形のエリアモニタ(以下,モニタという。)につ

いて規定する。 

この規格は,パルス状の放射線の測定に関わる性能,及び事故時又は緊急時の線量率測定に関わる特別

な性能は,規定しない。また,この規格で規定する環境条件を超えてモニタを使用するために付加された

機能の性能についても,規定しない。 

なお,可搬形のエリアモニタについては,JIS Z 4344に規定している。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60532:2010,Radiation protection instrumentation−Installed dose rate meters, warning assemblies 

and monitors−X and gamma radiation of energy between 50 keV and 7 MeV(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 60068-2-75 環境試験方法−電気・電子−第2-75部:ハンマ試験 

JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導

妨害に対するイミュニティ 

JIS C 61000-4-8 電磁両立性−第4-8部:試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験 

JIS Z 4001 原子力用語 


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JIS Z 4344 X線及びγ線用可搬形エリアモニタ 

JIS Z 4511 照射線量測定器,空気カーマ測定器,空気吸収線量測定器及び線量当量測定器の校正方

法 

JIS Z 8103 計測用語 

ISO 4037-1,X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for 

determining their response as a function of photon energy−Part 1: Radiation characteristics and 

production methods 

ISO 4037-2,X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for 

determining their response as a function of photon energy−Part 2: Dosimetry for radiation protection over 

the energy ranges from 8 keV to 1,3 MeV and 4 MeV to 9 MeV 

ISO 4037-3,X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for 

determining their response as a function of photon energy−Part 3: Calibration of area and personal 

dosemeters and the measurement of their response as a function of energy and angle of incidence 

ISO 4037-4,X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for 

determining their response as a function of photon energy−Part 4: Calibration of area and personal 

dosemeters in low energy X reference radiation fields 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか,次による。 

3.1 

周辺線量当量率,H

*(10)(ambient dose equivalent rate) 

拡張・整列場によって作り出される放射線場に置かれたICRU球内の整列場の方向に対向する半径上の

深さ10 mmの点における線量当量率。 

注記1 周辺線量当量率は,シーベルト毎時(Sv/h)で表す。 

注記2 JIS Z 4511に規定する,場所に関わる1 cm線量当量率は,H

*(10) に相当する。 

3.2 

検出部(detector assembly) 

放射線検出器及びそれに附属する機能ユニットを含む部分。 

3.3 

処理部(processing assembly) 

検出部からの出力を受け,指示部及び警報部への出力を行う部分。 

3.4 

指示部(indication assembly) 

線量率を表示する部分。処理部を内部に含むこともある。 

3.5 

警報部(alarm assembly) 

測定値がある設定値を超えたことを知らせるための部分。 

3.6 

線量率の取決め真値(conventionally true dose rate) 

モニタの校正に用いる線量率の最良推定値。 


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3.7 

変動係数,V(coefficient of variation) 

n個の測定値(xi)の標準偏差の推定値(s)の平均値(x)に対する比。変動係数は,次の式によって

求められる。 

n

i

i

x

x

n

x

x

s

V

1

2

1

1

1

 

3.8 

有効測定範囲(effective range of measurement) 

モニタがこの規格の性能を満たす測定値の範囲。 

3.9 

有効測定範囲の下限値,H

0(lower limit of effective range of measurement) 

有効測定範囲の最小の線量率。 

3.10 

デカード(decade) 

対数目盛又はこれに準じる目盛(以下,対数目盛という。)の目盛範囲を表す単位。例えば,二つの目盛

値の比の常用対数がDであるとき,この2目盛間の目盛範囲をDデカードという。 

3.11 

レスポンス,R(response) 

正味の指示値(G)の線量率の取決め真値(Ht)に対する比。レスポンスは,次の式によって求められ

る。 

t

H

G

R

 

3.12 

基準レスポンス,R0(reference response) 

基準となる条件下で得られた正味の指示値(G0)の線量率の取決め真値(Ht,0)に対する比。基準レスポ

ンスは,次の式によって求められる。 

0,t

0

0

H

G

R

 

3.13 

相対レスポンス,r(relative response) 

特定の試験条件で得られたレスポンス(R)の基準レスポンス(R0)に対する比。相対レスポンスは,

次の式によって求められる。 

0R

R

r

 

3.14 

据置形(installed instrument) 

使用する場所に永続的に据え付けられた装置。 

3.15 

可搬形(transportable instrument) 


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異なる場所に移動できる装置。ただし,移動中は測定しない。 

 

性能 

4.1 

直線性 

直線性は,6.2.2によって試験したとき,相対レスポンスの許容範囲は,(0.7−Urel)〜(1.3+Urel)とする。 

注記 4.1において,Urelは,直線性試験における基準となる線量率の,試験点における線量率に対す

る比の拡張不確かさ(包含係数k=2)である。 

4.2 

エネルギー特性 

エネルギー特性は,6.2.3によって試験したとき,80 keV〜1.5 MeVのエネルギー範囲について,137Csか

らのγ線のレスポンスに対する比の許容範囲は,(0.75−Urel)〜(1.4+Urel)とする。80 keV未満及び1.5 MeV

を超えるエネルギー範囲を測定対象とするモニタについては,80 keV〜1.5 MeV以外のエネルギー範囲に

おける許容範囲は受渡当事者の協定による。 

注記 4.2において,Urelは,エネルギー特性試験における137Csからのγ線による線量率の,他の試験

エネルギーのX線又はγ線による線量率に対する比の拡張不確かさ(包含係数k=2)である。 

4.3 

方向特性 

方向特性は,6.2.4によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,±20 %とする。ただし,製造業

者は±90°における指示値の変化を明示することとし,その指示値に対する許容範囲は指定しない。 

4.4 

指示値変動 

指示値変動は,6.2.5によって試験したとき,変動係数は,0.2未満とする。 

4.5 

応答時間 

応答時間は,レートメータ方式のモニタの場合,6.2.6によって試験したとき,60秒未満とする。ただし,

4.4の規定を満足するために60秒以上の応答時間が必要な場合には,4.4を優先する。また,計数値積算

方式のモニタについては,この試験を適用しないが積算時間を明示する。 

4.6 

ドリフト 

ドリフトは,6.2.7によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は次のとおりとする。 

a) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) 直線目盛の場合,最小レンジの最大目盛の±2 %とする。 

2) 対数目盛の場合,8時間後の指示値の変化の許容範囲は最小デカードの最大目盛の±5 %,24時間

後の指示値の変化の許容範囲は最小デカードの最大目盛の±25 %,20日後の指示値の変化の許容範

囲は±50 %とする。 

3) デジタル式の場合,最高感度の測定状態において,8時間後の指示値の変化の許容範囲は±5 デジ

ット,24時間後の指示値の変化の許容範囲は±25 デジット,20日後の指示値の変化の許容範囲は

±50 デジットとする。ただし,指数表示のデジタル式の場合には対数目盛に準じる。 

b) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) 直線目盛の場合,最大目盛の±2 %とする。 

2) 対数目盛の場合,基準値の±5 % 又は±0.02Dデカードとする。 

3) デジタル式の場合,基準値の±5 %とする。 

注記 ここでDデカードは,モニタの表示範囲の最小値と最大値との目盛範囲である。 

4.7 

オーバロード特性 

オーバロード特性は,6.2.8によって試験したとき,6.2.8 b) の場合に高線量率側の目盛範囲外であるこ


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とを表示していなければならない。オーバロードを起こす照射を停止した後,指示値はオーバスケールの

状態から10分以内に有効測定範囲に復帰しなければならない。有効測定範囲に復帰した後の指示値の変化

の許容範囲は,±10 %とする。 

4.8 

警報レベルの誤差 

警報レベルの誤差は,6.2.9によって試験したとき,±30 %とする。 

4.9 

警報レベルの安定性 

警報レベルの安定性は,6.2.10によって試験したとき,表1のとおりでなければならない。 

 

表1−警報レベルの安定性試験 

測定項目 

動作内容 

警報レベルの90 %の信号入力 

60秒間警報は動作しない。 

警報レベルの110 %の信号入力 

60秒以内に警報が動作する。 

 

4.10 温度特性 

温度特性は,6.2.11によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,±15 %とする。 

4.11 湿度特性 

湿度特性は,6.2.12によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,±15 %とする。 

4.12 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性 

電源電圧及び周波数の変動に対する安定性は,6.2.13によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲

は,±10 %とする。 

4.13 放射無線周波数電磁界に対するイミュニティ特性 

放射無線周波数電磁界に対するイミュニティ特性は,6.2.14によって試験したとき,指示値の変化の許

容範囲は,X線又はγ線を照射して試験したときは±15 %,X線又はγ線を照射しないで試験したときは

0.7H

0以下とする。 

4.14 電源周波数磁界イミュニティ特性 

電源周波数磁界イミュニティ特性は,6.2.15によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,0.7H

0

以下とする。 

4.15 静電気放電イミュニティ特性 

静電気放電イミュニティ特性は,6.2.16によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,X線又はγ

線を照射して試験したときは±15 %,X線又はγ線を照射しないで試験したときは0.7H

0以下とする。 

4.16 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性 

無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性は,6.2.17によって試験したとき,

指示値の変化の許容範囲は,X線又はγ線を照射して試験したときは±15 %,X線又はγ線を照射しない

で試験したときは0.7H

0以下とする。 

4.17 サージイミュニティ特性 

サージイミュニティ特性は,6.2.18によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,X線又はγ線

を照射して試験したときは±15 %,X線又はγ線を照射しないで試験したときは0.7H

0以下とする。 

4.18 耐インパクト特性 

耐インパクト特性は,6.2.19によって試験したとき,指示値の変化の許容範囲は,±15 %とする。また,

試験後に動作に異常があってはならない。 


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4.19 動作安定性 

動作安定性は,6.2.20によって試験したとき,意図しない警報が発生しないこととする。 

 

構造 

5.1 

一般 

構造は,次による。 

a) モニタは,検出部,処理部,指示部及び警報部によって構成する。 

b) モニタは,必要に応じて,データ記録装置と組み合わせて使用してもよい。 

5.2 

検出部 

検出部は,次による。 

a) 電離箱,GM計数管,半導体検出器,シンチレーション検出器などの放射線検出器が内蔵され,汚染

しにくい構造かつ除染又は交換が容易な構造でなければならない。 

b) X線又はγ線以外の放射線の存在する場で用いる場合,それらに対する応答を明示しなければならな

い。 

c) 検出部は,中性子の存在する場で用いる場合,放射化しにくい材質で構成することが望ましい。 

d) 基準照射方向を示す表示は,検出部表面に明示しなければならない。 

5.3 

指示部 

指示部は,次による。 

a) 指示は,アナログ式又はデジタル式とする。アナログ式の場合,直線目盛又は対数目盛で指示する。 

b) 対数目盛の場合,1デカード当たりの目盛の長さは20 mm以上であることが望ましい。 

c) 直線目盛の場合,近接するレンジの最大値の比は,10以下でなければならない。 

d) 有効測定範囲は,直線目盛の場合は各レンジの10 %〜100 %とし,対数目盛の場合は最小指示値の1.5

倍からフルスケールとし,デジタル式の場合は指示値の下限の一桁上からフルスケールとする。 

5.4 

警報部 

警報部は,次による。 

a) 設定値を超える指示に対し,ランプ,ブザーなどによって警報を発しなければならない。 

b) 警報は,リセット又は原因の解消まで維持しなければならない。 

c) 警報設定が可変な場合は,警報設定値を確認できなければならない。 

d) 警報設定が可能な範囲は,直線目盛の場合は有効測定範囲の少なくとも10 %〜100 %,対数目盛の場

合は少なくとも最小デカードの50 %からフルスケールまで,デジタル式の場合は有効測定範囲全域が

望ましい。 

5.5 

測定範囲 

測定範囲は,次による。 

a) 測定エネルギー範囲は,少なくとも80 keV〜1.5 MeVを含む。 

b) 有効測定範囲は,3デカード以上とする。 

 

試験 

6.1 

試験条件 

6.1.1 

共通試験条件 

6.2の試験方法における基準条件は,表2の第2欄による。特に,受渡当事者間で取決めのある場合を除


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き,試験は,表2の第3欄に示す標準試験条件で行う。 

 

表2−共通試験条件 

項目 

基準条件 

(製造業者の指定がない場合) 

標準試験条件 

(製造業者の指定がない場合) 

標準線源 

137Cs 

137Cs 

予熱時間 

分 

30 

30以上 

環境温度 

℃ 

20 

18 〜 22 

相対湿度 

65 

50 〜 75 

気圧 

kPa 

101.3 

70 〜 106 

電源電圧 

定格電源電圧 

±1 % 

電源周波数 

定格電源周波数 

±2 % 

電源波形 

正弦波 

全高調波ひずみが5 %未満の正
弦波 

γ線バックグラウンド 

μGy/h 

空気カーマ率 

0.1以下 

空気カーマ率 

0.25以下 

外部電磁波 

無視できるレベル 

影響の認められるレベル以下 

外部磁気誘導 

無視できるレベル 

地球磁界の2倍以下 

基準照射方向 

製造業者が指定 

±10° 

装置の状態 

通常使用状態 

通常使用状態 

放射性物質による汚染 

無視できるレベル 

無視できるレベル 

 

6.1.2 

基準放射線 

基準放射線による試験は,JIS Z 4511又はISO 4037-1〜ISO 4037-4に規定するX線及び/又はγ線で行

う。試験に用いるX線及びγ線は,国家標準1) とのトレーサビリティを明確とする。また,その不確かさ

は,拡張不確かさ(包含係数k=2)が10 %以内であることが望ましい。 

注1) JIS Z 8103に規定された国が認める計量標準。 

6.2 

試験方法 

6.2.1 

一般 

試験方法一般は,次による。 

a) 全ての試験は,30分間以上の予熱時間が経過した後に実施する。このとき,使用者が操作するゼロ調

整機能をもっているモニタは,ゼロ調整を行った後に実施する。 

b) 温度特性試験における環境温度のように,一つ以上の試験条件を変化させ試験する場合,それ以外の

試験条件は,表2の第3欄に示す範囲とする。 

c) 試験において使用するγ線源は,試験方法に規定がない限り,137Csとする。137Csを用いることができ

ない試験には,60Coを用いてもよい。エネルギー特性試験以外で60Coを用いる場合は,137Csに対す

る60Coのレスポンスの比を指示値に乗じて性能評価を行う。 

d) X線又はγ線を用いて試験を行う場合,指示値はバックグラウンドの線量率を差し引いた値を用いる。 

e) 検出部へのX線又はγ線照射方向は,特に規定のない場合,製造業者が指定する方向とする。 

f) 

デジタル式の場合の試験結果は,デジタル誤差を除く。 

6.2.2 

直線性試験 

直線性試験は,次の方法によって行う。直線性試験の放射線による試験は,6.1.2に規定の基準放射線を

用いる。有効測定範囲の下限値の10倍〜100倍の範囲に相当する線量率で,製造業者が指定する線量率を


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基準となる線量率とする。標準試験条件で,製造業者が定める手順に従って,基準レスポンスがほぼ1に

なるようにモニタを調整する。調整後のモニタを使用して,相対レスポンスを求める。 

a) 形式検査 

1) 直線目盛の場合,有効測定範囲の各レンジについて最大目盛の25 %,50 %及び75 %付近の指示値

について,指示値と線量率の取決め真値とからレスポンスを求め,レスポンス及び基準レスポンス

から相対レスポンスを求める。 

2) 対数目盛及びデジタル式の場合,有効測定範囲の各デカードごとに,各デカードの最大値の70 %以

上,及び最大値の1/3以下の指示値について,指示値と線量率との取決め真値からレスポンスを求

め,そのレスポンス及び基準レスポンスから相対レスポンスを求める。 

b) 受渡検査 

1) 直線目盛の場合,有効測定範囲の各レンジについて最大目盛の50 %〜75 %付近の1点の指示値につ

いて,指示値と線量率との取決め真値からレスポンスを求め,そのレスポンス及び基準レスポンス

から相対レスポンスを求める。 

2) 対数目盛及びデジタル式の場合,有効測定範囲の各デカードについて最大目盛の10 %〜90 %の間の

1点の指示値について,指示値と線量率との取決め真値からレスポンスを求め,そのレスポンス及

び基準レスポンスから相対レスポンスを求める。 

受渡検査においては,検出器からの信号を模擬した電気信号で行ってもよい。 

6.2.3 

エネルギー特性試験 

エネルギー特性試験は,次の方法によって行う。エネルギー特性試験の放射線による試験は,6.1.2に規

定の基準放射線を用いる。 

受渡当事者間で取決めのない場合は,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる

程度の指示を与える線量率で照射を行い,各核種のγ線エネルギー又はX線の実効エネルギーに対するレ

スポンスを求め,137Csからのγ線のレスポンスに対する比を求める。 

6.2.4 

方向特性試験 

方向特性試験は,検出部基準照射方向を0°とし,照射方向並びに検出部中心軸を含む水平及び垂直の2

平面について,0°,±15°,±30°,±45°,±60°及び±90°方向からバックグラウンドの変化及び数

え落としの影響が十分無視できる程度の指示を与える線量率の137Csからのγ線を照射し,指示値を読み取

る。0°方向の値を基準値とし,各方向に対する指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率

を求める。 

6.2.5 

指示値変動試験 

指示値変動試験は,次に示す指示値に相当する線量率のγ線を照射し,統計的に独立とみなせる時間間

隔で少なくとも10回指示値を読み取り,変動係数を求める。 

a) 直線目盛の場合には,最小レンジの最大目盛の33 %〜50 %。 

b) 対数目盛の場合には,最小デカードの最大目盛の33 %〜50 %。 

c) デジタル式の場合には,最高感度の測定状態において,33〜50 デジット。ただし,指数表示のデジタ

ル式の場合には対数目盛に準じる。 

6.2.6 

応答時間試験 

応答時間試験は,モニタに照射する線量率又は検出器からの信号を模擬した電気信号を変化させ,指示

値がNからNʼになるとき,指示値がNから次の式で示す値になるまでに要する時間を測定する。 

N+0.9 (Nʼ−N) 


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測定は指示値を増加させる場合及び減少させる場合の両方について行い,増加の場合にはNʼ/Nを,減少

の場合にはN /Nʼを10以上にする。 

6.2.7 

ドリフト試験 

ドリフト試験は,a) 又はb) による。 

a) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) 30分間モニタを動作させた後の指示値を基準とする。 

2) モニタを24時間連続動作させ,指示値を1時間ごとに記録し,8時間後及び24時間後の指示値の

変化を求める。 

3) 受渡当事者間の協議がなければ,モニタを更に20日間連続動作させ,指示値を1日ごとに記録し,

20日後の指示値の変化を求める。 

b) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指示を与える線量率のX線

又はγ線を照射させ,30分間モニタを動作させる。 

2) 30分間モニタを動作させた後に測定した指示値を基準とする。 

3) モニタを24時間連続動作させ,指示値を1時間ごとに記録し,指示値の変化を求める。 

4) 直線目盛の場合は,記録したそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の最大目盛に対する百分

率を指示値の変化とする。対数目盛の場合は,記録したそれぞれの指示値から基準値を差し引いた

値の基準値に対する百分率又は記録したそれぞれの指示値を基準値で除した値の常用対数を指示値

の変化とする。デジタル式の場合は,記録したそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の基準

値に対する百分率を指示値の変化とする。 

6.2.8 

オーバロード特性試験 

オーバロード特性試験は,次による。 

a) 直線目盛及び対数目盛の場合には,有効測定範囲の各レンジごとに,デジタル式の場合には,有効測

定範囲について,それぞれバックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指

示を与えるX線又はγ線を照射し,このときの指示値を基準とする。 

b) X線又はγ線によって,直線目盛及び対数目盛の場合には,各レンジ,最大目盛値の約10倍の線量率

を,また,デジタル式の場合には,有効測定範囲の最大目盛の約10倍の線量率を,それぞれ5分間以

上照射する。 

c) オーバロードを起こす照射を停止し,10分を超えない時間内に有効測定範囲内に復帰することを確認

する。有効測定範囲内に復帰した後,a) と同じ条件で測定し,指示値を読み取る。この指示値から基

準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

6.2.9 

警報レベルの誤差試験 

警報レベルの誤差試験は,警報設定点を設定範囲の最大値及び最小値としたときについて実施する。パ

ルス信号発生器又は電流源を用いて,警報設定値を下回る指示値に相当する信号をモニタに与える。与え

る単位時間当たりのパルス数又は電流量を少しずつ増やし,警報が発生したときの指示値を読み取り,こ

の指示値から警報設定点を差し引いた値の警報設定点に対する百分率を求める。 

6.2.10 警報レベルの安定性試験 

警報レベルの安定性試験は,次による。 

a) 6.2.9で警報が発生したときのモニタの指示値の90 %の指示値に相当する信号を処理部に60秒間与

え,警報が発生しないことを確認する。 


10 

Z 4324:2017  

 

b) 6.2.9で警報が発生したときのモニタの指示値の110 %の指示値に相当する信号を処理部に60秒間与

え,警報が発生することを確認する。 

c) 24時間モニタを動作させた後に,6.2.9で警報が発生したときのモニタの指示値の90 %に相当する信

号を処理部に60秒間与え,警報の発生しないことを確認する。 

d) 24時間モニタを動作させた後に,6.2.9で警報が発生したときのモニタの指示値の110 %の指示値に相

当する信号を処理部に与え,60秒以内に警報が発生することを確認する。 

6.2.11 温度特性試験 

温度特性試験は,モニタ全体を恒温槽内に設置し,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十

分無視できる線量率のX線又はγ線を照射して行う。周囲温度20 ℃に30分以上又は温度平衡に達するま

で放置し,指示値を記録する。周囲温度が10 ℃及び50 ℃でそれぞれ少なくとも16時間維持し,それぞ

れ60分ごとに指示値を記録する。20 ℃における指示値を基準値とし,周囲温度10 ℃及び50 ℃で記録し

た全ての指示値について,指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

なお,温度変化率は1時間当たり10 ℃以下とし,湿度は相対湿度50 %未満が望ましい。検出部に温度

調節機能をもつモニタの場合は,これを動作させた状態で試験する。必要に応じてモニタを構成する各部

を別々に試験してもよく,検出部以外の各部を試験するときには,X線又はγ線の照射ではなく電気信号

で代替してもよい。各部を分割して試験を実施する場合は,各部の出力の変化を加算した値の許容範囲を

求める。 

6.2.12 湿度特性試験 

湿度特性試験は,モニタ全体を恒温槽内に設置し,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十

分無視できる線量率のX線又はγ線を照射して行う。周囲温度20 ℃,相対湿度65 %に30分以上又は十

分な時間放置し,指示値を記録する。周囲温度35 ℃に上昇させ,相対湿度93 %及び40 %に24時間以上

維持し,それぞれ2時間ごとに指示値を記録する。相対湿度65 %における指示値を基準値とし,相対湿度

93 %及び40 %で記録した全ての指示値について,指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分

率を求める。必要に応じてモニタを構成する各部を別々に試験してもよく,検出部以外の各部を試験する

ときには,X線又はγ線の照射ではなく電気信号で代替してもよい。各部を分割して試験を実施する場合

は,各部の出力の変化を加算した値の許容範囲を求める。 

6.2.13 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性試験 

電源電圧及び周波数の変動に対する安定性試験は,a) 又はb) による。 

a) 交流電源を用いるモニタ 

1) バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる線量率のX線又はγ線を照射して

行う。 

2) 電源周波数を定格周波数とし,電源電圧を定格電圧値の90 %,100 %及び110 %にした場合の指示

値を読み取る。 

3) 定格電圧における指示値を基準値とし,各電圧における指示値から基準値を差し引いた値の基準値

に対する百分率を求める。 

4) 電源電圧を定格電圧とし,電源周波数を定格周波数が60 Hzの場合は54 Hz,60 Hz及び66 Hzにし,

50 Hzの場合は45 Hz,50 Hz及び55 Hzにした場合の指示値を読み取る。 

5) 定格周波数における指示値を基準値とし,各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の基

準値に対する百分率を求める。 

b) 直流電源を用いるモニタ 


11 

Z 4324:2017  

 

1) バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる線量率のX線又はγ線を照射して

行う。 

2) 電源電圧を定格電圧値の90 %,100 %及び110 %にした場合の指示値を読み取る。 

3) 定格電圧における指示値を基準値とし,各電圧における指示値から基準値を差し引いた値の基準値

に対する百分率を求める。 

6.2.14 放射無線周波数電磁界イミュニティ特性試験 

放射無線周波数電磁界イミュニティ特性試験は,JIS C 61000-4-3によって試験する。電磁界強度及び周

波数は,a) 又はb) による。X線又はγ線を照射して試験をする場合は,6.1.2に規定の基準放射線を用い

る。 

a) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置し,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程

度の指示を与えるX線又はγ線を照射する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 強度10 V/m,周波数80 MHzの環境下にモニタを置き,指示値を記録する。 

4) 80 MHz〜1 000 MHz,及び1.4 GHz〜2.4 GHz,周波数を1 %ステップで変化させ,同様に試験し,

各周波数における指示値を記録する。 

5) 各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

b) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 強度10 V/m,周波数80 MHzの環境下にモニタを置き,指示値を記録する。 

4) 80 MHz〜1 000 MHz,及び1.4 GHz〜2.4 GHz,周波数を1 %ステップで変化させ同様に試験し,各

周波数における指示値を記録する。 

5) 各周波数における指示値から基準値を差し引いた値を求める。 

なお,上記の試験に代え,強度を20 V/mとし1方向だけの試験を行ってもよい。ただし,要求を満た

さなければ,その試験点±5 %の周波数範囲で,強度10 V/mとして3方向の試験をしなければならない。 

6.2.15 電源周波数磁界イミュニティ特性試験 

電源周波数磁界イミュニティ特性試験は,JIS C 61000-4-8によって試験する。電源周波数磁界強度及び

周波数は,次による。 

a) 試験装置内にモニタを設置し,モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

b) 強度30 A/m,周波数50 Hz又は60 Hzの環境下にモニタを置き,指示値を記録する。 

c) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

6.2.16 静電気放電イミュニティ特性試験 

静電気放電イミュニティ特性試験は,JIS C 61000-4-2によって試験する。放電電圧は,a) 又はb) によ

る。X線又はγ線を照射して試験をする場合は,6.1.2に規定の基準放射線を用いる。 

a) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指示を与えるX線又はγ線

を照射する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) モニタを操作するときにユーザが触れる箇所のうち,導電表面部には,±4 kVによる接触放電を,


12 

Z 4324:2017  

 

絶縁表面部には,±8 kVによる気中放電を,それぞれ1か所当たり5回以上与え,放電中の指示値

を記録する。 

4) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

b) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

2) モニタを操作するときにユーザが触れる箇所のうち,導電表面部には,±4 kVによる接触放電を,

絶縁表面部には,±8 kVによる気中放電を,それぞれ1か所当たり5回以上与え,放電中の指示値

を記録する。 

3) 指示値から基準値を差し引いた値を求める。 

6.2.17 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性試験 

無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性試験は,JIS C 61000-4-6によって

試験する。電圧及び周波数は,a) 又はb) による。X線又はγ線を照射して試験をする場合は,6.1.2に規

定の基準放射線を用いる。 

a) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置し,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程

度の指示を与えるX線又はγ線を照射する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 電圧10 V(140 dBμV),周波数150 kHzの妨害信号を電源線,信号線及び接地線に印加し,指示値

を記録する。 

4) 150 kHz〜80 MHz,周波数を1 %ステップで変化させ同様に試験し,各周波数における指示値を記

録する。 

5) 各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

b) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 電圧10 V(140 dBμV),周波数150 kHzの妨害信号を電源線,信号線及び接地線に印加し,指示値

を記録する。 

4) 150 kHz〜80 MHz,周波数を1 %ステップで変化させ同様に試験し,各周波数における指示値を記

録する。 

5) 各周波数における指示値から基準値を差し引いた値を求める。 

6.2.18 サージイミュニティ特性試験 

サージイミュニティ特性試験は,JIS C 61000-4-5によって試験する。開回路試験電圧は,印加箇所によ

って,a) 又はb) による。X線又はγ線を照射して試験をする場合は,6.1.2に規定の基準放射線を用いる。 

a) X線又はγ線を照射して試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置し,バックグラウンドの変化及び数え落としの影響が十分無視できる程

度の指示を与えるX線又はγ線を照射する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 次に示す開回路試験電圧のサージを電源ケーブルに10回印加し,印加中の指示値を記録する。 

− ライン−接地(AC電源):±2 kV 

− ライン−ライン間(AC電源):±2 kV 


13 

Z 4324:2017  

 

− ライン−接地(信号):±1 kV 

− DC電源:±2 kV 

4) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

b) X線又はγ線を照射しないで試験する場合 

1) 試験装置内にモニタを設置する。 

2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。 

3) 次に示す開回路試験電圧のサージを電源ケーブルに10回印加し,印加中の指示値を記録する。 

− ライン−接地(AC電源):±2 kV 

− ライン−ライン間(AC電源):±2 kV 

− ライン−接地(信号):±1 kV 

− DC電源:±2 kV 

4) 指示値から基準値を差し引いた値を求める。 

6.2.19 耐インパクト特性試験 

耐インパクト特性試験は,JIS C 60068-2-75及び次によって試験する。 

a) モニタの指示値を読み取り基準とする。 

b) モニタを動作させた状態で,スプリングハンマなどを用いて1 Jの衝突エネルギーを与える。試験は,

モニタの検出部を保護するきょう(筐)体上のそれぞれの面に対して,製造業者の指示する箇所につ

いて3回実施する。 

c) 衝撃を与えた後,基準値を読み取ったときと同じ条件で測定し,指示値を記録する。 

d) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

6.2.20 動作安定性試験 

動作安定性試験は,標準試験条件下で,連続100時間動作させ,その期間の警報の発生を記録する。 

 

検査 

7.1 

一般 

モニタの検査は,形式検査2) と受渡検査3) とに区分し,箇条6に規定する方法で行い,箇条4の規定に

適合したものを合格とする。 

なお,形式検査は,設計段階で一つ以上のモニタに対して行う。受渡検査の抜取検査の方式は,受渡当

事者間の協定による。 

注2) 製品の品質が,設計で示した全ての特性を満足するかどうかを判定するための検査。 

3) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする場合,必要と認める

特性が満足するものであるかどうかを判定するための検査。 

7.2 

形式検査 

形式検査は,次の項目について試験する。 

a) 直線性 

b) エネルギー特性 

c) 方向特性 

d) 指示値変動 

e) 応答時間 

f) 

ドリフト 


14 

Z 4324:2017  

 

g) オーバロード特性 

h) 警報レベルの誤差 

i) 

警報レベルの安定性 

j) 

温度特性 

k) 湿度特性 

l) 

電源電圧・周波数の変動に対する安定性 

m) 放射無線周波数電磁界に対するイミュニティ特性 

n) 電源周波数磁界イミュニティ特性 

o) 静電気放電イミュニティ特性 

p) 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性 

q) サージイミュニティ特性 

r) 耐インパクト特性 

s) 

動作安定性 

7.3 

受渡検査 

受渡検査項目は,直線性とするほか,受渡当事者間の協定によって定める項目とする。 

 

表示 

モニタには,見やすい箇所に容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければならない。 

a) 規格名称又は規格番号 

b) 名称及び形名 

c) 製造番号 

d) 製造年月又はその略号 

e) 製造業者名又はその略号 

f) 

基準照射方向 

 

取扱説明書 

モニタには,次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。 

a) 検出器の種類及び寸法 

b) 直線性 

c) 警報レベルの誤差 

d) エネルギー特性 

e) 方向特性 

f) 

有効測定範囲 

g) 警報設定範囲 

h) 据付方法 

i) 

その他の取扱い上の注意事項 

 

 


15 

Z 4324:2017  

 

附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

 

JIS Z 4324:2017 X線及びγ線用据置形エリアモニタ 

IEC 60532:2010,Radiation protection instrumentation−Installed dose rate meters, 
warning assemblies and monitors−X and gamma radiation of energy between 50 keV and 
7 MeV 

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

1 適用範
囲 

原子力施設及び放射線施
設の建屋内の作業環境に
おける,X線及びγ線の周
辺線量当量率を連続的に
監視するための据置形の
エリアモニタについて規
定する。 

 

50 keV〜7 MeVのエネ
ルギーのX線及びγ線
の空気カーマ,線量当
量,又は他の等方的な照
射量を測定するための
据置形のエリアモニタ。 

変更 

適用製品の使用環境を考慮し適用
範囲を建屋内に限定した。日本では
通常周辺線量当量率で測定されて
いるため,測定対象量を周辺線量当
量率に限定した。 

技術的な差異はない。 

2 引用規
格 

 

 

 

 

 

 

 

3 用語及
び定義 

JIS Z 4001及びJIS Z 8103
によるほか,合計15の用
語及び定義を規定。 

 

JISとほぼ同じ。 

削除 
追加 

本体で使用されているものを追加,
使用されていないものを削除とし
た。 

技術的な差異はない。 

4 性能 

4.1 直線性 
相対レスポンス 
(0.7−Urel)〜(1.3+Urel) 

 

6.3 

拡張不確かさの包含係
数の記載がない。 

追加 

拡張不確かさの包含係数を明確に
するために,包含係数(k=2)を規定
した。 

技術的な差異はない。 

4.2エネルギー特性 
レスポンスに対する比 
(0.75−Urel)〜(1.4+Urel) 

 

6.4 

レスポンスに対する比 
0.75〜1.4 

追加 

IEC規格には,許容範囲に拡張不確
かさが記載されていないため追加
した。 

技術的な差異はない。 

 

 

3

 

Z

 4

3

2

4

2

0

1

7

 

 

 

 

 


16 

Z 4324:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

4 性能 
(続き) 

4.5 応答時間 
60秒未満 
計数値積算方式を記載し
た。 

 

6.10 

60 μGy/h未満,60 μGy/h
〜1 000 μGy/h,1 000 
μGy/hより大きい場合
に分けて規定している。 
計数値積算方式の記載
はなし。 

変更 

IEC規格では,測定前後の線量率が
指定されていない等記載が明確で
ないため,要求を60秒未満という
内容に集約した。国内では計数値積
算方式のモニタが存在するため,そ
の記載を追加した。 

技術的な差異はない。 
 

4.6 ドリフト 
照射しないで試験する場
合 
試験中にX線又はγ線を
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。 

 

6.11 

JISの照射しないで試験
する場合と同じ。 

追加 

IEC規格では,感度変化による指示
値の変動が確認できないため,X線
又はγ線を照射して実施する試験
を追加し,いずれかの試験を選択で
きるようにした。 

技術的な差異はない。 
 

4.8 警報レベルの誤差 
±30 % 

 

6.12 

警報レベルの誤差の規
格値が規定されていな
い。 

変更 

IEC規格には,規格値が規定されて
いないため,規定値を規定すること
で要求の明確化を実施した。 

技術的な差異はない。 

4.9 警報レベルの安定性 
警報レベルの110 %の信
号入力したときに60秒以
内に警報が動作する。 

 

6.13 

警報レベル200 %の信
号を入力し,直ちに警報
が動作する。 

変更 

IEC規格の試験方法を要求に合わ
せて警報レベルの見直しと,警報動
作時間の明確化を実施した。 

技術的な差異はない。 

4.13 放射無線周波数電磁
界に対するイミュニティ
特性 
試験中にX線又はγ線を
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。 

 

7.2.4 

JISの照射して試験する
場合と同じ。 

追加 

国内では,X線又はγ線を照射した
状態でEMC試験の実施が困難のた
め,照射しない場合の要求を追加し
た。 

国内の試験機関環境による。 

 

 

 

3

 

Z

 4

3

2

4

2

0

1

7

 

 

 

 

 


17 

Z 4324:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

4 性能 
(続き) 

4.14 電源周波数磁界イミ
ュニティ特性 

0.7H

0以下 

 

7.2.9 

±15 % 

変更 

IEC規格では,照射したときと同じ
規格値を採用しているため,要求の
適正化を行った。 

国際規格を改正するよう提案を検
討する。 

4.15 静電気放電イミュニ
ティ特性 
試験中にX線又はγ線を
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。 

 

7.2.3 

JISの照射して試験する
場合と同じ。 

追加 

国内では,X線又はγ線を照射した
状態でEMC試験の実施が困難のた
め,照射しない場合の要求を追加し
た。 

国内の試験機関環境による。 

4.16 無線周波電磁界によ
って誘導する伝導妨害に
対するイミュニティ特性 
試験中にX線又はγ線を
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。 

 

7.2.7 

JISの照射して試験する
場合と同じ。 

追加 

国内では,X線又はγ線を照射した
状態でEMC試験の実施が困難のた
め,照射しない場合の要求を追加し
た。 

国内の試験機関環境による。 

4.17 サージイミュニティ
特性 
試験中にX線又はγ線を
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。 

 

7.2.6 

JISの照射して試験する
場合と同じ。 

追加 

国内では,X線又はγ線を照射した
状態でEMC試験の実施が困難のた
め,照射しない場合の要求を追加し
た。 

国内の試験機関環境による。 

5 構造 

5.3 指示部 

 

4.2.3 

指示部という区分けが
ない。 

追加 

モニタの構成に指示部を追加し,
IEC規格のモニタの指示要求を記
載した。 

技術的な差異はない。 

6 試験 

6.1.2 基準放射線 
基準放射線による試験は,
JIS Z 4511又はISO 
4037-1〜ISO 4037-4に規
定するX線及び/又はγ
線で行う。 

 

5.6.1 

基準放射線による試験
は,ISO 4037-1〜ISO 
4037-4に規定するX線
及び/又はγ線で行う。 

追加 

国内ではJIS Z 4511で規定されて
いるものを使用しているため,追加
した。 

JIS Z 4511は改正予定。 

 

 

3

 

Z

 4

3

2

4

2

0

1

7

 

 

 

 

 


18 

Z 4324:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6 試験 
(続き) 

6.2.1 一般 
ゼロ調整を行った後に実
施する。 

 

試験方法の一般要求に
は記載がなく,6.11に記
載している。 

追加 

ゼロ調整後の試験は,全ての試験に
共通するため,一般に記載すること
とした。 

技術的な差異はない。 

6.2.2 直線性試験 
試験前のモニタ調整と電
気信号の説明を記載した。 

 

6.3 

調整の記載と電気信号
の具体的な説明がない。 

追加 

理解のためにIEC規格では,明確
に記載されていなかった手順及び
説明を記載した。 

技術的な差異はない。 

6.2.3 エネルギー特性試験 
は基準照射線源を使用す
る。 

 

6.4 

基準照射線源の使用の
記載がない。 
具体的なエネルギーが
記載されている。 

追加 
削除 

IEC規格では,この試験で基準放射
線を使用することが明確にされて
いなかったため,明確にするため追
加した。国内において,低線量率の
X線の照射ができないため,具体的
なエネルギーは規定しないことと
した。 

国内の試験機関環境による。 

6.2.5 指示値変動試験 
10回指示値を読み取る。 

 

6.9 

読取回数の記載がない。 追加 

IEC規格では明確にされていなか
った読取回数を明確にした。 

技術的な差異はない。 

6.2.7 ドリフト試験 
X線又はγ線を照射しな
いで試験する場合とX線
又はγ線を照射して試験
する場合のいずれかを選
択する。 

 

6.11 

JISの照射しないで試験
する場合と同じ。 

追加 

IEC規格の記載では,感度変化によ
る指示値の変動が確認できないた
め,X線又はγ線を照射して実施す
る試験を追加し,いずれかの試験を
選択できるようにした。 

技術的な差異はない。 

6.2.9 警報レベルの誤差試
験 
誤差を算出する方法を記
載した。 

 

6.12 

指示値から警報レベル
の誤差を算出する方法
の記載がない。 

追加 

IEC規格では,指示値から警報レベ
ルの誤差を算出する方法が明確で
なかったため,記載した。 

技術的な差異はない。 

 

 

 

 

3

 

Z

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3

2

4

2

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1

7

 

 

 

 

 


19 

Z 4324:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6 試験 
(続き) 

6.2.10 警報レベルの安定
性試験 
指示値の110 %の指示値
に相当する信号を入力し
たときに60秒以内に警報
が動作する。 

 

6.13 

指示値の200 %の指示
値に線量率のX線又はγ
線を照射したときに,直
ちに警報が動作する。 

変更 

IEC規格の試験方法を要求に合わ
せて警報レベルの見直しと,警報動
作時間の明確化を実施した。電気信
号による試験を追加し,いずれか選
択できるようにした。 

技術的な差異はない。 

6.2.11 温度特性試験 
各部を分割して実施する
試験方法を記載した。 

 

7.4.1 

分割して温度試験する
場合の記載がない。 

追加 

装置全体での試験が困難な場合は,
各部を分割して試験してもよいこ
とを追加した。 

技術的な差異はない。 

6.2.12 湿度特性試験 
各部を分割して実施する
試験方法を記載した。 

 

7.4.2 

分割して温度試験する
場合の記載がない。 

追加 

装置全体での試験が困難な場合は,
各部を分割して試験してもよいこ
とを追加した。 

技術的な差異はない。 

6.2.13 電源電圧及び周波
数の変動に対する安定性
試験 
使用する電源ごとに試験
方法を記載した。 

 

7.1 

交流電源を用いるモニ
タの試験方法だけ記載
している。 

追加 

国内では直流電源を用いるモニタ
が存在するため,直流電源を用いる
モニタの試験方法を追加した。 

技術的な差異はない。 

6.2.14 放射無線周波数電
磁界イミュニティ特性試
験 
試験中にX線又はγ線を
照射するか,照射しないか
のいずれかを選択する。 

 

7.2.4 

X線又はγ線を照射して
試験する試験方法だけ
記載している。また,照
射する線量率の記載が
ない。 

変更 
追加 

試験方法の明確化と,国内では,X
線又はγ線を照射した状態でEMC
試験の実施が困難のため,照射しな
い試験を追加し,いずれかの試験を
選択できるようにした。 

国内の試験機関環境による。 

6.2.16 静電気放電イミュ
ニティ特性試験 
試験中にX線又はγ線を
照射するか,照射しないか
のいずれかを選択する。 

 

7.2.3 

X線又はγ線を照射して
試験する試験方法だけ
記載している。また,照
射する線量率の記載が
ない。 

変更 
追加 

試験方法の明確化と,国内では,X
線又はγ線を照射した状態でEMC
試験の実施が困難のため,照射しな
い試験を追加し,いずれかの試験を
選択できるようにした。 

国内の試験機関環境による。 

 

 

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Z

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20 

Z 4324:2017  

 

(I)JISの規定 

(II)
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6 試験 
(続き) 

6.2.17 無線周波電磁界に
よって誘導する伝導妨害
に対するイミュニティ特
性試験 
試験中にX線又はγ線を
照射するか,照射しないか
のいずれかを選択する。 

 

7.2.7 

X線又はγ線を照射して
試験する試験方法だけ
記載している。また,照
射する線量率の記載が
ない。 

変更 
追加 

試験方法の明確化と,国内では,X
線又はγ線を照射した状態でEMC
試験の実施が困難のため,照射しな
い試験を追加し,いずれかの試験を
選択できるようにした。 

国内の試験機関環境による。 

6.2.18 サージイミュニテ
ィ特性試験 
試験中にX線又はγ線を
照射するか,照射しないか
のいずれかを選択する。 

 

7.2.6 

X線又はγ線を照射して
試験する試験方法だけ
記載している。また,照
射する線量率の記載が
ない。 

変更 
追加 

試験方法の明確化と,国内では,X
線又はγ線を照射した状態でEMC
試験の実施が困難のため,照射しな
い試験を追加し,いずれかの試験を
選択できるようにした。 

国内の試験機関環境による。 

7 検査 

7.1 一般 
7.2 形式検査 
7.3 受渡検査 

 

− 

− 

追加 

検査で実施する項目を規定した。 

技術的な差異はない。 

8 表示 

 

 

− 

− 

追加 

表示すべき項目を規定した。 

技術的な差異はない。 

9 取扱説
明書 

 

 

− 

− 

追加 

取扱説明書に記載する項目を規定
した。 

技術的な差異はない。 

 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60532:2010,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
− 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
− 変更  国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD  国際規格を修正している。 

 

3

 

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