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（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 記号及び略語 ··················································································································· 5
5 放射線透過撮影方法の分類及び補償原理 ··············································································· 6
5.1 分類及び適用 ················································································································ 6
5.2 補償原理（Compensation Principles，CP I，CP II，又はCP III） ············································ 7
6 一般的要求事項及び準備 ···································································································· 7
6.1 電離放射線の防護 ·········································································································· 7
6.2 表面の前処理及び製造工程 ······························································································ 7
6.3 デジタル画像における溶接継手の位置················································································ 8
6.4 デジタル画像の識別 ······································································································· 8
6.5 マーキング ··················································································································· 8
6.6 画像のオーバラップ ······································································································· 8
6.7 像質計及び透過度計の種類及び配置··················································································· 8
6.8 最小のIQI値 ················································································································ 9
6.9 技術者の資格 ··············································································································· 10
7 デジタル撮影のための推奨技法 ·························································································· 10
7.1 撮影配置 ····················································································································· 10
7.2 X線管電圧及びその他の放射線源の選択 ············································································ 16
7.3 検出器システム及び金属スクリーン·················································································· 18
7.4 放射線の照射方向 ········································································································· 21
7.5 散乱線の低減 ··············································································································· 21
7.6 線源−試験体間距離 ······································································································ 21
7.7 幾何学的拡大撮影技法 ··································································································· 24
7.8 一回の露出における最大撮影範囲····················································································· 25
7.9 デジタル処理 ··············································································································· 26
7.10 モニタの観察条件及びデジタル画像の保存 ······································································· 27
8 試験報告書 ····················································································································· 27
附属書A（規定）円周溶接継手に必要な推奨撮影枚数 ································································ 29
附属書B（規定）最小のIQI値 ······························································································ 34
附属書C（規定）基本空間分解能SRbの決定 ············································································ 43
附属書D（規定）CR撮影のための最小グレイ値の決定 ······························································ 47
附属書E（参考）グレイ値に関する補足事項············································································· 52
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ページ
附属書JA（参考）デジタルラジオグラフィの適用に関する事項 ··················································· 54
参考文献 ···························································································································· 56
附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 57
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本溶接協会（JWES）から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本工業規格 JIS
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溶接継手の放射線透過試験方法−
デジタル検出器によるX線及びγ線撮影技術
Non-destructive testing of welded joints-Methods of radiographic testing for
X- and gamma-ray techniques with digital detectors
序文
この規格は，2013年に第1版として発行されたISO 17636-2を基とし，技術的内容を変更して作成した
日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。
1
適用範囲
この規格は，金属材料の溶接継手のデジタル検出器によるX線及びγ線を用いた放射線透過試験方法に
適用する。デジタルラジオグラフィを適用する場合，フィルムラジオグラフィとの類似及び相違に配慮す
る必要がある。参考として，それらについて附属書JAに示す。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 17636-2:2013，Non-destructive testing of welds−Radiographic testing−Part 2: X- and gamma-ray
techniques with digital detectors（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2305 非破壊試験技術者の資格及び認証
注記 対応国際規格：ISO 9712，Non-destructive testing−Qualification and certification of NDT personnel
（MOD）
JIS Z 2306 放射線透過試験用透過度計
JIS Z 2307 放射線透過試験用複線形像質計による像の不鮮鋭度の決定
注記 対応国際規格：ISO 19232-5，Non-destructive testing−Image quality of radiographs−Part 5:
Determination of the image unsharpness value using duplex wire-type image quality indicators
（MOD）
JIS Z 4615 工業用X線装置の実効焦点寸法測定方法
2
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ISO 5576，Non-destructive testing−Industrial X-ray and gamma-ray radiology−Vocabulary
ISO 16371-1，Non-destructive testing−Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates
−Part 1: Classification of systems
ISO 17636-1，Non-destructive testing of welds−Radiographic testing−Part 1: X- and gamma-ray techniques
with film
ISO 19232-4，Non-destructive testing−Image quality of radiographs−Part 4: Experimental evaluation of
image quality values and image quality tables
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，ISO 5576及びJIS Z 2300によるほか，次による。
3.1
コンピューテッドラジオグラフィ，CR（computed radiography）
輝尽性蛍光体を用いたイメージングプレート（IP）及びIPからの情報をデジタル放射線透過画像（以下，
デジタル画像という。）に変換する読取装置によって構成される放射線透過撮影システム。
3.2
輝尽性蛍光体イメージングプレート，IP（storage phosphor imaging plate）
放射線のエネルギーを潜像として記録し，適切な波長の赤色光の刺激によって，吸収された放射線のエ
ネルギーに比例した蛍光を生じる発光材料を塗布したプレート。
注記 CRでは，フィルムの代わりにIPを使用する。このとき，IPを，例えば，線源−検出器間距離
（SDD）における検出器とする。
3.3
デジタル検出器システム，DDAシステム（digital detector array system）
電離放射線又は透過放射線をデジタル化するために個々のアナログのアレイ（センサ）に取り込み，機
器の入力領域に入射した放射線のエネルギーパターンに対応するデジタル画像に変換し，表示するために
コンピュータに転送する電子機器。
3.4
イメージングプレートの構造ノイズ，IPの構造ノイズ（structure noise of imaging plate）
受光層の不均一性（粒状性）及びIPの表面に起因するノイズ。
注記1 露出したIPの読取り後に，不均質性は，デジタル画像における固定パターンノイズが重なっ
て出現する。
注記2 このノイズは，デジタルCR画像の最大達成可能な像質を制限し，フィルム画像の粒状性と
比較できる。
3.5
デジタル検出器の構造ノイズ，DDAの構造ノイズ（structure noise of digital detector array）
検出器の素子（ピクセル）の特性が異なることに起因するノイズ。
注記 露光された非校正のDDAの読出しを行うと，デジタル画像に固定パターンのノイズが重なっ
てDDAの不均一性が出現する。したがって，全てのDDAは，読出し後，ソフトウェアによる
校正を行わなければならない（ソフトウェア及びガイドラインは製造業者によって提供され
る。）。適切な校正手順によって構造ノイズを低減することができる。
3
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3.6
グレイ値，GV（gray value）
デジタル画像における画素の数値。
注記 これは，一般的に画素値と表される値であり，検出器の応答特性，アナログ−デジタル値及び
検出器の信号に置き換えることができる。
3.7
線形化グレイ値，GVlin（linearized gray value）
検出器の露光線量と直線的に比例し，検出器が露光されていないときに0（ゼロ）値となる画素の数値。
注記 これは，一般的に線形化した画素値と表される値であり，線形化した検出器信号に置き換える
ことができる。
3.8
デジタル検出器の基本空間分解能，SRb検出器（basic spatial resolution of a digital detector）
デジタル画像において測定された固有の不鮮鋭度（3.27参照）の半分相当及び実効的な画素の大きさに
相当し，幾何学的拡大率（3.24参照）が1のときにデジタル検出器が解像できる最小の形状及び寸法。
注記1 この測定では，複線形像質計をデジタル検出器又はIP上に直接置く。
注記2 この不鮮鋭度の測定は，JIS Z 2307を参照。
注記3 この規格では，表記がない場合は，単位をmmとする。
3.9
デジタル画像の基本空間分解能，SRb画像（basic spatial resolution of a digital image）
デジタル画像において測定された合計不鮮鋭度（3.29参照）の半分相当及び実効的な画素の大きさに相
当し，デジタル画像において解像できる最小の形状及び寸法。
注記1 この測定では，複線形像質計を試験体上に直接置く（線源側）。
注記2 この不鮮鋭度の測定は，JIS Z 2307を参照。
注記3 この規格では，表記がない場合は，単位をmmとする。
3.10
信号対ノイズ比，SNR（signal-to-noise ratio）
指定されたデジタル画像の関心領域における，GVlinの標準偏差（ノイズ）に対するGVlinの平均値の比。
3.11
正規化された信号対ノイズ比，SNRN（normalized signal-to-noise ratio）
デジタル画像から測定されたSRbによる正規化，及び測定したSNR測定値から，次の式による算出の両方
又はいずれかによるSNR。
b
測定値
N
μm
6.
88
SR
SNR
SNR
×
=
ここに， SRb： 基本空間分解能（μm）
3.12
コントラスト対ノイズ比，CNR（contrast-to-noise ratio）
二つの画像領域における，信号レベルの標準偏差（ノイズ）の平均値に対する信号レベル平均値の差の
比。
注記 CNRは，像質の構成要素を表し，（溶接継手の）放射線減弱係数とSNRとの積にほぼ依存する。
デジタル画像において，適切なCNRに加えて，対象とする特徴を解像するために，適切な不鮮
4
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鋭度又はSRbも必要となる。
3.13
正規化されたコントラスト対ノイズ比，CNRN（normalized contrast-to-noise ratio）
デジタル画像から直に測定されたSRbによる正規化，及び測定したCNR測定値から，次の式による算出の
両方又はいずれかによって正規化されたCNR。
b
N
μm
6.
88
SR
CNR
CNR
×
=
測定値
ここに， SRb： 基本空間分解能（μm）
3.14
エイリアシング（aliasing）
入力された画像の空間周波数が，デジタル画像の出力可能な空間周波数よりも高い場合に画像に現れる
画像の乱れ。
注記 エイリアシングは，通常，直線におけるぎざぎざ，階段状の絵柄，又はモアレパターンとして
現れる。
3.15
連続した不良画素，CKP（cluster kernel pixel）
五つ以上の良好な周辺画素をもたない連続した不良画素。
3.16
呼び厚さ，公称厚さ，t（nominal thickness）
製造時の厚さ許容差を考慮しない場合の母材の呼び厚さ。
3.17
透過厚さ変化量，Δt（penetration thickness change）
呼び厚さに対する放射線ビームの入射角度の違いによる透過厚さの変化。
3.18
透過厚さ，w（penetrated thickness）
透過する全ての材料の呼び厚さによって算出される放射線照射方向における材料の厚さ。
3.19
試験体−検出器間距離，b（object-to-detector distance）
試験体の撮影部における線源側表面と検出器感光層との間の放射線ビームの中心軸に沿った最大距離。
3.20
線源寸法，d（source size）
放射線源寸法又は焦点寸法。
3.21
線源−検出器間距離，SDD（source-to-detector distance）
放射線照射方向で測定された線源と検出器との間の距離。
注記
SDD＝f＋b
ここに，
f： 線源−試験体間距離
b： 試験体−検出器間距離
3.22
線源−試験体間距離，f（source-to-object distance）
5
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放射線ビームの中心軸に沿った放射線源と試験体の検出器から最も遠い線源側表面との間の距離。
3.23
外径，De（external diameter）
管の呼び外径。
注記 外径に基づいて円周溶接継手に必要な推奨撮影枚数を求める場合は，附属書Aを参照。
3.24
幾何学的拡大率，v（geometric magnification）
SDDのfに対する比率。
3.25
原画像，生データ，オリジナル画像（original image, raw data）
CR又はデジタル検出器によって取り込まれた画像（検出器に関する補正を含む。）。
3.26
IQI値（IQI value）
透過度計又は像質計の示す像質の値（附属書B参照）。
3.27
固有の不鮮鋭度，ui（inherent unsharpness）
検出器システムに固有の不鮮鋭度で，全ての幾何学的不鮮鋭度を除き，検出器に隣接する複線形像質計
からデジタル画像上で測定された不鮮鋭度。
3.28
要求される最大画像不鮮鋭度，uIm（required maximum image unsharpness）
試験体の平らな面に置かれた複線形像質計のデジタル画像の測定に必要な最大の画像不鮮鋭度。
3.29
合計不鮮鋭度，uT（total unsharpness）
試験体表面に置かれた複線形像質計の検出器の平らな面における，デジタル画像から測定した検出器シ
ステムに固有の不鮮鋭度に幾何学的不鮮鋭度を含めた合計の不鮮鋭度。
3.30
不良画素の補間（bad pixel interpolation）
不良画素から本来得られるであろう画素値について，周囲の正常な画素を用いた演算による推定を行う
処理。
4
記号及び略語
この規格の目的のために，表1に示す記号及び略語を適用する。
表1−記号及び略語
記号又は略語
用語
b
試験体−検出器間距離
（3.19参照）
b'
二重壁撮影における試験体に垂直な試験体−検出器間距離 （7.1.6参照）
d
線源寸法
（3.20参照）
De
外径
（3.23参照）
f
線源−試験体間距離
（3.22参照）
f'
二重壁撮影における試験体に垂直な線源−試験体間距離
（7.1.6参照）
6
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表1−記号及び略語（続き）
記号又は略語
用語
GV
グレイ値
（3.6参照）
GVlin
線形化グレイ値
（3.7参照）
GVmin
最小グレイ値
（7.3.1参照）
SNR
信号対ノイズ比
（3.10参照）
SNRN
正規化された信号対ノイズ比
（3.11参照）
t
呼び厚さ
（3.16参照）
Δt
透過厚さ変化量
（3.17参照）
uG
幾何学的不鮮鋭度
（7.6参照）
ui
固有の不鮮鋭度
（3.27参照）
uIm
要求される最大画像不鮮鋭度
（3.28参照）
uT
合計不鮮鋭度
（3.29参照）
v
幾何学的拡大率
（3.24参照）
w
透過厚さ
（3.18参照）
CKP
連続した不良画素
（3.15参照）
CNR
コントラスト対ノイズ比
（3.12参照）
CNRN
正規化されたコントラスト対ノイズ比
（3.13参照）
CR
コンピューテッドラジオグラフィ
（3.1参照）
D
検出器
（7.1.2参照）
DDA
デジタル検出器
（3.3参照）
IP
輝尽性蛍光体イメージングプレート
（3.2参照）
IQI
像質計（透過度計）
（3.26参照）
S
放射線源
（7.1.2参照）
SDD
線源−検出器間距離
（3.21参照）
SRb
基本空間分解能
（3.8，3.9参照）
SRb検出器
デジタル検出器の基本空間分解能
（3.8参照）
SRb画像
デジタル画像の基本空間分解能
（3.9参照）
iSRb
補間された基本空間分解能
（附属書C参照）
iSRb検出器
補間された検出器の基本空間分解能
（附属書C参照）
5
放射線透過撮影方法の分類及び補償原理
5.1
分類及び適用
デジタル放射線透過撮影方法（以下，デジタル撮影技法という。）は，二つの像質クラスに分類される。
− クラスA：基本的な技法
− クラスB：像質改善技法
クラスAでは，検出が不十分な場合は，クラスBを適用する。
クラスBに比べてよりよい撮影方法を適用する場合には，契約当事者間で全ての試験パラメータについ
て合意することが望ましい。
デジタル撮影技法の選択は，契約当事者間で合意しなければならない。
きずの識別性は，JIS Z 2306に基づく透過度計及びJIS Z 2307に基づく像質計を使用して検証する。
クラスBにおいて，技術的な理由によって，放射線源の種類又は線源−試験体間距離fのような指定さ
れた条件のうち一つを満たすことができない場合，クラスAで指定された条件に変更することに契約当事
者間で合意してもよい。
きずの識別性の低下を補償するためには，CRでは最小GV及びSNRNを，DDAではSNRNをそれぞれ増
7
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加させる。この場合，SNRNを1.4より大きい係数で増加させることが推奨される。この結果，クラスAと
比較して感度がよく，要求するIQI感度が得られた場合，クラスBに分類してもよい。撮影配置7.1.4及
び7.1.5について，7.6に記載する特別のSDD短縮が適用される場合は，クラスBへの分類は適用できな
い。
5.2
補償原理（Compensation Principles，CP I，CP II，又はCP III）
5.2.1
概要
デジタル検出器を用いたデジタル撮影で十分なコントラスト感度を得るために，5.2.2〜5.2.4に規定する
補償原理を適用する。
これらは，検出可能な試験体の厚さの差Δw当たりの検出器のSRbで正規化された最小のCNRNを得るも
のである。次の5.2.2〜5.2.4に示すコントラスト，鮮鋭度のうち一つが十分でないために，要求されたΔw
当たりのCNRNを得ることができない場合，信号対ノイズ比（SNR）の増加分で補償することができる。
5.2.2
CP I
コントラストの低下に対するSNRの増加（例えば，X線管電圧の増加に対してX線管電流又は照射時間
を増加させる）により補償する。
5.2.3
CP II
鮮鋭度が十分でない（表B.13及び表B.14に示すよりもSRb値が大きい）検出器に対するSNRの増加に
より補償する（複線形像質計において規定の線対が分解できない場合に，針金形透過度計，有孔形透過度
計又は有孔階段形透過度計の識別感度を増加させるために，SNRを増加させる。）。
5.2.4
CP III
DDAの不良画素修正によって生じる局所的な不鮮鋭度の増加に対するSNRの増加により補償する。
5.2.5
理論背景
これらの補償原理は，小さい寸法のきずについて次の近似式に基づく（Δw≪w）。
b
eff
N
Δ
SR
SNR
μ
c
w
CNR
=
ここに，
c： 定数
μeff： 特定の材質コントラストと等しい実効エネルギーの減弱係
数
6
一般的要求事項及び準備
6.1
電離放射線の防護
電離放射線を使用する場合，地域，国又は国際的に定められた防護措置を適用しなければならない。
警告 X線又はγ線による被ばくは，健康にとって非常に有害になる可能性がある。放射線透過試験
装置又は線源を使用する場合には，適切な法的要件を適用しなければならない。
6.2
表面の前処理及び製造工程
一般的に試験する溶接継手への表面仕上げは必要ないが，表面の不完全部又はコーティングが欠陥の検
出を困難にする可能性がある場合，表面は滑らかに研磨するか，又はコーティングを除去しなければなら
ない。
特別の規定がない限り，デジタル撮影は，製造の最終段階，例えば，研磨又は熱処理の後に実施しなけ
ればならない。
8
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6.3
デジタル画像における溶接継手の位置
デジタル画像において溶接継手が明確にならない場合，高密度材によるマーカ（例えば，鉛マーク）を
溶接継手近傍に置かなければならない。
6.4
デジタル画像の識別
デジタル撮影を行う溶接継手の各部分に，鉛マークを置かなければならない。これらの鉛マークの画像
は，デジタル画像において関心領域の外側に表示され，かつ，当該部分が明確に特定されなければならな
い。
6.5
マーキング
各デジタル画像の位置を正確に特定するために，溶接継手に容易に消失しないマーキング（例えば，基
準点，方向，識別及び位置）を施さなければならない。
材料の特性及びその使用条件の両方又は一方の理由によって，容易に消失しないマーキングが実施でき
ない場合，その場所を正確な略図又は写真で記録してもよい。
6.6
画像のオーバラップ
ある部分を二つ以上の別々の検出器（IP）を用いてデジタル撮影しなければならない場合，全ての関心
領域がデジタル撮影されるように，それらの検出器による撮影範囲は十分なオーバラップをもたせなけれ
ばならない。このオーバラップは，各デジタル画像において試験体表面の高密度材によるマーカ（例えば，
鉛マーク）によって確認しなければならない。デジタル画像が連続して撮影される場合，高密度材による
マーカは，各デジタル画像において確認されなければならない。
6.7
像質計及び透過度計の種類及び配置
像質は，JIS Z 2307に基づく像質計及びJIS Z 2306に基づく透過度計を使用して確認する。
附属書Cに記載した手順に従い，参照画像によってデジタル検出器システムのSRbを確認する。システ
ムのハードウェアが表B.13及び表B.14に指定された要求事項を満たしているかどうかを確認するために，
SRb又は複線形像質計のIQI値が決定されなければならない。この場合，複線形像質計は，デジタル検出器
の上に直接配置されなければならない。
製品のデジタル撮影への複線形像質計（JIS Z 2307）の使用は，必須ではない。製品のデジタル撮影に
おいて針金形透過度計に加えて複線形像質計を使用することは，契約当事者間の合意の一部であってもよ
い。製品のデジタル撮影に使用する場合，複線形像質計は，試験体の上に配置する。
デジタル画像（附属書C参照）において測定された基本空間分解能（SRb画像）は，透過厚さ（表B.13
又は表B.14）の関数として指定された最大値を超えてはならない。
単壁撮影の場合，透過厚さは，管の呼び厚さtとする。
二重壁両面撮影（図11又は図12）において，複線形像質計を管の線源側に配置する場合，表B.13及び
表B.14に示されるSRb画像の要求値の決定に用いる透過厚さは，外径Deを用いる。二重壁両面撮影の
SRb検出器の要求値は，表B.13及び表B.14に示される透過厚さとして管の呼び厚さtの2倍の値を用いて選
択した値とする。
幾何学的拡大率νが1.2を超えて幾何学的拡大撮影技法（7.7参照）を適用する場合，複線形像質計（JIS
Z 2307）は，全ての製品のデジタル撮影に使用する。
複線形像質計は，デジタル画像の水平方向又は垂直方向に対し数度（2〜5°）傾けて配置しなければな
らない。
なお，SRbは大きい方の値とする。また，複線形像質計をデジタル画像の水平方向又は垂直方向に対し
て45°傾けて配置する場合は，複線形像質計のIQI値を，例えば，D11をD10とするように，一つ減少さ
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せる。
デジタル画像のコントラスト感度は，個々の用途に応じて，表B.1〜表B.12及び表B.15〜表B.18にお
いて規定されるIQI値を用いて確認する（JIS Z 2306参照）。
使用する針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度計は，試験体の線源側，溶接線近傍の
母材上における試験対象範囲の中心に配置する。透過度計は，試験体の表面に密着させ，その場所は，均
一な厚さの部分で，デジタル画像において均一なGVを示さなければならない。
使用する透過度計によって，次のa)及びb)を考慮する。
a) 針金形透過度計は，溶接線に対して垂直に置き，針金長の少なくとも10 mmは，通常，溶接線に隣接
する母材部で，均一なGV又はSNRNを示す領域に配置する。二重壁両面撮影（7.1.6及び7.1.7）の透
過度計は，配管軸に直交して配置し，針金像が溶接線の像と重ならないようにする。
b) 有孔形透過度計及び有孔階段形透過度計を使用する場合，識別されなければならない孔は，溶接線に
近接して配置する。
二重壁両面撮影（7.1.6及び7.1.7）では，透過度計を線源側に配置する。線源側に配置することができな
い場合は，透過度計を検出器側に配置してよいが，少なくとも1回は線源側に置いた透過度計と検出器側
に置いた透過度計とを同一条件で比較撮影して像質を決定しなければならない。フィルタを検出器の前で
使用する場合，透過度計はフィルタの前に配置する。
透過度計を検出器側に配置する二重壁撮影については，上記の試験は必要ない。ただし，この場合は，
透過度計を検出器側に置いた場合の対応表を参照する（表B.9〜表B.12及び表B.18）。
透過度計を検出器側に配置する場合は，鉛文字Fを透過度計の近くに配置し，試験報告書に記載する。
識別番号及び鉛文字Fを使用する場合には，幾何学的配置が実際的でない場合を除き，試験対象範囲内
にこれらを配置してはならない。
類似した溶接継手及び撮影個所について，同じ撮影条件及び処理技術で，像質に差異がない場合には，
デジタル画像ごとに像質を確認する必要はない。像質の確認の程度は，契約当事者間の合意の対象とする
のが望ましい。
直径200 mm以上の管に対して，線源を管の中心に置いて撮影を行う場合，少なくとも三つの透過度計
を周囲に等間隔に配置するのが望ましい。これらの透過度計の画像から円周溶接継手の全ての範囲の像質
を確認することができる。
6.8
最小のIQI値
金属材料の最小のIQI値は，表B.1〜表B.18による。
なお，金属材料の放射線の減弱が透過度計のそれと異なる場合には，IQI値の要求事項は，ISO 19232-4
に従って契約当事者間の合意によるとしてもよい。
192Ir又は75Seが使用される場合には，表B.1〜表B.12及び表B.15〜表B.18に記載されているものより
低いIQI値は，契約当事者間の合意に基づき次によってもよい。
二重壁両面撮影方法，クラスA及びBの両方（透過厚さwは，呼び厚さtの2倍とする。）
− wが10 mmを超え25 mm以下 192Irについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
− wが5 mmを超え12 mm以下 75Seについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
単壁撮影方法（内部線源撮影方法及び内部検出器撮影方法）及び二重壁片面撮影方法，クラスA：
− wが10 mmを超え24 mm以下 192Irについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
10
Z 3110：2017
2ランク大きくする
− wが24 mmを超え30 mm以下 192Irについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
− wが5 mmを超え24 mm以下 75Seについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
単壁撮影方法（内部線源撮影方法及び内部検出器撮影方法）及び二重壁片面撮影方法，クラスB：
− wが10 mmを超え40 mm以下 192Irについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
− wが5 mmを超え20 mm以下 75Seについては，識別できる最小の線径又は識別できる最小の孔径を
1ランク大きくする
6.9
技術者の資格
この規格に従い，放射線透過試験を行う技術者は，JIS Z 2305又は同等の規定に従って関連する工業分
野における放射線透過試験の適切なレベルの資格をもち，かつ，デジタル工業用放射線試験における教育
及び訓練を受けなければならない。
7
デジタル撮影のための推奨技法
図1〜図19の記号の定義は，表1による。
7.1
撮影配置
7.1.1
一般事項
デジタル撮影の配置として，通常，7.1.2〜7.1.9が使用される。
溶接継手の幾何学的形状，材料厚の差異などの理由から，撮影配置について，契約当事者間で合意して
もよい。7.1.2〜7.1.8以外の例としての撮影技法を7.1.9に示す。さらに，同じ材料による厚さの補償くさ
びを適用することができる。
幾何学的拡大撮影技法を用いない場合，検出器をできるだけ試験体に近づけて配置する。
7.1.2
基本的な撮影
図1−溶接継手に対する検出器及び線源の配置
11
Z 3110：2017
7.1.3
外部線源−内部検出器撮影方法の配置（図2〜図4参照）
図2 b)に示すようにハードカセット又は平面DDAを使用する場合，線源−検出器間距離SDDは呼び厚
さt，溶接継手の試験体−検出器間距離bにおける最大距離及び線源寸法dから，7.6の式(3)及び式(4)に規
定するように算出しなければならない。
配管における突合せ継手の全周を試験する場合，デジタル撮影の最低必要枚数は，附属書Aによる。
a) 曲率検出器の場合
b) 平面検出器の場合
図2−曲面溶接継手の単壁撮影配置
図3−曲面溶接継手の単壁撮影配置（差込形溶接継手）
図4−曲面溶接継手の単壁撮影配置（突当形溶接継手）
7.1.4
内部線源撮影方法（全周同時撮影）の配置（図5〜図7参照）
配管における突合せ継手の全周を試験する場合，デジタル撮影の最低必要枚数は，附属書Aによる。
12
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図5−曲面溶接継手の単壁撮影配置（平面検出器は適用不可）
図6−曲面溶接継手の単壁撮影配置（差込形溶接継手）
図7−曲面溶接継手の単壁撮影配置
7.1.5
内部線源撮影方法（分割撮影）の配置（図8〜図10参照）
図8 b)に示すようにハードカセット又は平面DDAを使用する場合，線源−検出器間距離SDDは呼び厚
さt，溶接継手の試験体−検出器間距離bにおける最大距離及び線源寸法dから，7.6の式(3)及び式(4)に規
定するように算出しなければならない。
配管における突合せ継手の全周を試験する場合，デジタル撮影の最低必要枚数は，附属書Aによる。
a) 曲率検出器の場合
b) 平面検出器の場合
図8−曲面溶接継手の単壁撮影配置
13
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図9−曲面溶接継手の単壁撮影配置（差込形溶接継手）
図10−曲面溶接継手の単壁撮影配置（突当形溶接継手）
7.1.6
二重壁両面撮影方法の配置（図11参照）
図11に示すだ（楕）円形の撮影方法（二重壁両面撮影方法）は，外径De＞100 mm又は呼び厚さt＞8 mm
又は溶接線の幅＞De/4の場合には使用してはならない。t/De＜0.12であれば，90°ずらした2枚の画像で
十分である。それ以外の場合は3枚の画像が必要となる。線源側と検出器側の溶接継手の像の間の距離は，
溶接線の幅と同程度とする。
放射線の照射角度はできるだけ小さくし，かつ，線源側と検出器側の溶接継手の像が重ならないように
しなければならない。
注記 線源−試験体間距離は，b'から垂直距離f'を求めてもよい。
図11−曲面溶接継手の両側を評価する二重壁両面撮影配置（線源及び検出器は溶接試験体の外側）
7.1.7
二重壁両面撮影方法（垂直撮影方法）の配置（図12参照）
De≦100 mmであって図11の二重壁両面撮影方法を行うことが困難な場合には，図12に示すように，
垂直に撮影してもよい。この場合は，120°又は60°離れた3枚の画像が必要である。
14
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図12−曲面溶接継手の両側を評価する二重壁両面撮影配置（線源及び検出器は溶接試験体の外側）
7.1.8
二重壁片面（図13〜図15参照），曲面及び隅肉溶接継手の撮影方法の配置（図16〜図18参照）
図13及び図14に従った撮影配置については，放射線の照射角度はできるだけ小さくし，かつ，線源側
と検出器側の溶接継手の像が重ならないようにしなければならない。
図13の撮影配置では，線源−試験体間距離fは，7.6に従ってできるだけ小さくする。透過度計は，鉛
文字Fと一緒に検出器に近づけて配置する。
図13 b)及び図14 b)に示すようにハードカセット又は平面DDAを使用する場合，線源−検出器間距離
SDDは呼び厚さt，溶接継手の試験体−検出器間距離bにおける最大距離及び線源寸法dから，7.6の式(3)
及び式(4)に規定するように算出しなければならない。
配管における突合せ継手の全周を試験する場合，デジタル撮影の最低必要枚数は，附属書Aによる。
a) 曲率検出器の場合
b) 平面検出器の場合
図13−二重壁片面撮影方法（主に口径の小さな場合）の配置
a) 曲率検出器の場合
b) 平面検出器の場合
図14−二重壁片面撮影方法（主に口径の大きい場合）の配置
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図15−二重壁片面撮影方法（縦方向溶接継手）の撮影配置
図16−曲面溶接継手の検出器側を評価する撮影配置
a) 肉厚補償くさびなしの試験配置
b) 肉厚補償くさびありの試験配置
記号
1
肉厚補償くさび
図17−隅肉溶接継手の撮影配置
図18−隅肉溶接継手の撮影配置
16
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7.1.9
透過厚さが異なる溶接継手の撮影配置（図19参照）
図19−複合検出器を用いた撮影配置（CRに適用）
7.2
X線管電圧及びその他の放射線源の選択
7.2.1
X線管電圧1 000 kV以下のX線装置
良好なきずの検出性を維持するために，可能な限りX線管電圧は低く，かつ，デジタル画像におけるSNRN
は高くするのがよい。X線管電圧に対する透過厚さの推奨最大値を図20に示す。これらの最大値は，フィ
ルムによる撮影技法における最も実用的な値である。
DDAは，正確な校正の後では，図20によって示される値より高いX線管電圧で十分な像質を得ること
ができる。
構造ノイズの大きな粗粒の高感度IPをクラスBの撮影に用いる場合は，図20で示す値より20 %低いX
線管電圧を適用するのが望ましい。
構造ノイズの小さな細粒の高鮮鋭度IPは，X線フィルムと同程度の露出量であり，図20のX線管電圧
又はSNRNが十分に大きい場合，高いX線管電圧で撮影をすることができる。
注記 CP I
− コントラスト感度の改善は，一定のSNRNでコントラストの増加によって得られる（X線
管電圧の低下及び高い露出量による補償など）。
− コントラスト感度の改善は，一定のコントラスト（一定のX線管電圧）において，SNRN
の増加によって得られる（高い露出量による）。
− X線管電圧の上昇（一定の露出において）によってコントラストが下がり，SNRNが増加す
る。SNRNの増加が高いエネルギーによるコントラストの低下より大きい場合，コントラス
ト感度は改善する。
放射線透過試験において厚さの変化が試験体の適用範囲を超えた場合，より高いX線管電圧を使った撮
影方法を適用してもよい。しかし，必要以上に高いX線管電圧が欠陥検出感度の低下を招くことに注意し
なければならない。
17
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図20−各種材料に対する1 000 kV以下のX線装置のX線管電圧と透過厚さとの関係
7.2.2
その他の放射線源
γ線源及び1 MeVを超える高エネルギーX線発生装置に対する透過厚さの推奨値を表2に示す。
薄い鋼試験体に対して，75Se，192Ir又は60Coなどのγ線源を使用する場合は，X線による適切な撮影条
件で撮影した時と同じぐらいの良好なきず検出性をもつデジタル画像を得ることはできない。しかし，X
線装置の使用が難しい場合には，取扱い及び接近性を考慮してγ線源を使用する必要がある。これらγ線
源の使用可能な透過厚さの範囲を表2に示す。
透過厚さは，契約当事者間の合意があれば，更に192Irでは10 mmまで，75Seでは5 mmまで減らしても
よい。
特定の用途については，十分な品質の画像が得られる場合，より広い透過厚さの範囲を認めることがで
きる。
γ線によるCRを使ったデジタル撮影を行う場合，線源の撮影位置までの往復時間の合計は，露出時間
の10 %を超えてはならない。DDAを使った場合，線源が撮影位置になった後，画像の取込みを開始し，
線源を元に戻す前に終了しなければならない。
十分なIQI感度を証明することができる場合，表2に示す最大透過厚さを超えてもよい。
18
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表2−鋼，銅及びニッケル合金に対するγ線源及び1 MeVを超える高エネルギーX線発生装置による
透過厚さの範囲
放射線源
透過厚さ
w
mm
クラスA
クラスB
170Tm
5以下
5以下
169Yb a)
1以上
15以下
2以上
12以下
75Se b)
10以上
40以下
14以上
40以下
192Ir
20以上 100以下
20以上
90以下
60Co
40以上 200以下
60以上 150以下
1 MeVから4 MeVの高エネルギーX線発生装置
30以上 200以下
50以上 180以下
4 MeVから12 MeVの高エネルギーX線発生装置
50以上
80以上
12 MeVを超える高エネルギーX線発生装置
80以上
100以上
注a) アルミニウム及びチタンのための透過厚さwは，10 mm以上70 mm以下でクラスA，25 mm以上55 mm
以下でクラスBとする。
b) アルミニウム及びチタンのための透過厚さwは，35 mm以上120 mm以下でクラスAとする。
7.3
検出器システム及び金属スクリーン
7.3.1
最小のSNRN
デジタル撮影では，表3及び表4に示す最小SNRN値を満たさなければならない。CRでは最小SNRN値
に対応する最小グレイ値（GVmin）を満たしていればよい（附属書D参照）。
附属書Dは，SNRNの測定用手順を示す。附属書Dは，SNRN値の代わりに正規化されていないSNR値
を使用する場合，使用者にとって必要な換算表を示す。
使用するIP及びスキャナ並びにそれらの設定に対して，附属書Dの手順によって表3及び表4で要求
する最小SNRN値と同等のGVminが求まるならば，その値を使用してもよい。
注記1 グレイ値に関する補足事項を，参考として附属書Eに示す。
SNRN値は，溶接線近傍で母材の厚い側に置いた針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度
計の近くで，かつ，厚さ及びGVが均一な範囲で測定する。CRだけに用いるGVは，針金形透過度計，有
孔形透過度計又は有孔階段形透過度計近くの溶接継手の関心領域で測定する。試験体の表面粗さが画像ノ
イズ及びSNRNに影響を及ぼすため，表3の値を推奨値とする。SNRNの測定を溶接継手の熱影響部で実施
する場合，最小SNRN値は，表3及び表4の値の1.4倍とする。ただし，溶接継手の余盛及び裏波を仕上げ
て母材と同じ厚さにした場合は，この限りではない。
注記2 フィルム撮影技法において，熱影響部で測定した場合の濃度は，通常，3.5から4の間となる。
これは，濃度2以上である余盛の中心と比較して1.4倍高いSNRNになることに相当する。熱
影響部は，一定のGVの領域にあり，SNRNの正確な測定が可能であるため，熱影響部でSNRN
を測定することを推奨する。
附属書Dは，要求されるSNRNの代わりとなる同等のCRのGVminの算出方法を示す。
附属書Dには，SNRNの代わりに正規化しないSNRの測定値を用いるための換算表を示す。最小の正規
化しないSNRは，SRb検出器並びに表3及び表4の要求されるSNRN値から算出できる。
フィルム撮影技法では，写真の合否基準として最小濃度を規定している。デジタル画像では，合否基準
を決めるために，CRの場合にはGVmin，SNRN値又はSNR値（附属書D参照）を定義し，DDAの場合に
は最小SNRN値又はSNR値（附属書D参照）を定義しておかなければならない。具体的な値が定義されて
19
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いない場合は，表3及び表4の値を満足しなければならない。異なる放射線源及び厚さに対する最小SNRN
値を，表3及び表4に示す。
注記3 SNRN測定の詳細は，ISO 16371-1及び附属書Dを参照。
7.3.2
CP II
針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度計によるIQI値（表B.1〜表B.12及び表B.15〜
表B.18）及び複線形像質計によるSRb画像（表B.13及び表B.14）の両方を満足しなければならない。使用
する検出器システム及び露出条件によって両方のIQI値を満足できない場合，針金形透過度計，有孔形透
過度計又は有孔階段形透過度計の識別度を向上させて，指定された値より大きい不鮮鋭度（又は指定され
た値より大きいSRb）を補償することができる。
例えば，ある検出器の構成では，D12及びW16（透過厚さ5 mm，クラスB−表B.3及び表B.14）の要
求値を満足できない場合，D11及びW17の値が同等の検出感度として扱うことができる。この補償方法に
よる場合，分離できない複線形像質計の線対を2ランク下げるのに対して，針金形透過度計の最小識別線
径を2ランクまで上げて改善することに限られる。特定の用途に対して要求されるきず検出感度が得られ
る場合，契約当事者間で合意されれば，補償を分離できない複線形像質計の線対が3ランクに対して，針
金形透過度計の最小識別線径を3ランクまで改善することに拡張してよい。
DDAに対するコントラスト感度は，所定の距離及びX線管電圧においてデジタル撮影するために使用
するX線管電流（mA）と露出時間との積に依存する。したがって，針金形透過度計，有孔形透過度計又
は有孔階段形透過度計の検出性は，時間及びX線管電流を増加することで高めることができる。これは，
CRへも適用されるが，IPの蛍光体層における構造ノイズによって制限を受ける。DDAシステムの場合，
最大SNRNは，校正手順の程度によって制限される。
SRb検出器は，設計及びハードウェアのパラメータによって決まる。
幾何学的拡大撮影技法を適用する場合，SRbは，基本空間分解能（SRb画像）から得られる。すなわち，複
線形像質計のIQI値の測定から求める（7.7参照）。
7.3.3
IP用金属スクリーン及び遮蔽
前方に金属スクリーンを使用する場合，検出器とスクリーンとの間に良好な接触が要求される。これは，
真空パックしたIP，又はスクリーンとIPが密着するよう圧力をかけることで実施してもよい。IPと密着
していない鉛はく（箔）スクリーンは，像の不鮮鋭度の一因となる場合がある。IPに接する鉛はくスクリ
ーンの使用で得られた増感効果は，フィルム撮影技法より小さい。
多くのIPは，鉛からの低エネルギー後方散乱線及び後方遮蔽の蛍光X線に対して極めて高い感度をも
つ。この影響は，端部の不鮮鋭度及びCNRの低下の大きな原因となるので，最小限にすることが望ましい。
鋼又は銅の遮蔽をIPの後方に直接置くことを推奨する。また，鉛板の後方散乱線とIPとの間の鋼又は銅
の遮蔽板は，像質を向上させることができる。最新のカセット及び検出器の設計は，この効果を考慮して
いるものがあり，この場合には，カセットの外側に追加の鋼又は銅の遮蔽板を必要としない。
注記 IPの保護層によって，増感効果はかなり弱められる。放射線エネルギー及び保護層の設計に依
存し，一般的なX線エネルギーの範囲で，増感効果はスクリーンを使用しない場合と比較する
と20 %から100 %の間である。
IPに密着させた鉛はくスクリーンの増感効果は小さく，鉛はくスクリーンを使用しなくても，露出時間
又はX線管電流の増加によって補償できる。IPに接触する鉛はくスクリーンは，慎重に取り外さないとIP
にきずを生じるおそれがある。そのため，鉛はくスクリーンは，カセット外側からの散乱線に対する中間
フィルタとしてカセット外側に使用することが望ましい。厚さ12 mm未満の鋼の検査においては，中間フ
20
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ィルタは推奨しない。
異なる放射線源用に推奨されるスクリーンの材料及び厚さを，表3及び表4に示す。要求される像質が
得られる場合，契約当事者間の合意によって，他のスクリーンの厚さを用いることができる。金属スクリ
ーンをIPの前に置くことを推奨しており，DDAに適用した場合にも，散乱線の影響を低減できる。
表3−鋼，銅及びニッケル基合金のデジタル撮影に関する最小SNRN値（CR及びDDA）
及び前方金属スクリーン（スクリーンはCRだけ）
放射線源
透過厚さ
w
mm
最小SNRN c)
前方金属スクリーンの種類及び厚さ
mm
クラスA クラスB
X線管電圧
50 kV以下
100
150
なし
X線管電圧d)
50 kVを超え 150 kV以下
70
120
0.1以下（鉛）
X線管電圧d)
150 kVを超え 250 kV以下
70
100
0.1以下（鉛）
X線管電圧d)
250 kVを超え 350 kV以下
50以下
70
100
0.3以下（鉛）
50を超え
70
70
0.3以下（鉛）
X線管電圧d)
350 kVを超え 1000 kV以下
50以下
70
100
0.3以下（鉛）
50を超え
70
70
0.3以下（鉛）
169Yb d)
5以下
70
120
0.1以下（鉛）
5を超え
70
100
0.1以下（鉛）
192Ir d)，75Se d)
50以下
70
100
0.3以下（鉛）
50を超え
70
70
0.1以上 0.4以下（鉛）
60Co a), b)
1 MeVを超え5 MeV以下の
高エネルギーX線発生装置a), b)
100以下
70
100
0.3以上 0.8以下（鋼又は銅）
＋ 0.6以上
2 以下（鉛）
100を超え
70
70
0.3以上 0.8以下（鋼又は銅）
＋ 0.6以上
2 以下（鉛）
5 MeVを超える
高エネルギーX線発生装置a), b)
100以下
70
100
0.6以上 4 以下（鋼，銅又は鉛）
100を超え
70
70
0.6以上 4 以下（鋼，銅又は鉛）
注a) 複合スクリーン（鋼＋鉛）の場合，鋼はくスクリーンをIPと鉛はくスクリーンとの間に置く。
b) 鋼又は鋼＋鉛の代わりに，像質の試験が可能な場合，銅，タンタル又はタングステンのスクリーンを使用し
てもよい。
c) 溶接継手の余盛及び裏波を平滑にして母材の厚さにする場合を除き，SNRNを熱影響部で測定する場合は，表
の数値を1.4倍しなければならない。
d) 鉛はくスクリーンは，鋼又は銅のスクリーンと全部又は一部を差し替えてもよい。鋼又は銅の等価厚さは，
鉛の厚さの3倍である。
21
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表4−アルミニウム及びチタンのデジタル撮影に関する最小SNRN値（CR及びDDA）
及び前方金属スクリーン（スクリーンはCRだけ）
放射線源
最小SNRN b)
前方金属スクリーンの
種類及び厚さ
mm
クラスA
クラスB
X線管電圧
150 kV以下
70
120
0.03以下（鉛）
X線管電圧
150 kVを超え 250 kV以下
70
100
0.2以下（鉛）a)
X線管電圧
250 kVを超え 500 kV以下
70
100
0.2以下（鉛）a)
169Yb
70
100
0.2以下（鉛）a)
75Se
70
100
0.3以下（鉛）a)
注a) 0.2 mmの鉛の代わりに，0.1 mmのスクリーンとし，0.1 mmの追加フィルタをカ
セットの外側に使用してもよい。
b) 溶接継手の余盛及び裏波を平滑にして母材の厚さにする場合を除き，SNRNを熱影
響部で測定する場合は，表の数値を1.4倍しなければならない。
7.4
放射線の照射方向
放射線の照射方向は，試験対象範囲の中心に向け，その点における試験面との角度を，直角としなけれ
ばならない。ただし，特定の不完全部が，異なる放射線の照射方向によって検出できる場合は，この限り
でない。この場合は，放射線の照射方向を適切な方向に調整することができる。
例 開先部の融合不良を検出する場合，放射線の照射方向は溶接の開先角度に合わせることによって
良好な結果が得られる。
7.5
散乱線の低減
7.5.1
金属フィルタ及びコリメータ
後方散乱線の影響を低減するために，直接放射線は，できるだけ試験対象範囲に絞らなければならない。
75Se，192Ir，60Coなどの線源を使用する場合，又はエッジ散乱がある場合は，溶接継手及びカセット又は
DDAの間に，低エネルギー散乱線に対するフィルタとして鉛シートを使用することができる。このシート
の厚さは，透過厚さに応じて0.5〜2 mmとする。例えば，すず（錫），銅，鋼など鉛以外の材料をフィル
タとして使用できる。鋼又は銅の薄いスクリーンは，鉛シートと検出器との間に置くことが望ましい。
7.5.2
後方散乱線の遮蔽
新しいCR試験の配置ごとに，各カセットのすぐ後に鉛文字B（最小文字高さ10 mm，最小厚さ1.5 mm）
を置いて，後方散乱線の影響を確認しなければならない。この文字の画像がデジタル画像上で暗い（GVlin
の増加）場合，又は識別できない場合は，後方散乱線に対して良好な遮蔽が得られている。この文字が明
るい画像（GVlinの減少）として記録された場合は，検出器の後に少なくとも厚さ1 mmの鉛シート，又は
少なくとも厚さ1.5 mm以上のすずシートを置き，後方散乱線を遮蔽しなければならない。さらに，鉛の
蛍光X線放射の影響を低減するために，鉛遮蔽体と検出器との間に鋼又は銅の追加の遮蔽（厚さ約0.5 mm）
を設けなければならない。放射線エネルギーが80 keVを超える場合，検出器の後側に鉛はくスクリーンを
接触させて使用してはならない。
7.6
線源−試験体間距離
線源−試験体間距離の最小値fminは，線源寸法d，及び試験体−検出器間距離bによって決まる。線源寸
法dは，JIS Z 4615又は契約当事者間の協議に基づかなければならない。
22
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線源寸法は，長方形又はだ（楕）円形などのように縦横二つの寸法で表され，大きい方の数値を使用す
る。
実用的な線源−試験体間距離fは，図2 b)，図8 b)，図13 b)及び図14 b)に示す撮影配置を除いて，距離
fと線源寸法dとの比，すなわち，f/dが式(1)又は式(2)を満足するよう選択する。
クラスAの場合，
3/2
5.7b
d
f≧
·············································································· (1)
クラスBの場合，
3/2
15b
d
f≧
··············································································· (2)
ここに，
b： 試験体−検出器間距離（mm）
距離bが1.2t未満の場合，式(1)又は式(2)並びに図21の距離bは，呼び厚さtに置き換える。
fminを決めるために，図21のノモグラムを使用してもよい。このノモグラムは，式(1)又は式(2)に基づい
ている。
実用的な距離fは，図2 b)，図8 b)，図13 b)及び図14 b)に示す撮影配置において，距離fと線源寸法d
との比，すなわち，f/dが式(3)又は式(4)を満足するよう選択する。
クラスAの場合，
3
5.7
t
b
d
f≧
·············································································· (3)
クラスBの場合，
3
15tb
d
f≧
··············································································· (4)
ここに，
t： 試験部の呼び厚さ（mm）
b： 試験体−検出器間距離（mm）
クラスAにおいて，平面状不完全部の検出を要求された場合，幾何学的不鮮鋭度を半分に減らすために
fminを，クラスBと同じとする。
割れの生じやすい材料に対する重要な撮影には，クラスBの撮影配置における距離fを大きくして，割
れなどのきずに対する放射線の照射角度を小さくすることによって，検出性を高くする撮影技法などを使
用する。
23
Z 3110：2017
単位 mm
図21−試験体−検出器間距離b及び線源寸法dに関連した線源−
試験体間距離の最小値fminを求めるためのノモグラム
拡大撮影による補正をしない場合，デジタル検出システムの固有の不鮮鋭度（ui：SRb検出器の2倍）及び
幾何学的不鮮鋭度（uG）の合計不鮮鋭度（uT）は，
2
G
2
i
T
u
u
u
+
=
··········································································· (5)
したがって，検出システムの不鮮鋭度を補償するためには，fminを大きくすることを推奨する。
X線フィルムよりも固有の不鮮鋭度が大きいデジタル検出器を使用する場合に，フィルムによる放射線
透過試験（ISO 17636-1）の手順に規定するのと同程度の合計不鮮鋭度を得るためには，次の条件を推奨す
る。
a) 試験体が検出器に接触している場合（幾何学的拡大撮影技法によらない場合），SRb検出器が，距離bに
依存する式(6)又は式(7)で与えられる値よりも小さくなるようにデジタル検出器を選択する。
クラスAの場合，
24
Z 3110：2017
15
3
b
b
SR<
················································································ (6)
クラスBの場合，
30
3
b
b
SR<
················································································ (7)
b) ISO 17636-1に基づくフィルム撮影と同等の不鮮鋭度を得るには，式(6)又は式(7)を満足していれば，
次の式を用いることによって，式(1)又は式(2)並びに図21で与えられる値よりもfminを大きくできる。
クラスAの場合，
(
)
2
b
2
3/2
2
min
4
5.7/
SR
b
b
d
f
−
=
·························································· (8)
クラスBの場合，
(
)
2
b
2
3/2
2
min
4
15
/
SR
b
b
d
f
−
=
··························································· (9)
SRb検出器が式(6)又は式(7)から要求される値よりも小さい場合，又はSNRを増大させることで表B.1〜表
B.12及び表B.15〜表B.18に規定するIQI値が得られる場合（CP IIに相当），fminは，式(1)又は式(2)又は図
21から求めることができる。
クラスA及びクラスBの像質を満足するための最大画像不鮮鋭度及びSRbの要求値を，表B.13及び表
B.14にそれぞれ示す。
7.1.6で規定している二重壁両面撮影方法，又は7.1.7で規定している垂直撮影方法を使用する場合，式
(1)及び式(2)並びに図21において，距離bを外径Deに代えなければならない。
線源が試験体の外側で反対側に検出器のある場合（7.1.8で二重壁片面撮影方法として記載されている技
法），fminは，外径Deではなく管の呼び厚さtだけで決定する。
可能であれば，より適切な方向から検査を行うために（7.1.4及び7.1.5参照），線源を試験体の中に置き，
二重壁撮影方法（7.1.6〜7.1.8参照）を使用しないことが望ましい。fminは，20 %を超えて短縮してはなら
ない。線源が試験体内の中央に，検出器がその外にあり（7.1.4に示す技法），透過度計の要求を満足して
いれば，20 %を超えて短縮してよい。しかし，この場合も50 %を超えてfminを短縮してはならない。透過
度計の要求を満足していれば，契約当事者間の合意によって更なる短縮ができる。
7.7
幾何学的拡大撮影技法
CR及びDDAシステムを溶接継手の放射線透過試験に適用する場合の課題は，ほとんどのデジタル検出
器（DDA）又はIP読取システムの画素サイズ（50 µm以上）が，フィルムの小さな粒子サイズよりも大き
くフィルムの空間分解能が非常に高いという点である。この困難さは，画像のSNRNの増大（CP IIに相当）
及び／又は必要に応じて拡大撮影によるDDA特有の特性を利用して回避することができる。
注記 幾何学的拡大は，表示した画像のデジタル的な拡大（ズーム）とは異なる。幾何学的拡大だけ
が画像の不鮮鋭度を減少させる。
必要とするIQI値の識別性（針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度計で確認）及びSRb
（複線形像質計で確認。附属書C参照）が，該当する表B.1〜表B.18に示す要件を満足しない場合，一つ
の対応方法は画像のSNRを高めることである（7.3.2 CP II参照）。
もう一つの対応方法は，IP又はDDAと試験体との距離を大きくした上で，焦点の小さいX線管又は線
源寸法の小さいγ線源を使用して幾何学的拡大撮影技法を適用することである。
最終的には，両方の方法を使用した後で必要な透過度計の値が識別できない場合，そのCRシステム又
25
Z 3110：2017
はDDAは，その試験に使用することはできない。
全ての製品のデジタル画像において，試験体上で複線形像質計を使用することによって拡大率の正しい
選択を確認しなければならない。複線形像質計は，2SRbがdを超える場合（dは線源寸法），試験体の検出
器に近い側に置き，それ以外の場合，試験体の線源に近い側に配置する。拡大率の選択をするときには，
試験体の両側に複線形像質計を置くが，正しい拡大率及び線源寸法を決定した後は，片方だけが最終的な
製品のデジタル画像が確認できればよい。
きずの自動識別を適用する場合，透過度計がデジタル画像に支障を来すことがある。一連の製品のデジ
タル画像に透過度計を使用しない場合，針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度計及び複
線形像質計による参照画像によって定期的に像質を検証しなければならない。
vを考慮したuImは，uG，及びSRbから，次の式(10)によって推定することができる。
()
(
)2
b
2
G
Im
2
1
SR
u
v
u
+
=
···························································· (10)
ただし
(
)d
v
d
f
SDD
u
1
1
G
−
=
−
=
···························································(11)
ここに， SRb： 拡大率＝1のときのSRb検出器
SDD： 線源−検出器間距離
f： 線源−試験体間距離
uG： 幾何学的不鮮鋭度
d： JIS Z 4615又は契約当事者間の協議による線源寸法
v： SDD/fで与えられる幾何学的拡大率
uIm： 表B.13又は表B.14によるクラスA又はクラスB試験におけ
る要求される最大画像不鮮鋭度
画像不鮮鋭度が表B.13又は表B.14に指定される適切な値以下となるように，画像の不鮮鋭度を減少さ
せるために拡大率を高めるか，線源寸法を小さくするか，又はこの両方を行わなければならない。これに
は，試験体上に複線形像質計を置いて確認しなければならない。
拡大因子は，通常，試験体の線源側と検出器側とでは異なる。したがって，拡大率vは，試験体の中心
に対して選択しなければならない。線源側と検出器側との拡大率の違いは，±25 %以下が望ましい。7.3.2
に記載されているCP IIを使用する場合は，これよりも小さい拡大率を選択してもよい。
7.8
一回の露出における最大撮影範囲
一回の露出における最大撮影範囲から，最低限必要な撮影枚数を決定することができる。
平板溶接継手（図1，図15，図17及び図18参照），及び線源を中心から外して曲面溶接継手（図2〜図
4及び図8〜図16参照）を試験する場合のデジタル画像の撮影枚数は，像質クラスに従って規定する。
厚さが均一な試験領域の外側の端部での透過厚さと，放射線の中心位置における透過厚さとの比は，ク
ラスAでは1.2，クラスBでは1.1を超えてはならない。
透過厚さの変化によって生じるSNRN値は，表3又は表4に示す値を下回ってはならない。一方，CRで
は附属書Dに示すGVを使用してもよい。
試験領域は，熱影響部を含む溶接継手とする。一般に，母材は，溶接線から両側約10 mmまで試験しな
ければならない。
デジタル画像の推奨撮影枚数は，附属書Aに示すが，ここでは円周突合せ溶接継手に対して許容できる
試験について規定している。
26
Z 3110：2017
7.9
デジタル処理
7.9.1
画像の走査及び読取り
選択した像質を得るためには，検出器又は読取装置の使用において，それぞれの製造業者が推奨する条
件に従う。デジタル画像は，処理，取扱い又はその他の原因によって解釈の障害となるようなアーチファ
クトが生じないようにする。
7.9.2
DDAの校正
DDAを使用する場合，その製造業者が推奨する検出器校正手順を適用する。検出器は，X線を照射しな
い未露光画像，及びX線を照射して得られる少なくとも1枚の均一な画像で校正する。複数枚の画像を用
いた校正は，SNRN及び線形性を高めるが，校正にはより多くの時間を要する。校正によってノイズを最小
限に抑えるためには，校正画像は，全て検査を実施する際のデジタル画像に使用する線量によって撮影す
る。その手順の記録を取る場合には，校正画像は，品質保証のための画像として取り扱う。校正は，定期
的に行い，露出条件が大幅に変更になる場合にも実施する。
7.9.3
不良画素の補償
不良画素とは，DDAにおける不良の検出素子である。
DDAを使用する場合，その製造業者のガイドラインに従い，検出器は不良画素を決定するためにマッピ
ングし，この不良画素マップは記録しなければならない。不良画素の補間は，DDAによるデジタル撮影で
は，不可欠の手順である。関心領域の中に連続した不良画素（CKP）のあるDDAは使用できない。
SRb検出器が表B.13又は表B.14に規定される値以下の検査には，不良画素をもたないDDA及びCRを適
用する。幾何学的拡大撮影技法を使用する場合には，SRb画像は，附属書Cに記載されているように測定画
像から決定する。この場合，複線形像質計は，試験体の上に直接置かなければならない（7.7参照）。この
SRb値は，表B.13又は表B.14に規定される値以下にしなければならない。検出器又は画像のSRb値が，表
B.13又は表B.14に規定される値を上回る場合，7.3.2に記載されるCP IIを適用してもよい。
きずの大きさがSRb画像に近い検査にDDA又はIPを使用する場合には，要求されるSNRNを高めなけれ
ばならない。検査は，契約当事者間の合意に基づいて実施しなければならない。SNRNを高く規定すること
で，不良画素の補間によって局所的に高まった不鮮鋭度が補償されることがある。
不良画素の評価は，定期的に実施しなければならない。
注記 CP IIと同様に，高いSNRNは，不良画素の補間によって局所的に高まった不鮮鋭度を補償する。
これは，CP IIIである。
7.9.4
画像処理
7.9.4.1
放射線検出器のデジタルデータは，SNR，SRb及びSNRNを求めるための線量に直接比例するよう
なGVlin表示で評価しなければならない。最適な画像表示のためには，コントラスト及び明るさは表示画像
を確認しながら調節できることが望ましい。画像を表示し評価するためのソフトウェアの中には，オプシ
ョンとしてフィルタ機能，プロファイル描画，SNR及びSNRNの計算機能が備わっていることが望ましい。
重要な画像解析を行う場合には，1:1（デジタル画像の1画素をモニタの1画素で表示）及び1:2（デジタ
ル画像の1画素をモニタの4画素で表示）のズーム倍率を用いて画像を解釈する。
7.9.4.2
原画像へ追加で適用した画像処理（例，画像表示改善のためのハイパスフィルタ）は記録を取り，
再現性を確保して，契約当事者間で合意しなければならない。
7.9.4.3
針金形透過度計，有孔形透過度計又は有孔階段形透過度計を評価するために追加的な画像処理
（例えば，ハイパスフィルタ）を実施する場合，溶接継手の評価及びIQI値の決定のいずれにおいても，
同一フィルタのパラメータを使用する。
27
Z 3110：2017
7.10 モニタの観察条件及びデジタル画像の保存
7.10.1 モニタの観察条件
デジタル画像は，暗所で観察する。モニタの設定は，適切な試験画像で確認する。
画像評価用モニタは，次の要件を満足しなければならない。
a) 輝度
≧250 cd/m2
b) GV
≧256階調（8 bit）
c) コントラスト比 ≧1：250
d) 画素数
≧100万画素（画素ピッチ0.3 mm以下）
7.10.2 デジタル画像の保存
試験対象とする原画像は，検出システムで取り込まれた十分な解像度の状態で保存しなければならない。
保存に先立って，アーチファクトのない検出器画像を得るために，検出器の校正に関わる処理（例えば，
オフセット修正，検出器の均一化のためのゲイン校正及び不良画素の補間）だけが適用できる。
データは複数保存し，情報の欠損を生じない（ロスレス）圧縮だけを使用し，長期保存するために適切
なバックアップを取らなければならない。
8
試験報告書
それぞれの撮影ごと又は一連の撮影において，使用したデジタル撮影に関わる技術情報及び結果を記載
する。より理解しやすくするため，その他の特別な条件も試験報告書に記載する。
試験報告書には，少なくとも次の事項を記載する。
a) 試験組織の名称
b) 試験体
c) 材質
d) 熱処理
e) 溶接継手の寸法
f)
材料の呼び厚さ
g) 溶接工程
h) 判定基準を含む試験仕様
i)
デジタル撮影技法及び像質クラス，並びにこの規格が要求するIQI値
j)
7.1に規定する撮影配置
k) 拡大率
l)
使用したマーキング方法
m) 検出器の配置計画
n) 線源，焦点の種類及び寸法，並びに使用した機器の識別
o) 検出器，スクリーン，フィルタ及びSRb検出器
p) DDAでは達成したSNRN及び要求されるSNRN，又はCRでは達成したGV及び要求されるGV，及び
／又はSNRN
q) CRの場合：読取装置の形式及びパラメータ（画素サイズ，走査速度，ゲイン，レーザ強度，レーザ
の焦点寸法など）
r) DDAの場合：形式及びパラメータ（ゲイン，フレーム時間，フレーム数，画素サイズ，校正手順など）
s)
使用したX線管電圧及びX線管電流，又は線源の種類及び放射能強度（Bq）
28
Z 3110：2017
t)
露出時間及び線源−検出器間距離
u) 像質計及び／又は透過度計の種類及びその配置
v) 使用したソフトウェアに関するデータ，像質計及び／又は透過度計の読取値を含む試験結果
w) 使用した画像処理パラメータ（例えば，デジタルフィルタ）
x) 特別な合意に基づくこの規格からの例外事項
y) 責任者の氏名，承認及び署名
z) 撮影日及び試験報告書の作成日
29
Z 3110：2017
附属書A
（規定）
円周溶接継手に必要な推奨撮影枚数
最低限必要な撮影枚数を，図A.1〜図A.4に示す。これは，外径100 mm以上の円周継手に対して有用で
ある。
検査対象の継手に呼び厚さの違いがあり，Δt/tが20 %を超えない場合には，図A.3及び図A.4を適用す
ることができる。この撮影方法が推奨されるのは，横割れの検出性が低い（小さい）場合，又はこのよう
なきずを他の非破壊試験方法で実施する場合だけに限られる。
Δt/tが10 %以下の場合は，図A.1及び図A.2を使用する。この場合，横割れも併せて検出できる可能性
が高い。
単独の横割れを検出するためのデジタル撮影に必要な最低撮影枚数は，図A.1〜図A.4に示すよりも多
くする。
30
Z 3110：2017
図A.1−外部線源による単壁撮影方法における最低撮影枚数N。
Δt/tが10 %以下の場合（クラスB）の評価
31
Z 3110：2017
図A.2−内部線源撮影（オフセット撮影）及び二重壁撮影における最低撮影枚数N。
Δt/tが10 %以下の場合（クラスB）の評価
32
Z 3110：2017
図A.3−外部線源による単壁撮影方法における最低撮影枚数N。
Δt/tが20 %以下の場合（クラスA）の評価
33
Z 3110：2017
図A.4−内部線源撮影（オフセット撮影）及び二重壁撮影における最低撮影枚数N。
Δt/tが20 %以下の場合（クラスA）の評価
34
Z 3110：2017
附属書B
（規定）
最小のIQI値
B.1
単壁撮影方法，透過度計（IQI）は線源側
表B.1−針金形透過度計
表B.2−有孔階段形透過度計
像質クラスA
像質クラスA
t：呼び厚さ
mm
IQI値
（針金直径mm）
t：呼び厚さ
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.2 以下
W18（0.063）
2.0 以下
H3（0.20）
1.2 を超え
2.0 以下
W17（0.080）
2.0 を超え
3.5 以下
H4（0.25）
2.0 を超え
3.5 以下
W16（0.100）
3.5 を超え
6 以下
H5（0.32）
3.5 を超え
5.0 以下
W15（0.125）
6 を超え
10 以下
H6（0.40）
5.0 を超え
7 以下
W14（0.16）
10 を超え
15 以下
H7（0.50）
7 を超え
10 以下
W13（0.20）
15 を超え
24 以下
H8（0.63）
10 を超え
15 以下
W12（0.25）
24 を超え
30 以下
H9（0.80）
15 を超え
25 以下
W11（0.32）
30 を超え
40 以下
H10（1.0）
25 を超え
32 以下
W10（0.40）
40 を超え
60 以下
H11（1.25）
32 を超え
40 以下
W9（0.50）
60 を超え
100 以下
H12（1.6）
40 を超え
55 以下
W8（0.63）
100 を超え
150 以下
H13（2.0）
55 を超え
85 以下
W7（0.80）
150 を超え
200 以下
H14（2.5）
85 を超え
150 以下
W6（1.00）
200 を超え
250 以下
H15（3.2）
150 を超え
250 以下
W5（1.25）
250 を超え
320 以下
H16（4.0）
250 を超えるもの
W4（1.60）
320 を超え
400 以下
H17（5.0）
400 を超えるもの
H18（6.3）
表B.3−針金形透過度計
表B.4−有孔階段形透過度計
像質クラスB
像質クラスB
t：呼び厚さ
mm
IQI値
（針金直径mm）
t：呼び厚さ
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.5 以下
W19（0.050）
2.5 以下
H2（0.16）
1.5 を超え
2.5 以下
W18（0.063）
2.5 を超え
4 以下
H3（0.20）
2.5 を超え
4 以下
W17（0.080）
4 を超え
8 以下
H4（0.25）
4 を超え
6 以下
W16（0.100）
8 を超え
12 以下
H5（0.32）
6 を超え
8 以下
W15（0.125）
12 を超え
20 以下
H6（0.40）
8 を超え
12 以下
W14（0.16）
20 を超え
30 以下
H7（0.50）
12 を超え
20 以下
W13（0.20）
30 を超え
40 以下
H8（0.63）
20 を超え
30 以下
W12（0.25）
40 を超え
60 以下
H9（0.80）
30 を超え
35 以下
W11（0.32）
60 を超え
80 以下
H10（1.0）
35 を超え
45 以下
W10（0.40）
80 を超え
100 以下
H11（1.25）
45 を超え
65 以下
W9（0.50）
100 を超え
150 以下
H12（1.6）
65 を超え
120 以下
W8（0.63）
150 を超え
200 以下
H13（2.0）
120 を超え
200 以下
W7（0.80）
200 を超え
250 以下
H14（2.5）
200 を超え
350 以下
W6（1.00）
350 を超えるもの
W5（1.25）
35
Z 3110：2017
B.2
二重壁両面撮影方法，透過度計（IQI）は線源側
表B.5−針金形透過度計
表B.6−有孔階段形透過度計
像質クラスA
像質クラスA
透過厚さw
mm
IQI値
（針金直径mm）
透過厚さw
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.2 以下
W18（0.063）
1 以下
H3（0.20）
1.2 を超え
2 以下
W17（0.080）
1 を超え
2 以下
H4（0.25）
2 を超え
3.5 以下
W16（0.100）
2 を超え
3.5 以下
H5（0.32）
3.5 を超え
5 以下
W15（0.125）
3.5 を超え
5.5 以下
H6（0.40）
5 を超え
7 以下
W14（0.16）
5.5 を超え 10 以下
H7（0.50）
7 を超え
12 以下
W13（0.20）
10 を超え
19 以下
H8（0.63）
12 を超え
18 以下
W12（0.25）
19 を超え
35 以下
H9（0.80）
18 を超え
30 以下
W11（0.32）
30 を超え
40 以下
W10（0.40）
40 を超え
50 以下
W9（0.50）
50 を超え
60 以下
W8（0.63）
60 を超え
85 以下
W7（0.80）
85 を超え
120 以下
W6（1.00）
120 を超え
220 以下
W5（1.25）
220 を超え
380 以下
W4（1.60）
380 を超えるもの
W3（2.00）
表B.7−針金形透過度計
表B.8−有孔階段形透過度計
像質クラスB
像質クラスB
透過厚さw
mm
IQI値
（針金直径mm）
透過厚さw
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.5 以下
W19（0.050）
1 以下
H2（0.16）
1.5 を超え
2.5 以下
W18（0.063）
1 を超え
2.5 以下
H3（0.20）
2.5 を超え
4 以下
W17（0.080）
2.5 を超え
4 以下
H4（0.25）
4 を超え
6 以下
W16（0.100）
4 を超え
6 以下
H5（0.32）
6 を超え
8 以下
W15（0.125）
6 を超え
11 以下
H6（0.40）
8 を超え
15 以下
W14（0.16）
11 を超え
20 以下
H7（0.50）
15 を超え
25 以下
W13（0.20）
20 を超え
35 以下
H8（0.63）
25 を超え
38 以下
W12（0.25）
38 を超え
45 以下
W11（0.32）
45 を超え
55 以下
W10（0.40）
55 を超え
70 以下
W9（0.50）
70 を超え
100 以下
W8（0.63）
100 を超え
170 以下
W7（0.80）
170 を超え
250 以下
W6（1.00）
250 を超えるもの
W5（1.25）
36
Z 3110：2017
B.3
二重壁片面撮影方法及び二重壁両面撮影方法，透過度計（IQI）は検出器側
表B.9−針金形透過度計
表B.10−有孔階段形透過度計
像質クラスA
像質クラスA
透過厚さw
mm
IQI値
（針金直径mm）
透過厚さw
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.2 以下
W18（0.063）
2 以下
H3（0.20）
1.2 を超え
2 以下
W17（0.080）
2 を超え
5 以下
H4（0.25）
2 を超え
3.5 以下
W16（0.100）
5 を超え
9 以下
H5（0.32）
3.5 を超え
5 以下
W15（0.125）
9 を超え
14 以下
H6（0.40）
5 を超え
10 以下
W14（0.16）
14 を超え
22 以下
H7（0.50）
10 を超え
15 以下
W13（0.20）
22 を超え
36 以下
H8（0.63）
15 を超え
22 以下
W12（0.25）
36 を超え
50 以下
H9（0.80）
22 を超え
38 以下
W11（0.32）
50 を超え
80 以下
H10（1.0）
38 を超え
48 以下
W10（0.40）
48 を超え
60 以下
W9（0.50）
60 を超え
85 以下
W8（0.63）
85 を超え
125 以下
W7（0.80）
125 を超え
225 以下
W6（1.00）
225 を超え
375 以下
W5（1.25）
375 を超えるもの
W4（1.60）
表B.11−針金形透過度計
表B.12−有孔階段形透過度計
像質クラスB
像質クラスB
透過厚さw
mm
IQI値
（針金直径mm）
透過厚さw
mm
IQI値
（板の厚さmm）
1.5 以下
W19（0.050）
2.5 以下
H2（0.16）
1.5 を超え
2.5 以下
W18（0.063）
2.5 を超え
5.5 以下
H3（0.20）
2.5 を超え
4 以下
W17（0.080）
5.5 を超え
9.5 以下
H4（0.25）
4 を超え
6 以下
W16（0.100）
9.5 を超え 15 以下
H5（0.32）
6 を超え
12 以下
W15（0.125）
15 を超え
24 以下
H6（0.40）
12 を超え
18 以下
W14（0.16）
24 を超え
40 以下
H7（0.50）
18 を超え
30 以下
W13（0.20）
40 を超え
60 以下
H8（0.63）
30 を超え
45 以下
W12（0.25）
60 を超え
80 以下
H9（0.80）
45 を超え
55 以下
W11（0.32）
55 を超え
70 以下
W10（0.40）
70 を超え
100 以下
W9（0.50）
100 を超え
180 以下
W8（0.63）
180 を超え
300 以下
W7（0.80）
300 を超えるもの
W6（1.00）
37
Z 3110：2017
B.4
不鮮鋭度
表B.13−全手法におけるクラスAの最大画像不鮮鋭度
像質クラスA：複線形像質計JIS Z 2307
透過厚さw a)
mm
複線形像質計の最小のIQI値
及び最大不鮮鋭度
（JIS Z 2307）b)
mm
最大基本空間分解能
（線径と間隔が同等）b)
SRb画像
mm
1.0 以下
D13
0.10
0.05
1.0 を超え
1.5 以下
D12
0.125
0.063
1.5 を超え
2 以下
D11
0.16
0.08
2 を超え
5 以下
D10
0.20
0.10
5 を超え
10 以下
D9
0.26
0.13
10 を超え
25 以下
D8
0.32
0.16
25 を超え
55 以下
D7
0.40
0.20
55 を超え
150 以下
D6
0.50
0.25
150 を超え
250 以下
D5
0.64
0.32
250 を超えるもの
D4
0.80
0.4
注a) 二重壁片面撮影方法の場合，透過厚さwではなく，呼び厚さtを使用する。
b) システム選択時には，検出器又はカセットの表面に複線形像質計を直接置いてIQI値を測
定する（附属書C参照）。幾何学的拡大撮影技法（7.7参照）を使用する場合，複線形像
質計値の測定は，対応する拡大率の参照画像によって実施する。
38
Z 3110：2017
表B.14−全手法におけるクラスBの最大画像不鮮鋭度
像質クラスB：複線形像質計JIS Z 2307
透過厚さw a)
mm
複線形像質計の最小のIQI値
及び最大不鮮鋭度
（JIS Z 2307）b)
mm
最大基本空間分解能
（線径と間隔が同等）b)
SRb画像
mm
1.5 以下
D13＋
0.08
0.04
1.5 を超え
4 以下
D13
0.10
0.05
4 を超え
8 以下
D12
0.125
0.063
8 を超え
12 以下
D11
0.16
0.08
12 を超え
40 以下
D10
0.20
0.10
40 を超え
120 以下
D9
0.26
0.13
120 を超え
200 以下
D8
0.32
0.16
200 を超えるもの
D7
0.40
0.20
注a) 二重壁片面撮影方法の場合，透過厚さwではなく，呼び厚さtを使用する。
b) システム選択時には，検出器又はカセットの表面に複線形像質計を直接置いてIQI値を
測定する（附属書C参照）。幾何学的拡大撮影技法（7.7参照）を使用する場合，複線形
像質計値の測定は，対応する拡大率の参照画像によって実施する。
注記 複線形像質計のD13がディップ20 %を超えて分離できる場合には，“D13＋”を適用する。
39
Z 3110：2017
B.5
単壁撮影方法，透過度計（IQI）は線源側
表B.15−有孔形透過度計
像質クラスA
呼び厚さt
mm
IQI値
呼び番号
孔の種類
（孔径 mm）
6 以下
X5
4T（1.02）
6 を超え
9.5 以下
X7
4T（1.02）
9.5 を超え 13 以下
X10
4T（1.02）
13 を超え
16 以下
X12
4T（1.27）
16 を超え
19 以下
X15
4T（1.52）
19 を超え
22 以下
X17
4T（1.78）
22 を超え
25 以下
X20
2T（1.02）
25 を超え
32 以下
X25
2T（1.27）
32 を超え
38 以下
X30
2T（1.52）
38 を超え
51 以下
X35
2T（1.78）
51 を超え
64 以下
X40
2T（2.03）
64 を超え
76 以下
X45
2T（2.29）
76 を超え
102 以下
X50
2T（2.54）
102 を超え
152 以下
X60
2T（3.05）
152 を超え
203 以下
X80
2T（4.06）
203 を超え
254 以下
X100
2T（5.08）
254 を超え
305 以下
X120
2T（6.10）
305 を超え
406 以下
X160
2T（8.13）
406 を超え
508 以下
X200
2T（10.2）
40
Z 3110：2017
B.6
単壁撮影方法，透過度計（IQI）は検出器側
表B.16−有孔形透過度計
像質クラスA
呼び厚さt
mm
IQI値
呼び番号
孔の種類
（孔径 mm）
6 以下
X5
4T（1.02）
6 を超え
9.5 以下
X7
4T（1.02）
9.5 を超え 13 以下
X10
4T（1.02）
13 を超え
16 以下
X12
4T（1.27）
16 を超え
19 以下
X12
4T（1.27）
19 を超え
22 以下
X15
4T（1.52）
22 を超え
25 以下
X15
4T（1.52）
25 を超え
32 以下
X17
2T（0.89）
32 を超え
38 以下
X20
2T（1.02）
38 を超え
51 以下
X25
2T（1.27）
51 を超え
64 以下
X30
2T（1.52）
64 を超え
76 以下
X35
2T（1.78）
76 を超え
102 以下
X40
2T（2.03）
102 を超え
152 以下
X45
2T（2.29）
152 を超え
203 以下
X50
2T（2.54）
203 を超え
254 以下
X60
2T（3.05）
254 を超え
305 以下
X80
2T（4.06）
305 を超え
406 以下
X100
2T（5.08）
406 を超え
508 以下
X120
2T（6.10）
41
Z 3110：2017
B.7
二重壁撮影方法，透過度計（IQI）は線源側
表B.17−有孔形透過度計
像質クラスA
透過厚さw
mm
IQI値
呼び番号
孔の種類
（孔径 mm）
6 以下
X5
4T（1.02）
6 を超え
9.5 以下
X7
4T（1.02）
9.5 を超え 13 以下
X10
4T（1.02）
13 を超え
16 以下
X12
4T（1.27）
16 を超え
19 以下
X15
4T（1.52）
19 を超え
22 以下
X17
4T（1.78）
22 を超え
25 以下
X20
2T（1.02）
25 を超え
32 以下
X25
2T（1.27）
32 を超え
38 以下
X30
2T（1.52）
38 を超え
51 以下
X35
2T（1.78）
51 を超え
64 以下
X40
2T（2.03）
64 を超え
76 以下
X45
2T（2.29）
76 を超え
102 以下
X50
2T（2.54）
102 を超え
152 以下
X60
2T（3.05）
152 を超え
203 以下
X80
2T（4.06）
203 を超え
254 以下
X100
2T（5.08）
254 を超え
305 以下
X120
2T（6.10）
305 を超え
406 以下
X160
2T（8.13）
406 を超え
508 以下
X200
2T（10.2）
42
Z 3110：2017
B.8
二重壁撮影方法，透過度計（IQI）は検出器側
表B.18−有孔形透過度計
像質クラスA
透過厚さw
mm
IQI値
呼び番号
孔の種類
（孔径 mm）
6 以下
X5
4T（1.02）
6 を超え
9.5 以下
X7
4T（1.02）
9.5 を超え 13 以下
X10
4T（1.02）
13 を超え
16 以下
X12
4T（1.27）
16 を超え
19 以下
X12
4T（1.27）
19 を超え
22 以下
X15
4T（1.52）
22 を超え
25 以下
X15
4T（1.52）
25 を超え
32 以下
X17
2T（0.89）
32 を超え
38 以下
X20
2T（1.02）
38 を超え
51 以下
X25
2T（1.27）
51 を超え
64 以下
X30
2T（1.52）
64 を超え
76 以下
X35
2T（1.78）
76 を超え
102 以下
X40
2T（2.03）
102 を超え
152 以下
X45
2T（2.29）
152 を超え
203 以下
X50
2T（2.54）
203 を超え
254 以下
X60
2T（3.05）
254 を超え
305 以下
X80
2T（4.06）
305 を超え
406 以下
X100
2T（5.08）
406 を超え
508 以下
X120
2T（6.10）
43
Z 3110：2017
附属書C
（規定）
基本空間分解能SRbの決定
正しいSRbの値の測定は，GVlinが前提条件となる。これは，GVが画像の指定された位置における放射
線の露出量に比例している必要があるということを意味している。これは，一般的に測定装置の製造業者
のソフトウェアによってサポートされている。
複線形像質計は，検出器又はカセットの表面に直接置き，検出器の基本空間分解能SRb（SRb検出器）を決
定するために，JIS Z 2307に基づいて読み取る。
注記 複線形像質計を検出器に直接置く代わりに試験体に置くと，SRb検出器ではなく，画像基本空間分
解能（SRb画像）が得られる。
最初の不鮮明な線対が明瞭に識別できない場合に（JIS Z 2307参照），20 %ディップ法が次のように適用
される。
デジタル画像において，二つのピークの大きさ（図C.1参照）に対する変調（ディップ）が20 %未満と
なる最初の線対を，像質計の試験の結果として記録する［例えば，図C.1 c)に示すD8］。20 %未満となる
最初の線対を識別するために，画像処理ソフトのプロファイル機能を使用するのが望ましい［両方の最小
値で平均化する場合は，図C.1 d)参照］。さらに，プロファイルは，ばらつきを改善するために，少なくと
も21本のラインプロファイルを用いて平均化する［図C.1のb)及びc)参照］。
JIS Z 2307に適合する複線形像質計を使用して固有の不鮮鋭度uiを求め，SRbを次の式を用いて計算す
る。
i
b
2
1u
SR=
············································································· (C.1)
複線形像質計は，図C.1 a)に示すようにエイリアシングの影響を避けるために，デジタル画像の水平方
向又は垂直方向に対して約2〜5°傾けて配置しなければならない。
なお，SRbは大きい方の値とする。
デジタル検出システムのSRbの決定は，試験体がない状態で，次のいずれかの照射条件で行う。
a) 軽合金の検査：
− X線管電圧：90 kV
− 前置フィルタ：アルミニウム1 mm
b) 透過厚さが20 mm以下の鋼及び銅合金の検査：
− X線管電圧：160 kV
− 前置フィルタ：銅1 mm
c) 透過厚さが20 mmを超える鋼及び銅合金の検査：
− X線管電圧：220 kV
− 前置フィルタ：銅2 mm
d) γ線透過試験又は高エネルギー放射線透過試験：
− 規定されているγ線源又は1 MeVを超える高エネルギーX線発生装置を使用
−
75Se，192Irでは，前置フィルタは銅2 mm又は鋼4 mm，60Co又は1 MeVを超える高エネルギーX線
発生装置では，前置フィルタは銅4 mm又は鋼8 mm
44
Z 3110：2017
複線形像質計は，検出器又はカセットの表面に直接置き，線源から検出器までの距離は，（100±5）cm
とする。デジタル画像の平均GVは，最大GVの50 %を超え，参照画像のSNRは，画素サイズ80 µm以上
の標準システムにおいては100，画素サイズ80 µm未満の高分解能システムにおいては70を超えなければ
ならない。使用したデジタルシステムの基準となるデジタル画像から測定されたSRb［式(C.1)参照］及び
システムの設定を検査報告書に記録する。
CRシステムの検出器のSRbは，レーザの走査方向に対して直角及び平行の両方向について測定する。二
つのSRbの値の大きい値を検出器の基本空間分解能（SRb又はSRb検出器）の結果として使用する。
SRb又はSRb検出器値の測定精度を改善するために，20 %のディップ値を，近隣の線対によるディップから
補間する。図C.2は，高分解能CRシステムに対応した手順を示している。
図C.2に示すように，20 %線との交点を求めるために，線径によるディップの変化に対し二次多項式を
当てはめることが望ましい。補間には，ゼロよりも大きいディップの値を使用する。
補間されたSRbの値（図C.2参照）は，補間されたSRbの値（iSRb）又はiSRb検出器として記録される。こ
の値の代わりに，契約当事者の合意によって補間しないSRbの値を使用してもよい。
45
Z 3110：2017
a) デジタル画像における複線形像質計の画像
b) 少なくとも21本のラインから平均化した複線形像質計のプロファイル
c) 線対D7及びD8の拡大プロファイル
d) ディップ値（%）：ディップ＝
100×(A＋B−2C)/(A＋B)による計算方法の図
記号
D7，D8 複線形像質計のIQI値
X 位置
Y 振幅
図C.1−ディップが20 %未満となる最初のIQI値がD8である複線形像質計評価の例
46
Z 3110：2017
a) 規定されたディップによる高分解能システムの計測されたプロファイルプロット
b) ディップの補間と複線形像質計の線径（SRbに対応）との関係
（20 %値は20 %の線との交差によって求められ，iSRb＝66 µmとなる。）
図C.2−近隣の線対で計測されたディップの補間による基本空間分解能（iSRb検出器）の決定の例
47
Z 3110：2017
附属書D
（規定）
CR撮影のための最小グレイ値の決定
D.1 SNR測定値からのSNRNの決定
SNRの測定の手順は，ISO 16371-1の6.1に詳しく記載されている。SNR測定値は，ISO 16371-1の6.1.1に
記載されているように，通常，標準偏差に対するGVlinの平均値の比として，20×55画素の関心領域で求
められる。GVlinは，測定される関心領域での照射線量に正比例し，照射されていないときはゼロになる。
SNRNの測定は，このモードで行う。
注記 SNRを測定するための関心領域は，幅20画素に制限するのが望ましい。長さは，55画素以上
とすることができる。長さが大きいほど，SNRの測定精度が向上する。これは，ISO 16371-1
に記載されている，ラインのSNRの中央値に基づいたソフトウェアツールの場合に，特に当て
はまる。
ほぼ同じ照射線量であれば，不鮮鋭なデジタルシステムの方が，鮮鋭なデジタルシステムよりもSNRの
測定値が高くなるが，微細なきずの検出性能は，鮮鋭なデジタルシステムに比べて劣る。したがって，測
定されたSNRを，SRbによって正規化する。同じSNRNを備えたシステムであれば，同様の識別性をもつ。
正規化は，CR製造業者によって提供されるか，又は附属書Cに記載されている手順を用いて使用者に
よって決められるCRシステムのSRbに基づく。
全てのSNRNは，次の式によって正規化される。
b
N
μm
88.6
SR
SNR
SNR
×
=
測定値
························································ (D.1)
ここに， SRb： 基本空間分解能（μm）
SNRNは，一般にCR製造業者のソフトウェアによって提供され，ソフトウェアツールにSRbを入力し，
測定のための関心領域が表示される。
画素分解能，走査速度及び／又はイメージングプレート（IP）の形式のような読取装置のパラメータを
変更した場合，新たにCRシステムのSRbを測定しなければならない。
表D.1は，様々なSRb性能を備えたCRシステムのSNRN及び正規化しないSNRへの変換を示す。CR製
造業者のソフトウェアによってSNRNが与えられていない場合は，使用者が変換したSNRの値を決定し，
表D.1に示すSNRNの代わりに使用してもよい。
表D.1−異なるSRbの選択したCRシステムにおいてSNRNを等価とする場合に要求されるSNR測定値の値
システムパラメータ
高鮮鋭度システム
標準システム
複線形像質計のIQI値
D13＋
D13
D12
D11
D10
D9
D8
D7
D6
基本空間分解能SRb（μm）
40
50
63
80
100
130
160
200
250
要求されるSNRN
（表3及び表4）
要求されるSNR測定値
150
65
85
110
135
170
220
270
340
425
120
55
70
85
110
135
180
220
270
340
100
45
60
75
90
115
150
185
225
285
70
35
40
50
65
80
105
130
160
200
48
Z 3110：2017
D.2 最小グレイ値の決定
厚さが均一でない試験体のCR検査を行う場合，SNRNの測定は，デジタル画像において均一なGVとな
っている領域を必要とするため，最小SNRNの代わりに最小グレイ値（GVmin）を指定することが望ましい。
この場合，異なる画像処理ソフトウェアを用いて簡便に行ってもよい。
GVlinは，正確なSNRN及びこれに等価なGVを測定するための前提条件である。つまり，GVは，走査さ
れたIPの指定された場所において，線量に正比例（オフセットなし）する必要があることを意味する。こ
れは，通常，製造業者のソフトウェアによって提供されている。
画像処理が施されていないCRシステムがGVlinを供している場合は，CR技術の使用に当たり平均GV
への画像SNRNの依存性を利用することができる。GVとSNRNとの関係は，読取装置の型式，読取りのパ
ラメータ及び同じIPの型式の組合せだけで利用することができる。画素サイズ，走査速度，光電子増倍管
の電圧又はゲインなどの読取装置の設定値を変更した場合は，要求されるSNRNに相当するGVminを新たに
決定しなければならない。
注記1 CRにおいて，SNRNと平均GVとの相関関係は，X線管電圧が50 kVを超えるX線装置から
数MeVの高エネルギーX線発生装置までの広範囲においては，X線管電圧及びX線管電流
の設定に依存しない。これは，γ線源においても同様である。この関係は，DDAには適用で
きない。GVminの格付けは，附属書Cに規定する撮影条件で使用する最小SNRNに相当する。
表3又は表4の最小SNRNに相当するGVminを求めるために，a)〜d)に定められている手順が適用できる。
a) 図D.1に示す階段状試験片の撮影を行う。シェーディング効果を避けるために，広い面積の階段をも
つ階段状試験体を使用することを推奨する。階段状試験体は，検出器のデジタル画像の全面を覆わな
ければならない。
b) 図D.2に示すように，各段における平均GV及びSNRNを測定する。
c) 平均GVの関数として測定したSNRN（又はSNR）をグラフにプロットする（図D.3参照）。
d) 表3又は表4に従い，仕様で要求される最小SNRNに対する等価なGVminを求める。表D.2に例を示す。
得られたGVは，フィルム撮影技法における最小光学フィルム濃度に相当するGVminを求めるために使
うことができる（図D.3参照）。
a)〜d)の手順に代えて，異なる照射線量（X線源）又は撮影時間（γ線源）でIPを撮影してもよい。照
射は，附属書Cと同じ条件で行うことが望ましい。
これを製品のデジタル画像に適用する場合，IP用ハードカセット又はIPソフトカセットの前に，追加
スクリーン又は鋼製又はアルミニウムの平板を使用しなければならない。GVminは，表D.1に規定されてい
る要求されるSNRN又は図D.3に示すSNRの達成値に相当するデジタル画像から求めなければならない。
生産現場でのデジタル画像の関心領域のどの部分においても規定のGVminを達成する場合は，デジタル
画像においてSNR又はSNRNの値の測定は必要ない。
より精度を高めるために，図D.3に示すような図を描くことを推奨する。
GVminを仕様として使用する場合は，CR読取装置の詳しい設定及びそれに対応するIPの形式を記録する。
GVminの最終仕様は，例えば，表D.2のような表で示すことが望ましい。
注記2 使用したCR読取装置の種々のSNRN，その走査パラメータ（例えば，ゲイン設定1）及びIP
の種類に対応する値として，GVを指定してもよい。
読取装置システムで高いGV及び低いゲイン設定値であれば，低いSNRNを指定してもよい。このような
値が確認される場合は，超えてはならない最大GVを指定しなければならない。
49
Z 3110：2017
記号
1
X線管
2
銅製のフィルタ
3
コリメータ
4
銅製の階段状試験体
5
カセットに収納されたIP
図D.1−表3又は表4の必要最小SNRNに対するCRの等価GVを求めるための撮影配置
50
Z 3110：2017
図D.2−階段状試験体画像の段における平均GV及びSNRNの測定結果
表D.2−GVminの要求規定例（図D.3も参照）
要求されるSNRN
ゲイン設定1に対応する
GVmin
ゲイン設定2に対応する
GVmin
150
1250
2500
120
1015
2030
100
590
1180
70
270
540
51
Z 3110：2017
記号
1
階段状試験体測定値
2
階段状試験体測定値の近似曲線
X GV
Y SNRN
図D.3−図D.2に従って測定したSNRN対平均GVのプロット図
52
Z 3110：2017
附属書E
（参考）
グレイ値に関する補足事項
E.1
導入
CRでは，視覚（可視性）を画像コントラストとノイズとの関数として表現するために，GVを使用して
もよい（フィルム撮影技法における濃度及びフィルムシステムクラスの代わりに，SNR又はGVを使用す
る）。したがって，GVlinを使用して，ある部分の特定領域内で吸収された放射線量を測定することができ
る。12ビットCRシステムの場合，この関係からGV“0”は，照射線量“0”に相当するが（フィルムの
ネガ表示では白い部分），GV“4095”は検出器の飽和状態に相当する（フィルムのネガ表示では黒い部分）。
GV及びSNRNの測定は，関心領域内の平均GV（平均値），及び／又は関心領域内におけるGVの標準偏
差に対する平均GVの比率であるSNRNを求めるソフトウェアを使用して行わなければならない。関心領域
の最小画像領域は，定量的測定のために，1 100画素（すなわち，20×55画素。ISO 16371-1参照）で構成
する。
測定したIPのGVは，任意の放射線線質に関して，照射線量に正確に比例する。読取装置の内部（電子）
ゲインの設定値，光電子増倍管の特性，及びAD変換特性（例えば，ビット数）が，線量とGVとの比例
係数を決定する。これらのパラメータのいずれかを変更した場合は，附属書Dに規定されているように，
最小グレイ値（GVmin）を新たに決定する必要がある。一部のシステムでは，対数で表すGV又は平方根特
性で表すGV又は未知のゼロ値による正規化した値でGVを提供することがある。このような値は，線形
化し，実際のゼロ値（照射線量“0”に対応）に関連付けなければならない。もしそうでなければ，フィル
ムの濃度に対応する値として，GVを用いてはならないし，SNR又はCNRのそれぞれの測定でGVを扱う
こともできない。GV及びSNRN値は，デジタル画像のデジタルフィルタリングを行う前に決定しなければ
ならない。
E.2
ノイズ
CRの画像は，最適ではない条件で撮影すると，過度なノイズ（低SNRN又は低CNRN）によって，画質
要件を実現する際の障害となることがある。
より最適な撮影を行うために，留意すべき事項は次による。
a) X線源又はγ線源からの照射線量が低いと，CNRNが低くなる。CNRNは，線量が達成可能な最大値に
まで増加するにつれて非線形で増加するが，これは実際の検出器の構造ノイズ（固定パターンノイズ）
が原因である。
b) IPにおける画像ノイズの原因は，放射線の影響を受けやすい結晶の内部構造及び表面粗さである。高
品質のデジタル画像を得るためには，構造ノイズの低い微粒子タイプのIPを選択することが望ましい。
製造業者は，IP読取装置システムの達成可能な最大SNRNに関する情報を提供することが望ましい。
c) DDAは構造ノイズを発生させるが，これは，検出器素子の様々な特性が原因である。これらは，校正
手順によって均一化することができる。より精密な校正方法を使用することで，非常に高いSNRを達
成することができる。熱等の効果及び限られた校正時間によって，校正の有効性が制限されるため，
補正しきれない残留固定パターンノイズが残る。
d) ノイズは，高ニッケル基合金又は粗い表面をもつ一部の物質によって散乱線として生じることがある。
53
Z 3110：2017
これによって，微細なきずの検出が困難になるだけでなく，必要な透過度計の読取りをも低下させる
ことがある。
e) 後方散乱線は，画像のGV及びノイズの大きな要因となっており，通常，デジタル画像のCNRNには
役に立たないため，透過度計の識別性が低下する。
f)
高い放射線エネルギーは，一定のノイズレベルの同じGVに対してコントラストが低くなる。これに
よって，CNRNが低下するため，透過度計の識別度も低下する。これに対しては，必要なGVを上げる
か，又はフィルム撮影と比較してX線管電圧を下げることで，CPIの補償をしてもよい。
54
Z 3110：2017
附属書JA
（参考）
デジタルラジオグラフィの適用に関する事項
この規格に規定するデジタルラジオグラフィ（以下，D-RTという。）法は，フィルムラジオグラフィ（以
下，F-RTという。）法による撮影技術を基本としており，像質などの必要条件については，品質保証上差
異がない。むしろ，F-RT法にない画像処理及び繰返し使用が可能な優れた特徴があり，写真処理が不要な
どの利便性がある。
以下に，F-RT法と比較してD-RT法の主な特徴，機能，撮影の主要な項目及びシステムクラスについて
示す。これらの内容を参考として，撮影方法を選択するのがよい。
なお，この規格とF-RT法の規格であるJIS Z 3104などと比較できる点は撮影技術に限られるが，D-RT
法におけるきずの像の分類は，契約当事者間の協議によって，F-RT法の透過写真によるきずの像の分類方
法を適用することは差し支えない。
JA.1 F-RT法とD-RT法との類似及び相違
この規格が規定するD-RT法による撮影方法（CR及びDDA）とF-RT法の主な特徴を表JA.1に，機能
性を表JA.2に示す。
表JA.1−F-RT法及びD-RT法の主な特徴
F-RT法
D-RT法（CR）
D-RT法（DDA）
・ 写真処理（現像等）が必要
・ 写真処理が不要
・ 写真処理が不要
・ IPの読取りが必要
・ 撮影後直ちに画像が得られる
・ 繰返しの使用が可能
・ 繰返しの使用が可能
・ 撮影に応じたフィルムタイプ（感
度，粒状性）を選択
・ 撮影に応じたIPタイプを選択
・ フィルムはIP，DDAに比べて軽量 ・ IPはDDAに比べて軽量
・ 温度などの周囲の環境の影響を受
けにくい
・ 温度などの周囲の環境の影響
を比較的受けにくい
・ 温度などの周囲の環境によっては
使用の制限（防爆，電源等が必要）
・ 画像処理が可能
・ 画像処理が可能
表JA.2−F-RT法及びD-RT法の機能性
項目
F-RT法
D-RT法（CR）
D-RT法（DDA）
関連する箇条
曲率面を有する
試験体（配管等）
への密着性
シート（曲率面への密着可能）
パネル（密着不可）
7.1.3 図2
7.1.5 図8
7.1.8 図13，図14
試験体に合わせ
た撮影媒体の加
工性
形状加工が可能
形状加工が不可
7.1.4 図6，図7
7.1.5 図9，図10
7.1.8 図16，図18
不良画素の補正
−
補正が不可欠
7.9.3
撮影条件の指標
濃度
正規化した信号対ノイズ比（SNRN）
7.3.1 表3及び表4
画像の観察
放射線透過写真観察器
観察用モニタ及びソフトウェア
7.10
透過写真のコントラスト
は固定
画像のコントラストはモニタ上で調整可能
7.9.4
記録・保管
フィルム
デジタルデータ及び記録メディア
7.10
55
Z 3110：2017
CR法のIPは柔軟性を有し，撮影時にX線フィルムと同様に，試験体の形状に密着させた撮影が可能で
ある。いずれも透過画像を潜像として蓄積するが，F-RT法は現像処理，CR法はレーザ光により潜像を可
視化する。DDA法は，放射線の照射下で電子的に走査するため，撮影と同時に画像化されるが，構造上，
不良画素の発生は不可避であり，不良画素の補正処理が必要である。
F-RT法では，適切な濃度が得られるように撮影条件を決めるが，CR法及びDDA法では，濃度に代え
て，正規化された信号対ノイズ比（以下，SNRNという。）を用いる。
一方，画像の観察に関して，F-RT法では，フィルムコントラストにより透過写真のコントラストが決ま
るが，CR法及びDDA法では，撮影後にソフトウェアを用いてモニタ上で画像のコントラストを調整でき
る利便性がある。
JA.2 F-RT法及びD-RT法に関する主要な項目
D-RT法による撮影は，基本的にF-RT法と同様である。主要な項目を表JA.3に示す。
D-RT法では，幾何学的不鮮鋭度による撮影配置の決定に加え，検出器の固有の不鮮鋭度を考慮してい
る。検出器の固有の不鮮鋭度は，検出器の物理的な画素の大きさではなく，撮影における実効的な画素サ
イズとして複線形像質計（JIS Z 2307）を用いて計測した不鮮鋭度ui（ui：SRb検出器の2倍）を用いる。
D-RT法の撮影条件の決定は，F-RT法と同等の撮影配置で，濃度の代わりにSNRNを用いている。
表JA.3−F-RT法及びD-RT法に関する主要な項目
主要な項目
F-RT法
D-RT法
関連する箇条
撮影配置
（合計不鮮鋭度：uT）
幾何学的不鮮鋭度：uG
線源−試験体間距離：f，試験体−検出器間距離：b，焦点寸法：d
7.6
−
検出器の固有の不鮮鋭度：ui
基本空間分解能：SRb
（複線形像質計を用いる）
7.6
附属書B
附属書C
撮影条件
試験体厚さに対する線源の選択
X線管電圧，γ線源，高エネルギーX線発生装置
7.2
透過画像の像質
IQI値（識別最小線径）
附属書B
濃度
SNRN
CRでは，SNRNに対応する
画素値（グレイ値）でも可
7.3 表3及び表4
附属書D
附属書E
金属スクリーンの有用性
増感効果，散乱線の除去
主に散乱線の除去
7.3
7.5
JA.3 F-RT法とD-RT法におけるシステムクラスについて
この規格の撮影条件の決定は，システムクラスの分類に基づいてF-RT法のISO 17636-1に対応している。
CR法におけるシステムクラスはISO 16371-1においてSNRNを規定しており，フィルムシステムクラス
の分類の指標である濃度2.0における階調度・ノイズ比に対応させている。このSNRNはDDA法における
撮影条件の決定にも適用できる。
注記 フィルムシステムクラスについてはISO 11699-1を，CRシステムクラスについてはISO 16371-1
を参照。
56
Z 3110：2017
参考文献
[1] ISO 5579，Non-destructive testing−Radiographic testing of metallic materials using film and X- or gamma
rays−Basic rules
[2] ISO 5580，Non-destructive testing−Industrial radiographic illuminators−Minimum requirements
[3] ISO 19232-3，Non-destructive testing−Image quality of radiographs−Part 3: Image quality classes for ferrous
metals
[4] EN 444，Non-destructive testing−General principles for radiographic examination of metallic materials by X-
and gamma-rays
[5] EN 12681，Founding−Radiographic examination
[6] EN 14784-2，Non-destructive testing−Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates
−Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
[7] EN 25580，Non-destructive testing−Industrial radiographic illuminators−Minimum requirements (ISO
5580:1985)
[8] ASTM E 1000，Standard Guide for Radioscopy
[9] ASTM E 2445，Standard Practice for Qualification and Long-Term Stability of Computed Radiology Systems
[10] ASTM E 2446，Standard Practice for Classification of Computed Radiology Systems
[11] ASTM E 2597，Standard Practice for Manufacturing Characterization of Digital Detector Arrays
[12] ASTM E 2698，Standard Practice for Radiological Examination Using Digital Detector Arrays
[13] ASTM E 2736，Standard Guide for Digital Detector Array Radiology
[14] ASTM E 2737，Standard Practice for Digital Detector Array Performance Evaluation and Long-Term Stability
[15] EN 12543 (all parts)，Non-destructive testing−Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use
in non-destructive testing
[16] EN 12679，Non-destructive testing−Determination of the size of industrial radiographic sources−
Radiographic method
[17] ISO 11699-1，Non-destructive testing−Industrial radiographic film−Part 1: Classification of film systems for
industrial radiography
附属書JB
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 3110:2017 溶接継手の放射線透過試験方法−デジタル検出器によるX線
及びγ線撮影技術
ISO 17636-2:2013，Non-destructive testing of welds−Radiographic testing−Part 2: X-
and gamma-ray techniques with digital detectors
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 用語及び
定義
3
規格で用いる用語の
引用元を規定
追加
用語の引用元にJIS Z 2300を追加し
た。
国内で使用されている用語を使用す
るために追加した。技術的差異はな
い。
−
原画像，IQI値及び不良画素の補間の
定義を追加した。
定義が不明瞭であったため，関連語
句をまとめた定義を追加した。技術
的差異はない。
固有の不鮮鋭度，要求される最大画
像不鮮鋭度及び合計不鮮鋭度の定義
を追加した。
表1中に記載されていたが，用語及
び定義の箇条で規定すべきであるた
め，箇条3に移動した。技術的差異
はない。
4 記号及び
略語
4
表1で記号及び略語
を規定
変更
表1の見出しを“記号”から“記号
及び略語”に変更した。
記号の列には，略語も記載されてい
るため変更した。
ui，uim，uTの用語をそれぞれ固有の
不鮮鋭度，要求される最大画像不鮮
鋭度，合計不鮮鋭度に変更した。
それぞれの用語の定義は箇条3に追
加して記載し，表1中では用語の記
載に変更した。
要求される最大画像不鮮鋭度の記号
uimをuImに変更した。
規格中の表記を統一するため変更し
た。
追加
IQIを略語とする用語に透過度計を
追加した。
国内の事情に配慮した表現とし，追
加した。
略語にGV，GVlin，GVmin，iSRb，
iSRb検出器を追加した。
規格中で使用されている略語を追加
した。
それぞれの用語の参照元を追加し
た。
読みやすさを考慮して追加した。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5 放射線透
過撮影方法
の分類及び
補償原理
5.1 分類及び適用
5.1
追加
箇条の題名に“適用”を追記した。
内容に合わせて追加した。
フィルム撮影技法と
の基準値が同じであ
ると規定
削除
“フィルム撮影技法との基準値が同
じである”を削除した。
ISO規格とJISとでフィルム撮影技
法の規定が異なるため削除した。
使用する透過度計を
規定
変更
像質を規定するために使用する透過
度計をJIS Z 2306に基づく透過度計
に変更した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
5.2.3 CP II
5.2.3
CP IIの適用に用いら
れる透過度計を規定
追加
CP IIの適用に用いられる透過度計
に有孔形透過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
6 一般的要
求事項及び
準備
6.5 マーキング
6.5
マーキングの程度及
び条件を規定
変更
恒久的マーキングを，容易に消失し
ないマーキングに変更した。
恒久的マーキングが必要とされる条
件が国内の実情にそぐわないが，マ
ーキング自体は必要であるため，マ
ーキングの程度を変更した。
6.7 像質計及び透過度
計の種類及び配置
6.7
使用する透過度計を
規定
変更
像質を規定するために使用する透過
度計をJIS Z 2306に基づく透過度計
に変更した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
複線形像質計の向き
を規定
変更
検出器に対する複線形像質計の向き
を2方向から1方向に変更した。
SRbが大きくなる配置とした。
追加
複線形像質計のIQI値を一つ減少さ
せる場合の例を追加した。
フィルムラジオグラフィでは，識別
できるIQI値で表すのに対して，デ
ジタルラジオグラフィでは，識別で
きなくなるIQI値で表示するため，
IQI値を一つ減少させる表現を分か
りやすくするために例で示した。
撮影に使用する透過
度計を規定
追加
撮影に使用する透過度計に有孔形透
過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
撮影に適用するIQI
値を規定
追加
撮影に適用するIQI値に有孔形透過
度計のIQI値（表B.15〜表B.18）を
追加した。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 一般的要
求事項及び
準備（続き）
6.8 最小のIQI値
6.8
撮影に適用するIQI
値を規定
追加
撮影に適用するIQI値に有孔形透過
度計のIQI値（表B.15〜表B.18）を
追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
6.9 技術者の資格
6.9
技術者の資格の証明
について規定
削除
技術者の資格の証明が必要という規
定を削除した。
国内の事情に配慮して削除した。
7 デジタル
撮影のため
の推奨技法
7 デジタル撮影のため
の推奨技法
7
図1〜図21の記号の
定義を注記
変更
図1〜図19の記号の定義を規定に変
更した。
規定とすべき内容であることから変
更した。図20には記号はなく，図
21の記号は題名に定義されているた
め除外した。
7.1.1 一般事項
7.1.1
撮影配置を規定
削除
図2 b)，図5，図8 b)，図11，図13，
図14に関する撮影配置の規定を削
除した。
それぞれの規定は，7.1.3〜7.1.8に追
加して記載した。技術的差異はない。
7.1.2 基本的な撮影
7.1.2
変更
細分箇条及び図1の題名を変更し
た。
国内で使用されている表現に変更し
た。技術的差異はない。
7.1.3 外部線源−内部検
出器撮影方法の配置
7.1.3
変更
細分箇条の題名を変更した。
国内で使用されている表現に変更し
た。技術的差異はない。
追加
図2 b)に関する撮影配置の規定を追
加した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
7.1.4 内部線源撮影方法
（全周同時撮影）の配置
7.1.4
変更
細分箇条の題名を変更した。
国内で使用されている表現に変更し
た。技術的差異はない。
追加
図5に関する撮影配置の規定を追加
した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
7.1.5 内部線源撮影方法
（分割撮影）の配置
7.1.5
変更
細分箇条の題名を変更した。
国内で使用されている表現に変更し
た。技術的差異はない。
追加
図8 b)に関する撮影配置の規定を追
加した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 デジタル
撮影のため
の推奨技法
（続き）
7.1.6 二重壁両面撮影方
法の配置
7.1.6
追加
図11に関する撮影配置の規定を追
加した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
7.1.7 二重壁両面撮影
（垂直撮影方法）の配置
7.1.7
追加
図12に関する撮影配置の規定を追
加した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
7.1.8 二重壁片面撮影方
法の配置
7.1.8
変更
細分箇条，図13及び図14の題名を
変更した。
国内で使用されている表現に変更し
た。技術的差異はない。
追加
図13及び図14に関する撮影配置の
規定を追加した。
7.1.1に記載されていたが，関係する
箇条で規定すべきであるため，この
箇条に移動した。技術的差異はない。
7.3.1 最小のSNRN
7.3.1
追加
有孔形透過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
7.3.2 CP II
7.3.2
CP IIの適用に用いら
れる透過度計を規定
追加
CP IIの適用に用いられる透過度計
に有孔形透過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
CP IIの適用に用いら
れるIQI値を規定
追加
CP IIの適用に用いられるIQI値に有
孔形透過度計のIQI値（表B.15〜表
B.18）を追加した。
7.4 放射線の照射方向
7.4
契約当事者間の合意
による照射方向の任
意な設定
削除
放射線の照射方向に関する契約当事
者間の合意事項を削除した。
放射線の照射方向は技術的に求めら
れることから契約当事者間の合意を
削除した。
7.6 線源−試験体間距
離
7.6
線源寸法に関する規
格を引用
変更
EN 12543及びEN 12679の引用を
JIS Z 4615に変更した。
国内で使用されている規格に変更し
た。
CP IIの適用に用いら
れるIQI値を規定
追加
CP IIの適用に用いられるIQI値に有
孔形透過度計のIQI値（表B.15〜表
B.18）を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 デジタル
撮影のため
の推奨技法
（続き）
7.7 幾何学的拡大撮影
技法
7.7
CP IIの適用に用いら
れる透過度計を規定
追加
CP IIの適用に用いられる透過度計
に有孔形透過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
CP IIの適用に用いら
れるIQI値を規定
追加
CP IIの適用に用いられるIQI値に有
孔形透過度計のIQI値（表B.15〜表
B.18）を追加した。
線源寸法に関する規
格を引用
変更
EN 12543及びEN 12679の引用を
JIS Z 4615に変更した。
国内で使用されている規格に変更し
た。
7.9.2 DDAの校正
7.9.2
DDAの校正方法を規
定
変更
DDAの校正方法を変更した。
国内の事情を考慮してDDAの校正
方法を変更した。技術的差異はない。
7.9.4 画像処理
7.9.4.3
7.9.4
追加
有孔形透過度計を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
7.10.1 モニタの観察条
件
7.10
モニタの観察条件及
びデジタル画像の保
存を規定
追加
細分箇条を追加した。
観察条件を画像の保存から分割して
関連する内容としてまとめた。
7.10.2 デジタル画像の
保存
追加
細分箇条を追加した。
画像の保存を観察条件から分割して
関連する内容としてまとめた。
8 試験報告
書
8
試験報告書の記載事
項を規定
追加
像質計の項目に透過度計を追加し
た。
像質計と透過度計とを区別して表記
するため追加した。
附属書B
（規定）
附属
書B
IQI値の基準値を規
定
追加
IQI値に対応する透過度計の要素の
寸法を追加した。
国内の事情を考慮して寸法を追加し
た。
B.5 単壁撮影方法，透過
度計（IQI）は線源側
−
追加
透過度計を線源側に置く単壁撮影方
法における有孔形透過度計の基準値
を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
B.6 単壁撮影方法，透過
度計（IQI）は検出器側
−
追加
透過度計を検出器側に置く単壁撮影
方法における有孔形透過度計の基準
値を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
B.7 二重壁撮影方法，透
過度計（IQI）は線源側
−
追加
透過度計を線源側に置く二重壁撮影
方法における有孔形透過度計の基準
値を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
B.8 二重壁撮影方法，透
過度計（IQI）は検出器
側
−
追加
透過度計を検出器側に置く二重壁撮
影方法における有孔形透過度計の基
準値を追加した。
国内で実績のある有孔形透過度計を
適用できるようにした。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書C
（規定）
附属
書C
複線形像質計の向き
を規定
変更
検出器に対する複線形像質計の向き
を2方向から1方向に変更した。
SRbが大きくなる配置とした。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 17636-2:2013，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
3
Z
3
11
0
：
2
0
1
7