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Z 2350:2002

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本非破

壊検査協会 (JSNDI) /財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS Z 2350 : 1992 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 10375 : 1997 (Non-destructive testing

−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and sound field) , ISO 12715 : 1999 (Ultrasonic

non-destructive testing

−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam

profiles)

を基礎として用いた。

JIS Z 2350

には,次に示す附属書がある。

附属書 1(規定)  対比試験片

附属書 2(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表


Z 2350:2002

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

1

4.

  記号

2

5.

  探触子の表示法

2

6.

  測定項目

4

6.1

  共通測定項目

4

6.2

  個別測定項目

4

7.

  共通測定項目の測定方法

5

7.1

  周波数応答性

5

7.1.1

  使用機器及び接続法

5

7.1.2

  試験片

5

7.1.3

  エコーの検出方

5

7.1.4

  測

6

7.2

  時間領域応答性

7

7.2.1

  使用機器及び接続方法

7

7.2.2

  試験片

7

7.2.3

  エコーの検出方法

7

7.2.4

  測定

7

7.3

  相対感度

8

7.3.1

  使用機器及び接続法

8

7.3.2

  試験片

8

7.3.3

  エコーの検出方法

8

7.3.4

  測定

8

7.4

  電気インピーダンス

9

7.4.1

  使用機器及び接続法

9

7.4.2

  試験片

9

7.4.3

  探触子と試験片の音響結合

9

7.4.4

  測定

9

8.

  個別測定項目の測定方法

9

8.1

  一振動子垂直探触子

9

8.1.1

  ビーム形状及び距離振幅特性

9

8.1.2

  非集束探触子のビーム中心軸の偏り角

10

8.1.3

  集束探触子のビーム特

11


Z 2350:2002

目次

2 

ページ

8.2

  二振動子垂直探触子

11

8.2.1

  ビーム形状及び距離振幅特性

11

8.2.2

  ビーム特性

11

8.3

  一振動子斜角探触子

11

8.3.1

  縦断面ビーム形状及び距離振幅特性

11

8.3.2

  横断面ビーム形状及び距離振幅特性

13

8.3.3

  非集束探触子の入射点及び屈折角

15

8.3.4

  非集束探触子のビーム中心軸の偏り角

16

8.3.5

  集束探触子の縦断面ビーム特

16

8.3.6

  集束探触子の横断面ビーム特性

16

8.3.7

  不感帯

17

8.4

  二振動子斜角探触子

17

8.4.1

  縦断面ビーム形状及び距離振幅特性

17

8.4.2

  横断面ビーム形状及び距離振幅特性

18

8.4.3

  縦断面ビーム特性

18

8.4.4

  横断面ビーム特性

18

8.5

  一振動子水浸垂直探触子

18

8.5.1

  ビーム形状及び距離振幅特性

18

8.5.2

18

9.

  記録

19

9.1

  測定機器・条件など

19

9.2

  共通測定項目における測定結果の表示

20

9.3

  個別測定項目における測定結果の表示

20

附属書 1(規定)

22

附属書 2(参考)

25


日本工業規格

JIS

 Z

2350

:2002

超音波探触子の性能測定方法

Method for measurement of performance

characteristics of ultrasonic probes

序文  この規格は,1997 年に第 1 版として発行された ISO 10375 (Non-destructive testing−Ultrasonic

inspection

−Characterization of search unit and sound field) と 1999 年第 1 版発行の ISO 12715 (Ultrasonic

non-destructive testing

−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam

profiles)

を基に,対応する部分については対応国際規格を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工

業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更

の一覧表をその説明をつけて,

附属書 に示す。

1.

適用範囲  この規格は,公称周波数 0.5MHz 以上 15MHz 以下の超音波探触子(以下,“探触子”とい

う。

)の性能測定方法について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

ISO 10375 : 1997, Non-destructive testing

−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and

sound field (MOD)

ISO 12715 : 1999, Ultrasonic non-destructive testing

−Reference blocks and test procedures for the

characterization of contact search unit beam profiles (MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0601

  製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ

ータ

JIS G 0801

  圧力容器用鋼板の超音波探傷検査方法

JIS G 0901

  建築用鋼板及び平鋼の超音波探傷試験による等級分類と判定基準

JIS G 4103

  ニッケルクロムモリブデン鋼鋼材

JIS Z 2300

  非破壊試験用語

JIS Z 2345

  超音波探傷試験用標準試験片

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 2300 によるほか,次による。


2

Z 2350:2002

a)

サインバースト波  連続正弦波信号から,ある定まった周期分を取り出した波。

b)

ビーム中心軸の偏り角  超音波ビームの中心軸が設計値より偏っている角度。

c)

ビーム特性  集束距離,集束範囲,ビーム幅などのビーム形状を表す値。

d)

非集束探触子  集束探触子と二振動子探触子以外の探触子。

e)

集束深さ  探傷面からの集束距離の深さ。

f)

交軸深さ  探傷面からの交軸距離の深さ。

4.

記号  記号は,次による。

h

  エコー高さ

B

  帯域幅 (MHz)

B

W

  比帯域幅 (%)

C

N

  サイクル数

d

FA

  集束範囲の開始点におけるビーム幅

d

FB

  集束範囲の終了点におけるビーム幅

d

FL

  集束距離又は交軸距離におけるビーム幅

F

D

  集束範囲又は交軸範囲

F

L

  集束距離又は交軸距離

f

  周波数

f

L

  探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB 振幅を示す低いほうの周波数

f

U

  探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB 振幅を示す高いほうの周波数

f

C

  探触子の中心周波数

f

P

  探触子のピーク周波数

P

N

  ピーク数

S

r

  相対感度

T

K

  超音波伝搬媒体の厚さ

T

PD

  エコー幅

V

in

  励振信号振幅

V

out

  出力信号振幅

X

0

  近距離音場限界距離

X

  探触子の横方向(探傷面上で超音波ビームに対し垂直方向,垂直探触子の場合は別途定める。

Y

  探触子の縦方向(探傷面上で超音波ビーム方向,垂直探触子の場合は別途定める。

YC

Y1,Y2  最大エコー及び最大エコーの−6dB を示す探触子から横穴までの探傷面上の距離

Z

  探傷面から横穴中心軸までの距離,水浸法の場合は水距離

Z

β

  斜角探触子の縦断面におけるビーム軸又はビーム路程

Z

E

  電気インピーダンス

θ

  屈折角

δ

  ビーム軸の偏り角,斜角探触子では,探傷面に投影したビーム軸の偏り角を表す。

φ

  垂直探傷において,探傷面に投影したビーム軸と 軸のなす角度

5.

探触子の表示法  探触子の表示記号は,表 による。


3

Z 2350:2002

表 1  探触子の表示記号

表示の順序

内容

種類  記号

1

周波数帯域幅

広帯域の場合は B,狭帯域の場合は N(

1

)

を付ける。

2

周波数

公称周波数を MHz 単位で表す。

3

振動子材料

水晶:Q

ジルコンチタン酸鉛系磁器:Z以外の圧電磁器:C,ポリマー

系:P,コンポジット:K,その他:E,材料を特定しないとき:M

4

振動子寸法

円形:直径(単位 mm)

二振動子のものは,それぞれの振動子寸法とする  (

2

)

角形:高さ×幅(単位 mm)(

3

)

5

波のモード

縦波:L(

4

)

,横波:S(

5

)

,SH 波:H,表面波:R

6

形式

垂直:N  斜角:A  可変角:V  水浸:I  タイヤ:W  二振動子形:を加
える。

7

屈折角

低炭素鋼中への公称屈折角で表し,単位は,度とする。 
その他の材料用の場合は,その材料を表す記号などを付ける。

8

集束深さ又は交
軸深さ

点集束形のものは PF,線集束形のものは LF 
二振動子形のように交点をもつものは を付け,

その深さを mm 単位で表す。

(

1

)

  省略できる。

(

2

)

  二振動子探触子の振動子寸法

(

3

)

  一振動子斜角探触子の振動子寸法

(

4

)

  垂直探触子の場合は,省略することができる。

(

5

)

  SV 波斜角探触子の場合は,省略することができる。


4

Z 2350:2002

1. 2Z20N:

φ

20mm

のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた2MHz の垂直探触子。

2. 5Z10/2NDF10:

φ

10mm

半円二分割のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた交軸深さ10mm の5MHz 二振

動子垂直探触子。

3. 2C20×14A45:高さ20mm で幅14mm のジルコンチタン酸鉛系以外の圧電磁器振動子を用いた屈折角45度の

2MHz

斜角探触子。

4. 2Z10×10HA45:高さ10mm で幅10mm のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた屈折角45度の2MHzSH

波斜角探触子。

5. B10K201:

φ

20mm

のコンポジット振動子を用いた10MHz 広帯域水浸探触子。

6. 3Z15IPF10:

φ

15mm

のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた集束距離10mm の3MHz 点集束水浸探触子。

7. 5Z20×10AD45F30:高さ20mm で幅10mm のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた屈折角45度で交軸深

さ30mm の5MHz 二振動子斜角探触子。

8. 10C5×5R:高さ5mm で幅5mm のジルコンチタン酸鉛系以外の圧電磁器振動子を用いた10MHz 表面波探触

子。 

6.

測定項目

6.1

共通測定項目  すべての探触子に共通して適用する測定項目であり,次による。

a)

周波数応答性

b)

時間領域応答性

c)

相対感度

d)

電気インピーダンス

6.2

個別測定項目  探触子の超音波ビーム形状に関連する性能測定項目であり,探触子の形状の違いか

ら,次に分類して測定方法を規定する。a)d)は接触探触子,e)は水浸探触子の測定項目である。

なお,垂直横波探触子と SH 波斜角探触子には適用しない。

a)

一振動子垂直探触子  一振動子垂直探触子は,次による。

1)

ビーム形状及び距離振幅特性

2)

非集束探触子のビーム中心軸偏り角

3)

集束探触子のビーム特性

b)

二振動子垂直探触子  二振動子垂直探触子は,次による。

1)

ビーム形状及び距離振幅特性

2)

ビーム特性

c)

一振動子斜角探触子  一振動子斜角探触子は,次による。

1)

縦断面ビーム形状及び距離振幅特性

2)

横断面ビーム形状及び距離振幅特性

3)

非集束探触子の入射点及び屈折角

4)

非集束探触子のビーム中心軸の偏り角

5)

集束探触子の縦断面ビーム特性

6)

集束探触子の横断面ビーム特性

7)

不感帯

d)

二振動子斜角探触子  二振動子斜角探触子は,次による。

1)

縦断面ビーム形状及び距離振幅特性

2)

横断面ビーム形状及び距離振幅特性

3)

縦断面ビーム特性

4)

横断面ビーム特性


5

Z 2350:2002

e)

一振動子水浸垂直探触子  一振動子水浸垂直探触子は,次による。

1)

ビーム形状及び距離振幅特性

2)

集束探触子のビーム特性

7.

共通測定項目の測定方法

7.1

周波数応答性

7.1.1

使用機器及び接続法  周波数応答性の測定に用いる機器は,次の仕様をもつ機器とし,その接続方

法を

図 に示す。

a)

パルサーレシーバ(

6

  目的の探触子を十分な周波数範囲で励振できるスパイクパルス方式の機器と

する。

b)

ゲート回路(

7

  目的の RF 信号だけを取り出すゲート回路  周波数帯域 50MHz 以上

c)

オシロスコープ(

8

  周波数帯域  50MHz 以上

d)

周波数分析器(

9

  周波数帯域  50MHz 以上

e)

同軸ケーブル  50

Ω同軸ケーブル

(

6

)

(

7

)

(

8

)

(

9

)

超音波探傷器の内蔵機能を利用してもよい。

(

7

)

(

8

)

(

9

) AD

変換器とパーソナルコンピュータによる高速フーリエ変換 (FFT) を利用してもよ

い。

図 1  周波数応答性測定のための接続法

7.1.2

試験片  探触子の種類に応じて,次の試験片を使い分ける。

a)

垂直探触子の場合  試験に必要とする厚さをもつ平板対比試験片(

10

)(

11

)

。又は,対比試験片 RB-E(JIS 

G 0801

附属書 又は JIS G 0901 の附属書 1)。

b)

斜角探触子の場合  JIS Z 2345 の付図 で規定する STB-A1 形標準試験片。

c)

水浸探触子の場合  鋼又はガラス製平板試験片(

12

)

(

10

)

材質は,STB-A1又は試験体と同等の超音波特性材。

(

11

)

(

12

)

加工精度は±0.1mm,探傷面及び反射面の粗さは 25

µmR

y

よりよいものとする  (JIS B 

0601)

7.1.3

エコーの検出方法(図 及び図 参照)  エコーの検出方法は,次による。

a)

垂直探触子の場合

−  接触媒質としてマシン油又はグリセリンを使用し(

13

)

,近距離音場限界距離 X

0

の 0.75∼1.5 倍の厚さ


6

Z 2350:2002

部又は集束距離 F

L

に近い厚さ部の底面エコーを検出する。

−  そのとき,適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。

−  透過法では,近距離音場限界距離 X

0

以上の厚さの透過パルスを検出する。

b)

斜角探触子の場合

−  接触媒質としてマシン油又はグリセリンを使用し(

14

)

,標準試験片 STB-A1 の R100 面からのエコー

を検出する。

−  そのとき,適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。

−  透過法では,STB-A1 試験片の平らな部分を利用して,V 透過パルスを検出する。

c)

水浸探触子の場合

−  水距離が近距離音場限界距離 X

0

又は集束距離 F

L

に位置させた平板試験片の表面エコーを検出する。

−  そのとき,探触子の向きを調整し,振幅が最大のエコーを検出する。

(

13

)

(

14

)

垂直横波探触子又は SH 波探触子のときは、横波用接触媒質を用いる。

図 2  エコーの検出方法(一探触子法)

図 3  エコーの検出方法(透過法)

7.1.4

測定(図 参照)  第 1 エコー波形全体をゲート回路で切り出し,周波数分析器へ入力し周波数ス

ペクトルを得る。周波数スペクトルから,ピーク周波数,下限周波数,上限周波数,中心周波数,帯域幅

及び比帯域幅を,次に従って求める。

ピーク周波数 (MHz) f

P

:周波数スペクトルの最大振幅点の周波数

下限周波数   (MHz) f

L

:最大振幅点から 6dB 下がった振幅点の低いほうの周波数

上限周波数   (MHz) f

U

:最大振幅点から 6dB 下がった振幅点の高いほうの周波数

中心周波数   (MHz) f

C

:  f

C

=  (f

L

f

U

) /2

帯域幅       (MHz) B:  Bf

U

f

L

比帯域幅     (%) B

W

:  B

W

= [(f

U

f

L

) /f

C

]

×100


7

Z 2350:2002

図 4  周波数スペクトルの例

7.2

時間領域応答性

7.2.1

使用機器及び接続方法  時間領域応答性の測定には,図 に示すとおりに接続した機器を用いる。

機器の性能は,周波数応答性の測定の場合(7.1.1)と同じである。

7.2.2

試験片  周波数応答性の測定と同じ試験片(7.1.2)を用いる。

7.2.3

エコーの検出方法  周波数応答性の測定と同じ方法(7.1.3)で第 1 エコーを検出する。

7.2.4

測定  観測したエコー波形の中で絶対値最大のピークの大きさを h

MAX

とし,

次に示すピーク数 P

N

サイクル数 C

N

,エコー幅 T

PD

を求める(

図 参照)。

ピーク数 P

N

:  h

MAX

の±20%を超えるピークの数

サイクル数 C

N

:ピーク数の 1/2 (=P

N

/2)

エコー幅 T

PD

:最初に h

MAX

の±20%を超えるピークの前縁ゼロクロス点から最後に h

MAX

の±20%を

超えるピークの後縁ゼロクロス点までの時間  (

µsec)  。

図 5  時間領域応答性測定のための接続法


8

Z 2350:2002

図 6  時間軸応答性の例

7.3

相対感度

7.3.1

使用機器及び接続法  相対感度の測定には,次の仕様の機器を図 に示すとおりに接続して用いる。

a)

パースト波発生器  搬送波周波数,バースト波サイクル数,パルス繰返し周波数,及び振幅が調整で

きるサインバースト波発生器。

b)

オシロスコープ  周波数範囲 50MHz 以上

c)

同軸ケーブル  50

d)

ダイオード  バースト波励振電流に耐えられるシリコンダイオード

7.3.2

試験片  周波数応答性の測定と同じ試験片(7.1.2)を用いる。

7.3.3

エコーの検出方法  バースト波発生器を次のとおりに調整し,周波数応答性の測定と同じ方法

(7.1.3)

で第 1 エコーを検出する。

a)

搬送波周波数は探触子の中心周波数 f

C

とする。

b)

バースト波のサイクル数は 10 サイクル以上で,受信信号 V

OUT

が少なくとも 5 サイクル間,均一な振

幅でなければならない。

c)

パルス繰返し周波数は,残留エコーが測定に影響しない範囲とする。

7.3.4

測定  励振信号及び受信信号の均一振幅部分の振幅,V

OUT

及び V

IN

から,次の式で相対感度 S

r

を計

算する(

図 参照)。

図 7  相対感度測定のための接続法


9

Z 2350:2002

図 8  相対感度測定における検出波形の例

7.4

電気インピーダンス

7.4.1

使用機器及び接続法  電気インピーダンスの測定は,次の仕様の機器を図 のとおりに接続して用

いる。

a)

ベクトルインピーダンスメータ  探触子の中心周波数 f

C

を測定周波数範囲に含む。

b)

測定ケーブル  ベクトルインピーダンスメータに附属する専用高周波ケーブルを使用する。

7.4.2

試験片  試験片は,次による。

a)

垂直探触子及び斜角探触子の場合  周波数応答測定(7.1.2)と同じ,又は同等の表面粗さ,材質の厚さ

10mm

以上の試験片。

b)

水浸探触子の場合  必要としない。

7.4.3

探触子と試験片の音響結合  探触子と試験片の音響結合は,次による。

a)

接触探触子の場合  マシン油又はグリセリンを接触媒質として(

15

)

,試験片に接触させる。このとき,

適度の荷重を均一に加えて接触を安定させる。

b)

水浸探触子の場合  音響の放射する部分を水中に浸す。

(

15

)

垂直横波探触子及び SH 波探触子のときは,横波用接触媒質を用いる。

7.4.4

測定  測定は,次による。

a)

探触子の中心周波数 f

C

で電気インピーダンス Z

E

を測定する。

b)

試験片内又は水槽内で超音波の定在波が生じるおそれがある場合は,試験片や水槽内の反射源までの

路程を変えたり,反射源の向きを変えるなどして,定在波の発生を避ける。

c)

探触子の電気インピーダンス Z

E

の絶対値  (

Ω)  と位相角(度)を求める。

図 9  電気インピーダンス測定のための接続法 

8.

個別測定項目の測定方法

8.1

一振動子垂直探触子

8.1.1

ビーム形状及び距離振幅特性  ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  パルサーレシーバとオシロスコープの組合せ又は超音波探傷器。


10

Z 2350:2002

b)

試験片  附属書 図 の横穴対比試験片 RB-SDH1.5 又は附属書 図 の RB-SDH。

試験片の大きさが十分でないときには,RB-SDH を参考にして  必要な大きさの試験片を作製する。

c)

測定方法  測定方法は,次による。

1)

超音波ビームに直交する面内で探触子の XY 方向を定める。

2)

接触媒質は,マシン油又はグリセリンを用いる。

3)

探触子の 方向を試験片横穴方向として,測定可能な横穴で最も浅い位置の横穴について,最大エ

コー高さとなる探触子位置を探す。

4)

前後走査して,最大エコー高さの−6dB の探触子位置を探す。

5)

最大エコー高さ  (h),最大エコー高さを示す探触子位置  (Y

C

)

,二つの−6dB 探触子位置  (Y

1

Y

2

)

横穴の深さ  (Z)  を求める(

図 10 参照)。探触子位置は,探傷面上の横穴中心軸を基準に測定する。

6)

試験片の他の横穴についても同じ測定を繰り返す。

7)

図 11 に従い,ZY 断面内ビーム形状及び距離振幅特性曲線を作成する。最大エコー位置を結んだ線

はビーム軸を表し,−6dB 位置を結んだ線はビーム幅を表す。

8)

探触子を 90 度回転させ,3)7)を繰り返し,ZX 断面のビーム形状を得る。

図 10  垂直探触子による横穴エコーの検出

図 11  垂直探触子のビーム形状及び距離振幅特性

8.1.2

非集束探触子のビーム中心軸の偏り角  非集束探触子のビーム中心軸の偏り角は,次による。

a)

ZX

断面のビーム形状における遠距離音場ビーム軸を直線で近似する。

b)

二つの深さ(Z

1

及び Z

2

)におけるビーム軸の 座標(X

Z1

及び X

Z2

)を求め,方向の偏り角

δ

X

を計算

する。

δ

X

=tan

1

 {(X

Z2

X

Z1

) / (Z

2

−Z

1

)}

c)

ZY

断面のビーム形状を用いて,方向の偏り角

δ

Y

を同様に求める。

d)

次の式で偏り方向

φ

と偏り角

δ

を計算する。

φ

=tan

1

 (

δ

Y

/

δ

X

)

δ

=(

δ

X2

δ

Y2

1/2

ここに

φ

X

軸に対する偏り方向(度)


11

Z 2350:2002

δ

偏り角(度)

8.1.3

集束探触子のビーム特性(図 12 参照)  集束探触子のビーム特性は,次による。

a)

集束距離 F

L

は,距離振幅特性曲線において,最大値を示す横穴深さである。

b)

集束範囲 F

D

は,距離振幅特性曲線において,最大値の−6dB 以上を示す深さ範囲である。

c)

集束点ビーム幅 d

FL

は,ビーム形状の二つの−6dB 曲線の集束距離における間隔である。

d)

集束点ビーム幅は,必要に応じて,ZY 断面及び ZY 断面の双方について測定する。

図 12  集束垂直探触子のビーム形状及び距離振幅特性

8.2

二振動子垂直探触子

8.2.1

ビーム形状及び距離振幅特性  ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  8.1.1b)と同じ試験片を用いる。

c)

測定方法  探傷面上で,音響隔離面に平行な方向を 方向,その垂直方向を 方向として,8.1.1 c)

と同様の方法で測定する。

8.2.2

ビーム特性  XZ 断面内で測定したビーム形状と距離振幅特性を用いて測定する。

a)

交軸距離 F

L

は,距離振幅特性曲線の最大値を示す横穴深さである。

b)

交軸範囲 F

D

は,距離振幅特性曲線において,最大値の−6dB 以上を示す深さ範囲である。

c)

交軸点ビーム幅 d

FL

は,ビーム形状の二つの−6dB 曲線の交軸距離 F

L

における間隔である。

8.3

一振動子斜角探触子

8.3.1

縦断面ビーム形状及び距離振幅特性  縦断面ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  8.1.1b)と同じ試験片を用いる。

c)

測定方法  測定方法は,次による。


12

Z 2350:2002

1)

測定可能で最も浅い位置の横穴について,前後走査によって最大エコー高さを示す探触子位置を探

す。

2)

接触媒質は,マシン油又はグリセリンを用いる。

3)

前後走査して,最大エコー高さの−6dB の探触子位置を求める。

4)

最大エコー高さ  (h),最大エコー高さを示す探触子位置  (Y

C

)

,二つの−6dB 探触子位置  (Y

1

Y

2

)

横穴の深さ  (Z)  を記録する(

図 13 参照)。

5)

探触子位置は,探傷面上の横穴中心位置から探触子入射点までの距離である。また,横穴の深さは,

探傷面から横穴中心までの距離である。

6)

試験片の他の横穴についても同じ測定を繰り返す。

7)

縦断面ビーム特性図として,

図 14 に従い,ビーム形状,深さ振幅特性曲線,距離振幅特性曲線を作

成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。

なお,探触子−横穴間の距離 Z

β

は,次の式で計算する。

Z

β

=  (Z

2

Y

2

)

1/2

図 13  斜角探触子による横穴エコーの検出


13

Z 2350:2002

図 14  斜角探触子の縦断面ビーム形状及び距離振幅特性

8.3.2

横断面ビーム形状及び距離振幅特性  横断面ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  附属書 図 の斜め縦穴対比試験片 RB-IDH 又は附属書 図 の半円柱対比試験片 RB-HS。

c)

測定方法  測定方法は,次による。

1) RB-IDH

を用いる場合(

図 15 参照)。

1.1)

接触媒質にはマシン油又はグリセリンを用いる。

1.2) RB-IDH

の幅の中心線上において

φ

3

の斜め縦穴のエコーをビーム路程 100mm で捕らえ,探触子方位

を調整し,最大エコー高さ  (h)  を求める。この位置を X

C

とする。

1.3)

探触子を 方向に移動し,

φ

3

のエコー高さが最大エコー高さの−6dB となる探触子位置を探し,そ

の位置を X

1

とする。

1.4)

探触子を 1.3)と逆方向に移動し,

φ

3

のエコー高さが最大エコー高さの−6dB となる探触子位置を探

し,その位置を X

2

とする。

1.5)

ビーム路程が 20,40,50,80mm 又はビーム形状評価に必要なビーム路程値を定め,1.2)1.4)の測

定を繰り返す。

1.6)

図 16 に従い,ビーム形状,距離振幅特性曲線を作成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。

2) RB-HS

を用いる場合(

図 17 参照)。

2.1)

接触媒質には,マシン油又はグリセリンを用いる。

2.2) RB-HS

試験片の R100 部中央に探触子を位置させ,R100 面エコーが最大となる方位と最大エコー高

さ  (h)  を求める。

2.3) R100

面エコーを捕らえた状態で,探触子を R80 の方向に移動し,R100 面エコーの低下が始まる位

置及び最大エコー高さの−6dB になる探触子位置を探す。前者の位置  (X

0

=0)  を基準に後者の位置


14

Z 2350:2002

(X

1

)

を求める。

2.4)

接触面上で探触子の向きを 180 度変えて,

2.3)

と同じ測定を行い,

−6dB 探触子位置  (X

2

)

を求める。

2.5)

他の半径部分についても,2.3)及び 2.4)の測定を行う。

2.6)

図 16 に従い,ビーム形状及び距離振幅特性曲線を作成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。

図 15  横断面ビーム特性の測定(RB-IDH を用いる場合)

図 16  斜角探触子の横断面ビーム形状及び距離振幅特性

図 17  横断面ビーム特性の測定(RB-HS を用いる場合)


15

Z 2350:2002

8.3.3

非集束探触子の入射点及び屈折角  非集束探触子の入射点及び屈折角は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  JIS Z 2345 の標準試験片 STB-A1

c)

入射点の測定(図 18 参照)  入射点の測定は,次による。

1)

接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いて,R100 面エコーを検出する。

2)

超音波ビームの方向を試験片側面と平行に保ったまま前後走査し,R100 面エコーが最大となる探触

子位置を探す。

3) R100

の中心を示すマーク位置を,探触子側面の入射点ガイド目盛で 0.5mm 単位で読み取り,その

位置を入射点とする。

d)

屈折角の測定  屈折角の測定は,次による。

1)

接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いる。

2)

斜角探触子の公称屈折角によって,

図 17 に示すエコー検出方法を使い分ける。

屈折角 30∼60 度の場合:

図 19a)の位置で,直径 50mm の穴のエコーを検出する。

屈折角 60∼74 度の場合:

図 19b)の位置で,直径 50mm の穴のエコーを検出する。

屈折角 74∼80 度の場合:

図 19c)の位置で,直径 1.5mm の穴のエコーを検出する。

3)

超音波ビームを試験片側面に平行に保ったまま前後走査し,最大エコーの探触子位置を探す。

4)

探触子の入射点位置が示す STB−A1 の角度目盛を 0.1 度単位で読み取る。

図 18  入射点の測定位置

図 19  屈折角の測定位置


16

Z 2350:2002

8.3.4

非集束探触子のビーム中心軸の偏り角  非集束探触子のビーム中心軸の偏り角は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  附属書 図 の半円柱対比試験片 RB-HS 又は JIS Z 2345 の標準試験片 STB-A1

c)

測定方法  測定方法は,次による。

1) RB-HS

試験片を用いる場合(

図 20 参照)

1.1)

接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いる。

1.2)

探触子の入射点を R85mm スリット部の中心に位置させ,R85mm スリットからのエコーが最大とな

る探触子の方向を探す。

1.3)

Y

軸と探触子側面のなす角度を 1 度単位で測り,偏り角

δ

とする。

2)

STB-A1

を用いる場合(

図 21 参照)

2.1) STB-A1

のコーナーエコーを,接触媒質としてグリセリン又はマシン油を用いて検出する。そのと

き,屈折角 45 度の探触子では 1 スキップで,60 度及び 70 度では 0.5 スキップに設定し,首振りそ

の他の走査でエコーが最大となる位置と方向を探す。

2.2)

探触子の側面と STB-A1 端面の法線とのなす角度を 1 度単位で測り,偏り角

δ

とする。

図 20  RB-HS を用いた偏り角測定法

図 21  STB-A1 を用いた偏り角測定法

8.3.5

集束探触子の縦断面ビーム特性(図 22 参照)  集束探触子の縦断面ビーム特性は,次による。

a)

集束距離 F

L

は,縦断面距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3a)と同様の方法で求める。

b)

集束範囲 F

D

は,縦断面距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3b)と同様の方法で求める。

c)

集束点ビーム幅 d

FL

は,縦断面ビーム形状を用いて,8.1.3c)と同様の方法で求める。

8.3.6

集束探触子の横断面ビーム特性  集束探触子の横断面ビーム特性は,次による。


17

Z 2350:2002

a)

集束距離 F

L

は,横断面距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3a)と同様の方法で求める。

b)

集束範囲 F

D

は,横断面距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3b)と同様の方法で求める。

c)

集束点ビーム幅 d

FL

は,横断面ビーム形状を用いて,8.1.3c)と同様の方法で求める。

図 22  集束斜角探触子の縦断面ビーム形状及び距離振幅特性曲線

8.3.7

不感帯  不感帯は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  JIS Z 2345 の標準試験片 STB-A1 及び STB-A2 を用いる。

c)

測定方法  測定方法は,次による。

1)

表示器の時間軸フルスケールを,横波 125mm に調節する。

2) STB-A2

φ

4

×4 を,屈折角 45 度の探触子では 2 スキップで、屈折角 60 度及び 70 度では 1 スキッ

プでねらい,その最大エコー高さが,表示器上で 20%となるよう感度を調節する。

3)

さらに,14dB 感度を高め,送信パルス波形が最後に 20%になる点を時間軸上から読み取り,不感帯

とする。

8.4

二振動子斜角探触子

8.4.1

縦断面ビーム形状及び距離振幅特性  縦断面ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。


18

Z 2350:2002

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  8.1.1b)と同じ試験片を用いる。

c)

測定方法  8.3.1c)と同じ方法で,縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を得る。

8.4.2

横断面ビーム形状及び距離振幅特性  横断面ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片  8.3.2b)と同じ試験片を用いる。

c)

測定方法  8.3.2c)と同じ方法で  横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を得る。

8.4.3

縦断面ビーム特性  縦断面ビーム特性は,次による。

a)

交軸距離 F

L

は,縦断面距離振幅特性曲線を用いて,8.2.2a)と同様の方法で求める。

b)

交軸範囲 F

D

は,縦断面距離振幅特性曲線を用いて,8.2.2b)と同様の方法で求める。

c)

交軸点ビーム径 d

FL

は,縦断面ビーム形状を用いて,8.2.2c)と同様の方法で求める。

8.4.4

横断面ビーム特性  横断面ビーム特性は,次による。

a)

交軸距離 F

L

は,横断面距離振幅特性曲線を用いて,8.2.2a)と同様の方法で求める。

b)

交軸範囲 F

D

は,横断面距離振幅特性曲線を用いて,8.2.2b)と同様の方法で求める。

c)

交軸点ビーム径 d

FL

は,横断面ビーム形状を用いて,8.2.2c)と同様の方法で求める。

8.5

一振動子水浸垂直探触子

8.5.1

ビーム形状及び距離振幅特性  ビーム形状及び距離振幅特性は,次による。

a)

使用機器  8.1.1a)と同じ機器を用いる。

b)

試験片

φ

4mm

鋼球又は

φ

2.5mm

鋼線。支持台からは,20mm 以上離す。

c)

測定方法(図 23 参照)  測定方法は,次による。

1)

超音波ビームに直交する面内で探触子の XY 方向を定める。

2)

走査器の 軸と超音波ビーム軸とを平行にする。また,鋼線を用いた場合には,鋼線の方向と探触

子 軸方向とを同一にする。

3)

遠距離音場内において XY 面内で探触子を走査し,試験片エコーの最大エコー高さ  (h)  とその位置

(Y

C

)

を求める。

4)

Y

軸走査によって,エコー高さが最大エコー高さの 1/2 を示す二つの−6dB 振幅点  (Y

1

Y

2

)

を求め

る。

5)

探触子近傍から遠距離音場までの領域に複数の測定点を定め,2)及び 3)の測定を繰り返す。

6)

距離振幅特性曲線として水距離と最大振幅  (h)  との関係をプロットし,ビーム形状として水距離

(Z)

と最大エコー点  (Y

C

)

と二つの−6dB 振幅点  (Y

1

Y

2

)

の関係をプロットする。

7)

走査方向を 90 度変え,3)6)の測定を繰り返し,方向のビーム形状を得る。鋼線の方向も 90 度変

える。

8.5.2

集束探触子のビーム特性(

図 24 参照)集束探触子のビーム特性は,次による。

a)

集束距離 F

L

は,距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3a)と同様の方法で求める。

b)

集束範囲 F

D

は,距離振幅特性曲線を用いて,8.1.3b)と同様の方法で求める。

c)

集束点ビーム幅 d

FL

は,ビーム形状を用いて,8.1.3c)と同様の方法で求める。

d)

集束点ビーム幅は,ZX 面内及び ZY 面内について測定する。


19

Z 2350:2002

図 23  水浸探触子によるエコーの検出方法

図 24  水浸集束探触子のビーム形状及び距離振幅特性曲線

9.

記録

9.1

測定機器・条件など  測定機器・条件などは,次による。

a)

測定日時及び測定者氏名

b)

測定に使用した試験片及び反射源

c)

測定機器

−  被測定探触子の形式及び製造番号

−  探触子ケーブルの種類及び長さ

−  接触媒質の種類

−  パルサーレシーバーとオシロスコープ又は超音波探傷器の形式及び製造番号

−  周波数分析器の形式及び製造番号


20

Z 2350:2002

−  ベクトルインピーダンスメータの形式及び製造番号

−  バースト波発生器の形式及び製造番号

d)

測定器の各種設定  パルサーレシーバーの増幅度,減衰器の設定,ダンピングの値,フィルターの設

定値,パルサーのエネルギーなど。

e)

その他参考となる事項

9.2

共通測定項目における測定結果の表示  共通測定項目における測定結果の表示は,次による。

a)

周波数応答性  中心周波数,下限周波数,上限周波数,ピーク周波数,帯域幅については,MHz で表

示し,比帯域幅については,%で表示する。

b)

時間領域応答性  ピーク数,サイクル数については数で表示し,エコー幅については,

µsec で表示す

る。

c)

相対感度  相対感度は,dB で表示する。

d)

電気インピーダンス  電気インピーダンスの絶対値を

Ωで,位相角を度で表示する。また,探触子の

負荷条件を明記する。

9.3

個別測定項目における測定結果の表示

a)

一振動子垂直探触子  一振動子垂直探触子は,次による。

1)

XZ

断面についてはビーム形状と距離振幅特性曲線を表示する。YZ 断面についてはビーム形状だけ

を表示する。

2)

非集束探触子のビーム中心軸の偏り角について,次の事項を表示する。

−  探触子の XY 座標の方向

−  偏り方向  (

φ

)

          度

−  偏り角  (

δ

)

            度

3)

集束探触子のビーム特性

−  集束範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,集束範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  XZ 断面のビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

−  YZ 断面のビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

b)

二振動子垂直探触子  二振動子垂直探触子は,次による。

1)

ビーム形状及び距離振幅特性曲線は,YZ 面と XZ 面で測定した場合を表示する。

2)

ビーム特性

−  交軸範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,交軸範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  ビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

c)

一振動子斜角探触子  一振動子斜角探触子は,次による。

1)

縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。

2)

横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。

3)

非集束探触子の入射点及び屈折角

−  入射点は,入射点ガイドメモリ位置で表示し,必要に応じてマークを探触子側面に付ける。

−  屈折角は,度で表示する。

なお,くさびの合成樹脂は温度によって音速が変化し,屈折角に影響を与えるので,測定時の

周囲温度を併記する。


21

Z 2350:2002

4)

非集束探触子のビーム中心軸の偏り角

−  使用した試験片

−  偏り角  (

δ

)

                度

5)

集束探触子の縦断面ビーム特性

−  集束範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,集束範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  ビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

6)

集束探触子の横断面ビーム特性

−  集束範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,集束範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  ビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

7)

不感帯

−  不感帯は鋼中の横波距離で 0.5mm 単位で表示する。パルサーレシーバ又は探傷器のダンピング値

(

Ω)  も明記する。

d)

二振動子斜角探触子  二振動子斜角探触子は,次による。

1)

縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。

2)

横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。

3)

縦断面のビーム特性

−  交軸範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,交軸範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  ビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

4)

横断面のビーム特性

−  交軸範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,交軸範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  ビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

e)

一振動子水浸垂直探触子  一振動子水浸垂直探触子は,次による。

1)

ビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。

2)

集束探触子のビーム特性

−  集束範囲  (F

D

)

を mm で表示する。また,集束範囲の始まり  (F

A

)

と終わり  (F

B

)

も同様に表示す

る。

−  XZ 断面のビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。

−  YZ 断面のビーム幅  (d

FA

d

FB

d

FL

)

を mm で表示する。


22

Z 2350:2002

附属書 1(規定)  対比試験片

1.

適用範囲  この附属書は,探触子の性能測定に使用する対比試験片について規定する。

2.

横穴対比試験片 RB-SDH1.5 及び RB-SDH  この試験片は,垂直探触子のビーム特性測定及び斜角探

触子の縦断面ビーム特性測定に用いる。

a)

材質は,JIS G 4103 の SNCM439 の焼入焼戻し材(820℃焼入れ,680℃焼戻し後空冷)若しくは同等

の超音波特性をもつ材料とする。又は,試験体と音響的に同等の材料若しくは試験体自身を対比試験

片の素材とする。双方とも超音波探傷によって,測定上障害となる音響的不連続部がないことを確認

しておかなければならない。

b)

反射源は,RB-SDH1.5 においては

φ

1.5

横穴であり,RB-SDH においては

φ

3

横穴である。後者にあって

は,試験片の幅,高さ,長さ及び横穴の間隔などは,必要に応じて適宜決める。

附属書 図 は,屈

折角 60 度以下の斜角探触子で,厚さ 40mm 以下を探傷領域とする場合の試験片形状を示す。

形状及び寸法は,

附属書 図 及び附属書 図 による。

附属書 図 1  横穴対比試験片 RB-SDH1.5

附属書 図 2  横穴対比試験片 RB-SDH


23

Z 2350:2002

3.

斜め縦穴対比試験片 RB-IDH 及び半円柱対比試験片 RB-HS  この試験片は,斜角探触子の横断面ビー

ム特性評価に用いる。

a)

材質は,試験材と音響的に同等の材料又は試験材自身を対比試験片の素材とする。又は,JIS G 4103

の SNCM439 の焼入焼戻し材(820℃焼入れ,680℃焼戻し後空冷)若しくはこれと同等の超音波特性

をもつ材料とする。双方とも超音波探傷によって,測定上障害となる音響的不連続部がないことを確

認しておかなければならない。

b)

反射源は,RB-HS においては半径 20∼100mm の円柱面であり,RB-IDH においては

φ

3

斜め縦穴であ

る。RB-IDH の

θ

0

は被測定探触子の屈折角である。後者にあっては,試験片の幅,高さ,長さ及び横

穴の間隔などは,必要に応じて適宜決めてよい。

c)

形状及び寸法は,

附属書 図 及び附属書 図 による。

備考

θ

0

は,被測定斜角探触子の屈折角である。

附属書 図 3  斜め縦穴対比試験片 RB-IDH


24

Z 2350:2002

附属書 図 4  半円柱対比試験片 RB-HS


 

25

Z 235

0:20

02

附属書 2(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

IS Z 2350 : 2002

  超音波探触子の性能測定方法

ISO 10375 : 1997

  非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示

ISO 12715 : 1999

  対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法

(I) JIS

の規定

(III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差

異の項目ごとの評価及びその内

表示箇所: 
表示方法:

(V)  JIS

と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

項目番号

内容

(II)

国際規

格番号

項 目
番号

内容

項目ごとの評

技 術 的 差 異 の 内

1.

適用範囲 0.5∼15MHz の接触及び

水浸 超 音波 探 触 子の 性
能測定方法を規定。

ISO 10375 1.

0.5

∼15MHz の垂

直 探 触 子 と 斜 角
探 触 子 の 性 能 測
定方法を規定

IDT

ISO 12715 1.

接 触 探 触 子 の ビ
ー ム 形 状 測 定 法

を規定。

IDT

2.

引用規格

JIS B 0601 

JIS G 0801

JIS G 0901

JIS G 4103

JIS Z 2300

JIS Z 2345

ISO 10375 

2.

ISO 2400 : 1972

JIS

に同じ。

MOD

/追加

MOD

/追加

MOD

/追加

MOD

/追加

MOD

/追加

IDT

国 際 規 格 に 整 合
し た 従 来 型 国 内

試験片を定義。

国内での適用を容易とするために追加し
た。

3.

定義

主な用語の定義

ISO 10375

全体

JIS

に同じ。 IDT

ISO 12715

全体

JIS

に同じ。 IDT

4.

記号

主な記号の定義

ISO 10375 3.

JIS

に同じ。 MOD/追加。

ISO 12715 3.

JIS

に同じ。

従来からの JIS 

号を追加した。

国内での適用を容易にするため,追加し

た。

5.

探触子の表示法

探触子の表示記号

MOD

/追加

ISO

規定なし

この規格だけの表示法。国際規格にない
ので,国際規格へ提案していく。


 

26

Z 235

0:20

02

IS Z 2350 : 2002

  超音波探触子の性能測定方法

ISO 10375 : 1997

  非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示

ISO 12715 : 1999

  対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法

(I) JIS

の規定

(III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差

異の項目ごとの評価及びその内

表示箇所: 
表示方法:

(V)  JIS

と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

項目番号

内容

(II)

国際規

格番号

項 目
番号

内容

項目ごとの評

技 術 的 差 異 の 内

6.

測定方法

共通測定項目

個別測定項目

ISO 10375 

ISO 12715

4.

5.

JIS

に同じ。

JIS

に同じ。

IDT

MOD

/追加

二 振 動 子 斜 角 探

触 子 の 横 断 面 測
定を追加。

探触子性能評価上必要。

7.

共通測定項目の

測定方法

7.1

周波数応答性

ピーク周波数,

下限周波数, 
上限周波数, 
中心周波数,

帯域幅, 
比帯域幅の測定法

ISO 10375

4.3

JIS

に同じ。 MOD/追加

試験片表面粗さ。

表示法が異なる。

国際規格の試験片表面粗さの表示が適切

でないので,JIS に従った表示に直した。
国際規格の修正提案が必要。

7.2

時間領域応答

ピーク数, 
サイクル数, 
エコー幅の測定法

ISO 10375

4.2

JIS

に同じ。 IDT

7.3

相対感度

相対感度の測定法

ISO 10375

4.7

JIS

に同じ。 IDT

7.4

電気インピー

ダンス

電 気 イ ン ピ ー ダ ン ス の

測定法

ISO 10375

4.6

JIS

に同じ。 IDT

8.

個別測定項目の

測定方法

8.1

一振動子垂直

探触子

a)

  ビーム形状及び距離

    振幅特性曲線の測

    定法

ISO 12715

5.1.1

JIS

に同じ。 MOD/追加

横 穴 対 比 試 験 片

RB-SDH

を追加。

国内での使用実績を考慮し,従来型試験
片も使用可能とした。

 b)

  非集束探触子のビー

    ム中心軸偏り角の

    測定法

MOD

/追加

ISO

規定なし

国内での使用実績を考慮し,従来からの
測定項目を残した。


 

27

Z 235

0:20

02

IS Z 2350 : 2002

  超音波探触子の性能測定方法

ISO 10375 : 1997

  非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示

ISO 12715 : 1999

  対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法

(I) JIS

の規定

(III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差

異の項目ごとの評価及びその内

表示箇所: 
表示方法:

(V)  JIS

と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

項目番号

内容

(II)

国際規

格番号

項 目
番号

内容

項目ごとの評

技 術 的 差 異 の 内

 c)

  集束探触子のビーム

    特性

ISO 12715

5.1.2

JIS

に同じ。 IDT

a)

  ビーム形状及び距離

    振幅特性曲線の測 
    定法

ISO 12715

5.3

JIS

に同じ。 IDT

8.2

二振動子垂直

探触子

b)

  ビーム特性

ISO 12715

5.3

JIS

に同じ。 IDT

8.3

一振動子斜角

探触子

a)

  縦断面ビーム形状及

    び距離振幅特性曲

    線の測定法

ISO 12715

5.2.1

JIS

に同じ。 IDT

 b)

  横断面ビーム形状及

    び距離振幅特性曲

    線の測定法

ISO 12715

5.2.2

JIS

に同じ。 MOD/追加

斜 め 縦 穴 対 比 試
験片 RB-IDH を

追加。

国内での使用実績を考慮し,従来型試験
片を使用可能とした。

 c)

  非集束探触子の入射

    点及び屈折角の測 
    定法

ISO 10375

4.1

JIS

に同じ。 IDT

 d)

  非集束探触子のビー

    ム中心軸偏り角の 
    測定法

ISO 12715

附属 C

JIS

に同じ。 MOD/追加

標 準 試 験 片

STB-A1

を追加。

国内で使用できる国際規格試験片を追加

した。国際規格の修正提案が必要。

 e)

  集束探触子の縦断面

    ビーム特性

ISO 12715

5.2.3

JIS

に同じ。 IDT

 f)

  集束探触子の横断面

    ビーム特性

ISO 12715

5.2.4

JIS

に同じ。 IDT

 g)

  不感帯

MOD

/追加

ISO

規定なし

国内 JIS 規格で引用しているので,従来

からの規定を残した。この規定は引用し
ている規格に含めるべきと考えられるの
で,国際規格への提案は不要である。


 

28

Z 235

0:20

02

IS Z 2350 : 2002

  超音波探触子の性能測定方法

ISO 10375 : 1997

  非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示

ISO 12715 : 1999

  対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法

(I) JIS

の規定

(III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差

異の項目ごとの評価及びその内

表示箇所: 
表示方法:

(V)  JIS

と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

項目番号

内容

(II)

国際規

格番号

項 目
番号

内容

項目ごとの評

技 術 的 差 異 の 内

8.4

二振動子斜角

探触子

a)

  縦断面ビーム形状及

    び距離振幅特性曲 
    線の測定

ISO 12715

5.3

JIS

に同じ。 IDT

 b)

  横断面ビーム形状及

    び距離振幅特性曲 
    線の測定

MOD

/追加

ISO

規定なし

国際規格に明記されていないが,必要な
規定なので,追加した。国際規格への提
案が必要。

 c)

  縦断面のビーム特性

ISO 12715

5.3

JIS

に同じ。 IDT

 d)

  横断面のビーム特性

MOD

/追加

ISO

規定なし

国際規格に明記されていないが,必要な

規定なので,追加した。国際規格への提
案が必要。

a)

  ビーム形状及び距離

    振幅特性曲線の測 
    定

ISO 10375

4.5

JIS

に同じ。ただ

し,反射源の高さ
規定が JIS と異な
る。

MOD

/追加

ISO

では支 持台

か ら 鋼 球 又 は 鋼
線の高さは 50mm
以上であるが,こ

の規格では 20mm
以上とした。

反射源の高さは 20mm 以上としても実用

上の問題はなく,適用が優れている。国
際規格の修正提案が必要。

8.5

一振動子水浸

垂直探触子

b)

  集束型探触子のビー

    ム特性

ISO 10375

4.5

JIS

に同じ。 IDT

9.

記録

9.1

測定機器・条

件など

記録項目

ISO 10375

ISO 12715

4.

5.

JIS

に同じ。

JIS

に同じ。

IDT

9.2

共通測定項目

に お け る 測 定 結
果の表示

記録項目

ISO 10375

4.

JIS

に同じ。 IDT


 

29

Z 235

0:20

02

IS Z 2350 : 2002

  超音波探触子の性能測定方法

ISO 10375 : 1997

  非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示

ISO 12715 : 1999

  対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法

(I) JIS

の規定

(III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差

異の項目ごとの評価及びその内

表示箇所: 
表示方法:

(V)  JIS

と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

項目番号

内容

(II)

国際規

格番号

項 目
番号

内容

項目ごとの評

技 術 的 差 異 の 内

9.3

個別測定項目

に お け る 測 定 結
果の表示

記録項目

ISO 12715

5.

JIS

に同じ。 IDT

附属書 a)  横穴対比試験片 RB-

    SDH1.5 及び RB- 
    SDH

ISO 12715

5.

径 1.5mm の横穴
対 比 試 験 片

RB-SDH1.5

の 形

状を規定。

MOD

/追加

従 来 か ら 国 内 で
使 用 し て い る 径

3mm

の横穴対比

試 験 片 RB-SDH
を追加。

国内での使用実績を考慮し,従来型試験
片も使用可能とした。

 a)

  斜め縦穴対比試験片

    RB-IDH 及び半円柱
    対比試験片 RB-HS

ISO 12715

5.

半 円 柱 型 対 比 試

験片 RB-HS の形
状を規定。

MOD

/追加

従 来 か ら 国 内 で

使 用 し て い る 斜
め 縦 穴 対 比 試 験
片 RB-IDH を追

加。

国内での使用実績を考慮し,従来型試験

片も使用可能とした。国際規格で規定す
る RB-HS 対比試験片の使われ方を評価
して,国際規格への提案が必要かどうか

判断する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:ISO 10375 : 1997, ISO 12715 : 1999 : MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  IDT  ……………………技術的差異がない。 
    −  MOD/追加……………国際規格にない規定項目又は規定内容を追記している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  MOD……………………国際規格を修正している。 


30

Z2350:2002

JIS Z 2350

(超音波探触子の性能測定方法)改正原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

羽田野      甫

東京理科大学基礎工学部

(幹事)

鈴  木  孝  信

株式会社検査技術研究所

中  田  正  明

ジャパンプローブ株式会社

島  田  道  男

船舶技術研究所

(委員)

穐  山  貞  治

経済産業省産業技術環境局

橋  本      進

財団法人日本規格協会

藤  澤  和  夫

社団法人日本鉄鋼連盟(住友金属工業株式会社)

江  口      進

社団法人非破壊検査振興協会(第一検査株式会社)

千  代  一  郎

社団法人全国鐵構工業連合会

志  波  光  晴

財団法人発電設備技術検査協会

養  祖  次  郎

財団法人鉄道総合技術研究所

池ヶ谷      靖

株式会社ジャスト

小  島      正

日本電波工業株式会社

佐  藤  春  治

湘菱電子株式会社

名  取  孝  夫

株式会社ジャスト研究所

木  村  勝  美

木村超音波探傷研究所

山  田  尚  雄

神奈川県産業技術総合研究所

赤  間  辰  也

株式会社トキメック

矢  本      守

日本パナメトリクス株式会社

(事務局)

阿  部  節  矢

社団法人日本非破壊検査協会

日本工業標準調査会標準部会  鉄鋼技術専門委員会  構成表

氏名

所属

(委員会長)

木  原  諄  二

姫路工業大学環境人間学部

(委員)

大河内  春  乃

東京理科大学理学部 II 部化学科

大  橋      守

日本製鐵株式会社技術総括部

國  府  勝  郎

東京都立大学大学院工学研究科

佐久間  健  人

東京大学大学院新領域創成科学研究科

中  島  正  博

日本鋼管株式会社鉄鋼技術総括部

中  島  將  文

社団法人日本鉄道施設協会

福  永      規

住友金属工業株式会社技術部

前  原  郷  治

社団法人日本鉄鋼連盟標準化センター

松  田  邦  男

川崎製鉄株式会社技術総括部

村  上  陽  一

社団法人日本電機工業会

矢  部  丈  夫

ステンレス協会

山  内      学

株式会社神戸製鋼所鉄鋼部門生産本部生産技術部